Coeficientes de las cartas de control

CARTA DE CONTROL X - R

Cálculo del estadístico de R: Calculo del estadístico X :

m m

∑ Ri ∑ Xi
i=1
Ŕ= X́ = i =1
m m

FASE 1
Límite de control para la carta R: Límite de control para la carta X :
UCL=D 4 R UCL= X́ + A 2 R
LC=R LC = X́
LCL=D3 R LCL= X́ − A2 R

Parámetros del proceso:

E ( R) R0
σ^ = = =¿
d2 d2

^μ= E( X́ )= X́ 0

FASE 2
Límite de control para la cartaR: Límite de control para la carta X :
UCL=D 2 σ UCL=μ+ A σ

LC=d 2 σ=R 0 LC=μ

LCL=D1 σ LCL=μ− A σ
 CARTA DE CONTROL X - S

Cálculo del estadístico de S: Cálculo del estadístico de X́ :

m m

∑ Si ∑ X́ i
i=1
Ś= X́ = i =1
m m

FASE 1
Límite de control para la medida de Límite de control para la medida de
variabilidad S: localización X :

UCL=B 4 Ś ¿ UCL= X́ + A3 Ś ¿

LC=Ś ¿ LC = X́
LCL=B 3 Ś¿ LCL= X́ −A 3 Ś ¿

Parámetros del proceso:

¿
E ( Ś ¿ ) Ś 0
σ^ = =
c4 c4

^μ= E( X́ )= X́ 0

FASE 2
Límite de control para la medida de Límite de control para la medida de
variabilidad S: localización X :
UCL=B6 σ 3
UCL=μ+ σ=μ+ Aσ
LC=C 4 σ
√n
CL=μ
LCL=B 5 σ
3
LCL=μ− σ=μ−Aσ
√n
 CARTA DE CONTROL X - S2
α =0,0027

Cálculo del estadístico de X́ :

m
Cálculo del estadístico de Ś2:
∑ X́ i m

X́ = i =1
m
∑ S2j
Ś2= i=1
m
FASE 1
Límite de control para la varianza Ś2:
Límite de control para la medida de
Ś2 X 21−α localización X́ :
2
UCL=
n−1
Ś2
LC=Ś 2
UCL= X́ +3

UCL= X́
√ n

Ś 2 X 21 α
Ś 2
LCL=
n−1
2

Parámetros del proceso:

UCL= X́−3
√ n

Ś
σ^ =
C4

^μ= X́

FASE 2
Límite de control para la varianza Ś2: σ 2 X 21 α
2
LCL=
σ 2 X 21 −α n−1
2
UCL=
n−1
Límite de control para la medida de
LC =C24 σ 2 localización X́ :
 σ2 σ2
UCL=μ+ 3
UCL=μ
n √ UCL=μ−3
n √

CARTA DE CONTROL MR

Cálculo del estadístico de X́ : Cálculo del estadístico de ḾR :

m
MR=|X i−X 1−i|
∑ Xi
X́ = i =1 n
m ḾR=∑ | X i−X 1−i|/n−1
i=1

FASE 1
´ :
Límite de control para MR Límite de control para X́ :

UCL=D 4 ( 2 ) ḾR UCL= X́ + A2 (2) ḾR

LC= ḾR LC = X́
´
LCL=D 3 (2) MR ´
LCL= X́ −A 2 (2) MR

Parámetros del proceso:

ḾR
E ( ḾR )= =σ
d2 ( 2)

E ( X́ ) =μ= X́

FASE 2
Límite de control para la medida de ḾR
LCL=μ−3
localización X́ : d2
Límite de control para la medida de
ḾR
UCL=μ+ 3 ´ :
variabilidad MR
d2
LC=μ= X́ UCL=D 2 ( 2 ) σ
LC=d 2 (2 ) σ LCL=D1 ( 2 ) σ

CARTA DE CONTROL EWMA

EWMA t =Z t

Cálculo del estadístico EWMA:

El valor de inicio para el
Zt =λ X t + ( 1− λ ) Z t−1 estadístico de control EWMA t-1 (
Zt −1 ¿ esμ, que por lo general es X́
.
Cálculo de la varianza estadístico EWMA:
λ 2
σ 2Z = σ
2−λ
Límite de control para la medida de localización o centramiento del proceso:
1
λ
UCL= X́ + L [ ]
2−λ
2
σ

L=3
LC=μ= X́
1
λ 2
LCL= X́ −L [ ]
2− λ
σ
 CARTA DE CONTROL EWMA (Crowder & Hamilton)

Crowder & Hamilton (1992) proponen los siguientes estadísticos EWMA para las medidas
de variabilidad aplicando log ( S 2t ) donde el estadístico S2t es la varianza del i-ésimo
subgrupo, los límites de control están definidos como:
1
λ
UCL=c+ L d [ 2−λ ] 2

L=3
LC =c
1
λ
LCL=c−L d [ 2−λ ] 2

Donde c y d están definidos como:

1 1 1
c=ln ( σ 2 )− − +
n−1 3 ( n−1 ) 15 ( n−1 ) 4
2

2 2 4 16
d= + + −
n−1 ( n−1 ) 3 ( n−1 ) 15 ( n−1 )5
2 3

La estadística EWMA es calculada:

El valor de inicio para el
Zt =λ log ( S 2t ) + ( 1−λ ) Z t−1
estadístico de control EWMA t-1 (
Zt −1 ¿ es .
 CARTA DE CONTROL CUSUM

K=0.5 σ
⁡¿ ¿
C +¿=max
i

⁡¿¿
C−¿=max
i
 CARTA DE CONTROL P y np
( np )i Di
p ̂ i= =
ni ni
m

∑ Di
Ṕ= i=1
m

∑ ni
i =1

LIMITES DE CONTROL

ṕ(1− ṕ)
UCL= ṕ+
√
3

LC= ṕ

ṕ (1− ṕ)
LCL= ṕ−
√
3

Cálculo del estadístico nP

m

∑ Di
´ i=1
np= m

∑m
i=1

Limites de control de la carta np

UCL= np+3
´ √ np(1− ṕ)
CL=np
´
LCL=np−3
´ √ np(1− ṕ)

INDICES DE CAPACIDAD

Índice de capacidad clásico (corto plazo)

les−lei
C p=
6 σ (sigma del rango movil)

Índice de capacidad (largo plazo)

les−lei
C p=
6 σ ( sigma de los datos)

C p se tiene que encontrar en el intervalo de 1<C p ≤ 1,33 para concluir que proceso es
adecuado.

Índice de capacidad promedio (corto plazo)

les−μ μ−lei
C pk =min {C pu= ; C pu= }
3 σ (sigma del rango movil) 3 σ (sigma delrango movil)

Índice de capacidad promedio (corto plazo)

les−μ μ−lei
C pk =min {C pu= ; C pu= }
3 σ (sigma de losdatos) 3 σ (sigma de los datos)