PDP S.E Moviles

SUMINISTRO DE 03 S/E MVILES
Subestacin Mvil 3
OC: 4200000215
________________
20
Rev.
02-Agos-13
Fecha
dd-mmm-aa
CLIENTE:
AS BUILT
Descripcin de Emisin
J. BACA
Preparado por
L.MEDINA
Revisado por
F. SANCHEZ
Aprobado por
CONTRATISTA:
Este documento es propiedad de Cerro Verde no puede ser copiado o transmitido a terceros sin autorizacin previa.
Tipo de Documento :
PROTOCOLOS DE PRUEBAS
Identificacin de la documentacin:
Estado :
SMS-4200000215-C2-PTC-05-240
EPC
Ttulo del Documento:
PDP S.E Moviles - SIEMENS
Supervisin:
Aprobado sin comentarios
Cd. 1
Aprobado con comentarios Cd. 2

Revisar y reenviar
Cd. 3
Firma:
Pgina:
1/240
Doc. N:
SMS-4200000215-C2-PTC-05-240
SUMINISTRO DE 03 S/E MVILES

SUBESTACIN MVIL 3
Rev.: 20
Fecha: 02-Agos-13
AREQUIPA
Pgina: 2/240
HOJA DE REVISION
Rev. N
Estado
20
EPC
Descripcin de la Revisin
AS BUILT
PROTOCOLO DE PRUEBAS PREOPS
PROTOCOLOS Y REPORTES DE PRUEBAS

A EQUIPOS PRIMARIOS
SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_003
ENERO 2,013
2 013
TRANSFORMADOR DE CORRIENTE 'GIS'

GIS 42.5kV
T1 (L1, L2, L3)
CELDA INTERRUPTOR DE PODER 42.5kV

CELDA +H01
S E MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
PROTOCOLO DE PRUEBAS
TRANSFORMADOR DE CORRIENTE 'GIS' 42.5kV
PROPIETARIO : SOCIEDAD MINERA CERRO VERDE
LUGAR
: ALMACEN EECOL ELECTRIC
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

_
+H01
T1
A
L1, L2, L3
: 18/01/2013
FECHA
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
f
Type
Cell No.
Serial No. (T1L1, T1L2, T1L3)
IL
Ratio
/
P1-P2 I1/A
60
/
I2/A
1
/
VA/Vk
1
Ith
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC454OLZI
+H01
12/80097591, 12/80097592, 11/80097593
0.72 / 3 kV
60 /1 A
/
n/Rct
20
/0
cl/I
5P
Core
S1-S2
: 1.2*In
: 60 Hz
: IEC 60044-1
2) CONDICIONES DEL EQUIPO EN PRUEBA
TC-T1
Ubicacin y fijacin definitiva (celda)

Montaje electromecnico concluido
Integridad visual del material aislante
Distancias mnimas entre fases y versus tierra
Ajuste de pernos y tuercas (torque)
Conexin de puesta a tierra (secundario)
Conexin en bornes secundarios
Ausencia de xido y corrosin
Datos de placa correctos
Identificacin
Id tifi i y sealizacin
li i
TAG
T1L1
TAG
T1L2
TAG
T1L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
3) PRUEBAS REALIZADAS EN CAMPO

3.1)) MEDICIN
DE RELACIN
DE TRANSFORMACIN
Y VERIFICACIN
DE POLARIDAD
(SE ADJUNTAN REPORTES DE PRUEBA)
a) Resultado de las pruebas
TAG
Arrollado
Relacin
Terica (A)
Relacin
Medida (A)
Desviacin
(%)
Polaridad
T1L1
1S1 - 1S2
60/1
60/1 0017
60/1.0017
0 17
0,17
Correcta
T1L2
1S1 - 1S2
60/1
60/0.9968
-0,32
Correcta
T1L3
1S1 - 1S2
60/1
60/1.0017
0,17
Correcta
EVALUACIN
APROBADO
b) Equipos de prueba utilizados

* Unidad de Pruebas Primarias
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
c) Valores obtenidos en pruebas de fbrica

(SIEMENS, Informe del ensayo)
Ensayo de exactitud
F i Error de corriente
i Desplazamiento de fases
N de serie Terminales
N
TC-T1
Relacin
Potencia
100% In
Fi[%] i[min]
80097591
1S1 - 1S2
60/1
1 VA
-0,437 33,18
80097592
1S1 - 1S2
60/1
1 VA
-0,404 33,01
80097593
1S1 - 1S2
60/1
1 VA
-0,431 33,33
Pag. 2 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
d) Especificaciones de diseo segn norma

(IEC 60044-1, Edition 1.2, 2003-02, Instruments transformers, Part 1: Current transformers)
Table 11 - Limits of current error and phase displacement for measuring current transformers
(classes from 0.1 to 1)
Accuracy class
0,1
0,2
0,5
1
Percentage current (ratio) Phase displacement ta percentage of rated current shown

below
error at percentage of rated
current shown below
Minutes
Centiradians
5
20
100
120
5
20
5
20
100
120
100
120
15
8
0,45 0,24 0,15 0,15
0,4
0,2
0,1
0,1
5
5
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
Table 14 - Limits of error for protective current transformers
Accuaracy class
Current error at rated

primary current %
5P
10P
1
3
Phase displacement at rated Compsite error at rated

primary current
accuracy limit primary
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10
e) Criterios de evaluacin recomendados en norma

(ANSI/NETA ATS-2009)
7 Inspections and Test Procedures, 7.10 Instrument Transformers, 3 Test Values,
3.2.1 Test Values - Current Tranformers - Electrical
3. Polarity results shall agree with transformer markings.
TC-T1
Pag. 3 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
3.2) MEDICIN DE TENSIN Y CORRIENTE DE EXCITACIN (PUNTOS DE INFLEXIN)

TAG
Arrollado
V inflexin
(V)
I inflexin
(mA)
T1L1
1S1 - 1S2
76,85
448,29
T1L2
1S1 - 1S2
76 37
76,37
464 08
464,08
T1L3
1S1 - 1S2
74,78
469,39
EVALUACIN
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

Caractersticas de la excitacin
N de serie
Clase
Terminales
Uemf[V]
Imax[A]
I@Uemf[mA]
80097591
5P20
S1-S2
21,9
173
80097592
8009759
5P20
S1
S2
S1-S2
22
171
80097593
5P20
S1-S2
21,9
176

2.3.12 Rated knee point e.m.f. (E k )
That minimum sinusoidal e.m.f. (r.m.s.) at rated power frequency when applied to the secondary terminals
of the transformer, all other terminals being open-circuited, which when increased by 10 % causes the r.m.s.
exciting current to increase by no more than 50 %
TC-T1
Pag. 4 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
3.3) MEDICIN DE RESISTENCIA DE AISLAMIENTO

a)) Condiciones ambientales
Temperatura Externa (C)
Humedad Relativa (%)
Apreciacin Climtica
24
60
SOLEADO
b) Resultado de las pruebas

U aplicada
Tiempo (s)
(VDC)
500
60
CONEXIN
Arrollado Vs. Masa (Tierra)
EVALUACIN
T1L1
2,20
Resistencia (G)
T1L2
T1L3
2,01
1,98
APROBADO
c) Equipos de prueba utilizados

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230
d) Valores obtenidos en pruebas de fbrica

(NO SE CUENTA CON RESULTADOS)
e) Valores para pruebas de aislamiento recomendados en norma
Table 100.5 Transformer Insulation Resistance Acceptance Testing
Transformer Coil Rating
yp in Volts
Type
Maximum DC Test
g
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000
Recommended Minimum Insulation Resistance in

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
In the absence of consensus standards, the NETA Standards Review Council suggests the above
representative values.
NOTE: Since insulation resistance depends on insulation rating (kV) and winding capacity (kVA),
values
l
obtained
b i d should
h ld b
be compared
d to manufacturers
f
published
bli h d d
data.
TC-T1
Pag. 5 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
f) Criterios de evaluacin recomendados en norma

7. Insulation-resistance values of instrument transformers shall be in accordance with manufacturers
published data. In the absence of manufacturers published data, use Table 100.5
3.4)) INYECCIN DE CORRIENTE PRIMARIA

TC
R
S
T
CORRIENTE DE CORRIENTE OBTENIDO

EN EL RELE (A)
PRUEBA (A)
60
60,18
60
60,21
60,16
60
EVALUACIN
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TC-T1
Pag. 6 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
4) COMENTARIOS Y OBSERVACIONES
- Para la evaluacin
de los resultados obtenidos se tomaron en cuenta valores tpicos
especificados
f
por
el fabricante (SIEMENS) y criterios de aceptacin recomendados en normas internacionales.
- Las pruebas de Relacin de Transformacin y Polaridad se realizaron con el Seccionador de Barra y el
Interruptor cerrados.
- Los resultados de las pruebas realizadas servirn como referencia para la evaluacin de pruebas de
mantenimiento predictivo a futuro.
TC-T1
Pag. 7 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
+H01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 18/01/2013
5) CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
- SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Relacin de Transformacin y Polaridad es correcta. La
desviacin
mxima
cumple con lo indicado en la norma IEC 60044-1. La polaridad corresponde a las

marcas de fbrica.
- SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Excitacin es correcta. Los puntos de inflexin de tensin
y corriente cumplen con lo indicado en la norma IEC 60044-1. Los resultados obtenidos son similares
entre fases.
- SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Resistencia de Aislamiento es ptimo y cumple con el
nivel mnimo recomendado en la norma ANSI/NETA ATS-2009.
g
q como referencia para
p
p
- SE RECOMIENDA mantener los resultados consignados
aqu
pruebas a futuro.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 18/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T1
Pag. 8 de 8
REPORTE DEL EQUIPO DE PRUEBAS

MARCA: OMICRON, MODELO:
CPC100

GIS 42.5kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +H01

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 2
\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003

\CELDA H01\TC-T1_PROTECCION\FASE L1.xml:
Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:12:10
n/a
Test Cards Overview:

Test Card
Type
Date/Time
Results Assessment Overload
Relacin_S1-S2 CTRatio
01/18/2013 10:12:05 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
CTExcitation 01/11/2013 15:46:48 yes
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:12:05
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
60 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
60.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
60.02 A
0.00
I sec.:
1.00204 A
0.14
Ratio:
60 A:1.0017 A 0.17 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/11/2013 15:46:48
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
88.58 V 1.1029 A
87.51 V 944.56 mA
85.89 V 767.50 mA
83.76 V 622.36 mA
81.11 V 521.66 mA
77.91 V 459.70 mA
74.22 V 420.38 mA
70.19 V 392.74 mA
65.99 V 369.79 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
200
V/V
61.67 V 348.39 mA 100

57.27 V 327.42 mA
52.84 V 306.38 mA 50
48.35 V 285.21 mA
43.84 V 263.73 mA
39.30 V 241.86 mA 20
34.73 V 219.72 mA
30.15 V 197.16 mA 10
25.57 V 173.95 mA
20.97 V 149.60 mA
5
16.37 V 123.25 mA
11.80 V 94.444 mA
7.21 V 61.947 mA
2
2.66 V 26.194 mA
I/A
1
100
Kneepoint calculation:
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
1m
10m
100m
IEC/BS
76.85 V
448.29 mA
enabled
1/25/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:13:21
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:13:15 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:13:15
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
60 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
60.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
60.05 A
0.00
I sec.:
0.99761 A
0.78
Ratio:
60 A:0.9968 A -0.32 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/11/2013 15:47:57
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
87.16 V 1.0380 A
86.04 V 884.23 mA
84.36 V 717.98 mA
82.09 V 587.61 mA
79.09 V 503.14 mA
75.55 V 452.75 mA
71.61 V 418.22 mA
67.49 V 391.41 mA
63.24 V 367.67 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
200
58.90 V 345.25 mA
54.50 V 323.27 mA
50.03 V 301.19 mA
45.57 V 279.10 mA
41.05 V 256.60 mA
36.51 V 233.77 mA
31.95 V 210.66 mA
27.39 V 187.03 mA
22.82 V 162.58 mA
18.25 V 136.50 mA
13.67 V 108.27 mA
9.12 V 77.102 mA
4.53 V 42.121 mA
V/V
100
50
20
10
5
I/A
1
100
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
1m
10m
100m
IEC/BS
76.37 V
464.08 mA
enabled
1/25/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:14:50
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:14:40 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:14:40
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
60 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
60.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
60.07 A
0.00
I sec.:
1.00291 A
0.14
Ratio:
60 A:1.0017 A 0.17 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/11/2013 15:49:11
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
85.75 V 1.0329 A
84.53 V 887.60 mA
82.74 V 731.39 mA
80.39 V 604.70 mA
77.47 V 515.97 mA
74.13 V 458.42 mA
70.46 V 418.94 mA
66.60 V 389.04 mA
62.57 V 363.64 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
200
V/V
58.44 V 340.70 mA 100

