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Giovany A. Meza C, Nstor Bolognini, Myrian Tebaldi, Jorge E. Rueda

Anlisis de Registros de Patrones de Speckle Modulado de Baja Frecuencia en un Cristal BSO
Bistua: Revista de la Facultad de Ciencias Bsicas, vol. 8, nm. 1, enero-junio, 2010, pp. 1-8,
Universidad de Pamplona
Colombia
Disponible en: http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=90315226012

Bistua: Revista de la Facultad de Ciencias

Bsicas,
ISSN (Versin impresa): 0120-4211
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Revista Bistua
Facultad de Ciencias Basicas
Universidad de Pamplona
Pamplona-Colombia

Anlisis de Registros de Patrones de Speckle Modulado de Baja Frecuencia en un Cristal

BSO
Analysis of Speckle Patterns Records Low Frequency Modulation in a BSO Crystal
1

Giovany A. Meza C 1; Nstor Bolognini 2, Myrian Tebaldi 2, Jorge E. Rueda 1

Grupo ptica Moderna.Departamento de Fisica.Universidad de Pamplona.Colombia
2
Centro de Investigaciones pticas, CIOp (CONICET, CIC)-UID OPTIMO, Facultad de Ingeniera,
Universidad de La Plata, Argentina

RESUMEN
En este trabajo se analizan los patrones de speckle formados por un sistema ptico con doble
abertura almacenados en un cristal fotorrefractivo BSO. La modulacin interna de los speckles
depende de la separacin y orientacin de las aberturas. Debemos destacar que si bien
generalmente el speckle ha sido estudiado mediante un enfoque bidimensional, su naturaleza de
volumen debe tenerse en cuenta en un anlisis profundo. A partir de los resultados obtenidos, se
comprueba que la eficiencia de difraccin depende del tamao de los granos de speckle, la
frecuencia de las franjas moduladoras, la orientacin de las franjas con respecto al campo externo
aplicado al cristal fotorrefractivo y la magnitud de este campo. Se verifica que los resultados
concuerdan con lo predicho por la teora de haces acoplados para una geometra de transmisin.
Palabras clave: cristales fotorrefractivos, speckle, eficiencia de difraccin.
* Para citar este articulo: Meza C GA ; Bolognini N, Tebaldi M, Rueda JE, Anlisis de Registros de Patrones de Speckle Modulado
de Baja Frecuencia en un Cristal BSO

.Bistua 2010;8(1):97-103

+Autor para el envio de correspondencia y la solicitud de separatas: Facultad de Ingeniera, Universidad de La Plata, Argentina
E-mail: nestorb@ciop.unlp.edu.ar

ABSTRACT
In this paper we analyze the speckle patterns formed by a double-aperture optical system stored in a
photorefractive crystal BSO. The internal modulation of Speckles depends on the separation and
orientation of opening. We emphasize that while generally the speckle has been studied by
two-dimensional approach, the nature of volume must be considered in depth analysis. From the
results, it is found that diffraction efficiency depends on the size of grains of speckle, the frequency of
the fringes modulating the orientation of the stripes with respect to the external field applied to the
photorefractive crystal and the magnitude of this field. It turns out that the results agree with those
predicted by the theory of coupled beams for transmission geometry.
Keywords: photorefractive crystals, speckle, diffraction efficiency

INTRODUCCIN
El speckle o granularidad ptica, se observa cuando un haz de luz altamente coherente (lser) es
reflejado transmitido por una superficie rugosa (difusor) en la escala de la longitud de onda
generando una distribucin de intensidades aleatorias. Cuando en la generacin de dicho
fenmeno interviene un sistema formador de imagen como una lente, una cmara o el propio
ojo humano ste recibe el nombre de Speckle subjetivo, de lo contrario recibe el nombre de
speckle objeto. El speckle es un fenmeno, dada su naturaleza aleatoria se ha estudiado con

mtodos analticos de la estadstica. (Francon M.(1979)),(Goodman J. W.(1975)).

El speckle a pesar de su naturaleza de volumen se ha estudiado en general segn un anlisis
bidimensional. Sin embargo cuando se emplean medios de registro tridimensionales la
importancia del volumen se hace evidente. Los cristales fotorrefractivos son medios de
almacenamiento de informacin en volumen de gran capacidad (Gnter P. y Eichler H. J,
(1968),(Huignard P. y Gnter P.,(1989))
Estos materiales presenten fotoconductividad y efecto electro-ptico lineal de tal forma que al ser
iluminados mediante una distribucin inhomognea resulta por las propiedades
mencionadas una distribucin de ndice de refraccin del material que replica la distribucin
luminosa recibida. En este trabajo, se han estudio las caractersticas de los patrones de
speckle modulados registrndolos en un cristal fotorrefractivo BSO de la familia de las
silenitas. Las redes de ndice de refraccin almacenadas, sern estudiadas a travs del
observable: eficiencia de difraccin. Los resultados experimentales sern comparados con
los resultados esperables del modelo de ondas acopladas (Kukhtarev N. V., et
al,(1979)),( Yeh P.(1993)).

