UNIVERSIDAD DE LAS FUERZAS ARMADAS – ESPE

LABORATORIO DE METROLOGÍA

PATRONES DE LONGITUD Y MEDICIÓN

DIRECTA CON MICRÓMETROS

ESTUDIANTE:

AMORES ANDRÉS

PERIODO LECTIVO

OCTUBRE 2018 – FEBERERO 2019

1
Índice de contenido
PATRONES DE LONGITUD Y MEDICIÓN DIRECTA CON MICRÓMETROS........................................1
PATRONES DE LONGITUD Y MEDICIÓN DIRECTA CON MICRÓMETROS........................................5
1. OBJETIVO.....................................................................................................................5
2. ALCANCE..........................................................................................................................5
3. DEFINICIONES.................................................................................................................5
-Planitud........................................................................................................................................5
-Bandas de luz............................................................................................................................5
4. EQUIPOS E INSTRUMENTOS.......................................................................................6
 Prensa de trabajo Marca INSIZE.................................................................................6
 Patrones o bloques de caras paralela Marca HOLEX.................................................6
 Micrómetro de Platillos Marca MITUTOYO..............................................................8
 Micrómetro de exteriores Marca FOWLER................................................................8
 Micrómetro de exteriores Marca TESA.......................................................................9
 Caja de luz monocromática...........................................................................................9
 Tabla de Interpretación de la planitud de la superficie...............................................9
5. PROCEDIMIENTO.........................................................................................................10
Operaciones Previas...................................................................................................................10
Realización de las pruebas.........................................................................................................10
6. Tabulación de datos y resultados....................................................................................10
Micrómetro de exteriores FOWLER........................................................................................11
Patrón 2,50 mm......................................................................................................................12
Patrón 5,10 mm......................................................................................................................12
Patrón 7,70 mm......................................................................................................................12
Patrón 10,30 mm....................................................................................................................13
Patrón 12,90 mm....................................................................................................................13
Patrón 15,00 mm....................................................................................................................14
Patrón 17,60 mm....................................................................................................................14
Patrón 20,20 mm....................................................................................................................15
Patrón 22,80 mm....................................................................................................................15
Patrón 25 mm.........................................................................................................................16
Micrómetro de exteriores TESA.............................................................................................17
Patrón 2,50 mm......................................................................................................................18
Patrón 5,10 mm......................................................................................................................18
Patrón 7,70 mm......................................................................................................................18

2
 Patrón 10,30 mm....................................................................................................................19
Patrón 12,90 mm....................................................................................................................19
Patrón 15,00 mm....................................................................................................................20
Patrón 17,60 mm....................................................................................................................20
Patrón 20,20 mm....................................................................................................................21
Patrón 22,80 mm....................................................................................................................21
Patrón 25 mm.........................................................................................................................22
Micrómetro de platillos MITUTOYO.......................................................................................23
Patrón 2,50 mm......................................................................................................................24
Patrón 5,10 mm......................................................................................................................24
Patrón 7,70 mm......................................................................................................................24
Patrón 10,30 mm....................................................................................................................25
Patrón 12,90 mm....................................................................................................................25
Patrón 15,00 mm....................................................................................................................26
Patrón 17,60 mm....................................................................................................................26
Patrón 20,20 mm....................................................................................................................27
Patrón 22,80 mm....................................................................................................................27
Patrón 25 mm.........................................................................................................................28
INSPECCIÓN DE PLANITUD DE SUPERFICIES DE LAS MORDAZAS DE LOS MICRÓMETROS POR
MEDIO DEL USO DE LUZ MONOCROMÁTICA.........................................................................28
7. CONCLUSIONES............................................................................................................36
8. REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS............................................................................37

Índice de tablas

Tabla 1 Patrones HOLEX............................................................................................................7

Tabla 2 Especificaciones de instrumentos de medida.................................................................10
Tabla 3 Datos y resultados micrómetro de exteriores FOWLER................................................11
Tabla 4 Datos y resultados micrómetro de exteriores FOWLER (Continuación).......................11
Tabla 5 Datos y resultados micrómetro de exteriores TESA......................................................17
Tabla 6 Datos y resultados micrómetro de exteriores TESA (Continuación).............................17
Tabla 7 Datos y resultados micrómetro de platillos MITUTOYO..............................................23
Tabla 8 Datos y resultados micrómetro de platillos MITUTOYO (Continuación)....................23
Tabla 9 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies
para micrómetro FOWLER........................................................................................................28
Tabla 10 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies
para micrómetro FOWLER (Continuación)...............................................................................30
Tabla 11 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies
para micrómetro TESA..............................................................................................................31
Tabla 12 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies
para micrómetro TESA. (Continuación).....................................................................................33

