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Moir
El trmino proviene del francs Moir, un tipo particular de textil en seda y que posee una apariencia ondulante o fluctuante, gracias a los patrones de interferencia formados por la estructura misma del tejido. En ptica, un patrn de Moir es un patrn de interferencia que se forma cuando se superponen dos rejillas de lneas con un cierto ngulo, o cuando tales rejillas tienen tamaos ligeramente diferentes
sistema de proyeccin (proyector) , un sistema de observacin (cmara CMOS) y un plano de referencia, donde se focaliza el sistema de observacin, ubicado en la coordenada z = 0 del sistema coordenado ).
Para recuperar en la mayora de su totalidad la geometra 3D del
objeto a reconstruir, se proyectan franjas (un arreglo de lneas paralelas equidistantes), sobre el plano de referencia con una fase inicial, estas franjas sufren una deformacin, que se ve reflejado en un cambio en la fase de la funcin de intensidad captada. Por lo tanto, cada cambio en la altura del punto del objeto observado, se manifiesta como un cambio en su fase , y si se logra extraer esta fase, se puede recuperar su altura.
NOCIONES TERICAS
necesita de cuatro interferogramas registrados y digitalizados, cada uno contiene un desfase de 900 , entre ellos.
Desenvolvimiento De Fase
Desenvolvimiento De Fase
El desenvolvimiento de fase tiene muchas y variadas aplicaciones
en el procesamiento digital de imgenes, como por ejemplo: las imgenes por resonancia magntica, la interferometra de radar de apertura sinttica, el sonar de apertura sinttica, la ptica adaptativa, el procesamiento de datos ssmicos interferometra hologrfica digital y por supuesto la reconstruccin de imgenes en 3D utilizando la tcnica de Moir la cual es objeto de estudio en esta investigacin.
Reconstruccin en 3D
Reconstruccin en 3D
SOFTWARE
Captura De Registros
Procesamiento de imgenes
Dimensiones de la muestra
Validacin calibracin
Se procede a realizar pruebas con diferentes elementos, entre ellos una semiesfera y una campana con el fin de comparar los valores reales con los valores medidos por el sistema y analizar que tan cercanos estn (exactitud).
Validacin calibracin
Objetos Mtodo de Medida real (mm) desenvolvi miento Altura Dimetro Lineal Guiado por calidad 22,00 64,00 Goldstein Lineal Guiado por calidad 49,00 128,00 Goldstein Medida conseguida por Moir (mm) Altura Dimetro 20.8356 64.114 20.8558 64.114 21.1096 48.1722 48.2835 48.1326 64.114 127.366 127.366 127.366
Semiesfera
Campana
Validacin calibracin
Calculo del error. Habiendo obtenido las medidas de las dimensiones de altura y dimetro de los objetos que se utilizan para la validacin se procede a obtener el error absoluto, el cual se define como:
Validacin calibracin
Objetos Mtodo de desenvolvimiento
Lineal
Semiesfera Guiado por calidad Goldstein Lineal Guiado por calidad Goldstein
Error absoluto Error Relativo(%) (mm) Altura Dimetro Altura Dimetro 1,1464 0,114 5,21 0,178 1,1442 0,8904 0,8278 0,7165 0,8674 0,114 0,114 0,664 0,664 0,664 5,20 4,04 1,68 1,46 1,77 0,178 0,178 0,51 0,51 0,51
Campana
RESULTADOS
RESULTADOS
RESULTADOS
RESULTADOS
Conclusiones
Se ha implementado un sistema de reconstruccin tridimensional de
bajo costo, fcil manejo y no invasivo, el cual se compone de un proyector, un sensor CMOS y una plataforma fsica que permite a partir de una rejilla proyectada, y capturada por el sensor, mediante un software desarrollado en Matlab obtener buenos resultados aplicando la tcnica de Moir por proyeccin, considerada como una tcnica de luz estructurada, mediante la cual se reproduce de manera digital el relieve de la superficie mediante la deformacin de las franjas sobre el modelo analgico, dado por los objetos, permitiendo trabajar en un ambiente virtual.
Conclusiones
Las pruebas realizadas demuestran que la tcnica de Moir implementada logra muy buenos resultados. La resolucin de los modelos es alta, se pueden obtener niveles de precisin del orden de milmetros, siendo ms precisos cuanto ms cerca est el objeto de la cmara, siempre que la distancia no suponga una alteracin en sus parmetros de calibracin, o cuando se proyecte mayor cantidad de franjas para lo cual se debe tener en cuenta que estas franjas deben presentar una frecuencia espacial adecuada ya que a la hora de incidir sobre el objeto, si la frecuencia espacial es muy alta la cmara puede captar poca visibilidad del efecto Moir debido al solapamiento de las franjas y por el contrario si la frecuencia espacial es muy baja la resolucin obtenida tras procesamiento de las imgenes es baja en el momento de la reconstruccin tridimensional.
Conclusiones
Los objetos utilizados durante el proceso de reconstruccin en 3D, presentaban diferente geometra y estaban elaborados a base de diferentes materiales. Se ha verificado que la calidad de la reconstruccin depende en gran medida tanto de las condiciones de luz existentes como del material de los objetos paro lo cual fue necesario realizar pruebas en escenarios aislados en donde se puede contralar en gran parte la iluminacin ambiente. Los problemas que presenta el sistema y en general la tcnica de Moir son con objetos que tengan agujeros, que reflejen gran cantidad de luz, otros que absorben gran parte del haz; incluso otros que esparcen o distorsionan el haz por su superficie debido a la rugosidad de sta. Adems existe un problema que es ajeno a las propiedades del objeto, pero debido a que se hace necesario utilizar una referencia aparece una sombra en las muestras. Todos estos factores constituyen en inconvenientes debido a que no permiten observarse la continuidad de las franjas, ocasionando ruido en el mapa de fase, esto supone importantes discontinuidades, lo cual dificulta el proceso de filtrado de datos errneos y ocasiona una mala reconstruccin del objeto
Bibliografa
MALACARA, Daniel. Optical Shop Testing. 3 ed. New
Jersey: Wiley-Interscience. 2007. 883p. BORN, Max, WOLF, Emil, Principles of Optics: Electromagnetic Theory of Propagation Interference and Diffraction of Light. 7 ed. Cambridge, Reino Unido: Prensa de la Universidad de Cambridge.1980. 936p. ABDUL-RAHMAN, Hussein. Three-Dimensional Fourier Fringe Analysis and Phase Unwrapping. Liverpool, Junio de 2007, 209p. Trabajo de grado (Requerimiento para el grado Doctor en filosofa). Universidad de John Moores. Instituto de investigacion de ingeniera general (GERI).
Agradecimientos
Al Ing. M.Sc. Daro Fernando Fajardo Fajardo, director del Grupo de Instrumentacin y Sistemas inteligentes de la Universidad de Nario, por su orientacin antes, durante y en la finalizacin de este trabajo, quien fue parte fundamental para que la investigacin realizada llegara a feliz trmino. A la Vicerrectoria de Investigaciones y Postgrados de la Universidad de Nario (VIPRI), por el financiamiento el cual fue un gran aliciente que permiti llevar a cabo el desarrollo experimental de esta investigacin.
GRACIAS