ESQUEMA EXPERIMENTAL
La fig. 1. muestra el montaje experimental utilizado. Un haz expandido y colimado ilumina un
difusor, cuya imagen es formada mediante la lente L1 en el volumen del cristal. La lente consta de
una mscara opaca con dos aberturas circulares de dimetro D simtricamente ubicadas respecto
del eje ptico. Dada la alta sensibilidad de los cristales fotorrefractivos BSO utilizados como medio
de almacenamiento en la regin verde-azul del espectro visible, se ve un lser de Nd YAG
(
532nm) en el proceso de registro. Las caras del cristal son perpendiculares a las direcciones
,
y
, las cuales, coinciden respectivamente con los ejes X, Y y Z. Las dimensiones
del cristal son
10mm y
6mm, por lo que una diferencia de potencial V en las caras
y
generaran un campo elctrico
.
Cada apertura genera una distribucin de speckle que aunque estn decorrelacionadas son
coherentes entre si y al superponerse en el volumen del medio generan un sistema de
franjas de interferencia que modulan el patrn de speckle resultante, generndose as en el
cristal micro-redes de ndices a travs del efecto fotorrefractivo con un periodo
.
Las dimensiones promedio del dimetro y la longitud de estos speckles subjetivos son
y
respectivamente. Al superponerse dos speckles
provenientes de cada abertura, determinan una regin de superposicin, dada por (Tebaldi
M, et al(2002) ).
(1)
donde

Pg. 2 de 8

Lser Nd YAG
Lser He-Ne

CS
Difusor

Y
X

L1
ZO

DH
ZC

BSO
F

L2

f
f

Fig 1. Montaje experimental ,

Lentes, DH: divisor de haz, F: Filtro Verde, CS: sistema
colimador, : distancia difusor-lente (
13.2cm), : distancia lente-cristal (
47.4cm),
: ngulo formado por la lnea que pasa por los centros de las aberturas y el eje .
Las variaciones del ndice de refraccin que se generan en el cristal se pueden expresar de
la forma(Tebaldi et al(2002),(Tebaldi et al, (1998)):
(2)
donde
es el coeficiente electroptico lineal,
el ndice de refraccin del cristal sin perturbar,
es el campo aplicado al cristal,
es el campo de difusin y
es el campo de saturacin,
es
un vector unitario en direccin del vector de onda de red.
En la etapa de lectura, se utiliza un lser He-Ne (
633nm) colimado linealmente polarizado y
fuera del rango espectral de sensibilidad del cristal, con lo cual se evita degradar el registro.
De acuerdo a la teora de haces acoplados, la eficiencia de difraccin es (Yeh P.,(1993)).
(3)
donde

es el mdulo del vector off-Bragg,

es la constante de

acoplamiento,
es el mdulo del vector de onda de red y
es el ngulo de lectura
off-Bragg fuera del cristal, es el ngulo de Bragg de lectura externo al cristal
, donde
es el ngulo de escritura tambin externo,
es el ndice de refraccin del material,
es la
variacin del ndice de refraccin del material.
RESULTADOS EXPERIMENTALES
La Fig 2 muestra la intensidad de los rdenes de difraccin registrados en el plano de Fourier.
Las Figura 2 (a) y 2 (c), corresponden a una lectura off-Bragg mientras que la Figura 2 (b),
corresponde a una lectura On-Bragg, que se cumple cuando el vector de propagacin del haz de

Pg. 3 de 8

lectura se encuentra en la direccin

. Se puede observar entonces, que
cada armnico lateral, es la reconstruccin de cada haz de registro, y que la eficiencia de difraccin
para cada haz se puede controlar variando el ngulo de lectura. Estas caractersticas de
selectividad que rigen el comportamiento de la eficiencia de difraccin en nuestro registro son
consecuencia del carcter de volumen de este.
a

Fig 2. ngulo de lectura. a. y c. off-Bragg b. on-Bragg

El comportamiento dinmico de la formacin de la red o evolucin temporal de la eficiencia de
difraccin, se muestra en la Fig. 3. Cada punto de la figura es el valor promedio de intensidad del
haz difractado en condicin de Bragg. En esta figura se puede observar que la evolucin temporal
de la intensidad difractada alcanza un estado estacionario. Estos puntos se ajustan a la ecuacin
de acuerdo al anlisis terico de la velocidad de formacin de la red (Yeh P.,
(1993).

