Longitud de onda de la luz

Juan A. Guzman P.
Universidad de los Andes, Facultad de Ciencias, Bogotá, Cundinamarca, Colombia

Manuel F. Córdoba P.
Universidad de los Andes, Facultad de Ingenierı́a, Bogotá, Cundinamarca, Colombia

Resumen: Cuando un haz de luz atraviesa una rendija ocurre un fenomeno conocido como
difraccion, este produce una interferencia entre las ondas de la luz, generando un patron que por,
medio de una prediccion matematica, nos pemite encontrar la longitud de onda del haz de luz.

I. INTRODUCCIÓN difraccion de Fresnel. El modelo de Fraunhofer es un me-

Diferentes observaciones realizadas en ciertos fenóme-
nos térmicos, reunió la atención de diversos cientı́ficos
con el fin de obtener un análisis experimental y teórico
de cada uno de éstos. Uno de los fenómenos más impor-
tantes que generan cierta fascinación dentro de la comu-
nidad cientı́fica es la radiación de cuerpo negro, en la cual
cientı́ficos como Josef Stefan y Ludwig Boltzmann ana-
lizaron la radiación térmica emitida por ciertos cuerpos
a determinada temperatura, especı́ficamente en el caso
de los metales. Dichos estudios, permitieron realizar di-
versos análisis a nivel estelar, permitiendo determinar la
luminosidad del sol. Siendo ası́, en este práctica se com-
probará experimentalmente la ley de Stefan-Boltzmann y
se analizará qué factores pueden presentar desviaciones o
discrepancias con la teorı́a, teniendo presente si el objeto
de estudio posee una aproximación a un cuerpo negro, lo
cual se constituye en el ideal. Ası́ mismo, se observará si
el calor ya emitido por el material en estudio (bombilla)
posee influencia en las mediciones siguientes.
todo relativamente sencillo, aunque se ve limitado debido
a que, permite estimar el comportamiento de difraccion,
pero cuando este es producido por un obstaculo situado
a una distancia lo suficientemente distante. El modelo de
fresnel difiere en el hecho de que el objeto causante de la
difraccion se encuentra cerca. Para identificar cual caso
es aplicable se puede hacer uso del numero de Fresnel,
que se obtiene de la siguente ecuacion:
a2
F = (1)
Lλ
Donde λ representa la longitud de onda, a es el tamaño
de la apertura, y L es la distancia desde la apertura hasta
la pantalla. Si F  1 es aplicable el caso de Fraunhofer,
en cambio, si F ≥ 1 es aplicable el caso de Fresnel.
Difraccion de Fraunhofer:
Como ya se menciono, este modelo se ajusta cuando
la distancia entre el objeto causante de la difraccion y
la pantalla es relativamente alta, el modelo se basa en la
siguiente ecuacion:

n
dsin(θ) = (2)
λ
II. OBJETIVOS Donde d representa la distancia entre el objeto causan-
te y la pantalla, n el nivel de difraccion de la luz y θ el
Medir la longitud de onda emitida por un laser angulo entre la luz sin difraccion y el haz de luz con n
usando el fenomeno de difraccion. nivel de difraccion, esto se puede entender mejor con la
siguiente ilustracion:
Con la longitud de onda medida, determinar la den-
sidad de una rejilla de difraccion (con el fin de usar
la rejilla mas adelante en otros experimentos).

Comprender conceptual y matematicamente el fe-

nomeno de la difraccion de la luz, incluyendo la
difraccion de Fresnel y Fraunhofer.

III. MARCO TEÓRICO

Difraccion:
La difraccion es el fenomeno caracteristico de las on-
das, que ocurre por la desviacion de estas al atravesar una
rendija o al encontrarse con un obstaculo. Este comporta- Figura 1. Difraccion rendija simple
miento puede ser predicho matematicamente por medio
de dos modelos distintos, la difraccion de Fraunhofer y la Se tiene que
 2

V. PROCEDIMIENTO Y RESULTADOS
h OBTENIDOS
tan(θ) =
d
Con el calibrador (la parte delgada cerca de la punta)
se forma una ranura angosta (menos de 1 mm), y se hace
h
θ = arctan( ) pasar por ella la luz de un láser. A buena distancia de la
d ranura se pone una pantalla (o se usa una pared), sobre la
Tambien podemos encontrar que cual se mide el patrón de difracción. Se repite la prueba
con muchas aperturas de la ranura. Como ayuda para
2D2
d= (3) fijar el ancho de las ranuras, se puede usar hojas de papel:
λ Se cierra el calibrador sobre 1 hoja, luego se saca la hoja
Donde D representa la dimension mas grande del ra- sin alterar el calibrador, y se hace la prueba de difracción.
diador. Se repite esto con 2, 3, 4... hojas de papel (todos los
Difraccion de Fresnel: valores posibles). Para conocer el espesor de una hoja, se
Es un patron de difraccion de onda obtenida muy cerca mide el espesor conjunto de muchas hojas. Para medir el
del objeto causante de la difraccion, el patron de difrac- ancho de una franja es aconsejable medir el ancho total
cion en el punto (x, y, z) esta dado por: de varias franjas. Medir la distancia entre mı́nimos puede
−i
Z Z
ei kr 0 0 ser mejor que medir entre máximos. Luego de agotar las
E(x, y, z) = E(x0 , y 0 , 0) dx dy (4) posibilidades del calibrador, se hace pasar el mismo rayo
λ r por una rejilla de difracción y se miden los ángulos en
Donde que salen los rayos difractados. Hay que medir todos los
ordenes que se pueda observar.
p Resultados:
r= (x − x0 )2 + (y − y 0 )2 + (z)2 d(m) x(m) y3 (m)
0,0008 1,44 0,025
0,0008 1,18 0,02
z 0,0008 0,59 0,015
cosθ =
r 0,0008 0,62 0,0125
0,0008 1,05 0,0175
0,0008 0,75 0,014
0,0008 0,62 0,009

