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La Difraccin de Rayos X est basada en las interferencias pticas que se producen cuando una radiacin monocromtica atraviesa una rendija de espesor comparable a la longitud de onda de la radiacin. Los Rayos X tienen longitudes de onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias interatmicas de los componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se difractan con ngulos que dependen de las distancias interatmicas. El mtodo analtico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: n = 2d. sen.
X-ray diffraction is based on the optical interference which occur when monochromatic radiation passes through a slit of thickness comparable to the wavelength of the radiation. Xrays have wavelengths Angstroms, the same order as the interatomic distances of components of the crystal lattices. By being irradiated onto the sample to be analyzed, the X-rays are diffracted at angles that depend on the interatomic distances. The analytical method Random Dust or Debye-Scherrer is irradiated with X-rays on a sample of many crystals placed randomly in all possible directions. This applies Bragg Law: n = 2d. sen.
DIFRACCION DE RAYOS X
1. Objetivos(s).
Comprobar la ley de Bragg Identificar la naturaleza ondulatoria de los Rayos X Explicar la Difraccin de los Rayos X
2. Marco terico
La difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas que consiste en el curvado y esparcido de estas al encontrarse con un obstculo, si este obstculo es de un tamao comparable a la longitud de onda entonces se presentara interferencia. Para los rayos X los slidos en estado cristalino funcionan como rendija de difraccin, pues la distancia entre los diferentes planos atmicos del cristal es comprable a la longitud de onda de estos (ente 10 y0,1 nm). Y segn la ley de Bragg cuando estos inciden a diferentes ngulos se da la difraccin con una interferencia constructiva para cierta longitud de onda del espectro generado. Ley de Bragg:
Donde des la distancia entre los diferentes planos atmicos del cristal;
la longitud de onda para la cual la interferencia es constructiva en este determinado ngulo. Valor terico de la distancia entre las capas del cristal de NaCl: d = 282,01pm.
Valor terico de la longitud del lado de la celda cubica del cristal de LiF: a o= 407,2pm. Valores tericos para las longitudes de onda caractersticas del molibdeno (Mo): K =71,08pm; K
= 63,09pm
3. Materiales y equipos.
Aparato bsico de rayos X Tubo de rayos X Colimador con diagrama de rendija Porta muestras Mesa giratoria Escala goniomtrica Filtro de zircn Monocristal de NaCl o Lif Tubo contador para rayos Indicador de Valor se medio Contador digital
4. Procedimiento
4.1. Introduzca en la abertura de salida de los rayos x el colimador con diafragma de rendija para limitar a un estrecho haz de rayos x. En el curso de este, colocar el filtro de zirconio para monocromatizar la radiacin, es decir, permitir el paso de la radiacin K de molibdeno: =0.71 x 10 m
-10
4.2. Colocar el monocristal sobre la mesa giratoria y sujetarlo entre esta y el porta muestras.
4.3. Conectar convenientemente el tubo contador en su respectivo soporte. Empujar la escala goniomtrica hasta el tope derecho. Soltar el acoplamiento entre los ejes de giro para la muestra de cristal y para el portador del tubo contador en el tornillo moleteado. Colocar ambos indicadores, del gonimetro y del tubo contador, de tal forma que las puntas de los indicadores, indiquen exactamente sobre el punto cero de la escala angular. Luego acoplar entre si los ejes a travs del tornillo moleteado.
4.4. Conectar correctamente el indicador de valor medio en los valores U=460 V y f=1000imp/s e igualmente el contador digital en 1s, sensibilidad>1.5 Vss y posicin start.
4.5. Verificando esta operacin, encender el aparato de rayos X, colocar el tiempo de funcionamiento en una hora. Encender la alta tensin. Pasar el selector de alta tensin a la posicin 7 y el selector de corriente de emisin a la posicin 1mA
4.6. Colocar la disposicin del cristal giratorio sobre el ngulo de cristal =3 (indicador
o
4.7. Aumentar al ngulo en pasos de 0.5 hasta los 30 y medir cada vez el nmero de
o o
impulsos.
