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COMPATIBILIDAD
1.- QUÉ ES LA COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA (1)

2.- OBJETIVOS DE LA PRÁCTICA (3)

3.- NORMATIVAS DE COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA (3)

4.- EQUIPO DE MEDIDA: RECEPTOR DE EMI (5)


Bloques de un Receptor de EMI
Señales de banda ancha (BA) y banda estrecha (BE)
Características del analizador de espectros FSP3
Descripción de los mandos

5.- ESTUDIO TEÓRICO DEL ACOPLAMIENTO CONDUCIDO (15)


Acoplamiento por conducción directa
Acoplamiento por impedancia común. Efectos y remedios
Distribución de las líneas de masa
Bucles de masa
Impedancia común en las líneas de alimentación

6.- MEDIDA DE INTERFERENCIAS CONDUCIDAS (20)


Escenario de medida
Realización de la medida
Alternativas para reducir la interferencia

7.- MEDIDA DE LA INTERFERENCIA RADIADA (32)


Escenario de medida
Sondas de campo cercano
Realización de la medida

8.- CONCEPTOS BÁSICOS SOBRE EL ACOPLAMIENTO RADIADO Y FORMAS PARA


REDUCIRLO (40)
Acoplamiento capacitivo e inductivo
Reducción de la interferencia radiada

9.- MEDIDA DE LA DIAFONÍA (44)


Telediafonía y paradiafonía
Acoplamiento entre cables
Acoplamiento entre pistas
CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

1. ¿QUÉ ES LA COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA?

1.1. INTRODUCCIÓN.
La Compatibilidad Electromagnética (CEM) estudia los fenómenos de generación,
propagación y captación de interferencias electromagnéticas desde dos puntos de vista:

ƒ Emisión: interferencias que genera un equipo.


ƒ Inmunidad: capacidad de un equipo o sistema para no ser afectado por las
interferencias.

La Compatibilidad Electromagnética (CEM) ha tomado gran relevancia en los últimos años, y


se ha convertido en una preocupación para fabricantes y diseñadores de todo tipo de
equipos eléctricos y electrónicos.

Esta preocupación se ve magnificada si se tiene en cuenta que desde de principios del año
1996 los equipos han de cumplir obligatoriamente una serie de normas englobadas en la
directiva 89/336/EEC, que regula todos los temas relacionados con la CEM.

1.2. TERMINOLOGÍA USADA EN COMPATIBILIDAD ELECTROMANÉTICA.

A continuación se definen algunos términos relacionados con la CEM:

ƒ COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA (CEM): capacidad de un equipo para no


generar interferencias electromagnéticas (emisión), o para no ser afectado por las
interferencias producidas por otros equipos (inmunidad). También se entiende por
CEM el estudio de los fenómenos de generación, propagación y captación de
interferencias electromagnéticas.

ƒ ACOPLAMIENTO: interrelación de dos o más circuitos cuando se establece una


transferencia de energía entre ellos. Cuando este acoplamiento se produce por
radiación electromagnética se denomina acoplamiento radiado. Si se produce a
través de conductores o componentes, se denomina acoplamiento conducido.

ƒ INTERFERENCIAS ELECTROMAGNÉTICAS (EMI): son perturbaciones de tipo


electromagnético no deseadas, que pueden interferir en el normal funcionamiento de
un dispositivo.

ƒ INMUNIDAD: capacidad de un equipo para no ser afectado en su función por la


presencia de interferencias electromagnéticas.

ƒ SUSCEPTIBILIDAD: capacidad de un equipo para modificar su comportamiento


cuando se ve influenciado por interferencias electromagnéticas.

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1.3. INTERFERENCIAS ELECTROMAGNÉTICAS.


Las interferencias electromagnéticas (EMI) son señales de tipo electromagnético que
perturban el funcionamiento normal de un equipo o sistema eléctrico o electrónico.

El análisis de un problema de interferencia se puede dividir en tres apartados:

ƒ EL origen, fuente o generador de las interferencias.


ƒ Los caminos de acoplamiento de la interferencia.
ƒ Los receptores afectados por la interferencia.

GENERADORES DE CANAL DE RECEPTORES DE


INTERFERENCIAS ACOPLAMIENTO INTERFERENCIAS

Para estudiar las interferencias se han de analizar las tres partes mencionadas:

ƒ Determinar quién produce la interferencia y eliminarla o disminuirla si es posible.


ƒ Analizar como se transmite la interferencia y atenuar al máximo la energía
interferente transmitida.
ƒ En caso que el problema subsista, intentar insensibilizar los receptores.

1.4 CLASIFICACIÓN DE LAS INTERFERENCIAS.

Clasificación según su origen:

ƒ Intrínsecas: procedentes de las fluctuaciones de los sistemas físicos del propio


equipo. A este tipo de interferencia se le suele denominar ruido (ruido térmico…).
Naturales: descargas electrostáticas, tormentas eléctricas, radiaciones cósmicas...

ƒ Provocadas:
Externas: procedentes de otos equipos que no deberían ser captadas por el
equipo en cuestión (emisoras de radio y TV, teléfonos móviles, ordenadores…).
Internas: procedentes del mismo equipo y originadas por características de los
sistemas que lo integran (motores, conmutaciones...).

Clasificación según el medio de propagación:

ƒ Conducidas: cuando el medio de propagación es un conductor eléctrico que une la


fuente de interferencia con el equipo interferido (cables de alimentación o señal,
chasis metálicos...). Es el denominado acoplamiento conducido.
ƒ Radiadas: cuando la propagación se realiza a través del aire por campos
electrostáticos o electromagnéticos. Es el denominado acoplamiento radiado.

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ƒ Acopladas: es un caso particular de la propagación radiada y ocurre cuando la


distancia entre emisor y receptor es menor que la longitud de onda dividida por 2π
(campo cercano).

2. OBJETIVOS DE LA PRÁCTICA.
1. Concienciar al alumno de la importancia del fenómeno electromagnético como fuente de
interferencia en el diseño y desarrollo de equipos o sistemas electrónicos.

2. Aprender a detectar las fuentes de interferencia y los modos de propagación de ésta,


así como cuantificar dicha interferencia.

3. Por último, y no menos importante, conocer las pautas a tener en cuenta en el diseño de
equipos y sistemas desde el punto de vista de la compatibilidad electromagnética.

3. NORMATIVAS DE CEM. LA DIRECTIVA 89/336/EEC.


La base reguladora de la CEM es la Directiva 89/366/EEC, de aplicación a todos los
productos que contengan algún tipo de material eléctrico o electrónico, exceptuando los que
tengan directivas específicas.

3.1 TIPOS DE NORMAS DE CEM


A.- Normas Básicas. Estas normas definen los métodos de ensayo y medida, de
manera que el resto de normas (genéricas y de producto) harán referencia a las
normas básicas, sin necesidad de repetir los detalles de su contenido. Describen los
elementos fundamentales de CEM y clasifican los entornos electromagnéticos,
incluyendo los límites de emisión y los niveles de inmunidad.

B.- Normas de producto o familia de productos. Se entiende por productos o


familia de productos aquellos dispositivos que tienen particularidades propias. Estas
normas definen los requisitos necesarios de CEM (inmunidad y emisión) y los
métodos de ensayo para ese tipo de productos.

C.- Normas genéricas. Se utilizan cuando no existe la norma de producto. Definen


un conjunto de requisitos (límites) e indican qué ensayos son aplicables a cada
producto que se pretenda usar en un entorno determinado. El entorno puede ser de
dos tipos:
- Entorno residencial, comercial, o industria ligera.
- Entorno industrial.

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4. EQUIPO DE MEDIDA: RECEPTOR DE EMI.


El equipo principal para la medida de interferencias es el Receptor de EMI, o en su defecto
el Analizador de Espectros, que incluya detector de cuasi-pico y resoluciones de ancho
de banda (Resolution Bandwidth) de 200 Hz, 9 KHz y 120 KHz.

4.1 DIAGRAMA DE BLOQUES.

promediar
BW para

la señal
Vídeo
Cuasi-pico
Detector

Pantalla

Figura 4.1. Diagrama de bloques del receptor de EMI.


envolvente o
Detector de

pico

Generador de
barrido
F.I. y BW

Oscilador
Mezclador

local
~
Preamplificador
Preselector

Atenuador
ENTRADA

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4.2 PRESELECTOR.

El preselector puede estar formado por un banco de filtros con diferentes frecuencias de
corte, o bien por un filtro sintonizado con gran margen dinámico. Su función es evitar la
saturación del preamplificador por la presencia, en la entrada, de señales cuyo nivel sea
mucho más elevado que las que se pretenden medir. Es un elemento extremadamente caro
pero imprescindible para poder medir correctamente señales de bajo nivel.

4.3 PREAMPLIFICADOR.

El preamplificador aumenta la sensibilidad y el margen dinámico.

Máxima potencia de
entrada
Se produce saturación:
Nivel compresión de el valor medido no es
ganancia de 1dB. A ganancia correcto
partir de aquí se
empieza a saturar.
Zona de medida
correcta

-1 dB

Sensibilidad: mínima
señal a medir por
nivel de entrada
encima del ruido
Figura 4.2. Sensibilidad y margen dinámico del receptor de EMI.

En ningún caso se ha de sobrepasar el margen dinámico. Si en la entrada tenemos señales


de niveles muy distintos, que superan el margen dinámico, se producirán comportamientos
no lineales (distorsión e intermodulación), y por tanto las medidas serán incorrectas.

Para ajustar el margen dinámico:

1. Se busca la señal de valor mayor y se ajusta el nivel de referencia para visualizarla


correctamente.

2. Poner los valores adecuados de frecuencia inicial y final para medir la señal de
interés, pero sin variar el nivel de referencia ajustado en el paso anterior.

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4.4 MEZCLADOR.

El principal problema del mezclador es su comportamiento no lineal, pues genera los


llamados productos de intermodulación y en consecuencia se producen señales no
deseadas.

ƒ El comportamiento deseado del ƒ Como ya se ha comentado, el


mezclador sería el mostrado en la comportamiento del mezclador no es
figura 4.3. lineal, por lo que a su salida aparece
lo mostrado en la figura 4.4.

Mezclador
Mezclador
A1 cosw1t K cos(w1± wOL)
A cosw1t
K cos(w1 ± wOL)
+ K (cosw1t + cosw2t) 2
+ K (cosw1t + cosw2t) 3

B coswOLt ~ Oscilador local B coswOLt ~ Oscilador local

Figura 4.3. Comportamiento ideal del Figura 4.4. Comportamiento real del
mezclador. mezclador.

De los esquemas de las figuras 4.3 y 4.4 se puede deducir lo siguiente:

ƒ La señal esperada es:

K cos(w1 ± wOL)
ƒ Aparecen otras señales no deseadas como:

K (cosw1t+cosw2t)2 = K2 (cos2(w1t)+ cos2(w2t)+cos(w1+w2)t+ cos(w1-w2)t)


K (cosw1t+cosw2t)3 = K3 (cos3(w1t)+3/2[cos(w2t)+1/2[cos(2w1+w2)t+cos(2w1-w2)t+ ...]])

Observar que las variaciones de amplitud de las intermodulaciones de segundo orden son
proporcionales al cuadrado y las de tercer orden al cubo, mientras que la señal deseada
tendrá una variación lineal.

4.5 ANCHO DE BANDA DEL FILTRO DE FRECUENCIA INTERMEDIA: RBW.

El ancho de banda del filtro de frecuencia intermedia (RBW: Resolution Bandwith) nos
permite discernir entre dos señales cercanas en frecuencia. Para que el analizador pueda
descernir entre dos señales en frecuencia, el ancho de banda del RBW ha de ser menor que
la diferencia frecuencial entre las señales que queremos visualizar.

