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Nanoindentacin

Padrn Hernndez, Wendy-Y.


Nanociencia y Nanotecnologa, Maestra en Ciencias en Micro y Nanosistemas, MICRONA-UV.
Facultad de Ingeniera, Universidad Veracruzana
Boca del Ro, Veracruz
meny14@gmail.com

Antecendentes
La necesidad creciente de caracterizar las propiedades mecnicas a la escala
nanomtrica ha favorecido el desarrollo de la tcnica de nanoindentacin. En sta
tcnica, se mide de manera continua la carga aplicada y la profundidad de
penetracin del indentador en el material, durante un ciclo de carga y descarga. El
anlisis de las curvas de descarga permite determinar el rea de contacto entre el
indentador y el material medido y as obtener propiedades mecnicas del material,
especialmente dureza y mdulo elstico.
En algunos materiales aparece el efecto de tamao (nonoindentacion size effect: NSE),
que consiste en la disminucin de la dureza con el aumento de la profundidad de
penetracin, o alternativamente, un aumento de la dureza para profundidades
pequeas. Segn Gao y Nix, este fenmeno se debe a la presencia de dislocaciones
almacenadas estadsticamente (creadas por una deformacin homognea) y a la
creacin de dislocaciones geomtricamente necesarias (relacionadas con la
curvatura de la red cristalina o con los gradientes de deformacin).
Debido a que en la industria se utilizan operaciones con dimensiones
submicromtricas o manomtricas es importante caracterizar y modelar los
comportamientos a la escala submicromtricas o nanomtrica. La necesidad de medir y
caracterizar las propiedades mecnicas ha favorecido el desarrollo de instrumentos de
nanoindentacin capaces de caracterizar las propiedades mecnicas de las superficies de
capas finas, cables microscpicos o materiales masivos. Los parmetros ms habituales
de medir son la dureza (deformacin plstica) y el modulo elstico.
La tcnica indentacin es uno de los mtodos ms interesantes para el estudio de las
propiedades mecnicas de los materiales.
Los primeros estudios basados en la indentacin de materiales se realizaron en los aos
60 cuando se descubri que se podan estudiar las propiedades de deformacin de los
metales y de otros slidos haciendo indentaciones en ellos. Este nuevo sistema de
medida tiene dos grandes ventajas frente a los sistemas tradicionales como los tests de
tensin- deformacin. Se puede trabajar con muestras muy pequeas y muy delgadas,
se pueden hacer medidas aplicando cargas muy pequeas al material de estudio, y la
tcnica es no destructiva. Los primeros indentadores empleados eran de tipo Vickers,
cuya punta tiene forma piramidal cuadrada con las cuatro caras iguales y formando

entre ellas ngulos de 136 grados, que permitan medidas en el rango de la


microindentacin. Esta nueva forma de medir la dureza permita su combinacin con
otras tcnicas como la microscopa electrnica, la difraccin de electrones y la
dispersin de rayos X para estudiar en detalle las propiedades de deformacin de un
gran nmero de nuevos materiales [1]. Todo esto era posible porque la tcnica de
indentacin es no destructiva para la muestra.
El paso siguiente al nacimiento de la microindentacin fue el desarrollo de sistemas
capaces de realizar indentaciones an ms pequeas. Este paso se dio con la aparicin
de la nanoindentacin. Su avance fue posible gracias al desarrollo de los microscopios de
efecto tnel y de fuerza all por los aos 80. Estos nuevos instrumentos introducan
tcnicas novedosas para la aplicacin y medida de cargas muy pequeas. En los
sistemas de nanoindentacin se suele emplear una punta tipo Berkovich con forma de
pirmide triangular que tiene una geometra muy bien definida y una forma
puntiaguda. Esta forma puntiaguda es ms fcil de lograr con una pirmide triangular,
como la Berkovich, que con la punta Vickers de cuatro lados porque tres planos
confluyen en un punto, mientras que cuatro lo hacen en una recta. Con estos sistemas
de nanoindentacin se pueden conseguir indentaciones con un dimetro de unos pocos
nanmetros.
Las distintas tcnicas existentes para medir la dureza en funcin de la carga aplicada se
dividen en: macroindentacin (P > 10 N), microindentacin (10 N > P > 10 mN) y
nanoindentacin (P < 10 mN) . La macroindentacin est bsicamente limitada las
pruebas de dureza en volumen, con indentaciones grandes que no son compatibles con
las medidas de precisin que hacen falta para estudiar superficies o pequeos volmenes
de material.
Como se mencion, una de las principales ventajas de la indentacin frente a otros
sistemas de medida de propiedades mecnicas es que se trata de una tcnica no
destructiva para el material debido a que la zona de estudio es muy pequea. Las
indentaciones creadas van desde el tamao de las micras a unos pocos nanmetros.

