6.manual Analizador Logico Tektronix

Manual tcnico de analizadores lgicos

Manual
3 www.tektronix.com/logic_analyzers
Contenido
Introduccin --------------------------------------------------4 5
Historia 4
Osciloscopio digital 4
Analizador lgico 5
Funcionamiento de un analizador lgico ------------------6 13
Conexin al sistema bajo prueba 6
Sonda 6
Configuracin 7
Configuracin de los modos del reloj 7
Configuracin del disparo 8
Adquisicin 9
Estado y temporizacin simultneos 9
Memoria de adquisicin en tiempo real 10
Herramientas para solucin de problemas
analgicos-digitales integradas 11
Anlisis y presentacin 12
Presentacin de formas de onda 12
Presentacin de listas 13
Medidas automatizadas 14
Trminos y consideraciones acerca de las prestaciones 15 16
Velocidad de adquisicin de temporizacin 15
Velocidad de adquisicin de estado 15
Velocidad de adquisicin de MagniVu 15
Longitud de registro 15
Modularidad y recuento de canales 16
Disparo 16
Sistema de sondas 16
Ejemplos de aplicacin de un analizador lgico ----------16 20
Realizacin de medidas de temporizacin de
propsito general 17
Deteccin y presentacin de espurios intermitentes 18
Captura de violaciones de establecimiento o de retencin 19
Utilizacin de almacenamiento de transicin para
aumentar la longitud de registro til 20
Ejemplos de aplicacin de analizadores lgicos 21 26
FPGA 21
Memoria 23
Integridad de la seal 24
Conformidad, validacin y depuracin de datos serie 25
Osciloscopios de tiempo real 26
Osciloscopios de muestreo 26
Analizadores lgicos 26
Fuentes de seal 26
Resumen ------------------------------------------------------27
Glosario ------------------------------------------------------------28 31
Manual
Introduccin
Al igual que otras muchas herramientas electrnicas de
medida y prueba, un analizador lgico permite solucionar
un tipo concreto de problemas. Se trata de una herramienta
verstil que puede ayudarle con la depuracin digital de
hardware, la verificacin del diseo y la depuracin del
software imbricado. El analizador lgico es una herramienta
indispensable para los ingenieros que disean circuitos
digitales.
Los analizadores lgicos se utilizan en las medidas digitales
que implican numerosas seales o unos requisitos de
disparo complicados.
En primer lugar, se tratar el osciloscopio digital y la
evolucin resultante del analizador lgico. A continuacin,
se mostrarn los componentes de un analizador lgico
bsico. Una vez adquirido este conocimiento bsico,
aprender cules de las capacidades de un analizador
lgico son importantes y por qu desempean un papel
importante en la eleccin de la herramienta adecuada para
una aplicacin concreta.
Historia
Los analizadores lgicos se desarrollaron prcticamente al
tiempo que los primeros microprocesadores comerciales
salieron al mercado. Los ingenieros que diseaban sistemas
basados en estos nuevos dispositivos pronto descubrieron
que la depuracin de diseos de microprocesadores
requera ms entradas de las que podan ofrecer los
osciloscopios.
Los analizadores lgicos, con sus distintas entradas, eran la
solucin perfecta a este problema. Estos instrumentos han
aumentado gradualmente tanto su velocidad de adquisicin
como el recuento de canales para mantenerse a la altura de
los rpidos avances en la tecnologa digital. El analizador
lgico es una herramienta clave para el desarrollo de los
sistemas digitales.
Existen similitudes y diferencias entre los osciloscopios y los
analizadores lgicos. Para comprender mejor cmo cada
instrumento lleva a cabo sus aplicaciones, es muy til
realizar una comparacin de sus capacidades individuales.
Osciloscopio digital
El osciloscopio digital es una herramienta imprescindible
para la visualizacin de seales de propsito general.
Gracias a una velocidad de muestra y un ancho de banda
muy elevados pueden capturar muchos puntos de datos en
un intervalo de tiempo, lo que proporciona medidas de
transiciones de la seal (flancos), eventos transitorios
y pequeos incrementos de tiempo.
Si bien un osciloscopio puede captar las mismas seales
digitales que un analizador lgico, la mayora de los
usuarios de osciloscopios estn interesados en medidas
analgicas como los tiempos de subida y bajada, las
amplitudes pico y el tiempo transcurrido entre los flancos.
La Ilustracin 1 muestra las capacidades de un osciloscopio.
La forma de onda, aunque tomada de un circuito digital,
revela las caractersticas analgicas de la seal; todas ellas
pueden afectar a la capacidad de la seal para realizar su
funcin. En este ejemplo, el osciloscopio ha capturado
detalles que revelan la oscilacin, el sobreimpulso, la
atenuacin progresiva del flanco ascendente y otras
aberraciones que aparecen peridicamente. Con las
herramientas incorporadas en el osciloscopio, como los
cursores y las medidas automatizadas, es fcil realizar un
seguimiento de aquellos problemas de integridad de la
seal que puedan afectar al diseo. Adems, las medidas
de temporizacin como el retardo de propagacin y el
tiempo de establecimiento y retencin son candidatas
Ilustracin 1. El osciloscopio revela los datos de la amplitud, el tiempo
de subida y otras caractersticas analgicas de la seal.
Manual
naturales para un osciloscopio. Y, por supuesto, hay
seales puramente analgicas, como la salida de un
micrfono o un convertidor analgico/digital, que pueden
analizarse con un instrumento que registre datos
analgicos.
Los osciloscopios suelen tener hasta cuatro canales de
entrada. Qu sucede cuando hay que medir cinco seales
digitales simultneamente, o un sistema digital con un bus
de datos de 32 bits y un bus de direcciones de 64 bits? Esto
indica la necesidad de una herramienta con muchas ms
entradas: el analizador lgico.
Analizador lgico
Las capacidades de un analizador lgico son distintas a las
de un osciloscopio. La diferencia ms obvia entre los dos
instrumentos es el nmero de canales (entradas). Los
osciloscopios digitales convencionales tienen hasta cuatro
entradas de seal. Los analizadores lgicos tienen
entre 34 y 136 canales. Cada canal recibe una seal digital.
Algunos diseos de sistemas complejos requieren miles de
canales de entrada. Para estas tareas, existen unos
analizadores lgicos especialmente adaptados.
Cundo se debe utilizar un osciloscopio?
Si tiene que medir las caractersticas analgicas de un
nmero reducido de seales a la vez, el osciloscopio
digital es la solucin ms eficaz. Cuando necesite
conocer los valores de amplitud, potencia, corriente
o fase de una seal especfica, o medidas de flancos
como los tiempos de subida, un osciloscopio es el
instrumento adecuado.
Utilice un osciloscopio digital si tiene que:
Caracterizar la integridad de la seal (por ejemplo, el
tiempo de subida, el sobreimpulso y las oscilaciones)
durante la verificacin de dispositivos analgicos
y digitales
Caracterizar la estabilidad de la seal (por ejemplo, la
inestabilidad y el espectro de inestabilidad) en hasta
cuatro seales a la vez
Medir los flancos y voltajes de la seal para evaluar
los mrgenes de temporizacin (por ejemplo, los
valores de establecimiento/retencin y el retardo de
propagacin)
Detectar los fallos transitorios (por ejemplo, los
espurios, los seudopulsos y las transiciones
metaestables)
Medir los parmetros de amplitud y temporizacin
en un nmero reducido de seales a la vez
Cundo se debe utilizar un analizador lgico?
Los analizadores lgicos son unas herramientas
excelentes para verificar y depurar diseos digitales. Un
analizador lgico verifica que el circuito digital funciona
y ayuda a solucionar los posibles problemas. El
analizador lgico captura y muestra varias seales a la
vez y analiza sus relaciones de temporizacin. En el caso
de problemas de depuracin intermitentes y difciles de
captar, algunos analizadores lgicos pueden detectar
espurios, as como violaciones de tiempo de
establecimiento y retencin. Durante la integracin de
software/hardware, los analizadores lgicos trazan la
ejecucin del software imbricado y analizan la eficacia de
la ejecucin del programa. Algunos analizadores lgicos
establecen una correlacin entre el cdigo fuente y las
actividades de hardware especficas del diseo.
Utilice un analizador lgico si tiene que:
Depurar y verificar el funcionamiento de un sistema
digital
Trazar y establecer una correlacin entre varias
seales digitales simultneamente
Detectar y analizar violaciones de temporizacin
y eventos transitorios en los buses
Trazar la ejecucin del software imbricado
Ilustracin 2. Un analizador lgico determina valores lgicos
relativos a un nivel umbral de voltaje.
Manual
Un analizador lgico mide y analiza las seales de forma
distinta a un osciloscopio. El analizador lgico no mide los
datos analgicos. En su lugar, detecta los niveles de umbral
lgicos. Cuando conecta un analizador lgico a un circuito
digital, significa que slo le interesa el estado lgico de la
seal. Un analizador lgico simplemente busca dos niveles
lgicos, como se muestra en la Ilustracin 2.
Cuando la entrada es superior al umbral de voltaje (V), se
dice que el nivel es elevado o 1; por el contrario, un
nivel por debajo de V
th
es bajo o 0. Cuando un
analizador lgico realiza una muestra de la entrada, guarda
un 1 o un 0 en funcin del nivel de la seal con
respecto al umbral de voltaje.
Una presentacin de la temporizacin de la forma de onda
de un analizador lgico es muy parecida al diagrama de
temporizacin que se encuentra en una hoja de datos
o que genera un simulador. Todas las seales estn
relacionadas en el tiempo, de forma que se pueden ver
datos como el tiempo de establecimiento y retencin, el
ancho del pulso, y si hay datos extraos o que faltan.
Adems de su elevado recuento de canales, los
analizadores lgicos ofrecen caractersticas importantes
que permiten la verificacin y depuracin del diseo digital.
Entre las mismas se incluyen:
Disparo sofisticado que permite especificar las
condiciones en las que el analizador lgico adquiere los
datos
Adaptadores y sondas de alta densidad que facilitan la
conexin al sistema bajo prueba (SUT)
Capacidades de anlisis que traducen los datos
capturados en instrucciones para el procesador
y establecen una correlacin con el cdigo fuente
Funcionamiento de un analizador
lgico
El analizador lgico establece una conexin con las seales
digitales, que posteriormente adquiere y analiza. Como se
muestra en la Ilustracin 3, existen cuatro pasos para
utilizar un analizador lgico.
1 Conexin
2 Establecimiento
3 Adquisicin
4 Anlisis y presentacin
Conexin al sistema bajo prueba
Sonda
Un analizador lgico se diferencia de un osciloscopio por el
elevado nmero de seales que puede capturar a la vez. Las
sondas de adquisicin se conectan al SUT. La tensin de
entrada se compara con el umbral de voltaje (V
th
) en el
comparador interno de la sonda, que es donde se toma la
decisin acerca del estado lgico de la seal (1 0). El usuario
establece el valor de umbral, que comprende desde los niveles
de TTL hasta CMOS, ECL y valores definidos por el usuario.
Ilustracin 5. Sonda multicanal de alta densidad para analizador lgico.
Conexin
paso 1
Estableci-
miento
paso 2
Adquisi-
cin
paso 3
Anlisis
y presen-
tacin
paso 4
Ilustracin 3. Funcionamiento simplificado de un analizador lgico.
Ilustracin 4. Sonda de propsito general.
Manual
Las sondas del analizador lgico se suministran en varias
formas fsicas:
Sondas de propsito general con conjuntos de cables
areos diseadas para la solucin de problemas punto
a punto, como se muestra en la Ilustracin 4.
