NMX-Z-12-2-1987

SECRETARIA DE COMERCIO Y FOMENTO INDUSTRIAL NORMA MEXICANA NMX-Z-12-2-1987 MUESTREO PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOSPARTE 2: METODOS DE MUESTREO, TABLAS Y GRAFICAS SAMPLING FOR INSPECTION BY ATTRIBUTES PART 2: SAMPLING PROCEDURES, TABLES AND GRAHPS.

DIRECCION GENERAL DE NORMAS CONTENIDO

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1. OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION 2. PREFERENCIAS 3. DEFINICIONES 4. CLASIFICACION DE DEFECTOS Y UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS 5. PORCENTAJE DE UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Y DEFECTOS POR CIEN UNIDADES DE PRODUCTO. 6. NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA) 7. PRESENTACION DEL PRODUCTO PARA SU INSPECCION 8. ACEPTACION O RECHAZO. 9. EXTRACCION DE MUESTRAS 10. INSPECCION NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA. 11. PLANES DE MUESTREO 12. CRITERIO DE ACEPTACION. 13. INFORMACION SUPLEMENTARIA. 14. TABLAS Y GRAFICAS PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS. I LETRAS CLAVE CORRESPONDIENTES AL TAMANO DE LA MUESTRA II-A PLANES DE MUESTREO SENCILL.0 PARA INSPECCION NORMAL II-B PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION RIGUROSA II-C PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION REDUCIDA III-A PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPEGCION NORMAL III-B PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION RIGUROSA III-C PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION REDUCIDA IV-A PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION NORMAL IV-B PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA IV-C PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION REDUCIDA V-A FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA V-B FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA PARA INSPECCION RIGUROSA VI-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA CUAL Pa=10%

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VI-B CALIDAD LIMITE (EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES) PARA LA CUAL Pa=10% VII-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA CUAL Pa=5% VII-B CALIDAD LIMITE (EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES)PARA LA CUAL Pa=5% VIII NUMEROS LIMITES PARA INSPECCION REDUCIDA IX CURVAS DEL TAMAO PROMEDIO DE LAS MUESTRAS PARA MUESTREOS DOBLE Y MULTIPLE PLANES DE MUESTREO Y CURVAS DE OPERACION CARACTERISTICAS X-A X-B X-C X-D X-E X-F X-G X-H X-J X-K X-L X-M X-N X-P X-Q X-R TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE A TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE B TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE C TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE D TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE E TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE F TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE G TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE H TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE J TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE K TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE L TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE M TAMAO DE LA MUESTRA CORRESFONDIENTE A LA LETRA CLAVE N TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE P TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE Q TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE R

MUESTREO PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOSPARTE 2: METODOS DE MUESTREO, TABLAS Y GRAFICAS SAMPLING FOR INSPECTION BY ATTRIBUTES PART 2: SAMPLING PROCEDURES, TABLES AND GRAHPS.

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1.

OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION

Esta parte de la norma establece las definiciones de los conceptos bsicos, los planes de muestreo, las tablas y las grficas para la inspeccin por atributos, con el fin de permitir el mutuo entendimiento sobre bases estadsticas comunes entre proveedores y compradores. Los planes de muestreo de esta norma se aplican pero no se limitan a la inspeccin de: - productos terminados; - componentes y materias primas; - operaciones; - materiales en proceso; - materiales almacenados; - operaciones de mantenimiento; - datos y registros; - procedimientos administrativos. 2 REFERENCIAS

Para la correcta aplicacin de esta norma se debe consultar la siguiente Norma Mexicana vigente: NMX-Z-12/1 Muestreo para la inspeccin por atributos - Parte 1: Informacin general y aplicaciones. 3. 3.1 DEFINICIONES Inspeccin

Es el proceso de medicin, examen, prueba, o de alguna otra forma de comparacin de la unidad de producto bajo consideracin (vase 3.3) con respecto a las especificaciones establecidas. 3.2 Inspeccin por atributos

Es la inspeccin bajo la cual simplemente se clasifica a la unidad de producto como defectuosa o no defectuosa o se cuenta el nmero de defectos que contiene con respecto a las especificaciones establecidas. 3.3 Unidad de producto

