APLICACIN DEL LSER AL ANLISIS NO DESTRUCTIVO DE

MATERIALES

1. Introduccin

El lser como herramienta de uso industrial, mdico, militar, cientfico etc, ha tenido un
desarrollo excepcional desde su creacin en la dcada del 60. Diferentes mtodos y
aplicaciones han encontrado su lugar desde el mbito domestico hasta las mas
avanzadas tcnicas cientficas.
Entre los diferentes campos de aplicacin se puede distinguir el uso del lser como
herramienta de diagnostico no destructivo y no invasivo. Diferentes tcnicas dentro de
esta rea de aplicacin se han ido introduciendo hasta crear un nicho particular donde
este resulta ser irremplazable.
La utilizacin en forma directa o indirecta de sistemas complementarios como
espectroscopios, elementos pticos y toda la potencia de calculo que se ha desarrollado
con los nuevos ordenadores han llevado a una optimizacin y masificacin de las
aplicaciones incluso en el mbito industrial como sistemas de control de calidad.
En este trabajo se presenta como tcnica de diagnstico y su aplicacin a problemas
especficos la denominada interferometra hologrfica, una ensayo no destructivo que
permite conocer el comportamiento cuantitativo y cualitativo de objetos sometidos a
deformaciones mecnicas de su superficie o estructura.
El desarrollo de las diferentes tcnicas basadas en la holografa fotogrfica tuvo su auge
en los 70 siendo dejada de lado a partir de la aparicin de los ordenadores y del
desarrollo de nuevas tcnicas como la interferometra speckle digital, la cual aportaba
informacin compatible con las tcnicas anteriormente desarrolladas pero sin la
necesidad del procesado de la pelcula y permitiendo la aplicacin simple de la tcnica
en tiempo real. Por otra parte con la interferometra hologrfica de doble exposicin se
presentaban aspectos negativos respecto del anlisis cuantitativo de las franjas
existiendo diferentes mtodos o aproximaciones para obtener una medida de la
deformacin. En todos los casos los resultados se obtenan mediante la cuenta del
nmero de franjas y su posterior compensacin en funcin del tipo de esquema
adoptado. Mtodos como los desarrollados por Liu and Kurtz (1977) para ensayos no
destructivos permitan mediante una aproximacin obtener la deformacin del cuerpo en
sus tres dimensiones, siempre asociado a un tipo de ensayo particular donde la
deformacin predominante es la denominada fuera del plano.
En aos recientes ha tenido un gran campo de aplicacin las tcnicas de interferometra
en el estudio del estado de conservacin de obras de arte, donde un anlisis cualitativo
es usado mayormente para determinar puntos de desprendimiento de material ya sea en
pinturas o esculturas, siendo utilizada la variacin trmica como mecanismo de
deformacin del objeto bajo estudio.
El objetivo del presente trabajo es analizar la posibilidad de aplicacin de la
interferometra hologrfica de doble exposicin con variacin trmica del objeto,
tcnica que ha sido elegida debido a su sencillez de implementacin y ante la
imposibilidad de introducir deformaciones mecnicas conocidas debido al tipo de
objetos bajo estudio.
Por una parte es presentado un anlisis comparativo de los procesos de corte de usados
normalmente en la industria tales como el corte con prensa y el corte con lser, siendo el

Fabio M Vincitorio -TIT DEA -2008

caso particular de estudio el anlisis comparativo del corte de las piezas E de ncleos de
equipos auxiliares de iluminacin, normalmente conocidos como balastos electromag.-
nticos. En un segundo trmino se analiza el comportamiento de muestras de probetas
de acero sobre las que han sido depositados materiales para su endurecimiento, proceso
conocido como lser clading Por ltimo se presenta el anlisis del comportamiento de
un sistema de referencia construido para la calibracin de la excitacin de piezas
superficiales con ondas de sonido, buscndose excitar zonas localizadas de una pieza
mucho mayor. Este ultimo ensayo con vista a aplicaciones futuras del anlisis del estado
de conservacin de obras de arte.

1.1 Aspectos generales de la tcnica de interferometra hologrfica de doble

exposicin.

La holografa, inventada conceptualmente por el ingeniero Hngaro Denis Gabor en el

ao 1948, se sustenta fundamentalmente en el anlisis de Fourier del comportamiento
de dos frentes de onda en procesos de interferencia.

Fig. 1 Denis Gabor junto a su holograma.

La forma ms elemental de poder definir la construccin de una holograma es mediante

el modelo simple pensado inicialmente por Gabor, el cual se muestra en la figura 2. En
este la luz proveniente de una fuente de luz monocromtica y parcialmente coherente
(en la experiencia inicial de Gabor se uso una lmpara de sodio de baja presin) es
colimada para iluminar un objeto semitransparente con diferencias de contraste
incluyendo zonas opacas. La luz dispersada por la zona oscura o semitransparente del
objeto constituye el primer frente de onda el cual interferir con el frente de onda de
referencia compuesto por la luz proveniente de la fuente y que atraviesa la el objeto en
sus partes transparentes denominndose este ltimo frente de referencia.
Ambos frentes de onda incidirn sobre la pelcula fotosensible grabando de esta manera
la imagen compuesta por la interferencia de ambos frentes los cuales se diferencian en
sus fases relativas dependiendo del camino ptico considerado.

2
 Fig. 2 Esquema del holograma de Gabor.

El haz dispersado por el objeto denominado O(x,y) y el haz de referencia denominado

R(x,y) se diferencian fundamentalmente en que este al llegar sobre la pelcula presenta
una diferencia de fase constante, por lo tanto corresponde indicar al haz de referencia
como una magnitud compleja pero con parte imaginaria igual a cero. Por la otra parte el
haz del objeto puede ser representado como una magnitud compleja integrada por su
mdulo y argumento.
Debe tenerse en cuenta que sobre la pelcula;

O( x, y ) << R

Para analizar la interferencia deberemos considerar la amplitud compleja en cada punto

sobre la pelcula la cual resulta de la suma de dos amplitudes complejas
correspondientes a cada frente de onda;

2 2
I ( x , y ) = R + O ( x, y ) = R 2 + O ( x, y ) + R O ( x , y ) + R O * ( x , y ) (Ec. 1)

donde * indica el complejo conjugado de O(x,y).

Para simplificar el anlisis deberemos considerar que el objeto, en su parte transparente,
su coeficiente de transmisin es una funcin lineal de la intensidad y obedece a;

t = t0 + T I

donde t0 es la constante de transmitancia, T es el tiempo de exposicin y es una

constante dependiente del material fotogrfico.
La amplitud de la onda transmitida a travs del objeto es

[
t ( x, y ) = t 0 + T R 2 O ( x, y )
2
+ R O ( x, y ) + R O * ( x, y ) ] (Ec. 2)

la cual representa la forma de onda resultante sobre la pelcula es decir el holograma.