Funcionamiento
La tcnica de indentacin figura entre las tcnicas mecnicas ms sencillas de realizar.
Consiste en clavar un objeto de gran dureza contra la superficie de un material con el
fin de caracterizar la resistencia que se opone a la penetracin del punzn.
Esta resistencia se puede cuantificar mediante la dureza H relacionada con la presin
media de contacto. Sin embargo, es una propiedad mecnica bastante compleja
de determinar porque depende a la vez del lmite de elasticidad y de la capacidad de
endurecimiento por deformacin del material estudiado. Por otra parte, la medida
obtenida depende de la forma del indentador utilizado. Este puede ser esfrico, cnico
(Rockwell) o piramidal de base cuadrada (Vickers), rombodrica (Knoop) o triangular
(Berkovich).

Durante una indentacin esfrica, la presin de contacto vara con la dimensin de la


huella. Para esta indentacin, Brinell (1920) propone calcular una dureza deducida de
la presin media de contacto relacionada con la superficie curvilnea, de manera a
obtener una dureza casi independiente de la carga aplicada. No obstante, los
indentadores puntiagudos (cnicos o piramidales) presentan la ventaja de dejar una
huella, cuya forma no depende de la carga aplicada. Con indentadores cnicos o
piramidales se verifica el principio de similitud geomtrica, por este motivo se debe
utilizar la dureza Meyers, la cual es relativa a la presin de contacto reducida a la
superficie proyectada de la huella (figura 1).

Figura 1. Dureza Meyers

Se pueden distinguir cuatros campos de carga para los ensayos de dureza (figura 2). En
las mediciones de dureza convencionales, la dureza est determinada por la observacin
de la huella. En el caso de un ensayo de indentacin Vickers, por ejemplo, se mide la
longitud de las diagonales de la huella, con las cuales se puede llegar a la
superficie de contacto, y finalmente calcular la dureza. De esta manera se miden solo
dos parmetros: la fuerza mxima aplicada y la dimensin de la huella residual o, de
manera indirecta, la trayectoria del punzn (dureza Rockwell), que permite
sacar el rea de contacto conociendo la forma del indentador. Estas mediciones de
dureza son difciles de interpretar, debido a que no permiten tener en cuenta una
relajacin eventual de la huella. Asimismo, si es la trayectoria del punzn la que se
mide (ensayos Rockwell), resuelta imposible diferenciar la deformacin bajo la zona de
contacto de la deformacin plstica a grande escala en los alrededores de la
huella. Adems, para pequeas profundidades de penetracin, las huellas
residuales tienen dimensiones que impiden una medida simple y directa. A la vez, los
ensayos de dureza convencionales se adaptan mal para la caracterizacin de capas
finas, estos primeros presentan errores mayores en el caso de las cermicas (las cuales
presentan una elevada elasticidad responsable de la evolucin de la superficie de
contacto durante la descarga), debidos al pequeo tamao de la huella.

Figura 2. Diferentes campos de cargas relacionados con las mediciones de dureza.

Medir distancias del orden de los nanmetros o fuerzas del orden de micro Newtons
requiere el uso de instrumentos de alta precisin. La medida de desplazamientos del
orden de nanmetros est influenciada por las propias estructuras que soportan el
sistema de medicin. Estas estructuras responden a fuerzas de distinto origen y a
cambios de temperatura con desplazamientos insignificantes si trabajamos en el rango
de las micras o de los milmetros. Sin embargo, cuando los desplazamientos a medir son
del orden de los nanmetros, las deflexiones de la estructura son del mismo orden de
magnitud que aquello que queremos medir. El cmo solucionar todos estos problemas
no es fcil y requiere un equipo muy especfico [2], como por ejemplo el sistema
Nanoindenter IIs de Nano Instruments,Inc, Nano Indenter XP , fabricado por la
compaa MTS Systems Corporation, etc.

Figura 3. Fotografas del Nanoindenter IIs.

Este sistema es capaz de trabajar en el rango de carga de los microgramos y consta


fundamentalmente de tres elementos principales: el indentador propiamente dicho (1),
un microscopio ptico (2) y un posicionador de precisin (3) que mueve las muestras a
medir entre el microscopio y el indentador, y las sita en las distintas posiciones donde
se deben realizar las indentaciones [3].
El nanoindentador es bsicamente un sistema de carga controlada, aunque variando los
parmetros de la indentacin tambin se pueden realizar experimentos de
desplazamiento controlado. En cualquiera de los dos modos de medida, se hace una
medida continua de los valores de carga y desplazamiento de forma que se pueden
obtener los valores de la rigidez, la dureza y el mdulo de elasticidad de la muestra a
partir de los datos de descarga. En los siguientes puntos se explicar cmo se obtienen

los datos anteriores sin necesidad de acudir a medios pticos para medir el tamao de
la huella dejada por la indentacin.
El nanoindentador consta de una barra sujeta al centro de la placa intermedia de un
condensador de tres placas especial que es sensible al desplazamiento. El movimiento de
la placa intermedia del condensador se usa para medir el desplazamiento del
indentador. El movimiento mximo que permite el sistema es de 200 mm y su
resolucin terica es de aproximadamente 0,04 nm.
En la parte ms baja de la barra se encuentra la punta de diamante. Normalmente se
usa una punta Berkovich con la forma de una pirmide de tres caras con los lados de la
pirmide formando un ngulo de 65,3 grados respecto a la normal a la base. De esta
forma las indentaciones aparecen como tringulos equilteros como el presentado en la
figura 4.