Es aquella que se inspecciona para su clasificacin en defectuosa o no defectuosa o para contar el nmero de defectos que contiene. Puede ser un solo artculo, un par, un juego una longitud, una rea, una operacin, un volumen, un componente de un producto terminado o

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el producto terminado mismo. La unidad de producto puede o no ser la misma unidad de compra, surtimiento, produccin o embarque. 4 4.1 CLASIFICACION DE DEFECT0S Y UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Clasificacin de defectos

Es la lista de posibles defectos que puede contener la unidad de producto, clasificados de acuerdo a su importancia. Defecto es cualquier discrepancia o inconformidad de la unidad de producto, con respecto a las especificaciones establecidas. Los defectos se agrupan usualmente en una o ms de las clases que se mencionan a continuacin; sin embargo, estos tambin se pueden agrupar en otras clases o subclases dentro de las mismas. 4.1.1 Defecto critico

Es un defecto en el cual el criterio y la experiencia indican que tiene grandes probabilidades de producir condiciones peligrosas o inseguras para las personas que usen el producto, le den servicio o dependan de el. Tambin es aquel en el cual el criterio y la experiencia indican que tiene grandes probabilidades de impedir el funcionamiento o el desempeo de la funcin primordial de un producto terminado mayor, tal como un barco, un avi, un tanque, un proyectil, un vehculo espacial, una computadora, un equipo mdico, o un satlite de telecomunicaciones. NOTA: Para condiciones especiales relativas a defectos crticos (vase 8.3). 4.1.2 Defecto mayor

Es un defecto que, sin ser critico, tiene grandes probabilidades de provocar una falla o reducir en forma drstica la utilidad de la unidad de producto para el fin al que se le destina. 4.1.3 Defecto menor

Es un defecto que representa una desviacin con respecto a los requisitos establecidos y que no tiene una influencia decisiva en el uso efectivo o en la operacin de la unidad de producto, o sea que no tiene grandes probabilidades de reducir en forma drstica la posibilidad de uso para el fin al que se le destina. 4.2 Clasificacin de unidades de producto defectuosas

Una defectuosa es una unidad de producto que contiene uno o ms defectos. Estas usualmente se clasifican en: 4.2.1 Defectuosa crtica

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Una defectuosa crtica contiene uno o ms defectos crticos, as como tambin puede contener defectos mayores y/o menores. NOTA: Para condiciones especiales relativas a defectos crticos (vase 8.3). 4.2.2 Defectuosa mayor

Una defectuosa mayor contiene uno 0 ms defectos mayores y que tambin puede contener defectos menores, pero que no contiene defectos crticos. 4.2.3 Defectuosa menor

Una defectuosa menor contiene uno o ms defectos menores, pero que no contiene ni defectos mayores ni crticos. 5 PORCENTAJE DE UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Y DEPECTOS POR CIEN UNI DADES DE PRCDUCTO 5.1 Formas de expresar la inconformidad

El grado de inconformidad de una unidad de producto, se puede expresar como: porcentaje de unidades de producto defectuosas, o defectos por cien unidades. 5.2 Porcentaje de unidades de producto defectuosas Es el cociente del nmero de unidades de producto defectuosas, entre el nmero total de unidades de producto inspeccionadas, todo multiplicado por 100.

5.3

Defectos por cien unidades de producto

Es el cociente del nmero de defectos encontrados en las unidades de producto, entre el nmero de unidades de producto inspeccionadas, todo multiplicado por 100. NOTA: Cualquier unidad de producto puede contener uno o ms defectos.

