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CURSO EB-112
SEMICONDUCTOR &
FUNDAMENTALS-II
LECCIÓNES DE LABORATORIO
Copyright © 1994 propiedad I.T.E. Innovative Technologies in Education.
OBJETIVOS
Transistor de Efecto de Campo Tras completar esta lección, usted será capaz de:
1. Graficar la curva característica de drenaje en base a valores medidos.
2. Graficar la curva característica de transferencia en base a valores
medidos.
DISCUSION
En este experimento usaremos un transistor de efecto de campo (abreviado
TEC) de canal-N. Este transistor posee dos modos de operación fundamentales:
1. Para bajos valores de la tensión VDS, el cociente VDS / ID es
aproximadamente constante, y suele ser llamado RDS.
2. Para altos valores de VDS (a partir de la tensión Vp), la corriente I D se
mantiene constante, insensible a la variación en el valor de VDS.
En el primero de estos modos, el TEC es usado como atenuador o como
resistor controlado por tensión.
En el segundo modo, el TEC es usado como amplificador o como fuente de
corriente.
AUTOEXAMEN
1. En bajos valores de VDS, el TEC actúa como una:
Fuente de tensión.
Resistencia.
Fuente de corriente.
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Encienda el Tablero Maestro.
3. Estudie el circuito de la figura.
Vp = _______(V)
9. El próximo paso de este experimento es analizar las características de
transferencia.
Ingrese los valores de la corriente de drenaje en función de la tensión de
compuerta para las distintas tensiones de drenaje indicadas en la tabla.
Característica de Transferencia
10. Grafique en su cuaderno los valores que obtuvo en la tabla: esta será la
curva característica de transferencia.
EB-112 2-1
OBJETIVOS
AUTOEXAMEN
1. Para altos valores de VDS, el TEC actúa como una:
Resistencia variable.
Fuente de corriente.
Fuente de tensión.
12. Mida las tensiones de entrada (Vin) y de drenaje VDS, e ingrese en la tabla
los valores obtenidos.
13. Varíe VGS según lo indicado en la tabla. Complete la tabla.
VGS (V) VDS (mV) Vin (mV)
0
-1
-2
-3
-4
-5
Atenuador - Mediciones
14. Complete la siguiente frase: El cambio en VDS es ______. Esto se
debe a que RDS es ______.
Lineal, constante
Lineal, no constante
Alineal, constante
Alineal, no constante
EB-112 2-5
15. Estudie el circuito usado para medir la transconductancia del TEC (observe
la figura).
gm =
VDS con: R2 = 2.2KΩ
Vin *R2
EB-112 2-6
Ingrese su resultado.
V DS =________(Vp-p)
Vin = ________(Vp-p)
2 * IDSS
gm0 = Vp
gmo = ______(mS)
EB-112 3-1
OBJETIVOS
Esta lección contiene un cuestionario, que trata acerca de los temas tratados en
las lecciones anteriores:
Transistor de Efecto de Campo (I + II).
PREGUNTAS de RESUMEN
OBJETIVOS
DISCUSION
El amplificador a base de TEC es similar al que usa transistores bipolares:
también aquí se precisa polarización de CC, y la señal de entrada es invertida.
El FET puede ser usado en configuraciones de fuente común y drenaje común.
Los amplificadores con transistores TEC pueden ser conectados en cascada u
otra configuración - al igual que los amplificadores bipolares.
El amplificador a base de TEC ofrece menos ganancia, pero posee mayor
impedancia de entrada, menor sensibilidad a la radiación y menos ruido.
AUTOEXAMEN
1. En el amplificador de fuente común, la entrada es _____ y la salida de
la etapa es _____ .
la compuerta; la fuente
la compuerta; el drenaje
el drenaje; la compuerta
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* DMM
* Osciloscopio de doble trazo
* Generador de señales
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Estudie el circuito de la figura.
0.1
1
10
50
100
Amplificador de fuente común
Respuesta en frecuencia en función de VGS (I)
EB-112 4-5
Av = -gm * RL
Av (calculada) = ____________
EB-112 5-1
OBJETIVOS
Modo de Práctica
12. En esta parte del experimento, el sistema EB-2000 efectuará cambios en el
circuito.
Por ejemplo, resistores serán cortocircuitados o desconectados, se
modificarán valores de tensión, etc.
13. Realizaremos ahora dos ejercicios sobre el amplificador de TEC mostrado
en la figura (RL = R1 = 10 KΩ).
14. Lleve la frecuencia de la señal de entrada a 1 kHz, y la amplitud a 200 mV
pico a pico.
