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ULTRASONIDO
Ing. Ricardo Echevarria
AO 2002
Indices 2
INDICE
INDICE .................................................................................................................................................2
ENSAYO DE ULTRASONIDO ............................................................................................................4
1.- PRINCIPIOS ACSTICOS.........................................................................................................4
1.1 OSCILACIN .........................................................................................................................4
1.2 ONDAS: ..................................................................................................................................6
1.3 TIPOS DE ONDAS:................................................................................................................8
1.31 Onda longitudinal..............................................................................................................8
1.32. Onda transversal: ............................................................................................................9
1.4. SONIDO.................................................................................................................................9
1.41- Propagacin del sonido:................................................................................................10
1.42 .El comportamiento de ondas snicas en superficies limites........................................12
1.43. Dispersin, difraccin , interferencia: ............................................................................15
1.44. Disminucin de la presin snica..................................................................................17
2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS INSTRUMENTOS. ...............................................................20
2.1. GENERACIN DE ULTRASONIDO...................................................................................20
2.11. Procedimientos mecnicos...........................................................................................20
2.12. Efecto magnetoestrictivo ...............................................................................................20
2.13. Efecto piezoelctrico .....................................................................................................20
2.2. PROCEDIMIENTO DE ENSAYO ULTRASONICO............................................................23
2.21. Procedimiento de transmisin.......................................................................................23
2.22. Procedimiento de pulso-eco..........................................................................................25
2.23. Otros procedimientos de ensayo ..................................................................................27
2.3. PALPADORES....................................................................................................................28
2.31 Propiedades....................................................................................................................28
2.32. Campo snico................................................................................................................29
2.33. Descripcin de palpadores ultrasnicos .......................................................................31
2.4. EQUIPOS DE ENSAYO ULTRASONICO ..........................................................................43
2.41. Instrumental bsico .......................................................................................................43
2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION .................................................................................49
2.51 Representacin "Tipo A" (o pantalla Tipo A) .................................................................49
2.52 Representacin "Tipo B" ................................................................................................49
2.53 Representacin "Tipo C" ................................................................................................50
2.6. BLOQUES PATRONES DE CALIBRACION Y DE REFERENCIA ....................................51
2.61 Bloques de calibracin ...................................................................................................51
2.62 Bloques normalizados de referencia..............................................................................51
3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN ..............................................................................54
3.1. ACOPLAMIENTO................................................................................................................54
3.2. SUPERFICIE DE LA PIEZA DE ENSAYO .........................................................................54
3.21. Rugosidad......................................................................................................................54
3.22. Curvatura .......................................................................................................................55
3.23. Recubrimiento................................................................................................................57
3.3. SELECCION DE LOS PALPADORES ...............................................................................57
3.31. Procedimiento de ensayo ..............................................................................................57
3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico...............................................................57
3.33. Seleccin de la frecuencia de ensayo ..........................................................................58
3.34. Seleccin del tamao del transductor...........................................................................59
3.4. AJUSTE DEL EQUIPO .......................................................................................................61
3.5. TECNICA DE INMERSION.................................................................................................61
ENSAYO DE ULTRASONIDO
1.1 OSCILACIN
Como punto de partida consideremos el trmino oscilacin y todas sus caractersticas
relacionadas. Un ejemplo bien conocido de oscilacin son los pndulos o las cuerdas de un
instrumento musical, cuya caracterstica comn de oscilacin en ellos es el cambio regular de su
valor de estado ( por ejemplo posicin de una partcula de la masa) o el peridico alcance de una
condicin instantnea (en un pndulo, por ejemplo, el punto de inversin derecho o izquierdo). Un
pndulo puede moverse veloz o lentamente, fuerte o dbilmente; dos pndulos idnticos pueden
oscilar en el mismo sentido o no con otro.
Los siguientes trminos estn relacionados con las vibraciones y sern abreviadamente definidos
como sigue:
PERODO: tiempo necesario para llevar a cabo una oscilacin, por ejemplo el tiempo en que un
cuerpo se mueve un ciclo completo relacionado al momento de estados idnticos. Este se
designa "t" y es usualmente expresado en segundos (seg.), ver figura 1.
1
f = (1)
t
La unidad es el "Hertz" (Hz).
1 Hertz (Hz) = 1 ciclo por segundo.
1 Kilohertz (KHz) = 103 Hz = 1000 ciclos por segundo.
1 Megahertz (MHz) = 106 Hz = 1 milln de ciclos por segundo.
1 Gigahertz (GHz) = 109 Hz = 109 ciclos por segundo.
1.2 ONDAS:
Hasta aqu se ha considerado el comportamiento de un cuerpo simple ( por ejemplo el
pndulo). La misma consideracin se puede aplicar ahora aplicada a partculas elementales
(tomos y molculas) de un cuerpo. Aqu deben ser discutidas algunas caractersticas de gran
importancia para el ensayo ultrasnico debido al gran nmero y a las fuerzas actuantes entre ellos
(tomos y molculas).
Si varios cuerpos son acoplados entre s rgidamente y a uno de ellos se lo hace oscilar, todos
los otros oscilarn en la misma fase, frecuencia y amplitud; mientras sea desamortiguado, esto
puede ser considerado como una entidad, ver Fig. 6.
No obstante, si estos cuerpos no estuvieran unidos uno con otro, los dems permaneceran en
reposo si uno de ellos oscilase (Fig. 7) .
Cuando hay una unin elstica entre estos cuerpos (por ejemplo varios pndulos unidos por
elsticos (o resortes) Fig. 8), la oscilacin de uno de los cuerpos ser gradualmente transmitida al
adyacente y as siguiendo. De esta forma se produce una onda. Ver Fig. 9 .
Onda: es la propagacin de una oscilacin y sucede cuando una partcula oscila transmitiendo su
vibracin a la adyacente.
Las partculas adyacentes tienen una diferencia de fase constante.
El grfico de una onda es similar al de una oscilacin, pero versus una distancia en lugar del
tiempo.
Acoplamiento : Unin entre dos partculas adyacentes o medio, y es el factor necesario para la
ocurrencia y propagacin de ondas. Un acoplamiento total (rgido) o el no acoplamiento total
nunca ocurre en la naturaleza, esto vara dentro de lmites amplios. El acoplamiento es producido
por fuerzas atmicas o moleculares elsticas de enlace, por friccin, por gravitacin, etc.
Velocidad de propagacin (velocidad snica): es la velocidad de propagacin de una onda,
relacionada a iguales fases, por lo que de all tambin es llamada velocidad de fase.
Es designada por "c" (en alguna bibliografa tambin como "v") y se expresa en cm/s , m/s
Km/s .
La velocidad snica es una propiedad del material.
Longitud de onda: es la distancia entre dos puntos adyacentes de condicin de oscilacin
equivalente o igual fase, mirando en la direccin de propagacin. La longitud de onda es una
magnitud muy importante, designada por " ", y cuya relacin de aplicabilidad es la siguiente:
c c
.=c*t= ;f= ; c = f (2)
f
1.4. SONIDO
Consideraremos el captulo de sonido fuera del amplio campo de las oscilaciones y procesos de
ondas y explicaremos esto algo ms detallado debido a que es de importancia en el mtodo de
ensayo.
El sonido, como se conoce diariamente, se propaga en forma de ondas. En oposicin a las ondas
magnticas, calricas y lumnicas est asociado con la presencia de materia.
En el rango de sonido audible uno puede distinguir:
Sonido continuo: la duracin del sonido es mucho mas larga que el tiempo de oscilacin ,
Sonido pulsado: aqu la duracin del sonido es solamente unas pocas veces el tiempo de
oscilacin. El intervalo entre dos pulsos es mucho mas largo que la duracin del pulso, ver Fig.
12.
Las ondas longitudinales o transversales puras, slo se formarn si el espesor del material con
respecto a la direccin de propagacin de la onda, es considerablemente mayor que la longitud
de onda .
De otro modo, se formaran en las chapas o lminas, un tipo de ondas combinadas de los dos
anteriores, que son llamadas ondas de chapa o Lamb. Estas ondas se pueden subdividir en
ondas de dilatacin y flexin adicionales, ver Fig. 13.
Fig. 13: Tipos de ondas de Lamb. Arriba: onda de dilatacin. Abajo onda de flexin .
Una nueva combinacin de ondas longitudinales y transversales son las ondas superficiales, ver
Fig.14, las cuales pueden existir solamente a lo largo de la superficie, siendo capaces de seguir
una superficie curvada. Como se puede ver en la figura 14, la profundidad de penetracin de una
onda superficial es aproximadamente igual a la mitad de la longitud de onda.
Para completar, tambin sern mencionadas las ondas de torsin, las cuales se pueden dar en
cuerpos con forma de barras. Estas, son oscilaciones rotacionales alrededor del eje longitudinal
de la barra, la direccin de propagacin se sita en la direccin del eje longitudinal.
