UNIVERSIDAD NACIONAL DE SAN ANTONIO ABAD DEL CUSCO

FACULTAD DE INGENIERIA DE PROCESOS

ESCUELA PROFESIONAL DE INGENIERIA QUIMICA

INFORME DE LABORATORIO N° 05

INTERFEROMETRO DE MICHELSON
CURSO: FISICA C
ALUMNA:
PARHUAY ALVAREZ, Olga
CODIGO: 124171

DOCENTE:
JUVENAL PEREZ HUALLPA

GRUPO: 453-B VIERNES DE 11:00 A 13:00

SEMESTRE 2017 – II
CUSCO – PERU
2018
 a) OBJETIVO:

 Determinar la longitud de onda de la fuente de luz laser

b) MARCO TEÓRICO:
El interferómetro de Michelson es uno de los instrumentos de interferencia más
conocido, tanto por sus múltiples aplicaciones como por su implicancia en el desarrollo
de nuestro entendimiento del mundo físico. Usando este dispositivo, Michelson y
Morley pusieron en evidencia la inconsistencia de la teoría del éter. Este hecho
contribuyó al desarrollo de la teoría de la relatividad.
Aunque inicialmente Michelson diseñó este interferómetro (1881) para detectar el éter,
una vez que fue imposible demostrar su existencia se utiliza su dispositivo para medir
longitudes de onda o para, conocida la longitud de onda de una fuente emisora, medir
distancias muy pequeñas o índices de refracción de distintos medios.

Ilustración 1. Diagrama esquemático del interferómetro de Michelson. M1 y M2 son

dos espejos de primeras superficies. Ms es un divisor de haz (“beam spliter”) o espejo
semitransparente. Los haces se recombinan en la pantalla P, donde se pueden ver las
figuras de interferencia. La lente sirve para aumentar el tamaño de la imagen y hacer
más visibles la imagen de interferencia.
Un rayo procedente del láser es desdoblado mediante un espejo semitransparente MS
(espejo que refleja sólo el 50% de la luz que incide sobre él, dejando pasar el otro 50%).
Uno de los rayos se refleja en el espejo fijo M1, y el otro en el espejo móvil M2. Ambos
rayos vuelven a juntarse en la pantalla. Sobre la pantalla vemos la superposición o
interferencia de los dos haces de luz, cuyas fases (estados de oscilación de los campos),
están altamente correlacionadas por proceder de la misma fuente. Si con una lente
abrimos el haz justo antes de ser desdoblado, se podrá observar en pantalla el modelo de
interferencia formado por anillos alternativamente claros y oscuros. Es el patrón de
interferencia que se muestra en la figura 2:

Ilustración 2. Franjas de interferencia producidas por el interferómetro de Michelson

con espejos M1 y M2 perpendiculares

Ilustración 3. Diagrama esquemático del interferómetro de Michelson. S1 y S2 son la

dos imágenes de la fuente formadas por los espejos Ms, M1 y M2.
¿Cómo se ha formado? Inicialmente los dos haces desdoblados estaban en fase. La
diferencia de fase que haya entre ellos cuando se encuentren de nuevo en un mismo punto
del espacio dependerá de la diferencia de camino que hayan recorrido. Si M1 y M2 están
a la misma distancia del espejo semitransparente, el camino recorrido por ambos rayos es
el mismo, y por tanto llegarán en fase a la pantalla, y la interferencia en cualquier punto
será máxima o mínima pero constante en el tiempo, lo que nos permite observar el patrón
de interferencia.
Moviendo el espejo M2 cambiaremos esta situación. Si la distancia MS-M2 se varía en
un cuarto de longitud de onda, los haces en pantalla estarán en oposición de fase
(desfasados 180º). Esto es debido a que el haz que va de MS a M2 recorre esa distancia
dos veces, por lo que la diferencia de camino recorrido por los dos haces es de media
longitud de onda: en la pantalla las posiciones de los máximos y mínimos estarán
intercambiadas.
Si se varía ahora la distancia de MS a M2 en media longitud de onda, de nuevo los haces
estarán en fase en la pantalla. El modelo de interferencia volvería a ser ahora como
inicialmente.
De esta forma, moviendo M2 tendremos un modelo de interferencia que va variando al
variar la posición del espejo, y que volverá a ser como inicialmente cada vez que el espejo
se mueva un múltiplo de la semilongitud de onda de la luz utilizada.
Por tanto, moviendo M2 una distancia dm y contando m, el número de veces que el patrón
de interferencia vuelve a ser como inicialmente, se puede calcular la longitud de onda λ
de la luz utilizada:

