Instrumentación Electrónica

INSTRUMENTACIÓN
ELECTRÓNICA
INSTRUMENTACIÓN
ELECTRÓNICA
Miguel Ángel Pérez García
Escuela Politécnica de Ingeniería de Gijón
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lndice de contenidos
Prólogo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . IX
Tabla de sfmbolos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . XIII
1. Caracterización de sistemas Instrumentales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

1.1. Definiciones generales, sena les y datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.2. Caracterización estática . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2.1 . Caracterización determinista de sistemas instrumentales. . . . . . . . . . . . . . . • . . . 6
1.2.2. Aspectos no deterministas de los sistemas instrumentales . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
1.2.3. Derivas y procesos de calibración . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
1.3. Caracterización dinámica ... .. ... . ... .. ... .. ... .. ... .. .. . .. ... .. ... .. ... .. .. .. 22
1.3.1. Caracterización en el dominio de la frecuencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
1.3.2. Caracterización en el dominio del tiempo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
1.4. Incertidumbre y ruido en los sistemas instrumentales .. ... .. ... . . .. .. . .. .. . .. .. . . 30
2. Amplificación. .. ... .. ... .. ... .. ... .. . .. .. ... . . .. .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... 41
2.1. ¿Por qué amplificar? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
2.1 .1 . El amplificador como bloque básico de los sistemas instrumentales . . . . . . . . . 43
2.1 .2. Tipos de amplificadores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
2.2. El amplificador operacional ideal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
2.2.1 . Del desarrollo de Widlar al operacional actual. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
2.2.2. El concepto de amplificador ideal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
2.2.3. Circuitos analógicos con operacionales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
2.3. Alimentación de los operacionales. ... .. .. ... .. ... .. . .. .. ... .. ... . . .. .. . .. ... .. 52
2.3.1. Alimentaciones simples y dobles . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
2.3.2. Limitaciones de la tensión de salida. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
2.3.3. Limite para las tensiones de entrada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
2.3.4. Efecto de los cambios en la alimentación .. ... .. ... .. ... .. .. .. . .. .. . .. .. . . 61
2.4. No idealidades de la etapa de entrada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
2.4.1. Resistencia e impedancia de entrada. ... .. ... .. ... . . ... ... . .. ... .. . .. .. . 62
2.4.2. Polarización de la etapa diferencial . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
2.4.3. Tensión de desviación.. . ... ... .. .. ... .. ... .. ... .. ... . . . . . . . . . . . . . . . . • . . 69
2.4.4. Errores producidos en la tensión de salida.. ... . . .. .. . .. ... .. ... .. .. ... .. . 71
2.4.5. Compensación de errores y derivas... ... .. ... .. ... .. ... . . ... . ... .. . .. . . . 76
2.5. Ganancia real de un operacional . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
2.5.1. Ganancia diferencial finita . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . 82
2.5.2. Efecto de la frecuencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
2.5.3. Amplificadores operacionales no compensados en frecuencia . . . . . . . . . . . . . . 91
2.5.4. Ganancia de modo común . .. ... . .... . .... . ... .. . .. .. ... .. ... .. ... .. ... . 93
2.5.5. Efectos de la tolerancia de las resistencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
2.6. Otros efectos sobre la tensión de salida . ... . .... .. ... . ... .. ... ... .. .. ... .. ... .. 101
2.6.1. Resistencia y corriente de salida de los amplificadores operacionales . . . . . . . 101
2.6.2. S/ew-Rate.. .. ... .. ... .. ... .. ... . .... . . ... . ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... 102
2.7. El ruido interno en los amplificadores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
2.1.1. t-uentes y or1genes del rutdo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . • . . . 1U4
2.7 .2. Modelo de ruido del operacional. . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . 107
2.7 .3. Cálculo del ruido en etapas amplificadoras . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . 11 O
• • INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA
2.8. Criterios de selección de operacionales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . 115

2.8.1 . Alimentación y tipos de se~ales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
2.8.2. Amplificación de sefiales de continua . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
2.8.3. Amplificación de sefiales de altema . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
2.8.4. Amplificación de sefiales mixtas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . 123
2.8.5. Limites de uso de amplificadores operacionales. . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124
3. Amplificadores Integrados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133

3.1. Amplificadores diferenciales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
3.1.1. Entrada y salida diferenciales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 136
3.1 .2. Entrada y diferencial y salida referida a masa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
3.1 .3. Bloques amplificadores de ganancia variable y programable. . . . . . . . . . . . . . . . 139
3.1.4. Sistemas autcrrango . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
3.2. Amplificadores aislados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . 151
3.3. Bloques amplificadores auto-compensados.. . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . 158
3.3.1. Amplificadores chopper. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
3.3.2. Sistemas para la compensación de errores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160
3.4. Amplificadores realimentados en corriente .. .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... . .... . 161
3.4.1 . Funcionamiento de los amplificadores realimentados en corriente (CFA).. .. . 161
3.4.2. Comparación entre los operacionales realimentados en tensión y los CFA . .. 164
4. Filtros activos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169

4.1. Generalidades.. .. ... .. ... .. ... . ... .. ... .. . .. ... .. .. ... .. ... .. ... .. ... . . .. .. . 171
4. 1.1. Tipos de funciones de filtrado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 174
4.1.2. Mejora de la relación seflal-ruido . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
4.2. Disefio de filtros activos con operacionales . ... .. . .. .. ... .. .. . .. .. .. , .. ... .. ... . 180
4.2.1. Polinomios normalizados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
4.2.2. Circuitos para filtros activos . .. ... .. ... .. ... ... .. .. ... .. ... .. . . ... .. .. . .. 183
4.2.3. Diseño de filtros activos de paso bajo. ... .. ... .. ... .. ... .. ... . ... .. ... .. . 187
4.2.4. Diseflo de filtros activos de paso alto .. .. ... .. ... .. ... .. ... . . ... . . .. .. . .. . 192
4.2.5. Diseflo de filtros activos pasabanda y rechazo de banda. ... . . ... .. ... .. ... 194
4.3. Otros tipos de filtros activos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . 198
4.3.1. Filtros de variables de estado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198
4.3.2. Filtros de capacidades conmutadas ... .. ... .. ... . . ... . ... ... .. ... .. .. . .. . 199
5. Conversión analógico/digital . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205

5.1. La conversión ND en fos sistemas instrumentales. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 207
5.2. Convertidores AJO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
5.2.1 . Tipos de convertidores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
5.2.2. Conexión de convertidores ND a sistemas digitales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . 214
5.3. Caracterlsticas instrumentales de los convertidores ND . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
5.3.1. Resolución y alcance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
5.3.2. Errores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
5.3.3. Tiempo de conversión. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . 227
5.4. Tratamiento de datos. ... . ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. .. ... . . ... .. .. . .. 233
5.4.1 . Frecuencia de muestreo ... ... . .. ... .. ... .. ... .. . .. .. ... . . ... . . ... .. ... . 234
5.4.2. Validación de datos y tratamiento de out/iers. .. ... .. . .. ... .. .. ... .. ... . . .. 238
5.4.3. Promediado de variables . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
6. Sensores resistivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24 7
6.1. Nociones básicas de medida de resistencias . ... .. ... . , . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
6.1.1. Medidas a dos hilos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . 249
6.1.2. Medidas a cuatro hilos. ... ... . . .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... . .... . ... .. . .. .. 251
6.2. Puente de Wheatstone . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
6.2.1. De la medida por compensación a la medida pordeflexión . ... .. ... .. ... .. . 253
6.2.2. Puente de Wheatstone alimentado en tensión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 254
6.2.3. Puente de Wheatstone alimentado en corriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 258
6.2.4. Amplificación de la salida de un puente de Wheatstone . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
6.3. Resistencias metálicas dependientes de la temperatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
6.3.1. Principio de funcionamiento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
6.3.2. Formas constructivas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
VI
IN DICE DE CONTEN IDOS ••
6.3.3. Circuitos de acondicionamiento para RTD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . 267

6.3.4. Otras aplicaciones de las RTD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 271
6.4. Galgas extensométricas .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
6.4.1 . Principio de funcionamiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
6.4.2. Aplicación a la medida de elongaciones. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 275
6.4.3. Celdas de carga . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 283
6.4.4. Otras aplicaciones de las galgas extensomélicras .. . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . 286
6.5. Tennistores y otros sensores resistivos . ... .. ... .. ... .. ... .. .. .. . .. ... .. .. , . . . . 288
6.5.1 . NTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
6.5.2. LDR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
6.5.3. Magneto-resistencias. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 298
6.6. Sensores potenciométricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
7. Sensores capacitivos e Inductivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . 307

7.1.Medidasenaltema . ... .. ... .. ... .. ... .. ... . . .. ... .. .. • .. ... .. .. ... .. ... .. ... 309
7.1 .1 . Medidas de amplitud.... .. ... .. ... .. ... .. .. .. ... .. ... .. . .. ... .. .. . .. .. . 310
7.1.2. Medidas de fase .. ... .. ... .. ... .. .. .. .... . ... .. .. . ... .. .. ... .. ... .. ... . 313
7.1 .3. Circuitos de medida en alterna . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 317
7.1.4. Fuentes de excitación para puentes de alterna. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
7.1 .5. Selección de los dispositivos de puente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
7.2. Sensores capacitivos.... . ... .. ... .. . .. .. ... .. ... .. ... .. ... .. .. .. ... ... .. ... .. 329
7.2.1 . Condensadores planos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
7.2.2. Condensadores cillndricos . ... .. ... .. . .. .. ... . . ... . ... ... .. .. ... .. . .. .. . 334
7.2.3. Condensadores diferenciales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 336
7.3. Sensores inductivos... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
7.3.1. Sistemas de inductancia variable . ... .. ... .. ... .. ... .. .. .. . .. ... .. .. , . . . . 340
7.3.2. LVDT y otros sensores similares . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
7.4. Sensores de proximidad. . .... . ... ... .. .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... . . .. ... .. ... .. 347
7.4.1. Sensores inductivos de proximidad.... .. ... .. ... .. ... .. .. .. . .. .. ... ... .. 347
7.4.2. Sensores capacitivos de proximidad. ... .. ... .. ... .. ... .. .. ... .. ... .. .. . . 349
8. Sensores generadores de sellal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355

8.1. Conceptos generales. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
8.1 .1 . Problemática de los sensores generadores de sei\al.. ... ... .. .. ... .. ... .. . 357
8.1 .2. Amplificación de tensión, de corriente y de carga... . ... .. ... ... .. ... .. .. . . 358
8.1 .3. El concepto del harvesting . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . .. . . . . 360
8.2. Tennopares ... .. ... .. ... . .... . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . .. . . .. . . . .. . . 361
8.2.1. Principios de funcionamiento. .. ... .. ... .. ... .. ... .. .. .. ... ... .. .. ... .. .. 361
8.2.2. Leyes de los termopares. . . . . . . . . . . . . .. . . . .. . . . .. . . .. . . . . .. . . .. . . . .. . . . . 363
8.2.3. Tipos de lennopares . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . . .. . .. . . . . .. . . . . . . . .. . . . .. . 364
8.2.4. Curvas de calibración . . . . . . . . . .. . . . . . . . . .. . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 367
8.2.5. Circuitos para la medida de temperatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . .. . . . 371
8.2.6. Efectos parásitos debidos a termopares en sistemas instrumentales . . . . . . . . 376
8.2.7. Celdas peltier y tennogeneradores. ... .. ... .. ... .. .. .. ... .. ... .. ... ... .. . 377
8.3. Sensores piezoeléctricos . ... .. ... . . . . . .. . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . 379
8.3.1. El efecto piezoeléctrico.. . .... . ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. . 379
8.3.2. Modelo de un sensor piezoeléctrico. Zonas de uso . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 380
8.3.3. Aplicación en la medida de fuerzas vibratorias . ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. .. 382
8.3.4. Aplicación en resonancia. Sensores de ultrasonidos ... .. ... .. ... .. ... . . . . . 388
8.3.5. Sensores piroeléctricos . ... . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . .. . . . .. . . . .. . . . . 396
8.4. Sensores optoelectrónicos .. .. ... .. ... ... .. .. . .. .. ... . . ... . .... .. .. .. ... .. ... . 398
8.4.1. Fotodiodos y fototransistores . ... .. ... .. . .. ... .. .. , .. .. ... .. ... .. ... . . ... 398
8.4.2. Caracterlsticas de los fotodiodos . ... .. ... .. ... .. ... .. .. .. . .. ... .. .. , . . . . 405
8.4.3. Curvas y modelo de fotodiodo .. .. ... .. ... .. ... . ... ... .. ... .. ... .. .. . .. .. 408
8.4.4. Circuitos de acondicionamiento para fotodiodos .. .. ... .. ... .. .. ... .. . .. . . . 410
8.4.5. Tubos fotomultiplicadores.. .... . ... .. ... .. ... .. ... .. ... . • . . . .. . . . .. . . .. . 419
8.4.6. Medida de variables mediante luz . . . . .. . . . .. . . . .. . . . .. . . . .. . . .. . . . . .. . . . 427
8.4.7. Sensores de imagen . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . . .. . .. . . . . .. . . . . . . . .. . . . .. . 438
8.5. Sensores de efecto Hall . . . . .. . . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . .. . . .. . . . .. . . . . 446
8.5.1 . El efecto Hall. .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . .. . . .. . . . . .. . 446
8.5.2. Dispositivos de efecto Hall analógicos y digitales . ... .. ... . . ... .. ... . . .. .. . 447
VIl
• • INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓN ICA
8.5.3. Medida de variables eléctricas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451

8.5.4. Medida de velocidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 454
9. Interferencias y ruido externo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 463

9.1. Conceptos generales sobre inteñerencias .. .. ... . . ... . ... . . ... .. ... . .. .. . .... . . 465
9.1.1. Fuentes, viclimas y mecanismos de acoplamiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 465
9.1.2. EM I y EMC .. ... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 472
9.2. Acoplamiento conductivo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 473
9.2.1. Impedancia entre lineas . ... .. ... .. ... . . ... .. .. .. . .. .. ... .. . .. .. ... .. ... 4 73
9.2.2. Impedancia compartida . ... .. ... .. ... . . .. ... .. .. . .. .. ... ... .. .. ... . . ... . 480
9.3. Acoplamiento no conductivo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
9.3.1 . Campo cercano y campo tejano . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
9.3.2. Acoplamiento capacitivo ... . . .. .. ... . . ... .. ... .. ... .. ... .. ... .. ... . . . .. . 494
9.3.3. Acoplamiento inductivo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 503
9.3.4. Modelo general de ruido por inteñerencias extemas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . 508
9.4. Interferencias de campo lejano . ... .. ... .. ... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 509
10. Bucles de tensión y corriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 513

10.1 . Atenuación e interferencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 515
10.1.1 . Atenuación de sefiales .. ... . ... . .. . . .. . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 515
10.1.2. Guardas .. .. ... .. ... .. ... ... .. . . . .. .. ... . . ... .. .. . . . .. ... .. .. . .. .. . 519
10.1.3. Modelo de inteñerencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 522
10.2. Transmisión en bucle de tensión . ... .. ... . . ... .. ... . . ... . ... ... .. .. . .. . . . .. . 523
10.2.1. Caracterización instrumental de un bucle de tensión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 527
10.2.2. Consideraciones prácticas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 532
10.3. Transmisión en bucle de corriente . ... .. ... .. ... .. ... . . .. .. ... . . , . . . . . . . . . . . 533
10.3.1 . Caracterización instrumental de un bucle de corriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . 538
10.3.2. Hart.. .. ... .. ... .. . .. .. ... .. ... .. ... . .... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 541
10.3.3. Comparación entre bucles de corriente y tensión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 542
Blbllograffa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 549
Índice alfabético . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 563
VIII
Prólogo
SOBRE EL CONTENIDO Y ESTRUCTURA

DEL PRESENTE LIBRO
Cuando se planteó la realización de este texto, el objetivo general fue el de

proporcionar una herramienta útil para las titulaciones universitarias que in-
cluían en su desarrollo curricular contenidos relacionados con el mundo de
la medida, los sistemas instrumentales y la instrumentación electrónica. Sin
embargo, dado el carácter multidisciplinar de la Instrumentación Electrónica
como disciplina cientffica, tanto desde el punto de vi~ta de su aplicación como
desde su desarrollo, resulta casi imposible abarcar todos sus aspectos, hacer-
lo con profundidad y garantizar que el contenido pueda ser seguido por cual-
quier lector potencial.
Aunque la Ingeniería sea el primer ámbito en el que podemos pensar cuan-
do se habla de instrumentación, todos los campos cientfficos precisan si~temas
instrumentales en la obtención de datos y en la medida. Así, la Instrumenta-
ción Electrónica se aplica a cualquier rama de la Ingeniería, a ciencias bási-
cas como la Física, la Química, la Geología, la Biología, a ciencias aplicadas
como la Tecnología de Alimentos, la Medicina y la Veterinaria e, incluso, a
otros ámbitos como la Arqueología, la Paleontología o las aplicaciones milita-
res. Pero no sólo cabe hablar del carácter multidisciplinar de sus aplicaciones;
sus fundamentos precisan el concurso de otras ciencias, además de la Tecno-
logía Electrónica, puesto que todos los sensores están desarrollados siguiendo
principios concretos de los campos físico, químico o biológico. En conclusión,
la Instrumentación Electrónica constituye un ejemplo de integración positiva
de ca~i toda~ las ciencia~ aplicada~ a casi todos los ámbitos de la existencia. Si
alguien duda de esto último ba~ta que se pregunte cuántos sensores lleva en
su bol~illo o cuánta~ veces al día su imagen es recogida por algún sensor.
En este complejo contexto se ha procurado realizar un libro que permita su
utilización por el mayor número posible de lectores, para lo cual sólo se es-
tablecen unos mínimos requisitos para acceder satisfactoriamente a su con-
tenido y ser capaz de asimilarlo. Estos requerimientos de partida son unos
conocimientos básicos de Física, propios del primer curso de cualquier titula-
ción del ámbito cientffico-técnico, conocimientos de teoría de circuitos (aná-
lisis de circuitos en continua y alterna) y de la tecnología electrónica (diodo,
transistor, amplificador operacional ideal y bloques digitales básicos), los que
corresponderían a una primera asignatura de Electricidad y de Electrónica.
Obviamente, la herramienta matemática es fundamental para la expresión de

las ideas científico-técnicas y, por tanto, el lector debe estar familiarizado con
lo básico de cálculo matemático, manejo de los números complejos y de la
aplicación de la Transformada de Fourier. A partir de estas nociones, se pue-
den seguir sin dificultad todos los contenidos del texto, secuenciados de tal
manera que se va profundizando en la materia a medida que se avanza en el
índice.
A la hora de desarrollar ese contenido se establecen objetivos de diverso nivel:
en una primera etapa, el lector debe familiarizarse con la terminología y con
los parámetros básicos, con la idea de que pueda efectuar comparaciones en-
tre diversas opciones y saber si una solución es válida o no para un determi-
nado supuesto. Es importante desterrar desde el primer momento las fra">es
en la~ que se incluyen "creo que", "me parece que" o "pienso que" y emplear
otras en las que la~ bondades y limitaciones de un sistema estén cuantificadas
por medio de sus parámetros característicos)', por tanto, las decisiones se pue-
dan fundamentar en términos objetivos. Desde el primer tema ha~ta el último,
se presentarán parámetros básicos que permitan establecer criterios objetivos
cuantitativos para definir el comportamiento de un sistema y para efectuar la
comparación entre diversas soluciones para un mi-;mo problema.
El segundo nivel de objetivos está constituido por el conocimiento del funcio-
namiento de los principales bloques de un sistema instrumental, empezando
por aquellos que son comunes a la mayoría de ellos (amplificación, filtrado y
conversión analógico-digital) y siguiendo por los más específicos como son los
sensores disponibles para medir variables (sensores de resistencia, capacidad
e inductancia variable y sensores generadores de señal). Para concluir, se es-
tudiarán los problema~ que generan sobre todos ellos las interferencias elec-
tromagnética~ y las limitaciones del envfo de las señales mediante tensiones o
corrientes.
En un tercer nivel, el lector debe afrontar el más complejo de los objetivos,
el de adquirir capacidad de diseño, primero como re-cálculo de los ejercicios
propuestos y, en un estadio posterior, de sistemas totalmente nuevos y dife-
rentes de los aquf planteados. A esta idea contribuye la presente estructura-
ción del contenido que habla primero de los bloques bá~icos (tema~ 2 a 5) para
luego, aprender a construir con ellos sistemas más y más complejos. En este
sentido, también se ha empleado una pendiente positiva en la complejidad de
los ejercicios a medida que el libro avanza; son muy concretos en los primeros
tema~ y, después, más abstractos y enfocados a pensar. Incluso, en el último de
los temas de sensores se presentan diversas realizaciones de alta complejidad
como ejemplos sobre los que el lector debe pensar.
Al llegar a este punto nos preguntamos si adquirir la capacidad de diseño es
suficiente como objetivo final. Lógicamente, podemos pensar que sí y que esa
es la última etapa de cualquier profesional. Sin embargo, en un mundo como
el de la instrumentación, en el que se suceden y sucederán los nuevos desa-
rrollos, se debe garantizar que se mantenga esa capacidad de diseño a lo largo
del tiempo y, para esto, es básico adquirir una cierta perspectiva sobre el con-
texto de la Instrumentación Electrónica. A lo largo del texto, tanto en el cuerpo
principal como en los márgenes, se incluyen algunos hitos históricos, persona-
jes relevantes y anécdotas referentes a este mundillo con la intención de que
el lector no vea el libro como un contexto cerrado, sino que trate siempre de
X
PRÓLOGO ••
ir más allá, de indagar y de lograr el último de los objetivos: la capacidad de

integrar los futuros desarrollos dentro de su esquema de conocimientos. Si se
logra este hito, no sólo se estará en disposición de afrontar los restos de este
campo en el momento presente, sino que se estará en condiciones de asumir
las situaciones futuras. En esta Ifnea del reto como motor de superación y de-
sarrollo lo siguiente es desear que el lector pueda concluir que si algo existe,
se puede medir y; si no se puede medir, simplemente no existe.
AGRADECIMIENTOS
El desarrollo de un libro no es un asunto sencillo¡ suele haber mucha~ perso-

nas que han influido en él de una u otra forma, desde los lectores hasta los
editores. En este caso concreto, quiero expresar mi agradecimiento en primer
lugar a mis alumnos de la Escuela Politécnica de Ingeniería de Gijón que, a lo
largo de los años, me han permitido enfocar los temas y detectar aquellos as-
pectos más problemáticos de la materia. También quiero agradecer las críti-
ca~ recibidas en anteriores publicaciones, de alumnos y profesores, la mayoría
muy bienintencionadas, y todas ellas, en fin, con a~pectos importantes que he
tratado de tener en cuenta para mejorar el resultado final. Espero que en esta
nueva publicación todos ellos disculpen las posibles erratas que queden, a pe-
sar de todas la~ revisiones efectuada~.
En el plano concreto, quiero agradecer a mis colegas y compañeros Juan Car-
los Campo Rodríguez y Francisco Javier Perrero Martín sus acertados comen-
tarios sobre el primer tema, el más importante del libro, por cuanto en él se
define el lenguaje a utilizar en el resto. Y, para finalizar, quiero hacer una men-
ción especial para el meticuloso trabajo de revisión matemática y de cálculo
de mis colaboradores Ana Garcfa Fernández y Alberto Cortina Martfnez. Sin
ellos, habría muchas errata~ en las expresiones, subíndices, números y, en ge-
neral, en todos esos casos en los que un separador decimal, por ejemplo, ad-
quiere vida propia para situarse donde no debe.
XI
Tabla de símbolos
A continuación se indican los símbolos empleados a lo largo del texto. No se

ha empleado ninguna regla de carácter general para definir la simbología sino
que se ha optado por el uso de la notación más frecuente. La Instrumenta-
ción Electrónica es una disciplina de carácter horizontal que está relacionada
con la práctica totalidad de las ciencias, puesto que su uso se ha hecho im-
prescindible en su correspondiente desarrollo. La ciencia de la medida y de la
cuantificación es una constante universal y ha sido uno de los pilares que ha
permitido no sólo justificar o demostrar nuevas teorías sino que ha impulsa-
do la necesidad misma de esa~ teorías como justificación y explicación de las
discrepancia~ en las medidas. Por esto, cualquiera que trabaje en la disciplina
instrumental debe adquirir el concepto de relatividad de términos y sfmbolos,
es decir, debe acostumbrarse a trabajar con los conceptos más que con sus de-
nominaciones o con la forma de representarlos puesto que sus interlocutores
pueden estar acostumbrados a trabajar con un "idioma" específico de símbo-
los y términos.
El lector encontrará que en algunos ca-;os un mi~mo símbolo aparece relacio-
nado con significados dispares que corresponden a magnitudes también di-
ferentes. Podría haberse evitado este aparente conflicto con una re-definición
general de todos los símbolos, pero como el número de variables supera al
número de letras - incluso teniendo en cuenta el alfabeto griego- al final,
estaríamos obligados a usar subíndices y otros signos de diferenciación, lo
que contribuiría a incrementar la confusión que supone, por sí misma, cam-
biar los símbolos habituales. Se ha preferido, entonces, utilizar el símbolo más
frecuente para cada magnitud aunque eso signifique que, por ejemplo, casos
como la presión y la potencia compartan la P como notación. Al tratarse de un
texto orientado a lectores con sólida formación técnica previa, se puede supo-
ner que esto no entraña dificultad alguna y que sabrán distinguir cada caso en
función del contexto.
Tampoco se ha hecho distinción en los símbolos en función de la unidad o es-
cala que se use; así, una temperatura vendrá denotada por T ya sea medida en
°C, K o °F; del mi'>mo modo, un valor instantáneo de tensió~ un valor medio
o uno eficaz estarán expresados por el mi->mo símbolo, V, y sólo en ca'>o de ser
necesario se incluirá un subíndice como forma de evitar la confusión.
Para finalizar, se ha incluido también el nombre más habitual del término
en inglés, así como las unidades en que suele expresarse y 1o la indicación
"Adim." en caso de que se trate de un término adimen.'>ional.
A Amplitud (amplitude)
A Área (section) (m2]
Ao Gananciaencontinuadeun Adim. dB V/mV V/V
operacional
Ae Ganancia de modo común A.O. Adim. p.u.
(rommon-11Wde gain)
AD Ganancia diferencial (differenti.al gain) Adim. p.u.
Ad Ganancia diferencial A.O. (open loop Adim. dB V /mV V/V
gain)
At Atenuación (a.tten.uation) Adim. dB
B Ancho de banda (bandwidth) [Hz] [s-']
B Campo magnético, inducción [G] [mT]
magnética (magnetic fteld)
B Coeficiente térmico de las NTCs (K]
Bo Ancho de banda a ganancia unitaria [Hz]
(unity-gain ba.ndwidth)
e Velocidad del sonido (speed of sound) [m/s]
e Velocidad de la luz (speed of light) 299792,458 km/ S
e Capacidad eléctrica (capacitance) [11F] [nF] (pF)
ele Capacidad de modo común (Q]
(common-mode ca.pacitance)
Cid Capacidad diferencial (differential (Q]
capacitance)
CMRR Razón de rechazo al modo común Adim. dB p .u.
(commDn-mode rejection ra.tio)
d Densidad (density) (g/1] [kg/ m3]
D Diámetro (diameter) [m)
DR Rango dinámico (dynamic range) Adim. dB
E Tensión de excitación [V)
E Módulo de Young (Young's [GPa]
modulus)
E Campo eléctrico (electric fteld) (V/m]
ENB Ancho de banda equivalente para [Hz)
ruido (noise equivalent ba.ndwidth)
f Frecuencia (jrequency) [Hz) (s-')
fe Frecuencia de corte (cut-offfrequency) (Hz]
fe Frecuencia central (central frequency) [Hz]
!s Frecuencia de muestreo (samplin.g [kS/s] [MS/s] [S/s] [s·']

frequency)
FSO Fondo de escala de salida (Full Scale
Output)
XIV
TABLAS DE S!M BOLOS ••
g Aceleración media de la gravedad 9,81 [m/ s2)

(Earth's gravity)
G Ganancia de tensión (voltage gain, Adim. p .u.
gain)
G(w), G([J Función de transferencia (dyna:mic
tran.sfer functi.on)
GBW Producto ganancia-ancho de banda [Hz]
(gain-bandwidth product)
h Altura [m]
h Constante de Planck 6.62606957·10-M J-s
H Campo magnético (magnetic field) [A/ m]
i, 1 Corriente eléctrica (current) [A]
¡!Y 18 Corriente de polarización (bias [nA]
current)
1D Corriente de oscuridad (dark current) [nA]
Je Corriente de entrada (input current) [A]
IF Fotocorriente (photocurrent) [nA)
I., Corriente de desviación (offset [nA]
current)
JMRR Razón de rechazo al modo de Adim. dB p .u.
aislamiento (isolation-mode rejection.
ratio)
1h Corriente de ruido (noise current) [nA]
Jo Corriente de salida (outpu.t cu.rren.t) [A]
J Operador complejo (Fí)
k Constante de Bolztman 1,381·10-23 [}/K]
K Factor de galga (gau.ge factor) Adim. p.u.
L, l Longitud (length) [m]
L Autoinducción, inductancia (mH] (¡¡H)
(indu.ctance)
L Intensidad luminosa (lu.minous [cd]
intesity)
L Flujo luminoso (lu.minous flux) [lm]
L Flujo radiante (radiant flux) [W]
L lluminancia (illuminace) (lx] [lm/ m2]
LSB Valor de tensión entre dos niveles en [V]
un A/ D (less significant bit)
M Masa molar (molar mass) (kg/mol]
M Ganancia de un APD Adim. p.u.
1! Número de bits de un
convertidor A/D
XV
n Orden de un filtro (filter order)

N Número de niveles de un convertidor
A/D
NEP Potencia equivalente de ruido (noíse (¡tW]
equivalent power)
NF Factor de ruido (noise factor, noise Adim. dB
figure)
p Potencia eléctrica (electric power) fW)
p Presión (pressure) (Pa] [kPa]
p Resistencia de un potenciómetro (O]
PSRR Rechazo de la tensión de Adim. dB
alimentación (power supply rejection
ratio)
q Carga (CJ
Q Resolución (resolution)
Q Caudal (dischJJrge) (m3 /s]
Q Factor de calidad (quality factor) Adim.
R Constante universal de los gases (gas 8,314 (}/moiK]
consta.nt)
R Trans-resistencia (transresitance) [O]
R Resistencia eléctrica (resista.nce) (Q] (kO] [MO]
Re Resistencia de contacto [O]
RH Coeficiente Hall (m3 /As]
R"' Resistencia de modo común [O]
(common-nwde resistance)
Rld Resistencia diferencial (differential [Q]
resistance)
1~ Resistencia Thévenin (fhévenin [O]
resistance)
R Resistencia de los hilos (wire [O]
" resistance)
R Radio (radiu.s) [m]
r Resolución de un convertidor (A/D
resolution)
r Rizado de la banda pasante (pass-band Adim.
ripple)
R. Resistencia térmica (thermal resistance) ["C/vVJ
S Alcance (span)
S Sensibilidad (sensitivity)
S Superfide (ureu) [cm2]
S Salinidad (salinih¡) Adim. %
XVI
S' Salinidad diferencial Adim.%

SE Efectividad de la pantalla (shielding Adim.
effectiveness)
S/N Relación señal/ ruido (signal-to-noise Adim. dB
ratW)
SR Slerv-rate fVhts] [MV/s] fV/s]
T Temperatura (tem.perature) cnCJ fKJ
t Tíempo (time) [s] [ms] [¡¡s]
Te Tiempo de conversión (conversión. [¡t.s1
time)
THD Di~torsión armónica (total hannonic Adim. %
distortion)
tol Tolerancia (tolerance) Adim. %
ts Tiempo de establecimiento (settling [s] [rns] [¡¡s]
time)
Ts Periodo de muestreo (sampling period) [s]
ll Incertidumbre (uncertainty)
V, V Tensión (voltage) M
V Velocidad (velncity) [m/s]
Ve Tensión de modo común fVl
(common-mode voltage)
vee Tensión de alimentación (supply [V)
voltage)
±Vec Tensión de alimentación dual (dwll [V)
supply voltage)
Vd TerL~ión diferencial de un operacional fV]
(input differential voltage)
VD Tensión diferencial (differential fV]
voltage)
Ve Tensión de entrada (input voltage) fV]
Vo Tensión de salida (output voltage) M
V Tensión de desviación de entrada [¡¡V)
"' (input offset voltage)
V¡, dhft Deriva de la tensión de desviación de [¡tV]
entrad (input offset voltage drift)
VTSO Tensión de aislamiento (isolation [kV)
voltage)
VN' V
V
' . Tensión de ruido (noise voltage)
Tensión de desviación de salida
M
[mV]
"" (output offset voltage)
y Trans-conductancia (transconductance) [Q-t]
XVII
z Impedancia (impedance) [O]

z Impedancia característica (wave [O]
impedance)
Zo Impedancia del vado (free space 3770
impedance)
zk Impedancia de modo común [O]
(common-mode impedance)
z Id lmpedancia diferencial (dijferential [O]
impedance)
a Coeficiente térmico (thernal coefficient) roe-•]
{3 Factor de realimentación de ten~ión Adim. p.u.
{3 Ganancia de corriente de un Adim. p.u.
tranqistor
r Coeficiente de dilatación adiabática Adim.
(heat mpacity ratio)
Y, Densidad de corriente de ruido (noise [nAHz-1 /2]
current density)
N Ancho de banda (bandwidth) [Hz]
tJ.P Presión diferencial (differential [Pa] [kPa]
pressure)
e Error absoluto (absolu.te error)
e Error relativo (error) Adim. p .u. % ppm
e Permitividad (permittivity) [F/m]
Eo Permitividad del vado (vacu.u.m 8,85·10-'2 F 1m
permittivity)
e• Permitividad relativa (relative Adim. p.u.
pennittivity)
A. Longitud de onda (wavelength) [nrn]
¡J. Permeabilidad magnética (Tm/ A]
(permeability)
!lo Permeabilidad magnética del vado 4nlo-7 Tm/ A
(free space permeability)
V Frecuencia de una onda (wave [s·'] [Hz]
frequent:~¡)
¡; Número de onda (wa·venumber) [cm·']
V Coeficiente de Possion (Poisson Adim. p.u.
coefficient)
p Resistividad (electrical resistivity) [O·m]
(} Desviación estándar muestral Adim. p.u. %
(standard deviation)
a. Densidad de tensión de ruido (voltage [nVHz-•12]
noise density)
XVIII
rp Fase, Desfa~e (phase) Adim. 0

rad
rp Trabajo de extracción (work function) [eV]
<P Flujo magnético (magnetic flux) (Wb]
(J) Pul~ación angular (angular frequern:y) [s-'] [rad/s]
roe Pulsación de corte (cut-off angular [s-'] [rad/s]
frequenC!J)
ro. Frecuencia normalizada (n.onnalized Adim.
frequen.cy)
XIX
Tema
Caracterización de
sistemas instrumentales
- B-
t ,.. •
1!11!1 (.
•
•
I! IIIIIIS • ., ·-
IIUIBIIU (._
o.~> gQO~l.t
Q:" O.;¡ g UCJU CI \
~tiovogoo•::~
a oo c./o o .:a a w
ouoo • os
~ \\o ¡
lr.4
' 1 ,1
.:aaoo • c::::u::a ~
::.....----=- :..
.
ooll_r.. ..,-
D
, .... \...1
-
o o .
\ '
1.1. Definiciones generales, señales y datos

1.2. Caracterización estática
1.3. Caracterización dinámica
1.4. Incertidumbre y ruido en los sistemas instrumentales
TEMA l. CARACTERIZACIÓN DE SI STEMAS INSTRUMENTAL ES ••
1.1. DEFINICIONES GENERALES, SEÑALES

Y DATOS
La Instrumentación es una rama científico-técnica cuyo objetivo es mejo-

rar la capacidad de percepción de la realidad mediante el uso de cualquier
tipo de técnicas y sistemas. La percepción de la realidad hace referencia a la
extracción de información del entorno, d e un sistema o de un proceso me-
diante la identificación y cuantificación de sus variables características (Fi-
gura 1.1).
Los sistemas que se encargan de estas funciones se pueden denominar siste-
mas de instrumentación, sistemas de m edida o sistemas instrumentales.
SISTEMA
USUARIO
INSTRUMENTAL
1--*y"= f(X.)
•
Figura 1.1. Concepto general de un sislema instrumen tal.
El primer sensor magnético

Deci.r cuál fue el primer sistema de este tipo puede suponer entrar en una di~
cusión estéril acerca de si este o aquel deben o no considerarse como un sis-
tema instr umental, pero Jo que sí es cierto es que el objetivo de mejorar la
capacidad de percepción puede ser tan antiguo como el propio ser humano.
Inventos tan antiguos como la brújula - las primeras citas fiables datan del
siglo XD-- podrían considerarse como sistemas instrumentales, aunque exis-
ten efectos en los que se basan algunos modernos sensores, como el efecto p i-
roeléctrico, que fueron documentados hace más de dos mil años.
La aparición de los primeros dispositivos electrónicos, en los inicios del siglo
La brújula puede ser el primer
xx, permitió aprovechar sus prestaciones para mejorar desde entonces los in- sistema magnético de detección.
cipientes sistemas instrumentales y desarrollar una rama científico-técnica de-
Es originaria de China y se pue-
nominada Instrumentación Electrónica. Hoy en día, los sistemas electrónicos
de considerar que apareció al
instrumentales están presentes de forma masiva en nuestra vida cotidiana y comiell.Zo del siglo xn, aunque
en el conjunto de nuestro entorno. Nada es más sencillo que ir a buscar nues- hay ciertas dudas en torno a una
tro inseparable teléfono móvil de última generación, ese que lucimos orgu- datación más exacta.
llosos en todas partes, y echarle un viqtazo: ¿cuántos siqtemas electrónicos de
En la Figu.ra se muestra una
instrumentación se podrían identificar? Empezamos por el micrófono (aun- brújula-pez, como la que se
que hoy es casi una función secundaria, el objetivo inicial del móvil era el de menciona en textos de la época
hablar), que recoge nuestra voz, la trata y la transmite a cualquier p unto del de la dinastfa Song. Esta es una
mundo, seguimos por la cámara con un sinfín de mega píxeles, los sensores reproducción que se puede ver
que recogen la inclinación, nuestra posición actual, los que nos indican la si- en el Museo del Parque de l as
tuación de carga de las baterías, los sensores táctiles que nos permiten mo- Ciencias de Granada.
vemos sobre la pantalla.. . Y, desde enero de 2013, se estima que el número de
estos equipos es mayor que el número de habitantes del planeta.
Los sistemas de instrumentación electrónica entregan la información median-
te señales eléctricas, listas para ser procesadas por otros si~temas electrónicos,
3
tales como microprocesadores, microcontroladores, computadores . .. Un sis-

tema de este tipo suele tener una estructura como la que se presenta en la Fi-
gura 1.2.
CIRCUITO OE
X-+J SENSOR
ACONDICIONAMIENTO
1--- V, 1
Figura 1.2. Estructura básica de un sistema el ectrónico de instrumentación.
En un sistema así, el sensor recibe la información de la variable X que se pre-

tende medir y produce algún tipo de señal eléctrica (tensión, corriente o car-
ga) o modifica los valores de algún parámetro eléctrico (resistencia, capacidad,
inductancia ...). El término sensor representa el concepto genérico de lectura
de una información y entrega de una señal de salida en función de esa infor-
mación. Existen otros términos para definir si~temas así, tales como captador,
transductor ...., e incluso se manejan definiciones especfficas y diferencias en-
tre ellos. Quizá en un entorno exento de pragmati~mo podríamos enzarzarnos
en una discusión de tertulianos sobre cuál sería el mejor nombre. Descendien-
do al nivel práctico en el que pretendemos movernos, podemos denominarlo
como queramos, mientras sepamos utilizarlo correctamente para los fines pro-
pios de la Instrumentación.
Las salidas producidas por el sensor suelen precisar una cierta adaptación
para obtener un valor aceptable de tensión o de corriente. Esto se realiza me-
d iante un circuito de acondicionamiento (conditioning circuit), que suele ser
un bloque electrónico más o menos complejo.
La señal producida a la salida de un sistema instrumental básico como el de la
Figura 1.2 puede ser tratada de diversas maneras en función de los objetivos
que se p lanteen. Así, podríamos tener sistemas que sólo actúan como medi-
dores, en cuyo caso, la información se representará en algún tipo de visua-
lizador, como un display numérico, un indicador de aguja, barra de p untos,
pantalla gráfica, etc. (Figu ra 1.3). Medidores y sistemas de supervi~ión son tí-
picos ejemplos que emplean estos esquemas.
CIRCUITO DE
X SENSOR
ACONDICIONAMIENTO
·;.·:·4n
a...·-·· - (11/S
•
Figura 1.3. Sistema instrumental como equipo de monitorización de variables.
En otras ocasiones, esas señales se llevan a circuitos de control que tomarán

decisiones en función de los valores recibidos. Este es el esquema básico típi-
co de los sistemas de control de procesos como el que se muestra en la Figu ra
1.4, P.n romp:mu·ión con la vi~ión ciP. P.st a misma iciP.a dP.s ciP.la óptica ciP. la RP.-
gulaciónAutomática.
4
Un ejemplo de uno de estos sistemas podría ser el control de tempera-

tura del líquido en el interior de un recipiente: leeríamos la temperatura
mediante un sensor de temperatura y, tras acondicionar la salida, obten-
dríamos una señal que enviamos al controlador. Este, en función de la con-
signa que se tenga, dará la orden a un actuador para calentar o enfriar el
líquido.
Consigna
1 29.02 1
PROCESO • t
:::
...
X SENSOR CIRCUITO DE AJO CONTROLADOR
ACONDICIONAMIENTO
./
..J
ACTUADOR
/
Consigna + X
REGULADOR ACTUADOR PROCESO
~ .....
L.,
CAPTADOR
Figura 1.4. Com paración de las visiones del control de procesos bajo las ópticas de la lnstrumen·
!ación Electró nica (arriba) y de la Regulacíó n Automática (abajo).
Este tipo de sistemas suele incluir bloques de visualización de las variables Bl 11 Curiosity"
implicadas o salida~ para distribuir la información a sistema~ de control o su-
penrisión de un nivel superior.
En algunas ocasiones, el lugar de la medida puede no estar físicamente próxi-
mo al lugar donde se va a visualizar o donde se encuentra el sistema de con-
trol. En tales casos, la señal debe ser enviada a cierta distancia por algún
medio físico de transmisión y mediante el uso de trart~misores (TX) y recepto-
res (RX) según se indica en la Figura 1.5.
Medio do
Quizá uno de los más especta-
X SENSOR
CIRCUITO DE
ACONDIC.
V
TX
--
z
transmisión
.., __ RX
V
culares ejemplos de sistema de
telemed.ida es el robot denomi-
nado comúnmente como "Cu-
rwsity" (Mars Science Lllbomtory,
d~stanclo
MSL), de la NASA que, en rea-
lidad, es un completo laborato-
Figura 1.5. Diagrama básico de un sistema de telemedida. rio para el análisis de muestra~,
tom a de datos v transmisión
El proceso de lectura de variables a tma cierta distancia mediante el uso de sis- -
de resultados a La Tierra. En la
temas de trart~misión/ recepción se denomina telemedida, un concepto muy imagen, se muestra una recrea-
amplio que abarca aplicaciones a corta di~tancia, tales como la lectura de los ción artística de su actividad en.
parámetros de un marcapasos, que supone unos pocos centímetros, hasta ca- Marte, creada por la NASA.
sos que suponen millones de kilómetros, como la medida de los parámetros
ambientales de un satélite en la órbita de Saturno.
5
Los esquemas instrumentales presentados hasta aquí son un mero ejemplo de

algunas de las opciones, pero el ámbito de esta rama científico-técnica es total-
mente horizontal, abarcando a la mayoría de los ámbitos de la ciencia y de la
tecnología. La Instrumentación Electrónica está presente en nuestra vida coti-
diana, en el hogar, en la calle, en los edificios públicos, en los transportes, en el
mundo de las aplicaciones militares y; por supuesto es la base de los sistemas
de control de procesos.
El carácter horizontal de la Instrumentación Electrónica introduce también un
marcado carácter multidisciplinar en el que personas con diversas especiali-
zaciones científico-técnicas compaginan sus habilidades en el desarrollo de
determinados sistemas. Es frecuente que en estos equipos se incluyan quími-
cos, físicos, biólogos, médicos, veterinarios ... junto con ingenieros de diver-
sas ramas en el diseño de un sistema concreto. Como ejemplo, el lector puede
pensar en la configuración del personal de un equipo técnico cuya misión
sea desarrollar un sistema capaz de detectar la existencia de vida en el plane-
ta Marte. Probablemente, a los especialista~ anteriores, haya que añadir algu-
no más ...
Por otro lado, los sistemas de instrumentación electrónica tratarán de reali-
zar las funciones para la~ que han sido diseñados de la mejor forma posible.
Como diseñadores, desarrolladores o, simplemente, usuarios, es importan-
te cuantificar de alguna forma lo bien o mal que hacen esa~ funciones. En el
mundo de la Instrumentación no suelen encajar las creencias ni las opiniones
tertulianas, sino que toda~ las decisiones deben estar sustentadas con valores
y datos que las avalen. Por tanto, la forma de saber si un determinado siste-
ma sirve o no para el cometido para el que ha sido seleccionado o diseñado,
o la forma de determinar qué opción de las disponibles es la mejor para una
aplicación concreta, pa~a por emplear una serie de indicadores genéricos. Este
proceso se denomina caracterización y se presenta en los dos siguientes apar-
tados.
1.2. CARACTERIZACIÓN ESTÁTI CA
La primera aproximación a la caracterización del comportamiento de cual-

quier si~tema instrumental, sistema de medida o sensor se puede realizar en
condiciones estáticas o de régimen permanente, es decir, definiendo cómo se
comporta su salida cuando la entrada se mantiene en un valor constante o
cuando ha transcurrido un tiempo suficientemente largo desde el último cam-
bio en la entrada. Esto es lo que se conoce como caracterización estática de un
sistema.
1.2.1. CARACTERIZACIÓN DETERMINISTA DE SISTEMAS

INSTRUMENTALES
En estas condiciones, supongamos un sistema o sensor como el que aparece en

la Figura 1.6, en la que se muestra un bloque con una entrada X y una salida
Y, y una rebción explícita entre ella~.
6
TEMA l. CARACTERIZACIÓN DE SI STEMAS INSTRUM ENTAL ES ••
X y
Figura 1.6. Un sensor lee una variable X y produce u na señal de salida Y.
Precisamente, la forma de caracterizar estáticamente dicho sistema es me-

diante esa relación explícita que se suele denominar curva de calibración (sta-
tic tran.sfer function), debido a que suele ser normal presentarla en un gráfico
como el lugar geométrico de los puntos que relacionan los valores de la varia-
ble de entrada con los de la variable de salida (Figura 1.7).
y El alcance
Muchos sistemas de medida tie-
nen Wl campo de medida que
empieza en cero, de modo que
Curva de calibración su alcance y el valor máximo
coinciden. Esto hace que Jos tér-
minos se confundan.
El problema está cuando el
campo de medida no empieza
X en cero, como, por ejemplo, el
caso de un termómetro clúúco,
Figura 1. 7. La curva de cal ib ración representa la relación entre la variable d e entrada y la de salida que mide entre 34 y 42"C. En tal
en los sistemas i nstrumentales. caso, el alcance de la medida es
de 7" y cualqtúer parámetro de-
A su vez, la caracterización de la curva de calibración suele hacerse mediante berá referirse a este dato.
una serie de parámetros que definen su aspecto general. De ellos, los más im-
portantes son el campo de medida y el alcance (Figura 1.8):
• Campo de medida (ran.ge): es el intervalo de valores admisibles en la entra-
da al sistema, comprendidos entre un máximo, XMÁX' y un mfnimo, X,\!IN y
cuyas unidades de medida son las de la variable de entrada.
• Alcance o fondo de escala (span o full sea/e): es la diferencia S entre los ex-
tremos del campo de medida:
S = X~rAx- X,\!IN
y
C ampo de medida
[X.,,., X.,1,J
'
,rAlean ce
Figura 1 .8. Conceptos de campo de medida y de alcance.
7
Por tanto, las unidades de S se corresponden a las de la variable de en-

trada.
Aunque nos podemos encontrar con cualquier tipo de campo de medida, lo
más frecuente es que el campo de medida empiece en el valor nulo, [0, XMAxl o
que sea simétrico, es decir, del tipo [- XMÁX' +~!Áx]. En cualquier caso, a la hora
de elegir o emplear un sistema instrumental, el conjunto de los valores de en-
trada con los que queremos trabajar debe estar incluido dentro del campo de
medida y lo más ajustado que sea posible a él. En la Figura 1.9 se muestran di-
versas situaciones en lo que se refiere al campo de medida.
Uso pobre del

Valorea fuera del campo de medida campo de medida
Figura 1.9. La primera condición para usar un determinado sistema de medida es que el campo de
medida de la variable sea compatible con el del equipo. En los dos primeros casos (a la izquierda),
el instrumento no puede leer determi nados val ores; en el tercer caso, sólo se emplea una parte
muy pequeña del cam po de medida del instrumento. Sólo el caso de la derecha presenta una bue·
na compatibilidad en tre el cam po de medida de la variable y del instrumento.
EJEMPLO 1.1
Se dispone de un voltímetro de tres dígitos con campos de medida de
[0, 2] y [0, 20] V. ¿Cuál se debe emplear para medir una tensión máxima
de 1,3 V?
Solución:
Si usásemos el segundo de los campos de medida (o escalas), el valor
que aparecería en el display estaría comprendido entre 00,0 y 01,3, lo que
nos permitiría obtener un total de 14 valores diferentes para nuestra
tensión.
Sin embargo, usando la primera de las escalas, la tensión que veríamos
reflejada variaría entre el nún.imo 0,00 y el máximo 1,30. Esto ofrece 131
posibles valores, lo que significa que la segunda escala aporta mucha
más información que la primera y, por tanto, deberla ser la empleada.
Los parámetros de fondo de escala de salida y sensibilidad terminan de carac-

terizar, a grandes rasgos, la curva de calibración, tal y como se muestra en la
Figura 1.10:
• Fondo de escala de salida (jull scale output): es la diferencia, FSO entre el
máximo y el mínimo de la salida de un sistema:
FSO = Y,,rAx - Y~!IN
Sus unidades de medida corresponden a las de la variable de salida.
8
TEMA l. CARACTERIZACIÓN DE SISTEMAS INSTRUMENTALES ••
• Sensibilidad (sensítívity): es la pendiente de la curva de calibración en cada

punto:
Sx =-
o
avl
ax X=Xo
Sus unidades de medida son las de la variable de salida, divididas por las Ajuste heurístico
de la variable de entrada. Ajustar una recta al conjunto de
valores de wta curva de calibra-
y
ción es un proceso que puede
estandadza.rse, mediante la téc-
nica de oúnimos cuadrados, que
proporciona tut ajuste capaz de
mantener en el mínimo posible
FSO la suma de todas las distancias
entre la recta ajustada y cada
uno de los puntos individuales.
Sin embargo, puede que no in-
terese un ajuste "aceptable" en
todo el intervalo sino que prefi-
ramos un ajuste mejor en deter-
Figura 1.10. Sensibilidad y fondo de escala de salída. mútadas zonas a costa de perder
exactitud en otras menos intere-
En los sistemas instrumentales se tiende a preferir que la sensibilidad - pen- santes.
diente elevada en la curva de calibración- sea grande para conseguir que, in- También es posible que existan
cluso con pequeños alcances, se obtengan valores aceptables de FSO. Pero, zonas que sugieran un ajuste
en cualquier caso, lo óptimo es que la sensibilidad sea constante a lo largo de determ.i:ttado, tales como puntos
todo el campo de medida, en cuyo ca~o el sistema sería lineal, según se mues- de inflexión en las curvas.
tra en la Figura 1.11. Todas estas consideraciones
conducen a que no debemos de-
y y
jar que la metodología suplante
nuestra capacidad de pensar y
Zona de máxlma Sooslbllldad de decidir.
sensibilidad constante
X.uex X
Figura 1.11. Curvas de cali bración no l ineal y l ineal.
Un sistema lineal no presenta cambios de linealidad y es muy simple de repre-

sentar, mediante una función del tipo:
Debido a esta simplicidad, se suelen tratar de representar los sistemas me-

diante expresiones lineales, aunque la curva de calibración no sea estricta-
mente lineal. El proceso de obtener la expresión lineal que mejor represente
la curva de calibración se conoce como linealización. Con carácter general,
la mejor forma de hacerlo es mediante una regresión por minimos cuadra-
9
dos (least squares regression) que garantiza encontrar la recta que está a menor
distancia de todos los puntos de la curva de calibración. Este proceso se sue-
le hacer mediante algún tipo de hoja de cálculo ya que un cálculo manual se-
ría bastante tedioso.
Ajustes complejos Lo bien o mal que la expresión lineal representa a la curva de calibración se
Cuando se busca una ftlJ\ción puede medir de muchas formas¡ por ejemplo, el coeficiente de correlación,
expl.fcita que relacione la entra- R2, suele proporcionar una idea general, pero la mejor forma de cuantificar la
da con la salida de W\ sistema, bondad del ajuste es mediante el concepto de la no-linealidad:
desde W\a nube de puntos obte-
nida de forma empírica, la lineal
• No-linealidad (nonlinea.rity), que es la máxima diferencia entre los va-
es la primera opción y la más lores de la curva de calibración y la recta ajustada a esa curva (Figura
simple. 1.12):
Pero, es frecuente caer en la ten-
tación de buscar más "nueves" Ezx = ( 1X..,.1 - X'Uneal 1)nuix
en el R 2, mediante el ajuste de
expresiones muy complejas. También se puede representar este valor referido a la variable de salida:
Unas sencillas transformacio-
nes ponen a nuestro alcance el
ajuste mecliante casi cualquier "v=(IY
-¡; ~a 1
-Y1•.nea1 l)máx
expresión. Sin en\bargo, hay que
actuar con cautela ante ajustes y
muy buenos mecliante expresio-
nes compleja~.
La primera precaución a tener
en cuenta es que el número de
puntos tiene que ser mucho
mayor que el número de pará- 1
metros, para evitar llegar a con- No linealidad

clusiones absurdas. Pero más
allá de esta obviedad, es muy
importante saber qué sig1úfica
incrementar el número de pará-
metros del ajuste y, sobre todo,
si ese ajuste es más o menos sen-
sible a cambios en los datos del X
experimento. A veces, es más
robusto y fiable un ajuste lineal Figura 1.12. Determinación del error producido por el ajust e de una recta. El valor final del error
que uno cuadrático o cúbico que viene determinado por el máximo error absoluto y el FSO o el alcance, según sobre qué escala se
produzca mejor correlación. refiera: la de entrada o la de salida.
Tampoco hay que olvidar que

la naturaleza del problema En ambos casos, se suele preferir utilizar valores adimensionales, por
debe marcar la búsqueda de la unidad, utilizando como base de referencia los respectivos fondos de es-
expresión, por lo que es con- cala:
veniente pensar en cómo se
comporta - de forma aproxi-
mada- antes de iniciar el pro- erx - _(IX real - X linead)
S max
.
ceso de ajuste.
En cualquier caso, es este un e
LY
= (1 Yreal. -
FSO
l'íinead)
problema complejo que suele múx
precisar el apoyo de especialis-
tas en Estadistica. Ahora, ambos valores son muy similares - y pueden usarse indistintamen-
te-- cuando el ajuste lineal es bueno.
10
EJEMPLO 1.2 (EJ0102.xlsx)

Determine la sensibilidad y la no linealidad de la curva de calibración
de un determinado sensor de temperatura entre O y 400°C que viene
dada por la expresión, con Ten oc y V en ¡.N :
V = 296456 -1497,6 · T + 0,31787 · Ti- 0,0031847 · "J'3 + 1,5721 · 10_. · T4
Solución:
Lo primero q ue haremos será representar la curva mediante, por ejem-
plo, un punto cada grado centígrado, hasta hacer unos 400 puntos. Re-
presentamos la función (Figura 1.13) y ajuBtamos una recta, obteniendo
la ecuación:
V = 1246,4 · T + 320665
900000
800000
700000
800000
s;' 500000
.:!. v~ 1246,4T + 320665
> 400000 k::?"....- R' ~ 0,9905
300000
200000
100000
o +---~---.---,---.---,---.----,---,
o 50 100 150 200 250 300 350 400
r re¡
Figura 1.13.
Eso significa que la sensibilidad es de 1246,4 ¡JV re.

La no linealidad
resulta ser de 36,465 m V, lo que s upone un valor por unidad de 0,073, es
decir 7,3 %, lo que es un resultado bastante mediocre. Obsérvese q ue el
coeficiente de correlación (0,9905) podría parecer elevado.. .
Particularizando más el estudio de la curva de calibración, podemos encontrar

una serie de singul aridades que afectan a la caracterización de los sistemas
instrumentales. Estas singularidades pueden tener orígenes diversos, pero sus
efectos son muy negativos. Entre la~ más habituales podemos citar:
• Zona~ de sensibilidad nula, es decir, área~ en donde la pendiente es cero.
Esto, por sí mismo, es un problema serio puesto que los cambios en la
entrada no afectan a la salida, como en el caso de las zonas mue rtas (dea-
th zones) que se muestran en la Figura 1.14a. Sin embargo el problema es
peor aún en el caso en que se tengan máximos o mínimos en las curvas de
calibración. En estos casos, dos entradas diferentes pueden proporcionar
la misma salida o, Jo que es lo mismo, cuando leemos un determinado
v alor en la salida no sabemos qué valor de la entrada lo produjo, gene-
11
rando una indeterminación (ill problem), tal como aparece en las Figuras
1.14b y 1.14c.
• Histéresis (hysteresis): este fenómeno, que consis te en la aparición de cam-
bios en la curva de calibración en función de cuál sea el sentido de evolu-
ción de la variable, se suele deber a la presencia de pérdidas energéticas o
de retardos por la presencia de elementos de memoria. El efecto de la histé-
resis es la generación de indeterminación (Figura 1.15a).
• Saturación (saturatwn), que consiste en la pérdida paulatina de sensibilidad
a medida que nos acercamos a los extremos del campo de medida (Figura
1.15b). La saturación es evidente en todos los sistemas electrónicos - debi-
do a las limitaciones impuestas por las tensiones de alimentación- pero
está presente en todos los demá~ sistemas.
y y y
Maxlmo
Yt
zona muerta
Y,
X & X & ,..,_,if"n()

X
¿X,? ¿X,? X'* tXt? ¿X,? XMW

x- x... x... x...
(a) (b) (e)
Figura 1.14. Problemas de indefinición en la curva de calibración: (a) p resencia de zona m uer ta;
(b) aparición de un máxi mo: (e) presencia de un mínimo.
y y
Saturac:i6::.,n_ _,
X X
x... x,..,
(a) (b)
Figura 1 .15. Problemas de histéresls (a) y saturación (b) en curvas de cal ibración.
La solución de todos estos problemas pasa por un replanteamiento general

que evite las causas o, si ello no es posible, se deberá reducir el campo de me-
dida a las zona~ en las que no se produzcan esos fenómenos.
Además de los aspectos presentados hasta el momento, la propia naturaleza
impone algunas limitaciones más a la curva de calibración de cualquier siste-
ma instrumental. Aunque tenemos la tendencia a pensar en las variables ana-
lógicas asociada~ a un conjunto denso de números, en el sentido matemático,
esto es sólo una aproximación. En un conjunto denso siempre es posible si-
tuar un nuevo valor entre cualesquiera dos valores de ese conjunto. Por ejem-
plo, entre 1 y 2, podemos encontrar 1,5; entre 1,5 y 2, tenemos 1,75; entre 1,75
y 2, 1,875, y a~f sucesivamente, hasta el número de cifras significativas que se
desee.
12
La forma habitual de trabajar con este tipo de casos - en realidad, todos los
casos- es mediante el concepto de intervalo de confianza (confidence interval),
que se define como los dos valores entre los que estará comprendido el valor
que estamos midiendo con una determinada probabilidad (Figura 1.17). Algu-
nos de los valores de probabilidad que se suelen manejar para estos interva-
los son: 95, 97,5 y 99 %. Asf, se suele hablar de "intervalo de confianza del 95
%" para referirse a los valores que encierran el 95 % de los casos de la di~tri
bución.
La distribución normal
Figura 1.17. El Intervalo de confianza establece la zona en la que se encontrará el valor con una
determ inada probabilidad, en este caso, con el 95 %.
La distribución de Gauss, gaus- Los intervalos de confianza se suelen representar en las curvas de calibración
siana o normal fue presentada mediante un segmento sobre el valor característico cuando la curva de calibra-
en el año 1733 por el matemáti- ción está formada por medidas di~cretas, o mediante una banda alrededor de
co francés Abraham de Moivre la curva media de calibración (Figura 1.18).
(1657-1754), que aparece en la
imagen, aunque debe su nom- y y
bre más habitual a que Gauss la .• ....·,
••••••• 1
formalizó y la empleó amplia-
mente en sus trabajos de astro-
nooúa
El nomb.re de "distribución nor-
mal" viene de que es la que re-
presenta el comportamiento de
la mayor parte de los sucesos y X X
de las variables en la naturaleza.
Otras distribuciones Figura 1.18. Interval o de confianza en los puntos discretos de una curva de calíbración (Izquierda)
y en el conjunto de la curva (derecha).
Además de la di~tribución nor-
mal, existen otros tipos de dis-
tribuciones, tanto para variables Todo esto implica que el proceso de medida no está exento de problemas li-
discretas como para las "conti- gados a las características de las variables implicadas y a las limitaciones de
nua~". Antes de dar por hecho nuestro propio sistema. El resultado es que la lectura de un mismo valor pue-
un determinado comportamien- de arrojar resultados diferentes .. .
to, serfa conveniente pensar so-
La pregunta que nos podemos hacer es si son muy diferentes o si, por el con-
bre la naturaleza de los datos
con los que se está trabajando
trario, se parecen ba~tante. La forma de responder a esto es mediante una serie
para no caer en suposiciones inde conceptos que nos indican cómo se comporta nuestro sistema:
correctas.
14
• Repetibilidad (repeatability): se trata de un concepto cualitativo que expresa

la diferencia entre varias medidas sobre un mismo valor, tomadas en tiem-
pos próximos, con el mi~mo sistema de medida y realizadas por el mismo
operador. Aunque se trata de un concepto cualitativo, puede cuantificarse
mediante diversos parámetros, siendo la desviación estándar el más habi-
tual de todos ellos.
• Reproducibilidad (reproducibility): como el anterior, este es un concepto La desviación estándar
cualitativo que expresa la diferencia entre varias medidas sobre un mismo Este parámetro estima el grado
valor tomadas en tiempos no próximos, con equipos diferentes de un mis- de dispersión de un conjunto
mo modelo y realizadas por distinto operador. También se suele usar la desde valores, es decir, promedia
viación estándar para cuantificar este concepto. cuánto se separan en su conjun-
to de su valor medio.
La expresión que proporciona la
desviación estándar es:
EJEMPLO 1.3
Un equipo mide una determinada variable X empleando dos valores L(X1 - X)
a =
patrón de 1,00 y 2,00 u.a. (unidades arbitrarias), obteniendo los siguien- n- 1
tes resultados:
donde xm representa el valor
medio y X, cada uno de los n
Valm:es de X = 1,00 u.a. 1,01 1,02 1,00 0,997 1,01 0,998 1,01 1,04
valores de la muestra. En el pre-
Valm:es de X = 2,00 u.a. 2,05 1,99 1,96 1,99 2,07 2,02 2,04 1,96 sente texto, todos los casos en
que se precise calcular la desvia-
ción estándar se realizarán sobre
¿Se puede considerar que el sistema tiene buena repetibilidad?
una hoja de cálculo.
Solución:
Buena o mala repetitividad es un concepto relativo que debe hacer re-
ferencia a una repetitividad deseada. En primer lugar, podemos definir
cómo queremos medir la repetitividad y luego, la compararíamos con
un valor que consideremos aceptable. Si es mejor, es buena, si es peor,
es mala.
En primer lugar, podemos. emplear la desviación estándar para estimar
la repetitividad de las medidas. Para la primera, tenemos un valor de
0,0142 u.a., mientras que, para la segunda, la desviación estándar resul-
ta ser de 0,0414 u.a.
¿Buena o mala? la respuesta dependerá de nuestras expectativas...
Cuando se pretende estimar la repetitividad de un equipo o la reproducibili-

dad de un determinado modelo, se recurre al empleo de valores muy fiables y
constantes, para garantizar que no hay dudas sobre el valor de la entrada. Un
valor de este tipo es lo que se conoce como patrón (pattern). El uso de patro-
nes permite efectuar ensayos de intercalibración entre diversos agentes (ins-
tituciones, laboratorios, etc.) para comprobar que las medidas que producen
son compatibles entre sí.
En algunos casos, ni siquiera es posible disponer de un patrón que permita ve-
rificar el comportamiento de nuestro sistema instrumental. Iln tales casos, la
iínica opción es recurrir a la idea de precisión (precisi01!), un concepto cuali-
15
tativo que expresa la concordancia entre diversas medidas de un mismo va-

lor y que puede cuantificarse mediante la repetibilidad, la reproducibilidad o
ambas.
Se habla de que un equipo es preciso cuando, ante un mismo valor de la varia-
ble de entrada, produce valores de salida muy similares.
La precisión puede ser malinterpretada en muchas ocasiones, mezclando el
valor real con el concepto de precisión. Sin embargo, es importante destacar
que un sistema puede ser extraordinariamente preciso y dar un resultado muy
alejado del real. Si se dispone de conocimiento del valor real, se pueden ma-
nejar dos conceptos que definen mejor el comportamiento de un determina-
do si~tema:
El kilogramo, el último patrón • Veracidad (trueness): concepto cualitativo que expresa la concordancia entre
Algunos de los antiguos patro- el valor promediado de varias medidas con el valor real.
nes para las diversa~ unidades • Exactitud (accuracy): concepto cualitativo que agrupa la precisión y la vera-
se han ido redefiniendo para cidad.
eliminar la dependencia de las
condiciones de conservación. Aun asumiendo un cierto carácter belicista en el ejemplo, es frecuente emplear
Así, el metro pa~ó de ser la lon- el sistema de rifle y diana para ilustrar estos conceptos, según se muestra en
gitud de una barra de platino la Figura 1.19.
iridiado que se conserva en el
Museo del Louvre en París a ser
la distancia que recorre la luz en •
el vacío durante 1/299792458 s. • •
•
•
Sin embargo, todavía queda •
alguno de los patrones físicos, •
•
como en el caso del kilogramo •
de masa, que es un cilindro de
una aleación de platino (90%) e
iridio (10%) que mide 39,17 mm
de altura y otro tanto de diáme- Equipo preciso Equipo poco preciso
tro. Este patrón se consenra en
la Oficina Internacional de Pesos
y medidas de Sevres (Francia),
pero puede presentar derivas
debidas a la adición o pérdida
de átomos desde o hacia el en-
torno. En la actualidad, varias
comisiones científicas están tra-
bajando en una defuúción que
emplee constantes físicas cono-
cidas en la definición, como el
número de Avogadro. Equipo poco veraz Equipo veraz Equipo exacto
Figura 1.19. Ejemplo de precisión, veracidad y exactitud mediante los impactos sobre una diana.
La estimación de veracidad y exactitud exigen conocimi ento del valor objetivo del blanco.
Con este ejemplo, un rifle preciso, que no se moviese, agruparía los diqpa-
ros, aunque no haya una diana concreta; un equipo poco veraz produciría
una desviación o sesgo (offset) promedio respecto del centro de la diana, y un
equipo exacto agruparía todos los disparos en el centro. Si pudiésemos ele-
gir, siempre preferirlamos disparar con un rifle exacto. Pero, en demasiadas
ocasiones, nuestro rifle puede tener el cañón algo desviado y, aunque agrupe
16
TEMA l. CARACTERIZACIÓN DE SI STEMAS INSTRUM ENTALES ••
los disparos, estos se desvían del centro de la diana. Esto tiene fácil solución:
apuntamos teniendo en cuenta el sesgo y un equipo poco veraz, pero preciso,
se podría convertir en exacto. El problema más grave es cuando disparamos
con una "escopeta de feria" ya que la di9persión de los impactos haría imposi-
ble conseguir precisión o exactitud.
Volviendo al mundo de la instrumentación, los conceptos cualitativos de pre-
cisión, veracidad y exactitud pueden asociarse a repetitividad y reproducibili-
dad y cuantificarse mediante el promedio y la desviación estándar.
EJEMPLO 1.4
Se dispone de tres balanzas con la~ que se hacen varias pesadas de un
determinado objeto. Los resultados de las pesadas son:
Balanza 1 (gl 23 22 27 21 24 20 28 23 24 22
Balanza 2 (gJ 31 30 30 32 31 30 30' 31 30 30
Balanza 3 [gl 25 26 25 25 25 26 26 25 25 26
¿Cuál es más precisa, cuál, más veraz, y cuál, más exacta:?

Solución:
Como no conocemos el peso real del objeto, no podremos saber cuál es
más veraz y cuál más exacta, pero sí podemos determinar cuál es más
precisa. Usando la repetitividad como concepto a~ociado a la precisión
y la desviación estándar como estimador, la balanza 1 proporciona una
desviación estándar de 2,5 g, la balanza 2 tiene 0,71 g y la balanza 3,
0,52. Así la balanza 3 sería la más precisa y la 1, la menos.
No podríamos contestar a las otras dos preguntas, a menos que supon-
gamos algún valor para el peso del objeto. Si usamos el promedio de
todas las pesada~ para estimarlo -no hay ninguna ra-zón para rechazar
esta suposición- el valor obtenido es de 26,4 g. El promedio de cada
balanza, en el mismo orden en que aparecen, es de 23,4 g, 30,5 g y 25,4
g; por ello, la más veraz es la 3 y la menos, la 2.
Si, en esas mismas condiciones, buscamos la exactitud, tendríamos que
la balanza 3 es la más exacta, mientra~ que la 1 y la 2 tienen, respectiva-
mente, problemas de precisión y veracidad.
En definitiva, cuando pretendamos cuantificar el valor de la variable de entra-

da X vamos a tropezamos con algunas dificultades de origen diverso, que se
traducen en que la salida Y de nuestro sistema instrumental no proporciona-
rá una información exacta al100% sobre esa variable de entrada (Figura 1.20).
De esa forma, el valor de la entrada podrá expresarse mediante dos compo-
nentes, una que representa el valor real, x_ y otra, u, que es la diferencia en-
trP "'"'"' valor wa 1y PI P.stimaclo:
17
Obviamente, tanto u como x..~ son desconocidas ... El término u representa la

incertidumbre (uncertainty) de la medida y aglutina todos aquellos factores
que alejan la medida del valor exacto. De todos esos factores, algunos podrían
Cuidado con el error relativo
llegar a corregirse, como las desviaciones o sesgos, pero siempre subyace una
El error relativo no debe calcu- componente aleatoria que evita la supresión completa de la incertidumbre.
larse como:
Como su nombre indica y los principios estadísticos demuestran, conocer
IXreal - xmedidol la incertidumbre es imposible, pero sí que podemos acotarla, es decir, saber
E=
cuánto puede valer como máximo. La variable que acota la incertidumbre se
denomina error y constituye uno de los parámetros básicos en la caracteriza-
puesto que, en campos de meru- ción de los si~temas instrumentales. La definición instrumental de error abso-
da que contengan el valor nulo, luto se efectúa mediante la diferencia entre el valor real de una variable y el
retornaría un valor infinito o, valor que se ha medido, en valor absoluto:
en cualquier caso, proporciona-
ría valores muy elevados en la
parte baja de la escala, lo que no
aporta información fiable sobre
el comportamiento del sistema.
Sus unidades corresponden, obviamente, a las unidades de las variables a las
que se refiere.
y
Errores grandes y pequeños ....
.·..,,··
No cabe duda que, si nos dan a
escoger, optaríamos siempre por
un equipo de medida que pro- Xreal
SISTEMA DE
duzca las lecturas con el menor
MEDIDA
error.
El problema es que disminuir
el error en un sistema no está X
exento de coste y, además, cos-
te y bajo error no siguen una Figura 1.20. Incertidumbre en la estimación del valor X:~, debido al intervalo de confi anza de la
relación lineal. Sobrepa~ado un curva de calibración.
determinado limite en el error,
cualquier bajada puede produ- El error absoluto sin el alcance de la medida puede carecer de sentido: por
cir un sobreprecio muy elevado.
ejemplo, si decimos que un termómetro tiene un error de 1 ~e no estamos
aportando demasiada información sobre su correcto comportamiento. Si ese
error se refiere a un termómetro clúúco, cuyo campo de medida es [34, 41] °C,
sería inaceptable, ya que la temperatura normal de una persona sana, 36,5 ~e,
podría parecer muy baja, 35,5 oc, o presentar síntomas febriles con 37,5 °C. Sin
embargo, si estamos midiendo la temperatura de un horno de cocina con un
..... campo de medida [100, 300) "C, equivocarnos en 1 oc en la estimación de la
Por tanto, en las decL~iones de temperatura suele ser poco importante.
ingeniería siempre se debe te- La inclusión del alcance en el propio error se realiza mediante el concepto adi-
ner en cuenta que el coste es mensional de error relativo, definido como el cociente entre el error absoluto
un parámetro de diseño más y
y el alcance de la medida:
que, como tal debe ser tratado.
Con esta idea, hablar de errores
E=
IXreal- Xmedidol
grandes o pequeños es algo que
S
debe ser matizado en función
del presupuesto dL~ponible. En
sentido inverso, no se podrá Cuando el error relativo no hace referencia a una sola medida, sino, como es
h~blru de que un equipo co coro hahitu~ 1, "'1 C'omport;,miP.nto el P. un !':ÍSt P.m;, instrumt>nt;, 1 P.n tocio s u (";,mpo
o barato sin tener en cuenta el de medida, se debe manejar el máximo de todos los errores relativos en ese
error especificado. campo.
18
El error relativo se suele expresar en valores por unidad (p.u.), en tanto

por ciento(%) o en partes por millón (ppm). Para casos en los que su va-
lor sea muy bajo, se puede hablar de partes por billón (ppb) o partes por tri-
llón (ppt):
1% =0,01 1 ppm = 0,000001 1 ppb = 1·104 1 ppt= H0-12
Si calculamos el error relativo del termómetro clinico del que antes hablába-
mos, este sería de 1 1 7 = 0,14, es decir, un valor muy elevado; para el caso del
horno, el error relativo sería mucho menor: 1 1 200 = 0,0050.
Como el error relativo suele proporcionar una idea más fiable del comporta- Propagación de errores
miento estático de un sistema instrumental que el error absoluto, suele ser fre- Cuando se realizan operaciones
cuente denominarlo simplemente como error, de tal forma que siempre que se con variables que llevan im -
maneje el término genérico "error" se hará referencia, por defecto, al error re- plfcito un valor de error o una
determinada incertidumbre, el
lativo, salvo que esté seguido del nombre de la unidad, en cuyo caso, se tra-
cálculo del error del resultado
tará de un error absoluto. Por ejemplo, "un error de 0,001" en la medida de
no es un problema sencillo y
distancias indicaría que el error relativo de la medida es del 0,1 %, mientras depende de si las variables que
que si se indicase "un error de 0,001 m" significaría que se trata de un error forman parte del cálculo están o
absoluto de 1 mm. no relacionada• entre sr.
En lnstrumentación Electrónica, el error es un concepto muy general que tra~ Si lo están, el cálculo resulta
ciende la simple definición de acotación de la incertidumbre y engloba todos más complejo y deberán tener-
los factores que apartan la lectura obtenida del valor real. De esta forma, este se en cuenta las correspondien-
error genérico suele usarse para aglutinar la caracterización estática de los sis- tes covarianzas. Si las variables
temas de medida y, por tanto, es el principal parámetro que se maneja cuando son independientes y no están
se quiere comparar el comportamiento de varios sistemas. relacionadas entre sí, el cálculo
se puede hacer mediante el de-
Cuando trabajamos con sistemas instrumentales, pueden ser varias la~ fuen- sarrollo en serie de la correspon-
tes de error, de tal forma que estos aparecerán en los cálculos matemáticos y diente función:
deberemos tenerlos en cuenta en e1 resultado final. Se puede hacer una prime-
ra aproximación al problema partiendo de dos valores a y b que incluyan, res- f(x + e¡x,y + E2Y)"'
pectivamente, un error relativo, e1 y e2• En tal caso, cada valor medido se podrá of of
"'f(x, y) +- E1X +- E2Y
expresar como: 0X 0y
A•í, el error para la función se.ría:
Si sumamos (o restamos) esas dos variables, los errores absolutos se añadirán

en el peor de los casos, de tal forma que la variable final contendrá como error
absoluto, la suma de los errores absolutos: Por ejemplo, en el caso parti-
cular del producto x·y, tendría-
mos que:
Si multiplicamos (o dividimos) esas dos variables, el resultado no es el mismo: ex · y~ y6,x + x1:~

EX · y~ (s, + c )xy
2
Como se puede observar, se

Si el último término corresponde a dos variables aleatorias de valor medio obtendría el mismo resulta-
nulo y no están relacionadas entre sf, su producto es nulo, de modo que la ex- do: cuando se multiplican dos
presión se reduce a: variables, el error relativo del
re,;ultado Re obtiene de sumar
Jos errores relativos de cada va-
riable.
19
En otras palabra~, cuando multiplicamos o dividimos, los errores relativos se

suman.
EJEMPLO 1.5
Un amplificador inversor realizado con un operacional tiene ganancia
10, obtenida con dos resistencias Rl = lK y R2 = lOK del 0,1 % de tole-
rancia. ¿Qué error tendrá la ganancia del sistema?
Soluci6n:
La ganancia de un operacional :inversor se obtiene como el cociente de
los valores de la~ dos resistencias de su topología, es decir: G = -R2 1 R1.
Con un error relativo del 0,1 % en cada una, el error total para la ganan-
cia resultará la suma de errores relativos, es decir, el 0,2 %.
Otra opción de cálculo se basaría en el estudio del peor caso (wh.orst
case), que se daría con los casos extremos, es decir, con una de la~ resis-
tencias en un extremo y la otra en el contrario: si R2 tuviese el mayor
valor, sería 10010 Cl¡ si R1 estuviese en el mínimo, su valor sería de 999
Cl. En ese caso, la ganancia llevaría a 10010 1 999 = 10,02, es decir, un
error del 0,2 %. Un resultado muy similar se obtendría considerando el
caso contrario.
En resumida~ cuentas, todo el conjunto de causas que aportan incertidum-

bre o que separan el valor medido del valor real se aglutinan en el concepto
de error genérico, obtenido de forma global o agregado mediante expresiones
como las anteriores, a partir de errores parciales, constituye un parámetro úni-
co que permite caracterizar el comportamiento de un sistema.
Las causas pueden ser las que sean, en muchas ocasiones, la propia natura-
leza, que limita las posibilidades de medición e incorpora la incertidumbre
asociada con el propio proceso de medida, en otras, el uso de simplificacio-
nes que nos facilitan esos procesos o vicios ocultos en los mismos. El caso es
que todos esos parámetros contribuyen a apartar la curva de calibración de la
idealidad. El resultado, el error final (Figura 1.21).
y
Figura 1.21. El error como concepto globalizador de t odos los aspectos que separan el valor real
del medido.
20
1.2.3. DERIVAS Y PROCESOS DE CALIBRACIÓN
La caracterización estática de un sistema instrumental no es del todo constan-

te sino que puede sufrir cambios debido a las condiciones ambientales o al
paso del tiempo. Estos cambios se conocen como derivas (drijts)¡ las principa-
les causa~ son los cambios debidos a la temperatura, derivas térmicas (thennal
drijts), y al envejecimiento, derivas temporales (long tenn drifts), que se pue-
den cuantificar mediante los cambios en el parámetro correspondiente en fun-
ción de la temperatura a la que está el sistema y en función del tiempo que ha
transcurrido.
La simplificación de la curva de calibración se realiza mediante la reducción
a dos parámetros: una ganancia y a un desplazamiento, es decir, a una recta
de calibración. las derivas pueden introducir cambios en la pendiente (ga-
nancia) y 1o desplazar el conjunto de la recta (desviación). El efecto final es
que el sistema produce lectura~ con un error inaceptable que debe ser redu-
cido.
El mayor de los efectos suele ser el producido por la desviación y puede corre-
girse mediante un proceso de calibración a un punto, que consiste en someter
el sistema al menor valor de su campo de medida y ajustar el valor de salida
para que, efectivamente, la salida sea la más baja del fondo de escala de sali-
da (Figura 1.22). Existen otros nombres para este proceso, en función del ám-
bito del equipo de medida, como "ajuste de tara" (tare adjust), ''hacer un cero" Calibración de equipos
o ''hacer un blanco". Algunos equipos de medida de
y . y
tipo genérico (polfmetros, osci-
loscopios ...) no incluyen man-
r~/ /
dos externos de calibración de
/ sus circuitos, debido a que su
/lrJeeJ l-00.82 1
/
/
/
•
o¡
o ..........
¡• •o
nivel de error es suficientemen-
te bajo como para sobrepasar la
/
/
i:__::'..~~~~~:.!+_:--"'C=IIIII disponibilidad de patrones fia-
/ X X bles en los laboratorios.
Y no tendría mucho sentido
Figura 1.22. Calibración a un punto median te ajuste del cero (offset, tara, blanco ...). efectuar una calibración con un
patrón que tenga menos exacti-
Cuando las deriva~ afectan también a la ganancia (la pendiente de la recta), tud que el equipo que pretende-
es necesario emplear un doble ajuste, proceso denominado calibración a dos mos calibrar...
puntos. Esto consiste en realizar primero el ajuste de cero como antes se ha Por ello, los equipos de medi-
descrito y, después se ajustará la ganancia (gain adjust) mediante una entrada de W\ cierto nivel de exacti-
da patrón, hasta conseguir que la salida proporcione el valor correcto (Figu- tud deben ser recalibrados cada
ra 1.23). cierto tiempo en un laboratorio
especializado, capaz de emitix
y y
un certificado que facilite la tra-
RHiafusteda en offH.t
/ y ganancia
zabilidad en el uso posterior de
/ ese equipo. Estos certificados
.<:
/
/
........
f 0 042 1
o
o
tienen una validez en el tiem-
o
o
o
po y, durante su periodo de vi-
gencia pueden ser usados para
X X garantizar que las medidas que
enoffMt efectuemos con el equipo co-
rre5pondlente cumplen con los
Figura 1.23. Ajuste a dos puntos: primero se ajusta el offset y, luego, la ganancia (gain).
niveles de error que en ellos se
indican.
21
El procedimiento de ajuste a dos puntos debe realizarse siempre en ese orden.

Si primero se ajustase la ganancia y, luego, el offset, llegaríamos a una recta de
calibración muy diferente a la buscada.
Si las causas de las derivas son fundamentalmente térmicas, el proceso de
calibración debe efectuarse antes de realizar la medida, en el mismo lugar
y bajo las mismas condiciones a las que va a estar sometido el equipo. Para
tal fin, se dispondrá de ajustes exteriores para modificar el cero y 1o la ga-
nancia.
En cualquier caso, la mayoría de los componentes electrónicos de los circui-
tos sufren un proceso de envejecimiento paulatino que puede causar cambios
a lo largo del tiempo, lo que implica que, periódicamente deban ser sometidos
a algún tipo de proceso de calibración. Estos procesos suelen ser realizados en
laboratorios cualificados o en los del propio fabricante del equipo.
1.3. CARACTERIZACIÓN DINÁMICA
Si bien la caracterización estática permite evaluar el comportamiento general

de los sistemas instrumentales ante valores constantes en las variables de en-
trada y el error es el parámetro que aglutina todos esos efectos, es también ne-
cesario conocer lo rápido que un si~tema resulta.
El proceso de evaluar, por un lado, la rapidez en la respuesta (salida) de un
sistema ante cambios en la entrada )~ por otro, la forma en que la salida evo-
luciona del valor inicial al final, es lo que se conoce como caracterización di-
námica.
A diferencia de la caracterización estática, el proceso de caracterización diná-
mica puede desarrollarse en dos ámbitos diferenciados: en el dominio de la
frecuencia (frequency domain) o en el dominio del tiempo (time domain). En el
primer caso, se considera que un sistema es muy rápido cuando su salida es
capaz de responder a frecuencias muy elevadas en su entrada. En el segun-
do dominio, diremos que un si~tema es muy rápido cuando, ante un cambio
brusco en la entrada, su salida es capaz de pasar del valor inicial al valor final
en un plazo muy corto de tiempo.
Obviamente, la naturaleza del sistema que se pretende caracterizar subyace
debajo de cualquier metodología empleada para analizarla y será indepen-
diente de ella, de modo que un sistema puede ser rápido o lento, pero se llega-
rá a conclusiones similares tanto si se trabaja en el dominio del tiempo como si
se hace en el dominio de la frecuencia. Optar por uno o por otro ámbito puede
ser una cuestión de comodidad, de coherencia con el tipo de señales emplea-
das o, en algunas ocasiones, hasta de la propia tradición.
1.3.1. CARACTERIZACIÓN EN EL DOMINIO

DE LA FRECUENCIA
El dominio de la frecuencia es el ámbito habitual de trabajo en el mundo de la

Electrónica debido a sus propios orígenes, muy centrados en la tran.~misión de
22
señales por radio y en la amplificación de señales de audio. En ambos casos, El diagrama de Bode
las señales manejadas se caracterizan por la frecuencia. De hecho, personas to-
talmente ajenas al mundo de la Electrónica manejan el término "frecuencia" y
un múltiplo de su unidad "el megahertzio" de una forma totalmente natural.
Algo habrá tenido que ver la radio .. .
Formalizar la caracterización de un sistema en el d ominio de la frecuencia
también es un tema resuelto en el ámbito electrónico mediante la función de
transferencia (dynamic trrmsfer function), G( w), que representa la relación entre
las señales de entrada (Y) y de salida (X) en función de la frecuencia, f, o de la
pul~ación angular, w:
Y(w) = G(w) · X(w)
La función de transferencia se suele representar por comodidad en el diagra-

ma de Bode (Bode pl.ot), que es una representación logarítmica del módulo de
Bl diagrama de Bode fue pro-
la ganancia y semilogarftmica de la fase de un sistema para toda~ la~ frecuen-
puesto por el ingeniero nortea-
cias de trabajo. En la Figura 1.24 se muestra un ejemplo de representación del mericano Hendrik Wade Bode
comportamiento de un sistema en el diagrama de Bode. (1905-1982) y constituye una
herramienta básica en el estudio
log IGCfJI de la dinámica de sistemas y en
el diseño de sistemas de regula-
ción y control.
X(f) Y(f)
G(t) log f
(/) [G(f)]
!--.....
Figura 1.24. Diagrama de Bode de un sistema: rep resentación del módulo y de la fase de la fun·
ción de transferencía en función de la frecuencia.
El diagrama de Bode es una caracterización exhaustiva del comportamiento

dinámico de cualquier sistema, similar al que supone la curva de calibración
en el ámbito estático. Y, como hacíamos en aquel caso, buscaremos un pará-
metro globalizador que resuma, de una forma sencilla, ese comportamiento.
Este parámetro puede ser el ancho de banda, B (bandwídth), que es el intervalo
de frecuencias en el que el sistema funciona "correctamente". En los sistemas
cuyo comportamiento puede asimilarse a una simple ganancia, el concepto de
"funcionamiento correcto" puede asimilarse formalmente a mantener cons-
tante un determinado valor de ganancia. El concepto de ancho de banda am-
pliamente manejado en el contexto de la Electrónica hace referencia a cambios
de la ganancia inferiores a 3 d B respecto a una zona plana que define el com-
portamiento del sistema. Así, el ancho de b anda a 3 dB es el intervalo de fre-
cuencia~ en el que la ganancia varía en menos de 3 dB respecto de la ganancia
de la zona plana (Figura 1.25).
Cada frecuencia que marque los puntos de caída de 3 dB en la ganancia se de-
nomina frecuencia de corte a 3 dB (3 dB cut-off frequency), fct y puede existir
23
La frecuencia de corte
log IG(f)l
La definición tradicional de la 3 dB
frecuencia de corte implica Wla G ~----~------------~~
pérdida de 3 dB en la senal, pér-
dida que en tensión sigtúfica
reducir hasta poco má~ del 70%.
En términos de potencia, - 3 dB
supone una reducción a la mi- log f
tad de la potencia:
fc1 fc2
Pe
- 3 = 10·/og -p
1·
8
~1
Luego: Figura 1.25. Definicíón tradicional del ancho de banda, usando la di ferencia de 3 dB respecto de
la ganancia de la zona plana, G.
una o dos. Para el ejemplo de la Figura 1.25 son dos las frecuencias de corte a 3
Por este motivo, la frecuencia de
dB, que se distinguen mediante los adjetivos "inferior" para la menor y "supe-
corte a 3 dB también se conoce
rior" para la mayor de ellas. Así, en ese mismo caso, tenemos que:
como frecuencia de corte a po-
tencia mitad.
Podríamos concluir que el ancho de banda define la zona de comportamiento

aceptable de un sistema, pero podemos preguntamos por lo que significa real-
mente un cambio de 3 dB en la ganancia:
3 - 20 . log GzonaGpl.a na ~
~
G - O 708 G
- ' · zonaplana
Pues bien, 3 dB corresponde a perder ¡casi un 30 % de ganancia! Esto es algo

inaceptable en los sistemas instrumentales ...
Por estos motivos, el concepto de ancho de banda a 3 dB no es un paráme-
tro adecuado para caracterizar un sistema instrumental. Pero la idea, en ge-
neral, sí que es válida, siempre que estemos dispuestos a matizar más los
cambios máximos permitidos en la ganancia. Como en el mundo de la Ins-
trumentación Electrónica cada sistema queda caracterizado por su máximo
error, podemos usar esta misma idea para definir el ancho de banda. Asf, en
general, el ancho de banda de un sistema instrumental se define como el
intervalo de frecuencias en las que el sistema no introduce cambios superio-
res al error permitido en la variable de interés, ya sea esta la ganancia o la
fase.
Si nos referimos, en primer lugar, al error de ganancia y queremos saber cuál
es el ancho de banda para un error dell %, la mínima ganancia permitida se-
ria 0,99 veces la ganancia de la zona plana, lo que significa que su valor en de-
cibelios es de 20·log (0,99) = 0,086 dB. Un error del 0,1 % nos llevaría a 0,0086
dB ... Si queremos calcular el ancho de banda para un error determirlado, en-
traremos en la expresión de la ganancia y calcularemos los puntos en los que
la ganancia cae hasta esos valores. Así se obtienen las frecuencias de corte y el
correspondiente ancho de banda (Figura 1.26).
24
log IG(f)l
G ~----?-------------~-
log f
fc1 fc2
1· ·1
Figura 1 .26. Concepto de ancho de banda referido al error de ganancia admisible. e.
EJEMPLO 1.6
Un sistema tiene una respuesta caracterizada por una función de trans-
ferencia con un polo a 10 kHz y una ganancia de 10 en la zona plana.
¿Cuáles el valor del ancho de banda a 0,1 dB?
Solución:
Se trata de un sistema de primer orden con un único polo a 10 kHz =
62,8 krad 1s. Su función de transferencia será:
Como -{),1 dB = 20·log (G,.1• 1 10), obtenemos que G""• = 9,886.1gualan-

do el módulo de la ganancia a ese valor:
10
IG(w)l = -;:=======;; = 9,886
Wc
1 + ( 62800 )2
Se obtiene que w e = 9560 rad 1s, lo que implica que la frecuencia de cor-
te serfa fe = 1,52 kHz. Como el sistema sólo tiene ese polo y es capaz
de trabajar desde continua, el ancho de banda a 0,1 dB corresponderá
precisamente a ese valor, es decir: B01 d8 = 1,52 kHz .
•
En algunos sistemas, el parámetro crítico es la fase, porque es en ella en don-

de está la información que nos interesa. Entonces, cualquier cambio en la fase
introducido por nuestro sistema implicará el correspondiente error. Si ese es el
caso, el ancho de banda del sistema quedará supeditado a que el error de fase
no sea mayor de lo especificado, según se indica en la Figura 1.27.
Cuando el ancho de banda está supeditado a la fase, su valor es sensiblemen-
te más pequeño que cuando depende de la ganancia, según veremos en el
siguiente ejemplo. Por ello, cuando los sistemas trabajan con información ba-
25
¿Nos olvidamos de la fase?

(/J {G(f)]
Bn el ámbito de la Electrónica
8~
analógica, la fase de las señales
no es un parámetro que se suela
tener en cuenta. De hecho, hasta
la representación más frecuen- o•
e
te del diagrama de Bode, suele
olvidar la representación de la
\
fase y se limita a la de ganancia.
Quizá el único caso en que se log f
tiene en cuenta es cuando se
trata de averiguar si un sistema fc1 fc2
realimentado es o no estable.
Cierto es que la mayoría de los 1· ·1
procesamientos de señales ana- Figura 1.27. Concepto de ancho de banda l igado al error de fase.
lógica~ se presentan en términos
de amplitudes y ganancias de
sada en la fase, el diseño de los sistemas de tratamiento tiene que ser mucho
señal, como también es cierto
más cuidadoso aún.
de que este olvido sistemático se
debe a que la Electrónica nació
con la idea primaria de ampli-
ficar seriales de audio y el oído
EJEMPLO 1.7
humano es poco sensible a la
fase de las ondas. Si el sistema del Ejemplo 1.6 debe procesar señales cuya fase varfa de O
¿Para qué, entonces, preocupar- a 45°, ¿cuál sería el ancho de banda con un error menor dell %?
se por la fase? Solución:
El error especificado lleva a un cambio máximo de fase de 0,45" sobre
el alcance de la entrada. El ángulo de fase que introduce la función de
transferencia del sistema es:
Igualando a 0,45°, se obtiene que el valor de la pulsación de corte es

ooc = 493 rad 1s, lo que supone una frecuencia de corte y un ancho de
banda, 'S = 78,5 Hz. Es decir, respecto del valor inicial del ancho de
banda, un valor muy bajo.
1.3.2. CARACTERIZACIÓN EN EL DOMINIO DEL TIEMPO

Esta forma de caracterizar el comportamiento dinámico de un sistema suele
ser más habitual en el mundo de la regulación y el control que en el campo de
la Electrónica, pero se usa indistintamente junto con la anterior en Instrumen-
tación Electrónica.
El comportamiento de un sistema en el dominio del tiempo se suele caracteri-
zar por medio de la forma que presente la salida ante un cambio brusco en el
valor de la entrada (escalón), desde el valor que tenfa antes del cambio hasta
el valor que alcance al final del proceso, es decir, por medio d el estudio de la
respuesta transitoria.
26
La respuesta transitoria de un sistema ante un escalón depende, en lo funda-

mental, de su orden, es decir, del grado del polinomio del denominador de
su función de transferencia. A~f, un sistema de primer orden, ante un cam-
bio desde un valor x.,, hasta Xfi• tendrá una respuesta exponencial como la
que se muestra en la Figura 1.28, caracterizada por el valor inicial de la sali-
da, Y",y el correspondiente valor final, Yfi" y la constante de tiempo del sis-
tema, -r.
)(
_x_~-~~-~~-G_r_~--~---~-~ ~+===~--------~
~
y
Y~ ,_----r---~~------
1/Y(t) =(Y., - Y.~·(1 - e .,,) +Y.,
~+===[__ ________
~
!
Figura 1 .28. Respuesta en el tiempo de un si stema de primer orden a una entrada en escal ón.
Si el orden del sistema es igual o superior a dos, la respuesta puede variar de

aspecto en función de los factores del polinomio del denominador. Las dos ti-
pos posibles de respuesta pueden presentar o no sobre-oscilaciones tal como
se muestra en la Figura 1.29.
X
x.,
X(l) Y(l)
G(s)
Xw~::==~--------------~~~
y
En el mundo de la Regulación
Figura 1 .29. Respuesta en el tiempo de un sistema de segundo orden o superior a una entrada en automática y de la Dinámica de
escalón; la presencia de la sobreoscilación puede no existir, en cuyo caso, la respuesta se parece a sistemas el tiempo de estableci-
la de la Figura 1.28, aunque p resen ta derivada nula en el arranque. miento se considera igual a cin-
co veces la constante de tiempo
Aunque la caracterización completa de las respuesta~ ante escalón de las Figu- del sistema, 't.
ras 1.28 y 1.29 es diferente e incluye parámetros que definen completamente Transcurrido ese tiempo, se sue-
su aspecto, eso sólo suele ser necesario en ca~os muy concretos. En líneas ge- le considerar que el sistema ha
nerales, lo que más puede interesar a la Instrumentación Electrónica es saber superado el transitorio y alcanza
cuánto tarda el sistema en proporcionar el valor final desde el momento en el el régimen permanente. Cinco
que se ha producido el cambio en la entrada. constantes de tiempo en un sis-
tema de primer orden, implica
Este concepto se materializa mediante el tiempo de establecimiento (settling que el sistema está a menos del
time), que se puede definir como el tiempo que transcurre entre el instante en 0,5% <.M valor final.
que cambia la entrada y el momento en el que la salida cae definitivamente en
27
el entorno del valor final, definido este entorno mediante el error admisible.
Esta definición viene a dejar claro que cuando la diferencia entre el valor ac-
tual y el final está dentro de la incertidumbre, podemos decir que el sistema
ya ha superado el transitorio y se aproxima al régimen permanente. En la Fi-
gura 1.30 se presenta el tiempo de establecimiento, t5 referido tanto a sistemas
de primer orden como de orden superior.
EJEMPL01.8
El circuito equivalente de un determinado siBtema de medida puede
asimilarse al que se presenta en la Figura 1.31.
v.
100nT
-
Fígura 1.31.
¿Cuál es el tiempo de establecimiento sabiendo que el error admisible

es dell %?
Solución:
Si determinamos la tensión a la entrada del amplificador V, ante un
escalón de la tensión de entrada, V., de valor V.¡ tenemos que si el valor
inicial de tensión en el condensador es nulo:
La forma de onda de la tensión de salida será una imagen de. esta ten-
sión, pero multiplicada por 10, de modo que podemos hacer los cálcu-
los sobre esta expresión con idéntico resultado.
Como el valor final coincide con V, el momento en el que la tensión
1
V1(t) se acerca al1% de ese. valor final, que marcará el tiempo de esta-
blecimiento, t5 será:
0,99 ·Ver= Ver ( 1 - e 10K·ioon) -+ t5 = 4,6 ms
Para un mi~mo comportamiento dinámico, cuanto menor sea el error, más lar-
go será el tiempo de establecimiento. Si en el ejemplo anterior, fijásemos el
error en el 0,1 %, el tiempo de establecimiento sería de 6,9 ms. Y, con un error
de 1 ppm, este tiempo se alargaría a más de 13 ms.
El tiempo de establecimiento y el ancho de banda de un sistema están relacio-
nados entre sf, como no puede ser de otra forma, puesto que un sistema con
buena dinámica (un sistema rápido) tendrá un elevado ancho de banda y un
28
X
Xnn
X;n; -+---~ t
Figura 1.30. El concepto de tiempo de establecimiento referido al error respecto del valor real para
sistemas de primer orden (1) y segundo o mayor orden (2).
tiempo de establecimiento corto, mientras que un sistema lento (mala diná-

mica) tendrá un pequeño ancho de banda y un elevado tiempo de estableci-
miento.
La relación entre tiempo de establecimiento y ancho de banda depende del
tipo de sistema, es decir, de su función de transferencia. En el caso de un sis-
tema de primer orden - muchos de los bloques con los que nos encontrare-
mos pueden asimilarse a un sistema así- con una función de transferencia
del tipo de:
Y(w) k
G(w) = X(w) = 1 + jw ·a
Si se trabaja sobre esta expresión, el ancho de banda para un error e v iene

dado por:
·Jze - e2
B = -::----:,.,..-----._.
Zn · a(l- e)
En el mismo caso, la respuesta ante escalón unitario, partiendo de un valor

inicial nulo de la salida, viene dada por:
Y(t) = k(l - e·•l•)
El tiempo de establecimiento, t5 para el mismo error, será:
Un ejemplo de la relación entre ambos parámetros se muestra en la Figura

1.32 para un error del 0,1 % (véase el archivo TEOROlOl.xlxs).
29
.2
e: o, 1
.!
..
E
·¡;;
:;; 0,01
¡
..
.., 0 ,001
oQ.
¡
¡:: 0,0001
1 10 100 1000
Ancho de banda [Hz)
Figura 1.32. Relación entre el tiempo de establecim iento y el ancho de banda de un sistema de
primer orden para un error del O, 1 %.
1.4. INCERTIDUMBRE Y RUIDO

EN LOS SISTEMAS INSTRUMENTALES
Hasta ahora se ha hablado del comportamiento de los sistemas instrumenta-

les en relación con las desviaciones permanentes (errores) respecto del fun-
cionamiento perfecto y de la capacidad de responder con mayor o menor
rapidez ante cambios en sus variables de entrada. Sin embargo, para comple-
tar el análisis de su comportamiento es necesario incluir otros factores que le
afectan y que no están incluidos en las categorías analizadas hasta este mo-
mento.
Uno de esos factores es la presencia de ruido. El ruido (nnise) en un sistema
electrónico es una perturbación no deseada que interfiere a las señales que se
están procesando, aunque sin producir desplazamientos permanentes de va-
lor. Así, el ruido puede ser considerado como una variable añadida a las va-
riables del sistema cuyo valor medio es nulo. El ruido puede tener orígenes
diversos, aunque se pueden agrupar en:
a) Ruido interno, producido por los propios dispositivos electrónicos, y que
está relacionado con circunstancias diferentes, tales como la agitación tér-
mica, la naturaleza discreta de los portadores de carga o su movimiento
caótico.
b) Ruido externo o interferencias, causado por otros sistemas, de cualquier
tipo, que mediante cualquier medio, emiten una parte de energía que per-
turba a la~ variables de un sistema víctima.
El ruido puede tener un carácter fundamentalmente aleatorio o presentar tma
estructura clara y fácilmente identificable. Un ejemplo del primer tipo es el
ruido térmico, producido en cualquier conductor, mientras que un ejemplo del
segundo tipo puede ser la interferencia producida por la red eléctrica. En la Fi-
gura 1.33 se muestran dos ejemplos de estos ruidos.
Como la Instrumentación Electrónica es una especialidad en la que la
cuantificación resulta el aspecto clave, el ruido, como un factor importan-
te en todos los sistemas y, en particular, en los instrumentales, debe ser
30
X X Mucho ruido ...
ruido térmico ruido de red (50 Hz) Saber qué significa una deter-
minada cantidad de ruido es
algo que no suele ser dema~iado
evidente. Por ejemplo, en un sis-
t t tema de audio, probablemente
considermos el sonido digital
como el más perfecto, con rela-
Figura 1.33. Adición de ruido interno de origen térmico (izquierda) y de Interferencias externas con
origen en la red eléctrica (derecha).
ciones entre la señal y el ruido
cercanas a los 100 dB. Eso signi-
fica que el ruido es 100.000 veces
cuantiiicado como una característica de cada sistema en un determinado más pequeño que la señal o, lo
entorno de interferencias. Esa cuantificación no debe hacerse en términos que es lo mismo, si la señal tu-
absolutos, puesto que lo que será import ante es conocer en qué medida el viese 1 V de pico, el ruido sólo
ruido molesta a las variables y esto dependerá de la "fortaleza" de esas va- supondría 10 ¡.¡V, es decir, algo
riables. casi imposible de ver en un os-
ciloscopio.
La forma de cuantificar el ruido es mediante la estimación de cuánto afec-
ta a una variable de interés determinada y es o se hace midiendo la potencia Los sistemas de instrumenta-
ción industrial rara vez superan
de cada una de ella~. Así, la relación señal-ruido (sígnal-to-noise ratio), S/N~ es
los 60 dB, es decir, el ruido es
el cociente entre la potencia de la señal, P5 , y la potencia del ruido, Pw que la 1000 veces menor que la señal,
afecta, medido en decibelios: algo que tampoco veríamos con
facilidad en un osciloscopio. Se-
Ps
S/N= 10 ·log- ñales como la de la Figura 1.33
PN tendrán unos 20 dB de relación
S/N, es decir, son muy malas
Este parámetro indica que un s istema no resu lta más ruidoso por tener más o desde este punto de vista.
menos ruido, sino porque ese ruido sea mayor o menor en relación con la se-
ñal. En el ca~o particular de que la potencia de la señal y la de ruido se desa-
rrollen sobre una mi~ma impedancia, la relación señal-ruido puede expresarse
en términos de tensiones o de corrientes de señal y de ruido:
Vs ls
S/N= 20 ·log- S/N= 20 · log-
VN IN
La relación S/N así calculada agrupa todo el ruido desarrollado en la tensión o

la corriente de ruido y se calculará mediante la correspondiente suma cuadrá-
tica a partir de las diversa~ fuentes de ruido:
En línea~ generales, la mayoría de los sistemas añaden ruido, de modo que la

relación S/N es más pequeña en la salida que en la entrada. Existe un paráme-
tro que mide este cambio y que es muy usado en algunos campos, como el de
la radiofrecuencia. Se le denomina factor de ruido (noise factor); representa el
cociente entre la relación S/N a la entrada y a la salida del sistema. Se suele de-
notar como NF, en decrbelios (en este caso se suele encontrar con la denomina-
ción anglosajona noise figure):
N F = S/ N"'"m - S/ N.,11..,
31
EJEMPLO 1.9
Un amplificador de ganancia 100 recibe una señal senoidal de 10 mV P
que tiene una relación S/N de 90 dB. Si el sistema añade un ruido de
0,05 mVF' ¿cuáles la relación S/N a la salida?
Soluc:Wn:
Si el amplificador amplifica el ruido y la señal de la misma forma, la
señal de salida será de 10 mVP · 100 = 1 VP. El ruido, ~vr que incluia
esa señal se podrá obtener a partir de la relación S /N de la señal, es
decir:
1
90 = 20 ·log-
VN l
Al ruido que incluia la señal se le debe añadir el ruido que produce el

amplificador, para obtener el ruido total:
Con e$te valor, la relación S /N a la salida será:

1
SJN = 20 · log , . 6 = 84,6 dB
59 1 10
Un sistema produce menos ruido cuanto menor es su factor de ruido. Existe

un tipo de circuito que se encarga de incrementar la relación S/N de los siste-
mas, denominado filtro (jilter) y que suele conseguir esa mejora mediante la
reducción del ancho de banda al estrictamente necesario. Este tipo de bloques,
que se estudiará en el Tema 4, suele secundar a los bloques de amplificación
en muchos sistemas instrumentales, como se indica en la Figura 1.34.
En todos los casos, al final de las etapas de tratamiento de las señales, el siste-
ma proporcionará un valor --generalmente de tensión- con un determinado
error debido a causas diversas que se han analizado en el apartado 1.3. Ade-
má~. se habrá producido la adición de ruido en los términos que acabamos de
estudiar. El efecto de ambos fenómenos se traduce en una mayor incertidum-
bre en el total de la señal de salida de los sistemas, tal como se muestra en la
Figura 1.35.
SEfiiAL Slilt\L
v.
FILTRO
v.
n•••!!4
R UIDO S/N1 RUIDO SINo> SJN1
Figura 1.34. Mejora de la relación SI N mediante una etapa de filtrado.
32
TEMA l. CARACTERIZACIÓN DE SI STEMAS INSTRUM ENTAL ES • •
V
...
Máxima
incertid umbre
.....__ Evolución del valor real
- ~- -· ·· · · ··
Figura 1.35. En cada instante, la señal que se lee siempre está desplazada respecto de la real por En Fort Laramie
el error estático (fijo y "constante") y por el ruido (puntual y variabl e); la acotación de la máxima
incertidum bre se puede estimar por la adición de error y ruido. En un fuerte en la frontera, en
plena guerra de Estados Unidos
contra las tribus nativas nortea-
La estimación del cambio total sobre el valor considerado como real se reali- mericana~, el vigía grita:
za acotando ese máximo cambio. En condiciones estáticas, el cambio se deberá . lOS SlOUX.
. 1
exclusivamente al error y quedará acotado por él ya que el ruido añade un va- - ¡Q Ue VIenen
lor medio nulo (Figura 1.36a); sin embargo, en condiciones dinámicas, la ban- - ¿Cuántos vienen? - pregunta
da en la que se moverá cada próximo valor será la definida por la adición del el capitán.
error estático y del ruido (Figura 1.36b). - ¡Doce mil tres! - responde el
vigía con total seguridad.
El capitán, sorprendido, le pide
que le explique cómo puede sa-
ber el número de una forma tan
precisa. El vigía contesta:
- Vienen tres delante y ... i W\OS
doce mil detrás!
t El lector, deberá pensar en la in-
certidumbre y en la resolución
(a) (b) de la cuantificación del vigía.
¿Cuál podría ser una respues-
Figura 1.36. Efecto del ruido sobre un sistema que proporciona valores estáticos (a}, donde queda ta más correcta, olvidando que
eliminado, y dinámicos, donde cada nuevo valor será imprevisible dent ro de una banda que incluye
ninguna trib u sioux dispuso
el error y el ruido (b).
nw\ca de de tal cantidad de gue-
rreros?
En este último caso, el valor que nos podemos encontrar estará incluido, en el
peor caso, en un intervalo obtenido por la suma del desplazamiento del error
y del ruido, es decir, considerando que el error absoluto es s y la tensión de
ruido, VN (valor de pico), el valor de la tensión en cada instante vendrá deter-
minado por un intervalo alrededor del valor real cuyo radio es e + V N' Así, ese
valor puede expresarse como:
Si ese valor tiene que ser cuantificado, la capacidad de distinguir un valor

del inmediatamente siguiente vendrá definido por el intervalo total de incer-
tidumbre, de modo que la resolución del sistema será la correspondiente a la
longitud de ese intervalo, es decir:
Q = 2 · (e+ V¡.¡)
33
Lo que viene a significar que el sistema no seña capaz. de distinguir un valor

de otro dentro del intervalo total de incertidumbre.
EJEMPLO 1.10
La salida de un sistema instrumental incluye un error máximo del 0,1 %
y una relación S/N de 72 dB, detetmine su resolución.
Soluci6n:
Suponiendo que la salida es de tensión y que su valor máximo es V,
tenemos que el error producido cabe expresarlo como:
0,1
E= V = 0,001 · V
100
Del mismo modo, teniendo en cuenta la relación S /N:

V
72=20·log - -t VN = 0,000251 · V
VN
De esa forma, la resolución_ expresada en tanto por ciento, vale:
2 · (0,001 · V+ 0,000251 · V)
Q= V 100 = 0,25%
No es posible obtener la resolución en valor absoluto ya que desconoce-

mos el alcance del sistema.
La resolución resulta un concepto bá~ico en la transformación de señales ana-

lógicas en digitales, pero también lo es en el mundo exclusi\ramente analógico
puesto que pone un limite a la capacidad de distinguir un valor de otro. Por
todo ello, como antes se indicó, las variables analógicas de resolución infinita-
mente pequeña y número infinito de posibles valores, no existen más que en
la imaginación.
34
RESUMEN
La Instrumentación Electrónica es wta rama cientffico-técrúca cuyo objetivo es
mejorar la capacidad de percepción de la realidad mediante el uso de dispositi-
vos y sistemas electrónicos.
Los sistema~ electrónicos instrumentales se encargan de recoger información del
mundo físico y transformarla en seítales eléctricas. Estas señales serán tratadas
mediante circuitos de acondicionamiento hasta obtener valores aceptables, que
serán representados (monitorización), usados en lazos de control de procesos
(control y supervisión) o transmitidos a una cierta distancia (telemeclida).
El comportamiento de los sistemas instrumentales puede caracterizarse desde
un punto de vista estático, mediante su cur va de calibración, que es la relación
que existe entre la entrada y la salida en régimen permanente dentro del campo
de medida y que queda caracterizada por la sensibilidad, que es la pendi.e nte
de la curva de calibración en cada pwlto. No obstante, la relación no suele ser
perfecta, de modo que hay toda wta serie de limitaciones en su uso debidas a las
singularidades de la curva.
Má~ allá de Jos problema~ que puedan suponer las imperfecciones de la curva de
calibración, el principal problema desde el punto de vi~a estático de cualquier
sistema instrumental es la incertidumbre en la medida, un concepto que se acota
mediante el error, que viene a representar la máxima diferencia entre el valor
medido y el real.
El comportamiento dinámico de los sistemas instrumentales, es decir, la capaci-
dad que poseen de responder más o menos rápido ante cambios en la entrada,
puede caracterizarse mediante el concepto de ancho de banda en el dominio
de la frecuencia, o mediante el tiempo de establecimiento en el dominio del
tiempo. Trabajar en uno u otro dominio es indiferente y depende de los usos y
costumbres.
En cualquiera de los casos, tanto el concepto de ancho de banda como el de
tiempo de establecimiento están definidos en función del error del sistema y no
siguen las definiciones "tradicionales" del mw1do de la Electrónica o de la Regu-
lación Automática.
Finalmente, hay qu.e tener en cuenta que todos los sistemas incluyen ruido -
wta perturbación no deseable que interfiere a la~ variables- que se caracteriza
mediante la relación sef\al-ruido. Esta relación enfrenta la magnitud del ruido a
la magnitud de la sef\al.
El ruido, junto con el error del sistema instrumental, establece una cota máxima
al total de la incertidumbre y limita su resolución.
35
EJERCICIOS PROPUESTOS. TEMA 1
Apartado 1.2.1
1.1 Un polímetro digital proporciona cuatro cifras significativas para la me-
Figura 1.9 dida de tensión continua en el campo de medida [O, 20] m V y cinco ci-
Ejemplo 1.1 fras significativas para los campos de medida [O, 2], [O, 20] y [O, 200]
V. Determine cuál de ellos debería usarse para medir tensiones en los
siguientes casos y de cuántos valores diferentes se dispondría en cada
caso:
a) De Oa 5mV.
b) De100a200mV.
e) De 20 a 25 V.
Apartado 1.2.1
1.2 Un sensor está previsto para medir temperaturas en el campo [O, 100] oc,
F"iguras 1.9 y 1.10 proporcionando, respectivamente, tensiones de [1, 5] V.
a) ¿Cuál es el campo de medida y el alcance?

b) ¿Cuánto vale la salida a fondo de escala?
e) ¿Qué sensibilidad tiene?
d) Determine la FSO cuando el sensor se emplea para medir la tempera-
tura ambiente de una sala que puede variar de 15 a 25 oc. ¿Le parece
un sistema de medida apropiado para este cometido?
Apartado 1.2.1
F"igura 1.12 1.3 Un sensor que mide la variable X en el campo [O, lOO] u.a. produce una
Ejemplo 1.2 salida de tensión que responde a la expresión:
0,000350 ·X
V = 11 + 0,00385 ·X
Obtenga una linealización por mínimos cuadrados y determine la no li-

nealidad correspondiente. ¿Cómo se modificaría la no linealidad si el cam-
po de medida fuese [O, 500] u.a.?
Apartado 1.2.1
Figura 1.12 1.4 En el caso del sensor del Ejercicio 1.3, una posible linealización - muy
Ejemplo 1.2
habitual- podría ser suprimir la parte del denominador que introduce la
no-linealidad asumiendo que su contribución es despreciable. En tal caso,
la tensión de salida seria:
V= 0,0000318 · X
Compare los resultados instrumentales de esta linealización con la habi-

tual realizada por minimo~ cuadrados para los dos mismos intervalos.
Apartado 1.2.1
Figura 1.12 1.5 En un determinado sistema se han tomado las lecturas de la variable de
Ejemplo 1.2 salida Y en relación con varios valores de la variable de entrada X, de don-
-- de se obtiene el resultado que se muestra en la Tabla l.
36
Tabla l.
X(u1 ( Ylu,J Xlu,J Y(u) Xlu,l Y[u,( Xlu,J Y[u,l X(u,l Y[u)
1,00 3,01 7,00 10,0 13,0 15,2 19,0 25,4 25,0 30,1
2,00 4,11 8,00 12,3 14,0 16,1 20,0 28,1 26,0 33,0
3,00 5,00 9,00 13,5 15,0 19,0 21,0 28,2 27,0 34,1
4,00 6,09 10,0 13,6 16,0 22,0 22,0 29,0 28,0 37,0
5,00 6,25 11,0 13,7 17,0 22,2 23,0 29,6 29,0 38,0
6,00 9,18 12,0 14,1 18,0 22,3 24,0 29,5 30,0 41,1
Determine un ajuste lineal, uno cuadrático y uno cúbico mediante regre-

sión por minimos cuadrados.
¿Cuál le parece el mejor de esos ajustes y por qué? Determine el valor de

la salida para una entrada de 16,3 ~ ·
Apartado 1.2.1
Figura 1.12 1.6 En el mismo caso del Ejercicio 1.5, suponga que la medida correspondien-
Ejemplo 1.2 te a la entrada X= 28,0 u 1 proporciona una lectura anómala de salida de
22,1 ~·
a) ¿Cómo se modificarían los ajustes anteriores?

b) ¿Qué podría hacer con esa medida?
1.7 Un tipo de equipo es empleado por varios laboratorios para la medida

de una variable para la que no existen patrones de calidad contrastable.
No obstante, para poner de. acuerdo las lecturas que proporcionan sus
respectivos sistemas, deciden iniciar un proceso de intercalib:ración cuyo
primer paso es poner de manifiesto la repetitividad y reproducibilidad
de las medidas. Para esto, elaboran un total de cuatro muestras de 8 va-
lores diferentes y proceden a su medida, obteniendo los resultados de la
Tabla 2.
En estas condiciones:
a) ¿Cuál es la repetitividad de cada uno de los tres equipos? (Suponga

que las muestras de cada valor son suficientemente parecidas como
para que las diferencias de su valor real sean menores que la resolu-
ción de los equipos.)
b) ¿Cuál es la reproducibilidad del tipo de equipos empleado?
e) A la vista de los resultados, ¿alguno de los laboratorios debería reali-
zar alguna acción?
37
Tabla 2 .
Muestral Muestra2 Muestra 3 Muestra4

Valor1 2,0 2,1 2,0 1,9
Valor2 3,1 3,2 3,2 3,1
Valor3 4,2 3,8 4,2 4,1
Valor4 5,1 5,0 5,1 5,1
EquiJ>O Lab. 1
Valor S 5,9 5,8 5,8 5,8
Valor6 7,1 7,3 7,3 7,2
Valor7 7,9 7,9 8,0 8,0
Valor S 9,5 9,4 9,4 9,5
Valorl 2,5 2,5 2,6 2,4
Valor2 3,5 3,5 3,6 3,5
Valor3 4,6 4,7 4,4 4,5
Valor4 5,6 5,5 5,6 5,5
Equipo Lab. 2.
Valor S 6,5 6,6 6,4 6,6
Valor6 7,7 7,6 7,7 7,8
Valor7 8,4 8,3 8,4 8,4
Valor S 9,9 9,9 9,9 9,9
Valor1: 2,1 2,1 2,2 1,9
Valor2 3,1 3,1 3,1 3,1
Valor3 4,0 3,9 4,1 4,0
Valor4 5,0 5,0 5,1 5,0
Equipo Lab. 3
Valor S 6,0 5,9 5,9 5,9
Valor6 7,1 7, 1 7,1 7,0
Valor7 8,0 7,9 8,0 7,9
Valor S 9,5 9,5 9,4 9,4
Apartado 1.2.2
F"igura 1.19 1.8 En el experimento del Ejercicio 1.8, ¿cuál de los tres equipos es más pre-
Ejemplos 1.3 y 1.4 ciso? Tras el ensayo, ¿se puede decir algo acerca de la veracidad y de la
exactitud? Si tuviese que decidir el valor real de cada conjunto de mues-
tras, ¿cuál sería su decisión?
Apartado 1.2.2
1.9 Un sistema está midiendo una varíable X con un alcance de 10 u.a. para
Ejemplo 1.5 producir una salida con un fondo de escala de 2 m V. Esta tensión será am-
plificada hasta conseguir 4 V mediante un bloque de acondicionamiento
que introduce un error de offset del 0,1 % y un error de ganancia del 0,2
%. Sabiendo que la entrada incluye una incertidumbre acotada al 0,1 %,
determine el error de salida del conjunto.
Apartado 1.2.3
1.10 Si quisiera reducir el error del equipo del Ejercicio 1.9, ¿sería adecuado
Figuras 1.22 y 1.23 incluir un ajuste de offset, de ganancia o de ambos?
38
Apartado 1.2.3 1.11 Si el equipo del Ejercicio 1.9 tuviese una deriva en el tiempo de 15 ppm/
mes, ¿cuánto tiempo podría funcionar sin que el error total se incrementa-
se en más de un 20 %?
1.12 Un bloque de acondicionamiento presenta una ganancia nominal de 40 dB

Apartado 1.3.1 y un ancho de banda a 3 dB desde Oa 100 kHz. Si se emplea para amplifi-
Figuras 1.25 y 1.26 car señales con una frecuencia máxima de 10kHz, ¿cuál sería el máximo
error de ganancia que introducirfa?
Ejemplo 1.6
1.13 En el caso del Ejercicio 1.12, ¿cuáles el ancho de banda a 0,1 dB? ¿Y alO,l %?
Compare los resultados con los del ancho de banda tradicional.
Apartado 1.3.1
Figuras 1.25 y 1.27 1.14 Si el sistema del Ejercicio 1.12 se emplease para procesar señales que lle-
Ejemplo 1.7 van la información en la fase,
a) ¿qué error produciría para una frecuencia máxima de 20kHz?

b) ¿Cuál sería el ancho de banda para un error del 0,1 %?
_....
Apartado 1.3.2
1.15 Determine el tiempo de establecimiento del sistema del Ejercicio 1.13 asu-
Figuras 1.30 y 1.32 miendo Jos siguientes casos:
a) Un error del 0,1 %.

b) Unerrordel1%
e) La definición típica de Regulación Automática.
Apartado 1.4
Figura 1.34 1.16 Un circuito de acondicionamiento recibe una señal de 100 mV que incluye
Eje mplo 1.19 un ruido producido por interferencia de la red eléctrica (SO fu) de 10 ¡LV
RMS. Tras amplificar la entrada con una ganancia de 1000, el circuito añade
un ruido interno que puede estimarse en 10mV. ¿Cuánto vale la relación
S/N a la entrada y a la salida del sistema? ¿CuAhto vale el factor de ruido
del circuito de acondicionamiento?
1.17 Determine la resolución que puede proporcionar una señal de continua

Apartado 1.4 con un alcance de 10 V en la que el error es del 0,1% y el ruido es de
Figuras 1.35 y 1.36 100mV P.
Ejemplo 1.10
1.18 Determine la resolución que puede proporcionar una señal de alterna
cuyo valor máximo es de 10 VP en la que el error es del 0,1 % y el ruido es
de lOOmVP.
39
Tema
Amplificación
2.1. ¿Por qué amplificar?

2.2. El amplificador operacional ideal
2.3. Alimentación de los operacionales
2.4. No idealidades de la etapa de entrada
2.5. Ganancia real de un operacional
2.6. Otros efectos sobre la tensión de salida
2.7. El ruido interno en los amplificadores
2.8. Criterios de selección de operacionales
TEMA 2. AMPLIFICACI ÓN ••
2.1. ¿POR QUÉ AMPLIFICAR?
Cuando en el apartado 1.1 se planteaba cómo sería un sistema instrumental, se

establecía la necesidad de un "circuito de acondicionamiento" que convirtie-
se la señal procedente del sensor en otra señal - generalmente de tensión- de
un valor aceptable por los sistemas de procesamiento posterior. Este circuito
de acondicionamiento suele incluir etapas de amplificación, es decir, bloques
que incrementan los valores de tensión y 1o corriente y que, por tanto, propor-
cionan señales de mayor potencia.
La ventaja de di~poner de señales más intensas desde el punto de vista ener-
gético radica en que estas señales resultan más insensibles al ruido, puesto
que para una misma potencia de ruido, la relación S/N sube en la medida en
que la señal maneje mayor potencia.
Además, cualquier desplazamiento (offset) no deseado del valor de la señal in-
troducirá un cambio (error) porcentualmente inferior al trabajar sobre una es-
cala más grande.
Como quiera que la~ señales producidas por los sensores - las que deben ser
procesadas con posterioridad- suelen ser de pequeña entidad, deben ser am-
plificada~ para conseguir que sean más insensibles al ruido y a los desplaza-
mientos.
Al margen del interés de la amplificación en el procesamiento de la señal por
las razones indicadas, el objetivo de amplificar fue el principal motor de la
Electrónica en los primeros años, aunque en aquel momento lo que se preten-
día era conseguir señales de radiofrecuencia (RF) más potentes y reproducir
sonido (audio) con un nivel suficiente como para ser escuchado incluso en sa-
las relativamente grandes.
Hoy en día, con la Electrónica plenamente desarrollada y dividida en grandes
campos o áreas según su aplicación, nos centraremos en la amplificación de
señales analógica~ sin necesidad de manejar grandes potencias, puesto que lo
único que pretendemos es conseguir que puedan ser leídas con facilidad por
otros sistemas o puedan ser visualizadas con comodidad.
2.1.1. EL AMPLIFICADOR COMO BLOQUE BÁSICO

DE LOS SISTEMAS INSTRUMENTALES
Si recordamos la idea general de un sistema instrumental como el que se

presentaba en el Tema 1 (véanse las Figuras 1.2-1.5), el primer bloque con
el que nos encontramos es el circuito de acondicionamiento (conditioning
circu.it). Este circuito, a pesar de ese nombre genérico, tiene como misión
habitual y fundamental la de amplificar. Y esto es así porque las señales
producidas por los sensores suelen ser pequeñas - ya sea de tensión o de
corriente- y, por tanto, son susceptibles de verse perturbadas por desplaza-
mientos y ruidos o resultan complejas de manejar por las subsiguientes eta-
pas de procesado.
Como se indicó en el primer tema, el paso siguiente al circuito de acondi-
cionamiento puede ser: un bloque de visualización (Figura 1.3), algo típico
43
en equipos de medida y monitorización de variables, un bloque digital en

un esquema típico de control de procesos (Figura 1.4), un sistema de trans-
misión (Figura 1.5) en los equipos de telemedida o, tal vez, otro tipo de es-
quema en el que el manejo de sensores forme parte de sus funciones. Sea
cual sea la topología del sistema instrumental, Jo que es común en la in-
mensa mayoría de los casos es que tenemos una señal de entrada peque-
ña procedente de un sensor y necesitamos una señal de suficiente entidad
- generalmente de tensión- que pueda ser admitida por el siguiente blo-
que de la cadena de procesamiento de señal. En la Figura 2.1 se presenta
esta idea genérica, donde el fondo de escala de salida del sensor (FSO) tiene
que ser adaptado al alcance S de entrada del bloque siguiente. Este bloque
es el amplificador que, eventualmente, podría precisar un desplazamiento
del nivel.
Ve Vo
Sensor
Vo
,-----,
_..--"'·lt;T Vo,..u 11
Ve
1
#"1 ------. 1
1
• ¡..,.....~
Ve/JI.. ....y 1
1 1
1
FS0 11 S
1
1 1
1 Vemin
L------
~-----'
Figura 2.1. En un sistema de inst rumentación, la misión básica de los amplificadores es l a de

modifícar -casi siempre incrementar- los niveles de señal para adaptarlos a las necesidades de
los bloques que l os leerán.
La mi~ión del bloque de amplificación será la de transformar el FSO de entra-

da en el alcance S necesario que se realizará mediante una ganancia G y un
desplazamiento D, definidos por la resolución del siguiente sistema de ecua-
ciones:
Vo.,.tr = G · Ve.,.tr + D
Vofflfn =G ·Vefhfn + D
En el caso de que los valores mínimos de entrada y salida sean nulos - algo
relativamente habitual- el desplazamiento D será también nulo y el circuito
se convertirá en una ganancia pura.
El amplificador podría estar constituido por una o varias etapas, por lo que el
esquema de la Figura 2.1 tiene diversas posibilidades topológicas. Finalmen-
te, a continuación de la etapa de amplificación -dentro del circuito de acon-
dicionamiento- puede aparecer un sistema de filtrado que adapte el ancho
de banda a las necesidades reales del sistema. Las etapas de filtrado no sue-
len aportar ganancia, de modo que no alteran el proceso de amplificación. En
P$tP. ca~o, Pl c-ircuito ciP aconciirionamiP.nto c¡H<>ci>~ como Pl c¡u<> ""' prP.~Pnta P.n
la Figura 2.2.
44
TEMA 2. AMPLIFICACI ÓN • •
Sensor Filtro
Figu ra 2.2. El ci rcui to de acondicionamiento suele estar com puesto p or el amp l ificador (una o
varias etapas) y el filtro (una o varias etapas).
EJEMPLO 2.1
Un sensor produce una señal comprendida entre - 10 y 10 mVy debe-
ser leída por un equipo que admite tensiones entre Oy 5 V. ¿Qué fun-
ción debe realizar el circuito de acondicionamiento?
Solución:
La misión del circuito será la de adaptar los niveles de entrada a los que
admite el equipo, e~ decir~
5=G ·0,01 + O
O= G · (-0.01) + b
Resolviendo el sistema, se llega a D = 2,5 V y G = 250, es decir que el

amplificador debería hacer la siguiente función:
Vo= 250 · Ve+ 2,5
En algunas ocasiones, podrfa ser conveniente expresarlo como una ga-

nancia que afecta a Ve y a1 desplazamiento:
Vo = 250 · (Ve+ 0,01)
En el presente tema trataremos el amplificador en profundidad, con el am-

plificador operacional como núcleo; en el siguiente se hablará de bloques
amplificadores un poco más elaborados y, para concluir con el circuito de
acondicionamiento, el Tema 4 abordará los filtros analógicos.
2.1.2. TIPOS DE AMPLIFICADORES
La clasificación de los amplificadores puede hacerse atendiendo a diversos cri-

terios, unos de carácter cuantitativo que hacen referencia a sus prestaciones
y otros, más genéricos que son de carácter cualitativo. 'Los primeros, se irán
viendo de forma implfcita a lo largo de los siguientes apartados, por lo que no
nos referiremos a ellos aqui. En cuanto a la clasificación cualitativa, podemos
hacerla según su configuración, la tecnología empleada en los componentes
activos, el grado de integració)\ etc. Pero, en el fondo, ya iremos viendo que
45
el objetivo no es el amplificador por sí mismo, sino su importancia como blo-

que básico en los sistemas de instrumentación electrónica. Por tanto, lo único
cualitativamente importante es el tipo de señales que presenta en su entrada
y en su salida y, desde este punto de 'lliBta se puede hablar de amplificadores
con entradas de tensión o corriente y salidas de tensión o corriente que pro-
ducen amplificadores de tensión (Figura 2.3a), de corriente (Figura 2.3c), de
trans-conductancia (Figura 2.3b) y de transresistencia (Figura 2.3d).
Todos estos amplificadores suelen ser modelados por una impedancia (o sólo
resistencia) de entrada (input impedan.ce/resistan.ce), una ganancia (gain.) y una
impedancia o resistencia de salida (output impednn.ce/resístJmce).
Rs y
lo
9'
V Ro
V el Re t YVe
(a) (b)
le A, lo le R Ro
ls
t Rs Re t
Ro
Ah
ls
t Rs Re 9 Rle lvo
(e) (d)
Figura 2.3. Tipo.s de amplificadores según las señales que manejen: (a) amplificador de tensión;
(b) amplificador de trans·conductancia; (e) amplificador de corriente; (d) amplificador de trans·re·
sistencia.
Además, cabe hablar de un tipo específico de amplificador que maneja carga

en su entrada y que no se comporta exactamente como un amplificador con
entrada de corriente. Aunque la corriente no deja de ser más que un flujo per-
manente de carga I = dq 1 dt, cuando hablamos de una entrada de carga nos
referimos a una cantidad finita de carga. Este tipo de amplificadores, denomi-
nados amplificadores de carga (charge amplifiers), suelen disponer de un sis-
tema de almacenamiento de carga (un condensador) que genera una tensión
proporcional a la carga y de un amplificador de tensión.
El concepto de amplificador ideal va ligado al efecto de conseguir ganancia infi-
nita de potencia lo que implica no absorber potencia en la entrada y proporcio-
nar toda la potencia que se pida en la salida. Lo primero se consigue haciendo
que la resistencia de entrada sea infinita en los amplificadores con entrada de
tensión o nula en amplificadores con entrada de corriente; lo segundo, se logra
haciendo que toda la potencia de la fuente del equivalente de salida se desarrolle
sobre la carga Ry_, lo que se alcanza haciendo nula la resistencia de salida cuan-
do se genera una tensión o haciéndola infinita cuando se genera una corriente.
En la Figura 2.4 se proporcionan los equivalentes de los amplificadores ideales.
La mayoría de los amplificadores usados en Instrumentación Electrónica son
amplificadores de tensión ya que son muchas las señales de los sensores que
producen una salida en tensión; no obstante, en algunos casos, los sensores
producen corrientes de salida y se precisarán amplificadores de trans-resisten-
cia que proporcionen una tensión de salida a partir de la señal de entrada. El
46
resto de las topologías no son muy usadas con la finalidad de amplificar (su-
ministrar ganancia de potencia) en el campo de este texto.
Sin embargo, sí que se emplean etapas que convierten tensiones en corrientes
y viceversa, pero no en los bloques de procesamiento de señal sino con la fi.
nalidad de cambiar el tipo de sefíal (convertidores I/Vy convertidores V /1)
con algún propósito específico, como es el caso de algunos tipos de bucles de
transmi~ión de señales que serán tratados exhaustivamente en el Tema 10.
Rs Av Rs y
9.
lo
V el rYYe
(a) {b)
le A, lo le R
ls
r Rs
r Ak t Rs
9 Rl6 lvo
(e) (d)
Figura 2.4. Tipos de amplificadores ideales: (a) amplificador de tensión; (b) amplificador de
trans·conductancia; (e) amplificador de corriente; (d) amplificador de trans·resistencia.
2.2. EL AMPLIFICADOR OPERACIONAL IDEAL
2.2.1. DEL DESARROLLO DE WIDLAR AL OPERACIONAL

ACTUAL
La Electrónica nació con la idea inicial de amplificar señales de audio y de ra-

diofrecuencia cuando, a principios del siglo xx, la necesidad de comunicación
y el manejo del sonido se convirtieron en dos necesidades sociales. No fue Robert John Widlar (Bob Wid-
hasta mediados de ese siglo cuando se consiguió el primer gran avance en ese lM), fue un ingeniero norteame-
proceso con el desarrollo del transistor (J, Bardeen, W. Brattain y W. Shockley ricano (1937-1991) que trabajó
en un equipo y H. F. Mataré y H.J. Wel.ker en otro). Sin embargo, conseguir un para la empresa Fairchild, hasta
1965 donde desMrolló el primer
amplificador de tensión ideal-o casi ideal- estaba lejos. Para eso, faltaba
amplificador operacional; cabe
aún por desarrollar la integración monolítica (J. Kilby y R.N. Noyce trabajan-
considerMlo como el padre de
do de forma independiente) pero, sobre todo, faltaba por idear algunos blo- la Microelectrónica Analógica.
ques y por conseguir una cierta reproducibilidad en los dispositivos. Más tarde se incorporó a la em-
En 1964, R.J. Widlar desarrolló para la empresa Fairchild el primer dispositi- presa N ational Semiconductor
vo que cabía calificar como amplificador operacional: el llA702, un disposi- hasta que se retiró a Puerto Va-
tivo que no era estrictamente monolítico, es decir, no estaba completamente IIMta, donde murió.
integrado en silicio sino que era un circuito de tecnología híbrida; además, en Es el creador de la fuente de co-
palabras del propio Widlar, no era demasiado bueno en prestaciones. Sin em- rriente Wirllar y probablemente,
h,.,rgo, la PmpTf~~a lo puso a la venta, al mórlico prPrio clP ::\00 rlólarP~/uni el más importante dL<;eñador de
electrónica analógica.
dad .. . Dada la buena acogida del mercado, Fairchild siguió trabajando en el
tema y, enseguida, lanzó una versión mejorada - ya monolitica- a la que de- (Fotograffa de James Wirllar)
47
nominó ¡tA709 y que cabe considerar como el prime.r amplificador operacio-

nal de la historia. Aunque hoy en día sus prestaciones parecen pobres, este
dispositivo fue usado y fabricado durante mucho tiempo por otras empresas,
como Texas Instrurnents, Signetics y SGS. La última actualización de sus ca-
racterísticas data de 1988 y fue realizada por la empresa Texas Instrurnents. En
la Tabla 2.1 se muestran las prestaciones del operacional como amplificador de
tensión (archivo uA709.pdf).
Este amplificador era perfectamente utilizable y estaba integrado con lo que
su aplicabilidad resultaba casi increíble para la época.
La empresa Fairchlld Semicon- Tabla 2.1 . Características del ~A709 de Fairchild.
ductor, es la cuna de Jos amplifi-
cadores operacionales; se formó Parámetro Valor
en 1957 a partir de Fairchild Ca- Ganancia de teno;ión 70000 V/V
mera and lnstruments, radicada Resistencia de entrada 350 kQ
en el este de EE.UU. con el pro- Resistencia de salida 150 Q
pósito de fabricar transistores de
silicio. Pero tenía algunas limitaciones en su comportamiento frecuencial y desviacio-
Más allá de Jos transistores, en nes en su comportamiento de continua. Poco después, en 1968 apareció uno
su seno nació el primer circuito de los circuitos integrados más conocidos de la historia: el¡tA741, creado por
integrado monolitico, el primer D. Fullagar para la empresa Fairchild. Fabricado por la mayoría de las empre-
amplificador operacional, el sas de microelectrónica con diversas siglas - pero manteniendo el distintivo
¡¡A741.. ., marcando el ritmo de 741- bien entrado el siglo XXI el741 ya no se recomienda para nuevos di~e
la electrónica durante la década
ños, pero aún se sigue fabricando y continúa operativo en muchos sistemas
de los sesenta del siglo pasado.
electrónicos. El741 no es un di~positivo que pueda ser calificado como "ope-
El nacimiento de la empresa no racional de precisión", pero nadie duda de que si a algún circuito se le pudiese
estuvo exento de polémica, ya dar el título de "operacional" ese sería el741. De hecho, durante más de cua-
que se creó de la mano de ocho
renta años (eso es un amplio porcentaje de la historia de los circuitos integra-
de los má• importantes ittgenie-
dos) las prestaciones del741 fueron la referencia para los demás, un espejo en
ros electrónicos de la hlstoria:
J. Blank, V. Grinich, J. Hoerni, el que todos se miraban y se comparaban.
E. Kleitter, J. La<>t, G. Moore, R. Hoy en día, los resultados de esas hipotéticas comparaciones son muy favora-
Noyce y S. Roberts que, huyeJ\- bles a los dispositivos actuales cuyas prestaciones están a distancias entonces
do de las poco éticas formas de inimaginables del741. Se pueden conseguir ganancias de hasta 107, resisten-
trabajar de W. Shockley, se lan-
cias de entrada tan grandes que están en la frontera de Jo que es posible me-
zaron a la aventura empresarial.
dir (mayores de 106 MQ) y resistencia~ de salida realmente despreciables. Pero
Fueron conocidos como los ocho
traidores, pero sus logros futu- más aún, los amplificadores operacionales disponibles pueden garantizar des-
ros dejaron claro que esa deno- viaciones en sus tensiones de menos de 1 ¡JV o anchos de banda cercanos a 0,5
mittación sólo fue una venganza GHz para ganancia~ próximas a 10.
de su antiguo lfder, un hombre Estas prestaciones hacen que amplificar señales sea sinónimo de usar amplifica-
que, pese a haber obtenido el dores operacionales y que su uso haya salido del ámbito de la Electrónica Ana-
Premio Nobel de Física, tuvo
lógica ha~ta el campo de la alta frecuencia en sistemas de tran.~misión de señales.
W\a conducta poco edificante y
bastante ajena a Jo que se debe
esperar de un científico. Con
2.2.2. EL CONCEPTO DE AMPLIFICADOR IDEAL
posterioridad, Noyce y Moo-
re también iniciaron su propia
idea, dando lugar a Intel, el gi-
Las excelentes prestaciones de los amplificadores operacionales, permitieron
gante de la electrónica digital. recuperar el concepto de amplificador ideal de tensión como algo perfecta-
mente factible. De hecho, las prestaciones de los amplificadores operacionales
no distan mucho de csn situación y; pnrn un buen número de nplicncioncs, esa
consideración es bastante correcta.
48
El amplificador de ten~ión, como se presentaba en el apartado 2.1.2 se idealiza

considerando que presenta ganancia de potencia infinita, es decir, que no con-
sume corriente por la entrada (resistencia de entrada infinita) y que es capaz
de proporcionar cualquier corriente en la salida (resistencia de salida nula),
prestaciones más que ciertas en la mayoría de los amplificadores operacio-
nales actuales. Pero, más aún, la elevada ganancia diferencial que presentan
añade otra condición más al concepto de "ideal": la ganancia infinita. Asf, un
operacional ideal reúne las siguientes características (Figura 2.5):
a) Ganancia de ten~ón infinita. R~to significa que si la tensión de salida es finita,
la única opción es que la entrada de tensión sea nula. En cualquier otro ca~o,
el operacional proporcionará la máxima tensión en cualquiera de los sentidos.
b) Resistencia de entrada infinita. Lo que implica que el amplificador opera-
cional no admite corriente por sus entradas.
e) Resistencia de salida nula. Con este supuesto, el dispositivo es capaz de Antes de popularizarse el uso
mantener la tensión de salida sea cual sea la carga. de amplificadores operaciona-
les de tipo monol:rtico, se po-
d.fan encontrar etapas discretas,
1= o -
--
montadas sobre circuito impreso
(PCB), con configuraciones del
mismo tipo que estaban inmer-
Vo sas en .resina y que se comercia-
v•! /=0 lizaban como W\ componente.
-
--
Figura 2.5. Concepto de amplificador operacional ideal que, a las condiciones típicas de un ampli·
f icador ideal de tensión añade la condición de que la ganancia diferencial es infinita.
Como circuito activo que es, el amplificador operacional precisa alimentación,

En la fotografía puede verse uno
es decir, fuentes de tensión continua que proporcionen la energía para que
de estos dispositivos y su circui-
funcionen todos sus dispositivos internos. Por lo general, como se indica en to interno fabricado con transis-
la Figura 2.5, la alimentación de los amplificadores operacionales es simétrica, tores disc.retos y resLqtencias del
esto es, con dos fuentes de igual tensión que proporcionan valores positivos y 2 % de tolerancia. El dLqpositivo
negativos de igual valor. data de principios de los años
Aunque la alimentación doble (dual supply) tal y como se muestra en la Figu- sesenta del siglo xx y fue fabri-
cado por la empresa británlca
ra 2.5 era la forma habitual de alimentación de los primeros amplificadores ope-
English Electric (1918-1968).
racionales, el auge de las aplicaciones portátiles en las que la alimentación está
limitada por las baterías o pilas y la existencia de aplicaciones mixta~ analógi-
co-digital, en la~ que se prefiere aprovechar la única alimentación de los circuitos
digitales (5 o 3,3 V) por cuestiones de coste, están fomentando el uso de alimen-
tación única (single supply) y la aparición de muchos operacionales especialmen-
te pensados para esta situación (en el apartado 2.3 se tratará este tema en detalle).
2.2.3. CIRCUITOS ANALÓGICOS CON OPERACIONALES
El uso de los amplificadores operacionales como núcleo de los sistema~ de am-

plificación se centra en unos pocos circuitos de uso general en las aplicaciones
analógicas. En cualquier caso, el empleo de los amplificadores operacionales sim-
49
plifica notablemente el cálculo y aplicación de las etapas de amplificación. Como

ejemplo, consideremos el caso del circuito de la Figura 2.6, formado por nn am-
plificador operacional que se caracteriza por proporcionar en la salida nna ten-
sión proporcional (x Ad) a la que exi~te entre sus entradas, vd y dos resistencias.
R2
R1
Ve
Vo 5 Ad·vd
Figura 2.6. Amplificador inversor basado en un operacional de ganancia diferencial finita.
La forma de analizar el circuito es bastante simple y se deriva de la considera-

ción de amplificador operacional ideal:
a) Por ninguna de las dos entradas circula corriente ya que su resistencia de
entrada es infinita.
b) Si el dispositivo tiene tensión de salida finita y Ad es infinita, la única op-
ción es que vd sea nula.
En tales condiciones, la tensión en las entradas denotadas por "+" (no inver-
sora) y ''...!' (inversora) son iguales, algo que se conoce como "cortocircuito vir-
tual". El circuito para el análisis queda como se muestra en la Figura 2.7.
; R2
R1
Ve i
Vo = Ad·v.
Figura 2.7. Esquema para el cálculo de la ganancia ideal de un amplificador inversor. El operacio·
nal ha sido sustit uido por las condiciones que impone: corriente nula en sus entradas y tensión
nula entre ellas.
En estas condiciones, la corriente i por la~ dos resistencia~ es idéntica, de donde:

Ve-O O-Vo
Rl R2
Esto permite obtener una relación entre Vo y Ve:

R2
Vo =-- Ve
Rl
Es decir, el circuito proporciona una salida que invierte la tensión de entrada y

le introduce una ganancia determinada por el cociente de resistencias R2 1 Rl.
Por este motivo, este circuito se denomina amplificador inversor (inverter am-
plifier) . Siguiendo este mismo procedimiento de análisis se puede llegar a las
expresiones características de otros circuitos útiles en el tratamiento y amplifi-
50
TEMA 2. AMPLIFICACIÓN • •
cación de señales. Un resumen de tales circuitos se muestra en la Tabla 2.2. El

lector puede tratar de deducir las expresiones de cada uno de estos circuitos,
algo relativamente sencillo en casi todos eUos, pero en la bibliografía general de
Electr6nica básica se puede encontrar el anáJisis pormenoríza.d o de todos eHos.
Tabla 2.2. Funciones básicas con amplificadores operacionales.
Topología Función
R2
v. R1
~
1
Amplificador inversor vo R2
(inverter amplifier) Vo =- -Ve
rV R1
A mplificado r no inversor
...
., 1 ~ RZ
vo Rl + R2
(no-in verter ant¡>lifier) Vo = Ve
1~
Ve Rl
RZ
~~
R1
V.
Amplificador diferencial voj R2
ldifferential amplifier)
R1
RZ
V Vo = -
Rl
Vo
R
R
Sumador
... R
1 ~ Vo
Vo = V1 + V2
v,
v,
R
V
R
R
~
v,
Vo
Restador
V,
R
R
V Vo= V1 - V2
Convertidor corrienle-tensión
(curreut-to-r.~olta~w amuert-er)
.!. .!!. 1 ~ Vo Vo = -R · le
.e-l~
RZ
R1
1
.!.
Convertidor hmsión-corri~nte Ve
R!
(voltage·lo·crment amverter) ve lo= Rl
lo R,
Rectificador de precisión " • - •

Vo = IVel
~rt>G
(prccision rcctificr)
rV
51
El amplificador operacional es el núcleo de otros circuitos analógicos como los

integradores y derivadores - poco usados actualmente por sus limitaciones
operativa&- y otros bloques como comparadores, osciladores de baja frecuen-
cia, recortadores, limitadores, etc. Como quiera que estos circuitos no tienen
demasiada aplicación en el mundo de la Instrumentación Electrónica, los de-
jamos a un lado, a la curiosidad del lector.
El amplificador operacional ideal es muy útil en los circuitos electrónicos que
procesan señales analógicas y, en la mayoría de los casos, cualquier opera-
cional puede ser considerado como ideal. Desgraciadamente, los circuitos de
acondicionamiento de señales de instmmentación electrónica son una excep-
ción y las extremas condiciones a las que se suelen ver sometidos hacen que
las simplificaciones "ideales" resulten insuficientes tanto en el análisis y como
en el diseño. A falta de amplificadores operacionales ideales, el di~eñador de-
berá comprender las limitaciones que supone el uso de los amplificadores
operacionales reales y saber acotar sus imprecisiones, algo que resulta vital en
el campo de la Instrumentación Electrónica y de los sistemas de medida. A es-
tas cuestiones se dedicarán el resto de los apartados de este tema.
2.3. ALIMENTACIÓN DE LOS OPERACIONALES
Los amplificadores operacionales son circuitos con.~tituidos por dispositivos

activos, como tran.~istores de cualquier tipo (bipolares o de efecto campo) que,
por lo general, trabajan en zona lineal, es decir en un punto de funcionamien-
to establecido por circuitos de polarización que precisan fuentes de alimenta-
ción_ esto es tensiones continuas relativamente estables. Dado el carácter lineal
de estos circuitos los valores de esta9 fuentes de alimentación actuarán como
límites entre los que estarán comprendidas todas las tensiones producidas por
el circuito. A continuación se comentarán las particularidades de la alimenta-
ción de los amplificadores operacionales y las limitaciones que imponen a las
variables eléctricas que manejan.
2.3.1. ALIMENTACIONES SIMPLES Y DOBLES
Los primeros amplificadores operacionales estaban previstos para trabajar con

tensiones de alimentación positiva~ y negativas en lo que se llama alimenta-
ción doble (dual power supply) lo que permitía trabajar con señales positivas y
negativas sin problema (Figura 2.8) y que la etapa de entrada se pudiera pola-
rizar en el entorno de O V.
El funcionamiento de las etapa~ alimentadas de forma simétrica es muy sencillo y
la única limitación es que ningtma de las tensiones implicadas sobrepase el valor
de las alimentaciones. Si esto último ocurriera debido a un valor excesivo del pro-
ducto de la ganancia por el valor extremo de la entrada, el amplificador operacio-
nal se saturaría y entregaría en su salida el valor de su ten.~ión de alimentación.
Si esto sucediese en la entrada - y tengamos en cuenta que la tensión de entrada
la ponemos nosotros y, por tanto, no depende del circuito- el dispositivo podría
no funcionar correctamente o, quizá, llegaría a ser dañado de forma irreveiSlble.
52
También es importante tener en cuenta que los di-;positivos tienen unos lúni-
tes máximos en cuanto a la tensión que pueden soportar y que eso limita la
máxima tensión a la que se pueden alimentar. Superar esos limites suele su-
poner la destrucción del componente .. . Cada componente tiene unos deter-
minados limites de uso (absolute máximum ratings) que no sólo no deben ser
sobrepasados sino que es conveniente dejar un margen de seguridad razo-
nable.
R2 Fallos en la alimentación
1 12.0 1
Tanto en la fase de desarrollo
¡ ~
p of) como durante la vida útil de

Rt 2 7 +Vce +e )e- un sistema, la mayor parte de
..l.
•
K • 1 los fallos están ligados a la ali-
Ve v/ 1 Vo mentación y a las masas. Como
r' +12~
·Vcc 4
p ·12V ~
~
nexo que une la mayoría de los
circuitos (o todos), un fallo en
cualquier punto repercute inme-
diatamente en el mal funciona-
Ve +Vce
------------ --· Vo -------------+V- ce· miento de todo el sistema.
XG
(\ (\ Quien desarrolla prototipos lo
1 - 1 sabe perfectamente y, ante cual-
\ quier eventualidad, siempre
-Vce
--------------· -Vce
------ --------· comprueba si las tensiones de
alimentación llegan a todos los
Figura 2.8. Alimentación de un operacional con tensiones simétricas: la fuente de alimentación circuitos integrados; las perso-
proporciona dos tensiones simétricas (12 V en este caso) para alimentarlo. Nunca se debe olvidar nas encargadas del manteni-
el punto de masa (el centro de las dos tensiones de alimentación) que es la referencia de tensión miento de los sL5temas siempre
para todo el circuito.
realizan esta comprobación an-
tes de plantear otra hipótesis de
Los amplificadores operacionales también pueden alimentarse asirnétricamen- fallo. Y la mayor parte de las ve-
te, esto es, con un valor de tensión diferente para el positivo que para el ne- ces, el problema está ahi.
gativo. El caso más habitual es utilizar una alimentación simple (single power Si nuestro vecino sabe que te-
supply), en el que sólo se emplea una fuente de alimentación para el circuito, nemos W\ cierto conocimiento
+Vce, con lo que toda-; las tensiones implicadas en la etapa estarán comprendi- de electróni.ca, algún día llegará
das entre OV y+ Vce (Figura 2.9). con w\ objeto "electrónico", ám-
bito en el que cabe, por ejemplo,
R2
una tostadora. La abrimos, co-
1 12.0 1
gemos nuestro polímetro de las
¡ '-"'
p ofb
..
grandes ocasiones y ... el fusible
R1 2
~ L
¡!, +Vcc +e ~ o- es el problema (un fallo de ali-
mentación). La respuesta debe
1
Ve
3
¡;..- 1
• Vo ser: "No tengo ni idea de lo que
+12~ J.. le pasa." Si cometemos el error
·Vcc 4
p de cambiar el fusible, habremos
firmado un contrato de mante-
nimiento gratuito de por vida ...
Ve ----------- __+Ys:c Vo V\ ____7\ ___+Vce,
XG,,...
1 V \
1
Figura 2 .9. Al imentación de un operacional con tensión sólo positiva: l.:a fuenté de al imentación
proporciona una única tensión (12 V en este caso) para ali mentarlo. Ahora la masa (referencia de
tensiones) coincide con el punto - Vcc del operacional.
53
El problema de este tipo de alimentación es que las señales de entrada deben

estar polarizadas, es decir, no es posible trabajar con señales simétrica~ respec-
to de O V ya que el dispositivo sería incapaz de manejar tensiones negativas.
El manejo adecuado de la polarización en continua (DC biasin.g) es básico en
el diseño de estas etapa~.
Aunque los primeros operacionales estaban pensados para trabajar con ten-
siones de alimentación simétricas, la mayoría de los operacionales actuales
permiten los dos tipos de alimentación; además, dado el incremento de las
aplicaciones en las que sólo se dispone de una alimentación simple, tales como
circuitos electrónicos para dispositivos portátiles alimentados con una pila o
una batería recargable o circuitos que forman parte de sistemas digitales (ali-
mentados a +5o +3,3 V) que aprovechan la misma fuente de alimentación, hay
muchos amplificadores operacionales previ~tos para trabajar únicamente con
alimentación simple y que están específicamente pensados para tales ca~os.
La alimentación de los circuitos electrónicos es un aspecto básico del diseño
por lo que este será el primer criterio que hay que tener en cuenta a la hora
de buscar el dispositivo para nuestra~ aplicaciones. Téngase en cuenta que
disponer de más tensiones de alimentación de las que serían necesaria~ obli-
ga a usar más fuentes de alimentación y, por ello, se incrementa el coste del
sistema.
2.3.2. LIMITACIONES DE LA TENSIÓN DE SALIDA
La etapa de salida de los amplificadores operacionales está constituida por un

par de transistores que actúan como seguidor de emi~or (Figura 2.10). Como
se puede apreciar en la topologia, el recorrido de la tensión en la salida (ou-
tput voltage swing) está determinado por los extremos (rail) de la tensión de ali-
mentación.
+Vce Vo _ _ __ _ +Vcc
Output vollage sw/ng

0V (ideal}
_ _ ___ -Vcc
- Vce
Figura 2.10. Máximo recorrido de la tensión de salida del operacional debido a las limitaciones
impuestas por la etapa de salida que está limitada por los extremos de la alimentación.
Si los transistores de salida fuesen ideales y pudiesen tener una tensión de sa-
turación n ula, la tensión de salida podría alcanzar esos extremos de alimen-
tación. Sin embargo, eso no es así y, además, suele haber algún componente
resistivo más en serie lo que es otra dificultad añadida para llegar a esos va-
lores. En linea~ generales, el recorrido de la tensión de salida sólo suele acer-
carse a poco más de 1 V de los extremos de alimentación (Figura 2.11). Esta es
una de las características más restrictivas de los amplificadores operacionales
ya que limita el valor máximo de tens ión que pueden entregar en su salida en
función de su tensión de alimentación.
54
Vo '-- - - - - +Vce
•~ 1 a 1,5 V
Output voltage swíng

ov (real)
, ,. 1 a 1,5 V
- Vce - - -- - -Vcc
Figura 2. 11. Limitación adicional del recorrido de la tensión de sal ida impuesta por la no Ideal idad
de la etap a de salida: nunca podemos llegar hasta los extremos de al imentación.
En resumidas cuentas, que la máxima tensión que un operacional puede pro-

porcionar depende de la máxima tensión a la que pueda alimentarse y del re-
corrido de la tensión de salida. Muchos operacionales pueden alimentarse con
tensiones de hasta ±18 V (algunos pueden sobrepasar con creces este valor)
por lo que estaremos en condiciones de producir tensiones suficientes para la
mayoría de la~ aplicaciones analógicas.
Pero ¿qué ocurre con los amplificadores operacionales que deban ser alimenta-
dos de forma simple y a 5 V? Si les quitamos 1,5 V por arriba y otro tanto por aba-
jo, nos encontraríamos que el recorrido de su tensión de salida iría desde 1,5 a 3,5
V.. ., un margen de maniobra muy estrecho para la mayoría de las aplicaciones.
Pues bien, existen operacionales capaces de acercarse mucho a los extremos de
alimentación, dejando una distancia de pocos milivoltios, lo que permite ex-
primir al máximo el pequeño margen entre los extremos de alimentación. Es-
tos dispositivos se denominan o11tp11t rail-to-rail (a veces aparecen con las
sigla9 RRO), y es una característica típica de los operacionales diseñados para
trabajar con tensiones de alimentación simples y bajas (menos de 6 V), aunque
también existen operacionales con alimentaciones dobles y tensiones de ali-
mentación más elevada~.
EJEMPLO 2.2
Se pretende amplificar una señal alterna de 200mVP para dejarla entre
O y 4 V, mediante un operacional de tipo RRO que admite una tensión
máxima de alimentación de 6 V. Diseñe un sistema para ello suponien-
do que se dispone de una única tensión de alimentación de +5 V.
Sol11ci6n:
El primer problema con que nos encontramos es que la tensión de en-
trada tiene valores positivos y negativos y sólo deseamos (y únicamente
son posibles) ten.c;iones positivas en la salida. Por ello, habrá que polari-
zar la tensión de entrada y proceder, después, a la amplificación corres-
pondiente (Figura 2.12).
Si añadimos exactamente 200 m V, la tensión polarizada, 'Ve81 pasará a
estar comprendida entre O y 400 m V; de esa forma, una amplificación
x10 producirá la deseada tensión de salida.
55
- +5V
Vo Ves Vo .. v
--------------· -- -----------
+200mVr==
~2oomv 5 .. • •t ® O mV
ov
XG
t
•• v
ov t
Figura 2.12.
El circuito pata polarizar la señal será similar al empleado en las etapas

de amplificación con transistores, es decir; un divisor resistivo y un con-
densador de desacoplo para la continua. La ganancia 10 se conseguirá
fácilmente con una etapa no inversora en la que R1 = lK y R2 = 9K tal y
como se indica en la Figura 2.13.
9K
+5V
1K
R3
Vo~ H - - - - - - - 1
R4
l v••
Figura 2.13
El cálculo del divisor resistivo para polarización, formado por las re-
sistencia~ R3 y R4, debe proporcionar 200mV de continua a la sefial de
entrada, es decir:
R4
R + R · 5 = 0,2 ~ R4 = 0,04167 · R3
3 4
Si hacemos R3 = l ()OK, resulta que R4 = 4,17 kO. El valor del conden-

sador se calcularla en función de la frecuencia o ancho de banda de la
señal de entrada.
El procedimiento empleado en el ejemplo anterior parece sencillo, ¿no? En

realidad un cálculo tan simplificado no deja de ser un tanto optimista - por
no decir ingenuo- puesto que hay una serie de problemas que el diseñador
debería tener en cuenta:
a) El amplificador operacional no será capaz de llegar hasta los extremos de la
alimentación en su salida por muy RRO que sea y siempre quedará un margen
de unos pocos milivoltios que provocarán una cierta deformación de la onda.
b) Las resü;tendas no tienen su valor nominal ue una fonna exa<..1a por lo t¡ue
podrían variar ligeramente de su valor. En otro ca~o, esto se traduciría en
56
un cambio ligero de la ganancia, pero en este caso podría llevar a la tensión

de salida a la saturación en la parte baja. Si en el Ejemplo 2.2 usásemos
resi~tencias con el S % de tolerancia, nos encontraríamos que la peor varia-
ción de la tensión de polarización sería del10 % lo que nos llevaría a que
pueda ir desde 180mV hasta 220mV. En el primer caso, la tensión tra~ la
polarización variaría de - 20 m V a 380 mV y, como quiera que en la salida
no puede bajar de O(en condiciones ideales), presentaría una saturación
importante. En el ca~o de que el desplazamiento fuese hacia arriba, la sali-
da se desplazaría de la rni~ma manera, pero no daría lugar a saturación.
El primero de los problemas es insalvable: si el operacional no puede bajar de
un determinado valor no se debe esperar que lo haga. En los amplificadores
rail-to-rail este lfmite inferior es pequeño, de unas decenas de milivoltios (50 a
100 m V) por encima del extremo inferior de la alimentación. Si esa ligera dis-
torsión de la onda de salida es tolerable (Figura 2.14a), no hay problema; si no
lo es, simplemente deberíamos modificar la~ especificaciones de la tensión de
salida para que suba por encima de ese lfm.jte (Figura 2.14b).
Vo ..sv Vo ..sv
(a) (b)
Figura 2.14. (a) Distorsión producida en l as señal es de sal ida de un operacional RRO alimentado
con tensión sólo posi tiva cuando debe proporcionar tensiones desde O V; (b) la solución es añadir
un ciert o nivel que evite la zona próxima al extremo de tensión O V.
El segundo de los problema~ se puede arreglar usando resistencia~ de baja to-

lerancia (y mayor coste) o recurriendo a ajustar el punto de polarización me-
diante un potenciómetro.
Un caso diferente aparece cuando se pretenden procesar señales de continua,
que sólo requieren mantenerse dentro de los márgenes establecidos por el re-
corrido de la tensión de salida. También en este caso el valor cero es un pro-
blema ya que no suele estar comprendido entre las posibilidades de salida de
los amplificadores operacionales alimentados con tensiones sólo positivas. Sin
embargo, ahora no cabría hablar de distorsión de la onda sino de un error si~
temático y perfectamente cuantificable que se podrá contabilizar a la hora de
definir las caracterL~ticas instrumentales del sistema.
EJEMPL02.3
Se pretende leer una sefial continua con un valor máximo de 50 mV con
un convertidor A/D que admite tensiones entre O y 4 V. Para ello, se
emplea un amplificador operacional RRO alimentado a +5 V cuyo reco-
rrido de tensión de salida va desde - Vcc + 0,05 Va +Vce - 0,01 V. Diseñe
el circuito más apropiado para este fin.
57
Solución:
Si queremos aprovechar al máximo el alcance del convertidor A/D, la
ganancia que tiene que tener la etapa amplificadora es de 4 V / 50 mV =
80, que se puede implementar con dos resistencias de 1K y 79K tal como
Vo +5V
-=--~-=-=-=-'!:'-~--=,-e,:·-
+4,99 V.¡=.
tOmV
SOmV
t
Figura 2. 15
El problema es que la tensión de salida no irá desde Oa 4 V síno que

estará comprendida en [50 m V, 4 V] debido a las limitaciones impuestas
por Ja salida del operacional. Eso significa que, en el peor caso, la ten-
sión se desvía 50 mV del valor real por lo que tal valor cabe contabili-
zarlo como un error de valor:
lO- SOmVI
E = · 100 = 1,25%
4V
Resulta un error muy elevado para casi todas las aplicaciones instru-
mentales que sólo se podría elimínar modificando las especificaciones
de tensión solicitadas. Si hubiésemos fijado la tensión de salida por en-
cima del umbral del operacional, por ejemplo, entre 1 y 4 V, no apro-
vecharíamos todo el alcance del dispositivo de conversión A/D pero
eliminaríamos este error. Para hacerlo habría que añadir una pequeña
tensión a la entrada que desplace el nivel de salida en 1 V.
Con la ganancia 80, el valor que hay que añadir a la entrada debe se.r de
1 V 1 80 = 12,5 m V, un valor bajo y difícil de manejar. La mejor solución
sería evitar que el sistema tuviese esa ganancia para la señal a añadir y
partir de un valor disponible como, por ejemplo, los 5 V de alimenta-
ción. El circuito para esto podría ser como el que se muestra en la Figu-
ra 2.16, con una entrada, v., y otra "entrada" de +5 V.
R2
+SV
R1
Vo
R3
Ve o---C~-,
R4
+S vo----c:::::¡.J
58
En este circuito, la tensión de salida se calcula aplicando el principio de

superposición sobre las dos fuentes de entrada. Su valor sería:
R1 + RZ ( R4 R3 )
V o= R1 . R3 + R4. Ve+ R3 + R4 . 5
Las condiciones de di~eño son: pata Ve= O V, Vo= 1 V y para Ve= 50

m V, ilo = 4 V; es decir:
Rl + RZ ( R4 R3 )
4 0 05 5
= R1 R3 + R4. ' + R3 + R4.
Resolviendo el sistema se tiene que R4 = 300·R3 y que la ganancia debe

ser 80;2, es decir, habrá que elegir dos valores diferentes para R1 y RZ.
El di~eño se completa, por ejemplo, con Rl = 11( R2 = 791<2, R3 = 100 Q
y R4=30K
2.3.3. LÍMITE PARA LAS TENSIONES DE ENTRADA
Como antes se dijo, la~ limitaciones en las tensiones de salida son impuesta~
por el amplificador operacional y pueden causar distorsiones o errores, pero
las limitaciones que determina la entrada son una condición para las señales
que introduzcamos en la etapa. Sobrepasar esos límites supondrá el funciona-
miento inadecuado del dispositivo o, tal vez, su destrucción.
La etapa de entrada del amplificador operacional es una etapa diferencial que
se alimenta desde +Vce y - Vcc como se indica en la Figura 2.17.
+Vcc
-
-
· Vcc
Figura 2.17. ¡Atención a las tensiones en las entradas de los operacionales!
Parece evidente que para que los transiBtores funcionen correctamente, exis-
tirá alguna limitación en cuanto a las tensiones que se pueden aplicar en las
entradas. Aunque las etapa~ serán más complejas y las restricciones que indi-
caremos a continuación podrían ser matizadas en cada caso, si la tensión en
alguna de la~ entradas de la etapa de la Figura 2.17 cae por debajo de la - Vce,
habrá dificultades para la polarización correcta del correspondiente transistor;
de forma similar, si se supera la tensión +Vce, podría polarizarse ditectamen-
59
te la unión base-colector. En cualquier caso, valores excesivos podrían resul-

tar destructivos si directa o indirectamente se producen tensiones elevadas en
cualquiera de los componentes que integran la etapa.
El fabricante de los amplificadores operacionales proporciona los límites per-
mitidos para las tensiones en la entrada del componente que impidan su des-
hucción y que suelen llegar a superar en medio voltio aproximadamente los
ESD extremos de la alimentación. Así, un dispositivo alimentado a +5 V sopor-
La descarga electrostática es un taría tensiones en la entrada desde -{),5 a +5,5 V, mientras otro dispositivo
fenómeno por el que se trans- alimentado a ±5 V, admitiría tensiones desde - 5,5 a +5,5 V. El lector debe en-
fiere carga rápidamente desde tender que las indicaciones que estamos dando poseen un carácter general y
un cuerpo a otro, produciendo que siempre habrá que dirigirse a las que proporciona el fabricante en las ho-
picos muy altos de corriente jas de características del componente.
instantánea que pueden causar
daños irreparables en los com- Cuando el operacional forme parte de una cadena de procesamiento de señal
ponentes electrónicos. y no se encuentre en la primera etapa, los propios dispositivos que le antece-
den establecerán las limitaciones de tensión, ya que - por lo general- todo
Los efectos de la ESD se conocen
el conjunto estará alimentado a una misma tensión. Sin embargo, el dispositi-
desde antaño y ya en el siglo xvrr
los polvorines de los fuertes del vo de entrada puede verse sometido a "cualquier tensión" ya sea fruto de un
Caribe se protegían contra este mal uso, de un cálculo incorrecto o de un accidente. En tal caso, es posible que
problema. Así se evitaba que las puedan aparecer tensiones más altas de lo previsto y que pongan en peligro la
descargas pudieran hacer que supervivencia del componente. Si se quiere proteger frente a alguna de estas
saltasen por los aires por igni- contingencias cabe la opción de emplear una red formada por una resistencia
ción de la pólvora, facilitando y dos diodos, tal como se indica en la Figura 2.18a.
las labores de los simpáticos pi-
ratas. Hoy en día, depósitos de
R R
combustible y, en general, cual-
quier instalación que pueda ser
susceptible de arder o estallar
está protegida contra este tipo
de descargas.
Y es que cargar a una persona (a) (b)
o un objeto es relativamente fá-
cil; basta caminar sobre una al- Figura 2.18. Protección con diodos frente a sobretensiones en las entradas de un operacional: (a)
simple; (b) con limitación de corriente mediante fusible.
fombra o rozar el asiento de un
coche para adquirir carga por
frotación que nos sitúe a un po- Los diodos de tipo Schottky poseen una baja caída de tensión directa que fuer-
tencial elevado. Cuando luego za a que la tensión en la patilla de entrada nunca esté por encima de +V ce +
tocamos algo a potencial más VFni por debajo de - Vce - Vr, donde Vr es la cafda de tensión del diodo que,
bajo producimos una descarga en el ca~o de usar diodos de este tipo será de 0,2 o 0,3 V. La resistencia R limi-
electrostática que solemos nota la corriente por el diodo y puede formar parte del circuito de amplificación
tar como una pequeña chispa o actuar sólo como protección. En cualquiera de los casos, si su valor es dema-
o un "calambrazo." Si en esa
siado bajo para la máxima tensión admisible, se puede incorporar un fusible
situación tocamos un dispositi-
rápido en serie con ella (Figura 2.18b).
vo electrónico podemos descar-
garnos sobre él produciendo su En algunas ocasiones, pueden aparecer picos de tensión de carácter puntual
destrucción. en las entradas, de duración muy corta, pero bastante inten.~os que podrían
Las mesas donde trabajan per- ser dañinos. Estos picos pueden tener diversos orígenes, uno de los más ha-
sonas que manejan dispositivos bituales es la descarga electrostática (ElectroStatic Discharge, ESD); en tales
electrónicos están conectadas casos, un pequeño condensador minimizaría el efecto y ayudaría a la red a
a tierra (potencial nulo) y esas evitar que la tensión suba puntualmente - serfa igualmente destructiva- en
personas suelen llevar una pul- las enl.radas del disposiUvo. Este condensadm debe ser lo suficienlemenl.e pe-
sera metálica conectada a tierra queño como para no afectar a la respuesta frecuencial, es decir, el polo que
para evitar la carga.
60
produce con la resistencia R debe estar a una frecuencia suficientemente alta

en relación con la banda pasante del sistema. En la Figura 2.19 se muestra una
etapa diferencial en la entrada de un sistema de procesamiento analógico de
señal con la red de protección completa.
Hasta este momento, se ha comentado qué precauciones debemos tomar
para que el operacional no sea destruido o sufra daños irreversibles. Sin em-
bargo, ahora queda la tarea de hacer que el dispositivo no sólo sobreviva a
nuestros envites sino que funcione correctamente. Para ello, hay que tener en
cuenta que no todos los operacionales pueden trabajar con tensiones en sus
entrada~ cercanas a las de alimentación; de hecho, muchos de ellos no lo pue-
den hacer.
Fuse R
-
Fuse R
-
Figura 2. 19. Protección completa de las entradas de un operacional, incluyendo limi tación de
picos espurios de tensión mediante condensador.
Recordando lo que decíamos cuando se hablaba de los operacionales alimen-

tados a baja tensión y sólo positiva, existen dispositivos capaces de acercarse
mucho a los extremos de alimentación: son los amplificadores operaciona-
les input rail-to-rail. Todos ellos suelen ser también output rail-to-rail y, en
tal caso, se les denomina input/output rail-to-rail (RRIO), una característi-
ca común a muchos de los dispositivos previstos para alimentación simple
a baja tensión, por ejemplo, los que pueden usar alimentación simple entre
+2,7y +6 V.
2.3.4. EFECTO DE LOS CAMBIOS EN LA ALIMENTACIÓN
Al margen de la presencia de ruido en las alimentaciones, cuyos efectos y los

correspondientes remedios se tratarán en el Tema 9, es posible la modificación
de los niveles de alimentación debidos a diferentes causas, como la caída de
las líneas de potencia, o algo muy común en los equipos portátiles: la pérdida
de tensión en las pilas o baterías recargables debido a su agotamiento.
Sea cual sea la causa, si las tensiones de alimentación caen, se estrechará el
margen disponible para la~ tensiones de entrada y salida de los operacionales
y, con ello, se podría producir un mal funcionamiento general del sistema. El
límite para que eso ocurra es el definido en los dos apartados anteriores.
Se puede pensar que si eso no ocurre el amplificador seguirá funcionando co-
rrectamente, sin cambio alguno. Pero eso no es así. La tensión de salida de un
operacional se ve afectada por los cambios de nivel en las alimentaciones y el
fabricante nos proporciona un dato para evaluar tal cambio: la razón de recha-
zo de la alimentación (pcrwer supply rejection ratio, PSRR) que se define como el
61
cociente entre el cambio de la alimentación, llVce, y el cambio provocado en la

salida, llVo y, habitualmente, se expresa en [dB]:
LWcc
PSRR = 20 · log LlVo [dB]
Los valores típicos de la PSRR son elevados, más de 90 dB, así que el efec-
to es muy bajo: por ejemplo, un cambio de 1 V en la alimentación de un ope-
racional con PSRR = 90 dB se traduciría, por aplicación directa de la anterior
expresión, en un cambio de la tensión de salida de tan sólo 31,6 tJ.V. Parece pe-
queño ... ¿no? La respuesta depende de qué ten.<;ión se esté manejando y qué
error máximo se permita en la medida.
Por ejemplo, si se tratase de un polfmetro portátil de 5 cifras significativas, mi-
diendo en la escala Oa + 10 V (desde 0,0000 hasta 9,9999 V), el máximo error
permitido sería de 1 / 100000 · 100 = 0,001 %. El error producido por la ali-
mentación sería de 31,6 ~tV dividido entre la variación de la alimentación, 2 V,
lo que produce un valor del 0,0015 %, mayor del admisible. Si este operacional
formase parte de las etapa<> intermedia<; y manejase una tensión más pequeña
que la final, el error empeoraría aún más.
La única forma de evitar este problema es prevenir las fluctuaciones del nivel de
tensión mediante la adición de un regulador de tensión. Un regulador lineal pue-
de servir, pero producirá una caída de tensión y, con ello, una pérdida del tiempo
de autonomía. La mejor opción es el empleo de un regulador conmutado integra-
do que con una pequeña bobina y un condensador permite construir una fuen-
te estabilizada de alimentación capaz de absorber las fluctuaciones de la batería.
2.4. NO IDEALIDADES DE LA ETAPA DE ENTRADA
2.4.1. RESISTENCIA E IMPEDANCIA DE ENTRADA
Una de las características que se mencionaban en el apartado 2.2.2 como pro-

pias del amplificador operacional ideal es la de resistencia de entrada infinita.
Este concepto, ligado a la idea de amplificador de tensión ideal, implica que
un dispositivo con esa característica recibiría la señal sin consumir potencia al-
guna por la entrada.
Pero, ¿qué ocurre con un operacional real? La respuesta es muy sencilla en la
mayoría de los casos puesto que la resistencia de entrada de un operacional
suele tener valores muy elevados, tan grandes como Hl6 MQ o mayores en am-
plificadores con entrada de tipo MOS. Pero esto no ocurre en todos los casos,
sino que se pueden encontrar valores mucho más bajos en otros operaciona-
les con entrada de tipo bipolar, o en otros en los que este parámetro no resul-
ta demasiado relevante por su aplicación, como en el caso de amplificadores
operacionales para lineas de transmisión, señales de vídeo o comunicaciones,
donde las impedancias que se manejan suelen ser de unos pocos ohmios. En
tales casos, algunos kilohmios resultan como un valor suficientemente grande.
62
En cualquier caso, la~ características de entrada en lo que a impedancia se re-

fiere dependen de la estructura de la primera etapa diferencial y del tipo de
dispositivos activos en ella empleados. Sin ánimo de entrar en los detalles de
la obtención de tales valores y considerando sólo las prestaciones vistas desde
fuera del amplificador operacional, se pueden definir una serie de parámetros:
la impedancia de entrada diferencial (input differential impedance) es la impe-
dancia que se ve entre sus dos entradas y la impedancia de entrada de modo
común (common-mode input ímpedance) que es la impedancia vista entre cual-
quiera de las entradas y ma9a que suele tener un valor mucho mayor que la
diferencial. En la Figura 2.20 se indica el circuito equivalente del operacional
teniendo en cuenta estos parámetros.
Aunque habría que hablar estrictamente de una impedancia de entrada de
modo común para la entrada inversora y otra para la entrada no inversora, el
hecho de que la etapa diferencial de entrada suela ser bastante simétrica hace
que ambos valores resulten muy parecidos.
La mayor parte de los fabricantes, proporcionan tales impedancias descom-
puestas en una parte resistiva y otra capacitiva (Figura 2.21). Esto puede
ser mucho más útil puesto que en la mayoría de las aplicaciones de conti-
nua sólo se tendrá en cuenta la parte resistiva, mientras que en las aplica-
ciones de alta frecuencia habrá que tener en cuenta la capacitiva o ambas
partes.
,,, z.,.
,,, ,
Vct -- ,,
-,
i ~
-
e l!
•
~
! z.
~
Ji
" Voc
l!
"• -
tu 1
1
1,_, ,-'
,,,-
,,,,
z.,.J..
Figura 2.20. Concepto de im pedancia de entrada en un amplificador operacional con una im·
pedancia diferencial entre las entradas y una im pedancia de modo comú n entre cada entrada y
masa.
R..,
c..,
R""'
Figura 2.21. Modelo habi tual de impedancias de entrada de un operacional, constituidas por una
resist encia y una capacidad.
63
Cuando la impedancia de entrada es elevada en relación con las resistencias

del circuito en el que está el operacional, su efecto puede despreciarse, situa-
ción habitual en la mayoría de los circuitos. En cualquier caso, si se desea te-
ner en cuenta el efecto se puede proceder con un circuito amplificador no
inversor como el de la Figura 2.22, en el que se han considerado todas las re-
sistencias de entrada.
Lo primero que se puede decir es que la resistencia de modo común de la en-
trada no inversora queda en paralelo con la fuente de tensión Ve, de modo que
puede no tenerse en cuenta¡ en la entrada inversora, la resistencia de modo co-
mún queda en paralelo con la resistencia R1, modificando el valor de esta ha~
taRY:
, Rl · R¡cm
Rl = --~
Rl + R;cm
R2
R1
Ve
R..,
Figura 2.22. Las resistencias de entrada del operacional en las etapas ampl ificadoras.
Con carácter general, dado que R1 es una resistencia pequeña (menor cuanto
mayor sea la ganancia) y R.,, es muy grande, el efecto del cambio de ganancia
que supondría suele ser despreciable. Por otro lado, el efecto de la resistencia
de entrada diferencial sobre la tensión de salida (y sobre la ganancia) puede
estimarse mediante la siguiente expresión:
Rl +RZ Ad
Vo = RZ Ve
Rl
Ad + 1 + RlffR¡d
Como se puede ver, este efecto se minimiza cuanto mayor sea Ad y cuanto me-
nor sea R1 en relación con Rld. En cualquier caso, la expresión anterior inclu-
ye estas dos causa~. de modo que sólo cabe achacar a la resistencia de entrada
diferencial el valor del tercer sumando del denominador puesto que el resto
se debeaAd.
Aunque, en l.fneas generales las resistencias de entrada no tienen que tener-
se en cuenta, sf que exi~te algún circuito en el que pueden proporcionar algún
disgusto, como por ejemplo, el ca~o de los convertidores corriente-tensión. En
la Figura 2.23 se muestra uno de estos circuitos incluyendo la~ resistencias de
entrada.
Como se puede ver, la resistencia de entrada de modo común de la entrada no
inversora no tiene ningún efecto porque está cortocircuitada. La de la otra en-
trada queda en paralelo con la resistencia de entrada diferencial y; como esta es
64
Vo
Ricm
Figura 2.23. Circui to para determinar el efecto de las resistencias de entrada sobre el compor ta-
miento de un convertidor corriente-tensión.
mucho más pequeña, se puede asumir sin demasiado error que Rld / 1R.,, "' Rld.
'E n estas condiciones, el efecto sobre la salida viene dado por:
Ad
Vo = -R R le
Ad + Rf/Rid
Como antes, el efecto está modulado por Ad y en la consideración de ideali-

dad no se observaría cambio alguno en la salida. Del mismo modo, la diferen-
cia con la expresión que se obtiene considerando sólo la Ad es la diferencia
que hay entre 1 y el segundo sumando del denominador. Así, siempre que R
sea suficientemente más baja que Rld' puede no tenerse en cuenta.
EJEMPL O 2.4
Un fotodiodo produce una corriente máxima de 200 nA, que debe ser
amplificada hasta conseguir una tensión de 5 V mediante un conver-
tidor I 1V. Para ello se emplea un amplificador operacional con Ad =
100 dB, R¡¿ = 500 MO, R~c., = 8 GO. Determine el error en la salida. ¿Qué
ocurriría si Rld = 1 MO?
Solución:
El montaje que se precisa es el que se muestra en la Figura 2 .24, en el
que la resistencia R debe ser suficiente para producir la salida de 5 V
cuando el diodo produce una corriente de 200 nA.
R
Vo
Figura 2.24
65
Para calcular R:
5
Vo = R · iF -+ R = 200 . lO 9 = 25 M.!l
El error producido por la ganancia diferencial finita (Ad = 106) es:
Ad
Vo = R Ad+ 1 1e
lOS
Vo= 25 ·106 lOs+ l 200 ·10- 9 = 4,99995 V
Lo que supone un error tan bajo como 10 ppm. Ahora, si se tiene en

cuenta la resistencia de entrada diferencial, despreciando la de modo
común (mucho mayor):
Ad
Vo= R R le
Ad + R//R¡d
lOs
Vo= 25 · 106 . 106 200 · 10-9 = 4,999947 V
25
lOS + 2.3,81 · 106
Obteniéndose un error similar al anterior.