3
Tabla 13 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies
para micrómetro MITUTOYO...................................................................................................34
Tabla 14 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies
para micrómetro MITUTOYO. (Continuación).........................................................................35

Índice de figuras

Figura 1 Prensa INSIZE...............................................................................................................6

Figura 2 Patrones de longitud HOLEX........................................................................................6
Figura 3 Luna para inspección de planitud...................................................................................6
Figura 4 Micrómetro de Platiyos MITUTOYO............................................................................8
Figura 5 Micrómetro de exteriores FOWLER..............................................................................8
Figura 6 Micrómetro de exteriores TESA....................................................................................9
Figura 7 Luz monocromática.......................................................................................................9
Figura 8 Tabla de casos de superficies.........................................................................................9
Figura 9 Patrones.......................................................................................................................10
Figura 10 Resultados FOWLER Patrón 2,50 mm......................................................................12
Figura 11 Resultados FOWLER Patrón 5,10 mm......................................................................12
Figura 12 Resultados FOWLER Patrón 7,70 mm......................................................................13
Figura 13 Resultados FOWLER Patrón 10,30 mm.....................................................................13
Figura 14 Resultados FOWLER Patrón 12,90 mm.....................................................................14
Figura 15 Resultados FOWLER Patrón 15,00 mm.....................................................................14
Figura 16 Resultados FOWLER Patrón 17,60 mm.....................................................................15
Figura 17 Resultados FOWLER Patrón 20,20 mm.....................................................................15
Figura 18 Resultados FOWLER Patrón 22,80 mm.....................................................................16
Figura 19 Resultados FOWLER Patrón 25,00 mm.....................................................................16
Figura 20 Resultados TESA Patrón 2,50 mm.............................................................................18
Figura 21 Resultados TESA Patrón 5,10 mm.............................................................................18
Figura 22 Resultados TESA Patrón 7,70 mm.............................................................................19
Figura 23 Resultados TESA Patrón 10,30 mm...........................................................................19
Figura 24 Resultados TESA Patrón 12,90 mm...........................................................................20
Figura 25 Resultados TESA Patrón 15,00 mm...........................................................................20
Figura 26 Resultados TESA Patrón 17,60 mm...........................................................................21
Figura 27 Resultados TESA Patrón 20,20 mm...........................................................................21
Figura 28 Resultados TESA Patrón 22,80 mm...........................................................................22
Figura 29 Resultados TESA Patrón 25,00 mm...........................................................................22
Figura 30 Resultados MITUTOYO Patrón 2,50 mm..................................................................24
Figura 31 Resultados MITUTOYO Patrón 5,10 mm.................................................................24
Figura 32 Resultados MITUTOYO Patrón 7,70 mm.................................................................25
Figura 33 Resultados MITUTOYO Patrón 10,30 mm...............................................................25
Figura 34 Resultados MITUTOYO Patrón 12,90 mm...............................................................26
Figura 35 Resultados MITUTOYO Patrón 15,00 mm...............................................................26
Figura 36 Resultados MITUTOYO Patrón 17,60 mm...............................................................27
Figura 37 Resultados MITUTOYO Patrón 20,20 mm...............................................................27
Figura 38 Resultados MITUTOYO Patrón 22,80 mm...............................................................28
Figura 39 Resultados MITUTOYO Patrón 25,00 mm...............................................................28

4
 UNIVERSIDAD DE LAS FUERZAS ARMADAS – ESPE

DEPARTAMENTO DE CIENCIAS DE LA ENERGÍA Y MECÁNICA

LABORATORIO DE METROLOGÍA

Estudiante: Amores Rivas Jorge Andrés

PATRONES DE LONGITUD Y MEDICIÓN

DIRECTA CON MICRÓMETROS
1. OBJETIVO

Verificación de la exactitud y precisión de los micrómetros.

2. ALCANCE

Se aplica a la utilización de longitudes de referencia materializadas para verificar en este caso dos micrómetros de
exteriores y un micrómetro de platillos, complementado con análisis y reporte de resultados.