TABULACION DE DATOS
Cristal: Fluoruro de Litio Inclinacin del cristal Impulsos N S-1 72 7 26 56 46 34 47 554 68 3.0 4.0 5.0 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0
12.0
13.0
14.0
15.0
16.0
17.0
18.0
19.0
20.0
21.0
22.0
38
31
20
16
15
18
15
15
13
44
15
23.0
24.0
25.0
26.0
27.0
28.0
29.0
30.0
14
13
12
11
13
PREGUNTAS
A. Construya un grfico Impulsos Inclinacin del cristal y efecte un estudio de l.
ANLISIS
Mediante la grfica podemos darnos cuenta donde se producen los mximos y mnimos y a qu grado se producen
B. Analticamente demuestre los mximos en base a la ecuacin de Bragg considerando los siguientes datos:
CRISTAL 2d(pm)
NaCl 593.94
liF 402.76
Cristal:
LiF
2d:
402,76x10-12m
El valor terico de
D. Por qu en la difraccin de Rayos X se mide el ngulo entre el rayo incidente y la cara del cristal y no la normal a la cara, que se usa para explicar la reflexin?
Debido a que mientras se toman las medidas de los ngulos reflejados se pueden medir los mximos de intensidad producidos por las interferencias constructivas de las longitudes de onda.
E. Por qu se admite que el rayo dispersado, abandona la superficie formando un ngulo igual al de incidencia. Qu pasara si no fuera si?
Debido a que cuando el rayo choca debe tener cierto tipo de ngulo para conservar la cantidad de energa, si no de lo contrario la longitud de onda no seria pequea
F. Explique en que consiste la reflexin la difraccin y la dispersin. REFLEXION .- Se refiere al fenmeno por el cual un rayo de luz que incide sobre
una superficie es reflejado. El ngulo con la normal a esa superficie que forman los rayos incidente y reflejado son iguales. Se produce tambin un fenmeno de absorcin diferencial en la superficie, por el cual la energa y espectro del rayo reflejado no coinciden con la del incidente.
G. An cuando la ecuacin de Bragg, para el retculo de difraccin cristalino, es parecido a la ecuacin para los retculos planos, es sustancialmente diferente. Explique por qu?
Porque usa en sustitucin de la rejilla de difraccin, a los tomos en un cristal ya que las distancias d entre ellos cumplan las exigencias para las longitudes de onda mnimas en los rayos x.
I. Como se explica que las mediciones de difraccin de Rayos X sirvan para determinar la longitud de onda del haz de Rayos X y a partir de aqu se utilice para determinar la estructura de un solido
Esto se explica ya que solo para ciertos ngulos las ondas difractadas van a tener una interferencia constructiva, y al conocer las distancias entre tomos se puede, utilizando la ley de Bragg, obtener la longitud de onda de los rayos x. Para determinar la estructura de un cuerpo se hace un proceso similar solo que ahora lo que conocemos la longitud de onda.
CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
Se pudo comprobar experimentalmente que la ley de Bragg se cumple. Al chocar una onda con un cristal cuyo espacio entre planos sea comparable con la longitud de onda esta se difractara Los Rayos X producen gran cantidad de radiaciones, se deben tomar ciertos consideraciones al realizar esta practica
La longitud de onda de los rayos X es mucho menor que la longitud de onda que es producida por la luz visible
BIBLIOGRAFA
Fsica Universitaria - Zemasnky George Gamow. Biografa de la Fsica. Alianza Editorial.1980. Hey, T & Walter Patrick. El Universo Cuntico, Alianza Editorial. 1989. http://es.wikipedia.org/wiki/Ley_de_Bragg http://es.wikipedia.org/wiki/Difracci%C3%B3n_de_rayos_X