Sondas multicanal de alta densidad que requieren
conectores dedicados en la tarjeta de circuito, como se
muestra en la Ilustracin 5. Estas sondas pueden
adquirir seales de alta calidad y tienen una repercusin
mnima en el SUT.
Sondas de compresin de alta densidad que utilizan un
accesorio de sondas sin conector, como se muestra en
la Ilustracin 6. Este tipo de sonda est recomendado
para aquellas aplicaciones que requieren una mayor
densidad de la seal o un mecanismo de instalacin de
sondas sin conectores que permitan conexiones rpidas
y fiables al sistema bajo prueba.
La impedancia de las sondas del analizador lgico
(capacitancia, resistencia e inductancia) se convierte en
parte de la carga general del circuito bajo prueba. Todas las
sondas presentan caractersticas de carga. La sonda del
analizador lgico debe introducir una carga mnima en el
SUT y proporcionar una seal precisa al analizador lgico.
La capacitancia de la sonda tiende a provocar una
atenuacin progresiva de los flancos de las transiciones de
la seal, tal como se muestra en la Ilustracin 7. Esta
atenuacin ralentiza la transicin del flanco en un perodo de
tiempo representado como t en la Ilustracin 7. Por qu
es importante esto? Porque un flanco ms lento cruza el
umbral lgico del circuito despus e introduce errores de
temporizacin en el SUT. Este problema se agrava a medida
que aumentan las velocidades del reloj. En los sistemas de
alta velocidad, una capacitancia de sonda excesiva puede
llegar a impedir el funcionamiento del SUT. Por tanto, es
esencial elegir la sonda con la menor capacitancia total
posible.
Tambin debe tenerse en cuenta que las pinzas de la
sonda y los conjuntos de cables aumentan la carga
capacitiva de los circuitos a los que estn conectados.
Siempre que sea posible, utilice un adaptador
correctamente compensado.
Configuracin
Configuracin de los modos del reloj
Seleccin del modo del reloj
Los analizadores lgicos estn diseados para capturar
datos de dispositivos de varios pines y buses. El trmino
velocidad de captura hace referencia a la frecuencia con
que se realiza una muestra de las entradas. Es la misma
funcin que la base de tiempos de un osciloscopio. Los
trminos realizar muestras, adquirir y capturar suelen
utilizarse de forma indistinta cuando se describen las
operaciones del analizador lgico.
Existen dos tipos de adquisicin de datos o modos de reloj:
La adquisicin de temporizacin captura la informacin
de temporizacin de la seal. En este modo, se utiliza un
reloj interno del analizador lgico para las muestras de los
datos. Cuanto ms rpido se realicen estas muestras de
datos, mayor ser la resolucin de la medida. No existe una
Ilustracin 6. Sonda de analizador sin conector D-Max
TM
.
Ilustracin 7. La impedancia de la sonda del analizador lgico puede
afectar a los tiempos de subida de la seal y a las
medidas de las relaciones de temporizacin.
relacin de temporizacin fija entre el dispositivo de destino
y los datos adquiridos por el analizador lgico. Este modo
de adquisicin se utiliza principalmente cuando la relacin
de temporizacin entre las seales del SUT es de suma
importancia.
La adquisicin de estado se utiliza para adquirir el
estado del SUT. Una seal del SUT define el punto de
muestra (el momento y la frecuencia con que se adquieren
los datos). La seal utilizada para controlar la adquisicin
puede ser el reloj del sistema, una seal de control en el
bus o una seal que provoque un cambio de estado del
SUT. Se realiza una muestra de los datos en el flanco
activo, que representan el estado del SUT cuando las
seales lgicas son estables. El analizador lgico realiza
las muestras slo si las seales elegidas son vlidas. Lo
que sucede entre los eventos del reloj no es relevante en
este caso.
Qu determina el tipo de adquisicin utilizado? La forma
en que desee ver los datos. Si desea capturar un registro
largo e ininterrumpido de datos de temporizacin
y luego la adquisicin de la temporizacin, la opcin
correcta para este trabajo es el reloj interno (o asncrono).
O, tambin, puede adquirir los datos del modo en que los
recibe el SUT. En este caso, deber seleccionar la
adquisicin de estado (sincrnica). Con la adquisicin de
estado, se muestra una secuencia de estados sucesivos
del SUT en una ventana de lista. La seal de reloj externo
utilizada para la adquisicin de estado puede ser cualquier
seal relevante.
Configuracin del disparo
El disparo es otra capacidad que diferencia al analizador
lgico de un osciloscopio. Los osciloscopios cuentan con
eventos de disparo, pero tienen una capacidad
relativamente limitada para responder a las condiciones
binarias. Por el contrario, se puede evaluar una amplia
variedad de condiciones lgicas (booleanas) para
determinar cundo se produce un disparo de analizador
lgico. El objetivo del disparo es seleccionar los datos que
el analizador lgico captura. El analizador lgico puede
realizar un seguimiento de los estados lgicos del SUT
y dispararse cuando se produzca un evento definido por el
usuario en el SUT.
Al referirse a los analizadores lgicos, es importante
comprender el trmino evento. Tiene varios significados.
Puede ser una simple transicin, intencionada o no, en una
nica lnea de seal. Si busca un espurio, entonces ese es
el evento relevante. Un evento puede ser el momento en
que una seal concreta, como una de incremento o de
habilitar, se convierte en vlida. Tambin puede ser la
condicin lgica definida que resulta de la combinacin de
transiciones de seales en un bus completo. Sin embargo,
en todos los casos, el evento es algo que aparece cuando
las seales cambian de un ciclo al siguiente.
Se pueden utilizar muchas condiciones para disparar un
analizador lgico. Por ejemplo, el analizador lgico puede
reconocer un valor binario especfico en una salida de
contador o bus. Otras opciones de disparo incluyen:
Palabras: patrones lgicos especficos definidos en
sistema binario, hexadecimal, etc.
Rangos: eventos que se producen entre un valor inferior
y otro superior
Contador: nmero de eventos programado por el usuario
y registrado por un contador
Sugerencias de configuracin del modo
de reloj
Al configurar un analizador lgico para adquirir datos,
se recomienda seguir algunas pautas generales:
1. Adquisicin de temporizacin (asncrona): la
velocidad del reloj de muestra desempea un papel
importante a la hora de determinar la resolucin de
la adquisicin. La precisin de temporizacin de
cualquier medida siempre incluir un intervalo de
muestra y otros errores especificados por el
fabricante. Por ejemplo, si la velocidad del reloj de
muestra es de 2 ns, se guardar una nueva muestra
de datos en la memoria de adquisicin cada 2 ns.
Los datos que cambian despus del reloj de
muestra no se capturan hasta el siguiente reloj de
muestra. Como no se puede conocer el momento
exacto en que cambiaron los datos durante este
perodo de 2 ns, la resolucin neta es de 2 ns.
2. Adquisicin de estado (sncrona): al adquirir la
informacin de estado, el analizador lgico, al igual
que cualquier otro dispositivo sincrnico, debe contar
con datos estables en las entradas antes y despus
del reloj de muestra. De este modo, se podr
garantizar la captura de los datos correctos.
Manual
Seal: una seal externa como una reinicializacin del sistema
Espurios: pulsos que se producen entre adquisiciones
Temporizador: el tiempo transcurrido entre dos eventos
o la duracin de un solo evento registrada por un
temporizador
Analgico: utilice un osciloscopio para el disparo en una
caracterstica analgica y para un disparo recproco del
analizador lgico
Con todas estas condiciones de disparo disponibles, se
puede realizar un seguimiento de los errores del sistema
utilizando una bsqueda general de los fallos de estado
y luego limitando la bsqueda con condiciones de disparo
cada vez ms explcitas.
Adquisicin
Estado y temporizacin simultneos
Durante la depuracin de hardware y software (integracin
del sistema), resulta til tener informacin de temporizacin
y estado relacionada. Se puede detectar inicialmente un
problema como un estado no vlido en el bus. Esto puede
deberse, por ejemplo, a una violacin de temporizacin de
establecimiento y retencin. Si el analizador lgico no
puede capturar simultneamente los datos de estado
y temporizacin, es difcil aislar el problema y lleva
bastante tiempo.
Algunos analizadores lgicos requieren la conexin de una
sonda de temporizacin independiente para adquirir la
informacin de temporizacin y utilizar hardware de
adquisicin adicional. Estos instrumentos requieren que
conecte dos tipos de sondas al SUT a la vez, como se
muestra en la Ilustracin 8. Una sonda conecta el SUT al
mdulo de temporizacin, mientras que una segunda
conecta los mismos puntos de prueba al mdulo de
estado. Esto se conoce como sistema doble de sondas.
Es una configuracin que puede poner en peligro el
entorno de impedancia de sus seales. La utilizacin de
dos sondas a la vez reducir la carga de la seal, lo que
degradar los tiempos de subida y de bajada, la amplitud
y las prestaciones de ruido del SUT. La Ilustracin 8 es un
ejemplo simplificado que muestra slo algunas conexiones
representativas. En una medida real, puede haber conectados
cuatro, ocho o ms cables de varios conductores.
Es mejor adquirir los datos de estado y temporizacin
simultneamente, con la misma sonda y al mismo
tiempo, como se muestra en la Ilustracin 9. Una
conexin, un establecimiento y una adquisicin
proporcionan datos de estado y de temporizacin. Esto
simplifica la conexin mecnica de las sondas y reduce
los problemas. Con una adquisicin simultnea de los
datos de temporizacin y estado, el analizador lgico
captura toda la informacin necesaria para realizar el
anlisis de temporizacin y estado.
Sonda de estado
Sonda de
temporiza-
cin
La confusin de sondas dobles
Ilustracin 8. Un sistema doble de sondas requiere dos sondas en
cada punto de prueba, lo que reduce la calidad de la
medida.
Sondas de
temporizacin/estado
La simplicidad de sondas nicas
Ilustracin 9. Un sistema de sondas permite la adquisicin
simultnea de estado y temporizacin con la misma sonda, para
lograr un entorno de medida ms sencillo y limpio.
Manual
No hay un segundo paso y, por tanto, la probabilidad de
errores y daos mecnicos es menor que con un sistema
doble de sondas. La repercusin de una nica sonda en el
circuito es menor, lo que garantiza unas medidas ms
precisas y un menor impacto en el funcionamiento del circuito.
Cuanto mayor sea la resolucin de la temporizacin, ms
datos podr ver y utilizarlos para disparar en el diseo,
aumentando as las posibilidades de detectar problemas.
Memoria de adquisicin en tiempo real
Los sistemas de reloj, disparo y sondas del analizador
lgico sirven para proporcionar datos a la memoria de
adquisicin en tiempo real. Esta memoria es el ncleo del
instrumento, el destino de todos los datos de la muestra
del SUT, y la fuente para todos los anlisis y presentaciones
del instrumento.
Los analizadores lgicos disponen de una memoria capaz
de almacenar datos a la velocidad de muestra del
instrumento. Esta memoria puede considerarse una matriz
que tiene un ancho de canal y una profundidad de
memoria, como se muestra en la Ilustracin 10.
El instrumento acumula un registro de toda la actividad de
las seales hasta que se produce un evento de disparo o el
usuario le indica que se detenga. El resultado es una
adquisicin, bsicamente una presentacin de forma de
onda multicanal que permite ver la interaccin de todas las
seales que ha adquirido con un grado de precisin de
temporizacin muy elevado.
El recuento de canales y la profundidad de memoria son
factores esenciales en la eleccin de un analizador lgico.
A continuacin se muestran algunas sugerencias que le
ayudarn a determinar el recuento de canales y la
profundidad de memoria:
Cuntas seales necesita capturar y analizar?