Si la longitud de onda es conocida, se puede usar el mismo procedimiento para medir una
distancia dm.

c) EQUIPO Y MATERIALES:

 Interferómetro de Michelson
 Un láser de He-Ne

d) PROCEDIMIENTO
Determinación de la longitud de onda.
1. Arme el sistema como se muestra en la figura 1
2. Mueve el laces apara enfocar adecuadamente el haz de luz. El patrón de
interferencia de v estar el medio de la pantalla, esto se logra moviéndolas las
tuercas del espejo móvil. Es posible que debido a las aberraciones ópticas y
deficiencias de alineación, las franjas de interferencia no sean perfectamente
circulares.
3. Fije un punto de referencia en la pantalla
4. Gire lentamente el tornillo del micrómetro y observe lo que sucede
5. Fije una referencia en el tornillo micrométrico
6. Es importante que antes de empezar a contar las franjas que desaparecen debido
al movimiento del espejo el micrómetro se gire una vuelta y se continúe
desplazándolo en el mismo sentido. De esta forma se consigue eliminar lo
posibles errores del retroceso (backlach) del tornillo micrométrico
7. Cuente la cantidad de máximos que desaparecen igual 20, iy mida la variación
de la distancia “y” (usando el micrómetro). Anote esta medida en la tabla 1
8. Continúe girando el micrómetro , contando cada vez 20 desapariciones de
máximos, midiendo la variación del micrómetro y anotando en la tabla 1
e) DIAGRAMA DE INSTALACIÓN:

Ilustración 4. Alineación del laser

Ilustración 5. Sistema óptico

f) TOMA DE DATOS

Tabla 1

m 20 40 60 80 100 120 140 160

Y (um) 11 16 24 30 36 43 50 56
g) OBSERVACIONES EXPERIMENTALES:

1. ¿de qué depende la aparición de máximos y mínimos en el patrón de

interferencia?

Si dos haces provienen de la misma fuente estarán correlacionados en frecuencia

y fase. De esta forma cuando en los rayos se superponen (interfieren) se
producirá una interferencia constructiva si estado de fase es el mismo y se tendrá
un máximo de intensidad.
Si por el contrario los campos se encuentran en oposición de fase, la
superposición supondrá la anulación del campo total y se produce un mínimo
(cero) en la intensidad.

2. Realice dos medidas para la creación mediante máximos, anote sus valores
y compárelos con la desaparición de 20 máximos.

Para la creación de 20 máximos obtuvimos una medición de

𝑦(𝑢𝑚) = 11
y para la desaparición de 20 máximos obtuvimos una medición de
𝑦(𝑢𝑚) = 25 − 14 = 11
al compararlos nos dimos cuenta que tanto para la aparición y desaparición de
los máximos 𝑦(𝑢𝑚) es el mismo.

3. ¿qué sucede al colocar un prisma en el camino de los haces? ¿por qué?

Colocando el prisma delante de la primera lente de paso aparecen pocos

máximos
Colocando el prisma entre el divisor de haz y el espejo m1 se notan más máximos
que colocado en la posición anterior
Colocando el prisma entre el divisor de haz y el espejo m2 se obtiene la mayor
cantidad de máximos

h) ANÁLISIS DE DATOS EXPERIMENTALES.

