Presentacion Metrologia Dimensional

¿Qué es Metrología?
Es la ciencia de las mediciones.
Comprende todos los aspectos,

tanto teóricos como prácticos, que
se refieren a las mediciones, cual
quiera que sean sus
incertidumbres, campos de la
ciencia y tecnología en que tengan
algún lugar.
RESEÑA HISTÓRICA
Las primeras medidas se realizaron con las partes de los miembros

superiores e inferiores del cuerpo. Para medir terrenos se utilizaba el
pie, para medidas más pequeñas se utilizaba la palma, la cuarta o palmo
y para longitudes menores se utilizaba el dedo lo que se llamó la
pulgada.
RESEÑA HISTÓRICA
En el año 1510 Leonardo Da Vinci creó el odómetro.
RESEÑA HISTÓRICA
A partir de la Revolución Francesa en 1789 se vio la necesidad de crear un sistema de

medida universal
La primera propuesta fue la longitud de un péndulo cuyo periodo de duración es 1

segundo, pero no fue viable debido a que la gravedad es variable en los diferentes
puntos de la tierra
DEFINICION DEL METRO
En el año 1791 la Academia de Ciencias de

París propuso el metro como la diezmillonésima
parte del cuadrante del meridiano terrestre.
En 1889 en la primera
Conferencia General de
Pesas y Medidas se
materializó el metro en
una regla de platino iridio.
En 1960 en la 11ª Conferencia General de Pesas y Medidas se definió el

metro como 1’650.763,73 longitudes de onda de la radiación
correspondiente a la transición entre los niveles 2p10 y 5 d5 del átomo de
kriptón 86.
En 1983 en la 17ª Conferencia General de Pesas y Medidas se definió el

metro como la velocidad de la luz recorrida en un tiempo de 1/299’792,468
segundos.
1 metro
 INM David Alonso Plazas Fernández
3,34 x 10-9 segundos

FECHA DEFINICIÓN DEL METRO EXACTITUD
1791 Diezmillonésima parte del cuadrante del 0,06 mm = 60 m

meridiano terrestre.
1889 Prototipo Internacional del metro 0,002 mm = 2 m
1960 Primer patrón de longitud en quantum 0,000.001 mm = 0,001 m

= 1 nm
1983 Velocidad de la luz 0,000.000.1 mm = 0,000.1 m

= 0,1 nm
Hoy Velocidad de la luz mejorando la exactitud 0,000.000.02 mm =0,000.02 m
del láser He - Ne = 0,02 nm
Cabello humano = 0,08 mm = 80 m = 80,000 nm
DIVISIÓN DE LA METROLOGÍA
METROLOGÍA CIENTÍFICA
METROLOGÍA INDUSTRIAL
METROLOGÍA
METROLOGÍA LEGAL
METROLOGÍA CIENTÍFICA
Investiga métodos y procedimientos para medir y mejorar las mediciones,

entre sus actividades se encuentran:
- Mejoramiento del Sistema Internacional de Unidades.
- Realización, reproducción y diseminación de las unidades de medición y

patrones.
- Mejorar los métodos de medición, exactitud e incertidumbre.
- Mejorar los instrumentos de medición.
- Capacitación de personal.
METROLOGÍA INDUSTRIAL
Es la metrología que se aplica a los procesos industriales, sus principales

actividades son las siguientes:
- Información sobre medicione s

 INM David Alonso Plazas Fernández
- Calibraciones
- Trazabilidad
- Servicios de calibración
INM David Alonso Plazas Fernández
- Aseguramiento de la calidad.
METROLOGÍA LEGAL
Protege al consumidor y establece reglas para la relación industrial y
comercial. La Metrología Legal sirve para:
- Tener una uniformidad en las medidas
- Garantizar el intercambio justo de mercancías.
- Facilitar la trazabilidad a la industria y el comercio.
Los recursos necesarios son los siguientes:
- Un instituto Nacional de Metrología
- Leyes, reglamentos y directivas técnicas.
- La organización técnica oficial de la verificación (S.I.C.)