E 1-
Cl= ( 3)
(1 + )(1 2 )
E 1
Cl= ( 4)
2(1 + )
Cs = 0.9 t
Donde Cl = velocidad de la onda longitudinal.
Ct = velocidad de la onda transversal.
Cs = velocidad de la onda superficial.
E = Mdulo de elasticidad de Young
= densidad.
= constante de Poisson.
Las ondas snicas que se esparcen uniformemente en todas direcciones son llamadas ondas
esfricas, aquellas que se esparcen slo en una direccin, ondas planas.
Fig. 15: Incidencia del sonido normal a la interfase entre dos medios.
Z= *c (6)
Si una onda snica viaja a travs de un material con impedancia acstica Z1, e incide
perpendicularmente en una interfase correspondiente a otro material con impedancia acstica Z2,
se pueden definir las siguientes magnitudes:
Z 2 Z1
Factor de reflexin : R = (7)
Z2 Z1
2 Z2
Factor de transmisin : T' = (8)
Z 2+ Z 1
Ser mencionado nuevamente que los valores de R' y T' estn relacionados con la presin y no
con la intensidad acstica. Esta forma de representacin ha sido elegida deliberadamente, puesto
que la amplitud del eco que aparece indicado en un equipo de ultrasonido es proporcional al valor
de la presin acstica .
De las expresiones (7) y (8) se deduce, en primer lugar, que la presin acstica reflejada ser de
la misma amplitud, cualquiera sea el lado de la superficie lmite sobre el cual incide la onda, es
decir, independiente de la secuencia de ambos materiales; si bien en el caso de ser Z2> Z1, R'
ser positivo lo que indica que la onda incidente y la reflejada estn en la misma fase y, en caso
contrario, (Z2 < Z1), R' ser negativo, lo que indica una inversin de fase de la onda reflejada
con relacin a la incidente .
En cambio, la presin acstica transmitida, si bien en fase con la onda incidente, no ser
independiente de la secuencia de los dos materiales, de manera que se Z2> Z1 , T' >1, lo que
indica que su amplitud ser mayor que la de la onda incidente y en caso contrario ( Z2< Z1 , T1'<1)
menor. Ver Fig.. 16 .
It
T= al coeficiente de transmisin
Ii
y por consiguiente
R + T= 1
Ii= Ir + It
2
Z Z1 4 Z1 Z 2
R = 21 ; T=
Z 2 + Z1 (Z1 + Z2 )2
De aqu se deduce que, desde el punto de vista de las intensidades acsticas, es indiferente el
lado de la superficie lmite sobre el cual incide la onda, ya que los valores de R y T no cambian al
permutarse entre s Z1 y Z2, a diferencia de lo que ocurra con las presiones acsticas.
La relacin es aplicable para todo tipo de ondas, independientemente si uno esta trabajando con
la componente reflejada o refractada. Solo los ngulos correspondientes y las velocidades de
propagacin deben ser introducidos en la frmula .
a) El obstculo es pequeo comparado con la longitud de onda, en este caso, aquel no interfiere
la propagacin de la onda y sta viaja como si el obstculo no estuviera presente.
1.431. Dispersin.
b) Si el tamao del obstculo es del mismo orden de magnitud que el de la longitud de onda, el
proceso de propagacin, como un todo, es dbilmente interferido, aunque, algo de energa de la
onda es absorbida. Esta energa se extender como una nueva onda esfrica en todas
direcciones, con el obstculo como punto central. Este proceso es llamado " dispersin ".
La dispersin est ilustrada grficamente por la ley de reflexin y refraccin en la Fig. 19.
1.432. Difraccin.
c) Si tenemos un obstculo ms grande que la longitud de onda, y si adems asumimos que la
impedancia acstica del obstculo difiere mucho del de los alrededores, se producir una
reflexin de la onda en el mismo. En efecto, no habr onda de propagacin detrs de l (sombra
de la onda), pero esta sombra ser cada vez menor con el incremento de la distancia desde el
obstculo. Esto ocurre porque las partes de la onda que corren a lo largo de los bordes del
obstculo son algo curvadas (difractadas) y corren oblicuamente hacia el interior de la sombra. De
la misma forma el haz de onda reflejado se abre hacia el frente. Este proceso es llamado
difraccin", ver Fig. 18 .
Por supuesto , estos procesos no son aislados unos de otros, mas bien ocurren con una
transicin gradual, dependiendo del tamao del obstculo. As se produce "difraccin" y
"dispersin" en un obstculo de tamao medio.
1.433. Interferencia
Hay an otro fenmeno: la nueva onda reflejada se superpone con la original tal que,
dependiendo de las fases de ellas, se puede producir un refuerzo, un debilitamiento, o una
completa anulacin.
Si la onda original tiene un pico (mximo) al mismo tiempo que la reflejada, las dos se sumarn,
y el pico de la nueva onda ser mayor que la original. En cambio, puede ocurrir la desaparicin
cuando el mximo de una coincide con el mnimo de la otra, o cuando una tenga la misma altura
que profundidad en la otra. Tal superposicin se llama " interferencia ", ver Fig. 20.
1.441. Divergencia
Un transmisor snico radia el sonido no solamente en una direccin, sino en un dado rango
angular (similar a un "cono" luminoso).
La seccin transversal del haz se hace mayor con el incremento de la distancia, de tal forma que
la energa se distribuye sobre ,un rea cada vez mayor. La cantidad de energa snica por unidad
de rea as se va haciendo cada vez menor, como se muestra en la figura 21.
Este fenmeno es llamado divergencia. Una onda plana no tiene divergencia en contraposicin a
una onda esfrica (ver tambin captulo 2.32).
1.4422. Absorcin
Parte de la energa acstica disminuye debido a las perdidas por friccin, con lo cual se convierte
en calor.
Esta "friccin interna" crece con la frecuencia. Materiales con alta friccin interna (igual a alta
absorcin) se usan como amortiguadores acsticos.
El coeficiente de atenuacin acstico indica la cantidad de atenuacin snica por unidad de
longitud de recorrido del sonido, para un determinado material. Adems del material, la
atenuacin snica tambin depende de la frecuencia y del tipo de onda.
U: voltajes elctricos.
a: atenuacin de la respuesta de ganancia.
As, la altura de las indicaciones de los ecos en la pantalla del osciloscopio son proporcionales a
los voltajes de los impulsos de los ecos, lo que puede ser escrito como:
H1 = U1 (12)
H2 U2
(H: altura del eco)
y de all:,
a = 20.Log HH21
Se puede ver que solamente comparando la altura de dos ecos ser posible obtener evidencias
de la atenuacin del sonido. Tal estimacin es posible si hay posibilidades de comparacin .
Con una relacin de altura de dos ecos H1/H2 = 2/1 = 2 encontramos:
a = 20 log 2 = 20 2x 10,3 = 6 dB
Esto significa que una reduccin de 6 dB en la altura del eco, corresponde a un decremento a la
mitad de su altura.
Los modelos del instrumental para ensayos ultrasnicos estn constantemente cambiando debido
al progreso tcnico; sus principios bsicos tienen, sin embargo, una vigencia inalterable.
Estos conocimientos deberan ser familiares al operador, para que le permitan la seleccin del
mtodo ptimo para resolver su problema de ensayo entre varias posibilidades.
Esta segunda parte de este apunte describe los tipos de palpadores usados comnmente tanto
como la construccin de los instrumentos y sus accesorios mas simples.
ULTRASONIDO
De acuerdo a la definicin (inc. 1.4) la regin del ultrasonido comienza ms all de la frecuencia
de 20 KHz. Para el ensayo no destructivo de materiales reviste particular inters el rango de 0,5 -
15 MHz ; en algunos casos especficos ( el ensayo de hormign, por ejemplo), tambin el rango
de 50 KHz y frecuencias
ms altas.
Cuarzo: fue el primer material usado. Tiene caractersticas muy estables en frecuencia, sin
embargo es muy pobre como generador de energa acstica y es comnmente reemplazado por
materiales muy eficientes.
Sulfato de litio: es muy eficiente como receptor de energa acutica, pero es muy frgil, soluble
en agua y su uso esta limitado a temperaturas por debajo de los 75 C.
Cermicas sinterizadas: producen los generadores ms eficientes de energa acstica, pero
tienen tendencia al desgaste.
Debe tenerse presente adems que no solamente el lado posterior, sino cualquier otro reflector
(defecto) determina ecos mltiples (Fig. 27).
Puesto que se puede medir el tiempo de recorrido y se conoce la velocidad del sonido de la
mayor parte de los materiales, este mtodo permite establecer la distancia existente entre el
oscilador y la superficie refractante, o dicho de otro modo, determinar la posicin del reflector (Fig.
28) . Por esto es que se emplea este procedimiento en la mayora de los casos. Agregase a ello
que no hay ms que una sola superficie de acoplamiento ( que es atravesada en el viaje de ida y
de vuelta) entre el oscilador y la pieza, por lo que resulta mucho ms sencillo mantener constante
el acoplamiento.
Fig. 27: Ecos mltiples causado por el eco de fondo y un defecto (esquema)
Mencionaremos aqu para redondear el cuadro, pero sin entrar en detalles, otros dos
procedimientos de ensayo que no se pueden realizar con los equipos ordinarios de impulsos-
ecos; el procedimiento de resonancia y el de modulacin de frecuencias.
2.3. PALPADORES
2.31 Propiedades
Todos los palpadores utilizados en el ensayo de ultrasonido, no destructivo de materiales, operan
sobre la base del efecto piezoelctrico.
El transductor, muchas veces designado genricamente pero equivocadamente como cuarzo-
recibe un corto impulso elctrico.
La oscilacin del cristal decae lentamente en su propia frecuencia de resonancia como ocurre en
el caso de una campana taida brevemente (Fig.29). Esta frecuencia propia surge para la
oscilacin fundamental, de la ecuacin :
f0 C
= (12)
2d
Fig. 29: Arriba: Vibracin de un cristal dbilmente atenuado y de otro fuertemente atenuado
Abajo: La misma seal sobre la pantalla del TRC despus de rectificada y filtrada.
El poder de resolucin tambin depende del material del transductor. Los esfuerzos de los
constructores de los palpadores tienden hacia un compromiso lo ms ventajoso entre otros
factores condicionantes. En parte hay palpadores construidos especialmente o para alta potencia
o para alta resolucin .
Para transmitir una cantidad suficiente de energa sonora a la pieza que se ensaya, es necesario
que el transductor genere unas pocas vibraciones de alta frecuencia. Sin embargo, oscilaciones
de bajas frecuencias insumen ms tiempo que aquellos palpadores de alta frecuencia ( por Ej. , a
1 MHz, un micro-segundo ;a 10 MHz , 0,1 micro-segundo ) .
El significado de los smbolos en la frmula son: I0: longitud del campo cercano; D: dimetro del
cristal (dimetro efectivo, normalmente un pequeo porcentaje menos que el real); : longitud de
onda; f: frecuencia; c: velocidad del sonido.
Como la longitud del campo cercano puede ser determinado experimentalmente, las restantes
magnitudes son derivadas de esto. De esta forma, el dimetro efectivo del cristal se calcula como:
D= l0 (14)
La presin snica en el campo cercano, y por consiguiente ,la altura del eco causado por un
defecto en esta zona, depende mucho de la ubicacin del mismo dentro del haz. Las razones de
este fenmeno son las interferencias en el campo cercano. La estimacin del tamao del defecto
es prcticamente imposible si ste se encuentra en esa zona (Fig. 31).
Fig. 31.
En el campo lejano el haz ultrasnico se abre cnicamente. En todo momento, la presin snica
mxima se encuentra en el eje del sistema sobre el eje del transductor, y decrece
proporcionalmente con la distancia desde el cristal. (Fig.30).
Desvindose desde el eje hacia los laterales, hay tambin una disminucin de la presin snica.
Esta se considera como 100% sobre el eje de simetra, disminuyendo a medida que nos
desviamos hacia los lados. Si marcramos todos los puntos, en cualquier direccin y a cualquier
distancia del cristal, en los cuales la presin snica alcance el 10 % del valor en el eje, se
obtendra el rea superficial de un cono. El ngulo de apertura de este cono se llama "ngulo de
divergencia del haz".
El clculo del mismo puede hacerse como sigue:
sen 10 = 1, 08 (15)
D
sen 10 = 0 , 54 (16)
I 0
Estas frmulas son vlidas para transductores circulares. Para aquellos que sean rectangulares
las relaciones son algo ms complicadas: en estos la longitud del campo cercano se calcula como
sigue:
l =
1 * a( 2
+b
2
) 1 2ab (17)
0
La seccin transversal del campo ultrasnico ya no es circular; el ngulo mayor del haz lo causa
el lado ms corto del rectngulo, y viceversa ( Fig.32) . Aqu tambin luego de haber determinado
empricamente la longitud del campo cercano, se puede calcular el dimetro efectivo sustituto del
transductor.
La onda ultrasnica generada por el transmisor T primero atraviesa el bloque plstico y llega a la
superficie lmite entre ste y la pieza, donde una parte del haz es reflejado hacia el cristal
transmisor. Como ste no esta conectado con la seccin receptora del equipo, la onda sonora
reflejada no es indicada ( esto sucedera si el palpador fuera normal). La otra parte de la onda que
fue transmitida dentro de la pieza que se ensaya, viaja hasta la superficie trasera donde se refleja
y vuelve a la superficie donde , nuevamente una parte es transmitida hacia el bloque plstico del
receptor y llegando al transductor R, causa en l el primer eco de fondo. Una parte de la onda ha
sido reflejada en la superficie forzndola a recorrer la pieza por segunda vez antes de entrar en el
bloque plstico y generar as el segundo eco de fondo. El mismo fenmeno sucede varias veces,
lo que causa un tercer, cuarto, etc. ecos de fondo.
Calculando desde el comienzo del pulso de emisin, los ecos recibidos aparecern despus de
haber recorrido las siguientes distancias: 2s + 2d; 2s + 4d; 2s + 6d; 2s + 8d; etc. Los intervalos de
los ecos mltiples sucesivos corresponden al espesor de la pieza, mientras que la distancia entre
el pulso emisin y el primer eco de fondo es mayor en 2s correspondiendo al espesor del
recorrido de retardo ( bloque plstico).
Como, sin embargo, la pantalla del TRC no indica la distancia real sino el tiempo de recorrido
correspondiente, es necesario convertir la distancia en tiempo de acuerdo a la frmula:
a a
c = ;t = (18)
t c
2s + 2d ; 2s + 4d ; 2s + 6d
cs cd cs cd cs cd
de plstico y de la pieza, sino levemente mas largas que estas debido a los ngulos algo oblicuos
del camino snico. Estas diferencias deben ser consideradas para la medicin exacta, por
ejemplo la medicin de espesores de pared.
La eleccin correcta del material del trayecto previo hace posible la atenuacin de esas
indicaciones de reflexiones de ecos no buscadas de tal forma que no interfieran sobre la pantalla;
sin embargo, puede aparecer, cerca del punto cero (superficie de la pieza) y, a la distancia 2s
desde el eco de emisin (Fig. 35), un pequeo "eco de interferencia" causado por una deficiente
barrera acstica entre el transmisor y el
receptor, que se origina a travs del acoplante. Este eco puede ser suprimido , en muchos casos,
por un adecuado ajuste del equipo.
Cuando los dos transductores del palpador de doble cristal son levemente inclinados uno sobre el
otro (Fig. 36), la trayectoria de los haces ultrasnicos se solapan dentro de la pieza de ensayo. El
palpador de doble cristal tiene la ms alta sensibilidad en el punto de interseccin de los ejes de
los
haces (Fig. 37). Se produce una zona muerta debido al espesor finito de la barrera acstica entre
el transmisor y el receptor.
Las ventajas que ofrecen los palpadores de doble cristal son que
prcticamente eliminan la zona muerta.
Se pueden utilizar cristales ms adecuados para las funciones a cumplir. Por ejemplo se puede
usar titanato de bario como emisor y sulfato de litio como receptor.
Fig. 36: Propagacin ultrasnica de un palpador de doble cristal con ngulo grande y uno
pequeo
Fig. 37: Influencia de los ngulos sobre la sensibilidad en palpadores de doble cristal (esquema)
Los palpadores de doble cristal tienen, debido a su estructura general y a la presencia de los
trayectos de retardo, tericamente una ms baja sensibilidad que los palpadores normales, pero
una resolucin a corta distancia incomparablemente mejor debido a que no aparece el eco de
emisin sobre la pantalla, en un equipo ajustado correctamente.
De esta forma , es posible detectar posibles defectos a pocos milmetros por debajo de la
superficie. Otro campo de aplicacin de estos palpadores es la medicin de espesores.
Se debe sealar que defectos con direccionalidad preferencial, por ejemplo finas lneas de
inclusiones en productos laminados semi-terminados, mostrarn diferentes grados de reflexin
dependiendo de la posicin de la barrera acstica con respecto a la direccin del defecto .
Comnmente, los mejores resultados se obtienen cuando ambas direcciones son paralelas.
No puede determinarse en la pantalla del equipo si un eco tiene origen en una onda transversal o
una longitudinal. Por ello una indicacin sobre la pantalla puede tener distintas orgenes debido a
los distintos ngulos y velocidades de los tipos de ondas, y, no sera posible la localizacin segura
de un defecto detectado.
Una solucin a este problema est dado por el hecho de que la onda longitudinal tiene, debido a
su mayor velocidad, un ngulo de refraccin mayor al de la onda transversal (Fig. 39 a).
Incrementando gradualmente el ngulo de incidencia, se llegar a un punto en el cual la onda
longitudinal no penetrar el medio sino que se propagar a lo largo de la superficie, mientras que
la transversal permanecer an en la pieza de ensayo (Fig. 3 b).
En este punto, el ngulo entre la direccin de la onda transversal y la perpendicular a la superficie
ser de 33,2 en el acero. Un incremento adicional del ngulo de incidencia eliminar la onda
longitudinal ( no existe sen l > 1), por lo que puede ser calculado. Ahora la nica onda que
existe en el medio es la transversal (Fig. 39 c). S se contina incrementando el ngulo de
incidencia, tambin la onda transversal se propagar a travs de la superficie del medio (onda
superficial, Fig., 39 d).
Fig. 39: direccin de propagacin de onda como funcin del ngulo de incidencia.
Los palpadores angulares comerciales utilizan slo el rango donde existe onda transversal
,exclusivamente, en el medio de ensayo, el cual es normalmente acero. La onda ultrasnica real
es emitida hacia el medio en la forma de un haz de rayos donde, la lnea geomtrica que se ha
considerado hasta ahora, corresponde al eje de este haz. Las mismas relaciones que fueron
consideradas con palpadores normales como campo cercano, campo lejano y ngulo de
divergencia , son vlidas para los palpadores angulares. El eje del haz donde existe la mxima
presin snica se marca en el lateral de los palpadores angulares como "punto de emisin" y sirve
como punto de referencia para clculos y medidas.
Adems de los datos relativos a ngulo y punto de emisin y su lnea de unin, respectivamente,
la llamada "lnea de emisin", los palpadores angulares indican adicionalmente con una cifra, que
siempre es la misma para un ngulo particular y representa el valor 2 * tg l. Esto es necesario
en clculos que sern descriptos ms adelante.
Cuando se usen palpadores angulares, debern tenerse en cuenta los siguientes hechos
fundamentales:
El ngulo marcado y de all tambin el factor 2 * tg l son slo vlidos para materiales con una
velocidad snica de las ondas transversales de 3.230 m/s. Estos valores no pueden ser usados
para materiales con velocidades de ondas de corte diferentes pero pueden ser calculadas por
medio de la ley de refraccin.
b)La indicacin en la pantalla del TRC es segura slo cuando el ngulo t es mayor que 33,2,
debido a que la onda longitudinal ser eliminada solamente con ngulos mayores que este.
Tambin esto es slo vlido para acero, por lo que para otros materiales con diferentes
relaciones entre las velocidades de la onda longitudinal y la transversal se debern chequear por
medio de la ley de refraccin. En la prctica son comnmente usados los ngulos de 35 , 45 ,
60 , 70 , 80 y 90 (palpador de onda superficial). ngulos menores a 35 son ,debido a la
ambigedad de las indicaciones, slo usados en la solucin de problemas especiales.
La indicacin en la pantalla del TRC ser bien definida solamente en presencia de un solo tipo de
onda la cual es siempre, de acuerdo con la ley de refraccin, la mas lenta (onda transversal). Es
imposible el caso inverso (onda longitudinal ms lenta que la transversal).
d) Los palpadores angulares emiten ondas longitudinales. Las ondas transversales, son
consecuencia de la refraccin que se produce en la superficie lmite entre la cua de plexigls del
palpador y la pieza de trabajo.
De la misma forma que los palpadores normales, los angulares tienen una carcaza puesta a tierra
y una bobina de adaptacin, en cambio, muchas veces, no poseen un cuerpo de amortiguacin
debido a que la cua de plexigls, cementada al cristal, tiene una atenuacin suficientemente alta.
El cuerpo amortiguador ilustrado en la Fig. 38 sirve para atenuar las partes de ondas reflejadas en
la superficie lmite.
Un parmetro importante para la aplicacin de palpadores angulares es el llamado "distancia de
paso" o simplemente "paso1".
Cuando un palpador angular se acopla a una chapa de espesor "d", la onda ultrasnica ser
reflejada totalmente en la superficie inferior de la chapa y regresar a la superficie superior a una
cierta distancia. A la distancia entre el punto de emisin de haz en el palpador y el punto recin
descrito se lo llama paso. Esto se muestra en la Fig. 40a y se puede calcular por medio de la
frmula :
ps = 2 * tg t * d (19)
p = s * sen t (20)
Donde "s" es la distancia (en la direccin del haz) entre la superficie y el reflector p la distancia
proyectada sobre la horizontal desde el punto de emisin del palpador al defecto.
Estas relaciones son muy importantes para la localizacin de defectos en una pieza. Algunas
veces es ms fcil, para el operador, medir la distancia desde el frente del palpador en lugar de
hacerlo desde el punto de salida del haz. En esos casos uno esta hablando de la "distancia
proyectada acortada".
Las relaciones que se han dado ms arriba solamente son vlidas cuando el ensayo se realiza
sobre superficies planas. Si el ensayo se debiera realizar sobre un objeto curvo, el paso
depender, adicionalmente, del radio de curvatura(R) (Fig. 42).
La frmula para su clculo es la siguiente:
2
(1 ) sen
tg t = R (21)
d
1 (1 ) cos
R
Como esta ecuacin no puede ser resuelta para "", el clculo se lleva a cabo para un arreglo
plano y la curvatura ser tenida en cuenta por el factor de correccin k como se muestra a
continuacin:
ps = 2 tg t d k (22)
Fig. 42. Distancia de en una superficie curva con reflexin causada por la superficie interna.
Superficie plana para comparacin.
Fig. 43. Factor de correccin k como una funcin de la relacin del espesor de pared d al
dimetro D al radio de curvatura R
El paso puede ser ms fcilmente determinado cuando no hay reflexin en la superficie interna o
cuando el material es slido (Fig. 44).
Fig. 44: Distancia de paso sobre un objeto curvo sin reflexin interna.
= 2 (90 t )(23 )
90 t
p = r (24 )
90
d
= 1 sen t (25)
R
d 1 sen
= t
(26)
D 2
Esto significa que, en ensayo de tubos, estos pueden ser inspeccionados completamente siempre
que la relacin de espesor de pared a dimetro exterior sea "menor o igual a 0,2 ".
referencia. Un defecto radial ser indicado dos veces, como se puede ver en la figura 46. Esta
indicacin desaparecer cuando se halle diametralmente opuesto al palpador. Un defecto
aparecer solamente una vez , ya sea a la derecha o a la izquierda del eco de referencia, segn
el palpador que lo indique. Hoy en da, este principio de transmisin de dos haces opuestos en
una barra o tubo, es aplicado casi exclusivamente en plantas de ensayos automatizados.
1) Eco de emisin
2) Eco del defecto indicado por el palpador A
3) Eco de referencia.
4) Eco del defecto indicado por el palpador B
Fig. 47: Palpadores con ngulos variables (Palpadores de ondas Lamb). Esquema.
La capacidad de indicacin de los palpadores de ondas de Lamb radica en que estas ondas son
reflejadas sobre s mismas cuando ya no son dadas las condiciones de excitacin, por ejemplo,
cuando el espesor de la chapa vara por defectos de laminacin (exfoliaciones). Esto es tambin
la razn para la alta sensibilidad de los ensayos con estas ondas.
De otra manera la sensibilidad de las indicaciones tambin dependen del tipo y orientacin del
defecto con respecto al tipo de onda Lamb ; as, por ejemplo, las laminaciones son generalmente
indicadas mucho mejor por una onda de flexin que por una de dilatacin, cuando aquellas estn
situada en la fibra neutra de la pieza la que no est en movimiento en el caso de la onda de
dilatacin.
El principal rango de aplicacin de los palpadores de ondas Lamb est en la deteccin de
laminaciones e inhomogeneidades en hojas y placas metlicas que no permitan un ensayo con
palpadores normales o de doble cristal debido a sus pequeos espesores, o cuando es necesaria
una inspeccin completa en el total del volumen. Comnmente se ensayan espesores de pared
hasta 6 mm con estos tipos de ondas. El lmite superior para el su uso esta entre 12 a 16 mm de
espesores de pared y depende adems de las propiedades del material y de la frecuencia usada.
Las ondas Lamb frecuentemente muestran una forma caracterstica como la indicada en la Fig.
48, lo que facilita su reconocimiento.
Se puede verificar muy fcilmente si una indicacin ha sido causada por una onda superficial :
tocando la
superficie de la pieza con un dedo aceitado entre el palpador y la localizacin del defecto har
que la amplitud del eco disminuya (debido a la atenuacin), no as si la responsable de la
indicacin es otro tipo de onda (algunas ondas Lamb tambin pueden mostrar este
comportamiento).
Un generador de pulsos induce al transmisor de pulsos el cual excita al cristal del transductor.
Este corto pulso elctrico normalmente tiene un voltaje pico de algunos cientos de volts, en
algunos viejos transmisores de tubos, por encima de los cinco kilovolt. Estos altos voltajes son,
sin embargo, completamente inocuos debido a su extremadamente corta duracin. El mismo
generador de pulsos tambin activa (dispara) la base de tiempos (generador de barrido) horizontal
en el osciloscopio de rayos catdicos (TRC) por medio de un circuito de tiempo de retardo.
La deflexin vertical en las placas del TRC se alimentan con un amplificador y un rectificador de
pulsos (ecos) recibidos desde la pieza.
La longitud de medicin (rango) que se observa en la pantalla se puede variar alterando la
velocidad de la base de tiempo.
Se produce una deflexin vertical cada vez que el transductor est \1sujeto a una tensin elctrica
(pulso transmitido o recibido). Cuando se opera por el mtodo de transmisin o con palpadores de
doble cristal, el transmisor de salida esta separado del receptor (entrada) por medio de un
interruptor. En definitiva los transductores de transmisin y recepcin estn conectados
separadamente por cables y enchufes. Un circuito de proteccin, en el caso del mtodo de pulso-
eco, asegura que los altos voltajes en el transmisor no daen al receptor.
Hoy en da es habitual la construccin de modernos equipos ultrasnicos modulares; se construye
instrumental para ensayo manual para ser usados con unidades cada vez mas livianos,
compactos y pequeos. Junto con los sistemas modulares hay muchas otras posibilidades para la
combinacin; de esta forma, por ejemplo, varios tamaos de pantallas pueden ser combinadas
con distintos mtodos de deflexin, supresin del llamado "csped" , etc. Mdulos adicionales
auxiliares, tales como diferentes tipos de monitores, circuitos especiales equivalentes para operar
2.412. Ganancia
Esta perilla de control varia la altura de los ecos de manera que permite mantener la relacin de
amplitud constante. La cantidad de ganancia se expresa en dB (decibeles), ver el punto 1.443.
Una variacin de ganancia de 6 dB significa una disminucin a la mitad o un aumento al doble
independientemente de la altura del eco real (Fig. 50).
Fig. 50:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con una
reduccin en la ganancia de 6 dB
2.413. Supresin
Fig.52:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con una
supresin lineal de aproximadamente 20% de la ATP.
Fig.53: Ecos mltiples. Influencia de un filtrado dbil (izq.). y uno fuerte (der.).
Normalmente se desea lograr una alta resolucin, por ejemplo, conseguir pulsos tan angostos
como sea posible.. Sin embargo, cuando se opera con grandes longitudes de medida (por
ejemplo en el rango de metros)las indicaciones en la pantalla del TRC se hace difcil de evaluar
dado que los ecos se vuelven demasiados finos. En tales casos se sacrifica una buena resolucin
en favor de un mejor reconocimiento por medio de un fuerte filtrado. As los ecos se vuelven ms
anchos , brillantes y suaves. Muchas veces la cantidad de filtrado es conectada junto con la
longitud de medida (rango).
c) La visualizacin a travs del total de la pantalla, esto es entre la lnea izquierda y derecha del
reticulado.
1) Eco de emisin
2) Eco de la superficie de entrada
3) Eco del defecto
4) Primer eco de fondo
5) a 7) Segundo a cuarto eco de fondo
Fig. 54:Tcnica por inmersin de una pieza. Izq.:indicaciones incluyendo el paso en el agua y
ecos de fondo. Der.: desarrollo del rango de inters en la pantalla.
Este regulador no cambia, por supuesto, la velocidad del sonido en el material, por ser esta una
constante natural, pero permite al personal de ensayo adecuar el espesor de la pieza ledo en el
regulador de la longitud de medicin o rango, al espesor efectivo del material de diferente
velocidad de sonido. Para una recalibracin, se ajusta previamente el regulador de la longitud de
medicin o regulador de rango al espesor de la pieza y con ayuda de los reguladores de
desplazamiento y de velocidad de sonido, se ensancha la distancia entre dos ecos de fondo (el
primero y el segundo , por ejemplo) sobre la pantalla del osciloscopio. Esto no es difcil de realizar
ya que el regulador de velocidad de sonido tiene los mismos efectos que el de rango.
a)
b) c) d)
Fig. 55:Correccin DAC : a) probeta con reflectores artificiales de igual tamao. b) altura de los
ecos producidas por los reflectores c) curva DAC y activado el control DAC; d) dem c) pero sin la
curva DAC.
2.42. Monitores
Un monitor es un aditamento auxiliar destinado a automatizar parcial o totalmente un ensayo.
Asimismo constituye un auxiliar valioso en los ensayos manuales en serie, eliminando la
necesidad de que el operador observe constantemente la pantalla. As el operador podr atender
al correcto posicionamiento y acople del palpador. El rango de operacin del monitor est
pticamente indicado en la pantalla por una pequea deflexin hacia arriba o hacia abajo de la
lnea horizontal (Fig. 56). La posicin y el ancho de este, tambin llamado "diafragma", puede ser
ajustado por medio del regulador correspondiente.
Las siguientes imgenes son una representacin tipo C realizada por inmersin de una moneda
(de su superficie)
Bloque ASTM
El bloque es cilndrico
E: dimetro del orificio de fondo plano
B: Distancia entre la superficie de apoyo del palpador y el orificio de fondo plano.
G: altura total del bloque
Los juegos de rea - amplitud proveen patrones de diferentes reas en la discontinuidad (orificio
E), a la misma profundidad (B).
Los bloques de distancia - amplitud1proveen patrones con discontinuidades del mismo tamao
(E) a distintas profundidades (B).
El juego bsico de patrones ASTM consiste en 10 bloques de 50 mm de dimetro.
G - B = 19 mm
Distancia B Dimetro E
mm Mm
1/8 3,15 5/64 2
6,50 5/64 2
12,7 5/64 2
19 5/64 2
11/2 38 5/64 2
3 76 3/64 1,2
3 76 5/64 2
3 76 8/64 3,15
6 152 5/64 2
6 152 8/64 3,15
No hay quien se haya iniciado en el campo de la tcnica de ultrasonido y no haya tenido que
reconocer que, por muy profundos que sean los conocimientos tcnicos adquiridos en la materia,
inevitablemente surgen dificultades en la tcnica de aplicacin. La presente parte 3 de este
trabajo informativo ha de servir para disminuir tales problemas, proporcionando datos de validez
general en lo que respecta a la tcnica de ensayo. Se recomienda, mediante ensayos prcticos
preliminares con un equipo de ultrasonido, una dilucidacin concreta de las relaciones que a
continuacin se describen. De este modo se podr conseguir una cierta seguridad en el manejo
de los palpadores y del equipo, que es imprescindible para el empleo en la prctica del ensayo.
Es de sealar que muchos de los ensayos necesarios pueden llevarse a cabo con los bloques
normalizados internacionalmente (Normas DIN 54120 y 54122; IRAM 723 ).
3.1. ACOPLAMIENTO
En el ensayo prctico es preciso asegurar el fcil pasaje de las ondas ultrasnicas desde el
palpador a la pieza de ensayo y viceversa, para obtener resultados seguros y reproducibles. Por
esto, se debe remover todo el aire entre ellos lo que se realiza con el mojado de la superficie de
la pieza por medio de un lquido o una pasta. El acoplante ptimo ser aquel que, con un espesor
de /4, tenga una impedancia acstica igual a la media geomtrica de las impedancias en los dos
medios adyacentes; esto se puede calcular como:
Z c = (Z 1*
Z 2 )
(27)
Donde:
Zc: impedancia acstica del acoplante.
Z1: impedancia acstica del medio 1 .
Z2: impedancia acstica del medio 2 .
La sustancia natural que ms se aproxima a este acoplante ideal es la glicerina para muchos
ensayos; pero la prctica ha demostrado que el agua o muchos aceites tienen casi la misma
eficiencia. As tambin se ha encontrado que el engrudo para papel de pared con antixido puede
servir como un buen acoplante, particularmente cuando el ensayo se hace sobre cabeza y en
casos donde el aceite no es permitido.
Existen en el mercado diversos acoplantes pero, en la mayora de los casos no aportan ninguna
ventaja esencial. Comnmente se usa aceite de mquinas en los ensayos manuales y agua (con
algn inhibidor de corrosin) como acoplante en aquellos automatizados.
3.21. Rugosidad
Si la rugosidad superficial de la pieza es del orden o superior a la longitud de onda, se producir
dispersin acstica debido a la refraccin (Fig. 19). La misma regla vale para la superficie
posterior, donde la onda ultrasnica es dispersada por el fenmeno de reflexin. Como
consecuencia de esto, la sensibilidad de indicacin se reduce en comparacin con otra pieza de
igual tamao, igual material, pero de superficie ms lisas. Los efectos de reduccin de la
sensibilidad debida a la rugosidad puede ser compensada por el pulido de la superficie, o
aumentando la ganancia del receptor. Obviamente, se debe ser cuidadoso para tener un buen
acoplamiento, para esto se puede usar una capa protectora de neopreno resistente al aceite
(llamada suela), colocada en el frente del palpador con algunas gotas de acoplarte entre ste y el
neopreno. Esta capa llenar las desigualdades de la superficie facilitando la transferencia del
sonido y protegiendo, a su vez, a la cara del palpador contra el desgaste o daos. Una parte de la
energa ultrasnica ser absorbida por la suela, pero el beneficio por el mejoramiento del acople ,
en muchos casos, es mayor que las perdidas en el material de la suela.
3.22. Curvatura
Cuando se inspecciona por ultrasonido una pieza con superficies curvas, comnmente se produce
un ensanchamiento (divergencia) del haz. Este fenmeno es causado por refraccin (Fig. 60).
sin c
=
lk lk
sin lw
c lw
Fig. 60: Divergencia adicional del haz causada por refraccin entre el acoplante y la superficie de
la pieza.
Adems de esto, el rea donde el palpador contacta a la pieza para la transferencia del sonido es
menor, por lo que de esta forma, slo se utiliza una parte de la superficie del cristal. Estos dos
factores son la razn por la cual se reduce la sensibilidad del ensayo, comparado con el caso de
una superficie plana.
Es frecuente el uso de bloques adaptadores para obtener un rea de contacto total entre el
palpador y la superficie de la pieza. Tambin, las ya mencionadas capas de neopreno pueden ser
de utilidad. Es preciso puntualizar que con esto slo se consigue aumentar el rea de contacto sin
lograr evitar la divergencia.
La magnitud de la divergencia depende de las velocidades del sonido en el acoplante y la pieza.
Este hecho se puede utilizar para la eleccin del material del bloque adaptador ms conveniente.
Como se ilustra en la Fig. 61, la doble refraccin no tiene influencia en la propagacin ultrasnica.
Fig. 61: Refraccin con y sin acoplante. El ngulo de refraccin permanece constante; el haz
ultrasnico es levemente desviado.
Ca
Ia > Iw (28)
Cb
Donde:
Ia: longitud del bloque adaptador.
Iw: longitud del camino snico en la pieza.
Ca: velocidad del sonido en el bloque adaptador.
Cw: velocidad del sonido en la pieza.
3.23. Recubrimiento
Se debe prestar especial atencin a las superficies con recubrimientos . La regla general es que
un recubrimiento firmemente adherido ( por ejemplo capas de pinturas, cascarillas firmemente
adherentes o capas de herrumbre) causarn un efecto perturbador pequeo; pero es aconsejable
la limpieza de la superficie por medio de cepillo de acero, lima, raspador o amolado cuando se
encuentren depsitos exfoliados, esto es, cuando exista aire en los pequeos vacos entre el
depsito y la pieza. Estos espacios impiden en muchos casos la transferencia del ultrasonido.
Superficies hmedas o grasosas en general no representan un inconveniente, la mayora de las
veces hasta ofrecen una ventaja a causa de que sus propiedades mejoran el acoplamiento.
Los lmites de las frecuencias superiores, sin embargo, estn dadas por la estructura cristalina y/o
la absorcin del material. En el primer caso, cada grano cristalino da una reflexin y dispersin,
produciendo un considerable "csped o pasto ) o indicaciones de "ruidos de la estructura" en la
pantalla del TRC. En este caso, un eco de fondo se superpondr ms o menos al ruido y no ser
detectable. Esta es la razn por la cual es imposible detectar defectos menores o iguales a la
estructura del material. Un ejemplo de esto se da en la Fig. 65, donde el eco de fondo no puede
visualizarse dentro de las indicaciones de la estructura.
El caso de una absorcin extremadamente alta es frecuente encontrarla cuando se ensayan
materiales como resinas o plsticos. La absorcin aumenta rpidamente con la frecuencia
llegndose as al lmite superior de la misma.
Por lo expuesto, se pueden generalizar, para la eleccin de la frecuencia de ensayo, la siguiente
regla: La frecuencia deber ser lo mas alta posible para una buena resolucin y deteccin de
defectos pequeos. El limite superior de ella esta dado por la respuesta de absorcin de la
estructura granular y ser superado cuando un eco de fondo de la pieza no pueda ser
individualizado. En caso de incertidumbre, ensayos preliminares breves con diferentes
frecuencias, podrn clarificar la situacin.
Fig.65: Indicaciones de pantalla de una barra de Zn moldeada (Izq.) y una de acero forjado (Der.)
del mismo espesor. Frecuencia:6MHz
=D para l l 0 (30)
Por lo arriba mencionado, es suficiente colocar el dimetro verdadero en lugar del efectivo, el cual
es un porcentaje ms pequeo que el real y debe ser provisto por el fabricante.
En la Fig. 67 se dan algunos ejemplos de las geometras de haces ultrasnicos.
Es obvio que los resultados ptimos se encontrarn a la profundidad de "l1" para el cristal de 6
mm; de lz para el de 24 mm y a "l3" para el de 40 mm. Generalmente se puede decir que para
piezas pequeas se tomarn dimetros pequeos y para piezas grandes dimetros mayores.
b c
Fig. 68
1:Eco de emisin.
2:Primer eco de la superficie superior.
3:Eco del defecto.
4:Eco de fondo (pared posterior)
5 a 8: segundo a quinto eco de la superficie superior.
a): Recorrido en el fluido demasiado corto; aparecen ecos mltiples (5) de la superficie dentro del
rango de ensayo (de 2 a 4).
c): Correcto dimensionamiento de la lnea de retardo.
El lmite lquido-componente producir, por este mtodo, un eco de superficie el cual, con un
correcto ajuste del rango de profundidad, marcar el cero en la pantalla del TRC en lugar del eco
de emisin (en muchos casos no interesa la supervisin de camino en el fluido, as que,
contrariamente a lo que muestra la Fig. 68 (c) la distancia entre los ecos N 2 al N 4 ser la que
se desarrollar a lo largo del total de la pantalla).
La ventaja de este mtodo es el constante y uniforme acoplamiento.
Adems, el eco de la superficie (entrada a la pieza de ensayo) es ms angosto que el eco de
emisin, permitiendo as una mejor resolucin a pequeas profundidades en la pieza.
Como en este caso, a diferencia de la tcnica de contacto directo, no hay reflexin total ( el medio
lquido es considerablemente mejor conductor ultrasnico que el aire), y como una parte del
sonido es reflejada y se propaga en el medio lquido, debe prestarse atencin a las indicaciones
provenientes de la zona del lquido pues pueden interpretarse como defectos inexistentes. Si en la
tcnica de inmersin se usan reflexiones en zig-zag, el rango de la onda ultrasnica ser ms
corto que en la tcnica de contacto directo (Fig. 69 a) debido a la conversin de onda y radiacin
de energa (ley de refraccin) en cada paso (Fig. 69 b). Por ejemplo, cuando en un ensayo de un
tubo (Fig. 46), este se sumerge en un lquido, el eco de referencia de la circunferencia obviamente
disminuir o desaparecer.
Tampoco puede ser eliminada por la tcnica de inmersin la influencia de la dispersin provocada
por la rugosidad de la superficie , como falsamente se asume en muchos casos. As, la tcnica de
inmersin tiene como principal ventaja un acoplamiento constante con la superficie de la pieza de
trabajo. Otra ventaja es que dado que el palpador no est en contacto directo con la pieza, se
pueden usar cristales ms finos de alta frecuencia.
Se debe prestar atencin a que la longitud del trayecto snico en el fluido sea lo suficientemente
grande para evitar que los ecos mltiples no caigan dentro del rango de ensayo.
En principio, las mismas reglas dadas para el retardo en los bloques (ver seccin 3.22, formula 28
) son vlidas aqu y muy importantes; as como se colocaba la longitud y la velocidad snica en el
bloque de retardo se debe colocar ahora los valores del trayecto previo en el fluido.
Es frecuente el uso de palpadores focalizados en esta tcnica, los que ofrecen una alta
sensibilidad de ensayo concentrada sobre un lugar relativamente pequeo. El modo de actuar de
los focalizadores ("lentes", Fig. 70 a y b) se deduce tambin de las leyes de refraccin (ver
seccin 3.22 y frmula 9).
Fig. 70 Izq.: palpador con focalizacin (lente) en agua. Der.: Acortamiento de la longitud focal
cuando el foco cae dentro de la pieza.
La eleccin para el uso de una lente cncava o convexa, depende de las velocidades del sonido
en el material de las mismas y en el fluido. La longitud focal de tales lentes ultrasnicas se puede
calcular as:
r
f = (31)
C
1 2
C 1
Donde:
f : longitud focal.
r : radio de curvatura de la lente.
c 1: velocidad del sonido en la lente.
c 2: velocidad del sonido en el lquido.
Las velocidades del sonido c1y c2 debern tener la mayor diferencia posible para obtener un alto
ndice de refraccin, y sus impedancias acsticas lo ms semejantes posibles para conseguir las
mnimas prdidas por reflexin. Buenos resultados que concilian estos dos trminos las ofrece el
plexigls.
Si lo que se busca es focalizar en un punto, la curvatura de la lente deber ser esfrica Fig. 71 a);
si la focalizacin se busca en una lnea , la lente ser cilndrica Fig. 71 b).
a b
Fig. 71 Lentes acsticas. a) Focalizado en un punto; b) focalizado en una lnea
6.0 10
5
cm / s
=4 Significa que una unidad de medida en acero ser igual a cuatro en agua.
1,5 10 cm / s
5
Por lo tanto la distancia a la cual se deber colocar la lente para que el haz se focalice dentro de
la pieza a una profundidad de 5 mm ser de 80 mm (recorrido en agua).
v
sen H 2O = sen SS H 2O
v SS
x = R sen
x = compensacin
OD
R=
2
Sin embargo con una derivacin de las ecuaciones se obtiene una regla simple aproximada de la
OD
compensacin deseada = , que puede ser calculada mentalmente mientras se est frente al
6
sistema a ensayar.
v
X = R sen SS H2O
vSS
1.48km/s
X = R sen45
3.1km/s
X = R(0.338 )
X =
OD
(0 .338 )
2
Como 0.338 es aproximadamente 1/3, la ecuacin puede ser reescrita
OD 1
X =
2 3
OD
X =
6
Esta regla aproximada para calcular la compensacin del transductor para materiales de
velocidades similares.
Por ejemplo para encontrar la compensacin que producir una onda de corte de 45 grados
circunferencial aproximada en una tubera de acero inoxidable de 6.4 mm de dimetro, calculando
6.4/6=1.05 mm de compensacin.
La siguiente Fig. muestra el problema planteado
a=tc (32)
De all que la pantalla del TRC puede ser calibrada directamente en longitud cuando la velocidad
del sonido es conocida. Despus de un ajuste correcto, se leer directamente en las divisiones de
la pantalla la longitud al reflector en mm.
Como referencia para esta lectura se toma el punto (en abscisas) sobre el cual el eco comienza a
crecer (Fig. 72).
Fig.72:El punto en donde el eco se levanta (punto izquierdo en la base del mismo),
es la referencia para su localizacin. Los cuatro ecos visibles (excepto
el eco de emisin) estn localizados en las divisiones: 1,5 ; 4,5 ; 6,0 y 9,0.
Fig.74: Sea la longitud de medicin , por ejemplo 145mm; luego el eco de fondo se lee en 145mm
y el eco del defecto en 59,8% de 145mm = 86,7mm
Muchas veces, cuando se usan palpadores normales o angulares, el fuerte impulso del eco de
emisin (su ancho) afecta la resolucin y sensibilidad sobre distancias pequeas, cercanas a la
superficie (zona muerta), dificultando la deteccin de defectos que estn muy cerca de la
superficie.
Se podra pensar que sera ms ventajoso visualizar en pantalla, por ejemplo, el rango entre el
primer y segundo eco de fondo en lugar de la distancia entre el eco de emisin y el primer eco de
fondo, ya que, como se dijo en la seccin 2.22, se repite la presentacin, y adems al ser el
primer eco de fondo mucho ms estrecho que el de emisin, se esperara una mejor
detectabilidad y resolucin a cortas distancias de la superficie. Este mtodo no se recomienda y
no debe ser aplicado ya que existe el peligro de que aparezcan indicaciones falsas (ver 4.2).
Siempre se usar el rango entre el eco de emisin y el primer eco de fondo; los defectos cercanos
a la superficie sern tratados de hallar por medio de palpadores con doble cristal (T/R o S/E), o
desde el lado posterior, o por alguna otra tcnica.
D cl 1
s = t tg
2 c cos (33)
Donde:
s : diferencia de camino snico entre el primer eco de fondo y el primer eco satlite o entre dos
ecos satlites adyacentes.
D : dimetro de la pieza.
c l : velocidad de la onda longitudinal.
c t : velocidad de la onda transversal.
: ngulo de la onda transversal desdoblada ( puede ser calculado por medio de la ley de
refraccin).
Adems de esto, es posible determinar la velocidad de la onda transversal por medio de los ecos
satlites como se indica a continuacin:
cl
c =
t
1 + (2 s ) 2
(34)
Fig. 80: Conversin del tipo de onda 29/ 61 en una pieza con bordes rectangulares.
L: longitudinal ; T: transversal.
Los ngulos para cualquier material se pueden calcular con las siguientes frmulas:
l + t = 90 t + l = 90
(35)
sen l cl sen t ct
= =
sen t ct sen l cl
Para acero se obtienen los ngulos de 29 y 61. Esto significa que, en acero, una onda
longitudinal que incida sobre una superficie con un ngulo de 61 ser casi totalmente
transformada en una onda transversal con un ngulo de reflexin de 29, y viceversa. Tales
transformaciones de ondas, junto a una forma particular de la pieza, pueden a su vez, dar origen
a ecos de defectos aparentes.
Cuando se ensayan chapas metlicas delgadas, muy frecuentemente se generan ondas Lamb en
lugar de las ondas transversales ordinarias. La velocidad de estas ondas es funcin del espesor
de la chapa, frecuencia y del tipo de onda Lamb. En estos casos, la inspeccin deber ser llevada
a cabo usando el mtodo de ondas Lamb exclusivamente, usando un palpador universal (ver
secciones 1.41 y 2.3323). Adems de esto, la onda Lamb es mucho menos atenuada en el
material que la onda transversal por lo que resulta en un ensayo de alta sensibilidad.
Fig. 83: Comportamiento del eco del defecto y del eco de fondo durante el barrido de un defecto
grande.
Este mtodo necesita del eco de fondo (superficies de barrido y de fondo paralelas) no siendo
imprescindible la aparicin del eco del defecto el cual podr estar en posicin oblicua o ser
volumtrico (cavidad de contraccin). De esta forma los resultados sern independientes de la
ganancia del ensayo y de la orientacin o forma del defecto.
Si por cualquier razn no se tuviera eco de fondo el ensayo se podr realizar de la misma forma
pero con el eco del defecto. En este caso los resultados obtenidos si dependern del nivel de
sensibilidad del ensayo (ganancia) y la orientacin o forma del defecto. Es claro que cuando la
discontinuidad en estudio sea paralela a la superficie de barrido los resultados sern reales pero
en el caso de orientaciones o geometras diferentes (falla oblicua o rugosidad) los resultados
sern slo aproximados al real dependiendo de que criterio de mnima altura de la indicacin de
su eco se adopte el que indicar dnde comienza la heterogeneidad.
De la misma forma se podrn medir por medio de palpadores angulares de 70 a 75 la
profundidad de fisuras superficiales o la distancia de fisuras desde la superficie en el caso de que
estas existan y sean grandes por ejemplo en forjados.
3) Reflectores en forma de disco circular plano. Usualmente se utilizan orificios de fondo plano de
distintos dimetros para obtener los resultados como una aproximacin que depender de cun
alejado estemos de la realidad del defecto en estudio.
En general las discontinuidades naturales tienen superficies rugosas e irregulares lo que dar
indicaciones de menor altura que un disco circular con igual superficie de reflexin por lo que el
tamao de una discontinuidad natural pequea ser igual o mayor que la de un disco circular
perpendicular al haz snico presente en la misma muestra y cuyos ecos sean de igual altura.
Una tcnica muy usada que compara el tamao de una heterogeneidad con discos circulares
planos es la que emplea los Diagramas AVG.
Diagramas AVG
Estos diagramas son una recopilacin de respuestas de discontinuidades de referencia de
distintos dimetros y a distintas distancias. Intervienen las variables:
Existen Diagramas particulares (Fig. 84) para cada palpador en general dados por el fabricante y
que son los normalmente usados y un Diagrama general (o normalizado) que es adimensional
(Fig. 85).
En el Diagrama general A (adimensional) es la distancia a la discontinuidad dividido el campo
cercano del palpador que se utilice; G (adimensional) es el dimetro de los discos planos de
referencias dividido por el dimetro del palpador utilizado.
La zona izquierda del diagrama es la regin de incertidumbre del campo cercano por lo que no es
posible trabajar all.
b) Se calibra el equipo con un rango de trabajo de acuerdo a las distancias antes elegidas.
