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ULTRASONIDO
Ing. Ricardo Echevarria
AO 2002
Indices
INDICE
INDICE .................................................................................................................................................2
ENSAYO DE ULTRASONIDO ............................................................................................................4
1.- PRINCIPIOS ACSTICOS.........................................................................................................4
1.1 OSCILACIN .........................................................................................................................4
1.2 ONDAS: ..................................................................................................................................6
1.3 TIPOS DE ONDAS:................................................................................................................8
1.31 Onda longitudinal..............................................................................................................8
1.32. Onda transversal: ............................................................................................................9
1.4. SONIDO.................................................................................................................................9
1.41- Propagacin del sonido:................................................................................................10
1.42 .El comportamiento de ondas snicas en superficies limites........................................12
1.43. Dispersin, difraccin , interferencia: ............................................................................15
1.44. Disminucin de la presin snica..................................................................................17
2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS INSTRUMENTOS. ...............................................................20
2.1. GENERACIN DE ULTRASONIDO...................................................................................20
2.11. Procedimientos mecnicos...........................................................................................20
2.12. Efecto magnetoestrictivo ...............................................................................................20
2.13. Efecto piezoelctrico .....................................................................................................20
2.2. PROCEDIMIENTO DE ENSAYO ULTRASONICO............................................................23
2.21. Procedimiento de transmisin.......................................................................................23
2.22. Procedimiento de pulso-eco..........................................................................................25
2.23. Otros procedimientos de ensayo ..................................................................................27
2.3. PALPADORES....................................................................................................................28
2.31 Propiedades....................................................................................................................28
2.32. Campo snico................................................................................................................29
2.33. Descripcin de palpadores ultrasnicos .......................................................................31
2.4. EQUIPOS DE ENSAYO ULTRASONICO ..........................................................................43
2.41. Instrumental bsico .......................................................................................................43
2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION .................................................................................49
2.51 Representacin "Tipo A" (o pantalla Tipo A) .................................................................49
2.52 Representacin "Tipo B" ................................................................................................49
2.53 Representacin "Tipo C" ................................................................................................50
2.6. BLOQUES PATRONES DE CALIBRACION Y DE REFERENCIA ....................................51
2.61 Bloques de calibracin ...................................................................................................51
2.62 Bloques normalizados de referencia..............................................................................51
3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN ..............................................................................54
3.1. ACOPLAMIENTO................................................................................................................54
3.2. SUPERFICIE DE LA PIEZA DE ENSAYO .........................................................................54
3.21. Rugosidad......................................................................................................................54
3.22. Curvatura .......................................................................................................................55
3.23. Recubrimiento................................................................................................................57
3.3. SELECCION DE LOS PALPADORES ...............................................................................57
3.31. Procedimiento de ensayo ..............................................................................................57
3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico...............................................................57
3.33. Seleccin de la frecuencia de ensayo ..........................................................................58
3.34. Seleccin del tamao del transductor...........................................................................59
3.4. AJUSTE DEL EQUIPO .......................................................................................................61
3.5. TECNICA DE INMERSION.................................................................................................61
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
Indices
1 Principios acsticos
ENSAYO DE ULTRASONIDO
1.- PRINCIPIOS ACSTICOS
Para obtener una mejor comprensin de los fenmenos que ocurren en el ensayo no destructivo
de ultrasonido, es necesario recordar algunos pocos conceptos fsicos bsicos.
1.1 OSCILACIN
Como punto de partida consideremos el trmino oscilacin y todas sus caractersticas
relacionadas. Un ejemplo bien conocido de oscilacin son los pndulos o las cuerdas de un
instrumento musical, cuya caracterstica comn de oscilacin en ellos es el cambio regular de su
valor de estado ( por ejemplo posicin de una partcula de la masa) o el peridico alcance de una
condicin instantnea (en un pndulo, por ejemplo, el punto de inversin derecho o izquierdo). Un
pndulo puede moverse veloz o lentamente, fuerte o dbilmente; dos pndulos idnticos pueden
oscilar en el mismo sentido o no con otro.
Los siguientes trminos estn relacionados con las vibraciones y sern abreviadamente definidos
como sigue:
OSCILACIN (CICLOS): cambio peridico de la condicin o el comportamiento de un cuerpo.
PERODO: tiempo necesario para llevar a cabo una oscilacin, por ejemplo el tiempo en que un
cuerpo se mueve un ciclo completo relacionado al momento de estados idnticos. Este se
designa "t" y es usualmente expresado en segundos (seg.), ver figura 1.
1 Principios acsticos
f =
1
t
(1)
1 Principios acsticos
1.2 ONDAS:
Hasta aqu se ha considerado el comportamiento de un cuerpo simple ( por ejemplo el
pndulo). La misma consideracin se puede aplicar ahora aplicada a partculas elementales
(tomos y molculas) de un cuerpo. Aqu deben ser discutidas algunas caractersticas de gran
importancia para el ensayo ultrasnico debido al gran nmero y a las fuerzas actuantes entre ellos
(tomos y molculas).
Si varios cuerpos son acoplados entre s rgidamente y a uno de ellos se lo hace oscilar, todos
los otros oscilarn en la misma fase, frecuencia y amplitud; mientras sea desamortiguado, esto
puede ser considerado como una entidad, ver Fig. 6.
1 Principios acsticos
No obstante, si estos cuerpos no estuvieran unidos uno con otro, los dems permaneceran en
reposo si uno de ellos oscilase (Fig. 7) .
1 Principios acsticos
El grfico de una onda es similar al de una oscilacin, pero versus una distancia en lugar del
tiempo.
Acoplamiento : Unin entre dos partculas adyacentes o medio, y es el factor necesario para la
ocurrencia y propagacin de ondas. Un acoplamiento total (rgido) o el no acoplamiento total
nunca ocurre en la naturaleza, esto vara dentro de lmites amplios. El acoplamiento es producido
por fuerzas atmicas o moleculares elsticas de enlace, por friccin, por gravitacin, etc.
Velocidad de propagacin (velocidad snica): es la velocidad de propagacin de una onda,
relacionada a iguales fases, por lo que de all tambin es llamada velocidad de fase.
Es designada por "c" (en alguna bibliografa tambin como "v") y se expresa en cm/s , m/s
Km/s .
La velocidad snica es una propiedad del material.
Longitud de onda: es la distancia entre dos puntos adyacentes de condicin de oscilacin
equivalente o igual fase, mirando en la direccin de propagacin. La longitud de onda es una
magnitud muy importante, designada por " ", y cuya relacin de aplicabilidad es la siguiente:
.=c*t=
c
f
;f=
c = f (2)
1 Principios acsticos
1.4. SONIDO
Consideraremos el captulo de sonido fuera del amplio campo de las oscilaciones y procesos de
ondas y explicaremos esto algo ms detallado debido a que es de importancia en el mtodo de
ensayo.
El sonido, como se conoce diariamente, se propaga en forma de ondas. En oposicin a las ondas
magnticas, calricas y lumnicas est asociado con la presencia de materia.
En el rango de sonido audible uno puede distinguir:
Tonos: esto es determinado por la frecuencia.
Volumen: depende de la amplitud de oscilacin .
Timbre: es determinado por la ocurrencia de varias frecuencias simultneamente, por las varias
amplitudes de una oscilacin individual , y por la duracin de las diferentes componentes del
sonido.
Respecto a la frecuencia (tonos), ms all de las divisiones que puedan ser hechas, se sabe que
no todas ellas son audibles para el odo humano. Solamente lo es un cierto rango, con un lmite
superior e inferior, el cual puede diferir entre individuos y que puede variar con la edad. El lmite
inferior de audibilidad se halla alrededor de 16 Hz, y el superior alrededor de 20 KHz.
De acuerdo con convenios internacionales , el rango es ahora subdividido como sigue:
Subsnico: f < 16 Hz; esto es el rango de vibracin debajo del lmite de audibilidad. No se
escuchar ningn tono , solo se notar presin.
Sonido audible: 16
f 20 Hz, rango de frecuencias de sonido que son audibles por el odo
humano.
Ultrasonido: f > 20 KHz, estas frecuencias estn por encima del lmite de escucha humana. Las
frecuencias usuales para los ensayos no destructivos son en el rango de 0.5 a 25 MHz. Ver
Fig.11.
1 Principios acsticos
10
Sonido continuo: la duracin del sonido es mucho mas larga que el tiempo de oscilacin ,
Sonido pulsado: aqu la duracin del sonido es solamente unas pocas veces el tiempo de
oscilacin. El intervalo entre dos pulsos es mucho mas largo que la duracin del pulso, ver Fig.
12.
Las ondas longitudinales o transversales puras, slo se formarn si el espesor del material con
respecto a la direccin de propagacin de la onda, es considerablemente mayor que la longitud
de onda .
De otro modo, se formaran en las chapas o lminas, un tipo de ondas combinadas de los dos
anteriores, que son llamadas ondas de chapa o Lamb. Estas ondas se pueden subdividir en
ondas de dilatacin y flexin adicionales, ver Fig. 13.