Una vez procesada la pelcula la imagen puede ser reconstruida ubicando la pelcula en
la misma posicin en la que se encontraba durante su construccin, preferiblemente
retirando el objeto y dejando que incida el haz de referencia tal como se ve en la figura
3. La imagen reconstruida depender ahora de la difraccin de la luz, la cual es
producida por la red que constituye el holograma procesado. As la expresin del frente
de onda reconstruido U(x,y) puede expresarse segn;

3
 { [ 2
U ( x, y ) = R t ( x , y ) = R t 0 + T R 2 O ( x, y ) + R O ( x , y ) + R O * ( x, y ) ]} (Ec. 4)

Esta est compuesta por cuatro trminos, siendo el primero correspondiente al frente de
onda del haz de referencia atenuado, el segundo termino es sumamente pequeo de
acuerdo con la relacin de intensidades entre ambos haces y al estar elevado al cuadrado
el termino O(x,y). El tercer trmino corresponde en magnitud al termino dado a la luz
dispersada por el objeto siendo afectada por un valor constante () y dependiente del
tiempo, es por lo tanto el trmino que define el frente de onda que permite la
reconstruccin de la imagen en su posicin original, esto es la imagen se forma por
detrs de la pelcula si se toma como referencia la posicin del observador, en definitiva
constituye la imagen real.
El cuarto trmino es la expresin conjugada de la anterior y por ende debe definir una
nueva imagen ubicada en forma diametralmente opuesta y a igual distancia, esto es la
imagen real.

Fig. 3 Esquema de la imagen reconstruida del holograma de Gabor.

Esta breve descripcin demuestra el mecanismo de la formacin de la imagen en un

holograma, si bien en la bibliografa de referencia pueden encontrarse un sinnmero de
explicaciones detalladas de los diferentes tipos de holograma no es de inters particular
ahondar sobre este tema.

1.2 Tcnica de doble exposicin con doble camino ptico.

Bsicamente los hologramas pueden ser construidos mediante dos tcnicas generales,
los hologramas de transmisin y los hologramas de reflexin (su calificacin depende
de cmo es la observacin y no su construccin). El primero de los casos es el caso
particular de inters ya que es el que permite obtener hologramas interferomtricos
usados habitualmente en los NDT.
Un esquema general de implementacin puede verse en la figura 4, en el cual la luz
proveniente del lser es dividida mediante un divisor de haz en dos caminos pticos,
que en la practica no debern diferenciarse en ms de una distancia equivalente a la
longitud del tubo de lser usado, esto para evitar prdidas de coherencia. Cada haz es

4
 Beam Splitter
Mirror

Laser beam 50 %
50 %

Mirror
Spatial filter

Spatial filter

Object Film

Fig. 4 Esquema aplicado para lograr hologramas de transmisin de doble camino ptico.

direccionado mediante espejos hacia sendos filtros espaciales los cuales expandirn los
respectivos haces que posteriormente incidirn sobre el objeto y la pelcula
respectivamente. Aqu debemos recordar que el haz de referencia deber ser de mayor
intensidad que el haz reflejado por el objeto por lo cual dos opciones son posibles, usar
un divisor de haz no simtrico o usar filtros espaciales con diferentes pin-holes. De esta
manera se debe buscar las relaciones de intensidad necesarias para lograr la imagen
hologrfica. Es normal considerar que el haz de referencia deber ser unas diez veces
mayor al proveniente del objeto.

I R 10 I O

A partir de esto es posible lograr imgenes de objetos particulares pero que no aporta
mas informacin que la relacionada a sus dimensiones. Si quisiramos analizar el
comportamiento dinmico del objeto, cuando este es sujeto de excitaciones inducidas,
deberemos hacerlo mediante la tcnica de doble exposicin. Bsicamente esta consiste
en superponer dos hologramas del mismo cuerpo pero en dos condiciones diferentes,
induciendo en una de ellas una deformacin que deber ser en todos los casos del orden
de unas cuantas longitudes de onda. Por el contrario si las deformaciones fueran de
magnitudes mucho mayores a la longitud de onda y hasta macroscpicas, estas pueden
ser registradas mediante la misma tcnica pero la informacin aportada ser diferente.
En el primer caso sobre la imagen resultante observaremos la superposicin de franjas
oscuras y claras las cuales nos indican la magnitud y la forma de la deformacin sobre
el objeto. En el segundo caso observaremos dos imgenes diferentes del mismo cuerpo,
se podra decir que vemos como una sobra, la cual no es mas que la imagen del objeto
con mayores o menores dimensiones dependiendo del caso.
Matemticamente si queremos definir la formacin de la imagen de un holograma de
doble exposicin con variacin de las dimensiones del cuerpo corresponde el siguiente
planteo.

5
Cuando el cuerpo O es iluminado por una fuente de luz coherente un punto particular P
sobre la superficie de este dispersa luz en todas direcciones, interesndonos una
direccin particular que se dirige hacia el medio de registro. La luz dispersada llega al
film F a travs del camino ptico H. El haz de referencia Ur(x,y) llega al film mediante
el camino ptico de referencia. Si el camino seguido por la luz proveniente del objeto
cambia levemente su camino ptico de tal manera que la diferencia sea pequea entre la
primera y la segunda exposicin, podemos definir un nuevo frente de onda
correspondiente a una nueva condicin. Es as que si O1(x,y) se convierte en O2(x,y) la
imagen final registrada sobre el holograma ser una combinacin de Ur(x,y), U1(x,y) y
U2(x,y).
Cuando el holograma final es reconstruido, este estar compuesto por la combinacin de
dos semi hologramas sobre los cuales aparecer un patrn de interferencia.

O1 ( x, y ) = a( x, y ) e [ j ( x , y ) ] (Ec. 5)

La ecuacin 5 representa la luz proveniente del punto P del objeto antes de introducir un
cambio en el volumen del mismo mediante la perturbacin. El ngulo (x,y) representa
la informacin asociada a la fase de la onda dependiente de las caractersticas del objeto
en el punto P.

O2 ( x, y ) = a ( x, y ) e { j[ ( x , y ) + ( x , y ]} (Ec. 6)

La Ecuacin 6 representa el frente de onda proveniente del punto P luego de haberse

producido la deformacin del cuerpo, donde (x,y) representa el cambio en la fase
producido por el cambio en el camino ptico debido al cambio en el volumen del objeto.
La formacin final de la imagen depender de la combinacin de los tres frentes de
onda sobre la pelcula, expresado por.

I ( x, y ) = U 1 ( x, y ) + U 2 ( x, y ) = 2 ( x, y ) {1 + cos[ ( x, y )]}
2 2
(Ec. 7)

donde 22(x,y) es la amplitud del frente de onda asociado a la imagen del objeto y
(x,y) es la diferencia de fase debida al cambio de camino ptico entre ambas
exposiciones. Puede observarse que la imagen final queda modulada por el coseno del
cambio total de fase lo que originar existan zonas de franjas oscuras y zonas claras
sobre la imagen final del objeto.
As cada una de estas franjas est representando un cambio de fase 180 en el camino
ptico total.

6
2. Estudio del corte de partes E de ncleos de transformador.

