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LEXMARK
Blvd. Independencia No. 3550, El Barreal
Parque Industrial Independencia II
Ciudad Juárez, Chih. Méx.
OCTUBRE 2023
REPORTE DE MEDICIÓN DE RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
• TRANSFORMADORES SECOS
www.siecsajuarez.com
LEXMARK.
Blvd. Independencia No. 3550
El Barreal
Parque Industrial Independencia II.
Ciudad Juárez Chihuahua
• Edificio CPT
• Edificio LCCP
• Edificio Tanques
• Edificio LC
• Edificio PA / PA WH
• Edificio CUP
• Edificio Tanques (WWTP)
• Sistema de emergencia
Glosario
Absorción Dieléctrica
La resistencia de aislamiento varía directamente con el espesor del aislamiento e
inversamente al área del mismo; cuando repentinamente se aplica un voltaje de corriente
directa a un aislamiento, la resistencia se inicia con un valor bajo y gradualmente va
aumentando con el tiempo hasta estabilizarse. Graficando los valores de resistencia de
aislamiento contra tiempo, se obtiene una curva denominada de absorción dieléctrica;
indicando su pendiente el grado relativo de secado y limpieza o suciedad del aislamiento.
Si el aislamiento se encuentra húmedo o sucio, se alcanzará un valor estable en uno o
dos minutos después de haber iniciado la prueba y como resultado se obtendrá una curva
con baja pendiente.
La pendiente de la curva puede expresarse mediante la relación de dos lecturas de
resistencia de aislamiento, tomadas a diferentes intervalos de tiempo, durante la misma
prueba. A la relación de 60 a 30 segundos se le conoce como la Relación de Absorción
Dieléctrica (DAR), y a la relación de 10 a 1 minuto como Índice de Polarización (PI). Los
índices mencionados, son útiles para la evaluación del estado del aislamiento de
devanados de transformadores.
𝑅𝑐 = 𝐾𝑡 (𝑅𝑡 )
De donde:
Rc= Resistencia de aislamiento en Megaohms corregida a la temperatura base.
Rt= Resistencia de aislamiento a la temperatura que se efectuó la prueba.
Kt= Coeficiente de corrección por temperatura.
H1 H2 H3
H1 H2 H3
2 AT – (BT + GND)
XO X1 X2 X3
H1 H2 H3
3 BT – (AT + GND)
XO X1 X2 X3
Criterios de aceptación
La ANSI/NETA MTS-2019 ofrece valores mínimos representativos de resistencia de
aislamiento para los transformadores tipo seco, dependiendo del nivel de tensión
nominal. A continuación, se anexa la tabla 100.5. para la resistencia mínima de
aislamiento y la Tabla 100.14. que proporciona los factores de corrección por
temperatura a 20°C.
CONDICIÓN DAR
POBRE <1.1
DUDOSO 1.1-1.20
ACEPTABLE 1.20-1.4
BUENA 1.4-1.6
EXCELENTE >1.6
EDIFICIO CPT
EDIFICIO LCCP
EDIFICIO TANQUES
SISTEMA DE EMERGENCIA
EDIFICIO PA(DR-2)
EDIFICIO CUP
EDIFICIO TRATADORA
EDIFICIO PA WH
EDIFICIO LC
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
8 TP-3 Y TP-4 DAR 1.19 1.20 1.78 1.39 57.90 37.60 17.10
9 TP-5 Y TP-6 DAR 1.17 1.10 1.82 1.36 42.40 39.50 18.10
TR- 4.