El RBW ha de cumplir: RBW < f2 - f1 donde f2 y f1 son las señales que se han de analizar.

ƒ Si f2 - f1 = 10 KHz y el RBW = 30 KHz, el analizador no es incapaz de diferenciar


las componentes f1 – f2 (figura 4.5).

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Figura 4.5. Respuesta del analizador si RBW >> ∆f = f2 - f1

ƒ Si f2 - f1 = 10 KHz y el RBW = 10 KHz, tampoco es capaz de diferenciar ambas


componentes (figura 4.6).

Figura 4.6. Respuesta del analizador si RBW > ∆f = f2 - f1

ƒ Si f2 - f1 = 10 KHz y el RBW = 300 Hz, ahora si es posible distinguir las dos


señales (figura 4.7).

Figura 4.7. Respuesta del analizador si RBW < ∆f = f2 - f1

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4.6 ANCHOS DE BANDA REQUERIDOS PARA MEDIDAS DE EMI.

Para realizar las medidas de interferencia electromagnética, el Receptor de EMI o


Analizador de Espectros ha de tener los siguientes filtros de resolución definidos en las
normativas:

200 Hz para 9kHz < f < 150kHz


9 kHz para 150kHz < f < 30MHz
120 kHz para 30MHz < f < 1GHz

Tabla 1. Filtros de EMI.

4.7 SEÑALES DE BANDA ANCHA Y DE BANDA ESTRECHA.

Dependiendo de la relación entre el ancho de banda de la señal a medir y el ancho de


banda del filtro de FI (frecuencia intermedia), podemos definir:

ƒ SEÑALES DE BANDA ESTRECHA (BE) : son


aquellas señales cuyo BW < RBW del receptor,
es decir, que con el filtro de FI correspondiente al
Banda
margen de frecuencias donde nos encontramos Banda
(tabla 1) se puede discernir la señal.
ƒ Son señales de BE: relojes en sistemas digitales,
señales de conmutación de alta frecuencia...

ƒ SEÑALES DE BANDA ANCHA (BA) : son


aquellas que presentan un espectro continuo en
una amplia banda de frecuencia, de forma que RBW
resulta imposible medir las componentes
individualmente. En estas señales el BW señal >
RBW del receptor.
ƒ Son señales de BA: señales pseudoaleatorias,
señales de las líneas de datos, transitorios... Figura 4.8 Señales de BA y BE.

Es importante conocer el efecto que tiene el RBW sobre las señales de BA y de BE:

ƒ En señales de BA: si se aumenta el RBW aumenta el nivel medido, ya que al


aumentar el ancho de banda del filtro de FI se abarcan más señales

ƒ En señales de BE: si se aumenta el RBW el nivel medido se mantiene constante, ello


se debe a que ya se está visualizando toda la señal y aunque se aumente el ancho de
banda del filtro de FI la señal que se abarca es la misma.

ƒ También podemos observar el efecto del tipo de detector que empleemos (ver
apartado 4.9)

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4.8 SENSIBILIDAD.

La sensibilidad de un Analizador de Espectros viene dada por el mínimo nivel ruido de


fondo que aparece en las mejores condiciones posibles. Para determinar dicho ruido se
ha de:

ƒ Colocar el atenuador a la mínima atenuación (sin señal presente en la entrada).


ƒ El RBW lo más pequeño posible.
ƒ El vídeo BW lo más pequeño posible.

Se considera que una medida es fiable si supera en 6 dB el nivel de ruido. El nivel de ruido
aumenta 10 dB al multiplicar por 10 el RBW:

RBW2
∆dB soroll P
= 10 ⋅ log
RBW1
RBW2
∆dB soroll V
= 20 ⋅ log
RBW1

4.9 TIPOS DE DETECTORES.

Los resultados de las medidas dependen del ancho de banda del filtro de FI (RBW) y del
tipo de detector utilizado.

ƒ Detector de pico (P): mide el valor de


pico de la interferencia en una Zi↑
determinada banda de frecuencias. El P
inconveniente de este tipo de detector es Seña
que no distingue entre BA y BE. No da
información sobre la frecuencia de
repetición de la interferencia, ni de la
energía de la misma (figura 4.9). Figura 4.9 Detector de pico.

ƒ Detector de cuasi-pico (QP): es como un


detector de envolvente pero con Rc
constantes de tiempo de carga (τc) y
τd Zi↑
descarga (τd) del condensador distintas C QP
Señal Rd
(τc < τd). Se utiliza para medir τc
interferencias de banda ancha, ya que
tiene en cuenta la frecuencia de repetición
de los impulsos de la interferencia (figura Figura 4.10 Detector de cuasi-pico.
4.10).

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Detector de valor medio (AV): da como salida el


valor instantáneo absoluto de la interferencia en
la banda pasante del receptor (valor medio de la Filtro Paso-
envolvente). Esta respuesta tiene en cuenta la Bajo
frecuencia de repetición, así como el área de la Señal AV
misma (figura 4.11).

Figura 4.11 Detector de valor medio.

La utilización de diferentes tipos de detectores nace de la necesidad de penalizar señales


como la mostrada en la figura 4.12a (persistente en el tiempo), frente señales como la de la
figura 4.12c (no se producen el 100% del tiempo):

P, QP y AV

a)
P
QP
AV
b)
P
QP
c) A

Figura 4.12 Diferentes tipos de detectores.

Es evidente que la señal a es más interferente que la c aunque el valor de pico sea el
mismo. El detector de cuasi-pico (QP) premia aquellas señales menos persistentes en el
tiempo con un nivel menor.
Cabe decir que las medidas realizadas con el detector de QP son mucho más lentas que las
realizadas con el detector de pico debido a las constantes de carga y descarga del primero.

Las normativas de Compatibilidad Electromagnética establecen los límites máximos de


radiación de los equipos para medidas realizadas con detector de QP. Por tanto, al analizar
las interferencias se mide primero el valor de pico, y si el equipo sometido a ensayo
sobrepasa los límites a una frecuencia determinada, entonces se procede a realizar la
medida sólo a dicha frecuencia con el detector de QP.

Observación importante: para una señal dada, los valores medidos con un detector de
pico son mayores que los medidos con un detector de cuasi-pico, y estos a su vez mayores
que los medidos con un detector de valor medio. Para realizar una medida con detector de
QP se ha de aumentar el tiempo de barrido y colocar un SPAN = 0.

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4.10 CARACTERÍSTICAS DEL ANALIZADOR DE ESPECTROS FSP3.

El Analizador de Espectros utilizado es un FSP de RODE&SCHWARZ. Las características


más destacables de éste son:

ƒ RBW: de 1 Hz a 10 MHz
ƒ Resolución frecuencial: 0,01 Hz
ƒ Detector cuasi-pico y valor medio.
ƒ Filtros de EMI: 200 Hz, 9 kHz y 120 kHz
ƒ Generador de tracking

4.11 FUNCIONES BÁSICAS DEL ANALIZADOR DE ESPECTROS FSP.

Figura 4.13 Imagen frontal del Analizador de Espectros.

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Softkeys (2)
Botones que permiten seleccionar los menús correspondientes a las teclas rotuladas. Al
seleccionar algún menú pueden aparecer submenús también seleccionables con estos
botones.

Teclado para introducción de datos (3)


Teclado que permite introducir valores numéricos, así como las unidades.

Freq/Span/Ampt/Mkr/Mkr->/Mkr fcnt (4)


Al apretar estos botones aparece un menú que permite seleccionar las opciones deseadas.
Los datos numéricos se pueden introducir mediante el teclado numérico o el botón rotatorio
y las flechas.

ƒ FREQ: el margen de frecuencias se puede definir mediante start y stop, o mediante la


frecuencia central y el span.
ƒ CENTER: permite introducir manualmente el valor de la frecuencia central.
ƒ START: activa la ventana para introducir manualmente la frecuencia inicial.
ƒ STOP: activa la ventana para introducir manualmente la frecuencia final.

ƒ SPAN: abre un menú que permite seleccionar el margen de frecuencias a visualizar.


ƒ SPAN MANUAL: activa la ventana que nos permite seleccionar el conjunto de
frecuencias a visualizar alrededor de la frecuencia central. Si el SPAN es menor
que el que había antes, no modifica la frecuencia central. Si el SPAN es mayor,
modifica la frecuencia central situándola en el punto medio.
ƒ FULL SPAN: coloca el SPAN de forma que abarque el total de frecuencias del FSP.
ƒ ZERO SPAN: sitúa el SPAN a 0 Hz.
ƒ SWEEPTIME MANUAL: permite introducir el SWEEP TIME deseado.
ƒ LAST SPAN: activa la inicialización anterior del SPAN.

ƒ AMP: al apretar este botón se activa el menú seleccionable con los botones a la
derecha de la pantalla, que nos permiten establecer los siguientes parámetros:
ƒ REF LEVEL: permite introducir el nivel de referencia deseado (línea superior) en las
unidades activas (dBm, dBµV ...).
ƒ RANGE LOG 100dB: fija el margen a visualizar en 100 dB (eje vertical de pantalla).
ƒ RANGE LOG MANUAL: permite introducir los márgenes entre 10 dB y 200 dB.
ƒ RANGE LINEAL: cambia la escala a lineal.
ƒ UNIT: permite seleccionar las unidades de medida: dBm, dBmV, dBµV, dBµA, dBpW,
Voltios, Amperios y Watios.

ƒ MKR: los markers se utilizan para seleccionar puntos de la señal que se están
visualizando y obtener los resultados de las medidas en dichos puntos en frecuencia
y nivel. Al apretar este botón se activa un menú a la derecha de la pantalla que
permite seleccionar hasta cuatro markers distintos. El marker 1 será el marker normal
o principal, mientras que los otros están referenciados al marker normal aunque
pueden usarse como normales poniendo el MARKER NORM DELTA en NORMAL.
ƒ MKR FCTN: despliega un menú que permite realizar algunas medidas con los
markers.
ƒ PEAK: sitúa el marker activo sobre el mayor pico de la imagen que se está
analizando.

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ƒ MKR->: este botón despliega un menú que permite cambiar la configuración de


medida del analizador mediante el marker activo.
ƒ SELECT MARKER: selecciona el marker activo.
ƒ PEAK: sitúa el marker en el máximo pico de la señal.
ƒ CENTER = MKR FREQ: sitúa el centro de visualización en el valor de frecuencia del
marker.
ƒ REF LEVEL = MKR LEVEL: sitúa el nivel de referencia al nivel del marker.
ƒ NEXT PEAK: sitúa el marker activo en el siguiente pico de valor inferior.

Bw / Sweep / Meas (5)


ƒ BW: permite seleccionar el ancho del filtro de FI (RBW), el ancho del filtro de vídeo
(VBW: Video Bandwidth) y el tiempo de barrido (SWT: Sweep Time). Al apretar el
botón se despliega un menú con distintas opciones de las que nos interesa
reconocer:
ƒ RES BW y VBW MANUAL: permite introducir manualmente el valor deseado para el
RBW y el VBW.
ƒ SWEEP TIME MANUAL: permite introducir el tiempo de barrido manualmente.
ƒ RES BW y VBW AUTO: ajusta automáticamente el RBW y VBW en función del
SPAN.
ƒ SWEEP TIME AUTO: ajusta el tiempo de barrido en función del RBW y del VBW, de
manera que cualquier variación de estos parámetros provocará el ajuste
automático del tiempo de barrido.

ƒ SWEEP: permite configurar el modo de barrido.


