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Facultad de Ingeniería
Estadística II
Hora: 11:20
a)
2. Utilice sus propias palabras para explicar el significado de los siguientes términos.
a. Valor crítico: Podemos decir que es la zona que se va a encontrar por debajo de la hipótesis
nula o valores que nos indican que la hipótesis debe ser rechazada.
b. muestreo de aceptación: Es lo que va a permitir que las empresas puedan analizar la
cantidad o calidad que tiene su producto.
c: Número de aceptación: Nos ayuda a analizar la calidad del producto, si una cantidad de
productos se pasan el control de calidad establecido el lote debe ser
aceptado, pero si hay demasiado productos defectuosos, debe ser el
lote rechazado.
3. Defina y explique
a. Riesgo del Vendedor: Es el riesgo a la perdida que se exponen las mercaderías o productos
antes de llegar hasta al comprador.
b. Riesgo del comprador: Es el riesgo a la pérdida o a la estafa que tiene el comprador cuando
ya ha pagado por el producto que desea adquirir.
4. Con los datos de la pregunta 1 determinar los límites de control de una carta np, y
construir el gráfico correspondiente.
n x n−x
( x)
a) P ( x ≤ 2 )= ∗p ∗q
2 1 0
P ( x ≤ 2 )=0.9298
UNIVERSIDAD PRIVADA DE TACNA
Facultad de Ingeniería
Estadística II
n x n−x
( x)
b) P ( x ≤ 2 )= ∗p ∗q
2 1 0
P ( x ≤ 2 )=0.9191
n x n−x
()
c) P ( x ≤ 2 )= ∗p ∗q
x
P ( x ≤ 2 )= 10 ∗0.32∗0.78 + 10 ∗0.31∗0.79 + 10 ∗0.10∗0.9 10
( )2 1 ( ) 0 ( )
P ( x ≤ 2 )=0.7032
6. Dado la siguiente tabla, en la cual se registraron los artículos defectuosos por unidad.
Muestra N° de defectos
1 15
2 20
3 22
4 15
5 14
6 10
7 16
8 25
9 10
10 14
11 15
12 23
13 24
14 22
15 13
16 14
17 15
18 21
19 20
20 18
Por el gráfico que nos da el programa, no vemos ningun valor fuera de control.