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6 6.1

NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA) Uso

El NCA se usa en conjunto con la letra clave que corresponde al tamao de la muestra, para entrar en las tablas correspondientes a los planes de muestreo para la inspeccin por atributos incluidas en la parte III de esta norma. 6.2 Definicin

El NCA es el porcentaje mximo de unidades de producto defectuosas (o el mximo nmero de defectos por cien unidades de producto) que, para propsitos de inspeccin por muestreo, se puede considerar satisfactorio como calidad promedio de un proceso (vase 13.2) 6.3 Explicaciones sobre el significado del NCA

Cuando un consumidor especifica un valor de un NCA para un defecto o grupo de defectos, con ello indica al proveedor que su plan de muestreo de aceptacin va a aceptar la gran mayora de los lotes o partidas que presente el proveedor siempre y cuando el promedio del porcentaje de unidades de producto defectuosas (o defectos por cien unidades de producto) en esos lotes o partidas, no exceda el valor especificado para el NCA. Por lo que el valor especificado del NCA es el porcentaje de unidades de producto defectuosas (o defectos por cien unidades de producto), que el consumidor indica que es aceptado la mayora de las veces, por el plan de inspeccin por muestreo que se va a usar. -Los planes de muestreo que se proporcionan en esta norma estn elaborados de tal manera, que la probabilidad de aceptacin en el valor especificado del NCA, depende del tamao de la muestra, siendo generalmente mas grande para tamaos de muestra mayores que para pequeos, para un NCA definido. El NCA solo, no indica la proteccin al consumidor en lotes o partidas individuales, pero se relaciona mas directamente con lo que se puede esperar de una serie de lotes o partidas, si se toma en cuenta esta norma. En este ltimo caso, es necesario consultar las curvas de operacin caractersticas del plan para determinar que proteccin va a tener el consumidor.

6.4 Limitacin La especificacin de un NCA no significa que el proveedor tenga derecho a proporcionar, a sabiendas, unidades de producto defectuosas. 6.5 Especificaci del NCA

El NCA que se va a usar debe especificarse en el contrato o establecerse por mutuo acuerdo entre proveedor y consumidor. Se pueden especificar diferentes NCA para grupos de

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defectos considerados en forma colectiva o para defectos individuales. Se puede especificar un NCA para un grupo de defectos adicionalmente a los NCA para defectos individuales o subgrupos en el mismo grupo. Los NCA para valores de 10 o menores se pueden expresar ya sea en porcentaje de unidades de producto defectuosas o en defectos por cien unidades de producto; aquellos mayores de 10 se deben expresar s61amente como defectos por cien unidades de producto. 6.6 NCA preferentes

Los valores de los NCA proporcionados por las tablas de la parte III de esta norma, se conocen como valores preferentes de NCA. Si para algn producto se debe especificar un NCA diferente a los valores preferentes, las tablas de la parte III no son aplicables. 7 7.1 PRESENTACION DEL PRODUCTO PAPA SU INSPECCION Lote o partida

Se refiere a lotes o partidas para su inspeccin y se definen como el conjunto de unidades de producto del cual se toma la muestra para su inspeccin y se de termina la conformidad con el criterio de aceptacin y puede ser diferente al conjunto de unidades llamadas lote o partida para otros propsitos (por ejemplo: produccin, embarque, etc.), 7.2 Formacin de lotes o partidas

El producto debe agruparse en lotes, sublotes o partidas identificables o de cualquier otra forma que se especifique (vase 5.4). En lo posible cada lote o partida debe estar constituido por unidades de producto de un slo tipo, grado clase, tamao y composicin, fabricados esencialmente bajo las mismas condiciones y en el mismo perodo. 7.3 Tamao de lotes o partidas

Es el nmero de unidades de producto que contienen

7.4

Presentacin de lotes o partidas para su inspeccin

Se debe establecer por mutuo acuerdo entre proveedor y comprador, la manera de formar los lotes o partidas, su tamao y la forma en que deben presentarse e identificarse por el proveedor. Cuando sea necesario, el proveedor debe proporcionar espacio adecuado y apropiado para el almacenamiento de cada lote o partida, el equipo necesario para la adecuada presentacin e identificacin y personal para llevar a cabo todo el manejo del producto necesario para la extraccin de las muestras. 8 ACEPTACION O RECHAZ0

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8.1

Aceptabilidad de lotes o partidas

Esta se determina por medio del plan o planes de muestreo en conjunto con el NCA correspondiente. 8.2 Unidades de producto defectuosas