Fig. 13: Tipos de ondas de Lamb. Arriba: onda de dilatacin. Abajo onda de flexin .
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
1 Principios acsticos
11
Una nueva combinacin de ondas longitudinales y transversales son las ondas superficiales, ver
Fig.14, las cuales pueden existir solamente a lo largo de la superficie, siendo capaces de seguir
una superficie curvada. Como se puede ver en la figura 14, la profundidad de penetracin de una
onda superficial es aproximadamente igual a la mitad de la longitud de onda.
Cl=
E
1-
( 3)
(1
+
)(1 2 )
E
1
( 4)
2(1 + )
Cs = 0.9 t
Donde Cl = velocidad de la onda longitudinal.
Ct = velocidad de la onda transversal.
Cs = velocidad de la onda superficial.
E = Mdulo de elasticidad de Young
= densidad.
= constante de Poisson.
1 Principios acsticos
12
Fig. 15: Incidencia del sonido normal a la interfase entre dos medios.
Las proporciones de energa transmitida y reflejada dependen de la impedancia de los dos
materiales .
La impedancia acstica se puede calcular como:
Z= *c
(6)
Si una onda snica viaja a travs de un material con impedancia acstica Z1, e incide
perpendicularmente en una interfase correspondiente a otro material con impedancia acstica Z2,
se pueden definir las siguientes magnitudes:
1 Principios acsticos
13
Factor de reflexin
Factor de transmisin :
R =
T'
Z 2 Z1
Z2 Z1
2 Z2
Z 2+ Z 1
(7)
(8)
1 Principios acsticos
14
Ii
T=
It
Ii
al coeficiente de reflexin
al coeficiente de transmisin
R + T= 1
Ii= Ir + It
Z 2 + Z1
T=
4 Z1 Z 2
(Z1 + Z2 )2
De aqu se deduce que, desde el punto de vista de las intensidades acsticas, es indiferente el
lado de la superficie lmite sobre el cual incide la onda, ya que los valores de R y T no cambian al
permutarse entre s Z1 y Z2, a diferencia de lo que ocurra con las presiones acsticas.
1.422. Incidencia oblicua en la interfase
Si la onda snica incide sobre la interfase con un ngulo oblicuo, los fenmenos que ocurren son
considerablemente ms complicados que con una incidencia normal. Nuevamente hay una
componente reflejada y otra transmitida, pero el hecho adems origina que parte de la energa
acstica sea convertida en otro tipo de onda, por lo que habr dos ondas reflejada y dos
transmitidas, ver Fig.. 17 .
1 Principios acsticos
15
sen 1
sen 2
C1
C2
sen 1
C1
sen 2
C2
(10)
La relacin es aplicable para todo tipo de ondas, independientemente si uno esta trabajando con
la componente reflejada o refractada. Solo los ngulos correspondientes y las velocidades de
propagacin deben ser introducidos en la frmula .
1 Principios acsticos
16
a) El obstculo es pequeo comparado con la longitud de onda, en este caso, aquel no interfiere
la propagacin de la onda y sta viaja como si el obstculo no estuviera presente.
1.431. Dispersin.
b) Si el tamao del obstculo es del mismo orden de magnitud que el de la longitud de onda, el
proceso de propagacin, como un todo, es dbilmente interferido, aunque, algo de energa de la
onda es absorbida. Esta energa se extender como una nueva onda esfrica en todas
direcciones, con el obstculo como punto central. Este proceso es llamado " dispersin ".
La dispersin est ilustrada grficamente por la ley de reflexin y refraccin en la Fig. 19.
1 Principios acsticos
17
1 Principios acsticos
18
(11)
U: voltajes elctricos.
a: atenuacin de la respuesta de ganancia.
As, la altura de las indicaciones de los ecos en la pantalla del osciloscopio son proporcionales a
los voltajes de los impulsos de los ecos, lo que puede ser escrito como:
H1
H2
U1
U2
(12)
1 Principios acsticos
19
a = 20.Log HH21
Se puede ver que solamente comparando la altura de dos ecos ser posible obtener evidencias
de la atenuacin del sonido. Tal estimacin es posible si hay posibilidades de comparacin .
Con una relacin de altura de dos ecos H1/H2 = 2/1 = 2 encontramos:
a = 20 log 2 = 20 2x 10,3 = 6 dB
Esto significa que una reduccin de 6 dB en la altura del eco, corresponde a un decremento a la
mitad de su altura.
20
21
22
23
24
25
26
Debe tenerse presente adems que no solamente el lado posterior, sino cualquier otro reflector
(defecto) determina ecos mltiples (Fig. 27).
Puesto que se puede medir el tiempo de recorrido y se conoce la velocidad del sonido de la
mayor parte de los materiales, este mtodo permite establecer la distancia existente entre el
oscilador y la superficie refractante, o dicho de otro modo, determinar la posicin del reflector (Fig.
28) . Por esto es que se emplea este procedimiento en la mayora de los casos. Agregase a ello
que no hay ms que una sola superficie de acoplamiento ( que es atravesada en el viaje de ida y
de vuelta) entre el oscilador y la pieza, por lo que resulta mucho ms sencillo mantener constante
el acoplamiento.
Fig. 27: Ecos mltiples causado por el eco de fondo y un defecto (esquema)
27
28
2.3. PALPADORES
2.31 Propiedades
Todos los palpadores utilizados en el ensayo de ultrasonido, no destructivo de materiales, operan
sobre la base del efecto piezoelctrico.
El transductor, muchas veces designado genricamente pero equivocadamente como cuarzorecibe un corto impulso elctrico.
La oscilacin del cristal decae lentamente en su propia frecuencia de resonancia como ocurre en
el caso de una campana taida brevemente (Fig.29). Esta frecuencia propia surge para la
oscilacin fundamental, de la ecuacin :
f0
C
2d
(12)
Fig. 29: Arriba: Vibracin de un cristal dbilmente atenuado y de otro fuertemente atenuado
Abajo: La misma seal sobre la pantalla del TRC despus de rectificada y filtrada.
Ahora bien, como en el procedimiento de impulso-eco, el cristal, eventualmente debe, tras un
intervalo extremadamente corto, funcionar otra vez como receptor, es preciso obtener en el menor
tiempo posible la atenuacin de la oscilaciones inductivas. Pero esta atenuacin no deber ser
demasiado fuerte tal que reduzca pronunciadamente la sensibilidad del palpado.
Desafortunadamente el requisito de alta sensibilidad de respuesta y, al mismo tiempo, pulsos
estrechos dando alta resolucin se oponen mutuamente.
El trmino resolucin designa la capacidad de respuesta del palpador, para dar indicaciones
separadas de dos discontinuidades muy prximos entre s, en forma claramente separados en la
pantalla del osciloscopio. Adems esto se distingue entre resolucin prxima y resolucin lejana.
Estas expresiones se
refieren a la distancia desde el transmisor de pulsos (oscilador) y pueden ser diferentes.
29
30
(13)
El significado de los smbolos en la frmula son: I0: longitud del campo cercano; D: dimetro del
cristal (dimetro efectivo, normalmente un pequeo porcentaje menos que el real); : longitud de
onda; f: frecuencia; c: velocidad del sonido.
Como la longitud del campo cercano puede ser determinado experimentalmente, las restantes
magnitudes son derivadas de esto. De esta forma, el dimetro efectivo del cristal se calcula como:
D=
l0
(14)
La presin snica en el campo cercano, y por consiguiente ,la altura del eco causado por un
defecto en esta zona, depende mucho de la ubicacin del mismo dentro del haz. Las razones de
este fenmeno son las interferencias en el campo cercano. La estimacin del tamao del defecto
es prcticamente imposible si ste se encuentra en esa zona (Fig. 31).
Fig. 31.
31
En el campo lejano el haz ultrasnico se abre cnicamente. En todo momento, la presin snica
mxima se encuentra en el eje del sistema sobre el eje del transductor, y decrece
proporcionalmente con la distancia desde el cristal. (Fig.30).
Desvindose desde el eje hacia los laterales, hay tambin una disminucin de la presin snica.
Esta se considera como 100% sobre el eje de simetra, disminuyendo a medida que nos
desviamos hacia los lados. Si marcramos todos los puntos, en cualquier direccin y a cualquier
distancia del cristal, en los cuales la presin snica alcance el 10 % del valor en el eje, se
obtendra el rea superficial de un cono. El ngulo de apertura de este cono se llama "ngulo de
divergencia del haz".
El clculo del mismo puede hacerse como sigue:
sen
sen
= 1, 08
10
10
= 0 , 54
(15)
(16)
0
Estas frmulas son vlidas para transductores circulares. Para aquellos que sean rectangulares
las relaciones son algo ms complicadas: en estos la longitud del campo cercano se calcula como
sigue:
l
1 * a
=
+b
) 1 2ab
(17)
32
33
a
a
;t =
t
c
(18)
2s + 4d ;
cs
cd
2s + 6d
cs
cd
34
de plstico y de la pieza, sino levemente mas largas que estas debido a los ngulos algo oblicuos
del camino snico. Estas diferencias deben ser consideradas para la medicin exacta, por
ejemplo la medicin de espesores de pared.
