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22 de marzo de 2010
Ventajas
Ventajas
Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
Prof. Douglas Rivas
para cada
Muestreo de Aceptación por Variables
Ventajas y desventajas
Muestreo de Aceptación por Variables
Militar Estándar 414
Ventajas
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Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
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para cada
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Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
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Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
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Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
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Debe emplearse un plan de muestreo
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Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
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Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
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Debe emplearse un plan de muestreo
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acerca del proceso de manufactura o del lote que los
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Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
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Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
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Debe emplearse un plan de muestreo
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Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
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Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.
Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
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Debe emplearse un plan de muestreo
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acerca del proceso de manufactura o del lote que los
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Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
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Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
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Debe emplearse un plan de muestreo
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Tipos de planes
Tipos de planes
Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.
Tipos de planes
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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.
Tipos de planes
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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.
Tipos de planes
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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.
Tipos de planes
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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.
Tipos de planes
Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
Prof. Douglas Rivas Muestreo de Aceptación por Variables
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Tipos de planes
Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a
Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Tipos de planes
LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.
Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S
Tipos de planes
LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.
Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S
Tipos de planes
LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.
Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S
Tipos de planes
LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.
Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S
Usando el procedimiento 1
Sean (p1 , 1 − α), (p2 , 1 − β) los dos puntos de interés en la
CCO. p1 y p2 pueden ser los niveles de la fracción disconforme
del lote o del proceso que corresponde a los niveles de calidad
de aceptación y de rechazo, respectivamente. Entonces se usa
el nomograma siguiente para diseñar el plan.
Usando el procedimiento 1
Sean (p1 , 1 − α), (p2 , 1 − β) los dos puntos de interés en la
CCO. p1 y p2 pueden ser los niveles de la fracción disconforme
del lote o del proceso que corresponde a los niveles de calidad
de aceptación y de rechazo, respectivamente. Entonces se usa
el nomograma siguiente para diseñar el plan.
Figura: Nomograma
Prof. Douglas Rivas binomial
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Figura: Nomograma
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Ejemplo
Un embotellador de refrescos compra envases no retornables
de un proveedor. El ha establecido una especificación inferior
de 225 psi para la resistencia del estallamiento de los envases.
si 1 % o menos de los envases estallan abajo de este lı́mite, el
embotellador desea aceptar el lote con una probabilidad de
0.95 (p1 = 0,01, 1 − α = 0,95), mientras que si 6 % o más de
los envases estallan abajo de este lı́mite, el embotellador
querrı́a rechazar el lote con una probabilidad de 0.90
(p2 = 0,06, 1 − β = 0,90). Suponiendo σ desconocida, se
obtiene que n = 40 y k = 1,9. Con σ conocida, se obtiene que
n = 15 y k = 1,9
Ejemplo
Un embotellador de refrescos compra envases no retornables
de un proveedor. El ha establecido una especificación inferior
de 225 psi para la resistencia del estallamiento de los envases.
si 1 % o menos de los envases estallan abajo de este lı́mite, el
embotellador desea aceptar el lote con una probabilidad de
0.95 (p1 = 0,01, 1 − α = 0,95), mientras que si 6 % o más de
los envases estallan abajo de este lı́mite, el embotellador
querrı́a rechazar el lote con una probabilidad de 0.90
(p2 = 0,06, 1 − β = 0,90). Suponiendo σ desconocida, se
obtiene que n = 40 y k = 1,9. Con σ conocida, se obtiene que
n = 15 y k = 1,9
Usando el procedimiento 2
Se sigue el mismo procedimiento anterior, pero en este caso
es necesario hallar el valor de M, para lo cual su usa la
siguiente figura.
Usando el procedimiento 2
Se sigue el mismo procedimiento anterior, pero en este caso
es necesario hallar el valor de M, para lo cual su usa la
siguiente figura.
Ejemplo
Para el ejemplo 1, se obtuvo que n = 15 y k = 1,9. Se consulta
la figura con n = 40 y valor de abscisa
√ √
1 − kn−1n 1 − 1,93940
= = 0,35
2 2
con lo cual M = 0,030. Suponga que una vez extraı́das las 40
observaciones x̄ = 255 y S = 15, entonces
Ejemplo
Para el ejemplo 1, se obtuvo que n = 15 y k = 1,9. Se consulta
la figura con n = 40 y valor de abscisa
√ √
1 − kn−1n 1 − 1,93940
= = 0,35
2 2
con lo cual M = 0,030. Suponga que una vez extraı́das las 40
observaciones x̄ = 255 y S = 15, entonces
Nomograma
Nomograma
Nomograma
Ejemplo
Considere el embotellador del ejemplo anterior. El lı́mite inferior
de especificación para la resistencia del estallamiento es 225
psi. Suponga que el AQL en este lı́mite es 1 %. Suponga
además que los lotes son de tamaño N = 100000 y se supone
que la desviación estándar es desconocida.
Ejemplo
Si se usa el nivel de inspección IV, la letra código para el
tamaño de la muestra es O, para lo cual se obtiene un tamaño
de muestra de n = 100. Para un nivel de calidad aceptable de
1 %, con una inspección normal k = 2,00.
Ejemplo
Considere el embotellador del ejemplo anterior. El lı́mite inferior
de especificación para la resistencia del estallamiento es 225
psi. Suponga que el AQL en este lı́mite es 1 %. Suponga
además que los lotes son de tamaño N = 100000 y se supone
que la desviación estándar es desconocida.
Ejemplo
Si se usa el nivel de inspección IV, la letra código para el
tamaño de la muestra es O, para lo cual se obtiene un tamaño
de muestra de n = 100. Para un nivel de calidad aceptable de
1 %, con una inspección normal k = 2,00.
Ejemplo
Considere el embotellador del ejemplo anterior. El lı́mite inferior
de especificación para la resistencia del estallamiento es 225
psi. Suponga que el AQL en este lı́mite es 1 %. Suponga
además que los lotes son de tamaño N = 100000 y se supone
que la desviación estándar es desconocida.
Ejemplo
Si se usa el nivel de inspección IV, la letra código para el
tamaño de la muestra es O, para lo cual se obtiene un tamaño
de muestra de n = 100. Para un nivel de calidad aceptable de
1 %, con una inspección normal k = 2,00.