ANLISIS DE ESFUERZOS EN UNA BARRA POR MEDIO DE

FOTOELASTICIDAD
Alejandra A. Silva Moreno, Ricardo Gutierrez Torres, Francisco Ornelas Rodrguez.
Investigacin en Biomecnica CIATEC A.C. Omega 201, frac. Ind. Delta, C.P. 37545
Len Gto. Mxico, asilva@ciatec.mx; fornelas@ciatec.mx
RESUMEN
Existen varias tcnicas de anlisis experimental de esfuerzos por mtodos pticos, moire, speckle,
fotoelasticidad1,2 entre otros. La fotoelasticidad tiene varias ventajas sobre los otros mtodos ya que es una
tcnica sencilla de implementar y muy barata, se pueden medir en campo los esfuerzos en estructuras
grandes, ayuda a establecer criterios de diseo ya que se puede modificar el modelo para producir un diseo
optimo con el mnimo posible de esfuerzos mximos. Existen 3 tipos de tcnicas de fotoelasticidad de
transmisin, reflexin y tridimensiona 3. En este trabajo se muestran los esfuerzos en una barra de aluminio
utilizando fotoelasticidad.

1. INTRODUCCION
La tcnica experimental conocida como fotoelasticidad proporciona informacin sobre los niveles de
esfuerzo presentes en los materiales sobre todo cuando se trata de un anlisis de concentracin de
esfuerzos. Como la tcnica requiere la utilizacin de fuentes luminosas existen algunas consideraciones
pticas. Esta tcnica ha servido para determinar niveles de esfuerzo sobre distintos materiales utilizando
algunas propiedades pticas. Es en cierta forma una herramienta alterna al uso de extensometra para
conocer niveles de esfuerzo presentes sobre distintos elementos mecnicos.

2.- FOTOELASTICIDAD
La luz se propaga en el vaco a una velocidad C de 3x10 10 cm/seg. En otros cuerpos transparentes la
velocidad de propagacin de la luz V es menor y a la razn C/V se le conoce como ndice de refraccin.
En un cuerpo homogneo este ndice es constante independientemente de la direccin de propagacin de la
luz, a diferencia de los materiales cristalinos en los cuales el ndice depende de la orientacin del material y
de la direccin de propagacin de la luz. Ciertos materiales (conocidos como materiales birrefringentes),
donde destacan algunos plsticos, se comportan pticamente isotrpicos cuando se encuentran libres de
esfuerzos, pero cambian a una condicin pticamente anisotrpica cuando se someten a un estado de
esfuerzos. El cambio en el ndice de refraccin de dichos materiales es una funcin de la deformacin
resultante. Este fenmeno es el principio fundamental a partir del cual funciona el mtodo experimental de
fotoelasticidad para determinar esfuerzos sobre los materiales. Cuando un vector de luz polarizada se
propaga a travs de un plstico birrefringente con espesor t, donde X y Y son las direcciones de
deformaciones principales en el punto bajo consideracin, el vector de luz se separa en dos componentes
ortogonales que son propagados en los planos X y Y (fig. 1).
Si la intensidad de deformacin a lo largo de X y Y es x y y y la velocidad de la luz vibrando en estas
direcciones es Vx y Vy respectivamente, entonces el tiempo necesario para cruzar el material para cada uno
de estos vectores ser t/V, y el retardo relativo entre ambos rayos ser 1-3

t
t

t (n x n y )

Vx V y

(1)

donde n es el ndice de refraccin del material birrefringente.

Fig 1. Polariscopio lineal

La ley de Brewster establece que el cambio relativo en el ndice de refraccin es proporcional a la
diferencia entre las deformaciones principales sobre el material en el punto en cuestin. Esta ley puede
escribirse como:
(nx ny) = K(x - y)
(2)
donde la constante K es llamada coeficiente ptico de deformacin y define una propiedad fsica del
material. Esta es una constante tpicamente adimensional (usualmente establecida mediante calibracin) y
puede ser considerada en forma anloga al factor de galga para extensometra.
Combinando las Ecs. (1) y (2) se tiene que.
= qtK(x - y)

(3)

donde q es una constante que depende del tipo de polariscopio utilizado. El valor de la constante es q=1 en
un polariscopio de transmisin (fig. 2a) y q =2 en un polariscopio de reflexin (fig. 2b), debido a que en
este ltimo caso la luz debe pasar dos veces a travs del material fotoelstico.