3. DEFINICIONES

Las definiciones que se presentan han sido obtenidas del Vocabulario Internacional de
Metrología, de la jerga de taller o de la indicada en Referencia

- Patrón de medida, m realización de la definición de una magnitud dada, con un valor determinado y una
incertidumbre de medida asociada, tomada como referencia.

- Patrón internacional de medida, m patrón reconocido por los firmantes de un acuerdo internacional con la
intención de ser utilizado mundialmente.

- Patrón nacional de medida, m patrón reconocido por una autoridad nacional para servir, en un estado o economía,
como base para la asignación de valores a otros patrones de magnitudes de la misma naturaleza.

- Patrón primario de medida, m patrón establecido mediante un procedimiento de medida primario o creado
como un objeto, elegido por convenio.

- Patrón secundario de medida, m patrón establecido por medio de una calibración respecto a un patrón
primario de una magnitud de la misma naturaleza.

- Indicación, f valor proporcionado por un instrumento o sistema de medida

-Planitud
Hay varias formas de medir la planitud de una superficie. El método más común dentro del sector de
lapeado plano es mediante el uso de una unidad de luz monocromática de sodio y un plano óptico . Esto proporciona
mediciones extremadamente precisas, más precisas que la mayoría de las mediciones CMM, de una manera
económica.

-Bandas de luz

5
 Las bandas de luz fueron descubiertas por Isaac Newton, quien las estudió por primera vez en 1717. Son un
patrón de interferencia creado por el reflejo de la luz entre dos superficies.
Cuando se utiliza una fuente de luz monocromática, es posible utilizar el fenómeno para calcular la planitud de un
componente, pero la superficie del componente debe ser reflectante para que aparezcan las bandas de luz. Las bandas
de luz se componen de una franja brillante y oscura. Combinados, estos corresponden a la longitud de onda de la luz
monocromática que, en el caso de una fuente de luz de Sodio, es igual a 589nm. Cuando se comprueban las partes
para ver si están planas, solo se cuentan las bandas oscuras, por lo que es la mitad de la franja total, cada banda
oscura es igual a 294 nm o 0.00029 mm.
Los procesos de lapeado de diamante son ideales para producir superficies reflectantes, que pueden medirse
para la planitud usando este método directamente después de la operación de lapeado.

4. EQUIPOS E INSTRUMENTOS
 Prensa de trabajo Marca INSIZE.

Figura 1 Prensa INSIZE.

 Patrones o bloques de caras paralela Marca HOLEX.

Figura 2 Patrones de longitud HOLEX.

En el juego están la lente para la interpretación de llanura y los siguientes patrones

Figura 3 Luna para inspección de planitud.

6
 Tabla 1 Patrones HOLEX

Patrón Medida [mm] Cantidad

2,5 1

5,1 1

7,7 1

10,3 1

12,9 1

15 1

7
 17,6 1

20,2 1

22,8 1

25 1

 Micrómetro de Platillos Marca MITUTOYO.

Figura 4 Micrómetro de Platiyos MITUTOYO.

 Micrómetro de exteriores Marca FOWLER.

Figura 5 Micrómetro de exteriores FOWLER.

8
  Micrómetro de exteriores Marca TESA.

Figura 6 Micrómetro de exteriores TESA

 Caja de luz monocromática.

Figura 7 Luz monocromática.

 Tabla de Interpretación de la planitud de la superficie.

Figura 8 Tabla de casos de superficies.

9
 5. PROCEDIMIENTO

Operaciones Previas

Identifique y registre las características de los equipos e instrumentos.

Tabla 2 Especificaciones de instrumentos de medida.

Apreciación Alcance
Ord Denominación Marca Estado Serie Procedencia Observación
[mm] [mm]
Micrómetro de
1 FOWLER Bueno Japón 0,01 0-25 N/A
exteriores
Micrómetro de
2 TESA Bueno Suiza 0,01 0-25 N/A
exteriores
Micrómetro de
3 MITUTOYO Bueno 0455480 Japón 0,01 0-25 N/A
Platillos

Realización de las pruebas

Se utilizará un arreglo con patrones de caras paralelas para formar las siguientes
10 medidas patrón siguientes: 2,5 mm; 5,1 mm; 7,7 mm; 10,3 mm; 12,9 mm; 15,0 mm;
17,6 mm; 20,2 mm; 22,8 mm; 25 mm, el o los patrones utilizados en una medida no
deben ser necesarios para formar otra medida dentro de este mismo grupo.

