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p-n
Valores de constantes y parámetros
Cantidad Relación
(para Si intrínseco a T = 300 K
EG = 1,12 eV
Concentración de portadores en
silicio intrínseco (/cm3)
ni = 3,88.1016T 3/2e-7000/T cm-3 k = 8,62.10-5 eV/K, ni =
1,5.1010/cm3
Densidad de corriente de difusión dp dn q = 1,6.10-19 Coulomb
J p qD p , J n qDn
(A/cm2) dx dx Dp = 12 cm2/s, Dn = 34 cm2/s
Densidad de corriente de deriva p = 480 cm2/Vs, n = 1350
(A/cm2) Jderiva = q(pp + nn)E
cm2/Vs
p y n decrecen con el aumento en
Resistividad (cm) = 1/ q(pp + nn) concentración de dopaje
Relación de Einstein entre movilidad Dn D p V
VT = kT/q 25 mV a 25 °C
y difusividad n T
p
Concentración de portadores en nno ND mayoritarios
ND 1017/cm3
silicio tipo n (/cm3) pno ni2 /ND minoritarios
Concentración de portadores en ppo NA mayoritarios
NA 1016/cm3
silicio tipo p (/cm3) npo ni2 /NA minoritarios
Voltaje integral de unión o barrera N N
Vo VT ln A 2 D
de potencial (V) ni
xn N A
Wagot xn x p
x ND s = 11,7o
Ancho de la región de agotamiento o p
o = 8,85.10-12 F/m = 8,85.10-14
carga espacial (cm) 2 s 1 1
Wagot Vo V R F/cm
q NA ND
N AND
Carga almacenada en la región de qj q AWagot
agotamiento (Coulomb) N A ND
s A s A
Cj , C jo
Wagot Wagot |VR 0
Coefic. de distribución m = 1/3 a ½
Capacitancia de agotamiento o m
VR según la forma de transición de la
transición (F) C j C jo 1
región p a la n
Vo
C j 2C jo (para polarización directa)
Capacitancia de difusión (F) Cd T I Cd >> Cj
VT
Densidad del Si: = 2,34 g/cm3. Masa molecular: M = 28,086 g/mol. Número de Avogadro: NA =
6,022.1023moléculas/mol