Figura 4. Indentacin con punta Berkovich

La forma de aplicar la carga necesaria para realizar una indentacin se basa en el paso
de una corriente por una bobina inmersa en un campo magntico y situado en la parte
superior de la columna que soporta el indentador. Al pasar la corriente por la bobina se
crea una fuerza que es la empleada para el movimiento del indentador y para hacer las
indentaciones. Con este sistema se consigue una resolucin mxima de carga de
aproximadamente 75 nN (7,6 mg). El mximo de carga al que puede llegar el equipo
es de unos 700 mN (70g).
El posicionador desplaza las muestras entre el microscopio y el indentador y controla
la posicin justa en la que se han de realizar las indentaciones. Su movimiento en el
plano XY tiene una resolucin espacial de 400nm. El posicionador no ve limitado su
movimiento al plano XY. Tambin es capaz de desplazar las muestras en el eje Z para
focalizar el microscopio y para hacer un acercamiento en la etapa de bsqueda de la
superficie previa a la realizacin de una indentacin. El desplazamiento mximo que
puede realizar el posicionador en el eje Z es de un centmetro.
Una vez hecha una descripcin general de las distintas partes que componen el
nanoindentador, pasamos a comentar ms en detalle el funcionamiento de cada una de
ellas.

El sistema para aplicar una carga determinada al indentador est compuesto por un
imn, una bobina y una fuente de corriente de alta precisin.
La corriente generada por la fuente se hace pasar por la bobina inmersa en un campo
magntico lo que produce la fuerza necesaria para hacer una indentacin o desplazar la
columna del indentador. La corriente suministrada por la fuente, despus de pasar por
la bobina, pasa por una resistencia de precisin en la que se mide el voltaje. Este
voltaje, adecuadamente calibrado, es el que nos va a dar la carga aplicada al
indentador. La fuente de corriente es programable en un intervalo de voltajes que va
desde los -10 hasta los +10 voltios en el rango alto de carga, y desde +0,8 hasta +1,7
voltios en el rango de carga baja, con una resolucin mxima de 4 mV.

Figura 5. Esquema del sistema de desplazamiento del nanoindentador.

La parte fundamental del nanoindentador es el sistema sensible al desplazamiento. En


la figura 5 se muestra su configuracin en la que se puede ver el condensador de tres
placas del que se habl anteriormente. Estas tres placas son discos circulares de
aproximadamente 1,5 mm de grosor. Las placas externas tienen un dimetro de 50 mm
y la interna, mvil, tiene la mitad de tamao. Las tres placas tienen un agujero en el
centro donde se emplaza la columna del indentador que est fija a la placa mvil. Esta
unin est soportada por dos muelles de muy baja rigidez vertical y una alta rigidez
horizontal.
Como se indica en la figura 5 un voltaje de carga de 1,7 volts lleva el indentador hasta
la parte ms baja de su recorrido, mientras que un voltaje de 1,8 voltios es suficiente
para llevarlo a la parte superior del mismo. Con la placa central en el punto medio
entre las otras dos el voltaje de desplazamiento es cero [4].
Por lo tanto se deduce que lo que realmente mide el nanoindentador son voltajes, tanto
para el desplazamiento como para la carga. Con la correspondiente calibracin, estos
voltajes pueden, posteriormente, ser transformados en los valores de carga y
desplazamiento, en mN y nm respectivamente, necesarios para la obtencin de las
propiedades mecnicas que se quieren determinar.

Metodologa
Los mtodos convencionales de obtencin del valor de dureza de un material se basan
en la medida ptica de la huella residual que queda sobre la muestra despus de aplicar
sobre ella una carga normal. Dicha carga se aplica por medio de un indentador de
diamante con una geometra piramidal (Vickers o Knoop), segn se indica en la figura
6. El valor de dureza para dicho material se calcula dividiendo la carga aplicada por el
rea de la huella residual.

Figura 6. Esquema del proceso de nanoindentacin


Una medida de indentacin se convierte en nanoindentacin cuando el tamao de la
huella residual es demasiado pequea para ser resuelta con precisin mediante
microscopa ptica. Esto sucede habitualmente en medidas de dureza de capas finas
donde es necesario usar cargas muy bajas (dcimas de mN) para evitar la influencia del
substrato. Generalmente, se acepta el criterio de que el indentador no debe penetrar
ms de un 10% en el espesor de la capa para evitar la influencia del substrato en el
valor de dureza de la propia capa. La medida de nanoindentacin implica un registro
continuo del desplazamiento del indentador (profundidad) y de la carga aplicada.
La dureza de un material no es una propiedad que se pueda medir tan sencillamente
como, por ejemplo, su longitud o su peso. La dureza de un material no es una
propiedad nica y bien establecida, sino que es una medida de la reaccin de un
material a un tipo de fuerza que le ha sido impuesta. Por ello, la dureza depende de la
tcnica que se emplee para medirla, y de la naturaleza del propio sistema de medida.
En una forma general, se puede definir la dureza como la resistencia de un material a
ser deformado plsticamente. A lo largo de la historia se han empleado diferentes
tcnicas para determinar esta propiedad de los materiales. A continuacin se describen
algunas de ellas:
 Test de rayado. La dureza de un material se determina por su capacidad para
rayar o ser rayado por otros materiales. Un material duro es aquel que raya sin
ser rayado. Es la base de la escala Mohs de dureza que atribuye valores de
dureza comprendidos entre el 1 y el 10 (diamante).
 Test de abrasin. La muestra se presiona contra un disco rotatorio. El ritmo de
prdida de material en el proceso es una medida de su dureza.

