TAMAÑO DE

LITERA CARACTERÍSTICA
LA
L DEL GRÁFICO
MUESTRA
Proporción defectuosa o
"p" VARIABLE
Porcentaje defectuoso
Número de unidades
"np" CONSTANTE
defectuosas
"c" Número de defectos CONSTANTE
Número de defectos por
"u" VARIABLE
unidad
 FÓRMULAS PARA
DETERMINAR LOS LÍMITES
DE CONTROL
Para comprobar concalibrador pasa - no. - pasa, la correcta localización de los barrenos de 1/4 de pulgada de diáme
el depòsito de agua para limpiaparabrisas
del camión de volteo de una armadora automotriz, se determina abrir una gráfica de control "p" para observar a dia
a 4.25 pulgadas +- 0.05 pulgadas. En la tabla muestran los resultados obtenidos.

CANTIDAD Nº DE FRACCIÓN
SUBGRUPO INSPECCIONA DEFECTUOS DEFECTUOSA LSCp= LCp= LICp=
DA OS pi
1 150 3
2 130 6
3 120 7
4 110 2
5 150 4
6 140 5
7 120 8
8 110 6
9 140 4
10 145 2
11 110 9
12 135 3
13 120 4
14 160 6
15 110 7
16 115 3
17 120 2
18 115 9
19 120 5
20 155 7
21 125 4
22 150 8

p=
n=

LSCp= CAPACIDAD DEL PROCESO:

LCp=
LICp=
e 1/4 de pulgada de diámetro donde irá montado el soporte BKT-026, donde irá fijo

trol "p" para observar a diario la proporción defectuosa de dichos barrenos situados
Automotores de México S. A. Decide aplicar un emblema para celebrar el cincuenta aniversaro de su establecimiento en Méxi
defectuosos resultantes en cada caja de quinientas piezas, determina abrir una carta de atributos "np" para que inspección de
cincuenta de estos emblemas tomados al azar por caja estén dentrol de los límites determinados.
Los resultados obtenidos en el lote EA-484 se muestran en la tabla:

TAMAÑO Nº DE
Nº DE CAJA DE DEFECTOS LSCnp= LCnp= LICnp=
MUESTRA (np)
1 50 1
2 50 2
3 50 1
4 50 2
5 50 3
6 50 2
7 50 1
8 50 2
9 50 1
10 50 3
11 50 1
12 50 2
13 50 1
14 50 2
15 50 1
16 50 1
17 50 2
18 50 1
19 50 1
20 50 2
21 50 1
22 50 1

p prom=
n=
LSCnp=
LCnp=
LICnp=

HABILIDAD DEL PROCESO: (n-np) X100

n
de su establecimiento en México y para comprobar elnúmero de amblemas
os "np" para que inspección de recibo compruebe según patrón - muestra en
os.
Vidriera de Toluca, S. A. recibe de una casa comercial un importante pedido de vasos tipo "jaibolero" imitación cristal cortado,
burbujas, manchas, ralladuras, aristas deformes; Vidriera de Toluca determina abrir una carta de control por atribuos "c" para
treinta minutos de la linea donde se están produciendo y contra patrón muestra dado por el cliente, comprobar y registrar en
MUESTRA HORA N° DEFECTOS LSCc= LCc= LICc=
1 8:00 2 7.243 2.500 -2.243
2 8:30 3 7.243 2.500 -2.243
3 9:00 1 7.243 2.500 -2.243
4 9:30 3 7.243 2.500 -2.243
5 10:00 5 7.243 2.500 -2.243
6 10:30 4 7.243 2.500 -2.243
7 11:00 1 7.243 2.500 -2.243
8 11:30 5 7.243 2.500 -2.243
9 12:00 3 7.243 2.500 -2.243
10 12:30 2 7.243 2.500 -2.243
11 13:00 1 7.243 2.500 -2.243
12 13:30 1 7.243 2.500 -2.243
13 14:00 1 7.243 2.500 -2.243
14 14:30 4 7.243 2.500 -2.243
15 15:00 5 7.243 2.500 -2.243
16 15:30 3 7.243 2.500 -2.243
17 16:00 2 7.243 2.500 -2.243
18 16:30 1 7.243 2.500 -2.243
19 17:00 1 7.243 2.500 -2.243
20 17:30 2 7.243 2.500 -2.243
21 18:00 2 7.243 2.500 -2.243
22 18:30 3 7.243 2.500 -2.243
55

c prom= 2.5

LSCc= 7.243 HABILIDAD DEL PROCESO:(1-C/100)X100

LCc= 2.500
LICc= -2.243
olero" imitación cristal cortado, con N° de parte VCS-0375, pero como deben ir excentos de defectos visibles :
e control por atribuos "c" para evaluar el nivel de calidad del producto decidiendo tomar una muestra al azar cada
ente, comprobar y registrar en dicha gráfica "c" el número de defectos encontrados en las muestras

1-C/100)X100
En una fábrica se ensamblan artículos electrónicos y al final del proceso se hace una inspección por muestreo para detectar de
fi nal del proceso se hace una inspección por muestreo
defectos observados en muestreos realizados en 24 lotes consecutivos de piezas electrónicas. El número de piezas inspeccion

TAMAÑO
DEFECTOS
LOTE DE ui=cj/ni LSCu= LCu= LICu=
ENCONTRADOS
MUESTRA
1 20 17
2 20 24
3 20 16
4 20 26
5 15 15
6 15 15
7 15 20
8 25 18
9 25 26
10 25 10
11 25 25
12 30 21
13 30 40
14 30 24
15 30 46
16 30 32
17 30 30
18 30 34
19 15 11
20 15 14
21 15 30
22 15 17
23 15 18
24 15 20

u prom=
n prom HABILIDAD DEL PROCESO:

LSCu=
LCu=
LICu=
 muestreo para detectar defectos relativamente menores. En la tabla se presentan elnúmero de
úmero de piezas inspeccionadas en cada lote es variavle por lo que no es apropiado aplicar la carta c

ABILIDAD DEL PROCESO:100 - u media