Microscopia

electrónica de Microscopio electrónico de

Fundamento
barrido barrido de emisión NOVA

- Requiere de ultraalto vacío • Resolución de 1nm a 30Kv

Ecuación de Aplicaciones
- Entre mas grande sea la • Detector de electrones
Abbe Ecuación de
imagen a tomar se reduce Secundarios
Broglie
Es la resolución en un • Determinación • Voltaje Acelerador: 200 V a 30
sistema óptico elemental de Kv
Son las partículas en • Transferencia de energía al
perfecto se puede contaminantes en
movimiento tienen átomo de la muestra
describir materiales sólidos
propiedades ondulatorias y
matemáticamente • Estudio de interfase en
Rayos X que su longitud de onda se
materiales
puede calcular, en función
Los rayos X de su masa y su nivel de
proporcionan energía
información analítica
de un volumen Electrones retro
considerable de la dispersados
muestra

• Imágenes con contraste

depende del numero Catodioluminiscencia
atómico
Electrones
secundarios • Estructura electrónica y
la composición química
de los materiales
• Topografía Se generan 3 Por interacciones Electrones
mecanismos de electrones transmitidos

• Estructura interna y la
cristalografía de la
BSE que impacten
con las piezas
Por interacciones
de alta energía
retrodispersados
muestra
UNIDAD 3
polares del
microscopio
 Microscopia Tipos de señales
Transmisión de
electrónica de emitidas por una
electrones
transmisión muestra

Ondas
electromagnéticas Electrones Fuerza
Electrones no Resolución electromotriz
Se clasifican
desviados
Estos
generan Microscopio Microscopio
Electrones imagen óptico electrónico
desviados Emisión de
Electrones elásticamente campo
inelásticos
La tomografía Se emplean campos
Estos generan Imágenes electromagnéticos que
EFTEM
ruido de promueven la salida de
fondo electrones del sólido
• BF, Bright field: se STEM
recogen los electrones
del haz directo Técnica de
Técnicas
• DF, Dark field, se Campo Claro
• Microanálisis de rayos X
seleccionan los
• WDX mide y cuenta los
electrones dispersados
rayos x según su longitud
de onda Técnica de
• EELS analiza electrones Espectroscopía Contraste Z
transmitidos para de Rayos X (EDS
Para el STEM
determinar la cantidad o EDX)
hay dos tipos de Técnica de alta
electrones de energía perdida resolución
(HRTEM)
• Espectroscopía
por EELS
El grosor de materia es la principal
Los electrones de haz Para electrones dispersados fuente de contraste en materiales
directo emplea un detector se emplea un detector Contraste
amorfos. Este contraste está causado
situado en el eje del haz (on
axis)
anular alrededor (off axis) en muestras
principalmente por la dispersión de
Rutherford
UNIDAD 4