Notose que la intensidad media en el cristal es proporcional al rea de las aberturas de la pupila,
el tiempo de saturacin para mantener constante la exposicin media, disminuir en proporcin
inversa al dimetro de estas. Este comportamiento se observa en la Fig 4, donde se estima el
tiempo necesario para alcanzar la saturacin de acuerdo al dimetro de las aberturas. Estos
tiempos de registro al igual que los de borrado de la red son importantes en aplicaciones de
procesamiento de imgenes y metrologa speckle. Para los anteriores resultados se utiliza una
pupila con diferentes dimetros de aberturas orientadas en direccin del campo
0, con una
separacin entre centros
14,00 0,05mm, un campo externo aplicado
1166,6 0,2
y
un periodo de red igual a
17,4 0,1m.
D=2.19 mm d=14 mm
1,01

Intensidad normalizada

0,95

0,89

Model: ExpDec1

0,82

Chi^2
R^2

= 0.35068
= 0.99802

Io
A1
t1

156.26956
-114.95646
23.64931

0,76

0.15045
2.70257
0.55022

0,70

0,63
0

50

100

150

200

250

300

350

400

tiempo (s)

Figura 3. Intensidad normalizada en funcin del tiempo de registro.

Donde
14,00
0,05 mm,
2,60 0,05 mm,
1166,6 0,2

Pg. 4 de 8

17,4 0,1m y
Tiempo Saturacion = 4 Tiempo caracteristico (s)

0.

2000

Model: ExpDec1
1500
Chi^2 = 17137.00196
R^2
= 0.97128
1000

to
A1
D1

24.40355
3622.215
0.68546

69.64955
632.18763
0.14754

500

Diametro de aberturas (mm)

Fig 4. Tiempo requerido aproximado para la formacin de una red

fotorrefractiva en funcin del dimetro.

La fig 5, muestra la eficiencia de difraccin en trminos del campo externo. En este caso se
utiliz una pupila con dimetros de aberturas
2.55 0,05mm, y separacin entre centros
10,00 0,05mm, con un ngulo
0 con respecto al eje , y periodo de red
24,4 0,1m.
Cada registro se hizo con un mismo tiempo de exposicin. Se puede observar que para valores
grandes del campo aplicado la eficiencia de difraccin empieza a disminuir en comparacin al
comportamiento terico, esto se debe a inestabilidad en los registros. En ausencia del campo se
puede notar, que no hay difraccin observable. Esto se debe, a que el transporte de cargas por
difusin, es insuficiente para contribuir a la formacin de la red (el campo de difusin estimado en
este caso es
6,67 0,03
)
1.4

1.2

Intensidad normalizada

0.8

0.6

0.4

0.2

0
-2

4
6
8
Campo externo. E(V/m)

10

12

14
5

x 10

Fig 5. Intensidad normalizada en funcin del campo externo aplicado

Conocido el efecto del campo externo aplicado a la eficiencia de difraccin y si miramos la Ec.(3)
notaremos, que la componente del campo externo aplicado en la direccin del vector de onda de red,
es la contribucin ms importante en la variacin del ndice de refraccin, que en este caso son
valores del orden de
para un ndice de refraccin de 2.53 en la longitud de onda de lectura.
Por lo que la variacin del ndice de refraccin y por ende la eficiencia de difraccin (ver Ec. 3, 4 y 6)
disminuirn, a medida que la direccin del vector de onda de red se desvi de la del campo
aplicado.
En La fig 6, muestra los valores de la eficiencia de difraccin en trminos de la orientacin del
Pg. 5 de 8

segmento que une los centros de las aperturas respecto al eje . Las medidas fueron realizadas
para un dimetro de las aberturas
2.55 0,05mm, separacin entre centros
10,00 0,05mm
y un campo externo aplicado
833.33 0,2kV/m. Cuando la orientacin de las aberturas es
perpendicular a la direccin del campo, la eficiencia de difraccin es muy baja. Este fenmeno se
observa debido a la presencia de micro-redes registradas en el cristal con direcciones ligeramente
apartadas del vector de onda de red, producto de la dimensin de las aberturas. Este efecto
disminuir, a medida que los tamaos de las aberturas tiendan a disminuir.
1.4