ƒ CONTINUOUS SWEEP: activa el modo de barrido continuo, de acuerdo con el
trigger.
ƒ SINGLE SWEEP: hace un barrido cada vez que se pulsa la tecla SINGLE. El número
de barridos se determina mediante el SWEEP COUNT, útil cuando la traza está en
AVERAGE. Estando en barrido continuo se pueden obtener promedios cuando la
traza está en AVERAGE.
ƒ SWEEPTIME MANUAL: permite introducir el tiempo de barrido deseado
manualmente.
ƒ SWEPTIME AUTO: activa automáticamente el SWEEPTIME en función del RBW y
del VBW.

ƒ MEAS: esta función permite realizar ciertas medidas automáticamente. Al seleccionar


esta función se despliega el menú que permite :
ƒ TIME DOM POWER: activa la medida de potencia en el dominio temporal
mediante el menú que despliega:
ƒ POWER ON/OFF: activa (ON) o desactiva (OFF) la medida de potencia.
ƒ PEAK: calcula el valor de pico.
ƒ RMS: calcula el valor rms.
ƒ MEAN: calcula el valor medio.

Botón giratorio para introducir datos y mover el cursor (6)


El botón giratorio permite introducir datos, que van aumentando o disminuyendo en función
del giro del botón.

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RF Input 50Ω (8)


Entrada de señal al analizador.

Trace (9)
El analizador es capaz de visualizar hasta tres trazas distintas al mismo tiempo. Apretando
este botón se pueden seleccionar las trazas, así como las características de cada una:

ƒ SELECT TRACE: activa la entrada para la traza activa.


ƒ MAX HOLD: activa el detector de pico máximo, de manera que se puede detectar el
valor máximo de pico tras varios barridos.
ƒ AVERAGE: visualiza el valor medio de la señal tras varios barridos.
ƒ VIEW: congela los valores de la traza actual y los visualiza.
ƒ BLANK: borra las trazas de la pantalla.
ƒ SWEEP COUNT: activa la entrada del número de barridos usados para calcular el valor
medio.
ƒ DETECTOR: este botón abre un menú que permite seleccionar el detector que se
quiere utilizar para realizar la medida.
ƒ AUTO DETECTOR: selecciona el detector óptimo, según las características de la
señal.
ƒ DETECTOR AUTO PEAK: activa el detector de autopico.
ƒ DETECTOR MAX PEAK: activa el detector del máximo pico, útil para las medidas de
Compatibilidad Electromagnética.
ƒ DETECTOR MIN PEAK: activa el detector de mínimo pico.
ƒ DETECTOR RMS: activa el detector rms.
ƒ DETECTOR AVERAGE: activa el detector de valor medio.
ƒ DETECTOR QPK: activa el detector de cuasi-pico. Con este detector el tiempo de
medida por cada punto puede ser del orden de 1 segundo. Esto quiere decir que
se deberá ajustar el tiempo de barrido manualmente a un valor entre 100 s y 300
s, o bien medir solamente los valores más altos, uno a uno, utilizando el zero
span.

Pre/Next (10)
Permite volver al menú desplegable anterior o posterior.

Hotkeys (11)
Entre otras funciones, permite seleccionar el modo de funcionamiento del equipo, que en
nuestro caso está seleccionado por defecto en SPECTRUM.

Interruptor de encendido (12)

Preset (16)

Inicializa el equipo.

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4.13 UNIDADES DE MEDIDA.


Las medidas de interferencias se suelen expresar en decibelios tomando como referencia
1mV, 1mV/m, 1mA/m ...

La siguiente tabla es un resumen de las unidades logarítmicas más habituales:

1mW ←→ 0dBm Potencia expresada en escala


logarítmica respecto de 1mW
Potencias P en dBm = 10 log (P/1mW)

1µW ←→ 0dBµW Potencia expresada en escala


logarítmica respecto de 1µW
P en dBµW = 10 log (P/1µW)

1mV ←→ 0dBmV Tensión expresada en escala


logarítmica respecto de 1mV
V en dBmV = 20 log (V/1mV)
Tensiones
1µV ←→ 0dBµ (=0dBµV) Tensión expresada en escala
logarítmica respecto de 1µV
V en dBµV = 20 log (V/1µV) = V en dBµ
Campo eléctrico expresado en escala
E en dBmV/m = 20 log ( E )
logarítmica tomando como referencia
1mV/m
Campo 1mV/m
eléctrico
Campo eléctrico expresado en escala
E en dBµV/m = 20 log ( E )
logarítmica tomando como referencia
1µV/m
1µV/m
Campo magnético expresado en
H en dBmA/m = 20 log ( H )
escala logarítmica tomando como
1mA/m
Campo referencia 1mA/m
magnético
Campo magnético expresado en
H en dBµA/m = 20 log ( H )
escala logarítmica tomando como
1µA/m
referencia 1µA/m

Tabla 2. Método de conversión de lineal a dB’s.

5. ESTUDIO TEÓRICO DEL ACOPLAMIENTO CONDUCIDO


Y METODOS PARA ATENUARLO.

El acoplamiento conducido tiene lugar cuando la interferencia se propaga por un medio


físico distinto del aire. Este acoplamiento se puede producir por conducción directa o
impedancia común.

5.1 CONDUCCIÓN DIRECTA.


Existe conducción directa cuando hay una conexión física entre el emisor y el receptor de
la interferencia. Si la señal útil y la interferente ocupan espectros frecuenciales distintos, el

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CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

problema se puede solucionar filtrando, sino es necesario aislar al receptor de la


interferencia.

5.2 ACOPLAMIENTO POR IMPEDANCIA COMÚN. EFECTOS Y REMEDIOS.


Este acoplamiento se produce por las impedancias de pistas o cables comunes a distintos
dispositivos, especialmente las líneas de alimentación y las líneas de masa.

Supóngase, por ejemplo, una parte de un circuito digital como el de la figura 5.1. Las líneas
de salida de las puertas presentan siempre una cierta capacidad parásita con respecto al
conductor de potencial cero de la alimentación, muy variable en función de la disposición
física de las pistas del circuito impreso.

En la citada figura se representa la capacidad C de la línea de salida de la puerta A. Por otra


parte, si las puertas A y B de la figura pertenecen a un mismo circuito integrado, su línea
común de alimentación puede presentar también una inductancia L distribuida en su camino
hacia el punto negativo general de alimentación del circuito.

Figura 5.1 Acoplamiento por Impedancia Común (I).

En estas condiciones, si la puerta A cambia su estado de salida desde un nivel alto a un


nivel bajo, por ejemplo, la carga del condensador C origina una intensidad instantánea en la
puerta A. La inductancia hace que esta intensidad produzca un pico de tensión en el camino
a masa. La salida de la puerta B, supuesta en estado bajo, reproduce este pico, y la puerta
D puede generar un transitorio negativo de salida erróneo (figura 5.2).

El problema de la impedancia común mejora con alguna de las siguientes estrategias:

ƒ Disminuyendo las impedancias parásitas mediante una buena distribución de las


líneas de alimentación y masa.
ƒ Diseñando los caminos de salida lo más cortos posible.
ƒ Evitando la formación de bucles de masa.

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CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Figura 5.2 Acoplamiento por Impedancia Común (II).

5.3 DISTINTAS CONFIGURACIONES DE LAS LÍNEAS DE MASA.

La correcta distribución de las líneas de masa (Ver NOTA) permite evitar la formación de
bucles de masa e impedancias comunes. A continuación se explicarán los distintos tipos de
distribuciones

NOTA

Masa de un circuito o sistema: superficie equipotencial conductora que sirve de referencia


de tensión para el funcionamiento del circuito o sistema, que no es lo mismo que tierra.

Tierra: sistema de protección. Camino de baja impedancia para que las partes conductoras,
accesibles por el usuario, estén a potencial bajo.

ƒ Serie: es un modo de conexión muy propio de las placas de circuito impreso, y provoca
que el comportamiento de un circuito influya sobre los otros a causa de la Impedancia
Común.
Como puede observarse en la figura 5.3, el principal causante de la impedancia común
es R1 (resistencia parásita del cable de conexión a masa). Por esta resistencia circula la
corriente debida a C1, C2 y C3 (circuitos 1, 2 y 3), por tanto la tensión en el punto A se ve
afectada con fluctuaciones que pueden modificar el comportamiento del circuito 1. Por lo
general, es una mala distribución especialmente a altas frecuencias.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 17


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Circuito Circuito Circuito


1 2 3

I1 I2 I3
R1 R2 R3 VA= Z1(I1+I2+I3)
A B C VB= VA+Z2(I2+I3)
I1 + I2 + I3 I2 + I3 I3 VA= VB+Z3I3

Figura 5.3 Distribución de las líneas de masa en serie.

ƒ Paralelo o estrella: en esta conexión cada circuito es independiente, pero se ha de


tener en cuenta que si el punto de masa común tiene una Z ≠ 0, existirá acoplamiento.

También es importante tener en cuenta que este tipo de conexión obliga a la existencia
de pistas más largas, por lo que se ha de tener cuidado con posibles radiaciones por
acoplamiento capacitivos entre pistas (sobre todo a frecuencias elevadas) y consiguiente
aumento de las emisiones radiadas (figura 5.4).

Circuito Circuito Circuito


1 2 3
R1 A
R2 B
I1
I2 R3 C

I3
Figura 5.4 Conexión en paralelo de las líneas de masa.

ƒ Multipunto o distribuida: es la mejor solución para frecuencias superiores a 10 MHz.


La conexión a masa se hace lo más corta posible (mediante vías) a un plano de masa
común de inductancia (L) y resistencia (R) muy bajas, por lo que afectarán muy poco.
Permite tener un apantallamiento electrostático (figura 5.5).

Circuito Circuito Circuito


1 2 3

R1 R2 R3

L1 L2 L3
Plano de tierra

Figura 5.5 Conexión distribuida o multipunto.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 18


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Finalmente recalcar que una buena distribución pasa por reagrupar los circuitos o
dispositivos según su capacidad de interferencia o inmunidad. Dentro de cada grupo, en
función del tipo de circuito, la conexión puede ser multipunto o mixta, pero el punto de
referencia común será estrella.

Masa de circuitos con Masa ruidosa (relés motores, Masa estructurada (chasis,
señales de bajo nivel circuitos de potencia...) cajas, racks, armarios...)

Figura 5.6 Distribución de las conexiones en función de la capacidad de interferencia


e inmunidad de los dispositivos.

5.4 BUCLES DE MASA.


Los bucles de masa son una de las fuentes de interferencia más importantes. El problema
adquiere más importancia en conexiones largas y circuitos analógicos con señales de bajo
nivel.

Si se detecta un bucle de masa, lo cual


no es siempre evidente, se puede
eliminar (abrir el bucle) de distintas Circuito VN Circuito
maneras:
1 2
Bucle de masa
• Mediante transformadores: este
sistema presenta problemas a Vg
frecuencias elevadas debido a las
capacidades parásitas que presenta Figura 5.7 Formación de bucles de masa.
éste, especialmente Cps (capacidad
entre primario y secundario).

• Mediante aislamiento óptico: en circuitos digitales de larga distancia se pueden utilizar


optoacopladores, transductores ópticos o fibra óptica para eliminar los bucles de masa.
Para sistemas analógicos hay problemas de linealidad.

• Utilizando circuitos balanceados: estos circuitos idealmente cancelan el modo común


y no afectan al modo diferencial. No siempre es posible utilizar este tipo de circuitos. El
modo diferencial o simétrico no tiene referencia a masa. El modo común o asimétrico sí
la tiene.