SISTEMA INTERNACIONAL DE
UNIDADES
MAGNITUD UNIDAD SIMBOLO
Es un conjunto de unidades
LONGITUD metro m confiables, uniformes y
MASA kilogramo kg adecuadamente definidas que
sirven para satisfacer las
TIEMPO segundo s necesidades de medición.
CORRIENTE amperio A
ELÉCTRICA
El Sistema Internacional (SI)
TEMPERATURA kelvin K está basado unidades básicas y
unidades derivadas.
CANTIDAD DE mol mol
SUSTANCIA
INTENSIDAD candela cd
LUMINOSA
USO DE LOS SUBMULTIPLOS DEL
METRO
1m 100 cm 1000 mm
USO 0,1 m 10 cm 100 mm
GENERAL
0,01 m 1 cm 10 mm
0,001 m 0,1 cm 1 mm
METRO
1 mm 1000 m
USO INDUSTRIAL 0,1 mm 100 m
0,01 mm 10 m
0,001 mm 1 m
METRO
1 m 1000 nm
USO EN
LABORATORIOS 0,1 m 100 nm
DE CALIBRACIÓN
0,01 m 10 nm
0,001 m 1 nm
CAMPO DE APLICACIÓN DE LA
METROLOGÍA DIMENSIONAL
LONGITUDES
ANGULOS
SUPERFICIES
FORMAS
LONGITUDES
INTERIORES EXTERIORES PROFUNDIDA

ANGULOS

SUPERFICIES
RUGOSIDAD
FORMAS
CLASIFICACION DE LOS
INSTRUMENTOS Y APARATOS
DE METROLOGÍA DIMENSIONAL
LINEAL ANGULAR
MEDIDA LINEAL
MEDIDA DIRECTA MEDIDA INDIRECTA
CON
TRAZOS CON DIMENSIÓN FIJA
COMPARATIVA RELATIVA
CON TORNILLO CORDENADAS

MICROMÉTRICO
MEDIDA DIRECTA
Con trazos
Medidor de
altura
Cinta métrica [1] [2]
enrollable
Pie de rey
Regla graduada INM David Alonso Plazas Fernández
1.
MEDIDA DIRECTA
Con tornillo micrométrico
[2]
[1]
Cabeza
micrométrica
Micrómetro
MEDIDA DIRECTA
Con dimensión fija
Bloques
patrón [1]
[2]
Pasa no pasa
[3]
[4]
Galgas
MEDIDA INDIRECTA POR
COMPARACIÓN
COMPARADOR DE CARÁTULA
MEDIDA INDIRECTA POR
COORDENADAS
Máquina de
medición por
coordenadas

MEDIDA INDIRECTA
RELATIVA
NIVEL
[1]
[1] Imagen tomada de Http://catalogo.tecnoferramentas.com.br/produtos/mitutoyo/rugosimetro/17856102a-

rugosimetro-portatil-digital-sj210
MEDIDA ANGULAR
MEDIDA DIRECTA MEDIDA INDIRECTA
CON TRAZOS CON DIMENSIÓN FIJA TRIGONOMETRIA

MEDIDA ANGULAR
Con trazos
[1]
Escuadra de
combinación
Goniómetro
1 Imagen tomada de: http://www.herramientas-madera.com/escuadra-combinada-de-4-piezas p 9141/
2 Imagen tomada de:

MEDIDA ANGULAR
Con dimensión fija
Bloque angular
INM David Alonso Plazas Fernández INM David Alonso Plazas Fernández
Escuadra
MEDIDA s
e
ANGULAR n
Trigonometría o
s
Regla de
Máquina de tres coordenadas