En el caso de que Rlil fuese más baja, por ejemplo 1 MO, ¿cambiarla
algo? Recordemos que R 11R14 = 961,5 kO ...
105
Vo= 25 · 106 . 106 200 · 10- 9 = 4,99870 V
25
lOS+ 961,5 · 103
Pero esto supone un error bajo aún, tan sólo de 0,026 %.

El efecto de la realimentación tan intensa en los convertidores I/V hace
que la resistencia de entrada se incremente fuertemente lo que se tradu-
ce en un bajo efecto sobre el comportamiento del dispositivo.
En resumen, sólo con bajos valores de Ad la resistencia de entrada produciría

un efecto significativo sobre el comportamiento del operacional.
2.4.2. POLARIZACIÓN DE LA ETAPA DIFERENCIAL
La etapa de entrada de los amplificadores operacionales tiene una topología

diferencial, con una estructura básica del tipo que se muestra en la Figura 2.25,
con dos transistores (se han dibujado como bipolares pero bien podrfan ser
FETo MOS) y una fuente de corriente.
66
+Vce
¡,_
\o
"-
,¿
ie- ie•
;,.
+
1
-Vcc
Figura 2.25. Para que la etapa diferencial funcione, es preciso que los transistores que la constitu·
yen se encuentren polarizados correctamente.
Para que los transistores estén trabajando en algún punto de su zona "li-
neal", debe circular una corriente por sus bases que garantice su correcta
polarización. Estas corrientes nada tienen que ver con las tensiones apli-
cadas o con la impedancia de entrada del dispositivo (al menos, no direc-
tamente) sino qu e son las corrientes que necesita el circuito para poder
trabajar en un punto de funcionamiento adecuado. Una vez polarizada la
etapa, los pequeños cambios que produzca la señal de entrada, provocarán
el correspondiente gran cambio en la salida como ocurre en una etapa am-
plificadora.
El caso es que para que la etapa de entrada pueda funcionar es imprescindi-
ble que circulen corrientes de polarización (bias currents) continuas capaces de
fijar el correcto punto de funcionamiento. A~f, si no se proporciona algún ca-
mino para que circulen estas corrientes y se produzca la polarización, el ope-
racional no funcionará (Figura 2.26).
Vce Vce
¡,_ =o - ¡,_
-
V o?
Léon Charles Thévenin (1857-
Vce Ve
- -l':f-
1926) fue un ingeniero francés
especialista en telegrafía. For-
muló su famoso teorema en
1883 que permite simplificar el
anáJL~L~ de los circuitos eléctri-
cos. Aunque no parece haber
Figura 2 .26. Cuando un operacional no se polariza por no tener caminos de circulación de corríen · re lación alguna entre ambos
te desde masa (circuito de l a izquierda) la sal ida no es predecible. Para garantizar que la etapa de
trabajos, el científico alemán
entrada está t rabajando correctamente hay que incluir algún cami no que permi ta que circulen las
corrien tes de polarización (en el circuito de la derecha se han incluido dos resistencias entre cada Hermann von Helmholtz (1821-
entrada y masa). 1894) enunció un teorema si-
milar treinta años antes. SLn
embargo, fue Thévcnin quie n
Como quiera que cada una de esas corrientes de polarización depende del
encontró su aplicación y su ver-
transistor de la rama correspondiente de la etapa diferencial y como quie- dadero interés.
67
ra que nunca son exactamente iguales ni en el mismo circuito integrado ni

entre diferentes dispositivos del mismo tipo, es muy difícil saber a priori
el valor de cada una. Por ello, el fabricante proporciona un valor medio es-
perado de corriente de polarización (bias cu.rrent), lB y una diferencia (tí-
pica o máxima) entre ambas, denominada corriente de desviación (offset
current), I.,.
Estas corrientes tienen que circular para que el operacional funcione correc-
tamente, pero no dependen de las señales que deben procesar... Entonces, ya
que son algo aparte, nos podemos preguntar si estas corrientes tienen algún
efecto sobre el comportamiento. Desgraciadamente, la respuesta es afirmativa.
Consideremos un operacional cualquiera y representemos mediante la resis-
tencia Thévenin que se ve desde cada entrada de todos los posibles caminos
por los que cada corriente de polarización podría circular desde masa (Figu-
ra 2.27).
Las corrientes de polarización causan una caída de tensión en cada resisten-
cia que someten al operacional a una ten<;;i ón que depende exclusivamente de
ellas:
Utilizando las expresiones de lBy de 1., se obtiene:
Vce
ls. -
Rrh+ 1
••
Vce
-
Figura 2.27. Circuito equivalente para calcular el efecto de las corrientes de polarización del ope·
racional.
Esta tensión constituye un valor adicional que se añade al circuito y que será
amplificada como una tensión más, produciendo el correspondiente desplaza-
miento, es decir, introduciendo un error en la salida del operacional. El prime-
ro de los sumandos es el efecto de la corriente de polarización, y, el segundo,
el de la corriente de desviación.
Aunque la expresión anterior constituye el valor de tensión que hay en la en-
trada de cada operacional debido a las corrientes de polarización y que, en
función de los signos de las corrientes podrfan sumarse o compensarse par-
cialmente, en el peor de los ca<;;os todo se sumaría por lo que, si queremos ave-
68
riguar cuál es la máxima influencia, deberemos considerar la expresión con los

dos sumandos como positivos, es decir:
Rrh+ + Rrh-
VBmáx = IRrh+-RTh-1 ·18 +
2
· ll;ol
Los valores reales de las corrientes de polarización y desviación dependen del

tipo de transistores que emplee el operacional en la etapa de entrada y de la
propia estructura de esta etapa por lo que hay una gran diversidad en función
de la tecnología utili2ada. En líneas generales, las etapas que emplean transis-
tores bipolares presentan corrientes de polarización más alta~ que las que em-
plean FET y estas son más altas que las que usan transistores MOS. El abanico
de valores es muy grande, desde decenas de rnicroamperios hasta algunas de-
cenas de femtoamperios. Por su parte, es obvio que las corrientes de desvia-
ción deben ser menores que las de polarización. Así es en los ca~os en los que
la corriente de polarización es alta pero, cuando los operacionales usan transis-
tores de tipo MOS o FET (bajos valores de T~, pueden negar a ser comparables.
Como se verá en el siguiente apartado, el error producido por las corrientes de
polarización suele quedar relegado por el efecto más notable de la tensión de
desviación. Así es en la mayoría de los casos..., excepto en los amplificadores
u..~ados como convertidores corriente-ten.~ión en los que la~ corrientes de pola-
rización podrían ser comparables con la~ corrientes de entrada que se quieren
procesar, Jo que llevaría a incrementar la incertidumbre del sistema. Para estos
casos, los operacionales deben ser seleccionados usando como criterio el valor
de las corrientes de polarización y desviación. Algunos de estos operacionales
suelen denominarse "amplificadores de electrometría" (electrometer amplifier).
2.4.3. TENSIÓN DE DESVIACIÓN

El correcto funcionamiento de la etapa de entrada depende de cuán parecidas
sean sus dos ramas. En las condiciones ideales de la Figura 2.28a, los dos tran-
sistores y las dos carga~ de colector son idénticos por lo que, ante una tensión
de entrada nula, la tensión en ambos colectores es la misma, luego la salida di-
ferencial de esa etapa resulta nula.
+Vcc +Vcc
Rc,#Rei
·-· -·
Vs~O
Q \
1-
ie1 #- iE2
·- ¡
·Vcc ·Ve<:
(a) (b)
Figura 2.28. Asimetría en la etapa di ferencial de entrada de los operacionales: (a) en el país de la
gominola, todo es perfecto y las dos ramas de la etapa de entrada son idénticas. con lo que con
una entrada nula, la salida es nula; (b) en el mundo real ni las resistencias de colector ni los tran·
sistores (diferente~) son iguales con lo que, con entrada nula, la salida no l o es.
69
Sin embargo, tales condiciones de idealidad están alejadas de la realidad y, en

consecuencia Jos dos transistores serán "algo" diferentes y las dos cargas de
colector, también. En las condiciones menos ideales de la Figura 2.28b, aun
con una entrada nula, una de las ramas conduce algo más que la otra con lo
que las tensiones en cada colector son diferentes y, en consecuencia, la salida
diferencial de la etapa no resulta nula.
Esta tensión se propagará hasta la salida del operacional, con Jo que con ten-
sión de entrada nula, la salida proporcionará una tensión que se denomina
tensión de desviación de salida1 (output offset voltage) y que causará el corres-
pondiente error (Figura 2.29). Como quiera que se trata de un efecto produci-
do por la entrada, se define un parámetro denominado tensión de desviación
de entrada (input offset voltage) o, como suele ser habitual, tensión de offset,
v 111 que es aquella ten~ión que habría que añadir en la entrada para compensar
las diferencia~ entre las dos rama~ de la etapa de entrada.
El valor de la tensión de desviación depende mucho del tipo de operacional,
pero con las tecnologías actuales no puede bajarse de unas decenas de micro-
voltios. Sin embargo, como se verá en el próximo capítulo, hay circuitos un
poco más complejos que permiten reducirla hasta valores por debajo de 1 ¡tV.
En el extremo opuesto, algunos operacionales pueden llegar ha~ta tensiones
de offset cercanas a 10 m V.
Como la tensión de offset es un valor de continua, su efecto se suma al produ-
cido por las corrientes de polarización para obtener la máxima tensión de off-
set en la entrada:
vo .. o
Figura 2.29. Efecto sobre la sal ida de la no idealidad de la etapa de en trada: con una tensión nula
de entrada. la salida no lo es.
En la~ peores condiciones, dado que el signo de la ten~ión de offset puede ser
cualquiera, se sumará en valor absoluto a los efectos de las corrientes de pola-
rización y desviación.
Nos podríamos preguntar cuál de los efectos tendría mayor peso en el total de
la ten~ión de offset de entrada. La respuesta habría que buscarla en función de
los valores de v., 18 e 1.,. En condiciones normales. con resistencias Thévenin
habituales de menos de 1 kQ, el peso de las corrientes de polarización suele
ser mucho menor que el de la tensión de offset, de modo que no sería dema-
siado error considerar que:
1
En realidad, esa tensión de offset de salida no corresponde sólo a este efecto sino que se añadi-
rá trunbién el efecto de las corrientes de polarización estudiado en el anterior apartado.
70
Pero en el caso de los convertidores corriente-tensión (por ejemplo, amplifi-

cadores de electrometría o circuitos de acondicionamiento de fotodiodos), las
resistencias Thévenin suelen alcanzar valores muy superiores (desde 1 MQ
hasta 1 GQ). Esto hace que sea ahora el primer sumando el que se puede des-
preciar respecto de los otros dos y:
En cualquier caso, ante cualquier circuito y con vistas a evitar un error de

apreciación, lo mejor es cuantificar primero y despreciar después, si a ello ha
lugar.
2.4.4. ERRORES PRODUCIDOS EN LA TENSIÓN DE SALIDA
A la hora de cuantificar lo que implican las tens iones de offset y la~ introdu-
cidas por las corrientes de polarización, se debe calcular su efecto en la salida
como se indica en la Figura 2.30.
En un amplificador operacional, la tensión de desviación de salida se obtiene
fácilmente, teniendo en cuenta que la tensión total de offset de entrada estará
aplicada sobre la entrada no inversora y, por tanto, sometida siempre a la ga-
nancia no inversora (Figura 2.31).
Efecto de la tensión de offset
y corrientes de polarizació
.--1'
G·V1o r Offset do salida
G·Va Señal tratada

Señal de entrada Jio Va
Figura 2.30. Propagación a la salida de los errores de entrada que se añaden a la t ensi ón Ve que
se debe amplificar.
R2
+Vcc
R1
-Vce
Figura 2.31. Circuito para el cálculo de la tensión de offset de salida.
En tal caso, la tensión de offset de salida máxima, V .~ será:

flj)ftlll~
Rl + RZ ( Rrh+ + Rrh- )
Voo múx = Rl lviol + IRrh+ - Rrh-1 · ls + 2
· lliol
Sobre este valor se podrán hacer las mismas consideraciones y aproximacio-

nes que se comentaban al final del apartado anterior.
71
EJEMPLO 2.5 (se debe usar el fichero OPA277.pdf)

Se quiere amplificar una tensión de continua máxima de 10mV ha,~ta
conseguir 5 V mediante un operacional OPA277 (Texas lnstruments).
Determine el error producido en la salida considerando sólo la tensión
de offset y las corrientes de polarización.
Solución:
En primer lugar, elegiremos una configuración no inversora de ganan-
cia 5 V 1 10mV= 500, que se puede conseguir mediante dos resisten-
cias de H( y 499K, como se muestra en la Hgura 2.32.
499K
+15V
1K
Vo
Ve
-15 V
Figura 2.32
Si echamos un vistazo a las hojas de caracterf~ticas del operacional se-

leccionado, podemos leer que, con la mejor de las series, la tensión de
offset es, como máximo, 20 ¡¡V y las corrientes de polarización y de des-
viación valen 1 nA (para 25 oc, pero luego hablaremos de la temperatu-
ra ...). En este caso, como R111_ = 1K 11 499K"' 1K y Rn.~ =O 0:
500K (
· =
Voo mmc 20 · 10-6 + 1000 · 1 · 10-9 + 1000 · 1 · 10- 9)
1K 2
500K _6 _
Voo már = K (20 · 10
1
+ 1,5 · 10 6 ) = 10,75 mV
De los cuales, 10 m V corresponden a la tensión de offset...

El error del sistema se calcula como 10,75 mV 1 5 V= 0,00215, es decir,
poco más del 0,2 %.
Si el error se hubiera calculado despreciando las corrientes de polariza-
ción, se habría obtenido:
500K _6
Voo már = K · 20 · 10 = 10mV
1
Lo que no afectaría demasiado al resultado.
Veamos en el siguiente ejemplo qué ocurre con el error cuando el amplificador

tiene ganancia de transresi~tencia:
72
EJEMPLO 2.6
Un fotodiodo produce una corriente máxima de 200 nA, que debe se.r
amplificada hasta conseguir una tensión de 5 V mediante un conver-
tidor I/V. Para ello se emplea el mismo amplificador operacional del
ejercicio anterior. Determine el error obtenido.
Solu.ci6n:
Para conseguir la tensión especificada en la salida, el amplificador debe
tener una ganancia de transresistencia de 5 V 1 200 nA= 25 MO (Figu-
ra 2.33).
25M
>----'--OVo
Figura 2.33
A la hora de calcular el error hay que tener en cuenta que la ganancia de

tensión de este amplificador es unitaria (e.s un seguidor de tensión) con
lo que la expresión del offset de salida sería:
6
V00 máx = 1 · 20
(
· 10-6 + 25 · 106 • 10-9 + 25·10 · 1 · 10- 9 )
2
V00 máx = 1 · (20 · 10-6 + 37,5 · 10-3 ) = 37,52 m V
De los que las corrientes de polarización aportan 37,5 m V, es decir, casi

todo el error. Este error puede estimarse en 37,52 m V 1 S V = 0,0075, o
sea, poco más del 0,7 %. Un resultado muy similar se encontraría des-
preciando el valor de la tensión de desviación en el cálculo.
El tratamiento del error de offset puede simplificarse en el caso de ampli-

ficadores que procesen señales de alterna. El hecho de que alterna y con-
tinua puedan desacoplarse fácilmente mediante una red C-R hace que se
pueda eliminar el desplazamiento de la señal debido al offset del amplifi-
cador. En la Figura 2.34 la señal de salida aparece desplazada respecto del
Odebido al offset del operacional, pero tras el paso por una red C-R el off-
set se queda en el condensador, produciendo una señal de salida centrada
en O V.
Aunque el sistema parece sencillo, hay que tener en cuenta que para que fun-
cione correctamente el amplificador no debe saturarse con el offset, en cuyo
C'a~o la SPñal .<:P Clistor~ionarfll Cle formll irremPCiiahle, C'omo .<:<" inclka Pn la Fi-
gura 2.35.
73
R2 Vo
Vo'
Figura 2.34. Supresión de la tensión de offset de salida de un amplificador que debe procesar
señales de alterna.
R2 Vo
+Vcc
R1 1
-Vce
Ve v.,m4~o:
R
-Vcc
Figura 2 .35. Deformación causada por la saturaci ón debida a un offset excesivo. El circuito de
supresión del nivel de continua no puede hacer nada para recuperar la señal correcta.
Este tipo de efectos puede ocurrir con ganancias elevadas y 1o amplificado-

res con elevada tensión de offset, algo típico de los operacionales para alta fre-
cuencia. La forma de evitar este problema puede pasar por la modificación de
la estructura o por partir la ganancia en varias etapas. En el primer ca~o, se
añade un condensador en serie con la resistencia Rl, lo que reduce la ganancia
de continua a 1, manteniendo la de alterna (Figura 2.36a). El cálculo del con-
densador debe hacerse para reducir su efecto a baja frecuencia y, debe ser di-
señado de tal forma que el polo producido por Rl y C esté lo suficientemente
alejado de la frecuencia mínima que se desee procesar.
Con un amplificador de dos etapa~, el offset de salida puede reducirse si están
acoplada~ en alterna mediante una red C-R; la mayor parte de la ganancia está
en la primera etapa, pero evitando la saturación y el resto, en la segunda (Fi-
gura 2.36b); en cualquier caso, siempre se podría añadir una segunda red C-R
a la salida de esta última si fuera necesario eliminar el pequeño desplazamien-
to que introduciría esta última etapa.
R2 R6
R4
R5
(a) (b)
Figura 2.36. Reducción del offset en amplificadores de al terna: (a) amplilícador de una etapa; (b)
mediante el uso de dos etapas acopladas en al terna mediante un condensador.
74
EJEMPLO 2.7
Se desea amplificar una señal alterna de 2m VP para conseguir una sali-
da de 10 VP con un amplificador que tiene una v., = 1 mVy en el que se
pueden despreciar las corrientes de polarización. Diseñe una estructura
para hacerlo sabiendo que el amplificador está alimentado a ±15 V y la
tensión de salida sólo puede acercarse a 1,5 V de las alimentaciones.
Solución:
La ganancia necesaria para la etapa sería de 10 V 1 2mV = 5000 con lo
que la tensión de salida sería la suma de la tensión de entrada y la de
offset, ambas amplificadas por la misma ganancia:
V 0 =5000 · (2 · sen(c:ot) + 1) [mV]

V0 =10 · sen(wt) + 5 (V]
Esta tensión puede llegar a + 15 V .. .

La forma de onda que se obtendría en la salida sería la que se muestra
en la Figura 2.37, en donde aparece un recorte (hemos supuesto un des-
plazamiento positivo, pero bien podría tener el signo contrario) cuando
trata de superar el valor de 15 - 1,5 = 13,5 V.
Vo
+13.SV
Vo
1 mV
·13.SV
2mVp
-15 V
Figura 2.37
Para resolver el problema podríamos emplear dos etapas; la primera

con casi toda la ganancia pero evitando la saturación y la segunda con
el resto de la ganancia. Aunque podría calcularse cuál es la máxima ga-
nancia posible para la primera etapa, usaremos 4000, en cuyo caso la
tensión de salida de la primera etapa sería:
V0 = 4000 · (2 · sen(mt) + 1) = 8 · sen(wt) + 4 [V]
El máximo posible es de 12 V, lo que evita la saturación. Ahora coloca-

mos una red C-R que se queda con la continua, dejando sólo la alterna:
V0 ' = 8 · sen(wt) [V]
La segunda etapa añadirá el resto de ganancia (5000 1 4000 = 1,25), con

lo que a la salida de la segunda etapa tendremos:
VC:' = 1,25 · (8 · sen.(wt) + 0,001) = 10 · sen(mt) + 0,00125 [V]
75
Queda un desplazamiento residual de 1,25 m V que supone un error

muy pequeño, pero que podría, en caso necesario, suprimirse sin pro-
blema mediante otra red C~R. En la Figura 2.38 se resume el funciona-
miento de este amplificador de dos etapas.
Figura 2.38
2.4.5. COMPENSACIÓN DE ERRORES Y DERIVAS
Aunque el problema de los errores debidos al offset tiene una solución re-
lativamente sencilla en el caso de trabajar con señales de alterna, sus no-
civos efectos persisten en los casos de amplificación en continua lo que
constituye uno de los principales quebraderos de cabeza de los diseñado-
res de electrónica analógica, sobre todo en las aplicaciones de instrumen-
tación.
Cuando nos enfrentamos a un problema de este tipo nuestro objetivo es mini-
mizar el error de continua. La forma de proceder es obvia: en primer lugar se
calcula el error producido e inmediatamente la pregunta es si resulta tolerable
o no. En el primer caso, el asunto está zanjado pero, desgraciadamente, lo más
probable es que el valor de error obtenido sea mayor del que podemos permi-
timos, en cuyo caso ¿qué debemos hacer?
La opción inmediata es buscar otro amplificador operacional que tenga mejo-
res prestaciones desde el punto de vista de tensión de offset de entrada y 1o de
corrientes de polarización. Si ello es posible y podemos encontrar un opera-
cional suficientemente bueno como para tener un error aceptable en la salida,
hemos resuelto el problema. A veces, se consigue. Pero debemos ser conscien-
tes de que las prestaciones de un operacional tienen limites tecnológicos que
no se pueden sobrepasar. Entonces, ¿qué ocurre si llegamos a esos límites y no
conseguimos doblegar al error de salida?
Si reducimos el valor de las resistencias, los efectos de las corrientes de po-
larización se notarán menos ... Pero en el caso de amplificadores de ten-
sión el peso está en v., y, en el caso de convertidores 11V, el valor de la R es
el que queda definido por la ganancia de transresistencia, luego no se pue-
de tocar.
76
Tradicionalmente se proponian métodos que trataban de suprimir el error

causado por 18 mediante el añadido de una resistencia en la entrada no inver-
sora cuyo valor sea igual al Thévenin de la entrada inversora (Figura 2.39).
R2 R2
R1
Ve
R.,..= R,.. = R11/R2
Figura 2.39. Compensación del efecto de la corriente de polarización mediante el equili brado de
los equivalent es Théveni n en las entradas.
En este caso, como Rn,. = R.¡¡,_ la tensión de salida debida al offset quedaría re-
ducida a:
Rl + R2 ( Rrh+ + RTh- )
Voo máx = Rl lvio 1+ · IJiol
2
Desgraciadamente, no todo es tan bonito como parece y trabajando con valo-

res reales nos damos cuenta de que:
a) En los casos habituales de amplificadores de tensión, el efecto de v., es mu-
cho mayor que el de los otros términos, con lo que no se conseguirla redu-
cir el error prácticamente nada (véase el Ejemplo 2.4).
b) En el caso de convertidores corriente-tensión, el peso importante es el de 1'8
e 1, con lo que todo el error quedaría reducido al que produce T,.,:
Rl + R2 Rrh+ + Rrh- Rl + R2
Voo máx = Rl 2 · IJ¡ol = Rl · Rrh+ ·lliol
¡Esto tiene buena pinta! Pero ... si bien eliminamos el sumando de 18 ,

duplicamos el efecto del sumando de 11• con lo que el efecto final de-
pende de los valores relativos de ambas corrientes. Resulta que ambos
valores son casi iguales o iguales en los operacionales con buenas pres-
taciones en continua, de modo que no se consigue mejorar mucho las
cosas.
e) El hecho de colocar esta resistencia supone afíadir otra fuente má~ de ruido
según se verá en el apartado 2.7, lo que va en perjuicio del comportamiento
del si~tema.
En resumidas cuentas, una vez que hemos encontrado n uestro mejor opera-
cional desde el punto de v:iBta del error en continua, poco más se puede hacer
para mejorarlo. La única opción que queda es la de realizar ajustes.
El ajuste supone añadir una tensión que compense exactamente el offset de sa-
lida con lo que el error de la etapa se reduce virtualmente a cero como se indi-
ca en la Figura 2.40.
El problema es que la tensión total de offset de entrada no es predecible para
cada dispositivo puesto que v,., e 1., presentan distribuciones estadísticas (Fi-
77
El sobrecoste de ajustar
Inel uiJ' un ajuste en un sistema
no es gratis. No sólo porque el
sL~tema tiene algún componente >--'---o
Voo=OV ri
más Jo que añade algo de coste
a la suma total sino porque el
proceso de fabricación no puede
completarse de una forma total- Figura 2.40. Idea general de la compensación de offset de un operacional.
mente automática.
La presencia de ajustes supone gura 2.41) que impiden saber a priori qué valor habría que añadir para com-
que un operario debe realizar pensar el error.
una serie de acciones lo que
implica costes importantes que
pueden llegar a ser comparables
con el resto de los costes de fa-
bricación. Esto se traduce en un
mayor precio final del sistema.
•::>
z
v.,
Figura 2.41. Tensión de offset de un operacional: aspecto t ípico de la di stribución de frecuencias

en la estimación experimental de su valor.
La única opción que queda es la de realizar un ajuste mediante un potenció-

metro para cada circuito individual. Este ajuste lleva asociadas varias accio-
nes: poner las entradas a O V, medir la salida y actuar sobre el potenciómetro
hasta conseguir que la salida sea "nula". En cuanto al circuito para hacerlo
hay dos opciones:
a) Amplificadores operacionales con terminales de ajuste interno. Algunos
operacionales disponen de un par de terminales para ajustar el offset me-
diante una red con un potenciómetro como la que se muestra en la Figura
2.42 y que están diseñados para permitir mover la tensión hasta unas tres
veces por encima del offset máximo del operacional.
+Vce
A"---1~ Terminales de ajuste de offset

(offset null pins)
-Vce
Figura 2.42. Ejemplo de ajuste de la tensión de offset mediante el uso de los t erminales lnter·
nos de ajuste (el esquema depende de cada dispositivo).
Hay que destacar que no todos los operacionales tienen la misma cone-
xión para eliminar el offset. Algunos se conectan a la alimentación posi-
tiva y otros a la negativa. H ay que tener cuidado cuando un operacional
se reemplaza por otro modelo porque en caso de que no tengan el rnL~mo
tipo ajuste, no sólo no funcionaría bien sino que podría ser destruido. En
78
todos los ca~os, lo mejor es dirigirse a las hojas de características del fabri- Potenciómetros
cante. Cuando no queda más remedio
b) Amplificadores operacionales sin terminales de ajuste interno. La mayorfa que utilizar un ajuste se usará
un potenciómetro.
de los dispositivos no poseen pines que permitan ajustes como el de la
Figura 2.42; en tal caso hay que añadir la tensión con una red externa con Si el ajuste es interno, se suele
el circuito que se muestra en la Figura 2.43 y que sirve para compensar el emplear un potenciómetro de
offset en cualquier configuración. tipo multivuelta que permlte un
ajuste fino, pero que supone un
R2 cierto tiempo hasta conseguir
encontrar el punto en el que se
+Vce logra anular el efecto del offset.
En 15 vueltas, el punto de ajuste
Vo puede estar en cualquier parte y
el potenciómetro sólo Ueva un
diminuto torniUo sin ninguna
indicación ...
-Vce
R3
+VREF p
R4 R4
Figura 2.43. Ajuste genérico de la tensión de offset mediante una red externa. Este ajuste es
más f lexible que el de la Figura 2.42 ya que permi te trabajar con cualquier t ensión de ajuste y,
virtualmente. puede diseñarse para compensar cualquier desviación de tensión, incluso la que
producirían varias etapas.
Una vez logrado el ajuste, se
En este circuito, el máximo offset en valor absoluto que se puede com- suele sellar para evitar que se
pensar en la salida (cuando el potenciómetro esté en uno de los extremos) mueva. Aunque hay productos
específicos, la laca de uñas es un
sería:
buen sellador y aJ\ade una nota
R2 de color que puede llegar a ir
Voo compen = R VR muy acorde con la moda.
3
En el caso de ajustes externos,
Será posible compensar siempre que este valor sea superior al offset total los potenciómetros suelen ser
en la salida, es decir: de eje, sujetos al exterior de la
carcasa y también de tipo mul-
tivuelta, aunque ahora suelen
incorporar un dial que permite
conocer la posición y fijarlos.
La tensión VR se obtiene a partir de las tensiones ±VREF y de la red resistiva
formada por las dos R4 y P que permiten un ajuste má~ fino y cómodo:
P+R4 P
VR = . R +p . 2.
2 4
VREF- VREF = 2
. R +p . VREF
4
Aun con el coste adicional de incorporar ajustes en un circuito, este sistema

nos permite conseguir eliminar virtualmente la incertidumbre introducida por
las no idealidades de la etapa diferencial de entrada hasta conseguir un error
nulo.
Desgraciadamente, las cosas no son tan simples o, mejor dicho, son aún más
complejas puesto que los parámetros de continua de cada operacional no per-
manecen constantes a lo largo de la vida del dispositivo sino que presentan
variaciones o derivas (drifts) debidos a los cambios de temperatura y al enve-
79
jecimiento del di~positivo. Las primeras se denominan derivas térmicas (ther-

mal drifts), mientras que las segundas se llaman derivas a largo plazo (long
term drifts).
Aunque estas derivas se definen para la totalidad de los parámetros de conti-
nua del amplificador operacional, tensión de offset, corriente de polarización
y corriente de desviación, el fabricante no suele proporcionarlas para todos
ellos sino que suele limitarse a dar la evolución de la tensión de offset con la
temperatura en [V ¡~q y a lo largo del tiempo en [V /mes].
El efecto de las derivas complica el proceso de ajuste ya que un circuito que
pueda haber salido con el error offset perfectamente eliminado de fábrica, en
cuanto se modifique la temperatura o haya transcurrido algo de tiempo es-
tará fuera de s u punto de ajuste. Por ejemplo, consideremos un circuito ajus-
tado a la temperatura ambiente (room temperature) de 25 ~e, transcurrido un
tiempo M y a una temperatura T presentará un cambio de su tensión de off-
set de:
liV¡ liV¡ 0
V 10
· d ·rt = -liT0 · (T- 25) + lit ·lit
TI
Donde Dv.J I!.T es la deriva térmica y t.vj M es la deriva temporal o deriva a

largo plazo. Asf, un circuito perfectamente ajustado, presentará a lo largo de
su vida una tensión de offset de salida de:
Rl + R2' Rl + R2 llv¡ 0 llv¡ 0

Voo máx = Rl V¡o d>·ift 1 = Rl liT · (T- 25) + M ·M
Despreciando el efecto de las corrientes de polarización.
EJEMPLO 2.8
Se desea amplificar una sef\al de continua de 1 m V hasta obtener 4 V de
salida mediante un operacional que posee una tensión de offset a 25 °C
de 50 ¡N. Despreciando las corrientes de polarización y desviación dise-
ñe un circuito para conseguir un error menor del 0,05 %.
Soluci6n:
'La mejor opción es usar una topología no inversora con una ganancia
de 4000 (4 V / 1 mV), con lo que el valor máximo del offset en la salida
a 25 "C sería:
VilO rt:dr = 4000 · (50 · 1~) =O1 2 V
Esto supone un error de 0,2 / 4 = 0,05, es decir, del 5 %, mucho mayor

del tolerable. La única opción que queda - salvo la de buscar otro di<;-
positivo mejol'- es la de montar una red de ajuste externo ya que no se
menciona la posibilidad de disponer de terminales para ajuste interno.
Hay que tener en cuenta que la tensión a compensar es de 0,2 V en la
salida, es decir:
80
. R2 R2 P
0,2 = R3 VR = R3 2 . R4 + p . VREF
Si se usa Rl = 100 O y R2 = 400K (Figura 2.43) y la~ tensiones VRu son

de 5 V, se puede elegir, por ejemplo, P = lK y R3 = lOOK (las opcione:¡
son muchas) con lo que:
400K 1K
0•2 = lOO K. 2 · R4 + lK. S R4 = 49KS
Una resistencia R4 algo menor proporcionaría un margen de aju$te

adicional que siempre es interesante para estar del lado de la segu-
ridad.
Ahora sólo queda realizar el ajuste, para lo cual se colocaría la entrada
a ma~a, se mediría la tensión de salida y se movería P hasta conseguir
anularla Eso sf, todo eUo en un ambiente controlado en el que la tempe-
ratura fuese de 25 "C. ..
EJEMPLO 2.9
Si en el caso del ejemplo anterior el operacional debe trabajar en am-
bientes con temperaturas [O, 60] oc y durante cinco años, ¿cuál serfa el
máximo error tras el ajuste sabiendo que ~v., 1~T = 0,1 ¡N /"C y ~v.) M
= 0,05 ¡J.V 1mes?
Solución:
Considerando el circuito ajustado a 25 "C y en el comienzo de su vida útil,
la suma de los efectos de las dos derivas producirá, en el peor de los ca-
sos, una tensión de offset de entrada adicional a la compen~ada de valor:
v.,d"ff = 0,1 ¡¡V /°C · (60- 25)"C + 0,05 ¡¡V1mes· 60 meses= 6,5 ¡N
Con la ganancia especifícada, la tensión de offset de salida será de

4000·6,5 ¡.¡V= 26mV que, sobre una salida máxima de 4 V produce un
error de 26mV 1 4 V = 0,0065, es decit¡ 0,65 %.
Si se pretendiese mantener el error por debajo del 0,05 %, serfa imposi-
ble en estas circunstancias.
Cuando el error producido por la~ derivas a largo plazo resulte muy elevado,
no quedará más remedio que recurrir a una calibración periódica del sistema,
actuando sobre el potenciómetro de ajuste con las entradas a masa hasta con-
seguir eliminar el error. Si la causa del problema fuesen las deriva~ térmicas, el
ajuste deberla hacerse inmediatamente antes de emplear el sistema lo que sue-
le obligar a situar el ajuste de offset en el exterior del equipo para hacerlo ac-
cesible en todo momento.
81
2.5. GANANCIA REAL DE UN OPERACIONAL
Como se explicó en el apartado 2.2.2, los amplificadores operacionales idea-

les tienen la ganancia infinita como una de sus características más destacadas.
Una vez más, los amplificadores operacionales reales no llegan a estos extre-
mos, pese a tener ganancias diferenciales muy elevadas. Valores de hasta 140
dB (10 7 V /V) son relativamente habituales en estos dispositivos con lo que
para la mayoría de las aplicaciones analógicas bien puede considerarse como
infinita sin demasiado error. Por ejemplo, si un operacional con 140 dB de ga-
nancia diferencial está entregando 2 V a la salida, la tensión diferencial en su
entrada serfa de 2 V 1 107 = 0,2 ~rV. En la mayoría de las aplicaciones analó-
gicas, donde la<> ganancias no son elevadas y donde en la entrada se manejan
tensiones entre 100 m V y 1 V, el error que supone una tensión como la que
aparece entre las entradas inversora y no inversora puede despreciarse sin de-
masiados problema<>.
Por tanto, para muchas aplicaciones el amplificador operacional real puede se-
guir considerándose como ideal desde el punto de vista de la ganancia sin que
nuestros cálculos se vean comprometidos.
Entonces, ¿podemos olvidarnos de la ganancia diferencial? La respuesta es ne-
gativa.
2.5.1. GANANCIA DIFERENCIAL FINITA
En el ámbito de la Instrumentación Electrónica, donde se suelen manejar se-

iíales muy débiles procedentes de los sensores y en donde las ganancias de
las etapa<> de amplificación pueden llegar a ser muy elevadas, el efecto de la
no-idealidad de la ganancia puede dar al tra<>te con los cálculos que se hayan
efectuado. Y el problema no es que el operacional no funcione como debe o
que los cálculos no sean capaces de predecir los valores finales que se deben
obtener sino que hay que tener en cuenta la no idealidad del dispositivo.
Supongamos un amplificador operacional real como el de la Figura 2.44 que
posee una ganancia finita Ad. La tensión de salida se obtiene a partir de la ex-
presión:
VO =Ad · v,
Figura 2.44. Funcionamiento de un operacional de ganancia finita.
El efecto de que la tensión vd sea distinta de cero se traduce en un cambio en

las expresiones características de las etapas de amplificación con operaciona-
les. Consideremos, como ejemplo el caso de la etapa no inversora de la Figu-
ra 2.45 en la que NO suponemos que las tensiones de sus dos entrada<> sean
82
iguales, sino que tendremos en cuenta que entre ella~ hay una tensión diferen-
cial Vd.
¡ R2
j
R1
Vo
Ve
Figura 2.45. Circuito para el cálculo de la ganancia de una etapa que usa un amplificador opera·
cional de ganancia finita.
En esta~ condiciones, la tensión en la entrada inversora será Ve - v,; la corrien-

te por la resistencia RI será:
. Ve - Vd
t = Rl
igual a la que circula por R2 ya que se sigue considerando que no circula co-
rriente por las entradas del operacional lo que es bastante próximo a la rea-
lidad:
t. = _
Vo-(Ve - vd)
_..:..,..::--__::::.
RZ
Igualando amba~ expresiones y considerando que vd = Vo 1 Ad:
.
Ve- -Vo
Ad Vo - (ve-~)
t = Rl RZ
Despejando Vo:
. Ad
Vo = Rl Ve
l +AdRi + RZ
Expresión que se transforma en la ideal Ve·(Rl + R2) 1 Rl cuando Ad tien-
de a infinito. Del mismo modo, se puede proceder con cualquier otro circuito
"ideal" en el que quiera considerarse la ganancia diferencial finita para obte-
ner nuevas expresiones que tengan en cuenta este efecto. Se invita al lector a
hacerlo, aunque con las advertencia~ de que no siempre es fácil llegar a expre-
siones "bonitas". Se podrá hacer comprobación del cálculo sin más que susti-
tuir Ad por infinito, en cuyo caso se debería llegar a la expresión ideal.
No obstante, por si el lector no dispone de tiempo libre suficiente para estos
ejercicios matemáticos, en la Tabla 2.3 se proporcionan la~ expresiones reales
de las etapas de amplificación más habituales.
La~ expresiones anteriores indican que los circuitos reales tienen una expre-
sión de la ganancia que difiere de la ideal, pero lo que interesa saber es cuánta
83
• • INSTRUMENTACIÓN ElECTRÓNICA
es esa diferencia ya que su valor nos proporciona un criterio que permitirá va-
lidar el comportamiento del circuito.
Ejemplos sinúlares con cualquiera de las topologías amplificadoras produci-
rían resultados muy pa recidos a los que se obtienen en el Ejempk> 2.9. Enton-
ces, ¿cuál sería el problema si considerásemos efectivamente la ganancia como
infinita?
Hay dos respuestas para esto; la primera es de tipo cuantitativo y nos dice
que un error no es gra nde o pequeli o porque lo sea numéricam en te sino
porque resul te o no vá lido para una dete rminada aplicación. Baste conside-
rar q ue si el amplificador del ejemplo anterior formase parte de la cadena
de procesam ien to de un equipo que tenga que propo rcionar una salida con
S cifras significativas, ese error sería inaceptable; en efecto, para validar des-
de la primera has ta la ú.ltima cifra de su display se precisaría un error máxi-
mo de 0,00001, es decir, 0,001 % con lo que el circuito del ejemplo no sería
útil.
Tabla 2.3. Ganancias i deales y reales de las etapas básicas de ampli ficación.
G~.., G~,
R>
Ad Ad
"' ·· .1 ~ V
R2
-- -
Rl + R2 + Ad R1
- 1
R1 1 + IG· I(Ad+ l )
J: ~ R2 R2 Ideal
•• Ad
Ad
.rc:::::,1~ R1+ R2
R1
1+
V
Ad
.. V Rl l + Ad Rl + R2 Gideal
.,
... 1 ~ Ad Ad
..¡ ., V R2
- 1
• Rl Rl + R2 + AdRl 1 + IG· 1(Ad + 1)
., R2 R2 rdecd
•
... ~ ~ ~ V -R - 1Ad· R
+Ad
r-V
EJEMPLO 2.10 (se debe usar el archivo AD8622. pdf)

Se realiza Ltn amplificador de ganancia 1000 para amplificar señales de
entrada de 2 m V en continua mediante el operacional AD8622 (Analog
Devices). Determiné el error obtenido cuando se considera qu e su ga-
nancia diferencial no es ideal.
Solución:
El circuito a uti.lizar podría usar, por ejemplo, R1 = 100 O y R2 = 99K9 y
te ndría u na topología como la que se m u estra en la Figura 2.46.
84
99K9
100
Vo
Ve
Figura 2.46
Si comprobamos los datos de ganancia diferencial de sus hojas de carac-

terísticas, encontramos que a 25 oc el valor mínimo que garantiza el fa-
bricante es de 118 dB, aunque lo habitual es que alcance los 135 dB. Nos
quedamos con la situación más desfavorable, la de 118 dB, que equivale
a una ganancia de 794300 V1v:
Utilizando la expresión de la ganancia real del amplificador no inversor
tenemos que:
794300
Vo= Ve= 998,7 ·Ve
794300
1 + 1000
Se ha perdido un poco de ganancia desde 1000 a 998,7; el error que eso

introduce es 0,13 %. Como se observa, inclu..~o con una g.a nancia muy
elevada, el comportamiento se aparta poco del ideal.
La segunda respuesta hay que buscarla en las limitaciones en el comporta-

miento de los operacionales en función de la frecuencia, que fuerza valores de
ganancia diferencial mucho menores de Jo previsto a medida que nos vamos a
zonas altas del espectro. Este aspecto se tratará a continuación.
2.5.2. EFECTO DE LA FRECUENCIA

El valor de la ganancia diferencial Ad al que nos hemos referido hasta ahora es,
en realidad, el valor en continua, es decir, a frecuencia cero. En las hojas de ca-
racterísticas de los operacionales suele denominarse como ganancia diferen cial
en bucle abierto (open loop differential gain) o, simplemente, ganancia en bucle
abierto (open loop gain), AfY aunque el súribolo empleado difiere en función del
fabricante. A1 tratarse de una ganancia de tensión es actimensional y lo más fre--
cuente es representarlo en decibelios [dB]. No obstante, a veces figura en su valor
no logarítmico, en cuyo caso suele indicarse como [V1V] o [V 1mV]. Por ejemplo,
un operacional con A0 = 120 dB tendría una ganancia de 106 V /V o lOl V1mV.
Sin embargo, de este elevado valor de ganancia diferencial sólo se dispone
desde continua hasta frecuencias muy bajas y enseguida empieza a caer. La
forma típica de la ganancia de un amplificador operacional en función de la
frecuencia es similar a la que se muestra en el diagrama de Bode de ganan-
da de la Figura 2.47. Como se puede observar, los operacionales presentan un
polo a muy baja frecuencia y; a partir de él, se pierde ganancia a razón de 20
85
dB 1déc. Por tanto, si se pretende trabajar a una frecuencia determinada, ha-

bría que buscar el valor de Ad a esa frecuencia - siempre menor que A 0- , y
usarlo en las expresiones que se presentaban en el apartado anterior.
IAd
[dB)
Polo a baja frecuencia
Ao+--.....t
O dB f - - - - - - - - - - - - ' " - - - - +
log f
Figura 2.47. Diagrama del módulo de la ganancia de un amplificador operacional típico.
Los fabricantes proporcionan los diagramas de Bode de la ganancia diferen-

cial, con lo que se puede obtener el valor buscado de forma gráfica; sin em-
bargo es más cómodo emplear el concepto de producto ganancia-ancho de
banda (gaín.-bandlvidth product), GBW que representa toda la zona de pendien-
te - 20 dB 1déc dado que se cumple que el producto del ancho de banda a 3 dB
por la ganancia se mantiene constante (Figura 2.48). En tal caso, la ganancia en
bucle cerrado coincide con el valor de la ganancia diferencial A.d y la frecuen-
1
cia fes igual en valor que el ancho de banda B:
lA di
[dBJ
Ao+ - - - Ganancia en bucle abierto
B f log f
1
Figura 2.48. Ganancia en bucle abierto y ganancia en bucle cerrado de una etapa amplificadora no
inversora basada en un operacional .
Por tanto, el valor de la ganancia diferencial a cualquier frecuencia se puede

obtener fácilmente a partir del GBW, siempre y cuando estemos por encima de
la frecuencia del primer polo ya que, en caso contrario, Ad1 = A 0•
Como un ca~o particular, cuando la ganancia es unitaria (Ad = 1), el ancho de
1
banda coincide en valor con el GBW. Este ancho de banda se denomina ancho
de banda a ganancia unidad (unity gain. bandwidth.) y se suele llamar B0:
B11 = GBW [Hz]
86
Los fabricantes proporcionan indistintamente uno de los dos parámetros para

definir las bondades de sus dispositivos. En cualquier caso, los amplificadores
con mayores valores de GBW tendrán mayores valores de ganancia diferencial
a tma determinada frecuencia (Figura 2.49) con lo que los errores por este con-
cepto serán menores.
La forma de usar este parámetro es ba~tante sencilla en lo que al cálculo se refiere,

pero puede llevar consigo limitaciones tecnológica~ que podrfan hacer inalcanza-
bles una determinada ganancia, un determinado error de ganancia y un anCho de
banda concreto. En el ejemplo 2.11 se ilustra cómo emplear estos conceptos.
IAd
[dB)
A.+..,...-......--....
l og 1
f
Figura 2.49. El concept o de producto ganancia·ancho de banda en los operacionales. A medida
que el gráfico se desplaza a la derecha, el valor de GBWes mayor.
EJEMPLO 2.11
Se pretende diseñar una etapa amplificadora para conseguir una señal
de 4 VP a partir de una entrada de 20mVP cuya frecuencia es menor d e 1
kHz. Determine el error de ganancia cuando se emplea para este fin un
operacional con Ao = 100 dB y GBW = 15 MHz. ¿Qué GBW sería preciso
para un error de 0.~1 %?
Solución:
Si usamos una topología no inversora, su ganancia debe ser 4 Vp 1 20mVp
= 200, que se podría conseguir con resistencias R1 = 100 O y R2 = 19K9.
El ca~o más desfavorable es el de la :rrtáid.ma frecuencia por lo que deter-
minaremos la ganancia diferencial para ese ca~o:
Con este valor, determinamos la ganancia real de la etapa no inversora:

15000
Greal = 1 5000 = 19 7,4
1 + 200
Este resultado reduce la ganancia del valor ideal de 200 lo que implica
un error de 1,3 %, un valor que puede ser inaceptable para la mayoría
de los casos del ámbito de la Instrumentación Electrónica.
87
Si nos planteamos el problema en sentido contrario, un error de 0,1 %

implica que la peor ganancia real admisible sería de 199,8; entonces:
Ad
- -A -:-d-,- = 199,8 Ad = 199800
1 + 200
Eso significa que el operacional necesario debería tener un GBW =

199800·1000"' 200 MHz y, en cualquier caso, A 0 debe ser mayor que
199800, es decir, 106 dB. Probablemente encontraremos un amplificador
operacional como este.
Nos podemos preguntar dónde está la frontera tecnológica para el GBW )~

aunque el reto de conseguir valores cada vez más altos está en el terreno de
juego de los diseñadores de integrados analógicos y aunque es posible que
los valores actuales se consigan sobrepasar con el tiempo, en el momento de
la publicación del presente texto, la frontera está en los alrededores de 4 GHz.
Pero, no nos engañemos... El número de dispositivos que pueden trabajar en
estas condiciones se cuentan fácilmente con los dedos de una mano y su apli-
cación real está trufada de complicaciones y "letra pequeña" que obligan a un
estudio cuidadoso antes de montar una etapa con ellos. En el escalón anterior,
una decena de operacionales son capaces de llegar a GBW = 1 GHz; el resto se
encuentran mucho más abajo.
Vayamos a los límites de la tecnología analógica o quedemos más abajo, ¿qué
ocurre si lo que pretendemos hacer no es posible con el operacional disponible?
Es algo que puede ocurrir y con relativa facilidad. Pen~emos en el ejemplo ante-
rior: una ganancia de 200, una frecuencia máxima de 1 kHz y un error poco extre-
mo . .. y el resultado es que ¡necesitamos un amplificador de 200 MHz de GBW!
¿Qué hacer en el probable caso de que nos enfrentemos a un problema cuya
solución es un amplificador operacional con un ancho de banda inalcanzable
con la tecnología disponible? La solución pasa por el empleo de varias etapas
en ca~cada de modo que aporten entre todas la ganancia deseada (Figura 2.50).
Vo
Ve o------1
Figura 2.50. Amplificador mull i·etapa para superar las limi taciones del error de ganancia con una
única etapa.
Si todas las etapas son iguales, la ganancia de cada una se reduce a la raíz
n-ésima, siendo n el número de etapas, mientra~ que el error asignado a cada
una de ellas se dividiría por ese mismo valor de n según se estableció en el
apartado 1.2.2. Al bajar drásticamente la ganancia necesaria para cada etapa
obtendremos un requisito mucho menor de Ad y, por tanto, de GBW para cada
etapa.
88
EJEMPLO 2.12
Como en e1Ejemplo2.10, se pretende diseñar una etapa amplificadora
paraconseguir4 VP a partir de una entrada de 20mVP (/<1kHz). ¿Qué
GBW sería preciso para un erro.r de 0,1% empleando dos etapas?
Solución:
Si usamos una topología de dos etapas no inversoras iguales, y como la
ganancia total es de 200, cada una de ellas tendría como ganancia:
G1. = G2 = ·.Jzoo = 14,142

que se podría conseguir con resistencias R1 = 100 O y R2 = 1K314, como
1314
1314
100
100 Vo
Ve
Figura 2.51
El error máximo para cada etapa sería la mitad del especificado para el
conjunto, es decir, 0,05 %, lo que significa que la ganancia .real de cada
una de ellas debería ser, comomfnimo 14,135; entonces:
Ad
--A-:-d-;- = 14,135 Ad = 28557
1 + 14,142
Eso significa que el operacional necesario debería tener un GBW =

28557·1000 "'30 MHz en lugar de los 200 MHz que se precisarían con
una única etapa.
En caso necesario el procedimiento puede continuar con más etapas, cuya ga-
nancia se obtendría como la raíz n-ésima y con un error para cada una de ellas
n veces más pequeño. Sin embargo este procedimiento tiene un límite ya que
llega un momento en que la disminución de ganancia no es significativa mien-
tras que el error exigido cada vez es más pequeño. Esto se puede comprobar
en el siguiente ejemplo:
EJEMPLO 2.13 (archivo EJ0212.xlxs)

Se pretende diseñar un amplificador de ganancia 10000 para una fre-
cuencia de 2 kHz, mediante un operacional con 100 MHz de GBW.
¿Cuál es el error que se obtendría con un sistema multi-etapa?
89
Solución:
Con el amplificador elegido, la ganancia diferencial a la máxima fre-
cuencia seria:
100MHz
Ad = z kHz = 50000
En estas condiciones, la ganancia real de una etapa no inversora sería:
50000 50000 · Gideal
Great = 5 - -::----==::::=-=:-
1 + 0000 Gideal + 50000
Gideal
El error de ganancia en porcentaje seria:

G 50000 · G¡aeal
e=
Gtaeal - G,-eal
100 = Ideal - Gtaeal +
SOOOO
100 = 100 - 5000000
..,...----.,,.,..-,~
Gtaeat G¡aeat Gtaedl + 50000
Si consideramos un sistema de n etapas, el error relativo total, e,., serfa

la suma de errores relativos (apartado 1.2.2) y la ganancia ideal seria la
raíz n-ésima de la ganancia total, es decir:
5000000 )
E= ( 100- n
ve+ soooo
Si se representa esta función, se obtiene un gráfico como el de la Figura 2.52.
10.000
~
:!.... 1.000
-e
~
~
....
~
0.100
0.010 +--~-~-~--.,,..--~-~-~--.--~
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Número de etapas
Figura 2.52
Como se puede observar, una vez que se sobrepasa un número de eta-

pas el error no puede disminuir más. En este caso, el mínimo accesible
seria de 0,05 %, valor que se lograría a partir de 8 etapas. No obstante,
como quiera que 5 etapas proporcionarían poco má~ del 0,06 %, el dise-
fiador deberf'a plantearse si es razonable añadir 3 etapas para conseguir
reducir el error en sólo un 0,01 %...
90
Aunque este procedimiento es más habitual en el caso de amplificadores de

alterna ya que se suele disponer de valores más pequeños de ganancia d i-
ferencial, también es aplicable a casos de amplificación en continua, aunque
para ellos se disponga de un mayor valor de Ad.
Cuando se emplean amplificadores multi-etapa para alterna, los amplificado-
res operacionales elegidos no suelen tener buenos valores de tensiones de off-
set. Esto significa que si no se usan acoplamientos de alterna (redes C-R) entre
las etapas, el error de offset puede causar la saturación en alguno de los pasos
(véase el Ejemplo 2.7).
En cualquier caso, la decisión de dividir una ganancia en etapas iguales ayuda ¿Compensar operacionales?
a relajar la especificación de GBW pero va en contra de la idea de amplificar Hubo un tiempo en el que los
cuanto antes mejor para reducir errores de offset y ruido. El diseñador tendrá operacionales no estaban com-
que valorar estos aspectos en cada diseño para tomar la decisión más correcta. pensados en frecuencia. Si se
queda trabajar con ellos habfa
que compensarlos y el proceso
2.5.3. AMPLIFICADORES OPERACIONALES dio lugar a diversas técnicas,
NO COMPENSADOS EN FRECUENCIA mucho t rabajo y muchas pre-
guntas de examen.
La inmensa mayoría de Jos amplificadores operacionales tienen ganancias di- El precursor ¡tA709, el LM308 o
ferenciales con un diagrama de Bode como el de las Figuras 2.47-2.49. Así, el pariente d(~colo del 741 - el
cualquier red de realimentación resistiva producirá sistemas estables de acuer- 748- han sido dignos represen-
do con el Criterio de Nyquist. Sin embargo, unos pocos operacionales pre- tantes de este tipo de amplifica-
sentan un diagrama de Bode con dos polos por encima de los O dB lo que dores en la segunda mitad del
siglo xx y, aun siendo de uso ge-
compromete la estabilidad de una hipotética etapa de amplificación construi-
neral, no estaban compensados
da con ellos. Estos operacionales se suelen denominar no compensados en
en frecuencia con lo que podían
frecuencia, mientras que los que tienen el segundo polo por debajo de O dB es- oscilar en cuanto les dejásemos
tán compensados en frecuencia, la inmensa mayoría de los dispositivos. algún resquicio.
Para analizar lo que ocurre en estos casos, consideremos un operacional que Hoy en dfa, la mayoría de los
presente uno de estos diagramas de Bode (Figura 2.53) que ahora se ha dibuja- operacionales de uso general,
do completo, con ganancia y fase. También se han dibujado dos redes de rea- de precisión y hasta de alta fre-
limentación {3, resistivas, una con una ganancia lo suficientemente alta como cuencia están compensados, de
para estar por encima del segundo polo y otra, lo bastante baja como para es- forma que podemos di~ñar con
tar por debajo. Recordemos que el conjunto del operacional y de la red de rea- cierta tranqtúlidad sin riesgo de
limentación generan una ganancia: que los malévolos dispositivos
empiecen a oscilar. Sólo unos
Ad(w) pocos casos de amplificadores
G ( w) = ~~:--'7-'-:-:-~ de muy alta frecuencia son no
1 + Ad(w) · p(w) compensados porque se deben
usar asf para aprovechar todo su
Si el producto Ad(w) · {3(w) alcanza el valor de - 1, se producirá un efecto de reali- potencial.
mentación positiva, ganancia infinita y ... ¡habremos conseguido un oscilador! Eso ¿Compensar operacionales? Un
ocurriría si cuando Ad(w) = 1 1 {3(w) (el punto de corte de la recta 1 1 {3 y Ad) la asunto del anterior milenio.
fase vale - 180". Sin que llegue a esos extremos, se con~idera un cierto margen de
seguridad - unos 45° habitualmente- respecto de tal situación. La di~tancia de la
fa~ en el punto de corte hasta los 180" se denomina margen de fase (phase margin)
y si es menor de 45° se considera que el circuito está en riesgo de inestabilidad.
Pues bien. cuando la realimentación está diseñada para ganancias baja<> y 1 1f3
corta por debajo del segundo polo, el margen de fa~e es inferior a 45° luego el sic;-
tema puede ser inestable, mientras que si corta por encima de ese segundo polo,
el sistema es estable puesto que el margen de fa~e es superior a 45° (Figura 2.53).
91
La pregunta que nos podemos hacer es si estos amplificadores operacionales que

aparentan ser tan "peligrosos" son útiles para algo. La verdad es que durante al-
gún tiempo fueron objeto de todo tipo de intentos por domar su ansia osciladora
y se diseñaron redes RC para domesticarlos y convertirlos en amplificadores sin
riesgo de oscilación. Sin embargo su utilidad no radica en modificar su compor-
tamiento sino en aprovechar sus excelentes prestaciones de GBW que les permite
trabajar con ganancias elevadas y anchos de banda también elevados. En la Fi-
gura 2.54 se muestra la zona útil como amplificador de uno de estos dispositivos.
lA di
[dB]
Polo a baja frecuencia
Ao +----...1'
-20 dB/déc
Segundo polo
-40 dB/déc
1!p2
O dB 1 1
1 1 log f
f/JAd '' ''
M
'''
1
1
o• '
log f
' '''
Iii ''
-so• ------- -----
~3·
'
-------------------
Margen de fase insuficiente
Figura 2.53. Diagrama de Bode de un amplificador no compensado en frecuencia. Con ganancias

al tas (como la qu e se pone como ejemplo de 1/ {3 1), el f uncionamiento es correcto ya que queda
su ficiente margen de fase. Con ganancias bajas (por debajo de la ganancia del segundo polo como
en el caso de 1/fJ.) el margen de f ase es Insuficien te y la etapa podría oscilar.
Como se puede observar, siempre que la etapa amplificadora supere el míni-

mo de ganancia, el amplificador funcionará perfectamente y permitirá que nos
aprovechemos de su elevado valor de GBW.
lAdi
[dB]
Ao+--........
ZONA
ÚTIL
... ·--······-·····--- ••• Ganancia mfnlma
-40 dB/déc
OdB ~--------------~r-------__.
log f
Figura 2.54. Zona de trabajo de los amplificadores no compensados en f recuencia. Sólo para ga·
nancias altas ...
92
TEMA 2. AMPLIFICACI ÓN •
2.5.4. GANANCIA DE MODO COMÚN
La mayoría de las tensiones que estamos acostumbrados a manejar son ten-

siones que usan como referencia un punto de tensión nula o, mejor dicho, un
punto al que asignamos arbitrariamente una tensión nula y que solemos deno-
minar masa o masa de señal (signa! ground o GND). Sin embargo, el concepto
de tensión eléctrica supone intrínsecamente el manejo de la diferencia de po-
tencial entre dos puntos, de modo que una tensión en un punto de un circuito
referida a masa es, en realidad, la diferencia de potencial entre ese punto y el
punto definido como masa.
Pero es posible trabajar con tensiones que no estén referidas a masa sino que Referencias para la tensión
vengan determinadas por la diferencia de potencial entre dos puntos de in- El único punto que se puede
terés. Cada una de estas señales se denomina tensión diferencial (differentü:sl usar como referencia universaL
voltage). Obviamente, cada uno de esos puntos tendrá una determinada ten- es la tierra fL~ica, el planeta en-
sión respecto de masa; pues bien. el valor medio de esas ten~iones referidas a tero, que presenta el valor de
ma~a se denomina tensión de modo común (common-mode voltage). En la Figu- tensión nula. Este punto de re-
ra 2.55 se m uestran estas tensiones. ferencia se denomina tierra fí-
sica o, simplemente tierra (etrrth
grormd). Cada circuito puede te-
i ner su propia referencia de ten-
-···--IC::~J~o
sión, que puede estar, a su vez, a
cualquier t ensión respecto de la
tierra física. A cada uno de esos
~ Vo Tensión diferencial puntos se le asigna el valor de
t
_2.
Tensión referida
MASA
a masa
-C=::J.r-+~'
~ tv.____,
Tensión de modo común
V. _ V,+ Vz
e 2
tensión O V sólo para el corres-
pondiente circuito; suele deno-
minarse masa para señal (signa/
ground), digital (digital ground)
(V ~ OV)
- _2. MASA
(Va OV)
o de potencia (powe-r ground).
En ocasiones, también se tiene
Figura 2.55. Tensiones referidas a masa (izquierda) y tensiones diferenciales (derecha) con la co· una referencia para la carcasa o
rrespond lente tensión de modo común. envolvente del sistema que se
suele denominar como chasis
Cuando estas tensiones tienen que procesarse en un amplificador, las tensio- (chassis ground).
nes referidas a masa emplearán una etapa inversora o no inversora, mien-

tra~ que, en el ca~o de las tensiones diferenciales, se empleará una etapa con
entrada diferencial. En estos casos, cuando se desea amplificar las señales
diferenciales, se supone que el valor de la tensión diferencial, V 0 es peque-
ño, mientras que el valor de modo común, VC' puede ser cualquiera, inclu-
so desconocido o imprevisible en muchas oca9iones y; casi siempre, mucho
mayor que la tensión diferencial, de modo que puede suponerse que ambos
puntos están a una misma tensión (de ahí el nombre de modo común). Ha-
bitualmente, estas dos tensiones se representan con el modelo de la Figu-
r a 2.56.
Vo
Ve
Figura 2.56. Modelo de tensiones en la entrada de un ampl ificador diferencial.
93
Los amplificadores de entrada diferencial o amplificadores diferenciales (di-

fferentÜll amplifier) se usan para procesar señales diferenciales:
En la Figura 2.57 se muestra una etapa diferencial construida con un amplifi-

cador operacional cuya ganancia A0 es, en condiciones ideales, R2 / Rl.
Figura 2.57. Etapa diferencial basada en un operacional manejando una t ensión diferencial con el
correspondien te modo común.
La primera restricción que nos encontramos es el valor de la tensión de modo

común, una tensión referida a masa, igual que las fuentes que alimentan el
operacional. Si este valor se acerca demasiado a las tensiones de alimenta-
ción, podría no funcionar correctamente la etapa diferencial de entrada por
una mala polarización de sus transistores (fuera de la zona activa). Pero si
la tensión de modo común en las entradas supera los extremos fijados por
las fuentes de alimentaciól\ hay un riesgo serio de que el componente quede
destruido o dañado de forma irreversible. De hecho, esta es una de las prin-
cipales causas por las que los operacionales suelen fenecer en los circuitos
analógicos.
Superada la restricción del valor máximo admisible de la tensión de modo co-
mún en las entradas del operacional (dato del fabricante), el problema es que
el amplificador operacional no sólo no tiene ganancia diferencial infinita sino
que amplifica la tensión de modo común que tiene en sus entradas inverso-
ra y no inversora debido a su ganancia de modo común (common-mode gain).
De esa forma, si la tensión diferencial de entrada del operacional es vd y la de
modo común, ·v, la tensión real de salida sería:
'Vo=Ad · vd +Ac· v,
Siendo Ac su ganancia de modo común. Este valor suele ser muy bajo respecto
de la ganancia diferencial; el fabricante suele proporcionar su valor mediante
el parámetro denominado razón de rechazo al modo común (common-mode re-
jectíon ratio), que se denota por CMRR y se mide en [dB]:
Ad
CMRR = 20 · lag Ac [dB]
Teniendo este parámetro en cuenta, el valor de la tensión de salida seria el

causado por la tensión diferencial que corresponde al uso de la ganancia real
94
del montaje de la Figura 2.57 y el que está provocado por la tensión de modo
común:
Ad ( 1 )
V o= Rl + R2 Rl Vv + CMRR Ve
R2 +AdR2
Donde el valor de CMRR no está en dB sino en valores p .u. Si se con~idera que

el amplificador operacional sólo es no ideal respecto del valor de CMR.R, la ex-
presión anterior se simplificaría notablemente al con~derar Ad como infinita:
R2( 1 )
Vo=R1 Vv+CMRRVc
EJEMPLO 2.14
Un determinado sensor produce una tensión diferencial máxima de
2 m V de continua que se debe amplificar hasta obtener 4 V. Si se esti-
ma que la ten~ión de modo común es, como máximo, 1 V de continua
y se usa un operacional con A 0 = 120 d'B y CMRR = 120 dB, determine
el efecto del modo común sobre la salida y el error total del sistema.
Solución:
La etapa amplificadora será como la que se muestra en la Figura 2.58,
en la que R2 1 Rl = 4 V 1 2 mV = 2000 y que se puede conseguir con
Rl = 100 O y R2 = 200K.
200K
100
200K
Figura 2.58
Aplicando la expresión no simplificada, la tensión de salida de este am-

plificador será:
Vo= 200,1 106 0,1 ( 0,002 + 106

1 ·1) = 1996 · (0,002 + 10-6) = 3,994 V
6
200 + 10 200
Lo que supondría un error de 0,15 %. Pero ¿qué hubiera pasado si el

amplificador no tuviese ganancia de modo común (CMRR = oo)? La ten-
sión de salida serfa:
106
Vo= . , · 0,002 = 1996 · 0,002 = 3,992 V
200 1 6 0 1
200 + 10 200
95
Esto implica que el error sería del 0,2 %, ¡mayor que con el modo co-
mún! Este extraño resultado parece indicar que el modo común "mejo·
ra" el funcionamiento del circuito... Esto es ¡FALSO! El modo común es
una señal no deseada que no debe ser amplificada y que muchas veces
no es controlable ni predecible¡ en este caso es 1 V, pero podría ser - 2 V,
100 m V P a 50 Hz.. . Por tanto siempre cabe con~iderarla como un error
(si es continua) o como un ruido (si es alterna). Por consiguiente, para
estimar correctamente el error, hay que calcular el de ganancia (0,2 %) y
el de modo común, que s.erfa, en valor absoluto:
1 06 ( 1 )
Voc= , , · 1 = 1996 · (10 - 6) = 0,001996 v
200 1 6 0 1 106
200 + 10 200
Y que correspondería a un error de 0,05 %. En el total del error, ambos se

sumarían ya que el valor de modo común no forma parte de la información
que proporciona el seno¡or, proporcionando un resultado final de 0,25 %.
En muchas ocasiones el modo común es un ruido producido por acoplamien·

to capacitivo desde fuentes de tensión que rodean al circuito. Un ejemplo tf.
pico es el ruido de la red eléctrica que suele "colarse" en todos los puntos de
nuestros circuitos y que, por tanto, hace que todos los puntos tengan ese valor
en común. El efecto inmediato es la bajada en la relación S/N del si~tema. Ma-
nejar señales diferenciales produce un cierto desacoplo de ese ruido de modo
común, lo que hace que el sistema mejore en prestaciones.
EJEMPLO 2.15
Se pretende amplificar una señal de audio (20 Hz a 20 k.Hz) de 20 m VP
para producir una salida de 5 VI: en presencia de un ruido de 50 Hz
que puede alcanzar los 200 m V . Para ello se utiliza un operacional que
posee CMRR = 110 dB. Detertrime el efecto del modo común sobre la
salida.
Soluci6n:
La ganancia necesaria es de 5 VP / 20 m VP = 250, que se P.uede imple-
mentar con una etapa diferencial en que R1 = lOO O y R2 = 25K. Usando
la expresión simplificada (nada nos dicen de Ad) con CMR.R = 316200
(110 dB), el valor de la tensión de salida sería, para el modo común:
1
Voc= 250 · 200 = 0,158 mVp
316200
Este ruido se colaría en la salida de nuestro circuito y, aunque ha sido

fuertemente atenuado por el comportamiento de la etapa diferencial, su
efecto se traduce en t.tn r1.1ido que produce 1.ma pérdida de prestaciones
del circuito¡ en concreto, su relación S/N es:
96
S
S/N= 20 ·log 0,000 1 SS = 90 dB
Resulta un valor más o menos razonable en un sistema de audio, aun-

que no llegaría a la mejor calidad de los estándares actuales.
Cuando el modo común es un ruido, se trata de una señal de alterna de una

determinada frecuencia y no siempre baja. La pregunta que nos podemos ha-
cer es si su valor se mantiene a lo largo del espectro de frecuencias ya que la
ganancia diferencial sí que va cayendo con la frecuencia. Desgraciadamente,
el CMRR también cae con la frecuencia.
Las hojas de características del fabricante proporcionan el valor del Clv1RR en
continua o a muy bajas frecuencias pero no suelen dar el dato a cualquier fre-
cuencia. Cuando el di~eñador trabaje con circuitos que requieran el cálculo del
efecto del modo común, se debe tener en cuenta que es esperable una cierta
caída del CMRR hasta una determinada frecuencia y; a partir de ella, se man-
tendrá más o menos constante en unos 20 o 30 dB por debajo del valor de con-
tinua. Si este dato grosero no es suficiente para estimar los efectos del modo
común, se debería proceder a la medida del C.N1RR a la frecuencia de interés
mediante un circuito como el de la Figura 2.59.
R2
R1
Voc
Ve
R1
R2
Figura 2.59. Circuito para el cálculo del efecto del modo común en una etapa diferencial.
En este circuito, se ha suprimido la tensión diferencial y la salida se deberá

sólo al modo común; con una tensión Ve conocida a la frecuencia que nos in-
terese, la salida será:
Ad 1
Voe = Ve
R1+R 2 +AdR1CMRR
R2 R2
Donde Rl, R2 y Ad son datos, Ve es el valor que fijamos en la entrada y Voe es

el valor que mediríamos durante el experimento; el valor de CMRR se despe-
jaría fácilmente.
El efecto de C.NlRR también existe en el ca~o de las etapa<> no inversoras, aun-
que en ese caso el modo común coincide con la tensión de entrada, con lo que
la ganancia de modo común sólo produce un cambio en la ganancia del circui-
to que puede o no ser favorable. Por su parte, la etapa inversora no presenta
ningún efecto en este sentido puesto que sus dos entradas están a OV.
97
2.5.5. EFECTOS DE LA TOLERANCIA

DE LAS RESISTENCIAS
Ganancia diferencial finita, aparición de la ganancia de modo común.. . ¿Aca-

ban aquí los problemas de los amplificadores operacionales a la hora de reali-
zar cuantitativamente bien la función más habitual (amplificar)? La respuesta
vuelve a ser negativa. Y es que hasta ahora hemos supuesto que la ganancia
ideal es un valor fijo y constante que depende de las resistencias del circuito.
Pero las resistencias no tienen un valor determini~ta sino que se apartan más
o menos ligeramente del valor nominal en función de su tolerancia (toleran-
ce). A~f, cuando elegimos un determinado valor de resistencia, en realidad, es-
tamos usando un componente que puede tener cualquier valor dentro de su
banda de tolerancia. Por ejemplo, una resistencia de 1K del 0,1 % podrá tener
cualquier valor dentro de la banda [1K - 0,1 %, 1K + 0,1 %] = [999, 1001] O.
El problema es que si la ganancia depende de las resistencias y estas inclu-
yen incertidumbre en su valor, el error se propagará a la ganancia siguiendo
Resistencias precisas
las expresiones u tilizadas en el apartado 1.2.2. De una forma aproximada, ya
que la ganancia depende del cociente de dos resistencias, el error producido
Cuando hacemos los cálculos de
por la tolerancia será el doble de la tolerancia especificada para las resisten-
cualquier circu.ito y la solución
cias. A<>f, si usásemos resistencias deiS % de tolerancia, el error máximo en la
es un determinado valor de re-
sistencia no debemos esperar ganancia es del10 %, en cuyo caso resultaría muy difícil hablar de un sistema
disponer de ese valor exacto. instrumental.
Eso llevaría a los fabricantes a
proporcionar "todos" los valo-
res de resistencia lo que es im-
posible. EJEMPLO 2.16
Pero, si pensamos en el valor Una etapa no inversora de ganancia ideal201 emplea dos resistencias
que calculamos, debemos pende 100 O y 20K del 0,1 % de tolerancia. Si debe procesar señales conti-
sar en la precisión que necesita- nuas y el valor de A 0 es de 120 dB, estime su error de ganancia.
mos. Un valor de 1,1 kQ puede
ser satisfecho con una resis- Solucián:
tencia entre 1,050 ... y 1,149 ... La ganancia ideal viene dada por:
Cualquiera de ellas se podría
decir que tiene el valor deseado.
R1+R2
G=---
A medida que ponemos más ci- R1
fras, estarnos pidiendo más pre-
cisión: si escribirnos 1,100 kQ, Sí Rl y R2 incluyen un error del 0,1 %, la suma de los dos valores (el
significa que no queremos que numerador) tendrá un error que será la suma de los errores absolutos
varíe ninguna de esas cuatro ci- de cada resistencia, es decir:
fras y lo que estarnos dispuestos
a tolerar es menos.
~(R1 + R2) = ~Rl + ~2 = 01 + 20,0 = 20,1 O
Los fabricantes producen series
de resistencias con valores espa- Eso sigue suponiendo un error relativo del 0,1 %. El error relativo del
ciados según su tolerancia: E6 (6
cociente es la suma de errores relativos, luego el total de error de la ga-
valores para cubrir una década
nancia ideal es de 0,2 %.
con tolerancia del 20 %), E12 (12
valores y 10 %), E24 (24 valores y Si tenemos en cuenta el efecto de la ganancia diferencial finita:
5 %), E48 (48 valores y 2 %), E96
(96 valores y 1 %). Las primeras Ad 106
Grea.l = Ad -+ Greal = 106 = 200,96
~eries están en desuso y en el
1 1 + 201
ámbito in~trum.ental, se empieza + Gídeal
a trabajar a partir de la E96.
98
Bso supone un error de 0,02 %. Es decir, que el efecto de la no idealidad

del operacional resulta despreciable frente al error introducido por la
tolerancia de las resistencias, inclu.5o con resistencias del 0,1 %.
El lector no debe generalizar el resultado de este ejemplo que ha sido pensa-

do para comprobar el efecto de la tolerancia de las resistencias sobre la ganan-
cia de una etapa amplificadora. Como siempre, la solución correcta es siempre
la de estimar primero los efectos de forma fehaciente y extraer luego las con-
clusiones.
Si bien el efecto de la tolerancia se manifiesta en errores de ganancia, existe un
caso en que las consecuencias son bastante peores, las etapas diferenciales. En
efecto, el correcto funcionamiento de una etapa diferencial depende de que las
resistencias estén bien pareadas (matched resistors) ya que, en caso contrario,
las dos ramas estarían desequilibradas y la amplificación no se haría correcta-
mente. Consideremos el caso de un amplificador diferencial como el de la Fi-
gura 2.60, con resistencias de tolerancia tol.
Más allá del efecto sobre la propia ganancia diferencial de la etapa, el proble-
ma de la diferencia entre los valores de las resistencias que deberían ser ig ua-
les se traduce en la amplificación no deseada del modo común de la entrada.
La tensión de salida debida al modo común, Voe, sería:
Ad ( 2 · R1 · R2 · tol R2 1 )
Voe = R1 ± (R1 + R2) 2 + R1 + R2. CMRR . Ve
1 +Ad Rl + R2
R2> to/R2
Rh toi·R1
Vo
R1> to/R1
R2• to/R2
Figura 2.60. Etapa di ferencial con resistencias reales (incluyen una deter minada tolerancia).
En el peor de los ca~os, los términos del paréntesis se sumarían. Si se despre-

cia el efecto de la ganancia diferencial finita, se obtiene una expresión simplifi-
cada que resulta válida en la inmensa mayoría de los casos:
R2 R2 1 )
Voe "" ( ·2·tol+ - · ·Ve
R1 + R2 R1 CMRR
El primer sumando corresponde al efecto de la tolerancia de las resistencias

núeJllras que e l segundo se d ebe al efecto ya es ludiado de la ganrulcia de
modo común. Esto significa que aún con un amplificador operacional total-
99
mente ideal, la diferencia en el pareado de resistencia~ hace que parte de la

tensión de modo común "se cuele" en la salida de la etapa.
EJEMPLO 2.17
En el Ejemplo 2.15, considere el efecto de emplear resi~tencias con un 1 %
y con el 0,1 % de tolerancia.
Soluci6n:
Con las resistencias elegidas, que R1 = 100 O y R2 = 25K, recordemos

que el efecto del CMRR suponía la aparición de un ruido de 1,58 m VP a
50 Hz en la salida. Consideremos ahora el caw en el que usemos resis-
tencia~ con un 1 % de tolerancia, habrá que tener en cuenta la expresión
que recoge ese efecto:
25 25 1 )
V oc"" ( 0, + · 2 · 0,01 + 0, · · 200 = 4,14 mVP
1 25 1 316200
Como se ve, el ruido se multiplica casi por 30, por el efecto de la tole-
rancia. El efecto sobre la relación S/N es demoledor:
5
SJN = 20 ·log 0,00 = 61,6 dB
414
Este valor es mucho peor que el obtenido en aquel ejemplo (90 dB)
y estaría bastante alejado de las exigencias actuales de sonido y pro-
vocaría que el"zumbido" de red apareciera en la salida de nuestro
sistema.
Con tolerancias .mejores, del 0,1 %, el valor seria:
25 25 1 )
Voc "" ( ,
01
+ 25 · 2 · 0,001 + 0,1 · 316200 · 200 = 0,557 mVp
Aun asf, el ruido es mucho mayor que el que aparecería sin tener en
cuenta la tolerancia de las resistencias (más de 3 veces mayor). La rela-
ción S/N será ahora:
5
SJN = 20 ·log 0,000 = 79,1 dB
557
Una pérdida importante de prestaciones debida sólo a la tolerancia de

las resi~tencias.
100
2.6. OTROS EFECTOS SOBRE LA TENSIÓN

DE SALIDA
2.6.1. RESISTENCIA Y CORRIENTE DE SALIDA

DE LOS AMPLIFICADORES OPERACIONALES
La etapa de salida de los ampliiicadores operacionales suele ser una topo-

logía de tipo "seguidor de emisor" encargada de proporcionar la capaci-
dad de dar corriente y una baja resistencia de salida, ya sea como la que se
muestra en la Figura 2.61 o muy similar. En líneas generales, el hecho de
que los amplificadores operacionales formen parte de sistemas de acondi-
cionamiento de señal que no suelen manejar potencias importantes hace que
tanto la resistencia como la corriente de salida tengan una importancia es-
casa.
'
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......
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.r.Cvcc ...i.
Figura 2.61 . Salida de un operacional proporcionando corrient e a la carga.
No obstante, en casos en los que el amplificador operacional deba manejar co-

rrientes importantes estos parámetros adquirirán bastante relevancia, como en
operacionales de alta corriente (h.igh. outpu.t currmt operational amplijiers) o en
amplificadores de audio integrados (audio amplifiers) capaces de manejar di-
rectamente un altavoz de baja impedancia.
En cualquier caso, la resistencia de salida no suele ser un dato proporcionado
por el fabricante y, lo más parecido que suele indicar es el efecto de la carga re-
sistiva en la salida del dispositivo. Sin embargo, la capacidad de dar corriente
y de soportar cortocircuito de salida sí que se tiende a destacar: uno de los pa-
rámetros básicos en este sentido es la corriente máxima de salida (output cu-
rren.t) que nos indica cuánta corriente puede proporcionar el operacional sobre
la carga sin producir ni distorsión elevada ni atenuación de la onda de sali-
da. El operacional podrá dar esta corriente de forma permanente salvo que las
condiciones térmicas sean sobrepasadas.
En los operacionales habituales esta corriente máxima suele ser de unos po-
cos miliamperios, más que suficiente para la mayoría de las aplicaciones de
amplificación y tratamiento de señal. No obstante, si fuera necesaria una ma-
yor corriente de salida, es posible añadir una etapa externa con configuración
de seguidor de emisor que aporte el valor necesario como se indica en la Fi-
gura 2.62.
La capacidad de dar corriente de una etapa como esta multiplica la corriente
de salida del operacional por la f3 de los transistores; de hecho, si fuese nece-
10 1
Amplificadores de audio R2
Hay algunos dispositivos que
tienen un comportamiento simi-
R1
lar al de un amplificador opera-
cional pero que están pensados
para manejar señales de audio
Ve
y, en una única etapa, propor-
cionar la ganancia de potencia
suficiente como para manejar
directamen te una caja acústica
de potencia pequeña o media Figura 2.62. Amplificación de la corriente de salida de una operaciona l mediante una etapa de
(menos de 100 W.,,.). transist ores en seguidor de em isor. Como la realimentación está a la salida de la etapa, no se ob·
servará un efecto notable sobre la tensión final del circuito.
Su estructura es la de un ope-
racional con una etapa de am-
plificación de corriente en la sario, se podrían poner pares Darlington complementarios o semi-comple-
salida capaz de proporcionar la mentarios haciendo crecer más aún la ganancia de corriente y la capacidad de
suficiente como para manejar manejar potencia en la salida. A pesar de que no se han polarizado ligeramen-
un altavoz de baja impedancia te los transistores, esta etapa apenas introduce una distorsión de cruce (cros-
(4a 8 Q). sover distortúm) importante ya que el sistema está realimentado y la salida del
operacional crecerá lo suficiente para superarla casi por completo. Lo que sí
ocurre es que esta etapa no está protegida contra cortocircuito por lo que los
transistores podrían quedar destruidos por sobrecorriente en caso de que se
diese tal circunstancia.
Algunos son muy conocidos Para evitar el uso de etapas adicionales de amplificación de corriente exis-
como la serie TDA de la firma ten dispositivos capaces de proporcionar corrientes de salida mucho más al-
ST (www.st.com) con versiones tas que las de los operacionales "normales" y que pueden llegar a más de
mono o estéreo y capacidad de 200 mA. La mayoría de las aplicaciones de estos dispositivos está relacionada
manejar decenas de vatios sin con el manejo de impedancias muy bajas en líneas de transmisión de datos y
más problemas que proveer al suelen ser dispositivos con valores de GBW muy elevados, pero también hay
componente de un buen radia-
algunas aplicaciones en que se deben manejar cargas de gran potencia (rela-
dor capaz de disipar la potencia
tiva al entorno en que estamos). Un caso aparte pueden ser los amplificado-
que se produce.
res lineales de audio de potencia que pueden manejar potencias de algunas
decenas de vatios. En todos estos casos, el hecho de trabajar con corrientes ele-
vadas suele exigir un estudio térmico y los correspondientes remedios para
evitar que el dispositivo supere sus límites de temperatura.
En la misma dirección, la mayoría de los amplificadores operacionales inclu-
yen algún tipo de protección de cortocircuito que les permite soportar esta cir-
cunstancia de forma indefinida sin daño alguno. La corriente de cortocircuito
(short-circuit current) es la corriente que el operacional da o recibe en condicio-
nes de tensión de salida nula forzada por un cortocircuito. Aun con la certeza
de que el dispositivo es capaz de soportar esta contingencia, no es recomenda-
ble hacer trabajar asf al componente ya que los transistores de salida se verán
sometidos a un importante esfuerzo de disipación de potencia y bajo determi-
nadas circunstancias ambientales - como una elevada temperatura- se po-
dría comprometer la integridad del dispositivo.
2.6.2. SLEW-RATE
La etapa de salida presenta limitaciones en su funcionamiento con señales
grandes que se manifiestan en que la tensión tarda un cierto tiempo en evolu-
102
cionar desde un valor hasta otro. El slezv-rate, SR, mide la máxima velocidad
a la que un amplificador operacional puede cambiar su salida. No se trata de
un efecto del ancho de banda del dispositivo sino de lo que ocurre cuando se
intenta cargar un condensador con una fuente de corriente: que la tensión sólo
puede crecer a un determinado ritmo.
El SR es muy variable de un dispositivo a otro; puede ir desde valores muy
bajos en los operacionales de baja frecuencia (0,05 V1¡ts) hasta valores muy
elevados en los dispositivos de alta frecuencia (más de 4000 V 1¡.¡s). Este pa-
rámetro es un factor limitante en el uso de los amplificadores operacionales
ya que cuando la velocidad a que debe variar la tensión lo supera, el ope-
racional "patina" y sólo cambia la tensión al r itmo de su SR. Supongamos
que el operacional debe producir en su salida una forma de onda senoidal
de un determinado valor y que puede hacerlo de acuerdo con sus prestacio-
nes frecuenciales. En su salida, la tensión evolucionará según una ecuación
del tipo:
Vo = A · sin(2 · n I t)
Donde A es la amplitud de la señal y f, la frecuencia. El punto de máxima varia-

ción de la tensión se obtendrá como el máximo de la derivada de Vo, es decir:
dVo/dt = 2 · n · A I cos(2 · nI t)
con máximo de 2·n-Af En esta situación pueden darse dos ca~os: si el SR es

mayor que ese máximo, el circuito reproducirá perfectamente el valor de la
tensión; pero si el valor de SR no es suficiente, variará la tensión a la máxi-
ma velocidad que le es posible, deformando la señal ha~ta convertirla en una
onda de a~pecto triangular (Figura 2.63).
(\/)
SR inoufiolento
Figura 2.63. Efecto del SR sobre la salída cuando tiene un valor suficiente (no hay di storsión) o
cuando su valor es demasiado pequeño y l a salida no puede segui r a la señal; esto causa que la
tensión de sal ida tienda a ser lriangular lo que supone una distorsión apreciable.
EJEMPLO 2.18
Determine las especificaciones razonables para un operacional de una
etapa amplificadora que deba obtener una tensión de 10 V de salida
para una tensión senoidal de entrada de 500 m VP y 50 kHz de frecuen-
cia máxima, con un error de ganancia máximo de 0,5 %.
103
Solución:
La ganancia ideal de la etapa vendrá determinada por 10 VP 1 500 m VP
= 20. Si usamos una topología no inversora, la primera especificación es
la del GBW que se obtendrá a partir de la ganancia diferencial mfnima
para garantizar el error. Como en ejemplos anteriores, la ganancia núni-
ma permitida para la etapa es un 0,5 % por debajo de 20, es decir, 19,9.
De esta forma, Ad se obtiene de:
Ad
19,9 = Ad
1 + 20
El valor necesario es Ad = 3980. A la máxima frecuencia de 50kHz, el

GBW = 3980·50000 = 199 MHz, un valor accesible en una única etapa.
Veamos qué ocurre en la salida; la tensión de salida será:
Vo = 10 · sin(2 · rr I t)
Y la máxirria velocidad de variación de la tensión ocurrirá para 2-rr·lOj

que tendrá el peor caso a la mayor frecuencia (50kHz). Para esa fre-
cuencia la máxima velocidad a la que var·iará la salida será 2·rr·10
V·50000 s·' = 3,1 V 1J.l$. Luego nuestro operacional deberá tener un SR
> 3,1 V/ ¡.ts para garantizar una correcta reproducción de la tensión de
salida. Este requisito no resulta un valor restrictivo para un operacional
de alta frecuencia.
El s/ew-rate no suele ser el mayor problema en la mayoría de los circuitos con

operacionales, sobre todo cuando se trate de bloques con ganancias importan-
tes, típicos de sistemas instrumentales. Pero, con señales de alta frecuencia y
ganancias muy baja<; -como en el caso de los circuitos de manejo de señales de
vídeo y comunicaciones digitales- suele ser uno de los principales problemas.
2.7. EL RUIDO INTERNO

EN LOS AMPLIFICADORES
2.7.1. FUENTES Y ORÍGENES DEL RUIDO
El concepto de ruido ya fue comentado en el apartado 1.4, en el que se iden-

tificaban sus dos posibles orígenes: el acoplamiento de señales externas al
circuito y la producción de ruido en el propio circuito. En cualquier circuito
electrónico y; en particular, en el caso de los amplificadores, las señales que se
procesan sufrirán perturbaciones por adición de ruido debido a diversas cau-
sas, lo que modificará el parámetro que caracteriza este fenómeno, la relación
104
S/N (Figu ra 2.64). En este apartado vamos a tratar el ruido interno, mientras
que el causado por la~ interferencias externas se tratará en el Tema 9.
El concep to de densidad es-
pectral
La potencia total que porta una
señal (onda en términos gene-
xales) se puede obtener a partir
de la densidad espectral de po-
tencia (power espectral density),
que se describe en unidades de
(W /Hz] y que indica cuánta
potencia hay en cada tramo de
frecuencia. En el caso de que esa
Figura 2. 64. Una etapa amplificadora añade ruido debido a su propio funcionamiento y debido a señal sea una tensión se puede
estar en entornos elect romagnética mente hostiles. hablar de la densidad espectral
(spectral density) y se puede me-
Segu ro que es fácil imaginar la presencia de poderosas fuentes externas ca- dir en (V'/Hz].
paces de molestar a nuestro circuito y convertirlo en víctima de sus perver-
sos campos electromagnéticos, pero ¿cuál es la causa del ruido interno? En
realidad, no hay una única causa, aunque la mayoría están relacionada~ con
la naturaleza discreta de la materia )', en concreto, con la presencia de por-
tadores de carga cuyo comportamiento no es previsible. Aunque descender
en el mundo de la Física hasta la explicación de las causas del ruido es algo
que excede por completo al propósito de este texto, sí que podemos identi-
ficar una serie de fenómenos macroscópicos que llevan algún tipo de ru ido
asociado.
El principal origen del ruido es la agitación térmica de los portadores de carga John Bertrand Johnson
en cualquier material conductor. Este ruido se denomina ruido térmico (ther- Este ingeniero sueco (1887-1970)
mal noise), ruido Johnson-Nyquist, ruido Johnson o ruido blanco (white noi- fue el primero que mldió el rui-
se) y fue medido por primera vez por J.B. Johnson en 1926 y explicado por H. do térmico en 1926 en Jos La-
Nyquist. La denominación de ruido "blanco" hace referencia a que contiene boratorios Be U. A partir de sus
todas las frecuencias del espectro y, por analogía con la luz, algo que contiene medidas, Harry Nyquist fue ca-
todos los colores es blanco. La densidad espectral de ruido (noise spectral den- paz de explicar los datos, por Jo
sittj) o, simplemente, densidad de ruido resulta aproximadamente constante que este ruido suele denomlnar-
se como ruido Johnson-Nyqui~t,
y tiene el valor:
aunque en muchos ca~os sólo se
denomlna ruido Johnson.
Donde Res el valor de la resistencia del conductor, Tes la temperatura a la

que se encuentra y k = 1,381·10·23 J/K, es la constante de Boltzman. Esta expre-
sión también se puede enunciar en unidades de corriente, en (A2 /Hz]; en el
primer ca~o, se puede hablar de densidad de tensión de ruido y, en el segun-
do, de densidad de corriente de ruido.
A partir de la densidad de ruido y, para un ancho de banda concreto defi-
nido por el sistema en el que el conductor esté incluido se puede obtener la
tensión de ruido sin más que multiplicar por el intervalo de frecuencia~ t.f (Fi-
gura 2 .65):
105
2
O'n
Figura 2.65. Obtención de la tensión de ruido a partir de la densidad espectral de ruido y del an·
cho de banda del sistema para el ruido blanco.
Otro ruido habitual en la mayoría de los di~positivos electrónicos es el ruido

de parpadeo (jlicker noise), ruido 1/f o ruido rosa (pink noise), nombre este últi-
mo que se justifica porque contiene sólo las frecuencias más bajas del espectro
(colores rojizos en el espectro de luz). Su origen está siempre en la fluctua-
ción a baja frecuencia de los valores de resistencia que se traducen en tensión
de ruido cuando por ellos circula una corriente continua. El espectro del rui-
do flicker se caracteriza por una disminución de densidad a medida que sube
la frecuencia hasta llegar a ser despreciable respecto del ruido blanco (Figu-
ra 2.66).
Este ruido es especialmente importante en los operacionales, en los que sus
etapas están polarizadas en continua y se manifiesta claramente en circuitos
de bajo ancho de banda en los que predomina sobre los demás.
Ruido ntcker
Ruido blanco
....................... -........ ··" :.:-----'--------

••
·- log f
Figura 2.66. Representación de la densidad espectral de ruido típica en un operacional , con una zona
a baja frecuencia con predominio del flicker, mien tras que en el resto, p redomina el ruido blanco.
Walter He rmann Schottky

(1886-1976) es un físico nacido Otro ruido que aparece en todos los sistemas electrónicos es el ruido de golpe-
en Suiza que es conocido por teo (shot noise), estudiado por W.H. Schottky en 1918. Está ligado a la naturale-
sus contribuciones en el desa- za discreta de los portadores de carga y se trata de otro ruido blanco, es decir,
rroUo de los tubos de vaclo en que ocupa todo el espectro. Habitualmente es mucho menos importante que
las primeras décadas del siglo el ruido térmico, pero para muy bajas temperaturas y corrientes muy débiles
xx y por haber predicho el efec- puede llegar a superarlo.
to Schottky que se aprovecha en
el tipo de diodos que lleva s u El ruido pulsante (bu.rst noise, popcorn noise) consiste en la aparición repentina
nombre. y no predecible de escalones de tensión de algunas centenas de microvoltios.
Del estudio de las fluctuaciones Fue identificado en los primeros diodos, aunque se redescubrió en uno de los
de corriente en los tubos de va- primeros amplificadores operacionales, el 709.
do dedujo la exL~tencia del ruido Aunque exi~ten más causas de ruido, estas son la~ más importantes en el caso
de golpeteo (slwt no-ise) en 1918. de los amplificadores operacionales. No se suele trabajar con ellos de forma
106
individual sino que el fabricante proporciona una información de tipo global

que incluye el efecto final sobre el comportamiento del dispositivo mediante
un modelo que se estudiará a continuación.
2.7.2. MODELO DE RUIDO DEL OPERACIONAL
Para facilitar el estudio del ruido generado internamente en las etapas ampli-
ficadoras basada~ en operacionales se emplea un modelo de ruido que se resu-
me en fuentes de corriente y tensión de ruido como se indica en la Figura 2.67,
fuentes que se pueden calcular fácilmente a partir de los datos proporciona-
dos habitualmente por el fabricante.
+Vcc
-'·
+
'-·
Figura 2.67. Modelo básico de ruido de un op eracional.
Los datos que suele proporcionar el fabricante son las gráficas de densidad de
ruido (de corriente y de tensión) cuyo aspecto es similar al que se mostraba en
la Figura 2.66 y que mostrará una zona con predominio del ruido flicker a baja
frecuencia y otra con predominio del ruido blanco, a alta frecuencia, con orí-
genes diversos como se indicó en el apartado anterior. Como el trabajo con las
gráficas suele ser un tanto engorroso, normalmente se proporcionan una serie
de parámetros globalizadores como el ruido total a baja frecuencia y la densi-
dad de ruido a alta frecuencia (Figura 2.68).
Con los datos de las densidades de ruido se calcula la fuente correspondiente
de ruido teniendo en cuenta el intervalo de frecuencias que la etapa amplifica-
dora es capaz de manejar. El procedimiento es muy sencillo; supongamos que
el amplificador permite trabajar desde continua hasta la frecuencia f En tal
caso, la potencia de ruido seria proporcional a la suma de la potencia de ruido
de flicker y la potencia de ruido blanco que corresponda (Figura 2.69):
v~1 +a~· (f- /2) [V2 ]
De donde la tensión de ruido seria:
De un modo semejante se calcularía la corriente de ruido i. del modelo de la

Figura 2.67. Cuando se trabaja a una frecuencia lo suficientemente por encima
de la zona de ruido flicker, el valor deh suele despreciarse frente a f, con lo que
la expresión anterior se reduce a:
107
log f
'
'ft
1---
NO_I_
SE_ PE
_R_F_O_R_M_
AN_C_E--r- ( 1 _ (2 ---.-\=::---~L----j
Vohage noise 1=0,1 Hz to10Hz p.Vpp
Voltage nolse denslty 1= 1kHz 1,8 nV!o/Hz
f3
Figura 2.68. Relación entre el gráfi co de l a densidad espectral de ruido de un operacional que
proporciona el fabricante y sus datos resumidos en las tablas de sus hojas de características que
simplifican el cálculo en bastantes ocasiones.
Figura 2.69. Cálculo de la tensión total de ruido de un operacional teniendo en cuenta el flicker y
el ruido blanco.
El valor de la frecuencia máxima f que el operacional puede procesar no se

ajusta exactamente a la frecuencia de corte superior de su banda pasante ya
que el operacional deja pasar señales de frecuencia superior. Para entender
esta idea basta considerar un amplificador de ganancia 100 y que tenga un an-
cho de banda a 3 dB de 10kHz: ¿qué ocurriría con una señal de 100kHz? La
respuesta inmediata - y poco pensada- es que no la dejaría pasar. Nada más
lejano de la realidad; si el sistema es de primer orden, a 100 kHz habrán caí-
do 20 dB en la ganancia, es decir, el amplificador aún multiplicará esa señal
por 10; del mismo modo, a 1 MHz la señal pasaría sin atenuar y sólo a par-
tir de este punto empezarla a atenuar (no a el.i.m.i.nar). Eso significa que el rui-
do no sería eliminado, incluso por encima de la banda pasante y que el valor
ÓP. frPC"ttPnt"Íil c¡uP. ciP.hP.mos u~ar pMil rillC"ttl;,r tPnsiones y rorriP.ntPs c!P nticlo
no es obvio.
108
Para tener en cuenta el ruido que pasa por encima de la máxima frecuencia de
trabajo, se define el ancho de banda equivalente para el ruido (equivalent noi-
se bandwidtlt), ENB, que corrige el valor de la máxima frecuencia en función
del orden del sistema. En la Tabla 2.4 se indican los correspondientes factores
correctores del ancho de banda a 3 dB, B para obtener el valor del ENB.
Con todo habremos determinado las corrientes y tensión de ruido del ope-
racional. Para resumir los cálculos en una única fuente de ruido se tendrá en
cuenta que las fuentes de corriente de ruido desarrollarán una tensión de rui-
do sobre las resistencias que se vean desde sus patillas inversora y no inverso-
ra (Figura 2.70). El efecto son tres fuentes de tensión de ruido cuyas potencias
se sumarán ya que el ruido siempre es aditivo.
Tabla 2.4. Obtención del ENB a partir del ancho de banda en f unción del orden del sistema.
Orden del sistema ENB

1 1,57·8
2 1,11·8
3 1,05·8
4 1,02·8
Mayorque4 8
Figura 2. 70. Primer paso en el cálculo del ruido del operacional: adición (cuadrática) de las tenslo·
nes desarrolladas por todas las fuentes de ruido del dispositivo.
La potencia total de ruido será proporcional a:
(Rrh- ·ln) 2 + (Rrh+ · ln) 2 +V~ [V]
De ahf, la tensión de ruido del operacional se puede resumir en una única

fuente de tensión de ruido v ...0 :
Como se deduce de esta expresión, manejar valores elevados en las resisten-

cias de la etapa amplificadora empeora su comportamiento puesto que incre-
menta el ruido total producido por el dispositivo. Esto, junto con el efecto
también negativo sobre la tensión total de offset, sugiere que el diseñador
debe tratar de elegir valores bajos para las resistencia~ de la~ etapas amplifica-
dora~, siempre dentro de unos lfmites razonables.
El problema que causan las resistencias de alto valor óhmico alerta sobre el efecto
de las corrientes de ruido del operacional en etapas de conversión corriente-ten-
109
sió!\ típicas de algunos circuitos de acondicionamiento como las usadas para fo-
todiodos, que se caracterizan por precisar valores muy elevados de resistencias.
2.7.3. CÁLCULO DEL RUIDO EN ETAPAS AMPLIFICADORAS
Cuando se pretende determinar el ruido total que se produce internarnente en

una etapa amplificadora hay que tener en cuenta las fuentes que contribuyen
a ese total y que son los componentes resistivos y el operacional. La forma de
proceder es muy sencilla: cada resistencia producirá un ruido -básicamente
ruido térmico- que se modelará como una fuente de tensión de ruido en serie
con ella y que se calculará a partir de la expresión del ruido térmico:
VnR = V4 ·k· T · R · ENB
Esta expresión define que el ruido generado por una resistencia crece con su
valor, luego esta es la tercera causa (las otras son el offset y el ruido desarro-
llado por las fuentes de corriente) por la que el di~eñador debe usar resisten-
cias de bajo valor.
Tra~ laidentificación de todas las fuentes de tensión de ruido, serán amplifi-
cada~ en función de la ganancia que corresponda para llevarlas a la salida del
amplificador. Todas la9 tensiones en tal punto se sumarán cuadráticamente, tal
como se ha hecho hasta ahora debido a que la potencia de ruido es aditiva (.Fi-
gura 2.71). Eso permite obtener la tensión total de ruido que produce la etapa
y se podrá estimar la relación S/N.
R3 V""
V. = ,¡f;V.2
Figura 2.71 . Adición cuadrática en la sal ida de t odas las fuentes de tensión de nuido de una etapa
amplificadora.
La mejor forma de ilustrar el procedimiento es mediante un ejemplo de cálcu-

lo como el que sigue.
EJEMPLO 2.1!)
Una etapa amplificadora como la que se muestra en la F).gura 2.72 proce-
sa una señal de entrada de 10mVP a 1 kHz con un amplificador que tiene
un GBW =50 MHz y las siguientes caracterL~ticas de ruido: v. = 2,8 ¡.tV
(de 0,1 a 10Hz), a.= 7 nV·Hz-1' 2 (@1kHz) e r.. = 0,6 fA· Hz-1' 2 (@1kHz).
Determine el valor de su relación S/N.
110
99K
1K
Vo
Ve
Figura 2.72
Solución:
Como vamos a necesitar el valor del ENB empezaremos por determinar
el ancho de banda de la etapa. Como la etapa tiene de ganancia 100, el
ancho de banda a 3 dB será: 50 MHz 1 100 = 500 kHz. Como se trata de
una única etapa y todos los operacionales tienen una respuesta de pri-
mer orden, ENB = 500·1,57 = 785kHz.
El siguiente paso es determinar todas las fuentes de ruido. Empezare-
mos por el amplificador operacional. La fuente de tensión de ruido se
obtendrá de la suma cuadrática del flicker (el valor a baja frecuencia)
más el ruido blanco, es decir:
vn = .j(2,8 . 10 6) 2 + (7 . 10 9) 2 • 785 ·103 = 6,8 J.lV
Las fuentes de corriente de ruido valdrán:
i, = .J (0,6 · 10 15 ) 2 • 785 · 103 = 0,53 pA

Suponiendo que el circuito está a la temperatura estándar de 25 °C (298
K), la resistencia de 1K producirá un ruido dado por:
VntK = .J4 · 1,381 · 10 23 • 298 · 1000 · 785 · 103 = 3,6 JiV
Por su parte, la resistencia de 99K producirá un ruido de valor:
17n99K = .j4 · 1,381· 10 23 • 298 · 99000 · 785 · 103 = 36 ¡.tV
Con esto, la etapa amplificado ca con todas las fuentes de ruido quedará
como se muestra en la Figura 2.73.
99K
1K 3,6 ¡N
-
0,53 pA
Vo
Ve -
0,53 pA
Figura 2.73
111
La fuente de corriente de la entrada no inversora no producirá tensión

de ruido por estar cortocircuitada por la fuente Ve, mientras que la de
la entrada inversora desarrollará una tensión de ruido sobre la resis-
tencia Thévenin que se ve desde ella, 1K/ /99K ,.1Ky que valdrá 0,53
pA · 1000 = 0,53 nV, un valor despreciable respecto a la otra fuente de
tensión de ruido del operacional que es más de 10000 veces mayor. Por
tanto, la etapa amplificadora queda como se inruca en la Figura 2.74.
Figura 2.74
En esta figura también se muestran las ganancias a que está sometida

cada una de las fuentes que son: 100 para las fuentes en la patilla no
inversora, 99 (en realidad - 99) para las que están en la rama de am-
plificación inversora y 1 para las fuentes en la realimentación. El total
del ruido se obtiene mediante la suma cuadrática de las tensiones en la
salida, es decir:
Van= ,/6802 + 3602 + 362 = 770 JlV
El lector puede rehacer la operación despreciando el último sumando y

observará que el valor no varía. En líneas generales, se suelen despre-
ciar aquellos sumandos que estén una década por debajo del mayor.
Para calcular la relación S/N bastará comparar el ruido con la señal pro-
ducida en la salida (10 mVP ·100 = 1 VP) para lo cual siempre habrá que
tener en cuenta si la5 señales son máximas, eficaces, etc. En este caso, la
señal es máxima, luego:
S/N = 20 ·lag
1/Vz
. = 59,3 dB
770 10 6
Una vez que se calcula la relación S/N, habrá que determinar si resulta o no un
valor aceptable lo que dependerá de la5 especificaciones que se tengan para la
etapa o para el conjunto. Si no lo fuera, se tratarán de tomar la5 medidas nece-
sarias para mejorarla. Para ello, se debe identificar cuál es la principal fuente
del problema, es decir, aquel parámetro que está aportando más ruido al siste-
ma. En el ejemplo anterior, es el propio operacional el que resulta determinan-
te por lo que la opción más adecuada seria tratar de buscar otro con mejores
prestaciones respecto a la tensión de ruido. No obstante, si bajarnos el valor de
las resistencias obtendrfarnos un comportamiento un poco mejor.
112
En todos los casos, algo que afecta fuertemente al ruido generado es el ancho
de banda del sistema. Cualquier exceso de ancho de banda se traduce en un
incremento del ruido que se deja pa~ar. Este aspecto será tratado exten~amen
te en el Tema 4.
Para amplificadores multi-etapa etapas, el cálculo puede parecer tedioso a pri-
mera vista puesto que significa hacer un montón de números; sin embargo,
como hemos visto, los amplificadores multi-etapa suelen estar compuestos
por etapas iguales. Como quiera que las fuentes de ruido serán similares, y la~
de la primera etapa estarán sometidas a una ganancia mucho mayor que las
del resto, todas las demás resultarán despreciables frente a ellas por lo que el
problema se reducirá a tener en cuenta sólo la~ de esa primera etapa.
El procedimiento de cálculo es aplicable a casos en que sea posible estimar otros
ruidos que se puedan incluir con las señales de entrada o los de modo común
en la~ etapa~ diferenciales. Siempre se procederá a sumar potencia por Jo que la
tensión final de ruido se obtendrá como la suma cuadrática de todos los ruidos.
EJEMPLO 2.20
El operacional empleado en el Ejemplo 2.19 tiene un valor de CMRR
de 80 dB. Ahora se emplea para construir una etapa diferencial con re-
sistencias de lK y lOO K que debe amplificar una señal diferencial de 10
m VP Esta señal procede de un sen~or que garantiza una relación S/N de
80 dB. Cal.c ule la .relación S/N a la salida de la etapa si se puede estimar
un ruido de modo común de 500 m VRMs a 50 Hz.
Solución:
Como la ganancia es casi la misma, el ancho de banda y el ENB son si-
milares2. En tal caso, todos los valores de las fuentes de ruido están cal-
culados ya, excepto el de la resistencia de lOOK (tampoco pasaría nada
por usar el obtenido para la de 99K. .. ) y el correspondiente a las dos
resi~tencias en la entrada no inversora:
Vn100K = .J4 · 1,381 · 10 23 • 298 · 100000 · 785 · 103 = 36 ¡.tV

Las dos resistencias de la entrada no inversora quedan en paralelo (Fi-
gura 2.75) por lo que aportarán el ruido de una resistencia de valor
lK/ /100K=990 O.
1K
Ve
100K 990 !l
Figura 2.75
: No es exactamente la misma ganand.a ya que la topologia es distinta, pero la pequen a diferen-

cia no altera el resultado. En cualquier caso, el lector puede rehacer el problema com..;derando
el ancho de banda real y comparar los resultados obtenidos que serán muy similares.
113
Vn990 = .j4 · 1,381 · 10-23 • 298 · 990 · 785 · 103 = 3,6 ¡.tV
valor previsible y cuyo cálculo --como el anterior- nos lo podríamos

haber ahorrado.
Pero ahora hay dos fuentes más de ruido: la que produce el propio sen-
sor, del que conocemos la relación S/N y la del ruido de red en modo
común. Para la primera:
0,01
80=20·log - -> Ven=1¡.tV
Ven
El modelo de ruido del conjunto es el que se muestra en la Figura

2.76. En él la ganancia, Gc para el ruido de modo común correspon-
derá a:
R2 1 100 1
Gc"" R1. CMRR Gc"' -1- . 10000 = 0,01
X1
36 ~V
360 ¡N
1 ¡.V "'vo
100 ~V
990 360 ~V
500 mV 1 690~ 1
X0,01
Figura 2.76
El total de ruido a la salida del operacional será la suma cuadrática de

todos los ruidos:
Von = .j5ooo2 + 690 2 + 3602 + 3602 + 1002 + 362 = 5,1 mV
Como se puede observar, el ruido se debe al modo común en su inmen-

sa mayoría. A la hora de calcular la relación S/N, se obtendrá un valor
bastante bajo:
SfN = 20 · log S
1/..fZ
3 = 42,8 dB
,1·10
Obsérvese que el circuito ha introducido mucho ruido sobre una señal

que venfa con 80 dB de relación S/N. Para la mayoría de las aplicaciones
este no serfa un resultado aceptable y se debería tomar alguna medida.
La primera opción serfa reducir el efecto del ruido de modo común para
lo que la única opción di~ponible hasta este punto es emplear un opera-
cional con mayor CMRR.
114
Un operacional que llega..e a los 100 dB, reducirla en 10 veces la ganan-

cia de modo común y bajaría el valor de este factor del núdo a 0,5 m V,
lo que llevaría el total a algo menos de 1 m V y la relación S/N alcanza-
rla 57 dB.
Tras la estimación del núdo en un sistema, si no lo consideramos satisfacto-

rio, el proceso de mejora supondría ir identificando los principales componen-
tes del núdo y tratar de minimizarlos para conseguir el mejor funcionamiento
posible de la etapa amplificadora. Finalmente, se procederá a reducir el ancho
de banda mediante un proceso de filtrado, pero esto último se tratará dos te-
mas más adelante.
Podemos pensar que siempre es posible reducir el ancho de banda eligiendo
un operacional más adaptado a nuestras necesidades. Pero la~ especificacio-
nes de ancho de banda vienen determinadas por la necesidad de garantizar
un determinado error de ganancia. Esto significa que si no se ha hecho una se-
lección absurda del GBW del dispositivo, el ancho de banda resultante será el
imprescindible, aunque nos parezca - y lo sea- muy grande.
Texas Instruments
2.8. CRITERIOS DE SELECCIÓN La compañía Texas Instru-
ments Inc . tiene su sede en
DE OPERACIONALES Dalias (EE.UU.); fue fundada
en 1951 a partir de la empresa
Cuando el diseñador se enfrenta a un problema concreto puede tener clara la Gheophysical Services Inc. y
topología básica que hay que emplear, pero el que esa topología funcione co- tiene en su haber varios hitos
en la historia de la electróni-
rrectamente depende de la correcta elección del núcleo del sistema, el amplifi-
ca:el desarrollo del primer re-
cador operacional. Un vistazo por encima a la~ páginas web de los principales
ceptor de radio con transi~tores
fabricantes de estos dispositivos (Texas fnstruments®, Analog Devices®, Li- (1954), el del primer circuito in-
near Technology®, Maxim®...) nos lleva a enfrentamos a la selección de un tegrado monolitico (1958) o el
dispositivo entre más de 3000 posibilidades diferentes. ¡Para volverse loco! primer computador basado en
Sin embargo, siguiendo algunas pautas sencillas, el proceso de selección pue- circuitos integrados (1961).
de hacerse con rapidez y eficiencia aceptables. Por un lado, cada fabricante Tras la adquisición de la firma
ofrece apoyo on-line en sus páginas web mediante una clasificación por presta- Burr-Brown en 2000 y de Na-
ciones de sus dispositivos en la forma de "uso general (geneml purpose)", "pre- tional Semiconductor en 2011,
cisión (precision)", "alta velocidad (high speed)", etc. lo que permite acotar la Texas lnstruments es el primer
fabricante mundial de circuitos
búsqueda según nuestra aplicación y manejar menos opciones en el proceso.
integrados para aplicaciones
En algunos casos, también aparecen ayuda5 generales de diseño que permi-
analógicas, aunque en el merca-
ten orientar no sólo hacia operacionales concretos sino, hacia topologías y es- do general de los semiconducto-
tructuras. res ocupa el tercer puesto.
Pero, la principal ayuda son las tablas de selección, una poderosa herramien- En la web de Texa..~ Instruments
ta donde los operacionales aparecen clasificados en función de determinadas (www.ti.com) no sólo se pueden
prestaciones o características que el usuario puede elegir según su criterio. encontrar todas las característi-
Además, no sólo se pueden usar filtros de búsqueda según los valores de esas cas de sus productos sino otra
pre.staciones, sino que es posible obtener un informe con las opciones disponi- in.formoción útil como kits de
bles en formato de hoja de cálculo. desarrollo, software, notas de
aplicación, etc.
115
No cabe duda de que estas herramientas simplifican mucho la elección de un

dispositivo para nuestra aplicación y, en pocos minutos, podemos tener un
conjunto reducido de operacionales de diversos fabricantes dentro del que
podemos optar por uno concreto. En todo este proceso, se pueden tener en
cuenta otros factores de los que no hemos hablado hasta aquí como el tipo de
encapsulado, las limitaciones térmica~, la disponibilidad o .. . ¡el precio! A pe-
sar de Jo que se pueda pensar, el coste de los operacionales no tiene una rela-
ción clara con sus prestaciones ya que en él intervienen otros factores como la
demanda, la novedad, la obsolescencia, las estrategias de mercado, etc. Ade-
más, el hecho de que la mayoría de los precios se encuentren por debajo de los
4 dólares por unidad3 puede permitir obviar este factor, pues no suele resul-
tar relevante en el conjunto del diseño, máxime si hay que emplear resisten-
cias de precisión (algo muy normal) o realizar ajustes. En tales casos, el coste
de modificar el operacional puede ser despreciable frente al resto de compo-
nentes que lo rodean.
En el contexto de este tema - la amplificación- y dentro del mundo del tra-
tamiento analógico de señales de instrumentación, podemos encontrarnos con
diversos casos de carácter general que, si bien no pueden considerarse como
guias de diseño, constituyen ejemplos que permiten definir qué caminos se-
guir en cualquier otro ca~o.
2.8.1. ALIMENTACIÓN Y TIPOS DE SEÑALES
Analog Devices La primera limitación de cualquier si~tema viene determinada por la~ alimen-
Analog Devices Inc. (ADI o Ana- taciones y los tipos y valores de la~ señales de entrada y salida. Unas y otros
log para los habituales) es una están relacionados o introducen condiciones de contorno en el di~eño, pero
compañia fundada en 1965 con nos podemos encontrar con ca~os en los que cualquiera de la~ dos --alimenta-
sede en Massachusetts (EE.UU.). ciones y señales-- puedan estar fijadas de antemano.
Está centrada fundamentalmen-
Si lo que pretendemos es conseguir una determinada señal de salida o admitir
te en el ámbHo analógico de pre-
cisión, destacando especialmente una determinada entrada, la~ alimentaciones serán una consecuencia de esa
en el desarrollo de amplificado- imposición, según se comentó en el apartado 2.3. En el caso de valores eleva-
res operacionales de excelentes dos, este, junto con el recorrido de la tensión de salida será el primer criterio
prestaciones y convertidores de criba en la selección del dispositivo. Si no cumple o no llega hasta donde se
A/D y D /A para aplicaciones necesite, simplemente, no sirve ... El efecto producido serfa una grave distor-
instrumentales. sión por saturación de la señal.
En la actualidad es la empresa En el caso de que la imposición sea la alimentación - lo suele ser en el ca~o
número dos en el ranking de la de instrumentación portátil o en sistemas que compartan la alimentación con
fabricación de semiconductores
los bloques digitales-- el problema radica en que trabajaremos con tensiones
para electrónica analógica e ins-
bajas (5 V en muchos ca~os o, incluso, 3,3 o 2,7 V) y con alimentación sim-
trumentación, pero su mercado
se extiende a otras aplicaciones ple. Esto nos llevará a seleccionar dispositivos de tipo RRIO para asegurar un
periféricas de aquella, como el recorrido razonable de la tensión de salida y a trabajar con señales siempre
procesamiento digital de señal. positiva~. Además, en el caso de señales alternas, esta~ serán oportunamente
La visita a su página web (wv."'"·

polarizadas (véa~e el Ejemplo 2.2).
analog.com) es algo habitual en
cualquier diseñador. Allí se pue- 3
Hablamos sólo de dispositivos de categoría comercial o industrial y no de prestaciones de ran-
den encontrar los datos de sus go "militar", para cantidades de más de 1000 wúdades )'sin intermediarios. El precio se inclu-
productos, herramientas y di - ye en dólares no sólo porque así aparece en la mayoria de los fabricantes sino porque el cambio
versos tutoriales y notas de apli- a euros puede modificar cualquier afirmación en un futuro próximo, bien por el valor cambia-
cación, todos ellos muy iítiles. xjo de la divi,<.;a o por la desaparición de la "moneda única".
116
Una vez que conseguimos disponer de tensiones de alimentación y seña-

les compatibles entre sí, tenemos que preguntarnos por la posible existencia
de tensiones de modo común que puedan afectar a nuestro sistema y, lógi-
camente, la primera condición que se debe exigir es que el dispositivo sea
capaz de soportarlas. Al garantizar que eso ocurre, el modo común pasa de
ser un problema cualitativo -destruimos o no el dispositivo-- a ser un pro-
blema cuantitativo: ¿cómo afecta el modo común a la salida de nuestro sis-
tema?
El principal parámetro para obtener una respuesta a esta pregunta es el CMRR
del operacional que transformará el modo común en la entrada en un error en
la salida - cuando el modo común sea de continua- o en un ruido que re-
duzca la relación S/N en el caso de que el modo común sea de alterna.
En resumen, en los primeros pasos de selección descartaremos operacionales
con los siguientes parámetros como criterio:
a) Tensión de alimentación.
b) RRIO.
e) Capacidad de soportar modo común (en el caso de sefiales diferenciales).
Del mismo modo, los valores de las sefiale.s en la entrada y en la salida queda-
rán acotados en función de las características elegidas.
Hasta aquí, el problema se ha reducido a elegir un di~positivo que sea capaz
de alcanzar todos los valores necesarios de la tensión de salida y de soportar
la tensión de entrada. Esta criba cualitativa (sirve/no sirve) garantiza que el
dispositivo tiene la potencialidad de poder cumplir las especificaciones que
busquemos¡ sin embargo, el que lo haga con unos parámetros instrumentales
mejores o peores depende del resto de sus características.
En esta línea, se analizarán a continuación algunos casos habituales y qué Linear Technology
parámetros deben buscarse para satisfacer determinadas especificaciones Es una compañía relativamen-
cuantitativas en cuanto a errores y relación S/N. Para todos los casos, se su- te nueva ya que fue fund ada
pondrá que el primer paso está dado, es decir que todos los valores de en- en 1981. Tiene su sede central
trada y los esperados de salida están dentro de los límites que permite la en California (USA) y se dedi-
alimentación. ca fundamentalmente al desa-
rrollo de dispositivos para la
electrónica analógica y la instru-
2.8.2. AMPLIFICACIÓN DE SEÑALES DE CONTINUA mentación, con un importante
catálogo de productos.
Tradicionalmente, la Instrumentación Electrónica se ocupaba de variables y La empresa proporciona y man-
sefiales que variaban a baja frecuencia; el ejemplo más típico es la medida de tiene una versión gratuita del
temperatura, una variable de evolución lenta. Estas sefiales se pueden calificar conocido simulador S pice®, de-
como "de continua" y; de hecho, algunos amplificadores operacionales que se nominada LTspice. Esta versión,
usaron para trabajar con señales de este tipo se denominaron en su momento así como información sobre pro-
"operacionales de instrumentación", algo que trataba de destacar sus buenas ductos pueden encontrarse en
su página web, W"l'l\V.linear.com.
características a la hora de amplificar señales de continua, las típicas de los co-
mienzos de la instrumentación.
Los tiempos han cambiado mucho y, hoy en día, crecen las aplicaciones de
instrumentación que precisan procesar sefiales de alta frecuencia, pero eso no
niega el hecho de que siguen existiendo muchas señales que son intrínseca-
mente de baja frecuencia y a ellas nos referiremos ahora.
117
El objeto de la amplificación de señales de continua es diqponer de una señal

de más nivel y adaptada al alcance de entrada del siguiente bloque, probable-
mente una etapa de conversión A/D, a partir de una señal de poco nivel. Todo
esto se deberá conseguir con un error máximo especificado, que es donde ra-
dica el problema.
Para ir delimitando este problema, en primer lugar descartaremos algunos pa-
rámetros sin interés, como el GBWy el SR ya que la aplicación es de continua.
No obstante, el GBW del operacional debe ser bajo para que el ancho deban-
da resultante sea pequeño y el sistema no introduzca demasiado ruido; pero
esto no es una condición demasiado estricta, puesto que el factor más determi-
nante del ruido en estas aplicaciones suele ser el flicker (a baja frecuencia) y, en
cualquier caso, el hecho de trabajar en continua permite reducir posteriormen-
te el ancho de banda mediante bloques de filtrado (véase el Tema 4).
Según hemos visto a lo largo del capítulo, el error estará causado por la ga-
nancia finita y por el offset, de modo que el máximo error permitido habrá
que repartirlo adecuadamente entre ambos. Pero ... el error de ganancia no
suele ser demasiado importante porque el hecho de trabajar en continua hace
que di~pongamos del valor A 0 del operacional, un valor habitualmente muy
elevado. Por otro lado, las opciones disponibles no suelen tener valores muy
diferentes entre sí por lo que no habrá mucho que arañar en este caso. De to-
das formas, si fuera necesario, se podrían emplear varias etapas de amplifi-
cación con lo que casi siempre se puede llegar a que el error de ganancia sea
despreciable.
Así pues, dejaremos todo (casi todo para ser exactos) el error para el offset.
Los factores a tener en cuenta son la tensión de offset, las corrientes de polari-
zación y las derivas:
a) El factor determinante para una aplicación en continua es la tensión de
offset ya que será la que produzca el mayor porcentaje de error. Las co-
rrientes de polarización y offset pueden ser obviadas en la mayoría de los
casos -excepto en el caso de conversión 1/V como en los Ejemplos 2.5 y
2.6- por lo que es fácil estimar la máxima tensión de offset que podemos
especificar:
Rl +R2
Voo máx "' Rl lvio 1
Si usamos una configuración no-inversora, la ganancia para la señal y para

el offset es la misma, de modo que los errores a la entrada y a la salida son
iguales, con lo que el error puede calcularse como:
lviol
e=
Vemáx
Esto permite determinar cuál es el máximo valor de offset permitido para

cada aplicación. Por ejemplo, si tenemos una tensión de entrada máxima
de 10mV y un error máximo dell %, deberemos buscar por debajo de
0,1 m V. Sin embargo, en cuanto ponemos las cosas un poco más "duras"
en el mundo de la instrumentación, como el caso de tener una entrada
máxima de 5 m V que se quiere representar en 4 cifras significativas, el
118
asunto se complica: con 4 cifras significativas, no podemos equivocarnos On Semiconductor

en más del 0,01 % (0,00001 p.u.), con lo que, aplicando la anterior expre- Fue creada en 1999 como una
sión, necesitaríamos que la tensión de offset fuese menor de 5·0,0001 = spin-off de Motorola con un es-
0,0005 m V= 0,5 ¡.tV, algo que supera al mejor amplificador operacional pectro de productos amplio.
disponible. Atmque su pri;ncipal volumen
de negocio no está en el mun-
b) Las corrientes de polarización sólo se tienen en cuenta en el caso de con- do de la electrónica analógica,
vertidores l 1V, en cuyo caso, la tensión de offset es despreciable (véase el si que dispone de algunos p ro-
Ejemplo 2.6). Para tal caso, se puede llegar a una expresión similar a la que ductos interesantes para am-
veíamos arriba para la tensión de offset: plificación y manejo de señales
analógica~.
Voomáx"' (R ·lB+~ · lliol) Una visita a su página web

(""'""·onsemi.com) siempre es
W\ paso que dar en la búsqueda
En amplificadores operacionales de bajas corrientes de polarización, se de di~ositivos para una aplka-
puede suponer que la corriente de polarización y la de desviación son si- ción concreta.
milares, de modo que la expresión anterior se convierte en:
La tensión de salida en estos convertidores se obtiene como:
De esa forma, el error pasa a ser:

3
- · R · lB 2
E = _,2'---- - IB máx = E ·lemáx
R · lemáx 3
Esto nos permite buscar las máximas corrientes de polarización que po-
demos permitirnos en una aplicación dada, aunque afortunadamente
esta restricción es algo más fácil de lograr que la de la tensión de des-
viación.
e) Las derivas no son el primer criterio de selección, pero suelen suponer el
segundo quebradero de cabeza una vez que superamos las etapas anterio-
res. Se comprobarán después y tendrán influencia en la existencia y el tipo
de ajustes.
Después de tener en cuenta estos parámetros, acudimos a las páginas web de
los fabricantes, a sus tablas de selección y podemos encontrarnos con dos ca-
sos: hallar el operacional buscado, con lo que llegamos al final del proceso
o, lo que es más habitual, no hay ningún operacional que sirva para nuestro
caso. En este último supuesto, habrá que optar por corregir los efectos negati-
vos mediante el ajuste de offset.
El ajuste no es deseable, pero puede ser una solución inevitable y, si las deri-
vas resultan importantes para nuestro caso, se deberá optar por un ajuste ex-
terno al equipo o la calibración del sistema cada cierto tiempo. En la Figura
2. 77 se mnestrfl el pro<'<>SO el<> <:el<><'rión y ciisP.ño Pn función ele los parámetros
disponibles.
119
Tensión de entrada Error máximo Corrriente de entrada
O- Ve.,.. 8 0-Je.,..
ls mlr
t
i '
Primar crtterto de bCJsquada
'L-----~~~
AJUSTE-
A -INTERNO
Tiempo de uso
t.,..
Temperatura de uso
T""" - T.,.. ------1

Cálculo del cambio dél error
con el tiempo y la temperatura
SI el error total es aceptable

~ SI al error total NO ES aceptable
RECAU BRACIÓN
FIN DEL PROCESO AJUSTE EXTE.RNO
Figura 2.77. Proceso general de sel ección y diseño de am plif icadores para senales de cont inua:
partíendo de l as especificaciones de señales de entrada y error máximo permitido, se obtienen las
especificaciones de tensión de offset o corri ente de polarización; las condiciones de uso (tempe·
ratura y tiempo) junto con las derivas pueden exigir la re-calibraci ón de los ajustes inter nos o la
inclusión de ajustes externos.
2.8.3. AMPLIFICACIÓN DE SEÑALES DE ALTERNA
La necesidad de amplificar señales de alterna es algo cada vez más frecuente

en el mundo de la Instrumentación Electrónica e, incluso, las solicitaciones de
frecuencia y ganancia van tendiendo a ser más duras.
En el caso de esta~ señales, el objetivo es similar al del apartado anterior, pero
con la particularidad de que la señal tiene una banda de frecuencias entre las
que se desarrolla. Dado el comportamiento de los amplificadores operaciona-
les, que es peor en la medida en que aumenta la frecuencia, el punto más des-
favorable resulta ser el de mayor frecuencia.
El objeto de tratar las señales de alterna no siempre es la digitalización de la
señal como tal, es decir, la salvaguard a de toda la información que contiene
no siempre es necesaria. Una señal alterna periódica puede descomponerse
en senoides y, cada una de estas se caracteriza por una amplitud, una frecuen-
cia y una fa~e. Así, puede ocurrir que la información sea la señal en sí mi~ma
o que esté contenida en alguno de esos tres parámetros. Esto debe ser tenido
en cuenta a la hora de tratar una señal ya que los parámetros que contengan
la información son los que no pueden ser modificados o alterados durante el
procesamiento. Por ejemplo, si la información está en la frecuencia o la fase,
la amplitud podría sufrir atenuaciones importantes sin que eso ponga en ries-
go la integridad de la información siempre, claro está, que esa atenuación no
ponga en peligro la interpretación de la señal. Del mismo modo, si lo que nos
120
importa es la fase, la amplificación debe evitar el desfase de la señal lo que im-

pondría unas condiciones bastante duras en el diseño de las etapas de ampli-
ficación, según se indicaba en el apartado 1.3.1.
En cualquier caso, a la hora de plantear el problema de amplificar una se-
fíat de alterna, comenzaremos por simplificar el problema de búsqueda con
la eliminación de alguno de los parámetros del operacional como los liga-
dos a las señales de continua: tensiones de offset, corrientes de polarización
y derivas. En lineas generales la principal especificación es el máximo error
permitido, que puede ser de ganancia o de fase ya que se supone que la fre-
cuencia no sufrirá cambios siempre que el sistema conserve la linealidad,
algo que ya analizamos en el apartado 2.8.1. Si nos planteamos la amplifica-
ción en una sola etapa, el error de ganancia, e establece una ganancia míni-
ma permitida:
Gmfn = G · (1- e)
Si el error se adjudica a la ganancia, la ganancia diferencial necesaria se obtie-

ne de (supuesto un amplificador no inversor):
Admbt
Gmrn = Ad .
1+ mm
G
Esto impone las condiciones de que el operacional pueda aportar una ganan-
cia diferencial mayor o igual que Ad,,. y que el GBW sea mayor o igual que
Adtnín ' fmt:t'
Si el error se adjudica a la fase, habría que actuar de otra manera; para una ga-
nancia deseada no nos afecta que la que se consiga realmente sea algo menor
sino que nos importa el efecto que la amplificación puede tener sobre la fase
de nuestra señal. Tendremos en cuenta que el sistema se comporta en frecuen-
cia como una función de primer orden con un polo en la frecuencia de corte
determinada por:
Eso hace que el si~tema tenga una función de transferencia como esta:
G
G(w) = .
1 + jl.ú
Zrr · fc
Cuya fase es:

q¡(G( w)) = - tan(Zrr ·fe)
Así, para un determinado error de desfase 1/J,...., se puede obtener el GBW nece-
sario para el amplificador como:
121
En resumen, el producto ganancia-ancho de banda que se debe especificar

para el operacional se obtendrá siempre a partir de la especificación de error
del sistema, sea este de ganancia o de fase. Junto con el SR nos permitirá aco-
tar el número de dispositivos disponibles para nuestra aplicación, entre los
cuales se deberán descartar aquellos que no presenten el valor de Ad.,,. reque-
rido en el caso de que la amplihtd sea el parámetro importante.
La búsqueda con estos criterios puede arrojar un resultado favorable o no. En
el segundo caso, no habrá ninguna solución para resolver nuestro problema
en una sola etapa y no quedará más remedio que dividir la amplificación en
varias etapas. En este último ca~o, la opción más recomendable es formar un
amplificador multi-etapa con bloques de la misma ganancia y dividir el error
entre todas las etapas. La ganancia de cada etapa i de un sistema de n etapas
se obtendría como:
G¡ = 'VG
Mientras que el error asignado a cada etapa se dividiría por n. Esto puede lle-
gar a no dar una solución que cumpla con nuestra~ especificaciones, luego el di-
señador debe ser capaz de enfrentarse a un problema sin solución tecnológica;
en tal caso, la única opción sería la relajación de las especificaciones iniciales.
Superado este pa~o, tendremos un amplificador con una o varias etapas que
cumple razonablemente con el error. Ahora debemos completar su caracteri-
Tensión de entrada Tensión de salida Error maximo
Ve, Vo,
Ganancia del G
sistema
Búsqueda del operacional
No existe ningún dis:positivo
GBW
Sistema multi·etapa - G'
v. '
/, V;o
. Cálculo del error de orrsel _ ._ ¿EliminMio? ¿PeUgro de sa1uración?

. Cálculo del error de ganancia
. Cálculo de la relaciOn S/N
Figura 2. 78. Proceso general de selección y diseño de amplificadores para señales de a lterna: par·
tiendo de las especi ficaciones de señales de entrada, tensión de salida y error máxi mo permit ido,
se obtienen las especificaciones de GBW, SR y Adm,,· Finalmente, el si stema se caracterizará desde
el punto de vista i nst ru mental u sando los parámetros del operacional elegido. con la precaución
de vigilar el efecto del offset.
122
zación instrumental mediante la obtención del error real, el cálculo de la relación

S/N y la evaluación del efecto del offset que, aunque puede ser eliminado con fa-
cilidad mediante una red C-R, debe tenerse en cuenta por si produce algún efecto
de saturación no deseable. Esto es normal en muchos casos, puesto que los am-
plificadores para alterna no suelen tener valores de offset bajos. En caso necesario
habría que optar a situar más de una red C-R como se indicó en el Ejemplo 2.7.
La relación S/N puede ser una especificación de nuestro sistema, pero usarla
desde el principio introduce una gran complejidad en la selección de disposi-
tivos. Como puede ser modificada a posterú:lri, sólo se calculará al final de todo
el proceso teniendo en cuenta los correspondientes parámetros del operacio-
nal seleccionado. No obstante, como regla general y siempre que haya opcio-
nes disponibles, se debe optar por los amplificadores que presenten menor
ruido y, en todos los casos, trabajar con resistencias del menor valor óhmico
que sea posible. El resumen de todo este proceso se presenta en la Figura 2.78
como un diagrama de flujo de di~efio.
2.8.4. AMPLIFICACIÓN DE SEÑALES MIXTAS
Cuando se desea disponer de un sistema capaz de amplificar sefiales con un

espectro que vaya desde la continua hasta una determinada frecuencia, tene-
mos el problema de amplificar tanto la alterna como la continua. Esta situa-
ción no es la más habitual cuando queremos manejar la sefial que procede de
un determinado sensor, pero sí que se da con frecuencia en el caso de bloques
de tratamiento genérico como los que constituyen las entradas de los sistemas
de adqui~ición de datos.
Si. resolver problemas de continua suele llevar parejo el cuidado exquisito del
offset y; en oca~iones, el ajuste; si resolver problemas de alterna suele suponer
el empleo de bloques multi-etapa con dispositivos de offset elevado, unir am-
bas necesidades puede volver loco a cualquiera por la necesidad de buscar so-
luciones para especificaciones que tienen características antagónicas; y asf sería
si pretendemos llevar a los extremos tecnológicos las especificaciones de off.~et
y de GBW de forma simultánea. Afortunadamente, la mayoría de los proble-
ma~ reales no resultan tan exigentes y cuando necesitamos trabajar con seiíales
mixtas, o bien los valores de entrada son más grandes - no hay tanto problema
con el error debido al offset- o la frecuencia máxima es baja con lo que las so-
licitaciones de GBW no resultan extrema~. Y si lo que pretendemos es lograr el
"amplificador perfecto", simplemente tendremos que esperar a que la tecnolo-
gía avance lo suficiente o replantearnos la necesidad real de semejante disefio.
A la hora de plantear el problema, se partirá de las especificaciones del valor
máximo de la sefial de entrada, el valor máximo de la sefial de salida, el error
máximo permitido y la máxima frecuencia de la seiíal. Las causa~ de error son,
bá~icamente, la ganancia y el offset, pero no podemos asignar el error total a
cada una de ellas sino que debe repartirse con algún criterio. Siempre pode-
mos hacer cualquier reparto, obtener las especificaciones correspondientes y
buscar el dispositivo que las cumpla. En el caso de que los resultados se ale-
jen mucho de la actual tecnología, se podría hacer un nuevo reparto má~ acor-
de con estas posibilidades. Sin embargo, tenemos que tener en cuenta que el
offset no se puede dividir entre varias etapas - más offset cuantas más pon-
123
gamos- y sf que se puede dividir la ganancia. Con esta idea, se suele dejar
más error para el offset que para la ganancia aunque es muy difícil decidir de
forma genérica el reparto más apropiado. Una vez hecho esto, estamos en dos
casos separados como los vistos en los apartados anteriores y, por tanto, se
procederá de la misma forma en cada uno de ellos con la única condición de
que la~ especificaciones obtenidas en cada uno de los dos cálculos deben ser
cumplidas por un único dispositivo.
Tras la selección llegaremos a un dispositivo concreto para un amplificador
con una o varias etapas y, tal vez, un ajuste de offset. Como última compro-
bación, ante la necesidad de un ajuste de offset, quizá podamos replanteamos
dejar la mayoría del error para la ganancia y, de esa forma, relajar las especifi-
caciones de GBW y, quizá, reducir etapas.
2.8.5. LÍMITES DE USO DE AMPLIFICADORES

OPERACIONALES
En cuanto nos planteamos un problema de amplificación de cualquier tipo,
podemos encontramos con los límites tecnológicos, una barrera que avanza -
cada vez más despacio-- hacia nuevas fronteras, pero que siempre pone cota a
las posibilidades de los dispositivos. ¿Qué se puede esperar del funcionamien-
to de un determinado operacional? La respuesta viene determinada por sus
prestaciones y por sus tensiones de alimentación, siempre que no se superen
los valores de tensiones de entrada (y se ponga en peligro su funcionamiento
o su propia existencia). Los límites que nos encontramos son:
a) El máximo valor de la tensión de salida, definido por la alimentación y el
recorrido de esa tensión que indique el fabricante.
b) La máxima frecuencia de trabajo, definida por el error permitido y el GBW.
e) La máxima velocidad de cambio de la tensión de salida, definida por el SR.
En la Figura 2.79 se muestran la9 zona~ de trabajo del operacional en función
de esos parámetros y se indica qué tipos de operacionales se deben buscar
para superar las limitaciones correspondientes.
A. O. de alta tensión
A.O. de alto
frecuencia
log f
Figura 2.79. Zona de trabajo de un operacional a partir de sus parámetros (sombreados). Fuera de
esa zona, hay que buscar otros t ipos de operacionales (si existen).
124
RESUMEN
En el campo de la Instrumentación Electrónica, la amplificación constituye el
bloque básico de los sistemas de tratamiento de las señales proporcionadas por
los sensores, habitualmente de bajo nivel, para lograr señales de mayor entidad
-má~ inmunes a perturbaciones y otros efectos nocivos- y capaces de ser ad-
mitida~ por los bloques digitales de tratamiento, monitorización y 1o control. La
gran mayoría de los amplificadores de señal se construyen usando como núcleo
el amplificador operacional, un dispositivo que se acerca bastante a las presta-
ciones de un amplificador ideal de tensión. Pero acercarse bastante no significa
ser un amplificador ideal.
A lo largo del tema se tratan los diversos parámetros del di~positivo que permi-
ten delimitar su zona de trabajo seguro y fijar una distancia entre el amplificador
operacional y el ideal. Esto último permitirá cuantificar el comportamiento de Jos
bloques amplificadores mediante su "caracterización instrumental" y que se pue-
de resumir en la obtención del error total y de la relación entre la señal y el ruido.
La primera limitación con que nos encontramos es la tensión de alimentación del
dispositivo que impone condiciones a la máxima tensión de salida que puede
proporcionar y a la tensión de entrada que puede admitir. Los amplificadores
operacionales que mejor se comportan en este sentido son los de tipo RRlO, que
llegan prácticamente a los extremos de la alimentación.
Algunas de las características de los amplificadores operacionales sí que se pa-
recen a las ideales, como es el caso de las resistencias de entrada y salida, cuyos
efectos sobre el comportamiento del dispositivo en un bloque amplificador pue-
den despreciarse en la gran mayoría de los casos.
Pero no ocurre así con el funcionamiento de la etapa de entrada de los A.O.,
que introduce el primero de los grandes problemas que su uso representa.
Como se ha podido ver, tanto las corrientes de polarización, necesarias para
el correcto funcionamiento de la etapa de entrada, como la imposible simetría
de sus dos ramas producen el efecto de un desplazamiento en los niveles de
la tensión de salida: el offset es el principal problema al que se enfrenta el
dLseñador en las aplicaciones de precisión en continua y está causado por la
tensión de offset de entrada y por las corrientes de polarización. Estos efec-
tos no sólo obligan a una selección cuidadosa de los dispositivos sino que
pueden ocasionar la necesidad de ajustes que encarezcan el sLstema. Para em-
peorar aún más el panorama, los causantes del problema no son constantes
en el tiempo ni con las condiciones ambientales sino que presentan cambios
(derivas) que pueden obligar a re-calibraciones o a ajustar el sistema antes de
su uso.
El segw\do gran problema para el diseñador es la ganancia del operacional.
No es infinita. El principal efecto no se produce en continua, donde su valor es
lo suficientemente alto como para que introduzca errores de pequeña entidad
- mucl\as veces despreciables- sino en el caso de precisar amplificar señales
de alterna. En tales ca~os, la ganancia del operacional puede bajar lo suficiente
como para suponer un elevado error. El parámetro que fija el comportamiento
del operacional es el producto ganancia-ancho de banda, el principal criterio de
búsqueda cuando se trabaja en aplicaciones de alterna. Si se puede encontrar el
OJ:'lPr;:"triOn;:tl rnrrPt"tn, ¡pPriPrto ! Rn C',.~o rontr;:trio, h"'hni quP I"P('I1rrir"' ;amplifir..,-
dores de varias etapas.
125
Aunque tepresente un problema en menos casos, el SR puede introducir di~tor

siones no deseadas sobre nuestra 5eñal debido a que el operacional no sea capaz
de seguir los cambios de tensión que se le demandan en la salida, por lo que es
un parámetro que hay que comprobar en los diseños y, llegado el caso, puede
constituir otro de los criterios de selección.
Estamos muy acostumbrados a trabajar con señales de tensión referidas a
ma~a, pero es frecuente tener señales diferenciales en el mundo de la Instru-
mentación Electrónica, señales que suelen ir acompañada~ de un modo común
que puede "colarse" como un invitado no deseado en la tensión de salida. La
capacidad del operacional de rechazar estas tensiones, parametrizada en la
CMRR, y la tolerancia de las resistencias se convierten en los nuevos datos con
los que el diseñador tendrá que trabajar en estos casos para estimar tales efec-
tos que pueden manifestarse en un error adicional o en un empeoramiento de
la relación S/N.
Para concluir este tema se ha hecho un breve estudio de la producción de rui-
do interno en los amplificadores tanto debido al propio dispositivo activo como
causado por las resi~encia~ que formen parte de la topología. Esta estimación
permite terminar la caracterización instrumental del comportamiento del siste-
ma mediante la obtención de la telación S/N.
126
2.1 Un sistema de adquisición de datos admite señales de tensión entre - 5 y 5

Apartado 2 .1.1 V. Si deseamos leer la señal producida por un sensor que está comprendi-
da entre Oy 1 V, determine la función a realizar por el circuito de acondi-
Figura 2.1
cionamiento.
Eje mplo 2.1
2.2 Proponga un sistema para :realizar la función anterior mediante amplifica-
dores operacionales ideales.
Apartado 2.2.3
2.3 El convertidor A/D de un microcontrolador tiene un fondo de escala
Tabla 2 .2 de. 4,096 V y el mínimo valor que admite es O V. Si se pretende digitali-
zar la señal procedente de un sensor de temperatura que mide entre O
y 10 oc y tiene una sensibilidad de 25mV /°C, determ.ine la función que
ha de realizar el circuito de acondicionamiento y proponga una topo-
logía capaz de llevarla a cabo mediante amplificadores operacionales
ideales.
Apartado 2.2 .3
2.4 Un determinado sensor de luz produce una salida de corriente que varía
Tabla 2 .2 entre O y 1 ¡¡.A. A partir de esta señal se pretende obtener una salida de
tensión que varie entre O y 5 V mediante un bloque amplificador. Deter-
m.ine qué circuito sería capaz de realizar esta función mediante el uso de
amplificadores operacionales ideales.
Apartado 2.2 .3
2.5 Se desea obtener una señal que informe del valor máximo de una señal de
Tabla 2 .2 alterna que puede llegar hasta 1 VP. Diseñe un sistema capaz de realizar
esa función mediante amplificadores operacionales ideales.
Apartado 2.3.2
Figuras 2.10 y 2.11 2.6 Se pretende amplificar una señal alterna de 100 m VP para dejarla entre Oy
Eje mplo 2.2 4 V, mediante un operacional de tipo RRO que admite una tensión máxi-
ma de alimentación de 6 V. Diseñe un si~tema para ello suponiendo que se
dispone de una única tensión de alimentación de +5 V.
Apartado 2.3.2
Figuras 2.10 y 2.11 2.7 En el caso del problema anterior, ¿qué ocurrida si se emplease un am-
Ejemplo 2.2 plificador de salida estándar (no RRO)? Considérese que la salida del
operacional sólo es capaz de acercarse a 1,5 V de los extremos de alimen-
tación.
Apartado 2.3.2
Figura 2.10 y 2 .11 2.8 Se pretende leer una señal continua con un valor máximo de 20mV
Ejemplo 2.3 con un convertidor A/D que admite tensiones entre O y 5 V. Para ello,
se emplea un amplificador operacional RRO alimentado a +5 V cuyo
recorrido de tensión de salida va desde - Vee + 0,05 V a +V ce - 0,01 V.
Diseñe el circuito más apropiado para este fin y el máximo error del
sistema.
Apartado 2.4.1
Figuras 2.21 a 2.23 2.9 Se desea amplificar una corriente de 100 nA que debe ser amplificada has-
Ejemplo 2.4 ta conseguir una tensión de 10 V mediante un convertidor 1/V. Para ello se
emplea un amplificador operacional con Ad = 90 dB, Rid = 500 kQ, Ricm = 10
MQ. Determine el error en la salida.
127
Apartado 2.4.1
2.10 En el problema anterior, ¿qué valor de resistencia de entrada debería te-
Figuras 2.21 a 2.23 ner para garantizar un error mejor de 0,05 %? ¿Se podría conseguir ese
Ejemplo 2.4 mismo error sólo mediante un incremento razonable de la ganancia dife-
renc1"al?.
Apartado 2.4 .4
Figuras 2.30 y 2.31 2.11 Se quiere amplificar una tensión de continua máxima de 5 m V hasta
Ejemplo 2.5 conseguir 5 V mediante un operacional OPA277 (Texas Instrurnents).
Determine el error producido en la salida considerando sólo la ten-
sión de offset y las corrientes de polarización (se debe usar el fichero
OPA277.pdf).
Apartado 2.4 .4 2.12 Resuelva el problema anterior empleando el amplificador operacional

Figuras 2.30 y 2.31 AD8505 (datos en el fichero AD8505.pdf).
Ejemplo 2.5
2.13 Resuelva el problema anterior empleando el amplificador operacional
ADA4897-1 (datos en el fichero AD4897.pdf).
2.14 A raíz de lor:; resultados obtenidos en los problemas 2.11, 2.12 y 2.13 ¿qué
Apartado 2.4 .4 podría decir de la idoneidad de esos amplificadores operacionales para
Figuras 2.30 y 2.31 satisfacer la función para la que han sido sele<;cionados?
Ejemplo 2.5
2.15 Para el caso del problema 2.11, ¿qué especificaciones de tensión de offset
serían necesarias para reducir el error obtenido por debajo del 0,1 %? Con-
sidérese que las corrientes de polarización y offset no introducen un efecto
significativo.
Apartado 2.4.4
Figuras 2.30 y 2.31 2.16 Determine el error en un convertidor I/V empleado para convertir una co-
Ejemplo 2.6 rriente máxima de 50 nA en una tensión de 5 V con el operacional AD8505
(archivo AD8505.pdf).
Apartado 2.4.4
Figuras 2.34 a 2.36 2.17 Un sensor capacitivo produce una señal alterna de 5 m VP que se debe am-
Ejemplo 2.7 plificar hasta conseguir una salida de 10 VP con un amplificador que tiene
una v"' =2mV y en el que se pueden despreciar las corrientes de polari-
zación. Diseñe una estructura para hacerlo sabiendo que el amplificador
estará alimentado a ±15 V y la tensión de salida sólo puede acercarse a 1,5
V de las alimentaciones.
Apartado 2.4.5
Figuras 2.42 y 2.43 2.18 Un determinado sensor produce una señal máxima de continua de 2mV
-- Ejemplo 2.8 que se debe amplificar hasta obtener 4 V de salida mediante un opera-
cional que posee una tensión de offset a 25 oc de 80 ¡N. Despreciando las
corrientes de polarización y desviación diseñe un circuito para conseguir
un error menor de 0,05 %.
Apartado 2 .4.5
Figuras 2.42 y 2.43 2.19 En el problema anterior habrá sido necesario el empleo de una red externa
Ejemplo 2.8 de compensación para conseguir red ucir el error hasta el valor exigido.
¿Qué ventaja~ se tendrían en el caso de emplear un amplificador con ter-
minales de ajuste específicos para tal fin?
128
Apartado 2.4.5
2.20 Si en el problema 2.18 el operacional debiese trabajar en ambientes con
Figuras 2.42 y 2.43 temperaturas [O, 70] oc y durante cuatro años, ¿cuál sería el máximo error
Ejemplo 2.9 tras el ajuste sabiendo que llv.,! t1T = 0,12 ¡N ¡oc y llv., / llt = 0107 ¡N/mes?
Apartado 2.5.1 2.21 Se realiza un amplificador de ganancia 500 para amplificar señales de en-
Tabla 2.3 trada de 4 m V en continua mediante el operacional AD8622 (datos en el
Ejemplo 2.10 fichero AD8622.pdf). Determine el error obtenido cuando se considera que
su ganancia diferencial no es ideal.
Apartado 2.5.1
Tabla 2.3 2.22 Se realiza un amplificador de ganancia 500 para amplificar señales de en-
Ejemplo 2.10 trada de 4 m V en continua mediante el operacional TLV271 (datos en el
fichero TLV271.pdf). Determine el error obtenido cuando se considera que
Apartado 2.5.1 su ganancia diferencial no es ideal.
Tabla 2.3
2.23 A raíz de los resultados de los dos ejercicios anteriores y del propio resul-
Ejemplo 2.10 tado del Ejemplo 2.10, ¿qué se podría decir sobre la suposición de ideali-
dad de la ganancia diferencial en los amplificadores reales?
Apartado 2.5.2
Tabla 2.3 2.24 Se pretende diseñar una etapa amplificadora para conseguir una señal de
Figuras 2.47 a 2.49 4 VPP a partir de una entrada de 20mVP cuya frecuencia máxima no supera
Ejemplo 2.11 los 2 kHz. Determine el error de ganancia cuando se emplea para este fin
un operacional con A 0 = 100 dB y GBW = 20 MHz. ¿Qué GBW sería preciso
Apartado 2.5.2 para un error de 0,05 %?
Tabla 2.3
2.25 Si la señal del Ejercicio 2.24 pudiese alcanzar frecuencias de hasta 2 MHz,
Figuras 2.47 a 2.49 ¿cuáles serian las especificaciones que deberían exigirse al operacional para
Ejemplo 2.11 que el error de ganancia fuese menor de 0,1 dB? ¿Le parecen accesibles esa~
especificaciones? Se recomienda una búsqueda entre operacionales de alta
Apartado 2.5.2 frecuencia (hígh speed) en las páginas web de los fabricantes más destacados.
Tabla 2.3
Figuras 2.47 a 2.50 2.26 Para los casos de los Ejercicios 2.24 y 2.25, recalcule las especificaciones
del operacional a emplear en el caso de optar por soluciones con dos o tres
Ejemplo 2.12
etapas.
Apartado 2.5.2
Figura 2.47 a 2.50
2.27 Determine el número óptimo de etapas para minimizar el error de un sis-
tema amplificador multi-etapa que emplea un amplificador operacional
Ejemplo 2.13
de GBW = 500 MHz. Se recomienda emplear una hoja de cálculo para rea-
lizar el ejercicio de una forma similar a la del fichero EJ0212.xlxs.
Apartado 2.5.4
Figuras 2.56 y 2.57 2.28 Un sensor en puente produce una tensión diferencial máxima de 4 m V
Ejemplo 2.14 de continua sobre un modo común de 2,5 V. La señal d iferencial debe ser
amplificada hasta obtener 4 V. Si se usa un operacional con A 0 = 110 dB y
CMRR = 90 dB, determine el error total del sistema.
Apartado 2.5.4
Figuras 2.-56 y 2.57 2.29 La salida de un determinado sensor es una tensión diferencial máxima
Ejemplo 2.14 de 10mV en continua que debe ser amplificada hasta conseguir que al-
cance los S V. Se estima que la red eléctrica puede introducir un ruido en
129
la entrada del amplificador que se estima en 1 VPP a la frecuencia de red.
Si el amplificador operacional empleado tiene un A,¡ = 120 dB, un GBW =
50 MHz y CMRR = 80 dB (para frecuencias menores de 100 Hz), diseñe
el sistema adecuado para lograr la amplificación, determine el aspecto
de la tensión de salida y caracterice el comportamiento del sistema dise-
ñado.
Apartado 2.5.4
2.30 El fabricante de un determinado amplificador operacional no proporciona
Figura 2.59 información alguna acerca del comportamiento frecuencial de la CMRR.
Diseñe un experimento para medir su valor en laboratorio de una forma
lo más sencilla y fiable que sea posible.
Apartado 2.5.5
Tabla 2.3 2.31 Determine el error de ganancia de una etapa inversora para procesar ¡;;e-
Ejemplo 2.16 ñales de alterna lf- =1kHz), de ganancia ideal100 que emplea dos re-
sistencias de 100 Q y 10K del 0,2 % de tolerancia, implementada con un
amplificador con GBW = 100 MHz.
Apartado 2.5.5
2.32 Determine el error de ganancia de una etapa no inversora para procesar
Ejemplo 2.16 señales de continua, de ganancia ideal 1000 que emplea dos resistencias
de 100RO y 99K9 (0,1 % de tolerancia), implementada con un amplificador
con A,¡= 100 dB.
Apartado 2.5
2.33 Como consecuencia de los resultados de los Ejercicios 2.32 y 2.33, ¿qué
Ejemplos 2.10 a 2.16 importancia relativa tiene la tolerancia de las resistencias empleadas en
el error total del sistema? Si el coste de los operacionales reales no sufre
incrementos importantes en función de sus características y el coste de las
resistencias crece fuertemente cuando se buscan tolerancias muy baja<;, va-
lore el incremento de coste para obtener mejoras en el error de los sistemas
instrumentales.
Apartado 2.5.5 2.34 Para el caso del Ejercicio 2.28, considere el caso de emplear resi..<;tencias
Figura 2.60
reales, con tolerancias del1% y el 0,1 %.
Ejemplo 2.17 2.35 Para el caso del Ejercicio 2.29, determine el peor caso para la tensión de
salida cuando se emplean resistencias reales del 0,1 % de tolerancia.
Apartado 2.6.2
Figura 2.63 2.36 ¿Qué especificaciones debería tener el operacional de una etapa amplifi-
Ejemplo 2.18 cadora que deba obtener una tensión de 5 V de salida para una tensión
senoidal de entrada de 500 m V y 100 kHz d& frecuencia máxima, con un
Apartado2.7.3 error de ganancia máximo de o:s %?
Figuras 2.68 a 2. 71
2.37 Una etapa amplificadora no inversora está construida con dos resistencias
Tabla 2.4 de 1K y 100K para procesar una señal de entrada de 5 m V a una frecuen-
Ejemplo 2.19 cia máxima de 10kHz con un amplificador que tiene un GBW = 250 MHz
y las siguientes características de ruido: v. = 2,1 JJV (de 0,1 a 10Hz), a.=
5,5 nV·Hz-112 (®1kHz) e r, = 1,1 pA· Hz-112 (®1kHz). Determine el valor
de su relación S/N.
130
Apartado 2.7 .3
2.38 Un sistema amplificador está constituido por dos etapas, una diferen-
Figuras 2.68 a 2. 71 cial que aporta una ganancia de 40 dB formada por dos resistencias de
Ejemplos 2.19 y 2.20 1K y 100K y otra no-inversora de ganancia 10, constituida por dos re-
Tabla 2 .4 sistencias de 1K y 9K. El operacional empleado en ambas etapas es el
mismo y tiene un GBW de 100 MHz. Si la señal diferencial de entrada
tiene un espectro de frecuencias que va desde 100Hz a 10 kHz, una
amplitud máxima de 2mV e incluye un ruido de 3 n V/ Hz-112 con una
frecuencia de corte de 20 kHz, determine la relación S/N si la señal de
entrada incluye un modo común de 2 V a 50 Hz y el operacional tiene
una densidad de tensi6n de ruido de 8,1 n V /Hz-1 12 y una densidad de
corriente de ruido de 1 pA/Hz-1 12, pudiéndose considerar como blanco
en ambos casos. Considere que la temperatura puede variar desde Oa
60°C.
Apartado 2.7 .3
Figuras 2.68 a 2. 71 2.39 Si se desea mejorar la relación S/N del Ejercicio 2.38, ¿qué opciones lepa-
Eje mplo 2.20 recen las más apropiadas?
Apartado 2.8 .1 2.40 Se pretende amplificar una señal de alterna para digitalizarla en un siste-
ma microcontrolador que está alimentado con una única tensión de +3,3 V
que se debe emplear también para la parte analógica con el fin de ahorrar
costes. ¿Qué tipo de amplificador operacional debería usarse? Realice una
búsqueda selectiva entre las opciones disponibles en los principales fabri-
cantes.
_ A
..:partado 2.8 .1 2.41 En la entrada de un sistema de adquisición de datos se deben admitir se-
ñales de hasta 10 V¡; especifique las principales característica<; de los ope-
racionales que se 'Podrían emplear para esta finalidad.
Apartado 2.8 .2
2.42 Realice una búsqueda paramétrica para encontrar un amplificador opera-
Figura 2.77 cional que se utilice en una etapa capaz de amplificar señales de continua
con un valor máximo de 1 mV para conseguir llevarlas hasta 5 V con un
error máximo del1 %.
Apartado 2.8 .2
2.43 ¿Cómo se modificaría el resultado de la búsqueda del Ejercicio 2.42 si se
Figura 2.77 precisa<;e un error menor del 0,1 %? ¿Y para un error de 0,01 %? Si la señal
fuese a representarse en un display de 5 dígitos, ¿cuál sería la solución al
Ejercicio?
Apartado 2 .8 .3
2.44 Una señal instrumental de alterna lleva contenida en su fase la informa-
Figura 2.78 ción que se desea procesar. Para conseguir un óptimo procesamiento debe
ser amplificada con una ganancia de 10. Si la frecuencia de la señal es de
20 kHz, determine la<; especificaciones necesarias para el operacional que
se emplee.
Apartado 2.8 .3
2.45 Se desea amplificar una señal de 10mVPP de alterna hasta con<;eguir un va-
Figura 2.78 lor de 5 VJU.IS' Si In máxitnn frccucncin de In señnl es de 5kHz y se pretende
conseguir un error de ganancia menor que 0,1 %, determine las especifica-
13 1
clones del operacional que se debería utilizar si el procesanúento se hace
en ·una única etapa.
Apartado 2.8.3
2.46 En el caso del Ejercicio 2.45, ¿cómo se relajarían las especificaciones
Figura 2.78 del operacional si se considera el caso de emplear un sistema de varias
etapas?
Apartado 2.8.4 2.47 ¿Qué ocurriría en el caso del Ejercicio2 .45 si la señal pudiese contener una
parte de continua significativa?
132
Tema
Amplificadores integrados
3.1.
3.2.
-
Amplificadores diferenciales
Amplificadores aislados
3.3. Bloques amplificadores auto-compensados
3.4. Amplificadores realimentados en corriente
TEMA 3. AMPLIFICADORES IN TEGRADOS ••
Si bien el amplificador operacional estudiado hasta ahora es un dispositi-

vo monolitico integrado, este tema trata de sistemas un poco más complejos
que constan de uno o varios operacionales integrados junto a otros disposi-
tivos, ya sean activos, pasivos, analógicos o digitales. A menudo, estos siste-
mas pueden alcanzar funcionalidades muy complejas mediante estructuras
que llegan a incorporar un elevado número de bloques electrónicos. Antes de
iniciar el tema animamos al lector a que haga dos cosas: primero, el ejercicio
de imaginar circuitos que pueden incorporar diversas funciones relacionadas
con la amplificación de señales y luego, la tarea de revisar las soluciones que
ofrecen los fabricantes y compararlas con lo imaginado. Seguramente, el lec-
tor llegará a la conclusión de que los fabricantes ofrecen muchas opciones y
estructuras, y que algunas de ella~ casi parecen una solución a la búsqueda de
un problema.
Seguidamente, trataremos de dar una descripción de los casos más genera- Los sistemas de adquisición de
les con los que se puede tropezar en el desarrollo de sistemas instrumenta- datos, tanto en forma de equi-
les, aunque debe quedar claro que hay mucha~ particularizaciones más y que pos específicos como integrados
otras más se irán incorporando. en computadores y similares,
se caracterizan por disponer de
entradas genéricas, capaces de
manejar todo tipo de señales,
tanto referidas a masa como di-
ferenciales.
3.1. AMPLIFICADORES DIFERENCIALES
En el Tema 2 se han estudiado las características reales de los amplificadores
realizados con operacionales y se han delimitado tanto sus prestaciones como
el alcance de sus características a la hora de amplificar señales de continua o
de alterna.
Uno de los ca~s más destacados como típicos en los sistemas de instrumen-
tación es el de encontrarse con la necesidad de amp.lificar señales diferencia-
les; este caso se produce en muchos circuitos propios de sensores resistivos Es normal que dispongan de
varias entrada~ (de ocho en ade-
y capacitivos, pero también es característico de la mayoría de los sistemas de
lante) con campos de medida
adqui~ición de datos. Así, tener una señal diferencial que necesita ser ampli-
y alcances variables por lo que
ficada es un caso habitual en el ámbito de la Instrumentación. Y una señal
estos sL~temas emplean amplifi-
diferencial se puede amplificar de dos formas diferentes: manteniendo su ca- cadores y adaptadores de nivel
rácter diferencial en la salida o convirtiendo la salida en una señal referida a en sus entradas que deben tener
masa. capacidad de manejar todo tipo
Como quiera que ambos casos son muy habituales, se han desarrollado dis- de señales y con diversas ga-
nancia~. El usuario puede con-
positivos monolíticos para esta~ funciones, capaces de evitar algunos incon-
figurar estas etapas según sus
venientes propios de las etapas diferenciales ba~adas en operacionales como
necesidades.
la necesidad de resistencia~ de elevada precisión (y elevado coste). En este
primer apartado se presentarán algunas de estas soluciones monolíticas e,
incluso, otras funciones adicionales incluidas en estos sistemas y que los con-
vierten en bloques capaces de dialogar eficazmente con sistemas digitales
programables.
No obstante, dado el amplio abanico de soluciones disponibles y la especifici-
dad de la mayoría de ellas, el diseñador siempre deberá bucear entre las op-
ciones que proporcionan los fabricantes y seguir sus instrucciones de uso y
cálculo dado que es imposible establecer una teoría general capaz de abarcar
todas esas posibilidades tecnológicas.
135
3.1.1. ENTRADA Y SALIDA DIFERENCIALES
Las señales diferenciales son muy ventajosas a la hora de garantizar una mayor
inmunidad a las perturbaciones externa~ de la información que contienen. Por
tanto son muy útiles tanto en el campo de la instrumentación como en el de la
transmisión de información mediante cable; en el primer caso, suelen amplificar
señales analógicas para con~eguir una mayor amplitud como fin último. En el se-
gundo caso, se amplifican señales digitales para lograr restaurar los niveles que
se hayan perdido por atenuación a lo largo de recorridos relativamente largos.
Medida de corriente mediante El bloque funcional que cumple la mi~ión de amplificar una señal diferencial
sir un-t. y de mantenerla como tal se denomina amplificador de entrada y salida dife-
Para medir corriente se puede rencial (jully differential amplifier) y tiene un símbolo de circuito como el que se
usar una resistencia de bajo va- indica en la Figura 3.1.
lor por la que circule la corriente
a medir y que causará entre sus
extremos una ten~ión diferencial
V 5 proporcional a esa corriente
(Vs = R 5 I). Para evitar que esa
tensión afecte al circt.úto en el
que se está midiendo, debe ser
pequeña por lo que la resisten- Figura 3.1. Símbolo de circuito de un am pli ficador en entrada y sal ida diferenciales.
da Rs tiene un valor óhmico
muy bajo --.:así w1 cortocirct.ú-
Habirualmente la ganancia se fija mediante una red resistiva idéntica en las
to-lo que causa que se necesite
amplificar la señal producida.
dos ramas tal como se muestra en la Figura 3.2.
El nombre de "slrunt" para el R2
sensor resistivo (shunt resis-
tor) viene del verbo inglés "to
shunt" que quiere decir btL~car R1
un camino diferente, y se suele
o-~---CR::1::J---¡-j
aplicar a los cortocircuitos que
se producen y que facilitan ca- ~ Voo
minos de baja o muy baja impe- Vo
dancia para que se deriven por
ellos las corrientes.
R2
Muchas veces estos dispositivos
son sólo un trozo de conductor
Figura 3.2. Apl icación básica de un am pl ificador diferencial en el qu e la ganancia se fija con dos
calibrado o una pista de circuito redes resistivas idénticas.
impreso un poco más larga
La ganancia ideal del sistema viene determinada por el cociente de ambas re-
sistencias, es decir:
R2
G=-
Rl
No obstante, su funcionamiento real viene determinado por las mi~mas limi-

taciones que se comentaron en el Tema 2 para los amplificadores operaciona-
les, aunque dada la aplicación habitual de estos dispositivos en sistemas de
comunicación de alta frecuencia y en convertidores A/D de gran velocidad,
priman las prestaciones en alterna frente a las de continua que suelen ser no
muy buenas. Asf, aspectos como el slew-rate (SR) o el ancho de banda (B) re-
sultan básicos a la hora de elegir los di~positivos correspondientes sin menos-
136
cabo de la CMRR ya que maneja señales no referida9 a masa y sobre la9 que el
modo común puede resultar determinante.
EJEMPL03.1
Se desea amplificar una señal diferencial de 500 m V para conseguir 2 V
de señal también diferencial sabiendo que la señal de entrada incluye
un modo común de 1 V. Si se emplea un amplificador de entrada y sa-
lida diferencial con una CMRR de 100 dB, determine el efecto sobre la
señal de salida.
Solución:
La ganancia necesaria es de 4 (2 V 1 500 m V) con lo que, si se emplea
un dispositivo como el de la Figura 3.2, habrá que elegir resistencias
que cumplan que R2 1 Rl = 4, como por ejemplo, Rl = 1K y R2 = 4K El
sistema quedaría como el que se muestra en la Figura 3.3.
4K
1K
1V
4K
Figura 3.3
Con esa ganancia tan baja, el efecto del modo común va a ser mfnimo; vea-
mos: la ganancia de modo común seria Ac = G 1 CMRR, es decir, Ac = 4-llr
s lo que produce que le modo común añada 40 ¡¡V sobre la salida. Que ese
valor sea un ruido o un error depende de la naturaleza del modo común.
3.1.2. ENTRADA DIFERENCIAL Y SALIDA REFERIDA