54.24 V 318.74 mA
49.98 V 297.47 mA 50
45.68 V 276.26 mA
41.34 V 254.87 mA
36.98 V 233.30 mA 20
32.59 V 211.41 mA
28.18 V 189.07 mA 10
23.79 V 166.09 mA
19.37 V 141.88 mA
5
14.93 V 115.98 mA
10.54 V 87.746 mA
6.10 V 55.944 mA
2
1.72 V 20.340 mA
I/A
1
100
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
1m
10m
100m
IEC/BS
74.78 V
469.39 mA
enabled
1/25/2013
PROTOCOLODEPRUEBASPREOPS
INTERRUPTORDEPOTENCIA'GIS'40.5kV
CELDAINTERRUPTORDEPODER40.5kV
+H01
S.E.MOVIL8DA10SWICHGEAR40.5/7.2kV_003
ENERO,2013
PROPIETARIO : SOCIEDADMINERACERROVERDE
LUGAR
: ALMACENEECOLELECTRIC
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
S.E.MOVIL8DA10SWITCHGEAR40.5kV_003
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
1)DATOSDEPLACA
INTERRUPTORDEPOTENCIA'GIS'
Fabricante
Tipo
NdeSerie
NdeMecanismo,Interruptor
Ao de Fabricacin
AodeFabricacin
CeldaN
Norma
Ir
Imxa35C
fr
Ur
Ud
Up
Ip/Ik(circuitoprincipal)
tk
SecuenciadeManiobrasAsignada
Clase
Seccionador/Secc.dePuestaaTierra
Ua
p
Temp.delAireAmbienteAdmisible
IACAFL
PresindeLlenadodeSF6a20C
CajadelEmbarradoPre
CajadelInterruptorPre
LlenadodeSF6
Fabricadoen
InstruccionesdeServicio
INTERRUPTORH01
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
8DA10
CV831447000050/001
00043538
2012
+H01
IEC622711/100/102/200
1250A
1290A
60Hz
40.5kV
80kV
200kV
104/40kA
3s
O0.3sCO3minCO
E2M2C2
M1
DC125V,AC230V
5C/+55C
/
40kA1s
:
:
:
:
:
120kPa
120kPa
2.3kg
Alemania
8619272.9
Pag.2de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
2)CONDICIONESDELEQUIPOENPRUEBA
Ubicacinyfijacindefinitiva
Montajeelectromecnicoconcluido
Integridadvisualdelmaterialaislante
Distanciasmnimasentrefasesyversustierra
Inhibicindemandoporbloqueomecnico
Indicador de posicin operativo
Indicadordeposicinoperativo
Indicadorderesorteoperativo
Contadordemaniobrasoperativo
Ajustedepernosytuercas(torque)
Conexindepuestaatierra
Conexinenbornesdecontrol
Hermeticidaddelcompartimiento
PresinadecuadadegasSF6
Ausencia de fugas de gas SF6
AusenciadefugasdegasSF6
Integridaddecomponenteselctricos
Motordecargaderesorteoperativo
Findecarreraderearmeoperativo
Cargamanualderesorteoperativa
Tensinauxiliardemotor
Tensinauxiliardemando
Mandoelctricooperativo(encelda)
Mandomecnicooperativo
p
Ausenciadexidoycorrosin
Datosdeplacacorrectos
Identificacinysealizacin
INTERRUPTORH01
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag.3de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
3)PRUEBASREALIZADASENCAMPO
3.1)MEDICINDERESISTENCIADEAISLAMIENTO
a)Condicionesambientales
TemperaturaExterna(C)
H
HumedadRelativa(%)
d d R l ti (%)
ApreciacinClimtica
26
67
SOLEADO
b)Resultadodelaspruebas
CONEXIN
EntradaVs.Masa(Tierra)
Entrada Vs Salida
EntradaVs.Salida
SalidaVs.Masa(Tierra)
EVALUACIN
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
5000
60
5000
60
5000
60
L1
69.0
234 0
234.0
45.0
Resistencia(G)
L2
L3
65.0
69.0
175 0
189
0
175.0
189.0
26.0
43.0
APROBADO
c)Equiposdepruebautilizados
*Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No.Serie
: 1000380/110611/2058
*Termohigrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No.Serie
: 99440230
3.2)MEDICINDERESISTENCIADECONTACTO
(SEADJUNTANREPORTESDEPRUEBA)
HumedadRelativa(%)
ApreciacinClimtica
26
67
SOLEADO
FASE
CONEXIN
IDC(A)
VDC(mV)
L1
L2
L3
B
+S i
d +I t
t +C bl F
Barra+Seccionador+Interruptor+CableF.
100 00
100.00
100.03
100.01
340 970
340.970
347.820
364.890
EVALUACIN
INTERRUPTORH01
Rmedida
(m)
3 410
3.410
3.477
3.649
APROBADO
Pag.4de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
*UnidaddePruebasPrimarias
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
No.Serie
: JH876Q
3.3)MEDICINDETIEMPOSDEOPERACINYDISCREPANCIAENTREPOLOS
a)Resultadodelaspruebas[Vaux=135VDC]
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
83.50
0.08
83.00
0.5
83.00
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
63.50
0.61
64.00
1.0
64.50
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
CorrienteProm.Bobina(A)
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
51.50
0.31
51.50
0.5
52.00
EVALUACIN
APROBADO
CIERRE
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA 1
APERTURA1
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA2
b)Equiposdepruebautilizados
*AnalizadordeInterruptores
Marca
: KOCOS
Tipo
: ACTASP3
No.Serie
: 21708091201
INTERRUPTORH01
Pag.5de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
c)Valoresobtenidosenpruebasdefbricayrangosdeoperacin
(SIEMENS,Circuitbreakerroutinetest8DA/DB,FactoryN831448,PanelN+H01,Date05.09.2012)
Measurementofoperatingtimes
Closeoperationspeed
Openoperationspeed
1.14m/s
1.20m/s
Tolerances
1.101.70m/s
1.101.80m/s
Closeoperationtime
OpenoperationtimeY1
OpenoperationtimeY2
82.20ms
56.00ms
48.00ms
6095ms
4565ms
3555ms
Passingcontacttime
154.20ms
8200ms
Contacttravel
Max over swing
Max.overswing
Max.forwardswing
Contactsysnchronism
20.79mm
1 61 mm
1.61mm
1.66mm
0.50ms
1822mm
0 3mm
3 mm
0
04mm
<2ms
Closeoperation
Contactbouncetime
Singlecontacttime
Nofbounces
L1
2.50ms
1.10ms
2times
L2
2.00ms
1.00ms
1times
L3
Tolerances
2.00ms
<=7ms
1.00ms
<=2ms
2times
<=3times
Openoperation
Nofbounces
L1
0times
L2
0times
L3
0times
INTERRUPTORH01
Tolerances
<=0times
Pag.6de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
4)COMENTARIOSYOBSERVACIONES
Paralaevaluacindelosresultadosobtenidossetomaronencuentalosvalorestpicosespecificados
enelmanualyprotocolodepruebasenfbrica(SIEMENS).
LaspruebasdeTiemposdeOperacinserealizaronconelSeccionadordeBarracerrado.
ParalaspruebasdeTiemposdeOperacinserealizaronmaniobrasdecierreyaperturaelctricosdel
Interruptor.Tambinseverificaronlasoperacionesdecierreyaperturadelosseccionadores.
LosresultadosdelaspruebasdeTiemposdeOperacinservirncomoreferenciaparalaevaluacinde
Los resultados de las pruebas de Tiempos de Operacin servirn como referencia para la evaluacin de
pruebasdemantenimientopredictivoafuturo.
Lamedicinderesistenciadecontactoserealizconloscablesdefuerzaconectado,quecomprende
cabledefuerza,seccionadordecadaceldaylabarra.
INTERRUPTORH01
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LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H01
+H01
A
FECHA : 15/01/2013
5)CONCLUSIONESYRECOMENDACIONES
SECONCLUYEquelosresultadosdelaspruebasdeTiemposdeOperacinyDiscrepanciaentrePolosson
ptimosyseencuentrandentrodelrangodeoperacinestablecidoenelprotocolodepruebasenfbrica:
SIEMENS,Circuitbreakerroutinetest8DA/DB,FactoryN831447,PanelN+H01,Date05.09.2012'.
SECONCLUYEqueelresultadodelaverificacinoperativadelMotordeRearmedeResorteescorrecto
SERECOMIENDAmantenerlosresultadosconsignadosaqucomoreferenciaparapruebasafuturo.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: JuanTarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 15/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
INTERRUPTORH01
Pag.8de9
REPORTEDELEQUIPODEPRUEBAS
+H01
ENERO,2013
Page 1 of 1
\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003\CELDA H2-H1
\A_RESISTENCIA DE CONTACTOS.xml:
Test Device:
CPC 100
Serial Number:
JH876Q (V1)
Date/Time:
01/16/2013 14:48:34
Overall assessment: n/a

Test Card Type
Date/Time
FASE R Resistance 01/16/2013 14:45:39 yes
n/a
no
FASE S Resistance 01/16/2013 14:47:13 yes
n/a
no
FASE T Resistance 01/16/2013 14:48:18 yes
n/a
no
Test Cards:
FASE R:
Card Type: Resistance
Date/Time: 01/16/2013 14:45:39
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.00 A
V DC:
340.97 mV
R:
3.4097 m
FASE S:
Date/Time: 01/16/2013 14:47:13
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.03 A
V DC:
347.82 mV
R:
3.4771 m
FASE T:
Date/Time: 01/16/2013 14:48:18
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.01 A
V DC:
364.89 mV
R:
3.6485 m
about:blank
1/25/2013
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Plant ID: CELDA +H01
Device Type:
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Manufacturer: SIEMENS
Built:
Close nom
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Component
No.
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
Contacto principal
V CIERRE
0.00
m/s
Contacto principal
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaC
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed CIE
83.5
83.0
83.0
ms
Contacto principal
BRK
DTI C
0.5
Contacto principal
OPS CIE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO CIE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC CIE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de cierre
I bobina CIE med
0.08
Date:
Tester:
15/01/2013 03:37:13
p.m.
KoCoS
ACTAS Advanced circuit breaker test system
ms
Signature:
KoCoS Messtechnik AG Sdring 42, D-34497 Korbach, Tel.: +49 (0)5631-9596 -0 Fax. -16
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name:S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 1om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
63.5
64.0
64.5
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
1.0
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.61
Date:
Tester:
15/01/2013 03:37:02
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 2om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.2 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
51.5
51.5
52.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
0.5
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.31
Date:
Tester:
15/01/2013 03:39:21
p.m.
KoCoS
ms
Signature:

GIS 42.5kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +H02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
Type
Cell No.
IL
Ratio
P1-P2 I1/A
200 100
200-100
I2/A
1
VA/Vk
10 5
10-5
Icont
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC454OLZI
+H02
12/80097575, 12/80097578, 11/80097576
0.72 / 3 kV
200-100 / 1 A
n/Rct
20
cl/I0
5P
Core
S1 S2 S3
S1-S2-S3
: 1.2*In
: 60 Hz
: IEC 60044-1
TC-T1

j
q )
Ajuste
de p
pernos y tuercas ((torque)
Identificacin y sealizacin
TAG
T1L1
TAG
T1L2
TAG
T1L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013

3.1) MEDICIN DE RELACIN DE TRANSFORMACIN Y VERIFICACIN DE POLARIDAD
TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
EVALUACIN
Relacin
Terica (A)
100/1
200/1
100/1
200/1
100/1
200/1
Relacin
Medida (A)
100/1.0239
200/1.0115
100/1 0231
100/1.0231
200/1.0118
100/1.0223
200/1.0115
Desviacin
(%)
2,39
1,15
2 31
2,31
1,18
2,23
1,15
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

Ensayo de exactitud
80097575
80097576
80097578
TC-T1
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
Relacin
Potencia
100/1
200/1
100/1
200/1
100/1
200/1
5 VA
10VA
5 VA
10VA
5 VA
10VA
100% In
Fi[%] i[min]
0 067 12,77
0,067
12 77
0,048 5,96
-0,016 9,40
0,008 4,18
-0,023 9,54
0,010 4,38
Pag. 2 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013

Accuracy class
0,1
0
1
0,2
0,5
1

below
current shown below
Minutes
Centiradians
5
20
100
120
5
20
100
120
5
20
100
120
04
0,4
02
0,2
01
0,1
01
0,1
15
8
5
5
0 45 0,24
0,45
0 24 0,15
0 15 0,15
0 15
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
Accuaracy class
Currentt error att rated

C
t d
primary current %
5P
10P
1
3

primary current
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10

TC-T1
Pag. 3 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013

TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
EVALUACIN
V inflexin
(V)
97,81
198,99
98,33
199,87
98 79
98,79
200,82
I inflexin
(mA)
239,35
118,51
249,47
123,16
239 99
239,99
118,78
APROBADO

M
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

N de serie
Clase
80097575
5P20
80097576
5P20
80097578
5P20
Terminales
Uemf[V]
Imax[A]
I@Uemf[mA]
S1-S2
S1-S3
S1-S2
S1-S3
S1-S2
S1-S3
103
206
103
206
103
206
1
1
1
1
1
1
365
166
357
165
375
173

off the
h transformer,
f
allll other
h terminals
i l being
b i open-circuited,
i i d which
hi h when
h iincreased
db
by 10 % causes the
h r.m.s.
TC-T1
Pag. 4 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013

a) Condiciones ambientales
Apreciacin Climtica
25
65
SOLEADO

U aplicada
Tiempo
p ((s))
(VDC)
500
60
CONEXIN
EVALUACIN
T1L1
2,45
Resistencia (G)
T1L2
T1L3
2,90
3,10
APROBADO

* Meghmetro
M
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
M
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
values obtained should be compared to manufacturers published data.
TC-T1
Pag. 5 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013

3.4) INYECCIN DE CORRIENTE PRIMARIA

TC
R
S
T

EN EL RELE (A)
PRUEBA (A)
100
100,32
100
100,19
100
100,41
EVALUACIN
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TC-T1
Pag. 6 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 17/01/2013
- Para la evaluacin de los resultados obtenidos se tomaron en cuenta valores tpicos especificados por
- SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Relacin de Transformacin y Polaridad es correcta
correcta. La
desviacin mxima cumple con lo indicado en la norma IEC 60044-1. La polaridad corresponde a las
marcas de fbrica.
entre fases.
- SE RECOMIENDA mantener
t
los
l resultados
lt d consignados
i d aqu como referencia
f
i para pruebas
b a ffuturo.
t
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 17/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T1
Pag. 7 de 7

CPC100

GIS 42.5kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +H02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:12:10
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:12:05 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:12:05
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
60 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
60.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
60.02 A
0.00
I sec.:
1.00204 A
0.14
Ratio:
60 A:1.0017 A 0.17 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/11/2013 15:46:48
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
88.58 V 1.1029 A
87.51 V 944.56 mA
85.89 V 767.50 mA
83.76 V 622.36 mA
81.11 V 521.66 mA
77.91 V 459.70 mA
74.22 V 420.38 mA
70.19 V 392.74 mA
65.99 V 369.79 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
200
V/V
61.67 V 348.39 mA 100