15 DAR 1.18 1.00 1.09 1.09 73.63 12.75 46.88
Desconocido
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 94.1 94.1 34.5 34.5 51.5 51.5
30" 107 107 53 53 65.1 65.1
45" 116 116 63.8 63.8 78.8 78.8
60" 123 123 73.8 73.8 82.5 82.5
DAR 1.15 1.39 1.27
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
80 50 60
40
60
30 40
40 20
20
20 10
0 0 0
15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60"
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo
AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
45" SIN ACCESO
60"
DAR
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 9 11.25 8.37 10.4625 49.2 61.5
30" 9.03 11.2875 8.4 10.5 56.1 70.125
45" 9.04 11.3 8.4 10.5 57.5 71.875
60" 9.04 11.3 8.4 10.5 58.7 73.375
DAR 1.00 1.00 1.05
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptados.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Fecha: 08/04/2023
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 76.4 76.4 59.8 59.8 36.9 36.9
30" 100 100 80.4 80.4 49.5 49.5
45" 110 110 87.4 87.4 51.7 51.7
60" 127 127 94 94 57.9 57.9
DAR 1.27 1.17 1.17
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de AT-(BT+T) Y BT-(AT+T) se encuentran en condiciones dudosas.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo
AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
45" SIN ACCESO
60"
DAR
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 57.9 57.9 37.6 37.6 17.1 17.1
30" 79.2 79.2 50 50 18.9 18.9
45" 84.5 84.5 54.1 54.1 26 26
60" 94 94 60 60 33.7 33.7
DAR 1.19 1.20 1.78
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de (AT-BT)+T Y AT-(BT+T) se encuentran en condiciones dudosas.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo
AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 42.4 42.4 39.5 39.5 18.1 18.1
30" 53.5 53.5 45.1 45.1 23.1 23.1
45" 57.9 57.9 47.5 47.5 32.8 32.8
60" 62.6 62.6 49.7 49.7 42.1 42.1
DAR 1.17 1.10 1.82
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de (AT-BT)+T Y AT-(BT+T) se encuentran en condiciones dudosas.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo
AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
45" SIN ACCESO
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60"
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 14.1 17.63 3.13 3.91 126 157.50
30" 15.9 19.88 3.14 3.93 191 238.75
45" 16.3 20.38 3.14 3.93 223 278.75
60" 16.8 21.00 3.15 3.94 273 341.25
DAR 1.06 1.00 1.43
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de (AT-BT)+T Y AT-(BT+T) se encuentran en condición pobre.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo
AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 4.34 5.43 4.42 5.53 16.6 20.75
30" 6.22 7.78 6.33 7.91 24.8 31.00
45" 6.89 8.61 6.99 8.74 28.1 35.13
60" 7.91 9.89 8.01 10.01 28.2 35.25
DAR 1.27 1.27 1.14
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de BT-(AT+T) se encuentran en condición dudosa.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 189 236.25 9.32 11.65 5.36 6.70
30" 220 275 9.43 11.79 7.78 9.73
45" 235 293.75 9.48 11.85 9.07 11.34
60" 290 362.5 9.54 11.93 10.05 12.56
DAR 1.32 1.01 1.29
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de AT-(BT+T) se encuentran en condición pobre.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 56.8 71.00 10 12.5 25.3 31.625
30" 74.8 93.50 10.3 12.875 27.4 34.25
45" 79.3 99.13 10.3 12.875 27.8 34.75
60" 84.5 105.63 10.4 13 28.2 35.25
DAR 1.13 1.01 1.03