Fig. 36: Propagacin ultrasnica de un palpador de doble cristal con ngulo grande y uno
pequeo
35
Fig. 37: Influencia de los ngulos sobre la sensibilidad en palpadores de doble cristal (esquema)
Los palpadores de doble cristal tienen, debido a su estructura general y a la presencia de los
trayectos de retardo, tericamente una ms baja sensibilidad que los palpadores normales, pero
una resolucin a corta distancia incomparablemente mejor debido a que no aparece el eco de
emisin sobre la pantalla, en un equipo ajustado correctamente.
De esta forma , es posible detectar posibles defectos a pocos milmetros por debajo de la
superficie. Otro campo de aplicacin de estos palpadores es la medicin de espesores.
Se debe sealar que defectos con direccionalidad preferencial, por ejemplo finas lneas de
inclusiones en productos laminados semi-terminados, mostrarn diferentes grados de reflexin
dependiendo de la posicin de la barrera acstica con respecto a la direccin del defecto .
Comnmente, los mejores resultados se obtienen cuando ambas direcciones son paralelas.
2.3313. Palpadores normales de ondas transversales (corte - Y)
La construccin de estos palpadores es igual a la de los palpadores normales de ondas
longitudinales. Solamente, el transductor en s mismo, tiene una orientacin cristalogrfica
diferente y, por ello, genera vibraciones cortantes (ondas cortantes) (Fig. 24).El procedimiento de
transmisin de ondas de corte desde el transductor al interior de la pieza es un problema difcil
debido a que el lquido acoplante no se puede
usar porque stos son incapaces de transmitir ondas de corte (ver captulo 1.41). El acople
puede llevarse a cabo utilizando acoplantes rgidos (por ejemplo componentes de resinas epoxi),
por presin firme del palpador sobre la superficie usando una goma protectora o lamina plstica
debajo del cristal, o por acople del transductor sobre la pieza con el agregado de cera de abejas.
Por estas razones, los palpadores con cristales con corte Y son casi exclusivamente usados en
laboratorios de ensayos, por ejemplo para la determinacin de constantes elsticas de los
materiales.
2.332. Incidencia oblicua del ultrasonido.
Ya se explic en el captulo 1.422, que una onda que incide oblicuamente es capaz de generar
cuatro nuevas ondas con diferentes direcciones y velocidades las cuales pueden ser calculadas
con la ley de refraccin (IX).
2.3321. Palpador angular
El palpador angular consiste esencialmente de un cristal cementado a una cua de plexigls. De
esta forma se consigue una incidencia oblicua sobre la superficie de la pieza.
Los haces reflejados vuelven a la cua plstica y, o son absorbidos por un atenuador
convirtindose en calor, o se evita el retorno al transductor con una adecuada forma de la cua
para evitar causar indicaciones de ecos perturbadores. Dentro de la pieza se propagarn la onda
longitudinal refractada y, adicionalmente, la nueva onda transversal generada. De acuerdo con la
ley de refraccin (IX) estos dos tipos de ondas tendrn tambin, debido a sus diferentes
velocidades, diferentes direcciones.
36
Fig. 39: direccin de propagacin de onda como funcin del ngulo de incidencia.
Los palpadores angulares comerciales utilizan slo el rango donde existe onda transversal
,exclusivamente, en el medio de ensayo, el cual es normalmente acero. La onda ultrasnica real
es emitida hacia el medio en la forma de un haz de rayos donde, la lnea geomtrica que se ha
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
37
considerado hasta ahora, corresponde al eje de este haz. Las mismas relaciones que fueron
consideradas con palpadores normales como campo cercano, campo lejano y ngulo de
divergencia , son vlidas para los palpadores angulares. El eje del haz donde existe la mxima
presin snica se marca en el lateral de los palpadores angulares como "punto de emisin" y sirve
como punto de referencia para clculos y medidas.
Adems de los datos relativos a ngulo y punto de emisin y su lnea de unin, respectivamente,
la llamada "lnea de emisin", los palpadores angulares indican adicionalmente con una cifra, que
siempre es la misma para un ngulo particular y representa el valor 2 * tg l. Esto es necesario
en clculos que sern descriptos ms adelante.
Cuando se usen palpadores angulares, debern tenerse en cuenta los siguientes hechos
fundamentales:
El ngulo marcado y de all tambin el factor 2 * tg l son slo vlidos para materiales con una
velocidad snica de las ondas transversales de 3.230 m/s. Estos valores no pueden ser usados
para materiales con velocidades de ondas de corte diferentes pero pueden ser calculadas por
medio de la ley de refraccin.
b)La indicacin en la pantalla del TRC es segura slo cuando el ngulo t es mayor que 33,2,
debido a que la onda longitudinal ser eliminada solamente con ngulos mayores que este.
Tambin esto es slo vlido para acero, por lo que para otros materiales con diferentes
relaciones entre las velocidades de la onda longitudinal y la transversal se debern chequear por
medio de la ley de refraccin. En la prctica son comnmente usados los ngulos de 35 , 45 ,
60 , 70 , 80 y 90 (palpador de onda superficial). ngulos menores a 35 son ,debido a la
ambigedad de las indicaciones, slo usados en la solucin de problemas especiales.
La indicacin en la pantalla del TRC ser bien definida solamente en presencia de un solo tipo de
onda la cual es siempre, de acuerdo con la ley de refraccin, la mas lenta (onda transversal). Es
imposible el caso inverso (onda longitudinal ms lenta que la transversal).
d) Los palpadores angulares emiten ondas longitudinales. Las ondas transversales, son
consecuencia de la refraccin que se produce en la superficie lmite entre la cua de plexigls del
palpador y la pieza de trabajo.
De la misma forma que los palpadores normales, los angulares tienen una carcaza puesta a tierra
y una bobina de adaptacin, en cambio, muchas veces, no poseen un cuerpo de amortiguacin
debido a que la cua de plexigls, cementada al cristal, tiene una atenuacin suficientemente alta.
El cuerpo amortiguador ilustrado en la Fig. 38 sirve para atenuar las partes de ondas reflejadas en
la superficie lmite.
Un parmetro importante para la aplicacin de palpadores angulares es el llamado "distancia de
paso" o simplemente "paso1".
Cuando un palpador angular se acopla a una chapa de espesor "d", la onda ultrasnica ser
reflejada totalmente en la superficie inferior de la chapa y regresar a la superficie superior a una
cierta distancia. A la distancia entre el punto de emisin de haz en el palpador y el punto recin
descrito se lo llama paso. Esto se muestra en la Fig. 40a y se puede calcular por medio de la
frmula :
ps = 2 * tg t * d
(19)
38
(20)
Donde "s" es la distancia (en la direccin del haz) entre la superficie y el reflector p la distancia
proyectada sobre la horizontal desde el punto de emisin del palpador al defecto.
t0 = s . cos t
t1 = 2 . d s . cos t
Estas relaciones son muy importantes para la localizacin de defectos en una pieza. Algunas
veces es ms fcil, para el operador, medir la distancia desde el frente del palpador en lugar de
hacerlo desde el punto de salida del haz. En esos casos uno esta hablando de la "distancia
proyectada acortada".
Las relaciones que se han dado ms arriba solamente son vlidas cuando el ensayo se realiza
sobre superficies planas. Si el ensayo se debiera realizar sobre un objeto curvo, el paso
depender, adicionalmente, del radio de curvatura(R) (Fig. 42).
La frmula para su clculo es la siguiente:
39
(1
(21)
Fig. 42. Distancia de en una superficie curva con reflexin causada por la superficie interna.
Superficie plana para comparacin.
Fig. 43. Factor de correccin k como una funcin de la relacin del espesor de pared d al
dimetro D al radio de curvatura R
El paso puede ser ms fcilmente determinado cuando no hay reflexin en la superficie interna o
cuando el material es slido (Fig. 44).
40
Fig. 44: Distancia de paso sobre un objeto curvo sin reflexin interna.
Las siguientes frmulas son vlidas para estos casos:
= 2 (90 t )(23 )
p = r
90 t
(24 )
90
(25)
(26)
41
referencia. Un defecto radial ser indicado dos veces, como se puede ver en la figura 46. Esta
indicacin desaparecer cuando se halle diametralmente opuesto al palpador. Un defecto
aparecer solamente una vez , ya sea a la derecha o a la izquierda del eco de referencia, segn
el palpador que lo indique. Hoy en da, este principio de transmisin de dos haces opuestos en
una barra o tubo, es aplicado casi exclusivamente en plantas de ensayos automatizados.
1)
2)
3)
4)
Eco de emisin
Eco del defecto indicado por el palpador A
Eco de referencia.