1. Determine cuál es el desplazamiento teórico del espejo para una

variación de m=20
2𝑦
𝜆=
𝑚
𝑚𝜆
𝑦=
2
(20)(633𝑛𝑚)
𝑦=
2
𝑦 = 6330𝑛𝑚

2. Determinar cuál es la variación en y, para variación de m=20 para cada

medida realizada.
 Tabla 2

m y=633nm y=mλ/2
20 633 6330
40 633 12660
60 633 18990
80 633 25320
100 633 31650
120 633 37980
140 633 44310
160 633 50640

3. Determine la longitud de onda del laser para cada medida realizada

halle un promedio con su respectivo error.

Tabla 3

m Y (nm) λ=2y/m
20 11000 1100
40 17000 800
60 23500 800
80 30000 750
100 36000 720
120 42000 716.67
140 48000 714.29
160 54000 700

𝜆 +𝜆 +𝜆 +⋯𝜆𝑛
Promedio 𝜆̅ = 1 2 𝑛 3
𝜆̅ = 787.619 𝑛𝑚
 𝜎𝑛 ∑𝑛 2
𝑖=1 𝜎𝑖
error probable 𝑒𝑝 = 𝜎𝜆 = 𝜎𝑖 = |𝜆 − 𝜆̅|
√𝑛 𝑛−1

Tabla 4

λ λ promedio
1100 787.619 312.381
800 787.619 12.381
800 787.619 12.381
750 787.619 37.619
720 787.619 67.619
716.67 787.619 70.952
714.29 787.619 73.333
700 787.619 87.619

∑𝑛𝑖=1 𝜎𝑖2
𝜎𝜆 = = 140.435
𝑛−1
𝜎𝑛
𝑒𝑝 = = 49.651365
√𝑛

4. Determine el error porcentual entre este valor experimental y la

longitud de onda de laser de He-Ne.
|𝑓 𝑡𝑒𝑜𝑟𝑖𝑐𝑜 − 𝑓𝑎𝑛𝑎𝑙𝑖𝑡𝑖𝑐𝑜|
𝜀% = ∗ 100
𝑓 𝑡𝑒𝑜𝑟𝑖𝑐𝑜

|633 − 787.619 |
𝜀% = ∗ 100
633

𝜀% = 24.4264

i) CONCLUSIONES:

 Se puede concluir que si dos haces que provienen de la misma fuente se

produce un máximo si el estado de fase es el mismo y se encuentran en
oposición de fase se produce un mínimo

 Para poder observar la interferencia de dos ondas se debe de cumplir

que las fuentes deben de ser coherentes (su diferencia de fase debe de
sr constante) y que las fuentes deben ser monocromáticas (que tengan
la misma longitud de onda)
 j) COMENTARIOS.

Los materiales con los que trabajamos en el laboratorio son un poco antiguos por eso
los resultados que obtenemos nos dan con un margen de error considerable.
Que el laboratorio cuente con un equipo de escuadras y un equipo de accesorios y una
mejor pantalla para así mejor medir las distancias la aparición de máximos y mínimos
para una mejor toma de datos
Probar el experimento con distintos tipos de lentes para poder observar lo que ocurre y
si al cambiar de lentes varía la aparición de máximos y mínimos

k) CUESTIONARIO

Aplicaciones

Generalmente cuando se monta un interferómetro de Michelson se observa una figura de

interferencia inicial, de la que no se puede determinar cuál es la diferencia de camino,
porque si se observa una suma constructiva sólo se puede inferir que la diferencia es
múltiplo de la longitud de onda. Por esto el interferómetro se usa para medir pequeños
desplazamientos; una vez que se tiene una figura de interferencia inicial, al cambiar la
posición de uno de los espejos se verá que las franjas de interferencia se mueven. Si
tomamos un punto de referencia, por cada franja que lo atraviese habremos movido el
espejo una distancia equivalente a una longitud de onda (menor al micrómetro.)
Hacia fines del siglo XIX, este interferómetro se utilizaba con fuentes luminosas de
descarga en gases, con un filtro y una pequeña rendija. En particular, para el experimento
de Michelson y Morley, se utilizó la luz proveniente de alguna estrella. Actualmente en
cualquier laboratorio de enseñanza básico se puede montar uno de estos interferómetros
utilizando un láser.