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptados.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 58.9 73.63 10.2 12.75 37.5 46.88
30" 77.8 97.25 10.3 12.88 42.7 53.38
45" 84.1 105.13 10.3 12.88 44.5 55.63
60" 92 115.00 10.3 12.88 46.4 58.00
Iabs 1.18 1.00 1.09
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptados.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Fecha: 08/04/2023
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 27.1 27.1 12.7 12.7 22.8 22.8
30" 35.6 35.6 13.6 13.6 27.8 27.8
45" 40.7 40.7 13.8 13.8 34 34
60" 52 52 14.7 14.7 42.7 42.7
DAR 1.46 1.08 1.54
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de AT-(BT+T) se encuentran en condición pobre.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Fecha: 08/04/2023
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo
AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
45" SIN ACCESO
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60"
Observaciones
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 52.7 65.9 10.57 13.2 9.13 11.4
30" 230 287.5 15.2 19.0 23.6 29.5
45" 358 447.5 16.91 21.1 29.9 37.4
60" 475 593.8 17.24 21.6 34.7 43.4
DAR 2.07 1.13 1.47
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 340 425.0 21.2 26.5 12.78 16.0
30" 920 1150.0 29.8 37.3 33 41.3
45" 1192 1490.0 31.4 39.3 41.6 52.0
60" 1361 1701.3 33.1 41.4 47.6 59.5
DAR 1.48 1.11 1.44
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 33.8 42.3 9.72 12.2 16.52 20.7
30" 227 283.8 13 16.3 50 62.5
45" 324 405.0 14.11 17.6 63.3 79.1
60" 413 516.3 14.3 17.9 73.4 91.8
DAR 1.82 1.10 1.47
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 27.9 34.9 10.74 13.4 8.71 10.9
30" 190.7 238.4 17 21.3 22.1 27.6
45" 275 343.8 17.1 21.4 28.1 35.1
60" 376 470.0 18.88 23.6 32.1 40.1
DAR 1.97 1.11 1.45
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 9.84 12.3 10.43 13.0 9.42 11.8
30" 9.74 12.2 17.41 21.8 25.3 31.6
45" 9.79 12.2 18.21 22.8 32 40.0
60" 9.76 12.2 18.6 23.3 37.3 46.6
DAR 1.00 1.07 1.47
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de (AT-BT)+T Y AT-(BT+T) se encuentran en condición pobre.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 23.1 28.9 8.91 11.1 10.61 13.3
30" 157 196.3 14.12 17.7 33.8 42.3
45" 242 302.5 14.72 18.4 43.2 54.0
60" 321 401.3 15.7 19.6 50.1 62.6
DAR 2.04 1.11 1.48
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 74.90 93.63 15.76 19.70 23.10 28.88
30" 178.70 223.38 24.90 31.13 62.00 77.50
45" 225.00 281.25 26.20 32.75 78.20 97.75
60" 278.00 347.50 27.80 34.75 85.40 106.75
DAR 1.56 1.12 1.38
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 19.00 23.75 13.45 16.81 11.19 13.99
30" 103.10 128.88 36.70 45.88 37.90 47.38
45" 161.90 202.38 42.60 53.25 51.20 64.00
60" 196.00 245.00 46.36 57.95 60.60 75.75
DAR 1.90 1.26 1.60
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 34.3 42.9 8.78 11.0 6.94 8.7
30" 236 295.0 11.87 14.8 16.74 20.9
45" 353 441.3 12.19 15.2 21.2 26.5
60" 482 602.5 12.33 15.4 25.2 31.5
DAR 2.04 1.04 1.51
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de AT-(BT+T) se encuentran en condición pobre.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 34.9 43.6 10.52 13.2 11.07 13.8
30" 255 318.8 14 17.5 29.8 37.3
45" 410 512.5 15.9 19.9 37.8 47.3
60" 531 663.8 16.11 20.1 44 55.0
DAR 2.08 1.15 1.48
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 29 36.3 8.64 10.8 13.36 16.7