15. Mida las tensiones de entrada y salida (Vin y Vout, respectivamente) y
calcule la ganancia. Ingrese sus resultados en la tabla.
16. Compare sus resultados con los de la tabla. ¿Qué componente del
circuito sufrió una modificación?
RL
Rv1
R4
OBJETIVOS
PREGUNTAS de RESUMEN
Crece.
Cae a cero.
EB-112 7-1
OBJETIVOS
Tras completar esta lección, Ud. será capaz de trazar la curva característica de
drenaje del transistor VMOS en base a valores medidos.
DISCUSION
El VMOS (o VMOSFET) es un transistor de efecto de campo (TEC) de
potencia, y puede manejar corrientes muy superiores a las del TEC común.
Es común encontrar dispositivos VMOS especificados para corrientes de 100
mA, y los hay capaces de conducir hasta 100 A.
La corriente de drenaje continua del transistor VMOS situado en la plaqueta
EB-112 está especificada en 300 mA.
AUTOEXAMEN
1. Las características del VMOS son similares a las del _____________ .
Transistor bipolar
Diodo
Transistor TEC
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
EB-112 7-2
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Estudie el circuito de la figura:
ID (mA) *********
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA)
ID (mA) *****
OBJETIVOS
AUTOEXAMEN
Cuando un transistor VMOS conduce, la resistencia RDS es:
Muy alta.
Muy baja.
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
* Generador de señales
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Estudie el circuito de la figura:
EB-112 8-2
Modo de Práctica
19. En esta parte del experimento, el circuito será modificado.
OBJETIVOS
Esta lección contiene un cuestionario, que trata acerca de los temas tratados en
las lecciones anteriores: VMOS - I+II.
PREGUNTAS de RESUMEN
OBJETIVOS
2. Una vez disparado el SCR, éste conducirá hasta que la tensión del
ánodo ________.
Crezca.
Caiga.
Valga cero.
EB-112 10-2
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Estudie el circuito de la figura:
14. Aumente la tensión de salida de PS-1 para obtener I F = 100 mA. Mida
la tensión del SCR (VF), y anote dicho valor en la tabla.
IF (mA) 100 75 50 25 10 5
VF (V)
21. Ajuste V2 hasta lograr que la tensión de disparo de compuerta valga VGG = 0V.
22. Ajuste el potenciómetro P1 a diferentes valores, con el fin de disminuir la
corriente.
23. Anote el valor de la corriente en el SCR para la que éste deja de conducir.
24. Repita este proceso varias veces, para garantizar lecturas correctas.
Ingrese el valor obtenido:
IH = ___________(mA)
EB-112 11-1
OBJETIVOS
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
* Generador de señales
EB-112 11-2
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Estudie el circuito de la figura:
OBJETIVOS
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. Estudie el circuito de la figura:
EB-112 12-2
VG (peak)
Fuente de CC Variable
7. Gire Rv2 hasta obtener Vout = 1V pico.
8. Ingrese en la tabla la tensión de compuerta (pico).
9. Repita la medición para los otros valores indicados en la tabla.
10. Gire Rv2 en sentido horario, y mida las siguientes tensiones:
VA =____ (V)
Vout =____ (V)
VG =_____ (V)
EB-112 12-3
El SCR suele ser usado con tensiones (VA y Vout) de unos 100 a 300 V.
15. Ajuste la salida del generador de señales hasta obtener una onda senoidal
de 50 Hz, amplitud 16 Vpp.
16. Lleve Rv2 a su valor mínimo, para obtener: a = 30o.
17. El circuito ha sido modificado.
Creció.
Decreció.
OBJETIVOS
Esta lección contiene un cuestionario, que trata acerca de los temas
estudiados en las lecciones anteriores: SCR - I+II+III.
PREGUNTAS de RESUMEN
1. El SCR, ¿conduce en tensiones negativas?
Sí.
No.
Transistor bipolar.
TEC.
Diodo.
OBJETIVOS
Tras completar esta lección, Ud. será capaz de:
1. Usar el osciloscopio para determinar el ángulo de disparo de un triac
en un circuito disparador de desplazamiento de fase.
2. Medir tensiones en circuitos que incluyen un triac.
3. Graficar formas de onda típicas en circuitos con triacs.
DISCUSION
El triac es similar al SCR; la diferencia es que el triac puede conducir en ambas
direcciones.
Al ser usado en circuitos de CA, el triac transfiere a la carga ambos semiciclos
(positivo y negativo).
AUTOEXAMEN
1. Un triac puede controlar:
Sólo tensiones de CC.
Sólo tensiones de CA.
Sólo tensiones negativas.
Tensiones de CC y de CA.