El recuento de canales del analizador lgico tiene una relacin
directa con el nmero de seales que desee capturar. Los
buses del sistema digital se suministran en varios anchos
y a menudo es necesario conectar una sonda a otras
seales (relojes, habilitar, etc.) a la vez que se supervisa
el bus completo. No olvide tener en cuenta todos los
buses y seales que deber adquirir simultneamente.
Cunto tiempo necesita adquirir?
Esto determina el requisito de profundidad de memoria
del analizador lgico y es muy importante para la
adquisicin de temporizacin. Para una capacidad de
memoria determinada, el tiempo total de adquisicin
disminuye a medida que aumenta la velocidad de muestra.
Por ejemplo, los datos almacenados en una memoria de
1 M cubren 1 segundo de tiempo cuando la velocidad
de muestra es de 1 ms. Sin embargo, la misma memoria
de 1 M cubrir slo 10 ms de tiempo para un perodo de
reloj de adquisicin de 10 ns.
La adquisicin de ms muestras (tiempo) aumenta la
posibilidad de capturar un error y el fallo que lo provoc
(consulte la explicacin que se incluye a continuacin).
Los analizadores lgicos realizan muestras de datos
continuamente, llenando la memoria de adquisicin en
tiempo real y evitando el desbordamiento mediante un
proceso basado en el principio de que lo primero en entrar
es lo primero que se elimina, como se muestra en la
Ilustracin 11. De esta manera, siempre hay un flujo
constante de datos en tiempo real por la memoria. Cuando
se produce el evento de disparo, comienza el proceso de
detencin, que mantiene los datos en la memoria.
La ubicacin del disparo en la memoria es flexible, lo que
permite capturar y examinar los eventos que se han
producido antes, despus y aproximadamente a la vez que el
evento de disparo. Se trata de una caracterstica muy til para
la solucin de problemas. Si el disparo se produce por un
sntoma, normalmente algn tipo de error, puede configurar el
analizador lgico para que almacene los datos anteriores al
disparo (datos de predisparo) y capture el fallo que provoc
el sntoma. Tambin puede establecer el analizador lgico
para que almacene una cantidad determinada de datos tras
el disparo (datos posteriores al disparo o postdisparo) para
ver los posibles efectos producidos por el error. Existen otras
combinaciones de ubicacin de disparo, como se muestra en
las Ilustraciones 12 y 13.
Ilustracin 10. El analizador lgico almacena los datos de
adquisicin en la memoria profunda, con un canal de
profundidad completa para cada entrada digital.
Manual
Una vez configurados los sistemas de sondas, relojes
y disparos, el analizador lgico est preparado para
utilizarse. El resultado ser una memoria de adquisicin en
tiempo real llena de datos que permitirn analizar de varias
formas el comportamiento del SUT.
La memoria de adquisicin principal del analizador lgico
mantiene un registro amplio y completo de la actividad de
las seales. Algunos de los analizadores lgicos actuales
pueden capturar datos a velocidades de varios gigahertzios
en cientos de canales, acumulando los resultados en un
amplio registro. Esto resulta especialmente til para una
descripcin general de la actividad del bus a largo plazo.
Se considera que cada transicin de seal mostrada se ha
producido en algn momento del intervalo de muestra
definido por la velocidad del reloj activa. El flanco capturado
puede haberse producido algunos picosegundos despus
de la muestra anterior o unos picosegundos antes de la
muestra siguiente, o en algn punto entre ambos valores.
Por ello, el intervalo de la muestra determina la resolucin
del instrumento. La evolucin de los dispositivos de
comunicacin y los buses de clculo de alta velocidad est
impulsando la necesidad de una mejora en la resolucin de
temporizacin de los analizadores lgicos.
La tecnologa de adquisicin de MagniVu
TM
de Tektronix,
una caracterstica estndar en la serie TLA, es la respuesta
a este desafo. La adquisicin de MagniVu se basa en una
memoria buffer de alta velocidad que captura la informacin
a mayores intervalos alrededor del punto de disparo.
Tambin aqu, las nuevas muestras sustituyen
constantemente a las ms antiguas a medida que se llena
la memoria. Cada canal cuenta con su propia memoria
buffer de MagniVu. La adquisicin de MagniVu mantiene un
registro dinmico y de alta resolucin de las transiciones
y eventos que pueden resultar invisibles a la resolucin
de las adquisiciones de la memoria principal.
La adquisicin de MagniVu es muy importante en la
capacidad lder del sector de la serie TLA para detectar
errores de temporizacin difciles de captar como los
espurios estrechos y las violaciones de
establecimiento/retencin que los analizadores lgicos
convencionales no detectan. Como se muestra en la
Ilustracin 14, este registro de alta resolucin se puede ver
en la pantalla alineado perfectamente con las dems
formas de onda de temporizacin de la memoria principal.
Ilustracin 11. El analizador lgico captura y elimina los datos
basndose en el principio de que lo primero en entrar es lo primero
que se elimina, hasta que se produce un evento de disparo.
Ilustracin 12. Captura de datos alrededor del disparo: los datos
a la izquierda del punto de disparo son los datos previos al disparo
(predisparo), mientras que los que aparecen a la derecha son los
datos posteriores al disparo (postdisparo). El disparo se puede
colocar entre el 0% y el 100% de la memoria.
Ilustracin 13. Captura de datos que se produjeron en un nmero de
ciclos o momento especficos posteriores al disparo.
Ilustracin 14. La adquisicin de MagniVu
TM
muestra un espurio en la
seal del reloj.
Manual
Herramientas para solucin de problemas
analgicos-digitales integradas
Los diseadores que desean realizar un seguimiento de los
errores digitales tambin deben tener en cuenta el dominio
analgico. En los sistemas actuales, con velocidades de
flancos y datos muy elevadas, las caractersticas analgicas
subyacentes a las seales digitales tienen un efecto an
mayor en el comportamiento del sistema, en concreto, en
la fiabilidad y predictibilidad.
Las aberraciones en las seales pueden deberse
a problemas en el dominio analgico: discrepancia de
impedancias, efectos en la lnea de transmisin, etc. Del
mismo modo, las aberraciones en las seales pueden
derivarse de problemas digitales como las violaciones de
establecimiento y retencin. Existe un alto grado de
interaccin entre los efectos de la seal digital y analgica.
La deteccin inicial de una anomala y su repercusin en el
dominio digital se produce normalmente en el analizador
lgico. Esta es la herramienta que captura decenas
o incluso cientos de canales a la vez y durante perodos de
tiempo prolongados; por tanto, es el instrumento de
adquisicin que posiblemente estar conectado a la seal
correcta en el momento adecuado.
La caracterizacin de las aberraciones en las seales, una
vez descubiertas, es tarea del osciloscopio en tiempo real.
Esta herramienta puede adquirir los espurios y las
transiciones con todo detalle, adems de informacin de
amplitud y temporizacin muy precisa. El seguimiento de
estas caractersticas analgicas suele ser el medio ms
rpido para resolver un problema digital.
Una solucin de problemas eficaz requiere herramientas
y mtodos que puedan aplicarse en ambos dominios. La
captura de la interaccin entre los dos dominios, y su
presentacin en formas analgicas y digitales, es la clave
para una solucin de problemas eficaz.
Algunas soluciones modernas, especialmente los
analizadores lgicos de la serie TLA y los osciloscopios de
la serie TDS de Tektronix, incluyen caractersticas para
integrar las dos plataformas. El conjunto de herramientas
iLink
TM
de Tektronix permite que el analizador lgico y el
osciloscopio colaboren, compartiendo los disparos y las
presentaciones relacionadas en el tiempo.
El conjunto de herramientas iLink
TM
incluye varios elementos
diseados para acelerar la deteccin de problemas y su
solucin:
El multiplexado de iCapture
TM
permite la
adquisicin digital y analgica simultnea mediante
una nica sonda de analizador lgico.
La presentacin de iView
TM
ofrece medidas del
osciloscopio y el analizador lgico relacionadas en el
tiempo e integradas en la pantalla del analizador lgico.
El anlisis de iVerify
TM
permite un anlisis de bus
multicanal y una comprobacin de la validacin mediante
diagramas de ojo generados por el osciloscopio.
La Ilustracin 15 muestra una presentacin de iView en un
analizador lgico de la serie TLA. La seal aparece tanto en
su forma digital como analgica, ya que el analizador lgico
de la serie TLA relaciona en el tiempo la traza del
osciloscopio TDS integrado.
Anlisis y presentacin
Los datos almacenados en la memoria de adquisicin en
tiempo real se pueden utilizar en una serie de modos de
presentacin y anlisis. Una vez que la informacin est
almacenada en el sistema, se puede ver en formatos que
incluyen desde formas de onda de temporizacin hasta
instrucciones mnemnicas relacionadas con el cdigo fuente.
Presentacin de formas de onda
La presentacin de la forma de onda es una vista multicanal
detallada que permite ver la relacin en el tiempo de todas
las seales capturadas, de forma muy parecida a la de un
Ilustracin 15. Vista analgica/digital relacionada en el tiempo de
una anomala.
Manual
osciloscopio. La Ilustracin 16 muestra una presentacin
simplificada de una forma de onda. En la ilustracin, se han
agregado marcas de reloj de muestra para indicar los
puntos en los que se han tomado las muestras.
La presentacin de la forma de onda suele utilizarse en los
anlisis de temporizacin y es muy til para:
Diagnosticar problemas de temporizacin en el hardware
del SUT
Verificar el correcto funcionamiento del hardware comparando
los resultados grabados con una salida del simulador
o diagramas de temporizacin de una hoja de datos
Medir las caractersticas del hardware relacionadas con
la temporizacin:
Condiciones de urgencia
Retardos de propagacin
Ausencia o presencia de pulsos
Analizar espurios
Presentacin de listas
La presentacin de listas proporciona informacin de estado
en un formato alfanumrico que puede seleccionar el usuario.
Los valores de datos de la lista se desarrollan a partir de las
muestras capturadas en todo un bus y pueden representarse,
entre otros, en formato hexadecimal.
Como muestra la Ilustracin 17, consiste en tomar una
seccin vertical de todas las formas de onda de un bus.
La seccin transversal del bus de cuatro bits representa
una muestra que est almacenada en la memoria de
adquisicin en tiempo real. En la Ilustracin 17, los nmeros
de la seccin sombreada son lo que mostrara el analizador
lgico, normalmente en formato hexadecimal.
El objetivo de la presentacin de listas es mostrar el estado
del SUT. La presentacin de listas de la Ilustracin 18 permite
ver el flujo de informacin exactamente como lo detecta el
SUT: un flujo de palabras de datos.
Los datos de estado se muestran en varios formatos. La traza
de instrucciones en tiempo real desglosa cada una de las
transacciones del bus y determina exactamente las instrucciones
que se han ledo en el mismo. Coloca la instruccin mnemnica
adecuada y la direccin asociada en la pantalla del analizador
lgico. La Ilustracin 19 es un ejemplo de una presentacin
de traza de instrucciones en tiempo real.
Una pantalla adicional, la de depuracin del cdigo fuente,
permite que el trabajo de depuracin sea ms eficaz al
relacionar el cdigo fuente con el historial de la traza de
instrucciones. Muestra al instante lo que est sucediendo
cuando se ejecuta una instruccin. La Ilustracin 20 es una
presentacin del cdigo fuente relacionada con la traza de
Ilustracin 16. Presentacin de forma de onda del analizador lgico
(simplificada).
Ilustracin 17. La adquisicin de estado captura una seccin de
los datos de un bus cuando la seal de reloj externo
permite una adquisicin.