• Mediante un choque en modo común: éste atenúa el modo común sin afectar al modo
diferencial. Suele tener problemas para frecuencias relativamente elevadas (> 30 MHz).
Es fácil de conseguir conectando transformadores en serie o mediante una ferrita con los
dos cables enrollados en el mismo sentido (como un transformador toroidal).

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 19


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5.5 IMPEDANCIA COMÚN EN LAS LÍNEAS DE ALIMENTACIÓN.


Las líneas de alimentación también presentan problemas de impedancia común
(impedancias comunes a varios circuitos como Z1 en la Figura 5.8). Ésta puede provocar
variaciones de tensión en función de otras partes del circuito.

Para evitar este problema la solución


Z1 Z2
más típica es la colocación de
condensadores de BY_PASS (entre la
condensador
alimentación y masa de circuitos condensador BY-PASS
integrados, que cortocircuitan a masa BY-PASS

las variaciones de tensión). El valor Vcc Circuito +


Circuito +
V1 V2
típico de estos condensadores está 1 - 2 -
entre 0.5ηF y 6ηF para puertas
lógicas, y de 5ηF a 100ηF para
circuitos integrados.
Figura 5.8 Z común en líneas de alimentación.
Se trata de que la corriente que
precisa el circuito, especialmente en las transiciones, no sea suministrada por la fuente de
alimentación (con lo cual debería pasar por Z1 y/o Z2 produciendo variaciones en la tensión
de alimentación del chip), si no que se la suministre el condensador, que deberá estar muy
próximo al integrado.

6. MEDIDA DE INTERFERENCIAS CONDUCIDAS.

La medida de interferencia conducida consiste en determinar la interferencia que el


Equipo Sometido a Ensayo (ESE) es capaz de generar en sus bornes de alimentación, ya
sea un equipo alimentado en corriente continua o alterna.

Cuando se lleva a cabo un ensayo de emisiones a un Equipo Sometido a Ensayo (ESE),


éste ha de estar configurado en condiciones normales de funcionamiento. Si éste dispone
de varios modos de funcionamiento, se ha de variar su configuración para encontrar aquella
que maximiza la emisión.

Los periféricos, si los hay, han de estar conectados, y los cables han de tener la longitud
que especifica el manual de usuario del equipo.

Se han de ensayar todas las funciones del equipo.

Si un equipo interactúa funcionalmente con otro, se han de probar conjuntamente o


mediante un simulador.

Los Equipos Sometidos a Ensayo que se utilizan en esta parte de la práctica son dos:

1. Placa de circuito impreso basada en un microprocesador de la casa Fujitsu. Para


el estudio de las emisiones, tanto radiadas como conducidas, se empleará la norma
UNE-EN 61000-6-3: (Norma genérica) de emisión en entornos residenciales,
comerciales e industria ligera. Al ser ésta una placa de propósito general, no existe
una norma de producto específica que se adapte a ella.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 20


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La norma UNE-EN 61000-6-3 establece los siguientes valores máximos de emisión:

Banda de frecuencias Medidas en casi-


Promedio (dBµV)
(MHz) pico (dBµV)

0.15 – 0.50 79 66

0.50 – 30 73 60

Tabla 3. Límites de interferencia conducida según la norma UNE-EN 61000-6-3.

2. DIMMER monofásico. Para el estudio de las emisiones, tanto radiadas como


conducidas, se empleará la norma de producto UNE-EN 55015: Límites y métodos
de medida de las características relativas a la perturbación radioeléctrica de los
equipos de iluminación y similares.

La norma UNE-EN 55015 establece los siguientes valores máximos de emisión:

Banda de frecuencias Medidas en casi-


Promedio (dBµV)
(MHz) pico (dBµV)

0.15 – 0.50 66 a 56 * 56 a 46 *

0.50 – 5 56 46

5 – 30 60 50

Tabla 4. Límites de interferencia conducida según la norma UNE-EN 55015.

* El límite decrece linealmente con el logaritmo de la frecuencia en esta banda. (Ver Fig. 6.1)

Figura 6.1 Límites de interferencia conducida según la norma UNE-EN 55015.

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6.1 ESCENARIO DE MEDIDA

La figura 6.2 muestra el escenario para la medida de interferencias conducidas en equipos


alimentados en corriente alterna.

L1
ESE
L2
TRAFO
red 220 V
1:1 LISN
L1/L2 Receptor
LIM
EMI

Figura 6.2 Escenario de medida para equipos alimentados en corriente alterna.

La función de cada uno de los elementos es la siguiente:

ƒ La LISN (Line Impedance Stabilizing Network):

ƒ Estabiliza la impedancia de red con el propósito de que el ESE siempre vea un


mismo valor de este parámetro. Si el ESE siempre percibe la misma impedancia
de red siempre emitirá de la misma manera, y por tanto, las medidas serán
invariantes con el tiempo y con el Laboratorio de medida.

ƒ Filtra las interferencias que proceden de la red. Mediante un filtro pasa bajas
que sólo se deja pasar hacia el ESE la frecuencia de 50 Hz, evitando que las
posibles interferencias de la red lleguen al ESE.

ƒ En el sentido ESE – Receptor de EMI se dejan pasar las frecuencias de 150 KHz
en adelante mediante un filtro paso alto, para medir sólo la interferencia que
produce el ESE, y no los 50 Hz de la red que lo abastecen, en cuyo caso también
dañaríamos el receptor.

250µH 55µH
L1 L1

7.5µF 0.22µF
2µF 39KΩ Monitor
RED 5Ω 1KΩ
GND GND EBP
5Ω 1KΩ
2µF 39KΩ Monitor
0.22µF
7.5µF
L2 250µH 55µH L2

Figura 6.3 Esquema clásico de una LISN 50Ω/50µH.

La LISN que se utiliza para realizar los ensayos de interferencia conducida, es el


modelo MN2050D de SHAFFNER. Se trata de una LISN monofásica con las
siguientes características técnicas:

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Margen de frecuencias RF OUTPUT 9 kHz a 30 MHz

Máxima corriente continua 10 A

Tabla 5. Características de la LISN MN2050D.

LIMITER 10dB TEST LINE TO EQUIPMENT UNDER


EUT SUPPLY ON
ATENUATOR TEST

OUT IN 0 1
OFF
EUT EARTH

CASE EARTH
ARTIFICIAL
RF OUTPUT
HAND

9Khz – 30 MHz 0 1

Figura 6.4 Carátula de la LISN MN2050D.

ƒ El limitador de transitorios (LIM): La LISN MN2050D lleva incorporado el limitador


de transitorio que atenúa 10 dB la señal interferente del ESE antes de entrar en el
Receptor de EMI. Éste dispositivo evita el deterioro de la etapa de entrada del
receptor en caso que el ESE produzca un transitorio de nivel elevado. ( Al medir el
nivel se tendrá que tener en cuenta estos 10 dB que se han atenuado)

ƒ El transformador de aislamiento (relación 1:1). Si se observa el circuito de la


LISN, existe un condensador de 2µF entre cada línea a tierra. Esto provoca unas
corrientes de fuga a tierra que, en condiciones normales, harán saltar el diferencial
de la instalación eléctrica. Para evitarlo es necesario conectar la LISN a la red de
alimentación a través de un transformador de aislamiento, que evita que salte el
diferencial cuando en la LISN se producen fugas de corriente a tierra.

IMPORTANTE:

1.- NO OLVIDAR NUNCA CONECTAR LA LISN A LA ALIMENTACIÓN A TRAVÉS DEL


TRANSFORMADOR DE AISLAMIENTO.

2.- SIEMPRE SE HA DE TRABAJAR CON EL LIMITADOR DE LA LISN EN LA POSICIÓN


“IN”, EN CASO CONTRARIO SE PUEDE AVERIAR GRAVAMENTE EL ANALIZADOR DE
ESPECTROS.

NOTA: Para hacer una medida fiable y según normas, todos los dispositivos presentados
que conforman el escenario de medida han de estar ubicados dentro de una jaula de
Faraday a la hora de realizar el ensayo.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 23


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Una jaula de Faraday es un recinto apantallado que evita que señales interferentes
procedentes del exterior se acoplen a los elementos, cables y conectores del escenario de
medida.

Jaula de Faraday

ESE

Red

Plano de tierra

Figura 6.5 Jaula de Faraday para ensayos de interferencia conducida.

Nota importante: las pruebas de emisión conducida se deben de realizar dentro de una
jaula de Faraday si se desea homologar el equipo a partir de los resultados obtenidos.
Evidentemente, en el Laboratorio resulta imposible instalar una infraestructura de este tipo,
por tanto, las medidas realizadas en la práctica serán una aproximación de la realidad, y en
ningún caso servirían para homologar el ESE, ya que no está aislado por completo del
mundo exterior a través de la jaula de Faraday.

6.2 REALIZACIÓN DE LA MEDIDA.

En este apartado el alumno realizará medidas de interferencias conducidas sobre la placa


de circuito impreso y el dimmer antes mencionados.

6.2.1 REQUERIMIENTOS.

ƒ Margen de frecuencia: 150 kHz – 30 MHz


ƒ EMI FILTER: 9 kHz
ƒ Atenuador de entrada: >= 10 dB

6.2.2 PLACA DE CIRCUITO IMPRESO.

La placa de circuito impreso se alimenta en corriente continua mediante una fuente de


alimentación externa (caja negra) que entra dentro del estudio, ya que ésta se suministra
junto con la placa.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 24


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

El sistema funciona con un reloj de 16 MHz, y el programa que corre sobre la CPU lleva a
cabo accesos continuos a dos puertos de salida de 25 KHz y 100 KHz seleccionables
mediante el interruptor que hay fijado en la placa.

En un puerto se ha conectado ha conectado un monopolo y en otro una espira circular. El


objetivo de colocar estos elementos es que podamos medir las interferencias producidas por
el acceso a los puertos.

Durante el ensayo de emisiones conducidas se ha de variar la configuración de los


equipos para hallar aquella que maximiza la emisión. Por tanto, se ha de determinar la
peor de las velocidades de acceso a los puertos de la placa de circuito impreso.

El conexionado ha de seguir las indicaciones de la figura 6.2, teniendo en cuenta que el


limitador de transitorios está integrado dentro de la LISN. El limitador debe estar en la
posición “IN” para no dañar el receptor de EMI.

Se han de tomar las siguientes precauciones mientras se realiza la medida:

ƒ Conectado el ESE pero apagado, observar las interferencias que aparecen en la


pantalla del receptor de EMI. Si se observa algún tipo de interferencia, ésta no es
producida por el equipo, pues está apagado. Estas interferencias son debidas al
ambiente radioeléctrico y, por tanto, no han de tenerse en cuenta. La solución a
este problema sería hacer la medida dentro de una jaula de Faraday.

ƒ Durante el proceso de medida, si se observa una interferencia de la que se duda


si procede del equipo o no, se ha de apagar éste. Si la interferencia sigue
existiendo, esta interferencia no proviene del ESE.

Configuración del receptor de EMI:

ƒ Principiaremos por configurar el receptor de EMI atendiendo a los requerimientos


de la norma en cuanto a frecuencia, RBW y atenuación.

ƒ Para seleccionar el margen de frecuencias de la medida:


Presionar el botón FREQ.
Seleccionar en el menú de la derecha de la pantalla START (150kHz) y
STOP (30MHz).
ƒ Para seleccionar el ancho de banda del filtro de FI (RBW):
Presionar la tecla BW.
Seleccionar el menú RES BW MANUAL para fijar el ancho de banda a 9KHz
manualmente.
ƒ Para seleccionar el atenuador de entrada:
Presionar el botón AMPT.
Seleccionar el menú RF ATTEN MANUAL para fijar el atenuador a 10dB
manualmente.