AMASA
Una señal diferencial puede transformarse en una señal referida a masa (sin-
gle ended) mediante un amplificador diferencial con un operacional, pero pre-
senta algunas pegas derivadas no sólo del CMRR y de las limitaciones del
propio operacional sino de la tolerancia de las resistencias, tal como se expuso
en el tema anterior (apartados 2.5.4 y 2.5.5).
Conseguir circuitos que funcionen con una precisión aceptable exige el uso
de resistencias de muy baja tolerancia lo que redunda negativamente sobre el
coste final del diseño. Como una primera solución, la posibilidad de integrar
las resistencias sobre el mi~mo substrato de silicio hace que se reduzca fuerte-
nten le las difel'encias enlre ellas y, por la.nlo, se consigan dispositivos muy su-
periores a los que se lograrían con resistencias exteriores pero a un coste más
137
bajo. En esta lfnea, los fabricantes ofrecen algunos amplificadores diferencia-

les integrados con ganancia fij a (Figura 3.4).
R2
R1
~ Vo
-- - J
R1
V R2
--- , ~
Figura 3.4. Ampli ficador diferencial de ganancia fija basado en un operacional en cuyo dado de
silicio se han integrado las resistencias Rl y R2.
Los valores de las ganancias disponibles son diversos según la aplicación a

la que estén destinados; asf, exi~ten ganancias bajas (1, 2, 5 ... ) para uso gene-
ral como entrada de sistemas de adquisición de datos o elevadas (lOO o más)
que se emplean en algunos sistemas de medida como los de corriente median-
te una resi~tencia de shunt. A la hora de usar estos dispositivos no hay diferen-
cias respecto de las expuestas en el caso de los operacionales puesto que, en
realidad, se trata de uno de ellos junto al que se han integrado las resistencias.
EJEMPLO 3 .2 (INA106.pdf y AD8218.pdf)

Se pretende medir la corriente en un sistema eléctrico mediante una re-
si~tencia shunt de 0,1 O. Si la máxima corriente que puede circular por
ella es de 2,5 A y se desea tener una salida máxima de 5 V, diseñe un
sistema para conseguirlo.
Solución:
Si la corriente máxima es de 2,5 A, la máxima caída de tensión en el
sltun.t es de 0,25 V y, si se desea una salida de 5 V para ese valor, la ga-
nancia del amplificador necesario resulta ser de 5 1 0,25 = 20 V /V. La
topología a emplear sería la de un amplificador de entrada diferencial
ya que nada indica que alguno de los extremos de la resistencia de shu.nt
esté referido a masa (Figura 3.5).
Figura 3.5
138
Para esta función se puede usar un amplificador operacional en confi-

guración amplificador diferencial o un amplificador de ganancia fija.
'Una opción mejor por cuanto se reduce el número de componentes ex-
ternos podría ser el INA106 de Texas Instruments que es un dispositivo
de ganancia 10, pero que puede modificarse para aumentar la ganancia
usando dos resistencias adicionales de lOOK (véase Figura 3.6a)¡ otra
opción es el AD8218 de Analog Devices que tiene exactamente esa ga-
nancia y que no requiere añadir ningún componente (Figura 3.6b).
INA10fl 100K 1DOK AD8218
10K
ó v,l ~ 20•V•
-. v,¡
o
~ 20.Y,
10K
V 100K 1DOK
V
.... ....
(a) (b)
Figura 3.6
El lector puede efectuar una búsqueda paramétrica en las páginas de

estos u otros fabricantes para encontrar otra~ posibles soluciones y com-
pararlas desde el punto de vista de prestaciones. En este ejemplo, donde
no se han introducido limitaciones de error, ancho de banda o relación
S /N, cualquier dispositivo sería válido, pero en un ca~o real deberían
tenerse en cuenta estos parámetros. También se debe pensar en torno a
la precisión de las resistencias añadida~ que supone implicaciones ene!
coste total (si son de muy baja tolerancia) y en el error o en la relación
S/N, si no son de tolerancia tan baja.
Como un aspecto básico hay que valorar el efecto del modo comií.n,
máxime en casos de medida en equipos de potencia; una tensión de
modo común elevada podría ocasionar errores y ruidos importantes o,
incluso, ser destructivo para el dispositivo. En el apartado 3.2 se aporta-
rán posibles soluciones a un caso como ese.
3.1.3. BLOQUES AMPLIFICADORES DE GANANCIA

VARIABLE Y PROGRAMABLE
Cuando la ganancia no es fija sino que debe quedar abierta para el di~eñador
o usuario, las estructura~ estándar basadas en un único operacional como las
del apartado anterior no son muy útiles. En tales ca~os se prefiere utilizar tma
topología más compleja que permita variar la ganancia con facilidad. Exiqten
varias opciones para construir un di~positivo de este tipo, pero presentamos
una de ellas en la Figura 3.7, construida mediante tres operacionales.
Este sistema está constituido por dos paqos, de los que el primero constituye una
Pspf>rie dP amplifir,rlor rlP Pntrad;, y s;,lirla rliferPnrial y PI sPeunrlo, una rl>i~ira
etapa que transforma la señal diferencial que le proporciona la primera etapa en
una señal referida a maqa. Explicar el funcionamiento del primer bloque es muy
139
sencillo: supongamos la señal diferencial V0 aplicada a la entrada del sistema;

si consideramos que los operacionales son ideales (Vd= OV), la tensión entre las
dos patillas inversoras es idéntica a la que existe entre las dos patillas no-inver-
soras (V J con lo que esta será la tensión aplicada sobre la resistencia aR.
R
Figura 3. 7. Ampl ificador diferencial de tres operacionales en el que la ganancia sólo depende del
valor de la resistencia a R.
Para obtener la tensión diferencial de salida basta tener en cuenta que la co-
rriente por la resistencia aR es:
Y que esa es la misma corriente que recorre las otras dos resistencias de valor
R (por la~ entrada9 de cada operacional no circula corriente) con lo que:
VD
Voo=R· -+Vo VD= ( 1+-
+R· - 2) ·VD
aR aR a
Así, la ganancia del amplificador depende sólo del parámetro a. A continua-

ción, el segundo paso toma esta señal y la transforma en una señal referida a
masa sin aportar más ganancia (todas la~ resistencias de esta segunda etapa
son iguales) o aportándola mediante resistencia~ diferentes.
Un dispositivo de este tipo recibe el nombre de amplificador diferencial de
tres operacionales o de amplificador de instrumentación (instrumentation.
amplifier) debido a que primero se empezó a usar de forma habitual en apli-
caciones de instrumentación a la salida de los puentes de medida. La forma
habitual en que el fabricante suministra este tipo de dispositivos suele dejar
dos pines de conexión para la resistencia aR que se denomina resistencia de
ganancia (gain resistor) y se denota por RG. También es muy frecuente que las
resistencias de la segunda etapa queden accesibles para que el usuario pueda
añadir más ganancia o eliminar atenuaciones en la salida del dispositivo cuan-
do debe manejar cargas a distancias relativamente larga~. En la Figura 3.8a se
presenta el conexionado exterior disponible mientra~ que en la Figura 3.8b se
presenta el símbolo de circuito típico de este tipo de di~positivos.
140
En la Figura 3.9b se presenta el uso de los terminales de medida y referencia

para reducir este efecto ya que los puntos de realimentación de tensión y la re-
ferencia se toman sobre los propios terminales de la carga; los efectos de caf-
da de tensión producidos por la circulación de corriente quedan reducidos por
efecto de la realimentación (con consideraciones de ganancia Ad infinita, eli-
minados). Sólo queda el efecto de la resistencia de los cables adicionales sobre
la ganancia aunque si las resistencia~ de realimentación son grandes - habi-
tualmente lo son- puede despreciarse en la mayoría de los ca~os.
EJEMPLO 3.3 (1NA111.pdf)

Un sensor que produce una salida diferencial en continua de un máxi-
mo de 100mV tiene en sus proximidades un amplificador diferencial
lNAlll (Texas Instruments) que genera una salida referida a masa de
10 V. Si esta señal se quiere enviar a una carga de 1K situada a 10 m
de distancia mediante cables de 0,5 0/m de resistencia. Determine el
error que se produce debido a los cables y proponga un método pata
reducirlo.
Solucién:
Si utilizamos la configuración estándar para realizar el cometido que se
pide, utilizaríamos la función que propone el fabricante para élegir la
resistencia de ganancia para este amplificador:
SOK
G=l+ -
RG
Como lo que buscamos es una ganancia de G = 10 V 1 100m V= 100,

llegamos a que Re valdrá SOS O. Así, el circuito que tendríamos sería
el de la Figura 3.10, en el que se muestra también la conexión del
cable que conducirá nuestra sefial a 10m de distancia que supone
una resistencia de S O para el hilo de conexión y otro tanto para el
retorno.
0-100 mV .. CCaída de tensión
Vo 5n
l
11
505
~'---=-:--.---~ ~: 5 :----1-d1-,
g : -.... VL
Cables de conexión
¡.. 10m
~1
Figura 3.10. NOTA: los números de los pines corresponden al encapsulado SOIC y los nom·
bres que se muestran para los terminales "Feedback'' y " Ref" son los correspondientes a
"SENSE" y "REFERENCE", respectivamente.
En estas condiciones, la ten~ión que "se ve" en bornes de la carga sería

un poco menor, la que corresponde al divisor resistivo formado por la
propia carga y la~ resistencias parásitas de los cables, es decir:
142
1000
VL = + + V = 0,99010 · V0
1000 5 5 0
Lo que implica un error muy próximo a11 %. Si, por el contrario, la co-
nexión que se efectuase introdujese los cables en el lazo de realimenta-
ción (Figura 3.11) se conseguiría reducir casi en su totalidad el anterior
error.
Las caldas de tensión quedan
dentro del lazo de realimentación
0-100mV
••
,., ....
•
•
• 50 ••
11 •• ••
505
•• 1
•• 50 : 1K
l •
~.. ...........-·•
Cables de conexión
10m
Figura 3.11
Sin embargo, este sistema no está exento de problemas puesto que com-
plica seriamente el cableado al incorporar dos hilos más¡ esto redun-
da en un incremento del coste total que, en caso de mayores distancias
puede resultar muy significativo. Otro a~pecto a tener en cuenta es que
la carga no tiene ninguno de sus dos terminales a masa (en el montaje
anterior tampoco los tenía) lo que puede afectar a la hora de gestionar
la tensión que se desarrolla sobre la carga que intrínsecamente es una
tensión diferencial.
Las no idealidades de los operacionales que constituyen el bloque amplifi-

cador se traduce en limitaciones en su aplicación que vienen definidas por
los mismos factores que ya se estudiaron en el Tema 2 para el caso de los
amplificadores operacionales. Sin embargo, dado que ahora se trata de un
bloque más complejo, la cuantificación final es algo diferente. Asf, la ali-
mentación_ el recorrido de la tensión de salida y el slew-rate se usan exacta-
mente igual que en el caso de los operacionales, pero la determinación de
los errores en continua producidos por el offset y la polarización, el error de
ganancia, el efecto del modo común y el modelo de ruido resultan algo dis-
tintos.
Dado que ni siempre se tiene la misma estructura ni siempre el fabrican-
te da el mismo tipo de información, no se puede establecer una teorfa ge-
neral aplicable a todos los casos, por lo que el lector deberá dirigirse a las
hojas de características del dispositivo que vaya a utilizar para buscar la
forma en que se debe caracterizar su uso en una aplicación concreta. Sin
embargo, a rasgos generales, se pueden proporcionar unas directrices de
cómo determinar las caracterfsticas instrumentales de un amplificador de
este tipo.
143
Error de offset
Aunque la mayoría de los amplificadores de este tipo suelen presentar errores
bajos, siempre hay que cuantificar cuánto valen )~ si fuese necesario, plantear
su compensación. La tensión de desviación de salida se calcula en la mayoría
de los casos en función de dos parámetros, la tensión de desviación en el cir-
cuito de entrada v., y la tensión de desviación en el de salida, v ,.. A partir de
ellos se puede calcular el error total tanto referido a la entrada (RTI, siglas de
Referred-To-lnput) o referido a la salida (RTO, siglas de Referred-To-Output):
Voo
Voffset(RTI) = V¡o +G
Voffset(RTO) = G · V¡o + Voo
Donde G es la ganancia del amplificador. Las corrientes de polarización y des-

viación suelen producir errores despreciables frente a estos de modo que no se
consideran. No obstante, si se qui.:;ieran considerar, habría que añadir su efec-
to al valor de v., en función de las impedancias que se vean desde las patillas
de entrada.
Error de ganancia
El error de ganancia tiene dos causas principales: la primera es la tolerancia de
la resiBtencia de ganancia que introduce una incertidumbre similar en el valor
de la ganancia del sistema; si se quiere reducir el error que eso supone no que-
da más remedio que emplear resistencias de baja o muy baja tolerancia que
añaden un coste adicional al sistema¡ la segunda causa de error es la propia
ganancia del dispositivo que introduce incertidumbre en sí misma y que se ve
afectada por la frecuencia a la que se trabaje.
El concepto de GBW como tal no es siempre aplicable a este tipo de sistemas;
de hecho, los fabricantes suelen proporcionar anchos de banda a 3 dB espe-
cíficos para diversas ganancias, 1, 10, 100, 1000.. . y se puede comprobar que
el producto de la ganancia por el ancho de banda no se mantiene constante
sino que crece a medida que la ganancia es mayor. En caso de que alguna de
esas sea la ganancia de nuestro diseño de amplificador no hay problema y, en
otro caso se puede estimar un ancho de banda mediante interpolación. A ve-
ces se indican otros anchos de banda con menores errores de ganancia tales
como anchos de banda a 1 dB o a 0,1 dB, pero si se desea calcular el error de
ganancia a una determinada frecuencia bastará considerar que el sistema se
comporta como un sistema de orden uno con un polo en la frecuencia que se
especifique. Por ejemplo, si se nos indica que el ancho de banda a 3 dB conga-
nancia 100 es de 40kHz significa que la frecuencia de corte es esa misma. En
términos generales, se puede decir que el sistema se comporta como:
. Gideal
GrealJ(J.)) = 1
1 + j(J.)211:. JC
f'
nonrlP h. PS la frpn,P.nria OP. rortP ienal >~1 ancho rlP handa indicarlo>~ la eanan-
cia G¡.;,.r El error de ganancia a una determinad frecuencia f = (J.) 1 2'11: viene de-
terminado por la diferencia entre los valores de G¡.;,.1 y G,..,,:
144
Gideal
Grea l (f) = r========
Tensión de modo comt:ín

La tensión de modo común se puede incorporar a la salida del amplificador
como un error o como un ruido según sea, respectivamente, de continua o de
alterna. El parámetro que permite cuantificar este efecto es el CMRR, igual que
en los operacionales, aunque en este tipo de amplificadores su valor suele ser
variable en función de la ganancia, creciendo a medida que lo hace la ganancia.
La estimación del efecto se puede hacer de una forma muy sencilla teniendo
en cuenta que la ganancia de modo común es, por definición:
G
Ae = CMRR
Por tanto, la tensión de modo común afectará a la salida según:

G
VoeM =Ve · Ae = CMRR ·Ve
Ruido
El modelo de ruido de un amplificador de este tipo consiste en una tensión de
ruido y 1o densidad de ruido refe.rido(s) a la entrada (RTI), a.1 y el ruido referi-
do a la salida (RTO), a_.. El total de ruido se puede obtener de la suma cuadrá-
tica de ambos términos, ya sea referida a la salida o a la entrada:
Un (RTI) =
Un (RTO) = G2 · 2
CTni + Uno
2
Donde G es la ganancia del amplificador. Puede usarse una expresión similar

en el caso de que se empleen las tensiones de ruido en lugar de las densidades
de ruido¡ fmalmente, el ruido procedente de las fuentes de corriente de ruido
no suele producir efectos significativos por desarrollar sólo pequeñas tensio-
nes de ruido sobre resistencias que suelen ser de bajo valor. No obstante, en el
caso de que se quiera tener en cuenta su efecto bastará considerar que el ruido
siempre es aditivo y que se añadirá al término general en la entrada del dis-
positivo.
Como en el ca~o de los operacionales, la alimentación en el caso de los ampli-
ficadores diferenciales resulta muy importante y las limitaciones que apare-
cían en aquellos también aparecen en estos. Sin embargo, ahora hay que tener
en cuenta algunos a~pectos más por el hecho de trabajar con señales diferen-
ciales. El primer asunto importante es el derivado de las tensiones de modo
145
común; si bien se puede cuantificar su efecto sobre la salida, la condición pre-

via es que no resulten destructivas. Y pueden serlo si se superan los límites
permitidos para el dispositivo que estemos manejando; por tanto, el primer
paso en la selección de un amplificador diferencial es el de garantizar que la
tensión de modo común prevista no supera la máxima permitida por el dis-
positivo.
EJEMPLO 3.4 (AD620.pdf)

Un sensor proporciona una señal diferencial máxima de 20 m V que se
debe amplificar hasta 5 V conservando una dinámica que garantice una
respuesta frecuencial hasta 200 Hz; para ello se emplea un ampliñcador
AD620B de Analog Devices. Si es previsible un acoplamiento de red (50
Hz) a la entrada en modo común evaluable en 1 V P' determine el error
del sistema y la relación S1N.
Solución:
El montaje teórico es muy sencillo. El AD620B es un amplificador dife-
rencial que define su ganancia mediante una resistencia (Figura 3.8) y
el fabricante nos proporciona la expresión que relaciona el valor de esa
resistencia con la ganancia:
49K4
RG = ---,-
G-1
Como la ganancia que necesitamos es de 5 1 0,02 = 250, el valor de

la resistencia resulta ser de 198,39 O . A la hora de escoger la resis-
tencia de entre las reales, se usará la más próxima: en la serie del1 %
de tolerancia, la más próxima es de 200 O, mientras que en series de
menor tolerancia, la más próxima es la de 198 O. Si optamos por una
resistencia de tolerancia 0,1 % el circuito final es el que se muestra en
la Figura 3.12.
+12 V
6
198
1 Vp
50 Hz
-12 V
Figura 3. 12
La primera causa de error es la propia ganancia; el fabricante indica que

para ganancia 100 el error máximo es de 0,15% mientras que para 1000
es de 0,50 %; por interpolación estimamos un error por este concepto de
0,21 %.
1' .l! sevmn;~ c:. us;~ nP Pl'l'Or P.S PI offsPt riPl dispositivo rPfPrirlo ;~ '"' Pntr:.-
da (RTI) viene determinado por la expresión:
146
En el ca~o que nos ocupa, con v~o = 85 pV en el peor de los casos y v,. =
1 mV, tenemos que el total de offset referido a la entrada será de 0,0890
m V que supone un error del 0,45 %.
En total1 al aiiadir el debido a la tolerancia de la resistencia de ganancia,
se tiene un error de 0,1 + 0,21 + 0,45 = 0,76% cuya mayor parte se debe
al offset del di~positivo.
Para determinar la relación S/N hay que tener en cuenta las causas de
ruido: el dispositivo y el ruido de red en modo común a 50 Hz. El ancho
de banda del sistema se puede calcular a partir del GBW y de la ganan-
cia. El fabricante indica que a G = 100, B = 120 kHz y con G = 1000, B =
12 kHz lo que significa que GBW = 12 MHz. Con nuestra ganancia, B =
12M / 250 =48kHz y ENB = 48·1,57 =75kHz.
El ruido total a la entrada es:
2+ (Von) 2
VnRTT = V¡n G
El ruido a la entrada vm es el debido a la densidad de ruido blanco (13

nV·Hz-'12) y el debido al flicker (0,4¡Np)· por tanto, el total será:
2
v¡~ = o,o13 2 • 75ooo + (o,z¡.J2) = 13 1N
El ruido de salida se calcula a partir de la densidad de ruido de salida

(lOO n V·Hz-'12):
vJn = 0,12 • 94000 = 940 ¡!V

El total, referido a la entrada será, según la expresión que antes se indicaba:
750 2
VnRTT = 132 + ( 250 ) = 13,11!V
A la salida, supone un valor de 3;28 m V. El efecto del ruido producido

por el modo común se estima a través de la CMRR (130 dB de continua
hasta 60Hz). La ganancia de modo común resulta ser de 7,9·1Q-5, con lo
que el ruido de red de modo común se transforma en un valor muy bajo
en la salida (79 ¡.NP), mucho menor que el ruido generado por el ampli-
ficador, luego puede despreciarse.
De esta forma el valor de la relación S/N resulta ser:
s¡.J2
S/N = 20 · log 0,00 ZS = 61 dB
3
147
Otra cuestión importante es garantizar que la etapa de entrada de cada opera-

cional que forme parte de la estructura se polarice correctamente. En la Figu-
ra 3.13a se muestra un caso en el que la polarización de las etapas de entrada
está comprometida porque no se permite la circulación de corriente al no exis-
tir un camino claro ha~ta masa. En la Figura 3.13b se proporciona una solución
mediante una resistencia que proporciona el camino para la polarización de la
etapa de entrada. Situaciones como esta~ son causas frecuentes de malfuncio-
namiento de los amplificadores diferenciales.
(a) (b)
Figura 3. 13. Polarización de las etapas de entrada en los amplificadores diferencial es: (a) la pre·
sencia de una fuente de tensión diferencial no garantiza la existencia de un camino para que las
etapas de entrada se puedan polarizar con lo que el dispositivo podría presentar un funcionamien·
to incorrecto; (b) una resistencia conectada a masa (puede ser de un val or óhm ico el evado que
no afecte al resto del circuito) proporciona un camino para que puedan circular las corrientes de
polarizacíón y el dispositivo funcionará correctamente.
En otra línea, el hecho de que la ganancia de un amplificador diferencial pue-

da variarse fácilmente mediante una única resistencia abre las puerta~ a crear
sistemas un poco más complejos que faciliten este cambio sin el uso de com-
ponentes externos. Así, el fabricante puede sumini~trar una serie de resisten-
cias de ganancia ya incluidas en el dado de silicio para que el usuario conecte
aquella que le interese (Figura 3.14).
~
R
-
R
- / R ~
Conexiones en función da
••
la ganancia que se des Ra•
R.,
R
/ R
Roo
/ /' Rcu
\:
~
- R
+ /
Figura 3.14. Amplificador programable por pi n: la ganancia se elige mediante la selección de una
de las resistencias internas disponibles sin necesidad de una resistencia externa específica.
148
TEMA 3. AMPLIFICADORES IN TEGRADOS • •
Este tipo de dispositivos se suelen denominar amplificadores programables

