Universidad Técnica Federico Santa Marı́a

Campus Santiago
Laboratorio Fı́sica 140
Primer Semestre 2022

Interferencia y Difracción
1 Objetivos
ˆ Determinar los anchos de rendijas simples y dobles midiendo patrones de difracción e interferencia.

2 Preguntas previas a la experiencia

ˆ Defina los conceptos de interferencia y difracción.

ˆ ¿En qué consiste el fenómeno de interferencia constructiva y destructiva? Realice un diagrama explicativo de
un patrón de difracción.
ˆ Escriba, explicando cada término, la ecuación de dos mı́nimos o máximos consecutivos en el Experimento de
Young. Indicar la condición necesaria para simplificar el análisis de dicho experimento.
ˆ Indicar las condiciones experimentales para una observación adecuada de difracción de Fraunhofer.

ˆ ¿Qué parámetros se deben medir para obtener el ancho de la rendija en el caso de Difracción de Fraunhofer?

3 Marco Teórico
3.1 Difracción de Fraunhofer

Se produce con frentes de ondas incidente paralelos y observando la difracción a una distancia lejana del elemento
difractor.

Si se observa el fenómeno a una distancia cercana al elemento difractor, los frentes de onda no serán planos.
Este caso se conoce como difracción de Fresnel.

Figure 1: Esquema representativo de la difracción de Fresnel y Fraunhofer.

Rendija rectangular

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Consideremos una rendija rectangular muy estrecha de ancho b y largo L de modo que podemos ignorar los
efectos de los extremos y que además la onda incidente sea normal al plano de la rendija. Según el Principio de
Huygens, cuando la onda incide en la rendija, todos los puntos de la abertura se convierten en fuentes de ondas
secundarias que denominamos ondas difractadas.

Observando las ondas difractadas, a diferentes ángulos θ respecto a la dirección de incidencia, encontramos que
en ciertas direcciones de incidencia su intensidad es nula.

Figure 2: Esquema de onda plana difractada en una rendija rectangular de ancho b.

Estas direcciones están dadas por la relación:

  
sin πb sin(θ)
λ

sin(v)

I = I0 
πb sin(θ)
 = I0
v
λ

Entonces la intensidad es cero para:

πb sin(θ)
= nπ
λ
Por lo tanto:
b x
·√ = λ ; n = 1, 2, 3...
n x + L2
2

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3.2 Interferencia de Young

Consideremos dos rendijas de ancho b y separación a de centro a centro. Cada una de estas rendijas se comporta
como una fuente puntual secundaria. En cualquier punto sobre una pantalla de observación, las contribuciones
de las dos rendijas se superponen y aunque cada una debe ser esencialmente igual en amplitud, pueden diferir
significativamente en su fase.

Las ondas que provienen de las dos fuentes no viajan distancias iguales para llegar al mismo punto de la pantalla
de observación. La diferencia de camino, Figura 3, está dada por:

δ = r2 − r1 = a sin(θ)
De la ecuación anterior se supone que r1 y r2 son paralelos, es decir, se cumple que L  a.

Figure 3: Esquema del Experimento de Young de interferencia.

Condición de franjas brillantes o interferencia constructiva:

δ = a sin(θ) = mλ
Condición de franjas oscuras o interferencia destructiva:
λ
δ = a sin(θ) = (2m + 1)
2
De la Figura 3 se tiene que:
y
tan(θ) =
L

Dado que θ es un ángulo pequeño, se cumple que tan(θ) ∼ sin(θ). La posición lineal de los máximos y mı́nimos
en la pantalla vienen dados, respectivamente, por:
λL
yn = m
a

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λL
yn = (2m + 1)
2a
La distancia entre dos máximos o dos mı́nimos consecutivos es:
λL
∆y =
a

4 Guı́a de trabajo
4.1 Materiales

ˆ Láser.

ˆ Ranuras.

ˆ Rendijas.

ˆ Cinta métrica o regla.

ˆ Pantalla o similar.

4.2 Pasos a seguir

4.2.1 Difracción de Fraunhofer

ˆ Adjuntar en su hoja de trabajo el valor de la longitud de onda λ del láser utilizado.

ˆ Adjuntar en su hoja de trabajo el valor de la distancia L entre rendija y pantalla.

ˆ Obervar y medir la distancia entre el máximo central y los máximos secundarios, x, en el patrón de difracción.
La distancia entre el máximo central y el primer máximo secundario, x1 , lleva asignado el valor n = 1, por
lo tanto, la distancia entre el máximo central y el segundo máximo secundario, x2 lleva asociado el valor de
n = 2 y ası́ sucesivamente.
ˆ Determinar el ancho de la rendija simple b para cada uno de los valores de x y n utilizados. Se recomienda
medir la distancia hasta el tercer máximo secundario. Entregar el promedio del valor de b calculado, con su
respectivo error.

b x
·√ = λ ; n = 1, 2, 3...
n x2 + L2

x ± ∆x [m] n

Table 1: Ejemplo de tabla que se puede utilizar para la recopilación de datos.

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4.2.2 Interferencia de Young

ˆ Adjuntar en su hoja de trabajo el valor de la longitud de onda λ del láser utilizado.

ˆ Adjuntar en su hoja de trabajo el valor de la distancia L entre rendija y pantalla.

ˆ Obervar y medir la distancia entre los puntos de interferencia constructiva, ∆y, en el patrón de interferencia.

ˆ Determinar la separación de la rendija doble a para cada uno de los valores de ∆y. Se recomienda medir esta
distancia tres veces. Entregar el promedio del valor de a calculado, con su respectivo error.

λ·L
∆y =
a

∆y ± δy [m]

Table 2: Ejemplo de tabla que se puede utilizar para la recopilación de datos.

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5 Bibliografı́a
ˆ Young, Hugh D. y Roger A. Freedman. (2009). Cap 35: §35.1 Interferencia y fuentes coherentes; §35.2
Interferencia de la luz procedente de dos fuentes. En Fı́sica Universitaria con Fı́sica Moderna (1207-1217).
México: Pearson Educación.
ˆ Young, Hugh D. y Roger A. Freedman. (2009). Cap 36: §36.1 Difracción de Fresnel y Fraunhofer; §36.2
Difracción desde una sola ranura; §36.4 Ranuras múltiples; §36.5 Rejillas múltiples. En Fı́sica Universitaria
con Fı́sica Moderna (1234-1247). México: Pearson Educación.
ˆ Hecht, E. H., Hecht, E., Victor, T., Malacara, H., Daniel, T., Fernando, T. Z., & Alfred Eugene Hecht, A. Z.
(2000). Óptica. Pearson Educación.

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