2.1. Objetivo

El estudio comparativo y cualitativo de las piezas resultantes de los procesos de corte

de partes E de ncleos de equipos auxiliares de iluminacin, por mtodos industriales
ya establecidos como la prensa de corte rpido y la alternativa de aplicacin del lser de
potencia, constituye el objetivo desarrollado para la presentacin que se detalla a
continuacin.

2.2 Procedimiento

La utilizacin de la tcnica convencional de interferometra hologrfica de doble

exposicin, usando la variacin trmica del objeto, es la base de los ensayos realizados.
Para su desarrollo se utiliz lser de He-Ne de 632,8 nm de 10 mW sobre un esquema
de doble haz, doblemente filtrado con filtros espaciales de 15 m para el haz del objeto
y 5 m para el haz de referencia. La ubicacin del objeto respecto de la pelcula es
paralela con el fin de lograr en la imagen la superposicin directa de las franjas sobre el
objeto durante la observacin del holograma resultante. La pelcula usada es de soporte
plstico Slavich PFG-01 con tiempos de exposicin de 4 s por cada semiexposicin
parcial. Los procedimientos de revelado son convencionales de 4 pasos con tiempos de
revelado de 4 m y de blanqueo de 1 m.
El material con el cual se fabrican las piezas E es hierro silicio, con un 2,5 a 3 % de
silicio laminado y provedo en rollos.
La primera serie bajo estudio se realiz sobre muestras obtenidas de la lnea de
produccin de una fbrica de equipos auxiliares de iluminacin, destinados a lmparas
de sodio de 70 W, en la cual en la etapa de corte se utiliza una prensa de corte rpido.
Las muestras fueron seleccionadas aleatoriamente del par bocas de salida existentes en
la mquina.
La segunda serie se realizo sobre muestras cortadas con lser de CO2 , sobre material
obtenido del rollo de alimentacin de la prensa de corte rpido. El lser de
funcionamiento continuo fue regulado a una potencia de 400 W, con una velocidad de
corte de 2 m/m y utilizando como gas de aporte nitrgeno.

2.3 Anlisis de partes E cortadas con prensa

Para la muestra catalogada como n 1 se realizaron un total de 3 hologramas variando

los intervalos de temperatura. El primer holograma de la serie fue realizado teniendo
en cuenta intervalos de temperatura de 4 C tomando como extremos 40 C para la
primera semiexposicin y 36 C para la segunda semiexposicin. La toma de
temperatura se realiza con una termocupla de rango k, con instrumento digital Metrix
Ascy II 5390, en un punto considerado de referencia.

7
 2

1 1

Figura 5. Holograma del ncleo E Figura 6. Holograma del ncleo E

muestra 1, t de 4 C. muestra 1, t de 2 C.

En la figura 5 puede observarse la imagen fotogrfica resultante de la imagen provista

por el holograma, con un ngulo de observacin perpendicular al plano de la placa el
cual es a la vez paralelo al plano del objeto, tanto en vertical como en horizontal.
El diagrama de franjas resultante en la zona central y lateral derecha (1) muestra una
distribucin casi homognea de las mismas con un sentido de orientacin vertical
respecto del plano de la pieza pero encontrndose juntas debido a un intervalo de
temperaturas elevado. No se observan deformaciones localizadas que indicaran
tensiones residuales.
La figura 6, muestra la imagen fotogrfica del holograma resultante, de la misma
muestra pero para un intervalo de temperaturas menor, en este caso 2 C, ubicando la
primera semiexposicin a 30 C y la segunda a los 28 C. Nuevamente puede observarse
la ausencia de franjas hiperblicas o concntricas que indiquen deformaciones
localizadas.
En la muestra catalogada como muestra 2, se realiza una serie de 5 hologramas en
diferentes intervalos de temperatura encontrndose un comportamiento diferente al
presente en la muestra 1. En este caso la informacin mas significativa es aportada por
dos de los hologramas, el correspondiente a una variacin trmica de 5 C en el cual si
bien las franjas pueden observarse notablemente juntas debido al intervalo de
temperatura (Fig. 7) pueden observarse ordenamientos hiperblicos de las franjas sobre
el lateral superior izquierdo. En la zona indicada con el nmero 2 sobre la figura 7
puede observarse una zona de poca deformacin respecto a las franjas cercanas que la
circundan. Estos ordenamientos son indicativos de una deformacin localizada fuera del
plano.

8
 1
1
2
2

3 3

3 2

Figura 7. Holograma del ncleo E muestra 2, Figura 8. Holograma del ncleo E muestra 2,
t de 5 C. t de 2 C.

En la figura 8 puede observarse la imagen del holograma resultante para 2 C de

variacin trmica pero con un ngulo de observacin de 40 respecto de la perpendicular
al plano del objeto y la pelcula. La variacin en el ngulo de observacin permite
magnificar el ordenamiento de las franjas que indican deformaciones fuera del plano,
si el ngulo de observacin fuera igual al de iluminacin del objeto solo se registraran
estas. La imagen resultante muestra un claro ordenamiento que indica deformaciones
fuera del plano en las zonas indicadas como 1, 2 y 3. La zona 1 muestra que el centro
de la deformacin fuera del plano se sita en el ngulo interior de la de pieza, fenmeno
que puede ser asociado a tensiones residuales originadas en el corte.
Ensayos posteriores sobre nuevas muestras indican una similitud de resultados, es decir
piezas de un comportamiento homogneo en su distribucin de franjas y piezas a las
cuales puede considerrselas tensionadas.
Realizada una nueva bsqueda de muestras en la planta se nos informa que cada boca
corresponde a una matriz diferente y que las matrices presentan diferentes desgastes en
iguales ciclos de trabajo siendo esto una justificacin vlida para las diferencias
encontradas.

2.4. Anlisis de partes E cortadas con lser

En el proceso de corte de las chapas de hierro silicio, obtenidas de planta mediante el

corte de cintas de 50 [cm] de longitud directamente del rollo laminado, se utiliz el lser
de CO2 en una potencia de 400 [W] usando como gas de trabajo nitrgeno para evitar
los efectos asociados a la resistencia a la oxidacin que presenta el silicio, encontrados
en etapas anteriores de ensayos anteriores.
Como resultado del corte se pueden observar la presencia de rebabas las cuales se
desprenden fcilmente ejerciendo una leve presin sobre ellas ya sea en forma directa
con la mano o bien con el uso un filo. La presencia de las mismas hace que su
aplicacin a un proceso industrial implique una nueva etapa en la cadena de produccin.
De la observacin de las piezas obtenidas no se notan zonas de afectacin trmica
importante salvo en los extremos superiores de la pieza donde existe una curvatura en el
corte de dimensiones muy reducidas.

