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Articulo Ue
Articulo Ue
La unión consiste en dos tipos de cargas: cargas inmóviles unidas debido a impurezas ionizadas y
cargas móviles libres debido a electrones y agujeros. Cuando se cambia la tensión del terminal, la
carga atada no puede cambiar (a una buena aproximación), pero la carga libre, que puede ser
suministrada desde los terminales, puede. Considere una unión bajo sesgo directo y observe el
aumento en la carga del agujero para un aumento en el sesgo directo por deltaV. Consulte la Fig.
3. El ancho de agotamiento se reduce, aumentando el ancho de las regiones p y n neutrales
mediante deltaXp y deltaXn, respectivamente, y consecuentemente, aumentando la carga del
agujero en el dispositivo por unidad de área por deltaQd = qNa deltaXp, donde Na es la
concentración de dopaje dentro de deltaXp, y el aumento en los agujeros minoritarios sobre
deltaXn se descuida. Otro efecto es el aumento en el cargo del operador minoritario en exceso,
que también aumenta la carga del operador mayoritario para preservar la neutralidad de carga. El
aumento en la carga del agujero debido a este efecto, deltaQm, es igual a la suma de los
incrementos en la carga del portador minoritario en el lado y la carga del portador mayoritario en
el lado, que, a su vez, es igual en magnitud a la minoría carga de electrones en el mismo lado
debido a la condición de neutralidad de carga. Es por esta razón que se puede considerar que
deltaQm es simplemente igual al incremento de la carga minoritaria incremental en el dispositivo.
Mientras que deltaQd contribuye a la capacitancia de agotamiento, deltaQm da lugar a la
capacitancia de difusión. La carga de agujero incremental total de (deltaQm + deltaQd) representa
la capacitancia total, de modo que, claramente, las capacitancias de agotamiento y difusión están
en paralelo. Este resultado también podría haberse obtenido considerando electrones en lugar de
agujeros y / o sesgo inverso en lugar de sesgo directo. Las estimaciones simples de las
capacitancias se obtienen dividiendo deltaQd y deltaQm por deltaV, donde el incremento deltaV
se efectúa de forma tan gradual que el dispositivo se encuentra casi en condiciones estables. Los
detalles matemáticos de este método, llamado método cuasiestático, ya están disponibles en
libros, por ejemplo, [8], [12], [13], por lo que no se tratan aquí. La naturaleza y el alcance de las
aproximaciones en este método se han aclarado en un documento adjunto [5] utilizando una
analogía atractiva.
En los libros de texto populares disponibles (por ejemplo, [6] - [13]), las imágenes del movimiento
de portador aleatorio utilizado como punto de partida para desarrollar las corrientes de deriva y
difusión son invariablemente diferentes; la deriva se discute en términos de la imagen (b) [Fig. 1
(b)] referido anteriormente [6] - [13] y la difusión se discute usando [Fig. 1 (c)], como también se
ha hecho en este documento y en los libros enumerados en [6], [7], [9] y [11], o simplemente se
menciona como una consecuencia de la ley de Fick [8], [ 10], [12], [13]. Este aspecto ofusca
significativamente el origen común de estas dos corrientes en la mente del alumno. Además, es
importante tener en cuenta que los libros disponibles no discuten la corriente termoeléctrica junto
con la deriva y la difusión. De hecho, la mayoría de los libros de texto populares no abordan esta
corriente. Por lo tanto, los estudiantes desconocen esta corriente o, cuando se les presenta esta
corriente, la consideran completamente diferente de la deriva o la difusión. Por el contrario, la
elucidación de las tres corrientes usando la misma imagen (c) [Fig. 1 (c)] como punto de partida, e
interrelacionando los coeficientes de todas estas corrientes, como se hace en este documento,
está totalmente libre de estas desventajas. Además, la presentación unificada, al tiempo que
proporciona una estimación de la velocidad de saturación, también revela la razón de la saturación
de la velocidad, a diferencia de las presentaciones en los libros disponibles. Habitualmente, antes
de aprender dispositivos semiconductores, los estudiantes están familiarizados con el modelo de
placa paralela de la capacitancia en el que las ubicaciones de los componentes positivo y negativo
están separadas y la capacitancia está dada por la magnitud de cualquiera de estos componentes
de carga dividida por el voltaje entre las placas. Cuando se aproximan a las elucidaciones
existentes de la teoría de capacitancia de unión (por ejemplo, [6] - [13]) según este entendimiento,
enfrentan las siguientes dificultades según la experiencia del autor. Durante una discusión de la
capacitancia de agotamiento, malinterpretan la frase "cambio en la carga almacenada en la región
de carga espacial" para significar "el cambio en la carga de impurezas ionizadas" (esta carga no
puede cambiar como ya se indicó anteriormente). Además, al analizar la capacitancia de difusión,
se preguntan cómo la carga positiva de los orificios minoritarios en el lado n y la carga negativa de
los electrones minoritarios en el lado p juntos contribuyen a esta capacitancia, y se confunden aún
más si se estima esta capacitancia utilizando un enfoque riguroso basado en la ecuación de
continuidad de CA (por ejemplo, [6], [10], [11]). Además, la razón por la cual las capacitancias de
agotamiento y difusión derivadas usando (aparentemente) diferentes técnicas (la capacitancia de
agotamiento se discute invariablemente usando el enfoque cuasiestático) se deben considerar
como paralelas no está clara. De hecho, algunos estudiantes creen erróneamente que las dos
capacidades están en serie ya que las regiones de carga espacial y neutral de las que se originan
están en serie. Todas estas dudas son eludidas por completo si ambas capacitancias se derivan,
como se sugiere en este documento, de una definición común de la capacitancia, que es solo una
modificación menor de la definición de la placa paralela. Se obtienen aclaraciones completas del
transporte semiestable y de la capacitancia de unión p n si la discusión dada en este documento se
combina con la de un documento adjunto [5] sobre dispersión de portadores y cuasiestática frente
a derivaciones rigurosas de la capacitancia. Es importante `tener en cuenta que estas
elucidaciones son muy simples y sucintas, por lo que son ideales para su inclusión en un libro de
texto introductorio (curso de conferencias), y proporcionan las ventajas enumeradas en el
documento sin ocupar mucho espacio (tiempo). Estas elucidaciones se han incluido en un curso de
video de un semestre sobre "Física y modelado de dispositivos semiconductores" publicado por el
autor.