Eco del defecto indicado por el palpador B
42
Fig. 47: Palpadores con ngulos variables (Palpadores de ondas Lamb). Esquema.
La capacidad de indicacin de los palpadores de ondas de Lamb radica en que estas ondas son
reflejadas sobre s mismas cuando ya no son dadas las condiciones de excitacin, por ejemplo,
cuando el espesor de la chapa vara por defectos de laminacin (exfoliaciones). Esto es tambin
la razn para la alta sensibilidad de los ensayos con estas ondas.
De otra manera la sensibilidad de las indicaciones tambin dependen del tipo y orientacin del
defecto con respecto al tipo de onda Lamb ; as, por ejemplo, las laminaciones son generalmente
indicadas mucho mejor por una onda de flexin que por una de dilatacin, cuando aquellas estn
situada en la fibra neutra de la pieza la que no est en movimiento en el caso de la onda de
dilatacin.
El principal rango de aplicacin de los palpadores de ondas Lamb est en la deteccin de
laminaciones e inhomogeneidades en hojas y placas metlicas que no permitan un ensayo con
palpadores normales o de doble cristal debido a sus pequeos espesores, o cuando es necesaria
una inspeccin completa en el total del volumen. Comnmente se ensayan espesores de pared
hasta 6 mm con estos tipos de ondas. El lmite superior para el su uso esta entre 12 a 16 mm de
espesores de pared y depende adems de las propiedades del material y de la frecuencia usada.
Las ondas Lamb frecuentemente muestran una forma caracterstica como la indicada en la Fig.
48, lo que facilita su reconocimiento.
43
Se puede verificar muy fcilmente si una indicacin ha sido causada por una onda superficial :
tocando la
superficie de la pieza con un dedo aceitado entre el palpador y la localizacin del defecto har
que la amplitud del eco disminuya (debido a la atenuacin), no as si la responsable de la
indicacin es otro tipo de onda (algunas ondas Lamb tambin pueden mostrar este
comportamiento).
44
Fig. 50:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con una
reduccin en la ganancia de 6 dB
2.413. Supresin
2.4131. Supresin no lineal
La supresin no lineal permite tambin una variacin de la amplitud de los ecos pero, en este
caso, la diferencia de amplitud ( y no la relacin de amplitud) permanece constante.
Accionando el regulador de supresin en sentido horario, reducir la altura de todos los ecos en la
misma cantidad expresada en porcentaje de la altura de la pantalla. La verdadera relacin de
alturas entre los ecos no se mostrar ms, pero muchos de los pequeos, indeseados, no
importantes y algunas indicaciones que confunden sern suprimidas facilitando la interpretacin,
particularmente en ensayos manuales.
Siempre que sea requerida una clasificacin de defectos por medio de una descripcin de la
amplitud de los ecos se deber, incondicionalmente, eliminarse la supresin no lineal o se llegar
a una interpretacin equivocada. Como muestra la Fig. 51, un eco justamente pasando el umbral
inicial causa una pequea deflexin, concordando con el eco de emisin en la lnea horizontal.
45
Fig.52:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con una
supresin lineal de aproximadamente 20% de la ATP.
El mtodo de supresin lineal se usa comnmente en plantas con ensayos automatizados y en
equipos de laboratorio. Los ecos con amplitudes que excedan al umbral se mantendrn sin
modificacin, mientras que aquellos que estn por debajo del mismo, no aparecern en la
pantalla. Como se ve, un eco que apenas alcance el umbral ser mostrado en toda su amplitud
original, este modo de supresin no es lo mejor en los ensayos manuales porque muestra al
operador, que observa la pantalla ,efectos ms confusos que la que muestra la supresin no
lineal. Sin embargo, la relacin real puede ser mostrada, solamente, por el supresor lineal.
2.414 Forma de los ecos
La envolvente de los ecos puede ser influenciada por la cantidad de filtrado. Este efecto se
muestra en la Fig. 53.
Fig.53: Ecos mltiples. Influencia de un filtrado dbil (izq.). y uno fuerte (der.).
46
Normalmente se desea lograr una alta resolucin, por ejemplo, conseguir pulsos tan angostos
como sea posible.. Sin embargo, cuando se opera con grandes longitudes de medida (por
ejemplo en el rango de metros)las indicaciones en la pantalla del TRC se hace difcil de evaluar
dado que los ecos se vuelven demasiados finos. En tales casos se sacrifica una buena resolucin
en favor de un mejor reconocimiento por medio de un fuerte filtrado. As los ecos se vuelven ms
anchos , brillantes y suaves. Muchas veces la cantidad de filtrado es conectada junto con la
longitud de medida (rango).
2.415. Regulador de la longitud de medida. Rango
El comando para la regulacin de la longitud de medicin permite variar la escala de
presentacin, y as desplegar en el rea total de la pantalla, el rango de inters . La calibracin se
lleva a cabo teniendo en cuenta las siguientes condiciones:
a) Mtodo de pulso - eco , esto es el recorrido de ida y vuelta de la onda ultrasnica a travs del
material.
b) La calibracin es vlida solamente para una velocidad de onda definida, normalmente la
velocidad de la onda longitudinal en acero, esto es 5.920 m/s (ver DIN 54120).
c) La visualizacin a travs del total de la pantalla, esto es entre la lnea izquierda y derecha del
reticulado.
2.416. Regulador del punto cero y desplazamiento
El comando de regulador del cero permite un corrimiento hacia la izquierda de lo que se muestra
en el total de la pantalla sin cambiar la escala (rango). De esta forma, partes del camino snico
que no interese (por ejemplo el recorrido en el agua entre el palpador y la superficie de la pieza en
un ensayo por la tcnica de inmersin, que se refiere en la seccin 3.5) puede ser corrida hacia la
izquierda, fuera de la pantalla, y la parte de inters ser mostrada en el total de la pantalla,
logrando as un efecto de "lupa de profundidad" (Fig. 54).
1) Eco de emisin
2) Eco de la superficie de entrada
3) Eco del defecto
4) Primer eco de fondo
5) a 7) Segundo a cuarto eco de fondo
Fig. 54:Tcnica por inmersin de una pieza. Izq.:indicaciones incluyendo el paso en el agua y
ecos de fondo. Der.: desarrollo del rango de inters en la pantalla.
2.417. Regulador de la velocidad del sonido
47
Este regulador no cambia, por supuesto, la velocidad del sonido en el material, por ser esta una
constante natural, pero permite al personal de ensayo adecuar el espesor de la pieza ledo en el
regulador de la longitud de medicin o rango, al espesor efectivo del material de diferente
velocidad de sonido. Para una recalibracin, se ajusta previamente el regulador de la longitud de
medicin o regulador de rango al espesor de la pieza y con ayuda de los reguladores de
desplazamiento y de velocidad de sonido, se ensancha la distancia entre dos ecos de fondo (el
primero y el segundo , por ejemplo) sobre la pantalla del osciloscopio. Esto no es difcil de realizar
ya que el regulador de velocidad de sonido tiene los mismos efectos que el de rango.
2.418. Lupa de profundidad
La lupa de profundidad, comnmente encontrada en los viejos equipos, permite ensanchar lo que
se observa en pantalla para clarificar los detalles (incrementa la precisin de lectura).
comnmente se ensancha dos a cinco veces el valor de la indicacin original. Los mismos efectos
pueden alcanzarse con el regulador de rango y el de cero, como se muestra en las secciones
2.415 y 2.416.
2.419. Control Distancia - Amplitud
En los ensayos ultrasnicos, la amplitud de un eco de una discontinuidad de cierto tamao,
decrece cuando el espesor se incrementa, la compensacin para esta "atenuacin" consiste en
un control electrnico que se agrega a muchas unidades ultrasnicas.
Algunos de los nombres ms comunes de este control son: Correccin de amplitud en distancia
(DAC), Ganancia variable (TCG) o Sensibilidad variable (STC).
Este control es muy utilizado cuando se lo complementa con un detector de alarma de fallas o con
un sistema de registro.
a)
b)
c)
d)
Fig. 55:Correccin DAC : a) probeta con reflectores artificiales de igual tamao. b) altura de los
ecos producidas por los reflectores c) curva DAC y activado el control DAC; d) dem c) pero sin la
curva DAC.
2.42. Monitores
Un monitor es un aditamento auxiliar destinado a automatizar parcial o totalmente un ensayo.
Asimismo constituye un auxiliar valioso en los ensayos manuales en serie, eliminando la
necesidad de que el operador observe constantemente la pantalla. As el operador podr atender
al correcto posicionamiento y acople del palpador. El rango de operacin del monitor est
pticamente indicado en la pantalla por una pequea deflexin hacia arriba o hacia abajo de la
lnea horizontal (Fig. 56). La posicin y el ancho de este, tambin llamado "diafragma", puede ser
ajustado por medio del regulador correspondiente.