Figura 2.- Tipos de polariscopios. (a) Transmisin.- La luz polarizada es transmitida a travs del objeto
analizado. (b) Reflexin.- La luz polarizada es reflejada sobre el objeto analizado.

En base a lo anterior, la relacin bsica para medicin de deformacin utilizando la tcnica de

fotoelasticidad es:
x - y = ( / qtK)
(4)
Debido al retardo , las dos ondas dejan de estar en fase cuando emergen del material fotoelstico. El filtro
analizador A transmitir nicamente un componente de cada una de dichas ondas (aquellos componentes
paralelos a A) como se muestra en la fig. 1. Estas componentes interfieren entre si y la luz resultante estar
en funcin de:
El retardo .
El ngulo entre el analizador y la direccin de deformaciones principales
(-). En el caso de un polariscopio plano (fig. 1), la intensidad de la luz que emerge del analizador A es:
I = a2sin2(-) sin2 ( /)

(5)

La intensidad de luz es cero cuando -=0 o cuando los filtros de polarizacin cruzados son paralelos a la
direccin de las deformaciones principales. Por tal motivo un polariscopio plano es utilizado para medir las
direcciones principales de deformacin. Si se agregan filtros pticos de un cuarto de onda (fig. 3) en la
direccin de propagacin de la luz, se produce luz polarizada circularmente y la imagen observada no est
influenciada por la direccin de las deformaciones principales. La intensidad de la luz obtenida mediante
este polarizador es:
I = a2sin2 ( /)
(6)
Analizador A

Fuente de Luz

Fig 3.Polariscopio circular

En un polariscopio circular, la intensidad de luz es cero cuando =0, =1, =2 , o en general cuando
=N (donde N es 1,2,3, etc.). A este nmero N se le conoce como orden de franja y es funcin el tamao
de . La longitud de onda usualmente utilizada es =22.7x10-6 pulg (575 nm). El retardo o seal
fotoelstica es descrito por N. Una vez que =N es conocido, la diferencia entre deformaciones principales
es obtenida a partir de la Ec. (4) como:
x - y = ( / qtK) = N(/ qtK)

(7)

Si se utiliza luz blanca, las franjas que se obtienen a la salida del analizador son de color, cada una con un
determinado color. A estas lneas se les a denominado lneas isocromticas y son lugares geomtricos de
los puntos de una pieza analizada en donde la diferencia de esfuerzos principales toma un valor constante.
Con la utilizacin de luz blanca, solo aparecer oscura la zona en la que 1 - 2 se anula. El resto de las
lneas aparecer a color de una forma continua. En los valores en los que esta diferencia de tensiones hace
que el orden de franja N sea entero, el color que aparece es el prpura. Para valores no enteros de N,

aparecen otros colores. En la tabla 3.1 se muestra la variacin de estos colores para diversos valores del
orden de franja N.
Orden de franja N
0
0,28
O,45
0,60
0,80
0,90
1
1,08

Color
Negro
Gris
Blanco
Amarillo plido
Naranja
Rojo
Prpura
Azul

1,22
1,39
1,63
1,82
2

Azul / verde
Verde / Amarillo
Naranja
Rosa / Rojo
Prpura

Tabla 3.1. Colores para diversos valores de orden de franja N.

4.- MEDICIN DE ESFUERZOS

Por medio de la tcnica de fotoelasticidad es posible obtener imgenes como la mostrada en la figura 4, en
donde los colores indican distintas intensidades de esfuerzo sobre los materiales analizados.

Fig. 4.- Patrones de colores obtenidos a travs de un experimento de

fotoelasticidad. Material fotoelastico montado en una viga de aluminio.
Los colores representan distintas intensidades de esfuerzo.

Cundo incrementamos el esfuerzo en la barra obtenemos mayores franjas con esto podemos conocer lla
magnitud del esfuerzo.

BIBLIOGRAFIA
1.- Jessop H. T. , Harris F. C. Photoelasticity principles and methods. Dover publications, New York 1960.
2.-Ajovalasit, A., Barone, S., Petrucci, G., 1998, A review of automated methods for the collection and
analysis of photoelastic data J. Strain Analysis, 33(2):75-91.
3.- Patterson, E. A., 1988, Automated photoelastic analysis, Strain, 24(1): 15 - 20.
Agradecimiento: CONACYT y CIATEC, A. C.