por pin (pin-programmable amplífiers) y facilitan en gran medida el disefío a
costa de reducir los valores de la ganancia a un número reducido de casos que
pueden ser "valores redondos" como 5, 10, 100 .. . Estos amplificadores son los
que se suelen emplear para fijar manualmente determinadas escalas en instru-
mentos de medida.
Pero ¿por qué no dar un paso más? Si se utilizan multiplexadores analó-
gicos (analog multiplexers), es posible seleccionar la ganancia mediante un
código más compacto que emplee menos pines. En la Figura 3.15 se mues-
tra un sistema que permite seleccionar ocho ganancias diferentes con sólo
tres pines en los que se coloca un código digital que varía desde "000" has-
ta "111".
¿Código digital? ¿Hemos dicho "código digital"? La tentación está servida
y seguro que el lector ya está imaginando que es posible que ese código no
se proporcione mediante conexión manual de "unos" y "ceros" en los pines
correspondientes, sino que vengan suministrados por algún tipo de sistema
inteligente como un microprocesador, un microcontrolador o cualquier otro
similar. Un registro, una o varias lineas de selección y tenemos un dispositi-
vo como el de la Figura 3.16 que se puede programar directamente y que es
capaz de recordar la ganancia a la que tiene que trabajar. Estamos en presen-
cia de un amplificador de ganancia programable (programable gain amplífier).
Multiplexadores analógicos
Un multiplexador analógico
~
R
(ana.log trmltiplexer) es uu\ dis-
~~ ~~ positivo capaz de conectar una
+ ¡/ R de las entradas con la salida en
Roo ~~ ~ v función del código que se intro-
~ R~
RQ
duzca en las l.ú1ea~ de selección.
R~
1 A diferencia de los multiplexa-
!IPX
R.,.
~ dores digitales que .realizan
R., W\8 función lógica para generar
~~~
ABC C-
0 O
o O 1
o GO (Roa)
G1 fRru)
1 1
la salida correspondiente, los
analógicos realizan una cone-
xión .real entre entrada y salida
L~
O 1 O G2 (R.,) mediante el uso de puertas de
O 1 1 G3 (RG.'I ) R
1 o o G.< (R.,.) transferencia, un dispositivo
1 0 1 Gs(RG.'l)
basado en dos transistores MOS
~
1 1 O G6 (R")
1 1 1 G7 (Ra7) que presenta muy baja impe-
dancia cuando se activa y muy
Figura 3.15. Amplificador operacional programable por pin con un mul tlplexador analógico. Con
alta impedancia cuando no lo
el código 10 1 que se ha puesto en las entradas se selecciona la conexión de la resistencia R0 , que está.
deter mina la ganancia GS para el amplílicador. El hecho de que las puertas de
transferencia sean bidireccio-
Una vez que el mundo digital ha accedido al núcleo del amplificador, la ex- nales dota al multiplexador de
tensión de funciones es una consecuencia inmediata; de esta forma, algunos esta mi~ma caracterL~tica, lo que
amplificadores programables incluyen sistemas mucho más complejos que los supone que puede circular co-
que se muestran en la Figura 3.16 hasta el punto de que el peso del propio am- rriente en los dos sentidos y, por
tanto, entrada~ y salidas pueden
plificador analógico resulta una mínima parte de toda la superficie de silicio
intercambiar s us funciones. Al-
del circuito integrado. Funciones como el ajuste automático del cero (compen- gw,os multiplexadores muy po-
sación del offset) o el test de funcionamiento son muy habituales en estos sis- pulares son Jos 4051, 4052 y 4053
temas. de la clásica familia CJ.I¡JOS.
149
Superamplificador PGA280
R
Este dispositivo del fabricante
Texas lnstrument~ es un ampli- ~ R ~ ~
ficador de entrada diferencial + >-
¡/ R
que posee una elevada precisión
ya que presenta sólo 3 f.JV de
tensión de offset. Pero sus pres-
taciones no acaban ahí, sino que
Selección de
ganancia
Roo
Ro,
Ro,
Ro,
R
IV
MPX
incluye la capacidad de manejar REGISTRO - 8 a1 Re,
Re•
cualquier ganancia entre 1 y 128, Re•
seleccionable mediante un re- Ro?
gistro de control que le permite Control 1
una comunicación cómoda con
un sistema de control digital.
Su capacidad de reducir fuer-
temente las derivas y algunas
L~ R
ftmciones adicionales como op-

ciones de auto-test hacen de él
un ejemplo de bloque de alta
/
complejidad que permite sim- Figura 3.16. Amplificador de ganancia programable. la ganancia seleccionada se elige mediante
plificar las tareas del diseñador un código almacenado en un registro de t ipo /atch. Un m icroprocesador podría acceder a cambiar
de si5temas de instrumentación. la ganancia sin más que activar la línea de control e Indicar el código correspondiente a la ganan·
cía deseada.
Las opciones disponibles son diversas y, en algunos casos, van dirigidas a

aplicaciones concreta~, de modo que una enumeración de la~ mismas resulta-
ría tediosa y poco práctica; sin embargo, invitamos al lector a ojear las página~
web de los fabricantes para comprobar qué opciones están disponibles en cada
momento. Esto es algo que debe hacerse siempre que se aborda el diseño de
algún sistema mixto, analógico-digital ya que algunos de los bloques comer-
ciales pueden simplificar el diseño al incluir una parte sustancial de la funcio-
nalidad que busquemos.
3.1.4. SISTEMAS AUTO-RANGO
Una de las aplicaciones de los amplificadores programables es la de imple-

mentar siBtemas que sean capaces de adaptar el campo de medida en función
del valor de la variable a medir. Su uso permite aprovechar al máximo las ca-
pacidades de medida y representación de datos al permitir que el conjunto de
posibles valores de entrada se adapte lo mejor posible al campo de medida
(véase el apartado 1.2.1 y la Figura 1.9). Asf, cuando se pretenda medir una
determinada señal, se amplificará más o menos en función de su valor para
conseguir que aproveche el campo de medida; por ejemplo, supongamos que
se tiene un dispositivo que acepta señales entre Oy 2 V y se pretende leer con
él señales que varíen de Oa 200 mV o de Oa 1 V. En el primer caso, una ga-
nancia de 10 produciría un acoplamiento perfecto a las posibilidades de me-
dida mientras que en el segundo, precisaríamos una ganancia de sólo 2. En
un caso como este, un sistema con una cierta capacidad de decisión optarla
por una u otra ganancia en función de cómo sea la señal de entrada. Un sis-
tema capaz de realizar esta función se suele denominar sistema auto-rango
(auto-range).
150
Este tipo de sistemas también permite que las señales no produzcan la satu-
ración de la cadena de procesamiento analógico ajustando la ganancia para
evitar que en algún caso los niveles de la señal traten de subir por encima de
las tensiones de alimentación lo que causaría la di~torsión de la señal. Los sis-
temas de este tipo son algún tipo de control automático de ganancia, CAG
(AGC, de las sigla~ en inglés de Automatic Gaín Control).
Sea por uno o por otro motivo, ambos si~temas precisan evaluar el nivel de la
señal y ajustar la ganancia en función de ese niveL Con amplificadores de ga-
nancia programable, se requiere el uso de algún tipo de sistema microproce-
sador que lea la señal y actué sobre la ganancia: en ca~o de superar el máximo
permitido, bajará la ganancia hasta conseguir que entre dentro del campo de
medida y, en caso de que la lectura sea muy baja, subirá la ganancia, pero evi-
tando que se supere el máximo permitido. En la Figura 3.17 se presenta una
posible implementación de la idea.
CAG
• _ ___,. Los circuitos que realizan un.

Control Automático de Ganan-
cia (CAG o AGC de sus siglas
en inglés, Automatic Gain Coll-
trol) son sistemas que tienen la
capacidad de trabajar con seí\a-
les de valores muy diferentes,
consiguiendo mantener un nivel
L-=f~~~~~~~-~ Señales pera fijar más o menos constante en su sa-
b g~u·\tlneb lida.
La idea es cuantificar el valor
de la salida y utilizar esa cuan-
tificación para ajustar la ganan-
Figura 3.17. Un sistema auto· rango ajusta la ganancia en función del valor l eído hasta conseguir
que se aproveche al máximo las posibi lidades de lectura del sistema que recibe la señal. cia del sistema; de esa forma,
cuando tma señal sea pequeña,
el sistema subirá la ganancia
hasta conseguir subir su nivel,
3.2. AMPLIFICADORES AISLADOS mientras que cuando sea grande
actuará en sentido inverso.
En algunos sistemas instrumentales se pueden producir situaciones desagra- Los sLstemas CAG se emplean
en muchas aplicaciones como la
dables, como la presencia de niveles excesivos de modo común; estos niveles
preamplificación de micrófonos:
pueden comprometer la seguridad de tales sistemas o incluso de los usua- si nos separamos o acercamos al
rios. Situaciones como esta se producen en los sistemas de medida de paráme- micrófono, el nivel sonoro varía
tros eléctricos en donde el sistema instrumental está "conectado" a un sistema y, con él, la señal que se genera.
eléctrico de potencia con tensiones potencialmente altas o muy altas. En otros Al emplear un CAG, el nivel no
casos, aunque el modo común pueda ser tolerado por los sistemas sin poner sufrirá variaciones por este con-
en riesgo su integridad, el efecto que provocan sobre la señal se puede tradu- cepto.
cir en niveles elevados de ruido que degraden la relación S/N hasta valores in- El primer sistema de este tipo
admisibles. En otra~ situaciones, como el caso de electrodos que faciliten la fue aplicado al control automá-
medida de constantes vitales en seres vivos, la presencia de los sistemas ins- tico de volumen en receptores
trumentales puede proporcionar algún camino de circulación de corriente que de radio y fue patentado por
comprometa la seguridad eléctrica del sujeto. Harold Alden Wheeler en 1925.
En estos casos y en otros más sería deseable conseguir una conexión con algún
tipo de aislamiento galvánico que separe el sistema en dos zonas sin contacto
151
eléctrico (.Figura 3.18), la zona primaria donde se desarrolla el proceso de me-

dida y la zona secundaria que recibe esa información.
Un caso muy habitual en el mundo de Jos sistemas instrumentales es el que
se plantea cuando se preciBa leer señales procedentes de varios sensores que
no deben estar conectados galvánicamente entre sí. Si las señales que produ-
cen fuesen tratadas con ampliñcadores tradicionales no se conseguiría evitar
el contacto galvánico entre ellos lo que podría traducirse en perturbaciones
mutuas y la posibilidad de presentar niveles elevados de ruido. El uso de si~
temas que aíslen cada sensor del sistema que recoge todas las informaciones
permite solventar estos problemas y dotar al sistema de un comportamiento
mucho mejor.
Sea cual sea la aplicación o el motivo por el que se empleen si~temas de ais-
lamiento, el mecani~mo que efectúa la separación galvánica se denomina ba-
rrera de aislamiento (isolntion barrier) y es el encargado de soportar la tensión
que exista entre las dos zonas. La máxima diferencia de tensión que puede
soportar la barrera de aislamiento sin producir una ruptura dieléctrica es la
máxima tensión de aislamiento (isola.tíon voltage) que puede ser desde 1 kV
hasta más de 10 kV.
ECG
Cuando es necesario realizar
un ECG (electro cardiograma)
Aislami&nto
galvánico
-¿
a un paciente, se le sitúan una
serie de electrodos en diversos
Setlal •••••• ---· · · · · · •
puntos del cuerpo para medir la
actividad eléctrica del corazón y
determinar su estado de salud.
Esto implica que el paciente está
conectado a un equipo eléctrico
y debe garantizarse que no cir-
MASA1 MASA2
culan corrientes parásitas que Tansión antr& primario y .secunda tio
puedan comprometer su vida
(casos de fibrilación ventricular) Figura 3. 18. Idea general de la transmisión de señales entre dos zonas ai sladas galvánicamente
o contracciones involuntarias de entre sr y que pueden estar separadas por tensiones más o menos elevadas.
los músculos.
El aislamiento eléctrico entre el En el caso particular de que se trate de enviar una señal analógica desde el
paciente y las fuentes de tensión primario al secundario estos dispositivos se conocen como amplificadores de
peligrosa~ es llllil forma eficiente aislamiento (isolntion amplifiers) y tienen un súnbolo de circuito como el que se
de conseguir reducir los riesgos muestra en la Figura 3.19.
de corrientes de fugas que pue-
Primario Secundario
dan ser potencialmente daii.inas. 1
En general, las medidas eléctri- y• Barrera de aislamiento
cas sobre cualquier ser vivo de- + + <>--1+

••
ben preservar este aislamiento
para conseguir que el calificati-
••
vo de "vivo" siga siendo cierto. ••• jv,=A·Vt
v,., L---, (2)
---"""----+-
(a) (b) (e)
figura 3 .19. Amplificadore$ de a islamíen to: (a) sím bolo de circuito con sal ida referida a masa;
(b) símbolo de circuito de un amplificador con salida diferencial; (e) t ensiones en un amplificador
diferencial con ganancia A y que soporta una tensión de aislamiento VtSO·
152
En algunos casos, la ganancia es fija - a veces unitaria- mientras que en

otros es variable dentro de unos determinados márgenes. También es posible
disponer de dispositivos con salida referida a masa (single ended) o con salida
diferencial. La pregunta que nos podernos hacer es cómo se consigue que es-
tos dispositivos envfen una señal desde una zona a otra sin que exista contac-
to galvánico entre ellos. La respuesta no es sencilla; estos sistemas suelen ser
sistemas complejos que pueden llegar a estar implementados sobre tecnología
lúbrida en la que se combinan componentes discretos e integrados. Sin embar-
go, a grandes rasgos, podernos hacemos una idea de cómo funcionan utilizan-
do el diagrama de bloques de la Figura 3.20.
senal modulada senal modulada Distancias y aislamiento
sen al (referida al primario) (referida al secundarlo) Señal reconstruida
(referida al secundario) El diseño de circuitos impresos
= · en(l(;)(;t)
V1
--:.1...0-.t:l~!!!t'~.....- - • ----
e (k,;)(;t) en sistemas aislados es crítico
~)(=~~¡ .. MOD
..__ _ _....
D
~----· ~ 1 1
• L....-...1
.., DEM
1
..
X
puesto que se deben mantener
las distancias entre todos los
puntos del circuito primario y
los del secundario. La~ distan-
Primario
•
Bloque de aislamiento Secundario
cias deben ser lo suficientemen·
te altas como para garantizar
Figura 3.20. Diagrama de bloques de un sistema de aislamiento: la señal de interés se modula que no se compromete el aisla·
(MOD) sobre una portadora de alterna capaz de pasar las barreras de aislamiento capaci tivas o miento galvánico, sobre todo
inductivas: al llegar al secundario se extrae la información de Interés para conseguir reconstituir
teniendo en cuenta que, a veces,
la señal original, pero ahora referida al secundario. Para incorporar ganancia, se puede incluir un
bloque amplificador previo (en el primario) o tras ef demodulador (DEM). debe preservarse el aislamiento
a tensiones elevadas y la proba·
bilidad de que salte un arco o se
El sistema que constituye un amplificador de ai~lamiento incorpora tres blo- produzcan fuga~ es menor a me-
ques básicos: un modulador (MOD), que se encarga de guardar la información dida que aumenta la distancia.
en una señal alterna, un dispositivo de aislamiento que permite dejar pasar
Los conceptos manejados en
esa señal alterna y un demodulador (DEM) capaz de extraer su información
estos ca~os son los de mínima
y reconstituirla a valores idénticos o proporcionales a los de entrada. Obvia- distancia entre puntos (cleara:n·
mente, los siBtemas a uno y otro lado de la barrera de aislamiento requieren ce distance) y distancia o camino
alimentación y esta alimentación no puede ser la m isma para los dos puesto superficial (creepage distance),
que el hecho de compartirla rompería el aislamiento y eso acabaría con la fi- que hacen referencia, respecti-
nalidad del dispositivo. Por tanto, un amplificador de aislamiento precisa dos vamente, a la m!n.ima distancia
fuentes de alimentación aisladas entre sí con las mismas garantías que el pro- entre cualesquiera dos puntos
pio amplificador (Figura 3.21a). Algunos amplificadores aislados solucionan entre el circuito primario y el
este problema al ser capaces de generar por sí mismos tensión para una de las secundario y al minimo cami·
no a través de la superficie del
sistema. La primera sólo se pue-
de incrementar separando los
+ componentes, pero la segunda
puede aumentarse abriendo
(1) (2) (2) ventanas en el PCB, es decir, su-
primiendo el soporte bajo el cir·
cuito entre las dos partes. Esto
tiene la ventaja adicional de evi-
tar la acumulación de polvo o
suciedad bajo Jos componentes
(a) (b) lo que reduce el riesgo de que
Figura 3.21. La alimentación en los amplificadores aislados: (a) sistema con dos conju ntos de
disminuya el camino superficial
fuentes de alimentación aisladas entre sf, una para el primario y otra para el secundario; (b) ampli· entre primario y secw\dario.
f icador que es capaz de proporcionar la alimentación af primario desde la energía proporcionada
por el conjunto de alimentación del secundario.
153
zonas a partir de la alimentación de la otra ya que incluyen un pequeño con-

vertidor CC/ CC conmutado¡ este convertidor suele proporcionar tensión de
alimentación para el primario a partir de la fuente de alimentación del secun-
dario (Figura 3.21b).
Encapsulados de los amplifica- El uso más habitual de los amplificadores aislados es el de utilizarlos en la
dores de aislamiento captación de señales con aislamiento galvánico para llevarlas a algún tipo de
Para preservar las distancias sistema de adqui~ición de datos u otro equipo digital. Lo normal es que se ali-
entre primario y secundario, los menten desde la fuente de alimentación del equipo digital y, por tanto, si dis-
amplificadores de a islamien- ponen de capacidad para alimentar el primario no se precisa ninguna fuente
tos no suelen tener el típico adicional; es más, la fuente interna suele ser capaz de proporcionar potencia
encapsu.lado de Jos demás dis- suficiente como para alimentar algún sistema adicional o los sensores del pri-
positivos integrados sino que mario, tal como se muestra en la Figura 3.22.
presentan habitualmente dos
conjuntos de pines bien separa- Alimentación suministrada por al amplificador (+Vcc) 1
dos entre sí.
+ +
~ ['-........_
} ··
Circuito de
-·
Sensor
Variable de acondicionamiento
y~"'
1 (1) 1 (1 ) ~1(,....
Alimentación suministrada por el amplificador (-Vcc)
PRIMARIO SECUNDARIO
Recordemos que Jos encapsu-
lados de inserción de tipo DIP Figura 3.22. Los ampl ificadores de aislamiento que incorporan convertidores CC/CC tienen capaci·
dad de alimentar los sistemas del primario, incluyendo algunos bloques básicos de p rocesamiento
manejan distancias de separa-
analógico y sensores sencillos.
ción entre pines de sólo 2,54
mm (100 mils) mientras que los
SOIC para montaje superficial En algunos casos, la alimentación del amplificador está aislada tanto del pri-
la reducen a la mitad, distancia~ mario como del secundario, constituyendo una "tercera isla" de tensión; en
que son muy pequefias como tal caso, el dispositivo incluye un pequeño convertidor CC/ CC capaz de ali-
para conseguir garantizar una mentar tanto los circuitos del primario como los del secundario (Figura 3.23a).
buena tensión de aislamiento Este tipo de dispositivos son bastante complejos y tienen aplicación en los
entre los pines del pdmario y casos de medida multiparamétrica en que se quiera mantener el aislamien-
del secundario. to entre todos los sensores y sus correspondientes circuitos y los equipos que
recogen la información que proporcionan (Figura 3.23b). Se les conoce como
amplificadores aislados de tres islas o de tres puertos (three-ports iso/Jition a.m-
plifiers).
Queda por explicar cómo se consigue el aislamiento, es decir, cómo es la ba-
rrera de aislamiento de un amplificador de aislamiento¡ no son muchas las
opciones, pero cabe destacar el uso de condensadores, transformadores u op-
toacopladores (Figura 3.24). En el primer caso no se trata de un verdadero ais-
lamiento galvánico, a pesar de que las dos placas de un condensador tienen
un aislante entre ellas ya que la impedancia que presenta depende básicamen-
te de la frecuencia y podría darse el caso de que se produjesen circulaciones
de corriente denominadas corrientes de fuga (leakage curren.t) entre primario
y secundario. También exi~ten en el caso de los aislamientos basados en trans-
formadores ya que siempre quedan pequeñas capacidades parásitas entre sus
dos devanados. En cualquiera de los casos, los valores que suelen indicar los
fabricantes para estas corrientes resultan pequeños y su presencia no invalida
el uso de los dispositivos como medios eficaces de ai~lamiento.
154
TEMA 3. AMPLIFICADORES IN TEGRADOS • •
.Vro ,.,..,., secundarlo

r - .vro -
R2
L~ ·~
~>
Rt, 1 r
/ -8"
, - - - - + •VooZ
11)
(1)
~~ '17~~ 11)
r
1
Blstems de s«menlaefón
1 1
¡:;- re: (OA)
..
. u ~
r-
.Vro
.vro
!>'>...,., . "'"'.... ,· -
(OA)
R2
L~
FlJENTE AUXI.fi<R (.2)
(.2)
Rf , 1
~.A'
.
f.')'V
>1
1
Bls:rems de a/Orlenlsefón
•
1:;-~ (OA) -
1
.. ., ~
.. G>ID • •
. ~
~
<Vro ,.,..,. 88CUI'Id81fo
(.2)
r- .Vro
-
R2
L~
(o)
(o)
Rt , 1
.
~ . A' l•l'V >1

1
Sistema de a/011enl8ct6n
•
1:;-~ (OA)
1
(a) (b)
Figura 3.23. Amplificadores aislados de tres islas: (a) algunos posibles símbolos de circui to; (b) una aplicación en el que los
amplificadores reciben señales de circuitos aislados galvánicamente y a l os que proporcionan alimentación.
Primario Secundario
X
~¡ MOD
X
::
DEM ~
X
~¡ MOD
H DEM ~
X
x__~-:I_M_o_o_J---'T ;1l fL---IL_oe_M

X
_.J ~
Figura 3.24. Barreras de aislami ento en los amplifi cadores operacionales: de arri ba abajo, ai sla·
mientos capaci tivo, inductivo y óptico. En todos l os casos, pero sobre todo en los dos primeros,
se producen algunas corrientes de fugas. A veces se incorpora una red de realimentación también
aislada que perm ite garantizar que la información que llega al secundario es correcta.
Una vez que se ha decidido emplear un amplificador aislado y de asumir

el incremento de coste que ello supone, es necesario aplicarlo correctamen-
te; en lfneas generales, dado que las estructuras electrónicas que emplean
pueden variar mucho de uno a otro fabricante y de uno a otro dispositivo,
no es posible desarrollar una teoría general que pueda servir de guía, y el
diseñador deberá acudir a las tablas de selección paramétrica de las pági-
nas web para elegir el componente y, luego, a la~ correspondientes hojas de
155
características para definir su forma de funcionamiento. Esto suele resul-

tar relativamente sencillo ya que el único parámetro nuevo que determina
el proceso de selección es la máxima tensión de aislamiento (isolation vol-
tage), V150, que siempre debe ser superior a la máxima tensión prevista en-
tre el primario y el secundario; el resto de parámetros (errores en continua,
comportamiento frecuencial, etc.) es similar a los empleados en los amplifi-
cadores diferenciales que se han analizado en los anteriores apartados, con
la única salvedad del parámetro denominado razón de rechazo del modo
de aislamiento, lMRR o IMR (1solation-mode Rejection Ratio) y que represen-
ta para la tensión de aislamiento lo mismo que el ClltiRR para la tensión de
modo común.
Asf, elJMRR se suele medir en decibelios y representa el efecto que la presen-
cia de la tensión entre el primario y el secundario produce sobre la salida del
dispositivo (Figura 3.25).
o--t+
SEriiAL
(1) V¡so
Figura 3.25. Efecto de la tensión entre primario y secundario sobre la salida por causa del IMRR.
Aunque el valor delJMRR suele ser alto (más de 100 dB en la mayorfa de los
dispositivos) la presencia de tensiones de aislamiento muy elevadas puede
terminar introduciendo señales no deseadas sobre la salida del amplificador
aislado lo que supone un incremento del error en el caso de que sea una señal
continua o una pérdida de relación S/N en el caso de que se trate de un valor
de alterna o de un ruido propiamente dicho. La tensión de aislamiento que "se
cuela" en la salida, V0-1so se determina mediante el lMRR:
V¡so
Vo- Tso = -IM...:.=..:R_
R
Si la tensión de ai~lamiento, V15d es de continua, eso supone un error relativo

que se cuantificará como:
V¡so
E= IMRR
Vomáx
Si la tensión de aislamiento es de alterna - muchas veces es la tensión de red a

50 o 60 Hz- el efecto es un ruido que se añadirá al resto de los ruidos de ori-
gen interno o por acoplamientos externos para configurar la relación S/N fi-
nal del sistema.
156
EJEMPLO 3.5 (AD202.pdf, AD620.pdf)

Un determinado sistema debe recoger señales de muy bajo nivel (como
máximo 1 m V) que permiten conocer algunos parámetros de interés de
la actividad biológica; estas señales deben ser recogidas por un siste-
ma de adquisición de datos cuyas entradas están previstas para recoger
un máximo de 5 V. Para preservar el conveniente aislamiento se decide
emplear un dispositivo AD202 de la firma Analog Devices. Diseñe el
circuito necesario.
Solu.ci6n:
El sistema que se debe diseñar debe tener una ganancia de 5 V /1 m V
= 5000. Este valor queda fuera de las posibilidades de amplificación del
AD202 (máximo 100) lo que obliga a situar ganancia adicional en el pri-
mario o en el secundario.
Como quiera que este dispositivo tiene capacidad de proporcionar ali-
mentación al primario desde el secundario, optaremos por amplificar lo
antes posible, es decir, en el primario.
Para ello utilizaremos un amplificador diferencial de ganancia 500 y de-
jaremos 10 de ganancia para el amplificador de aislamiento (se podrían
aprovechar al máximo los anchos de banda correspondientes poniendo
ganancias iguales en las dos etapas según se explicó en el Tema 2 pero
dejamos esta opción como tarea para el lector). El sistema que hay que
diseñar sería como se plantea en la Figura 3.26, con dos etapa~.
G= 10
Figura 3.26
La ganancia de 500 se obtendría con un amplificador diferencial; aun-

que nada nos dicen acerca de que la señal de que se trate sea diferencial,
esto hace más general el di~eño. Para esta finalidad y a falta de mayo-
res especificaciones de error, ancho de banda o relación S/N se puede
usar cualquier dispositivo; por ejemplo, el AD620 que se empleó en e1
Ejemplo 3.4. Para una ganancia de 500, la resistencia de ganancia será
de 98,998 O, es decir, en series de tolerancia inferior al1 %, RG = 98,8 Q .
A continuación, la ganancia del amplificador aislado con una configu-
ración no inversora se fija mediante dos resistencias, de forma similar a
cualquier amplificador operacional. Para G = 1O, hacemos que RF= 90K
(la condición que se debe cumplir es que esta resistencia sea mayor que
20K, SP.g>Ín SP. mttP,Str:l PO 1:~ Fig.6 dP. Stt hoj:~ dP. C':'lr:'lrtP.ristir:'!S) y Re;=
10K, con lo que el sistema queda como se muestra en la Figura 3.27.
157
AJim&ntación de +7.s V
__,_.:...
15. V
0- 1 mV
Alimentación de-7,5 V
Figura 3.27. Nota: los números de los pines del AD202 mantienen la numeración de un
encapsulado grande aunque sólo se usen unos pocos en los extremos para preservar las
distancias entre el primario y el secundario.
3.3. BLOQUES AMPLIFICADORES

AUTO-COMPENSADOS
Los sistema~ auto-rango y los controles automáticos de ganancia que se pre-

sentaban en el apartado 3.1.4 abren la puerta a pensar en otros sistemas que
pudieran actuar sobre la~ características del amplificador para facilitar la com-
pensación de las desviaciones que presenta en continua. Disponer de un siste-
ma digital puede permitir un proceso de calibración que elimine el offset del
sistema con la consiguiente reducción del error total.
En este apartado se estudiarán dos opciones para ello: la primera está basada
en un tipo especial de dispositivos denominados chopper, mientras que la se-
gunda es virtualmente útil para cualquier tipo de amplificador o sistema de
procesamiento analógico de señal.
3.3.1. AMPLIFICADORES CHOPPER

La idea de los amplificadores chopper es muy sencilla: consiste en medir el error
de offset producido en la salida y restarlo del valor obtenido en cada momento,
con lo que se elimina virtualmente del cómputo total de tensión de salida.
Lo que no es tan evidente es cómo llevarlo a cabo, puesto que el error se suma
permanentemente con la señal y no resulta fácil distinguirlo de ella. Para con-
seguirlo el sistema dispone de dos modos de funcionamiento¡ el primero con-
siste en cortocircuitar la entrada, leer el valor de salida que sólo corresponderá
al error de offset y almacenarlo; mientras, el segundo modo de trabajo se li-
mitará a conectar la señal a la entrada y restar de la salida que se obtenga el
error previamente almacenado. El sistema conmuta entre los dos modos de
funcionamiento con lo que actualiza permanentemente el error de salida al-
macenado; como esta forma de trabajar "trocea" la forma de onda de salida, el
sistema se denomina chopper (troceador).
En la Figura 3.28 se muestra el esquema de funcionamiento de un amplifica-
dor chopper; como se puede observar, una tensión equivalente al error de sali-
da se almacena en un condensador y se resta directamente de la salida.
158
R2
R1 (A)
(B)
Ve ~....JL.<>-----1 Tansión total

de salida
(B)
Tenslóno~t
de salida
(A) (A) R
OSCILADOR
ll
(B i
Ve R1 +R2
R1
R
Figura 3.28. Principio de f uncionamiento de los amplificadores chopper: en f uncionamiento "normal''

(interruptores en la posición A), el condensador e"" almacena la tensión de salida del operacional que
es la su ma de la tensión de entrada ampli ficada y el offset total de salida; en la posición (B) la t en·
y
sión de salida es sólo el offset ya que la entrada es nula se almacena en el condensador e,•.
El ú lti·
mo operacional efectúa la resta de los dos valores para consegui r una señal de salida libre de offset.
La conmutación entre ambas si tuaciones se consigue gracias a la señal producida por el oscilador.
La frecuencia a la que actualiza el error es baja (habitualmente unas centenas

de hertzios) y el tiempo empleado en ello es muy corto en relación con el pe-
riodo total, de modo que el efecto sobre la tensión de salida es pequeño; no
obstante, para evitar que la tensión caiga a cero bruscamente durante estos
cortos periodos de tiempo en los que el sistema está midiendo el error, se di~
pone otro condensador a la salida con lo que se consigue que la tensión de sa-
lida se mantenga prácticamente constante.
Los primeros amplificadores cl!qpper llevaban los condensadores externos (el
que mantiene la tensión de error y el que mantiene la de salida) pero, en la
actualidad, ca~i todos ellos suelen estar integrados en el propio silicio con lo
que el usuario puede no llegar a saber que está usando un amplificador cho-
pper ya que en el resto de prestaciones no se diferencia mucho de un operacio-
nal estándar excepto por su extraordinariamente bajo offset y por sus escasas
derivas, tanto térmicas como a largo plazo. De hecho, algunos fabricantes
"ocultan" el funcionamiento del di~positivo y sólo con la lectura de la "letra
pequeña" de las hoja~ de características se descubre que es un amplificador
chopper. Calificativos como auto.zero o auto-zeroing (cero automático) o sin de-
rivas (zero-drijt) para un amplificador operacional son pistas para comprender
la estructura de estos dispositivos. También valores de offset muy bajos (por
debajo de 5 ¡tV) suelen ser propios de los amplificadores chopper.
En cualquier caso, salvo que los condensadores sean externos y el diseñador
deba incluirlos en el sistema, el uso de los amplificadores chopper no se di-
ferencia en nada respecto de los amplificadores operacionales con lo que el
usuario podría olvidarse del asunto y no tener en cuenta que no está usan-
do un operacional normal sino un integrado mucho más complejo; tal vez, los
159
únicos aspectos adicionales que hay que tener en cuenta son, por un lado, la
distorsión que introduce al trocear la señal y; por otro, la limitación en la fre-
cuencia de trabajo, aunque esto está implícito en la propia aplicación, circuitos
de alta precisión en continua.
3.3.2. SISTEMAS PARA LA COMPENSACIÓN DE ERRORES

Relés reed El mismo proceso que se emplea para "anular" el error de offset en los ampli-
Cuando hay que realizar cone- ficadores clwpper se puede emplear en cualquier tipo de amplificador siempre
xiones o conmutaciones entre que la señal vaya a parar a algún tipo de sistema digital. En tales casos, es po-
ctiversos puntos en sistemas ins- sible que el sistema elimine el error offset mediante un proceso de calibración
trumentales se suele recurrir al que suponga el cortocircuitado de la entrada y la lectura de la señal de sali-
uso de pequeños relés (relf¡ys). da en ese caso. Este valor será el error de offset que puede almacenarse en una
La ventaja del uso de relés res- variable digital)', luego, con el di->positivo funcionando en modo normal, ser
pecto de Jos multiplexadores ra-
restado de cada valor leído (Figura 3.29).
dica en la bajísima impedancia
del contacto, aunque presenta R2
algunos problemas, como una
mayor lentitud (es un sistema R1 (A)
mecánico) y una cierta degrada-
ción progresiva de Jos contactos
(la vida de un contacto se mide
.L <!!!,
(A)
~
en número de conexiones y des-
conexiones).
Los relés reed están constitu.i-
Ve
•
~
(Bl
/
dos por dos láminas de material CONTROL Entrada
analógic a
magnético sobre las que se actúa
mediante una bobina sin nin- Var lable1 Val or total (señal + offset)
gún tipo de armadura acticional Var iable 2 Valor del otts.t
como en los demás relés. Esto
les dota de mayor rapidez y el Var iable 3 • Var iable 1 - Variable 2
hecho de que estén encapsula- Figura 3.29. Un sistema digi tal puede hacer las mismas funciones que un amplificador chopper
dos al vacío en el interior de una ya que puede actuar para cortocircu itar la entrada y así poder leer el valor del offset de salida del
ampolla de vidrio les preserva operacional. Tanto el valor total (Variable 1) como el offset (Variable 2) se almacenan en sendas
de la degradación y de la corro- variables y de su di ferenci a se puede obtener el valor "verdadero" (Variable 3).
sión. Así, el uso de relés de este
tipo es frecuente en sistemas de Este procedimiento constituye un proceso de auto-calibración (seif-callíbra-
instrumentación para calibration), propio de un buen número de sistema-> instrumentales. En algunos ca-
ción, selección de canales, etc. sos, como el de las báscula., de pesaje, la auto-calibración incluye una primera
lectura del valor sin peso lo que permite concoer el desplazamiento de nivel
debido a cualquier causa - más allá del propio error de continua de los ampli-
ficadores operacionales-- y eliminarlo. En este caso, el nombre del error es el
de tara (ta.re) y su obtención constituye el primer paso en el funcionamiento de
muchos sistemas de medida. Con este nombre o con otros que dependen del
ámbito en el que se desarrolle la medida (hacer un b lanco, hacer el cero, etc.)
este procedimiento automático resulta una forma de calibración a un punto si-
milar al que se explicó en el apartado 1.2.3.
En todos estos sistemas se precisa controlar la conexión de señales analógica.,
a uno u otro punto; esto se puede llevar a cabo mediante multiplexadores ana-
lógicos o mediante relés encapsulados al vacío que permiten gran rapidez de
conmutación y una larga vida útil de sus contactos.
160
3.4. AMPLIFICADORES REALIMENTADOS

EN CORRIENTE
Como se explicó en el tema anterior (apartado 2.1.2) no todos los amplificado-

res realimentan la tensión de salida; aunque esa es la forma más habitual de
trabajo y constituye el núcleo mayoritario de los amplificadores operacionales
- los amplificadores operacionales realimentados en tensión (voltage feedback
opera.tioML am.plifiers)-- exi~ten algunos que trabajan en corriente. Son los am-
plificadores operacionales realimentados en corriente (current feedback opera-
tional am.plifiers)¡ los primeros suelen denominarse simplemente operacionales
ya que se sobrentiende que es lo habitual mientras que los segundos siempre
tienen un nombre que incluye algún calificativo adicional que permita distin-
guirlos.
3.4.1. FUNCIONAMIENTO DE LOS AMPLIFICADORES El primer amplficador reali-

REALIMENTADOS EN CORRIENTE (CFA) mentado en corriente fue co-
mercializado como circuito de
tecnología h!brida en 1982 (EL
Los amplificadores operacionales realimentados en corriente fueron desarro-
CLC103) por David Nelson de
llados por David Nelson a principios de los años ochenta del pasado siglo la empresa Comlinear Corpora-
(la patente data de 1983) aunque la comercialización como circuito integra- tion; la patente se presentó más
do monolítico no llegó hasta 1987. El modelo básico de un amplificador reali- tarde (1983), firmada por el pro-
mentado en corriente es el que se presenta en la Figura 3.30 y dispone, como pio D. Nelqon y Kenneth Saller.
el operacional "tradicional", de dos entradas (inversora y no inversora) y una Esta misma empresa comenzó la
salida. comercialización de un CFA mo-
nolitico sobre silicio en 1987, a la
vez que la empresa Elantec.
En la actualidad, Comlinear per-
tenece a Exar y Elantec ha sido
Vo adquirida por lntersil en 2002
por 1400 millones de dólares
para extender sus áreas de nego-
cio al campo analógico.
Hoy en día, la mayorfa de los
CFAs son fabricados por "los
grandes" de la electrónica ana-
Figura 3.30. Modelo básico de un ampl ificador realimentado en corriente (CFA). lógica, Texas Instruments y
Analog Devices, aunque su apli-
cación no ha sido tan amplia
La idea de su funcionamiento es bastante simple: la corriente de entrada IE es
como se prometía en sus inicios.
amplificada con una ganancia de transresistencia R para proporcionar la ten-
sión de salida Vo. Si la corriente de entrada depende de la tensión de salida, el
lazo de realimentación se cierra y el dispositivo funcionaría con una tensión
de salida dependiente de la tensión de entrada con una ganancia que depen-
dería del lazo de realimentación.
Para conseguir este funcionamiento, la impedancia de la entrada no inverso-
ra debe ser muy alta, Jo que se consigue con el buffer de ganancia unitaria si-
tuado en esa entrada, la resistencia de salida de ese buffer, R08, debe ser muy
baja y la resistencia de salida del propio dispositivo, RO' es tan baja como en
los operacionales clásicos. Al realimentar el circuito con dos resistencias RG y
161
Rr. tal como se muestra en la Figura 3.31 y suponer muy bajas (nula~) la~ resis-
tencias de salida del dispositivo y del buffer, tenemos que la tensión en las dos
entradas es la misma, con lo que:
Ve
1¡; = -
R,..
El balance de corrientes en la patilla inversora produce:

Ve Vo- Ve
1¡; = 1¡; -IG = R¡;- RG
Como quiera que la tensión de salida depende de TE, (Vo = R·1E), tene-
mos que:
Vo Ve Vo-Ve
- =- -
R R¡; RG
De donde se obtiene la relación entre la tensión de salida y la de entrada:
R,..+RG
Vo = ~R~~~FR""G~ . Ve
R
Rr. 1r. ve
~ Vo
~ Re. • O
Figura 3.31. Real imentación de un CFA. Con las suposiciones de que las resistencias de sal ida del
dispositivo y del buffer son nulas, el esquema se reduce al que aparece a la derecha.
Con R >> RG' es decir con una elevada ganancia de transimpedancia (trans-
resistencia) en relación con la resistencia RG, la expresión anterior se aproxi-
maa:
R¡;+RG
Vo= ·Ve
R,..
Que es idéntica a la que se tiene para un amplificador no inversor realiza-

do con un operacional tradicional (realimentado en tensión con Rl = ~ y R2
= RG). Llegados a este punto, la pregunta que nos podemos hacer es eviden-
te: ¿para qué todo esto si el dispositivo funciona igual que los ya conocidos?
También es posible preguntarse si el di.~positivo se comportará igual con una
estructura inversora como la de la Figura 3.32.
162
¡0 Ro
Vo
Figura 3.32. CFA conectado como inversor de tensión.
Como antes, el balance de comentes en el nodo correspondiente a la patilla in-

versora es:
Con la misma consideración que antes de que Vo =R-IEse llega a:

Re
RF
Vo=- ·Ve
R+Re
R
Nuevamente, con la consideración de un amplificador ideal en el que R >> RGt

tenemos que:
Re
Vo=- - ·Ve
RF
Lo que supone una expresión análoga a la que se tenía para el amplificador in-
versor basado en operacionales realimentados en tensión. No parece que este
dispositivo suponga una novedad ...
Sin embargo, esto sólo es una primera impresión; consideremos que el com-
portamiento del dispositivo no es del todo ideal sino que el valor de su ganan-
cia de transimpedancia R tiene limitaciones frecuenciales similares a las tiene
la ganancia diferencial de cualquier operacional realimentado en tensión. Pues
bien, la condición que exigimos para que el análisis hecho hasta aquí sea co-
rrecto es que el valor de la resistencia RG sea menor que R (Figura 3.33), con-
dición similar a la empleada en el caso de los amplificadores operacionales
realimentados en tensión en los que se obligaba a que G > Ad. El ancho de
banda a 3 dB llegará hasta la frecuencia en que esto se cumpla.
Pero en estos dispositivos la ganancia de tensión no sólo depende de RG sino
de RF con lo que ancho de banda y ganancia de tensión no van de la mano,
como en los amplificadores realimentados en tensión en los que el produc-
to de la ganancia por el ancho de banda se mantenía constante; idealmente,
se podría obtener cualquier ganancia para un ancho de banda determinado.
Sin embargo, todo esto tiene limitaciones ya que el valor de Rr no puede ba-
jarse indefinidamente puesto que para ser válidas todas la~ suposiciones he-
chas has la altora su valor debe ser supel'ior al de la resislencia R 08 (Fi~ura
3.31). En cualquier caso, aun con estas limitaciones, para una misma ganan-
163
cia, los amplificadores realimentados en corriente pueden alcanzar un ancho

de banda casi dos veces mayor que los equivalentes realimentados en tensión
Jo que los hace especialmente útiles en aplicaciones de alta frecuencia. De he-
cho, algunos dispositivos que el fabricante presenta como amplificadores ope-
racionales clásicos son, en realidad, dispositivos evolucionados de los CFA o,
simplemente, CFA. El hecho de que las expresiones que determinan la ganan-
cia ideal sean las mismas en Jos dos casos contribuye a generar una cierta con-
fusión y hace creer que se trata de dispositivos similares cuando realmente no
Jo son.
20·1og R
Ro +--~
B log f
Figura 3.33. El ancho de banda en los CFA ideal es sólo depende del valor de la resistencia R0
mi entras que la ganancia depende de R0 y de R, lo que establece una cierta separación entre el
ancho de banda y la ganancia, a diferencia de lo que ocurre en los amplít icadores realimentados
en tensión.
Aunque estos dispositivos puedan parecer muy sencillos a la hora de utilizar-

Jos para alguna aplicación, lo cierto es que el análisis realizado hasta aquí está
muy idealizado y asume que la resistencia R08 es prácticamente nula lo que no
es cierto en la práctica; esto implica que en una aplicación real el valor de Rr
no es libre sino que presenta importantes restricciones, limitaciones que afec-
tan a la estabilidad del dispositivo. Por tanto, a la hora de di..eñar con un CFA
se debe atender a las recomendaciones del fabricante sobre el valor de esta re-
sistencia que indicará qué valores son los más apropiados para exprimir sus
máximas prestaciones frecuenciales.
3.4.2. COMPARACIÓN ENTRE LOS OPERACIONALES

REALIMENTADOS EN TENSIÓN Y LOS CFA
Se considera que los CPA son m uy superiores a los operacionales realimenta-

dos en tensión en cuanto a sus prestaciones en frecuenciales pero hay que ha-
cer una serie de matizaciones sobre esta idea:
• Las limitaciones en los valores de las resistencias implicadas en la ganancia,
Rr- y Re impiden conseguir valores altos de ganancia por lo que las aplica-
ciones de estos dispositivos se limitan a casos en los que las ganancias sean
bajas.
• Con estas limitaciones de ganancia, los CFA permiten obtener mayores an-
chos de banda que los equivalentes realimentados en tensión con Jo que se
puede alcanzar un producto ganancia-ancho de banda más elevado.
164
• El valor del s/ew-rate puede ser muy alto en los CFA, alcanzando varios mi-
les de voltios por microsegundo lo que los hace muy útiles en aplicaciones
en los que la tensión de salida y la frecuencia son altas.
• El especial diseño de la etapa de entrada reduce las prestaciones en conti-
nua ha~ta el punto de que quedan comprometidos los valores de la tensión
de offset. Esto redunda en elevados errores en continua e impide la apli-
cación de los CFA en los casos en que se exija un buen comportamiento en
este sentido.
Por otro lado, el ruido total en sistema~ basados en CFA es un aspecto a cuidar
puesto que los elevados anchos de banda di~ponibles producen niveles altos
de ruido y la correspondiente caída de la relación S/N.
A modo de resumen, aunque el potencial inicial de los amplificadores rea-
limentados en corriente fuese muy grande para conseguir compatibilizar
la ganancia con grandes anchos de banda, el comportamiento real presen-
ta un elevado número de limitaciones que termina por no conseguir tanta
ventaja sobre Jos realimentados en tensión. Esto suele desanimar a los di-
señadores que perciben los CFA como una fuente de problemas, un siste-
ma que presenta gran cantidad de limitaciones y sólo sirve para casos muy
concretos.
Si a esto añadimos el hecho de que estructuras derivadas de Jos CFA se termi-
nan disfrazando como amplificadores realimentados en tensión para lograr
valores de GBW superiores a los 3 GHz, el terreno disponible donde los CFA
son superiores se reduce notablemente, quedando restringida~ -en lfnea~ ge-
nerales- a amplificación de señales UHF y de lineas de transmisión de datos,
aunque podemos encontrarnos con aplicaciones de instrumentación muy es-
pecíficas en las que son opciones válida~.
165
RESUMEN
Aunque Jos amplificadores operacionales constituyen una solución genérica
para la gran mayoría de los problemas de amplificación de señales, existen al-
gunas funciones, como la amplificación de señales diferenciales que requieren
algunas exigencias adicionales, como la necesidad de resistencias bien pareadas
o el uso de varios dispositivos. Por este motivo, algwtas de estas topologías se
suministran integradas sobre un mismo substrato de silicio y constituyen un blo-
que funcional en sí mismas. Son los casos de los amplificadores de entrada y
salida ctiferencial y los amplificadores de entrada diferencial y salida referida a
masa, ya sean formados por un único operacional o por estructura~ más comple-
jas, como la clásica topología de tres operacionales.
Este último, el amplificador con tres operacionales, presenta Wta gran ventaja
para el diseñador ya que es capaz de proporcionar una ganancia definida úni-
camente con el valor de una resistencia, la resistencia de ganancia. La misma
estructura abre la puerta a nuevas realizaciones que permitan tener un abanico
de valores de ganancia ya definidos mectiante resistencias integradas; el disena-
dor sólo debe hacer Wta conexión externa que elija una de esas resistencias para
conseguir la ganancia que busca. Son los amplificadores de ganancia programa-
ble por pin. El siguiente paso es evidente: aprovechar esta posibilidad para que
esas "conexiones" las realice un multiplexador analógico mediante un código
binario; así tenemos el amplificador de ganancia programable cuya estructura
puede evolucionar hasta donde la imaginación Uegue con registros, funciones
adicionales, etc.
Estas topologías permiten la entrada de las tecnologías digitales al mundo analó-
gico y permiten multiplicar la funciottalidad de los amplificadores de señal con
capacidad de auto-test, auto-rango. sistemas automáticos para el control de la
ganancia, corrección del offset y derivas, etc. Estas capacidades pueden Uegar a
estar incluidas en los propios dispositivos o, simplemente, se facilitan desde el
integrado a los dispositivos ctigitales exteriores.
En algw1as ocasiones, se pueden presentar niveles de tensión de modo común
inaceptables para uno de estos dispositivos; en esos ca~os, el amplificador aisla-
do resuelve el problema. También es muy útil cuando se necesita evitar que el
sistema de rnecUda esté en contacto galvánico con el punto sobre el que se está
efectuando la mecUda, como en los casos de instrwnentación para aplicaciones
médicas o en aplicaciones eléctricas o electrónicas de potencia. No exL~te una
topología genérica para los amplificadores aislados, de modo que habrá que asu-
mir las concticiones específicas de cada dispositivo cuando se vaya a utilizar.
Para termlnar este tema se han analizado unos di~positivos específicos que caben
dentro del concepto de "amplificadores operacionales" pero que presentan algu-
na~ particularidades. Los primeros son los amplificadores que tienen capacidad
de medir el propio offset y compensarlo; son los amplificadores cltCYpper que se
usan corno operacionales normales pero que presentan excelentes prestaciones en
continua. Existen otros dispositivos que, a diferencia de Jos estudiados en el T~rna
2, no realimentan la tensión de salida sino que realimentan la corriente. Aunque el
comportamiento final de los operacionales realimentados en corriente se traduzca
en w1a expresión para la ganancia análoga a la que presentaban los realimentados
en ten<>ión, su forma de trabajar desvincula en cierta medida el ancho de banda de
la ganancia, lo que proporciona mayor versatilidad en alta frecuencia.
166
Apartado 3.1.1
3.1 Se desea añadir una ganancia de 6 dB a una señal diferencial que varía
Figura 3.2 entre 500 mV y 1 V y cuya banda de frecuencia<; abarca desde 1 a 10 lvlHz.
Ejemplo 3.1 Diseñe un circuito para este fin y proponga un amplificador de entrada y
salida diferencial con el que pueda implementar esa función.
Apartado 3.1.1
Figura 3.1 3.2 ¿Cómo podría realizar un amplificador de entrada y salida difeTencial de
Ejemplo 3.2 ganancia 15 con un dispositivo como el de la Figura 3.34? ¿La tolerancia
de los componentes externos añadidos compromete las prestaciones del
conjunto?
100K
10K
r+---...
10K ~
V
100K
>
Figura 3.34
Apartado 3.1.2 3.3 Un puente de medida para un determinado sensor está alimentado en
alterna a 50kHz y produce una tensión diferencial máxima de 2 m V (a
50kHz). Si se pretende conseguir una ten.~ión de salida de 5 V referida a
ma5a con un error menor dell %, determine. las prestaciones que debería
exigir al bloque amplificador necesario.
Apartado 3.1.2 3.4 En el ca~o del problema 3.3, realice una búsqueda paramétrica para en-
contrar soluciones válida<; basadas en el empleo de un único amplificador.
¿Exi<;ten dispositivos comerciales capaces de satisfacer esas especificacio-
nes? En caso negativo, valore la posibilidad de dividir la ganancia entre
dos o más etapas, de las cuales la primera seria la de entrada diferencial.
Apartado 3.1.3
Figuras 3.8 y 3.10 3.5 Un puente de continua produce una salida diferencial máxima de 1 m V
Ejemplo 3.3 con un modo común de continua de 5 V. UtiliZando el INA111, determine
el error máximo producido cuando se trata de conseguir una señal referi-
da a masa con un valor máximo de 100 m V.
Apartado 3.1.3
Figuras 3.5 y 3 .8 3.6 Se pretende medir la corriente que circula por una determinad sección
Ejemplos 3.2 y 3.4 de un sistema electrónico mediante una resistencia shunt que entrega un
máximo de 0,2 V. Si la medida debe tener una banda pasante desde con-
tinua hasta 1 kHz, desarrolle un sistema para proporcionar una tensión
máxima de 5 V.
Apartado 3.1.3
Figura 3.12 3.7 Si en el sistema del problema 3.6, puede haber presente una tensión de
Ejemplo 3.4 modo común de 10 V y 50 Hz, determine In relación S /N cuando se em-
plea un AD620 para realizar el montaje.
167
Apartado 3 .1.4
3.8 Un sistema de adquisición de datos debe tener dos campos de medida
Figuras 3.14 a 3.17 de tensión: de Oa S V y de Oa SOO mV. La tensi6n que se debe obtener en
todos los casos debe estar comprendida entre O y 5 V. ¿Qué ganancias se
necesitarían para cada ca<;o? ¿Cómo se podría realizar un montaje con un
único amplificador?
Apartado 3.2 3.9 ¿Qué modificaciones propondría a un sistema de adquisición de datos

como el del problema 3.8 si se quisiese garantizar que soporte un modo
común muy elevado?
Apartado 3.2
3.10 Realice una búsqueda de amplificadores aislados en las páginas web de
Figuras 3.19 a 3.22 Analog Devices (w-v.rw.analog.com) y de Texas Instruments (www.ti.com).
¿Qué opciones hay di<;ponibles? Observe especialmente los encapsulados
que se utilizan y las necesidades de alimentación.
Apartado 3.2
Figura 3.25 3.11 Con un amplificador aislado AD202 realice un sistema para amplificar
Eje mplo 3.5 una señal de 200 m V con un modo común de 400 V a 50 Hz hasta conse-
guir una salida en el secundario de S V. ¿Qué efecto tiene el modo común
sobre la salida? Este efecto ¿debe ser considerado como un error o como
un ruido?
Apartado 3.2
Figura 3.22 3.12 Si en el problema anterior la señal fuese mucho más pequeña hasta dejar
Eje mplo 3.5 la ganancia necesaria fuera del alcance del AD202, ¿qué alternativas po-
dría utilizar para resolver el problema?
Apartado 3 .2
3.13 Se pretende recoger varias señales de sistemas no conectados galvánica-
Figura 3.23 mente entre sí para llevar sus señales a un único sistema que las recoja.
Si se desea preservar el aislamiento galvánico entre todos los circuitos,
proponga un sistema con amplificadores aislados de 2 y tres islas.
Apartado 3.3.1
3.14 El OPA73S (véase opa735.pdf) es una amplificador chopper que corrige el
F"igura 3.28 offset cada 100 ~Ls. Determine el máximo offset de entrada para una banda
de trabajo desde - 25 a +60 oc y compárelo con el que se produce en un
operacional de precisión estándar como el OPA277 (opa277.pdf). Nótese
que aunque este último es uno de los mejores amplificadores operaciona-
les que no es de tipo chapper (el offset se ha reducido al mínimo mediante
láser), el primero produce mejores resultados.
Apartado 3.3.2
3.15 Partiendo de una señal de control, ¿cómo diseñaría un sistema para com-
Figura 3.29
pensar el offset de un amplificador operacional?
Apartado 3.4 3.16 Efectúe una búsqueda para tratar de encontrar el mejor operacional desde
el punto de vista de su ancho de banda. La solución que encuentra, ¿es del
tipo realimentado en tensión o de tipo CFA?
168
Tema
iltros activos
4.1. Generalidades
4.2. Diseño de filtros activos con operacionales
4.3. Otros tipos de filtros activos
TEMA 4. FILTROS ACTIVOS ••
En la linea de procesado de una señal analógica, el primer paso habrá sido

amplificar. Siempre es conveniente amplificar para conseguir sefíales más po-
tentes capaces de soportar mejor las inclemencias de ambientes electromagné-
ticamente agresivos y salvaguardar así la información que contengan. Tra~ el
proceso de amplificación se habrá obtenido un circuito con un error total aco-
tado; sin embargo, esto suele llevar con..c;igo trabajar con anchos de banda muy
superiores a los que se podrían requerir inicialmente.
¿Es bueno trabajar con anchos de banda superiores al necesario? La respues-
ta es negativa ya que dejar espacio en el espectro de frecuencias para señales
que no son lac; involucradac; en el procesamiento de la información que nos in-
teresa sólo trae consigo la posibilidad de que "se cuelen" señales no deseadas.
En resumen, los sistemas deberían estar previ~tos para procesar sólo las seña-
les que nos interesan ya que cualquier otra señal adicional sólo contribuye a
incrementar el ruido y, en consecuencia, a disminuir la relación S/N del siste-
ma. El lector debe entender la diferencia que existe entre el objetivo genérico
de con..c;eguir amplificadores de gran ancho de banda y el de ajustar el ancho
de banda sólo a la zona de interés. Perseguir lo primero - tratar de conseguir
amplificadores con gran ancho de banda- abre las puertas a procesar sefíales
de muy alta frecuencia. Usar un ancho de banda excesivo para nuestras seña-
les abre la puerta... al ruido.
¿Cómo con..c;eguir un ancho de banda apropiado para nuestra<; necesidades?
Los filtros son la respuesta en muchos casos, circuitos que se emplean para re-
cortar el ancho de banda al estrictamente necesario y reducir la posibilidad de
que señales no deseadas pasen a formar parte de la información que maneja-
mos. En este tema se tratará un tipo de filtros muy frecuente en los sistemas
instrumentales, el filtro activo, formado por algún tipo de dispositivo activo
-generalmente un operacional- junto con resistenciac; y conden..c;adores.
Pero un filtro activo no está dotado de inteligencia sino que sólo discrimina las
señales que deja pasar o que bloquea en función de la frecuencia por lo que su
capacidad de separar lo deseado de lo no deseado sólo puede hacerse en fun-
ción de este criterio. El filtrado, en líneas generales, es un ac;unto mucho más
amplio que el tratado en este tema y puede llegar a involucrar a sistemas tan
complejos como procesadores digitales. Tampoco su aplicación se circunscribe
sólo a la mejora de la relación S / N sino que puede tener otros objetivos.
4.1. GENERALIDADES
Existen muchos tipos de filtros en función de cómo se implementen, desde los
formados sólo por componentes pasivos hasta los realizados mediante com-
plejas funciones matemáticas en los procesadores digitales de señal (DSI'). No
sólo se usan en el ámbito de la Instrumentación Electrónica sino que son muy
frecuentes en el campo de la Electrónica de Potencia y en el de la Telecomuni-
cación. Cada una de esas áreas impone condiciones adicionales que obliga a
elegir una u otra forma de implementarlos. Por ejemplo, si estamos diseñan-
do un filtro para suprimir la frecuencia de conmutación de un convertidor de
alta potencia, con corrientes de muchos amperios, no deberíamos usar nin-
17 1
gún tipo de componente disipativo -como las resistencias- so pena de que-

rer convertir el filtro en una especie de estufa para el invierno debido al calor
disipado por efecto Joule.
En este tema nos centraremos exclusivamente en los filtros activos para pro-
cesamiento de señales de instrumentación, con objetivos diversos, pero fun-
damentalmente enfocados a mejorar la relación señal-ruido. Esta mejora pasa
por reducir el ancho de banda al minimo necesario para procesar correcta-
mente la información, lo que se hace mediante sistema~ que pongan algún lí-
mite por arriba y 1o por debajo a las frecuencias que deja pasar.
Cajas acústicas Desde este punto de vi~ta - cómo recortan la banda pasante-- hay cuatro ti-
Las cajas acústicas empleadas pos de filtros:
como salida de sonido en los • Filtro de paso bajo o filtro pasabajos (low pass filter) que pone un límite
equipos de audio son wl ejemplo superior a la máxima frecuencia que deja pa~ar (Figura 4.1a).
clam de uso de filtros pasivos.
• Filtro de paso alto o filtro pasaaltos (h.igh pass filter) que limita la mínima
Lo habitual es que los conos
no sean capaces de responder
frecuencia que deja pasar (Figura 4.1b).
perfectamente a toda la banda • Filtro de paso de banda o filtro pasabanda (bandpass filter) que pone cota
de frecuencias de audio por lo tanto por arriba como por abajo a las frecuencias que pueden pasar (Figu-
que se usan conos específicos ra 4.1c).
para bajos (woofer) o muy bajos
(su/J-woofer), medios y agudos • Filtro de rechazo de banda o filtro en cuña (notch. filter) que sólo evita el
(tweter) s iendo habitual el uso paso de señales entre dos determinadas frecuencia~.
de tres diferentes en Wla misma G G
FILTRO DE PASO BAJO Fll TRO OE PASO AlTO
caja (tres vías) mientras que en
sistemas más sencillos se opta
por suprimir el cono de medios
y mantener los otros dos (caja
k;gf logf
de dos vías). Para seleccionar
Banda pasante
qué parte de la potencia de sa- Banda pasante
lida se envía a cada uno de los

~ 'fe (frecuencia de corte) ft (frecuencia de corte)
conos se usan tres filtros: uno de (a) (b)
paso bajo para manejar el woofrr,
G Fll TRO PASABAN DA G FILTRO DE RECHAZO DE BANDA
otro de paso alto para el tweter
y un pasabanda para el cono de
medios. En todos los casos, estos
illtros son pasivos, constituidos
por bobinas y conden~adores y k;gf k;gf
sin elementos disipativos para
no perder potencia en ellos. l• Banda •l 14 Banda •l
( pasante ) \ suprim~
[QTw~eo frecuencias de corte

(e)
frecuencias de corte
(d)
Figura 4.1. Tipos de f iltros: (a) de paso bajo; (b) de paso alto: (e) de paso de banda o pasabanda;
uruie· (d) de re<:hazo de banda.

AMPLIF.
b. Woofer
Cada una de las frecuencias que definen los límites entre las señales que se
dejan pasar y las que no se dejan pasar se denomina frecuencia de corte (cu-
tofffrequ.ency) . Asf, un filtro de paso bajo tendrá una frecuencia de corte supe-
rior, mientras que uno de paso alto tendrá una frecuencia de corte inferior; en
el caso de los olros dos Lipos de illlro Lend.rán dos frecuencias de ende, wla in-
ferior y otra superior.
172
Las funciones que se reproducen en la Figura 4.1 son totalmente ideales y re-
presentan el objetivo utópico de funcionalidad de un filtro: dejar pasar sin
cambio alguno todas las frecuencias que se desee y suprimir totalmente todas
aquellas que no se quieran tener. El conjunto de las frecuencias que se dejan
pasar constituye la banda pasante o banda de paso (pass band) mientras que
el conjunto de frecuencias eliminadas constituye la banda suprimida (rejected
band o stop band). En la Figura 4.2 se representan estos conceptos sobre un fil-
tro de paso de banda.
tog f
Banda suprimida Banda supri mida

Banda .,
) pasante \
f., (frecuencia de corte superior)

f., (frecuencia de corte Inferior)
Figura 4.2. Frecuencias de corte, banda p asan te y supri mida en un fíltro de paso de banda.
La banda pasante en un filtro de paso de banda se puede representar median-

te el concepto de ancho de banda, B (bandwidth) que es la diferencia entre las
frecuencias de corte superior e inferior. Cuando este ancho de banda es peque-
ño el ancho de banda se suele sustituir por los conceptos de frecuencia cen-
tral, fe (central frequen.ct¡) y factor de calidad, Q (quality factor), definido como
el cociente entre la frecuencia central y el ancho de banda (Figura 4.3):
Q =fe
8
Un factor de calidad muy grande indica que el filtro es muy estrecho, muy se-
lectivo y que sólo deja pasar unas pocas frecuencias alrededor de la central
mientras que un filtro poco selectivo tendrá un Q bajo. Un factor de calidad
infinito significaría que sólo deja pasar la frecuencia central y que el ancho de
banda resulta nulo. Con filtros activos no es posible conseguir valores eleva-
dos del factor de calidad (Q < 20), mientras que en algunas topologías pasivas
se puede llegar a superar el valor de 1000 para Q.
G
fe (frecuencia central)
fog f
4
B •
Figura 4 .3. Frecuencia central y ancho de banda de un filtro de paso de banda.
173
Todos los gráficos de filtros dibujados hasta aquí son idealizaciones, es de-
cir, casos en los que la funcionalidad del filtro es perfecta y en el que hay una
frontera totalmente abrupta entre la banda pasante y la suprimida¡ como es fá-
cil suponer, eso no se puede lograr en la práctica. Pero tampoco se va a con-
seguir que la banda pasante sea perfectamente plana ni que se eliminen por
completo todas las señales de la banda suprimida ...
4.1.1. TIPOS DE FUNCIONES DE FILTRADO
Determinar una función que tenga por respuesta la que se ha representado en

cualquiera de las figuras anteriores no es posible físicamente, por lo que cual-
quiera de los filtros ideales no puede existir en la práctica. Pero, aunque no sea
posible conseguir un filtro ideal, el objetivo es tratar de aproximarse a él todo
lo posible. Existen varias funciones matemáticas realizables físicamente, que
pueden expresarse como una función de tran~ferencia entre la entrada y lasa-
lida y que tienen un comportamiento parecido al que presentan las funciones
ideales de filtrado; se conocen como aproximaciones (Figura 4.4).
F ILTRO DE PASO BAJO FILTRO DE PASO ALTO
G
Respuesta ideal
/ Rospuo&18•eal
Respuésta ideal
Respuesta real
logf Jogf
Banda pasante Banda pasante
Fll TRO PASABAN DA FILTRO DE RECHAZO DE BANDA

G G
Respuesta ideal
-1-----F~=::Sk-~ Respuesta .eal
Respuesta real
logf /ogf
14 Banda •l 14 Banda •l
pasante supñmida
Figura 4.4. Funciones reales de f iltrado en relación con las funciones ideal es.
Como se puede observar en la Figura 4.4, estas funciones no presentan un

paso perfectamente brusco entre la banda pMante y la suprimida sino que el
cambio es gradual, presentando una zona de transición (roll-offJ entre ambas.
En cualquier caso los objetivos de la aproximación deben ser: conseguir el mí-
nimo cambio de ganancia a lo largo de toda la banda pasante (máxima plani-
tud), hacer que la zona de tran~ición resulte lo más pequeña que sea posible
y lograr que la atenuación de lM señales en la banda suprimida sea tan eleva-
da como se pueda. Desgraciadamente, no es posible conseguir todos esos ob-
jetivos en una única función por lo que las diversas soluciones se centrarán en
unos objetivos concretos.
Al tener una transición más o menos suave entre la banda pasante y la supri-
mida, la frecuencia de corte debe establecerse arbitrariamente en algún pun-
174
TEMA 4. FILTROS ACTIVOS • •
to de la zona de transición; habitualmente, se usa el punto en el que el sistema Stephen Butterworth

atenúa la potencia a la mitad por lo que se denomina frecuencia de corte a po- f(sico británico (Rochdale,
tencia mitad (half power cutofffrequrmcy); si se está trabajando con tensiones el 1885-Cowes, 1958) que desarro-
punto en el que la potencia se atenúa hasta la mitad corresponde al punto en lló la aproximación para filtrado
el que la tensión cae hasta ,;'2 veces, lo que viene a ser una atenuación de ten- más usada en el mundo de los
sión de 3 dB. Por ello, esa frecuencia de corte se denomina también frecuencia sistemas de instrumentación
de corte a 3 dB. Como esta definición es general en el mundo de la electróni- electrónica.
ca, se suele denominar simplemente frecuencia de corte (cutofffrequen.cy, cor- Su trabajo titulado "On the the
ner frequen.cy o break frequen.cy) y que denotaremos por h: theory of filler amplifiers", pu-
blicado en 1930 en el Ex-peri-
La primera de las funciones es la aproximación de Butterworth, presen- mental Wireless and the Wi'reless
tada por el físico inglés Stephen Butterworth en 1930, cuyo objetivo es Engit~eer, presenta sus conoci-
conseguir que la banda pasante tenga la máxima planitud. La función de dos polinomios y ha sido una
trasferencia G(jw) para un filtro de paso bajo se expresa matemáticamente referencia muy importante en
como: el desarrollo de los sLstemas de
filt rado. Butterworth es autor
IG(jw)l = J1+ (-w)2n
G de alguna~ publicaciones más,
pero la naturaleza militar de la
())e institución para la que trabajaba
(Adrniralty's Research Labora-
tory) ha impedido que la mayor
Donde G es la ganancia, n es el orden del filtro y wc~ su pulsación de corte a 3 parte de su trabajo saliese a la
dB, con lo que fr. = w, 1 (2n). luz pública.
El problema fundamental de esta aproximación es que presenta una zona de
transición muy suave, algo que no suele ser deseable ya que habría muchas
frecuencias más allá de la frecuencia de corte pero próximas a ella que no se-
rían suficientemente atenuadas. Existen funciones que se centran en conse-
guir una transición menos suave como las denominadas aproximaciones de
Chebyshev, así llamadas en honor del matemático ruso Pafnuty Chebyshev
por su relación con los polinomios de Chebyshev. Existen dos tipos de apro-
ximaciones; la primera (tipo I) presenta una transición mucho más brusca que
la de Butterwoth, pero no consigue garantizar que la banda pasante sea plana
sino que produce un cierto rizado. La función de transferencia de un filtro de
Chebyshev de tipo I de paso bajo es:
Donde T. es el polinomio de Chebyshev de grado n. (no tiene una función ex-

plícita sencilla) y res el rizado de la banda pasante. La máxima ganancia de la
banda pa~ante es G y la mínima:
1
Gmin = -vr.1=+=r:;¡:2
Una ganancia variable en la banda pasante es poco deseable en la mayoría

de las aplicaciones instrumentales por lo que este tipo de filtro no suele ser
muy habitual en este ámbito, ya que, si se limita el rizado de la ganancia, la
7.ona liP. tTan~irión nn rP~ulta tan hntsra y, Pn su rnnjttnto nn tiP.nP u n rnm-
portamiento superior al de Butterworth. En la Figura 4.5 se muestra la res-
puesta de dos aproximaciones de cuarto orden, una de Buttenvorth y otra
17 5
de Chebyshev de tipo I; en ella se puede apreciar el mayor rizado del se-

gundo mientras que la caída más allá de la frecuencia de corte es más rá-
pida.
S
o
~
-"'
al
(!)
·S
·10
Butterworth
Chebyshev 1
·1S
· 20
· 2S
·30
·3S
-40
o o.s 1 1.5 2 2.S
Figura 4.5. Comparaci ón de las respuestas de una aproximación de Bu tterworth y otra de Cheb·
yshev de t ipo 1con un rizado de 0,5 dB. Como se puede observar, la respuesta de la aproximación
de Butterworth es mucho más plana que l a de Chebyshev, pero presenta una zona de t ransición
menos abrupta.
Tampoco lo es - menos aún- el de tipo fi (aproximación inversa de Cheb-

yshev) que, si bien mantiene una buena planitud en la banda pasante, pre-
senta rizado en la banda suprimida y una transición menos abrupta que el
de tipo l. En las mismas condiciones de antes, la función de Chebyshev de
tipo li es:
G
IG(jw)l = r = = = = =
1+ 1
r2. TJ (~)
Tanto las aproximaciones de Butterworth como las de Chebyshev se centran

en controlar el valor de la ganancia, es decir, actuar sobre la amplitud de las
señales que atraviesan los circuitos. Sin embargo, la información no siempre
está contenida en la amplitud sino que puede estar en la fase de la señal; en tal
caso, el paso de una señal por el filtro podría alterar la información si este fil-
tro modifica la fase; más aún, el problema es que el filtro afecte de forma di-
ferente a la fase de las señales dentro de la banda pasante, es decir, si desfasa
más unas señales que otra~. Este concepto corresponde a la idea de retardo de
grupo (group delay), la cantidad de retardo (fa~e añadida) que el filtro pone a
cada frecuencia senoidal de la señal.
Una aproximación muy cuidadosa con el retardo de grupo es la de Bes-
sel-Thomson (o simplemente aproximación de Bessel) nombrada en honor
del matemático alemán Friedrich Bessel y de W.E. Thomson, quien presentó
su aplicación como filtro en 1949. Para un filtro de paso bajo esta aproxima-
ción se puede representar por la función:
(2n- i)!
con a¡= zn Í"l(
t. n - t")1.
176
Tiene una zona de transición m uy grande, es decir, presenta una evolución

suave desde la banda pasante a la suprimida aunque ese aspecto tiene una im-
portancia menor ya que el uso de este tipo de filtros presupone el objetivo de
no generar problema~ con la fa~e de la señal.
Existen otras funciones que tratan de aproximarse al filtro ideal o que tie- mfiltro Cauer
nen aplicaciones muy concretas como el filtro de Linkwitz-Riley (L-R filter) Este tipo de filtro está nombra-
de aplicación en audio para evitar que se produzcan rizados en la ganancia do en honor a Wilhem Cauer
cuando se suman las respuestas de dos o más filtros o el filtro elíptico (filtro (Charlottenbourg, 1900-Berlin,
Cauer, filtro Zolotarev), que puede considerarse como un caso particular del 1945), un científico alemán que
filtro de Chebyshev y que incluye una zona en cufía justo detrás de la panda trabajó en el desarrollo y smtesis
pasante para incrementar la pendiente de la zona de transición; eso sf, a costa de sistemas de filtrado. Se cono-
de presentar rizado tanto en la banda pasante como en la suprimida. ce también como filtro eliptico o
filtro Zolotarev.
A pesar de todo este despliegue de opciones que pueden llegar a confundir,
la aproximación más habitual en el ámbito de la Instnunentación Electrónica La principal ventaja de este fil-
tro es que permite sum ar su
es la de Butterworth ya que garantizar una banda pasante sin cambios de ga-
respuesta con la de otros filtros
nancia suele ser algo irrenunciable; sólo en algunos casos --cuando se trate de para manejar de forma indepen-
señales que contienen la información en la fa~e- se suele recurrir a aproxima- diente la ganancia de diversas
ciones de Bessel. partes de un espectro sin pro-
ducir rizados importantes de la
ganancia en toda la banda
4.1.2. MEJORA DE LA RELACIÓN SEÑAL-RUIDO
Esta ventaja se aprovecha, por
ejemplo, en los ecualizadores
El principal objetivo de Jos filtros en las cadenas de procesamiento de las se-
de audio. En ese ca~o. la banda
ñales en sistemas instrumentales es el de reducir el ruido del sistema median- de audlo se dhrjde en secciones
te supresión del exceso de ancho de banda, como se pre.s enta en la Figura 4.6. o cortes mediante varios filtros
Amplificador Fittro pasabanda. Cada una de esas
Señal ., . . - - - - - , . secciones se puede manejar de
Vo=GVo Vo=GVo forma independiente, Jo que
permite atenuar o realzar deter-
minadas frecuencias en función
del tipo de sonido o de la sala
SIN baja 5 /Nana de audlción.
..
- - - - - -- - -•
~
) ) ) )
'
• • •
• • •• •• •• • • ••
Señal 11 11 11 11
Figura 4.6.Tras una etapa ampli ficadora, el filtro recorta el ancho banda con lo que evita que parte
del ruido permanezca junto a la señal.
Salvo en el caso particular de la~ interferencias que pueden presentarse sólo a

determinadas frecuencias, o en casos como el ruido flicker, la mayor parte del
ruido suele ser prácticamente blanco por lo que su densidad es más o menos
constante. En tal ca~o, la reducción del ancho de banda lleva a~ociada una re-
ducción "proporcional" del ruido. Sin embargo, el espectro del ruido suele
incluir frecuencias procedentes de fuentes concreta~ acopladas mediante in-
177
terferencias como en el caso de los ruidos que se cuelan desde la red eléctrica
-50 o 60 Hz en función del país- o los procedentes de, por ejemplo, un con-
vertidor de potencia que conmute a una determinada frecuencia como, por
ejemplo, 200 kHz. 'Estas interferencias suelen suponer picos importantes en el
espectro y pueden suponer tanta o má<> potencia de ruido que la debida al rui-
do blanco. En tales situaciones, el diseño de los filtros para mejorar la relación
S/N debe prestar especial atención a esas frecuencias concretas.
En cualquiera de los casos, a la hora de implementar un filtro para una apli-
cación concreta en la que se pretenda mejorar la relación S/N hay que definir
cuál es la frecuencia de corte que se tiene que emplear y qué orden debería te-
ner la función que tenemos que usar. La determinación no es compleja si se
tienen claras las especificaciones; si lo que se pretende es reducir el ruido se
necesitará saber el máximo error de ganancia permitido para la banda pasan-
te del filtro y la mejora buscada en la relación señal-ruido.
Supongamos una aproximación de Butterworth de paso bajo de orden n . Si se
debe garantizar que el máximo error de ganancia es E a lo largo de una banda
pasante delimitada por la frecuencia¡,_, la frecuencia de corte a 3 dB del filtro,
fe~ viene determinada por:
Donde k = 1 -E. Como resulta lógico, el ancho de banda del filtro tiene que
ser mayor que el definido por nuestra zona de trabajo, donde queremos que
la planitud de la ganancia no sufra cambios superiores a E, como se represen-
ta en la Figura 4.7.
G 6
3dB
log f
Figura 4.7. Para preservar la planitud suli ciente en la banda pasante la frecuencia de corte, f,, del
fil tro debe ser diferente de la máxima frecuencia de nuestro sistema (1~) ya que a f, l a pérdida de
ganancia es de 3 dB por defi nición, es decir, supondría un error del 30 %.
Pero ¿cuál debe ser el orden? Para responder a esta pregunta tenemos que
pensar que cuanto más bajo sea el orden, más sencilla (y de menor coste) será
su implementación, de modo que preferiremos siempre trabajar con filtros de
orden tan bajo como podamos. Como orden y frecuencia de corte forman par-
te de la expresión anterior, cuanto mayor sea el orden más se acercarán las fre-
cuenciasf, (de corte del filtro) y f .. (especificada por nuestro sistema) puesto
T'" PI filtro ,::e p>11'P.CP.r:i m;i,:: '11 iÓP.'ll. Est:l clMo '1""' P.l máximo fi'ltr'lrlo SP. ron-
seguiría con un filtro ideal y, cuanto menor sea el orden, más lejos estaremos
de esa idealidad y menos ruido "eliminaremos" (Figura 4.8).
178
iii' o
:2.
(.!) · 20 · n.=.1.
-40 n=:
·60
.so
~ =6
·100 : n_=l
·120
0.001 0.01 0.1 1 10 100
fl fe
Figura 4.8. Respuestas de aproximaciones de Butterworth de órdenes 1, 2, 4, 6 y 8 en relación

con el filtro ideal. Como se puede ver, a medida que sube el orden, la zona de transición es mucho
más abrupta y el filtro se va a acercando al ideal. Obsérvese que, aunque la pend iente de la zona
de transición no parezca muy grande, un filtro de orden 6 habrá reducido en 120 dB las señales
sólo una década después de la frecuencia de corte, es deci r, habrá dividido el valor de fa señal de
esa frecuencia por un m illón.
Teniendo en cuenta lo que acabamos de decir, el proceso de selección del

orden comenzará con el orden más bajo (n = 1) y obtendremos el valor de
la frecuencia de corte¡;, . Con esta especificación recalcularíamos la relación
S/N del conjunto y, si no es suficiente, incrementaríamos el orden del filtro
para obtener una nueva frecuencia de corte, J;2. A continuación, se haría un
nuevo cálculo de la relación S/N, y así sucesivamente hasta lograr el objeti-
vo buscado. ¿Se puede conseguir mejorar la relación señal-ruido a costa de
subir indefinidamente el orden del filtro? O, lo que es lo mismo, ¿hasta dón-
de se podría mejorar la relación S/N? Está claro que este proceso tiende a
que f, = J;, con orden infinito (filtro ideal), luego la máxima mejora posible
será aquella que se consiga con un filtro de frecuencia de corte fe., El diseña-
dor juzgará el momento en el que la mejora sea suficiente y tendrá en cuen-
ta que aumentar el orden llevará asociado un incremento de la complejidad
y del coste.
EJEMPL04.1
Un amplificador que tiene un ancho de banda de 100kHz produce en
su salida señales cuya amplitud máxima es de 2 V con relación S/N =
55 dB. Suponiendo que se trata de ruido blanco y que la máxima .fre-
cuencia de la señal a procesar es de 5 kHz, determine la mejor relación
S/N posible al añadir un filtro y la mejora que se conseguiría con un
filtro de cuarto orden de Butterworth que garantice un error máximo
dell %.
Solución:
Lo primero que tenemos que saber es qué densidad de ruido pro-
duce el amplificador; para ello, obtenemos la tensión de ruido en su
salida:
179
2.
55 = 20 · loglf --> Vn = 3,56 mVP
n
Dado que se trata de ruido blanco, suponiendo que ENB = B, la densi-

dad de ruido vendrá dada por:
3,56 · 10-3 = ..ju/i ·100000 --> Un= 0,0113 mVp · Hz-1 12
Con un filtro ideal, la frecuencia de corte coincidiria con la máxima fre-

cuencia de la señal, 5 kHz, con lo que el ruido se limitará a:
Vn = ..j (1,13 · 10 5) 2 • 5000 = 0,796 mVP
Lo que se traduce en una relación S/N de 68 dB. Ese es ellfrnite de me-

jora en el ruido. Si se desciende al mundo real, con un filtro de cuarto
orden que garantice un error dell% (k= 0,99) a 5kHz, tenemos que la
frecuencia de corte a 3 dB del filtro sería:
8 1-0,992
5000 = fc · 0,992 --> fe = 8,14 kHz
Con esta frecuencia de corte, la tensión de ruido a la salida sería:
Vn = ..j(1,13 ·10 5 ) 2 • 8140 · 1,02 = 1,03 mVp
Y la relación señal-ruido:
2
S/N = 20 ·log 0,00 = 65,8 dB
103
Como se puede observar, no resulta mucho peor que la mejora que se

obtiene con un filtro ideal.
En uno de los apartados del siguiente tema se tratará el diseño de filtros con
una finalidad diferente a la de reducir el nivel de ruido en un sistema.
4.2. DISEÑO DE FILTROS ACTIVOS

CON OPERACIONALES
Hasta este punto, sabemos qué aproximaciones están di~ponibles y podemos has-
la dise.i\ar wm fw1dón c1ue pemúla mejmar la !dadón S/N de wl sistema en w1a
determinada cantidad. Por ejemplo, en el caso de la aproximación de Butterwor-
180
th, necesitamos una función matemática cuyo módulo se comporte de esa ma-
nera. Además, sabemos que es posible obtener determinados polinomios en j(J)
mediante circuitos electrónicos compuestos de dispositivos activos y 1o pasivos.
Teniendo esto en cuenta, nuestro primer objetivo es conseguir una función del
tipo:
1
G(jw) = P(jw)
donde P(jw) es un polinomio en jw. Después usaremos algún circuito electrónico

capaz de realizar esa función; a continuación se tratarán cada uno de estos casos.
4.2.1. POLINOMIOS NORMALIZADOS

Dado que cada filtro tendrá una frecuencia de corte propia, tanto la expre- El proceso de normalización es
sión de su módulo como la de su función de transferencia tendrá un polino- una actividad muy habitual en
mio específico cuyos coeficientes dependerán de esa frecuencia de corte. Eso el mundo de la ciencia y de la
producirá un abanico de valores infinito, donde cada filtro a cada frecuencia tecnología y permite conseguir
eliminar los factores ligados a
presentaría una función específica, lo que obligará al diseñador a dar todos
los parámetros climensiona.les.
Jos pa~os en cada diseño. Para evitar ese problema se introduce el concepto de
frecuencia normalizada, w. que es una variable adimensional (dimensionless) La normalización consiste en
pasar de un conju nto de va-
igual al cociente de la frecuencia por la frecuencia de corte:
riables con dimensiones a otro
f (l) conjunto de variables adimen-
(l) =- =- sionales que mantengan entre
n fc Wc
sí las mismas relaciones. Los
valores de las variables nor-
De esta forma, la frecuencia de corte de las expresiones que usan la frecuen- malizadas suelen darse en p.u.
cia normalizada resulta ser siempre 1 ya que cuando f = f" w. = l. Si se utili- (por unidad) o en porcentaje. La
za la frecuencia normalizada como variable, los polinomios que satisfacen las ventaja de la normalización ra-
aproximaciones de Butterworth, Chebyshev, Bessel o cualquier otra son úni- dica en la tuuversalidad de los
cos para cada orden del filtro y se denominan polinomios normalizados. resultados y conclusiones que se
obtengan
Estos polinomios están tabulados (véase el archivo polinomios.pdf) con lo que
En el caso de los filtros acti-
el diseñador puede acceder a los valores para construir la función de transferen- vos, la frecuencia normalizada
cia correspondiente. Por ejemplo, una aproximación de Butterworth de segun- permite t rabajar siempre con
do orden se construye con una función de transferencia normalizada del tipo: los mismos polinomios ya que
1 siempre tienen frecuencia de
G(jw)= ~----~~~~ corte 1 p.u. Luego, para cada
n 1 +a · jwn + b · (iwn)2 caso concreto, sólo hay que des-
hacer la normalización multipli-
donde a y b son coeficientes que se encuentran en las tablas correspondientes a cando por la frecuencia de corte
la aproximación de Butterworth de segundo orden y que, en este ejemplo con- correspondiente (dividiendo los
creto, valen a= 1,4142 y b =l. Del mismo modo, las tablas correspondientes a condensadores por ese valor)
las aproximaciones de Chebyshev o Bessel proporcionarán otros coeficientes
diferentes, capaces de convertir la anterior expresión en la respectiva función
de cada uno. La~ aproximaciones de orden par superior se construyen con el
producto de funciones como la anterior. En el ca~o de las funciones de orden
impar se construyen con bloques de orden 2 y una función de orden 1 del tipo:
1
G(jw ) = - - - - - -
n 1 +a· jWn
18 1
Como veremos má~ adelante, las funciones de orden impar son menos intere-
santes que la~ de orden par inmediatamente superior, de modo que no suelen
ser tan usadas. Por ejemplo, una función de orden 5 se obtendría de la siguien-
te forma:
1 1 1
G(jw )= - - -
n 1 + tq · jwn
Una aproximación de orden 4 se obtendría así:

1 1
G(jWn) = 1 +a¡ · jwn + bt · ÚWn) 2 1 + ~ ·jwn + ~ · ÚWnF
Sea cual sea la opción elegida y el tipo de aproximación que nos interese, en
las tablas figuran los coeficientes de cada sección de la función.
EJEMPLO 4.2 (polinornios.pdf)

Determine el polinomio normalizado de una aproximación de Bessel de
quinto orden. ¿Cómo sería la función de transferencia de ese caso para
una frecuencia de corte de 1 kHz?
Solución:
Si acudimos a la~ tablas incluidas en el fichero polinomios.pdf, encon-
tramos que el polinomio normalizado de Bessel de quinto orden tiene
tres secciones con los siguientes coeficientes:
Sección 1: a1 = 0,6656
Sección 2: a2 = 1,1402 b2 = 0,4128
Sección 3: t7:. = 0,6216 b3 = 0,3245
El polinomio resultante será:
(1 + 0,6656 · jwn) · (1 + 1,1402 · jwn + 0,4128 · (jwn) 2 ) ·

· (1 + 0,6216 · jwn + 0,3245 · (jwn) 2)
Con la frecuencia de corte en 1 kHz, tenemos que w, = 6280 rad 1s y la

función de transferencia será:
1 1
G(jwn) = . . . . 2
1 + 0 6656 JW JW
' 6280 1 + 1,1402. 6280 + 0,4128. ( 6280
)W )
1
2
jw ( jw ) -
1 + 0,6216 . 6280 + 0,3245 . 6280
6280 3,944 · 107
~~--~~~-- · ------~----------------~~7
6280 + 0,6656 · jw 3,944 ·10' + 7160 · jw + 0,4128 · (jw)2
3,944 · 107
3,944 · 107 + 3904 · jw + 0,3245 · (jw) 2
182
Hasta aquí ya sabemos convertir la expresión matemática que define cada una
de las aproximaciones en otra expresión matemática, pero ahora ya un poco
más familiar para el diseñador. Incluso podríamos dibujar un bonito Bode
como el de la Figura 4.8.. . Sin embargo, si ponemos de manifiesto la vena de
ingeniero, nos podemos preguntar cómo llevamos el etéreo mundo de las Ma-
temáticas al mucho más tangible y real m undo de la Electrónica. La respues-
ta está en el uso de circuitos específicos para llevar a cabo esta tarea, circuitos
que se analizarán a continuación.
4.2.2. CIRCUITOS PARA FILTROS ACTIVOS

Existen varia~ soluciones para construir un circuito que implemente los polino-
mios normalizados a los que dan lugar la~ aproximaciones a los filtros. Alguna~
de esa~ realizaciones son estructuras pa~ivas, formadas por resi~tencias y con-
densadores o por bobinas y condensadores. Otras estructuras son activas¡ inclu-
yen dispositivos capaces de amplificar la señal y de mantener las impedancias de
entrada y salida en valores adecuados como para que no se produzcan efectos de
carga ni en la entrada ni en la salida. Este a~pecto hace de las estructura9 activas
la~ más adecuada~ para su uso en el ámbito de la Instrumentación Electrónica.
Circuito de Sallen-Key
De todas las topologías activas, la más frecuente es el circuito de Sallen-Key,
presentado en 1955 por R.P. Sallen y E.L. Key, del MJT Lincoln Laboratory.
Aunque en aquel momento el operacional no llegaba a alcanzar ni la categoría
de sueño, el circuito se presentó con el uso del concepto genérico de amplifica-
dor y se propuso su implementación con válvulas de vacío. El circuito de Sa-
llen-Key para un filtro de paso bajo es el que se presenta en la Figura 4.9a y el
de paso alto, el de la Figura 4.9b.
R2
r-_...::C=-j2 1--- - - - - ,
Vo C1 C2 Vo
Ve o-j 1----'--11--.--~
R1
(a) (b)
Figura 4 .9. Ci rcu ito de Sallen·Key genérico p ara la implementación d e f i ltros de paso bajo (a) y de
paso alto (b).
R2
r - - - 'C=j2 f--__,.,---,
R4
R3
Vo
>-'-'-o
R1
(a) (b)
rigurb 4 .10. C i rcu ito~ de üallen·Kéy com o lO$ de la figure. 4 .9 implemente.dO$ con opert~c i one. l e$
para filtros de paso bajo (a) y de paso alto (b). La ganancia se ha implementado con dos resisten·
cias R3 y R4.
183
En el caso de que los circuitos anteriores se implementen con operacionales, el

amplificador genérico se sustituye por una topología no inversora dando lu-
gar, respectivamente, a los circuitos de la Figura 4.10.
Realizar el análi9i.s de este circuito no es muy difícil, pero resulta un poco te-
dioso. Aquf presentaremos sólo el resultado de ese análisis para el filtro de
paso bajo con la función de transferencia que genera en función de la pulsa-
ción angular wo de la frecuencia f = w / Z.n:
G
G(jw) = 1+ (Rl· Cl+/?2 · Cl + Rl · C2 · (1 - G))(Jw)+Rl· R2 · Cl·C2 · (jw) 2
Donde la ganancia de la banda pa~ante, G es la fijada por R3 y R4, es decir:

Cajas acústicas activas R3+R4
G = -R=-:3:--
Para la~ cajas acústicas de va-
rias vías existe una posibilidad
diferente a la de usar un ampli- Si elegimos como pulsación angular de corte para el filtro la de 1 rad/ s, ocu-
ficador y varios filtros (uno por rre que w. = w 1 1 = w )T, de ese modo, la expresión en frecuencia normalizada
cada vfa) lo que suele suponer
y en pulsación angular coinciden.
el empleo de bobina~ y conden-
sadores voluminosos, pesados y Dado que en el apartado anterior hemos establecido que cualquier aproxima-
costosos. ción se puede implementar matemáticamente mediante una o varias funcio-
La opción consiste en emplear nes como la anterior, una comparación directa entre la expresión matemática
filtros activos para separar las de la aproximación y la función de transferencia del filtro conduce a la identi-
señales antes de la amplifica- ficación de coeficientes, es decir:
ción y luego usar un amplifi-
cador independiente para cada a = R1 · C1 + R2 · C1 + IU · C2 · (1 - G)
una de eUas, capaz de manejar
directamente el altavoz corres- b = R1 · R2 · C1 · C2
pondiente.
Asf, tenemos que para cada aproximación habrá que resolver el anterior siste-
Este tipo de sistema precisa tan-
tos amplificadores como vfas,
ma de ecuaciones y obtener de él los valores de Rl, R2, Cl y C2.
pero la potencia total se repar- En la mayorfa de las ocasiones, toda la ganancia se habrá incluido en las eta-
te entre todos eUos, resultando pas de amplificación y el filtro no deberá aportar más ganancia, de modo que
más pequeno cada una de eUos; G = l. En ese caso particular la resolución del sistema lleva a:
por ejemplo, si se pretende dis-
poner de 100 W, se podría usar aC2 + .Ja2 C2 2 -
4bC1 · C2
un amplificador de 50 W para Rl,RZ = 2Cl· C2
manejar el woofer y dos de 25 W
cada uno para el cono de me-
dios y para el tweeter. Para que el discriminante produzca soluciones reales se tiene que cumplir que:
4b
_lrl_C>~··· C2 > Cl-¡
a
-ldd-~PUF.1 ~
s.••• -~ Me<Ko• Si optamos por usar la igualdad, R1 = R2 =a/ (2·C1).
- ~AMPLIF.2 ~
Sin embargo, el diseñador debe tener en cuenta que no todas las opciones son
hl C>WoofH posibles. Por ejemplo, si en lugar de fijar la ganancia como unitaria se decide
optar por la alternativa de hacer iguales entre sf los condensadores y las resis-
ldJ ~AMPLif . 3
tencias, 1{1 = R2 = R y C1 = C2 = C tendríamos que:
184
Luego no se puede conseguir salvo con una ganancia determinada. En otras

palabra~, que no hay una libertad total para conseguir que los circuitos repre-
senten los polinomios que se quieran. De todas forma~, lo que sí es cierto es
que es posible encontrar una solución para conseguir implementar una apro-
ximación matemática a un filtro mediante el circuito de Sallen-Key.
¿El problema estaría a~í resuelto? Recordando las condiciones que hemos im-
puesto para llegar hasta aqtú, tenemos que tener presente que la frecuencia de
corte de un filtro así diseftado sería de 1 rad/ s .. . ¿Qué ocurriría si queremos
una frecuencia diferente?
La solución es muy sencilla puesto que la frecuencia de corte dependerá de los
productos RC. Manteniendo esos productos constantes, la frecuencia de corte
no varía y; lo contrario, si movemos el valor de C o de R, la frecuencia de corte
se modificará en la mi~ma proporción. Por tanto, a partir de los valores de re-
sistencias y condensadores obtenidos del anterior sistema de ecuaciones, para
conseguir una frecuencia de corte diferente bastará con dividir los condensa-
dores por esa frecuencia de corte:
Wc = 1 radjs ~ Rl , R2, Cl, C2
Cl C2
Wc = W1 [radjs] ~ Rl ,R2, - ,-
Wt W1
Este procedimiento se suele denominar escalado de frecuencia y permite ob-

tener un filtro a cualquier frecuencia de corte a partir de un filtro a frecuencia
de corte unitaria.
Con posterioridad se puede dar un paso más que puede considerarse de ín-
dole tecnológico; si los valores de las resistencias y condensadores obtenidos
ha~ta aquí no son adecuados (valores muy bajos de resistencias o muy altos de
condensadores) se puede realizar un escalado de im pedancia que reajuste es-
tos valores a niveles razonables. La idea es la que se planteaba arriba; siempre
que el producto R·C no varíe la frecuencia de corte y las características del po-
linomio tampoco lo hagan. Esto significa que podemos cambiar Rl, R2, Cl y
C2 por n· Rl, n·R2, Cl / n y C2 / n.
EJEMPLO 4.3 (polinomios.pdf)

Diseñe un filtro de Butterworth de cuarto orden de ganancia unitaria,
con 2 kHz de frecuencia de corte mediante una topología de Sallen-Key.
Solución:
Al acudir a las tablas de la aproximación de Butterworth (polinomios.
pdf), encontramos que el filtro debe hacerse con dos secciones, cuyos
coeficientes son:
Sección 1: a, =1,8478 b, = 1,0000
Sección 2: a2 = 0,76?4 b1 = 1,0000
Como la ganancia es unitaria, la condición que se tiene que cumplir es:
4b
CZ > Cl -
- a2
185
Si elegimos la opción de la igualdad, cl dic;criminante se hace nulo, con

lo que las resistencias de cada sección resultan ser:
a
Rl = R2 = 2 . Cl
Para la primera sección, tenemos que C2, = 1,172·C17 • Si hacemos C11 =

1 F, C21 = 1,172 F y Rl, = R2 1 = 0,9239 O.
Para la segunda sección, tenemos que C21 = 6,828·C1 2 • Si hacemos C1 1 =
1 F, C21 = 6,828 F y R11 = R21 = 0,3827 O.
Para conseguir que el filtro tenga 2 kHz como frecuencia de corte, cada
condensador debe dividirse por 2-n:·2000 rad/ s, con lo que C11 = 79,6 ¡.rF,
C2 1 = 93,3 ¡.rF para la primera sección y C1 1 = 79,6 ¡.r.F, C21 = 543 ¡.rF para
la segunda.
El segundo paso es hacer un escalado de impedancia para conseguir
resistencias más altas y condensadores más pequeños. Si dividimos
por 10000 los condensadores y multiplicamos por 10000 las resistencias
todo quedará como está. De ese modo, tendremos:
Para la primera sección: Cll = 7,% nF, C21 = 9,33 riF, Rll = R21 = 9K24.
- Para la segunda sección: C12 = 7,96 nF, C22 = 54,3 nF, R12 = R22
=3K83.
En la Figura 4.11 se muestra cl diseño final del conjunto con los valores
calculados )', entre paréntesis, los valores estandarizados mác; próximos.
54,3 nF
(56n)
9,33 nF
(10n)
3K83 3K83
(3K9) (3K9) 7,96 nF
9K24
(9K1)
9K24
(9K1) 7,96nF I (8n2)
I (8n2)
Figura 4.11
Circuitos MFB
Otra posibilidad para realizar funciones de filtrado mediante circuitos activos es
la que ofrecen los circuitos con realimentación múltiple, MFB (Multi-FeedBack),
R2
Ct
R1 R3
Ve o--C:::J-¡_l__C:::J-Lj
C2 Vo
T
Figura 4. 12. Filtro de paso bajo con topología MFB.
186
que, a diferencia de los anteriores, proporcionan ganancia negativa. La topología

de este circuito se presenta en la Figura 4.12. Se diferencia de la anterior en que
presenta ganancia negativa, precisa una resistencia menos y que la frecuencia de
corte y la ganancia no están perfectamente desacopladas como en el caso anterior.
De forma paralela a como se hizo en el caso anterior, si se realiza un aná-
lisis del circuito, se puede obtener su función de transferencia que viene
dada por:
. ) -R2/R1
Gw=
(J ----.,.---------,-,.---""'-.;;; ;-:-----------
1 + ( R3 · Cl + R2 · C1 + R . ~i
3
.Cl) (iw) + R2 · R3 · Cl · C2 · (iw) 2
Como se puede observar, la ganancia viene determinada por el cociente R2 1

Rl, mientra~ que R2 influye en la frecuencia de corte, que resulta ser:
Wc 1
fc = 2ii = ::-2n-vr,R;::;2;=·=;:R;:;::3=·::;;:C1:;=
· C;;;;:2
El procedimiento de di~eño, a partir de la expresión de su función de transfe-

rencia es igual que el que se hacía antes:
l . Considerar la función de transferencia para una frecuencia de corte unitaria
(w, = 1 rad/s) en cuyo ca~o, la frecuencia coincide numéricamente con la
frecuencia normalizada y la expresión no se modifica.
2. Igualar los coeficientes de jm. y de (jwy a los coeficientes del polinomio
normalizado que se desee implementar.
En el caso particular de desear ganancia unitaria (Rl = R2 = R) una de las A la hora de dL'leñar filtros acti-
múltiples soluciones al diseño es: vos, los pasos a dar son más o
menos mecánicos, de modo que
25. b es fácil diseñar una herramien-
C2 = C1
2·a 2 ta software para ello. Son varias
a
R = R1 = R2 = -=--=- las que están disponibles, casi
5. C1 todas gratuitas y pxoporciona-
R3 = 2 · R1 das por diversos fabricantes de
dispositivos electrónicos.
3. Obtener los valores correspondientes de la~ resistencias y condensadores
Entre las má< conocida< de estas
que igualen los coeficientes y la ganancia que se desee conseguir. herramientas cabe destacar Fil-
4. Realizar el escalado de frecuencia, dividiendo los condensadores por el va- terPro de Texas Instruments o
lor correspondiente a la frecuencia de corte que se desee obtener. FilterLab de !Vlicrochip, que in-
corporan también herramientas
5. Opcionalmente, se podrá realizar un escalado de impedancia para adaptar de simulación para verificar que
los valores obtenidos a niveles apropiados. el filtro diseñado funciona como
Este procedimiento se puede aplicar a cualquier otro posible circuito de filtra- estaba previsto. En general, la
do del que se pueda conseguir una función de transferencia comparable a la mayoría de los fabricantes de in-
tegrados analógicos disponen de
que suponen los polinomios normalizados.
algún asistente para el di'leño.
Además, realizar un programa
4.2.3. DISEÑO DE FILTROS ACTIVOS DE PASO BAJO para el diseño de filtros suele
ser uno de los típicos ejercicios
Las principales sit uaciones dentro de la Instrumentación Electrónica en las de desarrollo para estudiantes
que es necesario un filtro de paso bajo son aquellas en las que es necesario re- universitarios, muchos de los
cuales dejan sus logros en la red.
187
cortar el ancho de banda para mejorar la relación S/N tal como se estableció en
el apartado 4.1.2; también puede ser necesario en sistemas de conversión ana-
lógico-digital para evitar determinados efectos nocivos en la interpretación de
la señal, como se estudiará en el siguiente tema.
Con lo comentado ha~ta aquí, el diseño de filtros de paso bajo es relativamen-
te sencillo y constituye un proceso mecánico fácil de implementar, hasta el
punto de que existen diversas aplicaciones informáticas proporcionadas por
los fabricantes de dispositivos electrónicos capaces no sólo de proporcionar
los valores adecuados de los componentes sino de elegir el operacional - ba-
rriendo para casa, claro-- e, incluso, realizar una simulación para verificar su
funcionamiento frecuencial. De hecho, esta es la solución más cómoda para el
diseñador puesto que los programas producen valores de resistencias y con-
den.<;adores normalizados lo que evita pa~os posteriores de escalado de impe-
dancia.
No obstante, si el diseñador desea afrontar un diseño "tradicional", a golpe de
ecuación y tablas, el procedimiento no puede ser más sencillo: suponemos que
hemos seleccionado ya una frecuencia de corte, un tipo de aproximación (ge-
neralmente de Butterworth) y el orden del filtro siguiendo las consideraciones
establecida<; en el apartado 4.1.2. Con esto, accedemos a las correspondientes
tablas de polinomios normalizados (polinomios.pdf) para obtener los coefi-
cientes de cada sección.
Filtros de orden impar

Los filtros de orden impar están constituidos por una sección de orden 1 y una
o v aria'> secciones de orden 2 en cascada hasta completar el orden total del fil-
tro. Por ejemplo, un filtro de orden 7 se haría con una sección de orden 1 y tres
secciones de orden 2. En la Figura 4.13 se indica tanto la sencilla estructura de
orden 1 como el conjunto de un filtro de orden impar.
Sección 1 Sección 2 Sección n
>--'------- --o
T
T ORDEN 1 ORDEN 2 ORDEN 2
Figura 4.13. Formación de un f iltro de orden im par mediante disposición en cascada de f iltros de
órdenes 1 y 2 (de Sallen·Key). Para simplificar se han omit ido los nombres de los componentes y
se ha supuesto ganancia unitaria.
Por ejemplo, un filtro de orden 5 de Buttenvorth se haría con una sección de

orden 1 (coeficiente a1 = 1) y dos secciones de orden 2, la primera con coefi-
cientes a2 = 1,6180 y b2 = 1,0000 y; la segunda, con coeficientes a3 = 0,6180 y b3 =
1,0000. El polinomio completo sería de la forma:
1 1 1
G = 1 + 1,0000jw 1 + 1,6180jw + 1,0000(jw) 2 • 1 + 0,6180jw + 1,0000(iw)2
188
El proceso de diseño continúa con la asignación de cada sección a un circuito

como en la Figura 4.13¡ sin embargo, si observamos el circuito que implemen-
ta la sección de orden 1, podemos comprobar que su estructura no es mucho
menos compleja que la de un circuito de orden 2 -eólo incluye una resisten-
cia y un condensador meno&- y su funcionalidad es claramente inferior. Así,
un filtro de orden par es mejor al de orden inmediatamente inferior y no mu-
cho más complejo; por ello, la mayor parte de las veces sólo se usan filtros de
orden par.
Filtros de orden par

El proceso de diseño es análogo al explicado para los filtros de orden impar,
pero ahora sólo se emplean secciones y circuitos de segundo orden en casca-
da (Figura 4.14).
Sección 1 Sección 2 Sección n
T T
OROEN2 OROEN2 OROEN2
Figura 4. 14. Estructura de un fil tro de orden 2n con n secciones de orden 2 en cascada.
Ahora se irán resolviendo, uno a uno, cada una de las secciones mediante el
uso de los coeficientes correspondientes a la aproximación que se vaya a usar.
La selección de los componentes para los filtros debe cumplir, en general, con
las mi~mas exigencias que las de los di~eños de amplificadores que se han pre-
sentado en los Temas 3 y 4, pero con una serie de consideraciones adicionales
que ayudan, en cierta medida a simplificar el proceso de selección:
a) El operacional trabaja con ganancia unitaria o, en el peor de los casos, ga-
nancia muy baja con lo que la problemática asociada al GBW es mucho
menor.
b) El SR deberá cumplir con las mismas especificaciones que la última etapa
de amplificación que preceda al filtro.
e) El offset y las corrientes de polarización tienen una importancia mu-
cho menor - normalmente despreciable- ya que el filtro se sitúa detrás
de la cadena de amplificación y, por tanto, trabaja con niveles altos de
tensión.
d) La tolerancia de las resistencias y condensadores empleados para seleccio-
nar la aproximación correspondiente tienen una importancia relativa y, aun-
que no tiene sentido usar series "vintage" del lO % de tolerancia, tampoco
es necesario llegar a resistencias de precisión de alto coste. Se puede asumir
que cualquier resistencia de tolerancia menor deiS % s uele ser suficiente.
No obstante, si hay dudas sobre el efecto de la tolerancia sobre las prestacio-
nes del filtro se puede hacer una simulación o un estudio de peor caso.
189
EJEMPLO 4.4 (polinomios.pdf)

Diseñe un filtro de paso bajo de ganancia unitaria mediante una apro-
ximación de Butterworth de segundo orden con una frecuencia de corte
de 10kHz.
Solución:
Lo primero que tenemos que hacer es buscar los coeficientes delpolinomio
correspondiente que tendrá una ónica sección, con a= 1,4142 y b = 1,0000.
Aplicando la condición de igualdad para hacer el di5criminante de la
rafz nulo tenemos que:
4b
C2 = - C1 ~ C2 = 2 · C1
a2
Haciendo C1 = 1 F, tenemos que C2 = 2 F y R1 = R2 = 0,707 O. Con el

escalado de frecuencia, los condensadores serán 2·n·10000 = 62800 veces
más pequeños, es decir, C2 = 31,8 ¡.¡F y C1 = 15,9 ¡.¡F.
El siguiente paso es el escalado de impedancia. Si empleamos, pot ejem-
plo, resistencias 1000 veces mayores, los condensadores serán 1000 ve-
ces más pequeños, con lo que podemos terminar el circuito con R1 =
R2 = 707 O, C2 = 31,8 nF y Cl = 15,9 nF. En la Figura 4.15 se muestra el
circuito final y; entre paréntesis, los valores normalizados elegidos.
31,8 nF
(33n)
707 707
(680) (680) 15,9nF
T (15n)
Figura 4. 15.
EJEMPLO 4.5 (ejemplo4-5.xlsx)

En el Ejemplo 4.4 se emplearon valores de resistencias y condensadores
normalizados, cercanos a los. obtenidos mediante el cálculo. Determi-
ne la diferencia entre la respuesta con los valores calculados y la que
proporciona el circuito con los valores elegidos. Sí las resistencias em-
pleadas tienen una tolerancia del1% y los condensadores, del10 %,
determine. entre qué valores se moverá la frecuencia de corte del filtro.
Solución:
La función de transferencia del filtro viene dada por la expresión siguiente:
1
GUw) - --~----~--~~~----------~-=
- 1 + (R1 · C1 + R2 · C1)(jw) + R1· R2 · C1 · C2 · (jw)
2
190
Luego, con los valores calculados, la expresión es:

1
G(jw) = 1 + 2,25 - to-s(jw) + 2,53 · 10 10(jw) 2
MJentras que, con los valores normalizados elegidos, la función de

transferencia es:
1
G(jw) = 1 + 2,04 · 10 S(jw) + 2,29 · 10 10(jw) 2
Las dos funcione~ de transferencia se representan en la Figura 4.16, don-

de se puede comprobar que la diferencia entre ambas es muy pequeña.
Al comprobar dónde cae la frecuencia de corte, se comprueba que en el
circuito real su valor ha pasado desde 10 kHz a 11 kHz.
10
o
-10
,.. -20
:!!.
(!) -30
-40
-SO
-60
1 10 100 1000 10000 100000
f(H>)
Figura 4.16
Teniendo en cuenta las tolerancias de los condensadores y de las resis-

tencias, las funciones pueden modificarse; En la Figura 4.17 se represen-
tan los ca~os extremos para Jos máximos cambios en los valores de los
condensadores ya que son estos los que tienen la mayor tolerancia: Cl
puede variar desde 13,5 nF hasta 16,5 nF rnientra~ que C2 puede oscilar
desde 30 nF hasta 36 nF. Como se puede ver la diferencia final no resul-
ta demasiado grande.
10
S
o
-S
~~o ~~~~~~~~~~
~ -15
~~o ~~~~~~§§§§~~~§
-2S
-30
-3S
40
1000 10000 100000
f{Hz]
Figura 4.17
191
4.2.4. DISEÑO DE FILTROS ACTIVOS DE PASO ALTO
Hasta aquí nos hemos centrado en el diseño de filtros de paso bajo¡ cierto es que
la mayoría de las aplicaciones incluyen filtros de paso bajo y son menos los ca-
sos en que se usan los de paso alto en el ámbito de la Instrumentación Electróni-
ca; sin embargo, podemos encontrarnos con la necesidad de diseñar un filtro de
paso alto. ¿Qué hacer en ese caso? la solución es muy sencilla si se tiene en aten-
ta el comportamiento de las redes R-C y C-R, que generan respuestas frecuencia-
les duales con la mic;ma frecuencia de corte, tal como se muestra en la Figura 4.18.
1
fe =
21l RC
G G
OdB OdB
log f log f
Figura 4.18. Comportami ento frecuencial de una red R·C frente a una red C·R: m isma frecuencia
de cor te, pero la primera produce un comport amiento de paso bajo mientras que la segunda pro·
duce un comportamiento de paso alto.
Por tanto, cabe pensar que un intercambio entre la posición de condensadores

y resi9tencias da lugar a filtros de comportamiento dual.
Los polinomios para filtros de paso alto son los mismos que para paso bajo
mientras que los circuitos intercambian entre sf las posiciones de resistencia~ y
condensadores con lo que el procedimiento de cálculo resulta dual. En el caso
más habitual, en el que se desee construir un filtro de paso alto con estructura
de Sallen-Key (Figura 4.10b), las ecuaciones son. ahora:
aRZ + ..J a2 RZ2 - 4bR1 · RZ
Cl,CZ = ZR1· RZ
Para que el discriminante produzca soluciones reales se tiene que cumplir que:
> R1 a~
4
RZ
De forma similar se puede proceder con otras condiciones de diseño o con

otros circuitos como los l\1FB.
Los filtros de pa~o alto son estrictamente inexistentes ya que todos los circuitos
presentan una limitación de frecuencia superior. En el caso particular de los reali-
zados con operacionales, es el propio amplificador operacional el que más pron-
to que tarde pondrá su limitación frecuencial, haciendo que el filtro no sólo tenga
una frecuencia de corte inferior, fruto de su comportamiento como tal, sino una
frecuencia de corte superior de primer orden fijada por el GBW del operacional.
Como quiera que la ganancia suele ser unitaria, dicha frecuencia de corte corres-
192
ponderá al mi~mo valor que el GBW (Figura 4.20) sin perjuicio de que nos en-
contremos con una limitación anterior impuesta por el slew-rate del operacional.
R2 G
•••: ¡....--.,...----.. .
Vo
Cf C2
Ve o--11--"----11---.--1
R1
,,
Figura 4 .20. Limi taciones al comportamiento de paso alto de un filtro, impuestas por el ancho de
banda del operacional a ganancia O (80 = GBW).
EJEMPLO 4.6
Diseñe un filtro de paso alto con una frecuencia de corte de 100Hz y ga-
nancia unitaria mediante una aproximación de Butterworth de segundo
orden, implementada sobre un circuito de Sallen.-Key.
Solu.ci6n:
Los coeficientes del polinomio son los mismos (a = 1,4142 y b = 1,0000)
que en el caso del filtro <Ie paso bajo, pero las ecuaciones son diferentes
ya que están intercambiados entre sf condensadores y resistencias Con-
siderando el caso de igualdad:
4b
RZ= Rl-¡
a
a
Cl = CZ = 2 . Rl
Como en ca~os anteriores, si R1 = 1 O, entonces R2 = 2 O de modo que
Cl = C2 = 0,707 F. Tras el escalado de frecuencia, llegamos a que Cl =
C2 = 1130 ¡tF.
Si ahora escalamos las impedancia~, dividiendo los condensadores por
10000 y multiplicando las resi$tencias por ese mismo valor, tenemos que
Rl = 10K, R2 = 20K, Cl = C2 = 113 nF. En la Figura 4.19 se muestra el
filtro con los valores calculados y; entre paréntesis, los valores estanda-
rizados elegidos.
20K
(20K}
o-J 1---'--11-----.-1
113nF 113nF
(120n) (120n) 10K
(10K)
Figura 4 .19
193
que el ruido generado por este filtro pueda ser recortado por la segunda etapa
(la de paso bajo) que fija una máxima frecuencia de corte.
Filtros pasabanda de banda estrecha

Cuando los filtros pasabanda no cumplen la condición anterior el problema
es diferente, ya que la disposición en cascada de un filtro de paso bajo y otro
de paso alto no garantiza un comportamiento adecu ado en la banda pasante
puesto que el efecto de la zona de transición de cada uno afecta al otro. Esto
hace que el d iseño anterior no cumpla las condiciones previstas y genere caí-
das de ganancia en la banda pasante.
La forma de afrontar el diseño de un filtro pa~abanda de banda estrecha con-
siste en definir su comportamiento en función del factor de calidad del filtro,
Q, su frecuencia central, fe y su ganancia, G. En la Figura 4.22 se muestran es-
tos factores y la relación de la ganancia G con la respuesta frecuencial del ope-
racional que se emplee en el montaje del filtro.
IGiiw)l
Ganancia del operacional

en lazo abierto
fe
Q=
B
3dB
G+---------~~-f
Respuesta del filtro
fe
B
Figura 4.22.Definición de los parámetros de un f iltro pasabanda y su relación con la ganancia del
operacional que se emplee pat a implementarlo.
Obviamente, la primera condición que se tiene que cumplir para que el fil-
tro funcione como está previsto es que la ganancia real del operacional a la
frecuencia central sea lo suficientemente grande en relación con la ganan-
cia del filtro como para que el error de ganancia que introduzca sea asu-
mible.
C2
R3 Vo
R1 C1
Ve•o---c::::J~~~ 1-----'----1
R2
Figura 4.23. Circuito de un fil tro pasabanda basado en una estructura MFB.
195
Las opciones para realizar un filtro pa~abanda son varias. La primera es el uso
de una topología MFB como la que se muestra en la Figura 4.23.
La función de transferencia del circuito MFB como filtro pasabanda se puede
escribir:
. jw·R1 ·C2
G(jw) =- (jw)2C1· C2 · R3 · (R1 + R2) + jw · R3 · (C1 + C2) + 1
Pero llegar a las condiciones de diseño no es tan sencillo y requiere un poco

de cálculo y alguna condición adicional. Haciendo iguales los dos condensa-
dores, Cl = e2 = e, tenemos que el factor de calidad, Q, del filtro se ajusta con
Rl y R2, la frecuencia central, wC? con e y la ganancia, G, con R3, según las si-
guientes expresiones:
R2 2Q 2 R1
- = --1 R3= -
R1 G 2G
1 2G
C= - ·
Wc R1· (R1 + R2)
EJEMPLO 4.7
Diseñe un filtro pa~abanda con una frecuencia central de 10kHz, un fac-
tor de calidad de S y ganancia unitaria. Si el error permitido de ganancia
es de 0,1 %, ¿qué GBW precisa el operacional con el que se implemente?
Solución:
Si usamos una topología MFB, tenemos que:
R2 2Q 2 R2 2 ·52
Ri =e- 1 -+ Ri = 1 - 1 = 49
Por otro lado, resulta que R3 = Rl 1 2. Finalmente:
C =
1 2
21!' · 10000 . R1· (R1 + R2) =
1 rz =
21!' · 10000. ~5(i':'Rii
3,18 . 10- 6
R1
Elegimos R1 = 1K, tenemos R2 = 49K, R3 = 500 O y e = 3,2 nF. El circui-

to final aparece en la Figura 4.24.
Para que el error de ganancia sea menor del 0,1 %, la ganancia diferen-
cial debe cumplir:
3,2 nF
500
1K
3,2 nF
SOK
Figura 4 .24
196
De donde obtenemos Ad = 999, valor que el operacional debe garantizar

a una frecuencia de 10kHz. Asf, el GBW necesario resulta ser de unos
lOMHz.
El anterior filtro introduce ganancia negativa, pero esto es un aspecto poco im-
portante si no importa la fase de la señal, algo que se cumple en la mayoría de
los ca~os.
Los filtros pasabanda realizados con circuitos activos no pueden alcanzar valores
muy altos del factor de calidad que define lo selectivo que es el filtro; valores más
elevados exigirán el uso de circuitos resonantes con bobinas y condensadores.
Filtros de rechazo de banda

La implementación de los filtros de rechazo de banda es similar a la de los fil-
tros pasabanda de banda ancha, mediante dos filtros, uno de paso bajo y otro,
de paso alto. La única diferencia es que ahora no pueden situarse en serie sino
que se situarán en paralelo y se sumarán sus salidas (Figura 4.25).
Filtro de paso atto
1""1
1'"' G
11 ""' ~ Alta t<oeu&ncla

........
1'1 Rltro d& p.aso bajo v Baja fr&e-uencia
,J.
\
'" 1\
Figura 4 .25. Fil tro de rechazo de banda realizado con dos filt ros, de paso alto y de paso bajo en
paralelo. cada sección deja pasar a una parte del espectro de frecuencias de tal modo que sólo las
frecuencias centrales son "eliminadas".
Sin embargo, es posible diseñar un filtro de rechazo de banda con un único

circuito, aunque el análisis de la topología no resulte evidente. En la Figura
R1 R2
Vo
Figura 4 .26. Realización de un filtro de rechazo de banda mediante la suma de dos redes en 1
197
4.26 se proporciona una de estas soluciones, que utiliza dos redes en T que "se
suman" con la misma filosofía que la que se mostraba en la Figura 4.25.
El montaje del filtro no está exento de problemas, puesto que hay que con-
seguir valores muy específicos; en cualquier caso, siempre que se cumpla la
condición de que RI y R2 sean mucho menores que R, las ecuaciones de di~e
fío son:
Rl
Q = 4 · R2
1
Wc = RC
El uso de filtros de rechazo de banda es el menos habitual de todos en el con-

texto de la Instrumentación Electrónica salvo en aquellos casos en los que se
pretenda eliminar una determinada frecuencia que esté resultado especial-
mente molesta; este es el caso de la eliminación de la frecuencia de red (50 o 60
Hz en función del país), que suele acoplarse por diversos mecani~mos a nues-
tros circuitos de medida, para lo que, a veces se di~pone un filtro de rechazo
de banda centrado en esa frecuencia.
4.3. OTROS TIPOS DE FILTROS ACTIVOS
El habitual uso de filtros activos en el contexto del disefío electrónico ha po-

tenciado la aparición de bloques monolfticos especfficos para esta función. El
objetivo es la simplificación del proceso de disefío, incluyendo algunos de los
componentes pasivos dentro del propio integrado y reduciendo el número de
ellos que el diseñador debe elegir. Todos estos sistemas tienen en común su di-
seño versátil que les permite poder implementar cualquier tipo de filtro - de
paso bajo, de paso alto o pasabanda- con tan sólo un sencillo conexionado.
Sin embargo, lo específico de estos circuitos y el tamaño de silicio que em-
plean cuando integran varios dispositivos pasivos hacen que su coste no sea
precisamente bajo, lo que no los hace excesivamente populares entre los di~e
ñadores.
4.3.1. FILTROS DE VARIABLES DE ESTADO
El primer tipo de circuito integrado monolítico diseñado específicamente

para la implementación de filtros es el denominado filtro de variables de es-
tado, también denominado filtro universal (universal filter) que permite ob-
tener filtros de paso bajo, alto y pasabanda sin más que conectar de una u
otra forma las dos secciones de paso bajo de primer orden, la de ganancia y
el sumador que constituyen el dispositivo. La idea es sencilla y consiste en
realizar un sistema realimentado en el que las distintas secciones se pueden
conectar en la cadena directa o en la realimentada. Cuando una sección de
pa:m bajo se sitúa en la cadena directa, se comporta como tal, ntientras t1ue
cuando se sitúa en la red de realimentación su comportamiento es inverso,
198
es decir, como pa~o alto. Así, situar la~ dos secciones de pa~o bajo en la ca-
dena directa produce un filtro de paso bajo de segundo orden (Figura 4.27a)
mientra~ que si la~ dos secciones se sitúan en la red de realimentación (Figura
4.27b) el resultado es un filtro de paso alto; como cabe esperar, una red situa-
da en la cadena directa y otra en la realimentación da lugar a un filtro pasa-
banda (Figura 4.27c).
El UAP42 es un dispositivo de
..1. ..1. Texas instrwnents formado por
j fl) }<o dos integradores y un operacio-
(a) nal más para efectuar la reali-
mentación.
~
SAUOA&:
.,.....
. .v
Paso alto P.aubon- P.uo IIOJO
( b)
.J..
j(<J
+j aJ
En la figura se muestra su apli-
cación tfpica, con las tres salida~
..1.
j óJ (paso alto, bajo y pasabanda di~
pon.ibles). El di~eñador sólo ten-
(e)
drá que elegir qué salida qtúere
..1. usar. La principal ventaja es que
jaJ
incorpora los condensadores
integrados (de un valor bastan-
Figura 4.27 . Rea lización de fi l tros de paso bajo de segundo orden (a), paso alto de segundo te alto, 1 nF) y que sólo precisa
orden (b) y pasabanda (e) mediante la adecuada interconexión de los bloques de un filtro uni·
versal.
tres resistencias externas para
fijar el resto de las caracterL~ticas
deseadas del ffitro (véase la hoja
Los circuitos integrados que realizan estas funciones integran los condensado- de características UAF42.pdf).
res y el diseñador sólo suele tener que realizar las conexiones adecuadas e in-
cluir alguna~ resistencia<; para fijar la(s) frecuencia(s) de corte que desee. Dado
que la estructura y los valores dependen de cada fabricante y de cada dispo-
sitivo, su aplicación estará definida en su correspondiente hoja de caracterís-
tica<;.
4.3.2. FILTROS DE CAPACIDADES CONMUTADAS
La integración de circuitos para filtrado tiene algunos inconvenientes deriva-

dos de la necesidad de implementar sobre silicio capacidades y resistencias de
las que dependerá la frecuencia de corte y otras característica~ del filtro.
El primer inconveniente que se produce es que si se desea que sea un dispo-
sitivo universal deberán usarse componentes externos para facilitar el acceso
a una gama suficiente de frecuencia~ de corte. El segundo problema es que, si
se desea obtener una frecuencia de corte baja, la resistencia y 1o la capacidad
asociadas a esa frecuencia de corte va a resultar elevada lo que se traduce en
áreas importantes de silicio y en el con~iguiente incremento del coste final del
dispositivo.
Pero hay una solución para reducir el impacto de estos problemas de mano
de estructuras denominadas capacidades conmutadas (switched capacitors).
199
La idea es muy sencilla y consiste en utilizar conjuntos de un condensa-

dor y dos interruptores que conmutan a una determinada frecuencia (Figu-
ra 4.28).
(1) (1)
~ ~ , o
o Carga <1'\ ¡fiescarga q
~
r
~
(2) (2)
e
,.... ,....
fs
Figura 4.28. Funcionamiento de un bloque básico de capacídad conmutada.
Cuando los interruptores están en la posición (1) el condensador se carga a la

tensión de entrada, V,, lo que supone que el condensador almacena una canti-
dad de carga q dada por:
q= v. · e
Mientras que, cuando están en la posición (2), esa carga se pone a di~posición
del circuito de salida. El efecto producido en una conmutación completa de
los interruptores es que se ha dejado que una carga q atraviese el circuito. Si
esto se hace en un periodo determinado, T, se puede asimilar a una corrien-
te de valor:
q
1 =-
T
= q · fs = Vt · e · fs
Donde fs es la frecuencia a la que conmutan los interruptores. La anterior ex-

presión significa que podemos controlar la corriente que circula por el sistema
mediante la frecuencia de conmutación. Si pensamos en el comportamiento
de una hipotética resistencia R, esta dejaría pasar una corriente definida por
la ley de Ohm:
Vt
1=-
R
Comparando ambas expresiones se puede asumir que el circuito con el con-

den.~ador y los dos interruptores se comporta como una resistencia controla-
da por la frecuencia:
1
R = -::--::-
e. fs
Es evidente que la circulación de corriente es continua en el caso de la resis-
tencia, mientras que no lo es en el caso del circuito de capacidad conmutada,
ya que la circulación de corriente se produce en pequeños "paquetes de carga"
200
discontinuos. Sin embargo, siempre que la frecuencia de conmutación sea su- El LMFlOO es un filtro de varia-
ficientemente grande en relación con las frecuencias a las que estemos traba- bles de estado de capacidades
jando, el efecto macroscópico puede ser despreciable. conmutadas que dispone de dos
secciones diferentes lo que per-
Con esta idea, cualquier resistencia puede ser sustituida por un bloque como mite conseguir filtros de ha~ta
el de la Figura 4.28 con la diferencia de que su valor equivalente puede ser cuarto orden con un único inte-
controlado mediante una señal de reloj a una frecuencia fs. La flexibilidad que grado.
esto supone en el diseño de filtros es inmensa ya que permite que un úni- La ventaja de ser un dispositi-
co circuito pueda trabajar con cualquier frecuencia de corte. En la Figura 4.29 vo de capacidades conmutadas
se muestra un circuito de Sallen-Key de paso bajo en el que las resistencias se permite reducir al mínimo el
han sustituido por capacidades conmutadas, controladas mediante la señal uso de componentes exteriores;
CLK a la frecuencia fs. de hecho, en uno de sus posibles
modos de funcionamiento la
frecuencia de corte sólo depen-
de del reloj con lo que se puede
.------C-2~'11____~1 conseguir un valor ultra estable
11
sólo con la precaución de que
R ese reloj se obtenga a partir de
n un oscilador a crL~tal. El prin-

cipal problema radica en las
limitaciones a la frecuencia de
CLK o-__¡_____.1..,__ _ _ __,__ ___J

I trabajo que introduce, a su vez,
w\ máximo para las frecuencias
de corte que puede manejar y
Figura 4 .29. Fil tro de paso bajo real izado con capacidades conmutadas sobre una estructura de que sólo alcanzan el valor de
Sallen·Key. 100kHz.
No obstante, el circuito es muy
La combinación del uso de capacidades conmutadas con las topologías uni- versátil; en realidad, tan versátil
versales produce excelentes resultados, proporcionando circuitos de alta que la explicación de sus varios
versatilidad, capaces de trabajar como filtros de paso alto, de paso bajo o pa- modos de trabajo (7 diferentes,
sabanda y con capacidad de elegir las frecuencias de corte sin necesidad de algunos de ellos con submo-
componentes pasivos externos. Esto es una ventaja muy importante pues- dos) ocupa un buen número de
to que la posibilidad de conseguir una frecuencia de corte relacionada con páginas de sus hojas de carac-
ter(sticas (LMFlOO.pdf). Existe
la frecuencia de reloj permite con..c;eguir elevada precisión ya que es factible
una versión con frecuencia de
con..c;eguir frecuencias de reloj muy precisas gracias al uso de osciladores a
trabajo máxln\a más reducida,
cristal. el LMFIO, de Texa~ Instruments
A la hora de usar un filtro de capacidades conmutadas dado que su estructura como el anterior, que se adapta
depende de cada dispositivo, no queda más remedio que seguir las directrices mejor para aplicaciones de baja
que se presenten en las respectivas hojac; de características. frecuencia.
201
RESUMEN
Los filtros tienen como misión adaptar el ancho de banda a la~ necesidades de
cada caso; tras la amplificación se habrá tenido que cargar con un ancho deban-
da mucho mayor que el que necesitaremos lo que va a suponer una baja relación
señal-ruido. Thmbién exi~ten otros casos en los que también son necesarios filtros
como en el ca~o del pre-tratamiento de señales que vayan a ser digitalizadas.
Sea cual sea la razón por la que sea necesario un filtro, el recorte de ancho de
banda que realizará puede ser mediante eliminación de la zona de frecuencias
altas (filtro de paso bajo), mediante la supresión de las frecuencias bajas (filtro de
paso alto), dejando pasar sólo frecuencias en w1a determinada banda de frecuen-
cias (filtro pasabanda) o eliminado una determinada banda de frecuencias (filtro
de rechazo de banda). Pero la eliminación completa no es posible sino que sólo
se puede acercar más o menos a esa idealidad mediante determinadas funciones
matemáticas que se denominan aproximaciones (al filtro ideal) y que pueden
potenciar uno u otro a~pecto.
La aproximación de Buttenvorth permite que toda~ las frecuencias que se dejan
pasar lo hagan con la mi~ma ganancia; la aproximación de Chebyshev busca
que la pendiente con que el filtro delimlta la zona que deja pa~ de la zona que
suprime sea muy elevada, a costa de producir un cierto rizado de ganancia entre
las frecuencias que deja pasar. Otra aproximación que prima el comportamiento
de la fase de la señal es la de Bessel, aunque su comportamiento es el que más se
ctistancia del filtro ideal.
Las aproximaciones se implementan mediante circuHos especfficos como el de
Sallen-Key o el MFB, y, para simplificar el proceso de diseño siempre se trabaja
con una frecuencia de corte unitaria y, más tarde, se escala a la frecuencia desea-
da mectiante el cambio de Jos condensadores.
Finalmente se han presentado un par de estructura~ de tipo universal que permi-
ten implementar cualquier tipo de filtro y que se denominan filtros de variables
de estado, ya sean de tipo analógico o de capacidades conmutadas; estos últimos
emulan las resistencias mectiante una capacidad pequeña y dos interruptores
que conmutan a alta frecuencia.
202
Apartado 2.7 .2 y 4.1

4.1 Un amplificador está constituido por una cadena de amplificadores ope-
Figuras 2.68 y 4 .1 racionales con topología no inversora. Al determinar la relación S/N en-
contramos que tiene un valor bajo debido al ruido de las resistencias y al
ruido flicker del dispositivo seleccionado. Sabiendo que la señal que debe
amplificar precisa una banda pasante de Oa 1 kHz, ¿cómo debe ser el filtro
que se debe emplear?
Apartado 2.7 .2 y 4.1
4.2 Si en el caso del problema anterior la banda pasante de la señal fuese de
Figuras 2.68 y 4 .1
100Hz a 10kHz, ¿modificaría en algo la respuesta?
Apartado 4.1
4.3 Un bloque constituido por un amplificador diferencial consigue reducir
Figura 4.1
fuertemente el ruido de 50 Hz de la red eléctrica que se introduce en modo
común, pero el resultado no es del todo satisfactorio. ¿Qué bloque de fil-
trado sería adecuado para mejorar el comportamiento desde el punto de
vista de la relación S/N?
Apartado 4.1.2
Figura 4.8 4.4 Un amplificador que tiene un ancho de banda de 1 MHz produce en su
Eje mplo 4.1 salida señales cuya amplitud máxima es de 4 V con relación S /N = 38 dB.
Suponiendo que el ruido es blanco y que la máxima frecuencia de la señal
a procesar es de 10kHz, determine la mejor relación S/N posible al añadir
un filtro.
Apartado 4.1.2
Figura 4.8 4.5 Para el caso del problema anterior, evalúe la mejora que se consegui-
Ejemplo 4.1 ría con filtros de de Butterworth de órdenes 2, 4 y 8 que garanticen un
error máximo del1 %. Si se compara el resultado con el del problema
anterior, ¿cuál sería la opción que escogería en cuanto a órdenes del
filtro?
Apartado 4.2 .1
4.6 Obtenga los polinomios normalizados para el caso del filtro del Ejercicio
Ejemplo 4.2 4.5. Asimismo, obtenga las correspondientes funciones de transferencia.
¿Se modifica la función de transferencia en función de la frecuencia de
corte?
Apartado 4.2 .2
Figura 4.10 4.7 Utilizando un circuito de Sallen-Key, realice la implementación de un
Ejemplo 4.3 filtro de paso bajo de Bessel de orden 2 cuya frecuencia de corte sea
de 10 kHz. Tras realizar el diseño, se decide hacer el montaje del dis-
positivo para realizar una verificación experimental, pero el diseñador
descubre que sólo dispone de resistencias de lK. ¿Cómo resolvería el
problema?
Apartado 4.2.3
Figuras 4.10 y 4 .14 4.8 Realice el di~ño de los circuitos de filtrado del Ejercicio 4.5 mediante una
Ejemplo 4.4 estructura de Sallen-Key. A la vista de la complejidad final de cada caso,
¿modificaría la respuesta que dio a aquel problema?
4.9 Repita los diseños de Jos ejercicios 4.7 y 4.8 empleando alguna de las he-
rramientas de cálculo disponibles en Internet, como el programa Filter
Pro. ¿Obtiene iguales valores para los componentes pasivos?
203
Apartado 4.2 .3
4.10 Realice el diseño de un filtro de paso bajo de Butterworth de cuarto orden
Figura 4.12 y ganancia unitaria, con frecuencia de corte de 500 Hz mediante una es-
tructura MFB. ¿Invierte la señal?
Apartado 4.2 .3
4.11 Se con.struye un filtro de paso bajo de segundo orden de Bessel que debe
Ejemplo4.5
tener una frecuencia de corte de 1 kHz mediante condensadores cuya to-
lerancia es del lO% y resistencias con tolerancia del S%. ¿Cómo afecta al
valor real de la frecuencia de corte?
Apartado 4.2.4
F"igura 4.20 4.12 Un filtro de paso alto de segundo orden, diseñado mediante una aproxi-
Ejemplo4.6 mación de Butterworth, debe permitir que las señales lo atraviesen con
un error de ganancia menor de 0,1 dB enl:re 10kHz y 1 MHz. Determi-
ne la frecuencia de corte del filtro a 3 dB y las especiiicaciones nún.imas
exigibles al operacional con que se implementarla en una estructura de
Sallen-Key.
Apartado 4.2 .5
Figura 4.21 4.13 Se pretende realizar un filtro pa:;;abanda con frecuencias de corte a 3 dB 20
Ejemplos 4.4 y 4.6 Hz y 20 kHz. Dado que se trata de un filtro de banda ancha, se realizará
mediante aproximaciones de Butterworth de segundo orden tanto para la
sección de paso bajo como para la sección de paso alto. Di'leñe el circuito y
determine la banda pasante para un error de 0,1 dB.
Apartado 4.2 .5
Figuras 4.22 y 4 .23 4.14 Realice un filtro para seleccionar las frecuencias comprendidas entre 55 y
Ejemplo 4.7 65kHz (para estas frecuencias la caída máxima permitida es de 3 dB) sin
aportar ganancia adicional. Indique las prestaciones deseables del opera-
cional con el que se implementaría el circuito.
Apartado 4.2.5
Figuras 4.22 y 4 .23 4.15 Si en el caso anterior se pretendiese que el error en toda la banda pasante
Ejemplo 4.7 [55 + 65] kHz fuese menor del 0,1 %, ¿estaríamos en presencia de un filtro
de banda estrecha? ¿Y si el error fuese 10 veces más pequeño?
Apartado 4.2.5
4.16 Un sistema de instrumentación presenta un ruido no deseable a 50 Hz que
Figura 4.26 debe ser reducido. Teniendo en cuenta que la banda pasante debe empe-
zar en 100 Hz, implemente un filtro de rechazo de banda capaz de realizar
esa función. Compare el sistema diseñado con otra solución como, por
ejemplo, usar un filtro de paso alto.
Apartado 4.3 4.17 Realice un filtro de paso bajo de Butterworth de cuarto orden cuya fre-
cuencia de corte sea 1 kHz mediante un filtro de capacidades conmuta-
das como el MF100 de Texas Instrument~ {véase el archivo LMFlOO.pdf).
¿Cómo de fácil sería cambiar la frecuencia de corte?
204
Tema
Conversión analógico/digital
5.1. La conversión AJO en los sistemas instrumentales

5.2. Convertidores AJO
5.3. Características instrumentales de los convertidores AJO
5.4. Tratamiento de datos
TEMA 5. CONVERSIÓN ANALÓGICO/DIGITAL ••
5.1. LA CONVERSIÓN A/ D EN LOS SISTEMAS

INSTRUMENTALES
Está claro que la idea de leer valores de diversos parámetros y representarlos

para su visualización no es un concepto nuevo sino que existe, de una u otra
forma, desde hace siglos. Sin tener que acudir tan atrás en la historia, los in-
dicadores de aguja han representado todo tipo de variables desde el siglo XIX,
cuando la industrialización se lanzaba a una carrera exponencial que transfor-
marla el mundo. Era el tiempo en el que todas las variables eran de naturaleza
analógica, es decir, con capacidad de tener resolución infinita entre sus valores
extremos. Sin embargo, esto no es cierto ya que la resolución infinita es física-
mente imposible, pero a efectos macroscópicos y si la representación de una
variable se realiza mediante la indicación de una aguja se tenía la sensación de
que la variable era realmente analógica.
Estrictamente hablando, una variable analógica es aquella que puede presentar
cualquier valor dentro de su campo de medida; en otras palabras, los valores que
puede tomar una variable forman un conjunto den~o, es decir, entre dos valores
cualesquiera siempre se puede tener un valor intermedio. Como decíamos en el
párrafo anterior, esto lleva implícito que una variable analógica tiene resolución
infinita ya que el hecho de encontrar valores intermedios entre dos cualesquiera
lleva a que el número total de valores de una variable analógica es infinito.
Por el contrario, una variable digital es aquella que sólo puede presentar un
conjunto finito de valores en su campo de medida. En comparación con las va-
riables analógicas, en estas no siempre es posible encontrar valores interme-
dios entre dos dados, con lo que su resolución es finita.
En el mundo real, las variables estrictamente analógicas no existen y siem-
pre hay que contar con una resolución - por pequefía que sea- que hace que
pueda llegar a no encontrarse ningún valor válido entre dos valores cuales-
quiera. Por ejemplo, un sistema de preciBión que mida entre Oy 1 y tenga una
incertidumbre acotada por un error del 0,01 % no podría dar valores fiables
más allá del cuarto decimal; por tanto, se podría escribir que esa variable pue-
de tomar el valor de 0,564389234 pero después de 0,5644 el resto de los dígitos
pertenece al mundo de la imaginación En ese caso, el número total de valores
de la variable seria de 10000.
A pesar de todo esto, consideraremos como analógicas aquellas variables que
tengan un número de valores muy elevado, mientras que serán digitales aque-
llas que tengan pocos valores. Si nos centramos en el caso de las señales de los
sistemas electrónicos de instrumentación, tendremos señales digitales de tipo
binario (con sólo dos valores posibles) y sefíales de tipo analógico cuando el
número posible de valores sea elevado. Una señal analógica llevará asociada
una variable analógica mientras que una variable digital podrá llevar asocia-
das una o varias señales digitales binarias. Como quiera que en los sistemas
in~trumentales de hoy en día la mayoría de la~ variables se tratan en el ámbito
digital mediante algún tipo de sistema microprocesador será necesario pasar
de uno a otro contexto mediante un dispositivo especifico que se denomina
convertidor analógico-digital (a.nalog-to-digital converter) o convertidor A/0.
En la Figura 5.1 se representa este proceso.
207
Señal analógica Señales digitales
HW.____ DO
1--'~....___ D1
Ve
CONVERTIDOR A/D ~---~-- D2
1--..3.,__ _ Dn
Labvmw Variable analógica Variable digital

En mu.c has ocasiones, es necesa-
Ve Dn...D2,D1,DO
rio conocer el valor de diversas Conversión A - D
variables y dLsponer de medios
para su almacenamiento, dLstri-
bución y representación.
Uno de los entornos más cono-
cidos para desarrollar aplicacio-
nes es el Lab VIEW® de la firma
National lnstruments (www.
ni.com). Se trata de W\ entorno Figura 5.1. Paso de una variable desde el mundo analógico al digital: se cuantifica un valor deter·
minado de la variable analógica mediante un conjunto de señales binarias que forman un código
de programación gráfico que
concreto.
permite leer datos proceden-
tes de equipos de medida, de
sistemas de adquisición de da- Las variables digitales son las más habituales en el mundo de la In.~trumen
tos o, en general, de cualquier tación Electrónica en el que lo más común es que se manejen este tipo de
dLspositivo capaz de tener una variables para representar la información. De hecho, ya no son usuales los in-
comunicación estándar con un dicadores de aguja - los "relojes" como se los conocía popularmente- sino
computador. que su lugar lo ocupan indicadores numéricos o gráficos complejos sobre pan-
Los datos leidos pueden ser pro- tallas de alta resolución que permiten muchas más funciones que las de pre-
cesados, almacenados en for- sentar un valor en un momento determinado. Sólo en determinadas ocasiones
matos estándar y, por supuesto, se mantienen indicadores de aguja (o similares), como cuando se quieren dis-
presentados en pantallas inte- poner muchos indicadores en los que las agujas proporcionan una visión más
ractivas para una vLsualización cómoda e inmediata que la que proporcionarían cientos de números.
cómoda y eficaz.
Las variables digitales que contienen información instrumental se manejan en
La principal ventaja de este tipo
todo tipo de si~temas digitales, desde pequeños si~temas microprocesadores y
de sistemas es la sencillez de
uso, el rápido aprendizaje, la
microcontroladores hasta grandes computadores de proceso y desde equipos
buena conectividad con la ma- portátiles de medida hasta grandes sistemas de adquisición de datos. A gran-
yoría de los equipos de medida des rasgos, los convertidores A/D se emplean en todos estos sistemas, pero
y la gran funcionalidad de los desde un punto de vista instrumental se puede hablar de una serie de ca~os:
resultados. a) Sistemas digitales de medida en los que el convertidor A/D es el principio
y el final del ámbito digital. Equipos típicos de esta categoría son los po-
límetros digitales y, en líneas generales, cualquier instrumento de medida
portátil.
b) Sistemas de adquisición de datos (Data Acquistion Systems), que son equi-
pos genéricos, previstos para la lectura de varia~ variables simultáneamen-
te en el convertidor A/D; estos sistemas pueden ser equipos autónomos
e independientes (Data Logger), sistema~ conectados a un computador o
tarjetas dentro del propio computador en que se procesará y 1o se repre-
sentará la información obtenida con finalidad de monitorización y super-
visión. A menudo se usan programas que permiten gestionar de una forma
eficaz la p1·esentación de Jos datos, ya se u·ate de software propietario o de
entornos de desarrollo más o menos genéricos.
208
e) Sistemas de control de procesos, que reciben los datos y los transforman

en valores digitales mediante el convertidor A/D para tomar las corres-
pondientes acciones en función de ellos. En este caso, la conversión A 1D
suele figurar en los estratos más bajos de un esquema de control que puede
incluir varios niveles de control y supervisión. Los datos obtenidos de las
variables de campo fluyen hasta los niveles más altos donde se representan
sobre dispositivos de interface hombre-máquina (HM1, Human-Machine
Interface) sobre los que se ejecuta algún programa de tipo SCADA (Supervi- SCAD A
sory Control And Data Acquisition). Los SCADA también permiten
la gestión de da tos tomados
Desde un punto de vista electrónico, el convertidor A/D puede ser un dis-
desde PLC (Progrnmmable Logic
positivo independiente, conectado con el sistema digital o embebido en el Controller) para su representa-
propio sistema. También son muchas las formas en las que un convertidor ción pero, sobre todo, para ope-
A/D puede conectarse con el sistema digital entre las que se incluyen la rar como interfaz de actuación
transmisión de datos en paralelo o en serie siguiendo o no protocolos nor- en sistemas de control más o
malizados. menos complejos como plantas
o procesos industriales.
En resumen, el abanico de posibilidades de uso, características, modos de co-
nexión, etc. es muy amplio y, en muchas ocasiones, depende de los propios A diferencia de Jos entornos de
dispositivos, de modo que no es fácil establecer una teoría general que cu- programación como LabVIEW,
los sL~temas SCADA no poseen
bra el ámbito de la conversión A/D. En el caso del presente texto, nos limi-
una gran flexibilidad y suelen
taremos a proporcionar aquellas informaciones y características que afectan
estar diseñados como sistemas
a su funcionamiento instrumental, es decir, dentro de la cadena de medida propietarios, de modo que van
y cuantificación de las variables. Prescindiremos de todos aquellos aspec- asociados a un determinado
tos ligados con la tecnología o la forma de trabajo de los convertidores para fabricante. Aunque siempre se
restringirnos a las características macroscópicas del dispositivo; aun cuan- promete la posibilidad de po-
do estas sean una consecuencia de las primeras sólo nos importarán sus da- der integrar otros equipos, tal
tos instrumentales, es decir, los que determinan su caracterización estática y posibilidad se esfuma tra~ hora~
dinámica. de trabajo e innumerables pro-
blemas. Fabricantes como Sch-
neider u Omron proporcionan
sL~temas SCADA de uso amplio,
modernas y coste razonable.
5.2. CONVERTIDORES A/ D Otros, como Siemens, propor-
cionan herramientas un tanto
obsoletas, de alto coste y muy
limitadas.
5.2.1. TIPOS DE CONVERTIDORES
La tarea de cla~ificar los convertidores A/D puede hacerse desde varios pun-
tos de vista, según se efectúe en función de su entrada, de su salida, de la for-
ma de hacer la conversión, de la forma de codificación de la variable digital
de salida, etc.
Entrada diferenci al y entrada referida a masa

Desde el punto de vista del tipo de entrada, aunque la mayoría de los conver-
tidores A/D trabaja con señales de tensión, hay dos opciones básicas que son
la de disponer de entradas referidas a masa o disponer de entradas de tipo di-
ferencial (Figura 5.2) lo que permite adaptarse a la mayoría de la~ señales de
Jos equipos de instntmentación con las ventajas e inconvenientes inherentes a
estos tipos de señal.
209
vej A/D A/D
1 .L
Figura 5.2. Convertidores A/D con entrada referida a masa (izquierda) y diferencial (derecha).
Salidas en serie y en paralelo

Desde el punto de vista del tipo de salida hay numerosas opciones, aunque se
pueden agrupar en dos grandes categoría~: la~ salidas en paralelo o en serie.
En el primer caso, las señales correspondientes a la variable digital de salida
se proporcionan simultáneamente, mientras que en el segundo caso los valo-
res de cada señal se sumini~tran secuencialmente por medio de una única sa-
lida (Figura 5.3).
vett ---;-rr--:~-~== 0
DO.1
AJO 02 AJO 1--- DO 01 02 ...... Dn
o---~"T""_ _ J-- Dn
El dato se suministra
secuencialmente
El dato completo está
disponible simultáneamente
Figura 5.3. Convertidores A/D de salida en paralelo (izqu ierda) y en serie (derecha).
La principal ventaja de la salida en paralelo es su sencillez ya que el dato ob-

tenido está disponible directamente sobre las lineas digitales y no hay más
que leerlo sin ninguna operación adicional; el principal inconveniente es que
precisa de tantas conexiones como señales digitales de salida tenga lo que da
lugar a interconexiones más complejas con los sistemas digitales y al uso de
mucha~ lineas de entrada en los dispositivos microprocesadores que reciban
la información.
Los convertidores con salida serie emplean muy pocas lineas de interco-
nexión (una para los datos más las necesarias para el control) lo que facilita
su uso y no acapara líneas de entrada en los microprocesadores; sin embar-
go, son intrínsecamente más lentos que los de salida en paralelo a la hora
de transmitir la señal y precisan algún tipo de operación más para obtener
el dato final dado que el equipo digital va recibiendo uno a uno los valores
de las señales digitales. La~ elevadas velocidades de transmi~ión disponibles
hoy en día minimizan el primer inconveniente y la existencia de varios pro-
tocolos normalizados hacen que sea muy sencillo manejar la información del
convertidor.
El más genérico de los protocolos de comunicación serie es el SPI (Serial Phe-
riph.erallnterface) que es un estándar de Jacto. También es conocido como SSI
(Synch.ronous Seria/Interface) debido a la característica síncrona de su comuni-
cación o como Microwire, aunque este es en realidad un nombre comercial de
un predecesor que estableció National Semiconductor.
Uno de los más habituales protocolos de comtmicación serie es eli'C (lrrter-ln-
tegrated Circu.it), un formato desarrollado por Philips que es de uso libre des-
de 2006. Este tiene la ventaja de poder utilizarse fácilmente por un conjunto de
210
La forma más evidente de realizar una conversión A 1D es mediante una es-

tructura directa formada por comparadores y un codificador lo que constitu-
ye un convertidor A/D directo (/úlsh converter); Cada comparador proporciona
una señal digital que indica si la señal analógica está situada por encima o por
debajo de su nivel de comparación (Figura 5.4). El conjunto de todas estas se-
fiales se codifica con un circuito digital combinacional para dar el código co-
rrespondiente. 'Este tipo de estructura resulta poco eficiente porque di~para
el número de comparadores - y el correspondiente coste-- en cuanto se de-
seen unos pocos bits de salida. Por ejemplo, para conseguir 8 bits, se precisaría
comparar con 28 - 1 = 255 niveles lo que necesita ese mismo número de com-
paradores. La principal ventaja de este convertidor es que puede ser muy rá-
pido, tanto como lo sean los comparadores.
Otra forma de realizar la conversión A 1D es mediante los convertidores de
rampa. Estos dispositivos tienen un sistema (un integrador) que va subiendo
la tensión hasta alcanzar el valor de la variable analógica de entrada¡ mien-
tras tanto, un contador cuenta pulsos hasta el momento en que la rampa y
la señal de entrada tengan el mismo valor, de forma que cuanto más tarde
la rampa en igualarla tanto más grande será el número de pulsos contado
y, por tanto, tanto mayor será el valor numérico del código de salida (Figu-
ra 5.5)
Ve c~~--~----~~ IR
~--~~~--.----1--~~~~~C~o~n-ta_d_o~r~
e .... 1111 1
T ~- OSC H--' Registro
1111 1
FIN CON n bits de salida
Figura 5.5 Convertidor A/0 de rampa: cuando CON= O, el contador no está en situación de RESET
y el i nterruptor está abierto; el condensador se carga con la f uen te de corriente, produciendo una
rampa de tensión. Cuando el valor alcanza el de la tensión de en trada, dejan de llegar pu lsos al
contador y el disposi tivo i ndica que t ermina la cuenta (FIN= 0).
El problema de este tipo de conversión radica en su lentitud aunque presenta

la ventaja de proporcionar valores muy precisos. En realidad, la mayor parte
de los convertidores realizan dos rampas (convertidor de doble rampa) para
compensar los errores producidos en el circuito de integración.
La estructura más habitual de los convertidores usados en el ámbito de la in.~
trumentación es la de aproximaciones sucesivas, una técnica basada en la
búsqueda dicotómica, que permite encontrar el valor de una variable analó-
gica en un número pequefio de pasos y con una complejidad relativamente
baja. La idea consiste en realizar un algoritmo que divida el campo de medi-
da en dos mitades para preguntarse a continuación en cuál de las dos está el
valor de la variable¡ el siguiente paso vuelve a repetir el proceso y la pregun-
ta, con lo que la zona resulta cuatro veces más pequeña que el alcance origi-
212
nal. Pasos sucesivos van centrando el valor en la octava, la dieciseisava parte,

etc., hasta llegar a la precisión que se desee (Figura 5.6). El número de pa~os es
igual al número de bits de cuantificación con lo que este tipo de sistema supo-
ne una solución de compromiso entre la rapidez de los convertidores directos
y la precisión de los convertidores de rampa.
-
Ve
+
OlA -
r-
A
S.A.R. Bl oque de control
1"
111 1 t
INICIO FIN
+
n bits de salida LECTURA
Figura 5.6 Convertidor de aproximaciones sucesivas. El núcleo del sistema es el registro de apro-
ximaciones sucesivas (SAR, Succe.ssive Aproximation Register) que real iza la búsqueda dicotómica
del valor poniendo en la entrada del convertidor D/A (Digitai·Analógico) otro valor para comparar
con el de entrada y deci ldir la siguiente accíón.
Otra estructura de conversión muy habitual en determinados ámbitos, como

el del sonido, es la conversión denominada sigma-delta, que consiste en com-
parar el valor de la variable de entrada con un valor almacenado en una
capacidad que se va incrementando o disminuyendo en función de la compa-
ración. El resultado de la comparación determina si en el siguiente pa~o se in-
crementa o se disminuye el valor almacenado. También se suele denominar
convertidor de 1 bit ya que el resultado no es un valor compuesto por mu-
chos bit~ sino por uno solo que indica si el valor sube o baja respecto del ante-
rior (Figura 5.7).
V ce
+··-------, D
Ve
Ve
D 1111 1 11 1 1 0101 1010110010100000
Figura 5.7 Convertidor sigma·delta. En función del valor al macenado y el de entrada, el compara·
dor y el circu ito lógico a dan una salida que obliga a sumar o restar tensión en el condensador; a
la derecha, un gráfico con la evolución de las tensiones.
A pesar de que la salida puede ser de tan sólo un bit, se puede incorporar un
contador que permita obtener una salida "más tradicional"' constituida por
varios bits.
213
5.2.2. CONEXIÓN DE CONVERTIDORES AID A SISTEMAS

DIGITALES
La mayor parte de las veces, los convertidores A/D formarán parte de una
cadena de control o de monitorización, por lo que sus datos irán a parar a
un sistema digital con un cierto nivel de gestión; los casos en los que los con-
vertidores A/D trabajan solos no resultan demasiado habituales salvo en pe-
queños y simples instrumentos autónomos o portátiles de medida; incluso en
estos, cada vez es más frecuente la presencia de algún tipo de sistema que le
proporcione una mayor funcionalidad como la capacidad de memorizar da-
tos, ajustar el cero, realizar medidas diferenciales respecto de un valor ante-
río~ etc.
En definitiva, en la práctica totalidad de los casos, un convertidor A/D vuel-

ca sus datos sobre un si~tema digital del tipo de un microprocesador. La for-
ma de conectar un convertidor A 1D a ese si~tema digital que gestionará los
datos que proporcione dependerá de si la salida que produce es de tipo serie
o paralelo. Lo que es común a todas las posibilidades es que, dado que el pro-
ceso de conversión no es instantáneo sino que requiere un cierto tiempo, los
momentos de arranque, fin de la conversión y el intercambio de datos entre el
convertidor y el sistema se realizarán mediante algún tipo de señal o protoco-
lo de control.
CONVERTIDORES CON SALIDA PARALELO

Aunque esta parece la forma de conexión más evidente, cada vez es menos
habitual debido a que precisa m uchas líneas para transmitir los datos, tantas
como bits se empleen para la conversión más aquellas dedicadas a la gestión
del diálogo (Figura 5.8).
DO
01 lineas de datos
02
•
V:e •
•
•
On
=
Uneas de control
.L
AJO .L
Sistema digital
Figura 5.8. Comunicación paralelo entre un convertidor A/D y un sistema digital. Los momentos de
arranque, fin de la conversión, lectura, etc. se gestionan mediante una o varias señales digitales. El
conjunto de la conexión consume un buen número de líneas de entrada/sal ida digital del sistema
digital.
En general, la comunicación se gestiona mediante algún tipo de señal de con-

trol que indique los momentos de inicio y fin de la conversión. Junto con es-
tas señales pueden aparecer otras que permitan acceder al dispositivo o a la
lectura de los datos. Aunque en los primeros convertidores había muchas se-
214
ñales de control e, incluso los convertidores A/D formaban parte del mapa de
memoria del propio microprocesador, se prefiere reducir al mínimo tales se-
ñales para facilitar la conexión con "economía de pines". No obstante, en los
casos en que se manejen grandes velocidades de conversión puede ser necesa-
rio di~poner de medios especiales para guardar los datos como acceso direc-
to a memoria (DMA, Direct Access Memory) para evitar saturar el trabajo del
procesador con operaciones de lectura de datos de conversión y guardado en
memoria.
Algunos convertidores A/D de alta complejidad di~ponen de registros adi-
cionales a los que se accede por medio de los mismos bit~ que se usan para la
salida. Estos registros permiten configurar su funcionamiento. En cualquier
caso, no existe una normalización para la comunicación en paralelo por lo que
el diseñador deberá acudir a las hojas de características del dispositivo para
efectuar correctamente la conexión.
Convertidores con salida serie

La conexión de dispositivos A/D con salida serie depende del protocolo im-
plementado en el convertidor que suele ser de tipo SPI o FC, pero está estan-
darizada en cualquiera de los casos.
La conexión SPI no es un estándar propiamente dicho, pero está tan extendi-
do su uso que se puede considerar como un estándar de hecho. Se trata de un
protocolo de comunicación síncrono (un reloj controla la tranc;ferencia de da-
tos) de tipo full-duplex (se permite la comunicación bi-direccional de forma si-
multánea) entre un sistema que actúa como maestro (master) y uno o varios
que funcionan como esclavos (sla.ves). En el caso de conexión de uno o varios
convertidores A ID a un si-~tema digital, este será el maestro mientras que los
esclavos serán los convertidores A/D. La conexión física se realiza median-
te sólo cuatro señales referida~ a masa, de las cuales una es el reloj de sincro-
nización SCLK, que será proporcionado por el equipo digital que actúa como
maestro, una línea de selección de esclavo S/Sy dos líneas para la tran~misión
de información, una desde el maestro al esclavo (MOSI, Master Ouput-Slave
Input) y otra desde el esclavo al maestro (MlSO, Master Input-Slave Output), se-
gún se indica en la Figura 5.9.
SCLK
MOS/
Ve MISO Sls tema digital
AJO
(esclavo) SIS (maestro)
l.
Figura 5.9. Conexión SPI genérica.
En el caso de que se deseen conectar varios convertidores A/D como, por

ejemplo, cuando se quiere conectar un determinado número de sensores in-
215
dependientes cuya salida es de tipo SPI, hay dos opciones. La primera es una
estructura de esclavos independientes en la que el sistema digital selecciona
en cada momento el convertidor con el que va a entablar el diálogo mediante
una línea específica (Figura~ S. lOa). La segunda forma de hacerlo es un tipo de
priorización por posición conocida como daisy chain en la que sólo cuando el
El protocolo I'C (Inta-Inte-gra- más cercano de los convertidores A/0 está libre, pueden hablar los demás (Fi-
ted Circttit) fue desarrollado por gura 5.10b), una solución de gestión más compleja pero que reduce a sólo una
la división de semiconductores
línea de selección las necesidades del sistema digital que actúa como maestro.
de Philips y presentado en 1982
(hoy esa división se denonúna
NXP y es una de las veinte ma-
yores empresas de semiconduc- v.,
0) SCLK
M OSI - v.,
0) SCLK
MO
MIS;\ !o,
-
tores del mundo).
La primera propuesta estaba A/0
MISO
SIS
A/0
S!S ...
{esclavo} (esclavo)
definida para una frecuencia Slslema dlgttal S lateme dlgltal
.1. .1.
de trabajo de 100kHz, pero ha (maestro) (m aestro)
sufrido importantes modifica-
ciones desde entonces: el primer 0 SCLK
M OSI
SCLK 0 SCLK SCLK
v., M OSI MO~ 'AOSJ

estándar data de 1992, pero con
posterioridad se han ido intro-
MISO
SIS -
MISO
v.. MIS'ti
SIS
~ ~1~0
~ S!S
1 51~1
...
SIS2
duciendo diversas mejoras has- A/0 AIO
ta que, en la actualidad, pernúte
trabajar ha~ta a S MHz y alcan-
{esclavo)
.. ... .
(esclavo}
. ... :,,
S/S.,
. '· ''·
'
zar un lúnite de nodos de 1008.
..
.1. .1.
'' '' ''
Desde finales del siglo pasado,
muchos fabricantes empezaron
a ofrecer circuitos compatibles
con r'C, pero no fue hasta que se Ve"
0 SCLK
M OSI
MISO
-
überalizó el bus en 2006 cuando SIS
su uso se hizo totalmente uni- A/0 A/0

(esclavo)
versal.
(esclavo)
...
(a) (b)
Figura 5.10. Conexión SPI con varios disposit ivos esclavos: (a) esclavos i ndependientes; (b) daisy
chain. Con esclavos independientes, el si stema digital que con trola la comunicación debe disponer
de tantas lfneas de selección como esclavos existan m ientras que en el caso de usar daisy chain
basta con una sola lfnea; sin embargo, la comun icación es más lenta y compleja ya que los datos
deben recorrer todos los esclavos.
A pesar de que el protocolo SPI es muy habitual, la apertura en 2006 de la pro-

puesta del PC que era propiedad de Philips ha permitido su implementación
en multitud de sistemas, entre los que destacan los sensores que digitalizan
sus valores y los proporcionan mediante un protocolo de este tipo. La prin-
cipal ventaja de este tipo es que el direccionamiento no se produce de forma
hardware (mediante una señal de selección) como en el caso del SPI, sino me-
diante una dirección software lo que multiplica el número de di~positivos dis-
ponibles sobre una misma linea. Si en el ca~o del SPI no es frecuente encontrar
más de 8 o 10 di~positivos conectados a un mismo bus, el PC permite conec-
tar hasta 128 bloques en su nivel básico y hasta 1024 en el modo extendido. En
realidad, dado que algunas de las direcciones están reservadas para determi-
nadas funciones no llegan a ser tanta~. pero un sistema instrumental que ma-
neje ese número de variables analógicas procedentes de otros tantos sensores
es realmente un sistema complejo.. .
216
TEMA 5. CONVERSIÓN ANALÓGICO/DIGITAL • •
El protocolo l2 C es muy sencillo desde el punto de vista de hardware (Figura

5.11) ya que se compone únicamente de dos lineas de colector abierto (open-co-
Uector) o drenaje abierto (open-drain), una para comunicación (SDA) y otra para El hermano mayor del I'C
actuar como reloj de sincroni~mo (SCL). Cuando el bus no está siendo usado las
La comunicación mediante I'C
dos linea~ están a nivel alto y cualquier maestro puede acceder al bus poniendo
tiene muchas limitaciones tanto
a nivel bajo la linea SDA, luego pondrá la dirección del receptor y, finalmente, de velocidad como de dL~tancia
se establecerá el diálogo que terminará con la vuelta de la linea SDA a nivel alto. máxima. Además, este siste-
ma resulta bastante sensible al
.,
Máxima distancia: 50 m
r uido y, de hecho la presencia
V•
' de ambientes hostiles desde el
punto de vi~ta electromagnético
- 0 (esclavo}
AID - r-
0 AID
(Melavo)
0 AID
(esclavo) 1-
produce errores en la comunica-
ción, lo que obliga a reducir aún
más la velocidad efectiva.
+5 V Aunque no ocurre a nivel de
SDA circuito integrado, la filosofía
SCL
de bus de comunicaciones tiene
ov
1 un buen representante en el pro-
tocolo RS-485 (EIA-485) estan-
Sistema digital
darizado desde 1996 por ANSI
(maestro)
(Atnerica.n National Sta.n dard
Figura 5.11. Bus I'C con varios convertidores A/0 q ue incluye las resistencias que garantizan que Institute) y por la Asociación de
las lfneas SDA y SCL están a nivel alto cuando nadie usa el bus (pull·up resistors). Industrias de Telecomwticación
(TIA). La gran diferencia de este
protocolo es que transmite me-
El protocolo FC es muy flexible, pero presenta limitaciones en cuanto a su ve-
diante W\a señal diferencial Jo
locidad de trarL~sión de datos, que es reducida (en el mejor de los casos, 3,4 que, como hemos analizado en
Mbit / s aunque el valor estándar es de 100 kbit/ s), lo que no es un problema los temas 2 y 3, garantiza una
para la mayoría de los sistemas de instrumentación pero sí para otras aplica- mayor inmwtidad a las pertllt-
ciones dentro del mundo de la Informática. Sin embargo, la principal limita- baciones de modo común. Esto
ción para los sistemas instrumentales es su corto alcance - no más allá de 50 permite alcanzar más de 1,2 km
m o menos si el entorno es electromagnéticamente agresivo- lo que reduce y hasta 35 Mbit/ s (no simultá-
su aplicación en el control de procesos y en otras aplicaciones industriales sólo neamente).
a manejar dispositivos dentro de un rni~mo equipo o, incluso, dentro de una Su excelente comportamiento
rni~ma tarjeta de circuito impreso. ante las interferencias y su al-
cance en distancia hace de é l
uno de los protocolos más em-
Convertidores A/ D empotrados pleados en entornos industriales
tanto en el ámbito de la monito-
En algunos sistemas microprocesadores se incluyen uno o varios converti-
rización como en el del control.
dores A/D para la digitalización de variables de entrada. Son convertidores
empotrados o embebidos (embedded converters). A nivel de tarjeta de circui-
to impreso suelen constituir sistemas relativamente complejos que incorpo-
ran otras entrada~ digitales y salidas tanto analógicas como digitales; ejemplos
de este tipo de sistema~ son algunos bloques pensados para procesar señales
de audio o de vídeo o sistema~ genéricos de procesamiento digital de señal
(DSP, Digital Signal Processor).
Sin embargo, el lector probablemente está más familiarizado con los micro-
controladores (microcontrollers), microprocesadores especializados que in-
cluyen en el rni~mo circuito integrado todos los dispositivos periféricos que
podemos ncccsitor, tales como memoria, puertos de entrado/ salido, comuni-
caciones serie)', por supuesto, convertidores A/D.
2 17
En estos casos, el conexionado ya está hecho en el propio chip y el usuario se

limitará a programar adecuadamente el sistema para conseguir la funcionali-
dad buscada. Lógicamente, la forma de trabajar de estos sistemas dependerá
del fabricante y a sus especificaciones habrá de dirigirse el di~eñador cuando
quiera emplearlos.
5.3. CARACTERfSTICAS INSTRUMENTALES

DE LOS CONVERTIDORES A/ D
El uso de los convertidores A 1D no se restringe a su conexión a un sistema

digital sino que es necesario conocer sus limitaciones instrumentales para no
caer en el error de esperar más de lo que sus características pueden proporcio-
nar. En esencia, estas característica<> son la~ misma~ que las que definen cual-
quier otro sistema instrumental y que fueron analizadas en el Tema l.
5.3.1. RESOLUCIÓN Y ALCANCE
La resolución de un convertidor A /D es su característica estática má~ destaca-

da puesto que nos indica cuánto se acerca a la "realidad" analógica y suele for-
mar parte del título de las correspondientes hojas de características: se habla de
un convertidor de tantos o de cuantos bits como primer criterio de selección.
Realmente la resolución es un dato importante puesto que define cuántos ni-
veles puede diferenciar un convertidor A/D ~ teniendo en cuenta el alcance,
cuál es la amplitud de cada nivel. El alcance, S, es la diferencia entre el valor
analógico más alto (VR.El'2) y el más bajo (VRm) de la escala analógica de entra-
da. Si, como es habitual, el convertidor A/D trabaja con valores binarios, al
valor má~ bajo le otorgará el nivel en que todos los bits son "O" ~ al más alto,
el nivel en que todos los bits son "1" de modo que, si el número de bits es n,
será capaz de distinguir 2" niveles distintos y habrá 2" - 1 saltos o escalones
que determinarán la correspondiente curva de calibración (Figura 5.12).
La resolución del convertidor en las unidades correspondientes a la tensión de
entrada sería de:
S
r = -..,.,.-..,.
zn -1
Por ejemplo, un convertidor A/ D de 10 bits que admita tensiones de entrada

entre Oy 5 V tendría una resolución de 4,888 m V. Eso significa que cada esca-
lón de la~ Figura 5.12 tendría precisamente esa altura. Como el valor de cada
escalón es el mfni.mo que es capaz de distinguir el convertidor suele usarse
como unidad para todos los parámetros y se denomina bit menos significa-
tivo (LSB, Less-Sígnificant Bit). De cualquier convertidor puede decirse que su
resolución es de 1 LSB ~ por tanto:
1 LSB = S
zn- 1
218
L~
(?i ( 1\
S ~
1LSB
~ .! y
/ ~
~
~
>;
~
~ ~
8. CÓDIGOS DIGITALES
~
~
§ (n bits)
Figura 5.12. Curva de cal ibración de un convertidor A/D en donde se destaca el conceplo del esca·
Ión de 1 LSB entre un código y el siguiente.
Como la resolución depende del número de bits, también se puede indicar de

esa manera; de hecho, es la más habitual. Como idea general, cuanta más reso-
lución tenga un convertidor, mayor será su capacidad de distinguir valores y;
por tanto, más se acercará al valor analógico, luego incrementar el número de
bit~ posibilita obtener más información acerca de la señal analógica. Sin em-
bargo, cuanto más elevado es el número de bit~, más complejo es el converti-
dor (independientemente de su e.9tructura) y mayor será el coste que supone;
un convertidor directo necesitará más comparadores, uno de aproximaciones
sucesivas, más pasos de cálculo y un registro más grande y tmo de rampa, un
contador más grande.
Cuando el diseñador se enfrente a la selección de un convertidor A/D tan-
to el alcance como la resolución deben ser tenidos en cuenta. Desde el pun-
to de vista del alcance, este debe ser apropiado a la señal analógica que va a
convertir puesto que, de no ser así, se traduciría en pérdida real de resolu-
ción. Para darnos cuenta de esto supongamos una señal analógica que tiene
que ser convertida a digital en un di.~positivo de n bits de resolución y que va-
ría desde V.,1• hasta v.,... mientras el dispositivo admite entradas desde Ohas-
ta S. Admitiendo que V.,1• >O, tenemos que el valor del LSB (la altura de cada
escalón) sería de S 1 (2"- 1) como establecimos antes. Eso significa que, si la
señal varía como indicamos, el número de escalones, N que estarán disponi-
bles será de:
La resolución real de este convertidor para esa señal, expresada en número de

bits, n,.,¡ vendrá dada por el mayor número natural que cumple:
219
¿Cuánto mide una mesa? Como se puede ver, sólo en el caso de que S = V"'"' - V, 1• se conseguirá la reso-
Si tuviésemos que conocer las lución nominal del convertidor.
dimensiones de una mesa por
algún motivo como, por ejem-
plo, saber si cabe o no en un
determinado lugar, lo normal EJEMPLO S_t
es que recurramos a una cinta
Una señal que varía de Oa 1 V se digitaliza en un convertidor de 12 bits
métrica o un metro flexible, arti-
lugios que, a buen seguro, tene-
de resolución que admite entradas de Oa 5 V. Determine la resolución
mos en algún cajón de casa. real de esta conversión.
Cuando observamos la medida Soluci6n:
que nos proporciona podremos La resolución del convertidor será (expresada en voltios):
leer, por ejemplo, 120 cm ya qu.e,
en muchos casos las divisiones S
r = 212 _ = 1,221 mV
de estos sistemas de medida van 1
de centímetro en centímetro o,
en el mejor de Jos ca~os, de mi-
En total, el número de escalones para una sefíal de entrada que sólo
límetro en milímetro. ¿Nos bas-
taría saber que mide 120,1 cm o
varía desde O a 1 V será de 819 lo que supone menos de 10 bits (10
queremos más resolución7 bits ~ 1023 escalones). Podemos concluir que la resolución de la con-
versión sería de 9 bits y habríamos perdido 3 bits por no adaptar
Evidentemente, con [a tecno-
bien el alcance de la señal de entrada al campo de medida del con-
logía actual es posible llegar a
una precisión mucho mayor. Si vertidor A/ D.
cogemos nuestra mesa y la lle- A una conclusión semejante llegaríamos al aplicar directamente la ex-
vamos a algún Jugar con méto- presión que indica el valor de n.,,r
dos de medida interferométricos
podríamos llegar a resolver mu-
chas cifras más ... Quizá, con un
experimento diseñado a medida Como se puede observar, la señal de entrada debe adaptarse lo mejor posible
podamos llegar a saber que la al campo de medida del convertidor para aprovechar al máximo la resolución
mesa tiene wta longitud de 120, que ofrece.
09875 cm. Aún así, llegará un
En el supuesto de que tengamos una señal perfectamente adaptada en valores a
momento en que no estaremos
seguros de la siguiente cifra y la entrada del convertidor, podemos preguntarnos por la resolución que debe-
ahí habremos tropezado con el mos emplear. El lector puede pensar que, cuanta más resolución, mejor repre-
límite de la realidad ru\alógica. sentado quedará en el campo digital el valor analógico que manejamos puesto
¿Sería lógico dar un valor así
que "una variable analógica tiene resolución infinita ..." . Nada más inexacto.
para la longitud de una mesa? Una variable con resolución infinita sería aquella que no posee ningún tipo de
Casi seguro que no. incertidumbre, algo que es imposible en el mundo real. Sabemos que hay va-
rias causas para la incertidumbre pero que, desde un punto de vista instru-
mental, podemos decir que el ruido y los errores debidos a offset y ganancia
son las fuentes principales¡ así, cuando tengamos un determinado valor ana-
lógico ideal, debemos saber que hay una franja de valores reales en tomo a los
cuales se puede mover (Figura 5.13).
Esta franja se compone de dos partes: en primer lugar, una banda de incerti-
dumbre que se debe al conjunto de errores (offset, ganancia, etc.) y otra más
que se debe al ruido incluido en la señal. Como amba~ son independientes en-
tre sí, en el peor caso se sumarían con lo que una variable analógica puede ex-
presarse como v ± e, donde e es la suma algebraica del error y de la tensión de
pico de ruido.
De esta forma, cada valor de una variable analógica puede expresarse con
toda la precisión que queramos, pero no tiene mucho sentido trabajar con una
220
V
... Máxima incertidumbre
Ruido
e= 2· s+ v...,
Vnp
Valor "ideal"
Figura 5. 13. Acotación de l a incertidumbre en la variabl e de entrada debida al error (ganancia,

offset, etc.) y al ruido añadido sobre la señal.
resolución más pequeña que la suma del error y del ruido. Dicho de otra mane-
ra, para saber que un determinado valor se diferencia de otro próximo, deberá
estar fuera de la banda ±e puesto que de no ser así, no podemos asegurar que
el cambio se deba a la incertidumbre propia de la señal. Teniendo esto en cuen-
ta, la~ variables analógicas tendrían una resolución igual a 2e )~ en consecuen-
cia, el convertidor A/D que se emplease para digitalizarlas no debería tener
una resolución mayor puesto que, en tal caso, el (los) último(s) bit(s) podrían
variar debido a la incertidumbre y no debido a la propia señal (Figura 5.14).
V
Jv,, 1 LSB
?•
~ Código
/ ----'-----+
Incertidumbre en la conversión
Figura 5.14. l a suma de efectos entre el propi o error de la senal y la tensión de ruido producen
una incertidumbre en el valor de la señal que, con una resol ución menor, puede causar variaciones
en el val or f inal p roducido por el convertidor A/ D. El efecto que se suele observar es la presencia
de valores cambiantes en la lectura f inal aun cuando el valor de entrada se mantenga constante.
Para formalizar esta idea, si tenemos una señal con un alcance S, un error e y
una tensión de ntido de pico V •ti entonces, la resolución de la señal será:
r =2 · (e+ Vnp)
El número de escalones sería:
Entonces, el convertidor a utilizar tendría una resolución en número de bits

que sería la del menor número natural que cumpla:
221
¿10 o 12 bits? S
Cuando tenemos que cUgitalizar
log )
2·(e+Vnp
una sefial, ¿qué es mejor, usar n> log2
W\ convertidor de muchos o de
pocos bits de resolución?
La primera idea es seguir el re-
frán de "burro grande, ande o EJEMPLO 5.2
no ande" y optar por empezar
a buscar entre los convertido- Un sensor con un drcuito de acondicionamiento produce una señal de
res con más bits de resolución. O a S V que debe ser digitalizada mediante un convertidorA/D. Si el
Pero, ¿qué implicaciones tiene error máximo que se puede a')egurar para la señal es del 0,1 %y el rui-
eso para las señales que deban do estimado produce una relación S/N de 72 dB, ¿cuál es la resolución
ser cuantificada~? Es muy sen- mác; apropiada para el convertidor?
cillo, un convertidor de 24 bits
significa que cada escalón supo-
Solución:
ne una porción de 1/(224 - 1) del Para determinar la resolución tenemos que conocer la cota máxima de
alcance total de la conversión, es la :incertidumbre que se deberá al error total y al ruido.
decir, expresado en porcentaje,
0,000006 %.
Con el error estimado para la señal, podemos encontrarnos con va-
riaciones de hasta 5 mV (±5 m V). El ruido presente se puede estimar
Si el error tiene que ser menor mediante la relación S/N y el máximo valor de una señal comprendida
que el escalón ... llegaremos a
entre Oy 5 V que es de 5 VPP:
una conclusión descorazonado-
ca. Si renunciamos al error (por
S
ejemplo en W\ sistema que sólo 72 = 20 ·log- -+
maneje señales de alterna), la Vn
relación S/N debería ser de ca~i
145 dB. Tampoco está mal como Eso significa que cada valor de la señal estará comprendido en una ban-
especificación para el sistema da de V± 5,63 mVy la resolución será de 11,26 m V. El número de esca-
que anteceda a tal convertidor ...
lones necesarios para esta señal será de:
En las señales procedentes de
procesos y sL~tema~ industriales, S
N= =444
estas especificaciones son, sim- 0,01126
plemente, imposibles. Lo razo-
nable es saber que las variables
de donde el número de bits necesarios para el convertidor será 9 ya que
que se suelen manejar en este
2 9 = 512.
ámbito consiguen errores en el
entorno del 0,1% como mucho
y relaciones S/N que no suelen
superar los 60 dB. Esto conduce No obstante, un convertidor de más bits de los necesarios puede produdr un
a resoluciones de unos 10 bits y, resultado satisfactorio si no se tienen en cuenta los bits menos significativos.
en el mejor de los casos, quizá Si vamos al caso del Ejemplo 5.2 y nos planteamos usar un convertidor de 12
de 12 bits. bits, Jos últimos tres bite; no aportarán información válida ya que variarán en
función del error y del ruido. Si se usase tal convertidor, bac;taría con eliminar
los 3 bits más bajos para que el resto tenga perfecta validez. Por el contrario,
si se usase un convertidor con menos bits de resolución, todos serían válidos
pero habríamos perdido algo de información ya que trabajaríamos con un va-
lor de resolución superior al de la señal de entrada.
5.3.2. ERRORES
Los convertidores A/D, como cualquier sistema real, no presentan un com-

portamiento perfecto sino que el proceso de conversión puede incluir una
222
cierta desviación respecto de lo que sería una conversión ideal. El valor de es-
tos errores permite conocer lo bien o mal que se comporta el dispositivo des-
de un punto de vista estático con lo que permiten caracterizarlo eficazmente.
En general, responden a los mismos conceptos que se analizaron en el Tema 1
aunque hay diferencias de nomenclatura. El error total de un convertidor se
puede denominar error de cuantificación (qu.antizing l!l'ror) que es la máxima
desviación entre el valor de entrada y el correspondiente al código de salida.
Con una curva de calibración perfecta, el valor de este error es de Jh LSB (Fi-
gura 5.15), lo que constituye el error de cuantificación intrínseco de un con-
vertidorA/D.
VI
Error de cuantificación:
Y. LSB Curva de calibración
Valor ideal +-----'f-------,1' con resolución infinita
Valor cuantificado +---+-----.~~
Curva de calibración
con resolución finita
Código
Código de salida
Figura 5.1 5. Error de cuant ificación intrínseco: mínimo error de cuantificación posible en un con·
vertldor con una curva de calibración real perfecta.
Desgraciadamente, la curva de calibración real no es así y el error de cuantifi-

cación tiene diversas imperfecciones que contribuyen a apartar un poco más
el valor de ese ideal. A continuación analizaremos esas imperfecciones.
La curva de calibración del convertidor A/D debe ser monótona (casi siempre
creciente), es decir, nunca debe cambiar el signo de la pendiente. Un converti-
dor A/0 monótono (monotonic A/0 converter) debe producir códigos crecien-
tes cuando la variable de entrada sea creciente. La pérdida de monotonicidad
puede llegar a ser muy grave si el convertidor forma parte de un lazo de con-
trol ya que sería capaz de introducir zonas de realimentación positiva y dar
Jugar a la inestabilidad del sistema. Si el convertidor A/0 está inmerso en un
sistema de medida o monitorización, el problema se podría cuantificar me-
diante una zona de incertidumbre causada por un máximo local.
Afortunadamente, la inmen~a mayoría de los convertidores AID tienen una cur-
va de calibración monótona. Pero un convertidor con curva de calibración mo-
nótona también muestra algunas imperfecciones que se manifiestan en diversos
errores. Lo más habitual es que todos ellos se midan usando el LSB como unidad.
El primero de ellos es el error de ganancia que para este tipo de dispositivos
se suele denominar error de escala (gain error o scale error) y que define cuánto
se aparta la curva de calibración real de la ideal en el fondo de escala (Figura
5.16). Las causas de este error hay que buscarlas en problemas en las ten~iones
rie refnP.nri~ p::.r~ 1~ cnnvPrsión CilHSilrills por s11 propi11 incPrtiri umhre o por
derivas tanto térmicas como a largo plazo.
223
V
---------------~-+-
Error de escala
.-L--+
Código
Figura 5.16. Error de escala en un convertidor A/0.
El siguiente problema de la curva de calibración del convertidorA/Des el

error de offset (zero error u offset error) que se define como el valor de tensión
que hay que poner en la entrada para conseguir el código má~ pequeño de la
escala de salida (Figura 5.17).
V
Código
Error de offset
Figura 5.17. Error de offset en un conver tidor A/0.
Uno de los problemas más habituales de la curva de calibración de un con-

vertidorA/Des su no linealidad que se traduce en un error en la cuantifica-
ción. La forma má~ habitual de expresar este error es mediante el error de no
linealidad integral (INLE, Integral Nim-Linearity Error) que se define como la
máxima diferencia entre la curva real y una curva lineal ajustada a la curva
de calibración (Figura 5.18), es decir, corresponde a la misma definición que
el error de linealidad de cualquier otro sistema. Hay que tener en cuenta que
un valor de INLE inferior a lh LSB implica monotonicidad en la curva de ca-
libración en cualquier caso, mientras que si es superior a ese valor podría no
ser monótona.
La no linealidad también se puede expresar mediante el error de no lineali-
dad diferencial (DNLE, Differential Non-Linearity Error) que indica la máxima
diferencia entre el cambio necesario en la señal analógica para pasar de un có-
digo al siguiente y el cambio que se produciría en el caso ideal y que es de 1
LSB. Si el INLE es un parámetro genérico que proporciona una visión macros-
cópica de cómo se comporta el convertidor en todo su campo de medida, el
224
Curva ideal
Código
Figura 5.18. Error de linealidad integral (INLE) en un convertidor A/0 (en la curva real se han omi·
tido los escalones p ara clarificar el dibujo).
DNLE revisa ese comportamiento en cada punto de su curva de calibración lo

que proporciona una información de su suavidad; por ejemplo, un INLE de 1
LSB puede ser poco en un determinado convertidor pero si el DNLE es tam-
bién de 1 LSB significa que de un código al siguiente puede llegar a variar la
tensión en 2 LSB y eso indica que la curva de calibración tiene cambios muy
bruscos (Figura 5.19).
V
Bajo DNLE
vt Alto DNLE
Curva ideal
INLE
Código Código
Figura 5.19. Dos casos con el mismo INLE pero diferente ONLE. A la izquierda, la curva de cal ibra-
ción real es suave y los cambios de un valor al siguiente transcurren de forma similar al cambio
ideal; a la derecha, en la exageradamente mal curva de calibración hay zonas de subidas muy rápi·
das y zonas con cambios muy pequeños que se diferenciarán mucho de cómo se deberfan producir
los cambios lo que provoca un DN LE muy elevado.
La suma del error de escala, el error de offset y el INLE constituyen el error de

cuantificación de un convertidor A/D, valor del que se ha excluido el error de
cuantificación intrínseco de 1h LSB. En general, los convertidores A/D tienen
valores muy bajos en todos esos errores de tal modo que el error de cuantifica-
ción total no suele superar 1 LSB.
EJEMPLO 5.3 (ad7091.pdf)

Para digitaliz-ar una señal que se mueve entre Oy 5 V se emplea un con-
vertidor A ID de Analog Devices AD7091. Determine el máximo error
de cuantificación del proceso de conversión.
225
Solución:
Al acudir a las hojas de características del convertidor encontramos
que nos proporcionan el valor de los diferentes errores en el proceso de
cuantificación.
En el peor caso, los errores de offset, ganancia (escala) y no linealidad :in-
tegral se sumarán; teniendo en cuenta el peor caso, nos encontramos con
que INLE = ±1 LSB, el error de ganancia es de ±4 LSB y el de offset puede
variar desde -S,S hasta +S l SB. Tomando los casos más extremos, el error
total del convertidor $ería de 13,5 l.SB, lo que constituye un error muy alto.
EL DN'LE no se tiene en cuenta para el cálculo del error porque sólo ex-
plica la suavidad de la curva de calibración del convertidor.
El proceso de conversión supone la cuantificación del valor de la variable ana-

lógica de entrada en el campo de medida del convertidor A/D; este campo de
medida puede estar referido a valores estables generados internamente por el
propio convertidor o puede presentar directamente el mismo valor que la ali-
mentación; en este último caso, como la mayoría de los convertidores A/D
trabajan alimentados entre Oy +5 V, el campo de medida suele ser precisamen-
te ese: [O, 5] V con lo que el alcance resulta ser de 5 V.
Si bien esta es una situación frecuente, no resulta nada deseable por varios
motivos:
• La tensión de alimentación no suele ser demasiado estable aunque lo pa-
rezca. Es frecuente pensar que los 5 V de alimentación resultan :invariables
pero eso no es asf ya que la mayor parte de los reguladores empleados para
este fin tienen especificaciones que sólo garantizan que la variación de la
tensión es de un determinado porcentaje suficiente para cumplir las necesi-
dades de los circuitos a los que alimentan. Por ejemplo, un típico regulador
lineal de +5 V como el7805 (LM7805C.pdf) puede presentar una tensión
de salida que va desde 4,8 hasta 5,2 V, suficiente para proporcionar una
alimentación correcta a la mayoría de los circuitos digitales, pero poco ade-
cuada para servir como referencia a los extremos de conversión de un con-
vertidorA/D. Una variación de 0,2 V en el extremo causaría por sf misma
un error de escala de ese mismo valor Jo que supone un error del4 % en la
cuantificación, algo que suele ser :inaceptable en un sistema :instrumental.
• Aun si la tensión de alimentación presenta un valor correcto, el consumo
de corriente puede variar y; con ello, :introducir cambios en su valor debido
a que todos los reguladores tienen una cierta capacidad de regulación de
carga (load regulation) pero no es infinita. Por ejemplo, el mencionado 7805
puede variar hasta 50 m V su tensión de salida en función de la corriente de
carga. Una variación de ese valor en la tensión de referencia introduce un 1
% de error de escala. Además, los consumos pul~antes típicos de Jos siste-
mas digitales pueden suponer un problema adicional al causar momentá-
neamente caídas de tensión de alimentación más profundas aún.
• Tampoco es seguro que la tensión de entrada al regulador de tensión sea es-
table. con lo que la salida del regulador puede tener una variación debida a
226
su limitada regulación de entrada (line regula.tion). En el mismo dispositivo

de ejemplo de antes, la regulación de entrada que garantiza el fabricante es
de 50 m V, lo que puede llegar a suponer un error de escala dell %.
• Finalmente, la tensión de salida de todos los reguladores empleados en la
alimentación presenta derivas térmicas y a largo plazo, lo que añade más
incertidumbre en su tensión de salida.
Hay algunos dispositivos mejores que el7805 desde este punto de vista, pero
en todos los casos son circuitos pensados para la alimentación y no para ser-
vir de referencia lo que hará que presenten errores casi siempre excesivos. Por
ello, si se desea realizar una cuantificación correcta de una variable analógica
nunca se debe emplear la tensión de alimentación como referencia para el
campo de entrada.
La solución que muchos convertidores A ID incorporan pasa por disponer de
una referencia interna de tensión mucho más fiable y que se usa para fijar los
extremos entre los que se convierte. En tal caso, esta referencia suele presentar
las prestaciones suficientes para garantizar las especificaciones del convertidor.
En el caso de no di~poner de esa tensión interna los convertidores suelen dispo-
ner de entradas para fijar una tensión de referencia externa obtenida mediante
un dispositivo de gran estabilidad como las referencias de tensión (voltage re-
ferences) cuyo uso es muy sencillo. En la Figura 5.20 se ve un ejemplo de aplica-
ción con una referencia de tensión de la serie LM4040, en concreto la ·LM4040-4.1
que produce una ten~iónestable de 4,1 V con una variación inferior al 0,1 %.
+5V
R
+4,1 V
DO
L M404-4.1 f D1
+VREFCONVERTIDOR
D2
Ve AJO
Dn
-VREF
.L .L
Figura 5.20. Aplicación de una referencia estable de tensión para fijar el fondo de escala de cuan -
tificación de un conver tidor A/0.
Dado que estas referencias estables son de tipo shunt, el único cálculo que hay
que realizar para el circuito es el que garantice que por el dispositivo circula
una corriente mínima.
5.3.3. TIEMPO DE CONVERSIÓN
Desde el punto de vista dinámico, el principal parámetro de un convertidor

A/D es el tiempo de conversión T C! que se define como el tiempo que tarda el
convertidor desde el momento en que recibe la orden de conversión hasta que
tiene un valor válido. Es un parámetro muy importante porque define la se-
paración temporal entre las muestras y; a la postre, la cantidad de Información
que se obtiene. El objetivo - claro está- es con~eguir los tiempos de conver-
227
Audio, vídeo, imagen... sión más cortos que sea posible, pero existen limitaciones que tienen que ver
Cuando las señales que se con la tecnología y la estructura de conversión. Por ejemplo, un convertidor
digitalizan son de audio o directo tendrá un tiempo de conversión muy corto puesto que el resultado se
video o las que constituyen obtiene de forma casi inmediata tras la orden de conversión mientras que uno
una imagen estática, la re- de rampa será muy lento. El tiempo de conversión define la máxima veloci-
solución y la velocidad a la dad de conversión (conversión rate).
que debe convertirse es algo Como el proceso de conversión no es instantáneo sino que requiere un cierto
clave, no sólo porque de ello tiempo, la señal de entrada no debería variar durante ese proceso puesto que, si
depende la calidad final de lo hiciera, podría introducir errores adicionales en la cuantificación. Por tanto, es
la señal sino porque puede interesante que el tiempo de conversión sea lo más pequeño poSible. Pero, más
suponer un reto a la gestión aún, sea cual sea el tiempo de conversión, lo cierto es que este parámetro defme
de los datos procedentes del la máxima frecuencia de muestreo (samplingfrequeucy), f 9 posible para el con-
sensor. vertidor que es la frecuencia a la que se puede dar la orden de conversión. El pe-
Por ejemplo, una imagen HD riodo de muestreo, T51 debe ser mayor que el tiempo de conversión con lo que:
en un televisor actual maneja
1980 x 1080 píxeles Jo que hace
más de 2 MPx. Si se usa una
velocidad de 24 fps (frames per
seconá, imágenes por segundo) La frecuencia de muestreo se puede cuantificar en hertzios pero es más fre-
significa que se manejan 48 cuente denominarla como muestras por segundo (samples per second) y se sue-
MPx 1s y, con 8 bits por píxel, le escribir como S1s.
tenemos más de 350 Mbits/ s Jo
que es una buena velocidad... V V
Una cámara de fotos de 20 MPx Muestras Muestras
que sea capaz de tomar ráfagas
de 10 imágenes por segundo
debe ser capaz de sacar del sen-
sor (y enviar a la tarjeta de me-
' 4 ' 4 .,
moria) 1,6 Gbit/ s... t 1
Una tarjeta de audio que digita- Te Ts Te Ts

lice la señal a 16 bits y 44,4 kHz
V MUESTREO V MUESTREO
debe guardar unos 127 MBits en
el tiempo que duxa una canción,
unos tres minutos.
Estos grandes volúmenes de
información han empujado a
realizar diversos procesos de t t
compresión y compactación de
la información para reducir el Figuras 5.21. Muestreo de u na señal analógica a una frecuencia al ta (izquierda) y a una frecuencia
tamaño fmal de archivos y faci- b aja (derecha).
litar su manejo.
En líneas generales, una frecuencia de muestreo muy rápida permite tomar
mucha información de una variable analógica, puesto que en una unidad de
tiempo se han producido muchas conversiones; una frecuencia de muestreo
lenta sólo toma datos cada más tiempo y el volumen de información es con.~e
cuentemente menor (Figura 5.21). El proceso de muestreo (sampling) supone
una digitalización de la señal en el tiempo al pasar de ser una señal continua a
un conjunto discreto de valores.
La gestión de los datos de un convertidor A/D puede llegar a ser un problema
serio con frecuencias de m uestreo muy elevadas, ya que suponen un volumen
228
muy importante de información que debe ser almacenada y 1o procesada. Por

ejemplo, si un convertidor de 16 bits trabaja a una frecuencia de muestreo de
100 MS1s, producirá 16·100 = 1600 Mbits1s y; en una hora habrá generado un
volumen de información de 1600·3600 Mbits, es decir, casi 1 TB.
El tiempo de conversión introduce un problema adicional que puede ser más
o menos serio en función de la tecnología empleada en el convertidor A/0. El
asunto es que si el valor de la entrada se mueve durante la conversión puede
dar lugar a errores en la cuantificación, errores que pueden llegar a ser muy
graves en el caso de los convertidores de aproximaciones sucesivas. En la Fi-
gura 5.22 se muestra el efecto producido cuando el valor de la señal se modifi-
ca durante el tiempo de conversión.
Máxima variación
pem1itida: 1LSB
Máximo tiell'lpo
de conversión
Figura 5.22. l a vel ocidad a la que varía la tensi ón de entrada determina el máximo tiempo de
conversión para conseguir que la t ensión se mueva 1 LSB como máximo. Para un t iempo de con·
versión mayor, el efecto es que la cuantificación puede variar varios LSB, con el consiguiente error
de cuant ificación.
Para evitar problemas de este tipo la señal no debería moverse más allá de 1
LSB para impedir que el código final muestre un valor diferente desde el co-
mienzo de la conversión hasta su término. Si una señal de amplitud A tiene
como frecuencia máxima f .."" la máxima pendiente que puede presentar la se-
ñal es 2·n·Af,."" con lo que la variación máxima de señal durante el tiempo de
conversión es (de forma aproximada):
l>V=2·n·A·j· ·T
"'"" e
Ese valor tiene que ser menor que 1 LSB para conseguir que la cuantificación
no tenga posibilidad de error.
229
EJEMPLO 5.4
Un convertidor A/D de 10 bits de resolución que acepta señales entre
Oy 5 V tiene un tiempo de conversión máximo de 0,1 ¡.¡s. Determine la
máxima frecuencia de la señal con la que puede trabajar sin empeorar
los errores de cuantificación.
Solución:
Con el alcance de 5 V y la resolución de 10 bits, la altura del escalón de
conversión (LSB) es:
5
1 LSB = 2.10 _ 1 = 4,888 m V
Si la s~al de entrada ocupa todo el campo de medida del convertidor,

tendrá una amplitud de 2,5 V, luego la máxima variación que puede
sufrir durante la conversión es:
d V= 2 · n · 21 5 ·f.tnh · O 1 · 10""
1
Variación que no puede ser mayor que 1 LSB, luego:
41 888 10-3
o
·
-- 2 o 'lt o 215 o •
Jmdx
o o' 1 10""
o
Lo que nos indica que la máxima frecuencia a la que se puede convertir

sin incrementar el error es de 3111Hz.
El resultado del ejemplo anterior es descorazonador: un convertidor que serfa

capaz de tomar 10 millones de muestras por segundo sólo es capaz de mues-
trear correctamente señales de poco má~ de 3 kHz .. . Y si la resolución hubiese
sido de 12 bits las cosas aún serían peores.
¿Existe solución?
Afortunadamente, sf. El problema no radica en q ue el convertidor no fun-
cione bien sino que está en que la señal se mueve durante la conversión con
lo que no es posible una cuantificación correcta. Si conseguimos que la se-
ñal no cambie durante el proceso de conversión, el asunto estaría resuelto.
Esto se consigue con un dispositivo denominado sistem a de muestreo y re-
tención (S&H, Sample & Hold), q ue es capaz de mantener constante el va-
lor de la tensión de entrada durante todo el tiempo que dura la conversión.
Una idea simplificada del circuito puede verse en la Figura 5.23. El funcio-
namiento es muy sencillo: el interruptor permite la carga del condensador
al valor de la entrada y, tras haberlo conseguido se abre para evitar cual-
quier cambio. El condensador almacena el valor de la tensión que se quie-
re mantener y el operacional de salida, en una configuración de seguidor de
emisor, produce la misma tensión en la salida sin apenas descargar el con-
densador.
En un circuito de muestreo y retención, los parámetros importantes son el
tiempo de adquisición (acquisition time) que define cuánto tiempo tiene que
230
TEMA 5. CONVERSIÓN ANALÓGICO/DIGITAL • •
Vo
CTRL
Figura 5.23. Sistema S&H básico: la se~a l de control (CTRL) determina los momentos en que se
produce la adquisición de la señal (cierre del interruptor) y el mantenim iento (interruptor abierto)
en el que el condensador no t iene por donde descargarse salvo por la impedancia de entrada del
operacional y por su propia resistencia parásita.
estar cerrado el interruptor para cargarse a la tensión de entrada con un error

inferior a un valor dado, y la tasa de decaimiento (droop rate) que cuantifica
la descarga del condensador y que permite definir cuánto tiempo puede man-
tener la tensión para un error determinado. Además de estos parámetros, ha-
brá que tener en cuenta las limitaciones propias del operacional de salida y la
incertidumbre y retraso en la apertura y cierre del interruptor. El proceso de
conversión podrá empezar sin problemas después de concluir la adquisición
de la señal (Figura 5.24).
Ve Vo
S&H Convertidor AJD
Sistema
CTRL START digital
Ve, Vo
Vo
/ fJ -....;;;:::
Ve -
Tiempo de
- ....,r-1
Tiempo de
mantenimiento
t
adquisición
CTRL
f- - t
START
r- ......
t
Te
Figura 5.24. Funcionamiento de un sistema de muestreo y retención: la activación de la señal de

control (CTRL) produce la adquisi ción de la señal; tras concluir el proceso, se puede dar la orden
de convertir (START). Transcurrido el tiempo de conversión, se podrá dar una nueva orden de ad·
quisición.
Es frecuente que un único convertidor se emplee para la lectura de varias

variables mediante multiplexación en el tiempo del uso del convertidor
(convertidor multicanal). Este modo de trabajo hace que las variables se va-
yan convirtiendo una a una mediante un multiplexador analógico que sitúe
231
cada tensión en la entrada del dispositivo durante el tiempo de conversión

(Figura 5.25). Con esta forma de trabajo, que es la más habitual en la con-
versión A/D, se puede complicar aún más el problema de la retención de
las señales puesto que cada una de ellas se cuantificará cuando le corres-
ponda.
Ve,
Ve,
•
•
MPX
m-1
Vo
Convertidor A/D
A
•
• --¡1
ve. Sistema
dig ital
n entradas m Hneas de selección
(2m> n} •
•
•
Figura 5.25. Convertidor A/D multicanal con n en tradas y m líneas para la selección de las entra·
das (se han omit ido el resto de las 1íneas de control).
EJEMPLO 5.5
Para resolver el problema de baja frecuencia de conversión que se pro-
duda en el Ejemplo 5.4, se emplea un sistema de muestreo y retención
con un tiempo de adquisición de 200 ns y una tasa de decaimiento de
1 V1s. ¿Permitirá la conversión sin error de cuantificación? ¿Cuál será
la frecuencia máxima de muestreo a la que podrá trabajar el sistema?
Compare el resultado con el del Ejemplo 5.4.
Solución:
Durante el tiempo de conversión (0,1 JJS) se produce una caída de ten-
sión de 0,1·1 = 0,1 ¡tV lo que es mucho menor que el valor de 1 lSB
Juego no hay peligro de error de cuantificación durante el proceso de
conversión.
El tiempo de todo el proceso determinará la frecuencia máxima de
muestreo que es posible. Este tiempo se compone del tiempo de adqui-
sición (200 ns) y del tiempo de conversión (0,1 ¡ts), luego supondrá un
total de 300 ns. Eso limita la frecuencia de muestreo a 3,3 MHz que, en
relación con el resultado del Ejemplo 5.3 permite multiplicar por 1000
la frecuencia de muestreo y aprovechar mucho mejor las posibilidades
del convertidorA/D.
No obstante, un sistema S&H con menor tiempo de adquisición po-
dría aprovechar más aún las características del dispositivo de con-
versión.
Si se de.s ea que todas las variab les sean adquiridas en el mismo instante (esto
es algo que puede ser deseable en algunos sistemas de control) no quedará
232
más remedio que emplear sistemas de muestreo y retención a la entrada del

sistema multicanal (Figura 5.26).
Ve, Vo 1
S&H
Vo,
Ve2
•
S&H
MPX
m· 1
Vo
Convertidor AJO
-\
ve.
•
•
• Vo•
'-V Sistema
S&H
dig Ual
n entra das
CTRL
l •
m líneas de selección •
•
Figura 5.26. Convertidor NO mult icanal con S&H.
Lógicamente, la multiplexación en el tiempo multiplica el periodo de mues·

treo que tendría cada señal por separado por un factor igual al número de
canales. Así, con un tiempo de conversión Te y n canales multiplexados, la fre--
cuencia máxima a la que puede trabajar el sistema resulta ser:
1
fs = n. Te
En muchos casos, el propio integrado incorpora el multiplexador junto al con-

vertidor A/D en un di~positivo que suele denominarse como convertidor
A/D de n entradas.
5.4. TRATAMIENTO DE DATOS
Tras el muestreo y conversión de los datos, se procesará la información obte-

nida. El tipo de procesamiento que sufra esta información es muy variado en
función de la finalidad de la conversión A/D. En sencillos sistemas de medida
el único procesamiento será mostrar el valor correspondiente en algún tipo de
indicador, como una pantalla numérica de cristal líquido o una barra de LEO;
en sistemas de medida y monitorización más complejos se usarán pantalla~
gráficas y, tal vez, el almacenamiento de la información. En sistemas de regu-
lación, la información obtenida se usará en Jos algoritmos de control para ob-
tener la~ órdenes que se enviarán a los diversos accionamientos y actuar sobre
el proceso (Figura 5.27).
En cualquier caso, antes de representar un dato, emplearlo, almacenarlo o di~
tribuirlo hemos de estar seguros de que el valor obtenido es correcto y de que
el proceso de muestreo y cuantificación ha sido correcto. A continuación esta·
bleceremos la~ condiciones para que asf sea.
233
DispUy
SENSOR
.. --.•. ·-=··
V•
a) x •
CIRCUITO DE
ACOND.:IOkA.MIEHTO
CONVERTIDOR
AJO ::'1""''?4
I'Mt4lla gtlf'H:a
v..
b)
1(,
"· - SENSORES
•
v.,
CONVERTIDOR COMPUTADOR
---'1
~
-
CIRCUITOS DE AJO --,¡
ACONOtciONAMIENTO V<>
"· lJ
SIStema de
Alrnacenan'liento
Pantall• grlfle•
v,
e)
1(,
x,
- SENSORES
•
v.,
COHVER1100R CONTROLADOR l.---'1 COMPUTADOR
r--o
~
"· -
CIRCUITOS DE
ACONOICtoNAMIE.NTO v.. AJO LOCAL
["->' h
Al:lciOI'IH do oontrol
11 u
Sistftna d&
Almacenamiento
Figura 5.27. Op ciones de distribución de los datos procedentes de la conversión AJO: a) sistemas
de medida sencillos; b) si stemas de moni torización complejos; e) sistemas de control.
44,41 kHz 5.4.1. FRECUENCIA DE MUESTREO

44,41 kHz o, según se suele
decir, 44,1 kS/ s ... Esa es la fre- Seleccionar una frecuencia de muestreo adecuada para un determinado caso
cuencia de muestreo habitua l no es un problema sencillo, ni mucho menos. En una primera aproximación,
para una señal de audio. trabajar con frecuencias de muestreo elevadas implica manejar mucha infor-
La .razón hay que buscarla en mación lo que supone más esfuerzo por parte del sistema digital; sin embar-
el teorema del muestreo y en la go, esa cantidad de muestras permitirá obtener una imagen más exacta de la
máxima frecuencia de la banda señal original. En realidad, cuanto mayor sea el número de muestras tomadas
de audio que es 20 kHz (hay en la unidad de tiempo, tanto más se parecerá la señal muestreada a la origi-
pocos humanos, salvo los "lo- nal. La pregunta que nos plantearnos es cuál es la frecuencia de muestreo ne-
cos bajitos" que puedan percibir cesaria para una determinada señal con el objetivo de poder recoger toda la
20kHz). información presente en ella.
Pues bien, dos veces 20 kHz es La respuesta viene a través del teorema del muestreo o teorema de Nyquist
40 kS/s y, un poco más ... 44,1
que fue planteado como conjetura por Harry Nyquist en 1928 y demostrado
kS/ s para el sonido de un CD
o 48 kS 1s para el sonido pro-
matemáticamente por Claude Elwood Shannon veinte años más tarde. El teo-
fesional. ¿Más frecuencia? No rema dice que una señal periódica, continua en el tiempo puede ser recons-
tiene mucho sentido y los mitos truida totalmente a partir de una señal muestreada siempre que se cumplan
en ese sentido han sido amplia- dos condiciones: que la señal tenga un ancho de banda limitado y que la fre-
mente desmontados en pruebas cuencia de muestreo sea superior al doble de la máxima frecuencia presente
de laboratorio. en la señal. La primera es una condición "matemática" que siempre se cum-
ple en el mundo físico por lo que en una formulación más práctica tendrfa-
mos que una señal periódica puede ser reconstruida a partir de las muestras
siempre que la frecuencia de muestreo sea de, al menos, el doble que la
máxima frecuencia presente en la señal.
El lector debe ser cuidadoso con la interpretación del teorema del muestreo
ya que en él se habla exclusivamente del proceso de muestreo, no de la cuan-
tificaciól\ es decir, indica la~ condiciones para que el proceso de muestreo no
suponga pérdida de información, pero sí que la puede suponer la cuantifica-
ción que P.S un a~pP.rto quP. ya SP. trató antP.~. Por P.jP.mplo, si la ruantifiradón
se produce con una resolución peor que la que tenga la señal, habrá pérdi-
234
da de información independientemente de la frecuencia a que se produzca el

muestreo.
Volviendo a la pregunta que nos planteábamos al principio del apartado, la
respuesta es sencilla: debemos muestrear, como mínimo, dos veces por enci-
ma del ancho de banda de la señal. Entonces, la siguiente cuestión que nos po-
demos plantear es si hay un tope máximo a la frecuencia de muestreo (ademá~
dellfmite tecnológico que siempre está presente).
Lo cierto es que desde el punto de vista matemático no hay problema en
muestrear a una frecuencia muy superior al límite inferior que fija el teorema
del muestreo, pero desde el punto de vi~ta del sentido común no tiene sentido
subir muy por encima de ese límite inferior puesto que obliga a manejar más
datos de los necesarios sin mejora alguna de los resultados. Más aún¡ el coste
de los sistemas implicados (convertidores A/D y sistemas digitales) crece con
la frecuencia a la que deben trabajar, luego subir innecesariamente la frecuen-
cia de muestreo supone un incremento de coste sin llevar parejo una mejora Oaude Elwood Shannon (1916-
de comportamiento. 2001) fue un destacado ma-
temático estadounidense que
Si una señal que va a ser digitalizada tiene una frecuencia máxima .f..w la mí-
desarrolló la mayor parte de su
nima frecuencia de muestreo necesaria para realizar el proceso sin pérdida de trabajo en el ámbito de la teor!a
información es: de la información y de la cripto-
grafía.
En 1949 proporcionó una prue-
ba formal del Teorema del
La frecuencia/,.., se conoce como frecuencia de Nyquist y representa el lími- muestreo que Nyquist había
te superior de las señales que el sistema podría procesar sin pérdida de infor- conjeturado en 1928 en "Cert.flin
mación. topics in telegraph transtnission
tJJeory".
Entonces, el tiempo de conversión máximo especificado para el convertidor
que deba realizar la tarea será:
1
Tc= -
fs
Con este dato, junto con la resolución necesaria ya podemos elegir un conver-
tidor que cumpla la misión encomendada; el resto de las características depen-
derán de la forma de conexión y, tal vez de Jos errores del propio convertidor
en el caso de que resulten signilicativos.
Cuando un sistema de conversión A/D trabaja por encima de la frecuencia
de muestreo establecida por el anterior teorema se dice que se está funcionan-
do en condiciones de sobremuestreo (oversa.mpling) pero esto no produce más
efectos negativos que el manejo de más información de la necesaria. Por el
contrario, si se trabaja por debajo del doble de la frecuencia de Nyquist, la se-
ñal no podrá reconstruirse perfectamente por lo que habrá pérdida de infor-
mación.
Sin embargo, con una señal periódica, es posible generar un muestreo des-
fasado en cantidades fijas lo que permite la reconstrucción de la señal ori-
ginal aunque exige varios ciclos para conseguir tal propósito (Figura 5.28).
Además, la señal debe tener un espectro estable durante todo el tiempo que
dure el ~ubmuestreo lo t¡ue supone una linútadón más en el uso de esta tE!c-
nica.
235
e
.,.Mu.atn Ntvel de slncronlzadón
¡'\
-- --- ----- --- ------ -- ----- --- ------ ---
(\
/ (J ______ ¿,
T, , -- + ---
1 T, ~ T,
z.tr
V \) v v J V \_¡ t
Ve
~ \ ¡1 l
Harry Nyquist (1889-1976) fue
un destacado ingeniero eléctrico 2..J~ / t
·k
nacido en Suecia, que hizo im-
portantes contribuciones en el
ámbito de la Ingeniería Electró- Figura 5.28. Reconstrucción de una señal submuestreada. El periodo de muest reo, Ts es el doble
nica y en la Automática. que el de la señal a muestrear l uego t oma una muestra cada dos ciclos, pero utilizando disti ntos
retardos, cada vez se toma la muestra en un l ugar diferente con lo que, al f inal se consigue recons·
Además del Teorema del Mues- trui r la señal, aunque se han em pleado varios ciclos y se ha perdido el t iempo real.
treo a nivel de conjetura (1928),
elaboró el principal criterio de
estabilidad para amplificadores Pero muestrear por debajo de la frecuencia adecuada trae consigo otros pro-
que tienen ámbito general en blema~ como el del alia.sing, un fenómeno muy negativo que puede engañar
el mundo del control (conocido al sistema digital haciéndole creer que la señal presente es muy diferente de la
como Criterio de Nyquist) y tra- que hay en realidad. llustrar el efecto del aliasin.g es muy sencillo (Figura 5.29).
bajó en la estimación del ruido
Ve Sellal real
térmico. llueetra
Figura 5.29. Aparición de una señal fant asma por submuestreo.
Formalmente, se pueden crear señales inexistentes de una señal de frecuencia

f muestreada a una frecuencia inferior a la necesaria fs para dar lugar a señales
fantasmas (alias) de la original de frecuencias f - mfs, donde m es un valor en-
tero. Por ejemplo, una señal de 10 kHz muestreada a 4kHz puede dar lugar a
la aparición de una señal de 6 kHz (m= 1) o a una de 2 kHz (m= 2).
La forma de evitar el fenómeno del aliasing es u tilizar siempre frecuencias de
muestreo que cumplan el teorema de Nyquist-Shannon lo que, además, supo-
ne evitar la pérdida de información. Sin embargo, el problema se puede pro-
ducir si se introduce una señal indeseada de más frecuencia de la prevista. A
pesar de que podamos pensar que esto no es posible, en realidad, ocurre más
veces de las que suponemos puesto que la presencia de ruido puede ser una
de las causas que produce tal problema.
236
Como quiera que esta posibilidad no es fácilmente previsible y con vistas a

evitar que la presencia de una frecuencia indeseada pueda dar lugar a un fe-
nómeno de aliasing es muy frecuente recortar el ancho de banda de la señal
de entrada de los convertidores A/D mediante un filtro de paso bajo deno-
minado filtro anti-aliasittg. La frecuencia de corte de este filtro debe ser me-
nor que la frecuencia de muestreo empleada y suficientemente alta como para
no recortar el ancho de banda de la señal que se está manejando. Como la se-
ñal sólo puede ser reconstruida correctamente y su información salvaguarda-
da por completo cuando la frecuencia de muestreo es superior a dos veces su
máxima frecuencia, una opción válida es usar una frecuencia de corte que sea
la mitad de la frecuencia de muestreo para el filtro anti-aliasing (Figura 5.30).
Filtro anti-aliasing
1\,
u fc=fs/2
S&H
CTRL
Vo Convertidor AJO
START
-v Sist ema
dig ital
Figura 5.30. Utilización de un filtro antl -aliasing en un convertidor A/0.
EJEMPLO 5.6
Un convertidor A/D de cuatro canales tiene una resolución de 10 bits y
es capaz de realizar una conversión en menos de 200 ns. Si incorpora un
sistema de muestreo y retención con un tiempo de adquisición de 120
n..~, determine la máxima frecuencia de m uestreo a la que puede trabajar
el sistema. ¿Cuál es el ancbo de banda permitido para cada señal sin
pérdida de información? Especifique un filtro anti-aliasing para evitar
el problema.
Solución:
El proceso de conversión para el total de las señales supone un tiempo
que se puede desglosar del siguiente modo: 120 ns para la adquisición
de las cuatro señales puesto que las cuatro pueden muestrearse a la vez
y 200 ns de tiempo de conversión para cada una de las señales,
Eso hace un tiempo total de 120 + 4·200 = 920 ns. Así, la máxima fre-
cuenci,a de conversión posible será de 1 1 920 ns = 1,1 MHz.
Aplicando el teorema del muestreo, la máxima frecuencia que se podría
muestrear sin pérdida en cualquiera de los canales sería la mitad de la
frecuencia de muestreo, es decir, 550 kHz, luego ese sería el ancho de
banda de la señal.
Si se desea incorporar un filtro anti-aliasing, la frecuencia de corte de-
berla ser menor que la frecuencia de muestreo; pero hay que tener en
cuenta que un filtro anti-aliasing con una frecuencia de corte de 550kHz
introduciría 3 dB de error lo que haría que el ancho de banda al error
especificado fuese mucho menor. Para establecer este ancho de banda
debemos tener en cuenta que, si la resolución es de 10 bits, significa que
237
la altura del escalón serfa S 1 1023 (1 LSB). Suponiendo que el ruido

es suficientemente pequefio como para despreciarlo frente al error,
podemos hacer que 2·e = 1 / 1023lo que nos lleva a un error máXimo
del 0,05 %. Con un filtro de Buttenv-orth de segundo orden, la frecuen-
cia de corte real que salvaguarda el error de cuantificación serfa con
k=1-e:
fce ·J
=fe k2k2
Es decir:
• 1-0,99952
Ice = 550 ,
0 99952
= 97,8 kHz
Si el filtro hubiese sido de orden 4, el ancho de banda serfa de 232kHz.

Otra opción es salvaguardar el máximo ancho de banda disponible (550
kHz). Para ello, se debe situar la frecuencia de corte a 3 dB del filtro en
una zona entre la máxima frecuencia que evita la pérdida de informa-
ción en la conversión (550 kHz) y la frecuencia de muestreo máxima
(1,1 MHz). Para ello, babrfa que fijar f" =550kHz y determinar el orden
para que fr. resulte inferior a 1,1 MHz. Con un filtro de orden 2 no serfa
posible ya que se obtendría fc = 3,1 MHz y habrfa riesgo de aliasing.
Con un filtro de orden 4, fc = 1,3 MFiz, y estamos en idé.ritica situación.
Habrfa que usar un filtro de orden 6, en cuyo caso, se obtendría que fc =
978kHz.
En cualquier caso, los anteriores valores suponen la forma de exprimir
mejor la-; prestaciones del convertidor A/ D y, si el diseñador desea usar
este sistema para un caso particular, siempre habrá que tener en cuenta
cuáles son las prestaciones necesarias en cuanto a ancho de banda ya
que trabajar por encima de lo necesario es una pérdida de recursos en la
gestión de la información.
5.4.2. VALIDACIÓN DE DATOS Y TRATAMIENTO

DE OUTLIERS
Cuando se digitaliza una determinada variable es posible que aparezca algu-

na perturbación adicional que modifique el proceso y que produzca una lec-
tura incorrecta. El efecto de ese dato incorrecto puede ser muy diverso, desde
la aparición más o menos desagradable de una oscilación en una pantalla nu-
mérica ha<;ta algo tan grave como el disparo de una alarma o la realización de
una acción de control inadecuada.
Por e~te motivo y en previsión de la presencia de perturbaciones incontro·
ladas y/ o incontrolables que suelen ser frecuentes en el control de procesos
238
industriales es necesario que los datos leídos desde los sensores sufran al-
gún tipo de procedimiento de validación. El problema es cómo validar los
datos.
Hay veces que la validación puede ser más o menos sencilla. Por ejemplo, si
estamos leyendo la temperatura de una sala y los valores anteriores rondan
los 20 oc, la presencia de una lectura de +70 oc debería hacemos sospechar
que el dato no es demasiado correcto. Sin embargo, en otros casos, la solución
no es tan sencilla; sin ir más lejos, si en el mismo ca~o leemos un valor de +24
''C podrá surgimos la duda de si es válido o no.
En líneas generales cuando se están recogiendo datos reales se denomina va- ¿Olvidar los tmtliers?
lor atípico (outlier) a aquel valor que está alejado de los anteriores. Si la reso- Cuando se ha identificado un
lución de nuestro convertidor ha sido ajustada adecuadamente en función del outlie-r como dato definitivamen-
ruido y del error, lo normal es que ni el ruido ni el error estimados sean la cau- te incorrecto lo normal es eli-
sa del outlier. minarlo para evitar que pueda
causar errores no deseados en
El primer paso para la validación de los datos es la identificación de los out- un sistema de monitorización o
liers para lo cual no existe ningún método universal, aunque la mayoría de las acciones inconvenientes en un
técnicas usan estimadores estadísticos como la media y la desviación están- sistema de control.
dar para detectar cuándo aparece uno de estos datos y la decisión que se debe
Sin embargo, es conveniente
tomar. Una vez que hemos detectado la presencia del outlier, el problema es llevar algún tipo de recuento de
qué hacer con él )T, para ello, no queda más remedio que utilizar el sentido co- esos valores, tanto de cuándo
mún: si la causa es una perturbación espuria, el valor de la lectura regresará se producen como de su valor
a los valores anteriores en cuanto la perturbación haya pa~ado (Figura 5.31a) ya que pueden ser síntomas de
mientra~ que si la causa es un cambio real en el sistema o en el proceso, la va- algún problema, fallo o mal fun-
riable se mantendrá en los nuevos valores para la~ siguientes muestras (Figu- cionamiento del sistema de me-
ra 5.31b). dida o del proceso. La revisión
del informe de outlie·rs puede
V• e ayudar a la mejora del conjunto
o servir como mantenimiento
preventivo al detectar sucesos
que, a la larga, pueden terminar
1 liiiJ m 1 mue en algún tipo de fallo fatal .
.e -6 "" 4 ·2 ..., o -+-1 +2 +3 .... .a +6 •1 .-.a .g
Por ejemplo, datos anómalos
e
•(Ir VelO<' oonegldo
Ve Valor vslld- .J3) que se repiten en determinados
momentos pueden explicarse
por algún tipo de perturbación
a la que nuestro sL~tema es sen-
.. .. . .
6 5 4 3 2 1 () ... 1m
1 2 3 ...4 56 7 +e •9
••• sible. pero que sólo se produce
en momentos concretos, como la
a) b)
puesta en marcha de un equipo
Figura 5.31. Outliers: a) un pico espurio se elimina sustituyendo su valor por uno adecuado al con· o similar. Datos anómalos cuya
texto anterior y posterior; b) un cambio que se mantiene en el tiempo no debe elim inarse puesto frecuencia se va incrementando
que es indicativo de evolución de la variable o del sistema.
progresivamente son sfntoma
de algún problema degenerati-
En el primer caso, los valores atípicos serán eliminados y se sustituirán por el vo en el sistema y deberfan ser
valor anterior o posterior válido o por un promedio de ambos. De esa forma analizados para evitar un fallo
se evita que el outlier termine desencadenando una acción de control incorrec- irreversible.
ta o cause un "baile" de números en una pantalla numérica. En términos de trama de novela
de espfas... un autlier puede ocu-
En el caso de que el valor atípico se deba a un cambio real, la causa puede
rrir en cualquier sistema, dos es
ser un cambio objetivo de la variable de entrada o una desviación mús o me-
sólo ca~ualidad; tres, ¡es el ene-
nos permanente del comportamiento de nuestro sistema de medida. Sea cual migo!
239
sea la causa, lo cierto es que el valor no debe ser eliminado sino que será te-
nido en cuenta realizando las acciones oportunas de acuerdo con el nuevo
nivel. Si el cambio se debe a una modificación real de la variable de entra-
da, se tomarán las correspondientes decisiones de control y se mostrará el
nuevo dato en el correspondiente dispositivo de presentación. Sin embar-
go, si el cambio se debe a una deriva de nuestro sistema de medida habría
que efectuar las pertinentes correcciones. Saber cuándo estamos en un caso
o en otro no es sencillo y, a menudo requiere la intervención de un operario
o el empleo de técnicas de auto-calibración como las comentadas en el apar-
tado 3.3.2.
5.4.3. PROMEDIADO DE VARIABLES
El ruido aleatorio es una de las causas de incertidumbre en los sistemas y; de

hecho, su valor de pico más el error definen el valor del escalón en un pro-
ceso de conversión A1D. El error es una fuente permanente de incertidum-
bre y su constancia en el tiempo dificulta su eliminación pues lo hace difícil
de distinguir del valor de continua de la propia señal, pero reducir el ruido
es posible dado que se trata de una señal con valor medio nulo que puede
compensarse mediante promediado de varias muestras. En efecto, si se supo-
ne una distribución normal del ruido asociado a una determinada variable,
el resultado de promediar p muestras supone una disminución de la varian-
za en Op veces, con lo que el nivel de ruido quedará reducido en el mismo
factor.
El problema de promediar está en la necesidad de tomar varias muestras, lo
que amplía el periodo efectivo de muestreo (reduce la frecuencia de mues-
treo) y; en consecuencia, limita el ancho de banda disponible para la señal. Por
ejemplo, si una señal se muestrea a 1 MHz y se promedian 100 muestras para
producir un valor válido, significa que el ruido blanco se reducirá a la décima
parte, pero el precio que hay que pagar es que el ancho de banda se dividirá
por 100 hasta sólo 10 kHz. Esto es sencillo de demostrar puesto que el ruido
causado por una densidad espectral constante es:
Vn =,}u~ · ENB
Al promediar p muestras, el nuevo ENB' resulta p veces menor, con lo que la

nueva tensión de ruido será:
V'n =,}u~ · ENB' =,}u~ · ENB/p = ~
Lógicamente, en función de qué sea más importante - la resolución o el an-

cho de banda- optaremos por proceder o no, respectivamente, al prome-
d iado de la señal. Por tanto, el promediado de la señal tiene el mi9mo efecto
que la inclusión de un filtro de paso bajo, aunque presenta la ventaja de que
dado que se trata de un procedimiento que se realizará en el sistema digi-
tal mediant e un programa puede ser modificado sin problema para adap-
tarlo a cada caso sin necesidad de cambiar ningún componente del circuito.
240
En otras palabras, el promediado es más flexible que el filtrado a la hora de

adaptar el ancho de banda para reducir el ruido y, con ello, la incertidumbre
de la señal.
Analizado desde otro punto de vi~ta, cuando se promedian variables, el sobre-
muestreo ayuda a mantener el ancho de banda¡ efectivamente, si la máxima
frecuencia de la señal es f .."" la frecuencia de muestreo, f 5, debe ser mayor de
2· f..ib' según nos indica el teorema del muestreo. Si se va a promediar p veces,
la frecuencia de muestreo debe subir en esa misma proporción. En general, los
sistemas que trabajan con señales de continua suelen promediar varias mues-
tras antes de dar el resultado definitivo mientras que los sistema~ que trabajan
con frecuencias elevadas suelen prescindir de cualquier tipo de promediado
para salvaguardar el ancho de banda.
A la hora de estimar el valor de la muestra promediada hay varias opciones: la
más genérica supone la utilización de la media de p valores para dar un dato
válido:
Donde V,riHJ es el dato leído en la muestra i-ésima empezando a contar en la

muestra actual, n es el número de muestra~ promediadas y V<Pes el resultado
obtenido por el promediado. Pero esta forma de trabajo es bastante sen.~ible a
los ou.tliers que pueden lastrar los valores con errores durante bastante tiempo.
Supongamos por ejemplo que estamos midiendo la temperatura de una deter-
minada estancia y que está entregando los valores siguientes: 20, 21, 20, 22, 19,
21, 350, 21, 20, 19, 22, 20. Si promediamos, por ejemplo, 5 valores, los resulta-
dos del promediado serian:
Como se puede observar, la presencia de un outlier produce tantos valores

incorrectos como número de muestras se promedien. Si hubiésemos efectua-
do un tratamiento del dato anómalo, lo habríamos sustituido por el prome-
dio del anterior y del siguiente con lo que la serie quedaría como sigue: 20,
21, 20, 22, 19, 21, 21, 21, 20, 19, 22,20 y el promediado daría un resultado más
reali~ta:
20 - 20,5 - 20,3 - 20,7 - 20,4 - 20,6 - 20,6 - 20.~8 - 20,4- 20,4 - 20,6 - 20,4
El uso de la mediana es una solución bastante habitual en el mundo de la

instrumentación puesto que es más robusta que la media frente a valores
atípicos ya que tiende a eliminar del cómputo los valores más extremos.
Para el mismo ejemplo anterior, el uso de la mediana produciría la siguien-
te salida:
20 - 20,5 - 20 -20,5 - 20 - 21 - 21 - 21 - 21 - 21 - 21 - 20
Esto indica que el uso de la mediana es una buena técnica no sólo para reducir
el ruido sino para efectuar un tratamiento intrínseco de los ou.tliers.
241
En cualquier caso, sea la media o la mediana la opción elegida para el pro-

cesado de la información, lo normal es proporcionar un nuevo valor con los
p valores anteriores, de tal forma que la media se actualiza con cada nueva
muestra sin tener que esperar p muestras para producir un nuevo dato de sa-
lida.
Adicionalmente, se puede realizar un promediado ponderado en el que los
valores que más pesan en el resultado final sean los más cercanos en el tiem-
po; esto mejora un poco la dinámica respecto de la solución de un promediado
no ponderado y garantiza una pérdida menor de ancho de banda.
242
RESUMEN
Los convertidores A/ D son la frontera entre el mundo analógico y el digital ya
que se encargrut de realizar el paso de una variable analógica, generalmente una
tensión, a una variable digital que será manejada con posterioridad por algún
tipo de si~tema microprocesador para su uso en un esquema de control o sólo
para monitorización y visualización.
Exi~en muchos tipos de convertidores A/D diferentes que se pueden clasificar
en función de varios criterios como el tipo de tensión de entrada (referida ama~
o diferencial), el tipo de salida (serie o paralelo) y el correspondiente protocolo
de comunicación con el si~tema digital, la tecnología empleada en el proceso de
conversión (directo, rampa, aproximaciones sucesivas, delta-sigma ... ) y el náme-
ro de bits que es capaz de proporcionar. Las opciones di~ponibles son muchas,
dado que este es un campo de trabajo e investigación de los fabricantes para
conseguir mejores prestaciones de estos dispositivos.
A la hora de usar los convertidores A/ D, lo más importante desde un punto
de vista instrumental es conocer cuáles son sus prestaciones y, como en cual-
quier otro sistema, esto se consigue mediante la caracterización estática (errores)
y dinámica (frecuencia máxima de trabajo). Desde el primer punto de vista, un
convertidor A/D presenta, en línea~ generales, los mi~mos errores que cualquier
otro sistema, errores que quedan caracterizados por su curva de calibración: off-
set, ganancia y no linealidad, aunque en este último caso hay parámetros especí-
ficos como el INLE o el Dl\lLE.
No obstante, la principal característica estática de un convertidorA/Des la re-
solución, el parámetro que define la capacidad de cuantificar con más o menos
bits una determinada variable. Aunque una mayor resolución parece siempre
deseable, lo cierto es que siempre tiene que estar supeditada a la "calidad" de la
variable analógica que se quiere convertir, es decir, la resolución del convertidor
será del orden de la de tal variable, algo que depende directamente de su incerti-
dumbre, es decir, del error y del ruido.
Desde el punto de vista dinámico el principal parámetro es el tiempo de conver-
sión que determina el periodo de muestreo y, en virtud del teorema del mues-
treo, la máxima frecuencia de la señal objeto de conversión c-on el fin de evitar
los problemas asociados al aliasing. Los tiempos de conversión también pueden
forzar la necesidad de retener la señal durante el tiempo que esta dura para evi-
tar los procesos de cuantificación; para ello puede ser necesario emplear algún
bloque adicional como los sistemas de muestreo y retención.
Aun en el caso de que todos los aspectos estáticos y dinámicos de la conversión
transcurran según estos criterios, queda un último proceso que es el de valida-
ción de los datos ya que podrían obtenerse datos erróneos debidos a problema~
puntuales en el sistema de sensores o en el propio convertidor. Así, un pequeño
procesado posterior de la señal podría reducir el efecto de estos datos anómalos
(outliers) o eliminarlos. También es posible recurrir a un cierto procesado de la
señal que reduzca niveles de ruido, como el promediado de valores que, si. bien,
reduce el ancho de banda, consigue obtener valores mucho más estables.
243
5.1 Un convertidor A/D tiene una resolución de 16 bits y realiza la conver-

Apartado 5.3.1 sión para valores entre O y 5 V. Determine el valor de 1 LSB y la incerti-
Figura 5.12 dumbre en voltios. Si la señal que se desea convertir tiene un fondo de
Ejemplo 5.1 escala de 2 V, ¿cuál es la mejor resolución que se puede obtener?
5.2 Se tiene una señal procedente de un sensor que puede variar desde Ohasta
1 V. Si se dispone de un convertidor A/D de 12 bits para digitalizarla y el
dispositivo tiene un campo de medida que va desde Ohasta 2,5 V, determi-
ne la mejora de resolución que se consigue al amplificar la señal con una
ganancia de 2,5.
Apartado 5.3.1
Figura 5.12 a 5.14 5.3 En el caso del problema anterior, si se considera que el amplificador em-
Ejemplo 5.1 y 5.2 pleado no es ideal, ¿sería mejor amplificar o no?
5.4 Suponiendo que una señal tiene una elevada relación S/N, suficiente como
para considerar despreciable el ruido, ¿cuál es el máximo error que debe-
ría tener para aprovechar al completo la resolución de un convertidor de
16 bits? Compare el valor obtenido con las especificaciones que se pueden
conseguir en sistemas de instrumentación industrial.
Apartado 5.3.1 5.5 De forma complementaria al problema anterior y considerando el error

Figura 5.13 y 5.14 como nulo, ¿qué relación S/N deberla tener una señal para aprovechar al
Ejemplo 5.2 máximo la resolución de un convertidor A/D de 16 bits?
-' 5.6 Un sistema de medida produce una señal de Oa 5 V con un error máximo
del 0,1 %y una relación S/N mejor que 70 dB. ¿Cuál sería la resolución
recomendable del convertidor A/D que digitalizase esa señal?
5.7 En el caso del problema anterior, si para tal digitalización se dispusiese de

un convertidor A/D de 14 bits, ¿sería apropiado? En caso negativo, indi-
que qué se debería hacer para usar correctamente tal convertidor.
5.8 Determine el error total de un convertidor A&D que tiene las siguientes
características:
Error de escala: <0,5 LSB

Apartado 5.3.2
Figura 5.14 a 5.19 Error de ganancia: < 1 LSB
Ejemplo 5.3 INLE: < 1,5LSB
DNLE: <2 LSB
5.9 Teniendo en cuenta las especificaciones del convertidor del ejercicio an-
terior y suponiendo que se dispone de otra alternativa con las mismas
pre,')taciones en cuanto a error de escala y ganancia, pero en la que INLE =
2 y DNLE = 1, ¿cuál de los dos escogería?
244
Apartado 5.3.2
5.10 Si un convertidor A/D de 12 bits usa como referencia de tensión la alimen-
Figura 5.20 tación positiva +5 V y masa y se supone que el regulador de tensión puede
introducir una variación máxima de 50 m V, ¿cuál sería el error de cuantifi-
cación del convertidor debido a esta causa? ¿Afectaría a la resolución real
del convertidor?
Apartado 5.3.3
5.11 Un convertidor A/D de 6 bits tiene un tiempo de conversión de 500 ns.
Figura 5.21 ¿Cuál sería la máxima frecuencia de muestreo con la que puede trabajar?
¿Qué volumen de datos generada en tres minutos muestreando a esa fre-
cuencia?
Apartado 5.3.3
Figura 5.22 5.12 Un convertidor A/D de 12 bits de resolución que acepta señales entre Oy 5
Ejemplo 5.4 V tiene un tiempo de conversión máximo de 0,1 ¡.¡s. Determine la máxima
frecuencia de la señal con la que puede trabajar sin empeorar los errores
de cuantificación. Compare los resultados con los del Ejemplo 5.4.
Apartado 5.3.3
Figura 5.22 a 5.24 5.13 Para aumentar la frecuencia de conversión del Ejercicio 5.12, se emplea un
Ejemplo 5.5 sistema de muestreo y retención con un tiempo de adqui~ición de 100 ns
y una tasa de decaimiento de 011 V 1s. ¿Permitirá la conversión sin error
de cuantificación? ¿Cuál será la frecuencia máxima de muestreo a la que
podrá trabajar el sistema?
Apartado 5.3.3
5.14 Un convertidor A/D de 12 bits de resolución y de 8 canales que acepta
Figura 5.25 señales entre O y 5 V tiene un tiempo de conversión máximo de 0,5 ¡.¡s.
Determine la máxima frecuencia de la señal con la que puede trabajar sin
empeorar los errores de cuantificación.
Apartado 5.3.3
5.15 Proponga un sistema para incrementar la frecuencia de muestreo útil para
Figura 5.25 y 5.26
el caso del Ejercicio 5.14.
Apartado 5.4.1
5.16 Determine la mínima frecuencia de muestreo necesaria para evitar la pér-
Ejemplo 5.6 dida de información de una señal de audio, suponiendo que la banda pa-
sante va desde 20Hz a 20 kHz.
Apartado 5.4.1
Figuras 5.22 a 5.24 5.17 En el caso del ejercicio anterior, ¿cuál es el máximo tiempo de conversión
Ejemplo 5.4 a 5.6 que debería tener el convertidor? ¿Y si la resolución necesaria fuese de 18
bits? ¿Habría alguna solución para poder trabajar con un convertidor me-
nos rápido y, probablemente, menos costoso?
Apartado 5.4.1
5.18 Un sistema de adqu:isición de datos muestrea con una frecuencia de 10
Ejemplo 5.6 kS 1s y una resolución de 12 bits. Determine la máxima frecuencia de la
señal que puede procesar sin pérdida de información
Apartado 5.4.1
Figuta 5.30 5.19 Si desea prevenir la posibilidad de que se produzca algún efecto como el
Ejemplo 5.6 aliasing, determine las especificaciones de un filtro que limite esta posibili-
dad.
245
Tema
Sensores resistivos
6.1. Nociones básicas de medida de re!;is1tenci;;íS

6.2. Puente de Wheatstone
6.3. Resistencias metálicas dependientes de la tempera-
tura
6.4. Galgas extensométricas
6.5. Termistores y otros sensores resistivos
6.6. Sensores potenciométricos
TEMA 6 . SENSORES RESIST IVOS ••
Los sensores resistivos son los dispositivos sensibles más sencillos desde el
punto de vista de su uso como componente de circuito: pueden trabajar con
señales de continua y las relaciones a las que dan lugar están basadas en ex-
presiones sencillas y muy conocidas.
Un dispositivo resistivo se convierte en sensor de una determinada va-
riable porque esa variable afecta al valor de la resistencia mediante algún
mecanismo. Y hay muchas variables (temperatura, humedad, campo mag-
nético, tensión, posición, etc.) que son susceptibles de afectar a la resis-
tencia y, por tanto, habrá otros tantos sensores resistivos. En este tema se
tratarán algunos de los más importantes sensores resistivos y, sobre todo
los circuitos de acondicionamiento y las estrategias de medida que serán
válidas no sólo para ellos sino para cualquier otro sensor resistivo presen-
te o futuro.
6.1. NOCIONES BÁSICAS DE MEDIDA

DE RESISTENCIAS
Medir una resistencia es muy sencillo. Probablemente lo habremos hecho mu-

chas veces; empleamos un polímetro, tocamos con las puntas de prueba en
los extremos de las resistencias y, enseguida, obtenemos un valor: 1,35 kQ.
¡Perfecto! Aunque esta medida suele ser buena en líneas generales, lo cierto es
que no siempre es así sino que puede darnos algún que otro disgusto en de-
terminados casos. Para ello, vamos a ver cómo se obtiene el valor de la resis-
tencia.
La ley de Ohm fue presentada
por el físico alemán George Si-
6.1.1. MEDIDAS A DOS HILOS mon Ohm (1789-1854) en el año
1827, cuando la obtuvo de for-
La forma más sencilla de medir el valor de una resistencia es la que se conoce ma empírica.
como medida a dos hilos (2W, 2-wire) y que no es más que una aplicación di- Previamente, la idea fue intuida
recta de la Ley de Ohm. La idea es que el dispositivo de medida usa una fuen- por Cavendi~h, pero la falta de
te de corriente para que circule una corriente 1 por la resistencia a medir, R, y instrumentos de medida de co-
mide la tensión. V que cae en ella (Figura 6.1). rriente impidió su formulación
matemática (Cavendísh se uti-
Equipo de medida lizaba a sí mismo como sensor
de corriente). N o obstante, la
carencia de fundamento mate-
mático de la propuesta de Ohm
despertó un buen número de
( V) t1 recelos entre los ortodoxos de la
época, e incluso fue denostado
por el correspondiente ministro
de Educación.
Pero el señor m.ini~tro se equi-
vocaba y no sólo la ley de Ohm
es correcta sino que el principio
Figura 6. 1. Medida a dos hil os: la resisiencia que hay que medir se excita con una fuente de co· subyacente se puede encontrar
rrienie y se mide la t ensión que cae en ella con un vol tímetro.
en otros aspectos de la Física.
249
Como quiera que:
resulta elemental obtener el valor de la resistencia que hay que medir.

Sin embargo, lo cierto es que una medida así no está exenta de errores puesto
que hay que tener en cuenta que las puntas de prueba tienen una resistencia
(pequeña, pero la tienen) que llamaremos R,., y que, cuando tocamos los ter-
minales de la resistencia, habrá una cierta resistencia en el contacto (pequeña,
pero ahí está) que llamaremos R, (Figura 6.2); además, esta última resistencia
dependerá de la presión que hagamos y del estado superficial de las puntas
de prueba.
Equ.ipo de medida R
•
R,
= ... R.,
Figura 6.2. Resist encias parásitas en una med ida a dos hilos debidas a la resi stencia de los cables
y de los contactos.
En realidad el valor que medimos es la suma de todas esas pequeñas resisten-

cias y de la resi~tencia que queremos medir, es decir:
V = 1 · (R, + 2 · R,.. + 2 · R)
Esto se traduce en un error en la medida: el valor obtenido siempre será supe-

rior al valor que realmente tiene. El error absoluto sería de:
t: =2·R +2·R
w '
Los valores de R., y R, no suelen ser muy altos (décimas de ohmio), pero la im-
portancia de este error dependerá del valor de resistencia que tengamos. Con
resistencias del orden de kiloohmios unas décimas arriba supondrán poco
error, pero, si estamos midiendo una resistencia de shunt cuyo valor es muy
bajo, el error puede ser inadmisible.
El error producido se debe a la forma en que estamos haciendo la medida, es
decir, se trata de un error si~temático, un sesgo permanente que podríamos co-
rregir en parte: si antes de hacer la medida procedemos a efectuar una lectu-
ra de cortocircuito uniendo entre sí los extremos de las dos puntas de prueba,
podremos estimar cuánto vale la suma de 2·R., y algo parecido a R, (el contac-
to no será exactamente igual...) de tal manera que podemos restar esta medida
de la anterior. En la primera medida:
250
V, =l· (2 ·R.. +R)
En la segunda:
V1 =l·(Rx +2 · Ru• +2 · R)
.:
La diferencia:
V2 - V1 = 1 · (Rr + Re)
Y el error se deberá, aproximadamente, a la resistencia del contacto. Pero aun

esto puede llegar a no ser suficiente para la precisión que podemos necesitar.
En tal caso, hay que modificar el método de medida.
6.1.2 . MEDIDAS A CUATRO HILOS
La medida de resistencia a cuatro hilos (4W, 4-wire) consiste en utilizar ca-

bles diferentes para la excitación con la fuente de corriente y para la medida,
de tal modo que las cafdas de tensión producidas en contactos y en los pro-
pios cables no serán medidas por el dispositivo, tal como se muestra en la Fi-
gura 6.3.
Equipo de medida
Rw K,
1
...........
( VJ t 1
Rx
Rw 1 Re
Figura 6.3. Medida a cuatro hi los: las caídas de t ensión en las resistencias parásitas de los cables
y en Jos contactos no afectan a la medida puesto que por Jos cables del vol tím etro no circu la CO·
rriente.
Como quiera que por los cables del dispositivo de medida de tensión no cir-
cula corriente por tener una impedancia de entrada muy elevada o la que cir-
cule puede conBiderarse despreciable a todos los efectos, el voltímetro recoge
directamente el valor de la tensión cafda en la propia resistencia objeto de la
medida con lo que no se ve afectada ni por la resistencia de los cables ni por
la de los contactos.
La técnica de medida de resi~tencias a cuatro hilos es habitual en casos en los
que se deben medir resistencias de bajo valor o cuando es preciso conseguir
precisiones muy elevadas. Algunos polfmetros de alta gama disponen de este
tipo de medida, pero es común en el caso de dispositivos previstos para me-
dir resistencias muy bajas.
251
EJEMPLO 6.1
Un óhmetro que puede medir a 2 y 4 hilos dispone de varias escalas de
medida y una pantalla con capacidad para cinco cifra~ significativas. En
la escala de 00,000 a 99,999 Cl, indique cuánta~ cifras significativas son
válidas asumiendo que los cables tienen una resistencia máxima de 0,3 (l
y se puede suponer que la peor resistencia del contacto es de 0,1 Cl. Pro-
porcione también el error de medida.
Solución:
En el caso de medir a 2 hilos, el error absoluto que se produce en la
medida será de 2·0,3 t 2·0,1 = 0,8 Cl. En estas condiciones, el sistema no
puede garantizar los valores más allá de la segunda cifra significativa,
es decir, que mediría entre 00 y 99 Cl.
El error de la medida será de 0,8 1 100 = 0,8 %.
Si efectuamos la compensación de la resistencia de los cables (y de un
contacto) mediante sustraer al valor medido el valor de cortocircuito, el
error final del sistema sería sólo el que correspondería a un contacto, es
decir, 0,1 O, que implica que se podría usar el dispositivo con tres cifra~
significativa~, es decir, desde 00,0 hasta 99,9 Cl.
En este caso, el error de la medida sería de 0,1 1 100 = 0,1 %.

Con los datos que da el enunciado no hay forma de conocer el error que
se produce en la medida a ·c uatro hilos aunque, de ser ciertas todas las
cifras significativas que promete, el error sería menor de 0,001 Cl, que
correspondería a un 0,001 %.
6.2. PUENTE DE WHEATSTONE
Las medida~ a dos y cuatro hilos permiten obtener lecturas con alcances muy
elevados, de hasta varios órdenes de magnitud. La técnica de cuatro hilos es
de aplicación general a casos en los que se deba eliminar el efecto de los cables
y de las conexiones, pero en muchos de los sensores resistivos el problema no
está ahí sino en que la variable produce un efecto limitado sobre el valor de la
resistencia, de modo que las variaciones que se obtienen para todo el campo
de medida resultan pequeñas.
En este contexto, la mejor solución pasa por emplear circuitos de medida más
sensibles a pequeñas variaciones y en casi todas las ocasiones se emplean
p uentes de medida (measurement bridges), circuitos que están en equilibrio y
que producen cambios apreciables en cuanto cambia alguna de las resisten-
cias que los componen. La aplicación a la medida de resistencias del primero
de esos circuitos data de 1843 y es el conocido como puente d e Wheatstone
(Wheatstone bridge) en honor a Charles Wheatstone.
L'l p,:;truct11ra el PI puP.ntP. ÓP. WheatstonP "'"' 1:'1 'J'IP. "'P. puPéiP oh"'Pl'V:'Ir Pn 1:. Fi-
gura 6.4 y está formado por cuatro resistencias, una de las cuales es la que se
pretende medir, una fuente de tensión continua y un galvanómetro.
252
E
-
Figura 6.4. Puente de Wheatstone para conocer el valor de la resistencia R,.
6.2.1. DE LA MEDIDA POR COMPENSACIÓN A LA MEDIDA

POR DEFLEXIÓN
La primera forma de trabajar del puente de Wheat~tone es la que se conoce

como medida por compensación y consiste en garantizar que el puente está
en equilibrio y que, por tanto, la rama de la izquierda y la de la derecha tienen
resistencias iguales. En tal caso, la tensión en los puntos A y B es la misma y
no circulará corriente por el galvanómetro.
El puente de Wheatstone de la Figura 6.5 tiene dos resistencias fijas (las su-
periores, R1), una resistencia variable, R y la resistencia a medir, R,. Cuando
R = R. el puente está en equilibrio por lo que si la variación de R se hace de
una forma totalmente controlada y es posible conocer su valor, habremos en- Existe una cierta controver-
contrado el valor de R,. sia sobre quién es el padre del
puente de \o\lheatstone, si el cien-
tilico británico que le ha dado
nombre (Charles Wheatstone,
1802-1875) o su colega, Samuel
Hunter Christie (1784-1865).
E
- A La primera propuesta fue del
segundo y a_<;! aparece en un ar-
tículo de 1833, pero la primera
aplicación en la medida de re-
compensación sistencias y la correspondiente
Resistencia a medir
formulación matemática corres-
ponden a Wheatstone, en 1843.
Figura 6. 5. Puente de Wheatstone para medida por compensación. La resistencia variable (resis· No obstante, este munca quiso
tencia de compensación) permi ti rá equil ibrar el puen te; cuando se consiga, el valor de esta resis·
robar el mérito a su colega sino
tencia (conocido) será el mismo que el de la resistencia a medi r.
que en su presentación citó el
puente (el " diamante") como
Lógicamente el problema era di~poner de resistencias R conocidas y con su- una invención de Chri~tie.
ficiente precisión, pero eso se resolvió mediante las cajas de décadas, un con- Wheststone fue un científico
junto de grupos de resistencias de 10 valores por cada década, que permitían muy activo que tiene muchas
conectarlas en serie para conseguir un valor final con gran precisión. o los po- aportaciones más en terrenos
tenciómetros calibrados que disponían de un dial sobre el que leer el valor diversos, desde la música hasta
buscado. la espectroscopia pasando por la
telegrafía, hasta el punto de que
La medida de una resistencia se hacia en un proceso iterativo, subiendo y 1o
podría ser considerado co-in-
bajando R hasta conseguir la compensación o equilibrio del puente.
ventor del telégrafo jwlto con
Podemos pensar que no era muy sencillo y que cada medida llevaba un tiem- Cooke y Morse.
po, pero este método puede llegar a ser extraordinariamente preciso y, gracias
253
a él se consiguieron importantes descubrimientos a lo largo de la segunda mi-

tad del siglo XIX y principios del xx. Incluso se desarrolló un si~tema de medi-
da que compensaba parcialmente la resistencia de los cables en el caso de que
la medida se tuviera que hacer a una di~tancia más o menos grande: era el mé-
todo de medida a tres hilos.
Sin embargo, este tipo de medidas no resulta cómodo y queda al margen de
lo que es la instrumentación actual que responde a otros esquema~ y que tra-
ta de prescindir del factor humano en sus procedimientos. Pero el puente de
Wheatstone puede utilizarse de otra forma: en lugar de mover la resi~tencia R
hasta conseguir su compensación, se mantendrá fija y, en lugar de usar un gal-
vanómetro para detectar cuándo hay desequilibrio, se empleará un ''oltfmetro
para cuantificar el desequilibrio (Figura 6.6). Esta medida se denomina medi-
da por deflexión ya que la diferencia entre R y R, es la causa de la tensión de
salida, VA8 •
Medida a tres hilos

Cuando se están midiendo re-
sistencias de bajo valor óhmico
con un puente de Wheatstone
E
por compensación, la presencia
de resistencias parásitas corres-
pondientes a los cables y las
- B A
conexiones p ueden alterar la

medida y proporcionar un exce-
Resistencia a medir
sivo error. Más aún, los cambios
de temperatura afectan a la re-
sistencia de los cables lo que se Figura 6.6. Medida por deflexión con el puente de Wheatstone. La tensión de salida V'"' es función
del valor de la resist encia a medir.
traduce en una incertidumbre
muy elevada en la media.
Una forma de compensar par-
De esta forma, es posible encontrar una relación matemática entre tal tensión
cialmente este problema con- y la diferencia de resistencia~:
siste en emplear un puente
modificado que incluye un ter- VAB -- f(R -Rxl\
cer hilo de conexión sobre el que
se mide la compensación del de la que se podría extraer el valor de R, buscado.
puente.
El puente de Wheatstone puede ser alimentado tanto con una fuente de ten-
sión como con una fuente de corriente, obteniendo expresiones similares,
aunque con alguna~ ventajas de un ca~o respecto del otro. Seguidamente ana-
E
lizaremos estas dos formas de trabajo.
6.2.2. PUENTE DE WHEATSTONE ALIMENTADO

EN TENSIÓN
Los dos cables marcados deben
ser iguales (material y longitud) Fue la primera forma de alimentar el puente de Wheatstone. En una medida
para que los efectos se rompen- típica por deflexión la tensión de salida de un puente de Wheatstone alimen-
sen mientras que la naturaleza tado con una fuente de tensión E es:
del tercero es poco importante.
Rx R )
VAR =E. ( Rl + Rx- Rl + R
254
Operando:
Rl RX -R
VAB =E. Rl + R Rl+Rx
Esta expresión nos indica que cuando el puente de Wheatstone trabaja a de-
flexión, la tensión de salida crece con el valor de la resistencia a medir y se
anula cuando el puente está en equilibrio (R, = R). Como el objeto del puen-
te es medir R, y el resto de las resistencias forma parte de su diseño, pode-
mos fijar R en el punto en el que queramos que el puente esté en equilibrio y
dé tensión nula. Por ejemplo, si tuviésemos que medir valores entre 100 y 200
Q podemos fijar R = 100 Q y la tensión de salida irfa desde OV hasta un valor
positivo máximo cuando R, = 200 Q (Figura 6.7a); si, por el contrario, optáse-
mos por elegir R = 150 O, la tensión de salida tendrfa una curva caracterfstica
simétrica puesto que iría desde un valor negativo paraR,= 100 Q hasta un va-
lor similar positivo cuando R, = 200 Q (Figura 6.7b).
R
o
Rxm6x
(a) (b)
Figura 6. 7. Tensión de salida de un p uen te de Wheatstone en función de la elección de R: (a) con R

igual al valor más bajo del campo, la tensión de sal ida es siempre positiva; (b) con R igual al valor
medio del campo de medida, la tensión de sal ida tiene zona posi tiva y negativa (en las gráficas se
ha exagerado la no-lineal idad).
El principal problema es que la expresión de la tensión de salida del puente

resulta no lineal (R, aparece también en el denominador) y su sensibilidad de-
pende fundamentalmente de la tensión de alimentación, E, de R y de Rl. No
obstante, si se desea una buena linealidad, deberfarnos hacer que la resisten-
ciaR, fuese despreciable frente a R1 para lo que esta debe ser mucho mayor
que aquella; entonces, si considerarnos Rl >> R" la expresión anterior se pue-
de aproximar por:
Rl fSc -R Rx -R
VAB lin "' E . Rl + R . Rl = E. Rl + R
Con esto la sensibilidad del puente crece con la tensión de alimentación y de-
crece con el valor de Rl; esto último obliga a buscar una solución de com-
promiso entre conseguir que el puente sea más lineal (Rl muy grande) y que
tenga buena sensibilidad (Rl pequeña). En cualquier caso, tanto el error de Ji.
nealidad como la sensibilidad se pueden cuantificar y, de esa forma, el di~eña
dor puede tomar las decisiones que estime oportunas.
Tanto la exp1-esión lineal como la 1-eal indican que la tensión de salida depende
de los parámetros de diseño E, R y Rl con lo que habrá que tener mucha pre-
255
caución con los valores de estos parámetros y con su tolerancia para evitar que
el puente introduzca más errores en la medida. Conseguir fuentes estables de
tensión es un problema que se resuelve fácilmente con el uso de circuitos in-
tegrados monoliticos específicos denominados referencias de tensión (voltage
references) de la~ que existen muchos ejemplos en la mayoría de los fabricantes
de dispositivos analógicos. En lineas generales, los errores relativos en la ten-
sión de alimentación y en JU se suman para determinar el error total, mien-
tras que el error absoluto de R se añade al error total. Pero el efecto de que las
dos resistencias Rl sean diferentes entre sí en un valor .ó.Rl se traduce en que
la tensión es:
Rl Rx-R-.ó.Rl/Rl
VAB = E . R1 + R . Rl + .ó.Rl + Rx
Como se puede observar, se produce un cambio de sensibilidad que pue-

de no ser muy grande y un error de offset que sf que puede ser importan-
Referencias de tensión te y que crece en la medida en que Rl es mucho mayor que la resistencia a
Aunque ya se ha hablado de las medir.
referencias estables de tensión La sensibilidad es (suponiendo que Rl >> R):
en el Tema 5, donde proporcio-
nan los extremos de conversión E
S= -
estables para los convertidores Rl
A/D, su uso en la alimentación
de los puentes de medida en
y el error vendrá dado por la diferencia entre la expresión lineal y la real.
continua es básico para garan-
tizar que la salida sólo depende Puesto en términos relativos a fondo de escala resulta ser (considerando el in-
de la variable a medir y no de tervalo de salida entre Oy el valor máximo de tensión):
las variaciones de excitación del
puente (recordemos que E for-
Rx
e= -
ma parte de todas las expresio- Rl
nes de tensión de salida de los
puentes). En otras palabras, la resistencia R1 afecta del mismo modo a la sensibilidad
En muchos casos, cuando la co- que al error luego, una vez más se hace cierto el axioma de la ingeniería de
rriente a suministrar es peque- que "toda ventaja se paga con un inconveniente,. Además, si se tiene en cuen-
ña, puede no ser necesario más ta que la tolerancia de Rl introduce un desplazamiento en la medida, si Rl es
que la propia referencia estable, mucho mayor que R, podría darse el ca~o de que esa tolerancia fuese compa-
tal como se presenta en la figura rable a toda la variación posible de la resistencia a medir y obligaría a efectuar
siguiente donde la referencia es- una calibración a un punto del puente antes de poderlo utilizar. Por ejemplo, si
table aparece con el símbolo de queremos medir resi~tencias del orden de cien ohmios y para bajar el error de
un zener aunque ni lo es ni se le
linealidad elegimos que Rl = 10K, habrá que cuidar su tolerancia porque una
parece:
tolerancia del1 % nos lleva a que .ó.Rl = 100 Q, lo que puede suponer un des-
plazamiento de la medida de hasta el 100 %. Incluso una tolerancia del 0,1 %
podría introducir un offset del10 %...
Como conclusión adicional, el máximo error se produce para el valor más
grande de R,, es decir, en el fondo de escala. En la Figura 6.8 se represen-
Tensión
pooo ta el comportamiento del puente de Wheatstone desde el punto de v ista de
estable
su curva de calibración, la linealización y el correspondiente error de linea-
lidad.
En ca~o de precisar más corrien-
te se puede usar un operacional Sin embargo, la linealización realizada al despreciar R, frente a R1 resulta muy
adicional con un montaje de se- sencilla desde el punto de vi~ta matemático y es muy cómoda a la hora de rea-
guidor de tensión. lizar ejercicios académicos, pero no es la mejor opción para reducir el error de
256
TEMA 6 . SENSORES RESIST IVOS • •
v••
Curva real
Em>r lf=~:_--------------------------~----~R
(linealización 2)
· ~~ ~-
Figura 6.8. Error de linealización cuando se desprecia el término R, en el denominador (muy

grande) frente a la linealización más adecuada por m ínimos cuadrados, que proporciona un error
pequeño.
linealidad. Dado un determinado campo de medida paraR,., la mejor linea-

lización es, por definición, la que se obtiene por mínimos cuadrados (Figura
6.8). En cl siguiente ejemplo se puede comprobar la importante diferencia que
supone trabajar con una linealización matemáticamente superior.

Se pretende medir resistencias cuyo valor puede oscilar desde 100 hasta
150 Q mediante un puente de Wheatstone alimentado a 10 V. Determi-
ne la tensión de salida del puente con Rl = 10K, tanto la real como la
linealizada.
Solución:
Si elegimos R = lOO O, la tensión de salida del puente será:
10000 Rx -100 Rx -100
VAB = 10 9
. 10000 + 100 . 10000 + Rx = ' 901 . 10000 + Rx
Y variará desde O V (paraR, = 100 O) hasta 48,77 m V paraR, = 150 O.

Si optamos por la linealización de despreciar R, en el denominador, la
expresión lineal sería:
.WGOO Rx - 100
VAB = 10 · +
10000 100
· HIOQO = 0,0009901 · (Rx - 100)
El error producido es máximo en el extremo de medida y vale

1501 10000 = 1,5 %.
Si optamos por la lineali2ación por minimos cuadrados, procede-
mos a calcular la mejor recta de linealización que resulta ser (archivo
Ef0602.xlsx):
~8 = 0,975465 · R, - 97,506671
257
El coeficiente. de correlación es muy elevado y; en consecuencia, el error

máximo bajo; en este caso, del 0,08 %, que se produce en los dos extre-
mos del campo de medida y que resulta muy inferior (casi veinte veces
menos) al que se produce con la linealización "académica". Para com-
parar, en el mi~mo fichero se ha dispuesto una columna para la tensión
linealizada despreciando R, en el denominador y se comprueba, como
se había anticipado, que el error máximo se produce en el extremo su-
perior del campo de medida.
Si se hubiera elegido R = 125 O (en el centro del campo de medida), la
expresión de la tensión sería:
10000 Rx - 125 Rx- 125
VAB = 10 9
. 10000 + 125 . 10000 + Rx = '8765 . 10000 + Rx
Y variará desde - 24,45 mV (paraR, = 100 O) ha~ta +24,33 m V paraR, =

150 O. Si optamos por la linealización de despreciar R, en el denomina-
dor, la expresión lineal sería:
. HIOOO Rx -125
VAB = 10 · lOOOO + · +0000 = 0,00098'765 · (Rx - 125)
125
El error producido es máximo en el extremo superior de medida y vale

aproximadamente la mitad que en el caso anterior, es decir 0,75 %. E$to se
debe a que, al dividir por el fondo de escala de salida (FSO), el valor por el
que $e divide es igual al del caso anterior peyo la tensión sólo vale la mitad
Si optamos por linealizar por mfnimos cuadrados, el resultado será si-
milar al caso previo (0,08 %). En el archivo EJ0602.xlsx se calcula la me-
jor recta de linealización que resulta tener la mi~ma pendiente de antes,
pero con diferente intersección:
~B = 0,9'75465 ' R,- 121,9536
6.2.3. PUENTE DE WHEATSTONE ALIMENTADO

EN CORRIENTE
Aunque imaginar un puente de vVheal~tone alimentado en corriente puede re-

sultar raro, lo cierto es que así se consigue mejorar la linealidad. El esquema
general es el que se muestra en la Figura 6.9.
La expresión de la tensión de salida resulta ser:
R1
VAB = 1 . 2 . R1 + R + R . (Rx - R)
X
La expresión lineal se obtendría despreciando la R, del denominador, es decir:
Rl
VAB lin "" 1 · 2 . Rl + R · (Rx - R)
258
TEMA 6 . SENSORES RESIST IVOS • •
1 t B A
Resistencia a medir
Figura 6.9. Puente de Wheatstone alim entado en corríente para mejorar la linealidad de lasa·
lida.
La sensibilidad (si se considera R1 >> R) es:
1
S=-
2
El error de linealidad, con un puente equilibrado en el extremo inferior del

campo de medida, resulta máximo para el extremo superior de dicho campo:
Rx Rx
E= ~
2 · R1 + R 2 · R1
Y es la mitad que el que producía el puente alimentado en tensión. Con todo,

nuevamente la lineali.zación más correcta es la que se obtiene por mínimos
cuadrados.
EJEMPL O 6.3 (EJ0603.xlsx)

Se pretende medir resistencias cuyo valor puede oscilar desde 100 ha~ta
150 Q mediante un puente de Wheatstone alimentado a 2 mA. Deter-
mine la tensión de salida del puente con 'R1 = lOK tanto la real como la
l:inealizada.
Solución:
Si elegimos R = 100 O, la tensión de salida del puente será:
10000 20
VAB = 0,00 2 . H0000 +100+Rx. (Rx -tOO) = 20100+Rx. (Rx - 100)
Y variará desde OV (para R, = 100 O) hasta 49,38 m V paraR, = 150 O.

Si optamos por la l:inealización de despreciar R,_en el denominador, la
expresión lineal sería:
10000 .
VABlin "' 0,002 · . + · (Rx -100) = 0,00099502 · (Rx - 100)
2 10000 100
El error de linealidad será de U175 %.
259
AD7719
Existen en el mercado Ulla gran Si se procede a una linealización por minimos cuadrados, la mejor recta
cantidad de circu.itos específicos
lineal será (véase archivo EJ06()3.xlsx):
para trabajar con puentes de
medida, capaces de proporcio-
nar la alimentación necesaria, VAB = 0,987654 . R,- 98,7452
leer las señales y hasta propor-
cionar el dato cligital correspon- que arroja un error máximo del 0,04 %.
cliente. Como se puede observar, las condiciones de este ejemplo son simi-
Uno de estos casos es el con- lares a las del Ejemplo 6.2 Jo que permite comparar ambos casos. La
vertidor A/D de salida serie, conclusión es que el sistema con alimentación por fuente de corriente
AD7719 que usa la tecnología resulta más lineal que con fuente de tensión: con sensibilidades se-
Sigma-Delta para conseguir ha<r mejantes en ambos casos el error producido es aproximadamente la
ta 24 bits de resolución en cua-
mitad.
tro de SLL~ entradas.
Una de sus posibilidades es ma-
nejar directamente puentes de
meclida, para lo cual d ispone de Los puentes alimentados en corriente deben incorporar una fuente de co-
Ulla alimentación fiable y la ca- rriente estable lo que no es tan sencillo de implementar como una fuente
pacidad de leer la~ tensiones de de tensión estable. Sin embargo, existen algunos componentes integrados
los cuatro pUlltos del puente: como el REF200 de Texas Instruments (REF200.pdf) que proporciona una
corriente débil (100 ¡tA), algunas otras soluciones basadas en el empleo de
+5V
amplificadores operacionales empleados como convert idores V /I e, inclu-
so, alguna aplicación especifica de convertidores A/D que incluyen fuen-
tes de corriente para la alimentación de puentes de medida como el AD7719
lour de Analog Devices (AD7719.pdf) junto con la lectura de la tensión de sali-
REF+ da del puente.
REF-
"',.._,.._
~
6.2.4. AMPLIFICACIÓN DE LA SALIDA DE UN PUENTE

o
AIN2
4: DE WHEATSTONE
AIN1
La salida de los puentes de medida es de tipo diferencial y, en muchos casos,
AIN4 de bajo valor (decenas de milivoltios). En la mayoría de las ocasiones, hay que
AIN3 proceder a su amplificación para lo que se usará algún tipo de amplificador
diferencial, ya sea montado sobre un amplificador operacional o, como sue-
le ser más normal, empleando un amplificador diferencial monolftico (Figu-
ra 6.10).
A la hora de seleccionar el amplificador es necesario tener en cuenta que la
medida se está haciendo en continua por lo que los parámetros que se deben
especificar para el dispositivo serán los relacionados con su tensión de offset y;
tal vez, con el CMRR ya que el amplificador trabaja con un modo común que
puede ser importante si las resistencias superiores no son mucho mayores que
la que se pretende medir.
El error de offset del amplificador se añadirá al resto de los errores del puente
para delimitar la incertidumbre total del sistema. En lineas generales, el error
total del sistema se deberá fundamentalmente al offset producido por el am-
plificador, al causado por la discrepancia entre los valores de las resistencias
superiores, al error de linealidad, al de ganancia del amplificador y al produ-
cido por los cambios en el valor de la excitación del puente que afecta a la sen-
sibilidad del sistema.
260
1 t B A
Vo
RG
Figura 6.10. Amplificación de la salida de un puente mediante un amplificador diferencial monolftico.
EJEMPLO 6.4
Se pretende medir resistencias entre 100 y 200 O con un puente de
\Vheatstone alimentado con una fuente de corriente de 1 mA. Si las re-
sistencias de la parte superior son de 10K, determine la ganancia del
amplificador necesario para proporcionar una tensión de salida entre
Oy 5 V, correspondiendo respectivamente a 100 y 200 O. Determine el
error total de medida si el amplificador usado tiene una tensión de off-
set de 50 ¡.rV (RTf).
Solución:
Si se quiere hacer el cero paraR,= 100 O, ese será el valor de la resisten-
cia de compensación (R = 100 O) con lo que el puente quedará como el
que se muestra en la Figura 6.11.
1 t B A
Vo
Ro
Figura 6.11
El valor de la tensión será (linealizado):

10000
VAB = 0;001 . 2 . 10000 + 100. (Rx- 100)
Así, en el extremo superior de medida tenemos que VAB = 49,75 mV. Para
conseguir que Uegue a 5 V, la ganancia del amplificador deberá ser algo
261
superior a 100, en concreto, 5/0,04975 = 100,5, valor que se obtendrá

situando la resistencia de ganancia en el valor correspondiente.
Para determinar el error total hay que tener en cuenta el error de offset
del amplificador y el error de linealidad del puente. Empezando por
este último (con la linealización ''mala", la de despreciar R, en el deno-
minador) el error de linealidad es de 100/(2·10000) = 0,5 %. El de off-
set, referido a la salida (RTO) será de 50 ¡.LV x 100,5, aproximadamente,
5 m V. Sobre los 5 V de salida, supone un error del 0,1 %.
La suma de Jos dos errores proporciona el error total, que resulta ser del
0,6 %. Un resultado mucho mejor se conseguiría con una buena linealiza-
ción por minimos cuadrados, pero lo dejamos a la curiosidad del lector.
6.3. RESISTENCIAS METÁLICAS DEPENDIENTES

DE LA TEMPERATURA
Una vez que se han presentado las opciones más habituales para la medida de
resistencias, es el momento de aplicarlo a algunos de los sensores resistivos. El
primero de ellos es la resistencia metálica cuyo valor depende de la tempera-
tura y que se suele conocer por sus siglas correspondientes al término inglés,
RTD (lV?sistance Temperature Detector).
6.3.1. PRINCIPIO DE FUNCIONAMIENTO
La primera descripción del comportamiento de la~ RTD la realizó Charles Sie-

mens en 1871. Una RTD es básicamente un hilo metálico cuya resistencia se ve
Charl e s Wilhelm Siemens afectada por la temperatura de una forma casi lineal y que se corresponde con
(1823-1883) fue un ingeniero de una expresión como esta:
origen alemán nacionalizado
británico. R(t) =Ro · (1 + a(T- T0 ))
En el año 1871 presentó el efec-
to de la temperatura sobre los donde R0 es la resistencia a la temperatura T0 y a es el coeficiente térmico que
conductores en la disertación depende de cada material.
("Bakerian lectu.re" de la Royal
Society): "On tite Increase of Ele.c- La causa física de este cambio es el incremento de la agitación térmica de los
t-rical Resistance in Conductors portadores de carga (electrones libres) en la banda de conducción, que se in-
with Rise of Temperatr¡·re, attd its crementa con la temperatura, dificultando la circulación de corriente, lo que
Application to the Mensure of Or- supone pérdida de conductividad y el consecuente aumento de la resistencia.
dinary and Fumace Tempemtu·res:
Este fenómeno aparece en todos los materiales conductores, pero desde un
also on a si·mple Method of tneasu-
ring Electrical Resistnnces". punto de vista instrumental sólo se usan unos pocos: el má~ habitual es el pla-
tino, aunque existe alguna RTD de cobre o níquel. La ventaja del platino está
no sólo en su mayor linealidad, sino en que es un metal noble que presenta
una baja interacción química con el entorno Jo que significa que afecta muy
poco al medio en el que se encuentra y que tampoco es afectado significativa-
mente por ese medio. Este comportamiento se puede resumir en que el plati-
no presenta una buena compatibilidad química.
262
TEMA 6 . SENSORES RESISTIVOS ••
A pesar de que la expresión anterior indica un comportamiento general de ca-

rácter lineal con la temperatura, en realidad esa expresión tiene una serie de
limitaciones:
a) A alta temperatura (más de 600 °C en el caso del platino), es posible
que se produzca un fenómeno de aparición de impurezas que pueden
afectar a la naturaleza misma del metal. Esto puede suponer que un ma-
terial más o menos puro sería contaminado con lo que se modificarían
sus propiedades físicas y, en este caso, quedaría afectado el coeficiente
térmico.
b) A muy baja temperatura (menos de - 250 ~q estos metales pierden total-
mente la sensibilidad y son otros fenómenos los que determinan la resis-
tencia del metal.
e) La linealidad no es completa y aparecen términos que dependen del cua-
drado, cubo, etc. de la temperatura. Aunque estos coeficientes son muy pe-
queños en relación con el lineal, con un campo de medida amplio deberfan
tenerse en cuenta.
Si nos centramos en el material más habitual para las RTD, el platino, tenemos Ecuación de Callendar-v an
que la primera aproximación al comportamiento real viene determinado por O usen
la expresión de Callendar-van Dusen, expresión desarrollada por el físico bri- La ecuación propuesta por Ca-
tánico Hugh Longbourne Callendar y perfeccionada para bajas temperaturas llendar (1863-1930) incorporaba
por M. S. van Dusen en 1925. Con posterioridad se han ido obteniendo fun- un término cuadrático adicional
ciones más refinadas hasta la última disponible, la de 1990, en la publicación respecto de la expresión lineal
lTS-90 (Internatümal Sea/e ofTemperature del Comité Internacional de Pesos y y tenia validez entre O y 661 "C.
Medidas) donde se ha definido una función de orden 12 para interpolar entre Esta expresión fue modificada
por Van Dusen para ampliar su
13,8033K y 273,16K y otra, de orden 9, entre Oy 961,78 °C para establecer los lí-
validez hasta temperaturas de
mites actuales de lo que es posible medir.
-200 "C. El término que multi-
Aunque en esencia se puede llegar a medir con la máxima precisión disponi- plica a R, es:
ble con una resistencia de platino, en el ámbito del presente texto recurriremos
a la expresión lineal más simplificada en la que el coeficiente térmico se toma- 1 + AT + BT' + CI"(T- lOO)
rá como 0,00385 °~1 • De esta forma, el valor de la resistencia en función de la
temperatura resulta ser: con todos los coeficientes obte-
nidos empíricamente mediante
R(t) =Ro · (1 + 0,00385 · (T- T0 )) medidas a O, 100 y 260 "C. Los
valores obtenidos son:
La RTD de platino, como elemento de circuito (Figura 6.12), responde a esa A= 0,0039083 "<:'
ecuación en sus dos realizaciones más comunes, la PtlOO, una resistencia cuyo
B = 0,0000005775 "e'
valor es de 100 Q a O°C y la PtlOOO, con un valor de 1000 Q a Ooc.
e= -4.183·1o-'2 "C""
Las ecuaciones de la ITS-90 son

básicamente similares, pero es-
tablecen muchos más puntos de
+T calibración y tienen un orden
superior.
Figura 6.12. Símbolo de circuito de una RTO. La línea recta que corta el componente indica que
su compor tamiento es lineal y la indicación "+T" que el coeficiente de t emperatura es posit ivo, es
decir, que la resist encia aumenta con la temperatura.
263
6.3.2. FORMAS CONSTRUCTIVAS
Existe una gran variedad de sensores de tipo RTD, para diversas aplicaciones,
que van desde algunas realizaciones muy pequeñas para trabajar en puntos
de acceso complejo o para obtener medidas puntuales hasta otras grandes que
incluyen empuñadura para facilitar su manejo, pasando por algunas adhesi-
vas que permiten su aplicación superficial.
En cualquiera de los casos hay que tener en cuenta que los sensores RTD sue-
len estar bajo la norma internacional lEC 60751:2008 aunque también hay
otras legislaciones específicas de algunos países como la ASTM E1137 de
EE.UU. En la primera de ellas se establecen una serie de puntos (T, R) como
se indica en la Tabla 6.1 y cuatro clases de tolerancia como se indica enlaTa-
bla 6.2.
Tabla 6.1. Definición de t emperaturas y resi stencia correspondiente a cada punto para PtlOO se·
gún la norma lEC 60751 cada 50 •c.
T [•C] R [IJ) T[•C] R[IJ) T [•C] R [!JI

-200 18,52 150 157,33 450 264,18
-150 39,72 200 175,86 500 280,98
-50 80,31 250 194,10 550 297,49
o 100,00 300 212,05 600 313,71
50 119,40 350 229,72 650 329,64
100 138,50 400 247,09 700 345,28
Tabla 6.2. Clases de tolerancia para la PtlOO según la norma lEC 60751.
a ase Tolerancia [•C] Campo de medida [•e ) Comentario

AA ±(0,010 + 0,0017·1) de0a150 Otro nombre: 1/3 DIN
A ±(0,15 + 0,002-t) de -30a 300
B ±(0,30 + O,OOS·t) de-50 a 500
e ±(0,60 + O,OH) de-50 a 500
Las RTD pueden encontrarse con tres formas constructivas básicas que se
muestran en la Figura 6.13.
Hilo de platino
Soporte interno Platino
(aislante eléctrico,
conductor térmico)
(a) (b) (e)
Figura 6.13. Algunas realizaciones físicas de RTD de plat ino: (a) de hilo bobinado (sobre un sopor·
te); (b) de bobina (inmersa en polvo térmico); (e) híbrida de capa gruesa.
La más tradicional es la hilo bobinado (wire-bound element) en la que el hilo

oP pi:Jtino ""' ilil'ltTihuyP sohrP un soport P. aislantP, riHnilrim o plano, ciisPñailo
como solución de compromiso entre mantener la rigidez del conjunto y per-
mitir una cierta dilatación con los cambios térmicos (Figura 6.13a). El conexio-
264
TEMA 6. SENSORES RESISTIVOS ••
nado para dar accesibilidad a sus terminales se realiza con hilos compatibles
con el platino y que no minimizan las di~torsiones en la medida por efecto ter-
mopar (véase el Tema 8). El uso de estos dispositivos no se extiende más allá
de los 600 ~e debido a la~ limitaciones mecánica~.
Las RTD de bobina (coíled elements) son similares a las anteriores, pero la
bobina no se soporta sobre ningún material aislante sino que está inmersa
en polvo cerámico conductor del calor pero aislante eléctrico (como el óxi-
do de magnesio, por ejemplo); el diseño permite la expansión mecánica de
la bobina con los cambios térmicos sin introducir tensiones mecánicas que
puedan afectar al funcionamiento del dispositivo (Figura 6.13b) y garanti-
zando que el sensor está en contacto térmico con la zona en la que se pre-
tende medir. Este d iseño permite extender el campo de medida hasta los
850 ~c.
La que permite un di~eño más compacto es la RTD de tecnología híbrida de
capa fina (thin-film element) que deposita el material conductor (platino) so-
bre un sustrato cerámico (Figura 6.13c). A pesar de que el coste de estos dis-
positivos es bajo, la tecnología de deposición de material reduce la precisión
del dispositivo final con lo que no pueden lograrse dispositivos de cla~es A o
AA (véase la Tabla 6.2). Además las fuertes diferencias de coeficientes de di-
latación entre el metal y el sustrato cerámico introducen un efecto de galga
extensométrica que perturba la medida (véase el Apartado 6.4) y llegan a com-
prometer la estabilidad mecánica del dispositivo. Esto reduce la temperatura
máxima de aplicación hasta no más de 500 "C.
La~ más precisas de las RTD son las de bobina en gas inerte (straín-free ele-
mc>nts) que se caracterizan por no introducir ninguna tensión y permitir que
la bobina de hilo de platino pueda expandirse y contraerse libremente con la
temperatura ya que está mínimamente sujeta en el seno de una ampolla relle-
na de gas inerte. A pesar de su precisión intrínseca, de que puedan llegar ha~
ta la máxima temperatura (961,78 oc) y de que sean las definidas en la ITS-90,
la fragilidad de la ampolla y, en consecuencia, la escasa capacidad de sopor-
tar vibraciones y golpes las hacen poco ú tiles en aplicaciones instrumentales
prácticas.
El conexionado de la~ RTD puede hacerse mediante cables, en cuyo caso pue-
de ser a 2, 3 o 4 hilos para medidas correspondientes a medidas en puente (2
o 3 hilos) y medidas mediante fuente de corriente y voltímetro (2 o 4 hilos).
En todos los casos, uno de los terminales llevará 1 o 2 hilos recubierto(s) de
plástico rojo y, el otro, 1 o 2 hilos recubierto(s) de plástico blanco. También se
pueden encontrar RTD cuya salida es mediante algún tipo de conector norma-
lizado; en este caso, h abrá que acudir a las páginas de los fabricantes para co-
nocer la di~posición física de los contactos.
EJEMPLO 6.5 (archivo EJ0605.xlsx)

A partir de los datos de la Tabla 6.1 determine una linealización acep-
table para el campo de medida completo de dicha tabla, calculando el
error él e line,.,Jicl ,ui y el meficie nte a resultante. Determine a partir de
los mismos datos una ecuación del tipo de la de Callendar.
265
Solución:
Representamos la resistencia en relación con la temperatura y trazamos
la aproximación lineal por mio.imos cuadrados según se muestra en la
Figura 6.14 (archivo EJ0605.xlsx).
400.00
350.00 R = 0,3617-t + 99,437

300.00 R2 = 0,9983
g 250.00
fG
~ 200.00
i11:
150.00
100.00
50.00
0.00 +------------------~
·200 o 200 400 600 800
Temperatura rcJ
Figura 6 .14
El error obtenido con la lineali.zación propuesta es del2,63 %. La linea-

lización obtenida es:
R = 0,3617 · T + 99,437
Para obtener el coeficiente a sólo tenemos que dejar la expresión de la

forma Ro -(1 + a·T), es decir:
R = 99,4.371(1 + 0,003637 · T)
Si pretendemos obtener una expresión del tipo de la de Callendar, ten-

dríamos que realizar una aproximación por mínimos cuadrados de tipo
cuadrática como la que se muestra en la Figura 6.15.
~0.00
350.00 R • ·5.983E.OS·t2 + 0,3924·t + 99,81
300.00
g 250.00
CIJ
·~ 200.00
11
·¡¡ 150.00
el!
100.00
50.00
0.00 +----.----~--------~
·200 o 200 400 600 800
Temperatura rcJ
Figura 6.15
266
Al poner la expresión en el modo en que se suele presentar la de Callendar:
R = -5,983 · 10..s · P + 0,3924 · T + 99,81

R = 99,811(1 + 0,003931 · T- 5,994 · 10-7 • P)
Comentario: tanto en este caso como en el anterior, se podría haber rea-

lizado un ajuste en el que el término independiente fuese exactamente
100, aunque resulta un poco más laborioso (según el programa que se
use para el cálculo). Para ello, se procedería a restar 100 a todos los va-
lores de resi~tencia y a ejecutar un análisis por regresión con término
independiente nulo.
6.3.3. CIRCUITOS DE ACONDICIONAMIENTO PARA RTD
Una de la~ formas de medir temperatura con una RTD supone emplear uncir-
cuito a dos o cuatro hilos, preferiblemente a cuatro hilos, puesto que el valor
de la resistencia estará en tomo a la centena de ohmios y, por tanto, la resis-
tencia de los cables puede introducir errores de medida que podrían acercar-
se al1 %.
La medida a 4 hilos no s upone cambios sensibles respecto de la comentada
en el apartado 6.1.2. lo único destacable es que cuando se pretende reali-
zar una medida de este tipo dentro de un sistema hay que diseñar la co-
rrespondiente fuente de corriente. Una opción es la que se muestra en la
Figura 6.16 en donde se emplea una fuente de corriente integrada de tipo
REF200.
+Vce
+T
/
~V
R2
400pA +Vcc
R1
~
8 7 6 5 Vo
,-
~
R1
IN OUT
:++J Espejo
COM
-
R2
~
REF200
1 2 3 4
-..
Figura 6.16. Medida de temperatura con una RTD conectada a 4 hilos em pleando una f uente de
corriente de 400 ~A obtenida con un circuito RF200 de Te)as lnstruments.
El principal problema del circuito de la Figura 6.16 estriba en su complejidad

y en que proporciona una t ensión con un desplazamiento que suele tener que
eliminarse. Efectivamente, si pretendemos medir entre dos temperaturas T, y
267
T, obtendremos, respectivamente, dos valores de resistencia R, y R, con lo que

la tensión de salida variará entre esos 1· R1 e 1·R2; si quisiésemos obtener una
tensión de salida entre Oy un determinado valor, no sólo habrfa que amplifi-
car sino restar el correspondiente desplazamiento que, al ser pequeño, suele
precisar una etapa adicional de resta.
La forma más práctica para la medida de temperatura con una RTD cuando se
está empleando en algún tipo de sistema instrumental es el uso de un puente
de Wheatstone de medida, como en la Figura 6.17.
1 t B A
Vo
Figura 6.17. Puente de Wheatstone para medida de temperatura con una RTD.
En tal caso, el diseño es muy sencillo: se elige una resistencia de compensa-

ción R que proporcione el equilibrio del puente (O V) para la temperatura que
queramos. Las resistencias R1 y la tensión de alimentación E y la ganancia del
amplificador diferencial se diseñan para obtener la tensión apropiada en la sa-
lida.
EJEMPLO 6.6
Se pretende diseñar un termómetro con un campo de medida que vaya
desde Ohasta 100 "C mediante una PtlOO, usando un puente de Wheats-
tone alimentado con una corriente de 10 mA. Determine la ganancia del
operacional necesario para conseguir una salida de 0-10 V, respectiva-
mente para el campo de medida de [0, 100] "C sabiendo que el coeficien-
te térmico del platino es 0,00385 "~'.
Solución.:
Lo primero que hay que hacer es determinar la resistencia de compen-
sación para lo cual sólo hace falta definir el punto en el que se desea
equilibrar el puente. Para conseguir una salida de OV para Ooc, R (Fi-
gura 6.17) debe ser igual al valor de la PtlOO para esa temperatura que
es 100 O. A~f, R = 100 O.
Las resistencias de la parte superior del puente permiten fijar la linea-
lidad y la sensibilidad (mayor valor, más linealidad y menos sensibili-
dad). Como una primera aproximación, podemos usar Rl - SK con lo
que la tensión de salida del puente será (linealizada):
268
R1
VAB "' 1 · . Rl + R · (100 · (1 + 0,00385 · T) - R)
2
Para este caso:

5000
VAB "' 0,01 . 2 . 5000 + 100 . 0,385 . T
Para T = 100 "C, el valor de la tensión ~ 8 será de 190,6 m V. Para conse-

guir una tensión de 10 V para este valo~ la ganancia necesaria para el
amplificador será de 10 1 0,1906 = 52,47, un valo.r no muy elevado que
se podrla conseguir en una sola etapa de amplificación.
Tanto el sistema de medida a cuatro hilos como el puente tienen una limi-
tación en la medida de temperatura con RTD y es que en todos los casos
deberá circular corriente por la resistencia y eso producirá una liberación
de calor por efecto Joule. Esa disipación de calor podrá causar el incremen-
to de la temperatura interna de la RTD (la que lee) respecto de la tempera-
tura ambiente (la que debería leer) lo que se traduce en la aparición de un
error en la medida (Figura 6.18), que se denomina error de auto-calenta-
miento.
• r.
1
RTD
Figura 6. 18 . Producción del error de auto-calentamiento en una RTD: l a potencia disipada por
efecto Joule produce un incremento de la t emperatura int erna de la RTD respecto del ambiente en
el que está inmersa y cuya tem peratura debe medir.
Aunque este error es inevitable, en la mayoría de los ca~os puede considerar-

se despreciable puesto que la disipación de una RTD es baja. Por ejemplo, en
el ca~o del circuito de la Figura 6.16, una PtlOO estaría soportando una corrien-
te de 400 11A; si está midiendo en el entorno de O"C, la potencia disipada por
efecto Joule sería 100·(40·1(J<i)2 = 0,16¡.t.W... Un valor tan pequeño de potencia
no suele causar problemas en la mayoría de la~ medidas, pero siempre habrá
que comprobar que el auto-calentamiento no es un problema. En cualquier
caso, la mejor forma de garantizar que no afecta es estimar ese error teniendo
en cuenta la~ característica~ térmicas de la RTD, que se resumen en su resis--
tencia térmica (thermal resista.nce), Rv que se mide en °C/W. En la Figura 6.19
se muestra el equivalente térmico de la RTD.
269
Ambiente T
• o
1
RTD Ambiente
Ro
T¡ T8
RTD t
R .f 11
Di sipació~
de calor ~
Figura 6.19. Disipación de calor en la RTD y model o equivalente (ley de Ohm tér mica).
La fuente de calor es la potencia di~ipada y la diferencia entre la temperatura

interna (la que mide) y la ambiente (la que debe medir) constituye el error de
auto-calentamiento:
P Rr .¡2
b.T = T -T = - = ---=--
' a Re Re
En el caso de la medida en puente, dado que Rl es mucho mayor que R, la co-

rriente se puede estimar como E/ Rl. De esta forma, la expresión anterior se
convierte en:
Así, para un error de auto-calentamiento máximo permitido de t..T.,"" la máxi-

ma tensión E,•.., a la que se podrá alimentar el circuito vendrá dada por:
A pesar de que esta expresión es válida, el valor de la resistencia térmica re-

presenta lo fácil o difícil que le resulta a la RTD la evacuación del calor genera-
do, y eso es algo que varía mucho en función de la aplicación: no es lo mismo
si la RTD está sumergida en un líquido, en una corriente de aire o firmemente
adherida a una superficie metálica que hace las veces de disipador. Por tanto,
el diseñador no siempre di~pone de datos fiables para este cálculo; en tal ca~o,
lo mejor es optar por una alimentación conservadora que evite que circule de-
ma~iada corriente. En condiciones normales, valores de 5 a 10 V para resisten-
cias del puente en el entorno de lOK suelen ser suficientes para la mayoría de
las aplicaciones.
No obstante, el diseñador no debe olvidar con qué RTD está trabajando ya
que si se usan de las clases de precisión más bajas, probablemente el error de-
bido a esta causa sea mucho menor que el de la propia toleranda del di::.posi-
tivo.
270
6.3.4. OTRAS APLICACIONES DE LAS RTD
Es precisamente el valor de la resistencia térmica de las RTD el que puede hacer

de sensor en algunas aplicaciones. Esta es una de las técnicas típicas del desarro-
llo de sensores: cuando algo varía en función de un parámetro puede usarse
para determinar ese parámetro. Muchas veces nos encontramos que algo nos
e.qtá molestando cuando desarrollamos un determinado sistema porque hace que
funcione de forma distinta en función de la humedad, de la luz o de que se vea
afectado por vibraciones, movimientos o lo que sea. Pues bien, mejor que mal-
decir en la desgracia debemos pensar que acabamos de descubrir un sen~or. No
conseguiremos que nuestro circuito funcione, pero ¡tenemos un nuevo sen~or!
Algo asf es lo que ocurre en el caso de medidas indirectaq con RTD: determi-
nadas variables afectan a la resistencia térmica y eso provoca un cambio en el
error de auto-calentamiento. Si hacemos de este error algo significativo, po-
dremos usarlo para medir.
La primera de este tipo de aplicaciones es el anemómetro de hilo caliente
(hot-wire aemometer) cuyo principio de funcionamiento es muy sencillo: la ve-
locidad del fluido (aire) modifica la capacidad de evacuar la energía disipada
por efecto Joule en la RTD de tal modo que se calentará más con el fluido en
reposo que con el fluido en movimiento. Formalmente, podemos decir que la
resistencia térmica baja con la velocidad del aire, v: Si una variabl e perturba, tene-
mos un sensor...
Re= f(v) En un Worme de la Oficina Pos-
tal Británica de 1935 se recogían
Si hacemos circular una corriente importante por la RTD, la diferencia entre la diversas causas de perturbacio-
nes sobre las comunicaciones de
temperatura interna y la ambiente será:
radio, entre las que además de
Rr .¡2 Rr .¡2 diversos fenómenos incontrola-
7: - T = --'-::- bles, se citaba específicamente
' a Re f(v)
el paso de un aeroplano por las
proximidades.
Conocida la temperatura ambiente T., la resistencia de la RTD sólo depende de La idea estaba servida: si un
la velocidad del fluido: avión perturba, eso significa que
este tipo de sistemas era capaz
1 +a· (Ta-To)
Rr =Ro de detectarlo. Desde ahi hasta el
a· ¡2 radar hay mucho camino y, ade-
1- R0 f(v)
más, científicos de varios países
andaban tras la misma idea,
Con todo, la estimación de j(v) no es sencilla y; con frecuencia la curva de ca- pero lo cierto es que esta cons-
tatación avudó en el desarrollo
libración de este tipo de sensores se obtiene de forma empírica ya que afectan '
de la idea.
otros parámetros como la composición del fluido. La ventaja de estos sensores
sobre los clásicos anemómetros de cazoletas (cup anemometers) es que no tie- Una actitud positiva se mani-
nen partes mecánicaq y; dado que el hilo que se expone a la corriente de fluido fiesta cuando se están llevando
a cabo ensayos de un equipo,
suele ser muy pequeño, su respuesta resulta muy rápida. El aspecto de uno de
algo está perturbando su fun-
estos anemómetros de hilo caliente puede verse en la Figura 6.20.
cionamiento y pensamos que
Otra aplicación en la medida de flujo másico en tuberías consiste en diqponer qu.izá hayamos con.stru.ido un
dos sensores, uno antes (agua~ arriba) de un calentador y otro después (agua~ nuevo sensor. El problema viene
abajo): el primero leerá la temperatura a la que llega el fluido mientras que el cuando el equipo es sensible a
Có,l.!;i todo¡ en tal ca.oo una actitud
segundo se calentará más o menos en función de la cantidad de fluido que cir-
realista es pensar en W\ nuevo
cule, como se muestra en la Figura 6.21.
disei\o.
27 1
Hilo de platino
Figura 6.20. Aspecto de un sencillo anemómetro de hi lo caliente.
Existen más opciones en las que se consigue que alguna variable afecte a algo
que termina por modificar la resistencia de la temperatura de la RTD. No obs-
tante, antes de que se proceda a u n desbordamiento de la imaginación hay
que valorar si el encadenamiento de acciones no termina siendo demasiado
complejo como para que la incertidumbre de cada paso termine por generar
un sistema inaceptable desde el punto de vista instrumental.
Calentador
Figura 6.21. Sensor de f lujo másico basado en RTD. El flujo se divide en tantas partes como tubos
y, una peq ue ~a parte de él pasa por el de medida. En ese tubo, la díferencía de temperaturas que
miden las RTD depende del f lujo de gas que t ransp orta el calor desde el punto de calentamiento
hasta la segunda RTD.
Como ejemplo, considere la Figura 6.22, que muestra la cadena causal del ane-
mómetro de hilo caliente.
Resistencia Temperaiura Resistencia

Velocidad del aire térmica del hilo del hilo
V ?? R. r, Rr
Velocidad del aire

Resistencia Temperatura Resistencia
del hilo
V
Composición del aire

??
• •
térmica
R. r,
deli hilo
Rr
Temperatura del aire

T, Corriente
Figura 6.22. Diagrama causal de un anemómelro de hilo caliente: en la parte superior, el diagrama
b ásico por el que se llega a obtener la resistencia del hilo. En la par te inf erior, un diagrama algo
más real que incluye algunos f actores a tener en cuenta.
272
6.4. GALGAS EXTENSOMtTRICAS
La~ galgas extensométricas (strain gauges), también denominadas galgas ex-

tensiométricas o, simplemente galgas, son sensores resistivos de material con-
ductor cuya resistencia depende de la tensión mecánica aplicada. Aunque hay
estudios anteriores, el concepto de la galga actual data de 1938 y se debe a los
estadounidenses Edward E. Simmons y Arthur Claude Ruge. No obstante, el
reconocimiento real de la invención no está exento de polémica y supuso un
largo litigio judicial con la empresa Caltech, aunque el faHo definitivo conce-
dió la patente a Simmons en 1949.
6.4.1. PRINCIPIO DE FUNCIONAMIENTO
El principio de funcionamiento de la galga no es demasiado complejo y se

debe al efecto simultáneo de varios fenómenos. Cuando un hilo conductor se
somete a un esfuerzo se producen cambios en sus dimensiones (Figura 6.23)
y propiedades. Uso de galgas
Sujetar una galga extensomé-
El primer efecto es un alargamiento del hilo, pero, a la vez que el hilo se
trica a una pieza o estructura
alarga, se produce una disminución de la sección que viene determinada en la que se quiera conocer el
por el efecto Poisson y que se caracteriza mediante el coeficiente n del mis- estado de elongación no es un
mo nombre: problema sencillo, aunque re-
sulta clave para garantizar que
!J.DfD los estados de deformación de la
V = - !J.lfl
superficie se propagan íntegra-
mente a la galga que los tiene
A
que medir.
En general, el proceso de suje-
~ D l ción pasa por una serie de pasos
1
que empiezan con el acondi-
cionamiento de la superficie
(limpieza, alisado ...). Una vez
A-.dA
preparada la superficie se em-
D- LJD
F F pleará algún tipo de pegamen-
to (en función del material de
l L + Lll soporte de la galga) y se pegará
el sensor; el pa~o de curado del
Figura 6.23. Cambios dimensionales en un hilo conductor somet ido a un esfuerzo m ecánico: el pegamento puede ocurrir a tem-
hilo se alarga y su sección disminuye. peratura ambiente (más largo en
el tiempo) o mediante calenta-
donde O es el diámetro del hilo y !10 es el cambio de diámetro debido a la de- miento (má~ rápido). Después
formación. Finalmente, la aparición de esfuerzos y los cambios dimensionales se procederá al pasivado de la
en la estructura cristalina del metal provocan un incremento de la resistividad. superficie con algún tipo de ma-
terial de protección que evite
El conjunto de todos estos efectos produce un cambio en el valor de la resis-
daños sobre la galga producidos
tencia efectiva del hilo metálico. Si su valor es:
por la~ condiciones ambientales
o por impactos, rozaduras, etc.
En cualquier caso, es importante
tene.r en cuenta que una vez que
la galga está adherida firme-
Tomando logaritmos y diferenciando se Uega a:
mente, no se puede retirar.
273
!J.R tJ.p tJ.l tJ.D

- = - + - - 2-
R p l D
El primer término de la suma es el cambio en la resistividad debido a la elon-

gación y ese efecto se conoce como pieza-resistividad y, en general suele dar
nombre al conjunto de los componentes que la poseen (todos los materiales
conductores y semiconductores). Sin embargo, dado que en los conductores el
peso es escaso mientras que en los semiconductores es muy grande, estos ülti-
mos suelen denominarse piezo-resitencias.
Dividiendo toda la expresión por tJ.l / l, se obtiene el factor de galga, K:
tJ.RfR tJ.pjp
K = tJ.lfl = tJ.lfl + 1- 2v
El factor de galga tiene un valor entre 2 y 5 para la mayoría de los metales y

con~tituye una medida de la sensibilidad de la galga. Podemos decir que:
!J.R tJ.l
R =K· ¡
es decir, que el cambio por unidad de resistencia es proporcional al cambio

por unidad de longitud; este último se suele proporcionar en ppm, aunque
exi~te un nombre especifico para 1 ppm de elongación unitaria: microdefor-
mación y, aunque se trata de un valor adimensional se suele incluir el nom-
bre JIE. Asf se suele hablar de 2000 rnicrodeformaciones o, lo que es Jo mismo,
2000 Jlf..
Las galgas actuales no suelen estar construidas con hilo sino con una deposi-
ción de metal sobre una lámina fina y flexible de algún material plástico muy
resistente. El aspecto básico de una galga simple y su símbolo de circuito son
los que se muestran en la Figura 6.24.
Contactos para conexionado
Soporte plástico
Conductor
Figura 6.24. Aspecto de una galga extensométrica actual, con material conductor deposi tado so·
bre un soporte plástico, por ejemplo, una poliam ida.
Las galgas se usan para la medida de elongaciones e, indirectamente, los es-

fuerzos que causan esas elongaciones. Para ello, la galga se adhiere firmemen-
te a la pieza o lugar en el que se desee medir la elongación; a partir de alú,
obtener el esfuerzo que causa tal elongación es un problema de elasticidad
y resistencia de materiales, ajeno a la Instrumentación Electrónica y que cae
dentro del ámbito de las tecnologías mecánicas.
274
EJEMPLO 6.7 (KFH.pdf)

Una galga de tipo KFH-1Q-.12()..Cl-11LlM2R (archivo KFH.pdf) seu.<;;a para
medir el estado de deformación de una dete.r minada pieza. Determine el
valor de1a resistencia cuando se encuentra sometida a 2000 microdeforma-
ciones. ¿Cuál sería la máxima variación de resistencia que puede producir?
Solución:
La galga citada posee una resistencia nominal de 120 O según puede
comprobarse en el archivo correspondiente. Su factor de galga está eva-
luado como 2 por lo que ese será el valor que usaremos:
11R
- = 2 . 2000 . 10- 6
120
El incremento de resistencia que sufre resulta ser de 0,48 O.

Si buscamos la máxima elongación permitida, esta resulta ser de 20000
J.IE (en el sentido de tracción aunque es un poco superior en el sentido
de compresión). Para este valor, aplicando la misma expresión anterior,
obtenemos un incremento de resi.,tencia de 4,8 O.
Uno de los problemas más serios de las galgas extensométricas es que son sen-
sibles a la temperatura de la misma forma que cualquier conductor metálico.
En este sentido, una galga se comporta como una RTD con el coeficiente tér- Tipos de galgas
mico a que corresponda al material de que está constituida. Esto significa que, Existen muchos tipos de galgas
en realidad, los cambios de resistencia que se observan en una galga se pue- según su tamaño y forma, pre-
den deber a los cambios longitudinales o a las variaciones de temperatura. Los paradas para realizar todas las
fabricantes de galgas suelen proporcionar los valores de estos coeficientes que medidas habituales en sistemas
tendrían que tenerse en cuenta durante la medida. mecánicos.
Aunque seria muy largo citar
todas las opciones posibles, en
6.4.2. APLICACIÓN A LA MEDIDA DE ELONGACIONES la figLLra siguiente se muestran
algunas realizaciones de galgas
Cuando se pretende medir algún tipo de elongaciones con una galga extenso- extensométricas para dLsti.ntas
métrica, esta se adhiere fll'IIIemente a la superficie en la que se va medir en la situaciones.
posición adecuada ya que cada uno de estos elementos tiene una dirección es-
pecffica de medida que coincide con la dirección en la que está depositado el
conductor, debiendo presentar sensibilidad nula en la dirección perpendicu-
Dirección de medida
Dirección de
sensibilidad nula
....__ Guias para

orientación
~ igura b.:lo. una galga simple es sólo sensible a elongaciones en una dirección; en la direcci ón
transversal la sensibilidad es prácticamente nula puesto que el trozo de conductor que sería sen·
sible es muy grueso y, por tanto, aporta poca resistencia al conjunto.
275
lar; en las galgas actuales, esto es prácticamente cier to ya que las uniones
entre cada trozo de conductor se realizan mediante zonas más gruesas que,
aunque tendrían sensibilidad transversal a las elongaciones, por ser mucho
más gruesa~ aportan una cantidad despreciable al total de la resistencia (Fi-
gura 6.25).
Cuando se quiere conocer un estado de elongación en cualquier dirección
se suele incluir una segunda galga de forma transversal (Figura 6.26) en las
proximidades con lo que se obtiene el valor final por composición de elon-
gaciones. Sin embargo, esto no es válido nada más que en estados tensiona-
les planos; en la~ demás oca~iones, con estados tensionales más complejos, se
necesitan más galgas para poder obtener una composición de lugar de lo que
está ocurriendo. En cualquier caso, la decisión de dónde y cuánta~ galgas dis-
poner para un caso concreto es algo que supera ampliamente los límites de un
texto de Electrónica como este.
Galga 2 (f\Me I:Y)
Figura 6.26. Obtención de la elongación total en un est ado tensional plano mediante dos galgas de
medida situadas de forma ortogonal.
En todas estas aplicaciones hay que tener en cuenta que las galga~ tienen un
lúnite máximo de elongación que nunca debe ser sobrepa~ado puesto que se
causarían daños permanentes en la galga. Es la elongación máxima, dato que
el fabricante suele proporcionar y que no suele superar los 30000 ¡te.
Una vez que se ha decidido medir en un determinado punto y que se ha co-
locado en él la galga, el problema pasa a ser el circuito de acondicionamiento
E
B A
Vo
Figura 6.27. Puente de Wheatstone para la medida con una galga extensométrlca const itui do por
la propia galga y tres resi stencias de igual valor que ella.
276
para el sensor. La idea básica es la medida en puente de Wheatstone, pero con

algunas consideraciones específicas para este caso. El problema fundamenta-
les que las variaciones de resistencia suelen ser muy pequeñas con lo que un
diseño de un puente con resistencias R1 de alto valor para mantener la .lineali-
dad conduciría a una sensibilidad mínima.
La opción que se suele manejar para los puentes con galgas es la de emplear
resistencias del mismo valor en todo el puente, tal como se presenta en la Fi-
gura 6.27.
En este caso, se tiene que la tensión de salida del puente es:
R +llR 1) !J.R
VAB = ( 2 · R + t:.R - Z E = 4 · R + 2 · !J.R E
Esa expresión es no lineal puesto que el parámetro a medir, !J.R, aparece tam-
bién en el denominador, pero si lo consideramos despreciable &ente a R, tene-
mos la expresión aproximada:
1 t B A
Figura 6.28. Medida de la elongación mediante una galga con un puente de Wheatstone ali menta·
do en corriente.
Si se alimenta en corriente, como en la Figura 6.28, se llega a una expresión pa-

recida.
En este caso, tenemos que la tensión de salida será algo más lineal que en el
caso anterior:
2R 2R + t:.R ) t:.R t:.R
VAB = ( 4R + t:.R (R + llR)- 4R + t:.R R 1 = 4R + !J.R R . 1 ""4 1
El principal problema de este puente de medida, sea alimentado en tensión

o en corriente, estriba en que puede producir errores importantes debidos a
cambios térmicos que afectarán tanto a la resistencia de medida como al resto
de las que configuran el puente; además, el hecho de que una y otras no sean
iguales hará que sus coeficientes térmicos o, incluso sus modelos de compor-
tamiento térmico resulten diferentes.
Una opción para evitar el problema es constituir todo el puente con gal-
gas. En este caso, se habla de galgas pasivas, las que no están sometidas a
elongación, y galgas activas, las que si están sometidas a elongación (Figu-
ra 6.29).
277
• INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓN ICA
1 A
Figura 6.29. C<lnstl tuclón de un puente de medida con galgas, de las cuales una efectúa la medida
mientras que las otras son pasivas.
Ahora todas las resistencias del puente tienen idéntico comportamiento tér-
mico de modo que, ante un cambio de temperatura todas ellas experimenta-
rán un cambio similar de resistencia. Si llamamos a ese cambio t.R,., el valor de
la tensión teniéndolo en cuenta será, para el puente alimentado en corriente:
~R ~
VAB = 4R + 4~r + ~R (R + ~Rr) · 1 ""-¡-1
Estados simétricos Si se asume la situación lineal (despreciar ~R respecto de Rj se llega a la mis-

Son muchas las ocasiones en ma expresión de antes, luego el uso de galga~ para todo el puente "elimina"
que se dan estados tensiona- los problemas derivados de la temperatura. A una conclusión semejante se lle-
les simétricos en los si~temas garía en el caso del puente alimentado en tensión.
mecátúcos. Uno de los casos
Un puente con cuatro galgas es mucho más costoso que un puente con una
más frecuentes es en las vigas
sola y; aunque la ventaja de eliminar la deriva térmica sea un factor positivo,
de perfiles simétricos: ante una
determinada carga, la viga pro- sería conveniente tratar de aprovechar la situación. Dado que las galgas sue-
duce una flexión que introdu- len ser pequeñas, sería posible plantearse la posibilidad de situar dos de ellas
ce en cada punto un estado de muy próximas para conseguir que estén sometidas al mismo (o muy pareci-
comp.resión en la parte superior do) estado de deformación. Eso permitiría usar dos galgas como sensores que
y uno de tracción (del oúsmo se situarían en lados opuestos del puente, como se muestra en la Figura 6.30a,
valor) en la parte inferior. para el caso de alimentarlo en corriente, y en la 6.30b, para el caso alimenta-
Si se sitúan dos galgas arriba y do en tensión.
dos abajo, tal como se muestra
en la figura, se puede tener un
puente completo con las cuatro
galgas activas con lo que la me-
dida será lineal, tanto alimenta-
do en tensión como en corriente.
1 A
E
- A
(a) (1>)
Figura 6 .30 . Puentes con dos galgas act ivas: (a) alimentado en corriente; (b) alimentado en
tensión.
En el ca~o del puente alimentado en corriente, la corriente de excitación se di-

v idiría en dos partes iguales ya que ahora las ramas presentan la misma resis-
tencia total (2·R + ~):
278
El comportamiento ahora es totalmente lineal sin realizar ninguna aproxima-

ción y con el doble de sensibilidad que el puente con una única galga activa.
En el caso del puente alimentado en tensión, la tensión de salida serfa:
R+t.R R ) t.R 11R

V = ( - E= E<:> E
AB 2 · R + 11R 2 · R + I1R 2 · R + 11R 2·R
Y el resultado también duplica la sensibilidad del puente con una galga activa
aunque sigue sin ser totalmente lineal.
Pero aún tenemos un puente en el que dos galgas están inactivas. ¿Habría
opciones de ponerlas a trabajar? La respuesta no siempre es afirmativa y
el hecho de que Jo sea depende de la configuración mecánica de la pieza
o sistema sobre el que las galgas irían dispuestas. En determinados casos
las piezas presentan algún tipo de simetría que permite garantizar que hay
puntos con estados de deformación opuestos, es decir, zonas donde se pro-
ducen tracciones y zonas donde se producen compresiones, ambas iguales
pero de signos contrarios. En tales casos (en vigas por ejemplo) es posible
colocar dos galgas trabajando a compresión para que reduzcan su valor re-
sistivo (- 11R) en el mismo valor que las que trabajan a tracción lo incremen-
tan (+11R).
Situando la~ dos galgas del puente que trabajan a tracción enfrentadas y en-
frentando entre sí también las que trabajan a compresión se llega a una to-
pologfa de la Figura 6.31, tanto para alimentación en corriente (a) como en
tensión (b).
Galgas trabajando a compresión
\
1 i A
E
A
Galgas trabajando
a tracción
(a) (b)
Figura 6.31. Puentes con cuatro galgas activas para el caso de estados t ensionales si métricos, dos
trabajando a tracció n y dos a compresión.
La tensión de salida del puente alimentado en corriente será ahora:
Nuevamente lineal y con el cuádruple de sensibilidad que el puente con una

única galga activa.
279
Para el caso del puente alimentado en tensión, tenemos que la tensión de sa-
lida será:
_ (R + ilR R - l1R) _ 2 · l1R _ l1R
VAB - 2 .R - 2 .R E - 2 . R E - R E
Ahora también este proporciona una expresión üneal y también con cuatro ve-
ces má~ sensibilidad que el caso con una galga activa.
EJEMPLO 6.8
Se dispone de galgas de 350 O y factor de galga 2 para hacer una medi-
da de deformación en una viga empotrada cuya sección es simétrica. Si
se estima que la máxima deformación en la zona donde se colocan las
galgas es de 4000 ¡.t.E, compare lo~ resultado~ de realizar un puente ali-
mentado en corriente (a 20 mA) con dos galgas activas y otro alimenta-
do en tensión (a 7 V) con cuatro galgas activas. ¿Qué amplificación será
necesaria para conseguir una tensión de salida entre O y 5 V?
Solucién:
El efecto sobre la resistencia de las galgas de la elongación será, tenien-
do en cuenta el factor de galga:
llR
- = 2 . 4000 . 10-6
350
es decir, llR = 2,8 O.

En el caso de di~poner un puente con dos galgas activas, alimentado en
corriente (Figura 6.30a) la ten~ión de salida del puente es:
2,8 .
VAB =z ·
0,020 = 28 mV
Como hemos visto, este valor es üneal con la deformación por lo que no
hay error de ünealidaa. La amplificación necesaria para conseguir 5 V de
salida sería de 510.028 = 178,6. Usar las cuatro galgas como activas supon-
d.rfa doblar la tensión de salida y reducir a la mitad la ganancia necesaria.
En el caso de situar cuatro galgas en este puente alimentado en tensión
(dos en la parte superior a compresión y dos en la parte inferior a trac-
ción), la tensión de salida sería:
2,8
VAB = - · 7 = 56 m V
350
El doble que en el caso anterior y, como antes, también üneal. la ganan-

cia necesaria para lograr los 5 V de salida sería 5/0,056 = 89,29.
Comparando los dos resultados, se puede concluir que en el caso de que
se puedan usar las cuatro galga~ como activas, el siBtema puede alimen-
tarse en tensión lo que simplifica notablemente el sistema de excitación.
280
La salida de los puentes de galgas suele proporcionar niveles de tensión rela-

tivamente bajos que deben ser amplificados. Para ello se usan amplificadores
diferenciales como en el caso de las RTD (Figura 6.32).
1 t A
Ra
Figura 6.32. Amplificación de la salida de un puente de galgas mediante un amplificador diferen·

cial monolítico.
Sin embargo, en este caso hay algunas consideraciones que se deben tener en
cuenta:
a) Los puentes trabajan con un import ante nivel de tensión de modo co-
mún que, en el caso de los alimentados en tensión, es E/2, y, en el caso
de los alimentados en corriente, es l ·R. Esto obliga a ser cuidadosos con
el cálculo del efecto del modo común y habrá que procurar que el valor
del CMRR del amplificador sea elevado. En cualquier caso, el efecto
final es un desplazamiento del nivel de tensión en la salida del amplifi-
cador.
b) El hecho de tener tensiones bajas en la salida del puente obliga a trabajar
con ganancias relativamente altas, lo que puede suponer más error de ga-
nancia.
e) Las tensiones bajas a la salida del puente pueden llegar a ser comparables
con la tensión de offset del amplificador por lo que el error por este con-
cepto puede llegar a ser grande.
d) La tolerancia del valor de la resistencia de cada galga afect a a la expre-
sión de la tensión de salida añadiendo un desplazamiento adicional a la
tensión.
e) No siempre es fácil estimar los estados tensionales ni las correspondientes
elongaciones por lo que suele ser necesario ajustar la ganancia del amplifi-
cador para conseguir una lectura adecuada en su salida.
Todas estas consideraciones se traducen en que la tensión de salida incluirá
un offset no deseable y, tal vez tenga una ganancia inapropiada. Para corregir
estos efectos suele ser necesario un ajuste de offset mediante un potencióme-
tro P y un ajuste de ganancia mediante una resistencia de ganancia variable
RG. Esto significa que el sistema tiene que ser calibrado a dos puntos, para
Jo que se ajustará el cero en la situación inicial tras el pegado de la galga ac-
tuando sobre P hasta conseguir una salida nula y se simulará una elongación
281
mediante una resistencia en paralelo con una de las galgas que trabajarían a
compresión (Figura 6.33). Simular una elongación permite evitar tener que
producirla, puesto que eso no siempre es factible en determinadas estructu-
ras mecánicas.
1 t p
Figura 6.33. Sistema para la calibración a dos puntos de un puen te de galgas: primero se ajusta el
offset con el potenciómetro P has1a anular la sal ida; después se cierra S p ara simular una carga y
se actúa sobre R6 has1a lograr que la salida proporcione el valor correcto.
Cerrar el interruptor S para colocar la resi~tencia en paralelo RP produce la caí-

da del valor de la resi~tencia total de la rama (equivalente a una compresión)
lo que causa una tensión de salida equivalente a la que producirla un cambio
de resistencia de valor:
La elongación unitaria que simula la resistencia RPen paralelo resulta ser:
f).l R
-l =K· (R + Rp)
Así, tras anular el offset se ajustaría la ganancia cerrando el interruptor S y ac-

tuando sobre la resistencia de ganancia Re hasta lograr el valor adecuado en
la salida.
En muchas ocasiones, la medida de esfuerzos y elongaciones en una determi-
nada estructura precisa conocer el estado de varios puntos de forma simultá-
nea. Es frecuente utilizar v arios puentes de galga~ y recibir toda~ las señales
en algún sistema de adquisición de datos.
Alimentar todos los puentes desde una única fuente de tensión puede pro-
ducir problemas serios de interferencias por impedancia compartida (véase
el Tema 9), máxime cuando la estructura mecánica en la que se está tra-
bajando resulta ser algún tipo de construcción que implique decenas de
metros de distancia entre un punto y otro. En tal caso, es conveniente pro-
ceder al aislamiento galv ánico de los puentes entre sí mediante el uso de
amplificadores aislados capaces de proporcionar tensión de alimentación
a los sistemas del primario. En la Figura 6.34 se presenta una solución de
este tipo.
282
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1 1
Fl (DA)
1
Figura 6.34. Sistema de medida de elongaciones multi punto. Cada puente de medida está aislado
galvánicamen te de los demás y del sist ema de adquisición de datos que recoge la Información de
todos ellos. Los ampl ificadores aislados de tres p uertos proporcionan la alimentación p ara t odos
los p rimarios (puente y pri mer amplificador) aunque si se precisase más estabilidad en el valor de
est a alimentación habría que anadir una referencia estable.
6.4.3. CELDAS DE CARGA
Una de las principales aplicaciones de las galgas es la medida de peso, para

lo cual se utiliza una p ieza mecánica que transforma ese peso en una elonga-
ción que la~ galgas son capaces de detectar. El dispositivo en su conjunto se
denomina célula de carga o celda de carga (load cell) y puede tener un gran
(a) (b) (e)
Figura 6.35. Algunas real izaciones habituales de celdas de carga para pesos grandes (hasta varias
toneladas): (a) celda de botel la; (b) celda t ip o "S". Para cargas pequeñas se pueden encontrar
celdas miniatura (e) que son capaces de trabajar en el entorno de los 10 N.
283
número de realizaciones físicas, entre las que se muestran algunas en la Fi-

gura 6.35.
Las celdas de carga llevan un puente de galga~ exten~ométricas con dos o cua-
tro galgas activas (en función de la estructura) con los terminales accesibles
desde el exterior para alimentación y lectura de la salida.
Aunque la selección de celdas de carga pueda parecer muy sencilla, el he-
cho de que pueda estar sometida a esfuerzos importantes y a que puedan
aparecer sobrepesos en determinados momentos de su vida útil, hace que
la definición de los parámetros sea un aspecto critico. Para una correcta se-
lección, más allá de la forma constructiva que dependerá de su aplicación,
es necesario tener en cuenta aspectos mecánicos y eléctricos. Entre los pri-
meros debemos tener en cuenta que las celdas tienen un valor de carga no-
minal, que establece el alcance. de la medida de peso para mantener las
especificaciones de error y calibración del fabricante. Sobre este valor exis-
te un límite de sobrecarga segura (saje overload) que garantiza hasta dónde
puede trabajar sin que se produzcan daños permanentes en la celda. Tam-
bién existe un limite máximo de carga (ultimate overload) que indica el mo-
mento en el que la celda colapsa definitivamente. Estos valores deben ser
tenidos en cuenta a la hora de elegir el sensor puesto que un dimensiona-
miento incorrecto puede acarrear riesgos graves para la estructura en que la
celda esté incluida.
La importancia de estos límites depende de la aplicación. Si pensamos en una
báscula de baño, someterla a un sobrepeso por encima de sus especificaciones
puede ser menos importante y, como mucho, podremos llegar a la conclusión
de que tenemos que adquirir una nueva (y quizá, moderar la ingesta de dul-
ces y hacer algo más de ejercicio...). Sin embargo, una celda que forme parte
de una báscula para camiones deberá estar elegida para soportar todo el peso
previsible puesto que, de lo contrario, podría producir la destrucción de la
propia báscula y el hundimiento del vehículo.
El parámetro eléctrico más importante es la sen~ibilidad de la celda que se
suele facilitar como el valor de la salida en función de la alimentación para la
carga nominal (rated output) . Se suele proporcionar en m V /V de tal forma que
una salida de 2mV /V para una celda de 2000 kg de carga nominal significa
que cuando la celda se alimenta a 10 V, la salida es de 2 m V /V x 10 V= 20m V
para una medida de peso de 2000 kg. El resto de los parámetros que el fabri-
cante puede proporcionar hacen referencia a la~ limitaciones de la curva de ca-
libración tales como errores (no linealidad, histéresis, offset...) y limitaciones
eléctrica~.
El conexionado de las celdas de carga es muy sencillo puesto que sólo se trata
de alimentar un puente de Wheatstone formado por las galgas internas y am-
plificar convenientemente la salida. En la Figura 6.36 se muestra un diagrama
habitual de este tipo de conexión que incluye un quinto terminal de apantalla-
miento para evitar las interferencias capacitiva~.
Cuando las celdas se usan para realizar una báscula clásica, el diseño del
conjunto es muy sencillo y con~ta de un determinado número de apoyos que
garanticen la estabilidad mecánica del conjunto, en cada uno de los cuales se
dispone una celda. El peso del objeto se di~tribuirá entre todos los apoyos en
función del punto donde se coloque, pero la suma total de todos los esfuer-
284
,_f+=== +Vcc
+Vo
- Vo
~~~~GND
Figura 6.36. Salida típica de una celda de carga con el cable apantal lado correspondien te.
zos tiene que ser igual al peso. Asf, para obtener el peso sólo tenemos que su-
mar los valores proporcionados por cada celda tal como se m uestra en la Fi-
gura 6.37.
Figura 6.37. Uso de varias celdas en una b áscul a. El peso total se distribuye entre los apoyos, en
cada uno de los cuales hay si tuada una celda de carga. La suma de todas las señales proporciona
información del peso total.
Soportes para los ejes
Zona de
medida
Figura 6.38. Celda de torsión (p ar). Los ejes (o cualquier otra pieza) se embridan en cada soporte
p ara transmit ir el par de torsión.
285
Existen más realizaciones similares a las celdas de carga como las celdas de
par (torque cells) para la medida de esfuerzos de torsión en ejes, con realizacio-
nes similares a la que se muestra en la Figura 6.38.
6.4.4. OTRAS APLICACIONES DE LAS GALGAS

