Difraccion de rayos X en

polvo
Grupo: 1mm2
Docente: Macaria Hernández Chávez.
Materia: Estructura y propiedades de los materiales.
Alumno: Nahomi Abigail Aguirre Del Valle.
Fecha: 16 de abril del 2024.
 01 Difracción de rayos X
Condiciones :
• Interferencia constructiva
• Centros de dispersión regularmente
distribuidos en los planos.

Aplicaciones:
• Análisis mineralógico y de texturas
• Determinación de tensiones
residuales.
• Determinación de estructuras
cristalinas

Rayos X: 0.01nm-10 nm
 Ley de bragg
1.- Se conoce la 4.- Tipo de red cristalina:
longitud de onda:
2 𝜆2
𝑛𝜆 𝑠𝑒𝑛 𝜃= 2
(h2 + 𝑘2 + 𝑙2)
𝑑= 4 𝑎 0❑
2 𝑠𝑒𝑛 𝜃

5.- Relación de 2 picos:

2.- Hay más de un
plano presente: 2
𝑆𝑒𝑛 𝜃 2
2 2 2
( h +𝑘 +𝑙 )2
2
= 2 2 2
𝑛𝜆 𝑆𝑒𝑛 𝜃 1 (h +𝑘 +𝑙 )1
𝑑h 𝑘 𝑙 =
2 𝑠𝑒𝑛 𝜃
Reflexiones para cada red
BCC 2,4,6,8,10,12,14,16
FCC 3,4,8,11,12,16 3.- Parámetro de red
cristalina:
Simple 1,2,3,4,5,6,8
𝑎0
𝑑h 𝑘 𝑙 =
√ h2 +𝑘2 +𝑙 2
 “Aplicación”
Industria metalúrgica: Geologia:

Industria del cemento: Industria farmacéutica:

 Microscopios electronicos
Microscopio electrónico de transmisión TEM-
MET Microscopio electrónico barrido SEMs-MEB
 MEB
Mayor resolución
Imágen de detalles
profundos de la superficie
de la muestra: 3D
Proyecta la imagen al
compilar el rayo dispersado
Detalles al nivel de
submicras
No da información acerca
de viabilidad celular.
MET
Resultados precisos y
exactos
El electrón atraviesa la
muestra y el material
absorbe el electrón
Para la resolución de
imagen se utiliza las
diferencias de la dispersión
y difracción
Ampliación de imagen
1 000 000 de veces
Proporciona información
adicional estructural
 Aplicación microscopio del de barrido y
transmisión
Ciencia de los materiales Odontología Arqueologia

Biomedicina Medicina forense Botánica

 Bibliografía
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