El consumidor tiene derecho a rechazar cualquier unidad de producto que encuentre defectuosa durante la inspeccin, sin importar que dicha unidad forme parte de la muestra o no y sin importar que el lote o partida en total sea aceptada o no. Las unidades de producto defectuosas pueden repararse o corregirse y presentarse nuevamente para su inspeccin, mediante la aprobacin y en la forma acordada entre proveedor y comprador. 8.3 Condiciones especiales relativas a defectos crticos

Dependiendo del mutuo acuerdo entre proveedor y comprador, se puede establecer que el proveedor inspeccione cada unidad de producto del lote o partida, con respecto a los defectos crticos. El consumidor tiene el derecho a inspeccionar cada unidad del lote o partida con respecto a los defectos crticos y rechazar el lote o partida inmediatamente despus de encontrar un defecto crtico y tambin tiene el derecho de tomar muestras con respecto a defectos crticos de cada lote o partida presentada a inspeccin por el proveedor y rechazar cualquier lote o partida que contenga uno o ms defectos crticos en la muestra tomada. 8.4 Lotes o partidas presentadas nuevamente para inspeccin

Los lotes o partidas que han sido rechazados inicialmente, se pueden presentar nuevamente a inspeccin de aceptacin, solamente despus de haber examinado, medido o probado nuevamente todas las unidades de producto y que se hayan quitado las defectuosas o corregido los defectos. De mutuo acuerdo entre proveedor y comprador se establece si se usa en este caso la inspeccin normal o rigurosa y si la inspeccin debe incluir todos los tipos y clases de defectos o solamente los tipos y clase de defectos por los que fue rechazado inicialmente. 9 9.1 EXTRACCION DE MUESTRAS Muestra

Consiste de una o ms unidades de producto tomadas de un lote o partida. Estas deben tomarse estrictamente al azar, sin considerar su calidad. El nmero de unidades de producto en la muestra corresponde al tamao de la misma. 9.2 Muestra representativa

Siempre que sea posible, el nmero de unidades en la muestra se debe seleccionar en proporcin al tamao de los sublotes o subpartidas o partes que componen el lote o partida,

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identificadas por un criterio racional. Cuando se desee un muestreo representativo, se seleccionan las unidades de producto de cada parte del lote o partida estrictamente al azar. 9.3 Tiempo de muestreo

Se pueden tomar las muestras cuando se haya terminado de formar un lote o partida, o bien se pueden tomar durante el proceso de formacin del mismo. 9.4 Muestreo doble o m1tiple

Cuando se usen los planes de muestreo doble o mltiple, las muestras en cada caso deben ser representativas de todo el lote o partida 10. INSPECCION NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA

10.1 En este caso se usa la inspeccin normal, a menos que proveedor y comprador, acuerden otra cosa. 10.2 Continuacin de una inspeccin.

La inspeccin debe continuar sin cambios para cada clase de defectos o defectuosas en lotes o partidas sucesivas, ya sea normal, rigurosa o reducida, excepto cuando el procedimiento de cambio que se presenta a continuacin indique otra cosa. El procedimiento de cambio se debe aplicar a cada clase de defectuosas o defectos en forma independiente. 10.3 Procedimiento de cambio

10.3.1 Normal a rigurosa Cuando se esta llevando a cabo la inspeccin normal y se rechazan 2 de 5 lotes o partidas consecutivas en inspeccin original, se debe establecer de inmediato la inspeccin rigurosa. NOTA: No se debe tomar en cuenta los lotes o partidas presentados nuevamente para inspeccin de este procedimiento. 10.3.2 Rigurosa a normal Cuando se esta llevando a cabo la inspeccin rigurosa y se aceptan 5 lotes o partidas consecutivas en inspeccin original, se debe establecer de inmediato la inspeccin normal. 10.3.3 Normal a reducida Cuando se esta llevando a cabo la inspeccin normal, se debe establecer la inspeccin reducida si se cumplen con todos los requisitos que se establecen a continuacin:

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a) Cuando se hayan rechazado en inspeccin original los ltimos 10 lotes o partidas ( o ms, como se indica en la nota correspondiente a la tabla VIII). b) El nmero total de defectuosas ( o defectos ) en las muestras de los 10 ltimos lotes o partidas ( o el nmero usado para la condicin del punto anterior ) es igual o menor que el nmero correspondiente dado en la tabla VIII. Si se est usando muestreo doble o mltiple, se deben incluir todas las muestras inspeccionadas y no solamente las primeras; c) La produccin tiene un ritmo constante;

d) Cuando de mutuo acuerdo entre proveedor y comprador se considere deseable el implantar la inspeccin reducida. 10.3.4 Reducida a normal Cuando se esta llevando a cabo la inspeccin reducida, se debe establecer la inspeccin normal, si en la inspeccin original sucede cualquiera de las circunstancias que se anotan a continuacin: a) se rechaza un lote o partida; b ) un lote se considera aceptado le de acuerdo con el procedimiento establecido en 12.1.4; c) si la produccin se hace irregular o lenta; d) otras condiciones que justifiquen la implantacin de la inspeccin normal. 10.4 Suspensin de la inspeccin

En el caso de que 10 lotes o partidas consecutivas permanezcan en inspeccin rigurosa (o cualquier otro nmero que se especifique por mutuo acuerdo entre proveedor y comprador), se suspende la inspeccin bajo las condiciones de esta norma en espera de una accin que mejore la calidad del producto presentado a inspeccin. 11. 11.1 PLANES DE MUESTREO Plan de muestreo

Este define el tamao de la muestra que debe tomarse de cada lote o partida presentado a inspeccin (tamao de la muestra o serie de tamaos de muestra) y el criterio para determinar su aceptabilidad (nmero de aceptacin ( Ac ) y rechazo (Re). ) 11.2 Nivel de inspeccin

Este define la relacin entre el tamao del lote o partida y el tamao de la muestra. De mutuo acuerdo entre proveedor y comprador se establece para cada requisito en particular, el nivel de inspeccin que debe usarse. En la tabla uno se dan tres niveles de inspeccin, el I, II y el III para ser usados en general a menos que otra cosa se especifique, debe usarse el nivel II; sin embargo, se puede especificar el nivel I cuando sea necesaria una discriminacin menor o el nivel III cuando sea necesaria una discriminacin mayor. Se dan

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tambin en la misma tabla cuatro niveles de inspeccin adicionales: S-1,S-2,S-3 y S-4 se pueden usar donde sean necesarios tamaos relativamente reducidos de la muestra y que se deban o se puedan tolerar los riesgos mayores correspondientes NOTA: En la especificacin de los niveles de inspeccin S-1 al S-4, se debe tener cuidado en no especificar NCA incompatibles con dichos niveles de inspeccin. 11.3 Letras clave

Estas identifican el tan ao de la muestra que se debe tomar en funcin de los tamaos de los lotes y el nivel de inspeccin especificado; para obtenerlas se usa la tabla I 11.4 Seleccin del plan de muestreo

Se debe usar el NCA y la letra clave, para seleccionar el plan de muestreo por medio de las tablas II, III IV. Cuando no existe plan de muestreo disponible para una combinacin determinada de NCA y letra clave, las tablas mismas guan al usuario hacia una letra clave diferente, en este caso el tamao de la muestra est dado por la nueva letra clave y no por la original. Si con este procedimiento se obtienen diferentes tamaos de muestras para diferentes clases de defectos, se puede usar la letra clave que corresponde al tamao de la muestra mayor para todas las clases de defectos cuando as se especifique, o se acuerde entre proveedor y comprador. Se puede usar, cuando as se especifique o se acepte de mutuo acuerdo entre proveedor y consumidor como alternativa de un plan de muestreo sencillo con un nmero de aceptacin de 0, el plan de muestreo con un nmero de aceptacin de 1, con su correspondiente tamao mayor de muestra, para un NCA especificado (que sea disponible).