EXTENSOMÉTRICAS
La deformación elástica de un material (elongación) es la consecuencia de un

esfuerzo aplicado (fuerza) por lo que una galga extensométrica es susceptible
de poder medir cualquier variable que pueda convertirse en una fuerza me-
diante alg(!n sistema de accionamiento intermedio. Acabamos de ver que las
galgas de las celdas de carga y par pueden medir peso y par, pero hay más ca-
sos, como la medida de presión y de aceleración. Tanto una presión sobre una
Medidas de presión superficie determinada como una aceleración sobre una masa producen fuer-
Cuando se mide presión hay zas, luego en ambos casos estaríamos en la misma situación de antes: la de
varias opciones. La medida más medir una fuerza con lo que sería posible emplear galgas extensométricas.
sencilla es la de presión diferen- En el caso de la presiól\ la solución pasa por emplear sistemas como el de la
cial, en la que Jo que se hace es Figura 6.39, que consi.~te en un diafragma que separa dos z.onas con diferente
medir la diferencia de presión
presión y que se deforma en función de la diferencia de presiones.
entre dos puntos. Pero también.
es posible medir presión abso-
luta, es decir la presión respecto Zona de presión P 1
------..
del cero de presión; en este caso,
el sensor sólo tendrá una entra-
da y la salida será proporcional
a la presión absoluta que tenga Diafragma
en esa entrada. Finalmente, es
posible medir la denominada
presión manométrica que es la
presión diferencial respecto del
valor de 1 atm. Zona de presión P, p,
PRESION
t
OIFERENClAL
Figura 6.39. Principio de funcionam iento de un sensor de presión diferencial de diafragma. Las
PRESION galgas extensométricas se sitúan sobre el diafragm a para proporcionar información sobre su de·
MANOMe:TRIC~ formación, que depende de la diferencia de presiones.
10,_1,_,k.,_P_,a'--~-_,Preslón
atmosférica
PRESION Si situamos un puente de galgas extensométricas sobre el diafragma podrá
ABSOLUTA
medir la deformación producida y, por tanto, informará de la diferencia de
presión. Obviamente, la relación entre la diferencia de presión y la elongación
OkPa Vacro perfecto
que medirán las galgas puede ser un problema difícil de abordar de forma
La medida del vacío es otra de teórica, pero siempre será posible hacerlo desde un punto de vi.~ta empírico
las posibles medidas de presión mediante la obtención de la curva de calibración.
pero ahora denota una presión
Los sensores de presión de este tipo suelen emplear galgas de material semi-
por debajo de la atmosférica. La
escala de vacío parte de vacío conductor, que presentan una senSlbilidad mucho mayor que las de conductor
nulo a la presión atmosférica y ya que su factor de galga puede ser hasta dos órdenes de magnitud superior,
termina en el vacío perfecto (O pero su principal ventaja para esta aplicación es que se pueden hacer en tama-
atm de presión). Si la presión ños muy pequeños. Las galga~ extensométricas de semiconductor presentan
atmosférica absoluta es de 101 un predominio importante de la piez.oresistividad sobre los demás factores de
kPa, un vacfo de 40 kPa oignilica tal modo que el factor de galga se debe casi exclusivamente a este efecto. Por
una presión absoluta de 61 kPa ello, las galgas de semiconductor tienen un aspecto diferente al de las metáli-
(101 - 40 kPa).
286
TEMA 6. SENSORES RESIST IVOS • •
cas y son básicamente una resistencia difundida sobre un sustrato como la que
formaría parte de cualquier circuito integrado monolítico (Figura 6.4D).
SíÜ2
-"fl!lli!!!: ~====:~~F~=t Resístencia
Contactos
Figura 6.40. Vista en alzado y planta de una galga de sem iconductor integrada sobre el sustrato.
El principal problema de las galgas pieza-resistivas radica en su fuerte depen-

dencia de la temperatura, aspecto típico de todos los materiales semiconduc-
tores ya que la cantidad de portadores de carga crece con ella y, por tanto, la
conductividad se ve muy afectada por la temperatura.
Los sensores de presión pieza-resistivos son los más comunes para medi-
da~ generales de presión, tanto diferencial (gauge pressure) como absoluta o
manométrica, y de vacío. Estos dispositivos incluyen las galgas depositadas
sobre la propia membrana junto con el circuito de amplificación y, eventual-
mente, una compensación de temperatura que evite derivas en su funciona-
miento. Así, el usuario sólo tiene que proporcionar la tensión de alimentación
al conjunto y el dispositivo le proporciona una tensión proporcional a la varia-
ble que no precisa más amplificación.
Este tipo de sensores puede ser aplicado para otras medidas diferentes a las
de presión tales como medida de nivel en depósitos de líquido o medidas
de velocidad de gases en tuberías y de caudal. Para ello sólo hay que echar
mano de las leyes de la Física que establecen cómo se comporta la presión hi-
drostática en función de la altura de líquido o, en el caso de los sen.5ores de
caudal, cómo se produce el efecto Venturi. En la Figura 6.41 aparece un siste-
ma para medir el nivel de líquidos basado en la presión hidrostática.
Sensor de presión
diferencial
h
Figura 6.41 . Medida del nivel de líquido en un depósito mediante la presión diferenciaL
El depósito incluye un sensor de presión diferencial cuyas entradas están co-

nectada5 a los puntos más bajo y más alto del depósito. La presión en el pun-
to más bajo corresponde a:
P2-- h · d·g+P1
287
conocida la densidad del liquido, d, la altura del liquido en el interior del de-
pósito es lineal con la diferencia de presiones que es el valor que produce el
sensor:
Para medir caudal en una tubería por la que circula un fluido se puede rea-
lizar un estrechamiento y situar un sensor de presión diferencial para medir
la diierencia de presión que existe entre la zona ancha y la estrecha (Figu-
ra 6.42).
Por efecto Venturi, se producirá una pérdida de presión en la zona más estre-
cha. La presión diferencial generada es proporcional a la diferencia del cua-
drado de las dos velocidades (en la zona ancha y en la estrecha). Teniendo en
cuenta la ecuación de Bernouilli, el caudal volumétrico, Q se puede obtener a
partir de la diferencia de presiones como:
donde A 1 y Az son las áreas de cada sección y des de la densidad del fluido.
Q
..
1-========...J Sensor de presión

diferencial
Figura 6.42. Medida de caudal con un sensor de presión diferencial aprovechando el efecto Venturi.
6.5. TERMISTORES Y OTROS SENSORES

RESISTIVOS
Los termistores (thermistors) son dispositivos cuya resistencia se modifica con

la temperatura de una forma mucho más intensa de Jo que ocurre en los meta-
les conductores. En general, dicha variación se puede producir con coeficiente
positivo o negativo según se produzca un incremento o un decremento de la
resistencia con la temperatura.
6.5.1. NTC
Una NTC (Negative Temperature Coeffcient) es una resistencia de coeficiente de
temperatura negativo, es decir, un termistor que reduce el valor de su resis-
288
tencia cuando sube la temperatura. El primer estudio sobre el tema fue reali-
zado por Michael Faraday en 1833; en él se describe el comportamiento del
sulfuro de plata, el primer material termistor documentado.
Los materiales que se suelen usar para la construcción de estos termistores
suelen ser óxidos de metales (cobalto, hierro, manganeso, níquel y cobre)
mezclados en diversas proporciones según las características del dispositi-
vo y sintetizados. El resultado es un dispositivo con una elevada sensibili-
dad a la temperatura pero con una característica claramente no lineal, algo
que se representa en su símbolo de circuito mediante una línea quebrada (Fi-
gura 6.43).
La primera caracterización "de precisión" sobre el comportamiento de estos
dispositivos fue realizada por John S. Steinhart y Stanley R. Harten 1968, me-
diante una ecuación del tipo:
Comprando una NTC ...
1 No sé si el lector se habrá vL~
T =a+ b · ln(R) +e· (ln(R))3 to en la necesidad de comprar
u.na NTC y acudir, para ello,
a la tienda de electr ónica más
próxima. En realidad, esa, como
muchas otras experiencias que
-T pueden ocurrir en uno de esos
lugares tienden a hacer pen-
sar que lo que se explica en los
libros o lo que los profesores
Figura 6. 43. Sím bolo de una NTC. cuentan en clase no tiene nin-
gún parecido con la realidad.
donde Tes la temperatura en Kelvin, R es la resistencia en ohmios y los co- ImagLnemos la situación en la
eficientes a, b y e dependen de cada material y pueden ser obtenidos experi- que le decimos al dependien-
mentalmente con un mínimo de tres medidas. Una expresión así puede hacer te que queremos una NTC de
temblar a cualquiera ya que su aplicabilidad es casi nula ... Si se parte de va- 4K7, por ejemplo. El individuo
lores fiables para tales coeficientes, el error de la expresión anterior puede re- abrirá una de esos cajoncitos
de plástico de colores y extrae-
sultar muy bajo para campos de medida entre - 90 y +200 °C. Algunos osados
rá una especie de lenteja con
fabricantes (ninguno del ámbito del control de procesos) proporcionan los va-
dos patas y bandas de colores
lores de estos coeficientes con un buen número de cifras significativas con lo amarillo, violeta y rojo. La mi-
que se pueden obtener curva9 de calibración tan precisas como absurdas. In- ramos y le pregwltamos "¿Qué
cluso a la hora de utilizar la NTC como sensor es conveniente usar la ecuación B tiene?" porque hemos leído
inversa, es decir, la que proporciona el valor de resistencia para cada tempera- o nos han dicho que ese es un
tura, una expresión aún más compleja y difícil de manejar algebraicamente y parámetro importante de dLse-
que termina por justificar la sospecha de que la ecuación de Steinhart-Hart tie- ño. El hombre nos mira como si
ne tanto interés práctico como obtener más de un millón de cifras para el nú- acabá~emos de bajar de un pla-
mero'Tt: tillo volante y nos repite: "Es de

cuatro-ka-siete". Obviamos la
R=exp
.r.x
r-z-r+z
·lx pregunta por los parámetros de
SteLnhart-Hart...
Llegados a ese punto tenemos la
opción de comprarla y suponer
el valor de B, btL~car en Internet
Con X e Y dependiendo de la temperatura: por el fabricante (no suelen te-
ner nLngún indicativo por lo que
a 1
X= - - ---= y= (!:_)3 + xz 5er á difícil hacerlo) o dejarla allí
y tratar de buscar otra en la web
e e ·T 3e 4 de algún fabricante.
289
Una aproximación menos precisa consiste en despreciar el tercer sumando de

la expresión y considerar que la relación entre temperatura y resistencia tiene
un comportamiento básicamente logarítmico. En tal caso, se suele hablar del
parámetro B de la NTC y la expresión toma la forma:
Los parámetros de Steinhart-Hart se pueden relacionar "fácilmente" con los

de esta última ecuación:
1 1 1
a = - - - · ln(R ) b= - c=O
To 8 ° 8
La expresión simplificada puede llegar a producir errores apreciables sobre el

alcance del dispositivo cuando el valor del coeficiente e está demasiado próxi-
mo a b (más cerca de 3 órdenes de magnitud) y la temperatura es baja. No obs-
tante, el ajuste de la curva simplificada entre 25 y 85 °C es razonablemente
bueno (errores en tomo a 1 oq para aplicaciones sencillas en las que los requi-
sitos de precisión no sean elevados. La mayorfa de los fabricantes de sensores
térmicos basados en NTC proporcionan los correspondientes valores de B para
varios intervalos de temperatura. Asf pues, se trabajará con la expresión sim-
plificada teniendo en cuenta que R 0 es el valor de la NTC a T 0 = 298 K (25 °C).
En resumidas cuentas, si se desea una medida precisa de temperatura, lo mejor
es NO usar una NTC (hay soluciones mucho más precisas y de di~eño sencillo
como las PtlOO) y si sólo se desea tener una aproximación grosera de la tempera-
tura a bajo coste se puede usar una NTC con la expresión simplificada, olvidando
la rebuscada y ortopédica expresión de Steinhart-Hart cuya aplicabilidad es nula.
Si tenemos una aplicación poco comprometida y se pretende usar una NTC
para la medida de temperatura, podemos acudir a emplear un puente de
\IVheatstone como el de la Figura 6.44 como circuito de acondicionamiento.
E
B A
Figura 6.44. Circuito de acondicionamiento de una NTC para la medida de temperatura: la resis·
tencia Rl se calcula para proporcionar una cierta lineali dad mientras que la resistencia de com ·
pensación, R se emplea para fijar el cero del puente.
A diferencia de otros casos, el di~eño del puente se realiza para conseguir la me-
jor linealidad en la medida. Para ello, elegiremos la resistencia Rl para asegurar la
máxima linealidad del cin:uilo de medida y la t-esi~lencia de compensación R para
elegir la temperatura a la que se equilibra el puente y la tensión de salida es nula.
290
La tensión del punto A resulta ser (aplicando la expresión logarítmica para

la NTC):
Esta expresión tiene una zona bastante lineal alrededor de su punto de in-
flexión (Figura 6.45) que ocurre en la temperatura Te tal que:
B-2Tc
Rl = R
B + 2Tc Te
En ese punto la pendiente de la curva (sensibilidad), es:
Llnealización
Punto de inflexión
Curva real
Vre
Zona de uso
("bajo" error)
T
Te
Figura 6.45. Comportamiento del circuito de medida de una NTC (rama derecha del puente de la
Figura 6.44).
Por lo que la recta de linealización será la que pase por el punto de inflexión
con esa pendiente, es decir:
VA lin -VA (Te) = Src(T- Te)
La tensión de salida del puente será la diferencia entre este valor y la tensión
de la otra rama que se anulará a la temperatura que hayamos previsto.
EJEMPLO 6.9
Se pretende medir la temperatura de un baño químico que estará com-
prendido entre 40 y 50 "C para lo que se usa una NTC de 4K7 de la que
el fabricante proporciona el valor de B que resulta ser de 3850K. Diseñe
un sistema para proporcionar una tensión de salida entre Oy 5 V ¿Qué
error de linealidad presenta?
291
Solución:
Según sabemo$, en un montaje como el de la Figura 6.44, la medida
es lo más lineal posible en el entorno del punto de inflexión; para ello
tenemos que hacer que ese punto esté en el centro de nuestro intervalo
de medida, es decir, que la temperatura del punto de inflexión será de
45 °C. Para conseguir eso hay que elegir una resistencia Rl que cumpla:
8-2Tc
Rl- R
-8 + 2Tc Te
El valor de la NTC a 45 oc (318K) resulta ser 1~, = 2085 O. De esa forma,

tenemos que:
3850 -2.318
R1 = + . 2085 = 1490 n
3850 2 318
Si ·queremos compensar el pue,nte a 40 °C, el valor de ]{ tiene que ser

igual que el de la NTC a esa temperatura, es decir, R = R40 = 2530 O.
Si elegimos una alimentación de 10 V para el puente, queda como el
que se muestra en la Figura 6.46 en donde se indica también la ten-
sión en el centro de la rama que no contiene el sensor y que resulta ser
de 3,71 V.
10V
-==- A
Figura 6.46
La tensión en A para la máxima temperatura será ~(50 °C) = 4,63 V. La

tensión de salida (VA 8 ) variará entre Oy 4,63 - 3,71 = 0,92 V. Si se quiere
amplificar bastará con elegir una ganancia muy baja para coac;eguirlo:
5/0,92 = 5,43.
Para calcular el error de linealidad, hay que determinar la tensión lineal
del punto A que viene dada por la expresión:
VA !in- Vj¡(Tc) = Sre(T- Te)
Para ello debemos conocer la sensibilidad:

2
Sr
e
=E(~-1)
8 4T[
10 ( 3850 )
Sre = 3850 4 . 3182- 1 = 0,0926 V/K
292
y la tensión de A en el punto de inflexión_ V,.(45 °C) = 4,17 V. A~f:
VA,,.- 4,17 = 0,0926(T- 318)

V~ u. =0,0926(T -318) + 4,17
y la tensión de salida:
V,.BUn = 0,0926(T- 318) + 4,17- 3,71

~8 •• = 0.~0926 · T- 29,0
El error será máximo en los extremos del campo de medida:
Para T = 40 ''C= 313 K VAB= 0,00 V v,.B u. = -(),02 V

Para T =50 "C = 323 K VA8=0,92 V V.B«n = 0,91 V
El máximo error es de 0,02 V, que .e n términos relativos resulta ser del

2,2% (0,02/0,92·100), un valor aceptable para aplicaciones poco exigen-
tes, como las habituales en las que se emplean NTC.
A pesar de que los circuitos con NTC producen valores elevados de tensión
hasta el punto de que la amplificación posterior no suele ser necesaria, el error
de linealidad de la medida es muy elevado a poco que nos separemos del
punto de inflexión pero es algo que realmente no debe importarnos mucho
puesto que si hemos elegido una NTC como sensor es porque no tenemos mu-
cho interés en conocer la temperatura con precisión. Si~temas sencillos de muy
bajo coste y aplicaciones poco críticas suelen usar este tipo de dispositivo.
También existen termistores que tienen un coeficiente de temperatura positi-
vo (PTC, Postive Temperature Coefficient), aunque tienen un escaso interés ins-
trumental puesto que el cambio de resistencia es muy brusco y se produce a
una temperatura fija debido a cambios en el valor de su constante dieléctrica.
No obstante, este tipo de dispositivo sf que tiene otras aplicaciones en electró-
nica en circuitos de potencia.
6.5.2. LDR
Una foto-resistencia o LDR (Light-Dependent Resistor) es, en general, un dis-

positivo cuya resistencia se modifica en función de la luz que incide sobre ella
y bajo cuyo paraguas caben muchos dispositivos de diversos materiales y di-
ferentes modelos de funcionamiento. El fenómeno fue publicado por Willou-
ghby Srnith en 1873 tras haber realizado una serie de ensayos con el selenio.
El comportamiento de los materiales semiconductores en presencia de luz se
puede explicar por su estructura electrónica, que presenta dos bandas de ener-
gía (de conducción y de valencia) separadas por una banda prohibida donde no
es posible que haya electnmes. En condiciones normales y a baja temperatura,
un material semiconductor tiene muy pocos electrones en la banda de conduc-
293
ción, el lugar donde su ligazón con los átomos es casi inexistente y se podrían
mover sin dificultad; por contra, casi todos están en la banda de valencia, bien
sujetos a la estructura cristalina y sin opciones de movimiento (Figura 6.47a).
Banda de conducción Folones
h·
(a) (b)
Willoughby Smith (1828-1891) Figura 6.47. Respuesta de un material semiconductor ante la excitación luminosa: (a) en ausencia
fue un ingeniero inglés que desde luz, la mayoría de los electrones siguen f ormando parte de la est ruct ura; (b) con luz, algunos
de los fotones con energía suficiente interaccionan con la materia y excitan los el ectrones hasta
cubrió el efecto foto-resistivo. que sobrepasan la banda prohibida y alcanzan la banda de conducción con lo que quedan libres.
Mientras buscaba un material
con elevada resistencia, pero Pero, si llegan fotones (luz) con energía suficiente como para que exciten a
no aislante, descubrió que el
los electrones y sobrepasen la banda prohibida, los electrones excitados pue-
selenio presentaba variaciones
de resistencia que parecían re-
den alcanzar la banda de conducción y pasar a ser portadores libres, capaces
lacionarse con la cantidad de de moverse sin mayor dificultad (Figura 6.47b). Cuantos más fotones con su-
luz. Más tarde hizo pruebas con ficiente energía lleguen e interaccionen con la materia, más electrones libres
unas barras dentro de una caja habrá, mejor conducirá el material y su resistencia disminuirá. Tenemos un
con tapa deslizante. sensor de luz.
Sin embargo, relacionar la cantidad de luz con la resistencia no es un proble-
ma sencillo puesto que la luz es una magnitud muy compleja. Obviamente,
podemos hacer todas las simplificaciones del mundo, considerar sólo las LDR
más habituales, las que podemos encontrar en cualquier tienda de electrónica,
y decir que su comportamiento es más o menos de la forma:
Donde R0 es la resistencia cuando incide sobre el componente una cantidad de luz

L,, R es la resistencia cuando incide la luz L y a es un parámetro que depende del
material Un comportamiento de este tipo es claramente no lineal y presenta una
elevada sensibilidad que hace que una LDR pueda tener megaohmios de resisten-
cia en oscuridad y sólo una~ centenas de ohmios en presencia de una luz como la
que precisaríamos para leer un libro. Su sfmbolo de circuito (Figura 6.48) denota
este comportamiento no lineal mediante la linea quebrada que lo atraviesa.
-L~
Figura 6.48. Símbolo de circui to de una foto·resistencla o LDR.
294
La ecuación anterior --o cualquier otra- podría ser correcta si se conociese la

cantidad de luz que incide sobre el material resistivo, pero eso no es fácil de
conocer por varios motivos:
a) El efecto de la luz es mayor o menor no sólo en función de la intensidad
sino en función de la respuesta espectral del dispositivo, es decir, en fun-
ción de cómo afecte el fotón que llega según su longitud de onda. Cada
fotón porta una cantidad de energía mayor a medida que la longitud de
onda es más baja, de modo que tenemos dos situaciones diferentes: si la
longitud de onda es lo suficientemente baja como para que la energía del
fotón sea mayor que el ancho de la banda prohibida, la interacción con la
materia provocará que un electrón suba a la banda de conducción; por el
contrario, si la longitud de onda es demasiado grande (energía demasiado
baja), aunque se produzca interacción el electrón no podrá subir a la banda
de conducción y no se incrementará la conductividad del material.
Así, el comportamiento del dispositivo fotoconductor dependerá de cada
longitud de onda y no se podrá hablar de "luz" de una forma genérica por
lo que la expresión anterior tiene escasa validez.
b) La cantidad de luz que incide sobre la superficie del material fotoconduc-
tor depende de dos parámetros: de su superficie y del ángulo de inclina-
ción de la superficie del material respecto a la luz incidente (Figura 6.49),
de modo que esto causa incertidumbre en la medida de luz. Por ejemplo,
si la luz que se pretende medir no es estrictamente uniforme en una su-
perficie, la variación de resistencia dependerá del punto en el que se mida,
aun garantizando que el ángulo de inclinación es perfectamente conocido
y constante.
L (luz incidente}
a
Área sensible
Figura 6.49. Cuando l a luz no incide perpendicularmente sobre la zona sensible la cantidad de
energía que capta el sensor se ve minorada según el coseno del ángulo de incidencia, L·cos (a).
e) El proceso por el que un electrón que recibe energía de un fotón puede pa-
sar a la banda de conducción es similar al que ocurre cuando se incrementa
la temperatura del material, cuando el electrón puede subir a un estado
excitado por agitación térmica. Esto significa que un di~positivo foto-resis-
tivo es también sensible a la temperatura y una parte de la conductividad
se explicará por la cantidad de luz que recibe y, otra, por la temperatura a
la que esté. Así, de forma genérica podemos decir que:
R =ft.L, T)
295
Esto supone que la temperatura es una interferencia en el proceso de medi-

da y puede llegar a ser tan importante que las sensibilidades a la tempera-
tura y a la luz son del mismo orden de magnitud.
Asf, la medida de la luz es un proceso complejo e, incluso, no está exento de
subjetividad porque en determinadas ocasiones nos puede interesar conocer
la cantidad de luz que percibimos como seres humanos y, en tal caso, cual-
quier medida, debe estar ponderada la respuesta espectral de nuestro propio
sensor, el ojo.
Teniendo todas estas limitaciones en cuenta, la medida de luz puede ser ne-
cesaria en dos situaciones diferentes: como medida grosera para determinar
cuándo hay que activar un determinado sistema de iluminación o para cono-
cer si el nivel de luz está por encima o por debajo de un determinado valor en
aplicaciones poco estrictas. Para estos casos, se suelen emplear LDR genéricas
como la que se muestra en la Figura 6.50; son dispositivos de bajo coste de los
que el fabricante suele proporcionar pocos datos y cuyo comportamiento se
resume en "decrece el valor resistivo con la luz". Dispositivos de este tipo se
usan como interruptor crepuscular (Figura 6.51a) o para controlar un si~tema
de potencia que fije la cantidad de luz (Figura 6.51b).
Lámina transparente
de protección ..--Zor1a sensible
T
Figura 6 .50. Aspecto de una LDR de bajo c<>ste. La respuesta espectral viene determinada por el com·
portamiento del material fotosensible y por la respuesta espectral de la propia lámina "transparente".
~ - Vo
Mucha luz
-L~ (V< alta)
E
E
- VL f+'.-. Vo
p ..... R
VREF V / VL = f(L)
1 -
Poca luz VREF
(VL baja)
(a)
Lámpara
R
TRIAC
DIAC
(b)
e
Figura 6 .51. Aplicaciones de una LDR de bajo coste: (a) i nterruptor crepuscula r en el que la LDR
h ace que suba o baje el valor de V, seg(in su ba o baje, respectivamente. la cantidad de l uz que
i ncide sobre ella; (b) sencillo circuito de potencia en el que la LDR modula el tiempo de carga del
condensador C y, en consecuencia, el ángulo de d isparo del TRIAC.
296
Como se puede observar, el cixcuito proporciona una señal cuya relación con
la variable a medir no pretende buscar una curva de calibración excelsa sino
informar de si el nivel de luz sube o baja. De modo genérico, en la Figura 6.52
se presenta un circuito muy sencillo que proporciona una señal creciente con
el nivel de luz.
La segunda aplicación busca mayor precisión y suele ser la medida de nive-
les de luz en aplicaciones científicas o mucho más críticas. Algunas de estas
aplicaciones emplean dispositivos fotoconductivos realizados con materiales
como el selenio, el azufre o el plomo y con buenas prestaciones en el infrarro-
jo medio y lejano; por ejemplo, el sulfuro de plomo (PbS), el seleniuro de plo-
mo (PbSe) o el antimoniuro de indio (lnSb) tienen un comportamiento muy
bueno en zonas altas del espectro luminoso (zonas de gran longitud de onda
y baja energía), áreas usadas para la medida indirecta de otros parámetros en
aplicaciones de Química Analítica o de detección de objetos por su tempera-
tura superficial.
Vo
R
Figura 6.52. Circuito genérico para la medida de luz con una LDR de bajo coste. El operacional que "Barber's pole"
en el esquema trabaja como seguidor de tensión podría, eventualmente, aportar ganancia aunque
la gran sensibilidad de las LDR suelen hacerlo innecesario. En ausencia de luz, el valor de la LDR Ese es el nombre que suelen re-
es muy al to y la tensión de sal ida es casi cero; con al tos nivel es de i lum inación el valor es m uy cibir las magneto-resistencias
b ajo con lo que la t ensión de sal ida es casi E. que se usan para medida. Se
debe a que su con~titución tiene
El principal problema de la medida en este tipo de sistemas es que una parte el aspecto de uno de esos cilin-
del efecto de cambio de resistencia se debe a la luz y otra parte a la tempera- dros de franjas inclinadas, (roja~
y blancas en la mayoría de los
tura. Para tener en cuenta el efecto de este último hay dos opciones: mantener
paises) que existian en muchas
el dispositivo de medida a una temperatura baja y constante, mediante refri-
baJ'berías tradicionales desde la
geración, o realizar la medida en alterna. Lo primero es realmente complejo Edad Media.
ya que supone emplear di~positivos de refrigeración del tipo de celdas Peltier
La estructura de estos disposi-
(véa~ el Apartado 8.2.7) o, incluso, mediante refrigeración con ga~s licuados
tivos suele estar compuesta por
(N 2 para temperaturas que estén alrededor de - 70 °C o He para temperaturas una banda inclinada de material
inferiores). muy conductor (oro o alu:mnio)
Si se opta por la medida en alterna, la opción es situar un dispositivo que per- sobre el material sensible mag-
mita e impida alternativamente la iluminación (un chnpp~'l' mecánico) con lo néticamente (permalloy, gene-
que a la salida del cixcuito habrá una señal de continua que depende de la tem- ralmente), para forzaJ' a que la
corriente discurra de forma obli-
peratura y una señal de alterna cuya amplitud depende del nivel de luz que
cua y con la ayuda de un campo
incide sobre el sensor. 'E n la Figura 6.53 se muestra un circuito de este tipo que
auxiliar, produzca una respuesta
incluye un filtro de paso alto para eliminar el efecto de la temperatura y un más lineal.
sistema para obtener el nivel de la señal de alterna que es la que nos interesa.
Aun con un sistema de chnpper mecánico, puede llegar a ser necesario refrige-
rar el dispositivo, pues una temperatura elevada (la ambiente podría llegar a
297
serlo) es capaz de producir una fuerte caída de la resistencia con lo que queda-
rá poco margen para que la luz pueda afectar al sistema.
En todos estos sistemas, la cantidad de factores que intervienen en la medi-
da es tan grande, poco manejable (y menos predecible), que suele ser necesa-
rio un proceso de calibración para conseguir obtener el valor que buscamos.
Chopp6r
LUZ
3 r· Flltro paso bajo
Vo
R
Valor débldo a
la tempGrat'llra
Valor a la luz
Figura 6.53. Sistema de medida con disposit ivos f otoconductores que elimina el efecto de la tem·
peratura: el chopper mecánico produce una señal al terna de l uz y oscuridad sobre el sensor que, a
su vez, causa una subida y bajada de tensión. La amplítud de esta variación está relacíonada con
la luz inciden te. El sist ema se completa con un filtro de paso alto que elim ina la continua debida a
la temperatura, un rectificador de precisión que obtiene un nivel de cont inua y el fíltro que elim ina
el rizado del chopper.
6.5.3. MAGN ErO-RESISTENCIAS
La magneto-resistencia es un fenómeno físico que ocurre en los conductores

y que supone un cambio en la resistencia efectiva del material cuando hay un
campo magnético aplicado debido a varias causas.
El primer estudio sobre este fenómeno data de 1851 y se debe a William
Thomson, aunque sus ensayos sólo llegaron a producir cambios débiles, por
debajo deiS %. El fenómeno que él estudió se conoce como magneto-resis-
tencia anisotrópica (AMR, Anisotropic MagnetoResistance), una de las posibles
causas junto con la magnetoresistencia geométrica. Un fenómeno mucho má~
intenso es el que se conoce como Magneto-resistencia gigante (GMR, Giant
MagnetoResistance) que aparece en estructuras multicapa de capa fina en las
que se alternan capas conductoras de material ferromagnético y no magnéti-
co. El fenómeno fue descubierto de forma independiente por Albert Fert y Pe-
ter Grün.berg en 1998 y les valió el Premio Nobel de Física en 2007. El efecto
de las GMR se puede usar para sensores de campo magnético, pero su princi-
pal aplicación se centra en el campo del almacenamiento de información. De
hecho, el uso de este fenómeno en la fabricación de di~cos duros ha permitido
incrementar en varios órdenes de magnitud la capacidad de los discos duros
que pasaron de menos de 1 GB a superar con creces 1 TB.
El uso de magneto-resistencias como sensores no es muy frecuente, aunque
exititen alguno:; :;ensores como el ZMY20 de la finrta Zetex previ:;tos para apli-
caciones fundamentalmente digitales dado que este tipo de dispositivos pre-
298
senta serios problemas en aplicaciones analógicas: elevada incertidumbre de

la sensibilidad que puede llegar al 40 %, histéresis alta y dependencia signifi-
cativa de la temperatura.
6.6. SENSORES POTENCIOMÉTRICOS
Quizá este sea el sensor resistivo más evidente y, probablemente el primero

en que piensa el lector. Efectivamente, el potenciómetro como sensor tiene un
uso evidente ya que proporciona una relación de resistencias en función de la
posición del cursor. Ya sea rotativo o lineal, un potenciómetro alimentado con
una tensión con~tante produce una salida de elevado valor (no suele precisar
amplificación) que informa de la posición del cursor (Figura 6.54).
Res.istencia P
+E
X
-f- 1
x=1
Resistencia
p p
R = P·x
x =O
...___ ...,....._ _ _i..._.L o
(a) (b) (e)
Figura 6.54. Potenciómetros de geometrfa lineal (a) y rotativo (b); aplicación de un potenciómetro
para medida.
El comportamiento como sensor es muy sencillo. Si P es la resistencia total del

potenciómetro y la variación con la posición del cursor es lineal tenemos que
la ten~ión de salida es:
Vo = x ·E
donde x es la posición en p. u. (x =O para un extremo y x = 1 para el otro).

Como se puede observar, la salida resulta lineal con la posición. En u n po-
tenciómetro de tipo rotativo, x representará la fracción de vuelta, mientras
que en uno de geometría lineal, será la fracción de la d istancia total que pue-
de medir.
La sencillez de la medida hace innecesario el circuito de acondicionamiento y,
como mucho, se suele recurrir a situar un seguidor de tensión para evitar efec-
tos de carga en la salida del potenciómetro.
Además, una tentación en la que se suele caer es buscar sistemas de accio-
namiento mecánico que transformen diversas variables en una posición y,
por tanto, sean susceptibles de ser medidas con un sencillo potenciómetro.
Una combinación hábil de resortes, émbolos, masas, poleas, etc., puede, vir-
tualmente producir un desplazamiento a partir de una fuerza, presión. acele-
ración, peso, velocidad, par... Podríamos decir que "el lector puede hacer el
ejercicio de imaginar cómo convertir cualquier variable en un desplaza.mien-
299
to", pero lo cierto es que probablemente tendrá cosas más importantes que ha-
cer. Y es que los potenciómetros acumulan tal cantidad de inconvenientes que
casi son una reliquia en el mundo de la Instrumentación.
El primer problema es que son dispositivos mecánicos y que como tales pre-
sentan inercia y rozamiento; la inercia empeora su comportamiento dinámico
mientras que el rozamiento, como fuerza no conservativa, introduce una his-
téresis que puede llegar a ser importante. Algunos fabricantes han mejorado
estos dos aspectos, sobre todo el segundo, dotando al sensor potenciométrico
de rodamientos de alta tecnología lo que se ha traducido en un incremento del
coste que es inasumible para la mayoría de las aplicaciones.
El segundo problema, el más grave, se debe a que los potenciómetros son di~
positivos que tienen que tener un contacto eléctrico entre el cursor y la super-
ficie resistiva lo que se traduce en la presencia de corrosión y en un desgaste
progresivo que reduce su vida útil, además de añadir más histéresis por ro-
zamiento. Nuevamente, el uso de superficies resistivas especiales junto con
el empleo de oro u otros materiales nobles para el cursor reducen este contra-
tiempo con el consiguiente incremento del coste final.
Estos inconvenientes hacen que el potenciómetro como sensor de posición se
use en pocas ocasiones, máxime cuando existen soluciones más ventajosas y
fiables con otros dispositivos. No obstante, uno de los sensores potenciométri-
cos que más se usa es el conocido como sensor yo-yo o potenciómetro de cuer-
da (string potentiometer o strimg pot) que se usa para medir el movimiento de un
punto mediante un hilo que transmite tal movimiento al sensor (Figura 6.55).
Potenciómetro
Tambor
Figura 6 .55. Sensor de cuerda que acciona un potenciómetro.
Estos dispositivos se usaron tradicionalmente en diversas medidas como sus-

pensión de vehículos de competición, en el estudio de fatiga de componentes
críticos y, en general, en cualquier medida de posición de objetos que se pue-
dan mover.
Los problemas que presentan estos dispositivos son los mismos que los que
tienen los potenciómetros más los que añadan los nuevos sistemas que inclu-
yen: la cuerda y el resorte y que se pueden cifrar en fatiga del resorte y posi-
bles daños en la cuerda. No obstante, la flexibilidad de colocación que supone
la transmisión de la posición mediante la cuerda hace que sigan siendo usa-
dos en aplicaciones en donde el lugar de medida es de difícil acceso, como en
aplicaciones de automoción. Eso sf, en las nuevas versiones, sólo se mantiene
el sistema de cuerda y tambor mientras que el potenciómetro es sustituido por
otro tipo de sensor.
300
RESUMEN
Los sensores más sencillos desde el punto de vista de uso son los de tipo resL~
tivo en los que la variable objeto de medida afecta al valor de una resistencia.
La ventaja de medir una resistencia radica en que se puede medir en continua,
con lo que los circuitos de excitación y la cuantificación final del resultado son
relativamente simples.
Sin embargo, medir una resistencia no es tan fácil como pueda parecer la simple
aplicación de la ley de Ohm: hacer circular una corriente y medir la tensión.
Siempre hay una serie de factores que perturban la medida como las resistencias
de los cables de conexión y de los contactos, para lo cual se ha desarroUado W\
sL~tema de medida a cuatro hilos en el que la corriente circula por unos cables
núentra~ la tensión se mide con otros.
Pero, en línea~ generales, el sistema de medida más eficaz para la resistencia es el

puente de Wheatstone configurado para medir por deflexión, tanto ali.rnentado
en tensión como en corriente, aunque el resultado es mejor en este último ca~o
ya que se consigue mayor linealidad. Este parámetro, junto con la sensibilidad
del puente y el punto de equilibrio son aspectos de diseño que se pueden definir
mediante la~ resistencias y la excitación.
Con estos esquema~, la medida de la resistencia de W\ sen~or es un a~unto más o
menos resuelto; allora, nos tenemos que plantear qué variables podemos medir
y eso depende de la existencia del correspondiente sensor resistivo.
En primer lugar, las resistencias metálicas dependientes de la temperatura (!UD)
producen una medida fiable, casi lineal y de gran precisión. Lo habitual es que
sean resistencias de platino (PtlOO) cuyo campo de medida Uega desde -200 "C
hasta más de 900 "C. Se suelen medir con un puente de Wheatstone sin mayo-
res dificultades, aunque su relativamente baja sen~ibWdad obliga a usar ampli-
ficadores diferenciales detrás del puente de medida. Las RTD también pueden
usarse en medidas indirectas de caudal o velocidad de fluido con una buena
fiabilidad.
Otro de los sen~ores resistivos típicos es la galga exten~métrica que es sensible a
los cambios dimensionales, por lo que puede medir elongaciones y estados ten-
sionales. A pesar de su muy baja sen~ibilidad, su uso en puentes de Wheatstone
proporciona niveles de tensión aceptables (también requieren amplificación) y,
según la~ configuraciones que se empleen, puede con~eguirse un comportamien-
to lineal. Las galgas exten~métricas como dL5positivos capaces de medir esfuer-
zos son capaces de medir variables de la misma fan\ilia (fuerza, peso, presión
o aceleración) para lo que se han desarroUado sensores específicos tales como
celdas de carga (fuerza y peso), sen5ores de presión pieza-resistivos o aceleró-
metros del mismo tipo. Con un paso más de medida en el que la presión es W\a
variable intermedia se puede conseguir la medida de nuevos parámetros deriva-
dos como el nivel de colwnna de líquido o el caudal.
También exi.~ten sensores resistivos no lineales como las NTC que proporcio-
nan una gran sensibilidad a la temperatura, awlque suelen ser poco precisas, o
las LDR que son sensibles a la cantidad de luz que incide sobre eUa~, también
con una elevadi.~a sen5ibilidad. En este último caso, se tienen sen~ores de bajo
coste y aplicación poco exigente y algwlOS dispositivos capaces de medir en con-
diciones de muy poca luz para aplicaciones cientffica5 y de laboratorio. Dentro
de este apartado existen má~ sensores, como las magneto-resistencias que tienen
301
gran aplicación en la salvaguarda de información digital, pero sus mala~ carac-

terísticM instrumentales (elevada incertidumbre) las hace poco adecuadas para
medir el campo magnético con precisión.
Finalmente, dejaremos una nota sencilla para los potenciómetros que han sido
dispositivos muy usados como sensores de posición en el pasado, pero que tie-
nen un elevado número de inconvenientes ligados a su propia estructura mecá-
nica, tales como rozamientos, desga~tes e inercias apreciables, que hacen que su
uso no se recomiende.
302
Apartado 6 .1.1
Figuras 6.1 y 6 .2 6.1 Determine el error que se produce al medir resistencias a dos hilos con un
Ejemplo 6.1 polfrnetro de 3 cifras significativa~ en la escala 0,00 a 9,99 Q sabiendo que los
cables de medida tienen una resistencia máxima de 0,2 Q y que las puntas
Apartado 6.1.1 de prueba producen una resistencia de contacto que no es superior a O,15 Q.
Figura 6.2
6.2 Ene! caso de la medida del Ejercicio 6.1, ¿cuál serfa el error máximo si se rea,.
Eje mplo 6.1
lizase la medida tras la compensación de los cables mediante cortocircuito?
Apartado 6.1.2
6.3 Para realizar una medida a cuatro hilos en el campo de medida O a 1 Q
Figura 6.3
sólo se dispone de una fuente de alimentación de labor atorio capaz de
Ejemplo 6.1 proporcionar hasta 30 V de tensión máxima y un polimetro estándar con
capacidad para medir tensión y resistencia con una resolución equivalente
a tres cifras significativas en todas sus escalas. La fuente de corriente se
aproxima mediante la fuente de tensión y una resistencia de lOK. Propon-
ga un sistema para realizar la medida a cuatro hilos e indique el máximo
error que se produce.
Apartado 6 .2.2
6.4 Un puente de Wheatstone tiene que medir resistencia~ entre 100 y 200 Q
Figuras 6.6 y 6 .7 para lo que se utilizan resistencias de 10K en la parte superior y se alimen-
ta el conjunto en tensión a 10 V. Determine la expresión de la tensión de
salida y su valor correspondiente a los extremos de medida en dos casos:
con una resistencia de compensación de 100 Q y con una de 150 Q.
Apartado 6 .2.2
Figura 6.8 6.5 En el caso del Ejercicio 6.4, determine la expresión lineal de la tensión de
Eje mplo 6.2 salida usando como linealización despreciar la resi<>tencia a medir del de-
nominador y realizando el ajuste por mínimos cuadrados. Calcule el error
correspondiente a cada caso.
Apartado 6 .2.2
Figura 6.8 6.6 En el ca<>o del Ejercicio 6.4, ¿cómo se modificarían los errores si se eligiese
Ejemplo 6.2 como resistencia para la parte superior del puente una de 1K? ¿Cómo afec-
taría a la sensibilidad del puente de medida y al fondo de escala de salida?
Apartado 6 .2 .3
Figura 6.9 6.7 Para realizar la medida de resistencias entre 100 y 200 Q se usa un puen-
Eje mplo 6.3 te de medida alimentado en corriente. Determine los valores apropiados
para conseguir la misma sensibilidad que en el Ejercicio 6.4. ¿Cuál sería en
este caso el error de linealidad?
Apartado 6 .2 .3
6.8 Proponga una fuente de corriente como la necesaria para realizar la alimen-
REF200.pdf tación del puente de corriente del Ejercicio 6.7. A raíz del resultado, compare
el puente alimentado en tensión y el alimentado en corriente desde los pun-
tos de vista de error de linealidad, sensibilidad y complejidad del diseño.
Apartado 6.2.4
Figuras 6.10 y 6 .11 6.9 Un puente de Wheatstone alimentado con una fuente de corriente de 1
Ejemplo 6.4 mA está formado por resistencias de 1K en la parte superior y debe medir
resistencias entre 10 y 20 Q para entregar, respe.c tivamente, una tensión
final d e O a 5 V. Diseñe el conjunto y d etermine las prestaciones necesarias
del ampiliicador para conseguir que el error total no supere el 0,5 %.
303
Apartado 6.3.1 y 6.3.2
6.10 Se desea medir temperatura entre Oy 300 oc para lo que se opta por una
Ejemplo 6.5 resistencia de tipo Pt100. Usando la Tabla 6.1, detemúne la linealización
más apropiada para esta zona de trabajo. ¿Cuál es el coeficiente térmico
del platino en esta zona?
Apartado 6.3.2
6.11 Si en el caso del Ejercicio 6.10 se desease una aproximación más precisa se
Ejemplo 6.5
podría aplicar un ajuste cuadrático. ¿Cómo sería la expresión de la resis-
tencia en este caso? Compare el error producido con este ajuste respecto al
error producido con el ajuste lineal y determine si es conveniente usar un
ajuste cuadrático para una Pt100 de clase A y otra de clase B.
Apartado 6.3.3
6.12 Diseñe un circuito termométrico con una Pt100 capaz de entregar una ten-
REF200.pdf
sión de O a S V para temperaturas de O a 500 oc usando un circuito de
acondicionamiento basado en un puente de Wheatstone alimentado en
corriente.
Apartado 6.3.3
F"igura 6.16 6.13 Re:p ita el Ejercicio 6.12 empleando una técnica de medida a cuatro hilos
REF200.pdf mediante el uso de la REF200 como fuente de tensión de 400 ¡tA. Compare
los resultados de los dos sistemas.
Apartado 6.3.3
Figura 6.17 6.14 Utilizando una Pt100 de clase A realice el diseño de un termómetro de
Ejemplo 6.6 precisión para medir entre O y 100 oc capaz de proporcionar una salida
comprendida entre O y 10 V para los extremos respectivos del campo de
medida, mediante un puente de Wheatstone alimentado en corriente. Si el
amplificador tiene una tensión de offset de 40 ¡tV como máximo, determi-
ne las características instrumentales del sistema diseñado.
Apartado 6.3.3
6.15 ¿Cómo afectaría el auto-calentamiento a la medida el Ejercicio 6.14 sabien-
Figuras 6.18 y 6 .19
do que la resistencia térmica máxima de la PtlOO es de 10 °C/W?
6.16 Determine la máxima variación de resistencia que sufriría una galga ex-
tensométrica de 350 O de resistencia nominal con un factor de galga de
Apartado 6.4.1 2 que sea capaz de soportar una elongación máxima comprendida entre
Ejemplo 6.7 -40000 ¡te (compresión) y +35000 ¡te (tracción).
6.17 Si una galga de 120 O de resistencia nominal está sometida a una elonga-
ci6n máxima de 3000 ¡te tanto a tracción como a compresión, determine la
máxima variaci6n de resistencia que experimentará sabiendo que su factor
de galga es 2. Si la tolerancia de fabricación establece una incertidumbre
del ±0,1 % en el valor de la resistencia, compare este cambio con el que
experimenta la galga en funcionamiento.
Apartado 6.4.2
6.1$ ¿Qué diferencia existe entre formar un puente de medida para una galga
Figuras 6.27 a 6.29
que trabaje a tracción (R = 120 O, K= 2) con una elongación máxima de
5000 ¡te con resistencias estándar de 120 O y 0,1 % de tolerancia o utilizar
galgas iguales a la de medida pero pasivas cuya tolerancia también es
del0,1 %?
304
Apartado 6 .4.2
6.19 Para el caso del Ejercicio 6.18, considerando la opción de usar galgas pasi-
Figura 6.28 vas para formar el puente, determine el error de linealidad que se produce
cuando el puente está alimentado con una tensión de 10 V.
Apartado 6.4 .2
6.20 Para el caso del Ejercicio 6.191 determine la corriente con la que habría que
Figura 6.29 alimentar el puente para conseguir la mL~ma sensibilidad. ¿Qué error de
linealidad se produciría en este caso? Determine la ganancia del amplifica-
dor necesario para conseguir una salida de O a 5 V para todo el campo de
medida.
6.21 Para el caso del Ejercicio 6.20, ¿cómo mejoraría el sistema si se consigue
Apartado 6 .4.2 utilizar dos galgas activas en lugar de una?
Figura 6.30
_ ___,~ 6.22 Durante el ensayo a compresión de una probeta se desea conocer el es-
tado de deformación en un determinado punto para lo que se utiliza un
puente de galgas con dos galgas activas alimentado con una fuente de co-
rriente de 10 mA. Si las galgas soportan un esfuerzo máximo equivalente
a -30000 ¡¡e, su resistencia nominal es de 350 Q y su factor de galga es 2,
determine la tensión de salida del puente durante el ensayo.
Apartado 6 .4 .2
Figura 6.31 6.23 Una viga apoyada en sus dos extremos está sometida a una carga que pro-
Ejemplo 6.8 duce una deformación máxima de 4000 ¡.¡e que debe ser medida con galgas
extensométricas. Suponiendo que el perfil de la viga es simétrico, determi-
ne la mejor configuración de medida que se puede emplear para el caso.
Apartado 6 .4 .2
6.24 Diseñe un sistema de medida para el caso del Ejercicio 6.23 con la finali-
Figuras 6.31 y 6.32 dad de conseguir una tensión de salida con un fondo de escala de 5 V.
Ejemplo 6.8
6.25 Un sistema de medida de esfuerzos utiliza dos galgas activas con un cam-
Apartado 6 .4 .2 po de medida de [-3000, +3000] ¡te. Si se quiere disponer de un sistema de
Figura 6.33 calibración a dos puntos, diseñe el circuito completo de medida y ajuste.
6.26 Para una medida de peso que debe tener un alcance de 2 t se dispone de
Apartado 6 .4 .3
dos opciones: una celda de carga que tiene un campo de medida de 5 t y
Figura 6.36 una sensibilidad de 10mV /V y una celda de carga de 2 t con la misma
sensibilidad. ¿Cuál le parece la más apropiada para la aplicación? Si se
alimenta a 10 V, diseñe un sistema para proporcionar una tensión de sali-
da 0-5 V. ¿Cómo quedaría afectado el sistema si se utiliza la otra celda de
carga?
6.27 Una báscula de pesaje se apoya en cuatro celdas de carga sobre las que
Apartado 6.3.4
transmite todo el peso que soporta. Si la máxima carga prevista para la
Figura 6.37
báscula es de 1000 kg y las celdas tienen un alcance de 1500 kg con una
salida de 15mV /V, diseñe un sistema para proporcionar una tensión 0-10
proporcional al peso que mide la báscula suponiendo que la tensión de
alimentación de las celdas es de 10 V.
305
Apartado 6.5.1 6.28 Trate de representar la ecuación inversa de Steinhart-Hart entre 50 y 100 oc
Figura 6.44 con los siguientes coeficientes de Steinhart-Hart:
A= 1.119828875495430·10"'~
B = 2.360897740308300·1()-1
e= 7.508299550946710·10""
Nota: si el trabajo le parece tedioso, puede pasar al siguiente problema sin
pérdida significativa de conocimientos. Si está aburrido 1a o le resulta in-
teresante, trate de obtener el punto de inflexión de la curva cuando la NTC
está trabajando en un puente de medida.
Apartado 6.5.1
Figura 6.44 y 6.45 6.29 Se desea hacer un termómetro clinico con una NTC para lo que se seleccio-
-- Ejemplo 6.9 na una NTC de 10K con B = 3900 K. Si el campo de medida es [35, 41) oc,
diseñe un circuito para realizar la medida y proporcionar una señal de sa-
lida de 5 V de fondo de escala. Determine las características instrumentales
del termómetro diseñado. ¿Le parece apropiado el error para una aplica-
ción de e~¡e tipo?
Apartados 6.5.1 y 6.3.3
Figura 6.17, 6.44 y 6.45 6.30 Compare el resultado del problema anterior con el que se obtendría al
Ejemplos 6.6 y 6.9 usar una Pt100 para realizar la medida desde los siguientes puntos de vis-
ta: sensibilidad, complejidad del sistema de excitación, amplificación ne-
cesaria, error y fiabilidad.
Apartado 6.5.3
6.31 Un di~positivo fotoconductivo forma un divisor de tensión junto con una
Figura 6.53 resistencia de 10K y está alimentado a 10 V. Si se usa un chopper óptico que
funciona a 1 kHz, produce una señal de 2 V sobre un valor variable de
continua (entre 1 y 2 V). Diseñe un sistema p.ira producir una señal 0-5 V
"proporcional" al nivel de luz recibido.
Apartado 6.6
6.32 Para medir la posición de un eje en un servo de posición se usa un poten-
Figura 6.54 ciómetro de SK de una vuelta alimentado a 10 V. Determine cómo variará
la tensión de salida si se sabe que el eje puede girar un máximo de 180°.
Diseñe un sistema para llevar la salida a 0-10 V.
306
Tema 1
Sensores capacitivos e inductivos
7.1. Medidas en alterna

7.2. Sensores capacitivos
7.3. Sensores inductivos
7 .4. Sensores de proximidad
TEMA 7. SENSORES CAPACITIVOS E INDUCTIVOS ••
7.1. MEDIDAS EN ALTERNA
En algunos casos los sensores trabajan en alterna, ya porque así sea la varia-
ble que se pretende medir o porque el dispositivo sólo admite una excitación
de este tipo para funcionar. Ejemplos de uno y otro caso existen muchos, pero
podemos citar entre los primeros el funcionamiento de una resistencia shunt
que mida la corriente de la red eléctrica; inevitablemente producirá una ten-
sión alterna con la que tendremos que trabajar. Al segundo grupo pertenecen
los sensores que estudiaremos en este tema, los capacitivos y los inductivos
que necesitan una alimentación en alterna.
Una señal de continua sólo tiene una característica, su nivel, de modo que to-
dos los cálculos se hacen en torno a ese valor; sin embargo, en el ca~o de una
señal de alterna son varios los parámetros que la definen, empezando por la
correspondiente forma de onda.
El desarrollo en serie de Fourier
A pesar de que las ondas senoidales son sólo un caso particular de las señales permite obtener una función
alternas con las que podemos trabajar, como quiera que cualquier señal perió- periódica como suma de senos
dica puede descomponerse en suma de senoides, nos referiremos en nuestro y cosenos. El desarrollo ha sido
estudio sólo a señales senoidales y; cualquier otra señal periódica se podrá re- nombrado en honor del mate-
ducir a este caso. mático francés Jean Baptiste Jo-
seph Fourier (176S-1830).
Una señal senoidal tiene una variación en el tiempo como esta:
Una señal periódica v(t) puede
escribirse como:
V= A · sin (wt + rp)
ao
v(t) =-+
2
Como se puede observar, se caracteriza mediante tres parámetros: la pulsa-
ción m, proporcional a la frecuencia f de la señal (m = 2rtf), la amplitud A,
y la fase rp respecto al origen de tiempos. En lo sucesivo, usaremos los tér-
minos "pulsación" y "frecuencia" de forma indistinta puesto que hay una
relación fija entre ellos y sólo se distinguirán en función del símbolo em-
pleado.
Donde los coeficientes a, corres-
Cuando una señal senoidal es una señal instrumental, la información que con- ponden a:
tiene puede ser la propia señal en sí misma, en cuyo caso importará el valor
x 0 +T
que presente en cada instante de tiempo, pero en muchos casos, la señal sólo
se usa como soporte para "guardar'' la información de interés. En este caso, la ~ J v(t) cos ( 2ny) dt
senoide es una portadora y la información puede estar incluida en la ampli- Xo
tud, en la frecuencia o en la fa~e:

Y los b,:
V= A(x) · sin (wt + rp) x 0 +T
V = A · sin (m(x)t + rp) T2J ( nt)
v(t) sin 2nT dt
V = A · sin (mt + <p(x)) Xo
donde x es la variable de la que se está presentando la información.

En este capítulo, los sensores que trataremos son pasivos y; en la inmensa ma-
yoría de los casos, la información estará contenida en la amplitud o en la fa~e,
de modo qtte estas serán las dos variables qtte trataremos de medir.
309
7.1.1. MEDIDAS DE AMPLITUD
Supongamos que una señal senoidal contiene la información de interés en su

amplitud, es decir, es de la forma:
V= A(x) · sin (wt + cp)

Rectificadores de precisión
Si se necesita rectificar W\3 señal Una opción puede ser la de convertir la señal en digital y tratar los valores ob-
en doble onda no es posible ha- tenidos para conseguir obtener la amplitud¡ sin embargo, ese procedimiento
cerlo con el clásico esquema for- obliga a gestionar un volumen alto de información ya que debe tomar tm nú-
mado por un puente rectificador mero de muestra~ por segundo superior al doble de la frecuencia de la señal
de cuatro diodos si se pretende para extraer una información (la amplitud) que bien podría ser poco variable
que las señales de entrada y sa- en el tiempo.
lida tengan la misma referencia.
Lo mejor es realizar un procesamiento analógico de la señal que permita ex-
Pero el problema, aun resolvien-
do este inconveniente, está en la
traer esa información con relativa facilidad. En la Figura 7.1 se muestra un sis-
tensión de codo de los diodos tema de medida de amplitud de señales, compuesto por un amplificador, un
que, incluso con el uso de dio- rectificador de precisión y un filtro de paso bajo.
dos Schottky, supone una ca1- Rectificador de
da de tensión no menor de 0,2 Filtro de paso bajo
V. Esta pérdida de tensión que
puede olvidarse cuando las se- SENSOR
ñales sean muy grandes puede
X ---t~
suponer W\ error uülceptable en
el caso de señales típicas en sL~
V = A(x)'sln(• t)
tema~ instrwnentales.
Para resolver ambos problemas

existen varios esquemas basa-
dos en amplificadores operacio-
nales en los que la pérdida de
tensión debida a la tensión de
codo queda dividida por la Ad Figura 7.1. Bloques de un sistema de tratamiento de señal para obtener la amplitud de una onda
del operacional. Esto resulta W\3 senoidal.
limitación ya que la ganancia di-
ferencial a que nos referimos es El amplificador es un bloque crítico en un sistema de este tipo ya que la infor-
la que corresponde a la frecuen-
mación está contenida en la amplitud por lo que cualquier cambio en ella afec-
cia de trabajo y fuerza a Jos ope-
tará directamente a la precisión de la medida. Los criterios estudiados en el
racionales empleados para esta
misión a ser dispositivos con
Tema 2 para la amplificación de señales de alterna son aplicables directamen-
buenas prestaciones en alterna. te a este ca~o y, en general, los aspectos relacionados con el slew-rate y con el
GB W serán críticos en la selección de los amplificadores y en la determinación
Otra precaución inlportante en
de sus prestaciones instrumentales.
estos circuitos es el offset de la
señal de entrada. Cualquier des- El rectificador de precisión de onda completa produce una señal rectificada de
plazamiento de nivel de la en- frecuencia doble de la que tenía la señal original y cuyo valor máximo corres-
trada causa W\a disinletrfa en la ponde a su amplitud. La diferencia importante es que el valor medio de esta
rectificación que fuerza la apa- señal es proporcional a la amplitud y el valor medio se puede obtener fácil-
rición de una componente de la
mente con un filtro de paso bajo cuya frecuencia de corte esté por debajo del
frecuencia de la señal de entra-
da. Para evitar el inconveniente doble de la frecuencia de la señal. Efectivamente, a la salida del rectificador de
se recmnienda usar una red CR precisión tenemos una señal Vo cuyo valor medio es:
" lll Pntr;¡d¡:¡ ciPl rPC'tifiC";¡cior, qnP
2
garantiza la eliminación de cual- Vr = - A(x)
quier nivel de continua. rr
3 10
El resto del desarrollo en serie presenta armónicos cuya amplitud vale:

4 A(x)
V, = rr · ...,.
4-. -n-;,2-'----
1
donde n es el orden del armónico correspondiente. A la salida del rectificador

tenemos una distribución de armónicos tal como la que se muestra en la Fi-
gura 7.2.
Términos del
desarrollo
A(x) -
Primer término
(frecuencia: 2eJ)
O,S·A(x)
Valor medio 1 2 3 4
FILTRO DE
PASO BAJO
Figura 7.2. Desarrollo de la señal producida por la rectificación de doble onda. Buscamos conse·
guir el valor medio de la señal que es proporcional a la amplitud y rechazar los términos de alter·
na, para lo que se usará un filtro de paso bajo.
El filtro debe dejar pasar sólo la señal de continua y reducir la presencia de

los demás armónicos por lo que su frecuencia de corte deberá estar por deba-
jo del primero de los armónicos. En cualquier caso, su especificación (frecuen-
cia de corte y orden) permitirá conocer la reducción de las señales armónicas;
es obvio que se conseguirá mejor este objetivo en la medida en que bajemos
más la frecuencia de corte y que se podría bajar tanto como se quisiera pues-
to que la señal que queremos seleccionar está a frecuencia cero. Sin embargo,
si reducimos mucho la frecuencia de corte del filtro, estaremos imponiendo
una fuerte restricción a la dinámica del conjunto y, en algún caso, podría no
ser conveniente ya que provocaría tiempos de respuesta muy altos. Por ejem-
plo, si el rectificador produce una señal a 10 kflz, podemos poner un filtro en-
tre esa frecuencia y O, pero el resultado será muy diferente si la frecuencia de
corte elegida es 1 kflz o 1 Hz. En el primer caso, es posible que no se consi-
ga atenuar mucho los armónicos pero el sistema tendrá una dinámica mucho
más rápida que si se pone a 1 Hz, caso para el que se conseguirá atenuar mu-
cho los armónicos.
En cualquier caso, será el diseñador, en función de las circunstancias, quien
optimizará la posición de la frecuencia de corte.
El esquema de la Figura 7.1 permite el tratamiento de cualquier señal senoidal
pero en el diseño del sistema habrá que tener en cuenta que los bloques de-
ben responder correctamente a la frecuencia a la que estén trabajando lo que,
eventualmente, puede introducir problemas a la hora de elegir los operaciona-
les que se vayan a utilizar.
Un a<>pecto importante de todos los sistemas de medida en alterna es la ca-
pacidad que tienen de poder eliminar tanto el ruido como cualquier des-
311
plazamiento no deseado de la señal. Si el esquema :inicial de la Figura 7.1 se

modifica con la incorporación de un filtro pasabanda antes de rectificar, cuya
frecuencia central sea la frecuencia de la sefíal (Figura 7.3), la sefíal que lle-
gue a las etapas de procesamiento estará exenta de cualquier offset y el ruido
se reducirá en gran medida ya que el ancho de banda es tan pequeño como lo
sea el del filtro pasabanda. Obviamente, tras la rectificación, volvemos a tener
continua, pero se supone que ahi la~ señales serán fuertes y, por tanto, el efec-
to del ruido y de los desplazamientos será mucho menor.
1 V= A(x)·sin(e t) 1
Filtro pasabanda
~ D
1-1o
tJlL
SE NSOR
~
X----1._
9 /
1 V= A(x)-sin(tDt) +Perturbaciones 1
Figura 7.3. Reducción de las perturbaciones (rui do + offset) en las señales de alterna antes de
obtener su amplitud.
Este esquema produce sistemas especialmente robustos ya que son bastante

inmunes a perturbaciones y no quedan afectados por desplazamientos y de-
rivac;.
El principal inconveniente de los sistemas de alterna cuya información está
en la amplitud es que son más complejos que los de continua; también
puede llegar a ser un inconveniente el hecho de que la salida siempre sea
positiva, es decir, no tiene signo. Más adelante veremos algún ejemplo de
esto.
EJEMPLO 7.1
Un determinado sensor produce una sefíal de alterna a 10 kHz cuya
amplitud guarda la información de la señal que mide. Si dicha amplitud
puede variar desde Oa 3 V di~eñe-un circuito paca obtener una tensión
de salida entre Oy 5 V que corresponda, respectivamente, a los extre-
mos de. medida del sensor.
Soluci6n:
Si utilizamos un esquema de tratamiento como el de la Figura 7.1, a la
salida del rectificador obtendremos una señal rectificada en doble onda
de la misma amplitud que la señal original. Empezando por la salida
del circuito, ahi se obtendrá un máximo ae 5 V que corresponderá a la
máxima amplitud, luego:
2
-· A=SV
rr
La amplitud necesaria para la señal seda de 7,854 V, por tanto eso obli-
ga a amplificar con una ganancia de 7,854 13 = 2,618.
3 12
TEMA 7. SENSORES CAPACITIVOS E INDUCTIVOS • •
Para de.finir la frecuencia de corte del filtro de paso bajo sabemos que
tiene que estar por debajo de 20kHz ya que la primera componente
armónica es de esa frecuencia. El valor de esa componente antes del
filtrado es:
4 3
V1 =-· =1,27V
7r 4·1 2 -1
Para definir el punto y a falta de mayores especificaciones sobre la diná-

mica necesaria para el sistema podemos poner la frecuencia de corte y
el orden del filtro en cualquier.Punto que cumpla la anterior condición,
peio si fijamos que el rizado residual no sea mayo.r de, por ejemplo, 10
m V y queremos usar un filtro de Butterworth de segundo orden, la ate-
nuación necesaria a 20 kHz serfa:
1,27
Atenuación = 20 · log 0,0 = 42 dB
1
Como un filtro de segundo orden introduce una atenuación de 40 dB 1

déc, bastaría con poner la frecuencia de corte algo más de una década
por debajo de 2kHz.
7 .1.2. MEDIDAS DE FASE

En algunos casos, la información puede estar contenida en la fase de la señal,
es decir, tendremos señales del tipo:
V= A· sin (mt + rp(x))
En realidad, cuando se habla de fase, nos estamos refiriendo a la diferencia

de fase entre dos señales de la misma fre.cuencia, una de referencia que consi-
deraremos con fase nula y otra, cuya expresión es la anterior, cuya diferencia
contiene la señal de interés. Generalmente, la variable a medir afecta a la fase
de la señal, modificándola.
La medida de desfase no es algo sencillo (da lugar a esquemas un tanto com-
plejos y artificiosos), pero hay disponibles varias opciones para ello.
Cuando la frecuencia de trabajo es elevada, ca~i todas las opciones pasan por
convertir la diferencia entre la~ dos señales en una señal digital. La primera
opción es una comparación de las señales para obtener una tercera señal que
contiene la información en el ancho de pulso (Figura 7.4).
Esto se puede conseguir escuadrando las señales senoidales para conseguir se-
ñales digitales de la misma fase y realizando después la función EXOR. Asf se
consigue una señal rectangular del doble de frecuencia que la original cuyo ci-
clo de trabajo, d (duty cycle) resulta el doble del desfase:
d= 2 · qi.x)
313
V" A·sin(m t + fl(x)1

SENSOR
Filtro de paso bajo
Vo
V: A·sin(m t)
Figura 7.4. Obtenci ón del valor del desfase entre dos señales med iante dos comparadores y una
p uerta EXOR.
El filtro de paso bajo obtendrá el valor medio, con lo que la tensión de salida será:
Vo = V., · d = 2 · V m · G"'x)
1"
Siendo V.. el valor máximo de la señal digital. Este valor debe ser cuidado
puesto que afecta a la medida y las puertas lógicas no siempre garantizan va-
lores estables. Según el caso, podría ser necesario incluir alguna etapa más
para garantizar que su valor sea constante.
El principal problema es que el rizado puede ser apreciable en relación con el
valor medio cuando el desfase es pequeño.
Si en lugar de hacer un promediado emplearnos un integrador que sume la se-
ñal durante un cierto tiempo, se produce una medida muy buena, pero obliga
SENSOR S
e
R
V" A·sln(m t)
Figura 7.5. Medida de fase mediante i ntegración. El i nterruptor S controla l a ventana de in tegra·
ción, al fi nal de la cual se obtiene a la salida una señal proporcional a la fase. El proceso de in te·
graclón elimina el ruido aleatorio pero es sensible al offset.
314
a usar algún sistema inteligente para llevar el control de la ventana de integra-

ción y realizar la conversión a digital al final de la mi~ma (Figura 7.5).
Este sistema tiene graves problemas como todos los que incluyen un integra-
dor analógico y es que este tipo de sistemas integra los errores con lo que se
deben usar dispositivos de muy bajo offset )', aun asf, suele precisarse una
ventana de integración suficientemente pequeña como para que el error no re-
sulte demasiado significativo. Habitualmente el integrador se realiza con ope-
racionales de tipo chopper que garantizan errores muy bajos.
La relación entre el desfase y la señal final puede modificarse con el valor de
la resistencia R, del condensador C o del tiempo que está abierta la ventana
de integración (S abierto) con lo que se tiene un control bastante bueno sobre
la ganancia total del sistema y, por tanto, sobre la sensibilidad de la medida.
Cuando la frecuencia de trabajo es baja, una solución habitual suele ser contar
pulsos de una señal de m uy alta frecuencia durante el tiempo que dura el des-
fase según se muestra en la Figura 7.6.
V= A ·sln(• t + fl(x))
CLK
SENSOR
Cuenta .----.....1...---,
R
F
CONTADOR
V= A·sln(m t)
Valor flnal
Figura 7.6. Med ida de f ase para señales de baja frecuencia: un contador cuenta el número de p ul·
sos que llegan d urante el tiempo de desfase entre las dos señales.
Ciclo a ciclo se puede obtener un valor digital proporcional al desfase cuya re-
solución depende de la frecuencia de la señal de cuenta. Pero si el tiempo de
desfase es corto (porque los desfases sean pequeños o porque la frecuencia sea
demasiado alta) sería necesario trabajar con una frecuencia de cuenta muy alta
para conseguir una resolución razonable.
EJEMPLO 7.2
Un sensor produce dos señales de 100kHz desfasadas entre 10 y 30 gra-
dos eléctricos. Si se quiere medir el desfase mediante un contador que
usa una señal de reloj de 10 MHz, ¿cuál es la máxima resolución que se
podifa conseguir? ¿A qué frecuencia de reloj se debería trabajar para
conseguir una resolución mejor dell %? Comente este último valor.
315
Solución:
El sistema que se propone es el que aparece en la Figura 7.6, en el que
el contador cuenta los pulsos de la señal de reloj duxante el tiempo que
duxa el desfase.
El tiempo al que corresponde el campo de medida del desfao;e se calcula
fácilmente a partir del periodo de las sefiales (10 ¡.ts) y resulta ser de
0,278 f.lS (para 10°) y de 0,833 llS (para 300). Si el contador tiene que con-
tar una señal de 10 MHz (periodo de O,l¡.ts) contaría entre 2 y 8 pulsos
lo que proporciona una resolución de 1 16, es decir un valor inaceptable
en casi cualquier aplicación.
Si quisiésemos conseguir una resolución meíor dell %, necesitaríamos
contar, al menos, 100 pulsos más para el mayor desfase que para el me-
nor. Eso significa que en la diferencia de desfases (0,833 - 0,278 = 0,555
¡.¡s) debería contar 100 pulsos, con lo que el periodo de la sefial de reloj
debería ser 0,555 1 100 = 0,00550 ¡.ts Lo que supone una frecuencia mayor
de 182 MHz. No es fácil encontrar un contador que vaya a esta veloci-
dad por lo que quizá sería mejor opción emplear un sistema diferente,
como el que se presenta en la Figura 7.5.
La medida de fase es muy robusta frente a la presencia de ruidos puesto que la

presencia de ese tipo de señales no afecta sensiblemente a la fase de la señal y
puede que no sea necesario el filtrado previo para seleccionar la frecuencia de
trabajo. Sin embargo, los requi<;itos de las etapas de amplificación son má~ duxos
que en otros casos ya que es necesario garantizar que el amplificador no afecta a
la fase de la sefiallo que suele obligar a usar valores muy elevados de GBW, mu-
cho mayores que los que son necesarios en el caso de una medida de amplitud.
EJEMPLO 7.3
Si la señal desfasada del Ejemplo 7.2 tuviese que ser amplificada con
una ganancia de 10, determine las especificaciones mínimas necesarias
del amplificador operacional que se debe utilizar para evitar que el
error sea mayor del1 %.
Solución:
El campo de medida de desfase del Ejemplo 7.2 es de 300- 10° = 200 con
lo que el error del 1 % significa que el amplificador no puede añadir
más de 0,2° de fase.
En un sistema de primer orden, como lo es la respuesta de un amplifi-
cador operacional, con una frecuencia de corte fe y ganancia 10, el GBW
sería de 10· fe· En ese sistema la respuesta frecuencial sería:
10
G(jw) = .
1 + )t.l
Z·rr·fc
316
La fase que introduce este sistema en función de la frecuencia es:

úJ
<p =-atan --"""
2 ·rr· fc
A 100kHz de frecuencia de trabajo la fase debe ser menor de 0,2°, es decir:

2 . 1t • 100000
O,2 =-atan F -> fc = 28,6 MHz
2 • 1C • )C
Eso nos conduce a que el GBW debe ser ¡cercano a los 300 MH.z!
7.1.3. CIRCUITOS DE MEDIDA EN ALTERNA

Los apartados anteriores presentan algunas ideas de cómo tratar señales cua-
lesquiera de alterna que porten información en alguna de sus variables, sea
cual sea el origen. Sin embargo, en muchos casos la medida se hace con un
di~positivo cuya impedancia depende de la variable a medir, ya sea su natura-
leza predominantemente capacitiva o inductiva. En tal caso, el sensor no gene-
ra por sí mismo ninguna clase de señal sino que es preciso excitarlo mediante
una fuente de alterna. Eso significa que ahora, además de la amplitud de la
excitación, tenemos una variable más con la que es posible jugar: la frecuen-
cia. Pero no acaban ahi las opciones; como quiera que la impedancia de medi-
da estará en el circuito junto a otras impedancia~, es posible usar los valores
de estas para conseguir optimizar el comportamiento del si~tema de medida.
Aunque la medida se puede hacer con un simple divisor de impedancias, el cir-
cuito en puente aporta más flexibilidad, por lo que casi siempre es preferible a
la otra opción. Las medidas con un puente de alterna pueden hacerse, como en
el caso de los puentes de Wheatstone por compensación o por deflexión; desde
el punto de vi~ta instrumental, la má~ interesante es la segunda de las opciones
mientras que la primera queda para medidas de alta precisión en laboratorio.
Ahora hay básicamente dos opciones para configurar el puente: la primera es
usar dispositivos de la misma naturaleza en cada rama, es decir, sólo capaci-
dades o sólo inductancia~, en cuyo caso la salida del puente resultará inde-
pendiente de la frecuencia; por lo contrario, si se mezclan entre sf, es decir, si
en una misma rama tenemos la inductancia de medida con un condensador o
una resi~tencia o la capacidad de medida junto a una inductancia o una resis-
tencia, tendremos una tensión de salida dependiente de la frecuencia.
El hecho de poder mantener el funcionamiento del puente de forma indepen-
diente de la frecuencia resulta un asunto crucial habida cuenta de que, en mu-
chos casos, el funcionamiento del sensor tiene una fuerte dependencia de la
frecuencia a la que trabaje; entonces, poder usar la mejor frecuencia desde el
punto de vista del sensor sin afectar al comportamiento del puente puede fa-
cilitar en gran medida el diseño del si~tema.
En la Figura 7.7 se muestran dos opciones para medida de inductancias y de
capacidades ba~adas en la idea de mantener la naturaleza de las impedancias
en cada rama.
3 17
E
'\_., B A A
(a) (b)
Figura 7.7. Puentes de medida para capacidades (a) y para inductanclas (b)
En el caso de medida de capacidad (Figura 7.7a) tenemos que la tensión de sa-

lida del puente es:
C1 · (1- k) -k · CZ
VAB = C1 + C2 E
Siendo k la fracción del divisor resistivo: k= R2 1 (Rl + R2). La condición de

equilibrio del puente se produce para:
k
C1 · (1- k) = k · CZ C1 = CZ · .,....-...,...
1-k
Con valores muy grandes de k, es decir, próximos a 1 el condensador Cl resul-

tará mucho mayor que C2, Juego si usamos este último como conden~ador de
medida, C2 = C(x), la expresión será bastante lineal en el entorno del punto de
equilibrio del puente y la tensión podrá escribirse como:
_ C1 · (1 -k)- k · C(x) _ ( C(x))

VAB - Cl E - 1 - k - k C1 E
Con valores muy pequeños de k el condensador Cl será mucho menor que C2.
Así, si Cl es el condensador de medida, es decir, Cl = C(x), la expresión será
también bastante lineal en tomo al punto de equilibrio:
VAB =
c(x) . (1 -k) - k . cz
cz E=
(e ) cz
1- k
C(x) )
- k E
La expresión para el puente de medida de inductancias de la Figura 7.7b re-

sulta ser muy similar:
LZ · (1 -k) -k · L1
V - E
AB - L1 + LZ
Y se pueden hacer las mismas consideraciones que en el caso del puente de ca-
pacidades.
El lector debe observar que en todos los casos, la señal de salida puede estar
en fase o en oposición de fase con la excitación por lo que el sistema de medi-
da no es sensible a la fase y sólo se puede hacer una medida de amplitud. En
3 18
ese caso, la amplitud será la mi~ma para el mi~mo valor de la diferencia, inde-
pendientemente de su signo. Esto es un problema porque el circuito de medi-
da no es capaz de distinguir un caso del otro.
Para resolver el problema, una opción es comparar la fase de la señal de
salida con la de la excitación lo que supone, en primer lugar emplear una
etapa para referir la primera al mismo punto p u esto que es diferencial.
Luego se introducen las dos en un comparador que proporcionará una se-
ñal digital que indica la fase (Figura 7.8). El resto del circuito proporciona
C2
Vo
FASE
Figura 7 .8. Detección del signo en las medidas de amplitud mediante una señal digi tal que indica
si la salida está en fase o en contratase con la señal de excitación.
FASE= 1 FASE= O
FA Sé
MPX
Vo
Figura 7.9. Aplicación del concepto de demodulador síncrono para la inclusión del signo en la lec·
tura de un sensor capaci tivo por medio de una medida de amplitud: tras la rect ificación. la señal
se invierte y la fase permite elegir entre la señal inver ti da o la original, de tal for ma que cuando
FASE = O se de}a pasar la señal original y, en caso contrario, la señal inver tida.
319
la medida de amplitud de la señal de salida, tal como se indicó en el apar-

tado 7.1.1.
Este sistema se puede completar con un amplificador de ganancia - 1 (en cual-
quier punto tras la rectificación) y un multiplexador controlado con la señal
de fase para producir una señal que incluya el signo. Un sistema así se deno-
mina demodulador síncrono (synchronous demodulator) y se muestra en la Pi-
gura 7.9.
EJEMPLO 7.4
Un sensor capacitivo puede variar su capacidad en función del valor de
la variable a medir desde 300 a 400 pF. Diseñe un circuito para obtener
una tensión entre Oy 5 V correspondientes, respectivamente, a los extre-
mos de medida.
Soluci6n:
Si utilizamos un puente de medida como el de la Figura 7.7a, la tensión
de salida vendrá dada por:
C1 · (1 -k) -k· C2
VAB = C1 + C2 E
Si C2 es el condensador de medida y fijamos la condición de equilibrio

para C2 = 300 pF:
k
C1 = 300 · (pF)
1-k
Para el otro extremo de medida:

k
300. . (1- k)- k . 400 k . (k - 1)
VAB -- 1-k k E-
- E
300 . . + 400 4- k
1 -k
Para que la medida sea lineal k debe estar próximo a l . Elegimos k =

0,99, la tensión de salida queda:
0,99. 0,01 .
"ÁB = _ 0, E = 0,00329 ·E
4 99
Si, por ejemplo, elegimos una fuente de 10 V de amplitud y 1 kHz de

frecuencia, la tensión máxima de salida sería de 32,9 m V. Esta señal será
amplificada, rectificada y filtrada según un esquema similar al que se
mostraba en la Figura 7.1. En estas condiciones, operando desde la sali-
da del sistema, para conseguir 5 V, se precisa una amplitud de la señal
rectificada de 5"1t 1 2 = 7,85 V, valor hasta el que habrá que levantar
la tensión de salida mediante una etapa de amplificación. La ganancia
de la etapa será G = 7,85 1 0,0329 = 239 (si hubiera especificaciones de
error, estas se usarían para definir el GBW del amplificador).
320
El filtro redbe una señal rectificada en doble onda, es decir, con una
frecuencia de 2 kBz, lo que obliga a trabajar por debajo de ese valor.
Sin especificaciones de dinámica para el conjunto podríamos bajar la
frecuencia de corte tanto como se quiera y reduciríamos el rizado re-
sidual a las cotas buscadas. Trabajando con un filtro de paso bajo de
Butterworth de segundo orden una década por debajo de la frecuencia
de la señal, es decir, a 200 Hz, será suficiente para reducir este rizado en
40 d.B (100 veces), lo que puede ser un valor razonable.
El conjunto del di~eño puede verse en la Figura 7.10, con las resistencias
de tal forma que consiguen el valor de k buscado y el valor del conden-
sador Cl como:
0,99
Cl = 300 · 29,7 nF
1- 0,99
Hay que destacar que en este caso no se emplea un demodulador sín-

crono porque hemos elegido el condensador de compensación de tal
manera que el puente se equilibra en uno de los extremos y, por tanto la
fase es del mismo signo en todo el campo de medida.
10V
"-'
1kHz
1----1 D 1--Vo
Butterworth 2t ordeo
fc • 2'00 Hz
Figura 7.10
Los esquemas de la Figura 7.7 permiten un diseño independiente de la fre-

cuencia, lo que proporciona mucha flexibilidad a la hora de diseñar y elegir
los valores correspondientes de los componentes; sin embargo, si se busca una
buena linealidad, existen limitaciones en el valor de k, la relación de resisten-
cias, que obliga a trabajar con valores próximos a l. Eso reduce la sensibilidad
del sistema y obliga a amplificar. Mejor sensibilidad se consigue usando redes
RC (o RL) en cada rama, aunque en tal caso, el sistema debe ajustarse en fre-
cuencia para conseguir un comportamiento razonable.
No obstante, el principal problema que presentan las medidas de capacidades
e inductancias está en los propios dispositivos que pueden incorporar efectos
resistivos parásitos (de hecho, siempre los incorporan) y que pueden llegar a
afectar a la medida seriamente. Del mismo modo, los parásitos de los cables,
tanto resistivos como inductivos, actúan de forma análoga, lo que añade una
complejidad adicional a la medida.
Supongamos, por ejemplo, la presencia de una resi~tencia parásita en paralelo
con el condensador (Figura 7.11). Esta resistencia está intrínsecamente en to-
dos los condensadores pero, en muchos casos su valor es muy alto con lo que
321
puede despreciarse. Sin embargo, en determinadas ocasiones, como cuando se

está trabajando con condensadores de medida de dieléctrico líquido, esta re-
sistencia puede llegar a ser relativamente baja y ser comparable o menor que
la impedancia del propio condensador.
B A
C(x)
Puentes de Maxwell-Wien y Hay

Cuando se miden inductan-
cias con una resistencia en serie Figura 7.11. Medida de capacidad teni endo en cuenta l a resistencia parásita en paral elo con el
apreciable se puede recurrir a condensador de medida.
una medida por compensación
mediante el puente de Maxwe- La expresión de la tensión de salida sería, en este caso:
ll-Wien:
k k e- e(x) ) - 1
jwRp ( 1-
V =k· E
AB 1 + jwRp(e + e(x))
Si representamos el módulo (amplitud) de esa expresión en función de la fre-
cuencia nos encontraremos con un gráfico como el de la Figura 7.12. Como se
observa, a bajas frecuencias, el efecto de la resistencia 1~ es mayor que el del
condensador C(x) y la salida no es sensible a la medida. Sólo a partir del pri-
Una vez que se consiga el equi- mer polo, m>> 1/ 1~-(C + C(x)), el sistema empieza a ser sensible a C(x). Final-
librio, actuando sobre C2 y R2: mente, cuando la frecuencia es mucho más alta:
Rl·R4 1
R3 = R2 w» 1 k
~3 = Rl · R4 · C2
Rp ( k e- e(x))
Otra opción es emplear el puen- la resistencia resulta despreciable frente a C(x) y la expresión de la tensión re-
te de Hay, que es similar al an- cupera un aspecto similar al que tenía el puente de la Figura 7.7a.
terior, aunque las expresiones
resultan un poco más complejas.
K·E -+----:.,
Zona de
sensibilidad nula (1 -k )(C- k·C(x))
C(x) +C E
Zona de medida
log ú/
En cualquiera de los casos, el
ajuste no es sencillo y la deci- 1
sión de hacer una medida por Rp( C(x) + e)
Rp ( 1 ; k e- c(x))
compcn.~01ci6n o6lo Gc juotilico
con la necesidad de obtener un Figura 7.12. Efecto de la presencia de una resistencia parásita en paralelo con el condensador de
valor de gran precisión. medida: se debe medir por encima de determ inada frecuencia.
322
Un análisi9 similar llevaría a conclusiones análogas en el caso de la presencia

de resistencias parásitas en serie con la inductancia de medida. Para estos ca-
sos, existen puentes específicos, como los de Max~-vell-Wien y Hay, aunque su
diseño y aplicación no son preci~amente elementales.
EJEMPLO 7.5
Un sensor inductivo produce una variación de inductancia entre 120
y 150 ¡LH. Dada la escasa variación se decide realizar un circuito reso-
nante como el de la Figura 7.13 sintonizado en el punto más alto de la
escala de salida. Disefie un circuito como este.
Sotucifm:
La frecuencia de la señal de excitación estará relacionada con el valor
del condensador del circuito resonante:
1
w=r.=~
.JL·C
Si elegimos una frecuencia de 10kHz, que es relativamente cómoda

para trabajar, el condensador resultará ser de 1,69 ¡LF. La amplitud de la
tensión de salida sobre la resistencia será:
En condiciones de resonancia, V = E, mientras que la tensión ser.á

menor en el otro extremo de medida ya que estamos fuera de reso-
nancia:
R R
V=.===============================E=,jR2 + 3,52 E
1 2
R2 + (120. 1o- 6. 2. n ·1o•- 2. n ·104 . 1,69 . 1o- 6)
Se puede fijar el valor de la resistencia para obtener una determinada

tensión, pero hay que tener en cuenta que, en el momento de la reso-
nancia, la resistencia es la única limitación para la corriente. Es decir,
si se quiere mucha sensibilidad, R deberá ser baja, pero eso produci-
rá corrientes importantes cuando estemos en resonancia. Como en el
enunciado nada nos han especificado acerca de la máxima corriente que
puede circular podríamos elegir cualquiera, pero debe imperar el senti-
do común. Si fijamos E = 1 V, para que circulen 100 mA como máximo,
la resistencia debería ser de 10 O, en cuyo caso, la tensión de salida osci-
lará entre 1 V (para el máximo valor de la inductancia) y 0,983 V.
Como se puede observar, la variación de tensión de salida no es tan
grande como podría suponerse en un principio debido, fundamental-
mente, a la limitación que hemos impuesto a la máxima corriente.
323
Desgraciadamente, la presencia de parásitos en serie y 1o paralelo con los dis-

positivos de medida es muy frecuente, empezando por los cables empleados
en el conexionado. E.c; más, un análisis más profundo nos llevaría a emplear un
modelo más complejo tanto para los sensores como para los cables en los que
aparecieran las resistencias, capacidades e inductancias parásitas lo que com-
plicaría en gran medida la obtención de una expresión explícita manejable.
En algunos casos, cuando se están haciendo medidas de componentes capa-
citivos o inductivos se recurre a una medida de tipo resonante. El objetivo es
incrementar fuertemente la sensibilidad al trabajar en zonas próximas a la reso-
nancia. Por ejemplo, supongamos un circuito como el de la Figura 7.13 en el que
o bien la inductancia o bien la capacidad son función de una variable externa.
e L
• •
E
l r'V R
...1 Vo
Schmitt-trigger
Este es el nombre que recibe Figura 7.13. Circuito resonante para Incrementar la sensibilidad de la medida trabajando en las
zonas próximas a la resonancia.
un comparador con histéresis
desarrollado por el ingeniero
estadounidense Otto Herbert El diseño del sistema se hace para que la reactancia que no actúe como sen-
Schmitt (1913-1998) cuando aún sor esté próxima a la resonancia en el campo de medida de la reactancia senso-
era un estudiante. Con poste- ra. De esa forma se consigue una señal intensa y una buena sensibilidad ante
rioridad, formalizó el desarro- cambios pequeños de la variable a medir. Finalmente, la resistencia estará cal-
llo en 1937 en su tesis doctoral. culada para limitar la corriente que circule.
En esencia, es un comparador
con realimentación positiva que
establece dos niveles de com- 7 .1.4. FUENTES DE EXCITACIÓN PARA PUENTES
paración, con la histéresis co-
DE ALTERNA
rrespondiente a la diferencia
entre esos dos valores.
Uno de los principales problemas con los que nos tropezamos en el caso de lac;
Se puede realizar con un opera- medidas de alterna es la obtención de la fuente de excitación, que debe ser esta-
cional: ble en sus características¡ para el cac;o de una medida de amplitud, debe mante-
ner constante su amplitud pues e.c;te parámetro forma parte de la expresión de la
tensión de salida de los circuitos de medida. En el cac;o de una medida de fase, la
frecuencia es un valor crucial puesto que de ella depende la fase de la salida Ade-
más, como hemos visto, en algunos casos, la frecuencia también puede formar
parte de la expresión de salida para la medida de amplitud con lo que, en general,
Sin embargo, lo más frecuente se deberá preservar la constancia de la forma de onda de la señal de excitación.
es recurrir a puertas lógicas (in- Hac;ta ahora hemos usado señales senoidales para la excitación, pero podemos
versoras, NOR o NANO) que planteamos la posibilidad de usar otro tipo de señales más sencillas de obte-
con un mecanismo de carga y
ner, como las señales de tipo cuadrado; los puentes de medida de amplitud en
descarga de un condensador
permiten obtener un oscilador
los que la salida no depende de la frecuencia, pueden alimentarse con señales
mientra..os el valor de ten.o;ión del cuadradas ya que, a todos los efectos, la señal cuadrada contiene una compo-
condensador va desde uno a nente principal senoidal de la misma frecuencia y otra~ señales armónicas de
otro nivel de comparación. frecuencias 3, 5, 7... veces la principal:
324
00
2 · A"' sin( (Zn- 1)wt )
VsQ =- re- L. Zn - 1
n =1
Sin embargo, la presencia de una señal no senoidal en el circuito del rectifica-

dor de precisión desvirtúa el valor de la señal de salida y aunque el valor fi.
nal se puede recalcular, el comportamiento del propio circuito de rectificación
en función de la frecuencia (el amplificador operacional) puede introducir ate-
nuaciones no previstas en alguno de los armónicos con lo que la salida final se
desviaría de la previ~ta.
Exi~ten muchos circuitos capaces de producir señales senoidales; son los os-
ciladores senoidales que están formados por estructuras clásicas como los
circuitos de Hartley; Colpitts o Wien. En todos estos casos, la frecuencia de os-
cilación depende de los valores de condensadores y resi~tencias, con lo que es
fácil llegar a una elevada incertidumbre. Una opción para solventar este pro-
blema puede ser el empleo de cri~tales de cuarzo que garantizan una frecuen-
cia muy estable¡ con ellos se puede montar un oscilador de Pierce (derivado
del oscilador de Colpitts) o un oscilador de Hartley con cristal. Así se consi-
gue una buena estabilidad en frecuencia, aunque requiera un di~eño cuidado-
so, ajustes y sólo permita obtener frecuencias muy elevadas (por encima de 1
MHz) para los cri~tales habituales, frecuencias que pueden ser poco adecua-
das para muchos de los circuitos de medida.
Además, en casi todos los ca~os, el problema radica en la poca estabilidad de
los valores de la amplitud lo que es un problema muy grave cuando se pre-
tende que estos sistemas sean la fuente de excitación de un puente de medi-
da. Claro está que siempre es posible incluir un circuito de control de ganancia
que termine por fijar relativamente bien el valor de la amplitud. Esto da lugar
a circuitos ba~tante complejos y con una cierta problemática de ajuste.
Una de las soluciones más cómodas es uBar un circuito de onda cuadrada y
utilizar un filtro pasabanda para seleccionar la frecuencia de trabajo. Tiene la~
ventajas de que es muy sencillo obtener ondas cuadradas mediante un circui-
to digital y de que a partir de ellas se podría obtener la frecuencia fundamen-
tal o uno de sus múltiplos sin más que sintonizar adecuadamente el filtro. La
obtención de ondas cuadradas puede hacerse mediante un oscilador con un
R Filtro pasabanda
'>.
e y (a)
T f
Filtro pasabanda
f 1
1)-
y Divisor por n - (b)
c:::::J
T T fin
Figura 7. 14. Obtenciún de una ~enoidi:t l med i cul te filtrado a pddir de una ::,eiial cuadfada obtenida
directamente de la oscilación de un sencillo Schml tt·trigger (a) o tras una división de frecuencia de
una senal de alta frecuencia generada por un oscilador a cristal (b).
325
inversor Schmitt-trigger con una red RC (Figura 7.14a) o mediante la división

de una señal de alta frecuencia producida por un oscilador a cristal que pro-
porciona gran estabilidad en frecuencia (Figura 7.14b).
Tras el circuito, sea el que sea, se situará el filtro pasabanda para el cual se se-
leccionará la frecuencia central con el fin de que deje pasar el componente
principal de la señal o cualquiera de sus armónicos. Obviamente, en muchos
circuitos de medida hay algún dispositivo de tipo microcontrolador o micro-
procesador que suele necesitar una señal de reloj para poder trabajar. Usar
esta señal como semilla para la división de frecuencia puede ser una alternati-
va válida para m uchos casos.
Si la señal que se usa como partida es una señal cuadrada, es posible que la
Q del filtro no sea lo suficientemente buena como para garantizar un buen fil-
trado, por lo que siempre debe evaluarse el contenido residual de armónicos
para saber si van a afectar o no al funcionamiento del puente.
EJEMPLO 7.6
Un sistema de acondicionamiento de señal para un condensador de me-
dida utiliza un dispositivo microcontrolador que trabaja con una fre-
cuencia de reloj de 12 MHz. Si el sistema de medida precisa una señal
de excitación en el entorno de 20 kHz, diseñe un si~tema para obtenerla
a partir de la frecuencia de reloj. ¿Qué otras señales se podrían conse-
guir fácilmente de la misma manera?
Soluci6n:
Para obtener la frecuencia que necesitamos deberíamos dividir por
12000 kHz 1 20kHz= 600. Aunque podrfa co~~guirse un divisor exac-
to de esta cantidad mediante contadores, lo cierto es que la señal que se
conseguiría no serfa totalmente cuadrada sino rectangular con lo que el
nivel del primer armónico no serfa tan alto. Sin embargo, eso no ocurre
si trabajamos con divisiones que sean potencia de 2; la más cercana a
600 es 512 (29), que producirla una señal de-12000 1 512 = 23,4 kHz, que
estár efectivamente, cerca de los 20kHz.
Para conseguirla se utilizaría un divisor de frecuencia (por 512), que se
puede montar de muchas formas, por ejemplo, con un divisor de 256 y
un biestable T o con dos divisores por 16 estándar y un biestable T (Fi-
gura 7.15). Detrás, ponemos un filtro pasabanda centrado en 23,4 kHz y
conseguimos la señal deseada.
Microcontrolador
_[-U--
T T
L... Conrador1 6
A e e o
L_
Contador1 6
A 8 C D
L
T
Q¡ -
Q ~ ~~~z -
Figura 7. 15
Si el ~i~tPm>l dieital <JifP produCP. '" división rlP frP.ruenci,-, producf.> SP.ñ>l-
les entre O y 5 V, la amplitud del primer armónico viene dada por:
326
2. 5 1
V234kllz= - - · =3,18V
1 1f 2 1
o -
1
A partir de ese valor, se podrla amplificar o reducir según fuese nece-

sario. Sin necesidad de cambiar mucho el circuito podríamos conseguir
otras señales correspondientes a los siguientes armónicos sin más que
modificar la frecuencia central del filtro pasabanda. Por ejemplo, el si-
guiente armónico se produce para una frecuencia de 3·23,4 = 70,2 kHz y
tendría una amplitud de:
2. 5 1
V1o.2 kllz = rr · 2 . 2 _ l = 1,06 V
Del mismo modo, se podrían obtener señales de 5·23,4 = 117kHz,

7·23,4 =164kHz, etc. Con el mi~mo circuito, también podríamos con-
seguir otras señales, tomando como origen las señales cuadradas de
salida del último contador (46,8 kHz) y sus armónicos impares (3·46,8,
5·46,8, etc.) o cualquiera de las salidas anteriores de las distintas etapas
de cuenta. En la Figura 7.16 se muestran algunas de estas posibilida-
des. El lector puede pensar acerca de un circuito capaz de producir
diversas señales usando multiplexadores analógicos y filtros de capa-
cidades conmutadas con los que se puede mover "fácilmente" la fre-
cuencia central.
-
Microcontrolador
~
23,4 kHz
-~- - COntador 16 Contador 16 T

or- r-- 70,2 kHz
117kHz
T T A a e o A a e o 1S
L L
~
46,8 kHz
r-- 140kHz
234 kHz
~
93,7 kHz
r-- 281kHz
468kHz
Figura 7.16
Si el filtro pasabanda se construye con resistencias y condensadores, la va-

riación en los valores de estos resulta determinante en el valor de la frecuen-
cia central y, por tanto, en la amplitud de la señal de salida cuando esta no
coincida exactamente con esa frecuencia central, como se muestra en la Figu-
ra 7.17.
Para evitar el problema es recomendable el uso de un filtro de capacidades
conmutadas de modo que la frecuencia central sólo dependa de la frecuen-
cia de reloj. De hecho, si se usa la misma frecuencia de reloj para el filtro
que la usada para obtener la forma de onda cuadrada, se consigue un os-
327
Sistema con
cambios en R y/o C Pérdida de señal
Sistema bien
sintonizado
Frecuencia de
trabajo
Figura 7. 17. Efectos sobre la respuesta frecuencial de tol erancias y derivas en los valores de l os
elem entos pasivos del filt ro que se pueden traducir en cambios de gana nci a a la frecuencia de
trabajo y, por ello, cambios en la señal.
cilador síncrono, un sistema ultra estable en frecuencia y amplitud (Figu-

ra 7.18).
Señal cuadrada Señal cuadrada

FRECUENCIA: f FRECUENCIA: f/50
Filtro de
capacidades
~ Divisor por 50 conmutadas
...L ~ (PASABANDA)
T CLK
Señal se noida1
FRECUENCIA: f /50
Figura 7.18. Oscilador con filtro sfncrono de capacidades conmutadas (por ejemplo, un LMFlOO).
Como t odos los parámet ros dependen de dispositivos digitales, no hay más derivas que las que
pueda produci r el cristal. y estas son muy pequeñas.
Finalmente, existen circuitos especf.ficos para trabajar con si~temas de medida

de alterna que proporcionan un oscilador aceptable y los sistemas de ampli-
ficación y tratamiento de las señales producidas por el circuito de acondicio-
namiento. Algunos de estos sistemas son el NE5521 de la firma NXP (NE5521.
pdf) o el AD698 de Analog Devices (AD698.pdf).
7.1.5. SELECCIÓN DE LOS DISPOSITIVOS DEL PUENTE
En los puentes de medida, la presencia de dispositivos pasivos puede suponer

una fuente adicional de incertidumbre cuando sus valores no sean suficiente-
mente precisos o estables. Más allá del uBo de resi~tencia~ estables para el di-
visor resistivo, la necesidad de emplear un condensador o una bobina para la
rama de medida introduce errores debidos a la tolerancia de los valores y a la
variación de estos con parámetros como la temperatura.
El efecto es mucho más notorio en el ca~o de los condensadores, pero lo cier-
to es que coru;eguir capacidades con tolerancias bajas no es fácil y, rnáJ> aún, la
variación térmica de la capacidad puede llegar a ser muy significativa. Supon-
328
gamos un puente como el de la Figura 7.19, en el que el condensador Cl tie- Coeficiente térmico de los con-
ne una tolerancia determinada que hace que su valor pueda variar en un valor densadores
de hasta t.Cl. Este par ámetro, TCC (Ternpe-
rntu.re Coefficient of Capacitance)
determina las variaciones que
C1 + !lC1 los condensadores p.resentru\ en
función de la temperatura.
v,.. En gene.ral, se habla de dos cla-
B A
ses en función de su comporta-
C(x)
miento:
Clase 1: condensadores con
variaciones muy pequeñas en
función de la temperatura. Las
Figura 7.19. Puente de medida para capacidades en el que se manifiesta la tolerancia del conden· variaciones suelen ser de algu-
sador de compensación Cl. nas ppm/"C, aunque el valor
conc.reto depende de cada tipo.
El efecto sobre la tenc;ión de salida se traduce en: Clase 2: condensadores con va-
riaciones altas en fw\ción de la
(Cl- t.Cl) (1 - k) - kC2 temperatura que pueden llegar
VAB -- E
Cl + ~Cl + C2 hasta más del 50 % del valor
nominal. Nuevamente, el valor
Jo que causa un error del mismo orden que la propia tolerancia. El efecto de concreto depende de cada tipo
las tolerancias en las resistencias se manifiesta de la misma forma en el valor de dispositivo.
de k, pero es más fácil (y barato) conseguir resistencias de baja tolerancia que
condensadores de baja tolerancia y sobre todo con bajo coeficiente térmico.
7 .2. SENSORES CAPACITIVOS
Los sensores capacitivos son dic;positivos pasivos en los que alguna variable
afecta a cualquiera de los parámetros característicos de un condenc;ador, con Jo
que esa variable determina el valor final de la capacidad.
7.2.1. CONDENSADORES PLANOS
La idea más sencilla de un condensador es el formado por dos placas parale-

las separadas por un material dieléctrico, como se muestra en la Figura 7.20.
d.~~------------.---__J
Figura 7 .20. Condensador plano formado por dos placas paralelas, separadas por un dieléctrico.
329
Asumiendo que la separación entre placas es muy pequeña en relación con el

área, se puede asumir que el campo eléctrico es uniforme y que todas las lí-
nea~ de campo son perpendiculares a las placas. En esa~ condiciones, la capa-
cidad resulta ser:
S
e=E-d
Donde E es la constante dieléctrica del medio, S es la superficie y d, la dis-

tancia entre las placas conductoras. Cualquier variable que afecte a uno de
esos parámetros afectará, en consecuencia, al valor resultante de la capacidad.
Cuando la variable afecta linealmente a ¡; o a S, la expresión de Ces lineal con
la variable a medir, mientras que si d es proporcional a la variable, el valor del
condensador será inversamente proporcional a la variable a medir. Esto tiene
implicaciones en la linealidad de la expresión final de la tensión del puente de
medida. En el caso de C = K·x, lo dicho en el apartado 7.1.3 es perfectamente
válido mientras que cuando ocurra que C = K 1 x, el problema de la linealidad
tendrá que replantearse en otros términos; en este caso, con un circuito como
el de la Figura 7.21, la expresión que se obtiene es:
e . (1- k)- k . e(x) e· (1 - k) - k · xK

VAB = e + e(x) E = K E
e+-
x
Guardas de condensadores
En algunos casos, cuando una
de las placas del condensador
mide usando la dis1ancia entre
placas como parámetro, el valor
de la superficie puede llegar a E_,
'\.._., B A
ser dema~iado pequeño en rela-
ción con esa distancia. Entonces
el campo eléctrico no es perpen- C(x) =K/ x
dicular a la superficie en toda
ella y la expresión simplificada
no resulta demasiada exacta.
Para seguir garantizando un Figura 7.21. Circuito en puente para medida de capacidades con un condensador con dependencia
campo eléctrico aproximada- Inversamente proporcional a la magnitud que mide.
mente perpendicular pueden

usarse guardas alrededor de la El valor de la tensión resulta ser, finalmente:
placa móvil; consisten en una
placa fija al mismo potencial e · (1 - k) ·X- k ·K
que la placa móvil pero que vAB = e . X+ K E
ayuda a mantener las condicio-
nes de perpendicularidad del El criterio para elegir la fracción k del divisor resistivo con la finalidad de con-
campo.
seguir el equilibrio del puente para un determinado punto de medida y maxi-
mizar la linealidad en torno a él depende del valor de la constante K que, a su
vez, depende del condensador de medida.
Desde el punto de vi~ta del sensor, los cambios en superficie y distancia ten-
drán un origen mecánico, con lo que la variable que miden es el desplaza-
miento o cualquiera de sus variables derivadas: velocidad, aceleración, fuerza,
presión... Los cambios en la constante dieléctrica también pueden deberse a
330
variaciones de posición, pero lo más frecuente es que la causa sea un cambio

físico, como la humedad, químico, como la concentración de alguna sustancia,
o biológico. En la Figura 7.22 se muestran algunas aplicaciones en la medida
de posición de un condensador plano.
En el caso de la medida del desplazamiento de una placa respecto de la otra
en sentido horizontal, como en la Figura 7.22a, el valor del condensador será:
a· (b - x)
e= e _...:.....,d--'-
Si el desplazamiento que se pretende medir es el del dieléctrico (Figura 7.22b)

la expresión de la capacidad será:
a · (b- x) a· x
e= e d + Eo d
Siendo e la perrnitividad del dieléctrico y e0 la perrnitividad del vacío. En cual-

quiera de los casos anteriores la ventaja de la medida de posición con este tipo
de sistemas es que no presenta problemas de rozamiento ya que las dos super-
ficies no están en contacto físico entre sf.
K=O S = a·(b - x)
X S= a·K
x=O
(a) (b)
Figuro 7.22. Condensador plano para la medida de desplazamientos en uno de los ejes. La super·
f lcie queda afectada por el valor del desplazamiento.
En el caso de la medida del desplazamiento vertical de las placas, la capaci-

dad será:
S
e= Eo --:--
d-x
Obviamente, como el lector habrá podido observar, los dos primeros casos
permiten desplazamientos apreciables mientras que en el tercer ca~o el campo
de medida es mucho más limitado.
Un sensor capacitivo bastante habitual, en el que la variable física afecta a
la constante dieléctrica del medio es el sensor de humedad capacitivo. Está
constituido por dos placas electrodos, una de ella~ porosa, con un material
dieléctrico entre ellas formado por un polímero higroscópico en una capa muy
fina para facilitar el humedecimiento y secado rápidos (Figura 7.23).
Estructuras de este tipo producen una buena sensibilidad ya que la variación
de capacidad puede superar el30 % para el campo de medida (5 a 95 % de hu-
medad relativa). Además, tienen un buen comportamiento con la temperatura
puesto que la capa polimérica presenta gran estabilidad.
331
Electrodo poroso
N~ff-- Material
higroscópico
Figura 7 .23. Constit ucíón de un sensor de humedad capaci tivo.
EJEMPLO 7.7
Un sistema de detección de movimiento en un eje está compuesto por
dos placas metálicas dispuestas como se muestra en la Figura 7.24, sobre
las que se sitúa un dieléctrico de teflón de 0,5 mm de espesor (e, = 2,5)
y una placa cuadrada de 10 x 10 cm que se puede mover de derecha a
izquierda y viceversa.
0,5 mm
10 cm
16cm 10 cm 16cm
Fígura 7.24
Determine la curva de calibración del sistema de medida. ¿Cuál es el

campo de medida del sensor?
Solución:
En el sistema aparecen dos condensadores: el primero se forma con la
p laca móvil y la placa fija deJa izquierda (Cl) y el segundo, entre la
placa móvil y la placa fija de la derecha (C2). Supongamos que la placa
móvil se desplaza, por ejemplo, hacia la izquierda, sentido que con~ide
raremos como positivo. Aunque ninguna de las dos capacidades es nula
nunca, supondremos que sf lo es cuando la placa móvil no está encima
de la placa fija correspondiente.
Si llamamos x a la distancia que la placa móvil se ha desplazado a la
izquierda, el condensador Cl tendrá como valor:
X ·01
Ct = 2,5 . S,B54. t o - 12
O,OO~S = 4,43 . x [nF]
332
En el momento en que toda la placa móvil esté sobre la placa fija ya no

se incrementará la capacidad y manténdrá el valor que tenía para x = 10
cm, es decir, 443 pF. Cuando alcance el extremo izquierdo (x = 16 cm),
comenzará a salir y el condensador Cl caerá, según:
C1 = 2 5 · 8 854 · 10-12 0' 1 . ( 0' 1 + (0,16 - x)) = 4 43 · (O 26 - ) [nF)

' ' 0 0005 ' ' X
'
Expresión que será válida hasta x = 26 cm. El condensador C2 se com-
portará igual que este para valores de x negativos. En la l'igura 7.25 se
muestra la curva de calibración pedida.
Como se puede observar, independientemente del tamaño de las pla-
cas fijas, el alcance y el campo de medida queda determinado por el
tamaño de la placa móvil: [- 10, 10] cm. Fuera de esa zona, aparece un
máximo y áreas con sensibilidad nula.
C1, C2
C1 C2
26 16 10 -10 -16 -26
Figura 7.25
R
Placa móvil
e
Placa fija .!J--o
SONIDO
SONIDO+l-¡.~ E
·r- •• ~
Vo
(a) (b)
Figura 7.26. Micrófono de condensador : (a) el sonido hace vibrar la placa móvil con lo que se
modifica la capacidad; (b) el c ircui to de acondicionamiento emplea una polarización con tensión
continua que permite almacenar carga en el condensador; el cambio de la capacidad con una
determi nada carga alm acenada provoca cambios en la tensión y, m ediante el condensador C,
se elimi na la continua para dejar paso sólo a la se~al de alter na que es "proporcional" al sonido
recibido.
333
Otro ejemplo de sensor capacitivo plano es el micrófono de condensador que

consiste en un condensador con una placa fija y otra con una cierta capacidad de
movimiento (Figura 7.26a). Cuando una onda de sonido alcanza a la placa mó-
vil, esta vibrará a la frecuencia del sonido lo que se traducirá en acercamientos
y alejamientos a la placa fija, es deci.t; cambios en la capacidad del dispositivo.
Como aspecto curioso, este sistema no se excita con ninguna ten9ión alterna
como los demás sensores capacitivos sino que se polariza en continua y son
los cambios de capacidad los que producen la aparición de cambios de ten~ión
(Figura 7.26b).
El micrófono de condensa-
dor fue inventado en 1916 por 7.2.2. CONDENSADORES CILÍNDRICOS
Edward Cristopher Wente,
mientras trabajaba en los Labo- Los condensadores cil:fndricos están formados por dos electrodos cillndricos
ratorios Bell. E. C. Wente, como
concéntricos que hacen las veces de placas del condensador y un dieléctrico
solía firmar sus publicaciones,
entre ellas según aparece en la Figura 7.27.
fue un físico es tadounidense
doctorado por Yale que se pue-
de considerar uno de los pione- o?'1
ros de la Electrónica relacionada
con el sonido.
El micrófono de conden.~ador
presenta unas excelentes carac-
terísticas para la captura de las L
señales de audio y se usa siste-
máticamente a nivel profesional. Figura 7.27. Condensador cilíndrico formado por dos electrodos concéntricos y separados por un
Puede alcanzar gran sensibili- dieléctrico.
dad ya que no hay demasiadas
limitaciones al tamaño de la La capacidad de un conden~ador como ese viene dada por la expresión:
membrana móvil, pero su prin-
cipal inconveniente es su depen- 2rr·&·L
dencia de la humedad y de la
e= -......--
In R2
temperatura. R¡
En la fotografía, E. C. Wente con
un micrófono de condensador Ahora las posibilidades de medida pa~an por variables que afecten a la cons-
(cedida por Larry Huffman, tante dieléctrica del medio o a la longitud enfrentada L y, en ambos casos, la
ww1v.stokowsk.i.org). capacidad varía linealmente con estos dos parámetros.
Con este tipo de conden~adores se puede medir desplazamiento (y las corres-
pondientes variables relacionadas con él) y proporcionan una solución más
compacta físicamente hablando que la que ofrecerían los conden~adores pla-
nos (Figura 7.28).
DESPLAZAMIENTO
L- x
&
X
Figura 7.28. Medida de desplazamiento con un condensador cilíndrico.
334
Sin embargo, una de las aplicaciones más habituales para los condensadores
cilíndricos es la medida de nivel en depósitos. La idea es muy sencilla y se
basa en la diferente permitividad del liquido y de la atmósfera que produce
una capacidad mayor a medida que el nivel es más alto (Figura 7.29).
La capacidad en este caso vendrá dada por la suma de los dos condensadores
que se producen (están en paralelo) uno en la parte del depósito que contiene
el liquido y otro en la parte superior:
2rr · e· x 2rr · e0 · (H- x) Zrr · e0
C= R + R = R ((er-1)·x+H)
In --1. In --1. In --1.
Rt Rt Rt
Donde e, es la permitividad relativa del líquido.
e
J>J>
Condensadorcilf~ ij
..
Atmósfera
H-><
Lfquklo en el depósito H
6 }(
Figura 7.29. Medida de líquido en un depósito mediante un condensador cilíndrico.
EJEMPLO 7.8
Se pretende medir el contenido de aceite mineral (e, = 2,8) que hay en
un depósito de 1,5 m de diámetro y 4 m de altura. Para ello se usa un
condensador cilindrico que ocupa toda la altura del depósito, con radio
interior de 1 cm y radio exterior de 1,5 cm. Diseñe el sistema que pro-
porcione una señal entre Oy 5 V proporcional a la altura del líquido en
el interior.
Solución:
El sistema de medida que se propone es como el que se muestra en la
Figura 7.29 con lo que la capacidad vendrá dada por:
Zrr · e0
C= O,QlS ( (2,8 - 1) · x + 4)
In 0,01
C = 137 · (1,8 · x + 4) [pF]
Con el depósito totalmente vacío, el valo.r deJa capacidad sería de 548 pE

mientras que con el depósito totalmente lleno (x = 4), la capacidad serfa
de 1530 pF. Si usamos un puente de medida como el de la Figura 7.7a y
elegimos el valor de k= 0,95, la condición de equilibrio del puente serfa:
335
k
C1 = C(x) · _k
1
Si obligamos a que el puente tenga salida nula para el punto más bajo de
la escala (cuando el depósito está vacío (C(x) = 548 pF), tenemos que Cl re-
sulta ser de 10,4 nF. En esas condicione~, la tensión de salida del puente es:
C(x))
VAB = ( 0,05-0,95 E con C(x) en [pF)
10400
Si suponemos el puente alimentado con una ten~ión de 5 V de amplitud

y 1 kHz de frecuencia, el valor máximo que puede dar el puente se pro-
duce para la condición de depósito lleno (C(x) = 1530 pF) y resulta tener
una amplitud de 449 m V.
El circuito de medida de amplitud se realizará con un amplificador, un
rectificador de precisión y un filtro de paso bajo como el que se presenta
en la Figura 7.30 cuyo cálculo es similar al presentado en el Ejemplo 7.4.
•
••
L___
f--ID.
__J
vo
Fígura 7.30
7.2.3. CONDENSADORES DIFERENCIALES

Una estructura muy habitual dentro de los sensores capacitivos es la del con-
densador diferencial, formado por tres placas metálicas, de las cuales dos es-
tán fijas y la otra es móvil, como se presenta en la Figura 7.31
Placas f ijas
d C1 Placa móvil
-+----.....:¡::::=--
d
C2
Figura 7 .31. Condensador dllerenclal formado por dos placas fijas y una móvi 1 y su equivalente de
circui to.
336
Como se puede observar, aparecen dos efectos capacitivos, uno ligado a las
dos placas superiores y otro, a las dos placas inferiores. Si la placa o electrodo
central está situada de forma equidistante de las otra~ dos placas, ambas capa-
cidades son iguales:
S
Cl = C2 =E -
d
Sin embargo, si producimos un pequeño desplazamiento x de la placa central

(Figura 7.32), la~ dos capacidades se modifican:
S S
Cl =E-:--- C2 =E-:---
d-x d +x
l
Figura 7 .32. Movi miento de la placa central de un condensador diferencial.
Si usamos los dos condensadores Cl y C2 para formar una de las ramas de un

puente de medida como se indica en la Figura 7.33 y en la otra rama se em-
plean dos resistencias del mi~mo valor, la tensión de salida será:
VAB =( Cl - ~) E = - :_ E
Cl + C2 2 d
Con lo que la amplitud de la tensión es directamente proporcional al despla-

zamiento de la placa intermedia.
C1
E,_, B A
rv
C2
Figura 7.33. Puente de medida para un condensador diferencial.
El signo carece de interés en la amplitud y será la fa~e y el sistema de demo-

dulación síncrona quienes determinen qué sentido de desplazamiento se con-
sidera positivo o negativo.
337
La aplicación de los sen.<;ores diferenciales es muy extensa ya que la estructura

puede usarse de forma muy simple para la medida del desplazamiento y de
todas las magnitudes derivadas, tales como la aceleraciól\ la fuerza o la pre-
sión. De hecho, las aplicaciones de este tipo de sensor son muy parecidas a las
que se encontraban en el caso de las galgas extensométricas (Apartado 6.4.4) y
compiten eficazmente con ellas.
En la Figura 7.34 se muestra la estructura tfpica de uno de estos sensores ca-
pacitivos diferenciales para la medida de presión diferencial. A partir de él, re-
sulta muy sencillo pensar en las mismas aplicaciones derivada<> de la presión,
tales como el caudal o el nivel de líquido en esquemas muy similares a los que
se presentaban en el tema anterior, en la<> Figuras 6.41 o 6.42.
P,
P; >P,
Diafragma .--~ Ct>C2
(placa mó,•ill
p,
Zona de presión P2 P,
Figura 7.34. Est ructura básica de un sensor de presión diferenci al basado en un condensador
diferencial. La placa móvil es un diafragma que se acerca a las placas f ijas superior o inferior en
función de la diferencia de presiones. Las placas superior e inferior son lo suficientemente porosas
como para permit ir que la presión se propague sin dificultad a la zona correspondiente.
En el caso del sensor de la Figura 7.34, el valor del desplazamiento sería

el promedio del cambio de la membrana respecto de la posición de reposo
y, aunque no pueda hablarse estrictamente de un campo eléctrico perpen-
dicular a las placas, la expresión abreviada que estamos usando resulta lo
suficientemente precisa como para poder utilizarla en la mayoría de las apli-
caciones.
Con estas dos opciones sobre la mesa, el lector puede preguntarse cuál resul-
ta mejor. 'La respuesta es simple y se puede deducir de una sencilla búsque-
da de di'>positivos para este tipo de medida: existen versiones comerciales
de los dos tipos por lo que ambos tienen aplicación. Pero si queremos encon-
trar una respuesta a esa pregunta en el contexto de una aplicación concreta
debemos planteamos las ventajas e inconvenientes de cada una de las solu-
ciones:
• Las medidas en alterna son más robustas que las medidas en continua
puesto que puede reducirse fuertemente el ruido y los cambios de nivel
gracia<> a poder sintonizar el circuito de medida con la frecuencia de la señal
de excitación. La conclusión es que los sensores capacitivos son más insen-
sibles a p erturbaciones que los basados en galgas.
• Las medidas de alterna son mucho más complejas que las medidas en
continua debido a los esquemas de los circuitos de acondicionamien-
to. DP.I mismo moclo, lns "'PñaiPs ciP P.)(ritllrión en lll tPrnll rPsu ltan m~s
difíciles de conseguir y la estabilidad de sus parámetros característicos
(frecuencia y amplitud) es menor que la estabilidad de una fuente de con-
338
tinua. Así, la complejidad de los circuitos hace que los sensores capaciti-
vos sean más complejos, más caros y algo menos fiables que los basados
en galgas.
• Las galgac; extensométricas presentan una fuerte dependencia de la tempe- Smart-serrsors
ratura (sobre todo en el caso de galgac; semiconductoras), mientras que esa El concepto de sensores inte-
dependencia es mucho menor en el caso de los sensores capacitivos lo que ligentes (smart senso-rs) corres-
se traduce en que los sensores capacitivos son más estables térmicamente ponde a la idea de incorporar
que los basados en galgas. funcionalidades en el mismo
sistema sensor.
Ventajas e inconvenientes cruzados, el típico contexto de la Ingeniería que
hace cierta la archiconocida frase: "En Ingeniería toda ventaja se paga con un Las nuevas tecnologías, capa-
ces de introducir dispositivos
inconveniente". Lo cierto es que la mayoría de los sensores son válidos para
de medida jtmto con bloques
cac;i todas las aplicaciones independientemente de la tecnología empleada, y
de acondicionamiento de señal
cac;i siempre la decisión se basa en otrac; cuestiones como la disponibilidad, el terminan por generar sistemas
coste, el plazo de entrega, la compatibilidad de las conexiones o cualquier otra muy senciUos de usar por el di-
circunstancia ajena al estricto comportamiento instrumental. señador ya que, a menudo, la
Los sensores diferenciales tienen una estructura que los hace muy apropia- señal de salida es una tensión o
dos para su integración en micro-estructurac;, es decir, pequeños sistemas me- una corriente normalizada que
puede usarse directamente como
cánicos integrados dentro de sistemas microelectrónicos. El concepto que se
entrada para el sistema de con-
suele manejar para definir este y otros sic;temas similares es el de MEMS (Mi- trol o de monitorización sin ne-
croElectroMeclzanical Systezns), aunque también se pueden encontrar térmi- cesidad de circuitería adicional.
nos más o menos sinónimos de este, tales como Micro-Systems Tchnologtj
Pero aún es posible un paso
(MST) o podemos ver este concepto integrado dentro del término más genéri-
más, que consiste en la integra-
co de nanotecnologia, aunque sin alcanzar el grado de integración a nivel mo- ción de capacidades de diálogo
lecular. Para fijar de una forma práctica de qué estamos hablando, podemos o toma de decisiones. Esto es
decir que los dic;positivos de tipo mecánico integrados tienen tamaños que factible con la incorporación de
van desde 20 micrac; hasta 1 mm aproximadamente. bloques de comunicación serie
Como acabamos de decir, un ejemplo de aplicación de este tipo de microtec- según protocolos estandarizados
o la capacidad de generar alar-
nologías está precisamente en el caso de los sensores capacitivos diferenciales:
mas, sL•tema• de auto-test, etc.
en la Figura 7.35a se muestra la estructura básica de un acelerómetro capaciti-
vo susceptible de ser integrado en un MEMS. Un sensor que incluye estas
capacidades suele considerar-
El funcionamiento es sencillo: la aparición de una aceleración a produce se dentro de la categoría de
una fuerza de valor m·a sobre la placa central, donde m es su masa. Esa smart-sensors.
fuerza provoca la flexión de dicha barra y el acercamiento a una de las pla-
cas mientras se aleja de la otra. A partir de ahí tenemos un condensador
diferencial que mide un desplazamiento que resulta dependiente de la ace-
leración.
- S&ISOR
-.. .....
ac:ondieionamiento
[11[
........
~-
Ckl.litodo
®"""' ~
P~ de ~Ntea m ('rnÓ'vir)
(•1 (bl
Figuf"a 7 .3!:i. Acelerúmetfo cé:lpacitivu: (a) princip io de funcio nc.m ientu; (b) e5-tructu n.1 de u n ¿¡cele·
rómetro suscepti ble de i ntegración como MEMS.
339
Como quiera que estos dispositivos son muy pequeños, para incrementar el
valor de las capacidades implicadas se suelen usar varios dispositivos en pa-
ralelo (Figura 7.35) con lo que se mejora la sensíbilidad del conjunto.
Obviamente, y como el lector podrá suponer a estas alturas, este sistema se in-
tegra junto con todos los sistemas electrónicos necesarios para completar el
circuito de medida.
7.3. SENSORES INDUCTIVOS
Igual que en el caso de los conden~adores, los di~positivos de carácter induc-

tivo también pueden actuar como sensores si alguna variable afecta a cual-
quiera de los parámetros que determinan su funcionamiento. Sin embargo,
en el caso de los dispositivos inductivos se pueden distinguir dos situaciones
diferentes: de un lado, los dispositivos en los que el valor característico es la
inductancia L )', de otro, los casos en los que el valor que importa es la induc-
tancia mutua M, entre dos devanados.
Aunque ambos valores dependen de muchos parámetros como la permeabili-
dad magnética, el número de espiras en el devanado, el área efectiva y la lon-
gitud efectiva del núcleo magnético o el hecho de que sea un núcleo abierto
o cerrado, en realidad Jos di~positivos inductivos son muy robustos ante per-
turbaciones o, Jo que es lo mismo, no es fácil que se dejen afectar por variables
externas. Como consecuencia, salvo el movimiento del núcleo no hay muchas
variables que puedan provocar cambios apreciables.
7.3.1. SISTEMAS DE INDUCTANCIA VARIABLE
Si tenemos un núcleo cerrado sobre el que se han arrollado un determinado

número de espiras, la inductancia magnética que presenta el devanado es una
función de la permeabilidad magnética del material del núcleo, p, del número
de espiras, N, del área efectiva del núcleo, A, de su longitud efectiva, 1, y de
la longitud del entrehierro, g:
L = !(¡.¡, N, A., l,, g)
Como en el caso de los condensadores, podemos decir que cualquier varia-

ble que afecte a uno de esos parámetros es susceptible de afectar al valor de
la inductancia y, por tanto, el di~positivo sería sensible a esa variable. El pro-
blema es que no es fácil imaginar una variable que afecte a la sección del
material magnético o a su longitud, ya que se trata de un material sólido y
compacto. Del mismo modo, la permeabilidad magnética del material de que
está constituido el núcleo suele ser poco sensible, salvo una subida de tem-
peratura por encima de la temperatura de Curie, que causa una brusca caí-
da de su valor.
¿Podemos imaginar un cursor moviéndose sobre las espiras para bajar o su-
bir su número? Posible..., pero es difícil pensar que eso llegue a ser un sen~or
340
práctico puesto que tiene todas la5 desventajas de un potenciómetro (roza-

miento, desgaste) y ahora hay que añadir que los cambios se harían de una en
una espira y, además, la relación con la inductancia es de carácter cuadrático,
es decir, no lineal.
En resumidas cuentas, poco se puede medir con un sensor de núcleo cerrado
salvo el cambio en el entrehierro y aun este no tiene sensibilidad más que a
distancias muy pequeñas y la pieza que hay que mover puede tener una masa
considerable en términos de los sensores de hoy en día. No obstante, en la Fi-
gura 7.36 se ofrece alguna opción a modo testimonial.
Sentido del movimiento
Arrollamiento Arrollamiento
L L
Núcleo fijo Núcleo móvil Núcleo fijo
Figura 7.36. Algunas opciones (escasas) de detección de movimiento mediante un sensor inductivo
de inductancia variable.
Con un núcleo abierto, aparecen más opciones. Una bobina de núcleo abierto
no es fácil de modelar, pero esencialmente depende de sus parámetros geomé-
tricos, del número de espiras y del núcleo (dimensiones geométricas y forma,
posición y material). En este ca~o, la variable más evidente para actuar so-
bre la inductancia es la de posición del núcleo respecto del devanado (Figura
7.37a), aunque no existe una expresión fiable y en la mayoría de los casos hay
que recurrir a la calibración empírica (Figura 7.37b).
L
L
X X
1
x=O
(a) (b)
Figura 7.37 . Sensor de posici ón de inductancia variable: (a) estructura básica; (b) curva de cali·
bración.
La gran ventaja de estos si~temas es su robustez lo que les proporciona un ex-

celente comportamiento en ambientes hostiles y les dota de gran fiabilidad en
aplicaciones industriales. Como inconvenientes hay que citar la no linealidad
pero, sobre todo, la imposibilidad de detectar el sentido del desplazamiento
ya que la inductancia presenta un comportamiento totalmente simétrico res-
pecto del punto x = O. Por lo demá.~, se trata de una medida de amplitud sin
341
mayores complicaciones por lo que se usará un circuito como el que se presen-

taba en la Figura 7.7b.
Otra opción de medida con una bobina de núcleo abierto es la que se pre-
senta en la Figura 7.38 para determinar la velocidad de giro de un eje al que
hay acoplada una rueda dentada de un material ferromagnético como el
acero.
Figura 7.38. Sensor de velocidad de giro de una rueda dentada mediante un sensor de inductancia
variable.
Cuando uno de los dientes de la rueda pasa muy cerca de la bobina se produ-
ce un incremento de la inductancia llL mientras que cuando no está cerca, el
valor es el nominal, L. Si usamos un circuito resonante como el de la Figura
7.39 sintonizado en una frecuencia tal que w= (L·C)~-5 cuando el diente pase
por delante perderá la condición de resonancia y la señal sobre la resistencia
caerá.
e L
Vo
1
R Vo
D IENT E
+
L sube
+
Pérdida de resonancia
Figura 7.39. Circuito resonante para la detección del paso del diente frente al sensor inductivo de
la Figura 7 .38.
Al final de la cadena, un comparador proporcionará una señal digital que in-

dica si pasa un diente por d elante o no y que producirá un pulso con cada
diente. 'La cuenta de estas señales en un determinado intervalo de tiempo in-
dicará la velocidad de giro del eje. Aunque puede hacerse un sensor artesanal
para hacer una medida de este tipo, en el mercado existen dispositivos mu-
cho más completos que proporcionan la velocidad de giro y el sentido o que
tienen la capacidad de acumular valores para determinar en qué posición se
encuentra, lo que es muy útil en sistemas de posicionamiento típicos en apli-
342
caciones de robótica y de maquinaria industrial. 'El nombre genérico de estos

dispositivos es el de encoders magnéticos.
La principal ventaja de estos di~positivos es su capacidad para trabajar en en-
tornos realmente agresivos y en condiciones ambientales muy adversas (su-
ciedad, grasa, humedad, golpes, vibraciones...) lo que hace que sean muy
interesantes para aplicaciones donde la fiabilidad y la robustez resuJten requi-
sitos básicos.
7.3.2. LVDT Y OTROS SENSORES SIMILARES
Dentro del conjunto de sensores de inductancia mutua, el más conocido es el

LVDT (Linear Variable Differential Transformer), un dispositivo de tres devana-
dos que basa su funcionamiento en la modificación del coeficiente de induc-
ción mutua entre los devanados en función de la posición del núcleo. En la
Figura 7.40 se muestra un esquema del sistema junto con el correspondiente
diagrama circuital.
• •
Secundario 2 Primario Secundario 1

(N2 vueltas) (N1 vueltas) (N2 vueltas)
Figura 7.40. Configuración de un LVDT y diagrama de circuito.
Para entender cómo funciona sólo hay que suponer una fuente de alterna apli-
cada sobre el devanado central (primario) y ver cómo sería la tensión de sali-
da en cada uno de los secundarios. Cuando el núcleo ocupa la posición central
(x = O), la influencia de la tensión aplicada sobre el primario en los otros dos
devanados será idéntica con lo que se producirá una tensión igual en ambos.
Como los arrollamientos tienen los terminales correspondientes cruzados, el
resuJtado final será que tales tensiones se compensan par producir una sali-
danuJa.
Sin embargo, cuando el núcleo se desplaza a la izquierda, el coeficiente de
inductancia mutua se mantendrá más o menos constante con el devanado
de la izquierda, pero bajará con el de la derecha ya que ha perdido parte
del núcleo. El resuJtado es que el devanado de la izquierda mantiene la ten-
sión mientras que cae la tensión en el devanado de la derecha (Figura 7.41a).
Cuando el núcleo se desplaza hacia la derecha ocurre justo lo contrario (Figu-
ra 7.4lb).
Se puede comprobar empíricamente que a poco que esté simétricamente he-
cho el conjunto, el comportamiento de la tensión de salida es bastante lineal
con el desplazamiento ha~ta un valor casi igual a la totalidad de la longitud
del secundario (Figura 7.42). El único problema es que, como en todos los ca-
sos anteriores, sería necesario un demodulador síncrono o un sistema de de-
tección de fase para conocer el sentido del desplazamiento.
Para conseguir la anterior curva de calibración se puede usar un sistema con
demoduJación síncrona como el que se muestra en la Figura 7.43, o un circui-
343
Vo E
1
(a) •
x=O
t
Vo
E
(b) t
v, 1 V2
•
t
1
1
•
x=O
t
Figura 7.41. Tensiones en un LVDT cuando el núc leo se desplaza hacia la izquierda o hacia la
derecha.
Vo
!Vol
JI )(
x=O -Xmiu x=O

Figura 7 .42. Cu rva de calibración de un LV OT. Como se puede observar, la salida tiene la mi sma
ampli tud para desplazamientos iguales, sean estos positivos o negativos.
to especffico como los ya mencionados: el NE5521 de NXP o el AD698 de Ana-

log Devices.
La gran ventaja de este tipo de sistemas es su robustez. Según hemos visto, los
dispositivos inductivos son poco sensibles a casi todo lo que les proporciona
un excelente comportamiento en ambientes muy agresivos desde cualquier
punto de vista. Además, la ausencia de rozamiento (el núcleo no necesita es-
tar en contacto con ninguna otra parte del sensor) evita la histéresis y la capa-
cidad de alcanzar campos de medida muy grandes les da opciones de trabajo
en muchas circunstancias. En el contexto industrial es uno de los sensores más
fiables para la medida de posición por su resistencia a golpes y vibraciones y
344
FASE= 1 FASE= O
FASE
MPX
Vo
Figura 7.43. Demodulador síncrono aplicado a la detección de signo en un sistema de medida de

p osición con un LVDT.
se usan sistemáticamente en la medida de posición de las agujas de inyección

en turbinas de generación hidráulica, en la medida de la apertura de servo-
válvulas y en todo tipo de maquinaria. Pero también son capaces de trabajar
en condiciones térmicas muy desfavorables o en ambientes con radiación io-
nizante (instalaciones nucleares). También es frecuente su uso en aplicaciones
de la industria aeroespacial para medir la posición de cualquier parte móvil.
EJEMPLO 7.9 (SER230.pdf, AD698.pdf)

Se pretende medir una distancia máxima de 20 mm mediante un LVDT
de la firma Trans-TEk,. de la serie 230. Proponga un sistema para produ-
cir una salida de O a 10 V para ese campo de medida usando un circuito
AD698.
Solución:
Si comprobamos los d atos del fabricante del sensor, observamo$ que
el dispositivo que se adapta a nuestro campo de medida es el 237-0000
que llega hasta 1", es decir, 25,4 mm y cuya sensibilidad es de 0,5 V /V 1
in= 0,0197 V /V/ mm cuando trabaja a 7 kHz de frecuencia de excita-
ción. Se puede usar con el propio sistema de acondicionamiento que
propone el fabricante, el oscilador/ demodulador 1000-0014, pero para
este caso recurriremos a diseñar mediante el dispositivo de Analog De-
vices AD698:
Paso 1: Determinación de la frecuencia de trabajo. La frecuencia de ex-
citaciónse fija con el condensador Cl (Figura 7.44) según la expresión:
1
C1 = 35 [J.tF]
f excitaci6n
Para este caso C1 = 5 nF.
345
Paso 2: Determinación de la tensión de excitación. El fabricante reco-

mienda que la tetl$ión de excitación esté entre 1 y 4,5 V RMS. Para fijar;
por ejemplo, 3,5 VRMs se fijará la resistencia Rl (Figura 7.44) en lOK (se.-
gún gráfica Figure 9, pág. 7 del fichero de características).
Paso 3: Determinación de la dinámica. Los condensadores C2, C3 y C4
(Figura 7.44) determinan la dinámica del sistema, aunque hay que re-
cordar que el uso de una frecuencia de trabajo de 7 kHz pone un tope
máximo a esa dinámica, aproximadamente en la décima parte de ese
valor para conseguir un buen compromiso con el rizado residual. Si,
para este caso en que no hay ninguna especificación para ello, fijamos la
frecuencia de corte para la dinámica en 500 Hz, tenemos que:
1
C2 = C3 = C4 = 100 [j.tF]
fmt.x
Con lo que resulta que C2 = C3 = C4 = 200 n.F. La Figura 7.44 refleja un

circuito simplificado en el que se han omitido algunos componentes no
sujetos a cálculo.
+1SV
1 24
-15 V
2 23
r 3 22 h
r 4 21 h
~o
~
1 R1 t-' . .
¡• ~
5 20
>- 6
Q)
19 h
~ $
- ~ 1 C1 r 7 e
< 18 ¡-,_C4 1
~ 17 h
• r 8
C2 t-' C3
• 1
9 16 1
~'t.!_ 10 15
t-'
1 11 14
r
~
12 13
P- f- f-
Figura 7.44
Paso 4: Determinación de la tensión de salida. La tensión de salida vie-

ne dada por la siguiente expresión, con R2 en kO:
Vo = S · d · 0,5 · R2
Siendo S la sensibilidad (0,0197·3,5 = 0,06895 V 1mm) y d, el máximo

desplazamiento del núcleo. Para este caso, si se quieren conseguir 10 V,
tenemos que R2 = 14KS.
346
TEMA 7. SENSORES CAPACITIVOS E INDUCT IVOS ••
Del mismo modo que el LVDT es capaz de medir desplazamientos lineales,

existe un sistema muy parecido capaz de medir movimientos rotativos, el
RVDT (Rotary VariRble Differential Trai!Sjormer), del que se presenta la idea en
la Figura 7.45.
a= O
Figura 7 .45. Estructura básica de un RVOT para medir desplazamientos angulares.
Como se puede ver, se trata de un sistema muy similar al LVDT pero en el que
los devanados y el núcleo tienen una morfología apropiada para medir ángu-
los. Aunque este sistema goza de las mismas ventajas que el lineal, excepto la
flexibilidad en el campo de medida que está intrínsecamente limitada por su
geometría, es menos frecuente que el primero, dado que existen otras alterna-
tivas válidas y también muy fiables para esta aplicación como las analizadas
en el apartado anterior.
7.4. SENSORES DE PROXIMIDAD
El concepto de proximidad (proximity) es muy utilizado en el campo de los

sensores para definir un determinado tipo de sensor que proporciona una sa-
lida digital cuando en su cercanía hay un objeto presente. Asf, el concepto de
proximidad es siempre relativo y suele estar referido al alcance de medida del
sensor. Un sensor de proximidad (proximity sensor) de un alcance X determi-
nado dará una salida con un nivel lógico diferente cuando haya o no un obje-
to más cerca que el alcance X.
Exi~ten varias opciones de carácter general para construir sensores de proxi-
midad, pero dos de las más fiables y habituales a nivel industrial son los de
tipo inductivo y los de tipo capacitivo.
7.4.1. SENSORES INDUCTIVOS DE PROXIMIDAD
Los sensores inductivos de proximidad tienen un funcionamiento basado en

el cambio de inductancia que se produce por la cercanía de un objeto metáli-
co. La idea es muy sencilla: si acercamos un objeto de material ferromagnético
347
¿CÓmo lo quiere? (acero, por ejemplo) a una bobina, se producirá un cambio en el valor de su in-
Las di~pon:ibilidades de senso- ductancia que tenderá a subir, más en la medida en que el objeto sea más vo-
res de proximidad inductivos luminoso y 1o esté más cerca.
son irunensa..~, en forma, alcance,
La forma de detectar el cambio es mediante un circuito resonante que trabaja
tamai\o, tipo de alimentación,
precisamente en el pico de resonancia y que sale de él en cuanto cambia la in-
tipo de salida y algw1as otras
prestaciones adicionales.
ductancia, lo que determina una corriente más baja y, al final, una tensión de
salida menor (Figura 7.46).
Si a eso unimos que son decenas
los fabricantes que los suminis- Objeto e
tran, tenemos un abanico para
la elección que podría marear a
cualquiera.
Muchas veces, el problema Campo magnético Detección
f undamental es la forma cons- R de nivel
tructiva con vista~ a facilitar su
colocación en el sistema. Des- Respuesta del
de este punto de vista hay una circuito sin objeto (Lo)
':::::::,.. 1
realización muy habitual de la
Respuesta con objeto r 1
que disponen la práctica totali- 1
(Lo+&) '-.
1
dad de los fabricantes: un tubo 1
1
roscado de media pulgada de 1
diámetro que jwlto con sus tuer-
1 Pérdida de señal
1
1
cas permite una fácil colocación
log f
en cualquier lugar y, lo que es
más importante, el hecho de que
todo el tubo esté roscado permi- Figura 7.46. Funcionamiento de un sensor de proxim idad inductivo que usa un circuito resonante:
te un fácil ajuste en distancia. cuando aparece un objeto de acero se Incrementa la inductancia y se pierde la condición de reso·
nancia con lo que cae fuertemente la señal.
El conjunto se completa con el sistema que compara ese valor con uno deter-
minado para saber si efectivamente se ha producido o no la caída de nivel por
Otra realización muy habitual es la presencia del objeto y proporcionar el correspondiente nivel digital.
la que tiene forma de "U" y que
Cuando el objeto a detectar es metálico, pero no es ferromagnético, en prin-
permite detectar objetos que pa-
cipio no deberla producirse un cambio significativo de la inductancia pues-
sen por la zona intermedia.
to que la presencia de estos materiales no alteran demasiado la inductancia;
sin embargo, se produce otro fenómeno que sí resulta significativo: la apari-
ción de corrientes de Foucault (eddy currents) sobre el material conductor que
causan un campo magnético que se opone (por la ley de Lenz) al campo mag-
nético que las produce. Es este efecto de reducir el campo magnético el que
provoca un cambio en la inductancia del sensor e, igual que antes, la salida de
la condición de resonancia. Eso se traduce en una caída fuerte de la señal que
se puede comprobar sobre la resistencia (Figura 7.46). Este modo de funcio-
namiento se suele conocer como ECKO (eddy current killed oscillator) que pue-
de traducirse por algo asf: oscilador asesinado por la~ corrientes de Foucault.
Más allá de la violencia implícita en el nombre, este se aplica tanto al caso de
que la detección sea de un objeto metálico no ferromagnético como al caso de
que sí lo sea.
En cualquier caso, el fenómeno que se produce en el caso de un material con-
ductor no ferromagnético es menos intenso que el que se obtiene de uno ferro-
magnéti<.:o por lo que para tlete<.1ar el objeto es nece~ario t¡ue esté má¡; cen:a o
que sea más masivo.
348
Los fabricantes de sensores de proximidad inductivos o sensores ECKO sue-

len proporcionar un alcance nominal de detección, dentro del cual el sensor es
capaz de distinguir la presencia 1ausencia de un objeto. Este alcance se define
para detección de acero y para una superficie determinada del objeto a detec-
tar; del mismo modo, los fabricantes suelen proporcionar tablas de minora-
ción que establecen reducciones en el alcance para objetos má~ pequeños o de
otros materiales.
Los sensores inductivos varían en alcance desde unos pocos milímetros ha~ Sensibilidad vs. Selectividad
ta algunas decenas de centímetros y se construyen en una gran variedad de Uno de los objetivos de los in-
formas para facilitar su uso; como característica común de todos los sensores vestigadores en el mundo de la
inductivos hay que decir que son muy robustos y fiables Jo que les hace espe- Instrumentación es el de conse-
cialmente útiles para aplicaciones industriales. De hecho, son el sensor indus- guir sensores con buena sensi-
trial más usado. bilidad, pero no siempre eso es
positivo.
Normalmente se suministran como un bloque compacto que se puede ali-
¿Imaginamos un submarino de
mentar a una tensión estándar y que proporciona una salida digital capaz de
combate capaz de detectar cual-
manejar directamente un relé lo que facilita la aplicación en ca~os de automa- qtúer cosa mayor que una sardi-
tismos muy sencillos. La variedad disponible es tan grande que sería tedio- na? Evidentemente, tendría wta
so exponer todas las opciones por extensión; sólo diremos que hay versiones gran sensibilidad, pero la canti-
para alimentar en continua y alterna, a diversas tensiones y con salidas dife- dad de contactos que recibiría
rentes. Si el lector necesita uno de estos dispositivos, no dude de que encon- sería inmensa y, en con~ecuencia
trará la forma constructiva, la conectividad eléctrica y el precio adecuados en no "vería" nada o, lo que es lo
alguno de los fabricantes disponibles (mucha~ decenas). mismo podría tener cien contac-
tos procedentes de una bandada
de atunes y w1o más procedente
7.4.2. SENSORES CAPACITIVOS DE PROXIMIDAD de Wl barm enemigo. QLúzá se-
ría mejor ser menos sensible.. .
También es posible detectar la cercanía de objetos mediante sensores capaciti- Lo mismo ocurre con los sen-
vos. Sólo necesitamos un circuito resonante similar al empleado en el caso de sores de proximidad. Algunos
los sensores de proximidad inductivos, pero ahora será la variación de capa- tienen alcances muy pequeños,
cidad la que nos permita "asesinar" la oscilación. El sistema tendría el a~pecto pero eso no es necesariamente
del que se muestra en la Figura 7.47 y estará constituido por un condensador malo; sólo indica que detectan
en di~tancia~ muy cortas y que
abierto cuyo campo eléctrico puede verse perturbado por la presencia de me-
el resto no les afecta (son selec-
tales o de aislantes. En el primer caso porque se deforman la~ líneas de campo
tivos con la di~tancia). De igual
para seguir su camino por el metal y en el segundo porque cambia la permiti- manera, es posible que los ob-
vidad dieléctrica. jetos tengan que tener un cier-
El efecto es que la capacidad cambia en cualquiera de Jos dos casos. Por ello, to tamaño para ser detectados.
se pierde la condición de resonancia del circuito y se producirá la correspon- Y esto sólo indica que tienen
bastante selectividad con el ta-
diente caída de la señal sobre la resistencia. El resto del circuito es similar al
maño, lo que impide que den
anterior.
una señal de detección ante la
Aunque la potencialidad de los sensores capacitivos es mayor puesto que es presencia de Wl tornillo que al-
capaz de detectar la presencia de cualquier objeto, sea cual sea el material de gtúen perdió.
que esté hecho, Jo cierto es que su alcance es mucho menor que el que presen- ¿Sensibilidad o selectividad?
tan los sensores de proximidad inductivos (alcance máximo alrededor de 50 Depende del caso.
mm), pero el principal problema es que la capacidad de detectar todo tipo de
material los hace poco selectivos lo que puede complicar su aplicación en un
ca~o real.
Como antes, son muchos los fabricantes que suministran este tipo de sensores
y también existe una gran variedad de características eléctricas, tales como di-
ferentes alimentaciones, tipos de salida, formas constructivas, etc.
349
Objeto
Deteooón
R de nivel
Campo elécbico
Figura 7.47. Estructura básica de un sensor de proxi midad cap acitivo, basado en el empleo de un
circuito resonante.
RESUMEN
Existen determinadas variables que afectan a los parámetros que determinan el
valor de los condensadores y de los dispositivos inductivos, de tal forma que to-
dos los dispositivos de este tipo se pueden usar como sensores de esas variables.
Por tanto, el problema pasa a ser la medida del valor de un condensador o de
Wla inductancia, del mismo modo que en el tema anterior el problema era medir
el valor de una resistencia.
Sin embargo, el problema no es tan sencillo en este caso puesto que capacidades
e inductancias tienen un comportamiento en continua que elimina la sensibili-
dad con capacidad e inductancia lo que hace virtualmente imposible la medida.
Para trabajar con estos dispositivos es imprescindible hacerlo en alterna.
La determinación del valor de una señal de alterna es más compleja que en el
caso de continua (sólo hace falta el valor en cada instante) ya que la señal viene
caracterizada por, al menos, la amplitud, la frecuencia y la fase; además en el
caso de señales periódicas no senoidales, tenemos que se pueden descomponer
en una suma de senos y cosenos, sobre cada uno de los cuales se puede decir lo
mismo. Asf, en líneas generales, los circuitos de medida de señales de alterna
determinarán la amplitud, la frecuencia o la fase y, en el caso de medidas con
condensadores e inductancias, se centrarán en la medida de la amplitud o del
desfase entre dos señales.
Los circttitos para la medida de amplitud y fase no son sencillos sino que supo-
nen varios pasos de tratamiento: en el caso de la amplitud, una rectificación y w\
filtrado, y, en el de la fase, una comparación entre dos señales y un recuento del
tiempo por algún método analógico o digital. Más aún, en las medidas de alter-
na podemos tener el problema del signo ya que mmca es posible encontrar una
amplitud negativa y tampoco es fácil calcular si el desfase es positivo o negativo
por lo que, frecuentemente, nos veremos obligados a utilizar circuitos que inclu-
yan la detección de fase como los demoduladores síncronos.
Las medidas de alterna son, por tanto, más complejas que las de continua, pero
tienen una ventaja muy importante, como es el hecho de que el rwdo puede
reducirse a la núnima expresión siempre que incorporemos un filtro pasabanda
tan selectivo como sea necesario antes del tratamiento.
El condensador como elemento de medida es mucho más versátil que la induc-
tancia. En un condensador plano se puede actuar sobre los tres parámetros que
determinan la capacidad y, en uno cilíndrico, sobre dos de ellos. Eso les pro-
350
porciona una gran versatilidad a la hora de detectar movimiento y cualquie.r

variable que afecte al dieléctrico. Pero, además, el condensador diferencial es un
dispositivo de medida con un gran potencial, similar al sistema de membrana
que se usaba con galgas extensométricas y con ventajas e inconvenientes respec-
to a aquel.
Por su parte, las inductancias son di~positivos tan robustos que pocas variables
les afectan lo que viene a dejarlas un poco de lado como sen~ores . .Más allá de los
movimientos del nácleo, poco margen queda para su aplicación ... Sin embargo,
hay un caso especial que proporciona la medida de posición en unas condiciones
de gran linealidad y extrema robustez: el LVDT, un sistema capaz de trabajar sin
grandes dificultades en las peores condiciones ambientales.
Finalmente, hay que destacar un conjunto de sensores de gran aplicación in-
dustrial en todo tipo de sistemas de supervisión, y lazos de control, desde apli-
caciones muy complejas hasta los automatismos más sencillos: Jos sensores de
proximidad.
Los sensores de proximidad son dispositivos capaces de proporcionar una sali-
da digital que indica si hay o no un objeto cercano a él. Pueden ser útductivos,
capaces de detectar objetos metálicos con alcances que van desde unos pocos
milímetros hasta algunas decenas de centímetros, o capacitivos, en cuyo caso
pueden detectar objetos metálicos y no metálicos, pero con wt alcance menor.
La gran robustez de estos sistemas, la amplia gama de opciones comerciales y la
compatibilidad directa con los sistemas de control industrial hacen que su uso
esté muy extendido, hasta ser wto de los sensores más habituales en cualquier
proceso de fabricación o de almacenaje.
351
Apartado 7 .1.1
7.1 Un determinado sensor produce una señal senoidal de 10kHz cuya am-
Figuras 7.1 y 7.2 plitud es proporcional a la variable que m1de. Si dicha amplitud puede
Ejemplo 7.1 variar desde 200 a 500 m V para todo el campo de medida, diseñe un sis-
tema para proporcionar una tensión continua de Oa 5 V que represente la
amplitud de la señal y que presente un rizado menor del 0,1 %.
Apartado 7 .1.1
7.2 Suponiendo que la señal del Ejercicio 7.1 contiene un ruido de 50 Hz valo-
Figuras 7.1 y 7.3
rado en unos 50 m V de amplitud, ¿cómo modificaría el sistema diseñado
Apartado 7 .1.1
para conseguir reducir su efecto?
Figuras 7.1 y 7.2
7.3 ¿Qué especificaciones serían convenientes para los operacionales que se
Ejemplo 7.1 emplearían en el Ejemplo 7.1?
Apartado 7 .1.1
Figuras 7.1 y 7.2 _ _,
7.4 Para medir la amplitud de una señal de 400 Hz se usa un esquema for-
mado por un rectificador de precisión y un filtro de paso bajo. Si se desea
conservar una respuesta dinámica del sistema que alcance, como mínimo,
a los 20 Hz, determine el efecto de trabajar con filtros de orden 2 y 4 sobre
dicha dinámica y sobre el rizado residual presente en la salida.
Apartado 7 .1.2
Figura 7.6 7.5 Una determinada variable modula la fase de una señal senoidal de 100
Ejemplo 7.2 Hz hasta conseguir un desfase máximo de 0,1 ms. Diseñe un sistema para
medir el desfase entre la señal original y la modulada.
Apartado 7 .1.2
F"igura 7.4 a 7.6 7.6 ¿Cómo afectaría al di'!eño del sistema del Ejemplo 7.5 el que la señal fue-
Eje mplos 7.2 y 7.3 se de 100kHz y el desfase máximo de 0,1)ls? Compare el diseño de este
sL<;tema con el que se utilizó en el ejemplo anterior. Si la señal tuviese una
amplitud demasiado pequeña y fuese necesario amplificarla en 20 dB,
determine las especificaciones mínimas del amplificador que evite que el
error de fase sea superior al1 %.
Apartado 7.1 7.7 ¿Cómo mediría la frecuencia de una señal senoidal cuyo valor puede va-
riar desde 10 a 20 kHz? Su.gerencin; puede usar un sistema que permita la
cuenta de pulsos.
7.8 Un sensor de humedad capacitivo varía linealmente su capacidad en fun-

Apartado 7 .1.3 ción de la expresión C = 800 - 3·RH, donde RH es la humedad relativa en
tanto por ciento. Diseñe un sistema para obtener una señal de O a 10 V
Figuras 7.7 y 7.8
proporcional a la humedad relativa.
Ejemplo 7.4
7. 9 Se pretende construir un puente para la medida de condensadores entre 1
y 100 nF de tal forma que se consiga una salida de Oa 5 V proporcional al
valor del condensador. Diseñe un circuito para esta función y determine la
linealidad del sistema así diseñado.
Apartado 7 .1.3
7.10 Un determinado sensor capacitivo varfa su capacidad en función de la
Figuras 7.11 y 7.12 variable a medir desde 350 pF a 1200 pF, aunque incluye una resistencia
parásita en paralelo de un valor aproximado de 10 kO. Diseñe un circuito
352
para medir la capacidad de dicho conden.~ador y determine la mínima fre-
cuencia de trabajo necesaria para conseguir la mejor sensibilidad posible.
Apartado 7 .1.3
Figura 7.13 7.11 Si en el caso del Ejercicio 7.8 se procediese a realizar un circuito resonante
Ejemplo 7.5 para la medida, diseñe el sistema y compare esta solución con la que se
obtuvo entonces desde el punto de vista de sensibilidad y linealidad.
Apartado 7 .1.4
Figura 7.14 7.12 Un Schmitt-triggerproduce una forma de onda cuadrada de 50kHz con
Ejemplo 7.6 niveles de Oy 5 V. Si se usa un filtro de paso bajo de segundo orden y cuya
frecuencia de corte es 70 kHz, determine la forma que tendrá la tensión
de salida. ¿Aparece continua en la ,salida? ¿Cómo podría eliminarla? Si
el objetivo fuese. obtener una senoide de 50kHz y 5 V de amplitud, ¿qué
circuito adicional debería añadir?
Apartado 7 .1.4
Figuras 7.14 y 7.17 7.13 En el caso del Ejercicio 7.12, ¿cómo afectaría a la señal de salida un cam-
Eje mplo 7.6 bio del 5 % en la frecuencia de corte del filtro, producido por la tolerancia
de los componentes? Praponga un sistema para resolver este incoveniente
usando un filtro de capacidades conmutadas. Sugerencia: con,sulte los posi-
Apartado 7 .2.1 bles circuitos con un circuito como el Uv1F100.
Figuras 7.20 a 7.22
7.14 Proponga un sistema para hacer una medida de posición en dos ejes basa-
Ejemplo 7.7
do en el empleo de condensadores planos.
Apartado 7 .2.1
7.15 Para determinar la composición de un determinado líquido no conductor se
Figuras 7.20 a 7.23
usa un conden.~dor plano de 10 cm2 y una separación entre placas de 1 mm.
Ejemplo 7.7 El líquido está compuesto de una sustancia 1 con constante dieléctrica relati-
va 5 y otra sustancia 2 con constante dieléctrica relativa de 2. Si la constante
dieléctrica de la mezcla se obtiene según la proporción de cada líquido, de-
termine el sistema que produzca una señal proporcional a dicha proporción.
Apartado 7.2
Figuras 7.23 y 7.28 7.16 Si el líquido del Ejercicio 7.15 se almacena en un depósito de 2m de altura
Ejemplos 7.7 y 7.8 y se pretende conocer la cantidad de líquido presente, ¿se podría hacer
con un condensador cilíndrico? En caso negativo proponga una solución
basada en el empleo de dos condensadores, uno para la medida de la
constante dieléctrica y otro, para la determinación de la altura.
7.17 Un condensador cilíndrico de 20 cm de longitud, dieléctrico de aire y ra-

Apartado 7 .2.2 dios 1 y 1,2 cm se usa para la medida de desplazamiento en un eje, en un
único sentido. Determine la curva de calibración del sistema. ¿Sería posi-
Figura 7.28
ble determinar en qué sentido se mueve?
Ejemplo 7.8
7.18 Diseñe un sistema basado en el sensor del Ejercicio 7.17 capaz de sumini'l-
trar una señal proporcional al desplazamiento con un valor máximo de 10 V.
Apartado 7 .2.3
7.19 Determine la curva de calibración de un condensador diferencial deS cm 2
Figuras 7.31 a 7.33 de área, dieléctrico de aire y separación entre placas de 1 mm cuando se pre-
tende utilizar para detectar pequeños desplazamientos de la placa central.
353
Apartado 7.2
7.20 El condensador del Ejemplo 7.7 puede considerarse corno un condensa-
Figuras 7.31 a 7.33
dor diferencial. Con esta idea, proponga un circuito para la medida del
Ejemplo 7.7 desplazamiento en los dos sentidos usando el concepto del demodulador
síncrono.
Apartado 7 .3.1
Figuras 7 .13, 7.38 y 7.21 Para medir la velocidad de giro de un eje se usa un núcleo magnético so-
7.39 bre el que se han devanado una serie de espiras. Este núcleo se sitúa en las
Ejemplo 7.5 proximidades de la rueda dentada de un engranaje que tiene un total de
40 dientes y que hace que la inductancia del sensor varíe desde 150 ¡tH,
cuando no está cerca el diente del engranaje, a 200 ¡.¡H, cuando sf lo está.
Diseñe un sistema para proporcionar una señal digital que indique la pre-
sencia o ausencia del diente del engranaje.
Apartado 7.3.1
7.22 Si el eje al que se refiere el Ejercicio 7.21 gira a una velocidad que puede
Figura 7.38
variar de 1000 a 1500 rpm, diseñe un sistema para proporcionar una señal
de continua proporcional a la velocidad de giro, de tal modo que se entre-
gue una tensión de O V para la velocidad más baja y 5 V para la más alta.
Apartado 7.3.1
Figuras 7.40 a 7.43 7.23 Se pretende medir un pequeño desplazamiento (S mm) con un LVDT de
Ejemplo 7.9 la serie 230 (SER230.pdf). Proponga un circuito para obtener una señal de
O a S V proporcional al desplazamiento mediante la puesta en práctica del
concepto de demodulador síncrono con componentes discretos y con un
Apartados 7 .2.2 y 7.3.1 circuito especifico como el AD698 (AD698.pdf). Compare arnba<> opciones.
Figuras 7.28, 7.40 a
7.24 Compare las opciones de medir despla2:amientos mediante un sensor ba-
7.43 sado en un condensador cilindrico y mediante un LVDT.
Ejemplos 7.8 y 7.9
354
Tema
Sensores generadores de señal
8.1. Conceptos generales

8.2. Termopares
8.3. Sensores piezoeléctricos
8.4. Sensores optoelectrónicos
8.5. Sensores de efecto Hall
TEMA 8 . SENSORES GEN ERADORES DE SEÑAL • •
8.1. CONCEPTOS GENERALES
8.1.1. PROBLEMÁTICA DE LOS SENSORES GENERADORES