Muestra Contador Contador Estampado de tiempos
0
1
2
3
4
5
6
7
0111
1111
0000
1000
0100
1100
0010
1010
7
F
0
8
4
C
2
A
0 ps
114.000 ns
228.000 ns
342.000 ns
457.000 ns
570.500 ns
685.000 ns
799.000 ns
Ilustracin 18. Presentacin de listas.
Manual
instrucciones en tiempo real de la Ilustracin 19. Con la ayuda
de paquetes de soporte especficos para el procesador, los
datos del anlisis de estado se pueden mostrar en un formato
mnemnico. Esto facilita la depuracin de problemas de
software en el SUT. Con este conocimiento, puede acceder
a una presentacin de estado de nivel inferior (por ejemplo,
hexadecimal) o a una presentacin de diagrama de
temporizacin para realizar un seguimiento del origen del error.
Las aplicaciones de anlisis de estado incluyen:
Anlisis paramtricos y de mrgenes
(por ejemplo, valores de establecimiento y retencin)
Deteccin de violaciones de temporizacin de
establecimiento y retencin
Depuracin e integracin de hardware/software
Depuracin del estado de la mquina
Optimizacin del sistema
Seguimiento de los datos de un diseo completo
Medidas automatizadas
La opcin de arrastrar y soltar las medidas automatizadas
permite realizar medidas sofisticadas con los datos de
adquisicin del analizador lgico. Existe una amplia gama
de opciones de medida similares a las de un osciloscopio,
como la frecuencia, el perodo, el ancho de pulso, el ciclo
de trabajo y el recuento de flancos. Las medidas
automatizadas ofrecen resultados de medida sumamente
completos y rpidos obtenidos en tamaos de muestras
muy grandes. La realizacin de una medida es sencilla:
haga clic en un icono de medida seleccionado de un grupo
de iconos relacionados que aparecen en el panel de fichas,
arrastre el icono hasta la traza de la forma de onda en la
ventana principal y sultelo. El analizador lgico configura la
medida, realiza cualquier paso de anlisis necesario (por
ejemplo, calcula el ancho del pulso) y muestra el resultado
como se ve en la Ilustracin 21. Tenga en cuenta que estos
pasos estn completamente automatizados, evitando los
prolongados mtodos de medida manual que se utilizaban
anteriormente.
Trminos y consideraciones acerca
de las prestaciones
El analizador lgico cuenta con una serie de indicadores
cuantitativos que ofrecen informacin sobre sus
prestaciones y eficacia. Algunos de estos indicadores estn
relacionados con la velocidad de muestra utilizada como
eje de frecuencia de medida, un elemento anlogo al ancho
de banda de un osciloscopio de almacenamiento digital
(DSO). Aunque el usuario de un DSO tambin conocer
Ilustracin 21. Mejora en la productividad mediante medidas
automatizadas.
Ilustracin 19. Presentacin de trazas de instrucciones en tiempo real.
Ilustracin 20. Presentacin del cdigo fuente. La lnea 27 de esta
presentacin est relacionada con la muestra 120 de
la presentacin de traza de instrucciones de la
Ilustracin 19.
Manual
algunos de los trminos asociados a los sistemas de
sondas y disparo, existen muchos atributos que son
exclusivos del dominio digital del analizador lgico. Como
el analizador lgico no intenta capturar ni reconstruir una
seal analgica, algunos aspectos como los modos de
recuento de canales y de sincronizacin (reloj) son muy
importantes, mientras que los factores analgicos como la
precisin vertical son secundarios.
La siguiente lista de trminos y consideraciones acerca de
las prestaciones hace referencia a los analizadores lgicos
de la serie TLA de Tektronix, una solucin lder del sector
que satisface las necesidades de las aplicaciones de
diseo digital ms exigentes.
Velocidad de adquisicin de temporizacin
La misin ms bsica del analizador lgico es crear un
diagrama de temporizacin basado en los datos que ha
adquirido. Si el DUT funciona correctamente y se ha
configurado bien la adquisicin, la presentacin de
temporizacin del analizador lgico ser virtualmente
idntica al diagrama de temporizacin procedente del
simulador de diseo o del libro de datos.
Sin embargo, esto depende de la resolucin del analizador
lgico, su velocidad de muestra. La adquisicin de
temporizacin es asncrona; es decir, el reloj de muestra
funciona independientemente de la seal de entrada.
Cuanto mayor sea la velocidad de muestra, ms
posibilidades existen de que una muestra detecte de forma
precisa la temporizacin de un evento como una transicin.
Por ejemplo, un analizador lgico de la serie TLA con una
frecuencia de muestra de 2 GHz tendra una resolucin de
500 ps. Por tanto, en el peor de los casos, la presentacin
de temporizacin refleja la ubicacin de flancos a 500 ps
del flanco real.
Velocidad de adquisicin de estado
La adquisicin de estado es sincrnica. Depende de un
disparo externo del DUT para controlar el tiempo de las
adquisiciones. La adquisicin de estado est diseada para
ayudar a los ingenieros a realizar un seguimiento del flujo
de datos y a programar la ejecucin de los procesadores
y buses. Los analizadores lgicos, como la serie TLA,
pueden ofrecer frecuencias de adquisicin de estado de
450 MHz, con una ventana de establecimiento/retencin de
625 ps en todos los canales para garantizar una captura
precisa de los datos.
Tenga en cuenta que esta frecuencia es relevante para las
transacciones de E/S y del bus que el analizador lgico
supervisar, aunque no para la velocidad del reloj interno
del DUT. Si bien la velocidad interna del dispositivo puede
estar en el rango de varios gigahertzios, su comunicacin
con los buses y otros dispositivos se encuentra en el
mismo orden que la frecuencia de adquisicin de estado
del analizador lgico.
Velocidad de adquisicin de MagniVu
La adquisicin de MagniVu es vlida para los modos de
adquisicin de estado o de temporizacin. La adquisicin
de MagniVu proporciona una mayor resolucin de muestreo
en todos los canales y acumula muestras adicionales
alrededor del punto de disparo, permitiendo detectar los
problemas difciles con mayor facilidad. Entre las
capacidades adicionales se incluyen velocidades de
muestra de MagniVu ajustables, posiciones de disparo
mviles y una accin de disparo adicional de MagniVu que
puede activarse independientemente del disparo principal.
Longitud de registro
La longitud de registro es otra especificacin clave del
analizador lgico. Un analizador lgico capaz de almacenar
ms tiempo en forma de datos de muestra resulta muy
til, ya que el sntoma que dispara una adquisicin puede
producirse bastante despus de su causa. Con una mayor
longitud de registro, a menudo es posible capturar y ver
ambos, lo que simplifica en gran medida el proceso de
solucin de errores.
Los analizadores lgicos de la serie TLA se pueden
configurar con varias longitudes de registro. Tambin es
posible concatenar la memoria desde cuatro canales hasta
el cudruple de la profundidad disponible. Si es necesario,
esto permite crear longitudes de registro muy grandes
u obtener las prestaciones de una longitud de registro
extensa a partir de una configuracin ms pequea y de
menor coste.
Manual
Modularidad y recuento de canales
El recuento de canales del analizador lgico es la base para
poder admitir buses amplios o varios puntos de prueba en
un sistema. El recuento de canales tambin es importante
cuando se vuelve a configurar la longitud de registro del
instrumento: para duplicar o cuadruplicar la longitud del
registro se necesitan dos o cuatro canales, respectivamente.
Con la tendencia actual hacia buses en serie de alta
velocidad, el recuento de canales es ms importante que
nunca. Por ejemplo, un paquete de datos en serie de 32
bits debe distribuirse no slo a uno, sino a 32 canales de
analizador lgico. En otras palabras, la transicin de
arquitecturas paralelas a en serie no ha influido en la
necesidad de un recuento de canales.
Los analizadores lgicos de la serie TLA independientes se
pueden configurar con un rango de recuentos de canales
muy amplio. Los analizadores lgicos de la serie TLA pueden
integrar distintos mdulos de adquisicin y conectarse entre s
para un recuento todava mayor de canales. En ltima
instancia, el sistema tiene cabida para miles de canales de
adquisicin. Una de las caractersticas especficas de la
serie TLA es su capacidad de mantener la sincronizacin
y unos tiempos muertos bajos de un mdulo a otro, aunque
estos se encuentren en unidades centrales distintas.
Disparo
La flexibilidad de disparo es la clave para una deteccin
rpida y eficaz de problemas pasados por alto. En un
analizador lgico, el disparo consiste en establecer las
condiciones que, cuando se cumplen, capturarn la
adquisicin y mostrarn el resultado. El hecho de que la
adquisicin se detenga indica que se ha producido la
condicin (a menos que se haya especificado una
excepcin de tiempo de espera).
Actualmente, la configuracin de disparo se ve simplificada
gracias al proceso de arrastrar y soltar el disparo para una
configuracin ms sencilla de los tipos de disparo
habituales. Estos disparos evitan que el usuario tenga que
elaborar unas complicadas configuraciones de disparo para
los problemas de temporizacin diarios. Como demostrarn
los ejemplos de aplicacin que se incluyen en este
documento, los analizadores lgicos tambin permiten una
mayor especializacin de estos disparos para poder
afrontar problemas ms complejos.
Asimismo, los analizadores lgicos proporcionan varios
estados de disparo, reconocedores de palabras,
reconocedores de transiciones/flancos, reconocedores de
rangos, temporizadores/contadores y un reconocedor de
instantneas, adems de los disparos de espurios
y establecimiento/retencin.
Sistema de sondas
A medida que las densidades y velocidades de los circuitos
aumentan significativamente con cada nueva generacin de
productos electrnicos, las soluciones de sistemas de
sondas constituyen un componente cada vez ms importante
de la solucin general del analizador lgico. Las sondas
deben proporcionar densidades de canal que se ajusten
a los dispositivos de destino y, al mismo tiempo, ofrecer
conexiones positivas y preservar la calidad de la seal.
La tecnologa D-Max integrada en las sondas de los
analizadores lgicos sin conectores de Tektronix constituye
un mtodo innovador para dar respuesta a estos desafos.
Proporcionan una conexin elctrica y mecnica fiable
y duradera entre la sonda y la tarjeta de circuito. Su
capacitancia de entrada lder del sector minimiza los
efectos de carga de las sondas en la seal. Estas sondas
de compresin estn diseadas para conectarse mediante
sencillas pastillas de acoplamiento en la placa de circuito, lo
que permite contar con ms espacio en la placa y minimiza
el coste y la complejidad del diseo.
Ejemplos de medida con
un analizador lgico
Los siguientes ejemplos ilustrarn varios problemas comunes
de medida y sus soluciones. Las explicaciones se han
simplificado para centrarse en algunas tcnicas bsicas de
adquisicin del analizador lgico y la presentacin de los datos
resultantes. Algunos pasos y detalles de configuracin se han
omitido para una mayor brevedad. Para obtener informacin
detallada adicional, consulte la documentacin del instrumento,
las notas de aplicacin y otra informacin tcnica.
Realizacin de medidas de temporizacin
de propsito general
Uno de los pasos esenciales del proceso de validacin es
garantizar la relacin de temporizacin adecuada entre las
seales crticas de un sistema digital. Se debe evaluar una
amplia serie de parmetros y seales de temporizacin:
retardo de propagacin, ancho del pulso, caractersticas de
establecimiento y retencin, desviacin de la seal, etc.
Manual
Para que las medidas de temporizacin resulten eficaces se
necesita una herramienta que pueda ofrecer una adquisicin
de alta resolucin en numerosos canales y, todo ello, con
una mnima carga en el circuito que se est midiendo. Esta
herramienta debe contar con capacidades de disparo flexibles
que ayuden al diseador a localizar rpidamente los problemas
definiendo condiciones de disparo explcitas. Adems, debe
ofrecer capacidades de presentacin y anlisis que
simplifiquen la interpretacin de registros extensos.