Figura 2. Difraccion de Fresnel

IV. MONTAJE EXPERIMENTAL

A. Materiales Figura 3. Grafica de resultados con su ajuste

Láser De este ajuste obtenemos un valor x, que sera equiva-

lente a:
Calibrador
Rejilla de difracción mλ
x = 0,018 = (5)
Regla d
Por lo que podemos obtener λ:
Cuaderno o libro (de papel delgado).
dx
λ= = 472,3nm (6)
m
 3

d(m) x(m) y3 (m)

0,0032 3,53 0,015
0,004 3,53 0,02
0,0048 3,53 0,021
0,0024 3,53 0,035
0,0016 3,53 0,055

Figura 5. Grafica de resultados con su ajuste

De acuerdo con lo anterior, en la etapa 1 se tiene un error

experimental respecto a la longitud de onda de aproxi-
madamente 0.59 %, el cual es un intervalo de diferencia
asociado a un error poco significativo. Siendo ası́ , a par-
Figura 4. Grafica de resultados con su ajuste tir de los datos que se obtuvieron , se puede ver que
existen valores cercanos al valor teórico de la longitud de
De este ajuste obtenemos un valor z, que sera equiva- onda (no difiere en orden de magnitud) . De esta manera,
lente a: se resalta un conjunto de coordenadas x , y, d donde el
experimento funciona de una manera mucho más exac-
ta. Este conjunto se trata de 1,44 m, [0.025 , 0.015] m ,
z = 7,14e − 05 = mλx (7)
[0.0008 , 0.0032] m. Con estos datos, es posible obtener
Por lo que podemos obtener λ: una longitud de onda más cercana a la longitud de onda
teórica.
z
λ= = 674,2nm (8) Ahora, el primer montaje realizado que correspondió
mx a variar la distancia X no es la más apropiada. Esto es
x(m) y3 (m) debido a la dificultad de mantener un ángulo correcto en
,045 0,03 la pantalla y la rejilla respecto a la horizontal trazada por
0,1 0,07 el laser. Cuando se varı́a la distancia y , éste error resulta
0,15 0,105 implı́cito en todos los datos, por lo cual no es un factor de
0,19 0,135 error asociado a dicho montaje. Ası́ mismo, éste último
0,38 0,245 montaje (en el que se varı́a y) respeta la aproximación
0,07 0,053 realizada sobre la ley de Huygens ; y permite aprociar que
De este ajuste obtenemos un valor w, que sera equi- entre menor sea la distancia x , mayor será la distancia
valente a: entre 2 mı́nimos o máximos. Al usar grandes distancias
para x, la toma de datos se hace mucho más compleja,
pues apreciar los mı́nimos resulta muy difı́cil.
mλ
w = 0,67 = (9) Esta última afirmación es más evidente en el monta-
d je para el cual se mantuvo d contante y se variaron los
Por lo que podemos obtener d: resultados de X y Y , donde x es al menos 2 ordenes de
magnitud menor respecto a los otros montaje. Debido a
mλ esto la toma de datos de la distancia y es más precisa,
d= = 0,00011m (10)
w siendo mucho mayor que en las etapas mencionadas ante-
riormente. Por lo tanto, el error sistemático causado por
la toma de datos se reduce considerablemente. Compa-
VI. ANÁLISIS DE RESULTADOS rando el valor experimental con el valor de teórico de la
longitud de onda , se obtiene un error de 0.62 % . Sien-
Los datos obtenidos en cada uno de los procedimientos do ası́, se resalta la aproximación implementada en la
permiten observar el fenómeno de interferencia en fun- obenteción de la ley de Huygens. Al ser una rendija de
ción de los montajes implementados durante la práctica. un tamaño ı́nfomo respecto a la distancia entre ésta y la