57.27 V 327.42 mA
52.84 V 306.38 mA 50
48.35 V 285.21 mA
43.84 V 263.73 mA
39.30 V 241.86 mA 20
34.73 V 219.72 mA
30.15 V 197.16 mA 10
25.57 V 173.95 mA
20.97 V 149.60 mA
5
16.37 V 123.25 mA
11.80 V 94.444 mA
7.21 V 61.947 mA
2
2.66 V 26.194 mA
I/A
1
100
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
1m
10m
100m
IEC/BS
76.85 V
448.29 mA
enabled
1/25/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:13:21
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:13:15 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:13:15
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
60 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
60.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
60.05 A
0.00
I sec.:
0.99761 A
0.78
Ratio:
60 A:0.9968 A -0.32 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/11/2013 15:47:57
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
87.16 V 1.0380 A
86.04 V 884.23 mA
84.36 V 717.98 mA
82.09 V 587.61 mA
79.09 V 503.14 mA
75.55 V 452.75 mA
71.61 V 418.22 mA
67.49 V 391.41 mA
63.24 V 367.67 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
200
58.90 V 345.25 mA
54.50 V 323.27 mA
50.03 V 301.19 mA
45.57 V 279.10 mA
41.05 V 256.60 mA
36.51 V 233.77 mA
31.95 V 210.66 mA
27.39 V 187.03 mA
22.82 V 162.58 mA
18.25 V 136.50 mA
13.67 V 108.27 mA
9.12 V 77.102 mA
4.53 V 42.121 mA
V/V
100
50
20
10
5
I/A
1
100
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
1m
10m
100m
IEC/BS
76.37 V
464.08 mA
enabled
1/25/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:14:50
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:14:40 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:14:40
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
60 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
60.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
60.07 A
0.00
I sec.:
1.00291 A
0.14
Ratio:
60 A:1.0017 A 0.17 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/11/2013 15:49:11
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
85.75 V 1.0329 A
84.53 V 887.60 mA
82.74 V 731.39 mA
80.39 V 604.70 mA
77.47 V 515.97 mA
74.13 V 458.42 mA
70.46 V 418.94 mA
66.60 V 389.04 mA
62.57 V 363.64 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
200
V/V
58.44 V 340.70 mA 100

54.24 V 318.74 mA
49.98 V 297.47 mA 50
45.68 V 276.26 mA
41.34 V 254.87 mA
36.98 V 233.30 mA 20
32.59 V 211.41 mA
28.18 V 189.07 mA 10
23.79 V 166.09 mA
19.37 V 141.88 mA
5
14.93 V 115.98 mA
10.54 V 87.746 mA
6.10 V 55.944 mA
2
1.72 V 20.340 mA
I/A
1
100
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
1m
10m
100m
IEC/BS
74.78 V
469.39 mA
enabled
1/25/2013

GIS 42.5kV
T2 (L1, L2, L3)

+H02
S E MOVIL 8DA10 SWICHGEAR 40.5/7.2kV_003

S.E.
40 5/7 2kV 003
ENERO, 2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
Type
Cell No.
IL
Ratio
P1-P2 I1/A
200 100
200-100
I2/A
1
VA/Vk
10 5
10-5
Icont
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC454OLZI
+H02
12/80097573, 12/80097574, 11/80097577
0.72 / 3 kV
200-100 / 1 A
n/Rct
20
cl/I0
5P
Core
S1 S2 S3
S1-S2-S3
: 1.2*In
: 60 Hz
: IEC 60044-1
TC-T2

Montaje
j electromecnico concluido
TAG
T2L1
TAG
T2L2
TAG
T2L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013

TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
EVALUACIN
Relacin
Terica (A)
100/1
200/1
100/1
200/1
100/1
200/1
Relacin
Medida (A)
100/1.0267
200/1.0131
100/1 0256
100/1.0256
200/1.0126
100/1.0252
200/1.0125
Desviacin
(%)
2,67
1,31
2 56
2,56
1,26
2,52
1,25
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

Ensayo de exactitud
80097573
80097574
80097577
TC-T2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
Relacin
Potencia
100/1
200/1
100/1
200/1
100/1
200/1
5 VA
10VA
5 VA
10VA
5 VA
10VA
100% In
Fi[%] i[min]
0 273 13,89
0,273
13 89
0,156 6,47
-0,109 14,15
-0,035 6,63
-0,016 8,85
-0,001 4,06
Pag. 2 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013

Accuracy class
0,1
0
1
0,2
0,5
1

below
current shown below
Minutes
Centiradians
5
20
100
120
5
20
100
120
5
20
100
120
04
0,4
02
0,2
01
0,1
01
0,1
15
8
5
5
0 45 0,24
0,45
0 24 0,15
0 15 0,15
0 15
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
Accuaracy class
Currentt error att rated

C
t d
primary current %
5P
10P
1
3

primary current
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10

TC-T2
Pag. 3 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013

TAG
T2L1
T2L2
T2L3
Arrollado
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
EVALUACIN
V inflexin
(V)
97,12
197,76
96,99
198,14
100 82
100,82
205,22
I inflexin
(mA)
249,47
123,58
254,34
127,49
236 77
236,77
118,15
APROBADO

M
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

N de serie
Clase
80097573
5P20
80097574
5P20
80097577
5P20
Terminales
Uemf[V]
Imax[A]
I@Uemf[mA]
S1-S2
S1-S3
S1-S2
S1-S3
S1-S2
S1-S3
103
206
103
206
103
206
1
1
1
1
1
1
396
179
402
181
357
153

off the
h transformer,
f
allll other
h terminals
i l being
b i open-circuited,
i i d which
hi h when
h iincreased
db
by 10 % causes the
h r.m.s.
TC-T2
Pag. 4 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013

Apreciacin Climtica
25
65
SOLEADO

U aplicada
Tiempo
p ((s))
(VDC)
500
60
CONEXIN
EVALUACIN
T1L1
2,20
Resistencia (G)
T1L2
T1L3
2,00
2,25
APROBADO

* Meghmetro
M
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
M
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
TC-T2
Pag. 5 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013


TC
R
S
T

EN EL RELE (A)
PRUEBA (A)
100
100,11
100
100,42
100
100,43
EVALUACIN
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TC-T2
Pag. 6 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013
TC-T2
Pag. 7 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T2
L1, L2, L3
A
FECHA : 11/01/2013
marcas de fbrica.
entre fases.
- SE RECOMIENDA mantener los resultados consignados aqu como referencia para pruebas a futuro.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 11/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T2
Pag. 8 de 8

CPC100

GIS 42.5kV
T2 (L1, L2, L3)

+H02

S.E.
40 5/7 2kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 3
\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR

40.5KV_S.E. 003\CELDA H02\TC-T2_PROTECCION\FASE L1.xml:
Test Device:
CPC 100
Serial Number:
JH876Q (V1)
Date/Time:
01/18/2013 09:52:37

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 09:51:47 yes
n/a
no
01/18/2013 09:52:31 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
EXIT_S1-S3
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 09:51:47
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
100 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
100.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
99.65 A
0.00
I sec.:
1.02315 A
0.16
Ratio:
100 A:1.0267 A 2.67 %
Polarity:
OK
Relacin_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 09:52:31
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
200 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 3
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
200.0 A
yes
197.64 A
0.00
1.00110 A
0.02
200 A:1.0131 A 1.31 %
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTExcitation
01/17/2013 11:50:16
no
n/a
V max:
200.0 V
I max:
1.00000 A
Frequency: 60.00 Hz
Automatic: yes
Results:
V/V
V
I
200
117.35 V 1.1082 A
116.04 V 913.11 mA
100
114.02 V 700.18 mA
111.32 V 526.04 mA
107.98 V 399.96 mA 50
104.00 V 316.43 mA
99.51 V 265.10 mA
20
94.66 V 233.92 mA
89.51 V 213.41 mA
84.25 V 198.24 mA 10
78.85 V 185.43 mA
73.36 V 173.96 mA
5
67.80 V 163.28 mA
62.22 V 152.94 mA
2
56.61 V 142.53 mA
51.00 V 131.88 mA
45.37 V 121.19 mA
1
39.71 V 110.35 mA
100
34.04 V 99.188 mA
28.37 V 87.566 mA
22.69 V 75.073 mA
17.03 V 61.305 mA
11.38 V 45.783 mA
5.71 V 27.618 mA
1.05 V 8.3140 mA
I/A
1m
10m
100m
Kneepoint calculation: IEC/BS

V knee:
97.12 V
I knee:
249.47 mA
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
Noise suppression:
enabled
EXIT_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTExcitation
01/17/2013 11:51:46
no
n/a
V max:
400.0 V
I max:
1.00000 A
Frequency: 60.00 Hz
Automatic: yes
Results:
V/V
V
I
245.21 V 1.0991 A
242.21 V 768.73 mA 200
237.15 V 472.61 mA
229.67 V 295.49 mA 100
220.50 V 201.02 mA
210.32 V 151.45 mA 50
199.60 V 126.05 mA
188.58 V 111.68 mA
177.35 V 102.36 mA 20
165.99 V 95.152 mA
154.60 V 88.911 mA 10
143.16 V 83.251 mA
5
131.71 V 77.886 mA
120.23 V 72.696 mA
108.76 V 67.617 mA
2
97.29 V 62.447 mA
85.81 V 57.111 mA
1
74.31 V 51.547 mA
100
62.82 V 45.905 mA
51.34 V 39.944 mA
39.85 V 33.422 mA
28.35 V 26.185 mA
16.85 V 17.843 mA
5.36 V 7.9740 mA
1.18 V 2.9890 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
197.76 V
I knee:
123.58 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 09:54:59
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 09:54:16 yes
n/a
no
01/18/2013 09:54:53 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
EXIT_S1-S3
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 09:54:16
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
100 A
1.000 A
60.00 Hz
100.0 A
yes
99.98 A
0.00
1.02535 A
0.27
100 A:1.0256 A 2.56 %
OK
Relacin_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 09:54:53
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
200 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.96 A
0.00
1.01242 A
0.06
200 A:1.0126 A 1.26 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 11:53:35
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
116.12 V 1.0307 A
114.74 V 839.71 mA
100
112.63 V 637.39 mA
109.79 V 478.19 mA
106.23 V 368.51 mA 50
102.05 V 299.35 mA
97.40 V 256.63 mA
20
92.45 V 229.33 mA
87.25 V 210.36 mA
81.95 V 195.90 mA 10
76.50 V 183.49 mA
70.97 V 172.37 mA
5
65.41 V 161.85 mA
59.81 V 151.56 mA
2
54.19 V 141.15 mA
48.56 V 130.63 mA
42.92 V 119.98 mA
1
37.25 V 109.07 mA
100
31.57 V 97.768 mA
25.87 V 85.819 mA
20.19 V 72.858 mA
14.52 V 58.475 mA
8.85 V 41.862 mA
3.19 V 21.745 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
96.99 V
I knee:
254.34 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 11:55:16
no
n/a
400.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
242.94 V 1.0001 A
239.69 V 696.03 mA
234.27 V 424.08 mA
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
V/V
226.55 V 265.80 mA
217.18 V 185.53 mA
206.86 V 145.13 mA 200
196.13 V 123.63 mA
185.11 V 110.63 mA 100
173.93 V 101.73 mA
162.64 V 94.674 mA 50
151.30 V 88.669 mA
139.92 V 83.212 mA
128.52 V 78.005 mA 20
117.11 V 73.005 mA
105.70 V 68.021 mA 10
94.28 V 62.890 mA
5
82.86 V 57.457 mA
71.44 V 51.891 mA
60.01 V 46.220 mA
2
48.58 V 40.217 mA
37.16 V 33.625 mA
1
25.71 V 26.263 mA
100
14.28 V 17.649 mA
2.88 V 6.8340 mA
1.15 V 4.1250 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
198.14 V
I knee:
127.49 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 09:56:58
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 09:56:13 yes
n/a
no
01/18/2013 09:56:52 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
EXIT_S1-S3
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 09:56:13
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
100 A
1.000 A
60.00 Hz
100.0 A
yes
99.73 A
0.00
1.02239 A
0.27
100 A:1.0252 A 2.52 %
OK
Relacin_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 09:56:52
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
200 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
197.81 A
0.00
1.00138 A
0.07
200 A:1.0125 A 1.25 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 11:57:18
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
120.28 V 1.1137 A
119.15 V 903.34 mA
100
117.31 V 674.08 mA
114.73 V 490.72 mA
111.30 V 363.09 mA 50
107.02 V 285.42 mA
102.15 V 243.10 mA
20
96.91 V 218.67 mA
91.45 V 202.52 mA
85.86 V 189.62 mA 10
80.13 V 178.47 mA
74.32 V 168.13 mA
5
68.45 V 158.20 mA
62.59 V 148.26 mA
2
56.70 V 138.14 mA
50.78 V 127.88 mA
44.86 V 117.48 mA
1
38.92 V 106.86 mA
100
32.97 V 95.843 mA
27.01 V 84.199 mA
21.07 V 71.526 mA
15.14 V 57.343 mA
9.20 V 40.931 mA
3.29 V 21.400 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
100.82 V
I knee:
236.77 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 11:58:52
no
n/a
400.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
249.78 V 1.0670 A
246.76 V 719.45 mA
241.71 V 414.64 mA
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
V/V
233.95 V 245.91 mA
224.08 V 165.56 mA
213.06 V 129.84 mA 200
201.57 V 112.93 mA
189.87 V 103.06 mA 100
178.02 V 95.984 mA
166.09 V 89.905 mA 50
154.12 V 84.474 mA
142.14 V 79.412 mA
130.15 V 74.461 mA 20
118.12 V 69.618 mA
106.12 V 64.702 mA 10
94.11 V 59.499 mA
5
82.08 V 54.122 mA
70.06 V 48.675 mA
58.02 V 43.027 mA
2
45.99 V 36.895 mA
33.95 V 30.159 mA
1
21.93 V 22.410 mA
100
9.89 V 13.330 mA
1.14 V 4.3190 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
205.22 V
I knee:
118.15 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013

GIS 42.5kV
T3 (L1, L2, L3)

+H02

S.E.
40 5/7 2kV 003
ENERO, 2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
f
Type
Cell No.
IL
Ratio
P1-P2 I1/A
200-100
I2/A
1
VA
10-5
Ith
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC4 10 ZEK
+H02
12/06993 02, 12/06993 02, 11/06993 03
0.72 / 3 kV
200-100 / 1 A
cl
0.2FS10
Core
S1-S2-S3
: 40 kA; 3s
: 60 Hz
: IEC 60044-1
TC-T3

TAG
T3L1
TAG
T3L2
TAG
T3L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013