9
 Fig. 9. Detalle comparativo del corte resultante con prensa y con lser de CO2

El anlisis de la microdureza demuestra un comportamiento ms homogneo de la

muestra cortada con lser que el de la muestra cortada con prensa, encontrndose que
para zonas cercanas a la zona de corte con sizalla el borde presenta un punto de
mxima dureza de 245 HV decreciendo luego a 148 HV tal como puede verse en la
figura 10. En funcin de esto puede verse que la estructura final de la pieza resulta
mucho ms homognea y por lo tanto con menores probabilidades de presentar
tensiones residuales por efectos del corte.
En lo que respecta a la tcnica de holografa se utiliz el mismo tipo de esquema y
similares condiciones a las planteadas en el anlisis del primer grupo de muestras.
Es de mencionar que en funcin de haberse observado la presencia de zonas de
afectacin trmica importante en los extremos superiores de las E cortadas con lser,
donde existe una zona de corte o concavidad en el material que ser usada
posteriormente para la sujecin de las E en la conformacin del ncleo, se procedi a
elaborar una pieza con curvaturas suaves, de manera de evitar este fenmeno y de
analizar los efecto de los cortes a 90.

300 300

HV100 HV100
250 250

200 200

150 150

100 100

50 50

0 0
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2

Y (mm) Y (mm)
Fig. 10. Grficos comparativos de microdureza de la zona cercana al corte con lser y en la zona cercana
al corte con sizalla.

El primer holograma presentado corresponde a la muestra catalogada como 1-B, el cual

fue realizado tomando intervalos de temperatura de 3 C siendo los extremos 29 C
para la primera semiexposicin y 26 C para la segunda semiexposicin.

10
 Fig. 11. Muestra 1-B, t de 2 C, corte con lser de CO2 - 400 Wcc

En la figura 11 puede observarse la imagen fotogrfica resultante de la imagen provista

por el holograma, con un ngulo de observacin de 30 respecto de la perpendicular al
plano de la placa.
En el holograma resultante pueden observarse dos zonas particularmente interesantes,
por un lado la zona indicada como 1 la cual muestra una franja cerrada sobre si misma y
siguiendo la forma de la pieza en ese extremo. Con lnea azul se ha resaltado la forma
real del objeto y puede observarse como las franjas rodean el extremo superior
izquierdo.
Esta zona debido al corte que se debe realizar por la morfologa del objeto es la zona de
mayor afectacin trmica del cuerpo dado que el lser debe realizar una trayectoria
circular de un radio muy pequeo. Queda claro que esta zona de afectacin trmica
condiciona el comportamiento de la pieza a la dilatacin. En funcin de la distribucin
de las franjas puede definirse que la zona 1 presenta una dilatacin diferente del resto de
la E en la cual se nota uniformidad .
La zona 2 presenta cierta similitud en la distribucin de franjas con las observadas para
la muestra 2 de la figura 8.
En la muestra catalogada como muestra 2-B, se observa un comportamiento ante la
dilatacin ms uniforme, al ser observado con un ngulo de 40 respecto de la
horizontal, observndose deformacin alineal en la zona de afectacin trmica, pero
una notable uniformidad en la rama central de la parte E del ncleo. El intervalo de
temperatura tomado fue de 2 C.

Figura 12. Muestra 2-B t de 2 C Figura 13. Muestra 3-B t de 2 C

11
Nuevamente observamos que existe similitud en la rama central con una pieza cortada
por prensa, esto es la muestra 1 en la figura 5.
En el anlisis de la muestra catalogada como 3 B, manteniendo un intervalo de
temperatura de 2 C. Al ser observada la figura 13, la cual fue obtenida con un ngulo
de observacin de 35 , podemos ver claramente que la rama central del ncleo
presenta una deformacin uniforme pero se puede apreciar una zona de deformacin
alineal y localizada en el ngulo interior izquierdo, tal como fuera observado en la
muestra 2 figura 8.

2.4 Anlisis de partes E cortadas con lser de forma modificada

En la presentacin sucesivas las piezas analizadas corresponden a muestras

modificadas morfolgicamente, segn el esquema de corte mostrado en la figura 10. En
stas se eliminaron los puntos angulares externos y se introdujeron curvas en lugar de
ngulos en los cortes interiores. Las condiciones de obtencin de los hologramas son
similares a las aplicada anteriormente, con intervalos de temperatura de 2 C en todos
los casos.
Para la muestra catalogada como 6-C , figura 15. Las franjas se presentan en una
distribucin poco homognea repitindose los patrones observados en casos anteriores
en la zona 2. La zona 3 aparece como una zona de deformacin localizada de tipo
perpendicular. Entre la zona 1 y la 2 se nota una ausencia casi total de franjas, es de
destacar que en la zona 1 desaparece todo indicio de deformacin localizada.

Fig. 14. Diseo de piezas introducidas Figura 15. Muestra 6-C, t de 2 C.

en el CNC, del lser.

Par a la muestra catalogada como 7-C se repiten las condiciones de obtencin del
holograma y con ngulos de observacin similares, 35 respecto de la normal, es posible
obtener la fotografa mostrada en la figura 16. En sta nos encontramos con una zona 1
prcticamente desprovistas de franjas al igual que en la muestra 6-C. Por otra parte se
repiten los resultados en la zona 2 ya observados en otros hologramas.

12
 Fig. 16. Muestra 7-C, t de 2 C. Fig 17. Muestra 8-C, t de 3 C.

En la muestra catalogada como 8-C, analizada bajo igual ngulo de observacin e

intervalo de temperatura de 3 C, se puede observar una uniformidad en la distribucin
de franjas tanto en las zona 2 de la figura 17, como en la zona 1. Nuevamente en las
muestras cortadas con lser y morfolgicamente modificadas desaparecen
ordenamientos de franjas localizadas y alinales en las zonas de corte interiores.

2.5 Anlisis comparativo de partes E cortadas con prensa de corte rpido y lser de
potencia

De lo presentado anteriormente se puede observar que existen tres tipos diferentes de

ordenamiento en las franjas, comportamiento homogneo, distribuciones de
deformacin localizada en los ngulos y distribucin alineal en el centro de las E.
La distribucin homognea es posible encontrarlas en diferentes muestras ya sean la
muestra 1 de corte con prensa (figura 6), la muestras 2-B y 3-B (figuras 12 y 13) de
corte con lser y en la muestra 8-C de corte con lser y pieza modificada (figura 17).
Por otra parte encontramos que las deformaciones alinales en el centro de las E se
presentan tambin en los tres tipos diferentes de muestras; en la muestra 2 del corte con
prensa (figura 8), en la muestra 1-B del corte con lser (figura 11) y en la muestras 6-C
y 7-C del corte con lser modificado.
Las deformaciones localizadas en las zonas de corte son visibles en las muestras 2
(figura 8) de corte con prensa, en las muestras 1-B, 2-B y 3-B (figuras 11, 12, 13).
En funcin de esto vemos que existen tres tipos de deformaciones, las producidas por
efecto del corte en funcin de la morfologa del cuerpo o la afectacin trmica de la
pieza que generan tensiones residuales las cuales desaparecen al redondear los ngulos
(piezas modificadas).
Deformaciones que representaran tensiones residuales debidas al proceso de
laminacin del material y que se veran localizadas en diferentes puntos del fleje, esto
debido a la existencia de muestras con un comportamiento totalmente lineal y muestras
con deformaciones particulares en la parte E del ncleo, independientemente del tipo de
mtodo de corte o forma de la pieza. .

