• Solo los materiales

cristalinos tienen
espectro de difracción.

• La difracción es una
característica del estado
sólido ordenado.
• Difracción es equivalente a reflexión.
• Cuando la energía incide en un sólido emerge
de este siguiendo unas determinadas leyes.
Ley de Bragg

ef + fg = nλ

nλ = 2 d(hkl) sen θ
• θ Se le llama ángulo de Bragg
• 2θ Se le conoce cómo ángulo de difracción
nλ = 2d(hkl) senθ; nλ / 2d(hkl) = senθ
 Determinación del orden de aparición de picos en
difracción de Rayos X

Está basado en la fórmula del espaciado d(hkl) = a / √ h2 + k2 + l2

Cuanto mas pequeño es (h2 + k2 + l2) mayor es el d(hkl)
Cúbica P BCC FCC
h2 + k2 + l2 (h k l) (h k l) (h k l)
1 (1 0 0)
2 (1 1 0) (1 1 0)
3 (1 1 1) (1 1 1)
4 (2 0 0) (2 0 0) (2 0 0)
5 (2 1 0)
6 (2 1 1) (2 1 1)
8 (2 2 0) (2 2 0) (2 2 0)
9 (2 2 1)
9 (3 0 0)
10 (3 1 0) (3 1 0)
11 (3 1 1) (3 1 1)
12 (2 2 2) (2 2 2) (2 2 2)
• La magnitud del espaciado interplanar d(hkl) depende de los índices de Miller
del plano y de los parámetros de la celdilla.

– Para el sistema cúbico el espaciado entre planos adyacentes viene dado

por:

-- Para otros sistemas la fórmula es más complicada. Por ejemplo, para el

sistema hexagonal (a = b ≠ c) sería:
 Métodos generales de difracción

• Radiación Policromática, muestra es monocristal estacionario.

Técnica Laue

• Radiación Monocromática, muestra es monocristal movil.

Difractómetro de monocristales

• Radiación Monocromática, muestra es polvo policristalino.

Difractómetro de polvo
 Método de Laüe

Radiación blanca
 Fotografía de Laüe

Cada punto luminoso es una solución de la ley de Bragg para un

haz de rayos X de una cierta λ, un plano (hkl) del cristal y un
ángulo θ de incidencia.
 Método Rietveld
Introducción
Función: Cuantificar fases de un material a partr de su patrón de
difracción en polvo (neutrones y rayos X) → Confirmar o refutar
estructura propuesta.

Principal ventaja: menor error al considerar todos los picos del

espectro.

Método: Se genera un espectro calculado (mínimos cuadrados) a

partir de las especies asignadas y se modifican parámetros hasta
hacerlo coincidir con el experimental. Se calcula el porcentaje en
peso de cada fase.
Método Rietveld
Introducción

Intensity (a.u.)
 Método Rietveld
Introducción
Material Fichas
(polvo) difracción

Datos Modelo
difractómetr teórico
o

Refinamiento

Modelo
refinado
 Método Rietveld
Fundamento teórico
Factores estructurales: Otros factores:

Posiciones atómicas Absorción

Factores de ocupación Tamaño de cristalito
Factores de temperatura Grado de cristalización
Parámetros de celda Orientación
Factores instrumentales: Influencia en el difractograma:

Error del cero del → Forma de pico

difractómetro → Anchura a media altura de pico
Factor de escala → Fondo del espectro
Forma de pico (general)

Discrepancia con modelo teórico

 Anchura de
Tamaño de
los máximos
partícula y
Intensidades defectos
relativas de
los máximos

Posición
de los Fondo Distribución de
máximos átomos en la
celda unidad

Simetría y Fases amorfas o

c tamaño de la cristalinas…
b celda unidad
a
 Método Rietveld
Fundamento teórico
Forma del pico: Perfil

El perfil de un pico es la función que se más se aproxima a su forma en

el espectro. Suelen ser mezclas de gaussiana (tensiones de red) y
lorentziana (tamaño del dominio).

Pseudo-Voigt: I(2θ) = Ihkl [η L (2θ − 2θ0) + (1 − η) G (2θ − 2θ0) ]

 Método Rietveld
Fundamento teórico
Forma del pico: Anchura a mitad de altura (FWHM)

→El parámetro W es el que más afecta a la función.

 Método Rietveld
Fundamento teórico
Forma del pico: Asimetría

Los componentes de gaussiana y lorentziana no están distribuidos

homogéneamente. Puede ser causada por deformaciones en el material o en
ángulos 2θ bajos (menor resolución).
 Método Rietveld
120000
Modelo refinado
100000
Icalculada
80000
Iobservada
Intensidad (u.a.)

60000

40000

20000

0
Reflexiones
-20000
de Bragg
-40000 diferencia
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120

2 (º)

→Ajuste de los datos del patrón calculado con los datos del patrón observado
(Ical, Iobs, diferencia).
 Método Rietveld
Modelo refinado
Calidad del refinamiento: Factores de acuerdo
 y y
i 1, n
i c ,i

Factor de perfil (Rp): Rp  100

y i 1, n
i

  wi yi  yc ,i
1/ 2

 
Residuo del patrón pesado (Rwp): Rwp  100  i 1,n 
 i
2
wi yi

 1,n 

Rwp
Calidad de ajuste (χ2) = 1; : 2 
Rexp

 y y k ( obs ) k ( calc )

Factor de Bragg (RB): RB 

y k ( obs )
¿Qué necesitamos para hacer un buen refinamiento
Rietveld?
 Buenos datos experimentales Se pueden
distinguir
diferentes
máximos?
resolución,
tamaño de
Máximos paso , etc…
principales: apropiado?
son
simétricos?

La resolución es lo
suficiente buena
también para los
máximos más débiles?