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Samuel Chimborazo
sam_jmlr@hotmail.com
I. INTRODUCCION
1
𝜏𝐻,𝐴𝑢𝑔 =
𝐵𝑝2 + 𝐶𝑛𝑝
𝑛𝑝 − 𝑛2 𝑖
𝑅𝑇 =
𝜏ℎ0 (𝑛 + 𝑛1) + 𝜏𝑒0 (𝑝 + 𝑝1)
Figura 2. Recombinación Auger
donde n y p son las concentraciones de electrones y
IV. RECOMBINACION SHOCKLEY- agujeros respectivamente, ni es la "concentración de
READ-HALL portador intrínseco", y τh0 y τe0 son parámetros de
duración (para agujeros y electrones respectivamente)
La recombinación a través de defectos, también llamado cuyos valores dependen del tipo de trampa y la densidad
Shockley-Read-Hall o, no se produce en un material de volumen de la captura Defectos2. Las cantidades n1 y
perfectamente puro, sin defectos. La recombinación SRH p1 son parámetros que introducen la dependencia de la
es un proceso de dos pasos. Los dos pasos involucrados en velocidad de recombinación en el nivel de energía de
la recombinación SRH son: captura Eτ de la siguiente manera:
VI. BIBLIOGRAFIA