 Test de erosin. Es una variacin del test de abrasin en el que se disparan


granos abrasivos contra el material a medir. La prdida de masa en un
determinado tiempo es una medida de la dureza del material.
 Test de rebote. La altura a la que rebota una pelota lanzada contra el material
a medirse toma como una referencia de su dureza.
 Test de indentacin. Se trata del mtodo de medida de dureza ms ampliamente
utilizado. Consiste en la aplicacin de una fuerza a un indentador que se
encuentra en contacto con la superficie de la muestra a medir. La dureza viene
determinada por el cociente entre la fuerza aplicada al indentador y el rea
resultante de la huella realizada en el material. Se distingue entre varios tipos
de test de indentacin en funcin de la geometra, esfrica, cnica o piramidal,
del indentador empleado. Entre ellos estn: la dureza Meyer, Brinell y
Rockwell, que emplean un indentador esfrico, la dureza Vickers que emplea un
indentador piramidal de base cuadrada y la dureza Berkovich que emplea un
indentador piramidal de base triangular.
Los diferentes mtodos para la medida de la dureza expuestos son una prueba de que la
dureza carece de una definicin precisa y de unas dimensiones establecidas y
reconocibles. Algunos mtodos de medida determinan la dureza en unidades de presin,
otros en unidades de tiempo y en algunos casos, la dureza se considera como una
magnitud adimensional. La comparacin de la dureza obtenida por diferentes tcnicas
es complicada incluso en el caso de emplear mtodos muy similares como puedan ser las
medidas realizadas con indentadores de distinta geometra.
La nanoindentacin permite la realizacin de indentaciones con unas profundidades de
penetracin del orden de los nanmetros. Esta capacidad hace que sea la nica tcnica
vlida para la determinacin de las propiedades mecnicas de recubrimientos y lminas
delgadas con espesores inferiores a la micra. Tambin la convierte en una tcnica
especialmente til para estudiar los efectos en las propiedades mecnicas de los
tratamientos superficiales llevados a cabo en los materiales [1].
Una de las principales virtudes de la tcnica de nanoindentacin es su gran versatilidad
a la hora de determinar las propiedades mecnicas de muy diversos tipos de materiales.
Las tcnicas tradicionales de medida de las propiedades mecnicas, como la prueba de
tensin-deformacin, son destructivas. La nanoindentacin tiene la ventaja aadida de
ser una tcnica no destructiva.
Una de las principales caractersticas del nanoindentador es su capacidad para registrar
de un modo continuo la carga frente al desplazamiento durante la realizacin de una
medida.
A la hora de realizar una medida no se hace una sola indentacin, se realizan varias y
se da como resultado final una media de los resultados obtenidos junto con su
correspondiente desviacin tpica. Esto es debido a la dispersin en los resultados que se
suele obtener en las medidas de las propiedades mecnicas de los materiales. Ahora

bien, cada una de esas indentaciones est compuesta por una serie de segmentos o
pasos que deberemos definir antes de realizar una medida.
El primer paso que se debe dar al iniciar una medida con el nanoindentador es elegir los
lugares de la muestra donde queremos que se hagan las indentaciones. Para ello nos
ayudamos del microscopio que nos permite ver con detalle la superficie de la muestra.
Se pueden seleccionar individualmente los puntos donde queremos que se hagan las
indentaciones, o bien se pueden definir matrices de puntos. La eleccin depender
fundamentalmente de la calidad de la superficie de la muestra y del tipo de medida que
se desee realizar.
Una vez definidas las posiciones de las indentaciones se comenzar con el proceso de
indentacin. El posicionador mueve la muestra desde el microscopio hasta situarla bajo
la punta del indentador. Con la muestra en posicin se inicia el primer segmento de los
que se habl anteriormente. Este primer segmento tiene que ser necesariamente un
segmento de aproximacin a la superficie. Durante el mismo, el nanoindentador localiza
la superficie de la muestra y define un origen para las posteriores medidas de
desplazamiento de la punta. Este segmento tiene una importancia vital en todo el
proceso de medida. Un error en la localizacin correcta de la superficie dara como
resultado datos falsos y sin validez.
Durante la aproximacin tienen lugar las siguientes acciones. La muestra se sita bajo
la punta del indentador en un punto separado unas 50 micras de la posicin elegida
para la indentacin inicial. Con la placa central del condensador en su punto ms bajo,
el posicionador sube la muestra hacia la punta a un ritmo de velocidad relativamente
alto hasta que el indentador entra en contacto con la superficie. De esta forma, se
consigue una primera aproximacin a la localizacin de la superficie. Cuando se produce
el contacto, el indentador es empujado hacia arriba y el posicionador se detiene para, a
continuacin, bajarlo lentamente de forma que el indentador pierda el contacto con la
superficie de la muestra. Posteriormente se eleva el indentador hasta justo debajo del
punto de desplazamiento cero. En ese momento, el posicionador sita la muestra en un
punto a mitad de camino entre la posicin que tena y la seleccionada para la primera
indentacin y sube de nuevo, pero ahora lentamente, hasta contactar con la punta. Con
este segundo contacto se obtiene una mejor estimacin de la posicin de la superficie de
la muestra.
Una vez realizado este segundo contacto para buscar la superficie, el indentador se
mantiene en contacto con la superficie bajo una carga muy pequea con la placa central
del condensador sensible al desplazamiento cerca del centro de su recorrido. En este
punto, el sistema mide cambios en el desplazamiento (h) del indentador sometido a una
carga constante, y calcula las variaciones presentes (dh/dt). Cuando el valor de estas
variaciones es menor que una cantidad predeterminada, usualmente 0,05 nm/s, se graba
el desplazamiento del indentador estableciendo as una estimacin inicial de la elevacin
de la superficie de la muestra.