13
2.6 Conclusiones.

La prensa de corte rpido induce tensiones residuales en las piezas cortadas, en

funcin del tipo de matriz y el filo de la sizalla.

Fig. 18 Fotografa de hologramas correspondientes a dos muestras diferentes cortadas con prensa

Existen tensiones residuales que pueden estar originadas en el proceso de

laminacin del hierro silicio. A esta conclusin llegamos a partir de la existencia
de patrones similares con independencia del tipo de corte o morfologa de la pieza
bajo estudio.

Fig. 19. Hologramas de tres muestras diferentes cortadas por ambos mtodos, la zona central presenta
caractersticas similares con independencia del tipo o forma del corte. Tensiones inducidas por la
laminacin

En el corte con lser las zonas de corte asociadas a altos niveles de temperatura
condicionan el comportamiento de la pieza durante procesos de dilatacin,
generndose deformaciones orientadas segn la figura del corte.

Fig. 20. Hologramas de dos muestras diferentes cortadas por lser, ambas muestran disposiciones
particulares de las franjas, en la zona de mayor afectacin trmica.

14
3. Localizacin de fracturas en la zona de coyuntura de dos materiales

3.1 Aspectos generales.

Durante la deposicin de materiales sobre metales con lser de potencia se presentan

una serie de fenmenos asociados al alto nivel de temperaturas involucradas durante el
proceso que pueden estar produciendo variaciones en las caractersticas propias del
material de base. Por otra parte es de inters conocer el comportamiento de la zona de
unin entre el material base y el material depositado luego del enfriamiento del conjunto
con el fin de detectar posibles grietas o problemas en la coyuntura entre la probeta y el
material de depsito refundido.
La interferometra hologrfica de doble exposicin permitira el anlisis de ambas
situaciones encontrando comportamientos dinmicos particulares que no hayan sido
predichos u observados por otros mtodos.
En el proceso de deposicin un sustrato de acero es usado para depositar un
recubrimiento de aleaciones metlicas o cermicas en forma de polvo granulado el cual
es refundido junto al sustrato por el lser. Las potencias del lser suelen ser elevadas,
entre 1200 W y 2000 W dependiendo de la aleacin, el espesor de la franja depositada
y la velocidad de avance del lser.

3.2 Procedimiento.

Para el estudio de la zona de coyuntura se trabaja sobre una probeta con una deposicin
de espesor medio 1,5 mm, realizando un corte transversal sobre sta de manera de dejar
visible la zona de coyuntura entre ambos materiales. La hiptesis planteada en funcin
de estudios precedentes realizados por medio de microscopia electrnica se orienta a la
existencia de fracturas en los laterales de la zona depositada, debido a menores
temperaturas durante el proceso de refusin de los materiales.
En la figura 21 se muestra una pequea probeta de mximo espesor en la deposicin.

Sin deposicin

Deposicin de material

Zona de coyuntura

Fig. 20 Probeta depositada. Fig. 21 Esquema para la realizacin de los ensayos

hologrficos.

Respecto de la tcnica de holografa utilizada, es similar a la presentada en el caso de

las partes E de ncleos. La particularidad es el agregado de una lente de distancia focal
7 cm que es ubicada entre el objeto y la pelcula a una distancia de 5 cm del objeto. Esto
con el fin de obtener una imagen ampliada de la zona de coyuntura, dado que sta
resulta muy pequea para ser analizada.

15
La tcnica hologrfica utilizada es la de doble exposicin con variacin trmica del
objeto, utilizndose intervalos de temperatura de 3 C. La muestra es inicialmente
sometida a un proceso de calentamiento de 24 h en horno de temperatura constante a
100 C. Durante la realizacin del ensayo se realizan las semiexposiciones con
variacin trmica decreciente.
En la figura 22 puede verse el holograma de calibracin o patrn de tcnica, en el cual
puede observarse claramente la pieza cortada transversalmente, la lente usada como
lupa y una probeta con deposicin completa.

Figura 22: Holograma patrn. Fig. 23. Imagen resultante del holograma interferomtrico,
t de 2 C.

En la figura 23, correspondiente al holograma interferomtrico, puede observarse la

presencia de un patrn de franjas distribuido uniformemente, no vindose en ningn
punto una discontinuidad o quiebre entre las franjas que indiquen fracturas del material
que se manifiesten durante la contraccin. En particular puede observarse como la zona
de coyuntura, en el lateral derecho, presenta la naciente de una franja oscura la cual
puede seguirse a lo largo de la pieza con una desviacin mnima respecto de una recta.
De la observacin del holograma mostrado en la figura 23 puede concluirse que la
muestra bajo estudio no presenta problemas en la refusin de los materiales.
Un perfil de intensidades puede ser
Distribucin de Intensidad
obtenido, de manera de permitir
300
ubicar la cantidad de mnimos de
250
interferencia presentes en la imagen.
Intensidad relativa

Estos permitiran conocer el valor de

200
la deformacin sufrida por la pieza
150
durante su enfriamiento.
100 Para una trayectoria vertical pueden
50 identificarse 10 franjas lo que hace
0 que la deformacin sufrida en
50 75 100 125 150 175 200 225 250
volumen sea:
Pxeles
9
V = 2,85 m
Fig. 24. Perfil de intensidades correspondientes al
2
holograma de la figura 23.

16
Un segundo anlisis puede ser desarrollado para localizar tensiones residuales presentes
en la probeta en la zona de deposicin y zonas adyacentes.
Para esto se realiza una serie de hologramas sobre diferentes probetas con el fin de
encontrar los defectos antes mencionados. El primer ensayo se realiza con un intervalo
de temperatura de 5 [C] y sobre un probeta con deposicin metlica.

Fig. 25. Holograma de probeta depositada t = 5 C.

En la figura 25 puede observarse una distribucin de franjas sumamente homogneas

distribuidas principalmente en forma horizontal, lo cual indica una deformacin
predominantemente en Z debido al ngulo de observacin. Puede verse adems una
gran separacin entre las franjas en la zona ubicada a sobre la derecha de la imagen, esta
es de particular inters ya que indica una mucho menor deformacin en la zona donde el
lser ha incidido directamente afectando o fundiendo la superficie del acero.
Reduciendo el intervalo de temperatura a 2 C, la distribucin de franjas se mantiene en
rasgos generales en forma uniforme si bien la separacin entre las mismas aumenta.

Fig. 26. Holograma de probeta depositada t = 5 C.

Puede notarse que en la zona donde el material fue depositado existen puntos de mayor
concentracin de franjas que podran indicar la presencia de algn tipo de tensin sobre
la muestra. Por otra parte existen franjas que cruzan la zona depositada y que no
presentan quiebres lo cual india la inexistencia de grietas.

17
4 Anlisis cuantitativo de la dilatacin de una probeta de acero AISI 304.