48
49
50
51
Las siguientes imgenes son una representacin tipo C realizada por inmersin de una moneda
(de su superficie)
Moneda
Imgen ultrasnica
52
Bloque ASTM
El bloque es cilndrico
E: dimetro del orificio de fondo plano
B: Distancia entre la superficie de apoyo del palpador y el orificio de fondo plano.
G: altura total del bloque
La mayora de los bloques tienen las siguientes caractersticas comunes:
1.- estn fabricados con material cuidadosamente seleccionado.
2.- El material debe tener una atenuacin, tamao de grano y tratamiento trmico apropiado y
libre de fallas.
3.- Todas sus dimensiones deben ser mecanizadas en forma precisa.
4.- Todos los orificios deben ser de fondo plano y tener el dimetro especificado para ser un
reflector ideal.
5.- Los dimetros y largos de los orificios laterales deben ser cuidadosamente controlados.
Normalmente son utilizados tres juegos de bloques de referencia:
1.- Bloques de referencia de rea y amplitud.
2.- Bloques de referencia de amplitud y distancia.
3.- Juego bsico ASTM de rea-distancia y amplitud.
Los juegos de rea - amplitud proveen patrones de diferentes reas en la discontinuidad (orificio
E), a la misma profundidad (B).
Los bloques de distancia - amplitud1proveen patrones con discontinuidades del mismo tamao
(E) a distintas profundidades (B).
El juego bsico de patrones ASTM consiste en 10 bloques de 50 mm de dimetro.
G - B = 19 mm
Distancia B
mm
1/8
3,15
6,50
12,7
Dimetro E
Mm
5/64 2
5/64 2
5/64 2
11/2
3
3
3
6
6
53
19
38
76
76
76
152
152
5/64
5/64
3/64
5/64
8/64
5/64
8/64
2
2
1,2
2
3,15
2
3,15
54
3.1. ACOPLAMIENTO
En el ensayo prctico es preciso asegurar el fcil pasaje de las ondas ultrasnicas desde el
palpador a la pieza de ensayo y viceversa, para obtener resultados seguros y reproducibles. Por
esto, se debe remover todo el aire entre ellos lo que se realiza con el mojado de la superficie de
la pieza por medio de un lquido o una pasta. El acoplante ptimo ser aquel que, con un espesor
de /4, tenga una impedancia acstica igual a la media geomtrica de las impedancias en los dos
medios adyacentes; esto se puede calcular como:
(Z
1*
)
(27)
Donde:
Zc: impedancia acstica del acoplante.
Z1: impedancia acstica del medio 1 .
Z2: impedancia acstica del medio 2 .
La sustancia natural que ms se aproxima a este acoplante ideal es la glicerina para muchos
ensayos; pero la prctica ha demostrado que el agua o muchos aceites tienen casi la misma
eficiencia. As tambin se ha encontrado que el engrudo para papel de pared con antixido puede
servir como un buen acoplante, particularmente cuando el ensayo se hace sobre cabeza y en
casos donde el aceite no es permitido.
Existen en el mercado diversos acoplantes pero, en la mayora de los casos no aportan ninguna
ventaja esencial. Comnmente se usa aceite de mquinas en los ensayos manuales y agua (con
algn inhibidor de corrosin) como acoplante en aquellos automatizados.
55
acoplamiento, para esto se puede usar una capa protectora de neopreno resistente al aceite
(llamada suela), colocada en el frente del palpador con algunas gotas de acoplarte entre ste y el
neopreno. Esta capa llenar las desigualdades de la superficie facilitando la transferencia del
sonido y protegiendo, a su vez, a la cara del palpador contra el desgaste o daos. Una parte de la
energa ultrasnica ser absorbida por la suela, pero el beneficio por el mejoramiento del acople ,
en muchos casos, es mayor que las perdidas en el material de la suela.
3.22. Curvatura
Cuando se inspecciona por ultrasonido una pieza con superficies curvas, comnmente se produce
un ensanchamiento (divergencia) del haz. Este fenmeno es causado por refraccin (Fig. 60).
sin
lk
sin
lw
lk
lw
Fig. 60: Divergencia adicional del haz causada por refraccin entre el acoplante y la superficie de
la pieza.
Adems de esto, el rea donde el palpador contacta a la pieza para la transferencia del sonido es
menor, por lo que de esta forma, slo se utiliza una parte de la superficie del cristal. Estos dos
factores son la razn por la cual se reduce la sensibilidad del ensayo, comparado con el caso de
una superficie plana.
Es frecuente el uso de bloques adaptadores para obtener un rea de contacto total entre el
palpador y la superficie de la pieza. Tambin, las ya mencionadas capas de neopreno pueden ser
de utilidad. Es preciso puntualizar que con esto slo se consigue aumentar el rea de contacto sin
lograr evitar la divergencia.
La magnitud de la divergencia depende de las velocidades del sonido en el acoplante y la pieza.
Este hecho se puede utilizar para la eleccin del material del bloque adaptador ms conveniente.
Como se ilustra en la Fig. 61, la doble refraccin no tiene influencia en la propagacin ultrasnica.
56
Fig. 61: Refraccin con y sin acoplante. El ngulo de refraccin permanece constante; el haz
ultrasnico es levemente desviado.
Por medio de la eleccin de materiales adecuados es posible, tericamente, lograr una
focalizacin (Fig. 62); debera considerarse que las perdidas por reflexin debido a las grandes
diferencias de las impedancias snicas del adaptador y el acoplante generalmente son mayores
que la ganancia obtenida por la focalizacin.
57
Ia > Iw
Ca
Cb
(28)
Donde:
Ia: longitud del bloque adaptador.
Iw: longitud del camino snico en la pieza.
Ca: velocidad del sonido en el bloque adaptador.
Cw: velocidad del sonido en la pieza.
3.23. Recubrimiento
Se debe prestar especial atencin a las superficies con recubrimientos . La regla general es que
un recubrimiento firmemente adherido ( por ejemplo capas de pinturas, cascarillas firmemente
adherentes o capas de herrumbre) causarn un efecto perturbador pequeo; pero es aconsejable
la limpieza de la superficie por medio de cepillo de acero, lima, raspador o amolado cuando se
encuentren depsitos exfoliados, esto es, cuando exista aire en los pequeos vacos entre el
depsito y la pieza. Estos espacios impiden en muchos casos la transferencia del ultrasonido.
Superficies hmedas o grasosas en general no representan un inconveniente, la mayora de las
veces hasta ofrecen una ventaja a causa de que sus propiedades mejoran el acoplamiento.
58
59
Los lmites de las frecuencias superiores, sin embargo, estn dadas por la estructura cristalina y/o
la absorcin del material. En el primer caso, cada grano cristalino da una reflexin y dispersin,
produciendo un considerable "csped o pasto ) o indicaciones de "ruidos de la estructura" en la
pantalla del TRC. En este caso, un eco de fondo se superpondr ms o menos al ruido y no ser
detectable. Esta es la razn por la cual es imposible detectar defectos menores o iguales a la
estructura del material. Un ejemplo de esto se da en la Fig. 65, donde el eco de fondo no puede
visualizarse dentro de las indicaciones de la estructura.
El caso de una absorcin extremadamente alta es frecuente encontrarla cuando se ensayan
materiales como resinas o plsticos. La absorcin aumenta rpidamente con la frecuencia
llegndose as al lmite superior de la misma.
Por lo expuesto, se pueden generalizar, para la eleccin de la frecuencia de ensayo, la siguiente
regla: La frecuencia deber ser lo mas alta posible para una buena resolucin y deteccin de
defectos pequeos. El limite superior de ella esta dado por la respuesta de absorcin de la
estructura granular y ser superado cuando un eco de fondo de la pieza no pueda ser
individualizado. En caso de incertidumbre, ensayos preliminares breves con diferentes
frecuencias, podrn clarificar la situacin.
Fig.65: Indicaciones de pantalla de una barra de Zn moldeada (Izq.) y una de acero forjado (Der.)
del mismo espesor. Frecuencia:6MHz
Usualmente, materiales forjados o prensados se examinan con frecuencias entre 2 y 6 MHz;
piezas fundidas que por lo general tienen estructuras ms gruesas necesitan frecuencias entre
0.5 y 2 MHz. Cermicos (por ejemplo aisladores elctricos, etc.) presentan tambin una buena
conductividad sonora y pueden ser ensayados en la mayora de los casos con 2 4 MHz.
Materiales sintticos, dependiendo de su absorcin y espesores, sern ensayados con
frecuencias desde 1 a 4 MHz. Las frecuencias de ensayo para concreto y materiales similares
estn entre 50 y 200 KHz, necesitndose en estos casos equipos especiales.
60
= D + 2 (l l0 ) tg10
para l > l0
(29)
Donde:
D: dimetro del cristal.
l0: longitud del campo cercano.
10: ngulo de divergencia (ver XV y XVI).