UNIFICACIÓN DE
CONCEPTOS
VOCABULARIO BÁSICO EN
METROLOGÍA
VIM 2008 Y CEM
VALOR MEDIDO
Valor de una magnitud

que representa un
resultado de medida.
x
[2.10 VIM]

MEDICIÓN
Proceso que consiste en

obtener experimentalmente uno
o varios valores que pueden
atribuirse razonablemente a
una magnitud.
[2.1] VIM
EXACTITUD DE MEDIDA
Proximidad entre un valor medido y un valor verdadero de

un mensurando
[2.13 VIM]
REPETIBILIDAD DE MEDIDA
Precisión de medida bajo un conjunto de condiciones de

repetibilidad.
[2.21 VIM]
EXACTITUD Y REPETIBILIDAD
VN VN
X
X
NO REPETIBLE, NO EXACTO NO EXACTO Y REPETIBLE

EL INSTRUMENTO SE AJUSTA
SE DESCLASIFICA EL INSTRUMENTO
EXACTITUD Y REPETIBILIDAD
VN VN
X X
EXACTO, PERO NO REPETIBLE
INSTRUMENTO A MANTENIMIENTO
REPETIBLEYEXACTO
INSTRUMENTOOK.
MAGNITUD DE INFLUENCIA
Magnitud que, en una

medición directa, no
afecta a la magnitud que
realmente se está
midiendo, pero si afecta
a la relación entre la
indicación y el resultado
de medida.
[2.52 VIM]
REPRODUCIBILIDAD DE MEDIDA
Precisión de medida bajo un conjunto de
condiciones de reproducibilidad
[2.25 VIM]
INCERTIDUMBRE DE MEDIDA
Parámetro no negativo que

caracteriza la dispersión de
los valores atribuidos a un
mensurando, a partir de la
información que se utiliza.
[2.26 VIM]
ERROR DE MEDIDA
Diferencia entre un valor medido de una magnitud y un valor de

referencia
[2.16 VIM]
Medición = 5,103 mm
Valor verdadero (patrón) = 5,100 mm
E = 5,103 mm – 5,100 mm
E = 0,003 mm
CORRECCIÓN
Compensación de un efecto sistemático estimado

[2.53 VIM]
Valor Leído = 5,103 mm

Error = 0,003 mm
Corrección = -0,003 mm
V V = 5,103 mm + (-0,003) mm
V V = 5,100 mm
ESCALA DE UN INSTRUMENTO DE MEDIDA
CON DISPOSITIVO VISUALIZADOR
Parte de un instrumento visualizador, que consiste en un
conjunto ordenado de marcas, eventualmente acompañadas de
números o valores de la magnitud.
[3.5 VIM]

INTERVALO DE INDICACIONES
Conjunto de valores comprendido entre las dos indicaciones extremas

[4.3 VIM]
Intervalo
VALOR NOMINAL
Valor redondeado o aproximado de una magnitud característica de un

instrumento o sistema de medida, que sirve de guía para su
utilización apropiada.
[4.6 VIM]
AJUSTE DE CERO DE UN SISTEMA DE
MEDIDA
Ajuste de un sistema de medida para que éste proporcione una
indicación nula cuando la magnitud a medir tenga valor cero.
[3.12 VIM]

DIVISION DE ESCALA
Parte de una
escala entre dos
marcas sucesivas
de la escala.
RESOLUCIÓN
Mínima variación de la magnitud

medida que da lugar a una
variación perceptible de la
indicación correspondiente.
[4.14 VIM]
RESOLUCIÓN
PIE DE REY MICROMETRO
0,1 mm  0,001 mm
PATRON DE MEDIDA
Realización de la definición de una magnitud dada, con un valor
determinado y una incertidumbre de medida asociada, tomada como
referencia.
[5.1 VIM]
Base geodésica PTB