30" 155.76 194.7 12.15 15.2 40.5 50.6
45" 234 292.5 12.55 15.7 53.1 66.4
60" 310 387.5 12.73 15.9 63.1 78.9
DAR 1.99 1.05 1.56
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
400.0 80.0
15.0
300.0 60.0
10.0
200.0 40.0
5.0
100.0 20.0
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados de AT-(BT+T) se encuentran en condición pobre.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
5 TC-3 Y TC-4 DAR 1.33 1.25 1.43 1.34 9.95 74.50 9.03
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
0 0 0
15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60"
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 7.53 9.41 9.39 11.74 8.14 10.18
30" 7.60 9.50 9.58 11.98 8.16 10.20
45" 7.60 9.50 9.65 12.06 8.19 10.24
60" 7.63 9.54 9.72 12.15 8.20 10.25
DAR 1.00 1.01 1.00
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 5.80 7.25 18.27 22.84 2.54 3.18
30" 5.98 7.48 47.60 59.50 5.04 6.30
45" 7.44 9.30 55.20 69.00 6.30 7.88
60" 7.96 9.95 59.60 74.50 7.22 9.03
DAR 1.33 1.25 1.43
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 200 250.0 0.211 0.3 305 381.3
30" 318 397.5 0.329 0.4 400 500.0
45" 358 447.5 0.421 0.5 500 625.0
60" 429 536.3 0.602 0.8 536 670.0
DAR 1.35 1.83 1.34
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 219 219.0 71.7 71.7 40.5 40.5
30" 236 236.0 93.6 93.6 61 61.0
45" 239 239.0 99.9 99.9 65 65.0
60" 254 254.0 107 107.0 70.5 70.5
DAR 1.08 1.14 1.16
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 4.42 5.5 22.1 27.6 0.272 0.34
30" 5.93 7.4 34.7 43.4 0.386 0.48
45" 7.29 9.1 35.7 44.6 0.451 0.56
60" 8.71 10.9 43.4 54.3 0.5 0.63
DAR 1.47 1.25 1.30
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 33.40 41.75 7.20 9.00 8.63 10.79
30" 92.70 115.88 7.23 9.04 21.50 26.88
45" 121.00 151.25 9.75 12.19 26.70 33.38
60" 149.90 187.38 10.11 12.64 30.50 38.13
DAR 1.62 1.40 1.42
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 16.42 20.53 8.67 10.84 3.42 4.28
30" 33.80 42.25 10.27 12.84 6.80 8.50
45" 44.80 56.00 11.61 14.51 9.30 11.63
60" 55.60 69.50 11.79 14.74 11.44 14.30
DAR 1.64 1.15 1.68
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 21.10 26.38 7.62 9.53 4.91 6.14
30" 50.70 63.38 10.00 12.50 9.25 11.56
45" 64.10 80.13 10.70 13.38 11.53 14.41
60" 76.00 95.00 11.02 13.78 13.50 16.88
DAR 1.50 1.10 1.46
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 77.7 77.7 34.3 34.3 19.76 19.8
30" 809 809.0 83.2 83.2 42.6 42.6
45" 1066 1066.0 97 97.0 49.4 49.4
60" 1300 1300.0 104.6 104.6 53.8 53.8
DAR 1.61 1.26 1.26
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 71.3 71.3 30.9 30.9 20.8 20.8
30" 532 532.0 71.1 71.1 40.2 40.2
45" 615 615.0 81.3 81.3 43.6 43.6
60" 797 797.0 83.8 83.8 50.8 50.8
DAR 1.50 1.18 1.26
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 93.56 93.6 44.3 44.3 16.78 16.8
30" 869 869.0 111 111.0 36.1 36.1
45" 1152 1152.0 132 132.0 44.6 44.6
60" 1166 1166.0 140.9 140.9 51.4 51.4
DAR 1.34 1.27 1.42
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
4 ALIM TRANZAS DAR 1.90 1.28 2.14 1.77 53.0 96.1 73.9
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 276 276.0 364 364.0 380 380.0
30" 291 291.0 417 417.0 420 420.0
45" 340 340.0 520 520.0 501 501.0
60" 391 391.0 536 536.0 560 560.0
DAR 1.34 1.29 1.33
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 53 53.0 96.1 96.1 73.9 73.9
30" 90.1 90.1 151 151.0 90.3 90.3
45" 131 131.0 166 166.0 115.4 115.4
60" 171 171.0 193 193.0 193 193.0