pantalla, la aproximación geométrica asociada al sin es
válida, lo cual no se cumple en su totalidad en las otras
etapas.
Un factor importante durante los montajes y la toma
de datos son los ángulos, respecto a la horizontal, de la
pantalla y la rejilla. Éste es más notorio en el caso del
calibrador, donde al mover éste, variaba la distancia y so-
bre la pantalla. Durante el montaje, fue posible apreciar
dos puntos de amplitud mı́nima, los cuales, a medida que
el calibrador se acercaba a un ángulo 0 respecto a la hori-
zontal, desaparecı́a. Este otro punto de máxima amplitud
se debı́a al reflejo causado por el láser sobre la superfi-
cie del calibrador y, consecuentemente, distorsionaba los
datos a medir. Este factor no causó gran error , ya que
al tener una rendija bastante pequeña, y la superficie de
ésta no ser metálica, no se apreciaba este fenómeno de
reflexión.
Una observación adicional sobre el fenómeno de inter-
ferencia realizada en la práctica es sobre el posible efecto
que tiene la distancia de la fuente respecto a la rejilla. En
primera instancia, se notó que al variar la distancia del
láser respecto a la rendija, variaba la longitud y sobre la
pantalla. Este factor no es incluido en la ley de Huygens.
Sin embargo, se evaluaron otros factores adicionales que
pueden causar este efecto, como lo es el ángulo del láser
respecto a la rendija, que al variar considerablemente,
afecta la toma de datos. Para llevar a cabo una buena
toma de datos y analizar este factor, se podrı́a llevar a
cabo un montaje similar, montando el láser sobre un eje
(riel) de tal manera que permanezca perpendicular a la
rendija. De ser ası́, la aproximación realizada en la ley
de Huygens podrı́a variar. Un análisis anticipado a este
fenómeno incluye que, entre menor sea la distancia entre
el láser y la rendija, los frentes de onda serán más esféri-
cos al encontrarse con ésta, por lo cual el fenómeno de
interferencia variará. Para ello, se podrı́a usar una onda
electromagnética con menor longitud de onda, de modo
que los frentes no estén tan dispersos entre sı́ y se consiga
un choque de onda menos plano.
VII. CONCLUSIONES
Para realizar un experimento sobre interferencia de
la luz, usando un haz con una longitud de onda de 700
[1] H. Young & C. J. Michelson, Midiendo la Longitud
de Onda de la Luz, segunda edición,Pearson,2000.
[2] YOUNG, H., & FREEDMAN, R., UNIVERSITY PHY-
SICS, EEUU, San Francisco: Pearson Education,2012.
4
nm aproximadamente, es necesario usar una rendija
alrededor de 1, 6 m. De este modo es posible apreciar la
distancia entre dos mı́nimos con mayor precisión. Entre
menor sea esta rendija, más se aproxima a la ley de
Huygens. Al tener una rejilla considerable, es necesario
evaluar la idea de que esta rejilla está compuesta
por n rendijas, lo cual varı́a los datos en relación a
esta ley. Si la longitud de onda fuese mayor, el uso
del calibrador como rejilla será más apropiado y se
aproximarı́a más a la teorı́a propuesta para el fenómeno
de interferencia. Al usar una rejilla , la toma de datos
es más aproximada si se varı́a esta apertura dejando
la distancia entre la pantalla y la rejilla constante.
Esto disminuye el rango de error causado por el ángulo
respecto a la horizontal tanto de la pantalla como de la
rejilla. Ası́ mismo, el montaje podrı́a variar y mejorarse
al usar ondas electromagnéticas de distinta longitud
de onda, y observar que ocurre con cada una a una
determinada longitud de la rejilla. La aproximación
geométrica realizada puede variar de acuerdo a la
magnitud de las variables. Para realizar una toma de
datos más adecuada sin el uso de aproximaciones, se ne-
cesita medir el ángulo respecto a la dirección original del
haz de luz, y ası́ obtener una toma de datos más eficiente.
Para el montaje en que se mantuvo y constante y se
varió la distancia x, se pudo observar que entre mayor
sea la distancia x, mayor será el error respecto a la lon-
gitud de onda teórica. Por tanto, para realizar una toma
de datos más acertada, es recomendable variar x entre un
intervalo de 20 a 100 cm. Por último, vale la pena recal-
car que los mejores resultados se obtuvieron utilizando
la laminilla de difracción de 600 ranuras por milı́metro.
Como ya fue mencionado esta permitió controlar el re-
flejo de la luz dentro de las ranuras, además de facilitar
mantener constante la distancia d. Por esta razón pudo
ser de mucha ganancia realizar la totalidad del experi-
mento con este tipo de instrumentos siendo capaces de
variar y precisamente manteniendo x contante o variar x
sin sufrir los errores ocasionados por manipular el cali-
brador. Adicionalmente la precisión podrı́a ser mejorada
cambiando el método de adquirir los datos, una propues-
ta seria un análisis grafico a partir de imágenes. Esto no
solo ayudarı́a mejorar la medición de las distancias y sino
que permitirı́a analizar las intensidades de cada máximo
con la finalidad de comprobar el modelo que las describe.
[3] Augusto Belendez Vasquez, Difracció Resumen,
Departamento de Fı́sica, Universidad de Alicante, 2000.
[4] Oscar Alvarez, Difracción a Través de una Rendi-
ja,Universidad Computense de Madrid, 2010.