1.2

Intensidad normalizada

0.8

0.6

0.4

0.2

0
-0.2

0.2

0.4

0.6

0.8

1.2

1.4

1.6

(rad)

Fig 6. Intensidad normaliza en funcin del ngulo de la pupila. Para

10,00
0,05mm,
2,55
0,05mm,
833.33
0,2kV/m,
21,5 0,1m.
La Fig 7, muestra la eficiencia de difraccin en funcin del dimetro de las aberturas. El
registro se llev a cabo con un campo externo aplicado
1166,6 0,2
, para una misma
separacin entre centros a la que corresponde un periodo de red
17,4 0,1m.
Observando la Fig 7 se puede inferir la naturaleza de volumen de los speckles y su relacin
con el espesor del medio de registro. Al disminuir el dimetro de las aberturas, se observa un
aumento en la eficiencia de difraccin en concordancia con un aumento de la profundidad de la red
de ndices que modulan los speckle. En particular, al aumentar las dimensiones de los speckles se
incrementara la eficiencia de difraccin hasta el punto donde la profundidad de la red moduladora
de los speckles sobrepasa la dimensin del cristal. A partir de all una disminucin adicional en el
dimetro no se refleja en un aumento de la eficiencia. Por lo tanto, en la ecuacin de ondas
acopladas la profundidad efectiva debe reformularse segn:
(2)
donde

es el espesor del cristal.

Pg. 6 de 8

1.4

Intensidad normalizada. (u.a)

1.2

0.8

0.6

0.4

0.2

0.5

1.5
2
2.5
3
3.5
Diametro de las aperturas. (m)

4.5

5
-3

x 10

Fig 7. Eficiencia de difraccin en funcin del dimetro de las aberturas.

Para
14,00 0,05mm,
1166,6 0,2kV/m,
17,4 0,1m y
0.
CONCLUSIONES
Se ha comprobado el carcter de volumen de los patrones de speckle a partir de la eficiencia de
difraccin de sus registros en un cristal BSO en configuracin transversal.
Se pudo establecer mediante este estudio, una curva aproximada del tiempo de saturacin de
los registros, para diferentes tamaos de aberturas en nuestras condiciones, lo cual es de inters
teniendo en cuenta que este tiempo de respuesta, es importante cuando se realizan registros de
mltiples patrones de speckle los cuales podran ser objeto de futuras investigaciones.
Se comprueba que al aumentar las dimensiones de los speckles se incrementara la eficiencia de
difraccin hasta el punto donde la profundidad de la red moduladora de los speckles sobrepasa la
dimensin del cristal. A partir de all una disminucin adicional en el dimetro no se refleja en un
aumento de la eficiencia. Esto comportamiento corrobora el carcter 3D de los patrones de speckle
y que se ponen de manifiesto al almacenarse en un medio de volumen tal como los cristales
fotorrefractivos. Los parmetros geomtricos del sistema formador de imagen (dimetro de las
aperturas, separacin entre ellas y distancia imagen) y el campo externo aplicado permiten controlar
dicha eficiencia de difraccin.
Los resultados experimentales obtenidos concuerdan con la teora de ondas acopladas.
Estos resultados pueden aplicarse convenientemente para optimizar experiencias de metrologa
speckle, deteccin de objetos de fase, criptografa, multiplexado de informacin, etc.
Referencias
1.- M. Francon, Laser Speckle and applications in optics, Academic Press, New York (1979) pp.16.
2.-J. W. Goodman, Statistical properties of laser speckle patterns en Laser speckle and related
phenomena, J. C. Dainty ed., Springer-Verlag, New York (1975) Cap. 2
3.-P. Gnter y H. J. Eichler, Introduction to Photorefractive Materials, Proc. International School on
Materials Science and Technology: Electro-optic and Photorefractive Materials, Ed. P. Gnter,
Springer-Verlag, (1968) 206-228.
4.- P. Huignard. P. Gnter (Eds), Photorrefractive material and their Applications II, Springer-Verlag,
Berlin, 1989.
5.-N. V. Kukhtarev, V. B. Markov, S. G. Odulov, M. S. Soskin y V. L. Vinetsskii, Holographic storage
in electrooptic crystals, Ferroelectrics 22 (1979) 749-764.
6.- P. Yeh, Introduction to Photorrefractive Nonlineal Optics, John Wiley & Sons (1993).
7.- M. Tebaldi, A. Lencina, N. Bolonini, Opt. Commun. 202 (2002) 257-270.

Pg. 7 de 8

8.-M. Tebaldi, L. Angel Toro, M. C. Lasprilla, N. Bolognini, Opt. Commun. 155, (1998) 342.

Pg. 8 de 8