DAR 1.90 1.28 2.14
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
200.0 200.0
150.0
150.0 150.0
100.0
100.0 100.0
50.0
50.0 50.0
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 22.70 28.38 21.30 26.63 6.52 8.15
30" 23.80 29.75 21.90 27.38 6.77 8.46
45" 23.90 29.88 22.00 27.50 6.84 8.55
60" 24.00 30.00 22.00 27.50 6.92 8.65
DAR 1.01 1.00 1.02
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 118.00 147.50 9.20 11.50 11.60 14.50
30" 199.00 248.75 9.43 11.79 17.70 22.13
45" 219.00 273.75 9.49 11.86 19.40 24.25
60" 265.00 331.25 9.56 11.95 21.40 26.75
DAR 1.33 1.01 1.21
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 105.00 131.25 15.00 18.75 0.27 0.33
30" 125.00 156.25 17.00 21.25 0.31 0.39
45" 127.00 158.75 17.50 21.88 0.33 0.41
60" 138.00 172.50 18.50 23.13 0.40 0.50
DAR 1.10 1.09 1.29
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
20.00 0.50
150.00
0.40
15.00
100.00 0.30
10.00
0.20
50.00
5.00
0.10
0.00 0.00 0.00
15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60" 15" 30" 45" 60"
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 88.3 110.4 19 23.8 8.76 11.0
30" 111 138.8 19 23.8 8.95 11.2
45" 117 146.3 19 23.8 9.02 11.3
60" 122.5 153.1 19.9 24.9 9.12 11.4
DAR 1.10 1.05 1.02
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 97.2 121.5 16.50 20.6 5.89 7.4
30" 129.0 161.3 17.00 21.3 7.23 9.0
45" 139.0 173.8 17.10 21.4 7.56 9.5
60" 156.0 195.0 17.20 21.5 8.00 10.0
DAR 1.21 1.01 1.11
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 77.2 96.5 14.82 18.5 18.41 23.01
30" 358 447.5 18.87 23.6 32.90 41.13
45" 463 578.8 19.33 24.2 36.60 45.75
60" 556 695.0 19.63 24.5 40.00 50.00
DAR 1.55 1.04 1.22
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 53.26 66.58 38.40 48.00 33.70 42.13
30" 106.70 133.38 93.90 117.38 100.20 125.25
45" 134.90 168.63 109.20 136.50 122.60 153.25
60" 149.80 187.25 120.00 150.00 133.80 167.25
DAR 1.40 1.28 1.34
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 25.80 32.25 17.95 22.44 2.62 3.28
30" 280.00 350.00 72.50 90.63 3.88 4.85
45" 376.00 470.00 86.50 108.13 4.48 5.60
60" 440.00 550.00 94.90 118.63 5.00 6.25
DAR 1.57 1.31 1.29
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 25.50 31.88 22.00 27.50 6.45 8.06
30" 26.00 32.50 22.30 27.88 6.59 8.24
45" 26.50 33.13 22.30 27.88 6.64 8.30
60" 27.00 33.75 22.80 28.50 6.70 8.38
DAR 1.04 1.02 1.02
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 45.90 57.38 38.30 47.88 54.80 68.50
30" 55.80 69.75 47.50 59.38 60.70 75.88
45" 58.80 73.50 50.70 63.38 62.60 78.25
60" 63.30 79.13 55.80 69.75 65.40 81.75
DAR 1.13 1.17 1.08
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Garcia Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 46.80 58.50 32.20 40.25 12.54 15.68
30" 122.90 153.63 51.10 63.88 15.55 19.44
45" 153.00 191.25 55.40 69.25 15.90 19.88
60" 169.80 212.25 57.80 72.25 16.17 20.21
DAR 1.38 1.13 1.04
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
1 2 3 4 1 2 3 4 1 2 3 4
Observaciones
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
13 TP-13 Y TP-14 DAR 1.17 1.34 1.27 1.26 44.13 2.65 84.63
14 TP-15 Y TP-16 DAR 1.16 1.27 1.27 1.23 62.25 122.50 113.13
15 TP-17 Y TP-18 DAR 1.21 1.26 1.26 1.24 67.94 0.53 25.60
16 TP-19 Y TP-20 DAR 1.01 1.01 1.19 1.07 12.28 15.48 25.75
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 20.40 25.50 12.64 15.80 5.91 7.39
30" 73.90 92.38 28.20 35.25 11.47 14.34
