Sinai Guadalupe Gutiérrez Cruz 12-05-21

Reporte 6

“TEM simple Preparation”

Objetivos:
 Conocer y adquirir los conocimientos para la preparación y manipulación de
muestras para microscopia electrónica de transmisión.
 Aprender a cerca de los distintos tipos de muestra, como metales, muestras
biológicas, etc.
Introducción:
El microscopio electrónico de transmisión permite el
análisis rutinario de nanoescala, alcanzando grandes
aumentos con una resolución que no se puede
conseguir en ningún otro lugar. Cuando esto se
combina con la amplia gama de información que se
puede recopilar simultáneamente a partir de
muestras, generalmente la perdida de energía de
electrones, espectroscopia, etc., hace que TEM sea
una maquina verdaderamente única.
Un microscopio electrónico de transmisión tiene un
sistema que acelera los electrones a un voltaje alto
que ronda entre los 80 y 300KV para una muestra,
los electrones se transmiten a través de la muestra y
luego se recogen en el otro lado para obtener
imágenes del material; esta técnica captura
electrones que han pasado la muestra, la cual debe
ser apta para los electrones, esto requiere que la
muestra se ajuste a increíblemente a ciertas
condiciones como lo son:
o Espesor de muestras < 100 nm, <10nm por resolución atómica, por eso la
preparación de la muestra es clave.
o Espesor uniforme sobre el área de interés, lo que nos brindara un área más grande
de fácil trabajo con un contraste uniforme y evitara que surjan artefactos
relacionados con el estado físico.
o muestras limpias libres de contaminación, uno de los principales contaminantes es
el carbono, que deposita y reacciona con el haz de electrones y la muestra puede
difuminarse o se almacenan en los peores casos.
Las muestras se pueden dividir en 3
o Cristal: esta muestra no importa en qué dirección se miren, ya que tienen una
composición uniforme en todas partes.
o Película delgada o una muestra con una región de interés muy específica: estos son
potencialmente las formas más comunes de muestras de TEM en la que contiene
una región en la que el usuario está interesado.
o Nanopartículas de polvo o nanofibras: por lo general estas muestras se preparan de
dos formas o están listos directamente para ir al microscopio y solamente se colocan
sobre una película o una rejilla de soporte o se puede comprimir y fijar en epoxi y
luego se corta.

Procedimiento:
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o Muestras A granel, a granel similar, los materiales

de alimentación ajustado epoxi.
* Corte una muestra a una forma manejable usando una
sierra (de diamante) o un bolígrafo de diamante.
* Pegue la muestra en una arandela, rejilla o disco de 3 mm
(tenga cuidado de orientar adecuadamente las regiones de
interés)
* Diluir mecánicamente la muestra con un pulidor de
muestras y papel de pulir de diamante.
* Realice el adelgazamiento final usando haces de iones.
(La cantidad de molienda de iones requerida será
proporcional al espesor de la muestra, no olvide realizar
una limpieza de los kV.)

o Nanopartículas.
* Suspenda nanopartículas dentro de una solución,
típicamente isopropanol (IPA).
* Utilice sonicación (vibración) para dispersar las
partículas por toda la suspensión.
* Colóquelos en una película de soporte de carbono de
encaje en una rejilla de cobre (otros metales disponibles)
Tenga en cuenta que la fundición por caída puede
provocar una contaminación excesiva por carbono.
Hornear muestras TEM a 60ºC es un método eficaz para
eliminar esta contaminación.
Algunas técnicas utilizadas para mejorar la preparación de muestras y tener mejores
resultados son el cortado por ultramicrótomo, electropulido, réplica de extracción, grabado
químico.
Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado (FIB-SEM).
El FIB-SEM es una herramienta de preparación de muestras específica que se utiliza
normalmente para extraer una región de 10-20 µm2 de una muestra para su análisis. Una
técnica de preparación de muestras popular que se utiliza ampliamente debido a la
reproducibilidad de las rutinas de preparación de muestras y al pequeño desperdicio de
material. Esto se logra utilizando el haz de iones enfocado para moler y dar forma a la
muestra lista para TEM.

Resultados y discusión:

Primero se identifica una región de interés después de encontrar un buen sitio. Por ejemplo,
depositamos una capa protectora sobre la región de interés. Esto evitará que
accidentalmente fresemos en el área que queremos analizar. Por lo general, se utiliza una
capa de recubrimiento de platino. Es bueno hacer una pequeña prueba de movimiento en
la que le das un pequeño empujón al microscopio. Lo que debería ver es que la sonda
vibrará y se tambaleará, y que su muestra, con ella, esto sugiere que la muestra está
completamente desprendida y lista para ser extraída. Luego sacamos la muestra de la
masa. Prepárese para conectarlo a la rejilla. Separarse de la cuadrícula es bastante
sencillo. La primera elección que se debe hacer es colocar la muestra en el costado de un
pilar como una bandera o colocarla en la sección V. Ambas posiciones son bastante
similares con la posición de la bandera, ofreciendo potencialmente menos protección a su
muestra, pero también devolviendo menos contaminación. Si bien la sección en V suele ser
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un poco más robusta, protege su muestra, la protege, pero a menudo verá más redeposición
durante la fase de molienda y más contaminación. Una vez que decida su enfoque, vuelva
a colocar la sonda en la posición de la muestra junto a la cuadrícula que le interesa, y luego
colóquela en su lugar, separándola incluso junto al borde o dentro del área para asegurarse
de que él se inserta el gas antes de acercarse al automóvil.
Luego depositamos algo de platino pegando su muestra en su lugar. Es posible que deba
colocar una segunda capa, solo para asegurarse de tener una cobertura decente una vez
que las muestras se adhieran a la cuadrícula. Luego eliminamos la conexión con la sonda.
Esto es bastante sencillo con una explosión rápida de la parte anterior. Retraer la sonda y
sacar el gas. En este punto, debe adjuntar la muestra a la cuadrícula, pero como aún no se
ha adelgazado, probablemente no se vea perfecta. Entonces, ahora tenemos en la muestra
unos 100 nanómetros, esto se hace defendiendo repetidamente la parte delantera y trasera,
la muestra e inclinando hacia atrás y hacia adelante.

Conclusiones:
Como puede ver después del ajuste logro obtener una muestra transparente a los
electrones. Esto se demuestra por la falta de contraste dentro de la imagen. Si la muestra
se coloca en la TEM en este punto, esto dará como resultado imágenes borrosas y audición
de galio en cualquier forma de EDS o resultados de análisis químicos. Para eliminar el Galio
impreso. Se debe usar un accesorio de ubicación para limpiar la superficie y darle un pulido
final. Después de esto, estarán listas para comenzar. Entonces con lo anterior se describió
por qué TEM requiere muestras de <100 nm de espesor y se exploró las diferentes formas
de preparar muestras TEM tanto para cristales o materiales en Bulk, para películas
delgadas, para nanopartículas y nanofibras; y por último se pudo apreciar un ejemplo de
extracción de TEM utilizando un FIB-SEM, que identifica las etapas clave de la preparación
de la muestra.