Ordene sobre la mesa de trabajo

Figura 9 Patrones

Mida con los instrumentos indicados en la práctica y registre los resultados.

Registre las medidas.

Repita el proceso para cada patrón y medición.

6. Tabulación de datos y resultados

10
 Micrómetro de exteriores FOWLER

Tabla 3 Datos y resultados micrómetro de exteriores FOWLER.

Apreciación Alcance
Micrómetro de exteriores Marca FOWLER 0,01 0-25
[mm] [mm]

Medida No. x i [mm]

Medida de
Medida Rango
referencia Promedio Desviación
patrón No. Moda Mediana Coeficiente Cuartil 1 Cuartil 2 Cuartil 3 Q3-Q1
x́ i [mm]
patrón [mm] 1 2 3 4 5 estándar Sesgo
[mm] [mm] asim Pearson [mm] [mm] [mm] [mm]
[mm]

1 2,50 2,5 2,48 2,48 2,49 2,48 2,49 0,01 2,48 2,48 2,25 0,75 2,48 2,48 2,49 -0,01

2 5,10 5,09 5,08 5,08 5,09 5,09 5,09 0,00 5,09 5,09 -2,45 -0,82 5,08 5,09 5,09 -0,01

3 7,70 7,69 7,67 7,67 7,68 7,68 7,68 0,01 7,67 7,68 -0,80 1,07 7,67 7,68 7,68 -0,01

4 10,30 10,28 10,28 10,27 10,28 10,28 10,28 0,00 10,28 10,28 -1,50 -0,50 10,28 10,28 10,28 0

5 12,90 12,87 12,88 12,87 12,88 12,86 12,87 0,01 12,87 12,87 0,80 0,27 12,87 12,87 12,88 -0,01

6 15,00 14,97 14,97 14,98 14,98 14,98 14,98 0,00 14,98 14,98 -2,45 -0,82 14,97 14,98 14,98 -0,01

7 17,60 17,57 17,58 17,57 17,58 17,57 17,57 0,00 17,57 17,57 2,45 0,82 17,57 17,57 17,58 -0,01

8 20,20 20,16 20,17 20,18 20,18 20,18 20,17 0,01 20,18 20,18 -2,25 -0,75 20,17 20,18 20,18 -0,01

9 22,80 22,77 22,77 22,77 22,77 22,77 22,77 0,00 22,77 22,77 - - 22,77 22,77 22,77 0

10 25,00 24,97 24,97 24,97 24,97 24,98 24,97 0,00 24,97 24,97 1,50 0,50 24,97 24,97 24,97 0

Tabla 4 Datos y resultados micrómetro de exteriores FOWLER (Continuación).

Micrómetro de exteriores Marca FOWLER

Desviación
Medida de Error
Medida
patrón No.
referencia patrón
[mm]
x́ i−x Absoluto
Error
Relativo %
[mm]
[mm]

1 2,50 -0,01 0,01 0,56

2 5,10 -0,01 0,01 0,27
3 7,70 -0,02 0,02 0,29
4 10,30 -0,02 0,02 0,21
5 12,90 -0,03 0,03 0,22
6 15,00 -0,02 0,02 0,16
7 17,60 -0,03 0,03 0,15
8 20,20 -0,03 0,03 0,13
9 22,80 -0,03 0,03 0,13
10 25,00 -0,03 0,03 0,11

11
Patrón 2,50 mm

2.51

Mediciones (mm) 2.5

2.49

Medición
Promedio
2.48 MAX
MIN

2.47

2.46
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 10 Resultados FOWLER Patrón 2,50 mm

Patrón 5,10 mm

5.1

5.09
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
5.08 MIN

5.07
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 11 Resultados FOWLER Patrón 5,10 mm

Patrón 7,70 mm

12
 7.7

7.69
Mediciones (mm)

7.68 Medición
Promedio
MAX
MIN
7.67

7.66
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 12 Resultados FOWLER Patrón 7,70 mm

Patrón 10,30 mm

10.29

10.28
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
10.27 MIN

10.26
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 13 Resultados FOWLER Patrón 10,30 mm