Normalmente, las medidas de temporizacin son necesarias
al validar un nuevo diseo digital. El ejemplo siguiente
muestra una medida de temporizacin en un circuito
basculante en D con las conexiones que se indican en la
Ilustracin 22. Este ejemplo est basado en las
caractersticas de los analizadores lgicos de la serie TLA de
Tektronix. En el mundo real, dicha medida puede adquirir
simultneamente cientos o incluso miles de seales. Sin
embargo, el principio es el mismo en cualquier caso y, como
muestra el ejemplo, las medidas de temporizacin son
rpidas, fciles de realizar y precisas.
Configure el disparo y el reloj. Este ejemplo utiliza la
configuracin IF Anything, THEN Trigger (si hay evento,
disparo) y el reloj interno (asncrono). Tambin existe un
paso de configuracin, que no entra en el mbito de
este documento, para aplicar un nombre a las seales
y asignarlas a canales especficos del analizador lgico.
Tras realizar una operacin Run (Ejecutar) para adquirir
los datos de la seal, utilice el control de posicin
horizontal o la barra de desplazamiento de memoria
para colocar los datos en pantalla de forma que el
indicador de disparo (marcado con una T) se vea.
Coloque el puntero del ratn en el flanco anterior de la
seal Q y haga clic con el botn derecho del ratn. Si
se selecciona Move cursor 1 here (Mover el cursor 1
aqu) en el men resultante, el cursor de la primera
medida se mover hasta esta ubicacin. A continuacin,
puede desplazar el cursor hasta el flanco anterior
utilizando la caracterstica de arrastrar y soltar. Esta
posicin se convierte en el comienzo de la franja de
tiempo que se medir.
Coloque el cursor del ratn en el flanco posterior de la
seal Q. Haga clic con el botn derecho y seleccione
Move cursor 2 here (Mover el cursor 2 aqu) para
colocar el cursor. De nuevo, puede utilizar la
caracterstica de desplazar el cursor para alinear de
forma ms sencilla el cursor con el flanco. Este ser el
final de la franja de tiempo que se va a medir.
Como el eje Y de la presentacin indica el tiempo, la
diferencia entre el Cursor 2 y el Cursor 1 es la medida del
tiempo. El resultado de 52 ns aparece en la lectura Delta
Time (Tiempo relativo) de la presentacin. La resolucin
de la medida depende de la velocidad de muestra; en la
Ilustracin 23 se trata de 2 ns, como indican las marcas
de la pista de muestra. Tenga en cuenta que la medida
Delta Time (Tiempo relativo) no puede tener una
resolucin superior a la velocidad de muestra.
Deteccin y presentacin de espurios
intermitentes
Los espurios son una molestia continua para los
diseadores de sistemas digitales. Estos pulsos errticos
son intermitentes y pueden ser irregulares en amplitud
Q
T
D
CK
Muestreo de A.L.
Ilustracin 22. Ejemplo de circuito basculante en D de velocidad
de muestra en relacin con la resolucin.
Ilustracin 23. Velocidad de muestra en relacin con la resolucin.
Manual
y duracin. Adems, son irremediablemente difciles de
detectar y capturar; sin embargo, los efectos de un espurio
impredecible pueden impedir el correcto funcionamiento de un
sistema. Por ejemplo, un elemento lgico puede malinterpretar
fcilmente un espurio como un pulso de reloj. Esto a su vez
puede enviar datos por el bus de forma prematura, creando
errores que se extendern por todo el sistema.
Hay una serie de condiciones que pueden provocar
espurios: diafona, acoplamiento inductivo, condiciones de
urgencia, violaciones de temporizacin, etc. Los espurios
pueden eludir las medidas de temporizacin de un
analizador lgico convencional porque su duracin es muy
breve. Un espurio puede fcilmente aparecer y luego
desvanecerse en el tiempo entre dos adquisiciones del
analizador lgico.
Slo un analizador lgico con una resolucin de
temporizacin muy elevada (es decir, una alta frecuencia de
reloj cuando se ejecuta en modo asncrono) tiene
capacidad para capturar estos eventos tan breves. En
teora, el analizador lgico resaltar automticamente el
espurio y el canal.
El siguiente ejemplo muestra el proceso de captura de un
espurio estrecho mediante un analizador lgico de la serie
TLA. De nuevo, el dispositivo bajo prueba (DUT) es un
circuito basculante en D con la temporizacin de la seal
que se muestra en la Ilustracin 24. La resolucin de
temporizacin de MagniVu se utiliza para detectar y mostrar
el espurio con gran precisin. Como el ejemplo no pretende
ser un tutorial detallado, algunos pasos se han omitido para
mantener la coherencia con los objetivos de este manual.
En las configuraciones de disparo anteriores, hemos
adquirido formas de onda en nuestra ventana de formas
de onda. La captura de un espurio resulta sencilla con
la caracterstica de arrastrar y soltar el disparo.
Haga clic en la ficha Trigger (Disparo) de la parte
inferior de la pantalla.
Haga clic en la opcin Glitch trigger (Disparo de espurio) de
la cesta, y arrastre y sultela en la forma de onda del bus.
Ahora, haga clic en el botn Run (Ejecutar). Los
espurios de dichos buses se capturarn y mostrarn en
la ventana de formas de onda.
La adquisicin se muestra en la Ilustracin 25. Esta pantalla
incluye varios canales que se han agregado (mediante otro
paso de configuracin que no requiere una segunda
adquisicin) para mostrar el contenido de la adquisicin de
alta resolucin de MagniVu.
En la traza de la forma de onda de salida Q, observe el
marcador rojo a la izquierda (anterior) del indicador de
disparo. Este indica que se ha detectado un espurio en
algn lugar del rea roja entre el punto de muestra de
disparo y el punto de muestra de datos inmediatamente
anterior. El canal de MagniVu de la salida Q (traza inferior)
revela exactamente dnde se ha producido el espurio. En
este punto, la temporizacin del espurio ya se conoce y se
pueden utilizar las caractersticas de ampliacin y cursor del
instrumento para medir el ancho del pulso.
Ilustracin 25. El disparo de espurio con adquisicin de MagniVu
ofrece una mayor resolucin.
Q
Espurio
D
CK
Muestreo de MagniVu
Ilustracin 24. Ejemplo de circuito basculante en D de adquisicin
de MagniVu con mayor resolucin.
Manual
Captura de violaciones de establecimiento
o de retencin
El tiempo de establecimiento se define como el tiempo
mnimo que los datos de entrada deben ser vlidos
y estables antes de que se produzca el pulso de la seal
del reloj (consulte la Ilustracin 26) que los modifica en el
dispositivo. El tiempo de retencin es el tiempo mnimo que
los datos deben ser vlidos y estables despus de que se
produzca el pulso de la seal del reloj.
Los fabricantes de dispositivos digitales especifican los
parmetros de establecimiento y retencin; por tanto, los
ingenieros deben esforzarse en garantizar que sus diseos
no incumplan las especificaciones. Sin embargo, la aplicacin
actual de niveles de tolerancia ms estrictos y el uso generalizado
de componentes ms rpidos que aumentan la fluidez de
salida convierten a las violaciones de establecimiento y retencin
en problemas cada vez ms habituales.
Estas violaciones pueden hacer que la salida del dispositivo
sea inestable (una condicin conocida como metaestabilidad),
adems de provocar espurios imprevistos y otros errores. Los
diseadores deben comprobar sus circuitos con atencin
para determinar si las violaciones de las normas de diseo
estn causando problemas de establecimiento y retencin.
En los ltimos aos, los requisitos de establecimiento y retencin
se han ajustado hasta el punto de que resulta difcil para la
mayora de los analizadores lgicos de propsito general
convencionales detectar y capturar los eventos. La nica
respuesta real es un analizador lgico con una resolucin
de muestreo inferior a un nanosegundo. Los analizadores
lgicos de la serie TLA de Tektronix con sus caractersticas
de adquisicin de MagniVu son una solucin demostrada
para las medidas de establecimiento y retencin.
El siguiente ejemplo presenta el modo de adquisicin sincrnica,
que se basa en una seal de reloj externo para controlar el
muestreo. Independientemente del modo, la caracterstica
de MagniVu est siempre disponible y proporciona un buffer
de datos de muestras de alta resolucin alrededor del punto
de disparo. De nuevo, el DUT es un circuito basculante en
D con una nica salida, pero el ejemplo es tambin vlido
para un dispositivo con cientos de salidas.
El uso de la adquisicin de MagniVu para ver los datos nos
permite la mxima resolucin de temporizacin posible.
Debe tenerse en cuenta que para este tutorial se ha creado
una ventana de datos que slo incluye adquisiciones de
MagniVu. Como el disparo se realizar en una violacin de
establecimiento o retencin, la caracterstica de MagniVu
puede ofrecer la mejor resolucin de temporizacin posible
alrededor de la violacin.
En este ejemplo, el DUT proporciona la seal de reloj externo
que controla las adquisiciones sincrnicas. La capacidad
de arrastrar y soltar el disparo del analizador lgico puede
utilizarse para crear un disparo de establecimiento y retencin.
Una caracterstica exclusiva de este modo es la capacidad
para definir fcilmente parmetros explcitos de violacin de
establecimiento y retencin, como se muestra en la
Ilustracin 27. Los mens secundarios adicionales de la
ventana de configuracin permiten delimitar otros aspectos
Q
D
CLK
exter-
na
Establecimiento
Muestreo de MagniVu
Retencin
Ilustracin 26. Relaciones de temporizacin de establecimiento
y retencin.
Ilustracin 27. Presentacin de eventos de establecimiento y retencin.
Ilustracin 28. La presentacin resultante muestra la temporizacin
de establecimiento y retencin.
Manual
de la definicin de la seal, como las condiciones lgicas
y los trminos de pulso negativo o positivo.
Cuando se ejecuta la prueba, el analizador lgico evala cada
flanco ascendente del reloj en busca de una violacin de
establecimiento o retencin. Supervisa millones de eventos
y captura slo los que no cumplen con los requisitos de
establecimiento o retencin. La presentacin resultante se
muestra en la Ilustracin 28. En este caso, el tiempo de
establecimiento es de 2,375 ns, bastante menor que el
lmite definido de 10 ns.
Utilizacin de almacenamiento de transicin
para aumentar la longitud de registro til
En ocasiones, el dispositivo bajo prueba emite una seal
que consta de grupos ocasionales de eventos separados
por largos intervalos de inactividad. Por ejemplo, algunos
tipos de sistemas de radar activan sus convertidores D/A
internos con salvas de datos muy separadas.
Esto puede suponer un problema cuando se utilizan tcnicas
convencionales de almacenamiento y adquisicin del analizador
lgico. El instrumento utiliza una ubicacin de memoria para
cada intervalo de muestras, un mtodo que se llama muy
adecuadamente Store All (almacenar todo). Esto puede llenar
rpidamente la memoria de adquisicin con datos que no varan,
lo que consume una valiosa capacidad necesaria para capturar
los datos que realmente interesan: las salvas de la seal activa.
Un mtodo conocido como Transitional Storage
(almacenamiento transitorio) soluciona el problema
almacenando los datos nicamente cuando se produce una
transicin. La Ilustracin 29 muestra este concepto. El analizador
lgico realiza las muestras slo si los datos cambian. Las salvas
que se encuentran a segundos, minutos, horas o incluso das
pueden capturarse con la resolucin completa de la memoria
de muestras principal del analizador lgico. El instrumento
espera durante los largos perodos sin actividad. Tenga en
cuenta que estos perodos prolongados de inactividad no
se ignoran. Por el contrario, se supervisan en todo momento,
pero no se registran.
