The seismic refraction surveying method uses seismic energy that returns to

the surface after travelling through the ground along refracted ray paths.As
briefly discussed in Chapter 3, the first arrival of seismic energy at a detector
offset from a seismic source always represents either a direct ray or a
refracted ray.This fact allows simple refraction surveys to be performed in
which attention is concentrated solely on the first arrival (or onset) of seismic
energy, and time–distance plots of these first arrivals are interpreted to
derive information on the depth to refracting interfaces. As is seen later in
the chapter, this simple approach does not always yield a full or accurate
picture of the subsurface. In such circumstances more complex
interpretations may be applied.The method is normally used to locate
refracting interfaces (refractors) separating layers of different seismic
velocity, but the method is also applicable in cases where velocity varies
smoothly as a function of depth or laterally.

El método de medición de refracción sísmica utiliza energía sísmica que

regresa a la superficie después de viajar a través del suelo a lo largo de
trayectorias de rayos refractados. Como se discutió brevemente en el
Capítulo 3, la primera llegada de energía sísmica a un detector desplazado de
una fuente sísmica siempre representa un rayo directo o un rayo refractado.
Este hecho permite realizar encuestas de refracción simples en las que la
atención se concentra únicamente en la primera llegada (o inicio) de energía
sísmica, y las gráficas de tiempo-distancia de estas primeras llegadas se
interpretan para derivar información sobre la profundidad a interfaces de
refracción. Como se ve más adelante en el capítulo, este enfoque simple no
siempre produce una imagen completa o precisa del subsuelo. En tales
circunstancias, se pueden aplicar interpretaciones más complejas. El método
se usa normalmente para localizar interfaces de refracción (refractores) que
separan capas de diferente velocidad sísmica, pero el método también es
aplicable en casos en los que la velocidad varía suavemente en función de la
profundidad o lateralmente.

Refraction seismograms may also contain reflection events as subsequent

arrivals, though generally no special attempt is made to enhance reflected
arrivals in refraction surveys. Nevertheless, the relatively high reflection
coefficients associated with rays incident on an interface at angles near to
the critical angle often lead to strong wide-angle reflections which are quite
commonly detected at the greater recording ranges that characterize
largescale refraction surveys. These wide-angle reflections often provide
valuable additional information on subsurface structure such as, for example,
indicating the presence of a low-velocity layer which would not be revealed
by refracted arrivals alone.

Los sismogramas de refracción también pueden contener eventos de

reflexión como llegadas posteriores, aunque generalmente no se hace ningún
intento especial para mejorar las llegadas reflejadas en las encuestas de
refracción. Sin embargo, los coeficientes de reflexión relativamente altos
asociados con los rayos incidentes en una interfaz en ángulos cercanos al
ángulo crítico a menudo conducen a fuertes reflejos de gran angular que se
detectan con bastante frecuencia en los rangos de registro más grandes que
caracterizan los estudios de refracción a gran escala. Estas reflexiones de
gran angular a menudo proporcionan información adicional valiosa sobre la
estructura del subsuelo, como, por ejemplo, la presencia de una capa de baja
velocidad que no sería revelada solo por las llegadas refractadas.

The vast majority of refraction surveying is carried out along profile lines
which are arranged to be sufficiently long to ensure that refracted arrivals
from target layers are recorded as first arrivals for at least half the length of
the line. Refraction profiles typically need to be between five and ten times
as long as the required depth of investigation

La gran mayoría de los estudios de refracción se llevan a cabo a lo largo de

líneas de perfil que están dispuestas para ser lo suficientemente largas como
para garantizar que las llegadas refractadas de las capas objetivo se registren
como primeras llegadas durante al menos la mitad de la longitud de la línea.
Los perfiles de refracción generalmente deben ser entre cinco y diez veces
más largos que la profundidad de investigación requerida
A consequence of this requirement is that large seismic sources are needed for the detection of
deep refractors in order that sufficient energy is transmitted over the long range necessary for the
recording of deep refracted phases as first arrivals.The profile length required in any particular
survey depends upon the distribution of velocities with depth at that location.The requirement in
refraction surveying for an increase in profile length with increase in the depth of investigation
contrasts with the situation in conventional reflection surveying, where near-normal incidence
reflections from deep interfaces are recorded at small offset distances.

Una consecuencia de este requisito es que se necesitan grandes fuentes

sísmicas para la detección de refractores profundos a fin de que se transmita
la energía suficiente en el largo alcance necesario para el registro de las fases
refractadas profundas como primeras llegadas. La longitud del perfil
requerida en cualquier estudio particular depende sobre la distribución de
velocidades con profundidad en esa ubicación. El requisito en el
levantamiento por refracción para un aumento en la longitud del perfil con el
aumento en la profundidad de la investigación contrasta con la situación en
el levantamiento de reflexión convencional, donde se registran reflexiones de
incidencia casi normal de interfaces profundas en Pequeñas distancias de
desplazamiento.

Refraction seismology is applied to a very wide range of scientific and technical problems, from
engineering site investigation surveys to large-scale experiments designed to study the structure
of the entire crust or lithosphere. Refraction measurements can provide valuable velocity
information for use in the interpretation of reflection surveys, and refracted arrivals recorded
during land reflection surveys are used to map the weathered layer, as discussed in Chapter 4.This
wide variety of applications leads to an equally wide variety of field survey methods and
associated interpretation techniques.

La sismología de la refracción se aplica a una amplia gama de problemas

científicos y técnicos, desde estudios de investigación de sitios de ingeniería
hasta experimentos a gran escala diseñados para estudiar la estructura de
toda la corteza o litosfera. Las mediciones de refracción pueden proporcionar
información valiosa sobre la velocidad para su uso en la interpretación de
levantamientos de reflexión, y las llegadas refractadas registradas durante los
levantamientos de reflexión terrestre se usan para mapear la capa
erosionada, como se discutió en el Capítulo 4. Esta amplia variedad de
aplicaciones conduce a una variedad igualmente amplia de métodos de
encuesta de campo y técnicas de interpretación asociadas.

In many geological situations, subsurface refractors may approximate planar surfaces over the
linear extent of a refraction line. In such cases the observed travel-time plots are commonly
assumed to be derived from a set of planar layers and are analysed to determine depths to, and
dips of, individual planar refractors.The geometry of refracted ray paths through planar layer
models of the subsurface is considered first, after which consideration is given to methods of
dealing with refraction at irregular (non-planar) interfaces.

En muchas situaciones geológicas, los refractores subsuperficiales pueden

aproximarse a superficies planas sobre la extensión lineal de una línea de
refracción. En tales casos, se supone comúnmente que las gráficas de tiempo
de viaje observadas se derivan de un conjunto de capas planas y se analizan
para determinar las profundidades y los descensos de los refractores planos
individuales. La geometría de las trayectorias de rayos refractados a través de
modelos de capas planas del subsuelo. se considera primero, luego de lo cual
se consideran los métodos para tratar la refracción en interfaces irregulares
(no planas).