Estudio de la señal interferente:

ƒ Una vez se han hallado los picos de interferencia, se analizan estos más
detenidamente. Para ello se centra y se amplia la frecuencia de dicho pico
mediante las opciones FREQ y SPAN:

ƒ Situar el pico de frecuencia en el centro de la pantalla mediante MKR CENTER.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 25


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ƒ Con el SPAN podemos disminuir el margen de frecuencias que se visualizan


por pantalla hasta poder observar perfectamente la señal.

ƒ Determinar si la señal es de banda ancha (BA) o banda estrecha (BE). ¿De qué
tipo es la señal interferente? (definición en apartado 4.7)

ƒ Medir la frecuencia y la amplitud de la señal interferente:


ƒ Para medir la amplitud se han de seleccionar las unidades, en este caso dBµV,
pulsando el botón AMPT + UNIT.
ƒ En pantalla aparecerá el valor de la amplitud del punto donde esté situado el
marker, que deberá estar en el punto de máxima amplitud.
ƒ Tener en cuenta a la hora de medir la amplitud que se ha de compensar los
10 dB de atenuación que introduce el limitador y que el analizador de
espectros no tiene en cuenta a la hora de dar una cantidad.

ƒ ¿El ESE pasa la norma UNE-EN 61000-6-3? Para contestar la pregunta mirar
los límites de la tabla 3, límites que vienen dados para los detectores de
cuasi-pico y valor medio.
Tener en cuenta que los límites dados por la tabla son para un ensayo
homologable realizado en jaula de Faraday. En nuestro caso podemos hacer
una aproximación al resultado correcto.

ƒ Medir la interferencia conducida que provoca la placa para las distintas


velocidades de acceso a los puertos y observar las diferencias.

6.2.3 DIMMER.

El dimmer es un aparato que regula la intensidad de iluminación de un elemento, como


puede ser una bombilla. La electrónica asociada a este dispositivo consiste en un triac como
elemento principal.

Un triac es un interruptor electrónico que se excita a través de su terminal de puerta.


Mientras la tensión de puerta está por debajo de su umbral de excitación, el triac permanece
abierto y la bombilla está apagada (zona 1 de la Fig 6.6). Cuando la tensión de la red sube y
alcanza el punto de excitación del triac en la puerta, éste se activa cerrándose y la bombilla
se enciende (zona 2 de la Fig. 6.6)

1 2
1: Bombilla OFF
2: Bombilla ON

Figura 6.6 Control del dimmer.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 26


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El triac hace que a la bombilla le sea suministrada energía de la red sólo un cierto intervalo
de tiempo en cada semiciclo de la señal de red.

Como se puede observar en la figura 6.6, el control de iluminación de la bombilla no se lleva


a cabo aplicando más o menos tensión a la misma, sino sustrayéndole el 100 por 100 de la
tensión durante un intervalo de tiempo dos veces por ciclo.

El potenciómetro regula el nivel o el ángulo de disparo del triac, es decir, deja pasar
tensión a la bombilla más o menos tiempo, con lo que la bombilla brillará más o menos
respectivamente.

El triac conmuta dos veces por ciclo (cada 10 ms), y es en estos instantes de tiempo
cuando el dimmer genera la interferencia, por tanto, la interferencia no es continua en el
tiempo, sino que sólo se produce de manera instantánea cada 10 ms.

Durante el ensayo de emisiones conducidas se ha de variar la configuración de los


equipos para hallar aquella que maximiza la emisión. Por tanto, se ha de determinar el
de ángulo de disparo del triac que provoca una mayor interferencia.

El conexionado ha de seguir las indicaciones de la figura 6.2, teniendo en cuenta que el


limitador de transitorios está integrado dentro de la LISN. El limitador debe estar en la
posición “IN” para no dañar el receptor de EMI.

El proceso a seguir es igual al anterior, contestando a las siguientes preguntas:

ƒ ¿La señal interferente es de BA o BE? (definición en apartado 4.7)

ƒ ¿La interferencia se produce el 100% del tiempo o sólo en un instante muy


pequeño del semiciclo? . ¿Cuál es el periodo de repetición de la interferencia?
Para responder esta pregunta variar el tiempo de barrido (sweep time) y observar
el efecto que éste provoca.

ƒ ¿El ESE pasa la norma UNE-EN 55015? Para contestar la pregunta mirar los
límites de la tabla 4, límites que vienen dados para los detectores de cuasi-pico y
valor medio.
De nuevo tener en cuenta que los límites dados por la tabla son para un ensayo
homologable realizado en jaula de Faraday. En nuestro caso podemos hacer una
aproximación al resultado correcto.

A continuación se dan unas pautas que ayudarán a responder de forma correcta las
preguntas planteadas:

La figura 6.7 justifica que la señal interferente producida por el dimmer es de banda ancha.
La ilustración izquierda muestra la interferencia medida sobre la frecuencia de 300 kHz para
un ancho de banda del filtro de frecuencia intermedia (RBW) de 9 kHz. La misma medida se
ha realizado en la ilustración derecha, pero esta vez para un RBW de 30 kHz. Se puede
observar cómo al aumentar el Resolution Bandwith la interferencia medida aumenta en
amplitud, definición clásica de una interferencia de banda ancha.

En la figura 6.8 se puede observar como el dimmer interfiere desde los 150 kHz hasta los 30
MHz: es una interferencia de banda ancha continua en frecuencia que ocupa toda la banda.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 27


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Figura 6.7 Interferencia del dimmer: banda ancha.

Figura 6.8 Interferencia del dimmer en toda la banda (0,15 a 30 MHz).

Otra pregunta que se puede hacer es si la interferencia se produce durante todo el tiempo
del periodo. Si se observa la figura 6.9 se llegará a la conclusión de que la respuesta a la
pregunta es NO: el dimmer sólo interfiere de manera instantánea una vez cada 10 ms, cada
vez que se activa el triac para iniciar el suministro de energía a la bombilla.

La interferencia se debe a la conmutación del triac, es decir, a la variación brusca de


tensión que se produce cuando el triac se activa. Dependiendo del punto del semiciclo en
que el triac inicia la conducción, el salto de tensión será mayor o menor, por tanto la
interferencia conducida también será mayor o menor respectivamente. La interferencia
tendrá un valor máximo cuando la señal de red pasa por 90 o 270º. En este caso la

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 28


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luminosidad estará en un valor medio. Cuando la conmutación se produce al inicio del


semiciclo, el salto de tensión es prácticamente nulo, por tanto la interferencia es mínima.

Figura 6.9 Interferencia del dimmer discontinua en el tiempo.

Las medidas presentadas en las figuras 6.8 y 6.9 son una misma. La diferencia entre dichas
gráficas viene dada por el parámetro sweep time del analizador de espectros. Se observa
que a medida que el tiempo de barrido se hace más pequeño, en pantalla aparecen menos
picos interferentes. El hecho de ver estos picos por pantalla no quiere decir que el dimmer
interfiere sólo a estas frecuencias discretas.

Como ya se ha explicado anteriormente, el dimmer interfiere en toda la banda de


frecuencias, sólo que lo hace durante un instante de tiempo cada 10 ms. Es cuando el
dimmer interfiere que el analizador de espectros se encuentra barriendo a una
determinada frecuencia y es esa la que visualizamos por pantalla, aunque realmente
la interferencia se produce a todas las frecuencias

Si conectásemos un osciloscopio en bornes de alimentación del dimmer veríamos que en


los puntos en que el triac se dispara, el osciloscopio ve una forma de onda extraña producto
de la interferencia.

Como ya sabemos, si se calcula la transformada de Fourier de dicha señal no periódica y


finita en el tiempo, resultaría que el espectro frecuencial de la señal interferente ocupa un
determinado ancho de banda (figura 6.8).

Cuando el sweep time del analizador de espectros es muy grande (figura 6.8), se visualiza
un gran número de picos interferentes, y a medida que se reduce este parámetro (figura
6.9), estos picos que registra el analizador son cada vez más escasos, ya que el número de
interferencias registradas dentro del tiempo de barrido es cada vez menor.

La figura 6.7 también muestra el hecho de que el dimmer provoca una interferencia
discontinua en el tiempo. Esta gráfica refleja el comportamiento del ESE a la frecuencia de
300 kHz (zero span). Aquí se puede observar como el dimmer interfiere de manera puntual

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 29


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

una vez cada 10 ms, ya que el tiempo de barrido es de 100 ms y se produce un pico cada
cuadro.

6.2.4 ESQUEMA Y FUNCIONAMIENTO DEL DIMMER.

Un diac es una combinación paralelo-inversa de dos terminales de capas semiconductoras


que permite el disparo en ambas direcciones. En la figura 6.10 se observa que existe una
tensión de disparo, a partir de la cual el diac conduce, para cada dirección. Esta
característica lo hace interesante en aplicaciones de corriente alterna (ac).

Figura 6.10 Esquema y funcionamiento del diac.

El triac, al igual que el diac, es un dispositivo bidireccional, pero en este caso el triac
dispone de un terminal de puerta que es quien controla el disparo o puesta en conducción
del componente. Cuando la corriente en la puerta alcanza un determinado valor, el triac se
dispara y conduce en uno de los dos sentidos.

Figura 6.11 Esquema y funcionamiento del triac.

Una aplicación fundamental del triac es la implantación de un dimmer (figura 6.12). Este
dispositivo controla la potencia ac que se suministra a la carga activando ésta durante una
parte de los semiciclos positivo y negativo de la señal de red.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 30


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Figura 6.12 Esquema del dimmer.

Funcionamiento del circuito:

ƒ Al iniciarse cada uno de los semiciclos, la capacidad C se carga a través del


potenciómetro R. Cuando la tensión del condensador llega al umbral de disparo
del diac, éste se dispara y excita la puerta del triac haciendo que éste conduzca
en una dirección. Es a partir de este momento que se suministrada energía a la
carga

ƒ Variando el valor del potenciómetro se consigue controlar el ángulo de disparo,


es decir, la constante de carga del circuito RC, la cual determinará la puesta en
conducción del triac en un punto concreto del semiciclo.

ƒ Cuando la señal de red pasa por cero (transición entre semiciclos) el triac se abre
y la carga queda desprovista de energía. A partir de aquí el proceso se repite en
cada semiciclo.

6.3 ALGUNAS ALTERNATIVAS PARA REDUCIR LA INTERFERENCIA.

Para reducir las interferencias conducidas de un equipo se han de tener en cuenta todas las
formas de acoplamiento y aplicar los métodos explicados en la fase de diseño para reducir
en lo posible las emisiones. En caso de partir de un sistema ya montado, se busca la
manera de reducir el acoplamiento sin modificar el equipo.

Un método muy utilizado es la colocación de filtros de red. Estos filtros se han de


seleccionar para que atenúen la frecuencia interferente. Se colocan en el cable de
alimentación lo más cerca posible del equipo.

En lugar de filtros de red también se pueden utilizar anillos de ferrita. En este caso los
cables de alimentación deberán pasar a través del anillo, pudiendo darles una o más
vueltas.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 31


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7. MEDIDA DE INTERFERENCIAS RADIADAS.

La medida de interferencia radiada consiste en determinar la interferencia que el Equipo


Sometido a Ensayo (ESE) radia en forma de onda electromagnética a través de un medio
que es el aire.

El Equipo Sometido a Ensayo (ESE) que se utiliza en esta parte de la práctica es la placa
de circuito impreso basada en el microprocesador de Fujitsu.

En cuanto a condiciones del ensayo, se mantiene el mismo criterio que para emisiones
conducidas, se ha de hallar la configuración del ESE para la cual se obtiene una radiación
máxima y realizar las medidas para la misma.

