TECNOLOGICO DE ESTUDIOS SUPERIORES DE

ECATEPEC

MATERIA: CIENCIA E INGENIERÍA DE LOS

MATERIALES

PRESENTAN:

FUENTE DE RAYOS X

VAZQUEZ RUIZ BLADIMIR DIVISION INGENIERIA MECATRONICA.

MATRICULA: 201622794

PERIODO

2018-2
 FUENTE DE RAYOS X

Las fuentes de rayos X son indispensables para todo instrumento con rayos X ya
que generan la radiación necesaria para el análisis de la estructura de materiales
que será útil en distintos campos de investigación.

Las fuentes de rayos X deben ofrecer la estabilidad térmica ideal para lograr una
buena posición del haz de rayos X y una intensidad alta, incluso con niveles de
potencia bajos.

Los equipos de rayos X deben garantizar una seguridad máxima en la radiación

para los operarios y el equipo.

Los rayos X que más interesan en el campo de la Cristalografía son los que tienen
una longitud de onda alrededor de 1 Angstrom, pues esa longitud de onda es muy
próxima a las distancias entre los átomos y por lo tanto resulta razonable pensar
que es capaz de interaccionar con éstos y dar así información sobre los mismos.
Estos rayos X corresponden a una frecuencia de aproximadamente 3 millones de
THz y a una energía de 12.4 keV (kilo-electrón-voltios), que a su vez equivaldría a
una temperatura de unos 144 millones de grados. Este tipo de radiación X se
produce en los laboratorios de Cristalografía o en las llamadas grandes
instalaciones de sincrotrón como ESRF, ALBA, Diamond, DESY.
 DIFRACCIÓN DE RAYOS X

Este método se utiliza para obtener información de la estructura cristalina de un

material.

Y este se refiere a cuando un haz monocromático del mismo orden de magnitud que
el espaciamiento atómico del material lo golpea, los rayos X se dispersan en todas
direcciones.

La mayor parte de la radiación emitida por un átomo anula la dispersada por otros
átomos, sin embargo, los rayos X que golpean ciertas zonas cristalográficas en
ángulos específicos se ven reforzados en vez de eliminados y a esto se le conoce
como difracción.

Un difractometro es un detector de rayos x que registra los ángulos en los cuales se

difracta el haz lo que genera un patrón característico de difracción. Con este
dispositivo, si se conoce la longitud de onda de los rayos X, se pueden saber los
espacios interplanares, así como la identidad de los planos que causan la difracción.

Los datos más importantes obtenidos a partir de un difracto grama son posición de
los picos expresada en valores de θ, 2θ, d ó q = 1/d2. Las intensidades de pico son
las intensidades que se pueden tomar como alturas de los picos o para trabajos de
más precisión las áreas. Y por último el perfil de pico que, aunque se utiliza menos
que los anteriores la forma de los picos también proporciona información útil sobre
la muestra analizada.

POLVO POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X

La difracción de rayos X de polvos es una técnica no destructiva que sirve para

identificar los minerales por su estructura cristalina. Esta tiene un amplio rango de
materiales, tales como minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, compuestos
farmacéuticos, cerámicos y semiconductores.

Esta ha llegado a ser un método muy requerido para la caracterización y control de

calidad de diversos materiales.

Cuando un material es preparado a manera de polvo fino, existirán partículas de

dicho polvo cuyos planos queden orientados en el ángulo adecuado y en
consecuencia se producirá un haz difractado a un ángulo de 2 en relación con el
haz incidente.

Esto es posible gracias a que los minerales son cristalinos y la distribución regular
en el espacio de sus componentes se describe por medio de redes cristalinas, que
manifiestan la repetición periódica de la celda del mineral.

La difracción de polvo cristalino nos informa sobre estos dos niveles, por lo que nos
permite distinguir minerales con redes similares, así como determinar los
espaciados e intensidades de una forma rápida y sencilla. La muestra de mineral
para el análisis se prepara reduciéndola a polvo fino y se extiende sobre un porta
muestras usando una pequeña cantidad de aglomerante adhesivo. Y con esto
tendremos como resultado la obtención de muchos cristales pequeños los cuales
cumplirán la función de reflejarlos rayos X.

CONDICIONES DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X

La interacción de los rayos X con la materia principalmente ocurre mediante dos

procesos:

a) Algunos fotones del haz incidente son desviados sin pérdida de energía,
constituyen la radiación dispersada exactamente con la misma λ que la radiación
incidente (es la que origina el fenómeno de la difracción).

b) Los fotones pueden sufrir una serie de choques inelásticos al incidir sobre un
blanco y su energía incrementa la T de la muestra o da lugar al fenómeno de
fluorescencia.

Existen diversas condiciones para que un rayo X sea difractado. Un rayo difractado
puede definirse como un rayo compuesto de un gran número de rayos dispersados
que se refuerzan mutuamente por lo que es un fenómeno de dispersión. Los átomos
dispersan la radiación incidente en todas direcciones, y en algunas direcciones los
rayos dispersados estarán completamente en fase y por tanto se refuerzan
mutuamente para formar rayos difractados.