El siguiente ejemplo muestra la solucin que ofrece un
analizador lgico de la serie TLA. La versatilidad del algoritmo
de disparo IF/THEN es de nuevo la mejor herramienta para
distinguir las circunstancias nicas que requieren un
almacenamiento transitorio.
La interfaz de la serie TLA proporciona un men desplegable
de almacenamiento para seleccionar Transitional (transitorio)
en vez de All (todos) los eventos. De esta forma aparece un
men en el que se puede invocar el modo IF Channel
Burst=High THEN Trigger.
La realizacin de la prueba con estas condiciones especificadas
producir una presentacin en pantalla parecida a la que se
muestra en la Ilustracin 30. Aqu, la salva contiene nueve grupos
de ocho pulsos, de 22 ns de ancho, con los grupos separados
por intervalos de inactividad de 428 ns. El almacenamiento
transitorio ha permitido que el instrumento capture los diecisis
grupos de salvas, incluidos los siete restantes que no aparecen
en pantalla, con un consumo de tan slo 256 K de longitud
de registro. La ventana de tiempo representa al menos
3,8 milisegundos de tiempo de adquisicin, donde los
grupos se repiten cada 2 milisegundos.
Por contra, el modo de adquisicin Store All (almacenar todo)
habra capturado slo uno de los grupos de salvas utilizando
dos mil veces el espacio de memoria de 512 K. La memoria
asignada se llenar aproximadamente en1 microsegundo, con
gran parte del espacio ocupado por ciclos inactivos en blanco.
El almacenamiento transitorio permitir registrar mucha ms
informacin til cada vez que ejecute una adquisicin.
Salva de
datos
Muestra almacenada en transicin
Ilustracin 29. La tcnica de almacenamiento transitorio slo
almacena datos cuando se producen las
transiciones.
Ilustracin 30. Presentacin que muestra la tcnica de
almacenamiento transitorio.
Manual
Ejemplos de aplicacin
de analizadores lgicos
La seccin siguiente proporciona una descripcin de los
requisitos de medida y las consideraciones que necesitan
ser tenidas en cuenta en algunas de las aplicaciones ms
importantes de hoy en da.
FPGA
El espectacular crecimiento en el tamao y la complejidad del
diseo hace del proceso de verificacin del diseo un cuello
de botella crtico para los sistemas actuales basados en
FPGAs. El acceso limitado a las seales internas, los paquetes
avanzados de FPGA y el ruido elctrico de la tarjeta del circuito
impreso (PCB) contribuyen en su conjunto a que la eliminacin
de errores y la verificacin sean los procesos ms difciles
del ciclo de diseo. Se puede fcilmente pasar ms del 50%
de la duracin del ciclo de diseo depurando y verificando un
diseo. Para ayudar en el proceso de depuracin y verificacin
del diseo, se requieren nuevas herramientas que ayuden
a eliminar los errores de diseo mientras la FPGA funciona
a plena velocidad.
Una de las decisiones ms importantes que es necesario
tomar en la fase de diseo es la eleccin de la metodologa
a utilizar para depurar la FPGA. Idealmente, se desea una
metodologa que sea transportable a todos los diseos de
FPGAs, que proporcione penetracin en el funcionamiento de
la FPGA y en el funcionamiento del sistema y que proporcione
la capacidad para establecer y analizar claramente los problemas
difciles. Hay realmente dos metodologas bsicas de depuracin
de FPGAs cuando estn ya instaladas en el circuito: la primera
consiste en la utilizacin de un analizador lgico embebido
y la segunda en la utilizacin de un analizador lgico externo.
La seleccin de la metodologa a utilizar depende de las
necesidades de depuracin del proyecto.
Cada uno de los vendedores de FPGAs ofrece un ncleo
de analizador lgico embebido. Estos bloques de propiedad
intelectual se insertan en el diseo de la FPGA y proporcionan
capacidades de disparo y almacenaje. Es importante observar
que los propios recursos de la lgica de la FPGA se utilizan
para el circuito de disparo y que los bloques de memoria
de la FPGA se utilizan para implementar la capacidad del
almacenaje. Tpicamente, se utiliza un JTAG para configurar
el funcionamiento del ncleo y luego se utiliza para pasar
los datos capturados a un PC para su visualizacin. Debido
a que el analizador lgico embebido utiliza recursos internos
de la FPGA su uso es ms frecuente con FPGAs ms grandes
que pueden absorber mejor el consumo de recursos por
parte del ncleo. Como en cualquier metodologa de
depuracin, el analizador lgico embebido tiene algunos
compromisos que se deben conocer.
Debido a las limitaciones de la metodologa del analizador
lgico embebido, muchos diseadores de FPGAs han
adoptado una metodologa que utiliza la flexibilidad de la
FPGA y la potencia de un analizador lgico externo tal como
la serie TLA de analizadores lgicos. Con esta metodologa,
las seales internas de inters se encaminan a los terminales
de las FPGAs los cuales se conectan a su vez a un analizador
lgico externo. Este mtodo ofrece una memoria de gran
profundidad que es til para depurar problemas all donde el
sntoma y la causa real estn separados por una gran cantidad
de tiempo. Tambin ofrece la capacidad de correlacionar las
seales internas de la FPGA con otras actividades en el
sistema. Como en el caso de la metodologa del analizador
lgico embebido, aqu tambin hay compromisos a tener
en consideracin.
Ventajas Desventajas
Se requieren algunos El tamao del ncleo limita su uso
terminales ms a FPGAs de gran tamao
Sistema de sonda simple Se debe dedicar parte de la memoria
interna
Relativamente baratos Solo admite el anlisis en el modo
de estados
Velocidad limitada
No hay correlacin entre la traza
de datos de la FPGA y otras trazas
del sistema
Ventajas Desventajas
Usa pocos o ninguno Requiere ms terminales en la FPGA
de los recursos de
la lgica de la FPGA
No usa memoria Un cambio de los puntos donde se
de la FPGA aplican las sondas puede requerir
una recompilacin del diseo
Funciona en los modos Requiere una actualizacin manual
de estados y tiempos de los nombres de las seales
en el analizador lgico
Existe correlacin entre las
seales de la FPGA y otras
seales del sistema
Manual
Manual
Ambas metodologas pueden ser tiles dependiendo de la
situacin. El reto es determinar cual es el mtodo apropiado
para el diseo. Se deben hacer las preguntas siguientes.
Cules son los problemas que se pueden anticipar? Si se
piensa que sern problemas funcionales aislados dentro de
la FPGA, el uso de un analizador lgico embebido puede ser
toda la capacidad de depuracin que se necesita. Si, sin
embargo, se prevn problemas mayores de depuracin
que pueden requerir la verificacin de los mrgenes de
sincronizacin, la correlacin de la actividad interna de la
FPGA con otra actividad de la tarjeta o una capacidad de
disparo ms potente para aislar el problema, el uso de un
analizador lgico externo es ms adecuado para las
necesidades de depuracin.
Vamos ahora a echar un vistazo con ms detalle al mtodo
basado en el analizador lgico externo. Esencialmente, este
mtodo hace uso del P en la FPGA para reprogramar el
dispositivo como sea necesario para encaminar las seales
internas de inters a lo que tpicamente es una pequea
cantidad de terminales. Esto es un mtodo muy til pero
tiene limitaciones. Cada vez que se necesita mirar a un
conjunto diferente de seales internas puede ser necesario
cambiar de diseo (bien al nivel de RTL o usando una
herramienta de edicin de FPGAs) para encaminar el conjunto
de seales deseado a los terminales de depuracin. Esto es
no slo consume una gran cantidad de tiempo sino que
requiere una recompilacin del diseo que llevar an ms
tiempo y potencialmente puede llegar a ocultar el problema
al cambiar la sincronizacin del diseo. Hay una pequea
cantidad de terminales de depuracin y la relacin 1:1 entre
las seales internas y los terminales de depuracin limitan
la visibilidad y la capacidad de penetracin en el diseo.
Para superar estas limitaciones, se ha creado un nuevo
mtodo de depuracin de FPGAs que proporciona todas
las ventajas del mtodo basado en el analizador lgico
externo al mismo tiempo que se eliminan sus limitaciones
primarias. El paquete de software First Silicon Solutions
FPGAView, cuando se utiliza con un analizador lgico de la
serie TLA de Tektronix, proporciona una solucin completa
para depurar las FPGAs de Altera o Xilinx y el hardware
circundante.
La combinacin de FPGAView y un analizador lgico TLA
permite ver lo que ocurre dentro del diseo de la FPGA y la
correlacin de las seales internas con las seales externas.
Se consigue aumentar la productividad porque el proceso
de recompilacin del diseo, que consume mucho tiempo,
es eliminado y se dispone de acceso a las seales internas
mltiples por los terminales de depuracin. Adems, FPGAView
puede manejar ncleos mltiples de prueba en un solo
dispositivo. Esto es til cuando se necesita supervisar
diferentes dominios de reloj dentro de la FPGA. Se pueden
manejar tambin varias FPGAs en una cadena de JTAG.
Altera Quartus

II v5.1Interfaz
de analizador lgico
J TAG
USB-Blaster
ByteBlaster
Sonda del analizador
lgico de Tektronix
Software
FPGAView
FPGA
Tarjeta de PC
Figura 31. Implementacin tpica de FPGAView
Manual
La solucin completa consiste de cuatro partes. En este ejemplo
la primera pieza es un multiplexor de prueba proporcionado
por Altera en Quartus
II software suite. Este multiplexor de

prueba est disponible para todos los usuarios del software
Quartus II. La segunda parte es el paquete de software
FPGAView que permite que el usuario controle Test Mux
e integre las otras piezas en una potente herramienta. La
tercera parte es un analizador lgico de la serie TLA para
adquirir y analizar los datos. Y la parte final es un cable de
programacin JTAG usado para controlar el multiplexor de
prueba dentro de la FPGA.
La combinacin de FPGAView y un analizador lgico de la
serie TLA puede simplificar muchas de las tareas de depuracin
con respecto a las FPGAs. Este conjunto de herramientas
permite que se pueda mirar dentro del diseo de la FPGA
y que se puedan correlacionar las seales internas con las
seales externas. Se consigue aumentar la productividad
porque el proceso de recompilacin del diseo, que consume
mucho tiempo, es eliminado y se dispone de acceso a mltiples
seales internas por terminal.
Memoria
La memoria dinmica de acceso aleatorio ha evolucionado
a lo largo del tiempo impulsada por los requisitos para la
obtencin de memorias ms rpidas, grandes, de bajo
consumo y de tamaos fsicos ms pequeos. El primer
paso fue la memoria RAM dinmica-sncrona que proporcion
un flanco de reloj para sincronizar su funcionamiento con el
controlador de la memoria. Entonces la velocidad de datos
aument usando la velocidad de datos doble (DDR: Double
Data Rate). Y entonces para superar los problemas de la
integridad de la seal, las memorias DDR2 SDRAM y DDR3
SDRAM evolucionaron para ir ms rpidamente.
Para guardar el paso con los ciclos ms complejos y ms
cortos del diseo, los diseadores de memoria necesitan
varios equipos distintos de prueba para comprobar el diseo.
Si se est examinado la impedancia y la longitud de las pistas
se debern utilizar osciloscopios de muestreo. Si se estn
examinando las seales elctricas, desde la potencia a la
integridad de seal de los relojes, jitter, etc., se debern utilizar
osciloscopios de fsforo digital. Si se estn examinando las
secuencias de comandos y los protocolos, se debern utilizar
analizadores lgicos para verificar el funcionamiento del
sistema de memoria.