La norma UNE-EN 61000-6-3 establece los siguientes valores máximos de interferencia


radiada:

Banda de frecuencias Medidas en casi-


(MHz) pico (dBµV/m)

30 – 230 30

230 – 1000 37

Tabla 6. Límites de interferencia radiada según la norma UNE-EN 61000-6-3.

Los límites dados por la norma son para una distancia entre el ESE y la antena calibrada de
10 metros. Esto se explica en el siguiente apartado.

7.1 ESCENARIO DE MEDIDA.

La figura 7.1 muestra el escenario para la medida de interferencias radiadas.

Una cámara semianecoica es un recinto apantallado con todas sus paredes, excepto el
suelo, recubiertas de material absorbente de RF para evitar que se produzcan reflexiones.
De este modo, la antena calibrada sólo capta la onda electromagnética directa procedente
del ESE y la señal reflejada en el suelo.

La precámara, donde se ubican los dispositivos de medida y el operario que realiza las
pruebas, también está apantallada.

El previo amplifica la señal captada por la antena antes de enviarla al dispositivo de medida
y aumenta la relación señal a ruido a la entrada del receptor de EMI.

El receptor de EMI lleva a cabo un barrido en frecuencia para determinar el nivel de campo
radiado por el ESE a la distancia de medida empleada.

El ensayo exige encontrar el máximo de radiación del ESE. Para tal efecto, el operario que
realiza la medida debe hallar el ángulo de giro de la mesa, sobre la que está ubicado el
equipo, para el cual se capta una emisión mayor. Además, la altura del mástil ha de ser tal

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 32


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que la suma de la señal directa y reflejada se produzca en fase obteniendo un máximo en


recepción.

Figura 7.1 Escenario de medida interferencia radiada.

La interferencia radiada generada por un equipo se ha de medir en campo lejano, lo que


quiere decir que la distancia entre la antena calibrada y el ESE ha de ser superior a λ/2π. La
norma UNE-EN 61000-6-3 establece los límites de emisión para una distancia de 10 metros,
aunque se puede realizar la medida en una cámara semianecoica de 3 metros
aumentando estos niveles en 10.45 dB.

10
20 log = 10.45dB
3

Figura 7.2 Imagen real de una cámara anecoica.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 33


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7.2 SONDAS DE CAMPO CERCANO.

Una vez ha concluido la medida de interferencia radiada, el fabricante del equipo se puede
encontrar con que éste no cumple normativa, es decir, que la emisión a una o más
frecuencias dentro de la banda 30 – 1000 MHz excede los límites establecidos. El siguiente
paso sería averiguar de dónde procede dicha emisión y plantear soluciones para que ésta
no se propague.

Para localizar el origen de las emisiones interferentes y distinguir si éstas son debidas a
campos eléctricos (E) o magnéticos (H) se utilizan las sondas de campo cercano. Como
su nombre bien indica, las medidas con este tipo de sondas se han de practicar en campo
cercano (d < λ/2π). Estas sondas no permiten realizar medidas cuantitativas según la
normativa de CEM, ya que ésta sólo se refiere a medidas en campo lejano, pero son muy
útiles a la hora de detectar fuentes de interferencia y hacer medidas relativas.

Como es evidente, en esta práctica no se realizarán medidas de interferencia radiada en


cámara semianecoica, pero sí se podrán localizar las fuentes de emisión de la placa de
circuito impreso mediante las sondas de campo cercano.

7.2.1 CAMPO CERCANO Y CAMPO LEJANO.

Las características del campo electromagnético dependen del generador, frecuencia, medio
de propagación y distancia entre generador y punto donde está situado el receptor de
interferencia.

En un punto cercano a la fuente de interferencia las propiedades del mismo están


determinadas por las características de la fuente, mientras que a partir de cierta distancia
vienen determinadas por el medio de propagación. De esta manera para:

ƒ d < (λ/2π) se considera campo cercano

ƒ d > (λ/2π) se considera campo lejano

Recordemos que la longitud de onda está relacionada con la frecuencia y con la velocidad
de la luz mediante la fórmula ( λ = c / f ). Ejemplo: para una frecuencia de 30 MHz, la
longitud de onda λ será:
c 3 ⋅ 108 λ
λ= = = 10m & d= = 1.6m
f 30 ⋅ 10 6 2π

Para d < 1.6 metros estamos en campo cercano, mientras que si d > 1.6 metros estamos en
campo lejano.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 34


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Figura 7.3 Campo cercano – lejano.

En campo cercano la forma de campo (E ó H) más intensa se atenúa proporcionalmente a


(1/d3) y la menos intensa lo hace proporcionalmente a (1/d2). En campo lejano tanto el
campo eléctrico como magnético se atenúan proporcionalmente a (1/d).

Por último comentar que una frecuencia que radia en campo cercano y que es captada por
una sonda de campo cercano puede no ser percibida por una antena calibrada en campo
lejano.

7.2.2 TIPOS DE SONDAS.

Existen sondas de campo eléctrico (E) y magnético (H):

ƒ Las sondas de campo


eléctrico detectan puntos
con elevada dv/dt, pero no
detentan “caminos de
corriente”.

ƒ Las sondas de campo


magnético detectan puntos
de elevada di/dt.

Figura 7.4 Kit de sondas de campo cercano.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 35


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7.2.3 CARACTERÍSTICAS DEL KIT DE SONDAS DE CAMPO CERCANO HZ11.

El KIT de sondas de campo cercano está formado por tres


sondas de campo magnético (anillo), dos sondas de
campo eléctrico (bola), un extensor y un preamplificador
para detectar las señales más débiles.
En nuestro caso no utilizaremos el preamplificador, ya que
las señales presentes en el laboratorio (TV, radio,...) lo
saturarían y por tanto las medidas serían erróneas.

ƒ El KIT de Sondas de campo magnético: está


compuesto por tres sondas relativamente inmunes al
campo eléctrico pero sensibles al campo magnético. La
mayor de ellas es más sensible (H/E es mayor) pero
menos selectiva. Figura 7.5 Sondas H.

ƒ El KIT de Sondas de campo eléctrico: está formado


por dos sondas. Al igual que en el caso anterior, la de
mayor tamaño es más sensible pero menos selectiva.

Habitualmente se inicia la búsqueda de la fuente de


interferencia mediante las sondas más sensibles (mayor
tamaño). A medida que nos acercamos al origen cambiamos
las sondas por otras menos sensibles pero más selectivas
(menor tamaño), así obtenemos una idea más clara de Figura 7.6 Sondas E.
dónde se encuentra la fuente.

Las sondas más pequeñas nos permiten determinar exactamente que componente sobre
una placa de circuito impreso está radiando. De esta manera se pueden tomar las medidas
necesarias para evitar el origen de la interferencia y no tener así que blindar todo el sistema.

A continuación se detallan las características técnicas del conjunto de sondas HZ11:

Tipo de Sensible a Rechazo Frecuencia de


Sonda Modelo
sonda campo a E/H o H/E resonancia

6 cm
901 H 41 dB 790 MHz
(aro)

3 cm
902 H 29 dB 1.5 GHz
(aro)

1 cm
903 H 11 dB 2.3 GHz
(aro)

3.6 cm
904 E 30 dB 2.3 GHz
(bola)

6 mm
905 E 30 dB 23.6 GHz
(stub)

Tabla 7. Características técnicas sondas de campo cercano HZ11.

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Figura 7.7 Factor antena 901. Figura 7.8 Factor antena 902.

Figura 7.9 Factor antena 903. Figura 7.10 Factor antena 904.

Figura 7.11 Factor antena 905.

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La medida de la interferencia radiada se da en unidades de campo eléctrico (V/m) o


magnético (A/m), mientras que el Analizador de Espectros lo que mide es tensión. Para
pasar de tensión a unidades de campo hay que introducir un factor de corrección conocido
como factor de antena (K):

E=K·V

Si lo expresamos en unidades logarítmicas:

E [dBµV/m] = V [dBµV] + K [dB/m]

Las figuras 7.7 a 7.11 muestran las gráficas que proporciona el fabricante para obtener el
factor de antena a todas las frecuencias de operación.

Hay que destacar que las gráficas correspondientes a las sondas de campo magnético no
ofrecen el factor de antena para pasar de dBµA a dBµA/m. Estas gráficas corresponden a la
respuesta equivalente de estas sondas al campo eléctrico; gráficas que se pueden asumir
correctas si el campo está formado por una onda plana con una impedancia de 377 Ω.

La razón de representar el factor de antena de las sondas de campo magnético de esta


manera es permitir medidas de impedancia de campo; medidas que no se realizan en esta
práctica. Si se desea conocer la amplitud del campo magnético (H), 51.52 dB deben de ser
restados al factor de antena hallado en las gráficas que a continuación se muestran.

El parámetro frecuencia de resonancia indica el valor de frecuencia máxima a la cual la


sonda de campo cercano puede operar. A partir de esta frecuencia en adelante la ganancia
pierde su linealidad.

7.2.4 DETERMINACIÓN DEL TIPO DE CAMPO: ELÉCTRICO O MAGNÉTICO.


Como ya se ha comentado anteriormente, las sondas de campo cercano permiten
determinar si el campo interferente es de origen magnético o eléctrico. El procedimiento es
el siguiente:

1. Se mide la interferencia captada por ambas sondas a una distancia d1.


2. Se realiza una segunda medida a una distancia d2 > d1.
3. La tensión de la sonda que ha disminuido más rápidamente será la predominante.

Sensible a
E

Analizador de
ESE
Espectros

Sensible a
H

Figura 7.12 Detección de campo E y H mediante sondas de campo cercano.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 38


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7.3 REALIZACIÓN DE LA MEDIDA.

Las pruebas de emisiones radiadas requieren unos instrumentos y un entorno de medida


que no pueden ser aplicados en el Laboratorio de Medidas, pero sí que se pueden realizar
unas pruebas que permiten evaluar a priori posibles puntos de interferencias, así como el
tipo de campo interferente y sus posibles orígenes. Esto permitirá plantear soluciones
para eliminar las posibles interferencias en las distintas fases de diseño de un equipo o
sistema.

Para realizar estas pruebas se utilizarán las sondas de campo cercano y el analizador de
espectros ya explicados en apartados anteriores. Para realizar las pruebas, según
normativa, se ha de tener en cuenta:

ƒ Margen de frecuencia: 30 MHz – 1000 MHz


ƒ EMI FILTER: 120 kHz
ƒ Atenuador de entrada: >= 10 dB

Estos datos sólo son aplicables según normativa. Para poder realizar un estudio adecuado
de los puntos interferentes mediante las sondas de campo próximo, el alumno deberá colcar
el RBW y los márgenes de frecuencia adecuados.

Se ha de tener en cuenta que los límites de emisión radiada mostrados en la tabla 6 son
para medidas realizadas con una antena calibrada a una distancia del ESE de 10 metros y
bajo un entorno semianecoico.

Evidentemente, la distancia de medida según normativa es muy superior a la distancia


empleada con las sondas de campo cercano, por lo que los valores obtenidos con estas
últimas son sólo relativos y orientativos: nunca se han de considerar como valores
absolutos o válidos según normativas.

IMPORTANTE:

LAS MEDIDAS DE CAMPO OBTENIDAS CON LAS SONDAS DE CAMPO CERCANO NO


PUEDEN COMPARARSE CON LOS LÍMITES DE CAMPO DETERMINADOS POR LA
NORMA DE CEM.