3.1)) MEDICIN
DE RELACIN
DE TRANSFORMACIN
Y VERIFICACIN
DE POLARIDAD
TAG
T3L1
T3L2
T3L3
Arrollado
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
EVALUACIN
Relacin
Terica (A)
100/1
200/1
100/1
200/1
100/1
200/1
Relacin
Medida (A)
100/1.0003
200/0.9996
100/1.0003
200/0.9995
100/1.0003
200/0.9996
Desviacin
(%)
0,03
-0,04
0,03
-0,05
0,03
-0,04
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

Ensayo de exactitud
Relacin
1S1 - 1S2
100/1
0.2FS10
1S1 - 1S3
200/1
0.2FS10
06994 01
TC-T3
In[%]
120
100
20
5
120
100
20
5
5VA Cos=0.8 12.5VA Cos=1

p[%]
-0,020
-0,031
-0,129
-0,153
-0,012
-0,017
-0,066
066
-0
-0,078
D[min]
-0,700
-0,400
5,100
10,10
-0,300
-0,200
2 600
2,600
5,20
p[%] D[min]
0,123 2,10
0,123 2,30
0,144 4,00
0,149 4,50
0,058 1,00
0,059 1,10
0 070 2,10
0,070
2 10
0,073 2,30
Pag. 2 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
Relacin
1S1 - 1S2
100/1
0.2FS10
1S1 - 1S3
200/1
0.2FS10
1S1 - 1S2
100/1
0.2FS10
1S1 - 1S3
200/1
0.2FS10
06994 02
06994 03
In[%]
120
100
20
5
120
100
20
5
120
100
20
5
120
100
20
5
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013
5VA Cos=0.8 12.5VA Cos=1

p[%]
0,041
-0,041
-0,056
-0,176
-0,192
-0,025
-0,320
-0,090
-0,097
-0 035
-0,035
-0,045
-0,139
-0,157
-0,020
-0,025
-0,071
-0,080
D[min]
-0,700
0,700
-0,300
6,400
12,10
0,000
0,100
3,500
6,20
0 300
0,300
0,500
6,100
10,60
0,300
0,300
3,100
5,40
p[%] D[min]
0,118 2,60
0,119 2,90
0,144 4,60
0,148 5,00
0,056 1,30
0,056 1,50
0,070 2,50
0,073 2,70
0 125 2,50
0,125
2 50
0,125 2,60
0,144 4,10
0,148 4,40
0,059 1,20
0,060 1,30
0,070 2,20
0,073 2,40

Accuracy class
0,1
0,2
0,5
1

below
current shown below
Minutes
Centiradians
5
20
100
120
5
20
100
120
5
20
100
120
0,4
0,2
0,1
0,1
15
8
5
5
0,45 0,24 0,15 0,15
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
TC-T3
Accuaracy class

primary current %
5P
10P
1
3

primary current
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10
Pag. 3 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013

7 Inspections and Test Procedures, 7.10 Instrument Transformers,
f
3 Test Values,

TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S3
EVALUACIN
V inflexin
(V)
23,75
47,60
23,73
47,24
23,75
47,69
I inflexin
(mA)
6,4970
3,2880
6,4800
3,2270
6,6550
3,3850
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

No se tiene protocolos de fabrica.

TC-T3
Pag. 4 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013

Apreciacin Climtica
25
65
SOLEADO

U aplicada
p
Tiempo (s)
(VDC)
500
60
CONEXIN
EVALUACIN
T1L1
2,29
Resistencia ((G))
T1L2
T1L3
3,20
2,85
APROBADO

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo
Termo-higrmetro
higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
TC-T3
Pag. 5 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013

f
3 Test Values,
a)) Resultado de las p
pruebas
TC
R
S
T

EN EL MEDIDOR (A)
PRUEBA (A)
100
100,05
100
100,04
100
100,01
EVALUACIN
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TC-T3
Pag. 6 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013
el ffabricante ((SIEMENS)) y criterios de aceptacin
recomendados en normas internacionales.
TC-T3
Pag. 7 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

T3
L1, L2, L3
A
FECHA : 04/01/2013
desviacin
mxima

marcas de fbrica.
entre fases.
g
p
p
aqu
pruebas a futuro.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 04/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T3
Pag. 8 de 8

CPC100

GIS 42.5kV
T3 (L1, L2, L3)

+H02

S.E.
40 5/7 2kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 3

\CELDA H02\TC-T3_MEDICION\FASE L1.xml:
Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:01:07
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:00:15 yes
n/a
no
01/18/2013 10:01:02 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
EXIT_S1-S3
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:00:15
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
100 A
1.000 A
60.00 Hz
100.0 A
yes
99.65 A
0.00
0.99675 A
-0.03
100 A:1.0003 A 0.03 %
OK
Relacin_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:01:02
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
200 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
197.67 A
0.00
0.98792 A
-0.04
200 A:0.9996 A -0.04 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 12:00:48
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
30.56 V 1.0577 A
30.56 V 1.0005 A
100
30.40 V 942.61 mA
30.07 V 885.93 mA
30.08 V 827.30 mA 50
30.06 V 769.65 mA
29.68 V 696.71 mA
20
29.41 V 524.59 mA
29.19 V 396.00 mA
28.98 V 293.98 mA 10
28.72 V 209.01 mA
28.46 V 136.25 mA
5
28.24 V 76.514 mA
27.90 V 31.887 mA
2
27.05 V 13.228 mA
25.81 V 8.7510 mA
24.50 V 7.0240 mA
1
23.18 V 6.1040 mA
100
21.84 V 5.5230 mA
20.49 V 5.0930 mA
19.14 V 4.7550 mA
17.80 V 4.4550 mA
16.46 V 4.1810 mA
15.11 V 3.9210 mA
13.76 V 3.6610 mA
12.42 V 3.4140 mA
11.07 V 3.1620 mA
9.74 V 2.9040 mA
8.38 V 2.6440 mA
7.05 V 2.3730 mA
5.70 V 2.0670 mA
4.36 V 1.7370 mA
3.02 V 1.3600 mA
1.72 V 913.00 A
1.23 V 699.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
23.75 V
I knee:
6.4970 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
about:blank
CTExcitation
01/17/2013 12:02:02
no
1/25/2013
Page 3 of 3
Assessment: n/a
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
59.84 V 1.1005 A
59.63 V 0.98796 A
100
59.02 V 813.22 mA
58.56 V 626.20 mA
58.16 V 447.86 mA 50
57.74 V 291.61 mA
57.24 V 159.33 mA
20
56.61 V 56.389 mA
55.13 V 9.1890 mA
52.34 V 4.8720 mA 10
49.51 V 3.6670 mA
46.65 V 3.1110 mA
5
43.81 V 2.7810 mA
40.93 V 2.5530 mA
2
38.08 V 2.3730 mA
35.21 V 2.2150 mA
32.37 V 2.0700 mA
1
29.49 V 1.9310 mA
100
26.64 V 1.7940 mA
23.78 V 1.6580 mA
20.91 V 1.5220 mA
18.05 V 1.3850 mA
15.18 V 1.2370 mA
12.31 V 1.0810 mA
9.45 V 911.00 A
6.58 V 721.00 A
3.73 V 495.00 A
1.26 V 208.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
47.60 V
I knee:
3.2880 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:02:47
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:02:07 yes
n/a
no
01/18/2013 10:02:42 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
EXIT_S1-S3
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:02:07
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
100 A
1.000 A
60.00 Hz
100.0 A
yes
99.98 A
0.00
1.00005 A
-0.06
100 A:1.0003 A 0.03 %
OK
Relacin_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:02:42
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
200 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.96 A
0.00
0.99935 A
-0.03
200 A:0.9995 A -0.05 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 12:07:19
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
30.58 V 1.0204 A
30.48 V 0.96088 A
100
30.16 V 902.14 mA
30.07 V 841.96 mA
30.09 V 782.27 mA 50
29.69 V 683.05 mA
29.41 V 527.14 mA
20
29.18 V 405.30 mA
28.98 V 303.07 mA
28.75 V 215.49 mA 10
28.46 V 139.48 mA
28.24 V 77.252 mA
5
27.89 V 31.257 mA
26.98 V 12.744 mA
2
25.68 V 8.5410 mA
24.34 V 6.8800 mA
22.96 V 5.9910 mA
1
21.57 V 5.4230 mA
100
20.18 V 5.0060 mA
18.80 V 4.6720 mA
17.40 V 4.3750 mA
16.01 V 4.0910 mA
14.62 V 3.8250 mA
13.23 V 3.5620 mA
11.84 V 3.3020 mA
10.45 V 3.0390 mA
9.06 V 2.7710 mA
7.68 V 2.4920 mA
6.28 V 2.1980 mA
4.90 V 1.8740 mA
3.53 V 1.5060 mA
2.14 V 1.0740 mA
1.24 V 700.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
23.73 V
I knee:
6.4800 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
CTExcitation
01/17/2013 12:08:41
no
n/a
200.0 V
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
I max:
1.00000 A
Frequency: 60.00 Hz
Automatic: yes
Results:
V/V
V
I
200
60.04 V 1.1266 A
59.60 V 1.0195 A
100
59.04 V 850.61 mA
58.63 V 669.39 mA
58.18 V 494.08 mA 50
57.82 V 337.03 mA
57.42 V 202.94 mA
20
56.90 V 91.644 mA
56.10 V 20.053 mA
53.68 V 6.0210 mA 10
50.95 V 4.2110 mA
48.23 V 3.3710 mA
5
45.48 V 2.9810 mA
42.74 V 2.6910 mA
2
40.00 V 2.4880 mA
37.23 V 2.3230 mA
34.48 V 2.1770 mA
1
31.73 V 2.0390 mA
100
28.99 V 1.9050 mA
26.22 V 1.7750 mA
23.48 V 1.6450 mA
20.72 V 1.5130 mA
17.97 V 1.3780 mA
15.22 V 1.2380 mA
12.47 V 1.0890 mA
9.70 V 926.00 A
6.95 V 747.00 A
4.21 V 538.00 A
1.53 V 249.00 A
1.26 V 211.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
47.24 V
I knee:
3.2270 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:04:38
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/18/2013 10:03:59 yes
n/a
no
01/18/2013 10:04:32 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
EXIT_S1-S3
n/a
no
Test Cards:
Relacin_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:03:59
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
100 A
1.000 A
60.00 Hz
100.0 A
yes
99.74 A
0.00
0.99773 A
-0.04
100 A:1.0003 A 0.03 %
OK
Relacin_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/18/2013 10:04:32
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
200 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
197.83 A
0.00
0.98873 A
-0.04
200 A:0.9996 A -0.04 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 12:10:05
no
n/a
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
30.45 V 1.0213 A
30.37 V 0.96324 A
100
30.07 V 905.58 mA
29.92 V 847.63 mA
29.97 V 789.52 mA 50
29.71 V 729.26 mA
29.30 V 569.19 mA
20
29.04 V 436.45 mA
28.85 V 329.65 mA
28.67 V 239.87 mA 10
28.46 V 162.00 mA
28.18 V 96.280 mA
5
27.93 V 45.977 mA
27.31 V 17.194 mA
2
26.12 V 9.9460 mA
24.82 V 7.5930 mA
23.48 V 6.4330 mA
1
22.14 V 5.7300 mA
100
20.80 V 5.2490 mA
19.44 V 4.9030 mA
18.08 V 4.5470 mA
16.74 V 4.2820 mA
15.38 V 4.0290 mA
14.04 V 3.7680 mA
12.67 V 3.5140 mA
11.32 V 3.2580 mA
9.97 V 3.0050 mA
8.62 V 2.7500 mA
7.25 V 2.4690 mA
5.90 V 2.1670 mA
4.57 V 1.8390 mA
3.21 V 1.4630 mA
1.90 V 1.0090 mA
1.25 V 714.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
23.75 V
I knee:
6.6550 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_S1-S3:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
about:blank
CTExcitation
01/17/2013 12:11:15
no
n/a
1/25/2013
Page 3 of 3
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
200.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
200
60.06 V
1.1780 A
59.39 V
1.0703 A
100
59.21 V 907.28 mA
58.76 V 730.06 mA
58.32 V 556.99 mA 50
57.86 V 398.73 mA
57.29 V 260.14 mA
20
56.95 V 143.61 mA
56.36 V 52.467 mA
54.98 V 9.6080 mA 10
52.43 V 5.0500 mA
49.81 V 3.8530 mA
5
47.18 V 3.2780 mA
44.56 V 2.9030 mA
2
41.92 V 2.6510 mA
39.27 V 2.4610 mA
36.62 V 2.3070 mA
1
33.99 V 2.1690 mA
100
31.35 V 2.0380 mA
28.72 V 1.9100 mA
26.07 V 1.7860 mA
23.43 V 1.6630 mA
20.80 V 1.5410 mA
18.14 V 1.4140 mA
15.50 V 1.2790 mA
12.86 V 1.1360 mA
10.22 V 0.98600 mA
7.56 V 815.00 A
4.94 V 616.00 A
2.33 V 361.00 A
1.26 V 213.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
47.69 V
I knee:
3.3850 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
TRANSFORMADOR DE TENSIN 40.5kV

PT (1, 2, 3)

CELDA +H02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
PROTOCOLO DE PRUEBAS PRE OPS

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 04/01/2013
1) DATOS DE PLACA
TRANSFORMADOR DE TENSIN
Manufacturer
f
Type
IL
A-N
Sn (VA)
Cl.
Serial (PT1, PT2, PT3)
q
Freq
TT T15
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MT34
24/50/125
22900/(110/3 /110/3)V
15 VA
0.2
12 07068 01/12 07068 02/12 07068 03
60 Hz
Pag. 1 de 6

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 04/01/2013
TT T15

Sistema de insercin/extraccin operativo
Fusibles primarios en buen estado
Fusibles secundarios en buen estado
Conectores primarios en buen estado
Conectores secundarios en buen estado
Hermeticidad del compartimiento (celda)
Pintura en buen estado
TAG
PT1
TAG
PT2
TAG
PT3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 2 de 6

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 04/01/2013

( ADJUNTAN REPORTES DE PRUEBA))
(SE
TAG
Arrollado
Relacin Terica
(A)
Relacin Terica (A)
a-n
da-dn
a-n
da-dn
a-n
da-dn
22900:3/110:3
22900:3/110:3
22900:3/110:3
22900:3/110:3
22900:3/110:3
22900:3/110:3
22900:3/109.7610:3
22900:3/108.7054:3
22900:3/109.7986:3
22900:3/108.73187:3
22900:3/109.6770:3
22900:3/108.6067:3
T1L1
T1L2
T1L3
Desviacin
(%)
-0,22
-1,18
-0,55
-1,47
0,29
1,27
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Apreciacin Climtica
25
13
SOLEADO