DE SEÑAL
Las variables que miden los sensores estudiados en los Temas 6 y 7 produ-
cen cambios en los valores característicos de los dispositivos pasivos: resisten-
cia, capacidad e inductancia, pero no suponen la generación neta de energía.
En efecto, en tales casos para que apareciesen tensiones o corrientes había que
disponer de una fuente de excitación adicional, la encargada de sumini~trar la
energía para que a la salida del sistema hubiese una señal con algo de poten-
cia (Figura 8.1a).
En este tema se van a estudiar otro tipo de sensores que es capaz de producir
energía en su salida sin el concurso de una fuente adicional de potencia (Fi-
gura S. lb).
FLUJO DE ENERGfA
r--+- Señales
Variable a medir
~~ Señal de
salida
..
Variable a medir
~
de salida
Vo
(a) (b)
Figura 8.1. Sensor no generador de energía (a) en el que la señal se p roduce gracias a la fuente de
excitación sobre la impedancia (R, CoL) y sensor generador (b), en el que l a señal se origi na en el
propio sensor gracias a la t ransformación que se produce en el sensor para generar una tensión,
una corriente o una carga.
La energía, en este último caso se extrae del proceso (de la variable a medir)
por lo que el propio sensor introduce una cierta perturbación en el sistema.
Eso no significa que los sensores resistivos, capacitivos o inductivos no pertur-
ben a la variable que miden; de hecho, sería imposible afectar de alguna forma
si no hubiese intercambio energético alguno, pero en aquellos puede ocurrir
en menor cuantía o, lo que es lo mismo, en los sel\8ores generadores de se-
ñal toda la energía que entregan a la salida se extrae de la variable a medir,
mientras que, en los otros, la mayor parte de esa energía se extrae de la fuen-
te de excitaciórL
Aquí se produce un cierto dilema ya que, si pretendemos tener señales po-
tentes a la salida del sensor, precisaremos sacar mucha energía del sistema
en el que estamos midiendo y eso significa que la perturbación es grande.
Medirnos bien, pero por el hecho de hacerlo, modificamos lo que medimos.
Si, por lo contrario, no queremos perturbar demasiado el sistema, extraere-
mos poca energía y, en corL->ecuencia, la señal a la salida de nuestro sensor
será débil.
357
En cualquier ca~o, siempre que hay interacción, se produce un intercambio de

energía y, por ello, la medida siempre supone una cierta perturbación, aun-
que si esta perturbación es inferior a la resolución de nuestro sensor, pasará
totalmente desapercibida. Lo cierto es que, en los tiempos actuales, la di~poni
bilidad de excelentes amplificadores nos permite trabajar con señales muy dé-
biles, con lo que no nos encontramos en la necesidad de perturbar el sistema y
exprimirlo para que proporcione energía a nuestro sensor.
La conclusión es que los sensores generadores producen niveles bajos de se-
ñal, pero para solventar el problema usamos los excelentes amplificadores de
los que disponemos. En otras palabras, el problema es amplificar.
8.1.2. AMPLIFICACIÓN DE TENSIÓN, DE CORRIENTE

Y DE CARGA
Un sensor generador produce una señal eléctrica que puede ponerse de mani-
fiesto como una tensión, una corriente o una carga, aunque, algunas veces, el
que veamos una forma u otra no sólo depende de la naturaleza del sensor sino
del circuito electrónico en el que esté inmerso. Sea como sea, en la mayor par-
te de los casos el objetivo final es obtener una tensión ya que esta es la forma
en la que solemos entregar las señales a la~ siguientes etapa~ de procesamien-
to, monitorización o visualización.
Por tanto, lo que necesitaremos será efectuar una amplificación de tensión,
una conversión de corriente a tensión o una conversión de carga a tensión. La
amplificación de tensión ha sido ampliamente analizada a lo largo de los Te-
ma~ 2 y 3 por lo que no incidiremos más en ella, sino que nos limitaremos a las
dos conversiones mencionadas: de corriente o carga a tensión, aunque en rea-
lidad estamos hablando de un mismo concepto ya que la corriente es una car-
ga circulante por unidad de tiempo.
Sin embargo, el hecho de que la corriente implique una circulación perma-
nente de carga significa que para obtener una tensión sólo necesitamos una
resistencia. Así, en la Figura 8.2 se presentan dos posibilidades para conver-
tir corriente, con la carga conectada a masa (Figura 8.2.a) y flotante (Figura
8.2b).
Vo =R·l Vo = -R·I
(a) (b)
Figura 8.2. Convertidores corrienl e·tenslón con la carga conectada a masa (a) y con la carga flo·
!ante (b).
En ambos casos, el ancho de banda es muy grande puesto que ambos opera-
cionales trabajan en condiciones de ganancia unitaria. Eso es muy positivo a la
hora de procesar señales de alta frecuencia pero supone dejar la puerta abierta
358
TEMA 8 . SENSORES GENERADORES DE SEÑAL ••
para el ruido. Esto puede suponer la necesidad de incluir filtros que mejoren
la relación S/N por reducción del ancho de banda.
En el caso del convertidor de carga a tensión, también conocido como amplifi-
cador de carga ( charge amplifier) el problema es que, a diferencia de la corrien-
te, supone una magnitud finita en el tiempo. La opción pasa por almacenarla
en un condensador sobre el que desarrollará una tensión proporcional al valor
de la carga; el problema es que la lectura de la tensión del condensador supon-
dría su descarga y; por tanto, la consiguiente pérdida de la señal. Para resolver
el problema, se usa un integrador como el que se muestra en la Figura 8.3a.
e e
Vo = - QJe
(a) (b)
Figura 8.3. Amplificadores de carga: (a) circuito ideal que transmite la carga hasta el condensador
C para generar la t ensión de salida; (b) circuito real, que incluye, además, un interruptor pa ra
garantizar que el condensador esté descargado antes de la introduccíón de la carga y una resis·
tencla para lim itar la circulación de corriente, aunque Introduce un pequeño retardo en la carga
del condensador.
Como quiera que la entrada inversora del operacional está virtualmente a

masa, la carga procedente del sensor producirá un paquete finito de corriente
(equivalente a la carga total) que circulará por el condensador de realimenta-
ción para cargarlo hasta la tensión:
Q
Ve=-
C
Esto producirá una tensión de salida en el operacional de igual valor y signo

contrario:
Q
Vo=- -
C
El problema de este circuito es que integra los errores del operacional y como
estos son más o menos constantes, la tensión en el conderL~ador subirá (o baja-
rá) hasta que el operacional se termine saturando más pronto que tarde. Para
solventar el problema, el sistema se mantiene siempre con el conderL~ador cor-
tocircuitado (Figura 8.3b) hasta que se abre una pequeña ventana de tiem-
po para recibir la carga, leer el v alor desde un dispositivo digital y volver a
la condición de cortocircuito. La ventana de tiempo será más o menos grande
en función de la calidad en continua del operacional ya que integrará los erro-
res de continua durante el tiempo que esté abierta y producirá el correspon-
diente error. Esto define el tipo de operacionales que se deben usar para esta
359
aplicación: dispositivos de baja corriente de polarización, es decir, con entra-

da MOS.
Cuando se abre el interruptor de la Figura 8.3b, el condensador está totalmen-
te descargado con lo que la carga tenderá a pasar rápidamente hacia él lo que
puede producir picos elevados de corriente. Para evitar el problema se puede
incluir una resistencia R de limitación como la que se muestra en la misma fi-
gura.
8.1.3. EL CONCEPTO DEL HARVESTING
Como los sensores generadores de señal realizan una transformación ener-

gética, son susceptibles de uso en aplicaciones de generación de energía. De
hecho, algunos de los sensores pueden redimensionarse para convertirse en
fuentes aprovechables de energía como en el caso de los fotodiodos que se
convierten en células fotovoltaicas sin más que un rediseño con especificacio-
nes bajo otro punto de vi~ta.
Relojes "automáticos" Pero el concepto al que nos referimos ahora no es al de utilizar los principios
En la segunda mitad del siglo xx que trataremos aqui para obtener energía de forma masiva para un uso gené-
aparecieron unos relojes de pul- rico sino algo más sencillo: utilizar las pequeñas cantidades de energía que se
sera totalmente mecánicos que pueden extraer de cualquier medio para la alimentación de pequeños sistemas
no precisaban que se les diese electrónicos portátiles que, de esa forma se libran de la tiranía de las baterías
cuerda ya que aprovechaban el y; sobre todo, de la necesidad de tener que guardar (y buscar) otro cargador
movimiento del brazo para re- más. El término que se emplea para esta idea es el de energy harvesting o power
cargar el resorte que proporcio- llarvesting y que se podría traducir como "cosecha de energía".
naba la energía mecánica; estos
relojes eran conocidos popular- La idea es muy sencilla y se presenta en la Figura 8.4: un dispositivo toma
mente como u automáticos" y energía del ambiente que lo rodea y la convierte en una tensión suficiente
se caracterizaban por presentar como para alimentar el sistema durante un cierto tiempo o de forma perma-
una escasa preci~ión. Era un ~urr nente. A menudo, la tensión producida tiene malas condiciones (valor bajo, es
vestt>r primitivo... inestable, etc.), por lo que suele incorporarse algún tipo de convertidor OC/
En la actualidad, existen versio- OC para conseguir una tensión de alimentación más fiable.
nes más avanzadas que inclu-
..
yen un pequeño péndulo con EX1racclón de
energla
l
una corona que, con el movi- Tensión de
miento del brazo se balancea
-- Convertidor alimentación
CC/CC
y actúa sobre un micro-piñón
y que termina girando a más
100000 rpm. Este micro-piñón
----
1
Sistema
Sistema de instrumental
actúa sobre un pequeño disposi- almacenamiento de
tivo piezoeléctrico que produce energla (opcional)
la suficiente energía para cargar
una mini-batería que permite
mantene.r el reloj alimentado (y Figura 8.4. Concepto de haFvesting: un disposit ivo recolecta energía del am biente y, gracias a un
sin movimiento) duran te casi un convertidor CC/ CC genera una tensión adecuada para al imentar pequef\os si stemas. Cuando la
producción de energía no es continua, puede ser necesario inclui r una pequef\a batería para alma·
dia entero. cenamiento temporal de energía.
También es frecuente que incorporen algún tipo de medio para el almacena-

miento de la energía, como un condensador, un supercondensador o una pe-
<Iuet1a balel'fa ya tlue la fuente de enet·gfa puede ser irregula.t; imprevisible o
no exi~tir durante algún tiempo.
360
TEMA 8 . SENSORES GENERADORES DE SEÑAL • •
Una de las principales aplicaciones del harvesting está en los sensores distri-
buidos y autónomos, pero las aplicaciones se extienden desde relojes que fun-
cionan con el movimiento del brazo hasta detectores de incendios forestales
que usan el calor del fuego para producir energía y transmitir la alarma antes
de quemarse.
En general, son muchas las formas posibles de cosechar energía de cualquier
parte y algunas poco tienen que ver con los sensores, pero existen bastantes
casos en los que el mismo principio que da lugar a la medida sirve para obte-
ner energía.
8.2. TERMOPARES
8.2.1. PRINCIPIOS DE FUNCIONAMIENTO

El termop ar (thermocouple) es un sensor de temperatura que se basa en un con-
junto de fenómenos termoeléctricos descubiertos a lo largo del siglo XJX. El
más significativo de ellos es el conocido como efecto Seebeck, descubierto ac-
cidentalmente en 1821 por Thomas Johann Seebeck, que explica, que si dos
metales diferentes unidos por sus extremos tienen esos extremos sometidos a
temperaturas diferentes, circulará una corriente por el circuito asf formado (Fi-
gura 8.5). La corriente que circula resulta proporcional a la diferencia de tem-
peraturas.
Metal1
1 .
y
Jean-Chades Peltier (1785-1845)
fue un físico francés que des-
Metal 2 cubrió en 1834 uno de Jos dos
Figura 8.5. Ilustración del efecto Seebeck. Cuando las uniones de dos metales se si túan a tempera· efectos termoeléctricos más im-
turas diferentes, ci rcula una corriente que depende de la diferencia de temperaturas. portantes en el funcionamiento
de los termopares.
En realidad Seebeck no analizó en profundidad el efecto)~ de hecho, se limitó Aunque empezó siendo relojero,
a señalar las consecuencias, es, decir, el movimiento de la aguja de una brúju- a partir de Jos treinta años se de-
la cercana a los dos metales. Ello denominó efecto termo-magnético y no fue dicó al estudio experimental en
hasta la explicación del físico danés Hans Christian Oersted cuando se identi- Física, en donde, además de Jos
ficó claramente el comportamiento del fenómeno. efectos termoeléctricos, introdu-
jo el concepto de inducción elec-
El segundo efecto es el efecto Pe ltier, descub ierto por Jean-Charles Peltier en trostática.
1834 que consiste en que, si unimos dos metales por sus extremos y hacemos
circular una corriente por el circuito asf formado, se produce una liberación de
calor en una de la~ uniones y una absorción en la otra (Figura 8.6). Este efec-
to es totalmente reversible y se produce de forma proporcional a la corriente
circulante.
361
El tercero de los efectos es el denominado efecto Thomson, que fue predicho

por William Thornson y luego observado en la práctica en 1851. En esencia,
explica el enfriamiento o calentamiento de un material conductor sometido
a temperaturas diferentes en sus extremos por el que se hace circular una co-
rriente eléctrica (Figura 8.7). El efecto Thomson se diferencia claramente de los
anteriores efectos en que este se produce con un único material, y se di~tingue
del efecto Joule (calentamiento no conservativo por el paso de corriente por
un conductor) porque este es conservativo y reversible.
Metal1
Metal2
Figura 8.6. Ilustración del efecto Peltier: la circulación de corriente por un circuito con dos metales
produce absorción de calor en una de las uniones y la liberaci ón del mismo calor en la otra.
Absorción de calor
William Thomson (1824-1907)
fue un destacado ffsico británi-
co que realizó su mayor apor- T, r,
tación a la ciencia en el campo
de la Termodinámica. También
es conocido como lord Kelvin 1
(primer barón de Kelvin, titulo
concedido por su notable traba-
Figura 8. 7. El efecto Thomson se produce cuando por un metal que mantiene temperaturas dile·
jo científico) rentes en sus ex1remos ci rcula corriente: se produce un cal entamiento o enfriamiento totalmente
Aunque su principal aportación reversi ble.
pueda ser la escala absoluta de
temperatura y la determina- El conjunto de los tres efectos contribuye a explicar el comportamiento ter-
ción del cero absoluto, situado moeléctrico de los materiales conductores y, en particular, el de los termopa-
en -273,15 "C, también son im- res. Desde el punto de vista de los sensores, un termopar es un dispositivo
portantes sus estudios sobre la
formado por dos hilos conductores de materiales diferentes, unidos en uno de
termoelectricidad, la predicción
los extremos, que constituye el punto de medida de temperatura (Figura 8.8).
del efecto que lleva su nombre y
la relación entre los efectos See- Un termopar produce una tensión que es proporcional a la diferencia de tem-
beck y Peltier. peraturas entre el extremo unido y el extremo abierto:
Destacó por su análisis concien-
zudo y metódico de Jos proble-
mas y, en este sentido, puede
considerarse como uno de los donde la constante K depende del par de materiales empleado en su construc-
principales pilares de la ciencia ción y su valor suele ser bajo (de 5 a 50 ¡LV / 0 C).
moderna. Fruto de este análisis Si pensamos en el termopar como sensor, no serfa capaz de medir directamen-
es su gran error en la estimación
te la temperatura de un punto determinado, sino que la tensión que produce
de la edad de la Tierra, y fruto
de su metodología fue descubrir
siempre hay que tomarla como una medida de temperatura relativa a un pun-
su causa. to de referencia (el extremo abierto), donde se conectaría el equipo que recibe
362
la información de tensión. Este punto se suele denominar unión de referen-

cia o unión fría (cold jrmction) . Por tanto, para conocer la temperatura del pun-
to de medida a partir de la tensión obtenida hay que conocer la temperatura
de la unión fría.
Meta11
Unión fría
Unión de
T
medida To V=K·(T-Tt}
Figura 8.8. Concepto general de un termopar.
8.2.2. LEYES DE LOS TERMOPARES

Los efectos en que se basa el comportamiento de los termopares derivan en
una serie de leyes que rigen su uBo en el contexto instrumental. Tales leyes son
las siguientes:
ley de los metales homogéneos

Si un conductor es de un material homogéneo, no será posible generar ningu-
na tensión sólo por procedimientos térmicos o, si está en circuito cerrado no
será posible que por él circule ninguna corriente (Figura 8.9). Esto se mantiene
incluso con cambios de sección en el conductor.
T,
Metal 1
V=O
Metal1
Figura 8.9. Ley de los metales homogéneos: si el metal es hom ogéneo no podemos generar ten·
sión por cambios térmicos.
Esta ley es la básica de los termopares ya que termina diciendo que para que
aparezca una tensión son necesarios dos conductores diferentes.
ley de los metales intermedios

Si en cualquier parte de un termopar se introduce un trozo de conductor de
un material diierente, no se producen cambios en la temperatura siempre
que las dos uniones se encuentren a la misma temperatura (Figura 8.10). Esta
ley se puede extender al número de conductores que sea: si entre dos pun-
tos de un termopar se introducen varios materiales intermedios la tensión to-
tal introducida será nula siempre que la temperatura sea uniforme en toda
la sección.
363
Metal3
Meta11 ~----------
T To V =K·(T-To)
Figura 8 .10. Ilustración del sentido de la ley de los metales Intermedios.
ley de las temperaturas intermedias

Aleaciones Un termopar con temperaturas en sus uniones T1 y T2 produce una tensión
Algw\Os de los materiales para que será la suma algebraica de dos termopares, uno con temperaturas en sus
hacer termopares son aleaciones uniones T 1 y T3 y otro, con temperaturas T3 y T 2•
muy conocidas:
Constantán: 45 % Ni, 55 % Cu
8.2.3. TIPOS DE TERMOPARES
Crome!: 90% Ni, 10 % Cr
Alumel: 95 % Ni, 2 % Al, 2 % Hacer un termopar es fácil: se toman dos hilos conductores de distinto mate-
Mn,1%Si rial, se unen por uno de sus extremos y ya disponemos de uno. Cuando ca-
Nicrosil: 84,4% Ni, 14,4% Cr, lentemos la unión, en el otro extremo aparecerá una tensión que crecerá con
1,4% Si la diferencia de temperaturas entre las dos uniones. ¿Cuál es el inconveniente
Nisil: 95,5% Ni, 4.4% Si, 0,1%
de optar por una alternativa así? En principio, ninguno. Eso es un termopar y
Mg funcionará como tal. El problema es que la sensibilidad dependerá de los ma-
teriales que hayamos escogido y el comportamiento será mejor o peor, más o
Algunas de las anteriores alea-
menos lineal, también en función de dichos materiales.
ciones son nombres comerciales
regist rados y otras figuran con ¿Cómo fabricar un termopar válido para una aplicación determinada? Ese ya
nombres similares en función de es un problema un poco má~ serio porque intervienen muchos factores ade-
quién sea el fabricante. más del comportamiento termoeléctrico del dispositivo. Por ejemplo, debería
Cuando nos encontremos con ser capaz de poder trabajar dentro del correspondiente campo de medida sin
un determinado nombre en el fundirse, deberla soportar las atmósferas o medios químicos en los que esté
material de un termopar, de- inmerso sin sufrir daños o contaminación de sustancias, debería ser compa-
bemos asegurarnos de qué tible con el ambiente en el que vaya a estar sin contaminarlo ... En otras pala-
material se trata realmente com-
bras, debe haber compatibilidad química y física con el medio en el que esté
probando la composición de la
midiendo.
aleación.
Pero el principal problema es que si estamos empleando un determinado tipo
de termopar, las condiciones industriales imponen la necesidad de que pue-
da ser intercambiado por otro igual sin merma de prestaciones. En otra~ pa-
labras, no se trabaja con un número ilimitado de termopares sino que existen
una serie de ellos que están perfectamente normalizados y en la que cada uno
de ellos es intercambiable por otro del mismo tipo. Se han ido seleccionan-
do determinados materiales por su buen comportamiento (buena linealidad,
alta sensibilidad, buena compatibilidad química, amplio margen de tempera-
tura~). En la Tabla 8.1 se presentan los termopares má~ habituales en aplicacio-
nes de carácter general junto con sus característica~ más destacadas.
En algunos casos, interesa una gran estabilidad en el comportamiento del ter-
mopar a lo largo del tiempo, incluso cuando se usa de forma continua en los
extremos de su campo de medida. Entonces, se recurre a termopares que usan
aleaciones de platino y rodio. En la Tabla 8.2 se muestran algunos de ellos.
364
Tabla 8.1. Termopares más habituales con algunas de sus características generales.
Tipo M+ M- S (pV/"CJ 'll"C] Aplicación y limitacion es

Trabaja en di•continuo hasta 1200 "C
J Hierro Constantán 50 - 270a 800
Sólo atmósferas inertes o reductoras
Uso general.., bajo coste
K Cromel Alumel 41 -200a 1372
Resiste oxidación
Atmósferas reductoras y oxidantes
T Cobre Constantán 43 - 200a 260 Resiste bien la hwnedad
Criogenia
N o es magnético
E Cromel Constantán 68 - 110 a 140
Criogenia
N Nicrosil Nisil 39 -270a 1300 Uso en alta temperatura a bajo coste
Tabla 8.2. Termopares de gran estabilidad con aleaciones de plati no y radio. los datos indican los
porcentajes de platino y rodio en la aleación del metaL
Tipo M+ M- S (pV/"CI 'Jl"C) Aplicación y limitaciones

lViínimo en 21 "C
B 70-30 94-6 5a 10 50 a 1800
No nece.;ta compensación
R 87-13 Platino 12 O a 1500
lviuy estables
S 90-10 Platino 10,8 Oa 1600
Los termopares tienen una linealidad aceptable siempre que no se use todo el
campo de medida disponible, en cuyo caso aparecen no linealidades eviden-
tes. Sin embargo, el termopar S tiene una amplia zona muy lineal por encima
de 700 °C.
Cuando se pretende medir a altas temperaturas los metales están limitados
por el punto de fusión. Para trabajar a temperaturas superiores hay que usar
termopares que sean capaces de mantener el estado sólido y, en este sentido,
las aleaciones de renio y wolframio son las que mejores características tienen
(Tabla 8.3).
Tabla 8 .3. Termopares con aleaciones de wolframio y renio para al tas temperaturas. Los datos
Indican los porcentajes de wolframio y renio en la aleación del metaL
Tipo M+ M- S(pV/"C] 'll"C] Aplicació n.y limitacio nes

G Wolframio 74-26 17
No se usan por debajo de 450 ''C
e 95-5 74-26 16 Oa 2320
Sólo en atm6sferao;; no oxidantes
D 97-3 75-25 17
Cubierta exterior
Cubierta metal +
Metal +
Metal -
Cubierta metal -
Figura 8.11. Aspecto del hilo de un termopar. Los colores están normalizados para los ter mopares
más habituales (Tabla 8.4).
365
Los cables usados para los termopares están normalizados; consisten en un

par de hilos recubiertos de un determinado color y una cubierta adicional
para los dos, como se muestra en la Figura 8.11.
Eso sí, la normalización depende del país o de la correspondiente zona de in-
fluencia, luego podemos encontramos con termopares iguales y cuyos colores
sean diferentes. En la Tabla 8.4 se presentan los casos reconocidos por normas
de ámbito internacional, entendiendo que es posible que en algunos pai~es se
utilicen normativas específicas o de ámbito local.
Tabla 8.4. Colores estandarizados de los cables de l os termopares según las normas ANSI e lEC.
Los t ermopares G, C y D no están normalizados en ninguno de los dos casos.
ANSI lEC
Tipo
Cubierta Hilo + Hilo - Cubierta Hilo+ HUo-
J Marrón Blanco Rojo Negro Negro Blanco
K Marrón Amarillo Rojo Verde Verde !llaneo
T Marrón Azu l Rojo Marrón Marrón Blanco
E Marrón Violeta Rojo Violeta Violeta !llaneo
N Marrón Naranja Rojo Rosa Rosa Blanco
B Gricc Gri• Blanco
R No se ha establecido Naranja N aranja Blanco
S Naranja N aranja Blanco
El marcado y denominación de los termopares está recogido en las normas

internacionales. En concreto la norma EN 60584-3:2008 (equivalente a la TEC
584-3) recoge dichos aspectos; no obstante, la mayoría de los fabricantes de
termopares proporcionan todos los datos recogidos en las norma~ a través de
sus páginas web o de s us folletos informativos.
Hasta aquf se han presentado los tipos de termopares según los materiales de
los que está constituido el sensor, pero dentro de cada uno de ellos hay todo
un conjunto de características constructivas que deben ser tenidas en cuenta a
la hora de elegir el dispositivo más adecuado para una aplicación concreta. A
continuación se detallan dos de las característica~ más importantes:
Tipo de unión
La forma en que se presenta la unión y el contacto que esta tiene con el medio
en el que está midiendo la temperatura es una de las principales característi-
cas. Puede ser una unión expuesta (exposed junction) cuando la unión de los
dos metales está en contacto directo con el medio (Figura 8.12a) o estar recu-
bierta por algún tipo de material (metálico o cerámico). Cuando la cubierta sea
cerámica no habrá contacto eléctrico entre la unión y el medio, mientra~ que
si es metálica puede o no haber contacto galvánico en función de si la unión
toca o no la cubierta. Cuando no hay contacto galvánico Figura 8.12b) tene-
mos una unió n aislada (ungrounded ju.nction), mientras que si lo hay y la carca-
sa está conectada a ma~a (Figura 8.12c) tenemos una unión a m asa (grou.nded
junction).
El uso de uniones expuestas o de cubierta~ metálicas en contacto con la unión
mejora el comportamiento dinámico de la medida puesto que permite una rá-
366
La unión esté eo contacto

oon la carcasa
(o) {b) (e)
Figura 8.12. Uniones de termopar: (a) unión expuest a; (b) unión aislada que no está en contacto
con la carcasa; (e) unión a masa, con la unión conectada galvánicamente a la carcasa.
pida transmisión de la temperatura hasta el punto de medida, mientras que

las uniones aisladas suponen una barrera que retrasa el proceso.
Por otro lado, el uso de uniones expuestas y las conectadas a la carcasa metáli-
ca pueden acabar puestas a tierra en el caso de líquidos conductores lo que in-
troduce una condición eléctrica adicional.
Diámetro del cable

La sección del cable tiene algunas implicaciones a la hora de elegir el termopar
puesto que afecta de tres forma~ diferentes:
• la resistencia eléctrica es inversamente proporcional a la sección, luego con
cables finos y largos se tendrán resistencia~ eléctricas elevada~.
• Un cable grueso supone una masa mayor y eso significa que necesitará más
tiempo para alcanzar la temperatura del medio en el que está. En otras pa-
labras, la respuesta dinámica será más lenta.
• En el caso de medida de temperatura en pequeñas cantidades de sustancia,
un cable grueso introduce una fuerte perturbación en la lectura por dos mo-
tivos: primero porque más masa significa extraer más calor para calentarla
y eso enfrfa la muestra y, segundo, porque un cable grueso evacúa el calor a
lo largo de él mismo y contribuye a enfriar la muestra.
Como se puede observar, hay efectos diferentes que deben ser tenidos en cuen-
ta en cada aplicación. No siempre es importante, pero si tratamos de medir la
temperatura de un liquido en un tubo de ensayo deberíamos usar un cable muy
fino para no perturbar la lectura. Sin embargo, si tratamos de medir la tempera-
tura del agua en una p iscina, probablemente tal consideración sea innecesaria.
8.2.4. CURVAS DE CALIBRACIÓN

La diferencia de temperaturas entre la unión de medida y la fria no produce
una tensión exactamente lineal, sino que presenta un comportamiento no li-
neal que depende de cada termopar.
Las curvas de calibración de los termopares incluyen los valores de la tensión
para cada temperatura de la unión de medida en el supuesto de que la unión
fría esté a O''C. Las curvas de calibración pueden obtenerse en las normaq in-
ternacionales correspondientes, en concreto, la EN 60584-1:1995 (equivalente
a IEC 584-1), y la~ tolerancias en la EN 60584-2:1993 (equivalente a IEC 584-2).
El uso de las curvas de calibración no es práctico a la hora de manejar los
valores puesto que habría que introducir un elevado número de datos (se
367
proporciona un dato de tensión para cada salto de 0,1 °C); para solventar el
problema, la misma norma proporciona una serie de polinomios de alta preci-
sión para cada margen de temperaturas con los que es posible reconstruir tro-
zo a trozo la curva de calibración que figura en las tablas.
Tabla 8 .5. Coefic ie ntes de la expresión polinómica di rec ta de la c urva de calibración de un t ermo·
par T según la norma EN 6 0584·1:1995.
Entre - 270 y O •e Entre o y 400 •e

i "• i "•
1 3,874 810 636 4·10 1 1 3,874 810 636 4·1 0 1
2 4,419 443 434 7·1()4 2 3,329 222 788 0·1()4
3 1,184432 310 5·1!r' 3 2,061 824 340 4·1 !r4
4 2,003 297355 4·11r' 4 -2,188 225 684 6·1tr'
5 9,013 801955 9·10"' 5 1,099 688 092 8·10""
6 2,265 115 659 3 ·1tr' 6 -3,081 575 8?7 2-J()-11
7 3,607115 420 5·1()-'0 7 4,547 913 529 0·1<r14
8 3,849 393 988 3·10-12 8 -2,751290167 H <r"
9 2,821 352 192 5·1 ()-"
10 1,425 159 4'17 9·1()-16
11 4,876 866 228 6·1()-'•
12 1,079 553 92•7 0·1()-ZI
13 1,394 502 706 2·0""
14 7,979 515 392 7 ·11r"
A modo de ejemplo, consideremos el termopar de tipo T; la norma proporcio-

na la~ tabla~ y los polinomios con los que se han obtenido. Para ello es posible
usar el polinomio directo que representa la tensión en función de la tempera-
rora y tiene la forma:
V= La¡·
i
Ti [¡.tV]
donde los coeficientes a1 se indican en la Tabla 8.5 y Tes la temperatura corres-

pondiente en grados Celsius.
También es posible usar el polinomio inverso, el que proporciona la tempera-
tura en función de la tensión leída y que tiene la forma siguiente:
donde la tensión está en ¡JV. Igual que antes, los coeficientes del polinomio es-
tán incluidos en la mi~ma norma; a modo de ejemplo, en la Tabla 8.6 se mues-
tran los coeficientes para el termopar de tipo T.
Tabla 8 .6. Coeficientes de la expresión polinómica inversa de la c urva de calibra ción de un t ermo·
par T según la norma EN 6 0584·1:1995.
Entre -270 y O •e Entre o y 400 •e

i 11, i d,
1 2,5949192·10-" 1 2,592800·10""
2 - 2,13 1696·1()-" 2 -7,60296H<r7
3 7,9018692·1{)-10 3 4,63'1791·1()-11
4 4,2527'177·1()-" 4 -2 165394·1()-''
5 1,3304473·10"16 5
'
6,0481A.t·lü"""
6 2,0241446·1()40 6 -7,293 422-1()45
7 1,2668171-10""
368
En la Figura 8.13 se muestra la curva de calibración del termopar T, obtenida a Conectores para termopares
partir de los polinomios para sus dos zonas de trabajo. En muchos instrumentos de me-
dida se usan conectores hembra
V [/.lV] normalizados para termopares,
20000 conectores previstos para garan-
tizar una temperatura similar en
15000 los dos contactos.
Estos conectores se fabrican en
10000 dos versiones, una ESTÁNDAR,
de pin redondo polarizado (di-
5000 ferente el positivo del negati-
r rcJ vo para evitar una conexión
incorrecta) y otra MINI, de pin
-200 100 200 300 400 plano también polarizado. Las
-5000 dimensiones de estos conectores
es tán recogidas en las normas
ANSI e lEC, awtque no se po-
Figura 8.13. Curva de calibración de un t ermopar de tipo T. nen de acuerdo en el color.
Como se puede observar en la Figura 8.13, la curva no resulta totalmente li- ANSI lEC
neal, aunque si se trabaja sobre una zona concreta, se puede conseguir una li- E granate granate
neal idad aceptable. Para ello sólo hay que proceder a la linealización en el J negru negro
campo de medida mediante un ajuste por mínimos cu adrados, con lo que se K amarillo verde
puede obtener la sensibilidad específica para esa zona. En este caso, la función N rosa naranja.
que define la curva de calibración se reduciría a:
R/5 naranja verde
r marrón azul
V=S' · T+ Vo
Como siempre, todas las normas
Si se pretende eliminar la ordenada en el origen (V), habría que hacer un ajus- de acuerdo para facilitar el tra-
te estadístico del tipo: bajo al diseJ\ador...
que es idéntico a la función que representa el funcionamiento ideal del termo-

par. Este ajuste resultará inferior al primero, pero para algunas aplicaciones
puede ser suficiente. Ambos casos se presentan en la Figura 8.14.
V [/.lV]
Campo de medida
20000
15000
10000
V=S'·T+Vo
V= S·T
T rc1
-200 200 300 400
Figura 8. 14. Posibles ajustes lineales de la curva de calibración de un termopar T.
369

Se pretende utilizar un termopar de tipo K para medir entre 300 y 600 °C.
Obtenga una curva de calibración que proporcione un error de menos
del O,1 %partiendo de los polinomios inversos que aparecen en la norma
EN 60584-1 (Tabla 8.7). ¿Qué sensibilidad tiene el termopar en esta zona?
Tabla 8. 7. Coeficien tes de la expresión polinómica inversa de la curva de calibracióh entre
O y 1372 'C de un termopar K según la norma EN 60584·1 :1995.
En tre o'y soo •e En tre soo'Y 1372 •e

i d i d
l 2,508355-lQ-4 o -1,318058·102
2 7,860106-lo-" 1 41 830222·1
• 0-2
3 -2,503131-1~ 2 -11 646031-10"'

4 8,315270·1(}"' 3 5,464731-1Ir"
5 -1,228034·!r"' 4 -9,6507l5·1D-"'
6 9,804036·10"" 5 8,802193·10""
7 -4,413030·10'"' 6 -3,110810·10""
8 1,057734·1()-00
9 -1,052755·10""
Solución:
Lo primero que debemos hacer es dibujar la curva de calibración en la
zona que corresponde al campo de medida (Figura 8.15).
Como primera opción intentamos un ajuste lineal que produce un error
un poco mayor que el especificado, 0,28 %.:
V= 42,4 · T - 544
Como se nos pide bajar por debajo del 0,1 %, intentamos un ajuste cua-
drático:
V= 0,0018050 · 'P + 40,762 · T- 192,03
cuyo error es del 0,08 %. En la Figura 8.15 se muestran ambos ajustes,

aunque dado el pequeño error de ambos, prácticamente se confunden
con Ja curva de calibración.
30000
25000 V = 42,387· T- 544.06
20000
s:-
=
::.
15000
10000
5000
0 ~------~----~--~--~--~
300 350 400 450 500 550 600
rrc¡
Figura 8.15
370
Si queremos evaluar la sensibilidad del termopar en el campo de medi-

da que nos interesa, la mejor estimación es la que produce la pendiente.
del ajuste lineal que supone un promediado de la sensibilidad en toda
esa zona. Por tanto, podemos concluir que la sensibilidad del termopar
K es de 42,4 ¡¡.V /"C en nuestro campo de meruda, un valor muy próxi-
mo al dato genérico que se daba en la Tabla 8.1.
8.2.5. CIRCUITOS PARA LA MEDIDA DE TEMPERATURA
Hasta aqui tenemos un sensor capaz de proporcionar una tensión "propor-

cional" a la temperatura; en realidad... a la diferencia de temperaturas entre
la unión de medida y la unión fría o de referencia. Si queremos usar este dis-
positivo dentro de un sistema de medida, se presentan nuevos problemas: el
primero es que la temperatura de la unión fría no serán los O''C a los que to-
das las curvas de calibración están referidas; el segundo es que si conectamos
algo a la unión de referencia, se formarán nuevos termopares, puesto que el
metal que usamos para la conexión suele ser cobre, diferente del de la mayo-
ría de los termopares. Afortunadamente este último problema tiene una solu-
ción sendlla puesto que si conseguimos garantizar que los dos puntos de la
unión fría están a la misma temperatura, por la ley de los metales intermedios
no se producirá ningún efecto parásito en la medida y se segtúrá manteniendo
el comportamiento original del termopar; incluso si se produjesen temperatu-
ras diferentes en diversos puntos de esos cables, por la ley de los circuitos ho-
mogéneos no se introduciría ninguna tensión adicional (Figura 8.16).
.17),. 1 Cu
r,
Metal!
.-••-. ..... ... E3 .-•
T : t K·(T-To)
..... .. ·-. .
••• -. r..¡. J-~
••• :..
r,
Cu T,
Meta12 -@
Figura 8. 16. Los circuitos de medida no afectan al valor leído siempre que sus conexiones se en ·
cuentren a l a m isma tem peratura.
Por tanto, podemos medir sin perturbar el funcionamiento del termopar ya

que no aparece ningún nuevo efecto termoeléctrico. Para ello sólo tenemos
que garantizar que los dos puntos de la unión fría están a la misma tempera-
tura, lo que se puede hacer con algún tipo de bloque isotérmico.
Sin embargo, el problema de la unión fría persiste: o se mantiene a O''C o la
medida se modifica para proporcionar una tensión proporcional a la diferen-
cia de temperatura~ )~ como no conocemos la temperatura de la unión fría,
tampoco podríamos saber la temperatura de la unión de medida. La opción
de mantener la temperatura de la unión fría en O"C no es práctica (pensar en
11n~ me7.d:. rlP ~8''~ rlP.stil~rl~ y hiPlo Pn <''}nilihrio rlP fu~ión pnerlP ~er una nt-
riosidad para un juego de laboratorio pero tiene nulo interés como aplicación).
37 1
Mantener la temperatura mediante algún sistema de control de temperatura

dotado de capacidad de calentamiento y refrigeración tampoco parece algo
sencillo y podríamos pensar si realmente merece la pena medir asf.
¿Cuál podría ser la solución al problema de la unión fría? La opción evidente
pasa por medir la temperatura de la unión fría mediante otro sensor y descon-
tar el efecto de la tensión que produce el termopar. Esta acción se conoce como
compensación de la unión fría y se suele llevar a cabo con un sensor de tem-
peratura resistivo, como la NTC o la RID (Figura 8.17).
V• K· T~
T
Circuito de
medida
r
Figura 8.17. Compensación de la unión fría mediante lectu ra de su temperatura con un sensor
resis1ivo.
La pregunta que nos podemos hacer es obvia: si usamos un termopar para

medir temperatura y necesitamos otro sensor para la medida de la tempera-
tura de la unión fría, ¿no sería más lógico usar este sensor directamente? La
respuesta puede ser afirmativa en ocasiones, pero habida cuenta del amplio
campo de medida de los termopares (podemos alcanzar desde - 270 °C hasta
más de 2200 oq y de su buena sensibilidad, nos permite la medida en condi-
ciones en las que otros sensores como NTC o RTD no lo harían. Finalmente, su
precisión puede llegar a ser mucho mayor que la que proporcionan las NTC y
bastante mayor que en el caso de las RTD.
Por tanto, aun con la necesidad de compensación de la unión fría con otro sen-
sor el termopar se convierte en un dispositivo muy interesante para medir
temperatura.
Para efectuar la compensación, se puede optar por un circuito analógico que
s ume la tensión necesaria para ello (Figura 8.17) o se puede realizar intro-
duciendo en el bloque digital una señal que informe de la temperatura de la
unión fría. En cualquier caso, si la temperatura a medir es T y la de la unión
fría es TfY la tensión de salida del termopar será:
Luego el bloque de compensación deberá añadir una tensión igual a K· T0 en el

caso de optar por una solución analógica o realizar esa operación con la deter-
minación de T 0 en el ámbito digital.
La señal proporcionada por el termopar es relativamente débil por lo que
será necesario amplificarla hasta niveles manejables por los circuitos de mo-
nitorización y control. Para ello, se procederá a la amplificación mediante un
dispositivo diferencial ya que la señal que proporciona el termopar es intrínse-
camente diferencial (foigura 8.18). Este sistema no presentaría problemas, aun
en el caso de que el termopar estuviese conectado a masa, ya sea porque la
372
sonda de medida es metálica y está a masa o bien porque hay un camino a tra- Diodos para medir temperatura
vés del medio en el que se está midiendo. Se puede medir temperatura
con casi cualqtúer cosa puesto
que la temperatura afecta a un
gran número de propiedades.
En particular los diodos pueden
T usarse como sensores eficaces
de temperatura y de hecho, al-
gunos circuitos integrados usan
esta propiedad para medir tem-
peratura. El efecto se manifies-
ta tanto en conducción directa
Figura 8. 18. Amplificación de la salida de un termopar.
como en polarización inversa,
aunque es más sencillo usar el
primer caso. En sentido directo,
trabajando polarizado con una
EJEMPLO 8.2 corriente constante, se consigue
Se pretende medir temperatura entre 300 y 600 oc mediante un termo- una s ensibilidad de unos - 2
m V/"C para el silicio con lo que
par de tipo K linealizado según la expresión obtenida en el Ejemplo 8.1.
se puede conseguir un circuito
Evalúe el error que supone no compensar la unión fría sabiendo que su termométrico como el que se
temperatura puede variar de 20 a 30 oc. Diseñe el circuito para obtener muestra a continuación:
una tensión entre Oy 5 V que corresponda, respectivamente, a los ex-
+Vcc
tremos del campo de medida sin efectuar la compensación de la unión
fría, suponiendo que la unión de medida está a masa.
Solución:
No compensar la unión fría significa que no conocemos su valor y que, T
por tanto, sus variaciones introducen una incertidumbre de igual valor.
Si sabemos que la unión fría puede estar entre 20 y 30 oc, podremos
suponer que siempre está a 25 oc con lo que la máxima incertidumbre
se debe a una variación de ±5 ''C. Eso supone un máximo error de me-
dida de 5 1 300, es decir, 1,7 %. Si este error es aceptable, no merece la
pena compensar la unión fría, pero, si no lo es, habría que recurrir a un
circuito de compensación.
Para diseñar el circuito sólo necesitamos determinar la función que tie-
ne que realizar. Partimos de la tensión que produce el termopar y que
es:
con la unión a O°C. Con la unión a 25 °C, tenemos que la expresión es:
V = 42,4 · (T- 25) - 544 = 42,4 · T- 1604
Para 300 °C la tensión es 11,1 m V, mientras que para 600 °C resulta ser
23,8 m V. Lo primero que haremos será amplificar con un amplificador
diferencial, con lo que la señal final estará referida a masa independien-
temente de la conexión de la unión de medida. Como habrá después
otra P.tap::t pa~a l'f'M::tr Pl ciP.spla 7.::tmiPnto cie tP.nsión ciehicio "' l::t unión
fría, podemos usar una ganancia cualquiera (alta). Si elegirnos 200 como
373
ganancia, conseguiremos un valor de tensión apreciable a la salida de la

etapa: 2,22 - 4,.76.
Para realizar una función que pase ese margen de tensión a 0-5 V, resta-
remos el valor de 2,22 V y procederemos con una amplificación poste-
rior 51 (4,76 - 2,22) = 1,9.7. En la Figura 8.19 se muestra el circuito que
lo hace y, como antes se indicó, la presencia de la conexión a masa del
extremo del termopar no e$ un problema para el circuito. Las dos resis-
tencias que producen el valor que se resta se calculan como un divisor
resistivo a partir de una tensión de referencia (hemos elegido 5 V).
2,22 -4,76 V 191<7
10KO
0 -SV
Figura 8 .19
La compensación de la unión fría puede hacerse mediante un sensor de tem-

peratura resistivo como los estudiados en el Tema 6, pero es mucho más có-
modo recurrir a sensores de temperatura integrados en combinación con
convertidores A/ D específicos para su uso en termopares y que son capaces
de gestionar la ten~ión que produce el termopar y la que genera el sensor de
compensación (Figura 8.20).
AJO
Sensor temp. 1---1

integrado
Figura 8.20. Compensación de la unión fría mediante un Integrado específico para la medida de
temperatura y un convertidor AJO diseñado para este f in.
Un ejemplo de este tipo de sistemas lo constituye el MAX6610 (max6610.pdf)

de la firma Maxim Integrated, capaz de proporcionar el valor de la temperatu-
ra de la unión fría cuando se sitúa en sus proximidades y de suministrar una
ten~ión de referencia muy estable para el convertidor A/D que efectúa la com-
pensación (Figura 8.21).
A pesar de que una solución como la anterior resulta muy compacta, preci-
sa pocos cálculos y no tiene demasiados componentes, es posible efectuar la
374
Vce
AIN1+
AIN1 4 ,11
:a"'
MX7705 ~
$
e
Muy
AIN2+
AIN2· CLKIN
+S Vce TEMP REF+
REF- CLKOUT
MAX6610 GND
REF
Figura 8.21. Circuito práctico de com pensación de la unión f ría de un termopar mediante uncir·
cuito integrado específico para la medida de tem peratura: el integrado debe si tuarse muy cerca de
la conexión del termopar y se debe situar un pequeño filtro de paso bajo pasivo (una red RC) para
reducir el ruido en la medida.
compensación con cualquier tipo de sensor de temperatura, como los ya es-

tudiados o como los diodos y otros dispositivos con un mayor nivel de inte-
gración.
En los circuitos que utilizan termopares pueden resultar relevantes la~ resis-
tencias de los cables del propio termopar. Aunque en los antiguos circuitos
estas resistencias podían llegar a distorsionar las medidas cuando los cables
resultasen muy largos, ya que terminaban formando parte del propio circui-
to de amplificación, los actuales dispositivos de alta impedancia de entra-
da o las medidas en corriente hacen que tales parásitos no sean importantes
para el cálculo, y, en esencia, su única aportación es contribuir al ruido ge-
nerado que puede llegar a ser muy grande si se está midiendo a temperatu-
ras elevada~.
Para resolver el problema, dado que la medida de temperatura se hace en con-
tinua y ya que la respuesta dinámica de los sistemas de medida de temperatu-
ra suele ser lenta, se recurre a reducir fuertemente el ancho de banda mediante
filtros de paso bajo que pueden incorporarse mediante una sencilla red RC
(o un simple condensador si se aprovecha la propia resistencia del cable), tal
como se muestra en la Figura 8.22.
Vn csble +
Rcable+
Rcablo ·
T
Figura 8 .22. Ruido en los termopares debido a l a resistencia de los cables y redes RC pa ra su
reducción.
375
8.2.6. EFECTOS PARÁSITOS DEBIDOS A TERMOPARES

EN SISTEMAS INSTRUMENTALES
En algunos ca~os, los termopares aparecen en cualquier circuito sin que se les
haya invocado. Asf es, siempre que concurran en un punto dos metales dife-
rentes y haya una diferencia de temperatura, el efecto termopar aparece. Aun-
que el valor de la tensión generada sea pequeño, su efecto puede llegar a ser
particularmente importante en los casos de medidas que necesiten gran preci-
sión o en las que estén involucradas ter\Siones muy pequeñas.
Afortunadamente, los equipos de medida no suelen tener temperatura~ muy
elevadas ni suelen presentarse cambios drásticos de temperatura de tm punto
a otro, por lo que el efecto, de producirse, será de pequeño nivel. También es
cierto que para que estos fenómenos se produzcan es necesario que concurran
dos metales diferentes y esto sólo suele ocurrir en los puntos de conexiól\ ta-
les como horneros o conectores. Pero si todo ello ocurre y, al final, tenemos 20
o 30 "C de diferencia entre dos puntos de un circuito con dos metales diferen-
tes involucrados, enseguida podemos introducir una tensión parásita de 300 o
400 ¡IV que, además, puede mostrarse como errática debido a su origen térmi-
co por una causa no siempre controlada.
Un ejemplo de tensión termoeléctrica parásita se puede observar cuando ca-
lentamos uno de Jos terminales de tm polfmetro cuando está midiendo tensio-
Una nevera de sobremesa nes bajas. Observaremos que la lectura evoluciona según la temperatura del
contacto (Figura 8.23).
La conexión USB de los compu-
tadores tiene muchas misiones Puntas de Polímetro
de comunicación pero también
se ha utilizado para otras aplica-
ciones más curiosas que forman
prueba
Cobre
T
íl Metal del conector
~ l
parte de los gadgets que hacen
la~ delicias de los frikis y es que COM V V= K(T,- T,)
Cobre Metal del conector
rV
la posibilidad de disponer de
una alimentación de 5 V y con
una capacidad de 500 mA da
para mucho, desde W\ pequei\o
ventilador de sobremesa hasta...
w1a nevera. Figura 8.23. Error de medida en un polfmetro por efecto termopar al produci rse u n calen tamiento
No se trata, claro está de una p untual en uno de los conectores resp ecto del otro.
máquina con capacidad para
guardar el pescado o la fruta Aunque este experimento es artificial ya que no suele darse tal circunstancia
ni para hacer hielo sino de una en la práctica o, al menos, no de forma muy intensa, situaciones similares sí
pequeña cámara suficiente para que se pueden producir debido a calentamientos puntuales en un circuito pro-
contener una Jata de refresco. vocados por la circulación de corriente, la proximidad a bloques de potencia,
¿Cómo se consigue? Pues la
circuitos digitales a alta frecuencia (y alto consumo) o medida~ de tensión so-
respuesta hay que buscarla en
el uso de celdas Peltier que con-
bre equipos eléctricos o electrónicos de potencia.
siguen bajar algw10s grados la Estas tensiones parásitas pueden falsear las medidas o introducir realimen-
temperatura de la bebida para tación térmica (puede llegar a ser positiva) y, en consecuencia, causar errores
nuestras eternas horas ante el realmente apreciables, máxime si la tensión parásita se produce en una línea
computador. de ma~a o de referencia para el si~tema de medida.
¿Una idea intc..rc::;antc? Si aní noo
Para evitar el problema o, al menos, reducirlo, se debe procurar evitar calenta-
Jo parece quizá es que también
t enemos un cierto toque freak ...
mientos diferenciales entre puntos de un circuito de medida y, sobre todo, en
376
los conectores. Para ello, se deben reducir todas las distancias, procurar una
buena disipación térmica de las zonas más calientes mediante radiadores o
convección forzada y facilitar una buena conductividad térmica entre los di-
versos puntos de tm mi~mo circuito.
8.2.7. CELDAS PELTIER Y TERMOGENERADORES
Una de las principales aplicaciones de la termoelectricidad es el uso de celdas

Peltier para refrigeración, un uso que empezó restringido a la refrigeración de
componentes electrónicos (por seguridad, para evitar la9 derivas térmicas o
para reducir su ruido térmico) y que ha terminado en la construcción de neve-
ras basadas en dichos dispositivos.
El efecto Peltier es el que predomina en este ca9o y, como se indicó en el apar-
tado 8.2.1, consiste en hacer que el calor circule de una unión a otra mediante
el pa~o de corriente eléctrica. De esta forma, una de las uniones se calienta y la
otra se enfría (Figura 8.24a).
En un sistema real, existen muchas más uniones para conseguir que la po-
tencia calorífica trasvasada sea más grande (Figura 8.24b). En condiciones
óptimas, una celda Peltier permite obtener una diferencia de temperatura
entre sus dos caras de hasta 40 oc en cualquier sentido (según el sentido de
la corriente) aunque el proceso de conducción de calor de una a otra cara a RTG (RITEG)
través de la propia celda limita tal diferencia a menos de 25 ''C. Aun a~f, si en Los termogeneradores de ra-
una de las caras tenemos una temperatura de 25 "C, en la otra se podría lle- dioisótopos (RTG o RITEG,
gar a O oc (o a 50 °C). También es posible situarlas en serie, de tal modo que Rndiolsotope ThemoElectric Gene-
la cara fría de una esté adosada a la cara caliente de la siguiente con lo que rators) son pequeños sistemas
se suman los efectos y se permite bajar aún más la temperatura, aunque el capaces de producir energía
resultado es menor que la suma algebraica de los efectos, debido a la dificul- eléctrica a partir del calor pro-
tad de evitar la circulación de calor por el efecto del elevado gradiente tér- ducido por la desintegración
atómica de material racUacth'o.
mico.
El calor producido en la desin-
FLUJO DE CALOR
tegración se usa para calentar
una de las placa~ de una celda
Contactos de metal Peltier y conseguir, de esa ma-
1
nera, una p roducción estable,
compacta y duradera de energía
eléctrica.
El problema que tienen estos
sistemas es la p roducción de
radiactividad que les hace sólo
adecuados para aplicaciones
{a) {b) de tipo espacial. Muchas de las
sondas espaciales de explora-
Figura 8.24. Celda Pelt ier: (a) funcionamiento basado en el efecto Pelt ier; (b) aspecto de una celda
Peltier usada para refrigeración.
ción usan este tipo de sistemas
cuando están demasiado lejos
del Sol como para usar pane-
La~ celdas Peltier se usan sistemáticamente en los sistemas de instrumentales fotovoltaicos. Este tipo de
ción cuyos sensores deban estar a baja temperatura, aunque su uso no suele sistemas se ha usado desde
permitir bajar muy por debajo de - 30 oc. Para temperaturas inferiores se recu- las misiones Apollo, Voyager y,
rre o otros medios de refrigeración como el uso de nitrógeno líquido o, inclu- recientemente, en las sondas
so, helio lfquido. Cassini, GaJileo o en el rover "Cu-
riosity''
377
El termopar produce una señal que implica una transferencia de energía neta
desde el sistema (mediante la diferencia de temperatura) hasta los termina-
les de salida donde se desarrolla la tensión. De hecho, el termopar no necesita
ningún tipo de alimentación ni amplificación para funcionar ~ en los prime-
ros tiempos se usaba un pequeño milivoltímetro sobre cuya escala se había si-
tuado la escala de temperatura.
El problema es que la energía que permite extraer es muy pequeña, puesto
que su configuración está pensada para medir sin perturbar y no para apro-
vechar las posibilidades térmicas del sistema. Sin embargo, con un diseño tér-
micamente más eficaz, como el de una celda Peltier, es posible conseguir una
potencia mucho mayor, susceptible de ser usada como generador para alimen-
tar algunos circuitos. Sólo hace falta una diferencia de temperatura y se con-
sigue una tensión perfectamente utilizable. Así se tiene un termogenerador
(thermoelectric generator) (Figura 8.25).
El aspecto de estos sistema~ es similar al de las celda~ Peltier, aunque se pue-
den fabricar mediante técnicas híbridas de capa fina y reducir mucho su volu-
men y peso, produciendo integrados termogeneradores (thermogenerator chips).
Estos sistemas no suelen producir tensiones muy elevadas lo que constituye
un inconveniente a la hora de gestionar la energía eléctrica generada; pero el
principal problema es su escaso rendimiento, que ronda el 5 %.
1
V ce
Vo Sistema
Circuitos boost para termoge- alimentado
neradores
El principal problema de los GNO
sistemas de generación eléctri-
ca basados en el efecto Peltier
estriba en la baja tensión de sa-
Cara caliente
lida que producen cuando la di-
ferencia de temperaturas entre
ambas placas es pequeña; esto Figura 8 .25. Termogenerador basado en el efecto Pelt ier alimentando a un sistema electrónico: la
diferencia de temperaturas provoca un flujo de calor a través de la cel da que genera una energía
hace prácticamente imposible
eléctrica que se mani fiesta en una tensión y una corriente; las aletas de refrigeración permiten una
la alimentación de directa de la mejor disipación de la cara fría y mejora el funcionamiento del sistema.
mayorfa de los circuitos electró-
nicos del sistema.
Para poner en contexto estas ideas, pongamos el ejemplo de un termogenera-
Para solventar el problema se dor de 40 x 40 mm: con una diferencia de temperaturas de unos 50 °C entre
han desarrollado pequeí\os con-
sus caras tendría la capacidad de producir una tensión de unos 6 V en vacío y
vertidores DC/ DC elevadores
(boost) capaces de trabajar con
de generar unos 6 W siempre que el flujo de calor a través del dispositivo sea
tensiones realmente bajas en la de unos 120 W. Esto obliga a emplear disipadores que faciliten la salida del ca-
entrada, tan bajas como 0,1 V. lor y que pueden lastrar el volumen y el peso del conjunto)~ a la postre, limi-
Un ejemplo de este tipo desiste- tar su aplicabilidad.
mon en el convertidor integrado La baja tensión que puede llegar a producirse cuando la diferencia de tempe-
de Texas lnstruments bq25504
ratura es pequeña se gestiona con circuitos integrados específicos, como pe-
(bq25504.pdf).
378
queños convertidores CC/CC elevadores (DC/DC boost converters), capaces

de trabajar con tensiones de entrada muy bajas y producir niveles suficientes
como para alimentar pequeños sistemas instrumentales.
Con todos estos problemas, el sólo hecho de poder disponer de alimentación
sin necesidad de baterías permite dotar a los sistemas portátiles y de medida
remota de una gran flexibilidad de uso.
8.3. SENSORES PIEZOELfCTRICOS
8.3.1. EL EFECTO PIEZOELÉCTRICO
El efecto piezoeléctrico consi~te en la aparición de cargas eléctricas sobre de-

terminada~ estructuras cri~talinas cuando sobre ellas se ejerce una fuerza. Fue
descubierto por los hermanos }acques y Pierre Curie en 1880 y completado Sónar
por Ferdinand Gabriel Lippmann en 1881 con la corroboración posterior de El SONAR activo es un disposi-
los hermanos Curie. El efecto es perfectamente reversible, es decir, se genera tivo que emite un pulso de soni-
carga a partir de la fuerza aplicada o se produce una fuerza a partir de la car- do y recoge el eco; la medida del
ga inducida sobre el cristal (Figura 8.26). tiempo entre la emisión y la re-
cepción informa de la distancia
++:!+++ -~L-- +
a la que se encuentra el objeto
1 en el que tal eco se produjo.
Su uso ma~ivo como dispositi-
1 11 1
1 1 1 1
vo táctico en la Segunda Guerra
f +++;+++
(a) (b)
1
Mundial pe rmitió disminuir
la eficacia del arma submari-
na y en el caso de la estrategia
de Alemania qu.e basó su lucha
Figura 8.26. Efecto piezoeléctrico: (a) ante la aplicación de una fuerza que deforme el cristal se contra Reino Unido en la des-
produce la aparición de carga eléctrica; (b) si se aplica tensión sobre el cristal se puede producir tr ucción de convoyes de su-
su deformación y, si se hace de forma alternativa, empezaría a vibrar. ministro mediante los U-boots
(unterseeboot), la pérdida de la
El efecto piezoeléctrico se produce en diversas sustancias, entre las que se iniciativa en el Atlántico.
pueden citar, sobre todo, algunos tipos de cristales, los que tienen una estruc- En la actualidad el sonar activo
tura que no posee simetría central; en concreto, aparece en cristales naturales en aplicaciones militares está
como el cuarzo, la berlinita, la sacarosa, la sal de la Rochelle, el topacio y las restringido al uso en sonobo-
turmalinas. También se produce en determinados materiales cerámicos y en yas lanzadas desde aviones o
algunos materiales de origen biológico (hueso, ADN, dentina o, incluso, ma- helicópteros ya que su uso des-
dera). de barcos es contraproducente
debido a que revela su propia
Duxante mucho tiempo el efecto piezoeléctrico permaneció como una cuxiosi- posición y, junto con el eco, re-
dad de laboratorio hasta que ya entrado el siglo xx se empezaron a ati~bar las cibiría una misiva muy poco
primera~ aplicaciones prácticas. En 1910, el físico alemán Voldemar Voigt pu- amistosa en forma de torpedo.
blicó un extenso estudio en el que se detallaba matemáticamente el comporta- Sin embargo, el sónar se sigue
miento piezoeléctrico de 20 clases de cristales piez.oeléctricos y, a partir de la usando en aplicaciones de pes-
Primera Guerra Mundial se empezó a ver la posibilidad de usar este tipo de ca para la detección de bancos
di~positivos en aplicaciones como el SONAR (SOutrd NAvigation atrd Range), de peces, en la exploración deL
que permite conocer distancias a objetos mediante sonido en aplicaciones na- fondo marino en la búsqueda de
pecios o en la cartografía.
379
vales. Sin embargo, las prestaciones eran malas y las posibilidades de detec-
ción real de submarinos enemigos tuvieron que esperar a una ocasión mejor.
Y, ¿qué mejor escenario que la Segunda Guerra Mundial? Durante la contien-
da, físicos de Estados Unidos, la Unión Soviética y Japón desarrollaron (inde-
pendientemente, que no estaban los tiempos para colaborar) nuevos cristales
sintéticos con un efecto piezoeléctrico mucho más notorio que el que exhibían
los cristales naturales.
La lista de materiales sintéticos que poseen propiedades piezoeléctricas es
bastante larga e incluye cristales sintéticos como el ortofosfato de bario o el
LGS (silicato de lantano y galio) y materiales cerámicos, entre los que cabe
destacar varios titanatos (BaTiO• y PbTIO J, el PZT (titanato-circonato de plo-
mo), algunos niobatos (KNb03 y UNbq,) y otros materiales también cerámi-
cos, como tantalatos, wolframatos y diversos óxidos. De todos estos, el PZT es
muy habitual en muchos dispositivos piezoeléctricos, pero, en la actualidad,
hay una cierta tendencia a eliminar el plomo de las composiciones de materia-
les piezoeléctricos, debido a la capacidad de acumulación en organismos vi-
vos y la toxicidad que causa. Así se han desarrollado materiales como el NKN
(Niobato de sodio y potasio), que tiene propiedades similares al PZT, pero sin
plomo.
La mayoría de los materiales piezoeléctricos, sobre todo los de mayor sensi-
bilidad, presentan una cierta degradación de sus propiedades a lo largo del
tiempo, degradación que se incrementa con la temperatura de trabajo. Esto
hace que su comportamiento a lo largo de su vida útil varíe significativamen-
te Jo que puede dar lugar a re-calibraciones de los equipos que los usen como
sensores.
8.3.2. MODELO DE UN SENSOR PIEZOELÉCTRICO. ZONAS

DE USO
Sea cual sea el material piezoeléctrico que se use, el dispositivo así formado
tiene un equivalente eléctrico que recoge su comportamiento energético con la
inclusión de una pequeña disipación de energía y almacenamiento de energía.
En la Figura 8.27 se muestra el correspondiente equivalente eléctrico en el que
el efecto en sí mismo viene representado por la fuente de tensión V que resul-
tará proporcional a la fuerza aplicada:
donde 1 es la sensibilidad del dispositivo y F es la fuerza aplicada.

la inductancia L está asociada a la masa inerte del sensor, la capacidad e,
está asociada a la elasticidad y C1 depende en gran medida de la capacidad
estática del dispositivo dado que su construcción se realiza con un cristal
(aislante) situado entre dos placas metálicas, lo que constituye un conden-
sador.
Para completar, la resistencia R 1 representa los efectos no conservativos liga-
dos a la viscosidad y R, se encarga de modelar la resi~tencia de fugas del dis--
positivo y que, en casi todos los casos, puede obviarse, dado que su valor es
muy elevado.
380
Contactos
R, L e,
V
.l Cz Rz
Vo
D
T
(a) (b) (e)
Figura 8.27. Sensor piezoeléctrfco: (a) con st it ución del di sposi tivo; (b) sfmbolo de circuito; (e)
model o eléctrico.
Si se representa el comportamiento del dispositivo en función de la frecuencia,

tenemos un diagrama como el que aparece en la Figura 8.28, en el que se ob-
servan tres zonas claramente d iferenciadas.
A muy baja fre.cuencia, la resistencia de fugas R2 establece un límite de traba-
jo, una frecuencia de corte, por debajo de la cual el sistema tiende a dar seiíal
nula. Sin embargo, este valor es tan bajo que, en la práctica, puede considerar-
se que el si~tema proporciona seiíal en continua. En la rni~ma Figura 8.28 se ha
dibujado el diagrama despreciando el valor de esta resistencia. No obstante,
la medida de fuerzas constantes no es sencilla porque en el mismo momento
que apliquemos un dispositivo para leer la seiíal estaremos incluyendo su re-
sistencia de entrada R, y, con ello, volvería a aparecer el mismo efecto que pro-
duce la resistencia~' aunque, probablemente, mucho más intenso, dado que
R2 suele ser siempre un valor muy grande, mientras que R, depende del siste-
ma de medida.
No obstante, se podría medir una fuerza constante utilizando un amplifica-
dor de carga como el que se presentó en el apartado 8.1.2 (Figura 8.3), aunque
las dificultades de diseño pueden empujar hacia otras soluciones diferentes,
como galgas extensométricas o di~positivos capacitivos.
( VofV)dB
Sin resistencia de
Zona de
__ / __fu
:>'g_a_
s _ _ _ _ _ _,.., resonancia
Zona pla na log f
Figura 8.28. Respuesta frecuencial de un sensor piezoeléctrico con y sin resistencia de fugas.
En la zona plana, el dispositivo actúa como sensor con una relación directa en-
tre la seiíal generada y la señal que se produce en la salida. Esta zona se pue-
de usar para la medida de fuerzas vibratoriaq con un equivalente como el que
se indica en la Figura 8.29, en el que la inductancia no tiene peso aún, las re-
sistencias son despreciables y sólo quedan los dos condensadores y la fuente
de tensión.
381
[Vo/V]•e
e,
V e,
Vo
lag f
Figura 8.29. Equivalente simplificado del sensor piezoeléct rico en la zona plana.
La tensión de salida que se produce serfa:

el
vo =e1 + e2 A.F
La sensibilidad del dispositivo a la fuerza sería, pues:
Sp =
el A.
e1 + e2
En lugar del equivalente como fuente de tensión de la Figura 8.29, también es

posible con~iderar un modelo de circuito como fuente de corriente (de carga),
tal como se presenta en la Figura 8.30.
.....
1, Q e
-
1(
Vo
Figura 8.30. Equivalente con fuente de corriente (carga) del sensor piezoeléctrico en la zona plana.
En la zona de resonancia se consigue la máxima transferencia de energía )~

aunque la respuesta es muy dependiente de la frecuencia (el factor de calidad
es muy elevado debido a la esbeltez de la zona producida por una resistencia
R 1 muy pequefia) se puede aprovechar para algunas aplicaciones, como las re-
lacionadas con la emisión y recepción de ultrasonidos.
8.3.3. APLICACIÓN EN LA MEDIDA DE FUERZAS

VIBRATORIAS
Los sensores piezoeléctricos pueden utilizarse para la medida de diversas
magnitudes vibratorias relacionadas con la fuerza, tales como presión o acele-
ración ya que la obtención de una fuerza a partir de una presión o de una ace-
leración es relativamente sencilla.
Para la medida de fuerzas vibratorias sólo se podrá usar el margen de frecuen-
cias que corresponde a la zona con respuesta plana, en cuyo caso la tensión de
382
salida no siempre será la que se comentaba en el apartado anterio~ que corres-

ponde a la tensión en vacío, sino a la que se produzca una vez contabilizados
los parásitos de las conexiones y la impedancia de entrada del correspondien-
te amplificador, seg<m se muestra en la Figura 8.31.
Sensor
Cable
e,
c. e c.
Vo
Figura 8.31. Efecto de l a conexión del cable y del amplificador sobre la tensión de salida del sen·
sor piezoeléctrico.
En efecto, si se considera que el cable de conexionado tiene una capacidad

parásita Cw y el amplificador tiene una capacidad de entrada c ,.. la tensión
que se producirá a la entrada del amplificador quedará modificada ya que
estas dos capacidades quedan en paralelo (sumadas) con la capacidad C2,
lo que contribuye a una cierta pérdida de tensión. El valor final de la ten-
sión de salida del sensor que corresponde al de entrada del amplificador,
sena:
En función de los valores de estas capacidades, puede ser necesario incremen-

tar considerablemente la ganancia, lo que exigirá un mejor comportamiento
en cuanto a GBW del amplificador empleado.
También se produce un efecto adicional, debido a la resistencia de entrada del
amplificador, como es la modificación del primer polo, que se desplazará ine-
(Vo/V]da
"-+-----,.,;..1 • . -.-•. - •• -"' .......... -" '

•• 1
•'
' ''
'
' '' log f
''
'' Nueva zona plana
Figura 8.32. Efecto de la carga (cable + amplificador) sobre la curva de respuesta frecuencial del
sensor piezoeléctrico: pérdida de ganancia y reducción de la zona plana.
383
vitablemente hacia frecuencias más elevadas y causará un recorte en la parte

baja de la banda pasante del sistema (Figura 8.32).
EJEMPLO 8.3
Un sensor piezoeléctrico tiene una sensibilidad a la fuerza de 5 m V /kN y
presenta una resistencia serie y una inductancia tal que le permite trabajar
con respuesta suficientemente plana por debajo de 2kHz. Si las capacida-
des son C, = 40 y C2 = 20 pF seg6n el equivalente eléctrico de la Figura 8.29,
determine la tensión que recibiría en su entrada un amplificador conectado
mediante un cable de 5 m (12 pP 1m) y que tiene un equivalente de entrada
constituido por una resistencia de 160 MQ y una capacidad de 24 pR ¿Cuál
es la mínima frecuencia a la que podría trabajar en esta~ condiciones?
Solucwn:
Lo primero que hacemos es determinar la capacidad total del cable a lo
largo de sus 5 m, que será de 5·12 = 60 pF.
Así, el equivalente del conjunto es el que se muestra en la Figura 8.33,
que incluye el equivalente del cable y del amplificador.
40p
1
rsoM
-
S·F
20p
Vo
60p 1
1
1
1
1
1
24p
SENSOR CABLE AMPU
Figura 8.33
La nueva ganancia del sistema viene determinada por la relación entre

las capacidades con lo que la tensión de entrada al amplificador será:
Vo =
ct íl.F
Ct + C2 + Cw + Ce
Para este caso:

40
Vo= 40 + 20 + 60 + 24 5. F = 1,39. F
donde la fuerza F está en [kN] y la tensión Vo en (mV]. Como se puede

observar, la sensibilidad se ha reducido a casi la cuarta parte sólo por el
hecho de haber conectado el sensor al amplificador mediante un cable.
Para determinar la mínima frecuencia de trabajo consideramos la fre-
cuencia de corte inferior a 3 dB (no hay ningún dato explícito de error
en el enunciado). Para ello, el sistema se puede suponer como el de la
Figura 8.34.
384
40p
--
160M
104p
5·F
Vo
Figura 8.34
En estas condiciones, la respuesta freruencial del sistema viene dada por:

V o= jw ·160M· 40p . S . F = jw · 0,0064 S. F
1 + jw ·160M· (40p+ 104p) 1 + jw · 0,0166
Lo que significa que la limitación inferior en frecuencia viene determi-

nada por el polo, es decir, Wc = 1/0,0166 = 60,2 rad/s o, lo que es lo
mismo, fe= 9,59 Hz.
Dado que la capacidad del cable afecta a la medida y que esta capacidad está
determinada no sólo por el tipo de cable de conexión sino por su longitud,
cualquier cambio en este sentido (tipo o longitud) deriva inmediatamente en
un cambio en la tensión final con el correspondiente error.
Una solución para este problema pasa por la utilización de un sensor que in-
cluya el propio amplificador con lo que la salida no sólo tendrá una tensión
mucho más alta sino que será insensible a las modificaciones del cableado (Fi-
gura 8.35).
+Vce o +Vcc
Sensor
_L
Ampli. Vo
o OV
F
--o
T
l Vo =K·F
-Vce o - Vcc
Figura 8.35. Sensor piezoeléctrico que i ntegra el amplificador y su equ ivalente eléctrico.
Una gran cantidad de sensores piezoeléctricos son de este tipo con lo que el
diseñador se despreocupa del cableado y de su longitud, aunque el nuevo si~
tema precisa un conexionado más complejo puesto que se debe sumini~trar la
alimentación para el conjunto.
Si en lugar de medir fuerza, se pretende medir una presión o una aceleración,
se debe situar un mecanismo que realice la transformación correspondiente.
En la Figura 8.36a se muestra cómo se puede medir una presión con un dispo-
sitivo de este tipo y; en la Figura 8.36b, cómo se mide la aceleración.
La medida de presión puede darse en el caso de onda~ de sonido (micrófonos,
hidrófonos, etc.) y la medida de v ibración puede darse en muchos más casos,
como para la medida de vibraciones e impactos.
385
Medida de vibración
F=S·(P - Po)
La medida y supervL~ión de la p
vibración es una actividad fre- Superficie
cuente en el mundo industrial,
no por el interés mismo de esa
variable sino porque la apari-
ción de determinadas vibracio-
nes suele ser un síntoma de que
algo anda mal.
(a) (b)
Las vibraciones, en general, son
manifestaciones que producen Figura 8.36. Sensores piezoel éctricos de presión (a) y aceleración (b). En ambos casos. se produce
movimientos anómalos que im- u na transf ormación de la magnitud en una fuerza que actúa sobre el sensor p iezoeléctrico.
plican desgastes y consumo de
energía, con lo que, en el me-
Una aplicación de los dispositivos piezoeléctricos que se ha desarrollado mu-
jor de los casos, su presencia es
cho es la de los hidrófanas, empujada por las aplicaciones militares; la detec-
indicativo de un rendimiento
energético esca~o.
ción de submarinos mediante di~positivos de escucha basados en arrays de
hidrófanas que permiten detectar la presencia de estos buques por las ondas
Sin embargo, el principal pro-
sonoras que generan (hélices, intercambiadores de calor y ruido hidrodinámi-
blema es que su origen suele
estar ligado a desajustes mecá-
co). Un caso muy típico es el sónar pasivo del tipo TACTAS (TACtical Towed-
nicos, desgastes y deterioros de Array Sonar) que consiste en un conjunto de hidrófanas arrastrados por un
piezas, aspectos que cobran una barco, capaces de determinar el tipo de sonido y la dirección de la que vie-
importancia vital cuando se tra- ne. Su configuración es esencialmente la que se muestra en la Figura 8.37a y el
ta de equipos críticos. Casos de concepto básico de su funcionamiento es relativamente simple, tal y como se
este tipo lo constituyen los sis- muestra en la Figura 8.37b.
temas de ventilación en túneles
y minería, motores y equipos de
En esencia, el cálculo de la dirección se podría hacer con un par de hidrófa-
aviación, y estructuras móvUes nas, pero el hecho de di~poner de muchos de ellos permite limitar el efecto de
en general. la incertidumbre en la detección producida por la propia recepción de la señal
y las pequefias di~crepancias de distancia entre los hidrófanas, mediante un
La medida de vibraciones y su
análisL~ constituyen una de las
proceso de análisis estadístico.
medidas básicas de los sistemas
Ancla flotante
de mantetúmiento preventivo, Sección de hidrófonos Bloque no sensible
una linea de actuación típica en
todos Jos sistemas con carácter
crítico. Bloques de 1000 - 2000 m
(a}
aislamiento acústico
(Vibration isolafion module, VIM)
(bl
Figura 8.37. Sónar pasivo de tipo l ACTAS: (a) constitución del sónar y secciones correspond ientes;
(b) funcionam ien to; las ondas de sonido emit idas por el objeto a detectar llegan con un retardo a
los d iferentes h idrófonos q ue depende de la d i rección de donde venga el son ido y las señales de
salida (V) se generan con ese mismo retardo.
386
TEMA 8 . SENSORES GENERADORES DE SEriiAL • •
EJEMPLO 8.4
Un arrat¡ de hidrófonos marinos está formado por sensores separados
20 m. Determine la curva de calibración que relaciona el retardo produ-
cido en la recepción con la dirección de la que viene el sonido sabiendo
que la velocidad del sonido en la~ condiciones específicas de la prueba
es de 1500 m 1s.
Solución:
Consideremos sólo dos hidrófonos separados por la distancia que se
indica y que reciben una onda plana de sonido de una determinada di-
rección, como se muestra en la Figura 8.38. La distancia d recorrida por
la onda desde que Uega al hidrófono n +1 hasta que alcanza el hidrófono
n está determinada por el ángulo a según:
Si consideramos el tiempo que tarda el sonido en recorrer esa distancia

a la velocidad indicada, tenemos que:
2
t · 1500 = 20 · cosa a = acos ...,..,-,---
150. t
expresión que constituye la curva de calibradón del sistema.

20m
Hldrófono Hldrólono
n ·..=+..., r--h n+1
¡-----! t-r---i
Figura 8.38
Otra posible aplicación es la detección de velocidad por e fecto Doppler.

Cuando emitimos un sonido hada un objeto, el eco que este produce tiene una
frecuenda diferente a la del sonido emitido según la velocidad a la que ese ob-
jeto se mueva respecto de la fuente de emisión:
donde fes la frecuencia de la señal emitida, f' es la frecuenda recibida, v es

la velocidad a la que se mueve el objeto y e es la velocidad del sonido en ese
medio. Quizá el lector estará pensando que este sistema es el que permite de-
tectar la velocidad de los vehiculos y generar las correspondientes sanciones
cuando alguien se salta los limites en la carretera... En realidad no se usa el so-
nido porque la precisión y la resolución sería muy baja, pero este sistema sí
387
tiene aplicación en otros casos con el entorno de medida un poco más contro-
lado. Es el caso de la m edida de la velocidad en líquidos, un problema com-
plejo en tuberías no llenas y cauces abiertos (canales, lechos de rfo, etc.); la
idea consiste en la detección de la velocidad a la que viajan las partículas en
suspensión mediante efecto Doppler (Figura 8.39).
• V·~~
Liquido
•
• ~-,., ,, l 1
•
1
: •
,, Partícula en
'1 suspensión
• f \ , ,1
Emisor
Figura 8.39. Uso del efecto Doppler para calcular la velocidad de un lfquldo mediante el cálculo
del desplazami ento de frecuencia de los ecos en las partículas en suspensión que viajan con el
lfquido.
Las frecuencias recogidas permiten determinar la velocidad de todas las par-

tículas, y su promedio proporciona una información fiable de la velocidad
media del líquido. Con datos geométricos de la sección del líquido se puede
medir el caudal y, con datos sobre la densidad, el flujo másico.
Las limitaciones de este sistema hay que buscarlas en líquidos muy limpios
(sin partículas en suspensión) en los que no se pueden conseguir ecos suficien-
temente intensos como para ser recogidos con fiabilidad.
8.3.4. APLICACIÓN EN RESONANCIA. SENSORES

DE ULTRASONIDOS
Una de las principales aplicaciones de los dispositivos piezoeléctricos es el

manejo de señales que trabajen en la zona de resonancia del sensor. De he-
cho, las primeras aplicaciones utilizaron esta zona de trabajo debido a que la
señal es muy intensa, muchas veces más que en el caso de trabajar en la zona
plana. El problema es que es una zona muy selectiva en frecuencia ya que re-
sulta muy esbelta (Q > 1000), por lo que sólo se consigue un óptimo funciona-
miento trabajando en el pico de resonancia. Eso hace que los sensores de este
tipo sólo tengan buena sensibilidad a una frecuencia (o en una banda muy es-
trecha), pero eso no es un problema ya que, en general su uso se restringe a la
técnica de medida pulso-eco.
Como quiera que el efecto piezoeléctrico es reversible, se puede producir una
excitación a una determinada frecuencia y el di<>positivo empezará a vibrar o
puede recibir vibraciones y producir una señal de tensión de la frecuencia de la
señal que reciba. Si excitamos un di9positivo piezoeléctrico a la frecuencia de
resonancia, la eficiencia será máxima y se generará la correspondiente vibra-
ción que, transmitida a una membrana, producirá una intensa onda de sonido.
Un dispositivo análogo que reciba dicha onda también lo hará en el pico de re-
sonancia con lo que produciría la consecuente onda de tensión. Pues bien, si a
este proceso de emi'>ión-recepción añadirnos el eco sobre un objeto y contamos
el tiempo entre la emi<>ión y la recepción, tenemos un sistema de detección de
distancias a objeto mediante la técnica pulso-eco, justo el concepto de sónar ac-
388
tivo que duxante la Segunda Guerra Mundial puso en ventaja a los Aliados en
la Batalla del Atlántico. En la Figuxa 8.40 puede verse un esquema de la idea.
Pulso el.
E~nvu
Emlcor
$0nido
Oseibdor
E ..
t
V r,
--1
r, - -2d
e
Figura 8.40. Técnica pulso·eco: la distancia se puede obtener a partir del tiempo que tarda en
llegar el eco desde que se envió el pulso.
La distanciad se calcularía mediante una expresión muy sencilla:

e · t1
d= --=
2
Murciélagos
donde e es la velocidad del sonido en el medio de que se trate y t1 el tiempo
La naturaleza también ha ge-
que pasa desde el envío del pu1~o hasta la llegada del eco.
nerado opciones de detección
La medida de distancia mediante la técnica pulso-eco de sonido ofrece, en pri- mediante la técnica de pulso-eco
mera instancia, un potencial destacado ya que el sistema es sencillo y versá- como la que utilizan los mur-
til y; si a ello unimos el hecho de di~poner de emi~ores y receptores con buena ciélagos para detectar objetos y
eficiencia, como son los cristales piezoeléctricos, todo parece indicar que el presas. El término que se em-
sistema sería una solución óptima en muchos casos. En función de la forma plea para esta habilidad p.resen-
te en algunos cetáceos y en los
del tallado del cristal piezoeléctrico, de su tamaño y del material se pueden
quirópteros se denomina ecolo-
conseguir picos de resonancia en diversos lugares del espectro de frecuencias
calizadón.
aunque Jo normal es trabajar bastante por encima de la frecuencia de sonido
audible por el ser humano (20 k.Hz en el mejor de los ca9os), en lo que se ha Los murciélagos pueden gene-
rar sefiales de sonido entre 15 y
dado en llamar ultrasonidos con frecuencias de 30 o 40 kHz.
200 kHz en función de la especie
Sin embargo, la medida tiene una serie de limitaciones que es necesario conocer: y del motivo por el que emitan
• La velocidad del sonido en medios líquidos y ga~eosos es variable en fun- el sonido. El sonido se produce
por contracciones rápidas de la
ción de la temperatura. Por ejemplo, para el aire exento de humedad:
laringe y se amplifica en las ca-
vidades nasales. Una de las fi-
y·R · T nalidades por las que producen
e= el sonido es para la captura de
M
p.resa~, algwnas de eUas sólo pe-
queños insectos.
donde y es el coeficiente de dilatación adiabática que depende delga~ y que Sin embargo, algunas presas
vale 1,4 para el aire, R = 8,314510 J1mol·K es la constante universal de los han desarrollado técnicas para
gases, Tes la temperatura en Kelvin y M, la masa molar del gas que vale entorpecer ios sistemas de eco-
0,0289645 kg 1mol para el aire seco. localización. Tal es el ca~o de la
poliUa tigre, capaz de perturbar
En la práctica, se p uede usar una expresión más sencilla, como la siguiente:
el sónar de los murciélagos me-
diante la enúsión de ultrasoni-
e= 331,3 + 0,606 · T [m/s] dos lo que const-ituye un claro
ejemplo de interferencia volun-
donde la temperatura T está en grados Celsius. taria natural (rwtu-ral jamming).
389
En el caso de los líquidos, la velocidad viene expresada por:
donde K es el módulo de compresibilidad del líquido y p, su densidad. Pero

tampoco es un factor constante ya que la temperatura y la presión afectan
a la expresión y, en el caso de líquidos no puros (como el agua de mar),
las sustancia~ disueltas tienen un efecto importante. En el caso del agua de
mar, existen ecuaciones que permiten estimar aceptablemente el valor de la
velocidad del sonido, como la ecuación de Mackenzie:
donde Tes la temperatura del agua en grados Celsius, h es la profundidad

en metros y S', el diferencial de salinidad (S'= S - 35 [o/oo]).
En el caso de los sólidos hay que tener en cuenta la forma. Por ejemplo
cuando todas las dimensiones son similares, la velocidad viene dada por:
E(l-v)
e=
p(l- Zv)(l + v)
donde E es el módulo de Young del material, p es su densidad y n, el

coeficiente Poisson. Si, por el contrario, el material tiene una dimensión
predominante (se trata de una varilla o una barra), la expresión se sim-
plifica:
Como se puede observar, en el caso de los sólidos los cambios son míni-
mos, mientras que en el resto de los casos, podrían darse variaciones im-
portantes en el valor de la velocidad del sonido, con lo que la expresión del
cálculo de distancias presenta una incertidumbre que habrá que tener en
cuenta.
• La detección del momento en que llega el eco presenta incertidumbre debi-
do a la forma de onda del eco. La forma habitual de detectar la llegada es
mediante tm circuito que realice la comparación con un determinado nivel
para decidir no sólo el momento en el que llega la señal sino para distin-
guirla del ruido de fondo (Figura 8.41), igual que el squelch usado en comu-
nicaciones.
Pero, como el eco recibido no es igual que la señal emitida (pul~o) sino que
presenta una envolvente que depende de la forma y del tipo de superficie
del objeto, el momento de detección puede retrasarse ha~ta un cuarto de
periodo de la onda de sonido o, incluso, más de wt pedodo comple to. Si
suponemos, un ca~o normal, con emi~ores1receptores de 40 kHz, un retraso
390
Emisión Estudios submarinos

Una de las aplicaciones más im-
portantes de los ultrasonidos es
t el análisis de la corteza terrestre,
sobre todo con las miras pues-
ta~ en la búsqueda de recursos
mineros como yacimientos de
ECO petróleo o gas. El estudio no es
Recepción todo lo inocuo que debería ya
que los emisores que producen
el sonido cuyos ecos luego se
t
recogerán producen una intensi-
Ruido de fondo
dad muy elevada.
Dicho sistema de emL~ión sue-
Tiempo medido- le causar fuertes molestias a
Error de tiempo
parte de la fauna marina, sobre
Figura 8.41 . Error en la medida de t iempo debido a establecer un umbral eco· no eco de compara· todo a los cetáceos y a otros
ción para discernir la señal recibida del ruido de fondo. animales grandes. Existen va-
rios ejemplos, pero quizá el
de un cuarto del periodo equivale a 6,25 ¡¡s, mientras que si el retraso es de más llamativo es la muerte de
más de un periodo superará los 25 ¡ts. Y 25 ¡.¡s significan 8,5 mm de error en varios ejemplares de calama-
res gigantes (kraken) en las cos-
el aire y más de 30 mm en el agua de mar.
tas de A~turias, en relación con
Si de lo que se trata es de detectar un submarino de 100 m de eslora, la las pruebas realizadas sobre el
verdad es que no es un error apreciable, pero si estamos tratando de hacer fondo marino. También se han
la medida de la altura de líquido en un depósito, el error puede ser inacep- observado fenómenos de des-
table. orientación de grandes cetáceos
relacionados con este tipo de en-
sayos que les ha llevado a que-
dar varados en playa~.
EJEMPLO 8.5
Un silo de cereal está constituido por un cilindro de 20 m de altura¡
para determinar su nivel se emplea un emisor y un receptor de ultra-
sonidos que trabajan mediante la técnica pulso-eco. DeteJ'Tnine el error
de medida sabiendo q).le la temperatura del aire en el interior puede
variar desde - 10 9C hasta 50 "C. Proponga un sistema para corregir ese
error.
Soluci6n:
La variación de la velocidad del sonido viene dada por la expresión:
e= 331, 3 + 0,606 · T [m/ s)
que, para el caso que nos ocupa, supone un cambio desde 325,24 m/ s
para - lO "C hasta 361,6 m/s para 50 "C. Si suponemos el punto medio
de temperatura (20 "C) para calcular la velocidad del sonido y la altura
del cereal en el interior del silo haremos el cálculo para una velocidad
de 343,42 m/ s, lo que supone un error en la estimación de la velocidad
(y de la altura) de 18,18 m/ s, es decir, un 5,3 %.
Para resolver el problema, se podría medir la velocidad del sonido
usando un obstáculo situado a una distancia conocida; en tal caso, se
391
obtendrían dos ecos, el primero debido al obstáculo )T, el segundo, debi-

do al cereal (Figura 8.42).
\
Eco 2
(cereal)
Figura 8.42
En este sistema, tenemos que:
d = t1 · e x = t2 • e
es decir, que la medida se puede hacer sin que se vea afectada por la
velocidad del sonido. Otra opción, también práctica y que no precisa
situar el obstáculo para ser detectado pasa por la medida de la tempe-
ratura y por efectuar la correspondiente corrección térmica del :¡istema.
Como se puede ver, la medida de distancias con la técnica pulso-eco tiene sus
limitaciones )', por lo general no es la mejor forma de hacer esa lectura. Sin
embargo, además de las aplicaciones de detección submarina (la mayoría des-
tinadas a detección de bancos de pesca y estudio de fondos marinos), existen
algunas aplicaciones muy habituales en las que el sensor piezoeléctrico es pie-
za fundamental.
Detección de imperfecciones en materiales

La relativa constancia de la velocidad del sonido en el seno de los materia-
les sólidos hace que los ultrasonidos se usen para la detección de fallos inter-
nos en los materiales -sobre todo los empleados en la construcción- y que
392
son de acceso mucho más complejo para otras técnicas como las radiográfi-
cas. La idea es muy sencilla: si se tiene un material uniforme y lo sometemos a
un pulso de sonido, este se propagará por el interior y producirá una onda re-
flejada (eco) y otra reflejada cada vez que se encuentre con un cambio de me-
dio. Supongamos un sillar de la pared de un monumento (Figura 8.43); si no
tiene ningún problema, el único eco procederá del que se produzca en la pa-
red opuesta, pero, si hay un fallo interno, se producirá antes un eco correspon-
diente a ese fallo.
Limpiar con ultrasonidos
Onda
refractada Eco 1 Los ultrasonidos se utilizan para
limpieza general de piezas e.n jo-
:;_:-_.-_.:.-:,_.-::~-r::=E~::'~':=::~;..:: oetect en el material
yería, indLL~tria electrónica, au-
Eco 2 tomoción y Medicina.
Onda emitida
La idea es el uso de varios
transductores p iezoeléctricos
EMISOR RECEPTOR trabajando en resonancia a fre-
cuencia~ elevada~ (30 a 150 kHz)
para transmitir trenes de ondas
t a un baño de tma determinada
solución en la que está sumergi-
da la pieza a limpiar. La~ ondas
Eco 1 producen zonas de presión y
t depresión que provocan peque-
ña~ burbuja~ (se produce cavita-
Eco2
ción). Esto permite someter a la
pieza a limpiar a un proceso de
Figura 8.43. Detección de defectos en un material medi ante ultrasonidos: la apari ción de un se· golpeteo constante que arranca
gundo eco indica la presencia de un defecto en el material o una falta de uniformidad del mismo
la suciedad, incluso en las zona~
ya que se produce una onda reflejada cuando hay cambio de medio.
más recónditas.
En el caso de la limpieza dental
Así, es posible analizar el estado de cualquier construcción o estructura de
por ultrasonidos, los transduc-
una forma no invasiva y, en particular, esta técnica es muy útil en la compro-
tores piezoeléctricos se sit<tan en
bación de monumentos con una cierta edad. los extremos del instrumento de
Sin embargo, la realización práctica de la idea no es tan sencilla puesto que limpieza que produce vibracio-
hay que tener en cuenta los aspectos cuantitativos: con las pequeñas distan- nes a 25-30 kHz y que es capaz
cias que se manejan y la velocidad del sonido en los sólidos, mayor que en de arrancar la capa de sarro.
gases y líquidos, nos encontramos que el tiempo que tarda la señal en ir y
volver es muy corto. Por ejemplo, en un sillar de piedra por el que el sonido
viaja a má~ de 5000 m/ s y en el que queremos una resolución de 10 cm para
detectar fallos internos, un pulso de sonido tardará 40 ¡ts en ir y volver. En
ese tiempo se tiene que haber enviado el pulso completo y si este se compo-
ne de cuatro ondas completas de sonido, la frecuencia mínima del sonido se-
ría de 100 kHz. Mejores resoluciones obligan a incrementar la frecuencia del
sonido.
Estudio del subsuelo