Tras el proceso anterior, se eleva el indentador hasta cerca del punto ms alto de su
recorrido usando el sistema de bobina e imn comentado anteriormente. La altura de la
muestra se mantiene fija mientras se la desplaza hasta dejar la punta sobre la posicin
de la primera indentacin. Tras esto, se baja el indentador haca la superficie hasta
quedarse a una distancia de entre 1000 a 2000 nm por encima de la posicin grabada en
el paso anterior. A partir de este punto se inicia una aproximacin haca la muestra a
un ritmo predeterminado. Durante este recorrido, se graban los valores de
carga/desplazamiento para calcular la rigidez del sistema, que inicialmente se
corresponde con la de los muelles que soportan el indentador. En el momento en el que
el indentador alcanza la superficie, se aprecia un gran aumento en la rigidez. Cuando
este aumento de la rigidez alcanza un factor 4, se da por completado el segmento de
aproximacin. El punto en el que se produce este cambio repentino de la rigidez es el
usado como referencia para tomar el cero de la carga y el desplazamiento del
indentador.
Una vez localizada la superficie se inicia el proceso de medida en el que entran en juego
una serie de segmentos previamente programados. Tras el segmento de aproximacin se
suele realizar un segmento de carga en el que se puede controlar la carga o el
desplazamiento del indentador. Se puede realizar una carga con un ritmo de
desplazamiento constante hasta alcanzar una profundidad determinada, o se puede
hacer con un ritmo de carga constante hasta alcanzar una determinada carga mxima.
Al final del segmento de carga se suele incorporar un segmento corto de pausa o espera
para permitir que el sistema se equilibre antes de iniciar el segmento de descarga. Si se
van a hacer ms segmentos de carga, el indentador se descargar hasta el 80 o el 90%
de la carga mxima alcanzada, para realizar a continuacin la nueva carga. Si tras esta
descarga previa se sita otro segmento de pausa, el indentador puede detectar cualquier
desplazamiento causado por las vibraciones trmicas u otras causas y de esta forma
corregir en lo posible su efecto. El ltimo segmento de una indentacin tiene que ser
siempre una descarga total del indentador.
Un ejemplo tpico de experimento de nanoindentacin se muestra en la tabla 1. Este
experimento est formado por 6 segmentos. El primero es el obligado segmento de
aproximacin (A). El segundo es un segmento de carga en el que se controla el
desplazamiento del indentador (LD). En este caso particular, se carga el indentador a
un ritmo de 10 nm/s hasta alcanzar una profundidad de 100 nm. Tras este segmento de
carga, se mantiene el indentador durante 10 segundos en un segmento de pausa (H)
para estabilizar el sistema. El cuarto segmento es un segmento de descarga (UL) que se
lleva a cabo al mismo ritmo de carga (100 % Rat) hasta disminuir en un 90 % la carga
mxima que tena el indentador tras el segmento de carga. En este punto se introduce
el segmento de pausa (H) que va a servir para obtener las variaciones de
desplazamiento producidas por vibraciones, variaciones trmicas u otras causas con las
que corregir las medidas realizadas. Finalmente se descarga por completo el indentador
para pasar a la siguiente posicin donde se repetir todo el proceso.

Tabla 1. Ejemplo experimental de nanoindentacin.