11.5

Tipos de planes de muestreo

Se dan tres tipos de planes de muestreo en las correspondientes tablas II,III y IV: sencillo, doble y mltiple: cuando existen varios tipos de planes para una combinacin dada de NCA y letra clave, se puede usar cualquiera de ellos. La decisin con respecto al plan que se va a usar, ya sea sencillo, doble o mltiple (cuando los haya disponibles para una combinacin de NCA y letras clave dadas), normalmente se basa en un balance entre la dificultad administrativa y el promedio de los tamaos de las muestras de los planes disponibles. El promedio del tamao de la muestra del plan mltiple es menor que el tamao de la muestra del plan doble (con excepcin del caso en que en el sencillo el numero de aceptacin sea 1) y ambos son siempre menores que el tamao de la muestra en el plan sencillo, normalmente la dificultad administrativa para el plan sencillo y el costo por unidad de la muestra son menores que para el plan doble o mltiple. 12 12.1 CRITERIO DE ACEPTACION Inspeccin por porcentaje de unidades de producto defectuosas

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Para determinar la aceptabilidad de un lote o partida sujeto a inspeccin de porcentaje de unidades de producto defectuosas, el plan de muestreo aplicable se usa segn se indica en 12.1.1, 12.1.2, 12.1.3 y 12.1.4. 12.1.1 Plan de muestreo sencillo El nmero de unidades de producto que se inspeccionan es igual al tamao de la muestra dada en dicho plan. Si el nmero de unidades de producto defectuosas encontrado en la muestra, es igual o menor que el nmero de aceptacin, dicho lote o partida se considera aceptable. Si el nmero de unidades de producto defectuosas es igual o mayor que el nmero de rechazo, el lote o partida debe rechazarse. 12.1.2 Plan de muestreo doble El nmero de unidades de producto que deben inspeccionarse es igual al primer tamao de muestra dada en el plan. Si el nmero de unidades de producto defectuosas encontradas en la primera muestra, es igual o menor que el primer nmero de aceptacin, el lote o partida se considera aceptable. Si el nmero de unidades de producto defectuosas encontradas en la primera muestra es igual o mayor que el primer nmero de rechazo, el lote o partida debe rechazarse. Si el nmero de unidades de producto defectuosas encontradas en la primera muestra queda comprendido entre el primer nmero de aceptacin y el primer nmero de rechazo, se deben inspeccionar una segunda muestra del tamao indicado por el plan. Se deben tomar el nmero de unidades defectuosas encontradas en el primer y segundo muestreos. Si el nmero total de unidades de producto defectuosas es igual o menor que el segundo nmero de aceptacin, el lote o partida debe considerarse aceptable. Si el nmero total de unidades defectuosas es igual o mayor que el segundo nmero de rechazo, el lote o partida debe rechazarse. 12.1.3 Plan de muestreo mltiple Para este plan de muestreo, el procedimiento de inspeccin debe ser similar al especificado en 12.1.2, con excepcin que el nmero de muestras sucesivas necesarias para llegar a una decisin puede ser de ms de dos. 12.1.4 Procedimiento especial para inspeccin reducida Cuando se est llevando a cabo la inspeccin reducida, el procedimiento de muestreo puede finalizar sin que necesariamente se haya cumplido con el criterio de aceptacin o de rechazo. Bajo estas circunstancias el lote o partida se considera aceptable, pero se debe establecer la inspeccin normal en el siguiente lote o partida (vase 8.3.4 (b) y tambin las notas al pie de las tablas para inspeccin reducida). 12.2 Inspeccin de defectos por cien unidades

Para determinar la aceptabilidad de un lote o partida sujeto a inspeccin de defectos por cien unidades se debe usar el procedimiento especificado para porcentajes de defectuosas con excepcin de la palabra "defectuosas", que debe ser substituida por "defectos".

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13 13.1

INFORMACION SUPLEMENTARIA Curvas de operacin caractersticas (COC)