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
EB-112 14-2
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. La figura muestra un circuito de control de fase con una única
constante de tiempo.
7. El disparo es __________.
Simétrico.
Asimétrico.
OBJETIVOS
PREGUNTAS de RESUMEN
Unipolares.
Bipolares.
OBJETIVOS
DISCUSION
En este experimento, Ud. armará un circuito complejo, para simular circuitos
comunmente usados en la industria.
El circuito que usaremos para las actividades de diagnóstico está compuesto de
distintos bloques, que ya conocimos en las distintas lecciones de este curso.
Para diagnosticar y localizar fallas en circuitos electrónicos, Ud. debe estar
familiarizado con las tensiones y formas de onda del circuito en operación
normal.
Si, al medir, se observa una desviación significativa en los valores de dichos
parámetros, esto indica que se tiene una falla en el sistema.
Para localizar fallas, se debe medir en cada etapa del sistema bajo prueba, para
ubicar en qué punto la tensión (u otro parámetro eléctrico) difiere del valor
observado en condiciones de operación normal.
Generalmente, la búsqueda de la falla comienza en la entrada del sistema.
Se debe medir la señal de salida de cada una de las etapas sucesivas (en el
sentido de flujo de la señal), comparándola a cada paso con la señal que se
tendría en operación normal.
Una variante de este método es comenzar en la salida del sistema,
"remontando" el circuito (en sentido opuesto al del flujo de la señal) hasta
ubicar la etapa donde radica la falla.
EB-112 16-2
Una vez hallada la etapa averiada, se debe medir dentro de la misma para
localizar la falla a nivel de componente.
En esta lección, Ud. realizará una serie de mediciones, con el fin de prepararse
para los ejercicios de diagnóstico de los próximos dos lecciones.
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
PROCEDIMIENTO
1. Deslice el EB-112 en las guías de plaqueta del PUZ-2000, y verifique
la conexión.
2. En la figura puede verse el diagrama circuital del circuito de
diagnóstico.
Note que, para obtener formas de onda adecuadas, Rv1 debe ser
ajustado, debe verificarse que la salida del generador de señales sea
positiva (del modo mostrado en la figura anterior).
EB-112 17-1
OBJETIVOS
Tras una breve discusión acerca de los métodos de diagnóstico, Ud. deberá
contestar una prueba, que consta de cuatro fallas insertadas al azar.
El diagrama circuital es el siguiente:
DISCUSION
En este experimento, Ud. armará un circuito complejo, para simular circuitos
comunmente usados en la industria.
El circuito que usaremos para las actividades de diagnóstico está compuesto de
distintos bloques, que usamos en las distintas lecciones de este curso.
Para diagnosticar y localizar fallas en circuitos electrónicos, Ud. debe estar
familiarizado con las tensiones y formas de onda del circuito en operación
normal.
Si, al medir, se nota una desviación significativa en los valores de dichos
parámetros, esto indica que se tiene una falla en el sistema.
Ud. necesitará los valores típicos de los puntos de prueba que midió en la
lección anterior.
Para localizar fallas, se debe medir en cada etapa del sistema bajo prueba, para
ubicar en qué punto la tensión (u otro parámetro eléctrico) difiere del valor
observado en condiciones de operación normal.
Localice la etapa donde radica la falla. Una vez hallada esta etapa, realice
mediciones dentro de la misma para hallar la falla a nivel de componente.
EB-112 17-2
OBJETIVOS
DISCUSION
En esta maratón de diagnóstico, Ud. precisará tener presentes los valores
medidos en la Lección Nº 16.
Para localizar fallas, se debe medir en cada etapa del sistema bajo prueba, para
ubicar en qué punto la tensión (u otro parámetro eléctrico) difiere del valor
observado en condiciones de operación normal.
Generalmente, la búsqueda de la falla comienza en la entrada del sistema.
Se mide la señal de salida en las sucesivas etapas (en el sentido de flujo de la
señal), comparándola a cada paso con la señal hallada en el circuito que opera
normalmente.
Una vez hallada la etapa averiada, se debe medir dentro de la misma para hallar
la falla a nivel de componente. Una vez hallado el componente averiado,
ingrese el código de la falla en la tabla de fallas del EB-112, desde el teclado de
la computadora o el teclado del PUZ-2000.
EQUIPO
Para realizar esta práctica de laboratorio, se precisa el siguiente equipo:
* Bastidor PUZ-2000
* Plaqueta de circuito impreso EB-112
* Tablero Maestro
* Multímetro digital (DMM)
* Osciloscopio de doble trazo
* Generador de señales
FAULT DESCRIPTION
El circuito de prueba es el siguiente: