UTP

CIENCIA DE MATERIALES
I. ALUMNO:
MIGUEL CUBAS BOHORQUEZ
II. CARRERA:
INGENERA MECNICA
III. CICLO:
III
IV. PRIFESOR:
FELIX MAURICIO P.
V. ASIGNATURA:
DETERMINACIN DE TAMAO DE GRANO
CRISTALINO

Ms nos conoces, Ms te
sorprendes

INTRODUCCIN
El presente trabajo de informe de Ciencia de Materiales tiene como
objetivo, determinar el tamao de grano cristalino en una muestra
metlica, para ello tambin utilizaremos un material de apoyo el cual
est esta normalizado por ISO643.
Para ello recibiremos muestra metalogrfica, debiendo tomar los
siguientes datos: tipo de material, proceso de fabricacin, pieza y la
zona de anlisis.
Luego realizaremos dos mtodos especiales con la ayuda del material
de apoyo, que nos permite hacer clculos para llegar con las tamao
de grano cristalino
Finalmente, al comparar las G1, G2 y G3 permitiremos saber el valor
del tamao de grano y con la tabla an ms podremos saber: nmeros
de grano por milmetro cuadrado, dimetro medio del grano, rea
media del grano.

Determinacin de Tamao de Grano

Cristalino
Anlisis Metalogrfico Cuantitava

etalografa CUANTITATIVA (o, ms en general, estereologa) se

ocupa de las relaciones cuantitativas entre las mediciones
realizadas en el plano de dos dimensiones de esmalte y las
magnitudes de las caractersticas microestructurales en la
tridimensional de metal o aleacin. Como las especificaciones de materiales se
vuelven ms estrictas y lmites de rendimiento se estrecharon, se hace necesario
especificar y controlar la microestructura cuantitativamente. En este laboratorio
revisaremos las ecuaciones importantes, las medidas bsicas y las aplicaciones
de estos mtodos para metales puros aleaciones.

Metodo utilizados en Metal Hand Book Vol. 9

I.

Metodo de Conteo de Puntos

De mayor inters son las mediciones de recuento simples, PP, PL, NL, PA, y NA, debido a
la facilidad y velocidad con la que estos datos se pueden recopilar. Varios anlisis tericos
han dilucidado las tcnicas de muestreo eficientes. Con uno tcnica, es posible predecir el
nmero de mediciones necesarias para lograr la precisin deseada (Ref. 2). esto tiene ha
aplicado el mtodo de conteo de puntos, que se refiere al nmero de puntos de prueba que
caen en alguna caracterstica superficial seleccionado de la microestructura (tales como
phase) en el plano de pulido.
El nmero de puntos, P, que caen en la una fase dividida por PT, el nmero total de
puntos de prueba, da la relacin P / PT, o PP. Esos puntos de la cuadrcula que parecen
caer en un lmite se puede contar como una media. Esto le da al operador una gua para la
magnitud del error experimental.

Metodo Puntos de Interseccin generado por Unidad de

Longitud de las Lneas de Prueba

II.

Otra medida importante con frecuencia se requiere en el anlisis microestructural

cuantitativa es el nmero de puntos de interseccin generado por unidad de longitud de
las lneas de prueba, PL. Una lnea de prueba o conjunto lineal se aplica al azar a una
microestructura que contiene caractersticas lineales, tales como la estructura dibujada en
la figura. 4 (a). Los puntos de interseccin a lo largo de las lneas de prueba se cuentan
como estn colocados en varias posiciones y ngulos en toda la microestructura hasta
bastantes intersecciones tienen sido contados. Figura 4 (b) muestra ejemplos de rejillas
lineales de prueba circulares y paralelas para los recuentos PL (Ref. 1). Ambas rejillas
en . figura 4 (b) se puede usar para microestructuras aleatorios (tales como el de la figura
4a.); La cuadrcula con radios espaciados a intervalos angulares de 15 es de aplicacin
para mediciones direccionales en estructuras orientadas, tales como la que se muestra en
la figura. 5. Las longitudes totales de las rejillas lineales de prueba circulares y paralelas
se determinan con antelacin para facilitar los clculos posteriores.

III.

Metodo de estructuras orientadas

Aunque las ecuaciones bsicas (Ec. 4, 5, 6) se aplican a cualquier microestructura,
ecuaciones especiales estn disponibles para los tipos especiales de microestructuras
(Ref. 1). Por ejemplo, los sistemas orientados de lneas o
superficies se pueden encontrar, y las caractersticas
direccionales, adems de los valores medios, se pueden
desear. En tales casos, se utilizan secciones transversales o
longitudinales o ambos en lugar de secciones al azar.
A continuacin, se discuten los sistemas de lneas
orientadas en un plano de dos dimensiones, sistemas de
lneas orientadas en el espacio tridimensional, y los
sistemas de superficies orientadas en el espacio tridimensional. Los sistemas
orientados t ambin pueden ser descritos como sistemas orientados completamente, en
la que todos los elementos son paralelos, o como sistemas parcialmente orientados, en
el que se producen elementos aleatorios y orientados. En ambos casos, sin embargo,
direcciones de orientacin estn claramente definidas y reconocibles, de hecho, varios
sistemas de orientacin pueden existir en la misma microestructura, cada uno con su
propia direccin de la orientacin o avin

BIBLIOGRAFIA
METAL HAND BOOK VOL. 9

http://www.traducegratis.com/