4.1 Aspectos generales

El anlisis cuantitativo de los hologramas interferomtricos se basa en la cuenta del

nmero de franjas ya sea por observacin y cuenta directa o bien obteniendo el perfil de
intensidades. El nmero as obtenido guarda relacin con la diferencia de fase total entre
la franja de menor orden y la de mayor orden, asociando la de menor orden con la
menor deformacin del objeto bajo estudio. La relacin entre el nmero de orden y la
deformacin puede ser obtenida mediante planteos matemticos asociados a la
deformacin en cada una de las dimensiones (Hariharan, 1996).
En la interferometra hologrfica de doble exposicin con variacin trmica la fase
relativa no puede ser determinada dado que se desconoce el sentido de la deformacin
(Brandt, 1977) en la coordenada z, coincidente con la direccin normal al plano del
objeto. La magnitud de la deformacin puede ser obtenida a partir de:

2
= k l ( cos i + cos o ) z (Ec.8)

2
( sin i sin 0 ) x (Ec. 9)

2 1 1 1 2
+ y (Ec. 11)
2S H

para cada una de las dimensiones del objeto. Las expresiones son obtenidas del anlisis
de las deformaciones para cada una de las dimensiones obtenidas de la figura 27.
La deformacin general puede ser definida de igual manera y aplicando una
aproximacin de segundo orden.

l ( sin i sin 0 ) x + 0 y ( cos i + cos o ) z +

1 cos 2 i cos 2 o 2 1 1 2 sin 2 i sin 2 o 2
+ + x + + y + + z + (Ec.12)
2 S H S H S H
sin i cos i sin o cos o
+ x z
S H

18
 Fig.27. Esquema de anlisis para las ecuaciones.

4.2 Procedimiento

Se realiza un holograma interferomtrico sobre una probeta de acero AISI 304 de

coeficiente de dilatacin 17,3 m / m C, sometida a un proceso de estabilizacin de
temperaturas de 24 hs en horno a 100 C. El holograma se realiza en dos
semiexposiciones separadas por 8 C, con procedimientos similares a los enunciados
anteriormente.
El holograma resultante puede ser visito en la figura 28 .

Fig. 28. Probeta de acero AISI 304, T 8 C , alto 50 mm, largo 160 mm, espesor 10,3 mm.

El nmero resultante de franjas corresponde a 47 las cuales pueden ser contadas en

forma directa.
El cambio de franja en franja corresponde con un cambio de fase de 2 por lo que el
cambio total en la fase sera de 295,6 radianes.
Si aplicamos el resultado obtenido a la deformacin en x, la cual es la deformacin que
debera prevalecer en cuanto a su magnitud para una contraccin trmica, nos

19
encontramos que el valor resultante se ubica muy por encima del valor esperado para
una dilatacin de este material con este intervalo de temperaturas.
Si por el contrario estimamos el nmero de franjas a partir de la ecuacin (9), vemos
que debera producirse para sta diferencia de temperaturas una diferencia de fase total
de 152,8 radianes, por lo que el nmero de franjas debera ser 24.
Esta diferencia no es una diferencia menor por lo cual se elaboraron simulaciones
computacionales basadas en aplicaciones de rutinas en Matlab, con el fin de
corroborarlos datos y establecer posibles causas de la diferencia.
stas rutinas basadas en las ecuaciones 1 a 4 permiten obtener modelos de franjas
asociadas a la pieza bajo estudio, as es posible la deformacin en un solo sentido, en
dos dimensiones o bien deformaciones localizadas.

Figura 29. Resultado de la simulacin de una deformacin por dilatacin para 10 C

en el sentido longitudinal de la pieza, (50 mm x 160 mm x 10,3 mm).

En la figura 29 se muestra el resultado de aplicar las rutinas antes mencionadas a una

dilatacin unidimensional sobre un modelo de pieza de dimensiones equivalentes (alto
50 mm, largo 160 mm, espesor 10,3 mm) a la estudiada por interferometra hologrfica.
Como puede verse el nmero de franjas resultantes para las tres dimensiones es el
mismo que para la deformacin en x.
De la simulacin queda claro que para que el nmero de franjas aumente y se cumpla lo
observado en el holograma de la figura 28, debera existir una deformacin en y o en z.
Las deformaciones en y resultan ser de un orden de magnitud menor a las de x o z
debido al trmino cuadrtico de la ecuacin 3 que las define, por lo cual la deformacin
debera ser en el sentido de z.
Una posibilidad es considerar una deformacin sobre una pieza, de idnticas
dimensiones a la estudiada por interferometra hologrfica, de tipo flexin de la barra
en el sentido de z y a lo largo de x. La simulacin resultante puede observarse en la
figura 30.
En este caso se introdujo un intervalo de temperatura de 10 C y una flexin total de la
barra de 12 m. El nmero total de franjas pasa de 30 a 62 como resultado de la
combinacin de ambas deformaciones.
La segunda posibilidad es considerar una deformacin o desplazamiento angular en el
sentido de las z pero con cambio a lo largo de y. En este ltimo caso, la simulacin, no
indica nuevas franjas si no un ordenamiento que tiende a la inclinacin del patrn tal
como puede verse en la figura 31.

20
 Fig. 30. Resultado de la simulacin para una deformacin en flexin, a lo largo de x
en el sentido de z, T 10 C, 50 mm x 160 mm x 10,3 mm.

Fig. 31. Resultado de la simulacin de introducir una deformacin en z a lo largo de y,

T 10 C, 50 mm x 160 mm x 10,3 mm.

En funcin del resultado de las simulaciones se debe concluir que la deformacin que
se registra en el holograma, representa una deformacin en x coincidente con la
deformacin atribuible a una dilatacin es decir 22,14 m , ms una deformacin del
tipo flexin equivalente 142,8 radianes de diferencia de fase total o bien una
deformacin en z mxima de 4.85 m.

5. Aplicacin del lser y de la interferometra hologrfica al estudio del estado de

conservacin de obras de arte.

5.1 Introduccin.

Una de las ltimas aplicaciones que se le ha dado al lser como ensayo no destructivo,
es en el diagnstico del estado de conservacin de obras que por sus caractersticas
particulares puedan ser consideradas como patrimonio cultural e histrico. Podemos
encontrar en la bibliografa existente dos mtodos que se han impuesto fuertemente, la
interferometra hologrfica y la espectroscopia Lips.

21
5.2 Lips en caracterizacin y diagnstico del patrimonio cultural.

Bsicamente la espectroscopia de plasma inducido por lser es una tcnica en la cual a

partir de la radiacin emitida por el plasma producido durante el proceso de ablacin
del material es posible conocer la composicin elemental de los materiales que
componen la pieza bajo estudio. Si bien es una tcnica que produce la ablacin del
material lo hace en una zona de muy baja incidencia lo cual no afecta en forma
macroscpica la pieza bajo estudio. En los procesos de restauracin un lser de
mediana potencia es usado junto a un espectrgrafo Lips para conocer el nmero de
disparos que deben hacerse (lser de Nd-Yag) para quitar las capas de polucin
depositadas, la composicin de las capas que van siendo extradas nos indican la el
sustrato en el cual nos encontramos.