CONEXIN
Primario Vs. Arrollado 1

Arrollado 1 Vs. Masa (Tierra)
Arrollado 1Vs.Arrollado 2
EVALUACIN
U aplicada
Tiempo (s)
(VDC)
5000
60
5000
60
500
60
500
60
500
60
PT1
1,50
2,25
3,50
2,20
3,10
Resistencia (G)
PT2
1,85
1,45
3,80
1,90
5,40
PT3
2,10
2,40
2,10
2,20
5,50
APROBADO

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

TT T15
Pag. 3 de 6

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 04/01/2013

Table 100.5 Transformer
f
Insulation Resistance Acceptance Testing
Transformer Coil
Rating Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000
Recommended Minimum Insulation

Resistance in Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
500
1000
5000
5000
25000
(ANSI/NETA ATS
ATS-2009)
2009)
3.2.2 Test Values - Voltage Tranformers - Electrical
3 4) INYECCIN DE TENSION PRIMARIO

3.4)
TC
R
S
T
TENSIONDE
PRUEBA (kV)
1,0
1,0
10
1,0
EVALUACIN
TENSION OBTENIDO EN TENSION OBTENIDO EN

EL RELE (kV)
EL MEDIDOR(kV)
1,00
1,00
1,00
1,00
1 00
1,00
1 00
1,00
APROBADO

* Unidad
d d de
d Pruebas
b Primarias
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TT T15
Pag. 4 de 6

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 04/01/2013
- Para la evaluacin
de los resultados obtenidos se tomaron en cuenta criterios de aceptacin
en normas
internacionales.
TT T15
Pag. 5 de 6

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +H02

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 04/01/2013
- SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Resistencia de Aislamiento es
ptimo y cumple con el
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
SUPERVISIN
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Percy Rafaile
Nombre
Nombre
Fecha
: 04/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TT T15
Pag. 6 de 6

CPC100

PT (1, 2, 3)

CELDA +H02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 1

\CELDA H02\TT T15\FASE L1.xml:
Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:30:43
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION a-n VTRatio 01/18/2013 10:29:12 yes
n/a
no
RELACION da-dn VTRatio 01/18/2013 10:30:35 yes
n/a
no
Test Cards:
RELACION a-n:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/18/2013 10:29:12
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
22900/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.93 V
0.00
V sec.:
478.97 mV
0.24
Ratio:
22900/3 V:109.7610/3 V -0.22 %
Polarity:
OK
RELACION da-dn:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/18/2013 10:30:35
no
n/a
Range:
Nominal values:
V prim.:
V sec.:
Frequency:
V test:
Automatic:
Results:
V prim.:
V sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 2kV
22900/3 V
110.0/3 V
60.00 Hz
100.0 V
yes
100.10 V
0.00
274.34 mV
0.21
22900/3 V:108.7054/3 V -1.18 %
OK
1/25/2013
Page 1 of 1

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:33:10
n/a

Test Card
Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION a-n:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/18/2013 10:32:07
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
22900/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
100.00 V
0.00
V sec.:
479.47 mV
0.21
Ratio:
22900/3 V:109.7986/3 V -0.18 %
Polarity:
OK
RELACION da-dn:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/18/2013 10:33:06
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
22900/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.99 V
0.00
V sec.:
274.11 mV
0.20
Ratio:
22900/3 V:108.7318/3 V -1.15 %
Polarity:
OK
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 1

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/18/2013 10:35:24
n/a

Test Card
Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION a-n:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/18/2013 10:34:25
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
22900/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.97 V
0.00
V sec.:
478.79 mV
0.26
Ratio:
22900/3 V:109.6770/3 V -0.29 %
Polarity:
OK
RELACION da-dn:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/18/2013 10:35:18
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
22900/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.97 V
0.00
V sec.:
273.73 mV
0.25
Ratio:
22900/3 V:108.6067/3 V -1.27 %
Polarity:
OK
about:blank
1/25/2013
+H02
ENERO,2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
1)DATOSDEPLACA
Fabricante
Tipo
NdeSerie
Ao de Fabricacin
AodeFabricacin
CeldaN
Norma
Ir
Imxa35C
fr
Ur
Ud
Up
tk
Clase
Ua
p
IACAFL
CajadelEmbarradoPre
LlenadodeSF6
Fabricadoen
INTERRUPTORH02
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
8DA10
CV831447000060/001
00043539
2012
+H01
IEC622711/100/102/200
1250A
1290A
60Hz
40.5kV
80kV
200kV
104/40kA
3s
O0.3sCO3minCO
E2M2C2
M1
DC125V,AC230V
5C/+55C
/
40kA1s
:
:
:
:
:
120kPa
120kPa
2.3kg
Alemania
8619272.9
Pag.2de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
p
INTERRUPTORH02
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag.3de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
H
HumedadRelativa(%)
d d R l ti (%)
ApreciacinClimtica
25
68
SOLEADO
CONEXIN
Entrada Vs Salida
EntradaVs.Salida
EVALUACIN
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
5000
60
5000
60
5000
60
L1
53.0
159 0
159.0
32.0
Resistencia(G)
L2
L3
47.0
69.0
167 0
165
0
167.0
165.0
46.0
30.0
APROBADO
*Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No.Serie
: 1000380/110611/2058
*Termohigrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No.Serie
: 99440230
HumedadRelativa(%)
ApreciacinClimtica
26
67
SOLEADO
FASE
CONEXIN
IDC(A)
VDC(mV)
L1
L2
L3
B
+S i
d +I t
t +C bl F
100 00
100.00
100.03
100.01
340 970
340.970
347.820
364.890
EVALUACIN
INTERRUPTORH02
Rmedida
(m)
3 410
3.410
3.477
3.649
APROBADO
Pag.4de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
No.Serie
: JH876Q
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
77.00
0.09
77.50
0.5
77.50
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
60.00
0.31
60.00
0.0
60.00
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
51.00
0.17
51.00
0.0
51.00
EVALUACIN
APROBADO
CIERRE
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA 1
APERTURA1
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA2
Marca
: KOCOS
Tipo
: ACTASP3
No.Serie
: 21708091201
INTERRUPTORH02
Pag.5de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
(SIEMENS,Circuitbreakerroutinetest8DA/DB,FactoryN831448,PanelN+H01,Date05.09.2012)
Closeoperationspeed
Openoperationspeed
1.16m/s
1.53m/s
Tolerances
1.101.70m/s
1.101.80m/s
Closeoperationtime
OpenoperationtimeY1
OpenoperationtimeY2
78.50ms
56.80ms
49.20ms
6095ms
4565ms
3555ms
Passingcontacttime
162.60ms
8200ms
Contacttravel
Max over swing
Max.overswing
Max.forwardswing
Contactsysnchronism
21.08mm
1 96 mm
1.96mm
1.77mm
0.50ms
1822mm
0 3mm
3 mm
0
04mm
<2ms
Closeoperation
Contactbouncetime
Singlecontacttime
Nofbounces
L1
2.00ms
0.70ms
1times
L2
2.50ms
0.90ms
2times
L3
Tolerances
5.70ms
<=7ms
1.00ms
<=2ms
2times
<=3times
Openoperation
Nofbounces
L1
0times
L2
0times
L3
0times
INTERRUPTORH02
Tolerances
<=0times
Pag.6de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
Lamedicinderesistenciadecontactoserealizconloscablesdefuerzaconectado,quecomprende
cabledefuerza,seccionadordecadaceldaylabarra.
INTERRUPTORH02
Pag.7de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+H02
+H02
A
FECHA : 15/01/2013
SIEMENS,Circuitbreakerroutinetest8DA/DB,FactoryN831447,PanelN+H02,Date05.09.2012'.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: JuanTarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 15/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
INTERRUPTORH02
Pag.8de9
+H02
ENERO,2013
Page 1 of 1
\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003\CELDA H2-H1
\A_RESISTENCIA DE CONTACTOS.xml:
Test Device:
CPC 100
Serial Number:
JH876Q (V1)
Date/Time:
01/16/2013 14:48:34

Test Card Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
FASE R:
Date/Time: 01/16/2013 14:45:39
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.00 A
V DC:
340.97 mV
R:
3.4097 m
FASE S:
Date/Time: 01/16/2013 14:47:13
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.03 A
V DC:
347.82 mV
R:
3.4771 m
FASE T:
Date/Time: 01/16/2013 14:48:18
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.01 A
V DC:
364.89 mV
R:
3.6485 m
about:blank
1/25/2013
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
Close nom
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Component
No.
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
Contacto principal
V CIERRE
0.00
m/s
Contacto principal
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaC
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed CIE
77.0
77.5
77.5
ms
Contacto principal
BRK
DTI C
0.5
Contacto principal
OPS CIE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO CIE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC CIE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de cierre
I bobina CIE med
0.09
Date:
Tester:
15/01/2013 03:24:23
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 1om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.5 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
60.0
60.0
60.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
0.0
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.31
Date:
Tester:
15/01/2013 03:24:06
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 2om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.2 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
51.0
51.0
51.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
0.0
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.17
Date:
Tester:
15/01/2013 03:26:42
p.m.
KoCoS
ms
Signature:

GIS 7.2kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +K01

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
L1, L2, L3
: 17/01/2013
FECHA
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
f
Type
Cell No.
IL
Ratio
/
P1-P2 I1/A
400
400
/
I2/A
1
1
/
VA/Vk
5
5
Icont
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC454OLZI
+K01
12/80097607, 12/80097608, 11/80097603
0.72 / 3 kV
400 / 1 A
/
n/Rct
20
Fs10
/0
cl/I
5P
0,2
Core
1S1-1S2
1S1-1S2
: 1.2*In
: 60 Hz
: IEC 60044-1
TC-T1

Datos
D t d
de placa
l
correctos
t
TAG
T1L1
TAG
T1L2
TAG
T1L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013

3 1) MEDICIN DE RELACIN DE TRANSFORMACIN Y VERIFICACIN DE POLARIDAD
3.1)
TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
EVALUACIN
Relacin
Terica (A)
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
Relacin
Medida (A)
400/1.0023
400/1.0002
400/1 0002
400/1.0020
400/0.9998
400/1.0008
400/0.9999
Desviacin
(%)
0,23
0
0,02
02
0,20
-0,02
0,08
-0,01
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
c)) Valores obtenidos en pruebas

p
de fbrica
Ensayo de exactitud
80097603
80097607
80097608
TC-T1
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
Relacin
Potencia
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
5 VA
5VA
5 VA
5 VA
5 VA
5 VA
5% In
20% In
100% In
Fi[%] i[min] Fi[%] i[min] Fi[%] i[min]
0,117 6,28
-0,271 21,45 -0,246 8,06 -0,036 0,31
0,118 6,71
-0,111 14,86
0,146 3,22
-0,101 15,24
120% In
Fi[%] i[min]
-0,016
0,00
0,028
0,25
0,047
0,62
Pag. 2 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013

Table 11 - Limits off current error and phase displacement ffor measuring current transformers
f
Accuracy class
0,1
0,2
0,5
1

below
current shown below
Minutes
Centiradians
120
5
20
100
120
5
20
100
120
5
20
100
0,4
0,2
0,1
0,1
15
8
5
5
0,45 0,24 0,15 0,15
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
Accuaracy class

primary current %
5P
10P
1
3
Ph
Phase
displacement
di l
t att rated
t d C
Compsite
it error att rated
t d
primary current
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10

TC-T1
Pag. 3 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013

a)) Resultado de las pruebas
TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
EVALUACIN
V inflexin
(V)
113,17
22,86
111,72
19,80
109,74
19,80
I inflexin
(mA)
62,218
7,624
59,102
6,6480
84,755
6,5460
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

N de serie
Clase
Terminales
Uemf[V]
Imax[A]
I@Uemf[mA]
80097603
80097607
5P20
5P20
5P20
1S1 - 1S2
1S1 - 1S2
122
122
122
1
1
1
94,4
86,8
101
80097608
1S1 - 1S2

TC-T1
Pag. 4 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013

Apreciacin Climtica
25
65
SOLEADO

U aplicada
p
Tiempo (s)
(VDC)
500
60
CONEXIN
EVALUACIN
T1L1
2,20
Resistencia ((G))
T1L2
T1L3
2,10
1,80
APROBADO

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo
Termo-higrmetro
higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
TC-T1
Pag. 5 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013

f
3 Test Values,

TC
R
S
T
CORRIENTE DE CORRIENTE OBTENIDO CORRIENTE OBTENIDO EN

EL MEDIDOR (A)
PRUEBA (A)
EN EL RELE (A)
100
100,32
100,12
100
100,34
100,09
100
100,32
100,05
EVALUACIN
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TC-T1
Pag. 6 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013
el ffabricante ((SIEMENS)) y criterios de aceptacin
recomendados en normas internacionales.
TC-T1
Pag. 7 de 8
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
k01
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 17/01/2013
desviacin
mxima

marcas de fbrica.
entre fases.
g
p
p
aqu
pruebas a futuro.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 17/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T1
Pag. 8 de 8

CPC100

GIS 7.2kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +K01

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 3

\CELDA -K01\TC-T1\FASE L1.xml:
Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 15:47:39
n/a

Test Card
Type
Date/Time
Relacin_1S1-1S2 CTRatio
01/17/2013 15:28:02 yes
n/a
no
01/17/2013 15:29:15 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
EXIT_2S1-2S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:28:02
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.98 A
0.00
501.12 mA
0.35
400 A:1.0023 A 0.23 %
OK
Relacin_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:29:15
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
200.00 A
0.00
500.09 mA
0.00
400 A:1.0002 A 0.02 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 15:40:10
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
139.55 V 1.2006 A
200
138.43 V 0.95348 A
137.09 V 655.30 mA
100
135.21 V 395.44 mA
132.47 V 213.96 mA
50
128.22 V 119.64 mA
122.64 V 82.321 mA
116.40 V 66.514 mA 20
109.95 V 58.094 mA
103.39 V 52.727 mA 10
96.79 V 48.831 mA
90.13 V 45.664 mA
5
83.47 V 42.903 mA
76.77 V 40.307 mA
70.09 V 37.737 mA
2
63.38 V 35.105 mA
56.68 V 32.442 mA
1
49.99 V 29.644 mA
100
43.28 V 26.806 mA
36.56 V 23.861 mA
29.85 V 20.710 mA
23.13 V 17.253 mA
16.43 V 13.384 mA
9.70 V 9.0030 mA
3.04 V 3.8610 mA
1.22 V 1.9230 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
113.17 V
I knee:
62.218 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
32.14 V
CTExcitation
01/17/2013 15:47:30
no
n/a
100.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
I
1.0418 A
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
31.83 V 0.99024 A 100 V/V

