Se desea comprobar si existe alguna relacion entre la temperatura ambiente y el numero de defectos encontrados al ensam

circuitos de un ordenador. La hoja de datos recogidos es la que se muestra en la tabla.

Tº 15 16 17 18 19 20 21 22 23
Nº defectos 4 11 16 18 24 31 34 42 45

Nº defectos
60

50

40

30

20

10

0
14 16 18 20 22 24 26
os encontrados al ensamblar los
la tabla.
24 25
51 55

24 26