45" 80.50 100.63 30.20 37.75 13.17 16.46
60" 84.50 105.63 31.10 38.88 14.34 17.93
DAR 1.14 1.10 1.25
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función a la relación de absorción dieléctrica , que refiere este criterio a la suciedad y humedad
en los devanados del transformador está dentro de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 26.30 32.88 24.70 30.88 130.00 162.50
30" 35.00 43.75 36.60 45.75 175.60 219.50
45" 39.60 49.50 42.00 52.50 220.00 275.00
60" 41.40 51.75 44.70 55.88 252.00 315.00
DAR 1.18 1.22 1.44
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 525
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 35.20 44.00 24.20 30.25 20.20 25.25
30" 47.60 59.50 39.70 49.63 32.10 40.13
45" 56.20 70.25 43.70 54.63 37.10 46.38
60" 62.00 77.50 45.90 57.38 40.60 50.75
DAR 1.30 1.16 1.26
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 525
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 31.9 39.9 19.53 24.4 9.42 11.8
30" 139.2 174.0 46.3 57.9 22.9 28.6
45" 199.5 249.4 60.2 75.3 28.1 35.1
60" 241 301.3 60.3 75.4 31.8 39.8
DAR 1.73 1.30 1.39
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 36.1 45.1 17.34 21.7 13.45 16.8
30" 319.0 398.8 42.30 52.9 34 42.5
45" 327.0 408.8 47.30 59.1 40.1 50.1
60" 381.0 476.3 50.00 62.5 43.60 54.5
DAR 1.19 1.18 1.28
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 38.5 48.1 40.90 51.13 2.49 3.11
30" 52.6 65.8 49.00 61.25 3.60 4.50
45" 58.8 73.5 59.00 73.75 4.23 5.29
60" 62.3 77.9 61.60 77.00 4.53 5.66
DAR 1.18 1.26 1.26
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 525
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 3.91 4.89 1.63 2.04 2.33 2.91
30" 7.00 8.75 2.34 2.93 3.51 4.39
45" 8.18 10.23 2.58 3.23 4.04 5.05
60" 8.88 11.10 3.15 3.94 4.41 5.51
DAR 1.27 1.35 1.26
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 525
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 28.50 35.63 14.41 18.01 6.69 8.36
30" 93.00 116.25 34.00 42.50 16.29 20.36
45" 111.00 138.75 36.80 46.00 20.30 25.38
60" 139.30 174.13 38.10 47.63 23.30 29.13
DAR 1.50 1.12 1.43
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 33.50 41.88 20.90 26.13 10.09 12.61
30" 77.80 97.25 38.00 47.50 21.70 27.13
45" 92.70 115.88 41.70 52.13 26.50 33.13
60" 104.30 130.38 43.60 54.50 30.00 37.50
DAR 1.34 1.15 1.38
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 232.00 290.00 275.00 343.75 7.52 9.40
30" 390.00 487.50 308.00 385.00 7.81 9.76
45" 449.00 561.25 311.00 388.75 7.90 9.88
60" 535.00 668.75 340.00 425.00 8.00 10.00
DAR 1.37 1.10 1.02
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 29.40 36.75 1.16 1.45 52.70 65.88
30" 30.10 37.63 1.58 1.98 53.10 66.38
45" 34.10 42.63 1.76 2.20 61.10 76.38
60" 35.30 44.13 2.12 2.65 67.70 84.63
DAR 1.17 1.34 1.27
Realizo la Prueba: Ing. Miguel García Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 23.30 29.13 23.00 28.75 20.50 25.63
30" 42.80 53.50 76.90 96.13 71.50 89.38
45" 46.60 58.25 89.50 111.88 83.70 104.63
60" 49.80 62.25 98.00 122.50 90.50 113.13
DAR 1.16 1.27 1.27
Realizo la Prueba: Ing. Gloria Barragán Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
AT/BT (GΩ)
AT/T (GΩ) AT/T (GΩ)
BT/T (GΩ) 20.50
AT/BT (GΩ)
70.00
1 140.00
1.2 120.00
1.2
60.00 120.00
1 100.00
1
0.8
50.00 100.00
0.8 0.8
80.00
0.6
40.00 80.00
0.6 0.6
60.00
30.00
0.4 60.00
20.00 0.4
40.00 0.4
40.00
0.2 0.2 0.2
10.00 20.00 20.00
0
0.00 00.00 00.00