Cuando no se requiere la determinacin del tamao del defecto equivalente, la examinacin
puede llevarse a cabo tanto en el campo cercano como en el campo lejano. La mxima
sensibilidad posible se encuentra en la vecindad de la longitud del campo cercano; a
profundidades mas pequeas que esta longitud, la localizacin de un defecto en la direccin
lateral est agravada debido al hecho de que all puede haber presin acstica (esto es
sensibilidad) mnima en el eje del haz , y alta sensibilidad en la zona marginal del haz , causado
por las interferencias en el rea del campo cercano. El dimetro del haz ultrasnico en el campo
cercano es aproximadamente igual al dimetro del cristal:
=D
para l l
(30)
Por lo arriba mencionado, es suficiente colocar el dimetro verdadero en lugar del efectivo, el cual
es un porcentaje ms pequeo que el real y debe ser provisto por el fabricante.
En la Fig. 67 se dan algunos ejemplos de las geometras de haces ultrasnicos.
61
62
c
Fig. 68
1:Eco de emisin.
2:Primer eco de la superficie superior.
3:Eco del defecto.
4:Eco de fondo (pared posterior)
5 a 8: segundo a quinto eco de la superficie superior.
a): Recorrido en el fluido demasiado corto; aparecen ecos mltiples (5) de la superficie dentro del
rango de ensayo (de 2 a 4).
c): Correcto dimensionamiento de la lnea de retardo.
El lmite lquido-componente producir, por este mtodo, un eco de superficie el cual, con un
correcto ajuste del rango de profundidad, marcar el cero en la pantalla del TRC en lugar del eco
de emisin (en muchos casos no interesa la supervisin de camino en el fluido, as que,
contrariamente a lo que muestra la Fig. 68 (c) la distancia entre los ecos N 2 al N 4 ser la que
se desarrollar a lo largo del total de la pantalla).
La ventaja de este mtodo es el constante y uniforme acoplamiento.
Adems, el eco de la superficie (entrada a la pieza de ensayo) es ms angosto que el eco de
emisin, permitiendo as una mejor resolucin a pequeas profundidades en la pieza.
Como en este caso, a diferencia de la tcnica de contacto directo, no hay reflexin total ( el medio
lquido es considerablemente mejor conductor ultrasnico que el aire), y como una parte del
sonido es reflejada y se propaga en el medio lquido, debe prestarse atencin a las indicaciones
provenientes de la zona del lquido pues pueden interpretarse como defectos inexistentes. Si en la
tcnica de inmersin se usan reflexiones en zig-zag, el rango de la onda ultrasnica ser ms
corto que en la tcnica de contacto directo (Fig. 69 a) debido a la conversin de onda y radiacin
de energa (ley de refraccin) en cada paso (Fig. 69 b). Por ejemplo, cuando en un ensayo de un
tubo (Fig. 46), este se sumerge en un lquido, el eco de referencia de la circunferencia obviamente
disminuir o desaparecer.
63
Tampoco puede ser eliminada por la tcnica de inmersin la influencia de la dispersin provocada
por la rugosidad de la superficie , como falsamente se asume en muchos casos. As, la tcnica de
inmersin tiene como principal ventaja un acoplamiento constante con la superficie de la pieza de
trabajo. Otra ventaja es que dado que el palpador no est en contacto directo con la pieza, se
pueden usar cristales ms finos de alta frecuencia.
Se debe prestar atencin a que la longitud del trayecto snico en el fluido sea lo suficientemente
grande para evitar que los ecos mltiples no caigan dentro del rango de ensayo.
En principio, las mismas reglas dadas para el retardo en los bloques (ver seccin 3.22, formula 28
) son vlidas aqu y muy importantes; as como se colocaba la longitud y la velocidad snica en el
bloque de retardo se debe colocar ahora los valores del trayecto previo en el fluido.
Es frecuente el uso de palpadores focalizados en esta tcnica, los que ofrecen una alta
sensibilidad de ensayo concentrada sobre un lugar relativamente pequeo. El modo de actuar de
los focalizadores ("lentes", Fig. 70 a y b) se deduce tambin de las leyes de refraccin (ver
seccin 3.22 y frmula 9).
Fig. 70 Izq.: palpador con focalizacin (lente) en agua. Der.: Acortamiento de la longitud focal
cuando el foco cae dentro de la pieza.
La eleccin para el uso de una lente cncava o convexa, depende de las velocidades del sonido
en el material de las mismas y en el fluido. La longitud focal de tales lentes ultrasnicas se puede
calcular as:
f =
r
1
C
C
(31)
2
1
Donde:
f : longitud focal.
r : radio de curvatura de la lente.
c 1: velocidad del sonido en la lente.
c 2: velocidad del sonido en el lquido.
64
Las velocidades del sonido c1y c2 debern tener la mayor diferencia posible para obtener un alto
ndice de refraccin, y sus impedancias acsticas lo ms semejantes posibles para conseguir las
mnimas prdidas por reflexin. Buenos resultados que concilian estos dos trminos las ofrece el
plexigls.
Si lo que se busca es focalizar en un punto, la curvatura de la lente deber ser esfrica Fig. 71 a);
si la focalizacin se busca en una lnea , la lente ser cilndrica Fig. 71 b).
a
b
Fig. 71 Lentes acsticas. a) Focalizado en un punto; b) focalizado en una lnea
Se debe considerar tambin que si la focalizacin se realiza dentro de la pieza y no en su
superficie, habr una refraccin adicional en la superficie lmite lquido / pieza. Este hecho causa
un acortamiento (en el plano de la superficie) de la longitud focal, el cual es aproximadamente
proporcional a la relacin de velocidades (Fig. 70 b ).
Ejemplo:
Supongamos que queremos determinar cul ser el camino ms adecuado en el agua (distancia
palpador-pieza) si se usa un palpador focalizado con una longitud focal en agua de 100 mm y el
foco se desea colocar a 5 mm por debajo de la superficie de la pieza ( de acero).Para el clculo
se deber:
cm / s
1,5 10 cm / s
5
=4
65
Significa que una unidad de medida en acero ser igual a cuatro en agua.
66
v
sen H 2O = sen SS H 2O
v SS
67
x = R sen
x = compensacin
R=
OD
2
Sin embargo con una derivacin de las ecuaciones se obtiene una regla simple aproximada de la
compensacin deseada =
OD
6
sistema a ensayar.
v
X = R sen SS H2O
vSS
1.48km/s
X = R sen45
3.1km/s
X = R(0.338 )
X =
OD
(0 .338 )
2
X =
OD 1
2 3
X =
OD
6
Esta regla aproximada para calcular la compensacin del transductor para materiales de
velocidades similares.
68
Por ejemplo para encontrar la compensacin que producir una onda de corte de 45 grados
circunferencial aproximada en una tubera de acero inoxidable de 6.4 mm de dimetro, calculando
6.4/6=1.05 mm de compensacin.
La siguiente Fig. muestra el problema planteado
a=tc
(32)
De all que la pantalla del TRC puede ser calibrada directamente en longitud cuando la velocidad
del sonido es conocida. Despus de un ajuste correcto, se leer directamente en las divisiones de
la pantalla la longitud al reflector en mm.
Como referencia para esta lectura se toma el punto (en abscisas) sobre el cual el eco comienza a
crecer (Fig. 72).
69
Fig.72:El punto en donde el eco se levanta (punto izquierdo en la base del mismo),
es la referencia para su localizacin. Los cuatro ecos visibles (excepto
el eco de emisin) estn localizados en las divisiones: 1,5 ; 4,5 ; 6,0 y 9,0.
70
Fig.74: Sea la longitud de medicin , por ejemplo 145mm; luego el eco de fondo se lee en 145mm
y el eco del defecto en 59,8% de 145mm = 86,7mm
Cuando se usan palpadores angulares es sencillo, en algunos casos, determinar la localizacin
de un defecto por la componente horizontal ( distancia proyectada) del haz ultrasnico oblicuo, o
por la componente vertical (profundidad) en lugar de hacerlo a travs de la longitud del camino
snico.
En la prctica, se usan las misma reglas para la localizacin de defectos que las ya mencionada
antes, junto con las correspondientes funciones trigonomtricas (factor proporcional para ngulo
constante).
Muchas veces, cuando se usan palpadores normales o angulares, el fuerte impulso del eco de
emisin (su ancho) afecta la resolucin y sensibilidad sobre distancias pequeas, cercanas a la
superficie (zona muerta), dificultando la deteccin de defectos que estn muy cerca de la
superficie.
Se podra pensar que sera ms ventajoso visualizar en pantalla, por ejemplo, el rango entre el
primer y segundo eco de fondo en lugar de la distancia entre el eco de emisin y el primer eco de
fondo, ya que, como se dijo en la seccin 2.22, se repite la presentacin, y adems al ser el
primer eco de fondo mucho ms estrecho que el de emisin, se esperara una mejor
detectabilidad y resolucin a cortas distancias de la superficie. Este mtodo no se recomienda y
no debe ser aplicado ya que existe el peligro de que aparezcan indicaciones falsas (ver 4.2).