Del mismo modo que antes, si enviamos una onda de sonido a través del sub-
suelo recibiremos ecos con los cambios que la onda de sonido se vaya en-
contrando tales como estratos, dolinas, bolsas de gas, de agua, de petróleo o
cualquier otra incidencia geológica. De hecho esta es una técnica muy habitual
393
Osciladores a cristal para buscar lugares óptimos para realizar prospecciones o para estudiar la es-
La esbeltez de la zona de reso- tabilidad del terreno subyacente ante e l proyecto de alguna obra de una cier-
nancia de los cristales piezoeléc- ta envergadura.
tricos permite que se comporten En realidad, si se parte no sólo de los ecos sino de los cambios de velocidad
como filtros muy selectivos, es
de sonido en función del tipo de materiales, se puede llegar a confeccionar un
decir, capaces de dejar pasar
sólo una banda muy estrecha de mapa bastante aproximado de lo que hay bajo nuestros pies.
frecuencias en torno a esa fre- Sin embargo el proceso no es tan sencillo, sino que obliga a usar una potencia
cuencia de resonancia. de sonido muy elevada y en el caso de que se haga en los fondos marinos, las
Esto se puede usar para conse- ondas de sonido pueden ocasionar graves daños en animales grandes, tales
guir osciladores muy estables, como cetáceos o calamares gigantes.
con aplicación en el desarrollo
de sistemas de medida de tiem-
po y, cómo no, como relojes en Ecografía
sistemas digitales. Para ello, se Hasta que la ecografía no estuvo a punto como técnica médica, el seguimiento
dispone comercialmente de dis-
del embarazo era mucho más dificil y la detección de problema~, casi imposi-
positivos piezoeléctricos (crista-
les) de muchas frecuencias y su ble, debido a que el uso de técnicas radiológicas es contraproducente duran-
uso no puede ser más sencillo: te los diversos estadios de formación del feto y podría afectarle de forma muy
mediante un inversor Schmi- grave. La aparición de la técnica ecográfica ha permitido una detección precoz
tt-trigger realimentado se hace de los problemas y más allá de ofrecer a los padres una imagen del futuro vás-
un oscilador con un pequeño tago, pone en manos de los profesionales de la salud la posibilidad de actuar
condensador y una resistencia y; de forma mucho más eficiente ante cualquier contratiempo.
en paralelo con el condensador
se sitúa el cristal: El uso de las técnicas ecográficas se extiende a diversos campos de la Medi-
cina y de la Veterinaria como herramienta de diagnóstico de muchas enfer-
R medades, cuando la radiología no resulta tan eficaz. Los primeros estudios se
llevaron a cabo en Austria en 1942 para la detección de tumores cerebrales y,
desde entonces se han sucedido la~ aportaciones en la identificación de las res-
puestas de los diferentes tejidos hasta catalogar cuanto puede haber dentro de
un ser vivo. La idea de cómo funcionan Jos ecógrafos actuales no se diferencia
mucho de la aplicación militar del sónar pa~ivo tipo TACTAS; están compues-
El oscilador RC sólo sirve para tos por un conjunto de emisores 1receptores, aunque, en este caso, el proceso
excitar al cristal en el arranque; de desfa~e (phase arra.y tec1miques) tiene lugar tanto en la emisión como en la
más tarde, será el propio cristal recepción (Figura 8.44).
el que mantenga la oscilación
en "su frecuencia", puesto que La producción de la onda plana se consigue por retardo en la excitación de
el resto serán eliminadas al no los diversos emisores, de tal forma que el ángulo de emisión depende de la
tener casi ganancia por estar le- distancia entre los elementos ,v del retardo entre la excitación de dos trans-
jos de la resonancia. El oscilador ductores consecutivos; de esa forma se consigue que la onda salga en la direc-
podría no necesitar el conden- ción que deseemos. El conjunto de emisores produce una secuencia de ondas
sador (unos pocos picofaradios)
planas en diversas direcciones con lo que realiza un barrido de toda la zona.
puesto que es posible que el
Luego, el eco que se recoja informará no sólo de la distancia (por el tiempo
sistema arranque por sí mismo,
pero su presencia garantiza que transcurrido desde la emisión), sino de la dirección de donde viene gracias a
eso ocurra al tener capacidad de disponer de un conjunto de sensores que lo recogerán con un retraso depen-
oscilar por su cuenta. diente de la dirección y de la di~tancia que los separe.
Tras recoger la información de ecos recibidos en cada dirección se procesa
para conseguir confeccionar un mapa de todo aquello que causa un eco y fi-
nalmente, proporcionar una imagen. Como en el caso del estudio de estruc-
turas sólidas, el problema es el corto tiempo que tran=re entre el pulso y el
eco, lo que obliga a trabajar con e.eñales de ultrasonido de frecuencias bastan-
te alta~ (más de 2 MHz).
394
Generadores p iezoeléctricos
N·_r,_ liu
~
¡' '
1 · 1--t---1--------+
L...l..-----""--'
Se pued e generar energía eléc-
trica a partir de los dispositivos
piezoeléctricos, aprovechando
Pw
~~~-r----· 1-+--+ Emisores
cualquier fuerza alternativa
aplicada sob re estos materia-
les. Algunos ejemplos d e esto
•
p ueden ser suelos que bajo los
baldosines incorporan placas
piezoeléctricas ca paces de trans-
formar las pisadas en energfa
(l ;
c·t,
as i n - eléctrica o la~ rodad as de un ve-
d lúculo... o de un tren.
en el medio
Todo este tipo de aplicaciones
está bajo estudio puesto q ue hay
que tener en cuenta tanto los
costes para saber Jo barata que
resulta esa energía como la fiabi-
Figura 8 .44. Generación de una onda plana en una determinada dirección mediante retardos apli·
cactos a un conjunto de emisores piezoeléctricos. lidad d e tales sistemas.
También se están empezando a
La ecografía médica tiene también otra versión basada en el efecto Doppler plantear aplicaciones de mate-
para la identificación de la velocidad a la que circulan los fluidos en el interior riales poliméricos con capacidad
piezoeléctrica, mucho menos rf-
de los seres vivos; en tal caso, la medida es similar a la presentada al final del
gidos y, por tanto, susceptibles
aparatado 8.3.3. Con este tipo de sistemas se consigue identificar, por ejem-
de ser usados en suelas de calza-
plo, la presencia de obstáculos a la circulación de la sangre tales como trombos do con vistas a la genexación de
cuyo efecto p uede llegar a ser letal. energfa para cargar dispositivos
móviles o similares.
Dispositivos de ondas acústicas superfici ales Son muchas las alternativas y
las posibilidades que se abren,
Una onda acústica superficial (SAW, Surface Acoustic Wave) es una onda de
pero aún no hay soluciones a es-
sonido que se propaga sobre una superficie elástica; se puede aprovechar en cala comercial.
dispositivos electrónicos que realicen diversas funciones tales como líneas de
retardo, filtros, osciladores y transformadores. Los dispositivos SAW (SAW
devices) están constituidos por un sustrato piezoeléctrico; en uno de sus extre-
mos recibe una excitación de tensión capaz de generar la vibración del cristal
y en el otro, el sensor es capaz de recoger la vibración y generar la correspon-
d iente tensión como en cualquier dispositivo piezoeléctrico. Como se puede
Amonjgu.:~dor
acústico r--------,
1 1 -
'V
1 1! 1 .,"o
•
1
IV-ión
' u 1 ..~
10 1 1 l ____ t ___ _ 1
1 10 1 2
Vatlab&e a me<tlr
Figura 8.45. Idea básica de un sensor SAW: la señal vibracional Introducida por el IDT 1 se propa-
ga por la zona de medida y queda afectada (modulada) por la variable a medir. La señal resultante
con la Información cte esa variable llega al IU1 <! que la recoge y la pone a disposición del procesa-
dor para extraer dicha información. Los amortiguadores acústicos evitan la aparición de ecos que
viajarían en los dos sentidos y perturbarían la medida.
395
ver en la Figura 8.45, tanto el emisor como el receptor tienen una construcción
especial formada por varios terminales entrelazados que se denomina trans-
ductor interdigital (l'nterDigitated 'Iransduer, IDT).
Los dispositivos de este tipo pueden ser usados como sensores aprovechan-
do la capacidad de la zona intermedia entre el emisor y el receptor por la que
circula una vibración mecánica para ser influenciada por diversas variables
como la temperatura, el esfuerzo mecánico o el par y llevar esta modulación
hasta el receptor. Un procesado posterior permitirá recoger la información de
tales variables.
8.3.5. SENSORES PIROELÉCTRICOS
La piroelectricidad es un fenómeno que se conoce desde hace mucho tiempo;

el primer dato sobre ella procede del año 310 a. C., del naturalista Tirtamo de
Ereso (apodado Teofrasto), quien observó que un trozo de turmalina adquiría
la capacidad de atraer pequeños objetos cuando se calentaba. Las siguientes
descripciones son de dos milenios más tarde; en el siglo xvm el fenómeno fue
descrito por Johann George Schmidt, Luois Lemery y Carl Linneaeus pero no
fue ha~ta 1747 cuando Franz Ulrich Theodor Aepinus consiguió demostrar la
relación del fenómeno con la electricidad.
Aunque inicialmente, sólo determinados cristales fueron identificados como
poseedores del efecto piroeléctrico, en la última mitad del siglo xx se des-
cubrieron las mismas propiedades en otros materiales, como diversos po-
límeros del v inilo, lo que amplía la gama de posibilidades y el diseño de
los sensores derivados de la piroelectricidad. En la actualidad, el efecto pie-
zoeléctrico se produce en materiales monocristalinos, materiales cerámicos y
polímeros.
El fenómeno piroeléctrico consiste en la generación de cargas en la sustan-
cia sensible cuando es sometida a un cambio térmico; desde un punto de
vista práctico, dicho cambio se produce por la llegada de una onda de ra-
diación térmica (Figura 8.46), por lo que, en esencia, los sensores piroeléctri-
cos son sensores de radiación; el comportamiento del dispositivo es similar
al de los cristales piezoeléctricos y también lo es su equivalente eléctrico,
con lo que presenta las mismas limitaciones a la hora de trabajar con nive-
les constantes.
- "
..
Radiación
V
( )
c2
Vo
(a) (b)
Figura 8.46. Sensor piroeléctrico: (a) la presencia de radiación térm ica produce cargas en los ex·
Iremos del cristal; (b) equivalente eléctrico simplificado de un sensor piroeléctrico.
La utilidad de los sensores piroeléctricos para la medida de temperatura de

los cuerpos sin contacto con ellos se debe a que cada cuerpo emite una radia-
396
ción térmica que está relacionada con la temperatura de su superficie (en el

ca~o de un cuerpo negro, según la ley de Stefan-Boltzmann); esa radiación lle-
ga al sensor y produce la carga correspondiente que se traduce en una tensión
de salida. El problema es que si no se producen cambios, la tensión producida
va cayendo hasta hacerse nula. La primera aplicación de este dispositivo es el
pirómetro, un termómetro que no necesita contacto con el punto en el que tie-
ne que realizar la medida.
Para el funcionamiento de un pirómetro basado en el efecto piroeléctrico se
debe utilizar algún sistema que permita exponer y ocultar alternativamente el
sensor a la radiación con lo que se producirá una señal alterna de excitación
térmica cuya amplitud estará relacionada con la temperatura del objeto, según
se indica en la Figura 8.47.
::'J{_.-T V= f(T)
/ r¡J" lL-----<0
Fuente térmica
Sensor piroeléctrico
Figura 8.47. Esquema básico de funcionam iento de un pirómetro: el sensor piroeléct rico es ex:·
puesto al ternat ivamente a la radiación, con lo que se produce una señal al terna a la sal ida cuya
amplitud depende de la temperatura de la fuente térmica.
La ventaja de los pirómetros radica en la posibilidad de medir la temperatura

de objetos lejanos y de objetos muy calientes, es decir, con temperaturas que
imposibilitarían el uso de los sensores estudiados hasta aquf (resistivos y ter-
mopares) y con los que la máxima temperatura que es posible medir sobrepa-
sa ligeramente los 2000 "C.
La aparición de carga con los cambios de temperatura apunta hacia aplica-
ciones muy concretas, como la detección de pulsos de luz procedentes de )á-
seres. Otra aplicación muy habitual de la piroelectricidad en los sensores es
la protagonizada por los sensores de movimiento PIR (PlR sensor: Pyroelec-
tric InfraRed sen.sor), que detectan el calor producido por la radiación infra-
rroja sobre un dispositivo piroeléctrico con la ventaja de que la radiación
puede ser tan baja como la que emite el cuerpo humano por lo que el dis-
positivo es útil en aplicaciones de seguridad. Un sensor PrR dispone de dos
partes sensibles cuyos efectos se restan, y una lente (habitualmente un len-
te de Fresnel) para fijar la zona en la que es capaz de detectar; cuando la ra-
diación cambia del mismo modo para las dos zona~ sensibles, el efecto total
resulta nulo ya que las señales son similares y; al restarlas, dan un resultado
nulo. Pero, si un objeto que emite radiación pasa sólo por la primera de las
zonas de detección, una de las dos mitades del sensor recibe un cambio de
397
la radiación y la otra no, de modo que la señal de salida no es nula; cuando

el mismo objeto pase por delante del otro sensor, se producirá el efecto con-
trario y la salida tampoco será nula. En la Figura 8.48 se muestra un diagra-
ma de este proceso.
1 2
(+) (-)
' ' - ,----~o
~
''
PIR 1 (+)
Zonas de detección
PIR2 (-) D
TL----~o
Figura 8.48. Funcionamiento de un sensor de movim iento PIR: cuando el objeto que emite l a ra·
diación pasa por delante de la primera zona de detección, el sensor produce una salida positiva
y cuando pasa delante de la segunda zona, negativa. Nota: cualquier parecido del personaje del
dibujo con un político es pura coincidencia.
Como este tipo de sensores proporciona una salida digital (existe o no existe
movimiento), la señal se amplificará y, con posterioridad se introducirá un ni-
vel de comparación para determinar cuándo el cambio de radiación es lo sufi-
cientemente grande como para dar la alarma.
8.4 SENSORES OPTOELECTRÓNICOS
Dentro de este apartado incluiremos algunos sistemas que son sensibles a la

luz aunque no todos ellos tienen la misma naturaleza. La mayoría es de esta-
do sólido, de semiconductor, y su funcionamiento se basa en la generación de
cargas capaces de acceder a la banda de conducción, mientras que alguno de
ellos trabaja gracias al efecto fotoeléctrico.
8.4.1. FOTODIODOS Y FOTOTRANSISTORES
Uno de los dispositivos más utilizados en el mundo de la Instrumentación

Electrónica es el fotodiodo (PD, PlwtoDiode) cuyo funcionamiento se basa en
la generación de portadores de carga capaces de alcanzar la banda de conduc-
ción mediante la excitación de los electrones por absorción de fotones.
Aunque las primeras referencias a la interacción entre la luz y Jos materia-
les semiconductores datan de la segunda mitad del siglo XIX, el primer ex-
perimento de algo parecido a un fotodiodo tuvo lugar en 1939, cuando el
ingeniero Russell Shoemaker Ohl demostró el efecto de la luz sobre una unión
rectificadora formada accidentalmente en una barra de germanio.
398
En condiciones normales, en un diodo sin ningún tipo de polarización se El físico norteamericano Russell
habrá producido una zona de carga espacial por difusión de los huecos Shoemaker Ohl (1898-1987) se
desde la zona p a la zona n y por difusión de electrones de la zona n a la puede con~iderar como el inven-
tor de la célula solar, es decir, el
p; el proceso termina cuando la tensión que se genera (cargas positivas en
que descubrió la sensibilidad del
la zona n por la ausencia de los electrones y negativas en la zona p por au-
material semiconductor a la luz.
sencia de huecos) es suficiente como para equilibrar la tendencia a la di-
fusión. El aspecto del diodo en esta situación es el que se muestra en la Trabajó activamente en el estu-
dio de la unión sem.iconductora
Figura 8.49a.
p-n para definir sus mecanis-
Fotón mos de funcionamiento aunque
su trabajo no siempre fue bien
p - + p entendido dentro de los Labo-
-
-
-
+
+
+
"' ratorios Bell. De hecho, suya
- + es la fra~e referida a su trabajo:
- + "There were a great many ene-
- +
- + mies to this work with semi -
conductors; you have no idea
how many people opposed that.
Zona de carga
Vacuum tube people said that
espacial
there is nothing to it and it is
(a) (b) al! a lot of tommyrot, and that
Figura 8.49. Funcionamiento de un f otodiodo: (a) en condiciones normales, se forma una zona de sort of thing'' . Estos chicos de
carga espacial (zona de transición) en los alrededores de la unión por difusión del exceso de porta· las válvulas ... Menos mal que
d ores en cada lado; (b) al llegar un fotón con energía suf iciente a la zona de carga espacial produce personas de la valía de Brattain
el arranque de un par electrón·hueco que es atraído por la barrera de potencial que es favorable. (coinventor del transisto r de
unión y con dos Premios Nobel
Con la unión pn en equilibrio hay una zona intermedia de carga espacial en su haber) entendieron perfec-
(zon a de transición) en sus alrededores que establece una barrera de poten- tamente la importancia del tra-
cial. Supongamos ahora que a dicha zona llega un fotón con energfa suficien- bajo de RS. Oh!.
te como para arrancar un par electrón-hueco, es decir, con la energfa suficiente
como para excitar a un electrón y permitirle sobrepasar la banda prohibida
hasta alcanzar la banda de conducción.
La carga positiva y la negativa a~f generada~ serán atraídas por los respecti-
vos lados de la unión, generando una corriente neta en el diodo (Figura 8.49b).
Cuantos m á~ fotones lleguen, más posibilidades tienen de interactuar y, por
tanto, la corriente generada será mayor. Dicha corriente estará formada por
los electrones que tenderán a circular de la zona p a la n y por los huecos que
Jo harán en sentido contrario; en otra~ palabras, dado que el sentido conven-
cional de la corriente es el de circulación de los huecos (contrario al de circula-
ción de los electrones) se producirá una corriente inversa en el diodo, es decir,
una corriente neta que circula den a p (Figura 8.50).
-
Figura 8.50. Funcionamiento de un fotodiodo.
399
Longitud de onda y número de Como quiera que la corriente inversa que circula está causada por los fo-
onda tones incidentes (luz incidente), se suele denominar fotocorriente (pltotocu-
Para indicar el lugar que una rrent). En las circunstancias explicadas hasta aquí resulta ser proporcional a
determinada radiación ocupa en dicha luz:
el espectro electromagnético se
pueden usar indistintamente la 1F =k· L
conocida longitud de onda o la
notación menos habitual del nú-
Donde L es la intensidad de luz incidente, l F es la fotocorriente y k, la foto-
mero de onda (wave:number) que
indica cuántos ciclos de una se-
sensibilidad (ph.oto sensitivity) que depende del diodo y que se mide en A/W.
ñal caben en la unidad de longi- El mismo efecto se produce con una tensión inversa aplicada sobre el dispo-
tud; ambas son igual de válida~ sitivo: la fotocorriente circularía en el mismo sentido que con la polarización
y útiles. De hecho, en muchos nula.
tratados de Física se prefiere Pero la~ cosas no son tan sencillas ya que la luz no es una magnitud caracteri-
esta última notación y también
zada por un único parámetro sino que es una magnitud vectorial )~ además,
es muy frecuente cuando nos re-
tiene un espectro luminoso que representa la energía correspondiente a cada
ferimos a señales con baja ener-
gía, es decir, de alta longitud de una de las longitudes de onda que la componen. En otras palabras, cada uno
onda (infrarrojo lejano). de los fotones que componen la luz tiene una energía que depende de su lon-
gitud de onda según:
La conversión entre longitud de
onda y número de onda es muy e
sencilla:
E=h·v=h· -
A.
.¡; = 1/A.
Donde h = 6.62606957·10-M Js es la constante de Planck y v, la frecuencia de la
que se suele expresar en cm· '.
onda, e es la velocidad de la luz y A., la longitud de onda.
Se generará el par electrón-hueco si la energía del fotón es suficiente como
50.000 cm-•
para que el electrón supere la banda prohibida; en caso contrario, no ocurri-
200nm
rá. Como la energía decrece con la longitud de onda, existirá una longitud de
25.000 cm· ' 400nm onda máxima por encima de la cual los fotones no contribuirán a incrementar
la fotocorriente (Figura 8.51).
14.300 cm· ' 700nm
Cada uno de los materiales empleados para hacer semiconductores tiene
1 1 una anchura característica de su banda prohibida (una energía), por lo que
~
~~ ~ IR cada semiconductor tendrá una longitud de onda máxima para responder a
3.300 cm· ' 3.000nm los fotones con la producción de fotocorriente. En la Tabla 8.8 se indican los
valores de la energía de la banda prohibida de algunos materiales semicon-
'"' ..,..,,
,.., <P I
100 cm- 1
f ·it
~
·::>
e:
10.000 nm
ductores .
Banda de conducción
Energía de la
Fotón con energfa suficiente:
banda prohibida
El electrón alcanza la banda de conducción
fl[l Fotón con poca energra:

_,/Él electrón cae a la banda de valencia
o o
Banda de valencia
Figura 8.51. Efecto de la energía del fotón sobre la producción de pares electrón·hueco: sólo cuan·
do la energía del fotón supera al ancho de la banda prohibida se consigue que el electrón alcance
la banda de conducción y se produzca el par electrón·hueco.
400
Tabla 8 .8 . Energía de la banda proh ibida a 300K en al gunos m at eriales m uy usados para la
fabricaci ón de fotodiodos. A menor t emperatu ra, los valores crecen un poco. <>> 1 eV es l a ener-
gía que adquiere un elect rón acelerado por un potencial de 1 V en el vacío y corresponde a
1,602·10- 19 J.
Material Energía de la banda prohibida levt'll

Silicio 1,14
Germanio 0,67
GaAs 1,43
lnAs 0,35
InP 1,35
GaSb 0,73
In,.,.cvs 0,75
In~,.ca..,..,As 1,15
GaAs5b 1,15
Según los valores de la Tabla 8.8 parecería que cualquier fotón de menor lon-
gitud de onda que la máxima debería ser capaz de producir un par electrón
hueco con lo que no habría un límite inferior de longitud de onda. Pero no es
asf. Cuando dibujamos un fotón impactando sobre la zona de transición sole-
mos hacer un esquema como el de las figuras anteriores puesto que el objeti-
vo es mostrar el mecanismo de interacción y no es presentar las proporciones
reales del fotodiodo. Si dibujamos algo más parecido al aspecto real de un fo-
todiodo tendremos una estructura como la que se presenta en la Figura 8.52,
una estructura plana muy fina.
¿Por donde entra la luz? la respuesta es muy sencilla: la luz entra por la par-
te superior, atravesando toda la zona n hasta llegar a la zona de transición.
El problema es que si los fotones interactúan con la materia antes de llegar
a la zona de transición el par electrón-hueco se producirá en la zona n, no
será atraído por la barrera de potencial de la unión y al cabo de un tiempo,
se recombinará. la interacción no será efectiva. Sólo cuando el fenómeno se
produce en la zona de carga espacial en los alrededores de la unión el par elec-
trón-hueco es efectivo.
Figura 8.52. Una imagen un poco más real de un fotodiodo, una superficie muy grande en relación
con su pequeño espesor.
Las probabilidades de que un fotón alcance la zona de carga espacial depen-

den de la energía que lleve (podemos imaginar que un fotón es una "pelota"
cuyo diámetro depende de la energía), y que se encuentra con una estructu-
ra formada por puntos que corresponden a cada posición atómica con sus co-
rrespondientes ele<.trone:s: una pelota muy grande (mucha energía) enseguida
interaccionará y no llegará a la zona de carga espacial donde su interacción
401
habría sido efectiva. Una pelota más pequeña (menos energía) sí tendría op-
ción de llegar (Figura 8.53).
Fot6n de alta energla

(.t baja)
• · ~-
'Átomo de la estructura cristalina
Fot6n de baja energla

(.t alta)
• • •
Figura 8. 53. Ef ecto de los fotones que inciden sobre la estructura cristali na del foto diodo: los lo·
tones de al ta energía lendrán muchas di ficultades para atravesar las primeras cap as, puesto que
interactuarán rápidamente, mien tras que los menos energéticos podrán atravesar la eslructura con
mucha mayor probabi lidad.
Entonces, a medida que la longitud de onda del fotón sea menor (más ener-
gía), más opciones hay de que no llegue a la zona de carga espacial... En la Fi-
gura 8.54 se muestran los dos efectos limitantes para el fu ncionamiento del
fotodiodo: de un lado, la cantidad mínima de energía y, de otro, el decreci-
miento de la probabilidad de que la interacción sea efectiva a medida que la
longitud de onda sea menor. En la tabla 8.9 se muestra la zona sensible de di-
versos materiales usados para la fabricación de fotodiodos.
Límite impuesto por la
probabilidad de interacción
efectiva
Límite impuesto por la energía

de la banda prohibida
Curva real
Energía
Figura 8 .54. Umilaciones l eóricas en la sensi bil idad de los fotodiodos y respuesla real.
Tabla 8.9. Respuesta esp ectral de algunos material es empleados en la f abricación de fotodiodos.
(2>EI ancho de banda representado corresponde al 50% de eficiencia respecto del pico de máxi ma
de sensibi lidad.
Material Ancho de banda espectral"' [nml 1 11!1 máxima sensibilidad [nm)

Silicio 450 a 1050 9'70
Germanio 1100 a 1600 1400
GaAs 580a 980 820
GainAs 1150 a 1700 1550
402
Parece obvio que, en la medida en que la zona de carga espacial sea mayor,
más opciones existen de que la interacción resulte efectiva; esto lleva al di-
seño de estructuras un poco diferentes basadas en tres capas: una zona p,
una zona n y una zona intermedia de material no dopado, es decir, de se-
miconductor intrínseco (Figura 8.55). Esta formación P-I-N da lugar a la es-
tructura más habitual para los fotodiodos que toman de ella su nombre:
fotodiodo PIN.
Sensores fotoeléctricos
+·'' n
+' Otra aplicación de los fototran-
:- - o +' sistores está en la detección de
:- o~ +:
··--
'
'
+:
+:
objetos mediante sensores fo-
toeléctricos, sensores que segu-
:-' +'' ro que todos hemos encontrado
+: en puertas de ascensores para
Zona sensible evitar el cierre cuando hay per-
sonas pasando o en otros tipos
Figura 8.55. Estructura de un fotodiodo PIN en el que la zona sensible (donde la Interacción de los de automatismos. Las solucio-
fotones es efectiva) se extiende por l a zona de transición y por la zona de silicío i ntrínseco. nes comerciales son muchas y
también lo son los fabricantes
También es posible generar una estructura basada en una unión rectificadora que las proporcionan, de tal
metal-semiconductor como la típica de un diodo Schottky. En tal ca~o, la des- modo que el diseñador tiene
aparición de la capa p reduce la di~tancia que el fotón tendría que atravesar y a su disposición un conjunto
extiende la sensibilidad del fotodiodo Schottky hasta longitudes menores que de opciones tan grande que la
solución habitual suele ser la
las de un fotodiodo convencional.
selección en fw\ción de dispo-
Una de las forma~ posibles de incrementar la sensibilidad del fotodiodo es nibilidad, cercanía y precio,
trabajar en la zona de avalancha en la que los portadores de cada par elec- es decir, acudir al almacén de
trón-hueco generado son acelerados con intensidad por el elevado potencial suministros i ndustriales más
en la zona de carga espacial hasta que su energía sea suficiente como para ge- próximo y ver qué nos pueden
nerar choques con la estructura y arrancar nuevos pares electrón-hueco que vender.
sufrirán el mismo proceso. Este fenómeno regenerativo que constituye la en- Los sensores fotoeléctricos sue-
trada en avalancha del di~positivo puede ser destructivo si la energía di~ipa len estar configurados de algu-
da supone la ruptura de la estructura, pero si se pudiesen limitar sus efectos, na de las tres formas siguientes:
sensores de barrera, cuando el
constituiría una forma de incrementar la sensibilidad puesto que un sólo fotón
emisor y el receptor están física-
seda capaz de producir varios pares electrón-hueco. Los fotodiodos diseñados
mente, sensores de reflexión en
para trabajar en esta zona se denominan fotodiodos de avalancha (APD, Ava- espejo, cuando el emisor y re-
lanclte PltotoDiode) y pueden conseguir una ganancia (gain) bastante elevada. ceptor están en el mismo bloque
La corriente de salida para un APD es: y la luz viaja hasta W\ espejo en
el qu.e rebota y regresa al pnn-
to de partida y sensores de re-
ftexión en objeto, similares a los
donde M es la ganancia. M depende fuertemente de la tensión inversa aplica- anteriores excepto en que ahora
da y de la temperatura, con lo que la tensión que se utilice para polarizar in- es el objeto el que refleja la luz.
versamente la unión debe ser muy estable y la temperatura también. El v alor
de la tensión inversa suele ser superior a los 100 V (entre 120 y 150 V), lo que 0 1 .. [!]
8AA,A.EAA
obliga a utilizar fuentes especialmente di~eñadas para una excelente estabili-
dad. M baja fuertemente con la temperatura, lo que puede obligar a trabajar
con sistemas de control de la temperatura.
fR: ••
REFLEXIÓN EN ESPEJO
·~
Como la sensibilidad de los fotodiodos es baja en lfuea~ generales, sería bue-

no incrementarla de alguna manera y; en este sentido, una opción sencilla es ~ 7 1
REFLEXIÓN EN OBJETO
403
introducir un transistor detrá~ que amplifique la fotocorriente (Figura 8.56a).

La idea es muy sencilla: si el fotón interacciona en la zona de base del transis-
tor, los pares electrón-hueco generados actúan como inyección de portado-
res igual que si se introdujesen mediante una corriente de base; en el fondo,
es equivalente a considerar un fotodiodo que introduce la fotocorriente en la
base de un transistor bipolar.
le= P·ls lc=P·k·L

L'$
(a) (b)
Figura 8.56. Fototransi stor: (a) idea básica de funcionamiento y (b) símbolo de circuito.
Esta estructura constituye un fototransistor, cuyo símbolo se muestra en la Fi-

gura 8.56b; la ventaja importante es que la corriente de base (la fotocorriente
producida por el diodo) es amplificada en el factor {3 y de esa forma se consi-
gue una corriente de colector mucho más elevada:
Aunque la sensibilidad es mucho mayor, la varianza de la ganancia de co-

rriente del transistor es tan elevada que suele ser imposible predecir cuánto va
a valer la corriente de colector, algo que se traduce en una incertidumbre in-
aceptable para un sistema de medida¡ sin embargo, en determinadas aplica-
ciones lo único que se necesita es tma información todo-nada (digital), en cuyo
caso, el fototransi~tor es una solución muy apropiada por su elevada sensibi-
lidad y su bajo coste.
Aplicaciones de este tipo son los sensores ópticos reflectivos, que suelen in-
corporar en el mismo encapsulado un LED y un fototran.sistor capaces de
proporcionar una señal digital que tiene un nivel diferente cuando están en
presencia de un objeto oscuro que cuando está en presencia de uno claro,
como el que se presenta en la Figura 8.57.
¡rc~;~:¡~¡:¡~;s[:
- u perficie clara
Superficie oscura "1"
"O"
I ~~ )) "'
Superficie a medir \ /
Figura 8.57. Fu nci onamiento de un sensor ópti co refl ect ivo: el LEO ilumina la superf icie y si es
ciC:.(á, Id luz reclbidá p or el fotut n:uls.is.tuf' lo pune en conducción, lo que p roporcioné! un nivel bitjo
en la salída; si la super1icie no refl eja suficiente luz, el transistor no conduce y la salida está a nivel
al to.
404
8.4.2 . CARACTERÍSTICAS DE LOS FOTODIODOS
La sensibilidad es la principal característica de los fotodiodos. Y es baja. En

un fotodiodo de propósito general no se producen fotocorrientes superiores
a unas decenas de nanoarnperios por lo que la señal precisará una amplifica-
ción posterior bastante intensa.. La sensibilidad intrínseca del material viene
determinada por su respuesta espectral, tal como se comentó en el anterior
apartado por lo que ese será el primer parámetro con el que hay que trabajar
a la hora de seleccionar y utilizar un fotodiodo. Sin embargo, en la sensibili-
dad hay que tener en cuenta otros factores físicos independientes del compor-
tamiento fotónico del fotodiodo.
La primera de esas características es el área sensible (photosensitive area) del
dispositivo, es decir, el área expuesta a la luz (Figura 8.58a): cuanto mayor sea
el área efectiva, mayor será la cantidad de fotones que intercepte, y; en conse-
cuencia, mayor la fotocorriente generada. H ay que tener una cierta precau-
Unidades para la medida de luz
ción con este parámetro, puesto que, si comprobarnos su valor en fotodiodos
del mismo tipo pero diferente área sensible, obtendremos con sorpresa que la Definir la cantidad de luz no es
sensibilidad permanece invariable; eso se debe a que la unidad que se usa ha- fácil puesto que son mucha~ las
Wlidades usadas para ello, cada
bitualmente es la deA/W, con lo que un fotodiodo que reciba fotones equiva-
una con un significado especí-
lentes a un determinado número de watios, producirá la misma fotocorriente
fico:
sea cual sea su área. Si, por el contrario se usa ellux como parámetro para de-
finir la cantidad de luz que Uega (llux = 1lm/m2) que es la unidad de ilumi- Intensidad l uminosa: (flujo lu-
minoso por unidad de ángulo
nancia, la fotocorriente crece con la superficie (Figura 8.58b). El problema es
sólido) cuya Wlidad es la cande-
que el incremento del área hace que se incremente la capacidad de transición,
la [cd] ..
capacidad formada en la zona de carga espacial por la aparición de dos ca-
Fl ujo luminoso: potencia lwni-
pas de carga separadas por un semiconductor intrínseco que hace las veces de
nosa percibida por el receptor,
dieléctrico (Figura 8.58b).
cuya unidad es ellumen [!m).
"""' Flujo radiante: potencia lumi-
'""
'"" G:' nosa total emitida por W\a fuen-
uoo .!:!,
L'OO
te de luz. Se mide en (W]. Esta
ICUI -g es una unidad independiente
Área sensible :g
(100
""' .."'
o.
(.)
de la sensibilid ad del receptor
a cada longitud de onda. El co-
ciente entre el flujo ILuninoso y
Contacto de cátodo
el radiante se define como efi-
Área sensible [mm2)
ciencia luminosa.
(a) (b)
Iluminancia: flujo luminoso
Figura 8.58. Area sensi ble del fotodiodo (a) y efectos sobre la capacidad y la sensibilidad expresa· por unidad de superficie, cuya
da por la corri en te de cortocircuito en función de la ii>Aminancia (b). (Datos de la serie s1226 de wüdad de medida es ellux [lx].
fotodiodos de silicio de Hamamatsu Photonics lnc.). Esta misma Wlidad se usa para
la potencia emitida por una su-
Por tanto, un fotodiodo de gran superficie será muy sensible, pero la presencia perficie por unidad de superfi-
de una capacidad grande limitará su comportamiento en frecuencia. La ten- cie, aunque la magnitud se suele
sión de polarización inversa modula esta capacidad al contribuir a separar las llamar emitancia luminosa.
capas de carga, y por tanto, incrementar la distancia del dieléctrico. El efec- Por ejemplo, una lámpara infra-
to cuantitativo es notable: en el caso del silicio, subir desde polarización nula rroja que emita Wliformemente
hasta una polarización inversa de 10 V puede reducir en 5 o 6 veces el valor de 10 W de luz, tendría un flujo
la capacidad del di~positivo lo que contribuye a hacerlo más rápido. radiante de 10 W, pero el ojo hu-
mano percibiría un flujo lumi
Otro factor que modula la sensibilidad es la directividad (directivity) del foto- noso y una intensidad luminosa
diodo que puede ser de 180° cuando la superficie es expuesta directamente a nulos.
405
la luz o concentrar la respuesta cuando se incorporan lentes adicionales al dis-

positivo. En la Figura 8.59a se muestra el caso de un fotodiodo sin ningún tipo
de lente, que recoge toda la luz, venga de la dirección que venga, mientras que
en la Figura 8.59b aparece un foto diodo con una lente incorporada que limita
la respuesta según la dirección de donde venga la luz.
Zona de
Zona de medida medida
Lente
Ventana transpa[.~e;n,t"e'"""'
' '"' Area _.,..,__"-....~
r....ll- ll- r- :· · t sensible
K A A
(a) (b)
Figura 8.59. Directividad en los fotod iodos: en un fotodiodo sin lente (a) la zona de medida se
extiende en un área muy amplia, mientras que, si el lotodiodo dispone de una lente, el área de
medida está mucho más localizada.
El uso de lentes permite incrementar la selectividad espacial del dispositivo,

lo que ayuda a reducir el ruido lunúnico al descartar señales de luz que no
procedan de la dirección de interés.
Uno de los parámetros más importantes de un fotodiodo es la corriente de os-
curidad (dark current) 10 que corresponde a la corriente de fugas de un diodo
normal y, en este caso, es la corriente que se produce cuando el fotodiodo no
recibe luz alguna. Se debe a que los pares electrón-hueco no sólo se producen
debido a la excitación por medio de fotones, sino que, en condiciones norma-
les, la situación térmica puede ser suficiente como para arrancar también un
par electrón-hueco que sufrirá el mismo proceso que si fuese originado por un
fotón. A medida que la temperatura sube, la corriente de oscuridad también se
incrementa puesto que serán más los electrones excitados)~ en consecuencia,
mayor el número de pares generados. El coeficiente térmico de la corriente
de oscuridad (thermal coefficient for Ir) indica el factor por el que se multipli-
ca la corriente de oscuridad en cada incremento de temperatura; por ejemplo,
para el silicio este coeficiente se sitúa entre 1,10 y 1,15, lo que significa que la
corriente de oscuridad se multiplica por ese factor cada incremento de 1 °C.
También se ve afectada por la situación de polarización del fotodiodo, incre-
mentándose en función de la polarización inversa: para un fotodiodo de sili-
cio, por ejemplo, el hecho de pa~ar de una condición de tensión inversa nula a
soportar 10 V de polarización inversa puede hacer que la corriente de oscuri-
dad llegue a multiplicarse por 10.
La corriente de oscuridad actúa como un offset o desplazamiento añadido so-
bre la señal de luz en toda~ las circunstancias, lo que contribuye a incremen-
tar la incertidumbre de la detección cuando se está midiendo una señal de luz
continua. Este efecto negativo sobre el comportamiento del fotodiodo hace
que materiales como el germanio, en los que la corriente de oscuridad es muy
elevada, sean poco adecuados para la construcción de fotodiodos de interés
instrumental. En el lado opuesto, la refrigeración de los dispositivos ayuda
a reducir la corriente de oscuridad por lo que, en ocasiones, se recurre a cel-
406
das Peltier especialmente di~eñadas para acoplarlas a los encapsulados de los

fotodiodos. Más aún, puede llegar a ser interesante controlar su temperatura
mediante un sensor térmico y una celda Peltier para conseguir, entre otras co-
sas, mantener constante la corriente de oscuridad.
Además de la corriente de oscuridad, el fotodiodo produce ruido como cual-
quier otro dispositivo electrónico¡ en este caso, los principales factores que
contribuyen al ruido total son el ruido térmico (ruido Johnson) y el ruido de
golpeteo (shot noise). La forma de evaluar este factor es mediante un paráme-
tro denominado potencia equivalente de ruido (NEP, Noíse Equívalent Power),
que se define de la siguiente forma:
In
NEP =-¡¡ [W]
donde J~ es la corriente total de ruido expresada como RMS y k es la sensibili-

dad del fotodiodo a la longitud de onda de interés. En el fondo, la NEP indica
el valor de potencia de luz que iguala al ruido que genera el propio fotodiodo
y establece un umbral de O dB para la relación S/N: cuando el fotodiodo recibe
una potencia de luz por encima del valor de NEP la relación S/N es positiva.
El lector se puede preguntar si el valor de NEP establece el umbral por debajo
del cual el di~positivo no puede medir¡ la respuesta no es evidente porque de-
pende del procesamiento posterior de la señal, que puede permitir extraer in-
formación con relaciones S/N negativas.
Dado que una parte del ruido se debe al ruido térmico, es obvio que el incre-
mento de la temperatura trae como consecuencia el incremento del valor de
NEP por lo que la opción de refrigerar el dispositivo sería nuevamente bene-
ficiosa. En definitiva, temperatura y tensión inversa afectan al comportamien-
to del fotodiodo¡ a modo de resumen, Jos efectos cualitativos se presentan en
la Tabla 8.10 junto con el efecto producido por el área efectiva puesto que sue-
le ser posible elegir este parámetro en los fotodiodos de un fabricante entre al-
gunos valores determinados. Los efectos cuantitativos habrá que buscarlos en
las hojas características de cada dispositivo.
Tabla 8. 10. Evolución de algunos parámetros característicos de los fotodiodos en función de los
cambios en tem peratura, t ensión inversa y área efectiva. Se han destacado en negro los paráme·
tros cuya variación es negativa para el uso del fotodiodo.
Parámetro Más Más tensión inversa Más efectiva

Sensibilidad = = t
Capacidad =
Ancho de banda
Corriente oscuridad
NEP =
Ganancia (APD} ttt =
A la vista de los cambios que introduce la temperatura, su control permite

mantener constantes los errores debidos a la corriente de oscuridad y la rela-
ción S/N de cualquier diodo, pero es muy importante en el caso de los APD
puesto que los cambios sobre la ganancia son muy elevados. Si es necesario
llevar a cabo un control de la temperatura en un fotodiodo, debe utilizarse un
407
sensor de temperatura y un sistema de calentamiento/ refrigeració~ que pue-

de ser una celda Peltier. En la Figura 8.60 se muestra una posible implementa-
ción de uno de estos sistemas.
Fotodiodo Consigna de ----1

temperatura
Sensor de T
Temperatura T
Circuito de
acondicionamiento
Celda Peltier
f lujo de calor
Reguiador
Figura 8.60. Control de la temperatura de un f otodiodo mediante una celda Peltier: el circui to de
acondicionamiento proporciona una señal correspondiente a la temperatura ext erior del fotodiodo;
dicha señal se compara con una consigna y el regu lador gobierna la celda Peltler en función de la
diferencia.
8.4.3. CURVAS Y MODELO DEL FOTODIODO
La característica i-v de un fotodiodo es como la que se muestra en la Figura

8.61 en donde se pueden identificar una serie de zonas de trabajo .
Fotodiodo
Célula
L + fotovoltaica
Figura 8.61. Curva característ ica de un fotodiodo en f unción de la luz recibida. En el cuadrante
cuatro el producto corriente x tensión es negat ivo lo que indica que genera energía neta (trabajo
como célula fotovol taica); en el tercer cuadrante funciona como fotodi odo con una fuerte depen ·
dencia de la corriente inversa respecto de la cantidad de luz incidente.
En el primer cuadrante, el cambio debido a la luz incidente sobre el disposi-

tivo es muy pequeño y las curvas son las de un diodo normal. En el cuarto
408
cuadrante hay un cambio significativo en las curvas en función de la luz inci-

dente, pero su comportamiento no es demasiado lineal y, por tanto, no suele
ser una zona de trabajo como fotodiodo. Sin embargo, en esa área el producto
de la tensión y la corriente en el dispositivo resuJta negativo por lo que el dis-
positivo genera energía: esta es la zona de trabajo como céluJa solar.
El uso como fotodiodo se limita al tercer cuadrante en donde la corriente es
dependiente de la luz incidente y la tensión se mantiene más o menos inde-
pendiente de este factor. En este cuadrante hay tres zonas de uso que se re-
presentan en la Figura 8.62, en donde se ha cambiado el signo de la corriente
respecto de la figura anterior.
Funcionamiento en cortocircuito
Se caracteriza porque la tensión en el dispositivo es nula y la corriente depen-
de de la luz incidente de una fonna más o menos lineal. Dado que la polari-
zación inversa es nuJa, la capacidad será relativamente grande (el dispositivo
tendrá menos ancho de banda) pero la corriente de oscuridad resultará rela-
tivamente baja. Esta es la fonna de trabajo típica cuando el fotodiodo trabaja
para la lectura de niveles continuos de luz.
Id
'
~fJ
\
1 \
1 1
'
'''
' ''
'
1
1
1 Vd
Figura 8 .62. Funcionam iento de un fotodiodo en el tercer cuadrante para m edir luz. Se puede
trabajar en cor tocircuito (Vd= OV), con polarización inversa (V, = V.,,) o en avalancha (Vd= V,v) ·
Funcionamiento con tensión inversa

Si aplicamos tensión inversa al dispositivo, la corriente será, como antes, lineal
con la luz incidente, pero respecto del caso anterior hay ventajas e inconve-
nientes: de un lado, la mayor polarización produce un incremento de la zona
de carga espacial, lo que redunda en beneficio del ancho de banda que se ve
incrementado al reducir la capacidad; de otro lado, la corriente de oscuridad
crece, con lo que el dispositivo funcionando de esta manera será más rápido
pero tendrá más errores en continua. Es la forma típica de trabajo de aplica-
ciones de alta frecuencia, casos en donde se pueden encontrar diodos PrN con
polarizaciones inversas cercanas a los 100 V.
Funcionamiento en avalancha
Si el dispositivo lo permite (sin ser destruido) se puede trabajar en avalancha.
Esto tiene efectos drásticos sobre el comportamiento del dispositivo ya que
409
se produce un gran incremento de la sensibilidad final por el fuerte aumen-

to de la ganancia. Como efecto colateral positivo se tiene una fuerte caída de
la capacidad (los APD suelen trabajar con tensiones muy elevadas), lo que re-
dunda en la rapidez del fotodiodo y, como efecto negativo, una subida de la
corriente de oscuridad. Igual que en el ca~o anterior, el trabajo en avalancha
está muy indicado para la lectura de bajos niveles de luz y de señales de al-
terna. En cualquier ca~o, dada la dependencia de funcionamiento de la tem-
peratura, es muy importante garantizar que su valor se mantiene constante
para salvaguardar la ganancia y evitar los correspondientes errores. Para con-
seguirlo, la mejor solución es emplear un sistema de regulación de temperatu-
ra que garantice que el valor es constante durante su funcionamiento. Dicho
sistema puede implementarse mediante un sensor térmico (una RTD, o, inclu-
so, una NTC, puesto que el campo de medida no es muy grande) y un sistema
de calentamiento 1refrigeración, que puede implementarse mediante una cel-
da Peltier (Figura 8.60).
Aunque en el ca~o de emplear un APD, Jos sistemas de regulación son muy
convenientes, su uso puede extenderse a cualquier otro fotodiodo, puesto que
garantizan que la corriente de oscuridad se mantiene constante. Si fijamos una
temperatura baja como consigna para el sistema, conseguiremos reducir este
valor y el del ruido generado que se caracteriza por la NEP.
Con todas la~ circunstancia~ en cuenta, cuando el fotodiodo trabaja en el ter-
cer cuadrante (con o sin polarización inversa) se comporta como una fuen-
te de corriente. (de fotocorriente, IF) con una capacidad en paralelo, A esos e;..
parámetros básicos hay que añadir la corriente de ruido, que depende del va-
lor de la NEP, la corriente de oscuridad, 10 y una pequeña resi~tencia serie, R5,
que representa las pérdidas en conducción del dispositivo. El modelo comple-
to se muestra en la Figura 8.63 junto con el modelo ideal en el que sólo se tie-
ne en cuenta la fotocorriente.
Modelo ideal Modelo real
R
j lo f ln f ==e
Figura 8.63. Modelo "real" del fotodiodo en el que no sólo se t iene en cuent a la fotocorriente
sino que se incluyen las corrientes de oscu ridad y ru ido, la capacidad de transición y la resis·
tencia serie, frente al modelo totalmente idealizado en el que sólo se tiene en cuenta la fot oco·
rriente.
8.4.4. CIRCUITOS DE ACONDICIONAMIENTO PARA

FOTO DIODOS
A la hora de manejar la señal producida por el fotodiodo se usará un converti-
dor f/ V para recoger la fotocorriente y obtener una tensión a partir de ella. Se-
gún se ha visto en el anterior apartado hay dos posibilidades de trabajo en el
tercer cuadrante: con tensión nula o con tensión inversa aplicada. Para el pri-
mero de los casos, el circuito que se emplea es el que se muestra en la Figu-
ra 8.64.
410
R R
Vo =-R·I,
OV
Figura 8.64. Circuito de acondicionamiento de un fotodiodo trabajando en cortocircuito.
Como puede observarse, el fotodiodo está sometido a un cortocircuito vir-

tual a través de la entrada del operacional, que garantiza una tensión dife-
rencial nula en condiciones ideales. Con este circuito, la tensión de salida
será:
Vo = -R · I F
Sin embargo, en condiciones reales, el comportamiento del circuito no será tan

perfecto, sino que manifestará algunos problemas relacionados con la capaci- ¡Ojo al encapsulado!
dad del fotodiodo y las limitaciones frecuenciales del operacional. La presen- Cuando se trabaja con fotodio-
cia de una capacidad modifica el comportamiento frecuencial del circuito y; en dos hay que tener precauciones
función del valor del condensador y del GBW del operacional, puede forzar el en el caso de que dispongan de
incumplimiento del margen de fa~e del sistema, con lo que se pueden originar encapsulado metálico. Es algo
oscilaciones no deseadas (Figura 8.65). positivo, puesto que su cone-
xión a masa permite reducir la
R presencia de perturbaciones so-
(dB)
bre la señal.
Sin embargo, el encapsulado
metálico suele ir unido al ánodo
Vo=-RIF del fotodiodo por Jo que, si lo
IF= k-L 1 C conectamos a masa, sólo se po-
I o 1/{3 logf
dría poner en un sentido, puesto
que en el otro estaría cortocir-
cuitado.
También es frecuente que los
Figura 8.65. Peligro de oscilación en un circui to de acond icionam iento para fotodiodos cuando la fotodiodos se encuentren situa-
capacidad de transición del disposi tivo provoca el incumplimiento de un margen de fase menor de dos dentro de conectores para
45" (cruce de la curva de ganancia y de la curva de la red de realimentación con pendiente relat iva
recibir luz de fibra óptica, conec-
de más de 20 dB/déc) en el sistema realimentado. Este problema se plantea si empre que la red
RC formada tengan el polo por debajo de B. tores que pueden ser metálicos
y que son una opción más de
deriva a tierra del encapsulado
Como se puede ver, la curva de la red de realimentación - ahora formada del fotodiodo, especialmente
por un condensador y una resistencia- podría cortar con pendiente relati- cuando se s.itúan en paneles me-
va mayor de 20 dB 1déc, con lo que hay peligro de inestabilidad debido a que tálicos o envolventes metálicas.
el margen de fase es menor de 45°. Para resolver el problema hay que añadir Si se diseña con cuidado no tie-
un condensador en paralelo con la resistencia R para conseguir introducir un ne que significar un problema
polo sobre la curva de la red de realimentación que evite el cruce con pendien- y, en cualquier caso, siempre es
te relativa mayor de 20 dB 1déc. Este condensador se calcula mediante la ex- mejor poner la carca~a del foto-
presión: diodo a masa q••e evita pertur-
baciones, awtque eso signifique
que haya que añadir alguna eta-
pa más para invertir la señal.
411
donde C es la capacidad del fotodiodo. La igualdad produce el polo justo en el

punto de corte de las curvas, mientras que si es mayor, el polo está antes (Fi-
gura 8.66).
R
(dB]
Vo = - R·IF
El problema de las resistencias

de alto valor óhmico o 1/fj
El uso de resi~tencias de valor log f

óhmico elevado es muy frecuen-
te en los circuitos de acondicio- Figura 8.66. Compensación del operacional mediant e una capacidad c. para evitar el peligro de
oscilación del sistema.
nanúento de fotodiodos. Estas
resistencias pueden presentar
diversos problemas: Dado que la presencia del condensador produce una limitación adicional
Fugas superficiales: en algunas del ancho de banda del conjunto, en aplicaciones en las que ese factor sea
ocasiones, la resistencia que importante habrá que apurar el valor del condensador CR hasta el valor
ofrece la superficie a la circula- de la igualdad para minimizar su efecto sobre el comportamiento del sis-
ción de corriente es menor que tema.
la que presenta la propia re-
sistencia por Jo que el exterior Si se pretende trabajar con polarización inversa, el circuito de acondiciona-
"cortoci.rcuita" a la resistencia miento es muy parecido al anterior, excepto por la presencia de una tensión
y el valor final es mucho menor adicional que sitúa al fotodiodo con la tensión inversa que se pretende (Figu-
del previsto. Esto es especial- ra 8.67), circuito que es válido para fotodiodos normales y para APD trabajan-
mente notorio cuando la resis- do en la zona de avalancha puesto que la única diferencia es el valor necesario
tencia se sitúa muy próxima a la de la tensión a aplicar.
superficie de la PCB y se termi-
na acumulando suciedad.
Capacidades parásitas: Jos valo-
res de las capacidades parásitas R
en resL~tencias de alto valor óh-
núco pueden llegar a ser signifi-
cativas por Jo que nos podemos
encontrar con wt menor ancho
de banda del previsto. Para re-
solver el problema se puede
acudir a situar más de una re-
sistencia en serie, con lo que la
capacidad parásita queda redu-
cida.
Figura 8 .67. Circui to de acondicionamiento para fotodiodos trabajando con polarización inversa o
en avalancha.
Las consideraciones antes efectuadas acerca de la estabilidad del sistema son

igualmente válidas ahora, aunque el hecho de usar polarización inversa redu-
cirá el valor de la capacidad del fotodiodo, con lo que el condensador necesa-
rio para la compensación será también menor.
412
TEMA 8 . SENSORES GEN ERADORES DE SEÑAL ••
EJEMPLO 8.6 (s1223.pdf)

Un fotodiodo s1223-0l de la firma Hamamatsu se usa para recibir luz
en la banda de 560 run para una determinada aplicación. Si la máxima
cantidad de luz que incide sobre- el sensor es de 4 W 1m2, diseñe un
circuito para obtener una señal de salida de O a S V proporcional a la
luz recibida con un operacional cuyo GBW = 1,5 MHz, y determine el
máximo error producido.
Solución:
Como el área sensible del diodo es de 3,6x3,6 mm= 12,96 mm2, la poten-
cia total de luz que recibe la superficie del diodo resulta ser de 4-12,%·10""
= 51,84 ~tW. La sensibilidad a 560 nm es aproximadamente de 0,46 A/W,
según aparece en la gráfica de su respuesta espectral, por lo que la foto-
corriente máxima que produce el fotodiodo es de 51,84·0,46 = 23,8 ¡¡A.
La ganancia necesaria para conseguir 5 V a partir de esa corriente es de
5 1 23,8 = 210 kO que es un valor muy razonable para poder usar una
sola etapa.
Dado que la luz que debe medir es en continua, para minimizar la
corriente d e oscuridad, que es la mayor causa del error, decidimos
efectuar la media con polarización nula en el fotodiodo, con lo que el
circuito que hay que utilizar es el que se muestra en la Figura 8.68 (ob-
sérvese que el diodo tiene el ánodo a masa para que la salida de ten_<rión
sea positiva), en el que se ha incluido también el condensador de com-
pensación_ q ue se calculará a continuación.
CR
210K
O- 23,8 J.1A
Vo: 0-5 V
Figura 8 .68
Con el diodo sin polarización inversa, la capacidad parásita es más ele-

vada. Si acudimos a la gráfica que proporciona este parámetro en fun-
ción de la tensión inversa, obtenemos que e.l valor para la capacidad
parásita del fotodiodo está sobre 70 pF, con lo que la capacidad necesaria
para compensar los posibles efectos de inestabilidad vendrá dada por:
CR >
4
1T. 2lO.
1 ~ 3 . 1,5 . 106 ( 1 + .J¡ + 8n · 210 · 103 · 70 · 1Q-l2 · 1,5 · 106)
que supone un valor de 6, 2 pF.
413
El error del s~~tema vendrá determinado por la corriente de oscuridad

del fotodiodo (despreciando los efectos de offset y corrientes de pola-
rización del operacional) que es de 60 pA según se indica en la gráfica
correspondiente (por debajo de 2 V de polarización inversa se mantiene
constante). En relación con la máxima fotocorriente del dispositivo, su-
pone un error muy bajo, de tan sólo 0,00006 1 23,8, es decir, 0,00032 %.
Como la fotocorriente suele ser débil, la resistencia necesaria para conseguir

valores apreciables en la salida del operacional resultará grande y, en algunos
casos inmanejable. Resistencias superiores a 10M son problemáticas, y si supe-
ran los 100M es posible que la corriente superficial por ella sea mayor que la
que circule por el interior lo que supondría una caída de su valor óhmico efec-
tivo. La suciedad o una resistencia demasiado próxima a la tarjeta de circuito
impreso empeorarían aún más la situación. Para evitar el manejo de este tipo
de resistencias, se puede recurrir al empleo de redes en T en la realimentación,
como se muestra en el circuito de la Figura 8.69.
La resistencia equivalente a la red en T resulta ser:
Requ = Rl · ( 1 + ~~) + RZ
lo que conduce a valores mucho más bajos de los que se obtiene. Por ejem-
plo, con Rl = R2 = 1M y R3 = lK, se consigue una resistencia equivalente
de 1 GQ.
R1 R2
R3
Figura 8 .69. Utilización de la red en Ten la realimentación para consegui r resistencias equivalen·
tes de elevado valor con resistencias de valor mucho más bajo.
El uso de redes en T produce algún problema adicional, ya que introduce una

ganancia de tensión igual al factor multiplicativo de la resistencia (1 + R2 1
R3), con lo que el error de offset se m ultiplicará del mismo modo.
La caracterización instrumental del sistema supone la obtención del error total
y de la relación S/N. Para ello se deben tener en cuenta los parámetros propios
del operacional, tal como se indicó en el Tema 2, y afiadir los efectos produci-
414
dos por el propio fotodiodo que se pueden concretar en el error debido a la co-
rriente de oscuridad y el problema producido por la corriente de ruido.
El error debido a la corriente de oscuridad del fotodiodo se añadirá al offset
general¡ al tenerla en cuenta la expresión de la tensión de salida pasa a ser:
El error debido a este concepto supone un valor relativo igual a:

lo
E= -:-':......
lFmáx
donde lr ...rx es el valor de la máxima fotocorriente que se genera en las condi-

ciones del sistema.
En algunas oca9iones se tiene que trabajar con perturbaciones en forma de rui-
do lunúnico debidas a que el fotodiodo recoja luz de origen no deseado, como
en el caso en el que se pretenda leer una señal determinada en un ambiente en
el que hay una cierta iluminación de fondo. Esa luz produce una fotocorriente
adicional que, en caso de ser constante, constituye una fuente de error adicio-
nal. En la Figura 8.70 se muestra este proceso, que da lugar a un error que se
sumará al producido por la corriente de oscuridad.
Hay varias formas de reducir este problema: la primera es atacar la causa di-
rectamente mediante un buen aislamiento luminoso del fotodiodo que reduz-
ca a la mínima expresión la llegada de luz procedente de fuentes no deseada~;
la segunda opción es utilizar lentes (alguna~ vienen incluidas en el propio en-
capsulado del sensor) para reducir la directividad del fotodiodo para que sólo
reciba luz de la fuente que se desea medir.
Señal de luz
L
LN '!j.
Ruido lumlnico
Figura 8. 70. Perturbación de la señal de luz por nuido de origen lum inoso que el fotodiodo trans·
forma en una fotocorriente; si es un valor constante afectará como un offset adici onal para el
sistema.
También es posible disponer filtros ópticos capaces de seleccionar sólo las

longitudes de onda de interés, lo que reduce el efecto de cualquier otra lon-
gitud de onda no deseada (Figura 8.71). Es obvio que esto también se pue-
de hacer mediante una selección del fotodiodo en la que se tenga en cuenta
su respuesta espectral, aunque el abanico de opciones no es muy grande¡ en
cualquier caso, ajustar en la medida de lo posible el ancho de banda espec-
41 5
tral a la zona de interés ayuda a reducir las perturbaciones de origen lumi-

noso.
(A,)
Filtro óptico (A1)
(A,) L
KU!I qo lumlnico LN
Figura 8 .71 . Reducción de las perturbaciones luminosas mediante filtrado óptico. Si se dispone
un filtro óptico en el fot od lodo que seleccione únicamente la longit ud de onda de interés, todas
las demás serán rechazadas (fuertemente atenuadas) con lo que el rui do lumlnico que llegue al
fotodiodo será únicamente el debido a la longitud de onda del filtro.
Finalmente, una vez que la señal de luz (con todos sus problemas) se ha con-
vertido a corriente y el operacional ha proporcionado la correspondiente
tensión, siempre se puede recurrir a los medios electrónicos de supresión/ re-
ducción de offset, tales como el ajuste con un potenciómetro o la eliminación
mediante una red CR cuando la señal de interés es de alterna.
Este error se añadirá a los demás errores que se produzcan en el operacional;
en este caso, como quiera que la ganancia de tensión de la configuración em-
pleada es unitaria y que la resistencia R suele ser muy elevada para conseguir
tensión alta con las débiles corrientes del fotodiodo, las principales fuentes de
error serán las corrientes de polarización y de desviación con lo que un bajo
valor para ambos parámetros es uno de los criterios de búsqueda básicos en
operacionales para fotodiodos.
Otro parámetro del operacional no muy habitual pero que afecta al comporta-
miento del sistema en continua es la resistencia de entrada; normalmente, no
solemos fijarnos en él y nos limitamos a pensar que "siempre es grande", pero,
en este caso, hay que tener mucha precaución con este valor. Por ejemplo, si la
FSO del fotodiodo es de 10 nA y queremos conseguir una tensión de 1 V, pre-
cisaremos una resistencia de 100M, un valor que es muy elevado; pues bien, si
nuestro operacional tuviese una resistencia de entrada de 1 GO, el divisor re-
siqtivo formado entre R y la resistencia de entrada desviaría en tomo al9 % de
la corriente por la entrada del operacional lo que causa un error de igual va-
lor sobre la salida.
Una resistencia de entrada muy elevada y corrientes de polarización bajas son
especificaciones compatibles con operacionales de entrada FET y MOS, pero,
sobre todo, con estos últimos. Si la luz que se va a leer es muy débil y, por
tanto, la corriente de salida también lo es, las especificaciones anteriores se
vuelven aún más crítica~ y suele recurrirse a tipos específicos de dispositivos
pensados para convertir corrientes extraordinariamente débiles: los amplifica-
dores para electrometría (electrometer amplifters).
416
En el cálculo de la relación S/N del sistema de medida de luz, además del rui-
do interno producido por la etapa de amplificación interviene la corriente de
ruido del fotodiodo. Esta corriente no suele venir especificada como tal en las
hojas de características de los dispositivos, sino que está implícita en el pará-
metro de NEP, que puede especificarse mediante un valor globalizador expre-
sado en 'vatios (poco habitual) o mediante una densidad, en cuyo ca~o vendrá
en W·Hz-112 . Para estimar la corriente de ruido r. se realizará a partir de la
densidad de corriente de ruido que se puede obtener de la NEP según:
Yn = NEP ·k ln = .j(NEP · k) 2 · ENB
con k, la sensibilidad del fotodiodo, correspondiendo a lo que indique el fabri-

cante que suele ser el valor a la longitud de onda de máxima sensibilidad, y
el ENB correspondiente al amplificador operacional. En un amplificador sólo
con una resistencia en la realimentación, EN B = GB W·l,57.
EJEMPLO 8.7
Un fotodiodo que tiene una capacidad asociada de 32 pF produce una
corriente entre O y 1,5 nA y tiene una corriente de oscuridad de 70 pA;
se desea conseguir una tensión de salida de 5 V mediante un circuito
formado por operacionales con las siguientes características: A 0 = 120 dB,
GBW = 10 MHz, 18 = I., = 80 fA, v., =50 ¡N, Rd = 1000 GQ. Diseñe el circui-
to para hacerlo y determine el error total producido.
Solución:
Si se intenta introducir toda la amplificación en una sola etapa, la ga-
nancia necesaria serfa de 5 V 1 1,5 nA = 3,33 GQ, lo que obligaría a usar
una red en T para no utilizar valores tan elevados. Si optamos por esta
hlternativa (Figura 8.72), el cálculo de la red en T se harfa con:
Req~ = Rl · ( 1 + ~) + R2 = 3,33 G!l
Si definimos R2/ R3 = 100, con R2 = 1K y R3 =lOO K, resulta que Rl =

33M. Eso fija para el operacional una ganancia de 101, lo que tiene rele-
vancia a la hora de calcular el condensador de compensación, ya que el
ancho de banda serfa de 10 MHz 1 101 = 9,9 kHz. En estas condiciones,
tenemos que:
CR >
4
7r. , .
3 33 1 99
~ 9 . , . 103 ( 1 + J1 + Bn · 3,33 · 109 • 32 · 10- 12 • 9,9 · 103)
es decir, CR tiene que ser mayor de 0,12 pF o, lo que es lo mismo, casi

cualquier valor.
El error se debe a dos causas: la corriente de oscuridad y el comporta-
miento en continua del operacional. la primera parte se puede cuanti-
ficar como 70 pA 1 1,5 nA, que supone un total del4,7 %. La segunda
417
parte vendrá definida por el efecto de la tensión de offset y las corrien-

tes de polarización.
Op39
33M 1K
100K
Vo = 3,33·109 ·IF
L':!f.
Figura 8 .72
Este error será:
lv•• 1 = 101· (so· 10- 6 + 33 · 106 . 80 ·10- 15 +

33 106
~ . 80. 10- 15) = 5,4 mV
que supone un 0,11 %. Como se puede observar, la mayor parte del

error se deberá a la corriente de oscuridad del fotodiodo (4,7 %), mien-
tras que el operacional, gradas a las bajas corrientes de polarización,. no
aporta error al sistema.
Las perturbaciones luminosas externas pueden tener la forma de ruido lumí-

nico si su carácter es pulsante en alguna medida; en tal caso se transformarán
en una fotocorriente de ruido que habría que añadir al ruido intrínseco del fo-
todiodo caracterizado por el valor antes calculado. En estas condiciones y con
la9 fuentes de ruido del sistema que tenemos, la obtención de la relación S/N
final no se diferenciará de lo estudiado en el Tema 2.
La reducción del ruido en el sistema pasa por los mismos procesos de siem-
pre: reducción del ancho de banda al estrictamente necesario, tanto desde el
punto de vi~ta eléctrico, mediante la inclusión de los correspondientes filtros
como desde el punto de vista lumínico con el uso de lentes para reducir la di-
rectividad del dispositivo y de filtros para seleccionar sólo aquellas longitudes
de onda de interés.
El circuito de conversión 1/V entrega una tensión que puede ser negativa
cuando el fotodiodo tiene su cátodo conectado a la tensión de polarización (o
a ma~a encaso de trabajar con tensión nula). En muchos casos se busca un va-
lor positivo con lo que debe ser incluida una etapa posterior de inversión que
puede incorporar ganancia adicional para evitar el uso de una resistencia de
valor óhmico muy elevado en la primera etapa (Figura 8.73).
Sin embargo, no siempre es posible trabajar de esta forma puesto que los sis-
temas que usan tensión de alimentación simple (Vce y masa) no podrían pro-
418
+Vce
R2
R1
L~
- Vce
-Vce
Figura 8.73. Utilización de una segunda etapa amplificadora para restaurar un valor positivo de la
ganancia final y para aportar una parte de ella y así, trabajar con un menorvalor de la resistencia
de la etapa de conversión 1/V. ¡Atención a la alimentación! Debe ser doble.
ducir la tensión negativa intermedia del circuito anterior. Para este ca~o, exjste la
opción de conectar el diodo en sentido contrario cuando este trabaje sin tensión
inversa (Figura 8.74a). Esta opción puede ser problemática cuando el fotodiodo
tiene un encapsulado metálico conectado al cátodo, en cuyo ca~o hay que extre-
mar las precauciones para evitar el cortocircuito del di~positivo (Figura 8.74b).
c. c.
R R
Encapsulado metálico
del futodioo~ ~,1

Vo =OV
L~ ¡ !
· 1 'rH La corriente S8 d&&via a

masa PDf el encapsulado
(a) (b)
Figura 8. 74. Obtención de tensión posit iva en la primera etapa del circuito de acondicionamiento
de un fotodiodo: (a) al invertir la posición del fotodiodo, la corriente se invierte y la salida es posi·
tiva; (b) cuando se invierte la posición de un fotodiodo de encapsulado metálico este suel e estar
conectado al cátodo, y, si el encapsulado t ambién está a masa (muy f recuente), se produce el
cortocircuito del sensor, con lo que la tensión será nula a la salida.
Cuando el fotodiodo trabaja con polarización inversa y especialmente cuando

esta es muy intensa -como en el caso de trabajar con APD en zona de avalan-
cha- sólo es posible utilizar la configuración inicial para evitar poner en peli-
gro la existencia del operacional.
8.4.5. TUBOS FOTOMULTIPLICADORES
Cuando la luz incide sobre un material conductor es posible que pueda arran-
car electrones; este efecto, denominado efecto fotoeléctrico, fue descubierto
por Hertz en 1887. Si se hace en condiciones de vado y se dispone de un se-
gundo electrodo polarizado positivamente respecto del primero, es posible e.5-
tablecer una corriente eléctrica cuyo valor está relacionado con la luz incidente
(Figura 8.75).
La interacción entre los fotones y la materia puede aportar energía suficiente
para que el electrón que está deslocalizado en la banda de conducción pueda
419
Cátodo Anodo
o-
Figura 8 .75. Ilustración del efecto fotoel éctrico y producción de la fotocorriente.
dejar la estructura y saltar al exterior. La minima energía para conseguirlo es

El físico alemán Heinrich Ru- lo que se denomina trabajo de extracción, (p, y viene determinado por:
dolf Hertz (1857-1894) fue el
descubridor del efecto fotoeléc-
trico en 1887, aunque su expli-
cación correspondió a Albert
donde h es la constante de Planck y nff la frecuencia mfn.ima del fotón que per-
Einstein.
mite el arranque, un factor que depende de cada material. En caso de que el
Hertz fue un científico muy bri- fotón aporte más energía, el resto quedará como energía cinética del electrón
llante pese a Jo corto de su carre- arrancado. Por tanto, es más sencillo extraer electrones cuanto mayor sea la
ra ya que murió a los 36 años;
energía del fotón, es decir, cuanto menor sea la longitud de onda de la luz in-
entre sus logros está también
el de descubrir la propagación
cidente.
de las ondas electromagnéticas Si en las proximidades hay un potencial adecuado, será atraído por el otro
(también llamada~ "ondas hert- electrodo y pasará a formar parte de una corriente neta proporcional a la luz
zianas"); la unidad de frecuen- incidente, es decir, una fotocorriente.
cia del Sistema Internacional de
Unidades lleva su nombre. Pero el potencial aplicado produce un efecto de aceleración del electrón que
gana energía cinética; como partícula con masa, el electrón puede impactar
sobre el electrodo ocasionando el arranque de varios electrones (ahora no se
trata de una interacción onda-partícula sino de un choque entre una partí-
cula material y un metal), fenómeno que se conoce como emisión secunda-
ria y que fue descubierto por Austi.n y Starke en 1902. Sin embargo, no fue
hasta 1919 cuando Joseph Slepian propuso el uso de esta emisión secunda-
ria con el fin de amplificar señales, y, quince años más tarde, la empresa RCA
presentaba el primer fotomultiplicador, en el que se planteaba un tercer elec-
trodo con mayor tensión que recoge los electrones arrancados por emisión
secundaria.
La idea del tubo fotomultiplicador (PMT, PhotoMultiplier Tube) es una con-
secuencia de todos estos desarrollos y su implementación práctica se lleva a
cabo en un tubo en el que se ha hecho el vacío; en él se dispone un cátodo que
recoge la luz (fotocátodo) para emitir electrones. El siguiente electrodo está
polarizado positivamente respecto del fotocátodo, luego acelerará los electro-
nes hasta que impacten sobre él y provoquen una emisión secundaria, que
será acelerada por un tercer electrodo (tarnbién polarizado positivamente res-
pecto del segundo electrodo) hasta que choquen con él y arranquen aún más
electrones... El proceso continúa a lo largo de varios electrodos, cada vez a
más tensión sobre los anteriores y a los que progresivamente van llegando
más electrones en un efecto multiplicativo que da nombre al dispositivo (Fi-
gura 8.76). Cada uno de los electrodos se comporta como un ánodo frente al
420
anterior y como un cátodo respecto del siguiente; este comportamiento dual le

ha valido el nombre de dinodo.
Electrón primario
Electrones secundarios
Cátodo
DInodos
E E E E
Figura 8. 76. Funcionamiento de un fotomultl plicador con cuatro dínodos, cada uno con más ten·
sión que el anterior.
También se suele emplear un electrodo de enfoque (jocusing elctrode) que ayu-

da a dirigir los electrones hacia el primer dínodo.
La mayorfa de los PMT prácticos tienen diez o doce dínodos lo que les otorga
una ganancia importante, de tal modo que un único fotón capaz de arrancar
un electrón del fotocátodo desencadena un proceso multiplicativo a lo largo de
los sucesivos dinodos, que puede suponer la llegada de muchos electrones al
último electrodo, el ánodo; esto hace que el PMT sea un dispositivo de detec-
ción de luz de gran sensibilidad, por lo que se suele aplicar en casos extremos,
como la medida de luz en A~tronomla en el estudio del espacio profundo.
Obviamente, el valor de la ganancia viene determinado por el proceso multi-
plicativo y este, a su vez/ está controlado por cuánto se aceleran los electrones,
es decir/ depende de la tensión aplicada. En aplicaciones normales se utilizan
entre 50 y 200 V entre dfnodos por lo que se suele trabajar con una tensión to-
tal entre 500 V y más de 2 kV entre el fotocátodo y el ánodo. Normalmente, se
di~pone de una única fuente de tensión )~ a partir de ella, se establecen las ten-
siones entre dínodos mediante un divisor resistivo, como se muestra en la Fi-
gura 8.77.
R R R R R R R R R R R
E (500 - 2500 V)
Figura 8 .77. Alimentación de un fotomultiplicador mediante una tensión y un divi sor resistivo.
Lo::; tlínodo:; pueden tener di:;tintas disposiciones e,;paciale::; dentro del tubo
del fotomultiplicador; del mismo modo, el fotocátodo puede estar situado en
4 21
la parte frontal del tubo o en una ventana lateral. Así, exi~ten diversas forma~
constructivas con algunas ventajas e inconvenientes que se cruzan entre ellas; a
modo de ejemplo se presentan algunas realizaciones prácticas en la Figura 8.78.
D D D
---
(e)
(d)
Fig ura 8 . 78. Ejemplos de tubos fotomul tiplícadores: (a) y (b) t ubo con ven tana latera l para la en·
trada d e luz; (e) y (d) uno de los PMT típicos d e ventana frontal. D: dínodo, K: fotocátodo, A: ánodo
(para no complicar el d ibujo se han suprim ido las tensiones de polarización de l os electrodos)
Los parámetros que definen el comportamiento de un PMT no son muy dis-

tintos a los de los fotodiodos, aunque hay grandes diferencias cuantitativas,
tales como la casi total ausencia de corriente de ruido. A continuación presen-
taremos tales parámetros y las diferencias fundamentales con el caso de los fo-
todiodos:
Respuesta espectral
Como en el caso de los fotodiodos, comprende todas la~ longitudes de onda
a la~ que responde el fotocátodo del tubo y eso depende del material del que
esté constituido y de la transparencia del material del que está formado el tubo¡
si, por ejemplo, usamos un tubo de vidrio amortiguará toda~ las longitudes de
onda por debajo del violeta con lo que actuará como un filtro para la radiación
ultravioleta (UV). En el otro extremo de la respuesta espectral, el trabajo de ex-
tracción actuará como una limitación a longitudes de onda altas¡ esta limitación
será diferente en función de si el fotocátodo trabaja en modo transparente (trans-
m.ission mode) o como material opaco contra el que chocan los fotones y emite
electrones por esa misma cara (reflection m.ode) como aparece en la Figura 8.79.
Cátodo
Cátodo
Electrón primario Electrón primario

(a) {b)
Figura 8 .79. Fotocátodo funcionando en modo de reflexión (a) y en modo de transmisión (b).
422
En cualquiera de los dos modos, el conjunto formado por el fotocátodo y el mate-

rial de la ventana del tubo por la que entra la luz definen una respuesta espectral.
En la década de los cuarenta del siglo pasado, el JEDEC (Joint Electron Devices
Engineering Council) estableció una serie de códigos para estos binomios de ma-
terial denominados Jos códigos S (S-numbers) que, en la actualidad se han exten-
dido a otros términos. En la Tabla 8.11 se muestran algunos materiales para la
ventana y la núnima longitud de onda para la cual, el material deja pa~ar la luz,
mientras que en la Tabla 8.12 se indican varios materiales para el fotocátodo y la
máxima longitud de onda que queda determinada por el trabajo de extracciórL
La combinación de material de la ventana y fotocátodo da lugar a varios ti-
pos de sistemas que se caracterizan por un código S, y, en general, se habla del
conjunto como el fotocátodo.
Tabla 8.1 1. Limitación de longit ud de onda impuesta por el material de la ventana.
Material de la ventana Amínima lnm]

Fluoruro de magnesio 115
Zafiro 150
Cuarzo 160
Vidrio para UV 185
Borosilicato 300
Tabla 8.12. Limitación de longitud de onda Impuesta por el material del fotocátodo.
Material del fotocátodo l. máxima lnm)

Cs-1 200
Cs-Te 320
Sb-Cs 65{)
Bi-alcalino (bia/kali) 650a 750
Multi-alcalino (multialkali) 850a 900
GaAs 930
InGa.As 1040
Ag-0-Cs 1200
lnP /lnGaAsP 1400
InP/InGaAs 1700
En relación con la respuesta espectral de los fotodiodos se puede ver que, en

linea~ generales, los PMT responden bien a las señales muy energéticas (lon-
gitudes de onda baja) y que la principal limitación en este sentido, es el mate-
rial de la ventana. En el otro lado de la balanza, la~ longitudes de onda alta~
- poco energéticas- no pueden arrancar los electrones ya que el trabajo de
extracción del material supera la energía que porta el fotón.
Ganancia
La ganancia de corriente es la relación que existe entre el flujo de electrones
que produce el foto cátodo (fotocorriente) y la corriente final de ánodo¡ depen-
de de la eficiencia de la recolección de electrones del primer dfnodo y de la
tensión aplicada entre ellos que es el factor que produce la aceleración de los
electrones. Si denominamos E a la terL~ión aplicada al PMT, la ganancia J.1. vie-
ne dada por la expresión:
¡t=A · E~<•
423
Donde k es un factor que depende del material del dínodo, cuyo valor varía
entre 0,7 y 0,8, y A, un parámetro que depende de cómo se distribuya el total
de la tensión entre los dínodos. En lineas generales, la ganancia sube con una
potencia de la tensión aplicada, lo que tiene una vertiente positiva ya que es
posible conseguir ganancias muy elevadas y, a la postre, eso significa que el
PMT es un sensor con una elevadfsima sensibilidad; sin embargo, también su-
pone una vertiente negativa puesto que las fluctuaciones y cambios en la ali-
mentación se transmiten amplificados a la ganancia.
Para conseguir que el comportamiento del PMT no se vea comprometido por
los cambios en la alimentación es imprescindible trabajar con tensiones muy
estables por lo que la fuente que alimenta el tubo debe estar diseñada tenien-
do esto en cuenta.
Corriente de oscuridad
La corriente de oscuridad no es nula en un PMT aunque su valor suele ser
mucho más bajo que la de los fotodiodos. La mayor parte se debe a la emisión
termoiónica y a las fugas entre los electrodos y el ánodo, aunque pueden ci-
tarse otros orígenes como el centelleo del material del tubo, la ionización de
gases residuales o la radiación ambiental (rayos gamma, rayos cósmicos, emi-
sión radiactiva del ambiente ...).
A pesar de que en líneas generales suele ser muy baja, en función de la apli-
cación la corriente de oscuridad puede tener un efecto mayor o menor; por
ejemplo, es frecuente el uso de PMT en el campo de la A~tronornfa donde las
intensidades luminosas pueden ser tan bajas que cualquier pequeño desplaza-
miento puede dar al traste con la medición.
Comportamiento temporal
En muchas ocasiones, los fotomultiplicadores se emplean en aplicaciones
con elevadas solicitaciones en el ámbito temporal, como cuando trabaja en
modo pul~ante. En tales casos, el comportamiento en el dominio del tiem-
po es algo básico; los PMT suelen ser muy rápidos, pero requieren un cier-
to tiempo en que el electrón generado en el fotocátodo desencadene una
corriente en el ánodo por lo que se manifiesta un cierto retardo entre el im-
pacto del fotón y la aparición de la correspondiente corriente. Dicho tiempo
se denomina tiempo de tránsito del electrón (electron transit time) y suele
ser de algunas decenas de nanosegundos. Sin embargo, los tiempos de su-
bida y bajada que se obtienen son muy cortos y están en el orden del nano-
segundo.
Todo esto confiere al PMT la posibilidad de trabajar a frecuencias muy ele-
vadas.
El circuito de acondicionamiento de señal para un PMT no se diferencia del
que se usa para los fotodiodos, ya que en ambos casos se trata de una con-
versión !/V (Figura 8.80); el PMT también puede presentar una capacidad
parásita, con lo que se procedería a situar un condensador en paralelo con
la resistencia de realimentación, que se calcula igual que en el caso prece-
dente.
424
11
1 1R
""' l '- -" \

""'"' "
/p
~
K A
r
\.. l'- l'- \..,.1
-V Vo
• ~ -
Figura 8 .80. PM T con su circuito de acondicionamiento para convertir la fotocorriente en una
tensión.
EJEMPLO 8.8 (R33l.pdf)

Un fotomultiplicador R331 de la firma Hamamat~u se emplea para leer
señales luminosas en la banda UV, en concreto, entre 330 y 3SO nm con
una potencia máxima de 0,1 ¡.t.W, pero la luz incluye un ruido de fondo
en la zona visible equivalente a 1 ¡.¡W. Si se alimenta a 1400 V, diseñe un
circuito para conseguir una tensión de salida máxima de 4 V y deter-
mine el correspondiente error suponiendo que se usa un amplificador
operacional de GBW =lO MHz, v"' = 1 mV e 18 = I"' = 0,05 nA. ¿Cómo
mejoraría este error si se incluyese un filtro que permita eliminar la luz
incidente en la zona visible?
Solución:
En la zona de interés, la sensibilidad del cátodo se puede obtener
de la gráfica y es de unos 70 mA/W y la eficacia cuántica resulta
cercana al 25 % con Jo que se puede suponer una corriente máxima
de cátodo de 1,75 nA. Para una aliment ación de 1400 V la ganancia
resulta ser de 900000, con lo que la corriente de ánodo pasa a ser de
1,575mA.
Además, hay que considerar la transformación de la perturbación
no deseada en el entorno visible, en donde la sensibilidad media es
aproximadamente de 10 mA/W con una eficiencia cuántica próxi-
ma al 6 %. Esto hace que aparezca una corriente adicional que actúa
como un offset de 600 pA. A este valor hay que añadir la corriente de
oscuridad del propio PMT, que, según indica el fabricante puede ser,
como máximo de 50 nA. El error total sería de 50,6 nA, debido en su
práctica totalidad a la corriente de oscuridad. Este error supone un
0,0032%.
Si se quiere conseguir una tensión de 4 V, la ganancia en una etapa sería
de 2540 O, valor alcanzable en una única etapa. El circuito sería el que
425
Señal (1 pW)
Perturbación en el visible (O, 1 ¡.LW}
12 Vo
dinodos
1400V
Corriente de
Perturbación en el vis1i ble
Fígura 8.81
El cálculo del valor del condensador de compensación se realíza me-

diante la expresión que se ha empleado en otras ocasiones, sabiendo
que la capacidad de salida del PMT es de 2 pF:
cR > 4 rr. 25: 0 . 107 ( 1 + .J1 + Bn · 2540 · 2 · lO 12

·lo")= 7,8 pF
El error que introduce el operacional viene dado por:

2540
lvool = 10- 3 + 2540 · 50· 10- 12 +
2
·50 ·10-12 =1mV
que supone un 0,025 %, que se añadiría al 0,0032 % antes obtenido.

Como se puede observar, el error total se debe fundamentalmente al
operacional y cualquier acción que se tome como incorporar un filtro
para eliminar el visible tendría escasa repercusión en el resultado ins-
tr\.unental del si~tema. No obstante, el error final es muy bajo con lo que
se puede trabajar en esta situación sin grandes dificultades.
Los fotomultiplicadores se emplean en casos en los que la luz que queremos

medir es de una intensidad muy baja, fuera del alcance de la sensibilidad de
los fotodiodos ya que su coste es bastante mayor y, además, necesitan una
fuente de alimentación adicional con condiciones de diseño duras, lo que con-
tribuye a incrementar el coste final. Su volumen es elevado y la presencia de
puntos de alta tensión en si~temas de instrumentación obliga a un di~eño aún
más cuidadoso de todo el conjunto. Algunos modelos comerciales incorporan
la fuente de alta tensión en la mi~ma carcasa, lo que simplifica un poco el dise-
ño, pero sigue manteniendo los mismos inconvenientes. También hay que te-
ner en cuenta que es un tubo frágil y que ha de manejarse con sumo cuidado;
por ejemplo, algunos de los materiales del tubo son porosos a determinados
gases con lo que estos podrían pasar al interior, romper el vado e inutilizar el
dispositivo. También hay que tener en cuenta que es un dispositivo muy sen-
sible a la luz, por lo que una exposición a luz intensa puede arrancar electro-
nP.~, ;u m ron P.l tuho ciP.smnPrt:ldo o sin P.~t:lr Pn fundon:lmiPnto, '1""" puP.ciPn
deambular por el tubo durante algún tiempo (una hora o más) contribuyendo
a incrementar la corriente de oscuridad.
426
Incluso con todos estos problemas, el PMT es imprescindible en algunas apli- LIDAR
caciones. LIDAR o LiDAR es la contrac-
Existen dispositivos más compactos, que aprovechan la avalancha de los dio- ción de las palabras "light" y
"radtrr''.
dos para efectuar el proceso multiplicativo¡ se trata de los foto-detectores hi-
bridos (H:PD, Hybrid Photo-detect01). Estos dispositivos tienen un fotocátodo El sistema se inventó en los años
similar al de un PMT pero en lugar de diqponer de un primer dinodo, em- sesenta del siglo pasado y con-
plean un diodo de avalancha que está a una tensión de varios kilovoltios res- siste en el empleo de una excita-
ción con luz láser enviada hacia
pecto del fotocátodo (Figura 8.82).
la atmósfera y un dispositivo de
Efecto del bombardeo captura del reflejo de dicha luz
en cualquier evento atmosférico
como las nubes; este sensor sue-
Diodo de avalancha
le ser un tubo fotomultiplicador
Cátodo con un filtro óptico muy selec-
tivo sintonizado en la longitud
de onda del láser. Midiendo el
tiempo entre la ida y la vuelta
de la luz y conocida la dirección
en la que se envía el haz láser se
puede determinar la di~tancia a
1E E!Nv la que se encuentra la nube. Si
e____¡ ~ ~ ~ 1-------'------11---______;,
se completa con un barrido en
/F--.,J
una zona amplia, se puede obte-
ner W\ mapa bastante exacto de
Figura 8 .82. Funcionamiento de un HPD: la generación de los el ectrones p rimarios es simi lar a la la situación atmosférica.
que ocurre en un PMT, pero luego son acelerados p ara bombardear un diodo de avalancha y p ravo·
car pares electrón· hueco que se multiplicarán debido al efecto avalancha. Este es uno de los sistemas de
detección en el que se usan
El electrón es acelerado fuertemente con Jo que, al chocar con la estructura del fotomultiplicadores por su gran
sensibilidad y por la rapidez de
diodo, arranca un buen número de pares electrón-hueco. Con el diodo pola-
respuesta.
rizado en la zona de avalancha, se produce un proceso multiplicativo que de-
pende de la tensión inversa aplicada. La ganancia total es el producto de la
ganancia que se produce en el bombardeo (un único electrón produce muchos
pares electrón-hueco) y de la ganancia debida al proceso multiplicativo de la
avalancha. En condiciones normales, la primera es muy grande, lo que dota al
dispositivo de una buena estabilidad en la ganancia total.
La ganancia final obtenida no es tan grande como en los PMT y tiene depen-
dencia de la temperatura debido al comportamiento de la avalancha en el dio-
do, pero son dispositivos menos delicados de manejo, menos costosos y tienen
una vida útil más larga y con menos derivaq que los PMT.
8.4.6. MEDIDA DE VARIABLES MEDIANTE LUZ
Está claro que fotodiodos y fotomultiplicadores (y otros dispositivos simila-

res) son sensibles a la luz, pero el lector puede preguntarse si la medida de la
luz es tan importante como para destinar un buen número de páginas a los
sensores que Jo hacen.
Medir luz directamente se usa en determinadaq aplicaciones, pero en sf miqma
no es una de las variables más habituales en el mundo de la Instrumentación¡
más allá de la medida en fotografía e imagen para ajustar velocidad y obtura-
ción o el uso en sencillos automatismos como interruptor crepuscular, no sue-
427
le ser muy frecuente el uso de fotómetros (dispositivos de medida de luz). Sin

embargo, la luz es una variable intermedia que puede usarse para medir otras
variables y eso sf que es muy habitual en muchos ámbitos diferentes. A conti-
nuación se darán algunas ideas sobre la aplicación de la luz en la medida de
otras variables, agrupadas en ftmción de su ámbito habitual de aplicación, lo
que no quiere decir que no puedan usarse en otros casos diferentes.
Medida de variables en el ámbito industrial

Una de las medida~ más habituales es la de velocidad de giro de ejes lo que
permite controlar velocidad y posición, con aplicación genérica en el mundo
industrial y específica en el campo de la robótica. En muchas ocasiones se usa
un dispositivo denominado codificador óptico (optical encoder). La idea más
básica consiste en utilizar un disco que gira solidario con el eje en el que hay
un determinado código en cada posición formado por zonas oscuras y clara~.
La lectura de las zona~ se realiza con un sistema de reflexión como el de 8.57
con lo que en la salida hay una información que indica la posición que ocupa
el disco respecto del lector (Figura 8.83a). Un dispositivo de este tipo se dice
que es un encod.er absoluto porque la información de salida depende sólo de
la posición.
Código de salida
,..A,--o ho o•
C'.Jl
too e:_ o o.
~
r--~ ~
..-'\--o f- =ó- ri.
~·,
Sel\al d& hifBÍ"encla

(Inicio)
(a) (b)
Figura 8.83. Encoders óptícos: (a) encoder absoluto que proporciona un código para cada posición;
(b) encoder incremental, que genera dos t renes de pulsos desfasados y una señal de i nicio en la
posición nula.
EJEMPLO 8_9
Se pretende medir la velocidad de un motor cuyo máximo valor es de
3000 rpm y que incorpora un reductor que baja la velocidad a 100 rpm,
estando disponible tanto el eje de alta como el de baja para efectuar
la medida. Si se usa un encoder capaz de proporcionar 4000 pulsos por
vuelta, determine la máXima resolución que se obtendrfa aJ realizar una
medida cada 0,01 s cuando se sitúe en el eje de alta o en el de baja.
428
Solución:
El motor puede proporcionar una velocidad máxima de 3000 rpm, es.
decir, 50 vueltas por segundo. Si el encoder se sitúa en el eje de alta,
sería capaz de producir una señal de frecuencia 50·4000 = 200000 pulsos
por segundo (Hz) con lo que la capacidad de contar pulsos en 0,01 s lle-
garía a 2000. La resolución que se conseguiría sería, entonces, de 1/2000
= 0,05 %.
Si, por el contrario, el encoder se situase en el eje de baja, la velocidad se-
ría menor, (100 rpm como máximo) lo que implica 1,667 vueltas por se-
gundo. El dispositivo produciría una frecuencia máxima de 1,667-4000
= 6667Hz y se podrían contar hasta 67 pulsos en el periodo de 0,01 s lo
que conduce a una resolución del1,5 %.
Como se puede observar, la resolución mejora si se usa el eje de alta
para la med ida; en caso de no estar d isponible, el eje de baja produce
mucha peor resolución o, en caso de pretender mantenerla, se debería
optar por un tiempo de recuento más largo.
Otra de la~ aplicaciones más típicas es la medida del color; el color es una ca-
racterística asociada a la luz pero resulta difícil de definir puesto que el con-
cepto es, en principio, un aspecto subjetivo del ser humano, e incluso, dentro
de la misma especie la percepción es muy diferente; por ejemplo, los inuit tie-
nen ocho nombres diferentes para el blanco en su lenguaje, lo que significa
que distinguen tonalidades donde los que vivimos en ambientes con mucho
menos hielo y nieve somos sólo capaces de decir que "es blanco"; las mujeres
tienen una mayor capacidad de distinguir tonos que contienen rojo que Jos
hombres ...
En definitiva, el color no es un parámetro objetivo sino subjetivo, por lo que
se suele hablar de diversas escala~ de color, tales como RGB, CMYK, XYZ ...
espacios de col or con varias coordenadas en los que cada tono concreto se
caracteriza por un valor para cada una de esas coordenadas. Tampoco es lo
mic;mo analizar el color que refleja un objeto que el color de una determinada
fuente de luz: en este último caso, el análisis se obtiene directamente a partir
de la luz, mientrac; que, en el primero, la luz que refleja dependerá de la fuen-
te de luz con que se ilumine; por ejemplo, un objeto es azul porque refleja lac;
longitudes de onda correspondientes al azul, pero, si se ilumina con una fuen-
te de luz roja, será incapaz de reflejar el azul porque la luz que recibe no con-
tiene esas longitudes de onda. Por tanto, en el caso del color de los objetos, el
tipo de iluminante (fuente de luz) resulta definitivo y lo ideal es que dicho
iluminante contuviese todas lac; longitudes de onda y con un nivel idéntico en
todas ellas, es decir, lo mejor es que fuese una luz perfectamente blanca. Aun-
que eso no es posible sí que hay varias fuentes de luz que se acercan bMtan-
te a esa idea.
En cualquier caso, lo que si se necesita es un detector que sea capaz de dic;cer-
nir cuanta luz recibe de cada color, sea para leer luz directa o luz reflejada. Ya
que no es fácil encontrar sensores específicos para cada zona., se suele recurrir
al empleo de filtros ópticos que seleccionan las longitudes de onda que recibe
429
cada sensor, como se muestra en la Figura 8.84, en donde se muestra el diagra-

ma de bloques de un colorímetro triestímulo.
Zona de medida
llumina..;,;n,;;te+ --t-+-+-t--+--1:--
F1 F2 F3
Figura 8.84. Colorfmet ro tri estfmulo: con un ilum inante que proporcione "todas• las longi tudes
de onda, los filtros ópticos Fl, F2 y F3 más los f otodiodos, seleccionan tres bandas de longi tudes
de onda para la senal reflejada por la zona de medida. A la salida se tendrán tres coordenadas de
tensión en el espacio Fl·F2·F3.
La detección del color es importante en los procesos de lavado industrial y en

la industria alimentaria donde es una de los principales parámetros organo-
lépticos y, por tanto, un indicador de diversas cualidades, que van desde el
punto de madurez de la fruta hasta la calidad en general, pasando por los pro-
cesos de vinificación del mosto. El color también es básico en la industria grá-
fica, en la textil y en la producción de pintura.
Otra variable importante es la turbidez de los líquidos, que define el núme-
ro de partículas en suspensión; los procesos de tratamiento de aguas, tanto en
el caso de agua para consumo como en el de aguas residuales (urbanas o in-
dustriales), conllevan la medida de turbidez en diBtintas fases del proceso;
también es frecuente su medida en determinados procesos industriales y en
algunos otros de la industria alimentaria. La medida de turbidez se puede rea-
lizar de varias formas, pero la más precisa es la medida nefelométrica que se
realiza mediante un emi~or de luz y dos receptores - habitualmente fotodio-
dos-- situados, respectivamente, frente al emisor y en cuadratura, tal como se
muestra en la Figura 8.85.
La presencia de partículas en suspensión tiene dos efectos: dificultar el ac-
ceso de la luz al fotodiodo situado frente al emisor y dispersar la luz en to-
das direcciones. El fotodiodo situado a 90° recoge parte de la luz dispersada,
que será mayor en la medida en que haya más partículas en suspensión. ·Lo
normal es hacer una medida ratiométrica, es decir, el cociente entre la señal
recibida por el fotodiodo en cuadratura y la que recibe el otro fotodiodo. El
sistema se puede ampliar con más receptores y emisores para garantizar una
medida mucho más precisa, sobre todo en casos en que la turbidez es muy
baja, cuando la luz dispersada es minima.
430
• Particulas en suspensión
•
LED Fotodíodo
• Luz transmitida
! --:.:+-.......:.·__ Luz dispersada {scattered lighf)
D
Fotodiodo 90°
Figura 8.85. Medida de turbidez por nefelometría. El fotodlodo situado a 90' reci be la luz dispersa·
da por las partículas en suspensión, mien tras que el fotodiodo frontal recibe la luz directa del LEO;
el cociente entre ambas señales informa de la can tidad de partículas en suspensión (turbidez).
La mi~ma medida de turbidez, pero esta vez referida al aire, es el recuento de

polvo (dust cou.nt), un parámetro medioambiental básico para determinar el
estado del aire en lineas generales, pero que tiene un gran interés en determi-
nados ámbitos productivos: ambientes donde el polvo presente puede ser pe-
ligroso para los operarios, tales como explotaciones mineras, silos de áridos o
de cereales, o zonas donde se debe extremar la limpieza, como salas blancas
para la fabricación de circuitos integrados, lugares en donde el control del pol-
vo en suspensión resulta crucial.
El procedimiento es el mismo que en el caso de la turbidez, pero dados los ba-
jos niveles de partículas en suspensión, la cantidad de luz que dispersan es
muy pequeña hasta el punto de que sólo es posible el uso de un tubo fotomul-
tiplicador como detector a 90° (Figura 8.86).
PMT
Figura 8.86. Recuento de partículas de polvo para medida de pureza del aire. Cada partrcula dis·
p ersa luz y el fotomultiplicador recoge un pulso por cada una de ellas.
Una medida muy parecida a la anterior es la detección de humo, un paráme-

tro de seguridad que se usa masivamente en todo tipo de situaciones; el fun-
cionamiento se basa en la detección de las partículas en suspensión en el aire
que constituyen el humo por medio de un procedimiento muy parecido al an-
terior (Figura 8.87).
Como la finalidad del sensor no es otra que la de dar la alarma en caso de que
se detecte presencia de humo, la salida es digital: cuando el fotodiodo situa-
431
do a 90° detecte presencia de luz, hará cambiar la señal de salida del compa-
rador.
~--f-;c:;:ir:;: cu:; ;itol

; ; -Alarma
o
de alarma
Figura 8.87. Fu ncionamiento básico de un detector de humo; en esencia, trabaja como el contador
de partículas de polvo, pero, como quiera que en el humo son muy abundantes, basta con un foto·
diodo en l ugar de u n PMT para detectar la l uz dispersada por ellas.
Otra medida que se puede realizar mediante un sensor óptico es la determina-

ción de la posición de una zona de luz más intensa. La idea se puede realizar
mediante un sensor denominado PSD (Position Sensitive Device) que puede lle-
varse a cabo mediante un fotodiodo uniforme con dos electrodos, cada uno de
los cuales recogerá más o menos corriente en función de cuál sea el lugar don-
de "impacten" los fotones (Figura 8.88).
Figura 8.88. Fotodiodo para medi r la posición del punto de luz de t ipo PSD.
La lectura del sensor de posición se hace mediante la relación entre la dife-

rencia de corrientes, que es proporcional a la posición donde esté impactan-
do la luz:
donde 11 e 12 son las corrientes en cada ánodo, 111 es la corriente total y x es la

distancia a la que está el punto de luz.
432
Es posible hacer un dispositivo con una idea similar para detectar posición en Espectrómetros
dos ejes XY sin má~ que considerar una superficie cuadrada y cuatro electro- Los espectrómetros son sistemas
dos para el ánodo en lugar de los dos del caso anterior. complejos que permiten anali-
zar el contetúdo de longitudes
El uso de dispositivos de este tipo junto con un láser permite efectuar una me-
de onda de la luz y cuantificar
dida de distancia, como se muestra en la Figura 8.89.
la cantidad de luz en cada una
de ella~.
r.H~a~z~lá~s;er~~----------_¿d~------------~~l-_j
Su funcionamiento consiste en
.._ descomponer la luz mediante
----.J ------ ··--.... ........... ............
Punto de luz sobre
el PSD
--
• • • · - ·.... .... .. .. _
_:·~-;;--.......... .. .. ..
una rejilla de difracción (equiva-
lente a un prisma óptico) y leer
--- - --
F - --- ................
el valor en cada W\a de las posi-
Punto de luz ciones que corresponden a cada
X
longitud de onda.
lente
PSD
Figura 8.89. Sensor de distancia basado en un PSD: la distanciad está directamente relacionada
con la posición x del punto de luz sobre el sensor PSD.
"'"
Los PSD también pueden construirse mediante un conjunto de fotodiodos dis-
Para seleccionar la luz de entra-
creto, en cuyo caso habrá una lectura para cada uno de esos fotodiodos. En tal
da se emplea una apertura muy
caso, el uso y manejo del sensor es similar al que se tiene en los sensores de
pequeña por la que se introduce
imagen del próximo apartado. la luz y para leer cada longitud
de onda se usa un array de fo-
todiodos. Lógicamente, cuanto
Medida de variable químicas más lejos esté el array de la re-
La luz es la variable más habitual en el ámbito del análisis químico que persi- jilla de difracción, mayor será la
gue como finalidad la determinación de la presencia de cualquier sustancia en resolución espacial de la longi-
una muestra o en sistema. La mayorfa de estos procesos se ba~an en la interac- tud de onda; el problema es que
ción entre la luz y la materia que se pueden resumir en la Figura 8.90. alejar mucho el sensor supone
hacer que la luz recorra una dis-
Como se puede observar, cuando la luz incide sobre la zona en la que se preten- tancia mayor con lo que menor
de realizar el análisis, parte de la luz es reflejada, una parte es absorbida por la será la potencia total que recibe
materia y el resto, atraviesa la zona y se recupera al otro lado (es la luz tran9mi- (mayor tendrá que ser la sensi-
tida). En principio, todos estos procesos no suponen alteración de la longitud de bilidad) y más grande resultará
el equipo (y más costoso).
Los espectrómetros se usan ma-
sivamente en el análisis qtúmico
MUESTRA y en cliversas aplicaciones de la-
boratorio.
f
Luz
Luz reflejada absorbida
Luz transmitida
Figura 8.90. Cuando la luz incide sobre la materia, una parte se refleja y el resto se refracta; de esta,
una parte se absorbe y el resto se transmi te. En todos los casos no hay al teraciones de la longitud
de onda, pero la intensidad de la señal puede incluir información (química o física) sobre la muestra.
433
onda de la luz, pero algunas de las variables químicas del medio pueden afec-
tar a otrac; características de la luz, como la intensidad o el ángulo de polari-
zación.
La detección de las propiedades de la zona sobre la que se está trabajando
mediante el análisis de la luz reflejada se denomina reflectometría y es muy
útil en el caso de líquidos y sólidos, muchos de los cuales reflejan más o me-
nos determinadas longitudes de onda en función de la concentración de una
determinada sustancia (Figura 8.91). Un ejemplo de aprovechamiento de este
tipo de comportamiento puede ser la detección de la grac;a infiltrada en la car-
ne, algo básico en la determinación del valor de carnes de alta calidad, como
en el caso de las canales de buey. Cuando el parámetro a medir sea complejo
y se precise leer luz en varias longitudes de onda, la fuente de luz debe pro-
porcionarla<> pero, además se necesita usar un espectrómetro, un dic;positivo
capaz de analizar la luz que recibe en las componentes de cada longitud de
onda.
MUESTRA
R
¡, =kL(x) ...
X
(variable a medir)
Vo= - R·kL(x)
Figura 8.91. Medida de una propiedad por reflectometrfa. La intensidad reflejada está modulada
en intensidad por la propiedad a medi r; si se quiere reducir el ruido lumínico de la medida se pue·
den disponer f iltros ópticos en la exci tación, pero sobre todo en la recepción de luz.
El análisis de la luz transmitida también puede informar de las propiedades

del medio que atraviesa, puesto que las sustancias suelen absorber determina-
das longitudes de onda. Entonces, la desaparición o atenuación de las longitu-
des de onda que absorbe una sustancia son una indicación de la presencia de
tal suc;tancia, y la cantidad de luz absorbida depende de su concentración y de
la distancia que ha atravesado (Figura 8.92). En general, una sustancia absorbe
un conjunto de longitudes de onda que constituye su espectro de absorción,
que se puede utilizar para realizar una determinación fiable; en otrac; ocac;io-
nes, basta con usar una única longitud de onda, cuando no hay peligro de in-
terferencia de otrac; sustancias. Un ejemplo de este tipo de aplicación puede
ser la detección de metano o de C02 en la atmósfera. En la Figura 8.92 se indi-
can las zonac; del espectro donde absorben esta<> sustancias y un sistema para
esa finalidad.
Algunas sustancias tienen la capacidad de producir fenómenos lumini<>centes
que suponen cambios en la<> longitudes de onda originales, a diferencia de los
anteriores. Se trata de los fenómenos de fluorescencia y fosforescencia, de los
cuales el primero se explica por la absorción de un fotón por parte de un elec-
trón, lo que le lleva a un estado excitado mucho más alejado del núcleo desde
donde irá bajando poco a poco hasta producir una fuerte caída hac;ta el esta-
434
Fuente de Fluorescencia
Fotosensor
excitación
d La fluorescencia es un fenóme-
no físico que se produce cuando
J. V=~ ([CH.V un electrón absorbe un fotón y
-1 pa~a del estado fundamental a
~
T w\ estado excitado gracias a ese
Lo 4= 3300 nm ~ L(d, [CH.]) aporte de energía. Después de

1 1 1 1
algill\as leves caídas a estados
Proceso de absorción de la luz
próximos sin emisión de luz,
por efecto del metano
se produce el retorno al estado
No se usa 7800 nm porque fundamental, deshaciéndose de
A 1600 nm el efecto es más débil interfiere con el N02 la energfa sobrante med iante
la emisión de un fotón menos
energético (m ás longitud de
onda).
Vapor da agua
Como la fluorescencia sólo la
co, presentan determinadas sus-
tancias sirve para identificarlas
Metano y como las longitudes de onda
para excitar los electrones y las
N02
emisiones fluorescentes posterio-
Dlspersl6n Raylelgh res son características para cada
200 1000 10000 70000 sustancia se pueden usar para
4 (nm) identificarlas y cuantificarlas.
Un ejemplo muy típico es el de
Figura 8.92. Ejemplo de detección de metano (CH.) mediante absorcíón. Lo primero que hay que la qu.itúna, sustancia fluores-
hacer es escoger una longitud de onda adecuada para que el proceso sea sensible y sufra las míni·
cente contenida, por ejemplo,
mas interferencias que sea posible. En el caso de detección de moléculas, suelen presentar bandas
relativamente anchas, dentro de las cuales podemos trabajar con mayor facilidad; si se tratase de en el agua tónica que se excita
absorción atómica, las líneas serían muy est rechas. Nota: las longit udes de onda propuestas para en el ultravio leta y emite luz
el ejemplo son aproximadas. en el azul: en una discoteca con
lámparas de luz negra (UV)
do original con la correspondiente pérdida de energía mediante la emisión de veremos un suave color azuL
un fotón (menos energético que el original por lo que tiene más longitud de en la tónica (o en el gin-tonic).
onda). La lectura de la luz producida por fluorescencia se puede usar para la ¿Es muy débil la luz? ¡Hay que
echar menos ginebra y má~ tó-
detección de determinadas sustancias que tengan esa propiedad o para la de-
nica, que el alcohol es poco sa-
tección de otras que afecten al proceso (desactivadores o quenchers), como se ludable!
Sustancias como hidrocarburos con anillos bencénicos en su estructura qufm.i-
ca o con enlaces conjugados manifiestan el fenómeno de la fluorescencia, con lo
que pueden detectarse y cuantificarse mediante este fenómeno lo que tiene gran
interés en la estimación de la contaminación medioambiental. Otras sustancias
(como complejos basados en rutenio) también la manifiestan )', en este caso, la
producción del fenómeno es sensible a la presencia de otras sustancias, con lo
que se pueden medir estas de forma indirecta. Un ejemplo de este tipo de si~te
m.a~ es la detección del oxigeno disuelto, otro parámetro básico en multitud de
aplicaciones, que van desde el ámbito medioambiental (calidad de aguas) hasta
la<; pi~cifactorfas pa~ando por la detección de oxígeno di~elto en combustibles,
algo básico en la seguridad de los tanques de los aviones. En todos estos ca<¡os,
los detectores suelen ser fotodiodos ya que la señal recibida suele ser bastante in-
tensa, atmqu.e se incorporarán illtros ópticos para seleccionar sólo la longitud de
onda de interés (una banda relativamente estrecha) y a<¡f evitar el ruido lunúnico.
435
R analito fluorescente
(sustancia a medir)
A<...... >.a...
Vo• -R·kL{x)
(a)
R
analito
(sustancia a medir que actúa
como quencher)
Sensor químico
Vo• -R·kL{x) fluorescente
(b)
Figura 8.93. Medida de concentración de sustancias (anal itos) mediante t écnicas fluorescentes: (a)
la sustancia a medir es fluorescente en si m isma; (b) la sustancia a medir desactiva la emisión de
luz de un sensor químico fluorescen te.
El proceso de fosforescencia es similar al anterior, aunque supone algún suce-

so cuántico más de escasfsima probabilidad lo que hace que el fenómeno sea
muy débil, obliga a emplear PMT, HPD o APD lo que eleva el coste final del
sistema sin aportar muchas ventajas sobre la medida por fluorescencia; por
ello, es de escaso interés práctico.
Otras aplicaciones
En el campo de la Medicina la medida de luz se usa masivamente en multi-
tud de aplicaciones, algunas muy sencillas y otras extraordinariamente com-
pleja~. Dentro de las primeras se puede citar la medida de oxígeno en sangre
por métodos no invasivos como el oxímetro de pulso, que consiste en una me-
dida de absorción en el infrarrojo. Para ello, se usan dos medidas, una que no
se ve afectada por el oxígeno (luz en el entorno de 600 nm) y otra que sf lo está
(alrededor de 940 nm) en una zona del cuerpo que sea relativamente tran~pa
rente como, por ejemplo, la zona de la yema de los dedos (Figura 8.94). El co-
ciente entre las dos medidas indica la cantidad de oxígeno en sangre; si no se
usase la medida de referencia - la que no se ve afectada por el oxígeno- la
medida real se vería afectada por la anchura del dedo, el tipo de piel, la colo-
cación de los dispositivos, etc. pero como quiera que ambas quedan afectadas
por las misma~ perturbaciones, sus efectos se compensan y el cociente depen-
de fundamentalmente del oxígeno.
El uso de fotodlodos es más que suficiente para el oxímetro de pulso ya
que la cantidad de luz que llega a los fotodiodos es bastante grande como
436
para producir una señal apreciable, lo que da una idea de nuestra transpa-
rencia.
(600 nm) (940 nm)
1\
)( ~ [02)
[O,}
lnt&raccl6n con el
oxígéno
L(x)
R ~~ LX
( ,[ 0 ~)
Vo =h[O~
CALCULADOR
Figura 8.94. Oxímetro de p ulso. El oxígeno i nteracciona con la l uz a 940 nm (la absorbe) mientras
que no lo hace a 600 nm. Comparando las señales a ambas longi tudes de onda se puede obtener
el nivel de oxígeno.
En el extremo opuesto y aún en el entorno de la Medicina hay medidas en

donde la cantidad de luz que llega es tan pequeña que es necesario el uso de
PMT, como en muchas aplicaciones muy avanzadas, como sistemas de diag-
nóstico PET (Positron Emission Tomography, tomograffa por emisión de posi-
trones), cámaras gamma, equipos SPECT (Single Photon Emission Computed
Tomography, tomograffa mediante emisión de fotones individuales), o equipos
"clá~icos" de diagnóstico como los sistemas de rayos X, en donde los tiempos
de exposición se miden mediante un PMT o los nuevos métodos de radiogra-
fía, en los que la imagen ya no se vuelca sobre una pelicula fotográfica sino
que se usa un sistema de lectura de luz con un PMT para obtener la imagen
y guardarla en un archivo que el médico puede ver de forma inmediata des-
de cualquier lugar, lo que posibilita el telediagnóstico o la obtención de varias
opiniones por diversos especialistas.
En todos esos casos, el paciente es sometido a algún tipo de radiación con-
trolada y se lee la luz originada (la que atraviesa o la que emite) desde diver-
sos puntos para configurar una imagen que permita efectuar el diagnóstico.
La necesidad de reducir al mínimo la exposición del paciente a la radiación
para evitar problemas adicionales y el interés por alcanzar la máxima reso-
lución obliga a detectar niveles minimos de señal lo que obliga a usar tubos
fotomultiplicadores de muy alta sensibilidad. Curiosamente, las solicitacio-
nes má~ extremas son las de equipos de Medicina Veterinaria debido al pe-
queño tamaño de muchas mascotas, que obliga a tener resoluciones muy
pequeñas.
437
Otras aplicaciones aún más extremas en las que es necesario medir emisión de
luz están en el ámbito de la Física de Altas Energías, donde la detección de las
partículas generadas pasa en muchos casos por el empleo de PMT de muy alta
sensibilidad. Algtmos de los casos más espectaculares (y más costosos) son los
sistemas de detección de neutrinos mediante un sensor formado por miles de
fotomultiplicadores que tratan de medir la emisión de Cherenkov; por ejem-
plo, el detector KAMfOKANDE está constituido por una esfera enterrada a 1
km de profundidad, formada por 11000 PMT que contiene 50000 toneladas de
agua ultrapura.
8.4.7. SENSORES DE IMAGEN
El concepto de imagen tiene una connotación subjetiva para el ser humano,

derivada de que es el resultado de un post-procesamiento del cerebro a par-
tir de una información general de los diversos sensores biológicos, pero con
preponderancia de la proporcionada por los ojos. Pero, en el mundo de la Ins-
trumentación la definición es objetiva y asf, una imagen es la representación
visual de un objeto o entorno, que se pone de manifiesto mediante una va-
riable constituida por un conjunto ordenado de valores de luz. Un sensor de
imagen (image sensor) es un dispositivo capaz de obtener el conjunto de los va-
lores de luz del objeto o del entorno y proporcionar dicha información como
niveles de una variable eléctrica.
Aunque una imagen es una variable analógica, con un conjunto "infinito en
S teven J. Sasson, (1950) es wt número" de valores e "infinito en niveles" dentro de cada valor, en el ámbi-
ingeniero estadounidense que
to instrumental sólo se consideran imágenes digitales, en las que el número
trabajaba para Eastman Kodak,
creó la primera cámara digital
total de valores es finito y también lo es el número de niveles dentro de cada
en 1975. En 2010 recibir!a la Me- valor.
dalla Nacional de la Tecnología En una imagen digital, el conjunto que la forma está constituido por píxeles
e Innovación, máximo galardón que es la mínima unidad de propiedades luminicas homogéneas (Figura 8.95).
en EE.UU. para ingenieros e in-
Los píxeles se distribuyen de forma ordenada en matrices de una, dos o tres
ventores.
dimensiones para constituir imágenes lineales o unidimensionales, imágenes
Sus prestaciones no competirían planas o bidimensionales (imágenes 20) e imágenes estereoscópicas o tridi-
con cualquier cámara actual,
mensionales (imágenes 3D).
pero fue la primera demostra-
ción de que la tecnología digital
en la fotografía era posible. Lue-
go, sucesivos avances llevaron
al estado actual del sector, tanto Pfx el . ._,
en prestaciones como en precio. Pfxel ¡ •
Sin embargo, aquella primera 1 f'
~ .........1¡· 1
.-
cámara, con sus más de 4 kg de

peso, 0,01 MPx de resolución
en blanco y negro, y grabación
de la imagen sobre wta cinta de
cassette modificada por la em-
presa Commodore, tuvo el ho-
nor de ser la primera.
Ni siquiera importaba que tar- Figura 8.95. Imagen lineal (a la izqui erda) y bidimensional (a l a derecha) constitu idas por un de·
dase más de 20 segundos en al- terminado número de pfxeles.
macenar cada imagen...
438
TEMA 8 . SENSORES GENERADORES DE SEÑAL •
En el caso de las imágenes 2D, la forma de disponer los píxeles también es im-
portante ya que configura la relación de aspecto (aspect ratio), es decir, el valor
de la~ dos dimensiones que constituyen la imagen. Por ejemplo, una imagen
de 16 MPx con una relación 1:1 significa que está formada por una matriz cua-
drada de 4000 pfxeles en cada eje, mientras que, si la relación es 4:3 la matriz
tendría 4619x3464 píxeles, y, si fuese 16:9, 5333x3000 Px. Los cambios entre
formatos de imagen con diferente relación de aspecto se pueden hacer, aun-
que con pérdida de información o con deformación de la imagen, algo que se
debe tener muy en cuenta a la hora de utilizar la imagen, ya sea para su análi-
sis o para su representación.
Si clasificamos las imágenes según cómo sean los niveles de cada píxel te-
nemos imágenes binarias en las que sólo hay dos niveles posibles que co-
rresponden, respectivamente a claridad y oscuridad, imágenes monocromas
(Figura 8.96) en las que el nivel de claridad de la imagen se define en cada
píxel mediante una escala de valores con una determinada resolución, e imá-
genes en color en las que cada píxel no sólo tiene asignado una escala de nive-
les de claridad, sino que lleva asociado un determinado color; el valor final de
un punto de la imagen se obtiene mediante la combinación de varios píxeles,
uno para cada color (Figura 8.97).
Los primeros sensores electrónicos de imagen datan de principios del siglo
xx, aunque el primer dispositivo similar a los que hoy conocemos fue inven-
t ado por Steven J. Sasson y presentado por Kodak en 1975. Aquellos 10000
p fxeles que tenía la primera cámara digital pueden parecernos hoy muy
poco...
Lo que sf se ha mantenido desde la~ primeras cámaras fotográficas (allá por el
siglo XJX) es la necesidad de un sistema óptico que proyecte sobre el sensor la
imagen que se está tomando. Puede ser un sistema con una placa fotográfica
de la época victoriana o el mejor sensor electrónico recién salido del más afa-
mado fabricante fotográfico¡ siempre se necesita un sistema óptico para colo-
car la imagen sobre el sensor, aspecto que resulta crucial a la hora de obtener
imágenes de calidad y que constituye el principal componente del coste final-
del conjunto (Figura 8.98).
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.............
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(a) (b}
Figura 8 .96. Imagen binaria (a}, formada por píxeles con un valor para la claridad y otro para la
oscuridad, e imagen monocroma (b), formada por píxeles que incorporan una escala de valores
desde el punto más cl aro al más oscuro.
439
• INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓN ICA
Figura 8.97. Constitución de un punto de luz en color como combi nación de cuatro píxel es: uno
para el rojo (R), uno para el azul (B) y dos para el verde (G}, cada uno de ellos con la correspon·
diente escala de claridad hasta oscuridad.
...............
Sistema óptico
_
•••
''
............... -· Sensor de imagen
Figura 8.98. Sistema óptico en un sistema de captura de imágenes.
A día de hoy, se di~pone fundamentalmente de dos alternativas para realizar

sensores de imagen: por un lado, los dispositivos de tipo CCD (Charge Couple
Devices, dispositivos de acoplamiento de carga) y los de tipo APS (Active Pixel
System, sistema de píxel activo). Los CCDs fueron desarrollados por Willard
'Boyle y George Elwood Smith en 1969 y su funcionamiento como dispositivos
de captura de imagen tienen dos fases;
• Captura de la señal de luz, mediante las cargas generadas por la llegada
de fotones, siguiendo los mismos mecani~mos estudiados para Jos fotodio-
dos (Figura 8.99). En este ca~o, Jos huecos producidos son eliminados de la
zona debido a que son atraídos por cualquiera de las zonas adyacentes de
potencial más bajo, mientras que los electrones son repelidos por las zonas
adyacentes y se quedan retenidos en el pozo de potencial.
OV
~+V ov ov +V ov
sto, SI O~
'k·
~~-~
.·· o -···~
ooo ··· ~~
·.,
'·._ o o . ...'
p p ¡-····--··
Carga retenida
Figura 8.99. Generación de carga en un pfxel de un CCD.
• Tran~ferencia de los valores leídosmediante el desplazamiento de las cargas a

lo largo de un registro analógico que constituye el propio CCD (Figura 8.100).
La idea es muy sencilla y consiste en poner y quitar barreras de potencial
entre los di~tintos puntos del registro para permitir que la carga vaya pa-
440
ov +V ov ov ov
Si O
~
00 0 0
o0 o
p
ov +V +V ov ov
SiO
~
00 0 0 O O O
ov ov +V OV ov
SiO·~
0 ooo
o oo
p
Figura 8. 100. Desplazamiento de la carga en un CCD a partir de la situación inicial (arriba):

cuando se si túa el electrodo adyacente a la misma tensión, los electrones difunden hacia él
(medio) y cuando el electrodo anterior se pone a tensión baja, expulsa los electrones que quedan
(abajo).
sando desde cada lugar al punto adyacente. Cuando la tensión es nula en

los electrodos adyacentes, los electrones son repelidos y quedan confinados
bajo el electrodo con tensión positiva, pero, cuando aparece una tenBión
positiva en alguno de los puntos adyacentes, los electrones pueden fluir por
difusión. Finalmente, si se sitúa una tensión nula en el punto de partida,
terminará por expul~ar los electrones hacia el punto adyacente.
El problema de este paso de cargas es que para leer un pfxel (su carga) hay
que hacerlo circular hasta el exterior a fuerza de ir cambiando sucesiva-
mente los valores de tensión de cada electrodo, como si fuera un registro de
desplazamiento de carga.
Este es un problema importante en un sistema de medida de imagen 2D,
puesto que se deben leer todos los pfxeles que constituyen dicha imagen
y, para ello, deben salir hacia el exterior de la matriz de elementos sen-
sores.
En realidad, los sensores de imagen CCD no utilizan los mismos elementos so-
bre los que se generan la~ cargas (los elementos activos) para desplazar los va-
lores ha~ta poder leerlos sino que se uBan registros de transporte verticales y
horizontales y en algunos casos, varias salida~ para agilizar el proceso (Figu-
ra 8.101). El primer paso es realizar una transferencia de la carga del pfxel por
el mecanismo anterior)~ Juego, desplazar la carga mediante los registros de
transporte.
Este modo de funcionamiento tiene sus limitaciones debidas a la velocidad
de transferencia de datos y al espacio ocupado por los registros de trans-
porte, que impiden que los pfxeles estén próximos entre sí. Esto genera zo-
nas muertas espaciales a la hora de leer la sefial de luz que incide sobre el
sensor.
441
Registro de transporte horizontal

~ ~ ~
~
SALIDA 1
,X ) r-r- :t:
1-
1-
1-
1- (a)
1-
~
- iil f- f- 1- - H*l - f-
/ 1-
~ ~
Pfxeres
x~ )
Registro de/ ..__ SALIDA2
transporte vertical '--' '--'
Registros de transporte horizontal

,.., ,.., .r-
G- SALIDA2
~
r-:1.
SALIDA 1
~
- - Ar r r - - r
- - f- f- 1- - - f-
1-
.. 1-
/
= = r= r. r= :=:=1- = = = = r= (b)
Plxeles +
1-
/_,, -
1-
~ - -
Registro de y
L... L... L...
r'-1
transporte vertical
SALIDA 4
r
.__,.
r'"' ~ --' "'"' -El
.r ',
~
SALIDA3
Registros de transporte horizontal
Figura 8.101. (a) Uso de registros de transporte verticales y horizon tal es para la lectura de los
datos por dos sal idas; (b) sist ema con varias salidas.
El tiempo que tarda el sistema en extraer completamente la imagen es eviden-

temente un cuello de botella; consideremos, por ejemplo, un sensor de imagen
20 de sólo 16 MPx; si. el reloj que genera los pulsos para gobernar el pa9o de
un lugar a otro funcionase a 100 MHz, se tardaría 0,16 segundos en extraer to-
dos los datos por una única salida; este tiempo se reduciría en el caso de usar
varias salidas en proporción al número de ellas.
La salida de un CCD es una carga que se transforma en una tensión (muCho más
sencilla de manejar), mediante un ci.rcui.to especifico como el que se presenta en la
Figura 8.102, que consta de un par de transistores MOS y una resistencia de carga.
R ce
RESEy -
T1
r-
+V OV -+
T2
~ S alida
.- ••
..,,.... .,..••
•'
•
••
••
••
•
1
••
•• -~
•• 1 ••
•
Nodo de detecc1ón • • •• -
Figura 8.102. Circui to de salída de un CCD. La carga ha sido transpor tada hasta el nodo de detec·
ci6n, dc::.dc el cut~ l o;c tran:rlicrc como una tcn::.ión ~obre la rc::.i::.kncio mcdi<J.n tc el t ran~i~tor T2;
el t ransistor T1 p ermite "borrar la carga• del nodo de detección aplicando la t ensión v. cuando se
activa el terminal de RESET, con lo que queda listo p ara leer el próxímo p fxel.
442
Los sensores de imagen de tipo APS incorporan una cierta amplificación en

cada píxello que produce una señal inicial mucho mayor y contribuye a dis-
minuir el ruido implícito del sistema. El sistema fue desarrollado en el seno de
la NASA por Eric Fossum en 1993, aunque ya se habfa acuñado antes el térmi-
no y el interés que presentarla un sistema así por la conocida empresa de sis-
temas de imagen, Olympus. Los sensores APS también suelen denominarse
sensores de imagen CMOS, nombre por el que se conocen en una buena par-
te del ámbito fotográfico.
El circuito tfpico de un píxel APS es el que se muestra en la Figura 8.103 y con-
siste en un dispositivo sensor de luz (un fotodiodo) y cuatro transistores (APS
4T), aunque hay versiones más sencillas con tres transistores (APS 3T) sólo y
algunas más complejas, con cinco y seis transistores que incluyen otras funcio-
nes adicionales.
El funcionamiento de un píxel APS es muy sencillo: el fotodiodo representa al
elemento sensor, que responde a la luz generando pares electrón-hueco que
terminan produciendo una carga proporcional a la cantidad de fotones recibi-
dos. Cuando se activa la línea "TRANS" los transi~toresT2 de todos los píxeles
de la columna se activan, ofreciendo la carga a los transistores T3, que actúan
como seguidores para generar una tensión en su fuente, que corresponde a
la lectura de la carga del fotodiodo, atmque no precisan descargarlo para ello
(como ocurre en el caso de los CCD). Cuando se desee leer el píxel, se activa-
y PÍXEL N
r-
T1
1r- TJ
1
T2 T4
4 1
~ ~~
::::_,.
y PÍXEL N+1
r-
I r-
1
~ 1
':!j.. ~ ~
A ..,
lü !!! <§
:::;
"'"'w ~
1-
<
"'
Figura 8.103. Estructura de un sensor de Imagen APS 4 T; se muestra el circuito correspondiente
a dos plxeles consecutivos.
443
rá la línea de dirección Aw y el transistor T4 pondrá la tensión de T3 en la lí-

nea de salida. Finalmente, Jos transistores Tl están previstos para desactivar la
carga del fotodiodo en cuanto se active la línea RESET.
El problema de los pfxeles APS es que necesitan dispositivos electrónicos en
cada píxel lo que hace que una parte del mismo no sea sensible a la luz y a la
postre, implica que la separación (pitch.) entre las áreas efectivas de cada píxel
sea mayor, produciendo zonas muertas. En ese sentido, la solución 3T es más
ventajosa puesto que ocupa menos espacio; de la misma forma, el coste final
del dispositivo será menor. En el otro extremo, las soluciones ST y 6T pueden
aportar mayor funcionalidad, pero el hecho de necesitar más dispositivos au-
menta la separación entre las zona~ activas y hace más costoso el conjunto del
sensor.
En el caso de los sensores APS no se emplean registros de transporte como en
el ca~o de los eco. La salida de los niveles de cada píxel se realiza en tensión
(no necesita una conversión adicional puesto que se hace en cada píxel) sobre
una misma línea, a la que se accede secuencialmente mediante la activación
de las línea~ de dirección de cada píxel (f\,); para generar esa señal secuencial
se usa un regi~tro (digital) de desplazamiento que va haciendo circular un "1"
por cada una de las líneas de dirección. En la Figura 8.104 se compara el modo
de trabajo de un sensor APS (caso a) con un CCO (caso b).
SALIDA +----1 SALIDA
Plxeles
Pixel es Registro de
Registro de (digital)
transporte vertical
de selección
(a) (b)
Figura 8.104. Comparación del modo de extracción de los pfxeles en un CCD (a), mediante regist ro
de transporte de cargas (analógico) y en un APS (b), mediante salida di recta de t ensión al selec·
cionar el correspondiente píxel.
Si comparamos las prestaciones de los sensores de imagen CCD y APS, se

pueden encontrar una serie de ventajas en unos y en otros, aunque los segun-
dos tienden a ser mejores en líneas generales. La principal ventaja estriba en
la mayor sensibilidad de los APS, que permite reducir el nivel de ruido final y
trabajar con mayores velocidades de captura (hay que exponer el área sensible
menos tiempo para una mi~ma cantidad de luz incidente). También es impor-
tante la reducción de coste del sistema APS para las misma~ condiciones de ta-
maño. Como principal inconveniente cabe citar la mayor separación entre las
zonas activa~ de píxeles consecutivos.
Sea cual sea el tipo de sensor, cuando la imagen se tiene que tomar en color
es imprescindible conocer sus coordenadas en cada punto de la imagen en al-
guno de los espacios de color disponibles, aunque en la mayoría de los casos
se recurre a un espacio de color RGB, definido por tres niveles en las zona~
444
roja (R), verde (G) y azul (B) del espectro visible. Una solución típica para este
fin es el empleo de filtros específicos para color en cada pfxel, de modo que
lo convierten en un píxel específico para ese color. A~f se tienen pfxeles azu-
les, rojos o verdes distribuidos por toda la imagen. La estructura más habitual
de este tipo de filtros es la del denominado "filtro Bayer" diseñado por Bry-
ce Bayer de la empresa Esatman Kodak en 1974 y que se muestra en la Figura
8.105a¡ otra solución es el denominado "x-trans" desarrollado por la empresa
Fujifilm y que aparece en la Figura 8.105b y cuya principal ventaja sobre el an-
terior es conseguir que todas las filas y columnas dispongan de pfxeles para el
rojo y para el azul.
También exi~ten otras configuraciones, modificaciones sobre estas ideas e, in-
cluso, algunos filtros incluyen pfxeles específicos sensibles a la luz blanca so-
bre los cuales no hay ningún filtro.
(a) (b)
Figura 8.105. Filtros para sensores de imagen en color: (a} filtro Bayer de Kodak; (b} filtro de tipo
x-ttans de Fujifllm.
Pero, en algunas ocasiones, la imagen que se pretende tomar no corresponde

al espectro visible sino que se busca trabajar fuera de él por diversos motivos¡
es relativamente frecuente la lectura dentro de la zona infrarroja del espectro
en aplicaciones de seguridad o para comprobar los puntos que más se calien-
tan en un determinado sistema en el caso de mantenimiento industrial. Para
estas aplicaciones se pueden usar cámaras para trabajar en la zona del infra-
rrojo con materiales sen.~ibles diferentes al silicio.
Las aplicaciones de los sensores de imagen son muy diversas, aunque si
atendemos sólo al número de ellos, la mayoría forma parte de las cámaras fo-
tográficas y de vfdeo, ya sea como tales o formando parte de todo tipo de ar-
tilugios, como teléfonos móviles, consolas de videojuegos, etc. De hecho, la
amplitud de este mercado ha tirado con tal fuerza de Jos equipos de desa-
rrollo de los diversos fabricantes que estos han conseguido ofrecer de forma
permanente productos de una calidad increíble a un precio aún más increí-
ble hace sólo unos pocos afíos. Eso sí, a costa de que el usuario termine pen-
sando que su magnifica cámara de fotos comprada hace sólo tres meses no
es más que un pisapapeles comparada con las prestaciones de la que acaba
de salir.
En otros ámbitos de aplicación de los sensores de imagen (el industrial,
el científico, el de seguridad) las cosas no van tan rápido debido a que los
445
sensores son sólo una parte del sistema y no precisamente el determinante

en el precio. Aspectos como la resistencia en entornos agresivos, las carca-
sas anti-vandálicas, equipos ópticos complejos y otras necesidades ajenas
a la Electrónica pueden forzar costes muy elevados que no permiten sus-
tituir equipos con la misma facilidad con la se compra un nuevo terminal
móvil.
El uso en todos estos ámbitos suele estar ligado a algún tipo de procesamiento
de imagen posterior, del que se extrae la información que se busca y cuyo aná-
lisis queda fuera de los objetivos de este texto.
8.5. SENSORES DE EFECTO HALL
8.5.1. EL EFECTO HALL
El denominado "efecto Hall" consiste en la aparición de una tensión trans-

versal en láminas conductoras debida a la separación de cargas cuando dicho
conductor está sometido a un campo magnético. En la Figura 8.106 se mues-
tra tal efecto cuya causa es la fuerza debida al campo magnético que aparece
sobre la carga que se desplaza, y que tiende a llevar las cargas positivas ha-
cia un lado y las negativas hacia el otro, lo que termina produciendo una ten-
sión transversal.
Fuerza producida:
~ =e·B"v
Bd win Herbe rt Hall (1855-1938) B

es un científico norteamericano '¡¡,,_:-.::~~),Y- Acumulación de carga
,_
que descubrió el efecto del cam-
po magnético sobre las láminas
conductoras, efecto al que la co-
munidad científica terminó otor- 1
gando su nombre.
Hall descubrió este efec to a
los veinticuatro años de edad,
mientras trab ajaba en el desa- Figura 8 .106. Efecto Hall en una lámina conductora por la que circula una corriente/: lascar·
rrollo de su tesis doctoral y fue gas c irculant es (electrones) sufren una fuerza proporcional al producto vectorial del campo
publicado un año más tarde en magnético y de la velocidad a la que circula la carga que produce una desviación de la t ra·
la revista American Journal of yecloría que t ermina acumulando carga en un lado; esto causa la aparición de una t ensión V
transversal.
Science.
Este efecto fue descubierto en 1879 por E. Hall mientras trabajaba en el de-
sarrollo de su tesis doctoral. El efecto Hall se manifiesta en cualquier lámina
conductora pero es cuantitativamente débil puesto que la gran movilidad y la
446
abundancia de electrones en la banda de conducción hace que los que se que-

den en esa posición sean un porcentaje pequeño del total. La tensión que apa-
rece, VH, se puede cuantificar como:
Donde 10 es la corriente que circula longitudinalmente por la lámina, B es el

campo magnético perpendicular a la superficie de la lámina, d es el espesor
de la lámina y RH el denominado coeficiente Hall, que depende del material
del que esté constituida y que se puede obtener a partir de la movilidad de los
electrones.
El efecto Hall también aparece en los semiconductores, dado que, cuando es-
tán en conducción, las cargas se mueven y; por tanto, quedarán sometidas a
fuerzas similares. En este caso, las cargas libres son tanto positivas (huecos)
como negativas (electrones), por Jo que el cálculo del coeficiente Hall es más
complejo y depende tanto de Jos correspondientes niveles de dopado como de
las respectivas movilidades de los portadores.
Sea cual sea el material empleado, lo cierto es que una lámina conductora
manifiesta el efecto Hall y produce una tensión que depende del producto
de dos variables externas, la corriente que la recorre longitudinalmente y el
campo magnético aplicado, luego puede usarse en diversas aplicaciones de
medida de alguna (o las dos) de estas magnitudes o de otra variable de la
que dependan. Por tanto, una lámina de este tipo se suele denominar sen-
sor de efecto Hall y su símbolo de circuito es el que se muestra en la Figu-
ra 8.107.
lo
V
Figura 8 .107. Símbolo de circuito de un sensor de efecto Hall.
8.5.2. DISPOSITIVOS DE EFECTO HALL ANALÓGICOS

Y DIGITALES
Como el efecto Hall es cuantitativamente pequeño, lo frecuente es recurrir a

la amplificación de la ten~ión producida, para lo que es necesario emplear un
amplificador diferencial puesto que tal es la naturaleza de esa tensión. Este
dispositivo se suele integrar junto con el propio sensor de efecto Hall y con al-
gún bloque más para estabilizar la alimentación.
Si el dispositivo tiene como mic;ión la medida del campo magnético, la corrien-
te que recorre longitudinalmente el sensor se obtiene también en el propio
di~positivo a partir de la ten~ión de alimentación estabilizada, con lo que la se-
447
fíal de salida será proporcional al campo magnético perpendicular a la lámina

Hall. El conjunto final tiene un circuito eléctrico similar al que se presenta en
la Figura 8.108a y un aspecto muy parecido al de los pequefíos transistores de
sefíal, aunque presenta un cuerpo mucho más plano (1,5 o 2 mm de espesor)
para facilitar la identificación de la dirección en la que son sensibles al campo
magnético (Figura 8.108b).
Un dispositivo de este tipo se conoce como sonda de efecto Hall analógica y
se puede usar para la medida de campos magnéticos en el entrehierro de má-
quinas eléctricas rotativas o para la medida de otras variables que afecten al
campo magnético.
La mayoría de las sondas de efecto H all suelen tener una alimentación simple,
por lo que la salida suele estar polarizada en torno al punto medio de la ali-
mentación con una tensión de reposo (qu.iescence voltage) VQI por lo que la ten-
sión de salida será:
Donde S es la sensibilidad del dispositivo (pocos milivoltios por Gauss) y B,

el campo magnético perpendicular a la sonda; la tensión suele estar limitada
por ambos extremos por la alimentación, luego el valor de la tensión de salida
irá desde Oa +Vcc. El efecto Hall tiene limitaciones en frecuencia puesto que
se tarda tiempo en mover las carga~, limitaciones a las que hay que afíadir las
derivadas del comportamiento frecuencial del circuito de amplificación. En
conjunto, el dispositivo presentará el correspondiente ancho de banda, que no
suele negar a 1 MHz en casi ningún ca~o y que será poco mayor de 10 kHz en
los sensores de propósito general.
+Vce
REG
R
~
-- xr- V
r A
Vo
;;/
lo GN D
(a) (b)
Figura 8.108. Sonda de efecto Hall analógica: (a) circuito interno que tiene prevista la al imentación
ent re una tensión positiva y masa: Incl uye un regulador de tensión a partir del cual se produce la
corriente 1, que recorre el sensor y se alimenta el ampl ificador; (b) aspecto de una sonda de efecto
Hall con sus tres termi nales.
Las sondas de efecto Hall analógicas no son dispositivos fáciles de manejar

puesto que presentan problemas diversos, algunos ligados a las derivas térmi-
cas o al offset de la tensión de salida, lo que puede obligar a realizar ajustes o
a emplear circuitos <.le compensación para garantizar una meili<.la sin pertur-
baciones ni errores. En algunas de erra~, estos problemas están muy reducidos
448
mediante circuitos similares a los que emplean los amplificadores de tipo cho-
pper, con lo que se puede llegar a conseguir un buen comportamiento en con-
tinua y no necesitan ajustes externos.
EJEMPLO 8.10 (A1388.pdf)

Se pretende medir un campo magnético de alterna cuya inducción
máxima es de 10 mT y cuya frecuencia puede variar de 10 a 100Hz
mediante un sensor de efecto Hall A1388 de la firma Allegro para
conseguir una tensión comprendida entre - 2,5 y +2.5 V. Diseñe un
circuito apropiado para ese fin y determine el máximo error que se
produce.
Soluci6n:
Si alimentamos. el sensor a S V, la tensión de salida en reposo es de 2,5
V (dentro de una horquilla que va desde 2,488 hasta 2,512 V) y su sen-
sibilidad es de 2,5 m V /G (puede variar de 2,4 a 2,6 mV /G). En esas
circunstancias, si se tiene en cuenta que un valor de 10 mT corresponde
a 10·1o-s·10000 G/T = 100 G, la tensión de salida se moverá un máximo
de 250 mV respecto al punto de reposo, aunque, si tenemos en cuenta la
variación de la sensibilidad, taJ vaóación estaría comprendida entre 240
y 260mV (Figura 8.109).
Vo
2,75
máxima
S mfnima
2,25 B
-0,01 mT OT +0,01 mT
Figura 8.109
La variación de la sensibilidad supone un error máximo de 1O m V, lo

que implica un error máximo del2 %; a ese error hay que añadir el error
de linealidad, que el fabricante sitúa en torno all,S %, para conseguir
un error total del3,5 %.
Para conseguir la tensión de salida que se pide, es necesario emplear
una ganancia de 10 y eliminar la continua que produce el punto de re-
poso del sensor mediante una red C-R cuyo polo tiene que estar lo sufi-
cientemente lejos de la minima frecuencia de trabajo (10 Hz) como para
no introducir más error en la ganancia del sistema. Si lo situamos una
década por debajo (1 Hz), podemos concluir el sistema con un valor
de C = 10 ¡.¡.F y R = 15K. Obviamente, el amplificador deberá tener una
tensión de alimentación doble que, en este caso, se ha optado por usar
+5 y - 5 V (Figura 8.110).
449
+SV
9K
+Vce 1l REG• 1l 1K
R
.L
~
xLJf
8 Vq 10u
+1
A
1
"-r r :;/ 15K
·SV
lo GND
.1.
-0,01 a +0,01 mT -0,25a+0,25V -2,5 a +2,5V
Figura 8 .110
El error total se obtendría al añadir al del sensor ya calculado el que in-

troduzca el propio operacional; sin embargo, dadas las especificaciones
de baja ganancia, se puede afirmar que la mayoría de los amplificadores
cumplen los requisitos suficientes para que su error sea despreciable fren-
te al3,5 %que introduce el propio sensor. Obsérvese que el cambio en la
tensión de reposo no introduce error en la salida ya que el condensador
se encarga de retener ese valor, cuyo desplazamiento es de continua.
Más frecuente que la sonda de efecto Hall analógica es la sonda de efecto Hall
digital, que sólo es capaz de detectar la presencia o ausencia del campo mag-
nético, constituyendo una especie de interruptor magnético de múltiples usos.
Aunque el aspecto externo suele ser similar al de las sondas analógicas, si
echamos un vistazo a su circuito interno, comprobaremos que dispone de un
comparador Schmitt-trigger de salida que les permite proporcionar un nivel
lógico alto cuando hay un campo magnético suficiente en las proximidades o
un nivel lógico bajo en caso contrario (Figura 8.111).
+V:ce
REG
R
~
~ Vo
r- Xr-~
_ff
A
- :;/
lo
r- V GND
Figura 8 .111. Circuito interno de una sonda de efecto Hall digi taL
Existen dos tipos de dispositivos digitales: de un lado, los que activan el nivel
alto de salida con un campo magnético elevado pero de un determinado sig-
no, que se denominan unipolares, y, de otro, aquellos componentes que acti-
van el nivel alto de salida ante la presencia de campo suficiente, sea del signo
que sea, y que se denominan omnipolares. El circuito de la Figura 8.111 co-
rresponde a un dispositivo unipolar, mientras que, cuando se trate de un dis-
450
positivo omnipolar, se precisará utilizar un comparador de ventana en lugar

del comparador normal.
Las sondas de efecto Hall digitales suelen permitir alimentación a tensiones
que incluyen los clásicos valores de 3,3 y 5 V, típicos de un buen número de
sistemas digitales, y su característica más destacada es el valor del punto de
conmutación, que produce el vuelco de la tensión de salida y que produce una
curva característica como las que se muestran en la Figura 8.112.
Vo Vo
8 8
8o -Bo 8o
(a} (b}
Figura 8.112. Curvas características de una sonda de efecto Hall unipolar (a) y omnipolar (b). La
conmutación se produce en torno a un valor de campo 80 .
El uso de sensores Hall digitales es muy frecuente en el mundo del control

de motores sin escobillas (brusllless motors) y en si~tema~ que proporcionan la
velocidad de giro de un eje, con la ventaja de que al tratarse de sistemas que
funcionan mediante campo magnético son insensibles a los ambientes con su-
ciedad, grasa u otras sustancias, algo muy frecuente en la mayoría de los ac-
cionamientos industriales.
8.5.3. MEDIDA DE VARIABLES ELÉCTRICAS

Una de las principales aplicaciones de los sensores de efecto Hall es la de la
medida de variables eléctricas mediante la transformación de la variable a me-
dir en un campo magnético.
La medida de la corriente eléctrica en sistemas eléctricos o electrónicos de po-
tencia es un proceso muy frecuente en cualquier accionamiento de motores,
en convertidores electrónicos de potencia y en redes de distribución de ener-
gía a todos los niveles, desde el transporte a la baja tensión. Pues bien, el uso
• ,--·-------------..-------,
Corriente a medir •1• B ~Ntícleio magnético
1
1 Entrehierro
Sonda Hall
•
1
1
GND .'
• •
'•------------------------~
Figura 8. 113. Sensor de corriente basado en el uso de una sonda de efecto Hall analógica.
4 51
de sensores de efecto Hall se materializa en bloques como el que aparece en la

Figura 8.113.
En este caso, la corriente a medir circula por el arrollamiento de N vueltas so-

bre un núcleo magnético en cuyo entrehierro (gap) se ha situado la sonda de
efecto Hall analógica, que produce una tensión proporcional al campo y por
tanto, proporcional a la corriente a medir:
Vo=k · l
Donde la constante k depende de la topología magnética (tipo de núcleo, nú-

mero de v ueltas en el arrollamiento) y de la sensibilidad del sensor Hall. Es
decir, el bloque anterior constituye un sensor Hall de corriente. La sensibili-
dad del sistema es fácilmente ajustable a los requisitos que se tengan gracias
a la opción de cambiar el número de vueltas del arrollamiento; en Jos casos
prácticos, con corrientes muy elevadas, el arrollamiento se reduce a pasar el
cable por el núcleo, mientras que en otros ca5os se precisará pasar varias vuel-
tas para conseguir suficiente sensibilidad. Pero la sensibilidad no puede in-
crementarse asf de forma indefinida ya que la presencia de un arrollamiento
dema5iado grande supondrá la presencia de una inductancia parásita en la lí-
nea de potencia que puede perturbar el funcionamiento de tal sistema.
Es evidente que se puede medir corriente eléctrica mediante otros sistemas,
tales como transformadores de intensidad o mediante resistencias de shun.t,
pero los sensores Hall de corriente tienen la ventaja de poder trabajar desde
continua a frecuencias muy alta5 (como las resistencia5 shun.t) y proporcionar
aislamiento galvánico (como los transformadores de intensidad), con Jo que
permiten una medida muy fiable de la corriente continua, incluyendo niveles
de continua y armónicos, incluso en condiciones tan duras como las que pue-
de suponer la salida de una central de generación, en la que se pueden encon-
Medir corrientes elevadas ... trar con facilidad tensiones superiores a los 400 kV y corrientes de varios miles
La medida de corriente en siste-
de amperios.
mas eléctricos y electrónicos de Puede que uno de los ca5os más extremos con el que nos podemos encontrar
potencia es un problema para el sea la medida de las corrientes que consumen las cubas electrolíticas que se
que exL5ten diversa5 soluciones, emplean en la producción del aluminio, donde la5 corrientes son, simplemen-
la mayoría de ella5 basadas en el te, inmensas.
empleo de dispositivos de efec-
to Hall. El efecto Hall también se puede utilizar en la medida de tensiones con ais-
Con estos dispositivos se pue-
lamiento galvánico¡ para ello, se suelen emplear dispositivos como el que se
den leer corrientes desde los muestra en la Figura 8.114 en el que la tensión a medir produce una corriente
miliamperios hasta 40 kA, con que se trata como en el ca5o anterior.
lo que el abanico clisponible es La tensión de salida, Vo, de estos sensores resultará proporcional a la tensión
muy amplio como para no en- V que se quiere medir según:
contrar soluciones para un caso
concreto.
Vo=k' · V
Sin embargo, algw"taS aplicacio-
nes necesitan subir por encima Donde k' es una constante que depende de los mismos factores que en el caso
de estos valores, para lo que hay
de la medida de corriente y; además, de la resi5tencia R.
disponibles otras tecnologías ba-
sadas, po.r ejemplo en el uso de La ventaja de este sistema de medida de tensión frente a la opción de usar un
dispositivos de medida de fibra divisor resistivo o un transformador de tensión para medida radica, igual que
óptica
452
R '* ....... ~-------·- ...........................

.- 8 ~
..-Niúcleo magnético
••• ••
••
1 •• Entrehierro
Tensión a Sonda Hall
medir
V
••
''~-------------------------·'
Figura 8. 114. Sensor de tensión basado en el empleo de una sonda de efecto Hall analógica.
en el caso anterior, en la capacidad de trabajar desde continua hasta frecuen-

cia~ relativamente altas y, sobre todo, al aic;larniento galvánico intrínseco que
proporciona.
Pinzas amperimétricas
La posibilidad de disponer de medidas instantánea<; de corriente y tensión con
capacidad de funcionar desde continua hasta frecuencia~ razonablemente ele- Uno de los sistemas habituales
de medida de los inBtaladores v
vada<;, gracias a los sensores de efecto Hall permite ampliar el abanico de me-
operarios de mantenimiento de
-
dida<; hasta la potencia instantánea y, trae; un pequefío procesado, a la potencia instalaciones eléctrica~ es la pin-
activa, reactiva, el coseno de fi o el factor de potencia genérico (Figura 8.115), za amperimétrica, que permite
Jo que abre la puerta al completo control de la potencia eléctrica. medir la corriente que circula
por un cable "'en calien te", es
Sistema de potencia 1
decir, sin precisar efectuar una
y•vcc desconexión para situar un am-
Sensor Hall pertmetro en serie.
dé tensión
V
Las primeras pinzas aroperimé-
tricas se basaban en el empleo
.J.. ?+Vcc
de un transformador de co-
k 'V Potencia instantánea rriente cuyo núcleo se cerraba
Sensor Hall de c:orr•enta ..L

., Sistema de cálculo Potenc;a acti11a
Potencia aparente
Factor de potencia
alrededor del cable; pero estos
sistemas sólo permiten medir
corrientes alternas y están muy
Figura 8.115. Sistema de medida de potencia con aislamiento galvánico basado en el empl eo de limitados en frecuencia por las
sensores Hall para tensión y para corriente. características del propio nú -
cleo. El uso de sondas de efecto
Hall ha permitido crear equipos
Aunque realizar sistemas como los anteriores resulta relativamente sencillo y
de medida que también se cie-
el funcionamiento está perfectamente garantizado, varios fabricantes suminic;-
rran sobre el cable a medir pero
tran sistemas comerciales listos para su uso que permiten medir tensiones y que tienen la capacidad de me-
corrientes en una gran variedad de escalas. Una de las empresac; más conoci- dir tru\to continua como alterna
das es la firma LEM, hasta el punto de que en el argot se suele hablar de "son- y ampliar la gama de frecuen-
das LEM" para referirse a los sensores de corriente comerciales bac;ados en el cias con las que puede trabajar.
453
efecto Hall. En la Figura 8.116 se muestran algunas de estas realizaciones co-

merciales, preparadas para su uso directo.
Figura 8 .1 16. Algunas real izaciones comerciales para sensores de corriente de efecto Hall.
Hay sensores para todos los casos, desde unos pocos amperios hasta más de
40000 y con capacidad de producir un valor instantáneo o procesar el dato ob-
tenido para suministra un valor eficaz (RMS, Root Mean Square) o el verdade-
ro valor eficaz (TRMS, True RMS), que resulta muy útil con señales que no son
senoidales.
8.5.4. MEDIDA DE VELOCIDAD
Una de las aplicaciones típicas de los sensores Hall digitales es la medida de

velocidad de giro, que se puede aplicar en casos que van desde el control de
procesos industriales hasta los sencillos velocúnetros usados en bicicletas. Sea
la aplicación que sea, la idea es muy sencilla y consiste en contar los pulsos
que produce una sonda digital de efecto Hall cada vez que un imán pa~a por
sus proximidades (Figura 8.117).
Sonda Hall digital

Vo
Vce
Vo - - -
t
Figura 8 .117. Generación de pulsos en la sal ida de una sonda de efecto Hall digital cuando pasan
Imanes por sus proximidades.
A más velocidad de giro, mayor será el número de pulsos que se producen,

con lo que la cuenta de estos durante un periodo de tiempo definido nos infor-
maría acerca de la velocidad.
Claro está que ya hemos visto varias alternativas para hacer esta medida,
como las basada9 en sensores inductivos (Tema 7) o los e11coders ópticos que
se analizaron en el apartado 8.4. Las ventajas que presenta medir la velocidad
454
con sensores de efecto Hall radican en que no es necesario acceder de ninguna

forma al eje sino que la medida se puede hacer sin contacto físico. Esto es par-
ticularmente interesante en el caso de ejes muy grandes, en los que no resulta
práctico ni económico realizar una conexión mecánica para colocar un en.co-
der ni es sencillo disponer de algún tipo de protuberancias como las que tiene
una rueda dentada, que posibilite el uso de sensores inductivos. Un ejemplo
de esto es la medida de la velocidad de giro de los ejes que manejan las héli-
ces de los grandes barcos y cuyo diámetro es tan grande que no se suele me-
dir en centímetros ... Para medir su velocidad de giro basta colocar unos pocos
imanes sobre él a lo largo de una circunferencia y situar una sonda de efec-
to Hall en las proximidades, de modo que produzca un pul~o con el paso de
cada imán (Figura 8.118).
Si bajamos la escala de las dimensiones geométricas, podemos pensar en la me-
dida de la velocidad lineal de una bicicleta: sólo tenemos que situar un imán
sobre uno de los radios y una sonda de efecto Hall digital sobre la horquilla de
la rueda (Figura 8.119) de tal modo que sólo tenemos que contar los pulsos que
producirá el di~positivo Hall cada vez que el imán pase por alli. Si se utiliza un
circuito para contar pulsos, el total de ellos nos indicaría la di~tancia recorrida.
Figura 8.118. Medida de la velocidad de giro de un eje de grandes di mensiones mediante un sen·
sor de efecto Hall digital.
Sensor Hall dig,ita~'!
Figura 8.119. Medida de la velocidad de una bicicleta mediante un sensor de efecto Hall digital.
Este sistema tiene una "ventaja" muy importante que consiste en que, si que-
remos ir más rápido, en lugar de pedalear más, sólo tenemos que poner mi1s
imanes en los radios ...
455
En otro ámbito, las sondas de efecto Hall digitales se usan sistemáticamen-

te en Jos motores sin escobillas para determinar los momentos en los que los
polos de dichos motores pasan por un lugar concreto con lo que indican el
momento en el que se debe aplicar tensión a una fase concreta. La elevada
potencia de estos motores, que se manifiesta en un gran par y en una veloci-
dad de giro muy grande, unida al menor desgaste por la ausencia de escobi-
llas o cualquier otro tipo de sistema de conmutación los está haciendo cada
vez más habituales en todo tipo de aplicaciones que van desde el aeromode-
lismo, donde su elevada velocidad y bajísimo peso son muy apreciados, hasta
el accionamiento de brazos robóticos donde se puede aprovechar eficazmen-
te su potente par.
RESU!'viEN
Los sensores generadores de señal tienen como caracterfstica común la capaci-
dad de producir una señal en la salida sin el concurso de fuentes de alimentación
adicionales por lo que la energfa tiene que ser extraida de la variable que miden.
Esta circunsiancia obliga a que la señal que se produce tenga que ser pequefta
para evitar una excesiva perturbación en el prcx'eSO. En paralelo, la capacidad de
producir una señal puede permitir que estos dispositivos adquieran la capaci-
dad de generar energfa neta con lo que son potencialme.nte útiles para alimentar
pequei\os sistemas sin el concurso de baterías, pilas o fuentes de alimentación
desde red.
Los primeros sensores de este tipo que se han presentado son los termopares,
constituidos por dos metales diferentes, que son capaces de generar una te.nsión
proporcional a la diferencia de temperaturas entre las uniones. Aunque para me-
dir la temperatura de un punto precisen conocer la temperatura de otro --€s1o
obliga a usar un sensor au.xiliar- su gran campo de medida y su buena lineali-
dad hacen de ellos dispositivos muy utilizados a todos los niveles en la medida
de temperaturas.
Los sensores piezoeléctricos y piroeléctricos tienen comportamientos parecidos
entre sf (muchos materiales presentan los dos fenómenos), aunque, en el primer
caso, sean sensibles a la fuerza y al resto de magnitudes derivada~, y, en el se-
gundo, a la temperatura. En ambos casos son capaces de producir una tensión
proporcional a la variación de la correspondiente magnitud por lo que son espe-
cialmente útiles en la medida de vibraciones y fuerzas alternativas (en el caso de
los piezoeléctricos).
Los sensores piezoeléctricos son totalmente reversibles y tienen dos zonas típi-
cas de trabajo en función de la frecuencia: la zona plana, que se extiende a lo
largo de varias décadas, y una zona de resonancia, muy estrecha, en donde la
ganancia es muy grande. Esta última zona se u.~a extensivamente en el traba-
jo con ultrawnldos mediante la técnica pulso-ec-o para la mecUda de distancias;
esta forma de trabajo implica emitir W\ pulso y contar el tiempo que tarda en
recibirse el eco. La~ aplicaciones de este sistema son muy amplias, desde el sónar
ha~la los ecógrafos pasando por sistemas de anál isi~ de materiales o de estucUos
geológicos.
Los fotocUodos son dispositivos sensibles a la luz capaces de producir una foto-
corriente proporcional a esa luz; su estructura suele ser de tipo p-I-n aunque hay
456
variaciones alrededor de su configuración hasta conseguir dispositivos capaces

de trabajar en zona de avalancha que se caracterizan por su elevada sensibili-
dad, Jos APDs. Los circuitos que acondicionan su señal son sencillos y versáti-
les y se basan en convertidores I/V con un operacional. Más sensibles que los
fotodiodos son los tubos fotomultiplicadores (PMT.~) que se basan en el efecto
fotoeléctrico y en la amplificación por multiplicación electrónica. Aunque usan
el mismo circuito que Jos fotodiodos presentan características muy diferentes:
elevada sensibilidad, mucho menor ruido, poca corriente de oscuridad y, como
inconvenientes hay que citar la necesidad de una tensión de alimentación muy
elevada (del orden de 1 kV), que son tubos de vacío muy delicados de manejo y
que resultan relativamente costosos.
La luz como variable de medida se usa en multitud de ocasiones; son muchas las
variables que pueden afectar a la luz. Su campo de aplicación se extiende desde
sencillas aplicaciones industriales (como la detección de presencia o la turbidez,
de seguridad como la detección de humo) hasta todo tipo de aplicaciones en el
terreno de la Medicina, el análisis químico, la Astronomía o la Física de Altas
Bnerg(as.
Finalmente, los sensores de efecto Hall tienen la capacidad de medir campo
magnético Jo que ha permitido extender su uso a la medida de magnitudes deri-
vadas como la corriente o la tensión eléctrica con excelentes prestaciones: rusta-
miento, linealidad y amplio ancho de banda (desde continua). También se usan
masivamente en aplicaciones de medida de velocidad o de posición mediante
técnicas basadas en la cuenta de pulsos. Finalmente, resultan muy útiles en el
caso de control de motores, sobre todo para el caso de los motores sin escobillas
cuya introducción en el mundo industrial está en plena expansión.
457
Sobre termopares (apartado 8.2)

Tabla 8.1
Ejemplo8.2 8.1 Determine la FSO de un termgpar de tipo K que tiene un campo de medi-
Figura 8.16 da entre Oy 500 oc suponiendo que la unión fría permanece a O°C. ¿Cómo
se modifica la salida si la unión fría está a 25 °C? ¿Qué error se produce si
se considera que la unión fría puede variar de 20 a 30 oc? Considere que el
termopar se comporta de forma totalmente lineaL
Tabla 8 .1
Eje mplo8.2 8.2 Repita el ejercicio anterior considerando que se usa un termopar de tipo J.
Figura 8.16 ¿Ala vista de los resultados, ¿cuál presenta mejor comportamiento? ¿Exis-
te alguna restricción en el uso de los dos sensores en función de qué se
esté ,midiento?
Tablas 8.1 y 8.5
Ejemplo 8.1 8.3 Considerando los coeficientes de la curva directa del termopar T determi-
Figuras 8.13 a 8.15 ne la mejor linealización en todo el campo de medida de las expresiones.
¿Se parece la sensibilidad a la indicada en la Tabla 8.1? ¿Cuál es el error de
linealidad cometido?
Tablas 8.1 y 8.6
Ejemplo8.1 8.4 Considerando los coeficientes de la curva inversa del termopar T deter-
Figuras 8.13 a 8.15 mine la mejor linealización en todo el campo de medida de las expre-
siones. ¿Se parece la sensibilidad a la indicada en la Tabla 8.1? ¿Cuál es
el error de linealidad cometido? Compare las curvas directa e inversa
del termopar según los resultados obtenidos en este ejercicio y en el
anterior.
Tabla 8 .1
Ejemplo8.1 8.5 Si un termopar de tipo T se usa para medir sólo un campo de medida [SO,
-- Figuras 8.13 a 8.15 100] oc, determine la mejor linealización posible y calcule el correspon-
diente error de linealidad. Compare los valores de la sensibilidad obteni-
dos respecto del que aparece en la Tabla 8.1 y respecto a los calculados en
los ejercicios 8,3 y 8.4.
Tabla 8 .7
Ejemplo8.1 8.6 Un termopar de tipo K se usa para medir entre O y 100 oc. Determine la
Figuras 8.13 a 8.15 sensibilidad en esa zona y el correspondiente error de linealidad. Si el
error necesario tuviese que ser menor de 0,1 oc, ¿sería suficiente esta linea-
lización? En caso negativo proponga una posible solución.
Ejemplo8.2
8.7 Si la unión fría del termopar del ejercicio anterior se mantiene entre 20 y
Figuras 8.16 a 8.18 30°, proponga un circuito para compensar su temperatura suponiendo un
valor constante para ella de 25 oc, de tal modo que entregue una tensión
entre O y 10 V que corresponda al campo de medida, ¿qué error se comete
al despreciar la variación de temperatura?
Tabla 8.1
Ejemplos 8.2 y 6.9 8.8 Realice un circuito de compensación de temperatura de la unión basa-
Figuras 6.44 y 6.45 do en NTC (B = 3900K y R25 = 4K7) para un termopar de tipo K, supo-
niendo que la temperatura de la unión puede variar entre 20 y 30 oc.
¿Cómo afecta el error de linealidad de la NTC al error de medida del
termopar?
458
Tabla 8 .1
Ejemplos 8.2 y 6.9 8.9 ¿Cómo se modificaría el circuito del ejercicio anterior si se tratase de un
Figuras 6.44 y 6 .45 termopar de tipo J? ¿Y de tipo T?
Tabla 8.1 8.10 Para compensar la temperatura de la unión de un termopar de. tipo K
Figuras 8.20 y 8 .21
se utiliza un circuito para su medida MAX6610 y un convertidor A/D
MX7705. Diseñe el esquema más adecuado para este caso.
Sobre sensores piezoeléctricos (apartado 8.3)
--·
Figuras 8.27 a 8.29 8.11 Un sensor piezoeléctrico tiene una sensibilidad a la fuerza de 0,0003 m V / N,
una resistencia de 120 Q, una inductancia de 150 ¡.¡H y dos condensadores Cl
= 35 pF y C2 = 19 pF. Dibuje la curva de respuesta en función de la frecuencia
con la salida en vacío. ¿Cuál es la frecuencia de resonancia del sensor? Deter-
núne el ancho de banda de la zona plana y la sensibilidad de salida en vacío.
Figuras 8.27 a 8.31 8.12 ¿Cuál sería el equivalente eléctrico del sensor del ejercicio anterior en la
zona de respuesta plana?
Figura 8.32
8.13 Considere el sensor piezoeléctrico del Ejercicio 8.11. Si se conecta a él un
Ejemplo 8.3 amplificador con una resistencia de entrada de 10 MQ y una capacidad de
entrada de 22 pF mediante un cable de 5 m de longitud y una capacidad
pará~ita de 12 pF 1m, determine cómo se modifica la respuesta frecuencial
del dispositivo. ¿Cuál es la nueva frecuencia de resonancia? ¿Cuál es ahora
el ancho de banda de la zona plana? ¿Se modifica la ganancia del sensor?
Figura 8.32
8.14 El amplificador del Ejercicio 8.13 tiene una ganancia de 500; ¿cuál debe ser
Ejemplo 8.3 su GBW para conseguir un error de ganancia menor del O,1 %? Si se incre-
menta la longitud del cable ¿cómo afectaría a la ganancia del sistema? ¿Y a
las especificaciones de GBW del operacional?
Figuras 8.32 y 8.35
8.15 Valore las ventajas de usar un amplificador operacional situado en las
Ejemplo 8.3 proximidades del sensor piezoeléctrico del Ejercicio 8.13. ¿Cuál sería el
equivalente eléctrico del conjunto sensor + amplificador?
Figura 8.37
8.16 Un array de hidrófonos está constituido por 256 sensores capaces de re-
Ejemplo 8.4 coger el sonido procedente de cualquier fuente en el entorno marino. Si
la separación entre ellos es de 4 m y la incertidumbre en la detección del
momento en que llega la onda es de 24 ¡ts, determine el máximo error en
la estimación de la dirección de la fuente que produce el sonido. Dato: la
velocidad dehonido en el agua de mar es de 1512 m/ s.
8.17 Si la distancia a la que está la fuente de sonido del ejercicio anterior es de

Figura 8.37 60 km (con un error de ±500 m) determine el área total en la que habría
Ejemplo 8.4 que buscar la fuente del so.nido.
8.18 Las "cajas negras" de los aviones suelen emitir una señal de sonido durante
bastante tiempo tra-; un hipotético accidente. En el proceso de búsqueda tras
459
·un accidente de aviación en aguas oceánicas se usan dos TACfAS constitui-
dos por arrays de hidrófonos como los que se indican en el Ejercicio 8.16. Plan-
tee un sistema que permita acotar la z.ona de búsqueda de dichas cajas negras.
Figura 8.39 8.19 Un medidor de velocidad de fluido se basa en el empleo del efecto Doppler.
Si el emisor produce una señal de 5 kHz y la máJáma velocidad del fluido
es de 12m/ s, determine la máxima variación de frecuencias que se puede
producir en la recepción. ¿Cuál debería ser el ancho de banda del sensor?
Figura 8.40
--
8.20 Se pretende realiZ-ar un sistema de medida de distancias mediante ultra-
Ejemplo 8.5 sonidos para un campo de medida de Oa 10m. Suponiendo que emisores
y receptores tienen capacidad suficiente para emitir la señal y .recoger el
correspondiente eco, diseñe un sistema para ello basado en el empleo de
contadores digitales.
8.21 En el caso del ejercicio anterior, ¿cuál sería el umbral de medida si el tren
de pulsos que se emite es de 40 kHi y consiste en un total de 8 ciclos? De-
Figuras 8.40 y 8.41 termine también el error máximo que se produce si la temperatura del aire
Ejemplo8.5 puede variar desde 10 hasta 35 oc.
8.22 Proponga un sistema de medida de distancia con especificaciones simila-

res a las del ejercicio anterior mediante el uso de algún sistema microcon-
trolador. ¿Qué restricciones se producen en la medida?
__
F.::
igura 8.44 8.23 Un ecógrafo utiliZ-a un total de 128 dispositivos de emisión/ recepción de
ultrasonidos que trabajan a 2 MHz y que ocupan un total de 15 cm. Deter-
mine la variación del retardo entre las señales que se aplican a los sensores
consecutivos para conseguir que las onda'> producidas viajen en direccio-
nes que formen ángulos entre - 170 y +170°. Si se envía un tren de pulsos
de 4 ciclos cada 2° y el máximo tiempo que se espera por el eco es de 100
¡.¡s, ¿cuánto tiempo se tarda enrealiz.ar el barrido completo para cubrir
todas las direcciones?
Sobre sensores optoelectrónicos (apartado 8.4)

Figuras 8.63 a 8.67
824 Un fotodiodo debe leer una señal de luz de frecuencias comprendidas entre 1
Ejemplo8.6
y 10 kHz sobre un nivel de continua. Si la señal que produce el fotodiodo es
una fotocorriente que incluye una componente de continua de 200 nA y una
componente de alterna de 50 nA de amplitud y se desea conseguir una ten-
sión de salida de 5 V de amplitud, determine el circuito necesario para ello.
Figuras 8.63 a 8.67
8.25 Si el fotodiodo tiene una corriente de oscuridad de 0,15 nA en las condi-
Ejemplo8.6 ciones en que está trabajando, determine el máximo error que se produce
en el sistema por este motivo. ¿Cuál debería ser la NEP del fotodiodo si el
GBW del operacional es de 50 MHz y se pretende conseguir una relación
S/N superior a 60 dB?
460
Figuras 8.63 a 8.67
8.26 El ruido luminico en el sensor del Ejercicio 8.24 se puede estimar en tor -
Ejemplo 8.6 no a un 2 % de la señal total y consiste en una señal de fondo de 1 00
Hz debido a la presencia de iluminación fluorescente en el ambiente.
¿Afecta a la relación S/N de la salida? Si es así, ¿cómo podría reducirse
su efecto?
Figuras 8.62 a 8.67
8.27 Un APD tiene una sensibilidad de 0,5 A/W y una ganancia de 200 cuando
Ejemplo 8.6 trabaja en avalancha con una tensión de 150 V. Si la capacidad parásita es
de 15 pF y el amplificador operacional del circuito de acondicionamiento
tiene un GBW de 100 MH.z, determine los valores de la resistencia y del
condensador de compensación para conseguir una salida de Oa 5 V cuan-
do el sensor recibe una potencia luminosa de 330 n W.
Figuras 8.62 a 8.67
8.28 Un fotodiodo que tiene una capacidad asociada de 15 pF produce una co-
Ejemplos 8 .6 y 8. 7 rriente entre Oy 1 nA y tiene una corriente de oscuridad de 50 pA; se de-
sea conseguir una tensión de salida de 5 V mediante un circuito formado
por operacionales con la<> siguientes características: A 0 = 120 dB, GBW =
10 MHz, lB= lio = 80 fA, v., =50 ¡.tV, Rd= 1000 GO. Diseñe el circuito para
hacerlo y determine el error total producido.
Figuras 8.62 a 8. 71 8.29 Determine la relación S/N en el caso anterior sabiendo que la NEP del fo-
todiodo es de 0,35 pW·Hz-1/ 2 y considerando despreciable el ruido del am-
plificador operacional.
Figura 8.80
8.30 Un fotomultiplicador R331 de la firma Hamamatsu se emplea para leer
Ejemplo 8.8 señales luminosa<; en la banda visible, en concreto, entre 400 y 450 nm con
una potencia máxima de 1/lW, pero la luz incluye un ruido de fondo en
toda la zona visible equivalente a 1/lW. Si se alimenta a 2000 V, diseñe un
circuito para conseguir una tensión de salida máxima de 4 V y determine
el correspondiente error suponiendo que se usa un amplificador operacio-
nal de GBW = 10 MHz, v., =1mV e lB= T., = 0,05 nA. ¿Cómo mejoraría este
error si se incluyese un filtro que permita eliminar la luz incidente en la
zona visible?
Figura 8.83
8.31 Se pretende medir la velocidad de giro de ·un motor de alterna cuya máxi-
Ejemplo 8.9 ma velocidad es de 1500 rpm e incorpora un reductor que divide por 100
la velocidad. Si están accesibles tanto el eje de alta como el de baja velo-
cidad, ¿cuál debe ser, en cada caso, el número de pulsos por vuelta de los
encoder para conseguir una resolución mejor del 0,1 %si la velocidad debe
medirse cada 0,1 s?
Figura 8.83
8.32 Se pretende medir la velocidad de un motor cuyo máximo valor es de
Ejemplo 8.9 3000 rpm y que incorpor a un reductor que baja la velocidad hasta 0,2 ve-
ces, estando disponible tanto el eje de alta como el de baja para efectuar
la medida. Si se usa un encoder capaz de proporcionar 10000 pulsos por
vuelta, determine la máxima resolución que se obtendría al realizar una
medida cada 0,01 s cuando se sitúe en el eje de alta o en el de baja.
461
Figura 8.101 8.33 Un sensor de imagen de 20 MPx se emplea para la captura de video con
una velocidad de 25 fotogramas por segundo (25 fps). Si el sensor dispone
de cuatro salidas, determine cuál debe ser la velocidad a la que se lee la
información de cada píxel. Si el tiempo en el que se lee la imagen es de 10
minutos, ¿cuál es el volumen de información generado si el sistema traba-
ja con una resolución de 8 bits?
Figura 8.101 8.34 ¿Cuál serfa la diferencia en el sistema anterior entre trabajar con una ima-
gen en color o con una imagen en escala de grises? ¿Y si se trabajase con
una imagen binaria?
Sobre sensores de efecto Hall (apartado 8.5)

Figura 8.108
8.35 Se pretende medir un campo magnético de alterna cuya inducción máxi-
Ejemplo 8.10 ma es de 22 mT y cuya frecuencia puede variar de 10 a 100Hz mediante
un sensor de efecto Hall A1388 de la firma Allegro para conseguir una
tensión comprendida entre -5 y +5 V. Diseñe un circuito apropiado para
ese fin y determine el máximo error que se produce.
F"igura 8.108
8.36 ¿Cómo se modificaría el diseño anterior si se necesitase leer también el
Eje mplo 8.10 valor de continua del campo magnético? Valore el efecto del error en con-
tinua del sensor, sobre todo en Jo que hace referencia al valor de reposo.
Figuras 8.113 y 8.116 8.37 En una planta de fabricación de aluminio se pretende medir la corriente
- -= en un grupo de cubas electrolíticas en las que la corriente máxima es de
20 kA, aunque podrfa aparecer una sobrecorriente de hasta un 150 %. De-
fina las especificaciones del sensor necesario y realice una búsqueda entre
fabricantes para obtener el dispositivo necesario. ¿Existen más versiones
que los di~positivos de efecto Hall?
462
Tema
Interferencias y ruido externo
9.1. Conceptos generales sobre interferencias

9.2. Acoplamiento conductivo
9.3. Acoplamiento no conductivo
9.4. Interferencias de campo lejano
TEMA 9 . IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXTERNO ••
9.1. CONCEPTOS GENERALES SOBRE

INTERFERENCIAS
¿Quién no ha sufrido en sus diseños el efecto de las interferencia~ exteriores?

Cualquier diseñador habrá podido comprobar que una vez que su circuito o sis-
tema ha sido concluido la~ señales no aparecen tan limpias como deberían. Es
posible que la causa fundamental sea la presencia de ruido de origen interno,
como el que ya hemos estudiado, pero es frecuente que se añada el efecto de las
perturbaciones externas e, incluso, que este último sea el factor predominante.
En este tema se tratará el efecto de las perturbaciones sobre los sistemas elec-
trónicos en general y se hará hincapié en el ca~o particular de los circuitos de
instrumentación. Sin embargo, el lector no debe esperar por aspectos cuantita-
tivos puesto que los factores que intervienen son tantos que no resulta senci-
llo traducir todos los mecanismos que intervienen a expresiones matemática~.
Es más, incluso aquella~ expresiones que se puedan derivar incluirán térmi-
nos y parámetros que no sólo se tendrán que evaluar mediante experimenta-
ción sino que únicamente servirán para un caso concreto.
Por tanto, el conjunto de la~ con~ideraciones que se puedan establecer tendrán
un ámbito fundamentalmente cualitativo. De ese modo, el resultado del aná-
lisis será una recomendación en la dirección y el sentido de mejorar el com-
portamiento de los sistema~ instrumentales y no de alcanzar unos resultados
numéricos concretos.
9.1.1. FUENTES, VfCTIMAS Y MECANISMOS

DE ACOPLAMIENTO
El proceso por el que un circuito o sistema recibe perturbaciones (interferen-

cias) desde otro sistema tiene como ba~e la transferencia de energía desde este
último al primero. Para formalizar todo lo concerniente a esta transferencia
empezamos por presentar los tres agentes que intervienen en ella: el proceso
comienza con la fuente de interferencias, que es cualquier sistema que mane-
ja energía y que puede transmitirla a un sistema víctima mediante algún tipo
de mecanismo de acoplamiento, que representa la vfa o medio por el que se
produce esa transferencia (Figura 9.1).
Mecanismo de
acoplamiento
VICTIMA
Figura 9.1 . Idea general del proceso por el que se producen las interferencias: una luente transmi·
te energía a una víctima por medio de algún mecanismo de acoplamiento.
En el caso particular de tratarse de sistemas eléctricos y electrónicos, la energía

que se pone en juego mediante estos procesos es energía eléctrica y, por lo gene-
ral, los mecanismos de acoplamiento son bidireccionales, de modo que el papel
465
de fuente o de vfctima es sólo una cuestión cuantitativa. Será la fuente de interfe-

renáas aquel si~tema que ponga más energía en juego y la víctima, aquel otro que
la reába en má<; cantidad. Por ejemplo, en el caso de un motor de continua con
escobillas de una áerta potenáa próximo al árcuito de acondiáonamiento de su
sensor de veloádad, es fácil imaginar que será el motor y las conmutaáones de
las escobillas quienes molesten al árcuito de acondiáonamiento y no es fáál ima-
ginar qué tipo de molestia~ podría oca~ionar este último sobre el giro del motor.
La primera pregunta que nos tenemos que hacer es cómo se produce la trans-
ferencia de energía entre fuente y víctima o, lo que es lo mi~mo, cuáles son
los mecani~mos de acoplamiento. En una primera aproximación, el paso de
la energía de un sistema a otro se produce mediante una resistencia, una ca-
pacidad o un par de inductancias acopladas. No es que tal componente exi<;ta
como una realidad palpable conectando los dos equipos (bastaría con quitar-
lo), sino que suele estar constituido por parásitos que surgen espontáneamen-
te entre dos árcuitos cualesquiera.
El acoplamiento mediante resistenáa se denomina acoplamiento conductivo;
se puede decir que está presente en todos los ca~os, ya que siempre es posible
encontrar un valor para la resistencia entre dos puntos de dos circuitos separa-
dos, aunque se trate de un valor tan grande que su efecto bien puede despre-
ciarse; no suele ser este el caso más habitual sino el que supone la apariáón de
caminos de conducción no previstos entre dos circuitos, casi siempre ligados a
las conexiones de alimentación y masa o a deficiencias del cableado y 1o de la
conectorización. El apartado 9.2 se ocupará de este a<;unto.
El acoplamiento capacitivo se produce por la presencia de capacidades entre
dos puntos conductores debido al siguiente efecto: siempre que tengamos dos
conductores separados por un material aislante tenemos una cierta capacidad
ya que los conductores actuarán como placas y el aislante como dieléctrico del
condensador. Por su parte, el acoplamiento inductivo se produce por el efecto
del campo magnético generado por la conducción de corriente por cualquier
circuito. Si el campo varía, se podrá inducir señal en otro conductor próximo
con lo que tenemos el mismo tipo de efecto que se produciría entre dos bobi-
nas acopladas (Figura 9.2).
Acpp amiento
capacitivo
Figura 9.2. Acoplam ientos no conductivos producidos entre dos circuitos.
466
Ambos acoplamientos se analizan con más detalle en el apartado 9.3.

Sea cual sea el tipo de acoplamiento, lo cierto es que el medio actúa como una
impedancia )', por tanto, el efecto final de la fuente sobre la víctima depende-
rá de los niveles de tensiones y corrientes y de las frecuencias. A medida que
se manejen tensiones y 1o corrientes más elevadas, mayor será la transferen-
cia de energía y en consecuencia, mayor el nivel de la perturbación. Por otro
lado, la frecuencia actúa como un factor multiplicador del efecto por dos mo-
tivos diferentes: en el caso de un acoplamiento capacitivo, el valor de la im-
pedancia asociada a ese acoplamiento cae con la frecuencia, lo que implica un
cierto allanamiento del camino para la perturbación; en el caso de un acopla-
miento inductivo, una variación rápida del campo tenderá a producir una ma-
yor inducción de señal.
En resumen, las fuentes potenciales de perturbaciones serán aquellas que ma-
nejen corrientes y tensiones elevadas o las que utilicen señales de frecuencias
altas. A continuación se citan algunos sistemas que podrían ser fuentes de per-
turbaciones debido a que cumplen las condiciones anteriores para ser candi-
datos a ello:
Equipos y sistemas eléctricos de potencia

En este tipo de si~temas se suelen manejar corrientes y tensiones alternas ele-
vadas aunque la frecuencia sea baja en líneas generales (50 o 60 Hz según las
zona~). En función del caso de que se trate, serán fuentes de interferencias por
acoplamiento capacitivo y 1o inductivo, pero gracias al aislamiento con que
se suele trabajar no es tan frecuente la presencia de interferencia~ por acopla-
miento conductivo.
La red eléctrica (lineas eléctricas) causa interferencias tanto por acoplamien-
to capacitivo como inductivo: cuando las tensiones son elevada~ predomina
el primero, mientra9 que la~ corrientes altas provocan el segundo. Su influen-
cia depende, claro está, del valor de la magnitud causante de la perturbación,
pero también de la distancia que exista entre la red y la víctima. Es fácil ima-
ginar que los cables de alta tensión de las redes de transporte y distribución
donde se puede llegar hasta centenas de kV son una fuente importante de
problemas y asf es, pero sólo se harían patentes las interferencias en el caso
de que existan en las proximidades circuitos electrónicos que puedan ser víc-
tima~.
Menos evidente es el efecto de la red eléctrica de baja tensión en edificios ya

que las tensiones que se manejan son bajas (de 110 a 240 V,,.,. en función de
cada ámbito geográfico) lo que no parece muy preocupante. Sin embargo, los
cables de esta red están di~tribuidos por todas las construcciones, en paredes,
techos y suelos, por lo que la distancia a las potenciales víctimas suele ser pe-
queña. De ese modo, serán muy habituales las interferencias por acoplamien-
to capacitivo; si, además, hay consumo importante de corriente no habrá que
perder de vista la posibilidad de tener interferencias por acoplamiento induc-
tivo.
Las instalaciones industriales constituyen un caso intermedio entre ambas si-
tuaciones puesto que pueden manejar tensiones intermedia~, sobre todo para
la alimentación de motores y maquinaria que, en muchos casos, se realiza a
467
unos pocos kilovoltios; tampoco suele ser bajo el consumo de corriente por lo
que es factible que nos tropecemos con interferencia~ tanto por acoplamiento
capacitivo como inductivo. En el otro lado de la balanza, las edificaciones in-
dustriales son más grandes con lo que la di~tancia entre la red eléctrica y las
potenciales víctima~ resulta consecuentemente mayor.
Las máquinas eléctricas son también importantes fuentes de perturbaciones
debido al campo magnético que suelen manejar y que nunca está del todo
confinado en sus núcleos sino que una parte se fuga al ambiente. Esta porción
del campo magnético que no está concatenado suele modelarse mediante la
inductancia de fugas (leakage inducatance), un parámetro presente en las má-
quinas rotativas, como motores y generadores, y en los transformadores (Fi-
gura 9.3).
',, ~~
~
',
... ---- ',,
/ ~
/,_
,, -,
__ _'
1 ;- ' \
1 1
1 1
1 1
1 ', Campo
,,
1
1 magnético
1 : disperso
1 1
1 1
1 1
1 1
1 1
' __-~
1
_,
\
/ \
::::-___1 / 1
----- /
' -- - --
Figura 9.3. Dispersión del campo magnético en un transformador debido a la inductancia de
fugas.
Las fugas del campo magnético de las máquinas eléctrica~ producen inter-
ferencias por acoplamiento inductivo, pero también se pueden producir in-
terferencias capacitivas debido a la presencia de tensiones elevada~ en los
correspondientes devanados. Además, la presencia de escobillas para efectuar
la conmutación en determinados tipos de motores añade un factor adicional
de perturbación al constituir una fuente de pequeños arcos en los que la co-
rriente se cierra por el aire. Esto provoca la aparición de fuertes interferencia~.
Otro caso similar son los anillos rozantes. típicos de algunos motores asíncro-
nos que introducen perturbaciones similares a las que producen las escobillas
aunque de menor entidad.
Los sistema~ eléctricos también incorporan algunos equipos que pueden lle-
gar a resultar muy problemáticos desde el punto de vista de la producción de
interferencias. En general, todos los bloques que actúan como interruptores o
conmutadores de línea~ eléctrica~ de una cierta potencia son susceptibles de
constituir una fuente de problemas. En este apartado hay que considerar los
relés, contactores. seccionadores, di~yuntores y; en general, todos aquellos dis-
positivos cuya función sea la de interrumpir o permitir la circulación de co-
rriente mediante medios electromecánicos. El caso más problemático es el de
apertura de una línea por la que circula una corriente eléctrica elevada. El con-
junto de la línea tendrá un equivalente inductivo que se representa mediante
una inductancia por unidad de longitud y que supondrá un valor L%. La ener-
gía almacenada en esa inductancia será Lw·l' /2, energía que intentará mante-
ner la circulación de corriente cuando el interruptor trate de cortarla lo que
468
TEMA 9 . IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXT ERNO ••
dará lugar a la aparición de un arco eléctrico con la correspondiente genera-

ción de perturbaciones (Figura 9.4). Cuanto mayor sea la corriente y mayor la
inductancia (más longitud de la línea) más grande será la perturbación pro-
ducida.
Jamming
El término jamming se puede
traducir como interferencia vo-
1 Lw o l untaría y constituye una de las
técnicas empleada~ en el ámbito
de la guerra electrónica. Aunque
Energfa almacenada u~·Lw·/2 APE originariamente (Segunda Gue-
rra Mundial) sólo se ocupaba
1 o de perturbar la~ tran~-núsiones
Lw de radlo del enemigo, en la ac-
tu alidad constituye la base de
cualquier acción de ataque, por
1" '
'-- cuanto el jmnm.ing tiene como ob-
jetivo desactivar o entorpecer los
(a) (b) sL~temas de radar del enemigo.
Figura 9.4. Emisión de interferencias por arcos eléctricos: (a) por u na lín ea eléctrica circula una Aunque hay medios mecáni-
corriente / lo que supone que en la i nductancia asoci ada a la línea se almacene una energía pro· cos (chaff o señuelos) y térmicos
porcional al cu adrado de la corriente; (b) cuando se abre el contacto, esa energía tiende a hacer para molestar a los detectores en
que la corriente siga circu lando y causa la aparición de sobretensiones y arcos que pueden causar fase de defensa, la~ contramedi-
fuertes perturbaciones.
das electrónicas son las más efi-
caces a larga distancia y no sólo
En el cierre de contactos también se pueden producir interferencias por cau- tienen carácter defensivo sino
sa de los micro-arcos que se generan cuando los contactos se están acercando¡ que se convierten en una acción
no obstante, las consecuentes perturbaciones tienen menor entidad que en los básica previa a cualquier ataque.
procesos de apertura de contactos. Concentrar energfa en la mis-
ma frecuencia que usa el radar
de detección (spot jamming),
Equipos electrónicos de potencia realizar un barrido por varias
Cada vez es más frecuente la gestión de la potencia eléctrica mediante siste- frecuencias (sweep jamming),
mas electrónicos, no sólo en equipos de micro-potencia (menos de 500 W) ta- producir distintas frecuencias
a la vez (barra.ge jamming) o
les como fuentes conmutadas y pequeños convertidores DC/DC presentes en
generar ruido a pulsos (pul-
la mayoría de los equipos electrónicos, desde un equipo de laboratorio has- se jmnmitlg) son algunas de las
ta un pequeño terminal móvil como un teléfono celular de última generación, técnicas que se emplean para
sino en equipos de potencias medias o altas como accionadores para motores, pertlU'bar el funcionamiento de
acondicionadores de red o sistemas de conversión para generadores eólicos o los radares. También se usan
fotovoltai.cos. técnicas menos interferentes
para evitar que algo (en general,
La práctica totalidad de los equipos electrónicos de potencia trabajan en con-
un avión) sea detectado, como
mutación, es decir, con todos sus semiconductores controlados cambiando
emitir pequeñas señales de rui-
entre sólo dos estados: apertura y cierre. Esto permite que los dispositivos dido sólo curutdo se recibe una
sipen una minima cantidad de energía al soportar corriente o tensión, pero señal de radar (cover pulse jatn-
no simultáneamente. Además, la necesidad de reducir el tamaño de los com- ming) o manipular la señal re-
ponentes reactivos (bobinas y condensadores) empuja a trabajar a la mayor cibida antes de devolverla para
frecuencia que sea posible. En resumen, en los convertidores electrónicos de enmascarar la posición (repeater
potencia se suele trabajar con tensiones y corrientes grandes que conmutan a jamming}.
frecuencias asimismo elevadas. Hacer algo as! para evitar la de-
tección de un radar de tráfico es
Los equipos electrónicos de potencia pueden, por tanto, producir interferen-
ilegal en todos los países. Mejor,
cia~ por acoplamiento capacitivo e inductivo y; debido a la mayor frecuencia
respetar los lúnites de velocidad.
469
de trabajo (desde decenas de kilohertzios hasta cerca del megahertzio) res-

pecto de los sistemas eléctricos de potencia, su efecto es potencialmente más
notable que la de aquellos. Como efecto adicional, en el caso de las fuentes
conmutadas y convertidores DC/DC incluidos como alimentación enlama-
yoría de los sistemas electrónicos, habrá que tener en cuenta el acoplamiento
conductivo ya que las líneas de alimentación y masa están compartidas en-
tre el subsistema de alimentación y el resto de los subsistemas. En este caso,
la presencia de rizado residual en la alimentación es un asunto muy serio que
puede producir interferencias en una buena parte de los circuitos a los que ese
sistema alimenta.
Sistemas digitales de alta frecuencia

La mayoría de los sistemas electrónicos suelen incorporar una parte digital,
normalmente con algún tipo de sistema microprocesador más o menos gran-
de. Todos estos sistemas están sincronizados bajo la batuta de una señal deno-
minada reloj, CLK (dock) que oscila a alta frecuencia (hasta más de 1 GHz). De
este modo, aunque las señales sean relativamente débiles, con tensiones bajas
tales como 2,7, 3,3 o 5 V, la alta frecuencia que manejan hace que las pertur-
baciones puedan producirse con relativa facilidad por acoplamiento capaciti-
vo o inductivo. Es más, la necesidad de utilizar circuitos mixtos analógicos y
digitales en un buen número de sistemas hace que estos acoplamientos sean
más sencillos por la menor distancia (a menudo en la mi~ma tarjeta de circui-
to impreso). Finalmente, el hecho de que los bloques digitales y analógicos de
un mismo sistema compartan la alimentación y sobre todo, la masa hace que
sea posible la presencia de acoplamientos conductivos con lo que los sistemas
mixtos se convierten en un serio problema de diseño desde el punto de vista
de evitar las perturbaciones.
:' Bloque digital

¡ Señales de alta frecuencia
: Consumo pulsante
••••••••••••••••••••••••••••
Figura 9.5. Perturbaciones producidas por los bloques digi tales de un mismo sistema instrumental
que afectan a l os bloques analógicos, sobre todo, a los de entrada, que suelen manejar señales
muy débiles.
Como caso particular de todo esto, la mayoría de los sistemas instrumentales

incluyen olgún tipo de s istema digitru que se encargo de los cálculos, v alida-
ción y gestión de la información. Asf, un sistema instrumental que incluya cir-
470
cuitas que manejan señales de sensores (débiles) junto con ruidosos sistemas
digitales se verá en la necesidad de que ambos ocupen espacios próximos con
lo que el enemigo está dentro de casa y e1 circuito en su conjunto puede con-
vertirse en vfcti.ma de sf mismo (Figura 9.5).
Sistemas de comunicación
Los emisores de los sistemas de comunicación por ondas de radio son, por
definición, fuentes de perturbaciones, no porque su emisión pueda ser con-
siderada como tal ya que no lo es para el receptor ni para el propio canal de
comunicación, sino porque pone en el ambiente una importante cantidad de
energía que puede afectar a otros equipos que no formen parte de esa comu-
nicación. Situar circuitos electrónicos ajenos a un emisor de radiofrecuencia en
sus proximidades supone un riesgo importante de sufrir interferencias.
Otras perturbaciones
También se pueden producir perturbaciones debido a otras causas como fenó-
menos atmosféricos (descargas eléctrica~ en tormentas, como se muestra en la
Figura 9.6), de origen extraterrestre (rayos cósmicos, descargas solares, etc.),
causadas por reacciones nucleares como el p u lso electromagnético nuclear
(NEMP, Nuclear ElectroMagnetic Pulse) o por movimientos mecánicos, como e1
fenómeno de la triboelectricidad o el movimiento de cables en entornos con
campo magnético constante.
Nubes
···--
1
Superficie de la tierra
N~cleo conductor
Figura 9.6. Producción de un rayo: entre las nubes cargadas posit ivamente y la tierra hay una ca·
pacidad parásita que soporta una tensión muy elevada. La presencia de una superlicie puntiaguda
conectada a tierra (pararrayos) Inicia la producción del efecto corona que t erm ina provocando la
migración de electrones hacia las nubes lo que causa la aparición de la descarga. La resistencia de
la t ierra termina por cerrar el circuito para la circulación de la corriente.
El tercer agente en este ámbito es la vfcti.ma. ¿Quiénes son víctimas? La res-

puesta es muy simple: cualquier circuito. Y esto es a~í porque todos los siste-
mas electrónicos son susceptibles de ser víctima~ y de que sus señales se vean
perturbada9 por la presencia de fuentes de interferencias próximas. Sin em-
bargo, el efecto será más notorio en la medida en que las señales sean más
débiles porque, sea cual sea e1 mecanismo de acoplamiento y la fuente, la con-
secuencia se traducirá en un determinado valor de la relación S/N.
47 1
Triboelectricidad 9.1.2. EMI Y EMC

El efecto triboeléctrico se produ-
ce por contacto entre dos mate- Interferencias electromagnéticas (EMI, E/ectroMagnetic lnterferences). Ese es el
riales y da lugar a que uno de nombre que recibe el conjunto de fenómenos que dan lugar a que una fuente
ellos se cargue positivamente y de interferencias produzca sus efectos sobre una víctima mediante algún me-
el otro, negativamente, algo que canismo de acoplamiento.
depende de la naturaleza de los
materiales. Desde el punto de vista de la víctima se establece otro concepto paralelo al an-
terior, compatibilidad electromagnética (EMC, ElectroMagnetic Compatibility)
La t riboelectricidad da lugar a
que establece la capacidad de un sistema de trabajar correctamente bajo unas
cargas eléctricas que pueden
perturbar el normal funciona-
determinadas condiciones de EMI y, además, sir\ emitir irlterferencias al am-
miento de los circuitos cuando biente.
se tienen cables y conectores .so- Con todos los agentes en juego, fuentes de interferencias, mecani~mos de aco-
metidos a vibraciones. plamiento y víctimas, la resolución general del problema pasa por reducir la
Este fenómeno puede producir emisión de interferencias por parte de las fuentes, evitar o di~minuir los me-
algún que otro problema en el canismos de acoplamiento y hacer que las víctimas sean más insensibles ata-
caso de sensores de vibración, les irlterferencias.
acelerómetros y demás dispo-
sitivos que impliquen movi- La reducción de interferencias por parte de las fuentes que la~ producen es
núento relativo entre dos partes algo siempre deseable pero dada la naturaleza de muchas fuentes (equipos de
mecánicas de w\ sistema. potencia, digitales y de comunicación) se escapa casi por completo al ámbito
Las consecuencia~ pueden ser del presente texto por lo que no será tratado aquí. Por tanto, nos limitaremos
potencialmente peligrosas ya a abordar el problema desde el doble objetivo de reducir los mecanismos de
que la presencia de carga~ pue- acoplamiento y de hacer que los sistemas de instrumentación, víctimas habi-
de desencadenar en tensiones tuales de las perturbaciones, sean capaces de funcionar sin que sus caracterís-
electrostáticas importantes que tica~ ir\stru.mentales se vean afectadas sensiblemente.
puedan suponer la destrucción
No obstante, el problema no debe plantearse en forma de diseñar para que los
de algún componente electró-
nico delicado o la aparición de
sistemas de instrumentación sean capaces de sobrevivir y funcionar correc-
descarga~ por arco que puedan
tamente en un ambiente agresivo y sin reglas, una especie de "ciudad sir\ ley
comprometer la seguridad de electrónica" sino que habrá que tener en cuenta que todos los equipos eléctri-
los sistemas vecinos, como en cos y electrónicos están sometidos a algún tipo de legislación que pone coto a
el caso de gases y Líquidos infla- la producción de interferencias.
mables.
La mayoría de los países tienen leyes más o menos estrictas sobre el tema de
Para evitar el efecto, además de las interferencias. En ellas, se definen los parámetros que hay que tener en
tratar de fijar cables y conectores cuenta, lo que está permitido y lo que no y los métodos de prueba y ensayo
lo mejor posible, se deben usar que se deben seguir para verificar que un equipo cumple la normativa. A ni-
materiales iguales para la parte
vel internacional, las norma~ más extendidas son las de la l EC (Internatio-
fija y para la móvil.
nal Electrotechnical Commission) que ha hecho varias propuestas por medio
de un grupo específico, el CISPR (Comité Intemational Spécial des Perturba-
tion~ Radioélectriques o Comité Internacional Especial para las Interferencia~
Radioeléctricas). Este grupo se creó en 1933 cuando el problema del EMI em-
pezaba a despuntar. Incluye en su nombre el término "especial" debido a la
participación en el mi~mo de agentes ajenos a la IEC pero interesados también
en el control de las perturbaciones. En la UE hay tres organizaciones de nor-
malización reconocidas: ETSI (European Telecommunications Standards Ins-
titute), el CEN (Comité Européen de Normalisation) y el CENELEC (Comité
Européen de Normalisation Electrotechnique), aunque estos dos últimos están
gestionados conjuntamente desde 2010. En EE.UU. existen regulaciones espe-
cíficas definida~ por la FCC (Federal Communications Comm.ission); lo mi~mo
ocurre en el Reino Unido a través de la BSI (British Standards lnstitution) o en
472
Alemania por medio de la VDE (Verband der Elektrotechnik, Elektronik und

Informationstechnik, Asociación para la Electricidad, la Electrónica y la Tecno-
logía de las Comunicaciones).
Probablemente habremos visto pegatinas con los símbolos de algunas o va-
rias de esta~ instituciones en la parte posterior de cualquier equipo electrónico
como indicativo de que cumplen la normativa al respecto de las interferencias.
En el ámbito militar, las normativas son mucho más estrictas pero, como es fá-
cil imaginar, dependen de cada zona de influencia geoestratégica. Unas de las
más conocidas y más aplicadas en este terreno son las norma~ MIL-STO (Mi-
litary Standard) conocidas en el argot como MilSpecs.
El conjunto de normas di~ponibles es bastante grande, pero contienen un nú-
cleo común compatible, como es el de determinar las limitaciones de emisión
de interferencias (EMI), las condiciones que deben soportar los equipos (EMC)
y la forma en que se deben medir unas y otras, a~f como los criterios para de-
finir qué entidades pueden certificar oficialmente que un determinado equipo
cumple con la normativa v igente.
9.2. ACOPLAMIENTO CONDUCTIVO
Uno de los mecanismos más habituales por los que una fuente de interferen-
cia~ perturba a una víctima es el acoplamiento conductivo (conducted electro-
mllgnetic interference), es decir, aquel que se produce cuando fuente y víctima
tienen puntos galvánicamente en común. Las dos formas por las que esto se
puede producir es por imped ancia entre líneas o por impedancia compar-
tida.
Como quiera que se trata de impedancias fundamentalmente resistivas, per-
mitirán el paso de señales tanto en continua como en alterna en función de la
existencia de unas u otras en la fuente de interferencias. Las primera~ produ-
cirán desplazamientos de nivel que deberán ser contabilizados como errores
en los sistemas, mientras que las segundas provocarán la aparición de señales
de alterna de valor medio nulo con lo que no producirán errores y sólo debe-
rán contabilizarse como ruido.
Desde un punto de vista cuantitativo, el efecto de las perturbaciones será ma-
yor cuanto menor sea el valor de las impedancia~ que con~tituyan el mecani~
mo de acoplamiento.
9.2.1. IMPEDANCIA ENTRE LÍNEAS
Este tipo de acoplamiento se debe a la presencia de impedancias resistivas si-

tuadas entre dos conductores, uno de la fuente y otro de la vfctima; en prin-
cipio, una única conexión entre dos conductores no permite cerrar el circuito
por lo que, a todos los efectos, no habrá trasvase de energfa desde uno a otro
lado y se limitará a establecer el mismo potencial en ambos puntos (Figura
9.7a). Sin embargo, en caso de que aparezca una segunda impedancia sí que
se podrá cerrar el circuito )~ en caso de que exista una fuente de tensión, esta-
473
blecer un flujo de energía manifestado en una circulación de corriente (Figu-

ra 9.7b).
(a)
VICTIMA
NO hay circulación
de comente
(b)
SI hay circulación de
corriente
TIERRA
Figura 9. 7. Acoplamiento conductivo por impedancia entre líneas: (a) la presencia de una única co·
nexión resistiva en tre dos puntos no permite la circulación de corriente y no hay perturbación; (b) la
presencia f recuente de impedancias no con troladas o no previstas puede cerrar el circui to y permi·
tir la perturbación, como cuando se t ienen en cuenta las impedancias a tierra de ambos sistemas.
El lector puede pensar que situar una impedancia puede ocurrir como conse-
cuencia de un error o porque explícitamente sea necesario, pero que tener dos
impedancias parece ya un error garrafal. Sin embargo, estas situaciones pue-
den darse sin que seamos conscientes de ello.
El primer caso con el que nos encontramos se produce cuando estamos en pre-
sencia de tensiones muy elevadas entre la fuente y la víctima con lo que los
aislamientos entre ellos constituyen una resistencia muy elevada pero, obvia-
mente, no infinita con lo que al aplicar la ley de Ohm se producirá siempre
una corriente, es decir, una pequeña fuga sin ruptura dieléctrica (Figura 9.8).
-- --- --- ---·

.....-------·
Corriente
•
Fuente
• Vfctima
de fugas
•
'
•••• ---...-·
ALTA ,
TENSióN,
•
·rkV Tierra
•
·-
Figura 9.8. Perturbación por corriente de fugas en aislantes debidas a tensiones aplicadas muy
elevadas.
474
TEMA 9. IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXT ERNO ••
Obviamente, en el caso de que la tensión sea excesiva para lo que soporte

el aislante situado entre fuente y víctima, se puede producir un fenómeno
de ruptura dieléctrica lo que establecería una circulación de corriente con
muy baja impedancia y, probablemente, acarrearía consecuencia~ catastró-
ficas.
Suponiendo que no hay ruptura dieléctrica, un ejemplo de la situación ante-
rior es la aparición de corrientes superficiales sobre tarjetas de circuito impre-
so (PCB, Printed Circuit Board) que trabajen con alta tensión. La presencia de
humedad y suciedad contribuyen a disminuir la impedancia y por tanto, a in-
crementar la fuga. Aunque este efecto siempre se produce (siempre que po-
nemos cualquier tensión y cualquier resistencia aparecerá una corriente) el
considerar o no la aparición del fenómeno es una cuestión cuantitativa, es de-
cir, dependerá del valor de la fuga. De los dos términos que intervienen en la
cuantificación sólo la tensión es previsible, mientras que los factores de que
depende la impedancia suelen ser difíciles de evaluar por lo que no resultará
sencillo predecir el impacto final. Además, el concepto de "alta tensión" es in-
trínsecamente muy relativo y máxime, en este contexto.
El efecto de la impedancia entre línea~ se traduce en una circulación de co-
rriente que recorre el circuito víctima donde genera caídas de tensión que de-
penden de la tensión entre sistemas (Figura 9.9).
La perturbación de tensión que introduce la fuente E sobre la víctima se pue-
de evaluar como:
R
Vn = E
R + 2Rsv
con lo que será menor en la medida en que la impedancia entre líneas sea más
grande. Como antes se indicaba, si la fuente es de continua, aparecerá un error