Figura 32. Nexus Technology, Inc. NEX-FBD-NEXVu ventana de listado con datos de lectura de una DDR2 SDRAM de patrn alternado
5555,5555,5555,5555 hex y AAAA,AAAA,AAAA,AAAA hex.
Manual
Integridad de la seal
La observacin y la medida directa de la seal es la nica
manera de descubrir las causas de los problemas relacionados
con la integridad de la seal. Como siempre, la eleccin de
la herramienta correcta simplificar el trabajo. En la mayor
parte de los casos, las medidas de la integridad de seal se
realizan por los mismos instrumentos familiares encontrados
en casi cualquier laboratorio electrnico de ingeniera. Entre
estos instrumentos se incluyen el analizador lgico y el
osciloscopio. Las sondas y el software completan el conjunto
bsico de herramientas. Adems, las fuentes de la seal se
pueden utilizar para proporcionar seales distorsionadas
para las pruebas de tolerancia y la evaluacin de nuevos
dispositivos y sistemas.
Cuando llega el momento de ajustar un sistema de medida
de la integridad de la seal las consideraciones principales
se centran alrededor de:
La utilizacin de sondas
El ancho de banda y la respuesta al escaln
La resolucin temporal
La longitud del registro
El disparo
La integracin
Cuando se buscan problemas de integridad en seales
digitales, especialmente en sistemas complejos con numerosos
buses, entradas y salidas, el analizador lgico es la primera
lnea de defensa. Este instrumento dispone de un elevado
nmero de canales, una memoria profunda y un disparo
avanzado para adquirir la informacin digital de muchos
puntos de prueba y despus visualizarla de una forma
coherente. Puesto que es un instrumento verdaderamente
digital, el analizador lgico detecta los cruces del umbral de
tensin por las seales que est supervisando y despus
muestra las seales lgicas segn son vistas por los chips
lgicos (ICs). Las formas de onda de la sincronizacin resultante
son claras y comprensibles, y se pueden comparar fcilmente
con datos previstos para confirmar que las cosas estn
funcionando correctamente. Estas formas de onda
sincronizadas son generalmente el punto de partida en la
bsqueda de los problemas de la seal que comprometen
la integridad de seal. Estos resultados se pueden interpretar
ms a fondo con la ayuda de los desensambladores y de
los paquetes de soporte de los procesadores, que permiten
que el analizador lgico correlacione el trazado del software
en tiempo real (correlacionado con el cdigo de fuente) con
la actividad del hardware de bajo nivel.
Figura 33. Un analizador lgico mostrando las formas de onda
sincronizadas y la correlacin de la traza del software
en tiempo real con el cdigo fuente.
Manual
Sin embargo, no todos los analizadores lgicos estn
cualificados para el anlisis de la integridad de seal a las
extremas (y en aumento!) velocidades de transmisin de
los datos de hoy en da. En la figura 34 se proporcionan
algunas directrices sobre las especificaciones que deben
ser consideradas al elegir un analizador lgico para la
localizacin avanzada de averas relativas a la integridad de
seal. Si todo el nfasis se realiza sobre la velocidad de
muestreo y la capacidad de la memoria, es fcil pasar por
alto las caractersticas de disparo de un analizador lgico.
El disparo an es a menudo la manera ms rpida de
encontrar un problema. Despus de todo, si un analizador
lgico dispara sobre un error, es una prueba de que ha
ocurrido un error. La mayora de los analizadores lgicos
actuales incluyen disparos que detectan ciertos eventos
que comprometen la integridad de la seal, tales como
espurios y violaciones de los tiempos de establecimiento
y retencin. Estas condiciones de disparo se pueden aplicar
a travs de centenares de canales a la vez es un punto
fuerte exclusivo de los analizadores lgicos.
Conformidad, validacin y depuracin
de datos serie
El nivel de estandarizacin de los sistemas, subsistemas
y componentes en las industrias de ordenadores
y comunicaciones son los fundamentos sobre los que
se cimienta la tecnologa. El rango de ejemplos de
estandarizacin va desde la sealizacin de LVDS al bus
serie PCI Express diseado para sustituir a la tecnologa
actual PCI. Los estndares invaden las arquitecturas de
semiconductores, los protocolos de red y los componentes
de software. Y para cada estndar, deben existir medios
que permitan la certificacin, en otras palabras, alguna
forma de probar que los productos nuevos estn de
acuerdo con el estndar.
Las arquitecturas de datos serie y los estndares que las
soportan, son la frontera siguiente en el diseo digital. Los
comits de la industria anuncian nuevos estndares serie
o refinamientos en casi cada evento importante de la industria.
De forma inevitable, los estndares que emergen requieren
procedimientos de certificacin que implican al equipo
electrnico de prueba y medida: osciloscopios, analizadores
lgicos, fuentes de la seal y otros ms. Hay una necesidad
urgente por parte del experto de soluciones eficientes que
pueden acelerar el proceso de conformidad, validacin
y depuracin de los datos serie.
Figura 34. El anlisis de la integridad de la seal requiere la utilizacin de alguno de los analizadores lgicos de ms altas prestaciones disponible.
Caracterstica del analizador lgico Capacidad recomendada para el anlisis de SI
Integracin de un osciloscopio Trazas del osciloscopio alineadas con respecto al tiempo en la pantalla del osciloscopio,
diagramas de ojo multi-canal
Sistema de sondas Adquisicin simultnea en tiempos, estados y analgica mediante la misma sonda
del analizador lgico
Resolucin de las medidas temporales 125 ps (con un reloj de 8 GHz)
Velocidad de la adquisicin en estados Hasta 800 MHz
Disparo Hasta 256 M
Longitud de la memoria de adquisicin Flanco (edge), espurios (glitch), lgico, establecimiento/retencin (Setup/Hold), etc.
Anlisis Paquetes para soporte de procesadores y desensambladores
Visualizacin en la pantalla Pantallas mltiples
Manual
Osciloscopios de tiempo real
La herramienta seleccionada para medir la parte elctrica
de la capa fsica es un osciloscopio de tiempo real (RT) de
altas prestaciones. Los osciloscopios avanzados de memoria
digital (DSO) y los osciloscopios de fsforo digital (DPO)
pueden capturar datos continuos y contiguos en el rango
de varios gigabits con muy buena integridad de seal. El
osciloscopio de tiempo real (RT) es una plataforma ideal
para la validacin de datos serie, depuracin y pruebas
de conformidad.
Osciloscopios de muestreo
Los nicos osciloscopios disponibles para observar la
integridad de las seales analgicas de muy alta velocidad
son los osciloscopios de muestreo de alta velocidad. Con
un ancho de banda mximo de algo ms de 70GHz, estos
instrumentos son capaces de analizar seales pticas
y elctricas de 40GBp/s y ms all. Una extensa librera de
medidas incorporadas hace que estos sean la herramienta
ideal para las pruebas de caracterizacin y conformidad de
componentes, sistemas transmisores/receptores y sistemas
de muy de alta velocidad de transmisin.
Analizadores lgicos
La herramienta preferida para medir los datos serie que siguen
un formato (en comparacin con caractersticas individuales
de los pulsos) es el analizador lgico. A diferencia de los
osciloscopios de tiempo real (RT) y de muestreo, los
analizadores lgicos capturan datos binarios y los expresan
en trminos de relojes, ciclos y transiciones de flancos. El
propsito del analizador lgico es el de simplificar la adquisicin
y el anlisis de los aspectos puramente digitales de las
transmisiones serie. Para llevar a buen fin la misin de
depuracin de los datos serie, se deben proporcionar unas
caractersticas consistentes con las necesidades de los buses
de alta velocidad: alta velocidad de muestreo, memoria
profunda, disparo y sincronizacin flexibles y otras ms.
Fuentes de seal
Dentro de las buenas prcticas de la ingeniera de alta velocidad
se incluyen la prueba de diseos bajo condiciones del mundo
real. La herramienta correcta para reproducir de la forma
ms parecida posible esas condiciones es una fuente
programable de seal. La generacin de seales de prueba
a las velocidades de datos de hoy en da requiere la utilizacin
de generadores de datos sincronizados (DTG) y de generadores
arbitrarios de formas de onda (AWG). Sin estos instrumentos
no habra manera de probar y validar los nuevos diseos de
la capa fsica. Muchas fuentes de la seal pueden replicar
de nuevo las seales que se han capturado con un osciloscopio.
Las seales pueden actuar como seales de referencia
o se pueden modificar para realizar pruebas de tolerancia
al dispositivo bajo prueba.
Resumen
Los analizadores lgicos son una herramienta indispensable
para la solucin de problemas digitales en todos los niveles.
A medida que los dispositivos digitales son ms rpidos
y complejos, las soluciones de analizadores lgicos deben
responder a esta nueva situacin. Deben proporcionar la
velocidad necesaria para capturar las anomalas ms rpidas
y fugaces de un diseo, la capacidad para ver todos los
canales con una alta resolucin y la profundidad de memoria
para desentraar las relaciones entre decenas, centenas
o incluso miles de seales en varios ciclos.
Este documento hace referencia a la serie TLA de analizadores
lgicos de Tektronix que cumple con estos requisitos. Hemos
observado que variables como el disparo (y la forma en que
se utiliza), el muestreo de alta resolucin e innovaciones como
la adquisicin simultnea de temporizacin y estado mediante
una sola sonda pueden contribuir a mejorar la eficacia del
analizador lgico.
El disparo puede confirmar un problema que se sospecha
o descubrir un error completamente inesperado. Y, an ms
importante, el disparo ofrece un conjunto de diversas
herramientas para comprobar hiptesis acerca de fallos
o localizar eventos intermitentes. El rango de opciones de
disparo del analizador lgico es una muestra de su versatilidad.
Arquitecturas de muestreo de alta resolucin como la
adquisicin de MagniVu pueden revelar detalles no detectados
acerca de los comportamientos de la seal. Un muestreo
ms frecuente, como el que realiza la adquisicin de MagniVu,
aumenta las posibilidades de detectar cambios, intencionados
o no, en los datos binarios.
La adquisicin con una nica sonda de los datos de temporizacin
de alta velocidad y de estado es un concepto actual. Cada
da ms, esta capacidad ayuda a los diseadores a recopilar
volmenes de datos acerca de sus dispositivos y, luego, a analizar
la relacin entre el diagrama de temporizacin y la actividad
de estado de nivel superior. Otras vistas relacionadas entre
s tambin facilitan el proceso de solucin de problemas: formas
de ondas analgicas y digitales relacionadas en el tiempo,
vistas de protocolos y listas, diagramas de ojo multicanal,
trazas de software en tiempo real, histogramas, etc.
Una serie de caractersticas adicionales como la memoria
de adquisicin, las caractersticas de presentacin y anlisis,
la integracin con herramientas analgicas e incluso la
modularidad hacen de los analizadores lgicos la herramienta
perfecta para encontrar con rapidez problemas digitales
y poder cumplir con los programas de diseo ms exigentes.
La serie TLA de analizadores lgicos lder del sector cumple
con los desafos actuales y continuar afrontando los nuevos
desafos a medida que surjan.
27
Manual
Glosario
(Para una referencia rpida, el glosario tambin incluye
trminos habituales no utilizados en este documento).
Adquisicin de MagniVu: una arquitectura de muestreo de
alta resolucin exclusiva que constituye la base de todos los
analizadores lgicos de la serie TLA. La adquisicin de
MagniVu ofrece un registro dinmico de la actividad de la
seal alrededor del punto de disparo con una mayor
resolucin.