PRINCIPIOS DE LA TCNICA LIPS

Espectro de emisin
Haz
lser

Lente

Longitud de onda

Plasma
Composicin elemental

Crter

Fig. 31. Esquema general de aplicacin de la tcnica LIPS.

Esta tcnica de restauracin ha sido cuestionada, no por el uso del espectroscopio si no

mas bien por el uso lser dado que segn estudios realizados la onda de choque
generada por la emisin durante el proceso de ablacin produce fracturas en la
estructura del material que llevan a daos posteriores. Esto ha sido descubierto
mediante la aplicacin de la interferometra hologrfica sobre una misma pieza
inmediatamente despus de restaurada y un tiempo despus del proceso de restauracin.
Otra aplicacin que se le ha dado a la espectroscopia Lips, es la caracterizacin de
cermicas romanas. En estos ensayos cermicas de diferentes perodos y lugares de

22
produccin fueron sometidos a este tipo de ensayos encontrndose la posibilidad de
definir mediante los resultados obtenidos la pertinencia de cada pieza.
En la figura 33 puede observarse la composicin elemental de dos tipos diferentes de
cermicas;

Fig. 33. Composicin elemental obtenida por LIBs de cermicas romanas hispnicas y africanas.

5.3 Calibracin de un sistema de excitacin por sonido para su aplicacin en el

diagnstico del estado de conservacin de obras de arte por interferometra
hologrfica.

Si la obra de arte bajo anlisis resulta ser una pintura realizada sobre lienzo o madera,
nos encontramos con la particularidad de un objeto totalmente plano, por lo que resulta
de particular inters poder encontrar el comportamiento en el sentido de deformacin
puro en z, esto es; en direccin perpendicular al plano de la pintura.
Por otra parte las pinturas suelen tener dimensiones importante por lo cual es deseable
poder analizar puntos o zonas particulares sospechosas de presentar algn tipo de
defectos como rajaduras o desprendimientos.
Nuevamente podemos recurrir a las simulaciones computarizadas para poder definir el
tipo de deformacin que encontraramos. Para este caso particular interesa la
deformacin pura en z con ngulo de observacin simtrico.
El resultado puede verse en la figura 34.

Fig. 34 Resultado de una simulacin a una deformacin particular en el sentido z.

23
Como puede verse ante una deformacin pura en z el patrn resultante es una serie de
franjas concntricas dependientes de la ecuacin 13.

2
= k l ( cos i + cos o ) z (Ec. 13)

Sien cambio no es posible aislar una deformacin perpendicular el patrn indicara una
combinacin de deformaciones en x y z cuyo resultado puede calcularse a partir de la
ecuacin 12.

Fig. 35 Resultado de una simulacin de deformacin mayor en x y menor en z.

Con el fin de lograr una excitacin pura en z sobre un plano es posible usar una onda de
sonido dado que esta es una onda semiesfrica que se desplaza desde el generador
hacia el plano que se desea excitar. La utilizacin de un pequeo buzzer de frecuencia
constante puede ser un mecanismo para lograr este fenmeno.
En la interferometra hologrfica de doble exposicin el aspecto crtico a conocer es la
relacin entre la excitacin producida por la fuente y la deformacin sufrida por el
objeto.
Con el fin de poder determinar esta relacin se plantea el uso de un dispositivo
especialmente diseado para este fin.

Fig. 36 Sistema usado para calibrar la deformacin producida por la onda de sonido sobre una
membrana.

24
Para poder relacionar la magnitud de la deformacin con una variable de entrada que
pueda ser fcilmente medible, se utiliza la corriente que circula desde la alimentacin,
dado que esta magnitud guarda una proporcin lineal con respecto a la intensidad de la
onda en el rango de los 1.5 [mA] hasta los 15 [mA], siendo la frecuencia de trabajo de
4.1 [KHz]. La informacin completa de las caractersticas tcnicas del buzzer pueden
ser obtenidas de la pgina web del fabricante.
http://www.hitpoint.tw/electronic/en/product/pk_pf_pl-series/pk-12n40pa.htm.

M2
SF

BS
SF

M1
Object
Film

Fig. 37 Esquema utilizado para la obtencin de Fig. 38 Holograma patrn.

los hologramas

Los hologramas de calibracin, aquellos hologramas que son realizados en un sistema

conocido tal como el mostrado en la figura 36, son obtenidos mediante tcnicas
similares a las expuestas anteriormente con dos semiexposiciones, una con el buzzer en
emisin y una segunda con el buzzer apagado. La particularidad es que se usa una
membrana de cartn ya que puede presentar caractersticas similares a la flexibilidad de
una pintura al leo realizada sobre lienzo.
Dos niveles de corriente son utilizados en diferentes hologramas, uno de 4,6 [mA] y 9.1
[mA] siguiendo el esquema mostrado en la figura 37.
Previamente a la aplicacin de la tcnica es conveniente la realizacin de un holograma
patrn, este tiene como objetivo definir los intervalos de exposicin y las variables de
revelado para la obtencin de una buena calidad de imagen.

Fig.38 Interferograma para una corriente de 9.1 mA Fig.39 Interferograma para una corriente de
i = 30 , o = 23 4.6 mA i = 30 , o = 20

25
En las figuras 38 y 39 es posible ver los hologramas interferomtricos o
interferogramas en los cuales la doble exposicin ha generado las franjas indicadoras de
la deformacin.
Para poder obtener el valor de la deformacin se utiliza una cmara CMOS de 1.2 Mp,
la cual es ubicada con un ngulo conocido respecto de la normal al plano del objeto. El
calculo de le deformacin se realiza aplicando la ecuacin 13 con un ngulo de
observacin e incidencia similares y de 30 .
El software del sistema de adquisicin de imgenes permite entre otras funciones la
determinacin del perfil de intensidades, herramienta con la cual es posible definir el
nmero de mximos y mnimos existentes
Para la figura 38, holograma correspondiente con una corriente de 9,1 [mA] puede
observarse claramente un nodo de con una mayor cantidad de franjas concntricas, lo
que indica el mayor desplazamiento registrado en la direccin perpendicular al plano de
la membrana de cartn.
De la ecuacin 13 resulta que

z 1 . 27 [[ m ]

Este valor nos da el desplazamiento total del antinodo en una zona particular, por lo
que puede definirse que el desplazamiento hacia adentro o hacia fuera es de la mitad del
valor obtenido.
Los perfiles de intensidades para diferentes trayectorias pueden ser vistos a la derecha
de cada imagen, los cuales dan una idea de la magnitud de la deformacin sufrida por
cada una de las zonas de vibracin.
La distribucin de las zonas nodales no se presenta uniformemente distribuida,
posiblemente por la inhomogeneidad que puede ser asociada a la estructura del cartn.
Dado que el inters particular se centra en la posibilidad de encontrar fracturas o
desprendimientos en el material que compone la pintura, se prueba como mtodo de
calibracin realizar un corte vertical sobre la membrana lo que debera alterar
notablemente el comportamiento de esta y la distribucin de las franjas.