Patrón 12,90 mm

13
 12.89

12.88

Mediciones (mm)
12.87

Medición
Promedio
12.86 MAX
MIN

12.85

12.84
1 2 3 4 5
Medida No

Figura 14 Resultados FOWLER Patrón 12,90 mm

Patrón 15,00 mm

14.99

14.98
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
14.97 MIN

14.96
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 15 Resultados FOWLER Patrón 15,00 mm

Patrón 17,60 mm

14
 17.59

Mediciones (mm) 17.58

Medición
Promedio
MAX
17.57 MIN

17.56
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 16 Resultados FOWLER Patrón 17,60 mm

Patrón 20,20 mm

20.19

20.18
Mediciones (mm)

20.17

Medición
Promedio
20.16 MAX
MIN

20.15

20.14
1 2 3 4 5
Medida No

Figura 17 Resultados FOWLER Patrón 20,20 mm

Patrón 22,80 mm

15
 22.78

Mediciones (mm) 22.77

Medición
Promedio
MAX
22.76 MIN

22.75
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 18 Resultados FOWLER Patrón 22,80 mm

Patrón 25 mm

24.99

24.98
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
24.97
MIN

24.96
1 2 3 4 5

Medida No.

Figura 19 Resultados FOWLER Patrón 25,00 mm

16
 Micrómetro de exteriores TESA

Tabla 5 Datos y resultados micrómetro de exteriores TESA.

Tabla 6 Datos y resultados micrómetro de exteriores TESA (Continuación).

Apreciación Alcance
Micrómetro de exteriores Marca TESA 0,01 0-25
[mm] [mm]

Medida No. x i [mm]

Medida de
Medida Rango
referencia Promedio Desviación
patrón No. Moda Mediana Coeficiente Cuartil 1 Cuartil 2 Cuartil 3 Q3-Q1
x́ i [mm]
patrón [mm] 1 2 3 4 5 estándar Sesgo
[mm] [mm] asim Pearson [mm] [mm] [mm] [mm]
[mm]

1 2,50 2,49 2,49 2,49 2,49 2,49 2,49 0,00 2,49 2,49 - - 2,49 2,49 2,49 0

2 5,10 5,09 5,09 5,09 5,09 5,09 5,09 0,00 5,09 5,09 - - 5,09 5,09 5,09 0

3 7,70 7,69 7,69 7,69 7,69 7,69 7,69 0,00 7,69 7,69 - - 7,69 7,69 7,69 0

4 10,30 10,29 10,29 10,28 10,29 10,29 10,29 0,00 10,29 10,29 -1,50 -0,50 10,29 10,29 10,29 0

5 12,90 12,89 12,89 12,88 12,88 12,88 12,88 0,00 12,88 12,88 2,45 0,82 12,88 12,88 12,89 -0,01

6 15,00 14,99 14,99 14,99 14,99 14,99 14,99 0,00 14,99 14,99 - - 14,99 14,99 14,99 0

7 17,60 17,59 17,59 17,59 17,59 17,59 17,59 0,00 17,59 17,59 - - 17,59 17,59 17,59 0

8 20,20 20,19 20,19 20,19 20,19 20,19 20,19 0,00 20,19 20,19 - - 20,19 20,19 20,19 0

9 22,80 22,79 22,79 22,79 22,79 22,79 22,79 0,00 22,79 22,79 - - 22,79 22,79 22,79 0
Micrómetro de exteriores Marca TESA
10 25,00 24,99 24,99 24,99 24,99 24,99 24,99 0,00 24,99 24,99 - - 24,99 24,99 24,99 0

Desviación
Medida de Error
Medida
patrón No.
referencia x́ i−x Absoluto
Error
Relativo %
patrón [mm] [mm]
[mm]

1 2,50 -0,01 0,01 0,40

2 5,10 -0,01 0,01 0,20
3 7,70 -0,01 0,01 0,13
4 10,30 -0,01 0,01 0,12
5 12,90 -0,02 0,02 0,12
6 15,00 -0,01 0,01 0,07
7 17,60 -0,01 0,01 0,06
8 20,20 -0,01 0,01 0,05
9 22,80 -0,01 0,01 0,04
10 25,00 -0,01 0,01 0,04

