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Aplicación de Los Rayos X en Cristalografía
Aplicación de Los Rayos X en Cristalografía
n λ = 2 dhkl sen θnh,nk,nl
Método de Bagg
Aplicación
de los rayos
X en
cristalografía
Aplicación
Cuando los frentes de onda emergentes (tras la reflexión) están en
oposición de fase, no se observará intensidad reflejada, es decir,
Método de Bagg que no se estará cumpliendo la ley de Bragg
Bibliografía:
La difracción procedente de una sola Blow, D. (2002). Aplicación de los rayos X en cristalografía
molécula es demasiado débil para que
consultado en
pueda medirse. Un cristal es un sólido con
https://www.sebbm.es/web/es/divulgacion/rincon-profesor-
estructura interna ordenada de los Cuando los frentes de onda emergentes (tras la reflexión) están en fase,
elementos que lo componen. se observará intensidad reflejada, es decir, se estará cumpliendo la ley de ciencias/articulos-divulgacion-cientifica/314-cristalografia-de-
rayos-x-de-macromoleculas