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Facultad de Informática
Fundamentos Físicos y
Tecnológicos de la Informática
Tecnología de Fabricación de
Semiconductores
Recubrimiento Generación de
con foto-resina máscaras
Revenido Exposición
Deposición de
metal
Ataque ácido
Deposición química
por vapor
Cara primaria
Las obleas son esmeriladas con un abrasivo para eliminar los defectos superficiales
dejados por la sierra y alisar las caras de la oblea
Después del esmerilado se realiza un ataque químico con una solución de ácido nítrico
(HNO3)/ácido acético (CH3COOH) o hidróxido de sodio (NaOH) para eliminar grietas
microscópicas derivadas del proceso de esmerilado.
Proceso de Fabricación. FFyTI 9
Esmerilado y Pulido
Pulido
A continuación las obleas se someten a una combinación de pulido químico y
mecánico y es abrillantado con un abrasivo reforzado con sílice, agua de alta
pureza e hidróxido de sodio (NaOH)
Después del pulido la oblea se somete a un lavado para eliminar todas las impurezas
Los patrones son generados con herramientas CAD y son transferidos al retículo
(recubierto con cromo virgen y una capa de fotoresina) por uno de los dos
métodos: generación por láser o por haz de electrones
436 µm (línea G)
405 µm (línea H)
365 µm (línea I)
248 µm (UV profunda)
196 µm (actualmente en prueba)
Después de la exposición, la oblea es revelada tanto con una solución ácida como
una base para eliminar las zonas de la fotoresina expuestas.
Para eliminar el material de las áreas seleccionadas de la oblea se utilizan diversos tipos
de soluciones ácidas, caústicas y bases. Por la peligrosidad inherente a estas sustancias,
los trabajos se realizan en cubas especiales de inmersión.
A pesar de todas las precauciones las obleas deben ser constantemente limpiadas.
Para ello se utiliza un dispositivo especial denominado SRD (Centrifugador, enjuagador
y secador). El SRD limpia la oblea con agua RO/DI y lo seca con nitrógeno de alta
pureza.
Los equipos de implante se clasifican en los de alta corriente (corriente mayor de 3 mA) o
de corriente media (menores de 3 mA)
Para crear una región tipo p, se implanta un ion aceptor del tipo boro (B), galio (Ga) o
Iridio (Ir).
Para crear una región tipo n, se implantan iones donadores de antimonio (Sb),
arsénico (As), fósforo (P) o bismuto (Bi).
Por ejemplo:
El amoniaco (NH3)y el diclorosilano (H2SiCl2) producirán una capa de nitruro de silicio
(Si3N4). El silano y el oxígeno permiten obtener capas de dióxido de silicio. El hexafluoruro
de tungsteno (WF6) se utiliza para crear una capa de siliciuro de tungsteno
Se utiliza para formar las capas de conducción y se aplican dos métodos diferentes: por
evaporación y por chisporreteo, agrupados en la categoría de “deposición física por vapor”
o PVD.
Después de aplicada la capa final de pasivado, la oblea entera pasa por una
preparación posterior, la cual afina la oblea para permitir una mejor disipación
de calor y elimina las grietas tensionales que pueden causar la rotura.
Cada oblea terminada puede contener algunos cientos de dispositivos del mismo tipo
contenidos en pequeños dados. Todos los dados son testeados de forma automática
antes de proceder a cortarlos.
El equipo de testeo utiliza unas sondas tipo agujas para hacer contacto en los
pads de soldadura (puntos de conexión del circuito) de cada dispositivo y
verificar su funcionamiento.
Una vez separados en dados, los circuitos son montados en el cuerpo que contiene
los terminales (pines).
Mediante un proceso automatizado se fijan los cables ultrafinos (en torno a los 30 mm
de diámetro, 1/3 del diámetro del cabello humano) entre cada pad del dispositivo y el
conector (pin) del soporte.
http://www.fullman-kinetics.com/semiconductors/index.html