El experimento resumido en la tabla 1 es de desplazamiento controlado. Si lo que
queremos es un experimento de carga controlada, todo es igual salvo que en lugar de
llegar a una profundidad determinada, lo que se llega es a una carga prefijada con un
ritmo de carga tambin determinado.
Todos los segmentos de carga de arriba presentan unos ritmos del 10% del mximo de
profundidad. Este valor se puede reducir para evitar la aparicin de grietas en la
muestra como consecuencia de una carga demasiado rpida.
La dureza y el mdulo de elasticidad de la muestra se obtienen a partir de los datos
recogidos durante el segmento de descarga. Visto esto, parece interesante idear un
sistema en el que se puedan realizar muchas cargas y descargas en un mismo
experimento a distintas profundidades. Este sistema permitira obtener nanmetro a
nanmetro las propiedades mecnicas del material. Una solucin as se muestra muy
til para la medida de lminas delgadas y muestras implantadas donde se producen
grandes variaciones de las propiedades mecnicas del material en funcin de la
profundidad.
La forma de conseguir lo anterior es lo que se llama indentacin continua (a.c.) o CSM,
del ingls Continuous Stiffness Measurement [4]. Se trata de una variacin de la
indentacin tradicional en la que se superpone un desplazamiento pequeo modulado al
movimiento lineal habitual del indentador. De esta forma se consiguen muchas cargas y
descargas en lo que antes era una nica carga. Se consigue hacer en una sola
indentacin lo que antes precisaba de bastantes a distintas profundidades de
penetracin.
La tcnica de indentacin a.c. fue introducida por primera vez por Pethica y Oliver [5].
Para ello aadieron una pequea corriente alterna a la bobina empleada para aplicar la
carga al nanoindentador. De esta forma, crearon una fuerza de carga oscilante y
modulada con la que poder realizar experimentos de indentacin. La seal alterna
superpuesta es mucho ms pequea que la corriente continua que determina la carga
nominal del indentador para no afectar al proceso de deformacin.
Para medir la seal de la oscilacin del desplazamiento se usa un detector sensible a
fase (lock-in) capaz de determinar la diferencia de fase ente la seal de desplazamiento
y la seal de la fuerza impuesta as como la correspondiente amplitud de la oscilacin
del desplazamiento. Una comparacin entre la fase y la amplitud de las oscilaciones
generadas en el indentador con la fase y la amplitud de la seal alterna introducida
permite calcular la rigidez en trminos de amplitud o fase, tal y como se explicar
posteriormente [3].

En una medida de nanoindentacin continua se obtienen una gran cantidad de puntos


para la dureza y el mdulo de elasticidad en funcin de la profundidad con una sola
indentacin. Esto permite hacer un estudio muy preciso de las propiedades mecnicas
del material en funcin de la profundidad.

Resultados
Curvas de carga frente a desplazamiento.
Un experimento de nanoindentacin est compuesto bsicamente por cargas y
descargas sucesivas del indentador. Estas cargas y descargas dan lugar a lo que se
denominan curvas caractersticas de carga frente a desplazamiento. En la figura 7 se
muestra una de estas curvas en la que se seala qu parte de la misma pertenece al
segmento de carga y cul al de descarga. En esta figura tambin se indica la rigidez (S),
que viene dada por la pendiente de la primera parte de la curva de descarga
(S=dP/dh), as como la carga mxima aplicada en la indentacin (Pmax), el
desplazamiento mximo (hmax) y el desplazamiento residual que queda tras la descarga
del indentador (hf). A partir de los datos contenidos en la curva carga-desplazamiento,
tambin se pueden obtener otros valores relativos a las propiedades mecnicas del
material tales como la dureza (H), el mdulo de elasticidad (E), los trabajos elstico,
plstico y total de indentacin (We, Wp y Wt), la rigidez del contacto (S) y el
porcentaje de recuperacin elstica (%R). La forma general de las curvas es la
siguiente:

Figura 7. Curva caracterstica de carga-desplazamiento en un experimento de nanoindentacin.

Investigando la forma de las curvas carga-desplazamiento se puede extraer bastante


informacin. A simple vista se puede ver que tras la descarga, el indentador no se
queda en el punto de mximo desplazamiento, sino que el material ha recuperado parte
del desplazamiento mximo quedndose en lo que se llama desplazamiento residual (hf).
Segn sea el valor de este desplazamiento residual se puede determinar el grado de
elasticidad del material a estudiar. Un material con un comportamiento
preferentemente elstico recuperara gran parte del desplazamiento mximo, mientras
que un material con un comportamiento plstico tendr una recuperacin muy
pequea. Sirva como ejemplo de lo anterior las curvas de la figura 8. La grfica (a)
representa el comportamiento fundamentalmente plstico tpico de un metal con una

recuperacin elstica prcticamente nula. Por su parte, las grficas (b) y (c)
representan el comportamiento de un material con una gran recuperacin elstica ms
propio de los materiales cermicos como los estudiados en este trabajo [6,7,8]. La
capacidad del indentador para producir deformacin plstica, y por lo tanto la forma de
las curvas carga-desplazamiento, depende del radio efectivo de la punta empleada.
Cuanto ms puntiaguda sea esta, menos carga ser necesaria para deformar el material
plsticamente. Una punta perfecta que terminara en slo tomo sera capaz de producir
deformacin desde el inicio.

Figura 8. Ejemplos de curvas carga-desplazamiento para materiales con comportamiento


plstico (a) y elstico (b y c).

Para ver de una forma ms clara que significa la recuperacin elstica del material, en
la figura 9 se representan los efectos que tienen lugar en la superficie de la muestra al
interaccionar con la punta del indentador. Con la carga aplicada, la superficie est
deformada hasta una profundidad total h. Esta profundidad h es el resultado de la
suma de la distancia vertical a lo largo de la que se realiza el contacto con la punta,
profundidad de contacto hc, y del desplazamiento de la superficie a lo largo del
permetro de contacto, hs. Tras la descarga, parte de la deformacin se recupera
elsticamente, y cuando el indentador se separa totalmente de la superficie, queda una
profundidad final residual, hf. El valor de esta hf depende de la naturaleza del material.
Como regla general, los metales presentan un comportamiento preferentemente plstico
con lo cual el valor de hf es bastante grande. Sin embargo, otro tipo de materiales como
las cermicas presentan grandes recuperaciones elsticas que hacen que el valor de hf
sea muy pequeo [9,10].