PATRON
Banco para calibración de

Bloques patrón comparadores
PATRON NACIONAL DE MEDIDA
Patrón reconocido por una autoridad nacional

para servir, en un estado o economía, como
base para la asignación de valores a otros
patrones de magnitudes de la misma naturaleza
[5.3 VIM]
VERIFICACIÓN
Aportación de evidencia objetiva de que un elemento dado

Satisface los requisitos
especificados. [2.44 VIM]
Ejemplo:
Clasificar un instrumento según la norma o a los errores

permitidos del fabricante en base a los resultados
obtenidos en la calibración.
CALIBRACIÓN
Operación que bajo condiciones

especificadas establece, en una
primera etapa, una relación entre los
valores y sus incertidumbres de
medida asociadas obtenidas a partir
de los patrones de medida, y las
correspondientes indicaciones con
sus incertidumbres asociadas y, en
una segunda etapa, utiliza
Esta información para establecer
una relación que permita obtener un
resultado de medida a partir de
una indicación.
[2.39 VIM]
TRAZABILIDAD METROLÓGICA
Propiedad de un resultado de medida por la cual el resultado puede

relacionarse con una referencia mediante una cadena ininterrumpida y
documentada de calibraciones, cada una de las cuales contribuye a la
incertidumbre de medida.
[2.41 VIM]
JERARQUIA DE LOS PATRONES
PATRON
INTERNACIONAL

PATRON
NACIONAL

PATRON
NACIONAL
DE

PATRON DE
TRABAJO

INSTRUMENTO
S DE USO
GENERAL

TRAZABILIDAD PARA UNA
CINTA MÉTRICA
Base geodésica del

Instituto Nacional de
Metrología
TRAZABILIDAD PARA UNA
CINTA MÉTRICA
Base geodésica del

PTB de Alemania.
(Physikalisch-
Technische
Bundesanstalt) trazada
a través de método
interferométrico.
TRAZABILIDAD PARA UNA REGLA
Máquina de medición
por coordenadas del
Instituto Nacional de
Metrología
Patrón de pasos KOBA

620 mm
Máquina de tres
coordenadas del
CENAM (Centro
Nacional de Metrología
de México)
Laboratorio de láseres
estabilizados del
CENAM (Centro
de México)
TRAZABILIDAD PARA UN PIE DE REY

Bloque patrón de acero

INM David Alonso Plazas

Comparador TESA UPD del
Instituto Nacional de Metrología
Comparador por interferometría del CENAM

(Centro Nacional de Metrología de México)
Interferómetro láser del CENAM (Centro

Nacional de Metrología de México)
TRAZABILIDAD PARA UN MICRÓMETRO
Igual que para el pie de rey

TRAZABILIDAD PARA UNA ESCALA
Sistema óptico de medición

Escalas de vidrio
de alta precisión
Microscopio de
medición para
escalas de alta
precisión
Laboratorio de láseres
estabilizados del
CENAM (Centro
de México)
PIE DE REY TIPO A
Superficies para
Tornillo de
mediciones internas
fijación
Cursor
Cuerpo principal
Nonio o Barra de
Escala principal
Vernier profundidad
Mandíbula móvil
Superficies para
mediciones exteriores
Mandíbula fija
PIE DE REY TIPO A
Medidas exteriores
PIE DE REY TIPO A
Medida de profundidad

PIE DE REY TIPO A
Medidas interiores
RESOLUCIÓN PIE DE REY
A = División de escala
B = # de divisiones del nonio.
Res = A/ B
Res = 1 mm /10
Res = 0,1 mm

Res = A / B
Res = 1 / 20
Res = 0,05 mm
Res = A / B
Res = 1 / 20
Res = 0,05 mm
Res = A / B
Res = 1 / 50
Res = 0,02 mm
EJERCICIOS DE LECTURA
Res = 0,1 mm 11,4 mm

Res = 0,1 mm 0,3 mm

Res = 0,05 mm 1,45 mm

Res = 0,05 mm 30,35 mm

Res = 0,02 15,40 mm

mm
MICRÓMETRO
MICRÓMETRO
DEFINICIÓN Instrumento de medición con la denominación del submúltiplo
del metro de m.