Las curvas de operacin caractersticas para inspeccin normal que se muestran en la tabla X, indican el porcentaje de los lotes o partidas que se puede esperar sean aceptadas bajo los diversos planes de muestreo para una calidad dada del proceso. Las curvas que se muestran, corresponden a muestreo sencillo; las curvas para muestreos doble o mltiple coinciden con estas tan de cerca, que se pueden usar para los muestreos doble o mltiple sin errores de consideracin. Las curvas de operacin caractersticas que se muestran para NCA mayores de 10.0 se basan en la distribucin de Poisson y son aplicables para la inspeccin de defectos por cien unidades; aquellas para NCA de 10.0 o menor y tamaos de muestras de 80 o menor, se basan en la distribucin binominal y son aplicables para inspeccin de porcentaje de defectuosas; aquellas para NCA de 10 o menor y tamaos de muestras mayores de 80 se basan en la distribucin de Poisson y son aplicables, ya sea para la inspeccin de defectos por cien unidades, o para la inspeccin de porcentaje de defectuosas (la distribucin de Poisson es una aproximacin adecuada a la distribucin binominal bajo estas condiciones). Se proporcionan valores tabulados, correspondientes a valores seleccionados de probabilidad de aceptacin (Pa, en porcentaje) para cada una de las curvas que se muestran y en forma adicional, para inspeccin rigurosa y para defectos por cien unidades para NCA de 10.0 o menor y tamaos de muestras de 80 o menor 13.2 Calidad promedio de un proceso (CPP)

Es el promedio del porcentaje de defectuosas o el promedio de defectos por cien unidades (lo que corresponda) de un producto presentado por el proveedor a inspeccin original. La inspeccin original es la primera inspeccin de una cantidad de producto en particular y no se debe confundir con la inspeccin de un producto que se ha presentado nuevamente a inspeccin despus de haber sido rechazado en la inspeccin original. 13.3 Calidad promedio de salida (CPS)

Es el promedio del porcentaje de defectuosas o el promedio de defectos por cien unidades (lo que corresponda) de todos los lotes aceptados de un producto presentado por el proveedor a inspeccin. En el caso de lotes rechazados en inspeccin original, estos no deben incluirse, sino hasta el momento en que son aceptados despus de haber sido realmente inspeccionados cien por ciento y que hayan sido reemplazadas todas las unidades defectuosas por no defectuosas o corregidos los defectos. 13.4 Limite de la calidad promedio de salida (LCPS)

Es el mximo de las calidades promedio de salida (PCS) para todas las posibles calidades de entrada para un plan de muestreo de aceptacin dado. En la tabla V-A se dan valores

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LCPS para cada uno de los planes de muestreo sencillo para inspeccin normal y en la tabla V-B para cada uno de los planes de muestreo sencillos para inspeccin rigurosa. 13.5 Curvas del tamao promedio de las muestras

Para planes de muestreo dobles y mltiples, las curvas del tamao promedio de las muestras, se encuentran en la tabla IX. Estas indican los tamaos promedio de las muestras que pueden esperarse que ocurran bajo distintos planes de muestreo y una calidad promedio del proceso determinada. Estas curvas no suponen una disminucin de la inspeccin y son aproximadas hasta el punto que estn basadas en la distribucin de Poisson y que el tamao de la muestra para planes de muestreo doble y mltiple, se supone que son iguales a 0.63n y 0.25n respectivamente, donde n es el tamao de la muestra correspondiente al plan de muestreo sencillo. 13.6 Proteccin de calidad limite

Los planes de muestreo y procedimiento asociados, dados en esta norma, estn di senados para usarse cuando las unidades de producto se fabrican en series continas de lotes o partidas en un tiempo determinado. Sin embargo, si el lote o partida es de naturaleza aislada y es deseable el limitar la seleccin de los planes de muestreo a aquellos que, asociados con el valor del NCA especificado, proporcionen no menos de un valor especificado de proteccin de calidad lmite se pueden seleccionar planes de muestreo para este prop6sito escogiendo una calidad limite (CL) y un riesgo del consumidor especificado. En las tablas VI y VII se dan valores para las calidades lmite, para riesgos comnmente usados del consumidor de 10 y 5% respectivamente. Si se requiere de un valor diferente para el riesgo del consumidor se pueden usar las curvas de operacin caractersticas y valores tabulados. El concepto de calidad lmite puede tambin ser til al especificar el NCA y el nivel de inspeccin para una serie de lotes o partidas, fijando as un tamao mnimo de muestra donde existe alguna razn para evitar, (con un riesgo mayor que el especificado para el consumidor), ms que un porcentaje limitado de defectuosas (o defectos) en cualquier lote o partida aislada. 14 TABLAS Y GRAFICAS PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS

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TABLA 1. LETRAS CLAVECORRESPONDIENTES AL TAMAO DE LA MUESTRA

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TABLA II-A PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION NORMAL