1 15" 230" 345" 4
60" 1 15" 2 30" 345" 60"
4 1 15" 2 30" 345" 4
60"
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 26.70 42.19 0.21 0.33 9.14 14.44
30" 35.60 56.25 0.27 0.42 12.90 20.38
45" 38.40 60.67 0.31 0.49 14.00 22.12
60" 43.00 67.94 0.34 0.53 16.20 25.60
DAR 1.21 1.26 1.26
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
AT/BT (GΩ)
AT/T (GΩ) AT/T (GΩ)
BT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
AT/BT (GΩ)
80.00
1 0.60
1.2 30.00
1.2
70.00 0.50 25.00
0.8 1 1
60.00
50.00 0.40
0.8 0.8
20.00
0.6
40.00 0.30
0.6 0.6
15.00
0.4
30.00 0.20
0.4 0.4
10.00
20.00
0.2 0.10
0.2 0.2
10.00 5.00
0
0.00 0.00
0 0
0.00
1 15" 230" 345" 4
60" 115" 230" 45"
3 60"
4 1 15" 230" 345" 4
60"
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 7.61 12.02 9.57 15.12 11.00 17.38
30" 7.69 12.15 9.74 15.39 13.70 21.65
45" 7.74 12.23 9.77 15.44 14.70 23.23
60" 7.77 12.28 9.80 15.48 16.30 25.75
DAR 1.01 1.01 1.19
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: FLUKE 1555
AT/BT (GΩ)
AT/T (GΩ) AT/T (GΩ)
BT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
AT/BT (GΩ)
12.30
1 15.60
1.2 30.00
1.2
12.25 15.50
0.8 1 25.00
1
12.20
15.40
12.15 0.8 0.8
20.00
0.6
12.10 15.30
0.6 0.6
15.00
12.05 15.20
0.4
12.00 0.4 0.4
10.00
15.10
11.95
0.2 0.2
15.00 0.2
5.00
11.90
0
11.85 14.90
0 0
0.00
1 15" 230" 345" 4
60" 1 15" 230" 345" 60"
4 1 15" 230" 345" 4
60"
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados están por debajo de los valores aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 29.20 36.50 20.70 25.88 15.38 19.23
30" 39.90 49.88 31.50 39.38 24.20 30.25
45" 48.00 60.00 35.00 43.75 30.10 37.63
60" 53.60 67.00 37.00 46.25 33.40 41.75
DAR 1.34 1.17 1.38
Realizo la Prueba: Ing. Luis Trujillo Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 525
AT/BT (GΩ)
AT/T (GΩ) AT/T (GΩ)
BT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
AT/BT (GΩ)
80.00
1 50.00
1.2 50.00
1.2
70.00
0.8 1
40.00 1
40.00
60.00
50.00 0.8 0.8
0.6 30.00 30.00
40.00 0.6 0.6
0.4
30.00 20.00 20.00
0.4 0.4
20.00
0.2 10.00
0.2 10.00
0.2
10.00
0
0.00 0.00
0 0
0.00
1 15" 230" 345" 4
60" 1 15" 230" 345" 60"
4 1 15" 230" 345" 4
60"
Observaciones
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 19.82 24.78 10.13 12.66 8.34 10.43
30" 172.90 216.13 20.00 25.00 15.09 18.86
45" 238.00 297.50 22.50 28.13 17.47 21.84
60" 300.00 375.00 25.20 31.50 19.33 24.16
DAR 1.74 1.26 1.28
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
AT/BT (GΩ)
AT/T (GΩ) AT/T (GΩ)
BT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
AT/BT (GΩ)
400.00
1 35.00
1.2 30.00
1.2
350.00 30.00 25.00
0.8 1 1
300.00 25.00
250.00 0.8 0.8
20.00
0.6 20.00
200.00 0.6 0.6
15.00
0.4 15.00
150.00
0.4
10.00 0.4
10.00
100.00
0.2 0.2 0.2
50.00 5.00 5.00
00.00 0.00
0 0
0.00
1 15" 2 30" 345" 4
60" 1 15" 230" 345" 60"
4 1 15" 230" 345" 4
60"
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados indican que el transformador se encuentra en buenas condiciones.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
1 2 3 4 1 2 3 4 1 2 3 4
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
1 2 3 4 1 2 3 4 1 2 3 4
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
1 2 3 4 1 2 3 4 1 2 3 4
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
0.8 1 1
0.8 0.8
0.6
0.6 0.6
0.4
0.4 0.4
0.2 0.2 0.2
0 0 0
1 2 3 4 1 2 3 4 1 2 3 4
Observaciones
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
Lexmark Facilities.