PARTES
SUPERFICIES DE MEDICIÓN
YUNQUE DE
MEDICIÓN TAMBOR
HUSILLO DE
MEDICIÓN
TRINQUETE
AISLAMIENTO

ARCO
PARTES
SEGURO DEL CILINDRO TAMBOR

HUSILLO ESCALA FIJA ESCALA MÓVIL
LINEA DE
REFERENCIA
CASQUILLO
GRADUADO
17,795 mm
3,107 mm
6,415 mm
6,915 mm
10,611 mm
Título o subtítulo
Gracias

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¿Qué es Metrología?

Es la ciencia de las mediciones.

Comprende todos los aspectos,

Las primeras medidas se realizaron con las partes de los miembros

A partir de la Revolución Francesa en 1789 se vio la necesidad de crear un sistema de

La primera propuesta fue la longitud de un péndulo cuyo periodo de duración es 1

En el año 1791 la Academia de Ciencias de

En 1960 en la 11ª Conferencia General de Pesas y Medidas se definió el

En 1983 en la 17ª Conferencia General de Pesas y Medidas se definió el

 INM David Alonso Plazas Fernández

3,34 x 10-9 segundos

1791 Diezmillonésima parte del cuadrante del 0,06 mm = 60 m

1960 Primer patrón de longitud en quantum 0,000.001 mm = 0,001 m

1983 Velocidad de la luz 0,000.000.1 mm = 0,000.1 m

Investiga métodos y procedimientos para medir y mejorar las mediciones,

- Mejoramiento del Sistema Internacional de Unidades.

- Realización, reproducción y diseminación de las unidades de medición y

- Mejorar los métodos de medición, exactitud e incertidumbre.

- Mejorar los instrumentos de medición.

Es la metrología que se aplica a los procesos industriales, sus principales

- Información sobre medicione s

- Tener una uniformidad en las medidas

- Garantizar el intercambio justo de mercancías.

- Facilitar la trazabilidad a la industria y el comercio.

Los recursos necesarios son los siguientes:

- Un instituto Nacional de Metrología

- Leyes, reglamentos y directivas técnicas.

- La organización técnica oficial de la verificación (S.I.C.)

INTERIORES EXTERIORES PROFUNDIDA

INM David Alonso Plazas Fernández

INM David Alonso Plazas Fernández

MEDIDA DIRECTA MEDIDA INDIRECTA

CON TORNILLO CORDENADAS

Cinta métrica [1] [2]

INM David Alonso Plazas Fernández

[1] Imagen tomada de Http://catalogo.tecnoferramentas.com.br/produtos/mitutoyo/rugosimetro/17856102a-

MEDIDA DIRECTA MEDIDA INDIRECTA

CON TRAZOS CON DIMENSIÓN FIJA TRIGONOMETRIA

2 Imagen tomada de:

Valor de una magnitud

INM David Alonso Plazas Fernández

Proceso que consiste en

Proximidad entre un valor medido y un valor verdadero de

Precisión de medida bajo un conjunto de condiciones de

NO REPETIBLE, NO EXACTO NO EXACTO Y REPETIBLE

Magnitud que, en una

Parámetro no negativo que

Diferencia entre un valor medido de una magnitud y un valor de

Compensación de un efecto sistemático estimado

Valor Leído = 5,103 mm

INM David Alonso Plazas Fernández

Conjunto de valores comprendido entre las dos indicaciones extremas

INM David Alonso Plazas Fernández

Valor redondeado o aproximado de una magnitud característica de un

INM David Alonso Plazas Fernández

Mínima variación de la magnitud

INM David Alonso Plazas Fernández

INM David Alonso Plazas Fernández

PIE DE REY MICROMETRO

Base geodésica PTB

Banco para calibración de

Patrón reconocido por una autoridad nacional