17
Patrón 2,50 mm

2.5

2.49

2.48

2.47
Mediciones (mm)

2.46

2.45 Medición
Promedio
2.44 MAX
MIN
2.43

2.42

2.41

2.4
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 20 Resultados TESA Patrón 2,50 mm

Patrón 5,10 mm

5.1

5.08
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
5.06 MIN

5.04
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 21 Resultados TESA Patrón 5,10 mm

Patrón 7,70 mm

18
 7.7

7.69

7.68

7.67
Mediciones (mm)
7.66

7.65 Medición
Promedio
7.64 MAX
MIN
7.63

7.62

7.61

7.6
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 22 Resultados TESA Patrón 7,70 mm

Patrón 10,30 mm

10.3

10.29
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
10.28
MIN

10.27
1 2 3 4 5

Medida No.

Figura 23 Resultados TESA Patrón 10,30 mm

Patrón 12,90 mm

19
 12.9

Mediciones (mm) 12.89

Medición
Promedio
MAX
12.88
MIN

12.87
1 2 3 4 5

Medida No.

Figura 24 Resultados TESA Patrón 12,90 mm

Patrón 15,00 mm

15

14.98

14.96

14.94
Mediciones (mm)

14.92

14.9 Medición
Promedio
14.88 MAX
MIN
14.86

14.84

14.82

14.8
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 25 Resultados TESA Patrón 15,00 mm

Patrón 17,60 mm

20
 17.6

17.59

17.58

17.57
Mediciones (mm)
17.56

17.55 Medición
Promedio
17.54 MAX
MIN
17.53

17.52

17.51

17.5
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 26 Resultados TESA Patrón 17,60 mm

Patrón 20,20 mm

20.2

20.19

20.18

20.17
Mediciones (mm)

20.16

20.15 Medición
Promedio
20.14 MAX
MIN
20.13

20.12

20.11

20.1
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 27 Resultados TESA Patrón 20,20 mm

Patrón 22,80 mm

21
 22.8

22.79

22.78

22.77
Mediciones (mm)
22.76

22.75 Medición
Promedio
22.74 MAX
MIN
22.73

22.72

22.71

22.7
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 28 Resultados TESA Patrón 22,80 mm

Patrón 25 mm

25
24.99

24.99
24.98

24.98
Mediciones (mm)

24.97
Medición
24.97 Promedio
24.96 MAX
MIN
24.96

24.95
24.95

24.94
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 29 Resultados TESA Patrón 25,00 mm

22
 Micrómetro de platillos MITUTOYO

Tabla 7 Datos y resultados micrómetro de platillos MITUTOYO

Tabla 8 Datos y resultados micrómetro de platillos MITUTOYO (Continuación).

MITUTOY Apreciación Alcance

Micrómetro de platillos Marca 0,01 0-25
O [mm] [mm]

Medida No. x i [mm]

Medida de
Medida Rango
referencia Promedio Desviación
patrón No. Moda Mediana Coeficiente Cuartil 1 Cuartil 2 Cuartil 3 Q3-Q1
x́ i [mm]
patrón [mm] 1 2 3 4 5 estándar Sesgo
[mm] [mm] asim Pearson [mm] [mm] [mm] [mm]
[mm]

1 2,50 2,48 2,49 2,49 2,48 2,48 2,48 0,00 2,48 2,48 2,45 0,82 2,48 2,48 2,49 -0,01

2 5,10 5,09 5,09 5,09 5,09 5,09 5,09 0,00 5,09 5,09 - - 5,09 5,09 5,09 0

3 7,70 7,69 7,69 7,69 7,69 7,69 7,69 0,00 7,69 7,69 - - 7,69 7,69 7,69 0

4 10,30 10,29 10,29 10,29 10,28 10,28 10,29 0,00 10,29 10,29 -2,45 -0,82 10,28 10,29 10,29 -0,01

5 12,90 12,88 12,89 12,89 12,89 12,88

Micrómetro de12,89
platillos 0,00 12,89
Marca 12,89MITUTOY -2,45 -0,82 12,88 12,89 12,89 -0,01
O
6 15,00 14,98 14,99 14,99 14,99 14,99 14,99 0,00 14,99 14,99 -1,50 -0,50 14,99 14,99 14,99 0