Amplitud: la magnitud de una cantidad o fuerza de una seal.
En electrnica, este trmino suele hacer referencia al voltaje
o la potencia.
Anlisis de iVerify: ofrece pruebas de validacin y anlisis
de bus multicanal mediante diagramas de ojo generados por
osciloscopio.
Analizador lgico: un instrumento utilizado para mostrar los
estados lgicos de muchas seales digitales en un perodo de
tiempo. Analiza los datos digitales y puede representarlos
como ejecucin de software en tiempo real, valores de flujo de
datos, secuencias de estado, etc.
Ancho de banda: un rango de frecuencias, normalmente
limitado por 3 dB.
Ancho de pulso: el tiempo que invierte un pulso para
desplazarse de abajo a arriba y de nuevo a abajo; suele
medirse al 50% del voltaje completo.
Asncrono: no sincronizado. El analizador lgico ejecuta su
propio reloj de muestreo. Dicho reloj es independiente y no
tiene en cuenta la temporizacin del dispositivo bajo prueba.
Esta es la base del modo de adquisicin de temporizacin.
Atenuacin: una disminucin en la amplitud de la seal
durante su transmisin de un punto a otro.
Bit: un carcter binario cuyo estado puede ser 1 0.
Byte: una unidad de informacin digital que consta
normalmente de ocho bits.
Carga: una interaccin imprevista de la sonda y el
osciloscopio con el circuito que se est probando y que
distorsiona la seal.
Circuito integrado (IC): un conjunto de componentes y sus
interconexiones grabados o impresos en un chip.
Conjunto de herramientas iLink: consta de varios
elementos diseados para acelerar la deteccin de problemas
y su solucin, entre los que se incluyen: el multiplexado de
iCapture, la presentacin de iView y el anlisis de iVerify.
Convertidor anlogico/digital (ADC): un componente
electrnico digital que convierte la seal elctrica en valores
binarios discretos.
Cursor: un marcador en pantalla que se puede alinear con
una forma de onda para realizar medidas ms precisas.
Decibelio (dB): unidad que expresa la diferencia relativa de
potencia entre dos seales elctricas; es igual a diez veces el
logaritmo comn de la relacin de los dos niveles.
Manual
Digitalizar: el proceso por el que un convertidor
analgico/digital (ADC) del sistema horizontal realiza la
muestra de una seal en puntos discretos en el tiempo
y convierte el voltaje de la seal de dichos puntos en valores
digitales llamados puntos de muestra.
Disparo: el circuito que hace referencia a un barrido horizontal
en un instrumento de medida. Retencin del disparo: un
control que permite ajustar el perodo de tiempo durante el
cual el instrumento no puede realizar otro disparo tras un
disparo vlido.
Dispositivo bajo prueba (DUT): el dispositivo que se est
probando con el instrumento de medida.
Entrada/Salida (E/S): normalmente, hace referencia a las
seales que entran o salen de un dispositivo.
Espurio: un error intermitente de alta velocidad en un circuito.
Frecuencia: el nmero de veces que se repite una seal en
un segundo; se mide en Hertzios (ciclos por segundo). La
frecuencia es igual a 1/perodo.
Fuente de seal: un dispositivo de prueba utilizado para
inyectar una seal en una entrada de circuito; a continuacin,
un instrumento de medida lee la salida del circuito. Tambin
se conoce como generador de seal.
Gigabit (Gb): mil millones de bits de informacin.
Gigabyte (GB): mil millones de bytes de informacin.
Gigahertzio (GHz): mil millones de Hertzios.
Gigatransferencias por segundo (GT/s): mil millones de
transferencias de datos por segundo. Hertzio (Hz) un ciclo por
segundo. Se considera la unidad de frecuencia.
Integridad de la seal: la reconstruccin precisa de una
seal; est determinada por el sistema, las prestaciones de un
instrumento y la sonda utilizada para adquirir la seal.
Kilohertzios (kHz): mil Hertzios.
Longitud de registro: el nmero de puntos de forma de onda
utilizados para crear el registro de una seal.
Matriz de retcula de bolas (BGA): un paquete de circuitos
integrados.
Matriz de retcula de bolas fina (FBGA): un paquete de
circuitos integrados.
Megabit (Mb): un milln de bits de informacin.
Megabyte (MB): un milln de bytes de informacin.
Megahertzio (MHz): un milln de Hertzios.
Megamuestras por segundo (MS/s): una unidad de
velocidad de muestra equivalente a un milln de muestras por
segundo.
Megatransferencias por segundo (MT/s): un milln de
transferencias de datos por segundo.
Memoria de acceso aleatorio (RAM): un dispositivo de
memoria en el que se puede acceder a la informacin en
cualquier orden.
Memoria dinmica de acceso aleatorio (DRAM): un tipo de
memoria que almacena cada bit de datos en un condensador
independiente.
Manual
Manual
Microsegundo (s): una unidad de tiempo equivalente
a 0,000001 segundos.
Milisegundo (ms): una unidad de tiempo equivalente a 0,001
segundos.
Mdulo de memoria doble en lnea (DIMM): el esquema de
paquetes ms utilizado para los componentes de memoria
dinmica de acceso aleatorio en plataformas de PC.
Mdulo de memoria doble en lnea con buffer completo
(FB-DIMM): una arquitectura de memoria de ltima
generacin.
Muestreo: la conversin de una parte de la seal de entrada
en un nmero de valores elctricos discretos para su
almacenamiento, procesamiento o presentacin por medio
de un instrumento.
Multiplexado de iCapture: proporciona adquisicin digital
y analgica simultnea a travs de una sola sonda de
analizador lgico.
Nanosegundo (ns): una unidad de tiempo equivalente
a 0,000000001 segundos.
Nivel de disparo: el nivel de voltaje que una seal de origen
de disparo debe alcanzar antes de que el circuito de disparo
inicie un barrido.
Onda: el trmino genrico para designar un patrn que se
repite en un perodo de tiempo. Los tipos ms habituales son:
sinusoidal, cuadrada, rectangular, en diente de sierra,
triangular, de paso, pulsatoria, peridica, no peridica,
sincrnica y asncrona.
Osciloscopio de almacenamiento digital (DSO): un
osciloscopio digital que adquiere seales mediante un
muestreo digital (utilizando un convertidor analgico/digital).
Utiliza una arquitectura de procesamiento en serie para
controlar la adquisicin, la interfaz de usuario y la
presentacin entramada.
Osciloscopio de muestreo digital: un tipo de osciloscopio
digital que utiliza un mtodo de muestreo en tiempo
equivalente para capturar y presentar muestras de una seal;
es perfecto para capturar de forma precisa las seales cuyos
componentes de frecuencia son mucho mayores que la
velocidad de muestra del osciloscopio.
Osciloscopio digital de fsforo (DPO): un tipo de
osciloscopio digital que modela de forma precisa las
caractersticas de presentacin de un osciloscopio analgico,
al tiempo que ofrece las ventajas de un osciloscopio digital
tradicional (almacenamiento de forma de onda, medidas
automatizadas, etc.). El DPO utiliza una arquitectura de
procesamiento paralelo para enviar la seal a una pantalla de
barrido y ofrecer una visualizacin con graduacin de
intensidad de las caractersticas de la seal en tiempo real.
El DPO muestra las seales en tres dimensiones: amplitud,
tiempo y distribucin de la amplitud en un perodo de tiempo.
Osciloscopio digital: un tipo de osciloscopio que utiliza un
convertidor analgico/digital (ADC) para convertir el voltaje
medido en informacin digital. Existen tres tipos:
osciloscopios de almacenamiento digital, de fsforo digital y
de muestreo digital.
Osciloscopio: un instrumento utilizado para mostrar los
cambios de voltaje en un perodo de tiempo. La palabra
osciloscopio procede del verbo oscilar, ya que los
osciloscopios se utilizan a menudo para medir voltajes
oscilantes.
Perodo: el tiempo que invierte una onda en completar un
ciclo. El perodo es igual a 1/frecuencia.
Placa base: la tarjeta de circuito principal del sistema de un
ordenador. Contiene, entre otros elementos, el procesador, el
controlador de memoria, el controlador del disco duro y el
chipset de interfaz de entrada/salida. Otras tarjetas de
circuito, como los mdulos DIMM y las tarjetas de vdeo, se
conectan a la placa base.
Presentacin de iView: muestra medidas de osciloscopio
y analizador lgico integradas y relacionadas en el tiempo en
la pantalla del analizador lgico.
Pulso: una forma de onda habitual que tiene un flanco
ascendente rpido, un ancho y un flanco descendente rpido.
Punto de muestra: los datos sin procesar de un ADC
utilizados para calcular los puntos de forma de onda.
Rampas: las transiciones entre niveles de voltaje de ondas
sinusoidales que cambian a una velocidad constante.
Ruido: voltaje o corriente no deseados en un circuito
elctrico.
Seal analgica: una seal con voltajes constantemente
variables.
Seal digital: una seal cuyas muestras de voltaje se
representan mediante nmeros binarios discretos.
Sincrnico: sincronizado. Se considera que la adquisicin de
estado de un analizador lgico es sincrnica porque recibe la
informacin de su reloj de una fuente externa, normalmente el
DUT. Por ello, los dos sistemas estn sincronizados y el
analizador lgico slo adquiere los datos cuando el DUT est
activo. Esto se conoce como el modo de adquisicin de estado.
Sistema bajo prueba (SUT): el sistema que se est
probando con el instrumento de medida.
Sonda: un dispositivo de entrada del instrumento de medida,
normalmente con un extremo de metal en punta para
establecer contacto elctrico con un elemento del circuito, un
cable para conectar con la referencia a tierra del circuito y un
cable flexible para transmitir la seal y tierra al instrumento.
Tiempo de subida: el tiempo invertido por el flanco anterior
de un pulso para subir desde su valor bajo a su valor alto;
suele medirse entre el 10% y el 90%.
Tren de pulsos: una serie de pulsos que viajan juntos.
Velocidad de muestra: la frecuencia con que un instrumento
de medida digital toma una muestra de la seal; se especifica
en muestras por segundo (S/s).
Visualizacin del predisparo: la capacidad de un
instrumento digital para capturar el comportamiento de una
seal antes de un evento de disparo. Determina la longitud de
la seal visible anterior y posterior a un punto de disparo.
Voltaje: la diferencia de potencial elctrico, expresada en
voltios, entre dos puntos.
Voltio (V): la unidad de diferencia de potencial elctrico.
Manual
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Hong Kong (852) 2585-6688
Italia +39 (02) 25086 1
Japn 81 (3) 6714-3010
La India (91) 80-22275577
Los Balcanes, Israel, Sudfrica y otros pases ISE +41 52 675 3777
Luxemburgo +44 (0) 1344 392400
Mxico, Centroamrica y pases del Caribe 52 (55) 5424700
Noruega 800 16098
Oriente Medio, Asia y norte de frica +41 52 675 3777
Polonia +41 52 675 3777
Portugal 80 08 12370
Reino Unido e Irlanda +44 (0) 1344 392400
Repblica de Corea 82 (2) 528-5299
Repblica Popular China 86 (10) 6235 1230
Rusia, CEI y pases blticos +7 (495) 7484900
Sudfrica +27 11 254 8360
Suecia 020 08 80371
Suiza +41 52 675 3777
Taiwn 886 (2) 2722-9622
Si desea obtener informacin sobre otras zonas,
pngase en contacto con Tektronix, Inc. en el 1 (503) 627-7111
ltima actualizacin: 15 de septiembre de 2006

6.manual Analizador Logico Tektronix

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