31.67 V 938.93 mA
31.60 V 888.62 mA 70
31.53 V 837.18 mA 50
31.25 V 785.58 mA
31.09 V 734.54 mA 30
30.77 V 651.98 mA 20
30.30 V 483.60 mA
30.00 V 368.01 mA
29.78 V 278.95 mA 10
29.56 V 204.80 mA
7
29.32 V 141.20 mA
5
29.09 V 88.066 mA
28.79 V 48.368 mA
3
28.10 V 26.226 mA
2
27.05 V 17.576 mA
25.91 V 13.280 mA
24.71 V 10.488 mA
1
23.52 V 8.4580 mA
100
22.31 V 6.9730 mA
21.11 V 5.7630 mA
19.89 V 4.8500 mA
18.68 V 4.1540 mA
17.46 V 3.6180 mA
16.23 V 3.1860 mA
15.00 V 2.8380 mA
13.80 V 2.5910 mA
12.57 V 2.4070 mA
11.35 V 2.2450 mA
10.14 V 2.1230 mA
8.91 V 2.0030 mA
7.70 V 1.8810 mA
6.47 V 1.7510 mA
5.27 V 1.6040 mA
4.05 V 1.4190 mA
2.85 V 1.1900 mA
1.66 V 886.00 A
1.25 V 738.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
22.86 V
I knee:
7.6240 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 15:53:18
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 15:30:54 yes
n/a
no
01/17/2013 15:32:22 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
EXIT_2S1-2S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:30:54
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.98 A
0.00
500.93 mA
0.22
400 A:1.0020 A 0.20 %
OK
Relacin_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:32:22
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
200.01 A
0.00
499.90 mA
-0.03
400 A:0.9998 A -0.02 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 15:51:36
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
137.59 V 1.1940 A
200
136.47 V 947.14 mA
135.13 V 648.91 mA
100
133.30 V 388.66 mA
130.60 V 206.70 mA
50
126.36 V 112.56 mA
120.84 V 76.700 mA
114.59 V 62.441 mA 20
108.15 V 55.096 mA
101.60 V 50.440 mA 10
94.99 V 46.982 mA
88.35 V 44.108 mA
5
81.69 V 41.525 mA
75.02 V 38.996 mA
68.34 V 36.540 mA
2
61.67 V 34.018 mA
54.98 V 31.394 mA
1
48.27 V 28.687 mA
100
41.59 V 25.899 mA
34.90 V 22.938 mA
28.20 V 19.763 mA
21.51 V 16.292 mA
14.81 V 12.422 mA
8.12 V 8.0840 mA
1.52 V 2.8240 mA
1.19 V 2.4160 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
111.72 V
I knee:
59.102 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
29.42 V
CTExcitation
01/17/2013 15:53:10
no
n/a
100.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
I
1.0410 A
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
29.32 V 0.99212 A 100 V/V

29.13 V 942.77 mA
28.93 V 894.79 mA 70
28.84 V 845.00 mA 50
28.70 V 796.23 mA
28.52 V 747.04 mA 30
28.38 V 698.32 mA 20
28.25 V 649.97 mA
28.07 V 600.70 mA
27.93 V 551.79 mA 10
27.38 V 396.89 mA
7
27.04 V 257.91 mA
5
26.79 V 172.80 mA
26.53 V 112.97 mA
3
26.19 V 69.802 mA
2
25.61 V 40.560 mA
24.76 V 24.763 mA
23.74 V 16.720 mA
1
22.62 V 12.159 mA
100
21.48 V 9.3000 mA
20.34 V 7.3290 mA
19.16 V 5.9130 mA
18.00 V 4.8800 mA
16.83 V 4.0890 mA
15.67 V 3.5300 mA
14.49 V 3.0710 mA
13.32 V 2.7620 mA
12.15 V 2.5130 mA
10.97 V 2.3110 mA
9.80 V 2.1430 mA
8.62 V 2.0050 mA
7.45 V 1.8530 mA
6.29 V 1.7240 mA
5.11 V 1.5940 mA
3.94 V 1.4350 mA
2.78 V 1.2220 mA
1.65 V 932.00 A
1.25 V 784.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
19.80 V
I knee:
6.6490 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 15:57:25
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 15:34:15 yes
n/a
no
01/17/2013 15:35:21 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
EXIT_2S1-2S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:34:15
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.99 A
0.00
500.36 mA
0.28
400 A:1.0008 A 0.08 %
OK
Relacin_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:35:21
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.96 A
0.00
499.86 mA
0.01
400 A:0.9999 A -0.01 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 15:55:51
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
137.28 V 1.1471 A
200
136.05 V 878.31 mA
134.43 V 565.13 mA
100
131.92 V 315.00 mA
127.85 V 169.48 mA
50
122.18 V 104.11 mA
115.66 V 76.064 mA
108.65 V 62.818 mA 20
101.57 V 55.150 mA
94.38 V 50.061 mA 10
87.12 V 46.256 mA
79.85 V 43.071 mA
5
72.53 V 40.187 mA
65.21 V 37.323 mA
57.91 V 34.382 mA
2
50.59 V 31.301 mA
43.27 V 28.130 mA
1
35.93 V 24.830 mA
100
28.58 V 21.270 mA
21.25 V 17.290 mA
13.92 V 12.703 mA
6.60 V 7.3420 mA
1.20 V 2.3150 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
109.74 V
I knee:
64.755 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 15:57:19
no
n/a
100.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
28.70 V
1.0130 A
28.56 V 941.56 mA
28.19 V 871.31 mA
28.06 V 799.41 mA
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
27.87 V 727.77 mA 100 V/V

27.61 V 658.05 mA
27.43 V 586.31 mA 70
27.19 V 515.42 mA 50
26.65 V 365.03 mA
26.11 V 170.18 mA 30
25.67 V 70.315 mA 20
24.74 V 26.889 mA
23.23 V 14.296 mA
21.58 V 9.3330 mA 10
19.92 V 6.6680 mA
7
18.23 V 5.1060 mA
5
16.54 V 4.1560 mA
14.82 V 3.5240 mA
3
13.13 V 3.1230 mA
2
11.42 V 2.8160 mA
9.72 V 2.6060 mA
8.02 V 2.3910 mA
1
6.32 V 2.1600 mA
100
4.62 V 1.8790 mA
2.94 V 1.5130 mA
1.32 V 0.99500 mA
1.24 V 0.96300 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
19.80 V
I knee:
6.5460 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
+K01
ENERO,2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
1)DATOSDEPLACA
Fabricante
Tipo
NdeSerie
Ao de Fabricacin
AodeFabricacin
CeldaN
Norma
Ir
Imxa35C
fr
Ur
Ud
Up
tk
Clase
Ua
p
IACAFL
CajadelEmbarradoPre
LlenadodeSF6
Fabricadoen
INTERRUPTORK01
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
8DA10
CV831125000110/001
00043545
2012
+K01
IEC622711/100/102/200
1250A
1290A
60Hz
12kV
28kV
75kV
63/25kA
3s
O0.3sCO3minCO
E2M2C2
M1
DC125V,AC230V
5C/+55C
/
25kA1s
:
:
:
:
:
70kPa
50kPa
2.0kg
Alemania
8619272.9
Pag.2de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
p
INTERRUPTORK01
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag.3de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
H
HumedadRelativa(%)
d d R l ti (%)
ApreciacinClimtica
25
65
SOLEADO
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
5000
60
5000
60
5000
60
CONEXIN
Entrada Vs Salida
EntradaVs.Salida
EVALUACIN
L1
64.0
204 0
204.0
34.0
Resistencia(G)
L2
L3
52.0
55.0
195 0
220
0
195.0
220.0
49.0
54.0
APROBADO
*Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No.Serie
: 1000380/110611/2058
*Termohigrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No.Serie
: 99440230
HumedadRelativa(%)
ApreciacinClimtica
25
65
SOLEADO
FASE
CONEXIN
IDC(A)
VDC(mV)
L1
L2
L3
B
+S i
d +I t
t
Barra+Seccionador+Interruptor
100 00
100.00
99.98
100.06
117 980
117.980
116.3200
117.350
EVALUACIN
INTERRUPTORK01
Rmedida
()
1 180
1.180
1.164
1.173
APROBADO
Pag.4de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
No.Serie
: JH876Q
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
80.50
0.50
80.50
0.0
80.50
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
63.50
0.59
65.00
1.5
65.00
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
52.50
0.28
54.00
2.0
54.50
EVALUACIN
APROBADO
CIERRE
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA 1
APERTURA1
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA2
Marca
: KOCOS
Tipo
: ACTASP3
No.Serie
: 21708091201
INTERRUPTORK01
Pag.5de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
(SIEMENS,Circuitbreakerroutinetest8DA/DB,FactoryN831445,PanelN+K01,Date05.09.2012)
Closeoperationspeed
Openoperationspeed
1.10m/s
1.20m/s
Tolerances
1.101.70m/s
1.101.80m/s
Closeoperationtime
OpenoperationtimeY1
OpenoperationtimeY2
73.40ms
58.70ms
50.60ms
6095ms
4565ms
3555ms
Passingcontacttime
157.70ms
8200ms
Contacttravel
Max over swing
Max.overswing
Max.forwardswing
Contactsysnchronism
13.15mm
0 65 mm
0.65mm
0.79mm
0.40ms
1822mm
0 3mm
3 mm
0
04mm
<2ms
Closeoperation
Contactbouncetime
Singlecontacttime
Nofbounces
L1
1.40ms
0.40ms
1times
L2
0.00ms
0.00ms
0times
L3
Tolerances
1.20ms
<=7ms
0.20ms
<=2ms
1times
<=3times
Openoperation
Nofbounces
L1
0times
L2
0times
L3
0times
INTERRUPTORK01
Tolerances
<=0times
Pag.6de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
LamedicinderesistenciadecontactoserealizdesdelaCelda+K01hasta+K02,conectadolos
cablesdefuerza,quecomprendecabledefuerza,seccionadordecadaceldaylabarra.
INTERRUPTORK01
Pag.7de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K01
+K01
A
FECHA : 15/01/2013
SIEMENS,Circuitbreakerroutinetest8DA/DB,FactoryN831445,PanelN+K01,Date05.09.2012'.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: JuanTarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 15/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
INTERRUPTORK01
Pag.8de9
+K01
ENERO,2013
Page 1 of 1
\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003\CELDA -K02
\A_RESISTENCIA DE CONTACTOS-K2-K1.xml:
Test Device:
CPC 100
Serial Number:
JH876Q (V1)
Date/Time:
01/16/2013 15:31:32

Test Card Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
FASE R:
Date/Time: 01/16/2013 15:31:09
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.00 A
V DC:
117.98 mV
R:
1.1798 m
FASE S:
Date/Time: 01/16/2013 15:26:33
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
99.98 A
V DC:
116.32 mV
R:
1.1635 m
FASE T:
Date/Time: 01/16/2013 15:22:44
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.06 A
V DC:
117.35 mV
R:
1.1728 m
about:blank
3/12/2013
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Plant ID: CELDA +K01
Device Type:
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Manufacturer:
Built:
Close nom
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Component
No.
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
Contacto principal
V CIERRE
0.00
m/s
Contacto principal
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaC
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed CIE
80.5
80.5
80.5
ms
Contacto principal
BRK
DTI C
0.0
Contacto principal
OPS CIE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO CIE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC CIE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de cierre
I bobina CIE med
0.50
Date:
Tester:
15/01/2013 04:31:56
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 1om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
63.5
65.0
65.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
1.5
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.59
Date:
Tester:
15/01/2013 04:31:40
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 2om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.2 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
52.5
54.0
54.5
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
2.0
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.28
Date:
Tester:
15/01/2013 04:34:30
p.m.
KoCoS
ms
Signature:

GIS 7.2kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +K02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
L1, L2, L3
: 14/01/2013
FECHA
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
Type
Cell No.
IL
Ratio
P1-P2 I1/A
400
400
I2/A
1
1
VA/Vk
5
5
Icont
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC454OLZI
+K02
12/80097606, 12/80097604, 11/80097605
0.72 / 3 kV
400 / 1 A
n/Rct
20
Fs10
cl/I0
5P
0,2
Core
1S1-1S2
1S1
1S2
2S1-2S2
: 1.2*In
: 60 Hz
: IEC 60044-1
TC-T1

atos de placa
p aca correctos
co ectos
Datos
TAG
T1L1
TAG
T1L2
TAG
T1L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 14/01/2013

TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
EVALUACIN
Relacin
Terica (A)
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
Relacin
Medida (A)
400/1.0014
400/1.0001
400/1 0023
400/1.0023
400/0.9995
400/10030
400/1.0003
Desviacin
(%)
0,14
0,01
0 23
0,23
-0,05
0,30
0,03
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

(SIEMENS, Informe del ensayo, Fecha 17.07.2012)
Ensayo de exactitud
80097604
80097605
80097606
TC-T1
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
Relacin
Potencia
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
400/1
5 VA
5 VA
5 VA
5 VA
5 VA
5 VA
5% In
20% In
100% In
Fi[%] i[min] Fi[%] i[min] Fi[%] i[min]
0,165 7,37
-0,272 16,48
-0,019 9,54
-0,078 13,22
0,118 6,71
-0,111 14,86
120% In
Fi[%] i[min]
-0,105
0,54
0,028
0,92
0,028
0,25
Pag. 2 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 14/01/2013

Accuracy class
0,1
0
1
0,2
0,5
1

below
current shown below
Minutes
Centiradians
5
20
100
120
5
20
100
120
5
20
100
120
04
0,4
02
0,2
01
0,1
01
0,1
15
8
5
5
0 45 0,24
0,45
0 24 0,15
0 15 0,15
0 15
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
Accuaracy class

primary current %
5P
10P
1
3
p
Phase displacement
at rated Compsite
p
error at rated
primary current
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10