7 17,60 17,58 17,59 17,59 17,58 17,59 17,59 0,00 17,59 17,59 -2,45 -0,82 17,58 17,59 17,59 -0,01
Desviación
Medida de Error
8 20,20 20,18 20,19 20,18 Medida
20,18
patrón No.
20,19
referencia20,18 x́ i−x
0,00 20,18
Absoluto 20,18 Error
Relativo %
2,45 0,82 20,18 20,18 20,19 -0,01

9 22,80 22,78 22,79 20,79 22,78 patrón [mm]

22,79 22,39 0,80 [mm]
22,78 22,78 -1,48 -0,49 22,78 22,78 22,79 -0,01
[mm]
10 25,00 24,99 24,99 24,99 24,99 24,98 24,99 0,00 24,99 24,99 -1,50 -0,50 24,99 24,99 24,99 0
1 2,50 -0,02 0,02 0,64

2 5,10 -0,01 0,01 0,20

3 7,70 -0,01 0,01 0,13

4 10,30 -0,01 0,01 0,14

5 12,90 -0,01 0,01 0,11

6 15,00 -0,01 0,01 0,08

7 17,60 -0,01 0,01 0,08

8 20,20 -0,02 0,02 0,08

9 22,80 -0,41 0,41 1,82

10 25,00 -0,01 0,01 0,05

23
Patrón 2,50 mm

2.5

2.49
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
2.48 MIN

2.47
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 30 Resultados MITUTOYO Patrón 2,50 mm

Patrón 5,10 mm

5.10

5.09

5.08

5.07
Mediciones (mm)

5.06

5.05 Medición
Promedio
5.04 MAX
MIN
5.03

5.02

5.01

5.00
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 31 Resultados MITUTOYO Patrón 5,10 mm

Patrón 7,70 mm

24
 7.7

7.69

7.68

7.67
Mediciones (mm)
7.66

7.65 Medición
Promedio
7.64 MAX
MIN
7.63

7.62

7.61

7.6
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 32 Resultados MITUTOYO Patrón 7,70 mm

Patrón 10,30 mm

10.3

10.29
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
10.28
MIN

10.27
1 2 3 4 5

Medida No.

Figura 33 Resultados MITUTOYO Patrón 10,30 mm

Patrón 12,90 mm

25
 12.9

Mediciones (mm) 12.89

Medición
Promedio
MAX
12.88
MIN

12.87
1 2 3 4 5

Medida No.

Figura 34 Resultados MITUTOYO Patrón 12,90 mm

Patrón 15,00 mm

15

14.99
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
14.98 MIN

14.97
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 35 Resultados MITUTOYO Patrón 15,00 mm

Patrón 17,60 mm

26
 17.6

Mediciones (mm) 17.59

Medición
Promedio
MAX
17.58
MIN

17.57
1 2 3 4 5

Medida No.

Figura 36 Resultados MITUTOYO Patrón 17,60 mm

Patrón 20,20 mm

20.2

20.19
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
20.18 MIN

20.17
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 37 Resultados MITUTOYO Patrón 20,20 mm

Patrón 22,80 mm

27
 24.04

23.03
Mediciones (mm)

22.02 Medición
Promedio
MAX
MIN
21.01

20
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 38 Resultados MITUTOYO Patrón 22,80 mm

Patrón 25 mm

25

24.99
Mediciones (mm)

Medición
Promedio
MAX
24.98 MIN

24.97
1 2 3 4 5
Medida No.

Figura 39 Resultados MITUTOYO Patrón 25,00 mm

INSPECCIÓN DE PLANITUD DE SUPERFICIES DE LAS MORDAZAS DE LOS MICRÓMETROS POR

MEDIO DEL USO DE LUZ MONOCROMÁTICA.

Tabla 9 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies para micrómetro FOWLER.

Micrómetro de
Marca FOWLER
exteriores

Número de
toma de Superficie Yunque Superficie mordaza móvil
medidas

28
1

29
 5

Tabla 10 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies para micrómetro FOWLER (Continuación)

Micrómetro de
Marca FOWLER
exteriores
Número de
toma de Resultados Observaciones
medidas

En ambas superficies indica que es absolutamente

1 plano, el desgaste o uso de este instrumento en esta
primera toma de medidas ha sido casi nulo

En ambas superficies indica que es absolutamente

2 plano, el desgaste o uso de este instrumento en esta
segunda toma de medidas ha sido casi nulo

30
 En ambas superficies indica que la superficie es
tipo cilíndrico convexo, el desgaste debido al uso
3
de este instrumento en esta toma de medidas ya
comienza a visualizarse.