de ten~ión, mientras que si la fuente es de alterna, la perturbación se conside-
rará como un ruido. Para darnos cuenta de la importancia que tiene este efec-
to, nada más tenemos que pensar que si la línea que une los puntos A y B es
una línea de masa, es decir, la referencia para las tensiones de todo el circuito,
FUENTE #
••
E
rr '\
(•
Rsv Rsv
A B
v.
VICTIMA
Figura 9.9. Acoplam iento por impedancia entre líneas. En la víctima aparece una int erferencia de
tensión entre los puntos A y B debida a la fuente E y a las impedancias parásitas.
475
se producirán cambios de nivel en las referencias, lo que implica un error o un

ruido presente en la totalidad del circuito de la víctima.
Como se puede observar, cuanto menor sea el valor de R, menor será el efec-
to inducido. Esto da una pista para el diseño de circuitos que sean menos sen-
sibles a este tipo de problemas: las secciones de los cables y las pi~tas de las
PCBs deben ser anchas, tanto como se pueda para que la impedancia que pre-
senten sea lo más baja posible y; en consecuencia, se minimicen los efectos de
corrientes de fugas como esta.
Como orientaciones adicionales para el di~eñador y con la relatividad de va-
lores presente, se pueden establecer una serie de criterios para minimizar los
efectos de este tipo de acoplamiento; dado que las tensiones suelen venir im-
¡IP67! ¿IP67? puestas por el propio di~eño, la idea es tratar de incrementar la impedancia
Supongamos que nuestro siste- entre lfnea~ para reducir la corriente de fugas:
ma tiene que estar sometido a
• Separar las zonas: cuanto más alejadas estén la fuente y la víctima entre sí,
un ambiente húmedo y, como
mayor va a ser la impedancia entre ella~ con lo que las corrientes de fugas
buenos diseñadores, optamos
por proteger el circuito electró-
serán consecuentemente menores. Tanto a nivel de zonas de una misma
ruco mediante una envolvente tarjeta de circuito impreso como a nivel de circuitos impresos diferentes, o
IP67 (máxima protección contra incluso, de sistema~ completos, la distancia actúa como factor de mitigación
el polvo y capaz de soportar la de todos estos efectos.
inmersión completa en agua • Utilizar materiales aislantes adicionales: cuando la distancia entre fuente
hasta 1 m de profundidad). Me-
y víctima es demasiado corta o el aire supone demasiadas fugas, se puede
jorque sobre ...
añadir una barrera adicional mediante el uso de materiales aislantes como
Cuál será nuestra sorpresa tras pinturas y pasta~ especiales que contribuyen a incrementar fuertemente la
encontrar agua en el interior
resistencia entre conductores. En el ca~o de PCB la propia máscara de solda-
tras unos cuantos días de fun-
dura actúa como un elemento aislante adicional que mejorará el comporta-
cionamiento. Comprobamos la
defirución del indicador IP, el
miento del sistema desde este punto de vista.
cierre de la caja, las juntas tóri- • Reducir la humedad y la suciedad: la presencia de partículas de polvo o
cas y no encontramos nada que cualquier tipo de suciedad contribuye a reducir la impedancia entre lineas
nos haga sospechar un fallo. conductora<; y pistas de circuito impreso (tracks) Jo que facilita e incrementa
¿Por qué hay agua dentro? la circulación de corrientes de fuga. La limpieza de los circuitos impresos
La solución es muy sencilla: los es un aspecto básico para evitar este tipo de problemas. El lector no sólo
cambios de temperatura produ- debe suponer que esto se produce en sistemas de tensiones elevadas; es
cen cambios dimensionales en má~, resulta muy frecuente en el caso de PCB para sistemas digitales en los
la caja que provocan la entrada
que hay una gran densidad de pistas, sobre todo en buses de datos y direc-
de aire (con su correspondiente
humedad) cuando la caja se diciones. Pista<; muy próximas o pines de circuitos integrados muy próximos
lata por incremento de la tempe- (la separación o pitch llega a ser de fracciones de rnilfmetro) son candidatos
ratura. a generar conexiones accidentales mediante suciedad o polvo. Del rni<;mo
modo, la humedad es un contribuyente neto a la reducción de las impe-
Y cuando se produce una bajada
dancia~ con lo que actúa en el mismo sentido )', por lo general, el efecto es
de temperatura ... la humedad
del aire caliente tiende a con- mayor que el que causa la suciedad. Resolver este problema no es sencillo
densar en el interior. puesto qu.e el tiempo de vida de equipos y sistemas tiende a incrementar
la acumulación de suciedad, y de hecho, las tensiones de los si~te.ma<; elec-
Algo inevitable contra lo que es
dWcil luchar; hay alternativas
trónicos producen un efecto de atracción hacia las partículas de polvo. Una
como la incorporación de vál- limpieza periódica de las PCB reduce todos estos efectos.
vulas en la caja (casi todos los En cuanto a la posibilidad de reducir las consecuencias de la humedad,
fabricantes las comercializan), pa~arfa por garantizar que el ambiente en el que trabaje el sistema se en-
pero qu.izd la mcjo.r :;olución c:J
cuentre dentro de limites de humedad admisibles, pero esto no siempre es
dejar que el agua salga ya que es
posible.
casi imposible evitar que entre.
476
• Reducir la presencia de agua mediante envolventes adecuadas: un caso

especialmente grave se produce cuando un circuito o sistema debe funcio-
nar en condiciones de intemperie, bajo lluvia, con proyecciones de agua
o sumergido de forma esporádica o permanente. El agua y la electrónica
se llevan mal. Si sumergimos un circuito electrónico en agua, aparecerán
pequeñas impedancias que conectarán entre sí todos los puntos del cir-
cuito y que convertirán el circuito en una especie de cortocircuito general.
Las posibilidades de que un sistema funcione en esas circunstancias son
escasas...
La forma de salvar este problema pasa por evitar el contacto del agua con
el circuito electrónico lo que se lleva a cabo mediante el uso de envolventes
adecuadas o de resinas en las que embeber todo el sistema. Las envolventes
se clasifican con un número de dos dígitos (clase de protección IP) en fun.
ción de la protección que aportan respecto de la entrada de polvo y agua. El
primero de los dígitos hace referencia a la resistencia ante el polvo (1 al 6) y
el agua (1 a 8); en ambos casos, la envolvente protege mejor cuanto mayor
es el dígito.
• Abrir ventanas en las tarjetas de circuito impreso; en algunos ca~os, se pue-
de recurrir a abrir ventanas sobre el propio circuito impreso para evitar la
conducción superficial y para prevenir la acumulación de polvo bajo dispo-
sitivos o en lugares de difícil acceso para la limpieza. Un caso muy típico en
el que se recurre a esta técnica es el de los amplificadores aislados que están
previstos para soportar tensiones importantes entre su primario y su secun-
dario; aunque la disposición de pines suele aportar distancia suficiente para
evitar las fuga~ entre ambos lados, en alguna~ ocasiones se abre una venta-
na bajo el propio integrado para evitar que suciedad o humedad abran una
vfa de circulación (.Figura 9.10).
Amplificador
aislamiento T'"'r-~~
Hueco abierto
sobre la PCB
Figura 9.10. La apertu ra de ventanas bajo los amplificadores de ai slamiento incrementa la dis·
tanela que tendrfa que recorrer sobre la PCB una hipotét ica corriente de fugas superficial foque
tiende a reducirla.
El segundo caso de impedancia entre líneas no se produce por la presencia

de tensiones elevadas que terminan produciendo fugas sino por la apari-
ción de caminos no previstos para la circulación de corriente entre dos sis-
temas o circuitos diferentes. Estos caminos no previstos se pueden deber a
errores de cableado o a parásitos no contemplados en la concepción básica
del sistema.
477
Como ejemplo de un error de cableado que conecta dos circuitos entre sí está
la derivación de la~ tensiones de los conectores a través de carcasas y envol-
ventes metálicas. Muchos de los conectores tienen exteriores metálicos que
ayudan a proteger la integridad de las señales, pero esas partes metálicas tam-
bién suelen estar conectadas a masa. Si dos circuitos salen al exterior de un
equipo mediante conectores metálicos y estos conectores se sitúan sobre car-
ca~a~, envolventes o paneles metálicos, es inevitable la conexión entre ellos, lo
que puede causar que las ma~a~ de cada circuito estén en contacto galvánico.
En un esquema como el de la Figura 9.9, eso significaría que una de las resis-
tencias marcadas como R5v sería nula, lo que multiplica la~ posibilidades de
perturbación entre ellos. Ejemplos de conectores de estas caracterL~ticas son al-
gunos tan conocidos y habituales en el mundo de la Electrónica como los de
tipo BNC, jack (TRS) o RCA.
La solución para estos casos es tener previsto este efecto y evitar que haya
nuevos puntos de cierre del circuito, en cuyo caso la circulación de corrien-
te no sería posible, o evitar el contacto galvánico entre carcasas de conectores
mediante el uso de materiales no conductores (plásticos casi siempre) para si-
tuarlos.
'La presencia de parásitos es la forma más habitual por la que se producen
este tipo de interferencia~, parásitos que se deben, en general a caminos de fu-
gas entre zonas que deberían estar aisladas. El caso más frecuente se produce
en las líneas de alimentación: supongamos dos sistemas independientes, cada
uno de los cuales tiene su propia fuente de alimentación que toman la energía
de la red eléctrica (Figura 9.11).
Si la~ fuentes de alimentación están aisladas (lo más habitual), no debería ha-
ber ningún contacto galvánico entre los dos circuitos puesto que los únicos
puntos comunes son los primarios de las fuentes de alimentación. Sin embar-
go, si tenemos en cuenta las impedancias parásita~ de las fuentes de alimenta-
ción que establecen caminos entre primario y secundario, el sistema resultante
es un poco más complejo y se corresponde con el que se muestra en la Figu-
ra 9.12.
Fuente de
alimentación Circuito 1
aislada
(1Jl
.~ 1
...ti
q¡
- - - - ZONAS INDEPENDIENTES Y AISLADAS
'Q
~
\
Fuente de
alimentación Circuito 2
aislada
(2)1
~-
Figura 9.11. Si tuación ideal de dos sistemas total mente independientes y aislados entre sí.
478
Fuente de
alimentación z••
aislada
z,,
11 (1) - z,, Zw
l'l
""'ts
Zw
$ -
..,..
Zw
!!11 Zvz
.
z,,. Zvz (1)
~ \ - z,, z,
Fuente de Zu2 ••
z
alimentación
aislada
l. (2) -
•
(2) -
~
Zu1
Figura 9.12. Efecto de l a aparición de caminos parásitos para la circul ación de corriente en l as
fuentes de alimentación aisl adas entre dos circui tos independientes. Como se puede ver hay cami·
nos por los que se puede cerrar la corriente que produce la tensión de red (alta en relación con los
circui tos electrónicos). Nota: no se han incluido las resi stencias parásitas entre la alimentación de
uno y la masa del otro para no complícar más el circuito.
En este sistema es posible la circulación de corriente debida a la tensión de red

por varios caminos como el constituido por las impedancias z.,11- Z.,1M- Z,rZV2,
entre otros. La presencia en cada uno de los lazos de la tensión de red (110 a
240 V según la zona geográfica) introduce un riesgo real de circulación de co-
rrientes apreciables de la frecuencia de red. Estas corrientes, podrían produ-
cir caída~ de tensión entre diferentes puntos de masa lo que se traduce (como
ocurría en la Figura 9.9) en la aparición de ruido y la consiguiente pérdida
en la relación S/N. Como aparecen varios caminos, y más aún si se tienen en
cuenta las impedancias entre cada alimentación y la masa del otro circuito, el
efecto aparece multiplicado y puede llegar a ser considerable.
La solución para reducir estos nocivos efectos, además de las ya estableci-
das antes de modo genérico es la de mejorar la calidad de las fuentes de ali-
mentación en el sentido de garantizar que su aislamiento entre primario y
secundario sea bueno y que presenten fugas lo más pequeñas que sea po-
sible.
Otro caso similar se produce en los amplificadores aislados en los que el fa-
bricante suele proporcionar de alguna manera el dato de la impedancia que
existe entre primario y secundario. Lo más habitual es proporcionar el va-
lor de la imped ancia, que puede ser un modelo sólo resistivo o resistivo-ca-
pacitivo o indicar la corriente de fugas (leakage current) entre ambas zonas en
unas determinadas condiciones de tensión aplicada sobre la barrera de ais-
lamiento.
La impedancia parásita o im pedancia de la b arrera (barrier impedance) en-
tre los dos lados de la barrera de aislamiento determina la circulación de co-
rriente entre el primario y el secundario y, como quiera que la tensión de
aislamiPnto pnPciP l"P.r alta, P.l PfP.MO SP. IIP.garfa a convP.rtir Pn not ahlP P.n lo""
sistemas instrumentales. En la Figura 9.13 se muestra el modelo que se apli-
ca a estos casos.
479
1 Barrera de
l aislamiento
o---1+
v, i
(1) (2)
Corriente de fugas
Figura 9. 13. Corri ente de fugas entre el primario y el secundario debida a l a impedancia de la
barrera de aislamiento y a la t ensión api icada entre ambos.
Los valores de la impedancia suelen ser elevados tanto en la parte resistiva

(más de 10u Q) como en la capacitiva (menos de 3 p F), pero eso no significa
que no se deban hacer unos números por si acaso ... Por ejemplo, si con esos lí-
mites aplicamos una tensión de 1 kV a 50 Hz, con una impedancia total de al-
rededor de 1 GQ se provocaría la circulación de una corriente cercana a 1 ¡tA.
Según el caso, esa corriente podría ser problemática.
9.2.2. IMPEDANCIA COMPARTIDA
La forma más habitual de perturbaciones por acoplamiento conductivo es la

presencia de impedancias compartidas. Se dice que una impedancia está com-
partida entre dos o más circuitos cuando esos circuitos pueden hacer circular
por ella corrientes o someterla a tensiones. Claro está, desde el punto de vi<>ta
de cada circuito se percibe al otro como una molestia y a la corriente que hace
circular como una perturbación. La idea se representa en la Figura 9.14 para el
caso de dos circuitos que comparten una misma impedancia Z.
Circuito 2
Perturbación para el circuito 2

Perturbación para el circuito 1
Figura 9 .14. Perturbación mutua entre dos circui tos que com parten una impedancia.
Como se puede observar, la corriente que produce el primer circuito, 11, es

percibida como una perturbación por el segundo, mientras que la que pro-
480
TEMA 9 . IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXTERNO • •
duce este, 121 es vista por el primero también como una perturbación. En defi-
rtitiva, la corriente total que circula por la impedancia será la suma de ambas
corrientes con lo que ninguno de los dos circuitos observará un valor correc-
to. Saber quién es fuente y quién víctima es, pues, un problema cuantitati-
vo que se decidirá en función de cuál de las dos corrientes circulantes tenga
más entidad. Si, como ocurre en un buen número de casos, ambos circuitos
imponen corrientes simi:lares, no cabe hablar de fuente y de v íctima sino de
una perturbación mutua. Finalmente, hay que considerar que el efecto se tra-
duce en una pérdida de relación S/N o un error en función de la naturale-
za de las corrientes que circulen y; como en el caso anterior, se tratará de lo
primero con corrientes alternas y, de lo segundo, cuando las corrientes sean
continuas.
Una de las formas más habituales en que se pone de manifiesto la impedan-
cia compartida es como interferencias debidas al cableado de la alimentación
dentro de un mismo sistema. Supongamos un sistema electrórtico que contie-
ne varios subsistemas o bloques, todos ellos alimentados desde una fuente co-
mún (Figura 9.15) mediante un bus que los recorra.
Fuente de
alimentación l Vcc
Vce Vce Vce
1 ----+ 1 ----+ 1 ----+
l ov
Circuito 1 Circuito 2 Circuito 3
Figura 9.15. Alimentación en bus de un sistema electrónico con varios circuitos independientes.
Bajo condiciones ideales, la tensión de alimentación que produce la fuen-

te aparece directamente en las entradas de alimentación de cada uno de los
circuitos (centros de consumo) y el sistema funcionaría perfectamente. Pero,
en condiciones reales no se puede suponer que los cables de alimentación
son conductores ideales sino que tendrán una cierta impedancia, básica-
mente, una resistencia y una inductancia que dependerán de las caracte-
rísticas del conductor y serán proporcionales a su longitud. Si se incluyen
estos parásitos en el esquema inicial de la Figura 9.15 se obtiene un siste-
ma un poco más complejo en el que cada segmento de cable incluye estas
impedancias (Figura 9.16), en el que la impedancia de cada tramo de ten-
sión de alimentación se ha supuesto análoga a la del tramo correspondien-
te de masa.
RV1 L,
r R,. L,2 } R23 L23
Fuente de /j+/t+/1 11 la+ l1 1• Rn 1;

alimentación R, L, R 11 L,2 L.,
I l
11 't i, h lh
Oit
Figura 9.16. Sistema de alimentación incl uyendo los parásitos resistivos e i nductivos y las corrien·
tes que demandan todos los ci rcuitos.
48 1
• • INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓN /CA
Si tenemos en cuenta que cada uno de los circuitos consume una determina-
da corriente, cada una de ellas producirá una caída de tensión sobre esas im-
pedancias. En una primera aproximación, consideraremos sólo el efecto de los
parásitos resistivos con lo que tales caídas de tensión serán directamente pro-
porcionales a las corrientes que consumen los circuitos (Figura 9.17).
En referencia al caso de la Figura 9.17, el circuito 1 recibirá una tensión de ali-
mentación de:
que resulta menor que la tensión de alimentación que proporciona la fuente.

Por su parte, el circuito 2 recibirá una tensión aún menor:
Vccz - VGNDZ =Vce- 2 . (Rvt . Cia + lz + l¡) + Rtz. (13 + lz))
1
Vce
RV'1(1a+ lz+ l1}
/ 3 + /2+ /1
Vcc1
R,(l,+/,)
Vcc2
/3 + lz
R,;,J,
VcC3
Fuente de Rvt R,. Rn

alimentación Rvt 1, R,. 1, Rn 1,
13 + lz+ / 1 13 + 12
r RV1(1:t+ lz+ /1) 1,

R,,(l,+ /,) lz Rnl:r la
ov ~ r7
v..., VGHDZ v.,.,,'
Figura 9.17. Caídas de tensión producidas por las corrientes de alimentación sobre los cables de
alimentación.
Y peor aún será la situación para el circuito 3:
Como se puede observar, las caídas de tensión que "ve" cada circuito no sólo
dependen de su propio consumo de corriente sino que está afectado por el
consumo de corriente de otros circuitos, de tal modo que las impedancias de
los tramos comunes de las líneas de masa y alimentación se comportan como
impedancias compartidas.
De esta manera, se puede concluir que los consumos de corriente de los circui-
tos perturban a la alimentación de los demás y causan una pérdida de tensión
respecto del valor original que proporciona la fuente. Los valores de las resis-
tencias de los cables suelen ser muy pequeños, del orden de décimas de ohm;
con corrientes, por ejemplo, de centenas de miliamperios, las caídas de tensión
causadas no serían mayores de unas decenas de milivoltios.
Nos podemos preguntar si esta pérdida es realmente importante en un sis-
tema electrónico y lo cierto es que no siempre tiene efecto sobre el funciona-
miento: si la tensión que le llega a cada circuito es suficiente para que opere
correctamente, no estaría influenciado por estas bajadas. En este sentido, la
mayoría de los bloques analógicos tienen valores de PSRR muy elevados, de
modo que los cambios en la alimentación apenas influyen en la salida; por su
482
mismo modo a la totalidad de las señales del circuito. Si los con9umos de co-
rriente tienen características de continua, la perturbación se pone de manifies-
to como un error de tensión de valor absoluto igual a la caída de tensión:
El valor de este error será, como antes calculamos en un sencillo ejemplo, del
orden de unas decenas de milivoltios, pero sobre los valores habituales de fon-
do de escala de tensión (de S a 10 V) supondrá errores directos que irán desde
0,1 al1 % en función de las circunstancias, valores muy significativos para un
sistema in9trumental.
Si los con~umos de corriente son pulsantes o tienen una importante compo-
nente de alterna, como ocurre en los bloques digitales (sobre todo en los de
tecnología MOS), no sólo habrá un error sino que aparecerá una señal de rui-
do de la frecuencia a la que se produzcan tales consumos y que suele corres-
ponder con la frecuencia del reloj del sistema. Con las misma~ condiciones de
antes, unas decenas de milivoltios de ruido pondrían la frontera de 60 dB en la
relación S/N como inalcanzable.
En una segunda aproximación al problema si se con~iderara también el efecto
de los parásitos inductivos no habría grandes consecuencias en ca~o de consu-
mo de continua pero la~ cosa~ empeorarían en el caso de conc;umos de alterna
ya que las caída~ de ten~ión en la9 inductancias parásita~ de le-~ cables se mul-
tiplicarían en función de la derivada de la corriente. En la Figura 9.19 se mues-
tra el efecto de un típico consumo pul~ante propio de un circuito digital MOS
sobre la caída de ten~ión en el equivalente resistivo-inductivo de una línea de
ma~ o de alimentación.
Lv
VL
t
Voo
Vce
c;"""'V
MOS V
/ L
/
GND
Figura 9.19. Perturbaciones producídas por el consumo pulsante de los circuitos digitales. Las
subidas y bajadas de tensión en la alimentación producídas por las inductancias parási tas de las
líneas pueden comprometer la correcta alimentación de los círcuitos o incluso, resul tar dest ruc·
tivas.
Esto sí que es un problema grave ya que el ruido se multiplica, pero además

puede ocurrir que los picos de tensión producidos sobre las líneas de alimen-
tación lleguen a impedir que el sistema opere correctamente por caída excesi-
484
va o pueda resultar destructivo por subidas de tensión fuera de la zona segura

de funcionamiento.
Recapitulando los problemas que se han identificado hasta el momento tene-
mos que:
• Las cafdas de tensión dependen de los consumos de corriente y de las resis-
tencias e inductancias parásitas de las lineas. En la misma medida que las
corrientes y 1o los parásitos sean mayores, mayores serán esas caídas.
• Los consumos en continua producen caídas de tensión que generan errores
en el conjunto del sistema.
• Los consumos en alterna producen cafdas de tensión que se manifiestan
como ruido en el conjunto del sistema.
• Los consumos de alterna en combinación con las inductancias de las líneas
de alimentación producen picos de subida y bajada de tensión que mul-
tiplican el ruido y pueden poner en dificultades el funcionamiento de los
sistemas.
Esto nos da una serie de ideas que permiten abordar la interconexión de la ali-
mentación de forma más eficiente desde el punto de vi~ta de reducir las per-
turbaciones.
Reducción de los efectos de las corrientes pulsantes

Empezaremos por el final para abordar el problema de las corrientes de ali-
mentación pulsantes que es el que más daño puede ocasionar tanto cualitati-
va como cuantitativamente: como cada circuito o sistema consume la corriente
en función de sus características no podremos alterar esa cuestión pero sí que
podemos hacer que los efectos que se producen no se propaguen a los de-
más puntos del circuito o del sistema. Para ello se debe situar un condensa-
dor de suficiente capacidad en las proximidades del punto de consumo de tal
modo que tratará de mantener la tensión suministrando la parte alterna de la
corriente que demande el centro de consumo (Figura 9.20). Este tipo de com-
ponentes se suelen denominar con densadores de desacoplo (decoupling capa-
citors) ya que su misión es la de suministrar el valor de corriente de alterna
mientras la corriente de continua se suministra desde la alimentación.
Lv loe
1
1
VL =OV IAc loe

- 1-.! L.,_ '- '- '- t
Voo
Condensador
de desacoplo e ¡ '
!
'
Vce f ¡'
V= Vcc ! !¡ t
- 1- '---' ,_ '- '-
Circuito digital
1
____l,oc
._.J.._--I GND MOS oc-+1- - - - - - - - - - ~
Figura 9.20. Utilizaci ón de un condensador de desacoplo para absorber el consumo pul sante de
los circuitos digi tales y evitar que est e se propague como perturbaciones para el rest o del sistema.
485
El valor y el tipo de dispositivo empleado como condensador de desacoplo

dependen de la~ condiciones de carga del correspondiente centro de consumo.
Si hablamos de una tarjeta de circuito impreso con bloques digitales y analógi-
cos, la determinación del valor adecuado del condensador de desacoplo es un
problema con difl:cil solución por lo que se suele recurrir a valores más o me-
nos tipicos; en la mayorfa de los ca~os, un condensador electrolftico de 100 o
200 ~iF suele ser suficiente. El condensador se situará aliado de los terminales
de alimentación del circuito impreso (Figura 9.21). De todas formas, el diseña-
dor debe pensar que un exceso de capacidad no trae consecuencias graves (un
ligero aumento de costes) y siempre ayudará a reducir el consumo de corrien-
tes pul.santes y alternas. Mejor que sobre...
Condensador de desacoplo general

(100 11F)
Condensadores de
desacoplo locales
(100 nF)
uno por integrado
Figura 9.21. Sit uación de condensadores de desacoplo de ali mentación en una tarjeta de circuito
impreso: uno por cada centro de consumo (i ntegrado) de pequeño valor y uno más para el conjun·
to del sistema próximo a la conexión de entrada de alimentación.
Lo mismo que se dice a nivel de tarjeta de circuito impreso se puede decir a

nivel de circuitos integrados dentro de un circuito impreso. Cada uno de ellos
constituye un centro de consumo que puede llegar a ser problemático para el
resto de bloques de la misma PCB; por ello, cada integrado debe incorporar
un condensador de desacoplo lo más cerca que sea posible de sus terminales
de alimentación. Por lo general, un pequeño condensador de 100 nF de tipo
MKT o cerámico suele ser suficiente para absorber las posibles demandas de
consumo en alterna. En la Figura 9.22 se muestran algunas opciones de colo-
cación de tales condensadores.
Sin embargo, determinados integrados pueden presentar un consumo ele-
vado, como ocurre en el caso de microprocesadores y microcontroladores,
drivers y otros integrados que se usan en equipos electrónicos de potencia,
comparadores rápidos y ampliñcadores de alta frecuencia. Para estos disposi-
tivos, p uede requerirse un mayor valor de capacidad (1 o 10 ¡iF), pero este tipo
de advertencia~ suele formar parte de las recomendaciones que figuran en sus
hoja~ de características.
Los condensadores de desacoplo son básicos para conseguir estabilizar los va-
lores de tensión en las lfneas de alimentación y de masa y no utilizarlos pue-
de comprometer la.~ enracterí.~tiena instrumentales de los bloquea analógicos o
hacer que no funcionen los bloques digitales.
486
a Vcc
--- --- Vcc

a
a
a
a
--- --- a
GND a a
a a
a
Figura 9 .22. Colocación de los condensadores de desacoplo locales en el caso de circui tos inl e·
grados de tipo SMD (izqui erda) y de inserción (derecha) en relación con la huella (footpri nt) del
correspondiente circuito.
Reducci ón de los valores de las impedancias parásitas

Tanto la resistencia como la inductancia aparecen como factor multiplicador de
los efectos de las corrientes a la hora de computar las caidas de tensión. Por tanto,
una reducción de los valores de estos parásitos traerla con.~igo la correspondiente
di~ución de las cafdas de ten.~ón. La resistencia de un cable v.iene dada por:
l l
R = p - = 4p ---:-::e2
S rrD
donde l es la longitud del cable, D es su diámetro y p la resistividad del mate-

rial, en general, cobre. En las mismas condiciones, la inductancia de un con-
ductor cilindrico y recto viene dada por:
21
L = 2! · ( logD - ¡3)
Aunque la expresión se modifica cuando el conductor no está recto, caso habi-

tual en el cableado de sistemas, en esencia las dependencias son las mismas; por
ello, a la vista de estas expresiones, la longitud incrementa los problemas y la sec-
ción los disminuye por lo que los cables deberán ser cortos y del mayor diáme-
tro que sea postble. Esto es válido para todos los cables de alimentación y masa,
pero especialmente para esta última puesto que los efectos ahí siempre son má~
graves al .implicar errores y 1o pérdida de relación S/N de forma inmediata.
A nivel de circuito impreso se puede decir exactamente lo mismo, aunque las
expresiones anteriores no sean válida~ y se reemplazan por otras, apuntan en
la misma dirección: reducir longitud e incrementar sección. En líneas genera-
les, las pistas (tracks) de una PCB deben ser tan cortas y anchas como sea po-
sible para reducir sus parásitos resistivo e inductivo, pero esto cobra especial
importancia en las pistas de alimentación y resulta crítico en el caso de las pis-
ta~ de masa. De hecho la mejor solución para conseguir que las pistas de masa
sean anchas y cortas es emplear un plano de m asa (grou.nd pla.ne) que cubra
la totalidad del circuito. Dado que esto serfa incompatible con el trazado del
resto de la~ pistas, se recurre a dejar una capa exclusivamente para este fin.
Aunque las pistas de alimentación también deben someterse a las mismas con-
sideraciones, la importancia es un poco menor que en el caso de la masa. No
487
obstante, es práctica común en los si~temas instrumentales usar también una

capa completa para la alimentación, el plano de alimentación (power plnne).
En estas circunstancias, un diseño típico de doble capa para una PCB se trans-
formaría en una tarjeta de cuatro capas como la que se muestra en la Figura
9.23 (dos para pistas, una para plano de masa y otra para plano de alimenta-
ción) sin perjuicio de que en sistema9 complejos se precisen varias capas más
para las pistas o más planos de alimentación en el caso de disponer de varias
alimentaciones diferentes.
capa de cobre (pistas
Plano da alimentación
r-- Plano de masa
Capa de cobre (pistas bottom)
Figura 9.23. Estructura de una tarjeta de circui to impreso de cuatro capas (la escala vertical está
exagerada).
El uso de planos de alimentación y masa permite que las conexiones se rea-

licen de la forma más corta posible y con la máxima sección. Como ventaja
adicional, reduce el tiempo de desarrollo de la tarjeta de circuito impreso al
realizar las conexiones de alimentación y masa de todos los componentes me-
diante conexión directa al plano de masa a través del propio pad en los com-
ponentes de inserción o gracias a una vía (via) en el caso de dispositivos de
montaje superficial (SMD, Surface Mounted Device).
Reducci ón de la compartición de impedancia

La tercera actuación para reducir los efectos de la impedancia compartida es
evitar que pueda recibir este calificativo, es decir, tratar de que la~ impedancias
de los cables no se compartan entre diversos circuitos con lo que los efectos de
los consumos sólo afectarán al propio circuito y desaparecerá el efecto aditivo
que se observaba en el esquema de alimentación en bus de la Figura 9.17.
Para conseguirlo, una opción bastante eficiente es realizar un cableado en es-
trella de la alimentación, lo que se consigue mediante el uso de cables dedica-
dos para cada uno de los centros de consumo (Figura 9.24).
Fuente de
alimentación
tcc 1, 1,
1,
1,
l 1, 1
ov
Figura 9.24. Cableado en estrella de la alimentación para evitar comparti r las impedancias parási·
las de las lineas comunes de masa y alimentación.
488
Esta técnica, si bien complica y encarece el cableado, permite que cada co-
rriente de consumo sólo produzca caídas en sus propios cables y no en los de-
má~, lo que evita la aparición de la propia compartición de impedancia.
Un ca~o particular en el que el cableado en estrella de la alimentación es bá-

sico ocurre en las aplicaciones con varios puentes de medida, como ocurre en
la monitorización de esfuerzos dentro de estructuras complejas y de obra ci-
vil, sobre todo en la fa~e de construcción. Durante ese proceso es frecuente uti-
lizar varios puentes de galgas extensométricas que monitorizan el estado de
tensiones mecánicas y deformación de la estructura. Si la tensión de excita-
ción de los puentes se proporciona desde una misma fuente de alimentación,
las impedancias compartida~ causarían caída~ en esa tensión lo que se tradu-
ciría en una pérdida directa de sensibilidad del puente y en el correspondien-
te error. Para evitarlo se debe usar una alimentación independiente mediante
referencias de tensión estables, como la que se presenta en la Figura 9.25 para
una aplicación con dos puentes de medida.
Figura 9.25. Al imentación independiente para dos puentes de medida desde dos referencias est a·
bies de t ensión.
Más aún, si se quiere independizar completamente cada uno de los puentes, la

mejor opción es usar un amplificador ai~lado que genere una tensión de exci-
tación aislada para cada puente y que evite compartir impedancias con otros
canales de medida (Figura 9.26).
A nivel de PCB, el cableado en estrella sólo es posible mediante los planos de
ma~a y alimentación que pone a di~posición de la corriente todo el ancho de la
tarjeta de circuito impreso. La corriente tratará de minimizar la impedancia y
optará por circular por el camino más corto que sea posible, por lo que el pla-
no producirá una verdadera alimentación en estrella; los respectivos retornos
de la~ corrientes ocurrirán justo bajo (o sobre) el camino de ida, pero en el pla-
no de masa ya que este será el camino de núnitna impedancia (Figura 9.27).
489
>------1+
(SEC)
(1)
E
>------1+
(2)
Figura 9.26. Alimentación de dos puentes de medida mediante conexión aislada. Dos amplificado·
res aislados proporcionan la tensión de excitación del puen te.
Si se tiene en cuenta cómo circulan las corrientes de alimentación y los corres-

pondientes retornos por los planos de alimentación y masa se pueden extraer
algunas importantes conclusiones acerca de los planos de masa:
• Es importante evitar la ruptura de los planos de masa ya que eso obliga a
las corrientes a desviarse e incrementa los parámetros inductivo y resistivo
lo que implica errores y1o ruido. Del mismo modo, planos de masa que no
van a ningún sitio presentan una utilidad escasa desde el punto de vista de
mejorar los acoplamientos conductivos.
Vía de conexión al plano
de ma1sa
Vía de conexión al plano
de alimentación
..
Corriente de alimentación
R~t.?!~9 _de alimentación
Figura 9.27. El uso de los planos de alimen tación y masa permite una alimentación en estrella en
las PCB dado que la corriente siempre puede elegir el camino de m íni ma Impedancia.
490
• Se deben evitar los cuellos de botella para la circulación de corriente. Si

dos o más corrientes tienden a circular por la misma zona de los p lanos de
masa, comparten impedancia con lo que los problemas de perturbaciones
crecen.
• Se pueden separar zonas de una misma tarjeta mediante roturas de pla-
nos de masa y alimentación. Por ejemplo, se puede disponer de una zona
digital y una analógica separadas, con lo que las corrientes de alimenta-
ción de unas y otras no se mezclarán y; en consecuencia, no compartirán
impedancia. Esto obliga a que las alimentaciones de una y otra zona estén
obviamente separadas. No obstante esta opción debe ejecutarse con sumo
cuidado cuando hay señales que viajan de una zona a otra ya que los retor-
nos de las señales podrían verse obligados a recorrer distancias elevadas y
a compartir impedancia con otras señales.
9.3. ACOPLAMIENTO NO CONDUCTIVO
El acoplamiento no conductivo suele ser el que trae de cabeza a los diseña-

dores, dado que siempre está presente de alguna forma en todos los sistemas
y además, resulta menos predecible tanto cualitativa como cuantitativamen-
te. Se debe, fundamentalmente a la capacidad de las señales alternas de ge-
nerar campos eléctricos y magnéticos variables, susceptibles de generar
corrientes y tensiones en otros circuitos más o menos próximos. La última di-
ferencia con el acoplamiento conductivo es que la señal generada en la vícti-
ma será de alterna por lo que el efecto de la interferencia se traduce en ruido
con la consiguiente pérdida de la relación S/N y no supondrá la aparición de
errores.
9.3.1. CAMPO CERCANO Y CAMPO LEJANO
Si tenemos un circuito en el que hay algún tipo de fuente de alterna que

produce la aparición de tensiones y corrientes también alternas, en sus
proximidades se producirán campos eléctricos y magnéticos como conse-
cuencia directa de esas tensiones y corrientes. Estos campos son o pueden
ser independientes entre sf por lo que puede darse la circunstancia de que
exista uno, el otro o ambos. Además, se amortiguan rápidamente con la dis-
tancia (la amortiguación es proporcional, como mínimo, al cuadrado de la
distancia). Esta zona se suele denominar zona d e inducción y las condicio-
nes de los campos generados suelen englobarse en el término campo cerca-
no ( near field).
A una cierta di~tancia del punto de generación de la perturbación, los campos
eléctrico y magnético están relacionados entre sf y forman una onda electro-
magnética transversal (TEM, 'Iransverse ElectroMagnetic) como la que se repre-
senta en la Figura 9.28.
La :zona donde este tipo de ondas se producen se denomina :zona de radi a-
ción y el campo en ellas se conoce como campo lejano (jar field). En la zona de
49 1
rf
Campo magnético
1
H X
Campo eléctrico
E
Figura 9.28. Campo electromagnético formado por ondas TEM.
radiación el campo eléctrico y magnético están relacionados por medio de un

parámetro que depende del medio de propagación y que se denomina impe-
dancia característica o impedancia intrínseca:
E
z= H [.!1]
En un medio no conductor y en condiciones de campo lejano, el valor de la

impedancia característica es de:
Z=~
Zona de radiación
Zona de
inducción
CAMPO
LEJANO
CERCANO
3·2
r lgura ~-2~. campo cercano y l ejano en los alrededores de una tuente de interferencias. La zona
de transición no est á bi en definida sino que el cambi o es gradual.
492
TEMA 9. IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXTERNO ••
En el caso del vado, se suele denominar 2 0 y su valor aproximado es de 377 Q.

Las zonas que se consideran de inducción y radiación no presentan una fron-
tera clara sino que aparece una zona difusa situada a una distancia que de-
pende de diversas circunstancias de la fuente, pero que de forma aproximada
puede considerarse que el campo es lejano más allá de tres veces la longitud
de onda de la señal. En la Figura 9.29 se muestra una fuente de interferencias
y las zonas correspondientes al campo cercano y al lejano.
En condiciones de campo cercano, las interferencias producidas se deberán al
campo eléctrico o magnético de forma clara y, aunque ambas se produzcan de
forma simultánea, dado que no habrá relación entre ellos podrán considerarse
por separado. Por tanto, en el caso de interferencias por campo cercano habla-
remos de acoplamientos capacitivos (debidos al campo eléctrico) y 1o acopla-
mientos inductivos, debidos al campo magnético.
La longitud de onda, 1, depende de la frecuencia, f, de la señal de que se tra-
te, según:
e
1= -
f
donde e es la velocidad de la luz. Para hacernos una idea de qué se conside-
ra campo cercano y qué campo lejano, consideremos una señal de "baja fre-
cuencia" como, por ejemplo, lOO kHz. La longitud de onda correspondiente
resultará de 3 km luego las consideraciones que habrá que hacer serán las de
campo cercano en la totalidad de los casos. Sin embargo, si se trata de evaluar
la perturbación que produce una fuente como la que puede constituir tm telé-
fono móvil (hasta más de 2 GHz), la longitud de onda correspondiente será de
unos 15 cm lo que significa que, a poco que el teléfono no esté situado encima
del circuito víctima, la interferencia deberá ser considerada como producida
por campo lejano, es decir, una perturbación por acoplamiento electromag-
nético.
Si analizamos las causas de interferencia9 en los sistemas de instrumentación,
podemos clasificarlas según la frecuencia de las fuentes que las originan y, en
función de ella~, cómo deberán considerarse:
• Señales de baja frecuencia (por debajo de 10 MHz): red eléctrica, equipos
eléctricos y electrónicos de potencia, aparellaje eléctrico, transitorios en sis-
temas de potencia, perturbaciones de origen mecánico, sistemas analógi-
cos y digitales de baja frecuencia. En estos casos, las longitudes de onda
son muy grandes por lo que siempre se consideran bajo las condiciones de
campo cercano y los acoplamientos predominantes serán los capacitivos e
inductivos.
• Señales de muy alta frecuencia (más de 1 GH z): aquí nos encontramos con
sistemas de comunicación y equipos de microonda9; el campo generado por
ellos será predominantemente electromagnético en cuanto nos separemos
unos centímetros de la fuente, por lo que en la mayoría de los casos se es-
tará bajo las condiciones de campo lejano y las perturbaciones serán por
acoplamiento electromagnético.
• Entre 10 MHz y 1 GHz las señales pueden tener una considemdón variable.
En este grupo caen la mayoría de los equipos informáticos y muchos equi-
493
El horno microondas pos de comunicaciones; sus longitudes de onda recorren un amplio abanico
La ractiación absorbida produce desde los 30m de los si~temas que trabajen a 10 I.\IIH.z hasta los 30 cm de los
calor puesto que es una energía que lo hagan a 1 GHz, por lo que la consideración de campo cercano o leja-
que pasa desde el emisor al re- no dependerá de la distancia entre la fuente de perturbación y la víctima.
ceptor.
En cualquier caso, para una fuente de interferencias concreta a una distancia
Ese principio se usó para el di- determinada de la v íctima, el tipo de acoplamiento que se deberá considerar
seño del primer horno microon- dependerá de la frecuencia de las señales que maneje esa fuente.
das, basado en emplear señales
de muy alta frecuencia (muy A continuación, consideraremos los dos modelos de acoplamiento de campo
energéticas) que son absorbidas cercano, es decir, los acoplamientos capacitivo e inductivo.
por el trozo de tortilla que que-
remos recalentar (por ejemplo).
La idea es sencilla, sobre todo 9.3.2. ACOPLAMIENTO CAPACITIVO
cuando observamos el aparato
que hay en la mayoría de las El acoplamiento capacitivo es un tipo de acoplamiento de energía emitida por
cocinas, pero su nacimiento fue una fuente que genera un campo eléctrico variable y que puede afectar a cual-
casual: surgió en la empresa quier circuito en las proximidades debido a que entre cualesquiera dos con-
Raytheon mientras se ensayaba ductores separados por un medio ai~lante siempre se puede considerar una
con magnetrones para la pro- cierta capacidad (Figura 9.30).
ducción de microondas para
No obstante, no siempre se puede recurrir a separar la fuente de la víctima por
sistemas de radar. Percy Spen-
cer observó que el chocolate se lo que deberemos comprobar cómo se comporta este modelo de acoplamien-
derretía durante los ensayos con to para poder establecer las medidas oportunas para atajarlo. Consideremos
el magnetrón. Enseguida pro- el modelo de la fuente de la Figura 9.31 que maneja una tensión VS' acoplada
bó con unos granos de maíz y... mediante una capacidad C5v con la víctima.
¡unas rica• palomitas!
Conductor 1 Conductor 1
Del primer equipo, de casi 100
kg de peso y con un precio de
5000 dólares, al actual sólo hay
dlversos pasos de mejora tecno-
lógica y una buena industriali-
zación. Hoy suelen trabajar en
los alrededores de 2,45 GHz y Conductor 2 Conductor 2
son una buena solución para un
calentamiento muy eficiente. Figura 9.30. Equivalente capaci tivo entre dos conductores cual esquiera.
Sabemos que la capacidad depende del medio ai~lante (lo habitual es que sea
el aire), de la superficie de "las placas" (crece con el área) y de la distancia en-
tre ellas (disminuye con ella), por lo que, en cuanto separemos suficientemen-
te la víctima de la fuente, el acoplamiento se hará tan pequeño que podrá ser
despreciado.
Fuente Csv
Fuenie Vfclima
v rctima
Rs Cs
Rv
i;f"Cs
R_l
I I
Figura 9.31. Equivalente de un acoplamiento capaci tivo entre fuente y víctima.
494
La tensión que se induce en la víctima debida a la fuente vendrá dada por:

jwRvCsv
VvN =
1 + jwRv(Cv + C5 v)
liS
Un ejemplo sencillo
El módulo de la tensión inducida sobre la víctima se representa en la Figura Seguro que alguna vez hemos
9.32. Como se puede observar, a bajas frecuencias, la tensión producida es cre- tocado la punta de la sonda del
ciente con la frecuencia y corresponde a un modelo de fuente de corriente de osciloscopio con el dedo y se-
valor cuC5vVs que desarrolla una tensión sobre la impedancia 1~. guro que nos ha sorprendido la
tensión que vemos en la panta-
Por encima de la frecuencia del polo, el modelo corresponde a una fuente de lla: decenas o, incluso, alguna
tensión que depende del divisor capacitivo. Sea cual sea el modelo final, lo centena de voltios.
que sí está claro es que la interferencia es mayor cuanto mayor sea la tensión ¿La producimos nosotros? Ob-
de la fuente y menor la distancia entre esta y la v íctima (menor la capacidad viamente, en cuanto comprobe-
parásita Csv). mos la frecuencia de tal señal,
Una gran cantidad de interferencias por acoplamiento capacitivo tienen como que coincide con la de la red
origen la red eléctrica por dos motivos: en primer lugar, su tensión es relativa- eléctrica, deberíamos pen~ar que
no. ¿Cómo llega ahí? y, sobre
mente alta, incluso en las distribuciones domésticas de baja tensión y, en se-
todo ¿por qué es tan alta? ¿No
gundo lugar, la red se suele extender por la mayoría de las paredes, suelos deberiamos retorcernos, vícti-
y techos, de modo que las di~tancia~ siempre son pequeñas. En tales casos y mas de una descaxga eléctrica?
como quiera que la frecuencia es muy baja (50 o 60 Hz), predominará el mode-
La respuesta es muy sencilla y
lo de fuente de corriente en la mayoría de las oca~iones. se debe a una interferencia ca-
pacitiva: somos conductores
1 VVNil (buenos conductores en el in-
terior, con una resL~tencia muy
oJ CsvVs baja) con lo que formamos W'la
¡--{:=¡EJ----f:~-i .....- capacidad con la red eléctrica y
•• no solemos u descalzos con lo
que estamos aislados de tierra
•' •••• ••
: Rv • mediante la suela de los zapa-
••
•' tos, calcetines, medias o lo que
•' '' sea. Ahi está el segundo conden-
••••• • (rv) ¡ Rv sador.
Vícti.ma Csv V !
Cv+ Csv s :
L--~.-'
.......
Víctima
lag f
Figura 9.32. Modelos de acoplamientos capacitivos según la frecuencia de la fuente de interfe·

rencias.
El acoplamiento capacitivo produce sefiales que afectan a la totalidad de los

conductores de los circuitos víctima, especialmente a aquellos que no se en-
cuentran conectados a masa sino que mantienen una alta impedancia respec- ¿El resto? Pues un divisor capa-
to de ella (Rv elevada). Entonces, el ruido que se genera tiene características citivo. Sl jugamos a acercar la
de modo común y un ejemplo de sus consecuencias puede verse en la Figura mano a los enchufes (sin tocar-
9.33 en la que se muestra un amplificador no inversor realizado con un ope- los, claro), levantar un pie del
racional. suelo, subirnos en un trozo de
aislante, etc., observaremos que
Como se puede observar, los dos terminales de entrada del operacional están lo tensión en el dedo oube o boja
situados a una impedancia relativamente alta (I\n 11 R'V'I 11 R"V'l), por lo que en función de cómo se modifi-
la fuente de corriente de ruido de la interferencia causará la aparición de un que el divL~or capacitivo.
495
Cortocircuito virtual
R'v1
Figura 9.33. La fuente de interferencia Vs sólo afecta a la entrada (ambas, en modo común) puesto
que la salida t iene muy baja impedancia. Bastaría con reduci r la resistencia R'YI para reducir el
efecto del acopl amiento capaci tivo.
ruido de modo común que el di~positivo llevará a su salida en función del va-
lor de su CMRR. Si la fuente de entrada estuviese conectada directamente y su
impedancia de salida fuese muy baja, la fuente de corriente de ruido no desa-
rrollaría tensión de ruido ya que estaría cortocircuitada por ella. Ese es el mi~
mo motivo por el que la fuente de ruido no produce tensión alguna sobre la
salida ya que se encuentra cortocircuitada por la propia fuente de tensión del
operacional.
En el caso de una topología inversora, como arribas entradas están a masa (la
inversora, de forma v irtual), la fuente de corriente de ruido no desarrollaría
ruido sobre ellas.
Pero no siempre estamos en estas situaciones, e incluso en ellas, pequeñas re-
sistencias pueden ser suficientes para que aparezcan tensiones de r uido que
llegan a ser importantes en función de la aplicación. Podemos imaginar el caso
de los sistema~ de audio, donde los estándares habituales manejan objetivos
superiores a los 100 dB de relación S/N y en Jos que tensiones muy débiles
pueden dar al traste con ese objetivo.
El acoplamiento capacitivo se produce en cualquier punto de un circuito, pero
adquiere mucha mayor importancia en los cables que conectan sistemas entre
sí dada su mayor longitud y por ello, el mayor valor de la capacidad parási-
ta Csv· Si hemos hablado de diversas fuentes de interferencias como ejemplos
típicos, Jo cierto es que se puede decir que los cables que transmiten señales
constituyen la víctima por excelencia.
Otro ejemplo típico de acoplamiento capacitivo se pone de manifiesto en la
diafonía (crosstalk o XT) en la que un circuito de señal interfiere a otro circui-
to de señal por su proximidad a lo largo de un buen trecho. Suele concurrir
también un acoplamiento de tipo inductivo, que se estudiará en el próximo
apartado. En este caso, las tensiones implicada~ no son elevadas, pero las fre-
cuencia~ pueden serlo, de modo que podemos estar en cualquier ZQna del dia-
grama de la Figura 9.32.
T.a rliafonfa ~"'pone de manifiegto en el ra.• o de c:ondurtores ron ~P.fíale,:: dif<'-
rentes que di~curran juntos, como ocurre entre los hilos conductores que for-
man parte de un mi~mo cable o entre pi~ta~ paralelas en una PCB (Figura 9.34).
496
R12
Figura 9.34. Interferencia entre dos pistas próximas (diafonía) en una PCB.
En el caso de dos pistas que circulen paralelas en una PCB, el efecto viene de-
terminado por los parásitos capacitivos entre ellas y las resistencias entre esas
pistas y ma~a. Con un plano de masa, el aspecto que presentaría el conjunto
de dos líneas sería el que se muestra en la Figura 9.35.
d
Pista 1 Pista 2
h Aislante
Plano de masa
Figura 9.35. Corte transversal de un circuito impreso con dos pistas próximas sobre un plano de
masa.
En estas condiciones, considerando la pista 1 como fuente y la pista 2 como D ouglas Brooks nació en Sea-
víctima y si el valor la resistencia R,¡ es suficientemente grande como para es- ttle (EE.UU.) y en la actualidad
tar en la zona más allá del polo (Figura 9.32), la tensión que se induce será ma- es presidente de la empresa Ul-
traCAD Design lnc. Licenciado
yor cuanto más cerca estén la~ pista~ y menor cuanto más cerca se encuentren
en Electró1úca por la Uruversi-
del plano de masa. La tensión que cada una induce en la otra viene dada por:
dad de Stanford, es considerado
como la imagen de un auténtico
gurú del diseño de circuitos im-
presos para garantizar la inte-
gridad de las señales.
Desde su paso por Mentor Gra-
Donde k es una constante que depende de las propiedades dieléctricas del ai~ ph.ics has ta la actualidad ha
lante del circuito impreso, del espesor del cobre y de la anchura de las pista~. publicado una serie de artícu-
En el caso de dos conductores que viajen juntos en un mismo cable ocurrirá los sobre el diseño de circtútos
algo parecido y lac; expresiones tendrán un aspecto similar. impresos, con las directrices
apropiadas para evitar los prin-
Dado que tanto en las PCB como en los cables lac; señales de potencias distin- cipales problemas ocasionados
tas no suelen estar mezcladas, lo normal es que la diafonía se produzca entre por los ruidos. Es autor de dos
fuentes y víctimas del mismo rango energético, lo que implica que la interfe- libros sobre este tema y recien-
rencia será mutua y cada uno de los conductores sufrirá la perturbación del temente ha publicado lecciones
otro, con lo que lac; señales aparecerán como mezcladas. de diseño en vivo mediante un
vídeo de más de siete horas de
Para atajar el efecto de los acoplamientos capacitivos, sean del tipo que sean,
duración.
hay varias opciones encaminadas a reducir el propio mecanismo de acopla-
Lo. foto incluido v los datoo bio
miento o bien a conseguir que las seii.ales resulten insenc;ibles al ruido produ- -
gráficos han sido cedidos por
cido.
UltraCAD Design lnc.
497
Uso de señales diferenciales

Dado que el acoplamiento capacitivo se produce fundamentalmente en
modo común, el hecho de emplear señales diferenciales permite reducir su
efecto sobre estas. Consideremos una señal referida a masa que se trans-
mite entre el origen y el destino, donde es recibida por un amplificador
con una elevada impedancia de entrada para reducir caídas de tensión en
la línea (Figura 9.36a). La aparición de una interferencia por acoplamiento
capacitivo genera una fuente de corriente (suponemos que estamos por de-
bajo del polo de la Figura 9.32) capaz de desarrollar una tensión de ruido
que se añade directamente a la señal del sistema y que produce la corres-
pondiente caída de la relación S/N. Si la señal es V, la relación resultante
será:
V
SfN=20log R C V.
W V SV S
Donde ]\. es aproximadamente la impedancia del cable más la de salida de la

fuente, es decir:
Csv
Ro Rw
Figura 9.36. In terferencias sobre señales referidas a masa (a) y diferenciales (b).
Si, por el contrario, se emplease una señal diferencial (Figura 9.36b) para
transmitir la información y se situase un amplificador diferencial a la llegada
(también con ganancia unitaria), la tensión de ruido en modo común sería si-
milar al caso anterior siempre que se mantuviesen los valores de los parásitos.
Esa tensión aparecería en ambas entradas del amplificador, pero este reduciría
su valor en la salida en función de la CMRR; la tensión de ruido que se mos-
traría en la salida VoN resultaría ser:
498
Donde la impedancia Rves aproximadamente RG. Si ahora comprobamos la re-

lación S/N a la salida del amplificador nos encontraríamos con:
En otras palabras, la relación S{N debida a los acoplamientos capacitivos se in-

crementa en el valor del CMRR (en dB); sin embargo, hay que tener en cuenta
que los valores de ~en las expresiones para la señal referida a masa y para la
diferencial no son iguales y bien puede ocurrir que la mejora no resulte tan gi·
gantesca como parece en un principio.
El uso de señales diferenciales es frecuente en la transmisión de la informa- La jaula de Faraday
ción ya que, según vemos, la información resulta mucho más inmune a la apa- Se trata de una envolvente de
rición de las interferencias capacitivas. Uno de los ejemplos más típicos del material metálico inventada por
uso de señales diferenciales en la tranc;misión de información es el del cono- el científico británico M ichael
cido protocolo USB (Universal Serial Bus), aunque existen más casos en el ám- Faraday en 1836. que consigue
bito industrial como el del protocolo RS-485 (TIA-485A o EIA 485) que resulta frenar el efecto de Jos campos
eficaz para el trabajo en entornos relativamente agresivos desde el punto de eléctricos deb ido a la capaci-
vista de las interferencias y que permite alcanzar distancias de enlace superio- dad de los conductores de po-
larizarse en función del campo
res a 1 km.
aplicado de forma que aparece
En el contexto de la Electrónica Analógica el uso de señales diferenciales no oro igual y de sentido contrario
es habitual salvo en equipos de altas prestaciones, como algunos sistemas de que anula el campo total en el
audio, aunque sf suele ser una forma muy habitual de trabajo en el contexto interior.
instrumental, donde bastantes sensores producen señales de este tipo. En este Los conductores en general no
sentido, los puentes de medida tanto en continua como en alterna constituyen sufren efectos apreciables ante
un típico ejemplo. campos magnéticos que varíen
lentamente o que sean fijos, de
modo que la jaula de Faraday
Apantallamiento (shielding) no tiene efecto alguno sobre
ellos; sin embargo, las ondas
Los campos eléctricos no pueden atravesar las superficies equipotenciales, es
electromagnéticas, compuestas
decir, superficies que se mantienen a una tensión constante. Esta propiedad
por un campo eléctrico y otro
se usa para apantallar el campo eléctrico y evitar que afecte a los conducto- magnético variables y relacio-
res. Supongamos el caso genérico de una fuente de interferencias que afecta- nados entre si sufren o pueden
ba por acoplamiento capacitivo a una víctima a la que queremos proteger)', sufrir importantes atenuaciones
para ello, la situamos dentro de una superficie equipotencial como en la Fi- en las jaulas de Faraday por lo
gura 9.37. que se usan como blindaje fren-
te a interferencia~.
Mecanismo de
V ICT IMA
-
Figura 9.37. Protección de la víctima frente a interferencias mediante una superficie equipo·
tencial.
499
En estas circunstancias, el circuito equivalente formado deriva hacia la fuente

de tensión constante cualquier señal que pueda inducirse, con lo que el inte-
rior queda protegido de las interferencias externas.
Esta técnica se usa para proteger los conductores de los circuitos y de los ca-
bles mediante una pantalla (shield). Los cables se suelen proteger mediante
pantallas formadas por una malla conductora (braided screen) y 1o mediante
una lámina metálica ifoiled screen) que, por lo general se conecta a masa.
Según veremos en el siguiente apartado, lo habitual es enviar las señales de
instrumentación mediante pares trenzados (twisted pairs) ya que eso reduce el
efecto de los acoplamientos inductivos; teniendo esto en cuenta, lo habitual es
apantallar pares completos mediante alguna de las dos técnicas antes indica-
das. De esta manera, cuando se usa malla conductora o lámina metálica como
apantallamiento, lo normal es indicar que se trata de un par trenzado apanta-
llado y se denominará STP (Shielded 'I'wisted Pair) cuando u.~a malla o FI'P (Foi-
led Twisted Pa.ir) cuando se utiliza lámina conductora; en caso de no emplear
ningún tipo de pantalla, el cable se denomina UTP (Unsh.ielded Trvisted Pair)
(Figura 9.38).
UTP
par trenzado
Figura 9.38. Tipos de pares trenzados en función del tipo de pantalla: UTP (sin pantalla), STP (con
trenzado metálico como pantalla) y FTP (lámina metálica como pantalla).
Un cable de tipo STP o FTP con la pantalla bien conectada a masa es una bue-
na garantía contra los acoplamientos capacitivos, pero para evitar que haya
zonas de cable expuestas a los campos eléctricos sobre las que podrían aco-
plarse ruidos, se debe procurar usar una buena conectorización en los ex-
tremos del cable que, en la medida de lo posible, proporcione algún tipo de
apantallamiento en los conectores.
El funcionamiento de la pantalla como protección depende de que no presen-
te abertura~ y de que esté realmente conectada a tensión constante (masa, O V
en ca~i todos los casos) por lo que la mejor solución serfa conectar la pantalla a
ma~a en cuantos puntos sea posible para conseguir que cualquier interferencia
no circule por la pantalla y contribuya a crear caidas de tensión que termina-
rían afectando al interior. Si planteamos el equivalente eléctrico de acoplamien-
tos capacitivos en un cable apantallado sometido a un campo eléctrico externo,
nos encontraremos con un circuito como el que se muestra en la Figura 9.39.
En el contexto de los sistemas de instrumentación es frecuente la necesidad
de manejar más de una señal, para lo que existen cables con varios pares tren-
zados, uno por cada señal a manejar. En tal caso, se puede optar por apanta-
llar sólo el conjunto y, de esa forma, proteger toda~ las señales frente a campos
eléctricos exteriores, o apantallar cada par trenzado de forma individual, con
lo que, además, se evitan las influencias mutua~ que dan lugar a la diafonía; fi-
nalmente, e~ posible tomar ambas precauciones, y así se consigue la mejor de
las soluciones (y la más cara).
500
TEMA 9 . IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXT ERNO • •
Fuente de
interferencias CsF
Par trenzado
CsF
Corriente de ruido
Figura 9.39, Comportamiento de un cable FTP/STP con la pantalla a masa fren te a las interferen·
cias capacitivas.
La norma ISO/IEC 11801 denomina al conjunto de los cables mediante un

identificador X/YTP, donde X indica el apantallamiento del conjunto e Y, el
apantallamiento individual de cada par trenzado. Así, un cable S/FTP tendría
un apantallamiento individual para cada par trenzado mediante lámina con-
ductora y un apantallamiento exterior mediante malla. En la Figura 9.40 se
muestran las secciones de algunos de estos cables.
Protección +
U/UTP S/UTP 5/FTP F/FTP
Malla exterior Lámina individual

Lámina exterior
Figura 9.40. Algunas denominaciones comunes de cables: de menor a mayor protección con tra los
campos eléctricos externos. U/UTP, S/UTP, S/FTP, F/ FTP. l os dos úl timos casos resultan eficaces
contra la diafonfa.
La mi~ión de la pantalla es derivar a masa las corrientes de ruido lo antes po-

s ible, por lo que sería bueno conectar la pantalla a masa en el máximo nú-
mero de puntos que se pueda, con lo que se lograría una auténtica superficie
501
equipotencial; sin embargo, esto no resulta práctico y se recurre a una cone-

xión a masa sólo en los dos extremos. A modo de ejemplo, en la Figura 9.41
se muestra una conexión recomendable para un si.~tema de transmisión de se-
ñales de instrumentación compuesto por dos pares trenzados que comunican
dos equipos.
Cubierta pléstica
GND {pantalla seña11 )

SEÑAL 1
GND (retorno señal1 )
GND (retorno seHal 2)
SEÑAL2
GNO (pantalla señal 2)
GND (pantalla general)
Partrenzado
Figu ra 9.41. Conexionado com pl eto de un cable F/FTP con dos pares trenzados que envfa dos
señales de un circuito a otro.
Aunque pueda parecer que las corrientes de retorno de sefial podrían circu-
lar por la(s) pantalla(s), eso no ocurre en la práctica puesto que el campo mag-
nético que genera la corriente de ida tiende a inducir una corriente de retomo
por el lugar más próximo, que es el otro conductor del par trenzado (Figura
9.42). Por tanto, aunque las pantallas estén conectadas en ambos extremos, los
retornos circulan por el otro conductor del par trenzado y la pantalla sólo tie-
ne como misión derivar a masa las corrientes de ruido.
1 1
CsF
Corriente de ruido
Figu ra 9.42. Funcionami ento de un par trenzado apantallado: la corriente de señal, 1, tiende a
circular por el par trenzado. tanto en la ida como en el retorno. m ientras que la corriente de ruido
por acoplamiento capaci tivo se deriva a masa por la pantalla.
Apantallar los cables de señal reduce el riesgo de que sean alcanzados por
los campos eléctricos externos, pero esta misma receta sirve para evitar que
cables que puedan ser potenciales fuentes de perturbaciones proyecten sus
campos eléctricos hacia el exterior, con lo que se reduce el riesgo de inter-
ferencias. Del mismo modo, algunos bloques susceptibles de actuar como
fuentes de interferencias se pueden incluir dentro de envolventes metálicas
conectadas a masa, de tal modo que las interferencias que produzcan por sus
campos eléctricos no podrán salir de la envolvente y no perturbarán al resto
de los circuitos.
502
En líneas generales, utilizar envolventes metálicM conectadM a una tensión

fija (habitualmente tierra) para equipos, bloques o sistemas electrónicos ac-
túa como una protección doble: de un lado reduce el riesgo de que los campos
eléctricos puedan acceder al interior de la envolvente y, de otro, evita que los
campos eléctricos que ellos generen puedan afectar a los demás.
El apantallado a nivel de circuito impreso es un poco más complejo, pero tam-
bién resulta menos crítico, habida cuenta de que las longitudes de las pistM
suelen se.r mucho menores que las longitudes del cableado. Se.rfa posible un
apantallamiento razonable usando planos de masa o de alimentación, lo que
obligaría a trazar las pi~tas por las caras interiores de las PCB mientras que los
planos de masa y alimentación quedarían en las dos caras exteriores. Esta so-
lución resulta muy poco práctica y no se usa nunca puesto que optar por ella
significaría que para situar cualquiera de los componentes habría que romper
la continuidad de los planos y para conectar sus terminales con las pi~tas que
se quieren proteger habría que abrir muchas vías. Esto haría que el plano de
mMa no fuese tal ya que estaría repleto de aberturas y taladros lo que lo hace
escasamente operativo.
Sin embargo, el plano de masa sí que permite apantallar (al menos en un sen-
tido) por lo que tiene una utilidad aceptable en el caso de proteger las señales
en la PCB. De ser necesario un apantallamiento más intenso, bien sea porque
en las cercanías exista alguna fuente de interferencias importante bien porque
las sefiales resultan muy débiles y, por tanto, sensibles, deberá recurrirse a em-
plear envolventes metálicas conectadas a masa que encierren esas partes tan
delicadas (Figura 9.43).
Envolvente metálica
(CUbr& lóll blóq
Vs
Figura 9.43. Protección de bloques sensibles y de muy baja potencia frente a acoplam ientos capa·
cit ivos mediante envolventes metálicas conectadas a masa. El p lano de masa completa la protec·
ción bajo el circuito impreso.
9.3.3. ACOPLAMIENTO INDUCTIVO
El otro mecanismo de acoplamiento no conductivo en campo cercano es el in-

ductivo, debido a los campos magnéticos que generan las fuentes de interfe-
rencias y que producen tensiones sobre cualquier espira según las leyes del
Electromagnetismo: la fuente de interferencias sería cualquier conductor por
el que circula una corriente variable ya que esa corriente producirá un campo
magnético variable alrededor del conductor; si ahora consideramos un circui-
to en las proximidades (víctima) que ocupe un área determinada como el de la
Figura 9.44, el campo magnético generado inducirá sobre el circuito una ten-
sión VVN que viene determinada por:
503
d<P
VvN=-
dt
Figura 9.44. Campo magnético interactu ando con el ci rcuito vícti ma, que ofrece un área S formada
por el lazo por el que se ci erra la corriente.
Donde <1> representa al flujo magnético en esa superficie que viene determina-
do por:
Donde B es el campo y S, la superficie del circuito. Como el propósito del

análisis que haremos es fundamentalmente cualitativo, con vistas a identificar
causas, consecuencia~ y a paliar el efecto de este tipo de acoplamientos no re-
curriremos a un tedioso cálculo sino que supondremos que el campo es per-
pendicular a la espira y uniforme, con lo que el flujo será el producto de By S.
Entonces, la tetLqión inducida será:
dB
VvN=S -
dt
En líneas generales, sin tener en cuenta que B sea proporcional a la superficie

o que sea uniforme en toda ella, se puede concluir una expresión similar pero
que incluirá un factor de minoraciórL
Si ahora tenemos en cuenta que el campo magnético creado por una corriente
rectilínea indefinida a una distancia x del conductor es, de acuerdo con la ley
de Biot-Savart, desarrollada por dos científicos franceses, el físico Jean-Baptis-
te Biot y el médico Felix Savart en 1820:
fio · 1
8 = ::--:--
2rr·x
La tensión inducida será, siempre que no haya movimiento relativo entre la

fuente y la espira víctima:
fio·Sdl
11, - -
VN - 2rr · xdt
504
Con una corriente senoidal I = I.,,,,;sin(rot), la tensión inducida será:
J.lo · S · lmáx · W
VvN = cos(wt)
2rr·x
Las consecuencias desde el punto de vi~ta de la~ interferencia~ son inmediatas:

• A mayor corriente en la fuente de interferencias, mayor será la perturbación
producida sobre la víctima.
• La perturbación también será mayor cuanto mayor sea la frecuencia de la
señal.
• La perturbación se amortigua con la distancia entre la fuente y la víctima.
• Cuanto mayor sea el área de la espira, mayor será la señal inducida y, por
tanto, mavor la interferencia.
'
La~ tres primeras consecuencias son similares a las que se podían extraer en
el caso de interferencia~ capacitivas y no se suele poder actuar mucho sobre
ellas, pero la última indica la importancia del área que ofrece el circuito vic-
tima. Tal área está definida por el camino que recorre la corriente desde que
sale del origen, alcanza el destino y retorna y se denomina área de bucle (loop
a.1·ea).
Las interferencias inductiva~ crecen a medida que crece el área de bucle. luego
el objetivo de minimizarlas pasa por reducir este factor.
Reducción del área de bucle

Aunque este propósito parece sencillo, en determinadas ocasiones se convier-
te en complejo, cuando no es fácil precisar cuál es el circuito completo que
define el área de bucle puesto que el retorno de la señal no siempre está espe-
cificado con claridad.
Cuando se trata de cables que conectan circuitos o sistemas, las distancias
pueden ser grandes y, en consecuencia, cualquier separación entre la ida y el
retorno puede generar un área de bucle realmente grande, con la consiguiente
recepción de interferencia~ por acoplamiento inductivo. En estas situaciones
es básico conseguir que el cable de ida y el retorno estén próximos por lo que,
de forma habitual, para enviar las señales se usan pares de hilos (pairs) que
van muy próximos entre sf y nunca conductores individuales ya que se pro-
ducirá una indefinición en el retorno que puede provocar el crecimiento in-
controlado del área de bucle (Figura 9.45).
Cuando el envío de señales se realiza con un conductor (mico aparece un ries-
go adicional debido a que el retorno puede ocurrir por caminos compartidos
lo que puede producir la aparición de interferencias conductivas por impe-
dancia compartida.
En el caso de circuitos impresos, resulta mucho más complejo definir a prüJ-
ri el camino de retorno puesto que las señales entre dos puntos no suelen en-
viarse junto a su retorno ya que eso haría muy difícil el trazado de las pista~;
esto hace que el retorno ocurra por masa por lo que se pueden generar áreas
de bucle importantes para abrir las puertas a los acoplamientos inductivos (Fi-
gura 9.46).
505
Emisor Receptor
Corriente
Retomo
Conexión de masa
Área ele bucle

Emisor Receptor
Con.xión d• ""'""' R•torno
Figura 9.45. Cableado de una conexión para envío de una señal entre emisor y receptor: cuando
se usan dos conductores m uy próximos (arriba), el retorno ocurre por uno de ellos y el área de
bucle es muy pequeña; cuando el envío se hace por medio de un único conductor el retorno ocurre
por masa y esto no siempre puede controlarse, por lo que las áreas de bucle generadas pueden
resultar muy grandes.
Área de bucle
Figura 9.46. Area de bucle elevada en una PCB por un mal diseño de las pistas para erwiar la señal
y/o la de masa.
Posición previa
Área de bucle
Figura 9 .47. Mejora del diseno del caso de la Figura 9.46 mediante reducción de la distancia entre
el emisor y el receptor (arriba) o mediante la disposición de una pista específica pa ra el retorno
de la senal.
506
TEMA 9 . IN TERFERENCIAS Y RUIDO EXTERNO •
Un trazado cuidadoso de las pistas de masa puede ayudar a la reducción

del área de bucle y evitar situaciones como la de la Figura 9.46, pero no
siempre es posible. Otra opción siempre deseable es tratar de reducir la dis-
tancia entre los componentes del circuito, lo que trae como consecuencia no
sólo la disminución del área de bucle sino la bajada de costes al reducir el
área total del circuito impreso. En la Figura 9.47 se muestran estas dos op-
ciones.
Con todo, la mejor opción es el empleo de un plano de masa que cubra com-
pletamente la superficie del circuito. Con este plano de masa, el retorno
de cualquier sefial ocurrirá bajo la pista de la señal de ida ya que el campo
magnético generado por esta tratará de forzar la aparición de una corriente
inversa por el conductor más próximo que resultará ser el plano de masa (Fi-
gura 9.48).
Reltort1o por plano de masa
Figura 9.48. Uso del plano de masa para el retorno de la señal con lo que el área de bucle se re·
duce a la mínima expresión.
A pesar de las \rentajas que el plano de masa supone para la reducción del
área de bucle y en consecuencia, del acoplamiento inductivo, el diseñador
deberá evitar algunos errores frecuentes en el disefío como la ruptura del
plano por conectores e hileras de contactos pasantes; en caso de no poder
evitar la ruptUia, se deberá evitar pasar pistas entre los pads para impe-
dir que el retomo de la señal produzca un área de bucle importante (Figu-
ra 9.49).
ReiX>mo -......;>e
c.-.doldo - - l i' -.Jtl'
PlANO DE MASA
Figura 9.49. Area de bucle producida por ruptura del plano de masa y diseño correcto.
Otro error frecuente es la disposición inadecuada de los condensadores de

desacoplo de alimentación (Apartado 9.2.2). Generar áreas de bucle elevadas
puede traer consecuencias graves como la inducción de tensiones por acopla-
miento inductivo en las pistas del circuito alimentación-masa lo que acarrea-
ría ruidos en la totalidad del circuito.
507
Auto-compensación del área de bucle

Esta es la opción más frecuente para reducir el efecto de las interferencias por
acoplamiento inductivo en los cables y se lleva a cabo mediante el trenzado de
los conductores de ida y retorno (Figura 9.50).
VvN VvN
Figura 9.50. Compensación de las tensiones generadas en las áreas de bucle mediante par tren·
zado: cada pequeña área produce una t ensión sim ilar a la de al lado, pero de signo cont rario, de
modo que se compensan. Como máximo, quedaría sin compensar una de ellas en caso de que el
número de trenzados fuese impar.
El efecto del trenzado es doble: primero, disminuye el área de bucle, con lo

que los acoplamientos inductivos se reducen en gran medida, pero lo más im-
portante es que las tensiones que se inducen sobre las pequeñas áreas de bu-
cle que se generan son opuestas en dos lazos consecutivos, de tal modo que
tienden a compensarse y, en su conjunto, la máxima tensión inducida en la to-
talidad del cable correspondería a la que se produciría en un único lazo. Así
pues, como adelantábamos en el apartado anterior, el par trenzado se convier-
te en la mejor técnica para reducir las interferencias por acoplamiento induc-
tivo.
9.3.4. MODELO GENERAL DE RUIDO

POR INTERFERENCIAS EXTERNAS
A raíz de lo determinado hasta este momento, podemos concluir que el con-

junto de las interferencias producidas responderá a un modelo de fuente de
tensión o de corriente en función de la naturaleza del acoplamiento y de otras
circunstancias de carácter cuantitativo.
Como quiera que en un modelo general se deben tener en cuenta todas las po-
sibilidades, consideraremos que el conjunto de las fuentes de interferencias
producen sobre cada punto de la víctima un ruido que se puede modelar me-
diante una fuente de tensión y una fuente de corriente (Figura 9.51).
Este modelo puede aplicarse a cualquier p unto del circuito, pero con vistas a
un cálculo razonable tendrá interés emplearlo en aquellos puntos más sensi-
bles, como las entradas de las etapas de amplificación y, en l:fnea~ generales,
en las entradas de los circuitos, puesto que será el lugar donde su efecto se
haga notar más.
508
1 "
r Víctima r l/íctima
Figura 9.51. Modelo general de interferencias por campo cercano en cada punto del circuito víctima.
9.4. INTERFERENCIAS DE CAMPO LEJANO
Según se ha comentado con anterioridad, el campo lejano constituye la radia-

ción predominante una vez que se ha superado la zona de transición y se carac-
teriza porque el campo eléctrico E, medido en [V 1m], y el magnético H, medido
en [A/ m], están relacionados por la impedancia característica del medio que, en
el caso del vacío o del aire, vale, aproximadamente, 377 O. En definitiva, se pue-
de considerar campo lejano cuando se ha superado una distancia de tres veces
la longitud de onda de la onda producida, por Jo que, a medida que la frecuen-
cia sea más alta, esa distancia será menor y será má~ sencillo e.s tar en condicio-
nes de campo lejano. Recordemos el ejemplo que ponfamos antes referido a un
teléfono móvil que situaba su longitud de onda en el rango de los centfmetros.
En definitiva, tenemos dos situaciones diferentes: las interferencias de campo cer-
cano a baja frecuencia ya estudiadas, en las que se produce una fuerte atenuación
con la distancia, y las de campo lejano, que se producen a altas frecuencias por Jo
que las fuentes potenciales de tales interferencias serán equipos de radiofrecuen-
cia (RF) en la práctica totalidad de los casos y, muchos de ellos, en el ámbito de las
aplicaciones de telecomunicación. En la Figura 9.52 se muestra el espectro gene-
ral de radiación donde se puede ver la situación del área a la que nos referimos.
300 GHz 300 MHz 300kHz
1o" 10" 10" 10 18 10 111 10

1
'
1012 10 10 10' 10' 10' 10'
lag
V 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
Rayos r Rsy<>aX l uz infrarroja Microondas Radio Onda larga {radio)
''' Equipos
\ luz visible Sistemas digitales: electrónicos de
Luz ultravioleta
'''
potencia
'
1~
1
100nm
Radiación ionizsnte
1 mm
Radiación no-ionizante
1m
./
Red eléctrica
,¡
Figura 9.52. Espectro electromagnético con las denominaciones de las zonas más t ípicas.
509
Aunque ambos campos están relacionados y siempre nos podemos referir a la

cantidad de energía de una radiación por medio de E o de H, existe una magni-
tud vectorial específica para ello denominada densidad de potencia que indica a
cuánta potencia sometería la radiación a una superficie perpendicular a la direc-
ción de propagación; se define por el producto vectorial de los campos eléctrico
y magnético. No obstante, una de las forma~ habituales de indicar la cantidad
de radiación electromagnética suele ser la de expresarla como V/ m, a partir de
la cual se puede obtener el campo magnético y la densidad de potencia.
El efecto del campo lejano (radiación electromagnética) sobre un circuito no
es diferente del que se produce como consecuencia de la inducción eléctrica o
magnética por separado (caso del campo cercano) por lo que los efectos finales
se traducen en un modelo similar que en aquella situación.
La diferencia entre la zona de campo cercano y de campo lejano viene como
consecuencia de la naturaleza de onda electromagnética que se produce en la
situación de campo lejano. Esto resulta básico a la hora de analizar los efectos
de los sistemas de protección frente a la radiación que consiste en blindajes de
materiales conductores.
En la Figura 9.53 se considera una fuente de interferencias electromagnéticas
que causa un campo lejano sobre la víctima y para prevenir sus efectos noci-
vos se ha dispuesto un blindaje de un determinado material.
Cuando la onda elech·omagnética llega a la superficie del blindaje, se pro-
duce una onda reflejada, una onda absorbida y una onda transmitida, igual
que ocurriría con una onda de luz, que no deja de ser una radiación electro-
magnética aunque de otra zona del espectro (Figura 9.52). La única diferencia
que no es muy significativa respecto de ese modelo básico de reflexión-absor-
ción-transmisión radica en la aparición de una cierta conducción por el in-
terior del blindaje debido a múltiples reflexiones entre sus dos caras (onda
re-reflejada). La onda de la que habrá que preocuparse es de la onda transmi-
tida que impactará sobre la víctima produciendo la correspondiente tensión y
corriente de ntido.
Onda abs;,~lc!a
Onda reftejada Circuito vrettma
BLINDAJE
Figura 9.53. Interacción entre una onda electromagnética generada por una fuent e de interferen·
cias y una vfctima protegida por un blindaje.
Las pantallas o blindajes contra la radiación electro:magnética suelen ser cerra-

das; el lector puede pensar que si tal radiación se propaga en una determina-
5 10
da dirección y sentido, podría usarse una superficie abierta interpuesta entre

la fuente de interferencias y la víctima; sin embargo, una solución de este tipo
puede resultar problemática puesto que se podrían producir reflexiones adi-
cionales que sería posible que afectasen a la víctima desde otras direcciones
o, incluso, llegar a actuar como un sistema de concentración que ayudaría
a "freír" el circuito víctima. Por todo ello, lo más recomendable es emplear
siempre una pantalla cerrada.
Si la onda incidente tiene una potencia P1 y la onda transmitida tiene una
potencia P, la efectividad de la p antalla SE (Sitielding Effectiveness) viene
dada por:
P¡
SE= 10 log-
Pe
Dado que P = E-H sobre una superficie perpendicular a la dirección de propa-

gación de la onda y como quiera que E = H·Z, tenemos que la expresión an-
terior se puede poner en función del valor del campo eléctrico o del campo
magnético como:
E1 H·
SE= 201ogE = 20log H'
e e
Se considera que una pantalla realiza un excelente apantallamiento contra el

campo lejano cuando su efectividad es superior a 90 dB, aunque valores más
bajos pueden ser considerados como aceptables en mucha~ aplicaciones.
La evaluación del parámetro SE no resulta sencilla puesto que depende del
material, de la forma geométrica y de las dimensiones; existen algunos mo-
delos matemáticos que proporcionan aproximaciones aceptables para formas
típicas, como prismas rectangulares, cubos y esferas, pero cuando se añaden
pequeñas variaciones, como, por ejemplo, alguna ventana para la entrada 1sa-
lida de cables con señal, botones, huecos para displays, uniones entre pieza~,
agujeros de ventilación o cualquier otra singularidad, los cálculos efectuados
se suelen ir al traste con rapidez, sobre todo, si la efectividad hay que determi-
narla en una banda de frecuencias relativamente ancha. En una situación a~í,
la única opción que queda es la prueba del blindaje en condiciones reales, si-
tuando un receptor de campo electromagnético en su interior y sometiéndolo
a la correspondiente radiación electromagnética.
La9 pruebas suelen hacerse en el interior de una cám ara anecoica (anechoic
cltamber) en la que el blindaje se sometería a campos electromagnéticos con-
trolados.
Hoy en dia, el diseñador tiene multitud de materiales y en muchas presenta-
ciones muy eficaces en la atenuación del campo electromagnético. Se di~pone
de láminas metálicas, espumas y hasta telas flexibles con la~ que se podrían
hacer decorativas cortinas capaces de actuar como pantalla.
511
RESUMEN
En este tema se hace wta introducción a las interferencias electromagnéticas y se
ternilita por obtener un modelo que representa los efectos de esas perturbaciones
sobre nuestros circuitos.
La idea básica es que W\a perturbación sale de una fuente que maneja energía
(bastante) y se acopla sobre nuestro sistema (víctima que maneja poca energía)
por medio de algún mecani~mo que permite su paso de un lugar a otro. Exi~ten
dos mecanismos básicos para este acoplamiento: los conductivos, basados en la
presencia de resistencias, y los no conductivos, debidos a la inducción eléctrica
o magnética (campo cercano) o a la radiación electromagnética (campo lejano).
En el caso de acoplamientos conductivos, la mayorfa de ellos se deben al pro-
blema de la impedancia compartida, un fenómeno que consiste en la aparición
de caídas de tensión en impedancias que forman parte de dos o más circuitos
y que son debidas a la circulación de corriente de esos circuitos. Los ejemplos
más claros de esta perturbación se tienen en el caso de las aUrnentaciones de los
circuitos y se pueden reducir mecliante un cableado eficaz y gracia~ al uso de
condensadores de desacoplo.
Las interferencias no conductiva~ se deben a la aparición de tensiones y corrien-
tes de alterna, y, en función de la frecuencia y la clistancia entre fuente y víctima,
se tienen mecani>mos de acoplamiento capacitivos (muy habituales), que casi
siempre producen una fuente de corriente sobre la víctima, y mecanismos de
acoplamiento inductivos, que causan una fuente de tensión sobre la víctima.
Las interferencias capacitivas e inductivas se ponen de manifiesto mayoritaria-
mente en cables de conexión, pero también pueden molestar en tarjeta~ de cir-
cuito impreso. Para el prin\er caso, se usan cables formados por pares trenzados
apantallados, el trenzado para frenar el efecto de las interferencias inductivas y
la pantalla para reducir la~ capacitivas.
A nivel de PCB, el diseño debe cuidarse para reducir los efectos de los campos
perturbadores. Para ello, es muy recomendable el uso de planos de masa y de
alimentación, algo que también mejora el comportruniento frente a la aparición
de impedancia~ compartidas.
En el ca~ de señales de alta y muy alta frecuencia, el campo que se produce sue-
le ser lejano, lo que da lugar a la aparición de wta onda electromagnética cuyos
efectos finales sobre la víctima van a ser los mi~mos: una tensión v una corriente
'
de ruido. El comportamiento de la perturbación como onda obliga a cambiar el
modelo para entender cómo se comporta un sistema de protección, ya que el
resultado final depende de la relación entre la onda que llega y la que finalmente
afecta al circuito.
Finalmente y de modo general, hay que decir que resulta muy clifícil evaluar
cuantitativamente el efecto de las perturbaciones y, aun si se pudiera, un cambio
en la posición de la fuente obligaría a rehacer todos los números. No se preten-
de que el lector pueda realizar ese trabajo sino que entienda en qué sentido se
mueven los efectos con vistas a actuar correctamente ante la aparición de un
problema en la práctica.
5 12
Tema
Bucles de tensión y corriente
10.1. Atenuación e interferencias

10.2. Transmisión en bucle de tensión
10.3. Transmisión en bucle de corriente
TEMA 10 . BUCLES DE TENSIÓN Y CORRIENTE ••
10.1. ATENUACIÓN E INTERFERENCIAS
Cuando un sensor o un equipo producen una sefial es habitual que tenga que
llevarse a algún otro equipo o sistema. Para ello se recurre a enviar la infor-
mación directamente, es decir, haciendo que la señal y la información sean lo
mismo, o bien se recurre a modularla, de tal forma que la información esté
contenida en algún parámetro de otra señal que actúa como portadora. Tam-
bién se suele proceder a la digitalización de la sefial y una vez digitalizada,
emplear algún sistema de envfo de información típico de las comunicaciones
digitales.
Si el problema se plantea en un ámbito muy general, cualquiera de estas solu-
ciones es perfectamente válida y, de hecho, hay un amplio muestrario de solu-
ciones cuyo estudio sobrepasa tanto el objetivo como el volumen del presente
texto.
Para centrar el problema que se abordará en el presente tema delimitare-
mos su ámbito de aplicación a la transmisión unidireccional de señales que
coinciden directamente con la información. El envío desde un bloque emisor
hasta otro bloque receptor se realizará mediante una tensión o una corrien-
te y se tendrán en cuenta las perturbaciones que esas señales pueden sufrir
en el trayecto; a grandes ra.c;gos, dichas perturbaciones se manifestarán en
la adición de señales procedentes de otros sistemas, tal como se ha analiza-
do en el tema precedente y mediante la pérdida de valor de la propia señal
(atenuación).
10.1.1. ATENUACIÓN DE SEÑALES
La atenuación de las señales se debe a la aparición de parásitos resistivos, in-

ductivos o capacitivos en su camino que provocan caídas de tensión y deriva-
ciones (Figura 10.1).
Cafdas de tensión
v,
=.1~
Derivaciones
Figura 10.1. Las caídas de tensión en las líneas y l as derivaciones producen pérdida de señal
(atenuación) a lo largo del trayecto. Como consecuenci a de ello, la señal V2 resulta menor que V,.
La.c; caídas de tensión y derivaciones de la señal enviada dependerán de lac;

impedancias implicadac; en el proceso, que son las de salida de la fuente del
bloque em.ic;or, de entrada del bloque receptor y del equivalente eléctrico del
cable.
515
El emi~or se podrá asimilar al funcionamiento de una fuente de tensión o de

una fuente de corriente, con lo que su impedancia de salida suele ser una re-
sistencia en serie o en paralelo, R.; en el caso del bloque que hace las veces de
receptor, su impedancia de entrada suele modelarse como una resistencia en
paralelo con una capacidad: la resistencia de entrada, R, (input resistance) y la
capacidad de entrada (input capacitance).
El tercer agente en el estudio está constituido por los cables que unen el emi-
sor con el receptor, los conductores que, con carácter general presentan un
equivalente resistivo-inductivo-capacitivo cuyos valores dependen de la lon-
gitud del cable y son crecientes con ella; de hecho, cada cable se caracteriza
por un dato por unidad de longitud para la resistencia, la inductancia y la ca-
pacidad. Con estos parámetros se obtienen dos circuitos equivalentes para el
cable que se conocen como equivalente en T y equivalente en 11, que se mues-
tran en la Figura 10.2.
o---------------0
o----------<0
Figura 10.2. Equivalentes en T y en n de un cable; am bos son perfectamente válidos e lntercam ·

biables.
El equivalente se puede manejar como distribuido, mucho más exacto y ca-

paz de proporcionar una información muy detallada de lo que ocurre a lo lar-
go del cable; en este caso, cada trozo o sección del cable se sustituye por uno
de estos equivalentes (Figura 10.3a), lo que nos permite conocer la evolución
de tensiones y corrientes en toda la longitud de la conexión, aunque compli-
ca el cálculo hasta forzar la utilización de programas específicos para solven-
tarlo. Por ello, y dado que en el ámbito de la instrumentación no es frecuente
la aparición de problemas como los que se pueden producir en el caso de se-
fíales de muy alta frecuencia, la opción más habitual es recurrir a un equiva-
lente concentrado que represente el comportamiento de todo el cable, como se
muestra en la Figura 10.3b.
••• •• (a)
T T T T T T
(b)
Figura 10.3. Equi valentes eléctri cos de un cable: (a) modelo di stribui do; (b) m odelo caneen·
trado.
5 16
Con todos estos parámetros en cuenta, el circuito equivalente completo corres-

ponde con alguno de los esquemas de la Figura 10.4 que muestran el circuito
resultante formado por el emisor, el receptor y el cable que los une. En este cir-
cuito, los parámetros del cable \rienen dados por:
2R = R·l
., '
2L = L·l
'W '
eu• =e.: ·L
donde R., L, y e, son los parámetros del cable por unidad de longitud y les la
longitud del cable.
R, R.
• 1--r-1 •
c. e,
""" R,
1
L. R.
• •
c. e,
R,
r R,
CABLE
EMISOR RECEPTOR
Figura 10.4. Circui tos equivalentes para una conexión con un emisor y un receptor unidos por un
cable. De la m isma forma se podría poner el otro equivalente para el cabl e.
En estas condiciones podemos determinar cómo evoluciona la señal en la lle-

gada en función de la que se envía desde el circuito o bloque emisor.
La forma de cuantificar el comportamiento de esta conexión es mediante el con-
cepto de atenuación, At, que determina la pérdida de potencia de la señal en
la llegada respecto a la potencia que se emite y que se suele representar en dB:
Po
At = 10 · log- [dB]
Pe
siendo P, la potencia producida por el emisor y P_, la potencia de entrada al

receptor.
En un primer análisis podemos usar sólo el modelo en continua, es decir, el
que determina el v alor de la atenuación cuando la señal que se envía es de
continua; en tal caso, el modelo queda reducido al desaparecer todos los ele-
mentos reactivos (Figura 10.5).
En estas condiciones, la señal a la llegada sería:
Re
v.= Re+ 2 · Rw +Ro V.,
517
c.
( )
- v. R. v.
CABLE
EMISOR RECEPTOR
Figura 10.5. Circuito simpl ificado en continua.
lo que supone una atenuación de:

Re+ 2 · Rw +Ro
At = 20 · log (dB]
Re
Como cabía imaginar, la atenuación será menor en la medida en que la resis-

tencia de entrada sea más grande y los pará~itos (resistencia de salida y resis-
tencia del cable) más pequeños.
Un análiqis más extenso incluiría el comportamiento del sistema en alterna; si
se consideran la~ condiciones típicas de los sistemas instrumentales, que son
las de un sistema que trabaja con frecuencias relativamente bajas, se pueden
despreciar las impedancias inductivas y el sistema quedaría como el que se
R.,
C., c.
00 v. R. v.
EMISOR CABLE RECEPTOR
Figura 10.6. Circuito equivalente en baja frecuencia.
En estas condiciones, considerando la situación normal en la que la re-

sistencia de entrada es mucho mayor que el resto de las resistencias y el
condensador C, es pequeño, el comportamiento del sistema se puede
aproximar por:
es decir, que el sistema tiene un ancho de banda a 3 dB delimitado por el polo

que está a menor frecuencia y que resulta ser, aproximadamente:
5 18
Como R., y C., crecen con la longitud del cable, el ancho de banda se reducirá
a medida que la distancia del enlace sea mayor.
Si se usa otra definición del ancho de banda, basada en el error, el valor se de-
berá calcular como se indicó en el Tema l.
EJEMPLO 10.1
Se quiere enviar una señal alterna de 5 V de pico por medio de un par
trenzado cuyo equivalente global supone una resistencia serie de 12 Q
y una capacidad de 75 pF. Si a la llegada hay una resistencia de 1 MQ y
una capacidad de 32 pF y la máxima frecuencia de la señal a transmitir
es de 1 MHz, determine el error máximo que se produce.
Solución:
Sabemos. que la tensión en la llegada corresponde a (R. = 0):
V., 1
-=
V, 1 + jwRw Cw
Sustituyendo los valores:

V., 1
- = -:---:-~::---:::::--:-::--::-::-
1{, 1 + jw · 12 · 75 · 1 0 12
Cuyo módulo, para la máxima frecuencia (1 MHz) es:

V.
- =
1
= 0,99999996
vo ,j1 + (10 6 . 9,00 . 10 10)2
Lo que supone un error de 0,4 ppm. Es decir, un valor despreciable.
10.1.2. GUARDAS
Un caso particular de atenuación se produce en las conexiones entre deter-

minados sensores y los circuitos que realizan el tratamiento de la señal que
generan. Imaginemos un sensor en el que la resistencia de salida es muy
grande, tan grande que es necesario considerar las fugas que producen las re-
sistencias parásitas entre la línea conductora que porta la señal y la masa (Fi-
gura 10.7).
Esta situación no es la más habitual en el mundo de la instrumentación pero sf
que puede darse en algunos casos muy concretos como, por ejemplo, algunos
sensores electroqufmicos que incluyen en su circuito equivalente eléctrico el
paso de la corriente a través de una membrana o pared casi aislante (sensores
de p H y otros basados en reacciones redox). En tal caso nos podemos encon-
trar con resi~tencias de salida tan altas que resultan comparables a las resisten-
das t1ue presenta la linea que transmite la señal, indu¡;o considerando sólo el
funcionamiento en continua.
519
Despreciables
Valor muy atto
Ro /...
... -----
Rw
-- - - - --- --- ... . .
R...,. ... ,
1 \
------ ------
SEI\iAL
SENSOR CABLE RECEPTOR
Figura 10 . 7. Pérdida de señal por fugas debi do a sensores de impedanci a de sal ida muy ele·
va da.
En tal situación, la atenuación puede llegar a ser no sólo significativa sino tan
grande que invalide la medida. Para el caso de la Figura 10.7, tenemos que la
tensión que recibe el amplificador es:
Re/ fR¡
Incluso usando un circuito de recepción con una impedancia tan grande que
pueda ser con~iderada como infinita, la atenuación de la señal se produce sólo
por la resistencia de fugas R1:
R¡
Ve=R +R V,
o l
Con impedancias de salida de cientos de MQ es muy fácil que las fugas sean
significativas y por tanto, la atenuación producida muy elevada.
Una forma de resolver este problema es mediante el empleo de guardas ac-
tivas (active guards) que permite fijar una tensión igual a la que produce el
sensor alrededor del hilo que envía la señal; esto se puede conseguir con un
circuito como el de la Figura 10.8.
Guarda
R. v.
v. v. v. v. v.
v.
Figura 10.8. Ci rcuito con guarda activa manejada por un ampl ificador operacional; al tener la m is·
ma t ensión en el cable interior y en la guarda, no hay posibi lidad de fugas. Por su parte, la guarda
tiene una tensión con im pedanci a de salida muy baja, ya que está gobernada por la salida de un
operacional y, en consecuencia, no hay peligro de divisores resi stivos como en la Figura 10.7.
Al fijar la .mjsma lensi6n all'ededm del cable conductor no se produce circu-

lación de corriente entre el hilo y la guarda, puesto que ambos están a la mis-
520
TEMA 10. BUCLES DE TENSIÓN Y CORRIENTE • •
ma tensión. La ventaja importante de la guarda es que mantiene la tensión

con una impedancia de salida muy baja (la del amplificador operacional que
la gobierna) por lo que es capaz de mantener ese valor sin riesgo de fugas a
masa.
A pesar del aspecto del cable, con una capa alrededor que nos recuerda a Jos
cables apantallados que evitaban las interferencias capacitivas, una guarda no
es un apantallamiento ni permite reducir ning(!n tipo de acoplamiento. De he-
cho, actúa más bien en sentido contrario ya que añade superficie al hilo in-
terior y favorece los acoplamientos capacitivos. Si se pretende apantallar el
sistema, habría que disponer una segunda malla exterior conectada a ma~a en
ambos extremos (Figura 10.9).
Pantalla
Guarda
Ro V,
V, V, V, V, V,
Figura 10.9. Circuito con guarda activa y apantallamiento.
En ocasiones, las guardas activas no sólo se aplican sobre los cables conduc-
tores sino que se prolongan sobre los circuitos impresos para reducir las po-
sibles fugas en cuyo caso se implementan mediante un anillo que rodea al
punto de conexión y a la patilla de entrada del circuito que recibe la señal (Fi-
gura 10.10). La denominación de este tipo de pistas suele ser la de anillos de
guarda (gua.rd ri.ngs).
Conexión de la gu1~rd:a---:;¡¡¡¡
a -"' 'O
Conexión del cable
a ~
e:
<ll
<ll
'O
.9
ª
[)
Anillo de guarda
Figura 10.10. Conexión de la guarda y del anillo de guarda en una PCB para rodear completamen·
te la en trada de señal al ci rcuito.
Si el sensor produce señales de alta frecuencia, el problema se incrementa ya

que empieza a intervenir la capacidad parásita del cable como contribuyen-
te neto a las fugas (Figura 10.11). La solución volvería a ser la misma, es de-
cir, el uso de guardas activas, aunque ahora el amplificador que maneja la
guarda debe ser capaz de responder satisfactoriamente a la frecuencia de la
señal.
521
Despreciables
Valor muy alto
~~ ... --------------·--
Rw R~
v.
c.
SEÑAL
SENSOR CABLE RECEPTOR
Figura 10.11 . Fugas adicional es producidas por la capacidad parásita del cable en un sensor de
al ta resistencia de salida que trabaje a alta frecuencia.
10.1.3. MODELO DE INTERFERENCIAS
El segundo factor que afecta al funcionamiento del envío de señales es la

presencia de perturbaciones debidas a fuentes externas que se acoplan so-
bre el enlace por medio de alguno de los mecanismos estudiados en el tema
anterior. Según vimos en ese tema, el modelo total supone la consideración
de una fuente de corriente y una fuente de tensión de ruido que se pue-
den situar sobre el circuito equivalente del modelo, como se ve en la Figu-
ra 10.12.
VN
Acoplamiento capacitivo -
Radiacion
:t - 1
c.
Ruido externo
( ""V
l IN
Acoplamiento ¡inductivo
Radiación
t Re
EMISOR • 1
RECEPTOR
Figura 10.12. Modelo de ruido producido por Interferencias externas aplicado sobre un sistema de
transmisión de señal.
El efecto de las interferencias se traducirá en una pérdida en la relación S/N

del sistema. Para determinar este efecto habrá que tener en cuenta todos los
agentes que intervienen en el proceso que son el propio equivalente del ca-
ble, el equivalente de entrada del receptor y la impedancia de salida del cir-
cuito emisor.
El primer aspecto que hay que tener en cuenta es que el efecto final se va a ver
afectado por varios factores y no siempre en el mjsmo sentido:
• La longitud del enlace incrementa los valores de los parásitos y como quie-
ra que estos actúan como un filtro de paso bajo sobre todas las señales, se
termina por reducir el ancho de banda del sistema y eso se traduce en la
correspondiente disminución del efecto de la~ interferencias.
• La longitud del cable mejora los mecanismos de acoplarruento por lo que
las .inlet'Íe!'encias pmducidas son ntay01-es a medida c¡ue la conexjón se pm-
duce a mayor distancia.
522
TEMA 10. BUCLES DE TENSIÓN Y CORRIENTE ••
• La capacidad de entrada actúa del mismo modo que la capacidad del cable,
con lo que ayuda a reducir el ancho de banda y, por tanto, actúa como un
filtro para las interferencias.
En definitiva, las interferencias se ven afectadas por el tipo de cable y por su
longitud, pero la cuantificación del efecto final no siempre es previsible pues-
to que hay tendencias contrapuestas en el cálcuJo. La principal incertidumbre
en este sentido es la que introduce el efecto del tipo de cable y de la longitud
sobre el mecanismo de acoplamiento, efecto al que hay que sumar los acopla-
mientos que puedan producirse en las conectorizaciones.
10.2. TRANSMISIÓN EN BUCLE DE TENSIÓN
La forma má~ evidente de enviar una señal eléctrica de un punto a otro es me-
diante un bucle de tensión (voltage loap) que consiste en utilizar una señal de
tensión para transmitir la información. Por decirlo, de alguna forma, el bucle
de tensión es la forma más intuitiva de trabajo. Por lo general, el emi~or de un
bucle de tensión maneja una salida a un determinado fondo de escala (FSO)
y una impedancia de salida (Figura 10.13) que, en la mayoría de las ocasiones
puede despreciarse ya que el circuito de salida será algún tipo de amplifica-
dor operacional y, como sabemos, este parámetro resulta muy bajo, casi irre-
levante la mayor parte de las veces. En la llegada, tendremos una impedancia
que tenderá a ser muy elevada para conseguir que la atenuación resulte poco
significativa.
' '
: :
..
Información
( ) v. Re v.
A A
~ ~
Figura 10.1 3 . Concepto general de un bucle de tensión.
Aunque no existe una normativa universalmente aceptada sobre el valor de la

FSO, la que más cerca está de esta consideración es la norma ANSI/ ISA 550.1
de 1982 (revisada en 1992) que establece los siguientes casos:
• Bucle de tensión 0/5 V. Es una escala muy habitual en el envío de señales
a corta distancia o en el conexionado de equipos. Muchos sistemas ali-
mentados a una ten9ión única de 5 V en los que conviven sistema~ analó-
gicos y digitales utilizan este tipo de salida analógica. Recibir señales de
este tipo es muy frecuente en si~temas digitales, muchas de cuyas entra-
da9 están previstas para un alcance de 5 V. Muchos de estos sistemas van
a convertir la señal recibida en un dato digital mediante un convertidor
A/0, la mayoría de los cuales admite niveles de entrada precisamente
entre Oy 5 V.
523
• Bucle de tensión 0/10 V. Maneja una tensión más alta que en el caso ante-
rior. Permite trabajar con señales más intensa~, lo que garantiza una mayor
insensibilidad a las perturbaciones externas, por lo que suele emplearse
para enlaces un poco más largos que en el bucle O15 V; sin embargo, pro-
ducir estas señales de salida obliga a trabajar con tensiones de alimentación
de mayor valor que la tensión de salida como, por ejemplo, 12 V. Muchos
sistemas enteramente analógicos utilizan este tipo de salida y también es
frecuente como entrada típica de los receptores.
• Bucle de tensión 0/24 V. Este es un bucle poco habitual en el mundo instru-
mental puesto que proporcionar una tensión tan elevada como 24 V obliga a
trabajar con alimentaciones más altas aún y eso no es frecuente. Sin embar-
go, una tensión tan alta proporciona señales más insensibles a las perturba-
ciones por lo que estos niveles serían muy convenientes en la~ situaciones
en las que sea previsible la presencia de fuentes de interferencias o en el
cableado de señales a distancias relativamente largas. Esta~ situaciones se
dan, por ejemplo, en los entornos industriales. Aunque en la transmisión
analógica no es frecuente este tipo de señal, sf que resulta muy común en el
entorno digital, para enviar informaciones de tipo todo/nada en el contex-
to industrial. De hecho, muchos de los sensores industriales, como los de
proximidad o barrera fotoeléctrica (constituyen un porcentaje muy alto del
total de los sensores industriales), suelen trabajar bajo estas condiciones.
• Bucles de tensión de doble polaridad. En determinados casos se trabaja con
tensiones que van desde un valor negativo a tmo positivo como -51 +5 V o
- 101 +10 V. Estos sistema~ obligan a disponer de alimentación doble lo que
encarece el conjunto y; por ello, no son los más habituales en el mundo ins-
trumental.
Además de estos valores que están recogidos en la norma, algunos sistemas
utilizan:
• Bucle de tensión - 2,5/+2,5 V. Se suele emplear para la transmisión de se-
ñales alterna~ procedentes de bloques digitales alimentados entre Oy 5 V y
en cuya salida se ha aplicado un filtro C-R para eliminar el valor medio y
conseguir una señal exclusivamente alterna.
En condiciones normales, los equipos emisor y receptor compartirán el "es-
tándar" para el envío de la señal por lo que la conexión suele ser directa¡ sin
embargo, tanto reducir como elevar los niveles para adaptar las señales resul-
ta muy sencillo y puede hacerse con una etapa formada por un operacional.
En la Figura 10.14 se muestran algunos ejemplos de cómo adaptar los niveles
para reducir o ampliar los alcances de las señales y permitir interconectar se-
ñales diferentes.
Dado que en todos los casos se manejan señales de valores altos y que las ga-
nancias son muy bajas, no suele resultar crítica la selección del operacional)~
en la inmensa mayoría de las aplicaciones se puede optar por un di~positivo
de propósito general.
Si la situación que se presenta a la hora de interconectar un equipo obliga a
producir un desplazamiento de nivel, se puede optar por tm si.~tema como el
de la Figura 10.15, que permite añadir (o sustraer en función del signo) un ni-
vel a una señal determinada para poder interconectar dos sistema~ que traba-
jan con señales de tensión diferentes.
524
Ve,.;x Ve'lllli•
Ve'
Ve'
Ve Ve
Vem~x
o o o o
Ve,. ..
Ve
Ve..,•
_l
;5 Ve'
~
O-- 111e'mrn
0- I
Figura 10.14. Algunos circui tos para reducir, aumentar o rnodilicar los intervalos de tensión que
se manejan.
El cálculo de Jos valores de resi9tencias se realiza de una forma bastante senci-

lla; la nueva tensión de llegada, Ve', viene dada por:
Rl +RZ
Ve'= Rl· (R3 + R4) (R4. Ve+ R3. V.)
R2
R1
Ve'
R3
Ve o--- C::J-¡-4
R4
V, I
Figura 10.15. Circui to para adaptar la tensión de llegada de un bucle de corriente a otra escala
de valores.
Si el cambio de tensiones se hace sólo con un desplazamiento sin aportar ga-

nancia todas las resistencias deben ser iguales, esto es, Rl = R3 = 1?.2 = R4,
mientras que el desplazamiento de tensión que se quiera hacer vendrá dado
por V,. Un ejemplo típico serfa el paso de un bucle - 2,5/ +2,5 V a 0/5 V, en
el que 1que V, = 2,5 V. Un ejemplo similar serfa el la conversión de un bucle
-5/ +5 V a 0/10 V.
Si en la adaptación no sólo se debe desplazar la tensión sino que hay
que añadir ganancia, como en el caso en el que la entrada sea Ve de tipo
- 2,5/ +2,5 V para lograr Ve' de tipo 0/10 V, la función que habrá que reali-
zar será:
Ve'= 2 · Ve +5
525
Con lo que si hacemos R4 = 2·R1, tenemos que R2 = R3 + Rl y V, = S·Rl 1R3.

Tanto en este caso como en cualquiera de los anteriores, de ser necesaria al-
guna etapa de adaptación de niveles, no hay que descuidar la tolerancia de
las resistencias para no incurrir en errores de ganancia importantes en el pro-
ceso.
Con el circuito de adaptación anterior se introduce una resistencia de entrada
relativamente baja en el circuito de Llegada, lo que podría dar lugar a errores
apreciables. De ser necesario, este problema se solventa mediante un seguidor
de emisor situado como se muestra en la Figura 10.16.
R2
R1
Ve'
R3
R4
v. I
Figura 10.16. Incremento de la impedanci a de entrada en el sistema de llegada de un bucle de
tensión mediante el uso de un seguidor de emisor.
Finalmente, en todos estos circuitos hay que tener en cuenta las limitaciones
que imponen las alimentaciones, que ya han sido establecidas en el Tema 2, y
que, en líneas generales, impiden a las tensiones superar los limites definidos
por +V ce y - Vce; por ejemplo, con una entrada que pueda alcanzar tensión ne-
gativa, la alimentación debe ser doble. Además, se debe considerar la posibi-
lidad de trabajar con amplificadores de tipo RRIO si hay que operar cerca de
+Vce y - Vcc, tanto en la entrada como en la salida
EJEMPLO 10.2
Un bucle de tensión transmite sus señales entre - 10 y 10 V que deben ser
recibidas por un sistema que ruspone de-una entrada de tensión 0/5 V.
Diseñe un si~tema para adaptar la señal.
Solución:
El circuito es el de la Figura 10.15 y la función que tiene que implemen-
tar será:
Ve' = 0,25 · (Ve + 10) = 0,25 · Ve + 2,5
Hay muchas opciones para conseguir conjuntos de resistencias que

realicen esa función, pero si com;ideramos la expresión que produce el
circuito de la Figura 10.15 y elegimos unas expresiones que faciliten el
cálculo, como Rl + R2 = R3 + R4, entonces, si hacemos R4 = lOOK, se
526
obtendrá, R2 = lOOK y Rl = R3 = 400K. El circuito de llegada podría

estar alimentado con una única tensión de +5 V, siempre que fuese un
dispositivo RRIO. En la Figura 10.17 se muestra la solución final obteni-
da, donde la resistencia que se muestra sin valor depende de las condi-
ciones de diseño de la referencia estable de tensión que se emplee y no
afecta al cálculo realizado.
100K
+5V
400K
Ve'
400K
Ve o-------c=l--¡----i
100K
+5V
Figura 10. 17
Los bucles de tensión tienen la ventaja de que pueden distribuir la señal en-
tre varios receptores sin que eso afecte a la integridad de la información; si te-
nemos en cuenta que las resistencias de entrada de los receptores de bucles de
tenc;ión son altas, es fácil deducir que la presencia de mác; de un receptor prác-
ticamente no afectará al resto y el sistema funcionará correctamente sin erro-
res añadidos apreciables.
Si se pretende calcular el efecto desde el punto de vista de atenuación o desde
el punto de vista del ancho de banda, se debe tener en cuenta que tanto una
como otro se ven afectados por el efecto aditivo que supone tener varias resis-
tencias y capacidades de entrada en paralelo.
10.2.1. CARACTERIZACIÓN INSTRUMENTAL DE UN BUCLE

DE TENSIÓN
Para determinar el comportamiento de un bucle de tenc;ión hay que determi-

nar sus parámetros instrumentales que, en lfneac; generales, se pueden resu-
mir en el error que se introduce debido a la atenuación, en la relación S/N y en
el ancho de banda.
Para ello, consideraremos el cac;o de un sistema que transmite la información
entre Oy V,..., para enviar la señal a una dic;tancia l mediante un cable que tie-
ne una resistencia y una capacidad por unidad de longitud que determinan el
valor de Rw )' ew. En tales circunstancias, considerando una resistencia de sa-
lid a R. y un equivalente de entrada del receptor constituido por una resisten-
cia R, y una capacidad e, el sic;tema presenta un ac;pecto como el de la Figura
10.18 en el que se han incluido dos hipotéticas fuentes de ruido para modelar
las posibles interferencia<; extemac;.
527
c.
IN t R. v.
Ruido
e~temo

Figura 10.18. Equivalente de un bucle de tensión incluyendo los parásitos del cable y el modelo
de ruido.
La atenuación en continua se puede calcular eliminado los elementos reacti-

vos. Para ello, determinamos la tensión de llegada al receptor, que resulta ser:
Re
V. = V,
Re+ ZRw +Ro
En este caso, la atenuación que introduce el bucle de tensión resulta ser:

Re+ ZRw +Ro
At = 20 · 1og [dB]
Re
Sin embargo, lo normal en el mundo instrumental es expresar este parámetro

como un error de ganancia introducido por el bucle de tensión, para lo cual te-
nemos que:
Cuyo máximo corresponde al extremo de la escala, V, = ~ -""' es decir:
Y, despreciando los parásitos frente a R, resulta que:
Es decir, el error crece con la di~tancia, aunque con una resistencia de entrada
suficientemente alta, el error puede minimizarse. En la Figura 10.19 se mues-
tra la evolución del error en función de la distancia para algunos casos con-
cretos tanto del sistema americano (AWG, American Wire Gauge) como del
sistema métrico.
En cuanto al comportamiento del bucle de tensión en alterna, como hemos
visto antes el ancho de banda del sistema viene dado por:
528
TEMA 10. BUCLES DE TEN SIÓN Y CORRIEN TE ••
Que, puesto en función de la distancia del enlace, se traduce en:

1
B = .,....--;-::----,::---;;:-::~
2rr(R0 + Re ·l)Cc · l
0.30%
AWG 28 (0,12.9 mm2)
0.25%
~
0.20"k
~
~
~
o 0.15"k S= 0,5 mm2
~
~
LIJ
AWG 20 (0,518 mm2)
0.10"k AWG 19 (0,853 mm2)
0.05"k
O.OO"k
o 200 400 600 600 1000
Longitud del enlace [mJ
Figura 10.19. Error por atenuación con algunos ti pos de cables para una resistencia a la llegada
de lOOK y una resistencia de sal ida de 10 n. Como se puede ob servar, incluso para distancias tan
elevadas como 500 m el error es muy bajo para secciones de cable de más de 0,5 m m' .
En la Figura 10.20 se muestra la evolución del ancho de banda para algunos

valores típicos de cables.
100M• ·
10M•
AWG 26
Q/km
286,2
174,6
nf/km
49
'N 1MI \ ~
1
cot.5
/ AWG 24
11
AWG24 50 e.
Cal S 176,6 48,6 AWG26
FW26 399,6 42,7 "' 100K•
FW26
10K
1~ ~----~----~----~----.---~
o 200 ~o 800 ~o 1000
longitud del enlace [m]
Figura 10.20.Ancho de b anda en función de la longitud de algunos cables considerando una resis·
tencia de salida de 10 Q y en la llegada, una capacidad despreciable y resi stencia muy el evada.
Notas: Cat. 5 (Category 5) es un par trenzado tipico para comunicaciones Ethernet y está defin ido
por la norma ANSI/TIAIEIA·568A El FW26 es otro cable típico de comun icaciones digitales, usa ·
do en sistemas como el RS232.
Para analizar el comportamiento del sistema frente al ruido, consideraremos

que estamos dentro del ancho de banda fijado por las capacidades del conjun-
to, con lo que la tensión de ruido que aparece en la llegada se debe a las fuen-
tes de corriente de ruido y de tensión de ruido:
529
La tensión total de ruido sobre la entrada del receptor será:
VeN= j(2Rw + R0 )2 ·1N 2 + VJ
Y si considerarnos una señal de amplitud v••..w la relación S/N resulta ser:
S/N = 20lo
..rz.vo m áx
g .j(2Rw +Ro )2 ·IN+
2 VN2
Para entender qué implica esta expresión hay que tener en cuenta cómo evo-
lucionan los diversos parámetros que forman parte de ella con la longitud del
bucle de tensión puesto que eso nos permite establecer conclusiones acerca del
alcance real de este tipo de sistemas:
• La presencia de la resistencia total del cable en el denominador indica que
la relación S/N tiende a caer a medida que sube la distancia del enlace, lo
que viene a establecer un límite en el alcance en función de las expectativas
de ruido y de las especificaciones de S/N.
• La resistencia de salida del emisor es un factor que afecta muy negativa-
mente a la relación S/N y se añade al efecto multiplicativo de la resistencia
del cable.
• Las interferencias de tipo capacitivo y las producidas por la radiación,
que se traducen en la fuente de corriente de ruido, actúan como factor
multiplicador del efecto de la longitud del cable, representado por R., por
lo que será conveniente trabajar con cables apantallados para reducir tal
efecto.
• La~ interferencias de tipo inductivo y las ocasionadas por la radiación elec-
tromagnética introducirán una fuente de tensión de ruido que no se multi-
plicará por la di~tancia, con lo que afectará por sf misma a la relación S/N.
Para reducir su efecto se empleará par trenzado (amortigua el acoplamiento
inductivo) y pantalla (amortigua la radiación).
• Tanto la fuente de corriente como la fuente de tensión de ruido tenderán
a crecer con la distancia, aunque el ancho de banda tienda a reducirse con
ella; ello es debido a que la mayoría de las interferencias por acoplamien-
to y 1o radiación electromagnética no tendrán un espectro amplio (no son
ruido blanco), sino que su origen estará en fuentes concreta~ con espectros
de emisión discretos; es más, la mayoría de los casos incluirán el ruido
de red (a 50 o 60 Hz), que difícilmente será amortiguado por las limita-
ciones de ancho de banda del cable. También es cierto que los ruidos de
alta frecuencia pueden terminar por no afectar a bucles de tensión largos,
debido a que su ancho de banda será muy reducido. En cualquier ca~o, lo
que ocurra con l'N y VN dependerá de cada situación concreta y requerirá
un análi~is específico, no teniendo mucha validez un planteamiento muy
general.
A la hora de plantear todos estos factores en su conjunto no es bueno reali-
zar apreciaciones generales ya que podrían no ser válidas para un caso con-
creto: por ejemplo, si la interferencia más significativa procede de un horno
530
microondas, a más de 2 GHz, probablemente acoplada mediante radiación

electromagnética, bien podría ocurrir que con un bucle suficientemente lar-
go desapareciese casi por completo debido a que quedaría muy por encima
de su ancho de banda, mientras que observaríamos un ruido intenso en bu-
cles muy cortos.
No obstante, si el lector reflexiona sobre lo expuesto en los epígrafes anterio-
res, seguro que llegará a la conclusión de que el ruido tiende a crecer con la
distancia del bucle. ¿Cierto? Casi siempre. Pero "casi siempre" no significa
"siempre" ...
EJEMPLO 10.3
Un bucle de tensión 0/5 V se emplea para enviar señales que pue-
den tener una frecuencia máxima de 100 kHz. Determine, teniendo
en cuenta que se utiliza un cable Cat. 5, la longitud del enlace para
un error inferior a 0,1% despreciando las impedancias de salida y
llegada.
Soluci6n:
La causa del error es la atenuación sufrida por la señal en alterna. Te-
niendo en cuenta las características del cable (Figura 10.20), tenemos.
que la expresión del ancho de banda a 3 dB es:
1
8 = --,-----...,.-----:
2n:(R 0 +Re ·l) · Ce · l
Sustituyendo los parámetros de nuestro cable (suponemos R.= 0):
1 1,85 . 1010
8 = .,---,---,--,.--,-,-,--:-::-::--:-::-::-:::--,
2n:. 176,6. 10 3 • 48,6. 10 12 • l2 l2
Asimilando la función de transferencia del conjunto a una función

de primer orden, tenemos que el cable se comporta con una ganancia
dada por:
1
[2
1 + jf 1,85 . 1010
cuyo módulo, para conservar el error inferior al 0,1 %, no debe ser infe-
rior a O,999, lo que ocurre hasta la frecuencia dada por:
1 8,27. 108
t= !2
Paraf = 100kHz, la longitud máxima resulta ser l = 90,9 m.
531
10.2.2. CONSIDERACIONES PRÁCTICAS
Cuando se trabaja con bucles de tensión hay que tener en cuenta algunas con-
sideraciones para conseguir que los sistemas funcionen correctamente. Según
se acaba de comentar en el apartado anterior, el cable que hay que usar para
la conexión deberla ser un par trenzado apantallado, es decir, un cable de tipo
STP o FTP con la pantalla conectada en ambos extremos, tal como se explicó
en el Tema 9.
Una conexión de este tipo reduce las posibilidades de interfe rencias por
acoplamientos inductivo y capacitivo con lo que permite mantener la rela-
ción S/N.
Las entradas de tensión de cualquier sistema, es decir, la~ que reciben la llega-
da de un bucle de tensión, deberían protegerse frente a eventualidades no pre-
vistas, como la conexión de señales de cualquier tipo que pudieran ocasionar
sobretensiones potencialmente peligrosas. Para evitar este problema se s uele
optar por disponer redes de protección formadas por diodos conectados a las
alimentaciones y fusibles que limiten la corriente (Figura 10.21).
+Vce
Ve '
FUSE
Ve o-(Z~---1
- Vce
Figura 10.21. Protección de la entrada de un bucle de t ensión frente a sobretensiones mediante
una red de diodos de t ipo Schottky.
Con esta red se consigue mantener la tensión de entrada entre los extremos
de la alimentación (más una pequeña diferencia definida por la tensión de
codo de los diodos) y; en ca~o de q ue la corriente sea excesiva, se fundiría
el fusible, con lo que se produce la desconexión de la entrada correspon-
diente.
También se podría optar por usar resistencias en lugar de los fusibles, lo que
nunca producirla un problema de desconexión aunque limitarla la corrien-
te; no obstante, esta resistencia aparece en el equivalente del circuito en serie
con la resistencia del cable y; a poco que resulte alta, agrava todos los proble-
mas causados por aquella (pérdida de ancho de banda, aumento del error y
pérdida de relación S/N), por lo que la alternativa de Jos fusibles resulta muy
superior en este aspecto y el hecho de que puedan fundirse y precisar s u susti-
tución no debe ser un handicap para su uso ya que tal circunstancia no dejaría
de ser una situación anómala y, si todo funciona como debe y está correcta-
mente diseñado, poco o muy poco probable.
A las entradas de tensión de un sistema pueden llegar valores instantáneos
de tensión muy elevados, provocados por fenómenos espurios no previstos.
Si estas subidas presentan una pendiente demasiado brusca, es posible que
los diodos de protección no lleguen a entrar a conducir, con lo que la red de
protección anterior no resulta útil. Sin embargo, estos valores pueden resultar
532
dañinos para el circuito de llegada o para el sistema receptor, por lo que una
entrada de tensión de carácter genérico deberla estar protegida de alguna ma-
nera frente a tal eventualidad. Una opción para ello es el empleo de un peque-
ño filtro de paso bajo formado por una red RC en cada entrada, como la que se
El uso simultáneo de los sistemas de protección frente a sobretensiones per-
manentes y frente a subidas instantáneas nos llevaría a usar las resistencias en
serie para ambas funciones, con lo que el si~tema general de protección ten-
dría el aspecto de la Figura 10.23. Esto tiene consecuencia~ negativas, según
acabamos de comentar, por lo que el diseñador deberá buscar una situación
de equilibrio entre las ventaja~ y los inconvenientes, algo que va íntimamen-
te unido a la ingeniería.
+Vce
- Vcc
Figura 10.22. Protección frente a transitorios mediante un pequeño filtro de paso bajo basado en
una sencilla red R·C.
+Vce
Ve '
CT ~~--~
-Vce
Figura 10.23. Protección frente a sobretensiones espurias y permanentes mediante una red RC y
diodos Schottky.
10.3. TRANSMISIÓN EN BUCLE DE CORRIENTE
Además de enviar las señales en tensión, exi~te la posibilidad de hacerlo en

corriente con lo que se tiene un bucle de corriente (current loop) que a~igna va-
lores entre dos extremos de corriente.
El sistema que emite la señal tendrá un equivalente constituido por una fuente
de corriente con una impedancia en paralelo de valor muy elevado, que pue-
de despreciarse en una primera aproximación, y el sistema receptor dispon-
drá de una resistencia de bajo valor sobre la que la corriente que se transmite
desarrollará la correspondiente tensión. Como quiera que estamos más acos-
tumbrados a trabajar con tensiones, el bucle de corriente nos resulta menos in-
tuitivo que el de tensión, pero presenta algunas ventajas que lo han hecho ser
muy utilizado en el mundo in.~trumental.
533
En líneas generales, un lazo de corriente arranca con una conversión ten-

sión-corriente que es capaz de producir la fuente de corriente del emisor y
termina en el receptor con una conversión inversa (basta una resistencia) que
retorna al valor de tensión (Figura 10.24).
Como en el caso del bucle de tensión, la norma ANSI 1ISA S.S0-1982 recoge
dos casos típicos de bucles de corriente:
Los orígenes del 4/20 mA • Bucle de corriente 0-20 mA. Este sistema fija las corrientes entre el valor
Curiosamente, Jos orígenes del mínimo (O mA) y el máximo (20 mA) y reBulta el sistema más sencillo pues-
bucle de corriente más típico, el to que las conversiones desde y hacia tensión resultan poco complejas.
4/20 mA, no hay que buscarlos • Bucle d e corriente 4-20 mA. Similar al anterior, pero con la ventaja de no
en el contexto de la Electrónica
incluir entre su campo de trabajo el valor de OmA con lo que permite de-
sino en el de la Neumática. An-
tectar una hipotética rotura del enlace o un mal funcionamiento. El valor
tes de que las señales eléctricas
se hicieran con el dominio del
mínimo del bucle de corriente (4 mA) se conoce como cero vivo (live zero) y
control de procesos, allá por la constituye el extremo inferior de la escala. Si bien este sistema es operativa-
segunda mitad del siglo xx mu- mente más ventajoso ya que tiene esa cierta capacidad de auto-testearse, las
chos de los sistemas de control conversiones desde un valor de tensión o hacia un valor de tensión tienen
usaban señales neumática~ para que incluir un cierto desplazamiento del cero.
llevar información de un punto
a otro y par a mover los actua-
dores.
En ese contexto, era muy fre- Re v.
cuente el uso de una linea de
aixe a presión que trabajaba en-
tre dos valores: 3 y 15 psi. La RECEPTOR
TRANSM ISOR
"con1unicación" se realizaba
enviando uno u otro valor (o Figura 10.24 . Idea general de un bucle de corriente.
uno cualquiera intermedio). La
ventaja de trabajar con un míni- El circuito emisor del bucle de corriente suele recibir el nombre de transmi-
mo con presión (3 psi) permitía sor (transm.itter) y por extensión, este nombre se suele dar al sensor que envía
detectar los momentos en que sus señales mediante un bucle de corriente. Es frecuente hablar de un "trans-
había algún problema y la pre-
misor de temperatura 4/20" o de un '' transmisor de presión 0/20" tanto en
sión caía por debajo de tal valor.
Estos problemas eran debidos a
la jerga entre especialistas (y frikis) como en los catálogos de muchos fabri-
fugas o a fallos en el compresor. cantes.
Cuando el bucle de corriente se La norma arriba mencionada establece también una clasificación de los bu-
empezó a usar, se decidió man- cles de corriente en función del número de hilos que emplean y para esto tie-
tener w1 cero vivo, es decir, con ne en cuenta no sólo los conductores por los que circula la señal s.ino también
corriente, con la finalidad de de-
la frecuente necesidad de alimentar el transmisor, sobre todo cuando se trata
tectar si había pérdida de conti-
de un sensor.
nuidad en la linea.
Aún se mantienen algunos sis- • Bucles de corriente de Tipo 2. Precisan dos hilos conductores y la alimenta-
temas de tipo neumático (en al- ción se proporciona sobre ellos (Figura 10.25a). Este es el más sencillo de los
guna~ instalaciones industriales enlaces, pero también el que aporta menor flexibilidad.
son más apropiados) y existen • Bucles de corriente de Tipo 3. En este caso, la alimentación se proporcio-
conversores entre los sistemas na mediante un conductor adicional para la tensión, mientras que el hilo
neumático y eléctrico que per-
de masa está compartido entre la alimentación y la transmisión (Figura
miten compatibilizar equipos de
diversa naturaleza en la misma
10.25b).
instalación. • Bucles de corriente de Tipo 4. La máxima flexibilidad y fiabilidad se obtiene
disponiendo de dos hilos pam la Lmnsm.isión y olms dos i11dependienles
para la alimentación (Figura 10.25c).
534
Variable
a medir
-·~~
t lo
v.
(a)
~1----'-o
V ce
TRANSMISOR RECEPTOR
Veco - - -
Variable
a medir
..
TRANSMISOR RECEPTOR
V ceo- - -
Variable
a medir
..
GNDo-------------~~-__J
TRANSMISOR RECEPTOR
Figura 10.25. Tipos de lazos de corrient e según cómo se conecte l a fuente de alimentación y
según la norma ANSI/ ISA S.S0-1982. En todos los casos se supone que el receptor alímenta al
transmisor, que es algún tipo de sensor para medir una deter minada variable: (a) Tipo 2; (b) Tipo
3; (e) Tipo 4.
Aunque a medida que el tipo de bucle tiene un dfgito más alto su flexibilidad
es mayor, el hecho de ampliar el número de conductores supone un incremen-
to de coste en la instalación que es necesario tene.r en cuenta. Y no siempre
se trata de algo de escasa importancia; a veces, con longitudes elevadas que
pueden llegar a más de 1000 m, el incremento del coste que supone pasar de
un sistema de Tipo 2 a uno de Tipo 4 simplemente duplica el coste del cable
a emplear.
Aunque el funcionamiento del bucle de corriente parezca sencillo, hay que te-
ner precaución con el uso de estos si~temas puesto que es fácil llegar a intro-
ducir errores que hagan que no lleguen a funcionar correctamente. En este
sentido, un aspecto importante es el valor de la tensión de alimentación y la
resistencia de llegada (la que recupera la tensión en el receptor). Podemos
pensar que no hay ningún problema y que para eso está la ley de Ohm, asf
que, si ponemos una resistencia de llegada R, la tensión que se desarrolla so-
bre ella será 1· R, siendo I la corriente que circule por el bucle. Cierto es, sobre
todo si no se sobrepasa la tensión de alimentación: imaginemos que situamos
una resistencia de 1 MO en la llegada, con lo que una corriente de 20 mA que
la recorra producirá una tensión de ... ¡20 kV! Asf será si el transmisor puede
proporcionar esa tensión, algo que no suele ocurrir.
535
Asf, la ten~ión máxima sobre la resistencia de llegada será la que permita la ali-
mentación del circuito. La norma ANSI/ISASS0-1982 establece unos sufijos que
acompañan al tipo de bucle de corriente y que permiten definir la máxima ca-
pacidad de carga del transmisor (la máxima resistencia que puede manejar) y
la ten9ión de alimentación minima. En la Tabla 10.1 se proporcionan esos datos.
A~f, un transmi~or de Tipo 3L puede sustituirse por otro del mismo tipo de cual-
quier otro fabricante sin comprometer el funcionamiento del lazo de corriente.
Tabla 10. 1. Sufijos para el t ipo de bucle de corriente según la norm a ANSI/ISA S50·1982. Nota:
los valores de la t ensión tfpl ca de alimentación no están incluidos en l a norma sino que se han
sumini strado de acuerdo con l os est ándares habi tuales de alímentación en el entorno Industrial.
L H u
Mhima resistencia de carga [D] 3{)0 800 3{)0 a 800
Mínima tensión de alimentación IV] 23 32,7 23 a 32,7
Tensión típica de alimentación [V) 24 36148
Como se puede observar de la carga máxima permitida y de la mínima ten-

sión admitida, los márgenes que se manejan tienen suficiente holgura para te-
ner en cuenta todas las caídas de tensión que se puedan producir, tanto en el
propio transmi9or como en los conductores.
En el lado del emisor de un bucle de corriente se sitúa un convertidor V /1, un
circuito para el que existen diversas topología~, alguna~ de ella~ válidas para
unos tipos de bucles y otras, para otros. En la Figura 10.26 se muestran algu-
nas opciones basadas en amplificadores operacionales.
R'
+Vce +Vce
~1-... _ ___..!l~o-...o ...... ,
..'·'...
R'
R
R' .• .•
l-•
lo r-c=}-L - - - - - - --<>··_:
.."•• ..••
, - - - - - - - ---<>- _:r•
Figura 10.26 . Algunos circuitos de conversión V/1. En los dos casos la corriente de salida resu lta
ser Ve 1 R.
Otra opción es utilizar algún circuito integrado específico para realizar tal fun.
ción, de los cuales casi todos los fabricantes de di~positivos analógicos tienen
alguna versión. También existen circuitos muy complejos de tecnología mix-
ta analógico-digital que incluyen funcionalidades adicionales, útiles para al-
gunas aplicaciones.
En el circuito de recepción las soluciones son más evidentes y con~isten, bási-
camente en el empleo de una resistencia para la conversión. Con los valores tí-
picos de la corriente en el bucle se suele optar por la resistencia de 250 O, que
proporciona una salida O15 V para un bucle de corriente O120 mA, y de 1 15 V,
para un bucle 4/20 mA. Si el bucle tiene uno de sus extremos a masa (Tipo 2 o
3), bastará un circuito como el de la Figura 10.27a, con un seguidor de tensión
para evitar algún tipo de efecto de carga sobre el circuito. Si se tiene un bu-
536
ele de corriente sin ninguno de los puntos referido a masa (Tipo 4) será preci-
so usar una entrada diferencial; este sistema también funciona adecuadamente
con los otros dos tipos de bucles de corriente.
R1
+Vcc
+ Vce
lo R1
Ve
lo - ~ Ve
R
R
lo R1 r- y
R1 -
(a)
- L. (b)
Figura 10.27. Circuitos de recepción de un bucle de corriente: (a) con retorno por masa (bucles
Ti po 2 y 3); (b) con corriente no retornando por masa (Tipo 4), en cuyo caso las resistencias Rl
tienen que ser mucho mayores que R para evi tar efectos de carga.
Si se pretende optar por una resistencia de 500 Q que proporcionaría el doble de

tensión, se ha de tener en cuenta que según la Tabla 10.1 se necesita di~poner de
un bucle de corriente de tipo H o U y con una tensión de alimentación mayor.
En el ca~o de utilizar el lazo 4/20 mA, la tensión de llegada permite detectar
problemas en la conexión que se manifestarían por una bajada de la corrien-
te por debajo de 4 mA y, en consecuencia, una caída de la ten~ión hasta menos
de 1 V (con una resistencia de 250 Q). La detección de esta situación se reali-
za mediante un comparador (Figura 10.28), que produce una salida digital de
alarma denominada línea rota y que alerta al sistema receptor de algún tipo
de contingencia en el enlace.
En el caso de que la señal acabe en un sistema digital como un microprocesador
o un microcontrolador, también es posible detectar el problema sin más que
hacer una conversión A/D y que sea el programa que reside en el di~positivo
digital el que verifique si las tensiones convertidas están o no dentro de los va-
+Vcc
Ve
lo
Línea rota
R1
"1" alarma
"'• OK
R2
Figura 10.28. Detección de línea rota mediante un comparador sobre la tensión recibida en la
llegada del bucle de corriente.
537
lores correctos. Hay que tener en cuenta que esto implica dejar una parte de
la escala de conversión para detectar esta contingencia y, como lo normal es
que no se produzca, se estará empleando para nada. La decisión entre una
opción como esta o la representada en la Figura 10.28 es una decisión del di-
señador.
10.3.1. CARACTERIZACIÓN INSTRUMENTAL DE UN BUCLE

DE CORRIENTE
Para determinar el comportamiento de un bucle de corriente se determinarán

sus parámetros instrumentales que, en lfneas generales, se pueden resumir en
el error que se introduce debido a la atenuación, en la relación S/N y en el co-
rrespondiente ancho de banda.
Para ello, consideraremos el ca~o de un sistema que transmite la información
entre Oy 1~"' para enviar la señal a una distancia l mediante un cable que tie-
ne una resistencia y una capacidad por unidad de longitud que determinan el
valor de R 1c "J CW . En tales circunstancia~, considerando una resistencia de sa-
lida R, y un equivalente de entrada del receptor constituido por una resisten-
ciaR, el sistema presenta un a~pecto como el de la Figura 10.29 en el que se
han incluido dos hipotéticas fuentes de ruido para modelar las posibles inter-
ferencias externas. A diferencia del bucle de tensión, no se ha incluido la ca-
pacidad del receptor, puesto que este último es físicamente una resistencia de
bajo valor con lo que el efecto de cualquier capacidad parásita quedaría mi-
nimizado.
Si empezamos por analizar la atenuación en continua, tenemos que la tensión
que llega al extremo receptor resulta ser la que establece el divisor resistivo:
Ro
V, = R 2 .R
o+ w+ Re Re · lo
Con lo que la atenuación resulta ser:

Ro + 2 · Rw + Re
At=20 · 1og~----~--~
Ro
VN
Rw Rw ........
c..
1-
-
i Ro
Ruido
IN
t Re v.
e¡rtemo
TRANSMISOR CABLE • RECEPTOR

Figura 10.29. Circuito equivalen te de un bucle de corriente que incluye el transmi sor, el cable y el
receptor.
La expresión es muy parecida a la que se obtuvo en el caso del bucle de

tensión. Pero, hay una diferencia: como se puede observar, si el transmi-
538
sor es una buena fuente de corriente (R, casi infinita) no hay atenuación y
el error resulta despreciable en cualquier aplicación. En otras palabras, las
caídas de tensión en los cables no forman part e sustancial del problema,
por lo que la longitud del enlace se convierte en irrelevante en todas las
condiciones:
Con R, suficientemente grande, el error se hace nulo y las caídas de tensión en

los cables no afectan a la tensión de llegada.
El comportamiento en alterna sí introduce limitaciones en la máxima frecuen-
cia de trabajo. La tensión en la llegada es:
Re
Ve= . ( 10
1 + ]W Re+ Rw)Cw
El ancho de banda del sistema resulta ser decreciente con la longitud del en-
lace:
Para analizar el comportamiento del sistema frente al ruido, considerare-

mos que estamos dentro del ancho de banda fijado por la capacidad del ca-
ble y la resistencia de llegada, con lo que la tensión de ruido que aparece
en el receptor se debe a las fuentes de corriente de ruido y de tensión de
ruido:
R0 + 2 · Rw
VvN = R 2. Rw+ Re VN
o+
El total del ruido en el receptor será:
..j(R0 _
VeN = ...:_:._: +_ Rw) 2 R'3. ·/~ +
2 ·___::...;____::_..:.;__ R~VJ
_:_....:.:..
Ro+ 2 · Rw +Re
Considerando muy alta la resistencia de salida del transmisor, la expresión se

transforma en:
Y la relación S/N:
lo
SjN = 20 · log r:;
IN/v2
La evaluación de es la exp1·eslón es relalivamenle sencilla pues lo que el wu-

co parámetro que depende de la longitud del cable es l w que tenderá a ere-
539
cer con ella. Es particularmente interesante que el sistema resulte bastante

insensible a las interferencias de tipo inductivo, algo que es lógico si se
piensa que este tipo de interferencias se traducen en una tensión en serie
que, como las caídas de tensión en las resistencias parásitas, el sistema ig-
nora.
Como se puede observar, el bucle de corriente presenta un comportamiento
excelente puesto que su atenuación es muy baja, tiene un buen ancho deban-
da y tiende a eliminar las interferencias por acoplamiento inductivo. Esto lo
convierte en una herramienta muy fiable para la transmisión de información
analógica; sin embargo, presenta algunas limitaciones, derivadas de la com-
plejidad de los transmisores (los convertidores V /I no son circuitos sencillos y
su funcionamiento está condicionado por el valor de las resistencias implica-
das) y la necesidad de utilizar tensiones relativamente alta~ para la alimenta-
ción (iguales o mayores de 24 V). En estas condiciones su uso se ha centrado
en los sistemas de control de procesos en plantas industriales, un entorno en
donde suele ser frecuente la presencia de máquinas de corriente alterna y lí-
neas eléctricas con bastante corriente que producen ruido por acoplamiento
inductivo, distancias elevadas y en el que la tensión de alimentación continua
a 24 o a 48 V es algo muy frecuente.
Otro a~pecto que no debe descuidarse en los bucles de corriente es el circui-
to de recepción ya que la tensión se desarrolla sobre una resistencia de lle-
gada, que es un componente físico concreto. Cualquier cambio en el valor
de esta resistencia respecto del nominal se traduce en un cambio no desea-
do en la tensión de llegada del bucle, es decir, en un error de ganancia en el
sistema.
Si consideramos el valor nominal de la resistencia de llegada R., la varia-
ción total de su valor sobre el nominal será llR, que multiplicado por el va-
lor máximo de la corriente del bucle (20 mA), se traducirá directamente en el
error absoluto de la tensión de llegada. Las causas de la variación de la resis-
tencia de llegada son la propia tolerancia que constituye un error sistemático
que se podría compensar mediante un ajuste de la ganancia del sistema, y los
cambios debidos a la temperatura, ya sea la temperatura exterior o el incre-
mento debido al calentamiento por efecto Joule.
El comportamiento térmico de la resistencia depende de su naturaleza; si
se trata de una resistencia de tipo metálico el efecto es positivo y puede asi-
milarse a una especie de RTD con su correspondiente coeficiente térmico.
Si, en cambio, se trata de una resistencia de semiconductor (carbono, sili-
cio .. .) el coeficiente térmico es negativo y la resistencia caerá con la tempe-
ratura.
Sea cual sea el tipo que se emplee, debe procurarse que su coeficiente térmico
sea lo menor posible )~ para evitar un calentamiento excesivo, se debe utilizar
una resistencia capaz de disipar con facilidad la potencia disipada, es decir,
una resistencia de tamaño suficiente. Dada la potencia manejada en la mayo-
ría de los casos (20 mA) 2·250 Q = 100 mW, es conveniente usar una resisten-
cia cuyo encapsulado permita di~ipar con facilidad esa potencia; teniendo en
cuenta estos valores, una resistencia de 1 o 2 W es suficiente para conseguir un
bajo auto-calentamiento y, por tanto, un bajo error.
540
10.3.2. HART
Los bucles de corriente son una buena solución para el envío de señales analó-
gicas entre dos puntos ya que tienen buenas prestaciones desde la perspectiva
instrumental; sin embargo, tienen un coste relativamente alto a la hora de im-
plementarlos, por lo que, salvo en el ámbito industrial del control de procesos,
su uso ha ido decayendo progresivamente. Además, la dura competencia de
los sistemas de transmisión digital de señales que permiten una gran flexibili-
dad y que tienen también buenas características junto con costes inferiores ha
actuado como un factor muy desfavorable a los bucles de corriente.
Sin embargo, existen algunas soluciones ingeniosas que permiten aprovechar
el hardware de los bucles de corriente para transmitir señales digitales median-
te un módem. Una de estas soluciones es un protocolo de comunicación con
sensores denominado HART (Highway Addressable Remote Transducer) cuya tra-
ducción no tiene demasiado interés ya que el acrónimo en inglés suena bien
pero incorpora poco significado. Eso sf, está registrado por la HART Commu-
nication Foundation.
El protocolo HART utiliza una técnica de modulación para señales digita-
les denominada FSK (Frequ.ency Shift Keying) que se puede traducir como co-
dificación por cambio de frecuencia y que consiste en asignar una frecuencia
para el "1" y otra para el "O". La señal resultante se suma a la del bucle de
corriente de tal modo que se consigue una pequeña oscilación con la infor-
mación digital pero se mantiene el valor medio de la señal analógica (Figu-
ra 10.30).
Señal an lógica
RESPUESTA
1
COMAND 0
ñal HART
Figura 10.30. Protocolo HART sobre un bucle de corriente analógico. La cod ificación mediante
FSK ot orga una frecuencia superior para el "O" lógico (2200Hz) que para el " l " lógico (1200
Hz). Las señales dibujadas corresponden a la presencia de un comando y una respuesta a ese
comando.
De esta forma, se consigue enviar información en cualquier dirección usando

los cables del bucle de corriente y; en particular, sería posible acceder a algún
tipo de di~positivo programable del sensor con lo que podría ser configurado
según se desee.
La flexibilidad del sistema no se restringe a comunicarse con el dispositivo
que envía la setial analógica, sino que sobre la misma línea se puede conectar
otro sistema totalmente di~tinto que aproveche el mismo cableado.
541
10.3.3. COMPARACIÓN ENTRE BUCLES DE CORRIENTE

Y TENSIÓN
Los bucles de tensión son mucho más habituales que los de corriente por lo
que una comparación global podría concluir diciendo que los bucles de ten-
sión son mejores que los de corriente. Y seguro que desde un punto de vista
global es así, ya que en la comparativa se introducen todo tipo de parámetros,
muchos de ellos ajenos a la tecnología. Sin embargo, aqui vamos a hacer una
comparación estrictamente técnica, basada en los valores de los respectivos
parámetros instrumentales. Para ello, elegimos un cable de tipo FTP que tiene
las siguientes características:
• Resi~tencia de los conductores del par: 28,6 mO 1m
• Capacidad entre los conductores del par: 48 nF /km
Supongamos que ahora tenemos un bucle de tensión 0/5 y uno de corriente
4/20 m.A de una longitud l. Para evaluar la influencia de la conexión usaremos
valores comparables de resistencia de salida y llegada y eliminaremos la ca-
pacidad del circuito de llegada en ambos casos. A~í, si R, para el bucle de co-
rriente es de 250 O, la resistencia de salida será 99999 veces mayor (error sin
bucle del 0,001 %), es deci~ R. = 25 MO; por su parte, si el bucle de tensión tie-
ne en su llegada una resistencia de 1 MO, la resistencia de salida la supondre-
mos como 10 O.
En estas condiciones, la atenuación que presenta el bucle de tensión, Atv,
será:
6
Atv = 20 · og
l 10 + 0,0286 · l + 10 (dB]
106
Y el error, e.:
0,0286. l + 10
Ev =
Para el bucle de corriente, la atenuación, Ati, es:
25 . 106 + 0,0286. l + 250

Ati = 20 · log .
25 106
Y el error correspondiente:
0,0286 . l + 250
E¡ = 25 · 106 + 0,0286 · l + 250
En la Figura 10.31 se comparan ambas expresiones en función de la di~tancia.

Como se puede comprobar, el bucle de corriente es poco sensible a la distan-
cia, es decir, las caídas de tensión en los cables no le afectan, como resulta lógi-
co por el uso de la corriente como enlace.
El comportamiento en alterna viene determinado por el ancho de banda de la
conexión. En el caso de los valores del cable elegido, resulta ser para el bucle
de tensión:
542
1
8
v = 2n(10 + 0,0286 · l) · 48 · 10 12 · l
0,005%
Bucle de tensión
Bucle de corri ente
O%
o 200 400 600 800 1000 1200
Longitud del enlace [m)
Figura 10.31. Comparación de los errores que introducen los bucles de tensión y de corriente en
función de la longitud del enlace.
Mientra~ que para el bucle de corriente será:

1
B¡= ~2-
Jr-·~
25~0~·~4~8-·710~1~
2~.¡~.~(2~5~0~+~0,70~
28~6~·~
l)
En la Figura 10.32 se representan ambos valores en función de la longitud~

como se puede comprobar, el bucle de tensión presenta un ancho de banda su-
perior al de corriente.
1 GHz
..
....
"g
.a
1 MHz Bucle de tensión
,
o Bucle de corriente
g
<(
1kHz
o 200 400 600 800 1000 1200

Longitud del enl ace [m]
Figura 10.32. Anchos de banda para bucl es de tensión y corriente en función de la distancia.
Consideremos ahora el efecto de las perturbaciones externas. Supongamos

que los acoplamientos capacitivo e inductivo sobre el mismo cable producen
senda~ fuentes de corriente y tensión de ruido que consideraremos crecientes
con la longitud del enlace a efectos de la comparativa; elegimos valores razo-
nables en un entorno ruidoso como, por ejemplo, una tensión de ruido de 20
¡.!V por cada unidad de longitud y una corriente de ruido de 10 nA también
por cada unidad de longitud de enlace. En tal caso, la relación SIN. será:
543
5
S/Nv = 20 log--,::=======:;====.:::;:=::;===;:=~===;=====;:===:;:~
../(0,0286. l + 10)2. (10 ·10 9 ·!)2 + (20. 10 6 ·!)2
{'}.
En el caso del bucle de corriente:

20. 1o-3
S/N¡ = 20 ·lag 10 . lO 9 ·!
'fi
La comparación de ambas expresiones se lleva a cabo en la Figura 10.33, don-

de se comprueba que a distancias cortas el bucle de tensión es superior, mien-
tras que, a partir de algo más de 500 m, el bucle de corriente pa~a por encima,
debido a que su pendiente de pérdida de relación S/N con la distancia es mu-
cho menor.
180
160
~140
Ul
~120
~100
"'
:§ 80
...
! 60
Bucle de corriente
40
20
o +-----r---~.---~----~-----r----~
o 200 400 600 800 1000 1200
Longitud del enlace [m)
Figura 10.33. Comparación de la relación S/N para bucles de tensión y corriente con un mi smo
cable y condiciones duras de ruido.
A rafz de lo analizado hasta aquí no es fácil establecer conclusiones generales

acerca de la~ ventajas e inconvenientes de las conexiones analógicas median-
te bucles de tensión y corriente; el di~eñador deberá efectuar tma comparación
específica para su ca~o en el que, obviamente se tendrán en cuenta las conside-
raciones adicionales que concurran en el diseño.
544
RESUMEN
Es muy frecuente tener que enviar señales desde un circuito a otro, desde un sis-
tema a otro o desde un sensor hasta w1 sistema que centralice las medida~. Esa~
transmisiones no sólo no están exentas de riesgos, sino que la mayor distancia
entre emisores y receptores expone las señales a la acción de las interferencias
externa~; además, las largas distancias que las señales tienen que recorrer son
terreno abonado para la pérdida de potencia que se manifiesta en fugas y en
caídas de tensión.
La forma de medir estos efectos es mediante los indicadores que se usan habi-
tualmente en ln.strumentación Electrónica: la relación S/N y el error, la primera
puesta de manifiesto de la mi~ma forma, y, el segundo, mediante el parámetro
denominado atenuación, que mide cuánta sen al cae desde el origen hasta el des-
tino.
Un caso muy especial en el que la atenuación se pone de manifiesto como un
problema serio es el que coJL~tituyen los sensores con elevada impedancia de
salida; casos como sensores electroqu!micos (pH, electrodo de Oark, etc.) pro-
ducen pérdidas importantes en los cables de conexión debido a las deriva~ de la
señal. Para evitar el fenómeno se suele emplear la técnica de las guarda~ activas,
una pantalla que rodea el conductor y que se pone a la mLsma tensión que el
propio conductor para evitar las fugas.
Al margen de casos particulares, en lo que se refiere a la forma de conectar dos
sistemas entre sf para transmitir información entre ellos, las opciones que se sue-
len manejar en el ámbito analógico son el bucle de tensión y el bucle de corrien-
te. Uno y otro presentan limitaciones en cuanto a atenuación, ancllo de banda y
comportamiento frente a las interferencias y no es posible dictaminar w1a ven-
taja clara de uno sobre otro; en lineas generales, el bucle de corriente tiene pres-
taciones un poco menos dependientes de la distancia, mientras que el bucle de
tensión presenta w1 buen comportamiento en las distancias más cortas. También
es mejor el comportamiento del bucle de corriente frente a interferencias de tipo
inductivo, que tienden a ser eliminadas por su propio funcionamiento.
El principal problema del bucle de corriente es que obliga a convertir la~ señales
habituales (tensiones) en corrientes lo que fuerza a utilizar bloques específicos
para este fin que resultan relativamente complejos. Eso, junto con la necesidad
de tensiones más elevadas, hace que los bucles de corriente resulten algo más
costosos que los de tensión por lo que sus ventaja~ sólo relucen en casos concre-
tos, como en la instrumentación industrial, propia de Jos sistemas de control de
procesos.
545
Apartado 10.1.1
10.1 Determine la atenuación que sufre lin par trenzado de 100m de longitud
Figuras 10 .5 y 10.6 de tipo Cat 5 ante una señal de continua. Si la señal que manejase fuese
Ejemplo 10.1 de alterna, con una frecuencia máxima de 1 MHz, determine el compor-
tamiento frecuencial y el ancho de banda del sistema a 3 dB. ¿Cuál sería
el ancho de banda con un error del 0,1 %?
Apartado 10.1.2
10.2 Un sensor produce una tensión de salida entre 10 y 30 m V que debe
Figura 10.7 ser amplificada, pero su impedancia de salida es de 100 MQ. Si el ca-
ble de conexión entre el sensor y el amplificador tiene una resistencia
serie de 0,1 0/m y la resistencia de fugas es de 300 MO/m, ¿cuál es la
pérdida de señal en una conexión de 2 m de cable?
Apartado 10.1.2
10.3 En el caso del problema anterior, proponga un sistema para reducir este
Figura 10.8 efecto, basado en el empleo de una guarda activa.
Apartado 10.1.2
10.4 Si en el caso del Ejercicio 10.2 se tuviese en cuenta que la señal es de alter-
Figuras 10 .7 a 10.9 na, con una frecuencia máxima de 200kHz, y el cable tuviese una capaci-
dad de 40 pF1m, determine la atenuación que se produciría en este caso.
Apartado 10.2
Figuras 10.14 a 10.17 10.5 Proponga un bloque que permita adaptar las señales que recibe una en-
Ejemplo 10.2 trada de tensión 0/5,0/10 y-5/5 V a la entrada de un convertidor A/D
cuya escala empieza en OV y termina en 4,096 V.
Apartado 10.2
Figuras 10.14 y 10.17 10.6 Un sistema debe recibir señales 0/5 V en una de sus entradas analógicas
Ejemplo 10.2 de tensión. Si se pretende recibir la señal procedente de un sensor com-
prendida entre - 2, y +2,5 V, diseñe un sistema de adaptación sabiendo
que sólo se dispone de una única tensión de alimentación de +5 V
Apartado 10.2.1
10.7 Sabiendo que el cobre tiene una resistividad de 1,71·10-8 Om, obtenga un
Figura 10.19 gráfico que represente la atenuación de un b ucle de tensión en función
de la sección del conductor para una d istancia de 100 m entre el emisor y
el receptor.
Apartado 10.2 .1
10.8 En las mismas condiciones del problema anterior, dibuje un gráfico que
Figura 10.20 represente el ancho de banda de un bucle de tensi6n sabiendo que el
cable que se menciona tiene una capacidad de 45 pF1m, de forma más o
menos independiente de la sección del conductor.
10.9 Un bucle de tensión 0/10 V se emplea para enviar señales que pueden
Figuras 10.19 y 10.20 tener una frecuencia máxima de 1 MHz. Determine la longitud del enlace
para un error inferior al 0,1 %y para un error inferior al1 %, desprecian-
Apartado 10.2.1
do las impedancias de salida y llegada.
Ejemplo 10.3
10.10 ¿Qué efecto t iene sobre el resultado del problema anterior el he.c ho de
considerar que la impedancia de salida de la fuente no es nula y que la
impedancia de entrada no es mfin.ita? Deternúne el efecto pa:ra una resis-
tencia de salida de 50 Q y para una resistencia en la llegada de 1 MQ.
546
Apartado 10.3
10.11 Realice un sistema para convertir una señal de 0/5 V en una señal de
Figura 10.26 corriente de 0/20 mA.
Apartados 10.2 y 10.3 10.12 Compare un bucle de tensión0/5 V con un bucle de corriente 4/20 mA
suponiendo ideales todos los agentes intervinientes en el sistema a ex-
cepción del cable.
547
Bibliografía
En las siguientes páginas aparece la bibliografía que se ha considerado rele-

vante en cada tema y un grupo final que puede considerarse importante para
el conjunto de los capítulos o para la mayoría de ellos.
Se ha clasificado en dos grandes grupos: el primero está formado por libros,
artículos, notas de aplicación y normas, aspectos que, de una u otra manera
cubren el contenido ya sea con una visión semejante a la que se presenta en
este texto o con un punto de vi~ta diferente, pero complementario¡ en el se-
gundo grupo, que se ha denominado "lecturas complementarias", el lector
puede encontrar temas adicionales o más avanzados, todos ellos relacionados
con el contenido del libro que permiten completar la vi~ión de la Instrumenta-
ción Electrónica o encontrar nuevas aplicaciones.
En el estudio de cualquier di~ciplina es importante adquirir la visión más am-
plia posible y bien interrelacionada con el resto de las áreas del conocimien-
to por lo que se invita al lector a consultar la bibliografía que aquí se indica e
incluso a buscar nuevas fuentes en el convencimiento de que resultará muy
positivo para la consolidación de las ideas. Sin embargo, toda búsqueda de in-
formación debe realizarse con mucho cuidado puesto que en la época actual el
acceso a la difusión está al alcance de cualquiera sin que eso signifique ningún
tipo de refrendo o contra~tación de lo difundido.
Internet es una inmensa montaña de información que proporciona ca9i todo
lo que podamos necesitar desde el punto de vista del conocimiento, pero el
problema es que lo válido, lo menos válido y lo ponzoñoso aparecen mezcla-
dos con poca posibilidad de distinguirlo. Estar más o menos arriba en las lis-
ta~ de búsqueda, que lo mismo aparezca en muchos sitios no son sefíales de la
validez de los contenidos sino que pueden responder sólo a la habilidad del
difusor para destacarse. El lector debe acostumbrarse a distinguir entre esas
informaciones para lo que siempre debe ser crítico, pero desconfiar de aquello
que no aparezca firmado, que sea ajeno a instituciones responsables o que no
se referencie desde estas.
La bibliografía que se ha incluido en la~ siguientes páginas cumple estas con-
diciones por Jo que cabe calificarla como fiable; no obstante, nunca hay que
renunciar a la lectura crítica, como nunca hay que aceptar nada sin haber
pensado sobre ello. Estos son los motores que han movido la ciencia desde
que Descartes escribió el Discurso del Método, allá por los comienzos del si-
glo X\TU.
TEMA 1
LIBROS:
KuBHL, R. O. Diseño de experimentos, 2" edición, Thomson, 2001
TEMA2
LIBROS:
CouGHLLN, R. F. y DRJSCOLL, F. F. Operational Arnplifiers and Linear Integrated Circuits,

Prentice Hall, 2001
FJORB, J. M. Op Arnps and Linear Integrated Circuits. Theory and Application, Thomson, 2001
}UNG, W. (Editor). Op. Applicat:ions, Analog Devices, Julio de 2002
MANCJNJ, R. (Editor). Op Amps Jor Everyone. Design Reference, Texa~ Instruments, Agos-
to de 2002
Pl!REZ, M. A. et ál.ltlst.rumentnci6n Electrónica, Paraninfo, 2003
NOTAS DE APLICACIÓN Y OTRA INFORMACIÓN DE FABRICANTES:
Analog Devices, Ideal Voltage Feedback (VFB) Op Amp, MT-032 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Voltage Feedback Op Arnp Gain and Bandwidt.h, MT-033 tutorial, Octu-
bre de 2010
Analog Devices, Current Feedback (CFB) Op Amps, MT-034 tutoriaL Octubre de 2010
Analog Devices, Op Atttp lnputs, Outputs, Single-Supply, and Rail-to-Rail Issues, MT-035
tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Atttp Output Phase-Reversal and lnp11t Over-Voltn.ge Protection, MT-
036lutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Input Offset Voltage, MT-037 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Input Bias Current, MT-038 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Total Output Offset Voltage Calculatüms, MT-039 tutorial, Oc-
tubre de 201 O
Analog Devices, Op Amp Input fmpedance, MT-040 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Input and 011tput Cornmon-Mode and Differential Voltage Range,
MT-041 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Common-1viode Rejection Ratio (CMRR), MT-042 tutorial, Oc-
tubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Pmuer Supply Rejectiotl Ratio (PSRR) and Supply Volta.ges, MT-
043 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Open Loop Gain and Opetl Loop Gain Nonlinearity, MT-044 tu-
torial, Octubre de 2010
550
BIBLIOGRAF(A ••
Analog Devices, Op A1ttp Bandwidth nnd Bcmdwidth Flatness, MT-045 tutoría!, Octubre
de 2010
Analog Devices, Op Amp Settling Time, MT-046 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Noise, MT-047 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Precision Op Amps, MT-054 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, High Speed Voltage Feedback Op Amps, MT-056 tutorial, Octubre de 2010
GARC!A, A. Amplifier Applications Guide. Section 1. Single-supply AmpNfiers. Ana!og De-
vices.
JuNG,W. y KllSrE1¡, W. Amplifier Applications Guide, Sectio11 2. High Speed Op Amps. Ana-
log Devices.
Texas Instruments, Precision Operationa/ Amplifiers, 2012
Z uMUAHLEN, H. Amplifier Classes, Mini tutoriaJ MT 207, Analog Devices, 2012
Zur.IUAHLEN, H. Fui/ Wave Rectifier, Mini tutorial MT 211, Analog Devices, 2013
Zur.1UAHLEN, H. Half Wave Rectifier, Mini tutorial MT 212, Analog Devices, 2012
ZuMUAHLEN, H. Inverl:i:ng Amplifier, Milú tutorial MT 213, Analog Devices, 2013

Z ur.mAHLEN, H. lnverting Summing Amplifier, Mini tutoria! MT 214, Analog Devices, 2012
LECTURAS COMPLEMENTARIAS:
Analog Devices, Op Atnp Noise Relntionships: 1/f Naise, RMS Noise, and Equivalent Noise
Bandwidth, MT-048 tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Op A1ttp Total Outpul Noise Calculntions for Single-Pole System, MT-049
tutoría!, Octubre de 2010
Analog Devices, Op Amp Total Outprst No·ise Calculntions for Second-Order System, MT-
OSO tutorial, Octubre de 2010
Analog Devices, Current Feedback Op Amp Naise Cansiderntions, NIT-051 tutorial, Octu-
bre de 2010
TEMA3
LIBROS:
MANCJNJ, R. (Editor). Op Amps for Everyane. Design Reference, Texa~ Instruments, Agos-
to de 2002
ARTÍCULOS:
OuvERJ, M. "Elementos de diseño de circtútos de Amplificación del ECG", Xll Semina-

rio de Ingeniería biomédica, Uruguay, 2004
551
Analog Devices, High Speed Current Feedback Op Amps, MT-057 tutoría!, Octubre de 2010
Analog Devíces, Clwosing Between Voltage Feedback (VFB) and Cummt Feedback (CFB) Op
Attrps, MT-060 tutoría!, Octubre de 2010
Analog Devices, Chopper Stabilized (Auto-Zero) Precision Op Amps, MT-055 tutoría!, 2010
Analog Devices, High Speed Currertt Feedback Op Amps, MT-056 tutoría!, 2010
Texas Instruments, Frequent Faux Pas in Applying Wideband Current Feedback Amplifiers,
OA-15, Agosto de 1990, revísíon de Abril de 2013
Analog Devices, iCmtpler ADuM3190 lsolated Error Amplifier Evaluatiort Board, 2013
CARR, D. Diffrrential Datil Transfer: Wlrat's the Differen.ce?, Analog Devices, 2012
J(RAKAuBR, D. For Years, Designers of1ndustria/, Medica[, and Other, iCoupler® Dígitallso-
lator Group, Analog Devices, Inc. 2013
MúcHJMJ, R. Ways to Optimize the Performance of a Difference Amplifier, Application note
AN-589, Analog Devices 2011
RL~KlN, J. R. A user's guide to IC Instrumentation A1ttplijiers, Application note AN-244,
Analog Devices
Analog Devices, Differential Driver Annlysis, MT-076 tutoría), 2010

Texas Instruments, I'C Gr1ide, 2013
Texas lnstruments, RS485 Reference Guide, 2012
TEMA4
LIBROS:
CAR'rER, B.y H UBLSMAN, L. P. Handbook Of Operational Amplifier Active RC Networks,

Texas Instruments, Octubre de 2001
ARTÍCULOS:
AvENDAÑO, L. E.; DUQUE, E.; GLORJA, C. M. y VALENCIA, T."Análisis de la arquitectura Sa-

llen-Key", Scientia et T~clmica No. 16, Agosto de 2001
BAKER, B. C. "Stop-band Limitations of the Sallen-Key Low-Pass Filter", Analog Applica-
tion fournal, Texas lnstruments, 2008
B urtERWOKTH, S. "On the theory of filter amplifiers", Experimental Wi·reless and Wireless
Engfneering, pp. 536-541, Octubre de 1930
CART BR, B. "Hígh-Speed N otch Filters", Analog Application fournal, Texas Instru-
ment~, 2006
MoUNA, J. "Designa 60Hz Notch Filter wíth the UAF42", Brm-B·rown Application Bol/e-
titl, 1994
552
BIBLIOGRAF(A • •
SALLEN, R. P. y Ksv, E. L. "A Practica] Method of Design:ing RC Active Filters", IRE

Trans. Circrtit Throry, CT-2, pp. 74-85, Marzo de 1955.
KARKI, J. Active Uno-Pass FWer Desigtt, Texas Instruments, 2000

MtLLBR, R. A Bessel Filter Crossaver, and Its Relatiott to Others, Rane Corporation, 1998
Texas Instruments, Analysis of the Sallen-Key Arch.itecture, Julio de 1999

Z uMBAHLEN, H. Du.a.l Amplifier Band-Pass (DABP) Filler, Mini tutorial MT 209, Allalog
Devices, 2012
ZuMUAHLEN, H. F0 and Q in Filters, Mini tutorial MT 210, Analog Devices, 2012
ZuMBAHLBN, H. Uno-Pass 1<:> Band-Pass Filter Transformation, Mini tutorial MT 215, Ana-
log Devices, 20U
Z uMUAHLBN, H. uno-Pass to High-Pass Filler Transfrrmaf:ion, Mini tutorial MT 217, Ana-
log Dev:ices, 2012
Z uMUAHLEN, H. Mrtltiple Feedback Band-Pass Design Exmnple, Mini tutorial MT 218, Ana-
log Devices, 2012
ZUMUAHLEN, H. Multiple Feedback Fi/ters, .Mini tutorial MT 220, Analog Devices, 2012
ZulloiUAHLEN, H. Sallen-Key Fr1ters, Mini tutorial MT 222, A11alog Devices, 2012

Zu MUAHLEN, H. S tate Variable Filters, Mini tutorial MT 223, Analog Devices, 2012
Zu MuAHLEN, H. The Bulterworth Response, Mini tutorial MT 224, Allalog Devices, 2012
Zu MUAHLEN, H. Twin T Notch Filler, Mini tutorial MT 225, Analog Devices, 2012
GOLDIE, J. FAILSAFE BiJ?sing of Differenti;¡J Buses, N ational Semiconductor (Texas Instru-

ments), Julio de 1992
GRJLLO, G. J.; Pí>RBZ, M. A. y Fl..ORENCIAS, A. E. Synchrottic Filter Based on Switdted Capa-

citar Filters for High Stabilihj Phase-Detectors Systems, IEEE-IMTC 2006 lnstrumentation
and Measurement Technology Conference, Sorrento, Italy, Abril de 2006
Z uMUAHLEN, H. Allpass Filters, Mini tutorial MT 202, Analog Devices, 2012
Zu MUAHLEN, H. Ba:inter Notch Filters, Mini tutorial MT 203, Analog Devices, 2012
Zu MUAHLEN, H. The Bessel Response, Mini tutorial MT 204, Analog Devices, 2012
ZUMUAHLEN, H. Biqttlld·ratic (Biquad) Ft1ters, Mitú tutorial MT 205, Allalog Devices, 2012
ZUllotuAHLEN, H. The Chebyshev Response, Mini tutorial MT 206, Analog Devices, 2012
Zu MBAHLEN, H. Digitally Programmed State Variable Filter, Mini tutorial MT 208Analog
Devices, 2012
ZuMBAHLEN, H. Law-Pass to Band-Reject (Notch) Filler Trarrsformatiott, Mini tutorial MT
216, Allalog Devices, 2012
553
TEMAS
LIBROS:
I<EsrBR, W. (Editor). Analog-Digital Omversion, AnaJog Devices, 2004

Omega, The Data Acquisition Systems Handbook and Encyclopedia
GARRET, P. H. Advattced Instrumentation and Compr1ter I/0 Design, IEEE Press, 1994
LANG, T. T. Comprlterized instnmumtation, John Wiley and Sons, 1991
ALBAF, A. MICROWIREr"' Seria/Interface, NationaJ Semiconductor (Texas lnstruments),

Enero de 1992
Analog Devices, Differential Drivers far High Speed ADCs Overoiew, MT-075 tutoriaL Rev.
D Octubre de 2010
LAVRY, D. Sanrpling Theory For Digitnl Au-dio, Lavry Engineering, hlc, 2004
Maxim lntegrated, Daisy-Cha.ining SPI Devices, APP 3947, Maxim, Diciembre de 2006
Motorola lnc., SPI Block Cuide V03.06, Enero de 2000
PI!REZ, M. J. Troublesfwoting I'C Bus Protncol, Texas Instruments, Octubre de 2009
NXP Semiconductor, Ui\.110204. PC-bus specification and r1ser marmal, Octubre de 2012
Philips Semiconductors, PS bus specification, 1986
SMtTH, S. W. The Scientist and Engineer's Cuide to Digital Signa! Processing, Chapter 3, Ca-
lifornia TechtúcaJ Publishing, 1997
Texas lnstruments, Specifying A/0 arrd D/A Corrverters AN-156 Mayo de 2004
TEMA6
LIBROS:
DuSHlN, E. (eclitor). Basic metrology and electrica/.measu·remen·ts, MIR, 1987

Omega, The Omega. Tetnperatrtre lvleasurement Handbook and Encyclopedia, 7th Edition, 2014
Omega, Tire Pressure Strain and Force Htmdbook, 9th Edition, 2011
Omega, Flow, Leve! and Environmettt.al Handbook & Encyclopedia, 8th Edition
ARTÍCULOS:
BARU!ER, R. "Tutoría!: Photodetection", New Devdnpments ·in Photodetection, Lyon, Fran-

ce, Julio de 2011
DELLINGER, J.H. "The Temperature Coefficiente of Resi~tance of Copper", BuUetin of the
Bureau ofStnndnrds Vol. 7, No. I, pp. 71-101 Febrero de 1911
554
BIBLIOGRAF(A • •
PRESTON-THOMAS, H. "The lnternational Temperature Scale of 1990 (ITS-90)", Metrolo-

gia 77. 3-10 (1990)
SrEINHART, J. S. y HART, S. R. "Calibration Curves for Therntistors", Deep SeaResearch
15:497, 1968
Analog Devices, High Precisüm, unv Cost Ctwrent Sou·rces Using the AD8276 Difference
Anrplifier and the AD8603 Op Amp, 2013
Burr-Brown, lrnplementatiottnnd Application.s of Ct•rrent Sou·rces and Current Recievers,
Burr-Brown Application Bolletin, 1989
Cornerstore Sensors, A, B, C Coefficients for Steinhart-Hart Equntion
HOFFMANN, K Applyittg tfte Whetastone árcuit, Hottinger Baldwi.n Messteclutik GmbH
H üDSCHMANN, S. y SotNEIDER, M. Mngnetoresistive Senso·rs. Principies of Operation and
Appticntions, ZETEX, Application Note 20, Abril de 1996
MURNANE, M. Cu·rrent Sources: Options mtd CircuiLs, Analog Devices, 2008
S!NGH, A. RTD Temperature Transmitter for 2-Wi·re, 4 to 20-mA C!l'rrent Loop Systems, Texas
lnstrurnents lnc, 2014
Snrr, R. M. Make a Precision Ct<rrent Source odr Current Sink, Burr-Brown Application
Bolletin, 1990
NORMATIVA:
The International P·ractical Temperature Sea/e of1968, Adopted by !he Comité lnternatio-
nal des Poids et Mesures, Metrologia, Vol S, No 2, pp- 35-44, Abril de 1969
DIN 43 760, RTD Temperntu:re vs. Resistance Table For Europenn Curve, Alphn.= 0.00385,
JTS-90
Solid State Division, Charncteristics nnd use of'infrared detectors. Technical information SD-
12, Hamamatsu Photonics, Marzo de 2011
Stanford Research Systems, CalibraiR Steinltart-Hnrt Coefficients for Thermistors, Octu-
bre de 2012
TEMA 7
LIBROS:
lLLtNG, L. Fourier Analysis, Reed Co!lege, 2008

Omega, The Omega Temperature lvleasurement Handbook and Encycloped·ia, 7th Edi-
tion, 2014
Omega, The P.ressure Strain and Force Handbook, 9th Edition, 2011
555
Omega, Flow, Level and Enviromnental Handbook & Encydopedia, 8th Ecütion,
PáREZ, M. A. et ál.lflst.rumentnd6n Elect.r6nim, Paraninfo, 2003
ARTÍCULOS:
GRILLO, G. J.; PliREz, M. A. y FLORENOAS, A. E. "Synchronic Filter Based on Switched Ca-

pacitor Filters for High Stability Phase-Detectors Systems", TEEE-JMTC 2006, Instru-
mentation and Measurement Technology Conference, Sorrento, !taly, Abril de 2006
ÁLvAREZ, A. et ál. Smart Sensors nnd Applimtians. Student Cu-ide, Parallax, 2006
Analog Devices, LV DT Signa/ Canditioning Circuit, Analog Devices, 2014
Brel, Ceramic Capacitar Temperahtre Coefficient (TC) Cading, 2002
R. Ciml'it Designer's notrebook. Understanding Temperature Coeffcient Cnpncitnnce,
FlORE,
American Technical Cerarnics Corporation, Doc 001-927 Rev. E, 2005
KiNNEY, T. A. y DuvAL, B. Sensors 101:Baumer e/ectric basics, Baumer electric
La Guía MetAs., Sensores de humedad. Tipos y aplicaciones. MetAs, S.A. de C.V. Cd, Mayo
de 2008
Nationallnstrurnents, Measuri·ng Position and Displacement with LVDTs,, Septiembre
de 2006
Texas Instrurnents, Sign.nl Conditioning for Saphisticated Transducers, AN-301, Enero de
1982, Rev. 2013
Vaisala, Sensar Vnisala HW\AICAP®parn medir humednd relativa. Ref. B210781ES-C, 2012
NORMATIVA:
ASTM E 1907-06a. (2006), Stnndtl'rd Cuide to Metfwds of EvnluatitJg Moistu·re Canditiarls

ofCancrete Floors to Receive Res'ilient Floar CoVt-'rings. ASTM, West Conshohocken, PA.
Mitutoyo, Surface Rougness Measurement. Pmctiml Tips fot Laboratory and Workshop,
EE.UU., Diciembre de 2009
Pi!REZ, M. A. et ál. lmpednnce Speci'Yametry far Manitaring Alcoholic Fennentn:tion Kinetics
under Wine-Making Industrial Conditions, XIX IMEKO World Congress ·F undamental
and Applied Metrology, LLsbon, Portugal, Septiembre de 2009
TEMAS
LIBROS:
CHANoRAMOuu, S. Hall Coefficient of Cennanium, Physics Department, The College of

Wooster, Wooster, Ohlo 44691 Abril 29, 1999
556
BIBLIOGRAF(A ••
liAKAMA:rA, T. (editor). PlwltJtnttltiplier Tu.bes. Basics and Applicatums Tercera edición, Ha-
mamatsu, 2006
Hamamatsu Photonics, Opto-Semiconductor Handbook, 2013
KASAI', S. Hall effect, e-booklet 2001
Omega, The Omega Temperatu.re Measurement Handbook and Encyclopedia, 7th Edi-
tion, 2014
Omega, Flow, Leve! mrd Environmental Handbook & Encyclopedia, 8th Edition
PÉRBZ, M. A. et ál. Instrumentación Electrónim, Paraninfo, 2003
PéRez, M. A. y MUÑLZ, R. New Fiber Optic Developments: Chapter B. Optical Filrres Tu·rbidi-
metres,. lntech, 2009
PÉREZ, M. A.; GoNzALez, O. y ARIAS, J. R. Optical Fibers: Chapter 10. Optical Fiber Sensors
for Chemical and Bioú:>gim/ ll•teasurements. lntech, 2013
ARTÍCULOS:
<;:APAN, R. "Organic pyroelectric materials for device applications", BAÜ FBE Dergisi
Cilt:12, SayJ:l, 75-90, Ternmuz 2010
MAAnSHEv, A. V. et ál. '1nterdigital Sensors and Transducers", Proc. of the lEEE, VOL. 92,
NO. 5, Mayo de 2004
GRBBN, R. Hall Effect Measu·rements inl'vtaterials Characterization, Keithley lnstruments,

Inc. 2011
lfineon Technologies, Liqu.id Level Sensing, 2009
KARta, J. Signal Conditioning Piezoelectric Sensors, Texas Instruments, Septiembre de 2000
Maxim lntegrated, Implementing Cold-Jrmction Compensation in Thermocouple Applim-
tions, Application Note 4026, Abril de 2007
Measurement Specialties Inc., lnterfacing Pieza Film !·o E/ectron·ics, 2006
MiLANO, S. Allegro Hali-Effect Sensor ICs, 2009
Solid Sta te Division, Characteri.stics and Use of Charge Amplifier, Hamamatsu, Octubre
de2001
Texas lnstrwnents, JC Temperature Sensor Provides Thermocouple Cold-]u.nction Compensa-
tion, AN-225, Abril de 2013
TEVSSAND!ER, C. From Current Transformers ltJ Hy/rrid Sensors, in HV, Merlin Gerin, E/ CT
170. Marzo de 1995
NORMATIVA:
ASTM Standard test methods for measurirrg ·resistivity and Hall coefficient tmd determining
Hall mobi/:ity in single-crystal semiconductars, ASTM F76-86, (re-aprobado en 1996)
BritL~h Standards, Thennocouples. Par/: 1: Reference tables, BS EN 60584-1:1996, IEC 584-
1:1995
BL·ithdt Statu.lan.b, Tlu::nnuumples. Purt 3: Exttm:;üm tmd Lumpen::xtting utúles. Tulem:n.ce-:; crnú
identification system, BS EN 60584-3:2008
557
CoLUARO-PIRAuo, S. Signa! Conditianingfor Pyroelectric Passive lnfrared (PJR) Sensors, STc

Mkroelectronia;, 2013
CORRóNS, A; CAMPOs, J. y MeUXJsA, M. lA.Comisi6t1 Internacional de llumitJaci6n (CIE)
lEC 584-3, Cortples tltermoélectriqrtes.Troisiemepartie: Cilbles d?extetJsion et de compensatian.
To/irances et systerne d'identification / Thermocouple. Part .~: Extensian and compensat:ing ca-
bles. To/era.nces and identification system, 1989
Omega, ANSI and lEC Co/o1tr Codes Jar Thermocorcples, Wire and Conrrectms
LECTURAS COMPLEMENTARIAS Y APLICACIONES:
CAHLEOS,C. ll. et ál. On-line Estimation of Freslt Milk Composition by means of

VIS-NIR Spectrometry and Partial Least Squares Method (PLS), Instrumentation
and Measurement Technology Conference, IEEE-llviTC 2008, Victoria, Canadá, Mayo
de 2008
Da LA TORRB, C.; M R. y PÉRllZ, M. A. A New, I.Aw-Cost, On-Line RGB Colarimeter far
UÑ12;.
Wine Industry Based an Optical Fibers, XIX IMEKO World Congress Fundamental and
Applied Metroloro> Li~bon, Portugal, Septiembre de 2009
GARC!A, A; PÉRllZ, M. A; GRJLtO, G. J. y ThJERINA, J. A new des·ign oflow-cost fau·r-bemn tur-
bimeter by using optical fib-res, Proceedings of the IEEE-IMTC05, 2005
PáREZ, M. A.; GARCIA, A y BARO, J. A. Optical. fiber turbidimeter fo·r fu// range mi?Jlst~rctnent
in wine industrial processes, Instrumentation and Measurement Téchnology Conference,
IEEE-IMTC 2007, Warsaw, Poland, Mayo de 2007
PÉRllZ, M. A. et ál. Full-mnge, true on-line turbid:i:meter based repon aplica! fibi'rs far app/ica-
tion in tJre wine industry, IEEil-IMTC 2008, Victoria, Canadá, Mayo de 2008
WBIR, A The DYNAPOD: A Pedal Powcr Unit, Volw\teers in Technical Assistance, 1980
TEMA9
LIBROS:
CHIANc, H. H. Electronics for Nuclear Instrrrmentation. Theary and Applicatian, Krieger Pu-
blishing, 1985
JOHNSON, H. y GRAHAM, M. High-Speed Digital Design-A Harrdbook for Black Magic, Pren-
tice-Ha!L 1993
PáRBZ, M. A et ál. ltlstrumentJ1d6n Electrónica, Parruúnfo, 2003
ARTÍCULOS:
BROOKS, D. "90 Degree Corners: The Final Thrn", Printed Circrút Design, a Miller Free-
roan Publication, Enero de 1998
BROOKS, D. "Crosstalk, Part 1: The Conversation We WL~h Would Stop!", Printed Circuit
Design., a Jvliller Freeman publication, Diciembre de 1997
BROOKS, D. "Differential Signals. RuJes to Live By", Printed Circuit Desigtl, a CMP Me-
dia publication, Octubre de 2001
558
BIBLIOGRAF(A ••
BROOKS, D. "Differential Signals. The Differential Difference!", P1·inted Ci:rcrli-t Design, a

CMP Media publication, Mayo de 2001
BROOKS, D. "Ground Plane", Printed Circuit Design, a Miller Freeman publication. Oc-
tubre de 1997
fuRTLEY, R. "Controlling Radiated EM1 Tirrough PCB Stack-up", Printed Ci-rcuit Design,
Julio de 2000
BROOKS, D. "Loop Areas. Oose 'Em Tight!", Printed Circrtit Design, Enero de 1999
BROOKS, D. "Splitting Planes For Speed and Power", Printed Circu-it Design, a CMP Me-
dia publication. Diciembre de 2000
"BROOK.~,
D. "Slots in Planes. Don't Use 'Em!", Pritrted Circrút Desigtr, a Miller Freeman
publication, Marzo de 1999
BROOKS, D. "Bypass Capacitors. An Interview With Todd Hubing", Printed Circrlit De-
sign, Marzo de 1998
BROOKS, D. "When Signal Integrity Matters", Pritrted Circuit Design, a CMP Media pu-
blication, Septiembre de 2001
BROOKS, D. "Where's the l.Dop?", Printed Circuit Design, a CMP Media publication, Mar-
zo de2001
BROOKS, D. "How to Gauge Traces", Printed CircrJ"it Design, a CMP Media publication,
Enero de 2001
GERKE, D. y KlMME L, B. "EMI and Emissions: Rules, Regulations, and Options", EDN,
Febrero de 2001
NASA " Electromagnetic Interference/ Compatibility (EMI/ EMC). Control Test and
Measurement Facility", National Aeronautics and Space Admini5tration Lyndon B. Jo-
lUlson Space Center. Houston, Texas
RoSA, E. B. "The self and mutual inductances of linear conductors", Bulletitt of the Bu-
reau Standards, Septiembre de 1907
Analog Devices, Electrostatic Discharge (ESD), MT-092 tutorial, 2009

Analog Devices, E.Jvfl, RFI, and Shielditrg Con.cepls, MT-095 tutoría!, 2009
Analog Devices, De.coupling Techtriques, MT-101 tutorial, 2009
Analog Devices, Basic linear design. Chapter 12. Prinled Circtút Board (PCB Design Rules
BROOKS, D. Differential Trace Desigtr Rules. Trutlr vs Fiction, UltraCAD Design, Inc. 2002
BROOKS, D. Electramagnetic Field Ba.s-ics. The Good, the Bad, and the Ugly, UltraCAD De-
sign, lnc. 2002
BROOKS, D. The Effects of Vias otr PCB Traces, UltraCAD Design, lnc. 1994
BRooJ<S, D. ESR and Bypass Capacitar Self Resanant Behavior How to Select Bypass Caps, Ul-
traCAD Design, lnc. 2000
BROOK.~,D. CrosstJ?lk, Part 1. Utrderstanding Forward vs Backward, Mentor Graplúcs Cor-
poration, 2003
RAou, S. Engineering Aspects o/ Electromagtretic Shielding, Sw1 Mkrosysterns, Inc.
Texas lnstruments, Section S. Higlt Speed PCB lAyout Techniques, High Speed Analog De-
sign and Application Seminar
Texas Instruments, System-Level ESD/EMI Protedian Grlide, 2012
559
NORMATIVA:
Procedimiento de medida de radiaciones no ionizantes (9 kHz-300 GHz), Área de Comproba-

ción Técnica de Emisiones Radioeléctricas/Subdirección General de Inspección de las
Telecomunicaciones
LECTURAS COMPLEMENTARIAS Y APLICACIONES:
BROOKS, D. "What's All This Critical Length Stuff, Anyhow?", Printed Circuit Design, a
Miller Freeman publication. Octubre de 1999
BROOKS, D. "Crosstalk, EMI, and Differential Z. Good, Bad, or Ugly?", Printed Circu.it
Design, a CMP Media publication, Junio de 2001
BROOKS, D. Crosstalk Coupling: Single-Ended vs. Differential, Mentor Graphics Corpora-
tion. 2004
BROOKS, D. "Differential Impedance. What's the Difference?", Printed Circuit Desigtl, a
Miller Freeman publication, Agosto de 1998
BROOKS, D. "Embedded Nlicrostrip. Impedance Formula", Printed Circuit Design, a Mi-
ller Freeman publication, Febrero de 2000
BROOKS, D. "PCB lmpedance Control: Formulas and Resources", Printed Cimtit Des·igrt,
Marzo de 1998
BROOKS, D. "Fusing Current. When Traces Melt Without a Trace", Printed Circuit Design,
a Miller Freeman publication, Diciembre de 1998
BR<X)K$, D. "Ground Bounce", Printed Circuit Desigtl, a Miller Free~nan publication. Sep-
tiembre de 1997
BROOKS, D. "Lesson~ Learned Along the Way. RFI Control", Printed Circuit Design, a UP
Media Group publication, Septiembre de 2002
BROOKS, D. Controlling lrnpedances Wlum Nets Brandt Out, Mentor Graphics Corpora-
tion,2005
BROOKS, D. Crosstalk, Part 2. Simulating Crosstalk Effects, Mentor Graphics Corpora-
tion,2004
BROOKS, D. Ai!justing Signa/ Titning (Part 1), MeJltor Graphics Corporation, 2003
BROOKS, D. Adjtlsting Signa/ Timing (Part 2). CrosstJ?lk effect:s in serpmtine traces, Mentor
Graphics Corporation, 2004
BROOKS, D. Termination Placement in PCB Design. How Much Does it Matter?, UltraCAD
Design, lnc., 2002
BROOKS, D. lvlicrostrip Propagation Times. Slower Than We Think, Ultra CAD Design,
Inc., 2002
BROOKS, D. Temperatu·re Rise in PCB Traces, Proceedings of the PCB Design Conference,
West. Marzo de 1998
BROOKS, D. "Propagation Times. Yet Another Brain Teaser!", Printed Circuit Design, a
CMP Media publication, Agosto de 2000
BROOKS, D. "Skin Effect", P.rinted Cimút Design a.nd Manufacturing, UP Media, Diciem-
bre de 2009
BROOK.~, D. "lmpedance Terminations. What's the Value", P.rinted Ci·rcu:it Des·ign, a M i-
ller Freeman publication, Jwúo de 1999
BRCX)J<.~, D. Basic TransmLssion Lines. Wlty Use 'Em At Al/?, UltraCAD Design. Inc. 2002
560
BIBLIOGRAF(A ••
BROOKS, D. P-rapaga.tion Times and Critica! Lengtft. How Tltey Interrelate, UltraCAD De-
sign, Inc. 2002
BROOKH, D. Transmission Line Terminations. lt's The End That Counl$!, UltraCAD Design,
Inc.2002
BROOKS, D. y GRAVei, D. "Current Carrying Capacity of Vias. Sorne Conceptual Obser-
vations", Printed Circuit Design, a UP Media Group publication, Enero de 2003
BROOKS, D. What's This Thing Called "Current''? E/ectrons, Displacement, Light or What?,
Mentor Graphics Corporation, 2005
TEMA 10
LIBROS:
CHEN, W. Y. Home Networkin.g Basis, Pea rson Education, Inc., 2004

CHJANG, H. H. E/ectronics for Nuc/ear Instrumentation. Theory and ApplicJ<tion, .Krieger Pu-
blishing, 1985
Pi!REZ, M. A. et ál. ItrstrumentJ<ci6n Electrónica, Paraninfo, 2003
ARTÍCULOS:
HAAAOLD, D. "4-20 mA Transmitters Alive and Kicking", Control Engineering, Octubre

de 1998
Dataforth Corporation, 4-20 mA Transmitt~trs

Analog Devices, Flexible, 4 mA-to-20 mA, Loop-Powered Pressure Sensor Ttansmitter with
Voltage or Current Drive, 2013
B&B Electron:ics, Current Loop. Application Note, Document No . CLAN1495, 1995
Muxata Power Solutions, Inc., 4-20mA Crlrretrt Loop Primer, Julio de 2009
NORMATIVA:
ANSI/ISA-50.1-1982 (R1992) formerly ANSI/ISA-550.1-1982 (R1992), Compatibility of

Analog Signals for E/ectronic Industrial Process Inst-mments, 1982
HART Commun:ication Foundation, Achieving Digitallrrtegration Using tire HART Froto-
col. Unleashing tire Power of HART üt Your System
HART Commun:ication Foundation, HART Application Cuide, 1999
T. "How to designan inexpensive HART transmitter", Ana.log Applia1tions

K uGili.STADT,
fournai4Q, 2012
561
BIBLIOGRAFfA GENERAL
CAAA, J. J. Elements of Electronic lnstrumentation. and Mensurement, Third ed.ition, Prenti-

ce Hall, 1996
CREuS, A lnstrwnentacwn ind:ustrial, Marcombo, 2005
HELFRJCK, A. D. y COOPBR, W. D.lnstrumentJ>cián. electrónica moderna y técnicas de medicwn,
Prentice- Hall Hispanoamericana, 1991
KHAZAN, A. D. Transducers and Thár Elements, Prentice Hall, 1994
WsaSTER, J. G. Tite lvleasurement, lnstrumentation nnd Sensors Handbook, CRC Press, 1999
562
,
lndice alfabético
¡tA702, 47
operadonru compensad o, 91
¡tA709, 48, 91
o~racional no compenc¡ado, 91
¡¡A741, 48, 91
programable por pin. 149
4/20mA, 534 Ampllficador de
741,48
ai.• lanúento, 152
748,91 audio, 101
carga, 46, 359
A corriente., 46
A1388,449 electrometría, 69
Acceso directo a memori~ 215 entrada y salida diferencial, 136
Acelerómetros capacitivos, 339 ganancia programable, 149
Acop1amjento in~trumentación, 14.0
capadtivo, 466, 492 ten.síón. 46
conductivo, 466,473 trans-<onductancía, 46
inductivo, 466, 492, 503 tran~resistenda, 46
no conductivo, 491 Amplitud, 309
AD202, 157 AMR,298
AD620, 146, 157 Analog Devioes, 116
AD698,345 Ancho de banda, 23, 173
A D7719, 260 a 3dll,23
AD8218, 138 a ganancia unidad, 86
AD8622, 84 de un sistema in-c;trumental, 24
AGC, I S'I equivalente para ruido, 109
Agujas de inyección. 345 esped:ral, 402
Ajuste de tara, 21 Anemómetro de cazoletas, 271
Ajuste h curistíco, 9 Anemómetro de hilo ca tiente, 271
Ajuste compiejo, 10 Anillo de guarda, 521
Alcance, 7, 218 Apantallamiento, 499
Aleaciones de tennopa,..,, 364 APD, 403
AliDsing, 236 Apertura de \•álvulas, 345
Alimen tadón. 49, 52, 116 Aplicaciones analógicas, 49
doble, 49, 52 Aproximación
única, 49,53 de Oessel, 176
Amplificodor, 44 de Outterworth, 175
aislado de tres islas, 154 de Cllebyshev, 175
clwpp.r, 158 inversa d e C hebysh ev, 176
diferencial, 51, 94., 135 Aproximaciones &"Ucesiva.s, 212
de tres operodonales, 140 APS,440
integrados, 138 Aroos eléctricos, 469
ideal, 46, 47, 48 Área de bucle, 505
inversor, 50 Área sensible, 405
no inversor, 51 Atenuación, 51 5, 517
para electrometría, 416 Auta-<alíbracíón. 160
.sin derivas, 159 Auto-compensación del área de bucle, 508
B Celda Peltier, 377, 408

CEN,472
Banda pa.<;ante, 173
CENELEC,472
Banda suprimido, 173
Cero automático, 159
Barbu ·s polt, 296
Cero vivo, 534
Bardeen,47
CFA, 161
Barrag' jammiug, 469
Chaff, 469
B3J'_rera de ai:damiento, 152
Chasis, 93
Báscula, 285
Chopper, 159
Berliníta, 379
Ocio de trabajo, 313
Dit menos signHicntivo, 218
Ofras significativas, 13
Bloq ue isotérmico, 371
Ci.rcu ito de acond icionamiento, 4,43
Bode, 23
Cir<:1.1 ito de Sallen-Key, 183
Brattain, 47
CiKuitos con realimentación múltiple, 186
Brooks, 497
Cir<:1.1itos MFB, 186
Brújula. 3
OSPR,472
BSL472
Oase de protección lP, 477
Dude
CMRR. 94, 145
de corriente, 533
CMYK.429
Tipo 2. 534
Codificador óptico, 428
Tipo 3, 534 Códigos-5, 4.23
Tipo 4, 534
Coeficiente Hall, 447
de tensión, 523
Coefici•'"te térmico, 262
Tipo 2, 534
de l:t corriente de oscurjdad, 406
Tipo 3, 534 Colector abierto, 217
Tipo4, 534
Colorímetro triestímulo, 430
Burr-13rown, 115
Compatibilidad electromagnética, 472
Butterworth, 175
Compatibilidad química, 262, 364
e Compen!lllción de
erro...,., 76
Cableado de alimentación. 481 la unión fria, 372
Cableado de eotrella, 488 offset, 77
CAG, 151 operacionales, 91
Caídas de ten.•ión, 515 Conder.<;ador
Caja.• aolstic:as, 172 cilfndrico, 334
activa!4, 184 diferencio!, 336
Cajas de décadas, 253 de desacoplo, 485
Calendar Van·Dusen, 263 plano, 329
Calibración, 21 Conectores de termopares, 369
a dos puntos, 21 Contactores, 468
a un punto, 2'1 Control automático de ganancia, 151
Cámara anecoica, 511 Convertidor
Cámara gamma, 437 A / 0, 207
Camíno superficial, 153 monótono, 223
Campo rercano, 491 analógico-digital, 207
Campo de medida, 7 corriente-tensión. 51
Campo dinámico, 13 de 1 bit, 213
Campo lejano, 491, 509 multicanal, 231
Capacidad de entrada, 516 •ig¡no-delta, 213
Capacidades conmutadas, 199 ten..,;;ión-<Orriente, 51
Capacidades pari•itas, 412 ~oost., 378
Captador, 4 DC/DC,470
Caracterización, 6 de doble rampa, 212
dinám ica, 22 de rampn, 212
estática, 6 empotrado, 217
Carga nominal, 284 Co.rriente de
Caudal, 388 cortoci-rcuito, 102
CC0,440
desviación, 67
Celda de carga, 283 fugo•, 479
Celda de torsión. 285
564
IN DICE ALFA8€TJCO aa
oscuridad, 406 Ecualizadores de audio, 177

polariución, 67 Efecto
ruido, 502 Doppler, 387
solida máxima, 101 Hall, 446
Foucaul~ 348 Peltier, 361
fuga, 154 piezoeléctrico, 379
polariución, 67 piroeléctrico, 396
Corrientes pulsan tes, 485 Seebeck, 361
CiTVt!r pulse jamming, 469 Thomson, 362
Criterio de 'yqlrist. 91 Venturi, 288
Cuarzo,379 Eficiencia luminosa, 405
Curiosity, 5 EIA-485, 217
Curvo. de caUbradón, 7 Electrodo de enfoque, 421
Elongación máxima, 276
D Elongaciones, 275
Demodulador, 153 EMC, 472
Densid:ad de ruido, 105 EMI, 472
Densidad .,-pectral de ruido, 105 Emi•ión secundaria, 420
Densidad e.-pectral, 105 Emitancia luminosa, 405
Deriv:u:iones, 515 ENB, 109
Derivas, 21, 79 Encapsulado de fotodiodos, 409
a largo plazo, 79 E"rodtr absoluto, 428
temporales, 21 E"codtr magnético, 343
térmit.:1S1 21, 79 Energía de la banda prohibida, 401
Descorga electrostáti.ca, 60 Entrada diferencial, 136
Descargas eléctricas, 471 Envolvente, 477
Desecta,~daor, 435 Eqlrivalente concentrado, 516
Desplazamiento, 44 Eqlrivalente distnbuido, 516
Desviación estándar, 15 Eqlrivalente en 1T, 516
Desviación, 16 Equivalente en T, 516
Detección de di•tancia, 388 Error, 18
Detección de imperfecciones, 392 referido a la entrada, 144
Detector de humo, 431 referido a la salida, 144
Diafonla, 496 relativo, 18
Diafragma, 286 Error de
Diograma de Bode, 23 cabiendo, 478
Dínodo, 421 auto~ca_lt:n.tamiento, 269
Directividad, 405 cuantificación intrínseco, 223

Dispositivos SAW, 395 cuantificación. 223
Diston;ión de cruoe, 102 escala, 223
Distribución de la tensión de offset 78 ganancia, 144
Distribución normal, 13, 14 gananda, 223
Disyuntore.•, 468 no linea lidad diferencial, 224
DMA,215 no linealidad integral, 224
DNLE,224 offset. 224
Dominio de la frecuenda, 22 Escalado de frecuencia, 185
Dominio dd tiempo, 22 Escalado de impedancia, 185
Drenaje abierto, 217 Escalón, 26, 218
DSP, 171, 217 Esclavo,215
Esclavos independientes, 216
E ESD, 60
Espacios de color, 429
E12,98
Espectro de absorción, 434
E24, 98
E•-pectrómetro, 433, 434
E48, 98
Estado tensional simétrico, 278
E%, 98
Estudio del subsuelo, 392
ECG, 152
ETSI, 472
EClCO,J48
Exactitud, 16
Ecogra ffa, 394
Extremos de la alimentación, 54
Ecolocalización, 389
565
• • INSTRUMENTACION ELECTRO N ICA
F normalizada, 181
FSK.S41
Factor de calidad. 173
FTP,SOO
Factor de galga. 274 Fuente de ínterferendas, 465
Factor de ruido, 31
Fuentes conmutadas, 470
Fairchild, 47, 48 Fugas en un ai:dante, 474
Fallos en la alimentación, 53
Fugos superficiales, 412
Fase, 26, 309 Fu llagar, 48
FCC, 472
Full-<lupltx, 2'15
FilterLab, 187
Función d e filtrado, 174
FilterPro, '187
Función de transferencia, 23
Filtro, 32, 171
activo, 172,183
G
de paso alto, 192
de paso bajo, 188 Golga, 273
de red-lazo de banda. 197 extensométrica, 273
pa..abanda. 194 activa, 277
anti..aliasing, 237 de semiconductm; 286
Bayer, 445 pasiva,. m
Cauer, 17'7 piezo-resístivas, 274
elíptico, 177 Ganancia. 44
óptico, 415 de corriente, 423
pasabanda, 172 de modo común, 94
unjvcrsal, 198 diferencia l, 82
Zolotarev, 177 diferenctaJ e n bucle abierto, 85
Filtro d e en bucl~ a bierto, 85
bando oncha, 194 Gauss, 14
banda estrecha, 195 GBW, 86,144
capacidades conmutadas, 201 Generadores piezoeléctricos, 395
Unkwitz.Riley, 177 Geophysical Services lnc., 115
orden impar, 188 GMR.298
orden par, 189 Guarda, 519
n
paso alto, 1 activa, 520
paso bajo, 172 de condensadores, 330
rechazo de banda, 172
variables de estado, 198 H
Flujo luminoso, 405
Hacer un blanco, 21, 160
Flujo magnético, 504
Hacer un cero, 21, 160
Flujo más ico, 389
Hall, 446
Fluorescen cia, 434,435
HART, 54'1
Fondo de csca la, 7
Hnrvcstiug, 360
de salido, 8
Hertz, 420
Fosforescencia, 436
Hidrófono, 385
Fotocátodo, 420
Histéresi.•, 12
Fotocorrienh!, 400, 420
Homo microondas, 494
Foto-detectores híbridos, 427
HPD, 427
Fotodiodo, 398
de ava!Jincha. 403
1
PIN,403
Schottky, 403 re. 210,215
Foto-resish!ncia, 293 r'S, 211
Fotosenmbilidad, 400 numinanda, 405
Fourier, 309 Iluminante, 429
Frecue ncia, 309 lmogen, 438
centra l, 173 20,438
de corre, 24, 172 30,438
a 3 dB, 23, 175 bi11oria, 439
a potel1d3 mltad, 175 en color, 4J9
de muestreo, 228 lineol, 438
d e Nyquist, 235 monoaoma, 439
566
1NDICE ALFABtTICO ••
Impactos, 385 Llvl308, 91

Impedancia LMF100,201
característic..1, 491 Longitud de onda, 400
compartida,473, 480 LSB, 218
de barrera, 479 LVDT, 343
de entrada de modo común, 63
de entrada diferencial, 63 M
de entrada, 46
Maestro, 215
de salida, 46
Jvtagnetoresistencia, 298
entre üneas, 473
Jvtalla conductora, 500
intrínseca, 491
Máquinas eléctrica•, 468
Impul,o-..co, 388
Jvtargen de fa,e, 91
IMR,156
Masa, 93
IMRR, 156
de potencia, 93
INA106, 138
de señal, 93
INAllt, 142
digital, 93
Incertidumbre, 18, 30
Jvtataré, 47
Inductancia de fugas, 468
MAX6610, 374
Inductancia variable, 340
Jvtáxima velocidad de conversión, 228
INLE, 224
Mecani,mo de acoplamiento, 465
Instrumentación, 3
Medida
Instrumentaci6n e]ectrórllca, 3
a cuatro hilos, 251
Integradores tennogeneradores, 378
a d<Y.; hilos, 249
Intensidad luminosa, 405
a tres hilos, 254
Interferencia, 30, 465
ratiomébica, 430
voluntaria, 469
Medida de
de campo lejano, 509
alterna, 317
electromagnética•, 472
amplitud, 310
Interruptor crepuscular, 427
caudal, 287
Intervalo de confianza, 14
corriente, 136
Inversor 5chmitt-trigger, 325
fase, 313
IP67, 476
nivel, 287
velocidad de gases, 287
J vibración. 386
Jamming, 469 Medida por
Jaula de Faraday, 499 compensación, 253
JEDEC,423 compensación, 317
Johnson, lOS deflexión, 317
MEMS,339
K 1vlicrodeformaci6n, 274
1v1icrófono, 385
KAMIOKANDE, 438
de condensador, 333, 334
Kilby,47
1\llicrowire, 21 O
Nfi!Specs, 473
L
MIL-STD, 473
LabVIEW, 208 Mírúiila distancia entre puntos, 153
Lámina metálica, 500 Jvfírúmos cuadrados, 9, 10
LDR,293 Modelo
LEM, 453 de acoplamiento capacitivo, 495
Ley de (ao;; temperaturas intermedias, 364 de interferencias, 522
Ley de los metale.~ homogéneos, 363 de ruido, 107
Ley de los metales intermedios, 363 del fo todiodo, 408
LIDAR, 427 general de ruido, 508
Límite rnálÓIIlo de carga, 284 Modo transparente, 422
Límites de uso, 53 Modulador, 153
Limpieza por ultrasonidos, 393 Montaje superficial, 488
Línea rota, 536 :lvffiL, S
Linealización, 9 MST,339
LinearTechnolOg)', 117 Muestras por segundo, 228
567
Muestreo, 228 Polarización, 66, 148

Multiplexadores analógicos, 149 en continua, 54
lv1X7705. 375 Polinomio de Chebyshev, 175
Polinomios normalizados, 181
N Potencia equivalente de ruido, 407
Potenciómetro, 79
Nanotecnologia, 339
Potenciómetro de cuerda, 300
National Semiconductor, 115
ppb,19
NEMP,471
ppm, 19
NEP. 407
ppt, 19
NKN,380
Precisión, 15
No-linealidad, 10
Presión
Normalización, 181
absoluta, 286,287
Noyce, 47
diferencial, 286, 287
NTC, 288
manométrica, 286, 287
Número de onda, 400
Procesador digital de señal, 171
Nyquist, 236
Producto ganancia-ancho de banda, 86
Promediado, 240
o Propagación de errores, 19
Offset, 16, 43 Protección de entradas, 532
Ohm,249 Protocolo de comunicación sÚlcrona, 215
On Semiconductor, 119 Protocolo HART, 541
Onda acústica superficial, 395 PSD, 432
Onda electromagnética transversal, 491 PSRR,61
OPA277, 72 PTC,293
Operacionales de alta corriente, 101 Puente de
Operacionales realimentados en corrien- Hay,322
te, 161 Maxwell-Wien, 322
Osciladores a cristal, 394 mectida, 252
Outlier, 238 Wheat<tone, 252
Oxígeno disuelto, 435 Pulsación, 309
Oxígeno en sangre, 436 Pulse jamming, 469
Oxímetro de pulso, 436 Pulso electromagnético nuclear, 471
PZT,380
p
Pad, 488
Q
Pantalla, 500 Quenclwr, 435
Par
de hilos, 505 R
trenzado, 500 R331. 425
apantaUado, 500 Rail-to-rat1, 55, 61
Parásitos, 478 Rango
Pares Darlington, 102 ctinámico, 13
Partes por millón, 19 militar, 115
Patrón, 15, 16 Razón de rechazo
PCB, 153, 475 de la alimentación, 61
Peltier, 361 de modo común, 94
PGA280, 150 del modo de aislamiento, 156
Pieza-resistividad, 274 Recorrido de la tensión de salida, 54
Pinza amperimétrica, 453 Recta de calibración, 21
PIR,397 Rectificador de precisión, 51, 310
Piroelectricidad, 396 Recuento de polvo, 431
Piiómetro, 397 Red C-R, 73
Pistas de circuito iinpreso, 476, 487 Red eléctrica, 467
Píxel, 438 REF200,267
Plano de Referencia de tensión, 227, 256
4lin'len.t..,ci6n, 488 Reftgeración fo toctiodos, 408
ma<.;a, 487 Reflectometría, 434
PMT, 420 Registro de apmxim...1ciones sucesivas, 213
568
1NDICE ALFABtTICO ••
Registros de transporte, 441 Sal de la Rochelle, 379

Regresión, 9 Salida diferencial, 136
Regulación de carga, 226 Sasson,438
Regulación de entrada, 227 Saturación, 12
Relación de aspecto, 439 SAW, 395
Relación señal-ruido, 31, 43 SCADA,209
Relé, 468 Schnú tt-trigger, 324
reetl, 160 Schottky, 106
Repeater jammit~g, 469 Seccionadores, 468
Repetibilidad, 15 Seguidor de emisor, 101
Reprodua'bilidad, 15 Selectividad, 349
Resistencia Sensibilidad nula, 11
de alto valor óhnúco, 412 Sensibilidad, 9, 349
de coeficiente de temperatura negativo, 288 nula, 11
de coefiáente de temperatura positivo, 293 Sensor, 4
de entrada, 46,516 capacitivo, 329
de ganancia, 140 ECK0, 349
de salida, 46 fotoeléctrico, 403
del cable, 250 generador, 357
del contacto, 250 Hall de corriente, 452
Thévenin, 67 inductivo, 340
Resü;tencias pareadao;;, 99 óptico reflectivo, 404
Resolución, 13, 218 piroeléctrico, 396
Respuesta espectral, 295, 405, 422 potenciométrico, 299
Respuesta trano;;itoria, 26 yo-yo, 300
Restador, 51 Sensor de
Retardo de grupo, 176 barrera, 403
RGB, 429, 444 cuerda, 300
R1TEG, 377 efecto Hall, 447
Room temperntr1re, 80 humedad capacitivo, 331
RRlO, 61, 116 imagen, 438
RR0,55 CMOS,443
RS-485, 217, 499 másico, 272
RTD,262 movimiento PIR, 397
de bobina, 265 presión, 286
de bobina de gas inerte, 265 diferencial, 286
rubrida de capa fina, 265 capacitivo, 338
RTG,377 pieza-resistivos, 287
RTI, 144 proxirrúdad, 347
RTO, 144 capacitivos, 349
Ruido, 30, 105 inductivo, 347
blanco, 105 reflexión en e•-pejo, 403
de golpeteo, 106 reflexión en objeto, 403
de parpadeo, 106 Señal referida a masa, 137
flicker, 106 Señales diferenciales, 498
interno, 30, 105 SER230,345
Johnson, 105 Serie TOA, 102
lumínico, 415, 418 Series de re~'istenda'i, 98
pulsante, 106 Sesgo, 16
referido a la entrada, 145 Shallllon, 235
referido a la salida, 145 Shoemaker Ohl, 398,399
rosa, 106 Shu11t, 136
térmico, 105 Sistemas
Ruptura de plano de masa, 490 auto-rango, 150
RVDT,347 digitales, 470
de medida, 208
S instrumentales, 3
Sistemas de
51223-01, 413
adqui, ición de datos, 135, 208
Sacarosa, 379
569
comunicación, 471 Tolerancia, 98

control de procesos, 209 Topacio, 379
instrumentación, 3 Trabajo de extracción, 420
medida,3 Tracks, 476, 487
muestreo y retención, 230 Transductor, 4
Slew-rate, 103 Triboelectricidad, 471
Smart,-settsors, 339 TRMS, 4.'>4,
5MD, 488 Troceador, 158
Sobrecarga segura, 284 Tubo fo tomultiplicador, 420
5obrecoste de ajustar, 78 Turbidez, 430
Sobremuestreo, 235 Turmalina, 379
Sockley, 47
Sónar pasivo, 386 u
5ónar, 379 UAF42, 199
Sonda Umbral, 13
de efecto Hall analógica, 448 Urúón
de efecto Hall digital, 450 a masa, 366
digital omnipolar, 450 aislada, 366
digital unipoillr, 450 de referencia, 362
LEM,453 expuesta, 366
5PECT,43"7 fxfa, 362
SPI, 210 USB, 499
Spot jnmmi11g, 469 UTP,500
Steinhart-Hart, 289
STP-500 V
Sumador, 51 Vacío, 287
Valor atípico, 239
T Valor por unidad, 19
TACTAS,386 Variable
Tanto por ciento, 19 analógica, 207
Tara, 160 digital, 20"7
Tatjeta de circuito impreso, 475 adimen"'"ionales, 181
Tasa de decaimiento, 231 VDE, 4"73
TCC,329 Velocidad del sonido, 389
Técnica impulso-eco, 388 Veracidad, 16
Telemedida, 5 Verdadero valor eficaz, 454
TE!vl, 491 V fa, 488
Tensión de Vibraciones, 385
aislamiento, 152 Víctima, 465
desviación de entrada, 70
desviación de salida, 70
w
modo común, 145 V.'elker, 47
modo común, 93 Wente,334
offset 70 Wheatstone, 253
Tens ión diferencial, 93 Widlar, Robert, 47
Teorema del muestreo, 234 Wilhelm Siemens, 262
Terminales de ajuste de offset, 78 V.'illoughby Smith, 294
Tennogenerador, 377
de radioi•ótopos, 377 X
Termopar, 361 x-trans, 445
Texas lnstrumenl•, 115 XYZ, 429
Thévenin, 67
Thomson, 362 z
Tiempo de Zona
adquisición, 230 de inducción, 491
conversión, 227 de radiación, 491
c:stablecimiento, 27 de trabajo de un operacional, 124
tránsito del eiectrón, 424 de trans ición, 174
Tierra, 93 muerta, 11
570
Figuras e ilustraciones:
Las figuras e ilustraciones de la presente obra son originales del autor de la

misma. Se detallan a continuación aquellas que proceden de terceras partes,
sin ser de dominio público, o merecen mención especial:
P. 1. Naddsy. h ttps: / /www.flcker.com/ phos/ 83823904@NOO /. Sin cambios

efectuados.
P. 47. Dibujo de Miguel Ángel Pérez sobre fotografía del hijo de Bob Widlar.
P. 235. Dibujo de Miguel Ángel Pérez sobre fotografía de Oaude E. Shannon
P. 236. Dibujo de Miguel Ángel Pérez sobre fotografía del American In.stitu-
te of Physics
P. 294. Dibujo de Miguel Ángel Pérez sobre fotografía de autor desconocido.
P. 334. Larry H uffman, www.stokowski.org
P. 497. D. Brook.s. UltraCAD,.http: 1/wv.rw.ultracad.com/ person

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INSTRUMENTACIÓN

Calle Velázquez, 31, 3° dcha., 28001 Madrid

©2014, MigueiA. PérezGarcfa

Impresión: Gráficas Summa (Asturias)

Cualquier forma de reproducción, distribución, comunicación pública o transformación de esta obra

1. Caracterización de sistemas Instrumentales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

2.8. Criterios de selección de operacionales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . 115

3. Amplificadores Integrados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133

4. Filtros activos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169

5. Conversión analógico/digital . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205

6.3.3. Circuitos de acondicionamiento para RTD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . 267

7. Sensores capacitivos e Inductivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . • . . . . . . . . . . . . . . . . 307

8. Sensores generadores de sellal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355

8.5.3. Medida de variables eléctricas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451

9. Interferencias y ruido externo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 463

10. Bucles de tensión y corriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 513

Índice alfabético . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 563

SOBRE EL CONTENIDO Y ESTRUCTURA

Cuando se planteó la realización de este texto, el objetivo general fue el de

Obviamente, la herramienta matemática es fundamental para la expresión de

ir más allá, de indagar y de lograr el último de los objetivos: la capacidad de

El desarrollo de un libro no es un asunto sencillo¡ suele haber mucha~ perso-

A continuación se indican los símbolos empleados a lo largo del texto. No se

!s Frecuencia de muestreo (samplin.g [kS/s] [MS/s] [S/s] [s·']

g Aceleración media de la gravedad 9,81 [m/ s2)

n Orden de un filtro (filter order)

S' Salinidad diferencial Adim.%

z Impedancia (impedance) [O]

rp Fase, Desfa~e (phase) Adim. 0

1.1. Definiciones generales, señales y datos

1.1. DEFINICIONES GENERALES, SEÑALES

La Instrumentación es una rama científico-técnica cuyo objetivo es mejo-

Figura 1.1. Concepto general de un sislema instrumen tal.

El primer sensor magnético

tales como microprocesadores, microcontroladores, computadores . .. Un sis-

Figura 1.2. Estructura básica de un sistema el ectrónico de instrumentación.

En un sistema así, el sensor recibe la información de la variable X que se pre-

Figura 1.3. Sistema instrumental como equipo de monitorización de variables.

En otras ocasiones, esas señales se llevan a circuitos de control que tomarán

Un ejemplo de uno de estos sistemas podría ser el control de tempera-

Los esquemas instrumentales presentados hasta aquí son un mero ejemplo de

1.2. CARACTERIZACIÓN ESTÁTI CA

La primera aproximación a la caracterización del comportamiento de cual-

1.2.1. CARACTERIZACIÓN DETERMINISTA DE SISTEMAS

En estas condiciones, supongamos un sistema o sensor como el que aparece en

Figura 1.6. Un sensor lee una variable X y produce u na señal de salida Y.

Precisamente, la forma de caracterizar estáticamente dicho sistema es me-

Figura 1 .8. Conceptos de campo de medida y de alcance.

Por tanto, las unidades de S se corresponden a las de la variable de en-

Uso pobre del

Los parámetros de fondo de escala de salida y sensibilidad terminan de carac-

FSO = Y,,rAx - Y~!IN

Sus unidades de medida corresponden a las de la variable de salida.

• Sensibilidad (sensítívity): es la pendiente de la curva de calibración en cada

Figura 1.11. Curvas de cali bración no l ineal y l ineal.

Un sistema lineal no presenta cambios de linealidad y es muy simple de repre-

Debido a esta simplicidad, se suelen tratar de representar los sistemas me-

metros, para evitar llegar a con- No linealidad

Tampoco hay que olvidar que

EJEMPLO 1.2 (EJ0102.xlsx)

V = 296456 -1497,6 · T + 0,31787 · Ti- 0,0031847 · "J'3 + 1,5721 · 10_. · T4

Eso significa que la sensibilidad es de 1246,4 ¡JV re.

Particularizando más el estudio de la curva de calibración, podemos encontrar

X & X & ,..,_,if"n()