La parte práctica de este apartado consiste en estudiar las emisiones radiadas de la placa
de circuito impreso basada en el microprocesador Fujitsu. Para tal efecto se emplearán las
sondas de campo cercano menos sensibles (903 y 905), ya que al no realizarse las
pruebas en un entorno semianecoico, se captarían radiaciones externas si se utilizasen
sondas más sensibles.

Principiaremos por configurar el receptor de EMI atendiendo a los requerimientos de la


norma en cuanto a frecuencia, RBW y atenuación.
• Para seleccionar el margen de frecuencias de la medida:
Presionar el botón FREQ.
Seleccionar en el menú de la derecha de la pantalla START (30MHz) y STOP
(1000MHz).

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 39


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

• Para seleccionar el ancho de banda del filtro de FI (RBW):


Presionar la tecla BW.
Seleccionar el menú RES BW MANUAL para fijar el ancho de banda a 120KHz
manualmente.
• Para seleccionar el atenuador de entrada:
Presionar el botón AMPT.
Seleccionar el menú RF ATTEN MANUAL para fijar el atenuador a 10dB
manualmente.

En una primera visión del espectro delimitado por la norma (30 MHz – 1000 MHz), se
pueden apreciar los picos de las interferencias que posteriormente se estudian por
separado.

A continuación se rastrea con las sondas de campo cercano los distintos puntos del equipo
en busca de alguna interferencia. Es probable que el alumno tenga que modificar el RBW y
el SPAN del receptor de EMI para observar mejor los picos de interferencia.

• Si se sitúan las sondas de campo cerca del reloj de la placa que funciona a 16 MHz,
se puede ver en la pantalla del analizador la interferencia que provoca este
componente. ¿Cómo podemos saber que la interferencia se corresponde a la
frecuencia del reloj? Para ello colocaremos el SPAN a 160 MHz, de esta manera
cada división de la pantalla del receptor se corresponde a los 16 MHz.

En primer lugar se determinará si la interferencia es de banda ancha (BA) o banda


estrecha (BE).

Posteriormente se averiguará si en esta interferencia predomina mayoritariamente el


campo eléctrico o magnético. Para ello se seguirán los pasos indicados en el
apartado 7.2.4. ¿Qué campo predomina en este caso?

Utilizando la sonda adecuada, se medirá la intensidad de campo interferente. Para


ello se ha de emplear el factor de antena explicado en el apartado 7.2.3.

• Se procederá de igual modo para estudiar la radiación que provocan el monopolo y


la espira conectados a los puertos del microcontrolador. Sobre estos elementos se
realizan accesos a dos velocidades distintas (25 KHz y 100 KHz), seleccionables
mediante el interruptor ubicado en la placa.

Observar el efecto que produce colocar la sonda de campo cercano paralela y


perpendicular a la espira circular. ¿A qué se debe esta diferencia?

Hay que tener en cuenta dos diferencias importantes en cuando a emisiones, y es que las
interferencias conducidas y radiadas no han de ser necesariamente las mismas por
dos motivos:

1.- Los intervalos de frecuencias que se analizan son distintos en ambas pruebas.
2.- Los mecanismos de propagación de la interferencia también son distintos: en un
caso conducido y en otro radiado. Por tanto, una interferencia que se propaga de
manera conducida no tiene por que hacerlo también de forma radiada.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 40


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8. CONCEPTOS BÁSICOS SOBRE EL ACOPLAMIENTO


RADIADO Y FORMAS PARA REDUCIRLO

En el caso de acoplamiento radiado la interferencia se propaga por el aire. Suele haber


algún elemento del equipo que se comporta como antena emisora o receptora no deseada.

Existen dos tipos de acoplamiento por radiación:

ƒ Capacitivo.
ƒ Inductivo.

8.1 ACOPLAMIENTO CAPACITIVO.


Se produce a causa de la capacidad parásita que existe entre conductores con una
trayectoria paralela cercana. Este modo de acoplamiento se puede solucionar modificando
la disposición del cableado de los equipos con objeto de evitar las influencias mutuas, o
bien protegiéndolo: apantallando los cables, aumentando la distancia entre ellos, creando
sistemas de desacoplo como son los planos de masa...

(1) (2)

RL1 RL2 V2 V2 sR 2C12


=
C12 V 1 1 + sR 2(C12 + C 2 g )

C1g C2g (1) (2)

Rg2
~ V1 ~ V1 C1g RL1 C2g R 2 V2

Figura 8.1 Modelo equivalente del acoplamiento capacitivo entre dos conductores.

V2
V1
C12
C12 + C 2 g
R2 reducida

w
1
R 2(C 2 g + C12)

Figura 8.2 Función de transferencia del acoplamiento.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 41


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Un acoplamiento capacitivo se produce siempre que exista una diferencia de tensión entre
dos estructuras metálicas separadas por un dieléctrico. El acoplamiento queda reflejado en
la relación V2/V1 : tensión acoplada en el segundo conductor respecto la tensión existente en
el primero.

Para reducir el acoplamiento interesa que la relación disminuya, o lo que es lo mismo, que
aumente la frecuencia de corte. Para conseguir esto existen varias opciones:

ƒ Disminuir C12 reduciendo la longitud y grosor de las pistas.


ƒ Aumentar C2g
ƒ Disminuir R2

A continuación se detallan algunos métodos para reducir el acoplamiento capacitivo:

ƒ Aumentar distancia entre conductores (D)


ƒ Disminuir diámetro de los conductores (d)
ƒ Evitar largas trayectorias de conductores
en paralelo, ya que la capacidad aumenta d
con la distancia.
D

S
W W ƒ Aumentas la separación entre pistas (S)
ƒ Disminuir el ancho de la pista (W)

1 2
ƒ Si se interpone una pista de masa entre
dos pistas de señal disminuye el
acoplamiento.

ƒ Colocar un plano de masa que atrae las


1 2 líneas de campo hacia masa, lo que
disminuye C12 y aumenta C1g y C2g.
Plano de masa
Es importante conectar el plano a masa,
si no el efecto será el contrario.

1 2

ƒ Combinación de líneas interpuestas y


plano de masa.

8.2 ACOPLAMIENTO INDUCTIVO.

El acoplamiento inductivo es consecuencia de la existencia de campos magnéticos, y


éstos existen siempre que hayan corrientes eléctricas. Cuando pasa corriente por un
conductor se crea un campo magnético alrededor de él, cuyo sentido sigue la ley de la mano
derecha. Estas líneas de flujo magnético inducen una tensión al pasar a través de una

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 42


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

espira. En consecuencia, cualquier conductor de un equipo genera campo magnético y sus


variaciones pueden incidir sobre cualquier circuito cercano.

El objetivo es disminuir la Vm inducida por el campo margnético, para lo cual se ha de:

ƒ Disminuir el área de los bucles (A)


V
I
A ~ m ƒ
ƒ
Trabajar a bajas frecuencias.
Como el campo magnético
decrece con la distancia, alejar la
fuente de campo magnético.
ƒ Apantallar el campo magnético.
jwt
B (t ) = Bo e jwt V = − jwB Ae cos θ
m o
Figura 8.3 Acoplamiento inductivo.

Un parámetro importante a tener en


cuenta y que conviene disminuir es la L1 L2
inductancia mutua (M). La inductancia
I1
mutua es una constante proporcional al
D L1 L2
número de líneas de flujo generadas por
I1 que influyen sobre otras partes del I1
~
sM12I1
circuito. Para disminuir M es importante d
intentar:
ƒ Aumentar la distancia entre circuitos.
ƒ Disminuir la distancia de los cables al
plano de masa.
Figura 8.4 Inductancia mutua (M).
ƒ Evitar trayectorias largas en paralelo,
ya que la M aumenta con la distancia

Posición del cableado

Máximo
acoplamiento
Plano de masa

Mínimo
acoplamiento
Plano de masa

Figura 8.5 Reducción del efecto de la inductancia mutua.

8.3 REDUCCIÓN DE LA INTERFERENCIA RADIADA.

Se pueden aplicar muchas técnicas para la reducción de este tipo de interferencias, pero
muchas de ellas implican una modificación importante del hardware.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 43


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Casi siempre es cierto que las técnicas que se utilizan para mejorar las interferencias
conducidas también mejoran las radiadas, ya que evitan la propagación a través de pistas y
cables largos, especialmente cables externos al equipo (alimentación, conexión a
periféricos...), que son los que pueden emitir (hacer de antena) con más facilidad.

Algunas formas para la reducción de interferencias son las siguientes:

ƒ El uso de filtros y ferritas para eliminar la interferencia conducida, situados lo más


cerca posible de la fuente de interferencia.
ƒ Disminuir el área de los bucles formados por el cable o pistas de señales con su
retorno por el cable o pista de masa.
ƒ Diseñar los circuitos de manera que las transiciones sean lo más lentas posibles.
En circuitos digitales esto se consigue utilizando circuitos integrados de las familias
lógicas más lentas (siempre que sea posible).
ƒ Uso de blindajes, ya sea de las partes del circuito que puedan emitir mayor
radiación (reloj, DMA…), o bien del equipo completo. En general un blindaje sólo
debe usarse cuando no quede otro remedio.
ƒ Utilizar los cables más adecuados para cada aplicación: coaxiales, par trenzado,
etc. Es básico hacer las conexiones de forma correcta.

9. MEDIDA DE LA DIAFONÍA.

Diafonía es el efecto de acoplamiento perjudicial entre dos circuitos o canales consistente en


que las señales de uno son perceptibles en el otro.

El esquema de acoplamiento es el siguiente:

(3) (4)
si línea está adaptada Si V<>0 -> Telediafonía
V = VG tracking “Far End”: interferencia
acoplada lejana

VG tracking (1) (2)


Si V<>0 -> Paradiafonía
Osciloscopio ~
“Near End”: interferencia
acoplada próxima

Figura 9.1 Medida del acoplamiento entre líneas.

Si se aplica señal en una de las líneas (1), ésta se puede acoplar en el:
ƒ Extremo más alejado de otra línea cercana (4), provocando la denominada
telediafonía.
ƒ Extremo más cercano de la otra línea (2), provocando la denominada
paradiafonía.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 44


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En esta práctica se realizarán medidas de diafonía en cables y pistas. Para ello es


necesario utilizar un Analizador de Espectros con Generador de Tracking. El analizador
proporciona una salida de señal (GEN Output) con la que se puede alimentar el sistema bajo
prueba, y mediante el mismo analizador (RF Input) se estudian los acoplamientos en los
distintos sistemas.

Para realizar estas pruebas se dispone del siguiente material:


ƒ Dos placas conectadas entre sí mediante cables para el estudio del acoplamiento
entre cables.
ƒ Una placa de circuito impreso con pistas para el estudio del acoplamiento entre
pistas.
ƒ Cargas de 50 Ω para adaptar las líneas.

NOTA:
ƒ Es importante que las líneas estén adaptadas, sino aparecerán ondas
estacionarias. También se ha de tener en cuenta que la adaptación de
impedancias varía con la frecuencia, por tanto dicha adaptación no será buena en
todo el margen de frecuencias.
ƒ El acoplamiento capacitivo aumenta cuando se incrementa la impedancia de
entrada (ZIN) del circuito interferido, mientras que el acoplamiento inductivo
disminuye. Esta propiedad puede resultar útil para determinar el tipo de
acoplamiento: si existe la posibilidad de variar ZIN mientras se observa el
acoplamiento de tensión, se puede deducir cuál es el tipo de acoplamiento que
predomina. Por esta razón, el acoplamiento inductivo resulta un problema en
circuitos de baja impedancia, mientras que el acoplamiento capacitivo se produce
en circuitos de más alta impedancia.