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TABLA II-B PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION RIGUROSA

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TABLA II-C PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION REDUCIDA

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TABLA III A PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION NORMAL

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TABLA III B PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION RIGUROSA

TABLA III C PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION REDUCIDA

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TABLA IV-A PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION NORMAL

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TABLA IV-A PLANES DE MUESTREO PARA INSPECCION NORMAL( continuacin)

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TABLA IV-B PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA

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RIGUROSA MULTIPLE

TABLA IV-B PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA

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( continuacin)

TABLA IV-C PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION REDUCIDA

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REDUCIDA MULTIPLE

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TABLA IV-C PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION REDUCIDA ( continuacin)

REDUCIDA MULTIPLE

TABLA V-A FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA PARA INSPECCION NORMAL ( muestreo sencillo)

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TABLA V-B FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA PARA INSPECCION RIGUROSA ( muestreo sencillo )

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TABLA VI-A CALIDAD LIMITE ( EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS) PARA LA CUAL Pa= 10% ( para inspeccin normal, muestreo sencillo )

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TABLA VI-B CALIDAD LIMITE ( EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES ) PARA LA CUAL Pa=10% ( para inspeccin normal, muestreo sencillo)

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TABLA VII-A CALIDAD LIMITE ( EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS ) PARA LA CUAL Pa=5% (para inspeccin normal, muestreo sencillo )

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TABLA VII-B CALIDAD LIMITE ( EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES ) PARA LA CUAL Pa=5% ( para inspeccin normal, muestreo sencillo)

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TABLA VIII- NUMEROS LIMITES PARA INSPECCION REDUCIDA

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NUMEROS LIMITES

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TABLA IX CURVAS DEL TAMAO PROMEDIO DE LAS MUESTRAS PARA MUESTREOS DOBLE Y MULTIPLE ( inspeccin normal y rigurosa )

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TABLA X-A TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE A

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TABLA X-A-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave A.

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TABLA X-B TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE B.

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TABLA X-B-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave B

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TABLA X-C TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE C

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TABLA X-C-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondientes a la letra clave C

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TABLA X-D TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE D

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TABLA X-D Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave D.

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TABLA X-E TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE E

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TABLA X-E-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a laletra clave E.

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TABLA X-F TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE F

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TABLA X-F-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave F

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TABLA X-G TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE G

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TABLA X-G-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave G.

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TABLA X-H TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE H

NMX-Z-12-2-1987

TABLA X-H-2 Planes de muestreo para el tamao correspondiente a la letra clave H

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TABLA X-J TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE J

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TABLA X-J-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave J

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TABLA X-K TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE K

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TABLA X-K-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave K

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TABLA X-L TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE L

NMX-Z-12-2-1987

TABLA X-L-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave L.

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TABLA X-M TAMAO DE LA MUESTRA COPRRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE M

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TABLA X-M-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave M

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TABLA X-N TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE N

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TABLA X-N-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave N

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TABLA X-P TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE P

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TABLA X-P-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave P

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P
TABLA X-Q TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE Q

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TABLA X-Q-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave Q

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TABLA X-R TAMAO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE R

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NMX-Z-12-2-1987

TABLA X-R-2 Planes de muestreo para el tamao de la muestra correspondiente a la letra clave R

NMX-Z-12-2-1987

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TABLA X-S Tamao de la muestra correspondiente a la letra clave S.

Ac = Nmero de aceptacin Re= Nmero de rechazo # = No se permite la aceptacin para este tamao de la muestra. 15. BIBLIOGRAFIA

MIL STD-105D-1963 Sampling procedures and tables for inspection by attributes.

16.

CONCORDANCIA CON NORMAS INTERNACIONALES

NMX-Z-12-2-1987

Esta norma concuerda totalmente con las normas internacionales : ISO 2859-1974 Sampling procedures and tables for inspection by attributes e IEC-publication 410-1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributes. Mxico, D. F. a 28 OCTUBRE 1987 LA DIRECTORA GENERAL DE NORMAS

LIC. CONSUELO SAEZ PUEYO.