En ambas superficies indica que la superficie es

tipo cilíndrico convexo, el desgaste debido al uso
4
de este instrumento en esta toma de medidas ya
comienza a visualizarse.

En ambas superficies indica que la superficie es

tipo cilíndrico convexo, el desgaste debido al uso
5
de este instrumento en esta toma de medidas ya
comienza a visualizarse.

Tabla 11 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies para micrómetro TESA.

Micrómetro
Marca TESA
de exteriores

Número de
toma de Superficie Yunque Superficie mordaza móvil
medidas

31
2

32
 5

Tabla 12 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies para micrómetro TESA. (Continuación)

Micrómetro de
Marca TESA
exteriores
Número de
toma de Resultados Observaciones
medidas

En ambas superficies indica que la superficie es

tipo cilíndrico convexo, el desgaste debido al uso
1
de este instrumento en esta toma de medidas ya
comienza a visualizarse.

En ambas superficies indica que la superficie es

tipo cilíndrico convexo, el desgaste debido al uso
2
de este instrumento en esta toma de medidas ya
comienza a visualizarse.

33
 4

Tabla 13 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies para micrómetro MITUTOYO.

Micrómetro de
Marca MITUTOYO
platillos

Número de
toma de Superficie Yunque Superficie mordaza móvil
medidas

34
 3

Tabla 14 Inspección visual por luz monocromática para verificación de planitud de superficies para micrómetro MITUTOYO. (Continuación)

Micrómetro de
Marca MITUTOYO
platillos
Número de
toma de Resultados Observaciones
medidas

35
 En ambas superficies se aprecia línea recta por
1 ende significa que el uso y el desgaste ha sido casi
nulo.

El desgaste en la planitud de la superficies en

2
ambas caras es nulo.

En ambas caras hay líneas rectas por lo cual

3
significa que ambas caras son planas.

En ambas caras hay líneas rectas por lo cual

4
significa que ambas caras son planas.

En ambas caras hay líneas rectas por lo cual

5
significa que ambas caras son planas.

7. CONCLUSIONES

36
 En el análisis de resultados y gráficas se puede apreciar que el micrómetro FOWLER posee mayor
desviación y error con respecto al valor de la medida referencial en todos los patrones, el micrómetro TESA fue el
instrumento cuya medida no cambiaba en cada iteración por la cual su desviación estándar daba un resultado de 0.

En todos los tres micrómetros ninguno se acercaba al valor real de cada patrón, en base a las tablas de datos
y resultados, en ordenando del más preciso al menor sería de la siguiente manera, TESA, MITUTOYO y FOWLER;
y ordenándolos del más exacto al menor, TESA sería el mejor, y le seguiría MITUTOYO y FOWLER.

El micrómetro de exteriores TESA, en base a las tablas de datos y resultados es el único que mostraba
reiteradas veces una desviación estándar de 0 con respecto a la medida promedio.

En cuestión de la calidad de su superficie, en base a la inspección visual por medio de la luz

monocromática, el micrómetro MITUTOYO de procedencia japonés era el único cuya superficie sea en el yunque y
la mordaza móvil, siempre presentaba líneas rectas daban a concluir que era una superficie totalmente plana y que el
uso de este instrumento ha sido poco o casi nulo para la cual fue fabricado y que el desgaste no ha sido mayor y no ha
incidido sobre la superficie, el siguiente en cuanto a menor desgaste el FOWLER de procedencia japonés, al inicio de
las medidas presentaba líneas rectas y posteriormente ya comenzaba a tornar en líneas curvas clasificándose como
superficie en un entorno cilíndrica y convexa, pero su desgaste no presenta mayor significancia para la toma de
medidas, y de ahí el micrómetro TESA de procedencia suiza en las superficies en ambas caras del yunque y de la
mordaza móvil presentan líneas curvas, es decir cilíndrica convexa.

8. REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS

 Vocabulario Internacional de Metrología. Conceptos fundamentales y generales y

términos asociados. 3ª ed. en español (traducción de 3ª ed. en inglés), Centro Español de
Metrología, 2009, NIPO 706-09-001-0.
 Catálogo de instrumentos de medición Mitutoyo
 http://www.demaquinasyherramientas.com/herramientas-de-medicion/bloques-patron

37