Figura 9. Representacin de la seccin de una indentacin en la que se indican las magnitudes


empleadas en el anlisis de las propiedades mecnicas del material.

Clculo de la dureza (H) y del mdulo de Young (E).


La dureza es equivalente a la presin media bajo la punta del indentador, y se calcula
como la carga aplicada dividida por el rea de contacto entre el indentador y la
muestra. En los experimentos tradicionales de microindentacin, el rea de indentacin
se determina directamente por medios pticos una vez que se ha retirado la carga. Lo
que se miden son las diagonales de la marca dejada por la indentacin, y a partir de
ellas se calcula el rea.
Al ir disminuyendo el tamao de las indentaciones el mtodo anterior se complica como
consecuencia de tener que acudir a microscopios de alta resolucin pues no somos
capaces de ver la marca dejada en la muestra por el nanoindentador. A este problema
hay que incluir los errores asociados a la propia ptica que nos permite visualizar la
indentacin. Para solucionar los problemas anteriores, en la nanoindentacin se hace
uso de su capacidad para medir con precisin los desplazamientos de la punta. Lo que
se hace es un clculo del rea en funcin de la geometra del indentador y la
profundidad de contacto.
Todo lo anterior se basa en la posibilidad de describir la geometra del indentador con
una funcin de rea F(h) que relaciona el rea de la seccin del indentador con la
distancia de penetracin desde el vrtice de la punta. Suponiendo que el indentador no
se deforma de forma apreciable, el rea de contacto en carga mxima se puede calcular
a partir de una relacin del tipo:
A = F(hc)
donde hc hace referencia a la profundidad plstica o profundidad de contacto [12,13].
La forma concreta de la funcin de rea (F(hc)) tiene que determinarse de una forma
experimental. Para un indentador Berkovich perfecto la relacin entre hc y A es:
A(hc) = 24,5 hc
sin embargo, hay que tener en cuenta las desviaciones de una forma perfecta debido al

desgaste de la punta y a otros factores. Esto lleva a una funcin de rea corregida de la
siguiente forma:
A(hc)= 24,5 hc2 + C1 hc 1 + C2 hc

1/2

+ C3 hc

1/4

+..........+ C8 hc

1/128

donde las constantes Ci deben ser determinadas experimentalmente para la punta que
se est empleando [11].
Una vez que tenemos la funcin de rea, el problema es cmo determinar la
profundidad de contacto (hc) a partir de las curvas carga-desplazamiento. Inicialmente,
esta profundidad se obtena a partir de una lnea tangente en los primeros puntos de la
curva de descarga [13[. Se presupone que el rea de contacto permanece constante al
principio de la descarga y que el comportamiento de la curva es lineal. El valor de hc se
extrapola del corte de la lnea con el eje X. Sin embargo, en la mayora de los casos las
curvas de descarga no se pueden describir bien con una relacin lineal. En consecuencia
hay que emplear relaciones no lineales como indicaron Pharr y colaboradores.
Las curvas de descarga estn mejor descritas por una ley de la forma:
P= A(h-hf)m
donde P es la carga aplicada, h el desplazamiento del indentador, hf el desplazamiento
final al terminar la descarga. A y m son parmetros que se determinan mediante un
anlisis de regresin por mnimos cuadrados de los datos experimentales. Para varios
materiales estudiados, el valor de m oscila entre 1,25 y 1,6 lo que corrobora un
comportamiento no lineal.
Oliver y Pharr [10], basndose en clculos previos de Sneddon [12], propusieron un
mtodo para la determinacin de la profundidad de contacto, hc, como:

siendo dh/dP la rigidez (S) del contacto entre el indentador y la muestra, determinado
de la pendiente del ajuste de la curva de descarga experimental segn la ecuacin
anterior. El valor de e depende de la geometra del indentador y tiene un valor de 0,75
para un paraboloide de revolucin [11].
Una vez que tenemos el valor de hc, podemos calcular el rea de contacto del
indentador con la ayuda de la funcin de rea, y finalmente podemos calcular la dureza
del material dividiendo la carga aplicada por el rea calculada.