Fig. 40. Holograma interferomtrico de la Fig 41. Repeticin del holograma precedente
membrana con un corte vertical y 12 [mA] de pero con 7.1 [mA] de corriente en el buzzer.
corriente en el buzzer.

En la figura 40 y 41 se muestran los hologramas obtenidos luego haber cortado

verticalmente, pero solo parcialmente en profundidad, la lmina de cartn.

26
Nuevamente el sistema para la adquisicin de las imgenes es la cmara CMOS, la cual
se la ubica en la condicin de observacin deformacin pura en z para la figura 40 y
con un ngulo menor para la figura 41. En ambos casos es notable como ha cambiado el
comportamiento de la membrana, pudindose observar claramente la existencia del
corte a partir de la discontinuidad de las familias de franjas.
En la figura 40 se hace notable la existencia de dos zonas nodales a cada lado del corte,
mientras que en la figura 41 es claramente visible, cuando la deformacin observada no
es puramente en z, como las franjas de igual orden se quiebran y se desplazan al
encontrarse con la zona de corte.

5.3 Aplicacin de la interferometra hologrfica a la deteccin de defectos en

pinturas al leo.

Los trabajos precedentemente detallados fueron la investigacin de base desarrollada

con el fin de aplicar la tcnica de interferometra hologrfica por excitacin sonora del
objeto al estado de conservacin de obras de arte.
Habiendo calibrado exitosamente el sistema se procedi a la implementacin sobre
pinturas al leo.
Se practicaron experiencia sobre dos casos particulares, una pintura perteneciente al
pintor italiano de finales del siglo XIX y un retrato al leo de la dcada de 1920 de
autor desconocido.
En el primero de los casos la pintura al leo fue realizada sobre una base de madera,
mientras que la segunda fue pintada sobre lienzo.
La pintura de Verchelli, presenta un notable nivel de contaminacin que puede ser
observado desplazando la pintura respecto del marco, adems zonas que podran ser
consideradas como de desprendimientos, tambin es posible observar golpes que han
quitado parte de la pintura.

Fig. 42 Pintura al leo de Verchelli de la serie Pesche in Fiore.

El principal inconveniente encontrado para la realizacin de los ensayos fue el

mecanismo de sujecin de la pintura a la mesa de trabajo, dadas las dimensiones esto
resulto complejo debindose recurrir a la utilizacin de diferentes sistemas de sujecin
tales como columnas de acero indeformables y bases magnticas de hasta 30 Kg de
fuerza.
El buzzer fue posicionado por detrs de la madera pintada, en el contrafrente del mismo
material que forma parte del marco. Para esto debi realizarse una pequea perforacin
colineal con la salida del buzzer.
La zona elegida para un anlisis localizado corresponde a un rea en la cual existe un
relieve importante debido a una pincelada gruesa realizada por el artista.

27
 a b c
Fig. 43. a) Detalle del rea bajo estudio, b) esquema utilizado vista de la pintura , c) Montaje del buzzer.

Para el anlisis interferomtrico se desarrollo la misma tcnica hologrfica empleada en

los hologramas de calibracin, notndose desde un etapa inicial que el nivel de luz
entregado por el cuadro poda observarse sustancialmente menor al entregado por la
membrana de cartn.
Diferentes hologramas con diferente tiempos de exposicin y tcnicas de
procesamiento de pelcula dieron resultados negativos en cuanto a la calidad de la
imagen obtenida, simplemente no se obtena imagen como resultado del holograma.
Para un tiempo total de exposicin de 10 [s] dividido en dos semiperodos de 5 [s], se
obtuvo la imagen mostrada en la figura 44. El revelado se prolongo de 2 a 6 [m]
mientras que el blanqueo y la fijacin se mantuvieron en los tiempos habituales.

Fig. 44 Imagen del holograma interferomtrico de la pintura de Verchelli, zona de estudio localizada.

En la figura 44 puede verse el holograma obtenido, en el cual la imagen de la pintura

resulta sumamente indefinida. Sin embargo las franjas de interferencia pueden verse
claramente, ubicadas en dos zonas nodales correlacionadas entre si y bordeando la zona
bajo estudio. La continuidad de las franjas de una zona nodal a la otra indican un
comportamiento uniforme de la pintura no pudiendo encontrar quiebres o
desprendimientos.
La zona bajo estudio, la que presenta una pincelada gruesa, se encuentra ausente de
franjas lo que indicara una rigidez mayor de esta zona respecto de las zonas adyacentes
y una firme cohesin del material.

28
Los resultados negativos obtenidos en el intento de holografiar la pintura hizo suponer
la posibilidad que el alto grado de contaminacin presente sobre la superficie de la
pintura fuera acusante de una atenuacin importante del nivel de luz del lser. Por esto
una segunda pintura al leo, el retrato de autor desconocido, fue ensayada. Esta
presenta como principal defecto zonas del lienzo que han sido atacadas por polillas y
por lo tanto se pueden observar desprendimientos notables.
Se intento una serie de 10 hologramas variando todos los parmetros, incluso buscando
las zonas donde la pintura tenda al blanco, sin embargo los resultados de los
hologramas en todos los casos fueron negativos.
Las dificultades encontradas en la obtencin de los hologramas independientemente del
estado de conservacin hace suponer que existe una absorcin excesiva en la longitud
de onda del lser debido a los materiales usados en las pinturas, consultada la
bibliografa en la cual se documentan trabajos similares los autores manifiestan haber
usado lsers de 530 [nm], una longitud de onda mas corta a la usada por nosotros en las
experiencias.

6. Conclusiones

En el presente trabajo se ha podido demostrar toda la potencialidad que presenta la

interferometra hologrfica como tcnica de diagnostico no destructiva, aportando
informacin tanto cualitativa como cuantitativa.
Sin embargo sigue siendo una tcnica que depende en demasa de conocimientos
artesanales sobre el procesado de la pelcula, existiendo adems un alto grado de
intuicin sobre la viabilidad de la tcnica a ser aplicada. Estos conocimientos tiene la
gran dificultad de ser difciles de transferir y por lo tanto la nica posibilidad de
adquirirlos es mediante la prctica rutinaria y repetitiva.
De todas formas en todos los casos la interferometra hologrfica sigue siendo un tipo
de ensayo de muy bajo costo, el cual aporta gran cantidad de informacin y que
actualmente se ve potenciado a partir de la aplicacin de sistemas informticos de alta
capacidad, ya sea a partir de las simulaciones o bien de las nuevas tcnicas de
holografa digital (Takao ,2001).

29
Referencias y bibliografa consultada.

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Edition 1977.

P. Hariharan, Optical holography Principles, Techniques, and Applications. Second

Edition 1996. Cambidge University Press.

G Brandt . Handbok of Optical Holography, Academic Press, Chapter 8, First Edition

1977.

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30