TC-T1
Pag. 3 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 14/01/2013

TAG
T1L1
T1L2
T1L3
Arrollado
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
1S1 - 1S2
2S1 - 2S2
EVALUACIN
V inflexin
(V)
109,34
21,75
108,42
21,19
106 39
106,39
22,28
I inflexin
(mA)
63,397
7,0640
61,162
8,3590
71 303
71,303
7,4430
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

N de serie
Clase
Terminales
Uemf[V]
Imax[A]
I@Uemf[mA]
80097604
80097605
5P20
5P20
5P20
1S1 - 1S2
1S1 - 1S2
122
122
122
1
1
1
109
147
116
80097606
1S1 - 1S2

TC-T1
Pag. 4 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 14/01/2013

Apreciacin Climtica
24
65
SOLEADO

U aplicada
Tiempo (s)
(VDC)
500
60
CONEXIN
EVALUACIN
T1L1
2,50
Resistencia (G)
T1L2
T1L3
2,75
2,98
APROBADO

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

(
(ANSI/NETA
/
ATS-2009))
Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
TC-T1
Pag. 5 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 14/01/2013


TC
R
S
T

EN EL RELE (A)
PRUEBA (A)
100
100,48
100
100,48
100
100,35
EVALUACIN
CORRIENTE OBTENIDO
EN EL MEDIDOR(A)
100,01
100,05
100,04
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TC-T1
Pag. 6 de 7
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
K02
T1
A
FECHA
L1, L2, L3
: 14/01/2013
- SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Relacin de Transformacin y Polaridad es correcta
correcta. La
marcas de fbrica.
entre fases.
- SE RECOMIENDA mantener los resultados consignados aqu como referencia para pruebas a futuro
futuro.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 14/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T1
Pag. 7 de 7

CPC100

GIS 7.2kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +K02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:03:24
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/14/2013 15:31:11 yes
n/a
no
01/17/2013 15:10:14 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
EXIT_2S1-2S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/14/2013 15:31:11
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.95 A
0.00
500.55 mA
0.29
400 A:1.0014 A 0.14 %
OK
Relacin_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:10:14
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.99 A
0.00
500.01 mA
-0.02
400 A:1.0001 A 0.01 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 16:01:27
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
134.94 V 1.1994 A
200
133.87 V 0.96145 A
132.60 V 670.89 mA
100
130.81 V 414.71 mA
128.27 V 230.86 mA
50
124.39 V 129.93 mA
119.19 V 87.407 mA
113.32 V 69.366 mA 20
107.12 V 60.212 mA
100.87 V 54.478 mA 10
94.52 V 50.437 mA
88.14 V 47.204 mA
5
81.75 V 44.400 mA
75.32 V 41.834 mA
68.90 V 39.323 mA
2
62.47 V 36.727 mA
56.03 V 34.081 mA
1
49.59 V 31.405 mA
100
43.13 V 28.631 mA
36.69 V 25.705 mA
30.25 V 22.564 mA
23.79 V 19.113 mA
17.34 V 15.220 mA
10.90 V 10.805 mA
4.47 V 5.7250 mA
1.19 V 2.4240 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
109.34 V
I knee:
63.397 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
31.41 V
CTExcitation
01/17/2013 16:03:08
no
n/a
100.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
I
1.0463 A
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
31.17 V 0.99542 A 100 V/V

30.94 V 944.51 mA
30.84 V 894.47 mA 70
30.76 V 843.39 mA 50
30.56 V 792.88 mA
30.36 V 742.07 mA 30
30.25 V 691.42 mA 20
30.11 V 641.28 mA
29.69 V 545.64 mA
29.21 V 364.79 mA 10
28.89 V 254.48 mA
7
28.66 V 176.88 mA
5
28.42 V 117.33 mA
28.14 V 71.635 mA
3
27.62 V 40.067 mA
2
26.76 V 24.231 mA
25.68 V 16.153 mA
24.53 V 12.014 mA
1
23.37 V 9.4000 mA
100
22.18 V 7.5570 mA
20.98 V 6.2280 mA
19.77 V 5.2340 mA
18.56 V 4.4540 mA
17.35 V 3.9110 mA
16.14 V 3.4550 mA
14.93 V 3.0870 mA
13.71 V 2.8060 mA
12.50 V 2.5850 mA
11.29 V 2.4110 mA
10.09 V 2.2610 mA
8.86 V 2.1120 mA
7.66 V 1.9560 mA
6.45 V 1.8050 mA
5.24 V 1.6330 mA
4.03 V 1.4330 mA
2.84 V 1.1920 mA
1.66 V 878.00 A
1.25 V 722.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
21.75 V
I knee:
7.0640 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:07:05
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 15:11:36 yes
n/a
no
01/17/2013 15:13:08 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
EXIT_2S1-2S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:11:36
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.98 A
0.00
501.11 mA
0.50
400 A:1.0023 A 0.23 %
OK
Relacin_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:13:08
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
200.05 A
0.00
499.86 mA
-0.01
400 A:0.9995 A -0.05 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 16:05:31
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
135.20 V 1.1465 A
200
134.17 V 917.25 mA
132.86 V 640.15 mA
100
131.02 V 398.87 mA
128.31 V 229.22 mA
50
124.32 V 135.05 mA
119.22 V 91.492 mA
113.57 V 70.757 mA 20
107.55 V 59.630 mA
101.45 V 52.755 mA 10
95.30 V 48.006 mA
89.11 V 44.375 mA
5
82.87 V 41.334 mA
76.61 V 38.706 mA
70.34 V 36.265 mA
2
64.07 V 33.884 mA
57.79 V 31.464 mA
1
51.51 V 29.008 mA
100
45.22 V 26.502 mA
38.93 V 23.943 mA
32.63 V 21.232 mA
26.32 V 18.325 mA
20.04 V 15.143 mA
13.75 V 11.567 mA
7.47 V 7.4400 mA
1.29 V 2.1080 mA
1.21 V 2.0020 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
108.42 V
I knee:
61.162 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
CTExcitation
01/17/2013 16:07:00
no
n/a
100.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
I
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
30.78 V 1.0118 A 100 V/V

30.41 V 934.92 mA
70
30.26 V 859.10 mA
30.03 V 782.08 mA 50
29.77 V 705.43 mA
29.57 V 629.44 mA 30
29.06 V 509.11 mA 20
28.50 V 290.99 mA
28.09 V 156.18 mA
27.65 V 72.359 mA 10
26.59 V 31.614 mA
7
24.95 V 18.255 mA
5
23.20 V 12.208 mA
21.40 V 8.6550 mA
3
19.58 V 6.3530 mA
2
17.76 V 4.8120 mA
15.93 V 3.8890 mA
14.11 V 3.1290 mA
1
12.28 V 2.6610 mA
100
10.45 V 2.3160 mA
8.61 V 2.1030 mA
6.78 V 1.8920 mA
4.95 V 1.6260 mA
3.14 V 1.3190 mA
1.37 V 844.00 A
1.24 V 792.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
21.19 V
I knee:
8.3590 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 3

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:11:51
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 15:15:29 yes
n/a
no
01/17/2013 15:17:28 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
EXIT_2S1-2S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:15:29
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.99 A
0.00
501.47 mA
0.20
400 A:1.0030 A 0.30 %
OK
Relacin_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 15:17:28
no
n/a
Range:
Nominal values:
I prim.:
I sec.:
Frequency:
I test:
Automatic:
Results:
I prim.:
I sec.:
Ratio:
Polarity:
about:blank
AC 800A
400 A
1.000 A
60.00 Hz
200.0 A
yes
199.94 A
0.00
500.01 mA
-0.01
400 A:1.0003 A 0.03 %
OK
1/25/2013
Page 2 of 3
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 16:09:01
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V/V
V
I
134.43 V 1.0428 A
200
133.42 V 829.16 mA
131.94 V 577.78 mA
100
129.90 V 367.90 mA
126.82 V 229.00 mA
50
122.50 V 151.93 mA
117.48 V 109.15 mA
112.10 V 85.233 mA 20
106.45 V 71.389 mA
100.60 V 62.828 mA 10
94.71 V 56.905 mA
88.75 V 52.383 mA
5
82.77 V 48.715 mA
76.78 V 45.552 mA
70.74 V 42.727 mA
2
64.73 V 40.035 mA
58.71 V 37.312 mA
1
52.67 V 34.615 mA
100
46.63 V 31.897 mA
40.57 V 29.094 mA
34.52 V 26.124 mA
28.47 V 22.928 mA
22.41 V 19.418 mA
16.35 V 15.444 mA
10.31 V 10.893 mA
4.28 V 5.5280 mA
1.20 V 2.0560 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
106.39 V
I knee:
71.303 mA
Noise suppression:
enabled
EXIT_2S1-2S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
CTExcitation
01/17/2013 16:11:46
no
n/a
100.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
I
about:blank
1/25/2013
Page 3 of 3
32.03 V 1.0119 A 100 V/V

31.86 V 0.96113 A
70
31.78 V 911.08 mA
31.70 V 860.67 mA 50
31.46 V 810.06 mA
31.27 V 759.29 mA 30
31.07 V 689.86 mA 20
30.58 V 533.52 mA
30.23 V 419.08 mA
29.97 V 328.10 mA 10
29.76 V 250.75 mA
7
29.55 V 182.46 mA
5
29.35 V 124.33 mA
29.08 V 77.885 mA
3
28.60 V 45.523 mA
2
27.77 V 27.889 mA
26.72 V 19.117 mA
25.61 V 14.190 mA
1
24.44 V 11.006 mA
100
23.26 V 8.7980 mA
22.07 V 7.1790 mA
20.88 V 5.9490 mA
19.68 V 5.0000 mA
18.46 V 4.2620 mA
17.27 V 3.7090 mA
16.06 V 3.2880 mA
14.85 V 2.9260 mA
13.65 V 2.6570 mA
12.45 V 2.4350 mA
11.24 V 2.2600 mA
10.03 V 2.1460 mA
8.83 V 2.0460 mA
7.61 V 1.8500 mA
6.43 V 1.7220 mA
5.21 V 1.5700 mA
4.02 V 1.3940 mA
2.82 V 1.1870 mA
1.66 V 882.00 A
1.25 V 723.00 A
I/A
1m
10m
100m

V knee:
22.28 V
I knee:
7.4430 mA
Noise suppression:
enabled
about:blank
1/25/2013
+K02
ENERO,2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
1)DATOSDEPLACA
Fabricante
Tipo
NdeSerie
Ao de Fabricacin
AodeFabricacin
CeldaN
Norma
Ir
Imxa35C
fr
Ur
Ud
Up
tk
Clase
Ua
p
IACAFL
CajadelEmbarradoPre
LlenadodeSF6
Fabricadoen
INTERRUPTORK02
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
8DA10
CV831125000120/001
00043545
2012
+K02
IEC622711/100/102/200
1250A
1290A
60Hz
12kV
28kV
75kV
63/25kA
3s
O0.3sCO3minCO
E2M2C2
M1
DC125V,AC230V
5C/+55C
/
25kA1s
:
:
:
:
:
70kPa
50kPa
2.0kg
Alemania
8619272.9
Pag.2de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
p
INTERRUPTORK02
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag.3de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
H
HumedadRelativa(%)
d d R l ti (%)
ApreciacinClimtica
25
65
SOLEADO
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
5000
60
5000
60
5000
60
CONEXIN
Entrada Vs Salida
EntradaVs.Salida
EVALUACIN
L1
48.0
176 0
176.0
35.0
Resistencia(G)
L2
L3
62.0
56.0
189 0
205
0
189.0
205.0
30.0
40.0
APROBADO
*Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No.Serie
: 1000380/110611/2058
*Termohigrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No.Serie
: 99440230
HumedadRelativa(%)
ApreciacinClimtica
25
65
SOLEADO
FASE
CONEXIN
IDC(A)
VDC(mV)
L1
L2
L3
B
+S i
d +I t
t
100 00
100.00
99.98
100.06
117 980
117.980
116.3200
117.350
EVALUACIN
INTERRUPTORK02
Rmedida
()
1 180
1.180
1.164
1.173
APROBADO
Pag.4de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
No.Serie
: JH876Q
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
81.00
0.52
81.00
0.0
81.00
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
63.50
0.60
63.50
1.5
65.00
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
55.50
0.29
55.50
1.5
57.00
EVALUACIN
APROBADO
CIERRE
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA 1
APERTURA1
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA2
Marca
: KOCOS
Tipo
: ACTASP3
No.Serie
: 21708091201
INTERRUPTORK02
Pag.5de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
Closeoperationspeed
Openoperationspeed
1.05m/s
1.43m/s
Tolerances
1.101.70m/s
1.101.80m/s
Closeoperationtime
OpenoperationtimeY1
OpenoperationtimeY2
74.00ms
58.30ms
51.40ms
6095ms
4565ms
3555ms
Passingcontacttime
158.40ms
8200ms
Contacttravel
Max over swing
Max.overswing
Max.forwardswing
Contactsysnchronism
13.56mm
0 62 mm
0.62mm
0.76mm
0.30ms
1822mm
0 3mm
3 mm
0
04mm
<2ms
Closeoperation
Contactbouncetime
Singlecontacttime
Nofbounces
L1
1.40ms
0.10ms
1times
L2
0.00ms
0.00ms
0times
L3
Tolerances
1.40ms
<=7ms
0.40ms
<=2ms
1times
<=3times
Openoperation
Nofbounces
L1
0times
L2
0times
L3
0times
INTERRUPTORK02
Tolerances
<=0times
Pag.6de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
INTERRUPTORK02
Pag.7de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K02
+K02
A
FECHA : 15/01/2013
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: JuanTarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 15/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
INTERRUPTORK02
Pag.8de9
+K02
ENERO,2013
Page 1 of 1
Test Device:
CPC 100
Serial Number:
JH876Q (V1)
Date/Time:
01/16/2013 15:31:32