Siempre se usar el rango entre el eco de emisin y el primer eco de fondo; los defectos cercanos
a la superficie sern tratados de hallar por medio de palpadores con doble cristal (T/R o S/E), o
desde el lado posterior, o por alguna otra tcnica.
3.6112. Altura del eco
Generalmente se puede decir que no es posible determinar el tamao exacto de un defecto por
medio de la altura de un eco.
Se puede observar en las algo simplificadas ilustraciones de la Fig. 75 que la altura de los ecos
tambin depende de la orientacin de la superficie reflectora del defecto, del grado de rugosidad
(en comparacin con la longitud de onda), de la forma (esfrica, cilndrica, plana, etc.), y , por
supuesto, del material del defecto (cavidades gaseosas, segregaciones, inclusiones no
metlicas).
71
72
73
D
s =
2
cl
1
t
tg
c cos
(33)
Donde:
s : diferencia de camino snico entre el primer eco de fondo y el primer eco satlite o entre dos
ecos satlites adyacentes.
D : dimetro de la pieza.
c l : velocidad de la onda longitudinal.
c t : velocidad de la onda transversal.
74
: ngulo de la onda transversal desdoblada ( puede ser calculado por medio de la ley de
refraccin).
Adems de esto, es posible determinar la velocidad de la onda transversal por medio de los ecos
satlites como se indica a continuacin:
c =
t
cl
1 + (2 s )
(34)
75
Fig. 80: Conversin del tipo de onda 29/ 61 en una pieza con bordes rectangulares.
L: longitudinal ; T: transversal.
Los ngulos para cualquier material se pueden calcular con las siguientes frmulas:
l + t = 90
t + l = 90
sen l
cl
=
sen t ct
sen t ct
=
sen l cl
(35)
Para acero se obtienen los ngulos de 29 y 61. Esto significa que, en acero, una onda
longitudinal que incida sobre una superficie con un ngulo de 61 ser casi totalmente
transformada en una onda transversal con un ngulo de reflexin de 29, y viceversa. Tales
transformaciones de ondas, junto a una forma particular de la pieza, pueden a su vez, dar origen
a ecos de defectos aparentes.
3.6213. Ondas superficiales
Cuando se usan palpadores con grandes ngulos, y debido a la divergencia del haz snico, se
pueden generar ondas superficiales, las que viajan a lo largo de la superficie con una velocidad
diferente a las ondas transversales (ver seccin 1.41), y son susceptibles de reaccionar a
pequeas rugosidades de la superficie, causando as indicaciones. Los ecos producidos por estas
ondas disminuirn su altura cuando se toque con la punta del dedo con aceite la superficie de la
pieza, entre el palpador y la rugosidad que da origen a la indicacin.
3.6214. Ondas Lamb
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
76
Cuando se ensayan chapas metlicas delgadas, muy frecuentemente se generan ondas Lamb en
lugar de las ondas transversales ordinarias. La velocidad de estas ondas es funcin del espesor
de la chapa, frecuencia y del tipo de onda Lamb. En estos casos, la inspeccin deber ser llevada
a cabo usando el mtodo de ondas Lamb exclusivamente, usando un palpador universal (ver
secciones 1.41 y 2.3323). Adems de esto, la onda Lamb es mucho menos atenuada en el
material que la onda transversal por lo que resulta en un ensayo de alta sensibilidad.
3.622. Geometra de la pieza de ensayo
3.6221. Reflectores dentro del camino sonido
Frecuentemente las indicaciones son causadas por bordes, ya sea perpendiculares u oblicuos al
camino snico (Fig. 63 arc), y en muchos casos pueden ser evitadas por medio de una adecuada
eleccin del palpador, lugar de ensayo y direccin. De otra forma, la mayora de las veces, es
bastante fcil predeterminar sus localizaciones en la pantalla del TRC.
3.6222. Ecos parsitos por desviacin del haz
Ecos debidos a la desviacin del haz son causados por la geometra de la pieza, como se
muestra en la Fig. 63 b. Se producen despus del primer eco de fondo cuando se examinan
barras redondas desde la superficie cilndrica. En este caso, la causa de este fenmeno es el
ensanchamiento del haz debido a la curvatura de la superficie. Como se muestra en la Fig. 81, se
produce una reflexin triangular con y sin transformacin del tipo de
onda. En muchos casos, los tiempos de recorrido del sonido de los ecos satlites, son mas largos
que el del eco de fondo de tal forma que aquellos aparecern despus que este. Adems, por la
conversin de tipo de onda, el tiempo de recorrido es ms largo dada la menor velocidad de las
ondas transversales.
77
78
Fig. 83: Comportamiento del eco del defecto y del eco de fondo durante el barrido de un defecto
grande.
Este mtodo necesita del eco de fondo (superficies de barrido y de fondo paralelas) no siendo
imprescindible la aparicin del eco del defecto el cual podr estar en posicin oblicua o ser
volumtrico (cavidad de contraccin). De esta forma los resultados sern independientes de la
ganancia del ensayo y de la orientacin o forma del defecto.
Si por cualquier razn no se tuviera eco de fondo el ensayo se podr realizar de la misma forma
pero con el eco del defecto. En este caso los resultados obtenidos si dependern del nivel de
sensibilidad del ensayo (ganancia) y la orientacin o forma del defecto. Es claro que cuando la
discontinuidad en estudio sea paralela a la superficie de barrido los resultados sern reales pero
en el caso de orientaciones o geometras diferentes (falla oblicua o rugosidad) los resultados
sern slo aproximados al real dependiendo de que criterio de mnima altura de la indicacin de
su eco se adopte el que indicar dnde comienza la heterogeneidad.
De la misma forma se podrn medir por medio de palpadores angulares de 70 a 75 la
profundidad de fisuras superficiales o la distancia de fisuras desde la superficie en el caso de que
estas existan y sean grandes por ejemplo en forjados.
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
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Diagramas AVG
Estos diagramas son una recopilacin de respuestas de discontinuidades de referencia de
distintos dimetros y a distintas distancias. Intervienen las variables:
A : distancia del palpador a la discontinuidad (ordenada del diagrama ; escala logartmica).
V : ganancia( abcisa en el diagrama; escala decimal e invertida)
G : dimetro de la discontinuidad de referencia o equivalente (curvas del diagrama). La curva que
est indicada con (infinito) corresponde a la respuesta de una discontinuidad de tamao infinito
(con respecto al tamao del dimetro del palpador) y es el eco de fondo de la pieza.
Con estos diagramas lo que se obtiene es que :
La discontinuidad en estudio tiene una
respuesta similar a la de un disco circular
plano (orificio de fondo plano) de un
determinado dimetro.
Existen Diagramas particulares (Fig. 84) para cada palpador en general dados por el fabricante y
que son los normalmente usados y un Diagrama general (o normalizado) que es adimensional
(Fig. 85).
En el Diagrama general A (adimensional) es la distancia a la discontinuidad dividido el campo
cercano del palpador que se utilice; G (adimensional) es el dimetro de los discos planos de
referencias dividido por el dimetro del palpador utilizado.
80
La zona izquierda del diagrama es la regin de incertidumbre del campo cercano por lo que no es
posible trabajar all.
Los pasos del procedimiento son los siguientes:
a) Se elige un reflector de referencia. Este puede ser el fondo de la pieza el de la probeta u
orificios de fondo plano de un determinado dimetro.
b) Se calibra el equipo con un rango de trabajo de acuerdo a las distancias antes elegidas.
-Se fija con la ganancia la ATP adecuada para el eco de la discontinuidad de referencia y se
anota dicho valor.
c) Con la distancia a la discontinuidad de referencia se entra en el diagrama hasta cortar la curva
que corresponda a la misma ( ) si la referencia es el fondo de la pieza). Este ser el punto que
representa su respuesta. Movindose sobre la horizontal hasta el eje de ordenadas se lee el valor
de la ganancia que corresponde a este punto sobre el diagrama.
d) Con la misma calibracin hecha en b) se busca el eco mximo de la discontinuidad en estudio
y con la ganancia se lo lleva hasta la misma ATP que fue fijada en b) para la discontinuidad de
referencia. Se anota la diferencia de dB.
e) Sobre el diagrama y con la distancia de la discontinuidad real se traza una vertical hasta
interceptar a una horizontal que se obtiene de sumar o restar al punto de referencia los dB
hallados en d). Este nuevo punto as hallado representa a la discontinuidad real y la curva G que
lo intercepte nos dar el dimetro equivalente de un orificio de fondo plano que tendr una
respuesta semejante a la de la discontinuidad real.
Se darn a continuacin ejemplos de usos de los diagramas AVG:
Ejemplo 1- a : Diagrama particular.
Datos:- Pieza a ensayar: barra de acero forjado de 200 mm de dimetro y 250 mm de longitud.