9.1 ACOPLAMIENTO ENTRE CABLES.


El esquema de las placas con cables es el siguiente:

La señal de entrada al sistema la proporciona el Analizador de Espectros mediante la salida


GEN OUTPUT, y las medidas se realizan a través de la entrada RF INPUT.
Placa emisora Placa receptora
El proceso
L4 a seguir es el siguiente: L4
ƒ Configurar el Analizador de Espectros en modo NETWORK.
Conector cable Conector cable
plano con líneas
ƒ Activar la fuente de señal: SOURCE en ON. plano con líneas
de guarda de guarda
ƒ La potencia de la señal de entrada se ajusta mediante el control SOURCE POWER.
L3
Fijar ésta a 0dBm.
ƒ El margen de frecuencias a analizar va desde 1 MHz a 300 MHz. Para
Redes de frecuencias superiores, los cables utilizados (cintas planas) no son adecuados.
Redes de
ƒ Para que las medidas sean correctas, las terminaciones
adaptación de adaptación de (extremos de las líneas)
impedancias impedancias
deben estar adaptadas con una carga de 50 Ω. 50 ohmios es el valor al cual se
han adaptado las líneas mediante las redes de adaptación (red de resistencias en
L2 π), y es el valor de la impedancia de entrada L2 y salida del Analizador de
Conector cable Conector cable
Espectros. plano sin líneas de plano sin líneas
ƒ Compensar las pérdidasguarda de los cables que conectan el analizador con el
de guarda
circuito de prueba (figura 9.3). Pulsar SOURCE CAL y calibrar el sistema en
L1 L1 normalizar pulsando NORMALIZE.
cortocircuito mediante CAL TRAN. Por último
Para poder ver mejor la referencia podemos situar REF VALUE a 0dBm.

Figura 9.2 Placa de medida del acoplamiento entre cables.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 45


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Analizador de Espectros

GEN OUT RF INPUT

Coaxial al GEN OUT del AE Coaxial al RF INPUT del AE

Figura 9.3 Calibración de los cables.

9.1.1 MEDIDA DE LA TELEDIAFONÍA EN UN CABLE PLANO.

Analizador de Espectros

GEN OUT RF INPUT

Placa emisora Placa receptora


Cable sometido a
L1 emisor L1receptor, L2receptor,
pruebas (cinta plana)
L3receptor

Figura 9.4 Conexionado de medida del acoplamiento entre líneas.

ƒ Conectar el generador (GEN OUT) a L1 de la placa emisora.


ƒ Conectar L1 de la placa receptora al analizador (RF INPUT).
ƒ Cargar con 50 Ω el resto de puertos: L2, L3, L4 emisor y L2, L3, L4 receptor.
ƒ Medir la transmisión a través de L1 en función de la frecuencia.
Conectando el resto de puertos de la placa receptora al analizador (RF INPUT), y
cargando debidamente aquellos que quedan al aire mediante una carga de 50 Ω,
se puede medir el acoplamiento sobre las otras líneas del cable: L2, L3 y L4 del
receptor.
En la figura 9.5 la traza 1 representa la transmisión por L1. Observar los dB’s de
pérdida que introducen las redes de adaptación de impedancias.
En un caso ideal, al final de L2 (traza 2) no debiera haber señal, pero como se
puede observar sí existe debido al acoplamiento de la señal que circula por L1.
De la misma manera, al final de L3 (traza 3) también existe señal, aunque más
atenuada, ya que al estar más alejada de L1 el acoplamiento disminuye.

Para poder observar los tres gráficos en pantalla se han de seguir los siguientes pasos:

ƒ Borrar cualquier gráfica existente en pantalla: TRACE + SELECT TRACE + 1 + BLANK


+ SELECT TRACE + 2 + BLANK + SELECT TRACE + 3 + BLANK.
ƒ Conectar L1 receptor a RF INPUT y cargar el resto de puertos.
ƒ Hacer un barrido simple para visualizar L1 receptor: SELECT TRACE + 1 + BLANK +
SWEEP + SINGLE SWEEP.
ƒ Memorizar la traza en pantalla: TRACE + VIEW.
ƒ Conectar L2 receptor a RF INPUT y cargar el resto de puertos.
ƒ Hacer un barrido simple para visualizar L1 receptor: SELECT TRACE + 2 + BLANK +
SWEEP + SINGLE SWEEP.
ƒ ………

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 46


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Traza 1
Traza 2

Traza 3

Figura 9.5 Gráfico de la telediafonía.

9.1.2 MEDIDA DE LA PARADIAFONÍA EN UN CABLE PLANO.

Analizador de Espectros

GEN OUT RF INPUT

L2 emisor, L3 emisor,
L4 emisor

Placa emisora Placa receptora


Cable sometido a
pruebas (cinta plana)
L1 emisor

Figura 9.6 Conexionado de medida del acoplamiento entre líneas.

La medida de la paradiafonía se realiza de manera similar a la anterior. Se introduce la señal


en L1 emisor y se mide el acoplamiento sobre L2 emisor (traza 1), L3 emisor (traza 2) y L4
emisor (traza 3). La figura 9.7 muestra los resultados obtenidos, donde se puede observar
un fenómeno muy parecido al anterior.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 47


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Traza 1

Traza 2

Traza 3

Figura 9.7 Gráfico de la paradiafonía.

9.1.3 MEDIDA DEL ACOPLAMIENTO ENTRE CABLES.

Para realizar estas pruebas se proporcionan tres cables de distintas longitudes, que según
los conectores en que los pongamos tendremos distintos tipos de conexión: sin líneas de
guarda o con líneas de guarda. La conexión con guarda tiene mejor comportamiento ante el
acoplamiento, ya que entre otras cosas reduce considerablemente el área del bucle de
masa.

L1
L2
L3
L4

Pistas sin líneas de guarda


masa

Figura 9.8 Cable plano sin línea de guarda.

L1
L2
L3
L4

masa
Pistas con líneas de guarda

Figura 9.9 Cable plano con línea de guarda.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 48


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

La figura 9.10 muestra los siguientes resultados:


ƒ Traza 1: L1 emisor – L1 receptor.
ƒ Traza 2: L1 emisor – L2 receptor utilizando cable SIN línea de guarda.
ƒ Traza 3: L1 emisor – L2 receptor utilizando cable CON línea de guarda.

Traza 1
Traza 2

Traza 3

Figura 9.10 Gráfico comparativo de cables.

El alumno deberá realizar como mínimo las siguientes medidas comparativas:

1.- Un gráfico comparativo entre Telediafonía y Paradiafonía en las mismas condiciones.

2.- Un gráfico que indique las diferencias entre líneas de diferente proximidad (L2,L3,L4).

3.- Un gráfico comparativo entre llevar o no línea de guarda. Resto de condiciones iguales.

4.- Un gráfico que visualice los efectos de las distintas longitudes, que son tres.

Hacer un comentario resumido de los resultados observados.

Indicar las aplicaciones prácticas que deduces del estudio realizado.

9.2 ACOPLAMIENTO ENTRE PISTAS.

El esquema de la placa sobre la que el alumno realizará las medidas es el mostrado en la


figura 9.11. En éste se observan cuatro grupos de pistas acopladas dos a dos:
ƒ El grupo L1 se corresponde a un par de pistas paralelas.
ƒ El grupo L2 se corresponde a un par de pistas paralelas con línea de guarda.
ƒ El grupo L3 se corresponde a un par de pistas paralelas con plano de masa.
ƒ El grupo L4 se corresponde a un par de pistas paralelas con plano de masa y
pista de guarda.

MEDIDAS ELECTRÓNICAS PRÁCTICA 16 PÁGINA 49


CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

L4a - Emisor Pista de guarda L4a - Receptor

L4b - Emisor Pistas acopladas con plano de L4b - Receptor


masa y línea de guarda

L3a - Emisor L3a - Receptor

Pistas acopladas con plano de


L3b - Emisor masa L3b - Receptor

Plano de masa
L1a - Emisor L1a - Receptor

L1b - Emisor Pistas acopladas L1b - Receptor

L2a - Emisor Pista de guarda L2a - Receptor

L2b - Emisor Pistas acopladas con línea de L2b - Receptor


guarda

Figura 9.11 Placa de medida del acoplamiento entre pistas.

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CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

La señal de entrada al sistema la proporciona el Analizador de Espectros mediante la salida


GEN OUTPUT, y las medidas se realizan a través de la entrada RF INPUT.

El proceso a seguir es el siguiente:


ƒ Configurar el Analizador de Espectros en modo NETWORK.
ƒ Activar la fuente de señal: SOURCE en ON.
ƒ La potencia de la señal de entrada se ajusta mediante el control SOURCE POWER.
Fijar ésta a 0dBm.
ƒ El margen de frecuencias a analizar va desde 1 MHz a 500 MHz. Para
frecuencias superiores esta configuración no es adecuada (tipo de substrato,
conectores…).
ƒ Para que las medidas sean correctas, las terminaciones (extremos de las líneas)
deben estar adaptadas con una carga de 50 Ω, es decir, el extremo opuesto de
la línea en la que inyectamos la señal y el extremo opuesto de la línea que
tomamos la señal.
ƒ Compensar las pérdidas de los cables que conectan el analizador con el
circuito de prueba (figura 9.3). Pulsar SOURCE CAL y calibrar el sistema en
cortocircuito mediante CAL TRAN. Por último normalizar pulsando NORMALIZE.
Para poder ver mejor la referencia podemos situar REF VALUE a 0dBm.

9.2.1 MEDIDA DE LA TELEDIAFONÍA ENTRE PISTAS.

Analizador de Espectros

GEN OUT RF INPUT

Emisor Receptor
Cable sometido a
L1a emisor L1b receptor
pruebas (pistas)

Figura 9.12 Conexionado de medida del acoplamiento entre pistas.

ƒ Conectar el generador (GEN OUT) a L1a emisor.


ƒ Conectar L1b receptor al analizador (RF INPUT).
ƒ Cargar con 50 Ω el resto de puertos: L1b emisor y L1a receptor.
ƒ Medir el acoplamiento de señal sobre L1b receptor.

La figura 9.13 muestra las diferencias en el acoplamiento según la distribución de las pistas.
La traza 1 representa el acoplamiento entre pistas sin ningún tipo de protección (grupo L1).
La traza 2 representa el acoplamiento entre pistas con protección de línea de guarda (grupo
L2). La traza 3 representa el acoplamiento entre pistas con protección de plano de masa
(grupo L3).

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CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

Traza 1

Traza 2
Traza 3

Figura 9.13 Gráfico comparativo de pistas (telediafonía).

El alumno deberá realizar medidas comparando también las pistas acopladas con línea de
guarda y plano de masa justificando los resultados.

9.2.2 MEDIDA DE LA PARADIAFONÍA ENTRE PISTAS.

Analizador de Espectros

GEN OUT RF INPUT

L1b emisor

Emisor Receptor
Cable sometido a
pruebas (pistas)
L1a emisor

Figura 9.14 Conexionado de medida del acoplamiento entre pistas.

De la misma manera se puede medir la paradiafonía. El alumno deberá introducir señal (GEN
OUT) por una de las pistas que forman cada grupo y medir la señal en el conector contiguo
de la pista acoplada (RF INPUT). Se obtendrán gráficas de cada uno de los cuatro conjuntos

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CEM COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNÉTICA

de líneas de la placa. Se analizará cuál es el mejor método para disminuir el acoplamiento


teniendo en cuenta la frecuencia de trabajo.

IMPORTANTE:

1º.- Cuando se varía algún parámetro de medida, como el margen de frecuencia, se ha


de volver a compensar.

2º.- No te olvides de cargar los extremos opuestos de las líneas con una carga de 50Ω.

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