-Se fija con la ganancia la ATP adecuada para el eco de la discontinuidad de referencia y se
anota dicho valor.
e) Sobre el diagrama y con la distancia de la discontinuidad real se traza una vertical hasta
interceptar a una horizontal que se obtiene de sumar o restar al punto de referencia los dB
hallados en d). Este nuevo punto as hallado representa a la discontinuidad real y la curva G que
lo intercepte nos dar el dimetro equivalente de un orificio de fondo plano que tendr una
respuesta semejante a la de la discontinuidad real.
- Subo con 300 mm (profundidad del defecto) hasta 50 dB dando un defecto equivalente
de 2.8 mm de dimetro (aprox.).
Nota: en el punto d) la diferencia de ganancia (en equipo) podra ser negativa si el eco del defecto
sobrepasara el 80% de la ATP . En este caso en el punto e) en el diagrama se deber restar ( y
no sumar) los dB al valor antes obtenido.
50
A 2 = =5
10
defecto
G= defecto equivale = 0.3 10 = 3mm
palpador
Mtodo DAC
Descripcin de reflectividades:
Para describir reflectores desconocidos de seccin menor que la del haz, generalmente se
compara la altura del eco que genera ste con el eco de un reflector artificial de forma y tamao
conocido ( eco de referencia).
Para relacionar las alturas de ambos ecos se puede utilizar diferentes formas que se explicarn
con el siguiente ejemplo:
1) Descripcin de alturas de ecos.: supongamos que se haya colocado el eco de fondo ( Pos. 1)
a 80% ATP y que a continuacin se haya localizado un defecto que con la misma
amplificacin alcanza tan solo el 40% ATP (Pos.2)
1 2
defecto
Pared posterior
(reflector de
referencia)
Eco de referencia Eco del defecto
H 2 40% 1
= = = 0,5
H 1 80% 2
En otras palabras el eco referido tiene la mitad de la altura del eco de referencia.
Segn una convencin se define la diferencia entre dos alturas de ecos expresada en dB por el
logaritmo de la relacin de altura entre ambos multiplicada por 20
H2
H = 20. log
H1
en este caso es:
40
H = 20. log = 6dB
80
lo que indica que el eco comparado tiene una altura 6 dB menor () que la del eco de referencia.
Referencia Comparacin
GK GF
Gk = Amplificacin del equipo correspondiente al eco de referencia
Gf= Amplificacin del equipo correspondiente al eco a comparar ( o del defecto) a la altura de
referencia
Vf:= Diferencia de amplificacin.
Vf:= Gf Gk
Lo que indica que la amplificacin del equipo ha tenido que ser aumentada (+) en 6 dB para que
el eco del defecto alcanzara la altura de referencia.
Como se ve, los valores de H y V se diferencian solamente en el signo:
H = V
Este mtodo se basa en bloques de comparacin que deben tener una geometra y ser de un
material similar al objeto de ensayo. Estos bloques tienen reflectores artificiales de determinada
forma y tamao ( reflectores de comparacin).
De acuerdo a la geometra del objeto de ensayo se hallan determinadas en especificaciones y
Cdigos las medidas especficas de los bloques de comparacin. En la mayora de los casos se
utilizan agujeros transversales como reflectores de comparacin.
A continuacin se anota el valor de amplificacin del equipo ( Gk) con la que se construy la lnea
de referencia.
3) Correccin de transferencia VT
Se puede dar el caso que el objeto de ensayo tenga una superficie de peores condiciones que el
bloque de referencia o que su estructura sea diferente. Para compensar estos efectos se realiza
una correccin de transferencia.
Para ello hay que determinar previamente las prdidas de sensibilidad VT al pasar de un cuerpo
al otro.
Determinacin de VT
Para ello se generan con dos palpadores del mismo tipo, las indicaciones de transmisin en V,
colocndolas a la misma altura de la pantalla ( FIG 6.3)
E R E R
d1 d2
Bloque de Objeto de
comparacin
80%
ATP
GT1 GT2
FIG 6.3 Determinacin de VT
Se anotan las dos amplificaciones del equipo GT1 y GT2 a partir de las cuales se determina la
correccin de transferencia:
GR = GK + VT + V
6) Descripcin de reflectores.
Todos los reflectores que llegan a la lnea de referencia o la sobrepasan con la amplificacin GR
deben registrarse, determinndose la diferencia con respecto a la lnea de referencia HF en dB.
En este caso el valor HF tambin suele llamarse sobrepaso del lmite de registro.
En muchos casos, el defecto en la pieza es conocido ( por ejemplo piezas reclamadas por haber
sufrido corte o quebradura) o pueden ser, al menos estimada (rea , forma , orientacin)
considerando las propiedades del material y los procesos sufridos.
La determinacin de la direccin necesaria del haz snico se debe efectuar desde la posicin del
defecto hacia la superficie; mientras que en un defecto volumtrico, principalmente aquellos
esfricos, hay libertad en la eleccin de la direccin, un reflector cilndrico podr ser hallado desde
todas las direcciones perpendiculares al eje del cilindro. Existen mayores restricciones para un
reflector plano el cual ser detectable solamente desde una direccin (y la opuesta respectiva)
perpendicular a su superficie o por la tcnica en tndem ( dos palpadores, uno emisor y el otro
receptor). Las direcciones del sonido dependen obligatoriamente de estas consideraciones.
La siguiente consideracin es que el rea de inters de la superficie sea accesible para un
adecuado acoplamiento. Si esto se da, la tcnica de ensayo puede ser directamente deducida:
segn el ngulo con la superficie, incidencia del sonido perpendicular u oblicua; se pueden usar
tcnicas por contacto directo o por inmersin, en caso de la tcnica de contacto y camino snico
corto, palpadores de doble cristal. Cuando se usa incidencia oblicua puede ser necesario calcular,
dependiendo del material, los ngulos por medio de la ley de refraccin ( ver 1.422, (11)). En la
tcnica de inmersin se debe tener cuidado de asegurarse que el tiempo de recorrido del sonido
en el lquido nunca ser menor que en la pieza para evitar ecos mltiples de interferencia en el
rango de ensayo (ver 3.5).
Cuando el rea determinada para el ensayo sea inaccesible, o cuando exista peligro de
indicaciones aparentes dentro del rango de ensayo, se buscarn otras tcnicas. Se debern
considerar las siguientes posibilidades:
1.Si el rea de la superficie es inaccesible, excepto que se puede llegar a la zona de inters por
otra direccin del sonido (zig-zag) , podrn ser aplicadas las reglas de reflexin para encontrar
una nueva direccin la cual gue a otra rea de la superficie.
3.Si el efecto de bordes no puede ser utilizado, se podr tambin encontrar oblicuamente un
plano del defecto en el cual se reflejar segn las leyes de reflexin (1.422). La direccin
perpendicular al plano del defecto es, en este caso, la bisectriz del ngulo. Esta tcnica de ensayo
es conocida como " tcnica en tndem", y generalmente requiere dos palpadores separados, uno
emisor y el otro receptor . Las consideraciones ya mencionadas para la superficie deben ser, en
este caso, tenidas en cuenta para cada palpador.
4. En casos de defectos con una fuerte dispersin se puede usar un arreglo semejante al indicado
en 3 pero asimtrico. Esto es tambin llamada "tcnica delta" que consta de un palpador
transmisor y otro receptor separados.
Frecuentemente sern posibles varios arreglos de ensayo. En estos casos se recomienda seguir
preferentemente lo que se describe a continuacin:
1.Los defectos planos sern detectados perpendicularmente: tcnica de ensayo simple y fcil de
inspeccionar con un palpador.
3.En lo posible se usar un camino snico recto sin cambios de direccin dentro de la pieza.
4.Sern ms favorables las tcnicas de ensayos con un solo palpador por ser, generalmente, ms
simples que en tndem o delta.
5.Darn mayor seguridad y confianza los arreglos de ensayos en los cuales aparezca un eco de
referencia en el fondo del rango de ensayo ( por ejemplo pared posterior o eco de un borde ).
6.Se debern evitar los arreglos de ensayos que den indicaciones aparentes ( ver 3.32 y 3.62).
7.Por razones econmicas, el volumen de la pieza a ensayar ser el mayor posible al mismo
tiempo que el rea de inspeccin lo ms pequea que se pueda.
9.El mtodo de transmisin ser usado solamente en los casos cuando el mtodo de pulso-eco
falle.
Esta compilacin contiene los ms importantes puntos de vista para juzgar las soluciones a los
distintos problemas de ensayos ultrasnicos. Con una poca experiencia se reconocer fcilmente
la tcnica ptima de ensayo. Existe tambin un gran nmero se especificaciones, los que podrn
ser aplicados por analoga en piezas similares, y los que facilitarn la solucin de problemas.
Bibliografa:
Ultrasonic Testing
Dr. Ing. Volker Deutsch and Manfred Vogt
Ultrasonic testing of Materials
Krautkrmer
Normas ASTM
Normas IRAM- CNEA CNEA
Cdigo ASME Seccin V