Otro de los datos que se puede extraer de las curvas carga-desplazamiento es el


mdulo de elasticidad o mdulo de Young. Este parmetro nos da la capacidad de
deformacin del material bajo estudio. El mdulo de Young se calcula a partir de la
curva de descarga, pues es donde se presenta el comportamiento elstico del material.
Teniendo en cuenta que el indentador no es perfectamente rgido, es decir, que tambin
se deforma elsticamente, se deben tener en cuenta las propiedades elsticas del
indentador, y esto se hace a travs del mdulo de elasticidad reducido, definido como:

dnde ni y Ei son, respectivamente, el coeficiente de Poisson y el mdulo de elasticidad


para el indentador, y ns y Es son las mismas magnitudes para la muestra que queremos
estudiar. El mdulo reducido se puede calcular a partir de la rigidez (S) y el rea de
contacto (A) como:

Esta ecuacin se cumple para cualquier indentador que se pueda describir como un
cuerpo generado por la revolucin de una funcin suave. El valor de la rigidez (S) se
calcula a partir de la pendiente del ajuste por mnimos cuadrados del inicio de la curva
de descarga a la funcin.
A partir de las ecuaciones anteriores y de los valores del mdulo de elasticidad y de
Poisson del indentador, se puede extraer el mdulo de elasticidad del material que
estemos estudiando.

Aplicaciones
Las inmensas aplicaciones de los recubrimientos y de los componentes y dispositivos
miniaturizados, junto a las necesidades de determinar las propiedades elsticas y
plsticas de los materiales han dado lugar a un creciente desarrollo de tecnologas
basadas en la nanoindentacin. Esta tecnologa gana da a da ms adeptos,
especialmente los especialistas en el estudio de materiales, tanto en el campo
acadmico como en el industrial, y todos aquellos relacionados con la caracterizacin
mecnica de los materiales y dispositivos en volmenes muy reducidos.
La aparicin de la nanoindentacin permite el estudio y caracterizacin de pequeos
volmenes de material lo cual tiene una gran importancia tecnolgica ya que se tiende
a una reduccin paulatina de los tamaos (la industria de los semiconductores es un
claro ejemplo). Otras industrias que pueden beneficiarse de la nanoindentacin son las
relacionadas con las lminas delgadas y los recubrimientos. Debido al pequeo tamao

de las indentaciones, menores que 1 m , se pueden realizar mapas de una superficie


determinando zonas con distintos dominios o propiedades.
La nanoindentacin ha supuesto un gran avance en el estudio de las propiedades
mecnicas de los materiales. Sin embargo, sus mayores dificultades se encuentran en el
desarrollo del sistema en s, y en la interpretacin de los resultados obtenidos por esta
tcnica.
En el campo biomdico existe un considerable nmero de productos manufacturados,
como en ortopedia, cardiologa y odontologa, donde el uso de aleaciones metlicas es de
gran importancia El mtodo desarrollado por Oliver y Pharr permite determinar la
dureza y el mdulo elstico a partir de las curvas carga-desplazamiento obtenida por
nanoindentacin. La aplicacin de estas tcnicas en aceros con diferentes
microestructuras ha permitido establecer que existe una relacin entre los valores de
nanodureza y las caractersticas mecnicas determinadas mediante ensayos de traccin,
aunque hay que tener en cuenta efectos de tamao de indentacin[8]. Con el fin de
analizar el comportamiento mecnico de cada fase, se ha utilizado la tcnica de
nanoindentacin. Se ha observado que la ferrita tiene mayor dureza si se encuentra en
una microestructura ferrito-martenstica que si est en una ferrito-perltica. Por ello, se
ha estudiado el efecto que tiene la presencia de martensita en las caractersticas de la
ferrita.
Entre la gran variedad de materiales multifasicos utilizados para distintas aplicaciones
en el sector metal metlico (corte, conformado, etc.), el metal duro constituye un
material estratgico. Dicho material est formado por una dispersin de carburos de
tungsteno WC, de tamao micromtrico, en una matriz de cobalto.
Se han realizado estudios en cermicos base circonia con estructura tetragonal no
transformable, los cuales tienen una innovadora aplicacin en la industria aeronutica
(como recubrimientos de alabes de turbina) gracias a su baja conductividad trmica, y
por sus buenas propiedades mecnicas.

Bibliografa
[1] I.J. Mc Colm. Ceramic Hardness. Plenum Press, New York 1990.
[2] S.K. Biswas, K. Venkatesh, M.S. Bobji y K.S. Sebastian. Trans. Indian Inst. Met.
49 (1996) 725.
[3] Nano Indenter IIs operating instructions. Nano Instruments, Inc.(1994).
[4] www.mts.com/nano.
[5] J.B. Pethica y W.C. Oliver. Mater. Soc. Symp. Proc. 130 (1988) 13.
[6] S.V. Hainsworth, H.W. Chandler y T.F. Page. J. Mater. Res. 11 (1996) 1987.
[7] J.B. Pethica, R. Hutchings y W.C. Oliver. Phil. Mag. A. 48 (1983) 593.
[8] K. Zeng y D. Rowcliffe. Phil. Mag. A. 74 (1996) 1107.
[9] T.F. Page, W.C. Oliver y C.J. McHargue. J. Mater. Res. 7 (1992) 450.

[10]
[11]
[12]
[13]

W.C. Oliver. Materials Research Society Bulletin. Vol: XI n 5 (1986) 15.


W.C. Oliver y G.M. Pharr. J. Mater. Res. 7 (1992) 1564.
M.F. Doerner y W.D. Nix. J. Mater. Res. 1 (1986) 601.
W.C. Oliver y G.M. Pharr. Mechanical Properties and Deformation Behaviour of
Materials Having ultra-fine Microstructures (1993) 417.

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