Cel. : (656) 562 7793
Ext. : 20254
E-mail. : genaro.batres@lexmark.com
4 T.E 3-1 DAR 1.58 1.11 1.36 1.35 270.0 8.4 13.9
6 T.E S/N DAR 2.24 2.15 1.69 2.03 330.0 295.0 170.0
Los resultados de la resistencia mínima de aislamiento en los transformadores cumplen con el estándar de la
ANSI/NETA MTS-2019.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 27.2 34.0 4.63 5.8 5.94 7.4
30" 106.7 133.4 5 6.3 11 13.8
45" 165 206.3 5.58 7.0 13.35 16.7
60" 217 271.3 5.65 7.1 14.94 18.7
DAR 2.03 1.13 1.36
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 27.2 34.0 4.98 6.23 4.13 5.16
30" 137.1 171.4 6.00 7.50 8.14 10.18
45" 200.0 250.0 6.56 8.20 9.87 12.34
60" 216.0 270.0 6.68 8.35 11.11 13.89
DAR 1.58 1.11 1.36
Realizo la Prueba: Ing. Manuel Contreras Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 8.87 11.1 27 33.8 19.08 23.9
30" 9.1 11.4 105.1 131.4 85.4 106.8
45" 9.49 11.9 148.5 185.6 134.4 168.0
60" 10.19 12.7 185.3 231.6 181.3 226.6
DAR 1.12 1.76 2.12
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO MEDIDO CORREGIDO
15" 24.4 30.5 21.7 27.1 19.69 24.6
30" 117.7 147.1 109.8 137.3 80.3 100.4
45" 194.1 242.6 178.5 223.1 108.7 135.9
60" 264 330.0 236 295.0 136 170.0
DAR 2.24 2.15 1.69
Realizo la Prueba: Ing. Miguel Betancourt Equipo de prueba utilizado: MEGGER MIT 1025
Observaciones
En función de la relación de absorción dieléctrica (DAR) que refiere a la suciedad y humedad, los
resultados se encuentran en condiciones aceptables.
Así mismo se recomienda dar seguimiento para ver la tendencia de este equipo.
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
Observaciones
RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Tiempo AT/BT (GΩ) AT/T (GΩ) BT/T (GΩ)
15"
30"
SIN ACCESO
45"
60"
DAR
Observaciones
La ANSI/NETA MTS-2019. establece el valor mínimo aceptable de aislamiento para los transformadores del tipo seco.
El valor mínimo para los transformadores puestos en prueba es de 500 MΩ.
• Las pruebas de resistencia de aislamiento cumplen con la resistencia mínima de aislamiento requerida por la
ANSI/NETA MTS-2019.
Los resultados del índice de absorción con condición pobre se deben a la humedad y suciedades presentes en el
aislamiento. Otros factores que pueden causar un índice de absorción bajo son:
- Daños mecánicos.
- Vibraciones.
- Humedad originada en procesos industriales.
- Degradación del aislamiento
• Se recomienda seguir con su mantenimiento preventivo anual y revisar las tendencias de los equipos mencionados.
Sin más por el momento y esperando que esta información sea de su utilidad, se despide de usted.
ATENTAMENTE
Servicios de Ingeniería Eléctrica y Construcción S.A de C.V
Cd. Juárez, Chihuahua, México
CERTIFICADOS DE CALIBRACIÓN
EQUIPOS DE MEDICIÓN
Preparado para:
Ing. Genaro de Jesús Batres Fernández.
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Cel. : (656) 562 7793
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