Palpador : Krautkr5amer B2 S-N Serie D
Discontinuidad de referencia: eco de fondo (250 mm)
Eco de fondo a 80 % ATP : 26 dB (equipo)
Eco de fondo
: 11 dB(diagrama)
Eco del defecto se observa a : 200 mm de profundidad
- Eco del defecto llevado a 80% ATP :40 dB (equipo)
Diferencia de ganancia (en equipo) : 40-26= + 14 dB
e) - En el diagrama : 11 + 14 = 25 dB
Subo con 200 mm (profundidad del defecto) hasta 25 dB dando un defecto equivalente de 8 mm
de dimetro.
Ejemplo 1- b: Diagrama particular
Datos:
Pieza a ensayar: barra de acero forjado de 200 mm de dimetro y 250 mm de longitud.
Palpador : Krautkrmer B2 S-N Serie D
a)
- Discontinuidad de referencia: orificio de = 8mm
- Profundidad : 500 mm
b)
- Eco de referencia. a 80 % ATP : 36 dB (equipo)
c)
- Eco de referencia
: 40 dB(diagrama)
d)
- Eco del defecto se observa a : 300 mm de profundidad
- Eco del defecto llevado a 80% ATP : 46 dB (equipo)
- Diferencia de ganancia (en equipo) : 46-36= + 10 dB
e)
- En el diagrama : 40 + 10 = 50 dB
81
- Subo con 300 mm (profundidad del defecto) hasta 50 dB dando un defecto equivalente
de 2.8 mm de dimetro (aprox.).
Nota: en el punto d) la diferencia de ganancia (en equipo) podra ser negativa si el eco del defecto
sobrepasara el 80% de la ATP . En este caso en el punto e) en el diagrama se deber restar ( y
no sumar) los dB al valor antes obtenido.
b)
c)
d)
A
50
=5
10
defecto
defecto equivale = 0.3 10 = 3mm
palpador
82
Mtodo DAC
Descripcin de reflectividades:
Para describir reflectores desconocidos de seccin menor que la del haz, generalmente se
compara la altura del eco que genera ste con el eco de un reflector artificial de forma y tamao
conocido ( eco de referencia).
Para relacionar las alturas de ambos ecos se puede utilizar diferentes formas que se explicarn
con el siguiente ejemplo:
1) Descripcin de alturas de ecos.: supongamos que se haya colocado el eco de fondo ( Pos. 1)
a 80% ATP y que a continuacin se haya localizado un defecto que con la misma
amplificacin alcanza tan solo el 40% ATP (Pos.2)
83
defecto
Pared posterior
(reflector
de
referencia)
Eco de referencia
H 2 40% 1
=
= = 0,5
H 1 80% 2
En otras palabras el eco referido tiene la mitad de la altura del eco de referencia.
1.2 Diferencia entre alturas de ecos (H) en dB.
Segn una convencin se define la diferencia entre dos alturas de ecos expresada en dB por el
logaritmo de la relacin de altura entre ambos multiplicada por 20
H = 20. log
H2
H1
H = 20. log
40
80
= 6dB
lo que indica que el eco comparado tiene una altura 6 dB menor () que la del eco de referencia.
1.3 Diferencia de amplificacin ( V) en dB
Para determinar la diferencia de amplificacin V, se coloca, mediante el mando de amplificacin,
el eco a evaluar a la misma altura de pantalla, como la del eco de referencia y se comparan los
valores.
84
Comparacin
GK
GF
Gk = Amplificacin del equipo correspondiente al eco de referencia
Gf= Amplificacin del equipo correspondiente al eco a comparar ( o del defecto) a la altura de
referencia
Vf:= Diferencia de amplificacin.
Vf:= Gf Gk
En este caso podra ser Gk = 16 dB y Gf = 22 dB por lo que Vf:= 22 16 = + 6 dB.
Lo que indica que la amplificacin del equipo ha tenido que ser aumentada (+) en 6 dB para que
el eco del defecto alcanzara la altura de referencia.
Como se ve, los valores de H y V se diferencian solamente en el signo:
H = V
2) Comparacin directa de reflectividades- Mtodo DAC ( Distancia Amplitud Correccin)
Este mtodo se basa en bloques de comparacin que deben tener una geometra y ser de un
material similar al objeto de ensayo. Estos bloques tienen reflectores artificiales de determinada
forma y tamao ( reflectores de comparacin).
De acuerdo a la geometra del objeto de ensayo se hallan determinadas en especificaciones y
Cdigos las medidas especficas de los bloques de comparacin. En la mayora de los casos se
utilizan agujeros transversales como reflectores de comparacin.
2.1 Procedimiento segn el mtodo DAC.
1) Ajuste el equipo en recorrido o dpa.
2) Construccin de la lnea de referencia
Para ello se generan ecos de los reflectores de comparacin sin variar la amplificacin del equipo,
uniendo los picos de los ecos. De esta forma se obtiene la lnea de referencia ( Fig. 6.2)
85
d2
d1
Bloque
comparacin
de
Objeto
de
80%
ATP
GT1
GT2
FIG 6.3 Determinacin de VT
Se anotan las dos amplificaciones del equipo GT1 y GT2 a partir de las cuales se determina la
correccin de transferencia:
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
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VT = GT1 GT2
Condicin: d1 = d2
Esta diferencia contiene las prdidas ocasionadas por diferencias de superficie y en parte por
diferencia de atenuacin.
4) Amplificacin adicional VT (dB)
Puede darse el caso que se quiera registrar con una mayor sensibilidad (V) que la
correspondiente al reflector de comparacin.
5) Sensibilidad de registro GR (dB)
La sensibilidad de registro se obtiene de las suma:
GR = GK + VT + V
6) Descripcin de reflectores.
Todos los reflectores que llegan a la lnea de referencia o la sobrepasan con la amplificacin GR
deben registrarse, determinndose la diferencia con respecto a la lnea de referencia HF en dB.
En este caso el valor HF tambin suele llamarse sobrepaso del lmite de registro.
87
88
3.Si el efecto de bordes no puede ser utilizado, se podr tambin encontrar oblicuamente un
plano del defecto en el cual se reflejar segn las leyes de reflexin (1.422). La direccin
perpendicular al plano del defecto es, en este caso, la bisectriz del ngulo. Esta tcnica de ensayo
es conocida como " tcnica en tndem", y generalmente requiere dos palpadores separados, uno
emisor y el otro receptor . Las consideraciones ya mencionadas para la superficie deben ser, en
este caso, tenidas en cuenta para cada palpador.
4. En casos de defectos con una fuerte dispersin se puede usar un arreglo semejante al indicado
en 3 pero asimtrico. Esto es tambin llamada "tcnica delta" que consta de un palpador
transmisor y otro receptor separados.
Frecuentemente sern posibles varios arreglos de ensayo. En estos casos se recomienda seguir
preferentemente lo que se describe a continuacin:
1.Los defectos planos sern detectados perpendicularmente: tcnica de ensayo simple y fcil de
inspeccionar con un palpador.
2.Relacionado a la superficie de la parte bajo ensayo: en muchos casos el uso de palpadores
normales (vertical) es ms simple que el de los palpadores angulares, por lo que se los preferir.
3.En lo posible se usar un camino snico recto sin cambios de direccin dentro de la pieza.
4.Sern ms favorables las tcnicas de ensayos con un solo palpador por ser, generalmente, ms
simples que en tndem o delta.
5.Darn mayor seguridad y confianza los arreglos de ensayos en los cuales aparezca un eco de
referencia en el fondo del rango de ensayo ( por ejemplo pared posterior o eco de un borde ).
6.Se debern evitar los arreglos de ensayos que den indicaciones aparentes ( ver 3.32 y 3.62).
7.Por razones econmicas, el volumen de la pieza a ensayar ser el mayor posible al mismo
tiempo que el rea de inspeccin lo ms pequea que se pueda.
8.Cuando la orientacin del plano de un defecto es desconocido, el ensayo deber llevarse a
cabo desde distintos sitios de la superficie. Ejemplo: defectos planos en barras: inspeccionar
desde varias generatrices.
9.El mtodo de transmisin ser usado solamente en los casos cuando el mtodo de pulso-eco
falle.
Esta compilacin contiene los ms importantes puntos de vista para juzgar las soluciones a los
distintos problemas de ensayos ultrasnicos. Con una poca experiencia se reconocer fcilmente
la tcnica ptima de ensayo. Existe tambin un gran nmero se especificaciones, los que podrn
ser aplicados por analoga en piezas similares, y los que facilitarn la solucin de problemas.
Bibliografa
Bibliografa:
Introduccin a los Mtodos de Ensayos No Destructivos.
Instituto Nacional de Tcnica Aero Espacial (Madrid).
Ultrasonic Testing
Dr. Ing. Volker Deutsch and Manfred Vogt
Ultrasonic testing of Materials
Krautkrmer
ASM Handbook Vol 17
Normas ASTM
Normas IRAM- CNEA CNEA
Cdigo ASME Seccin V
CNEA Y 500- 1 002
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