Test Card Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
FASE R:
Date/Time: 01/16/2013 15:31:09
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.00 A
V DC:
117.98 mV
R:
1.1798 m
FASE S:
Date/Time: 01/16/2013 15:26:33
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
99.98 A
V DC:
116.32 mV
R:
1.1635 m
FASE T:
Date/Time: 01/16/2013 15:22:44
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.06 A
V DC:
117.35 mV
R:
1.1728 m
about:blank
3/12/2013
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
Close nom
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Component
No.
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
Contacto principal
V CIERRE
0.00
m/s
Contacto principal
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaC
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed CIE
81.0
81.0
81.0
ms
Contacto principal
BRK
DTI C
0.0
Contacto principal
OPS CIE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO CIE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC CIE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de cierre
I bobina CIE med
0.52
Date:
Tester:
15/01/2013 04:22:44
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 1om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
63.5
63.5
65.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
1.5
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.60
Date:
Tester:
15/01/2013 04:22:35
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E 03
Testname:
Device Type:
Open 2om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.2 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
55.5
55.5
57.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
1.5
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.29
Date:
Tester:
15/01/2013 04:24:52
p.m.
KoCoS
ms
Signature:

GIS 7.2kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +K03

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 14/01/2013
1) DATOS DE PLACA
Manufacturer
f
Type
Cell No.
IL
Ratio
/
P1-P2 I1/A
500
/
I2/A
1
/
VA/Vk
10-5
Icont
Frequency
Standard
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC4340 ZEK
+K03
12/06997 01, 12/06997 02, 12/066997 03
0.72 / 3 kV
500 / 1 A
/
n/Rct
20
/0
cl/I
5P
Core
S1-S2
: 1.2*In
: 60 Hz
: IEC 60044-1
TC-T1

TAG
T1L1
TAG
T1L2
TAG
T1L3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 6
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 14/01/2013

(SE
TAG
Arrollado
T1L1
T1L2
T1L3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S2
1S1 - 1S2
EVALUACIN
Relacin
Terica (A)
500/1
500/1
500/1
Relacin
Medida (A)
500/1.0026
500/1.0026
500/1.0028
Desviacin
(%)
0,26
0,26
0,28
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

(SIEMENS, Informe del ensayo, Fecha 17.07.2012)
Ensayo de exactitud
1206997 01 1S1 - 1S2
1206997 02 1S1 - 1S2
12069972 03 1S1 - 1S2
TC-T1
Relacin
Potencia
500/1
500/1
500/1
5 VA
5 VA
5 VA
100% In
Fi[%] i[min]
0,158 7,60
0,130 8,40
0,148 7,90
Pag. 2 de 6
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 14/01/2013

Table 11 - Limits off current error and phase displacement ffor measuring current transformers
f
Accuracy class
0,1
0,2
0,5
1

below
current shown below
Minutes
Centiradians
5
20
100
120
100
120
5
20
100
120
5
20
0,4
0,2
0,1
0,1
5
5
15
8
0,45 0,24 0,15 0,15
0,75 0,35
0,2
0,2
30
15
10
10
0,9
0,45
0,3
0,3
1,5
0,75
0,5
0,5
90
45
30
30
2,7
1,35
0,9
0,9
3,0
1,5
1,0
1,0
180
90
60
60
5,4
2,7
1,8
1,8
Accuaracy class

primary current %
5P
10P
1
3
Ph
Phase
displacement
di l
t att rated
t d C
Compsite
it error att rated
t d
primary current
current %
Minutes
Centiradians
60
-
1.8
-
5
10

TC-T1
Pag. 3 de 6
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 14/01/2013

a)) Resultado de las pruebas
TAG
Arrollado
T1L1
T1L2
T1L3
1S1 - 1S2
1S1 - 1S2
1S1 - 1S2
EVALUACIN
V inflexin
(V)
116,47
113,14
115,82
I inflexin
(mA)
52,29
52,39
50,07
APROBADO

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q

No se tiene valores de fabrica.

a)) C
Condiciones
di i
ambientales
bi t l
Apreciacin Climtica
23
68
SOLEADO

CONEXIN
EVALUACIN
TC-T1
U aplicada
Tiempo (s)
(VDC)
500
60
T1L1
3,20
Resistencia (G)
T1L2
T1L3
3,10
2,89
APROBADO
Pag. 4 de 6
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 14/01/2013

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000

Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
1000
5000
500
5000
25000
values obtained should be compared to manufacturers
manufacturer s published data
data.
published data
data. In the absence of manufacturers published data
data, use Table 100.5
100 5
TC
R
S
T

PRUEBA (A)
EN EL RELE (A)
100 27
100
100,27
100
100,31
100
100,19
EVALUACIN
TC-T1
APROBADO
Pag. 5 de 6
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

T1
L1, L2, L3
A
FECHA : 14/01/2013

Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
- Para la evaluacin de los resultados obtenidos se tomaron en cuenta valores tpicos
p
especificados
p
por
p
marcas de fbrica.
entre fases.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Juan Tarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 14/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TC-T1
Pag. 6 de 6

CPC100

GIS 7.2kV
T1 (L1, L2, L3)

CELDA +K03

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:14:58
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 14:47:58 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 14:47:58
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
500 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
250.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
250.19 A
0.00
I sec.:
501.69 mA
0.16
Ratio:
500 A:1.0026 A 0.26 %
Polarity:
OK
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 16:14:51
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
149.38 V 1.1569 A
148.14 V 916.77 mA
146.56 V 634.43 mA
144.35 V 394.21 mA
141.07 V 228.97 mA
136.51 V 136.08 mA
130.97 V 89.983 mA
124.91 V 67.030 mA
118.49 V 54.636 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
V/V
111.98 V 47.296 mA
105.38 V 42.557 mA 200
98.74 V 39.066 mA
92.04 V 36.291 mA 100
85.37 V 33.900 mA
78.65 V 31.707 mA 50
71.92 V 29.629 mA
65.21 V 27.622 mA
20
58.48 V 25.563 mA
51.75 V 23.398 mA
45.02 V 21.203 mA 10
38.29 V 18.893 mA
5
31.55 V 16.437 mA
24.82 V 13.760 mA
18.09 V 10.753 mA
2
11.34 V 7.3720 mA
4.63 V 3.5580 mA
1
1.23 V 1.1940 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
100
1m
10m
100m
IEC/BS
116.47 V
52.290 mA
enabled
1/25/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:17:09
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 14:49:26 yes
n/a
no
EXIT_1S1-1S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 14:49:26
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
500 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
250.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
249.98 A
0.00
I sec.:
501.27 mA
0.18
Ratio:
500 A:1.0026 A 0.26 %
Polarity:
OK
EXIT_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 16:17:05
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
145.76 V 1.0474 A
144.55 V 819.22 mA
142.83 V 560.38 mA
140.35 V 348.92 mA
136.76 V 209.18 mA
132.09 V 128.98 mA
126.65 V 87.238 mA
120.77 V 65.736 mA
114.56 V 54.020 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
V/V
108.24 V 47.040 mA
101.88 V 42.415 mA 200
95.46 V 39.003 mA
89.01 V 36.291 mA 100
82.55 V 33.962 mA
76.05 V 31.833 mA 50
69.57 V 29.782 mA
63.07 V 27.773 mA
20
56.56 V 25.743 mA
50.06 V 23.656 mA
43.56 V 21.489 mA 10
37.05 V 19.193 mA
5
30.53 V 16.720 mA
24.02 V 14.007 mA
17.51 V 10.936 mA
2
11.00 V 7.4750 mA
4.52 V 3.6010 mA
1
1.23 V 1.2050 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
100
1m
10m
100m
IEC/BS
113.14 V
52.393 mA
enabled
1/25/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:19:05
n/a

Test Card
Type
Date/Time
01/17/2013 14:50:37 yes
n/a
no
EXIT_S1-S2
n/a
no
Test Cards:
Relacin_1S1-1S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/17/2013 14:50:37
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
500 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
250.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
249.99 A
0.00
I sec.:
501.38 mA
0.17
Ratio:
500 A:1.0028 A 0.28 %
Polarity:
OK
EXIT_S1-S2:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
CTExcitation
01/17/2013 16:19:00
no
n/a
300.0 V
1.00000 A
60.00 Hz
yes
V
I
147.69 V 1.1041 A
146.48 V 868.42 mA
144.84 V 593.47 mA
142.51 V 363.85 mA
139.11 V 207.88 mA
134.49 V 121.12 mA
128.90 V 80.264 mA
122.76 V 60.823 mA
116.35 V 50.575 mA
about:blank
1/25/2013
Page 2 of 2
V/V
109.83 V 44.529 mA
103.25 V 40.498 mA 200
96.61 V 37.525 mA
89.97 V 35.068 mA 100
83.29 V 32.885 mA
76.58 V 30.853 mA 50
69.90 V 28.856 mA
63.19 V 26.857 mA
20
56.51 V 24.837 mA
49.79 V 22.738 mA
43.11 V 20.558 mA 10
36.40 V 18.241 mA
5
29.69 V 15.747 mA
22.98 V 12.979 mA
16.28 V 9.8500 mA
2
9.57 V 6.3450 mA
2.91 V 2.3850 mA
1
1.22 V 1.1350 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
100
1m
10m
100m
IEC/BS
115.82 V
50.066 mA
enabled
1/25/2013

PT (1, 2, 3)

CELDA +H02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 17/01/2013
1) DATOS DE PLACA
TRANSFORMADOR DE TENSIN
Manufacturer
f
Type
IL
A-N
Sn (VA)
Cl.
Serial (PT1, PT2, PT3)
q
Freq
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MT34
24/50/125
7200/(110/3 /110/3)V
15 VA
0.2
12 06989 01/12 06989 02/12 06989 03
60 Hz
TT T15

Sistema de insercin/extraccin operativo
Fusibles primarios en buen estado
Fusibles secundarios en buen estado
Conectores primarios en buen estado
Conectores secundarios en buen estado
Hermeticidad del compartimiento (celda)
Pintura en buen estado
TAG
PT1
TAG
PT2
TAG
PT3
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag. 1 de 4

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 17/01/2013

(SE
TAG
Arrollado
Relacin Terica
(A)
Relacin Terica (A)
a-n
da-dn
a-n
da-dn
a-n
da-dn
7200:3/110:3
7200:3/110:3
7200:3/110:3
7200:3/110:3
7200:3/110:3
7200:3/110:3
7200:3/109.9277:3
7200:3/108.8244:3
7200:3/109.8916:3
7200:3/108.76713:3
7200:3/109.7666:3
7200:3/108.6783:3
T1L1
T1L2
T1L3
Desviacin
(%)
-0,07
-1,07
-0,10
-1,12
0,21
-1,21
Polaridad
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Apreciacin Climtica
25
13
SOLEADO

CONEXIN

Arrollado 1Vs.Arrollado 2
EVALUACIN
U aplicada
Tiempo (s)
(VDC)
2500
60
2500
60
500
60
500
60
500
60
PT1
27,00
28,60
34,60
35,60
120,00
Resistencia (G)
PT2
29,70
23,20
54,60
35,60
112,00
PT3
32,30
22,10
41,40
40,80
126,00
APROBADO

* Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No. Serie
: 1000-380/110611/2058
* Termo-higrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No. Serie
: 99440230

TT T15
Pag. 2 de 4

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 17/01/2013

Table 100.5 Transformer
f
Insulation Resistance Acceptance Testing
Transformer Coil
Rating Type in Volts
Maximum DC Test
Voltage
0 - 600
601 - 5000
Greater than 5000
1000
2500
5000
Recommended Minimum Insulation

Resistance in Megaohms
Liquid Filled
Dry
100
500
1000
5000
5000
25000
(ANSI/NETA ATS
ATS-2009)
2009)
3.2.2 Test Values - Voltage Tranformers - Electrical
3 4) INYECCIN DE TENSION PRIMARIO

3.4)
TC
R
S
T
TENSIONDE
PRUEBA (kV)
1,0
1,0
10
1,0
EVALUACIN
TENSION OBTENIDO EN TENSION OBTENIDO EN

EL MEDIDOR(kV)
EL RELE (kV)
1,00
1,00
1,00
1,00
1 00
1,00
1 00
1,00
APROBADO

* Unidad
d d de
d Pruebas
b Primarias
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC 100
No. Serie
: JH876Q
TT T15
Pag. 3 de 4

LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLO N :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:

_
INT. DE PODER +K03

PT
1, 2, 3
A
FECHA : 17/01/2013
- Para la evaluacin de los resultados obtenidos se tomaron en cuenta criterios de aceptacin en normas
internacionales.
/
nivel mnimo recomendado en la norma ANSI/NETA
ATS-2009.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
SUPERVISIN
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: Percy Rafaile
Nombre
Nombre
Fecha
: 17/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TT T15
Pag. 4 de 4

CPC100

PT (1, 2, 3)

CELDA +H02

S.E.
40 5kV 003
ENERO, 2013
Page 1 of 1

\CELDA -K03\TT T15\FASE L1.xml:
Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:43:09
n/a

Test Card
Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION a-n:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/17/2013 16:41:15
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
7200/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
100.14 V
0.00
V sec.:
1.5289 V
0.10
Ratio:
7200/3 V:109.9277/3 V -0.07 %
Polarity:
OK
RELACION da-dn:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/17/2013 16:43:01
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
7200/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
100.04 V
0.00
V sec.:
872.98 mV
0.12
Ratio:
7200/3 V:108.8244/3 V -1.07 %
Polarity:
OK
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 1

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:49:15
n/a

Test Card
Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION a-n:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/17/2013 16:47:02
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
7200/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.99 V
0.00
V sec.:
1.5261 V
0.13
Ratio:
7200/3 V:109.8916/3 V -0.10 %
Polarity:
OK
RELACION da-dn:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/17/2013 16:49:10
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
7200/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.95 V
0.00
V sec.:
871.74 mV
0.12
Ratio:
7200/3 V:108.7671/3 V -1.12 %
Polarity:
OK
about:blank
1/25/2013
Page 1 of 1

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
JH876Q (V1)
01/17/2013 16:52:16
n/a

Test Card
Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION a-n:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/17/2013 16:51:01
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
7200/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.99 V
0.00
V sec.:
1.5244 V
0.17
Ratio:
7200/3 V:109.7666/3 V -0.21 %
Polarity:
OK
RELACION da-dn:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
VTRatio
01/17/2013 16:52:07
no
n/a
Range:
AC 2kV
Nominal values:
V prim.:
7200/3 V
V sec.:
110.0/3 V
Frequency:
60.00 Hz
V test:
100.0 V
Automatic:
yes
Results:
V prim.:
99.94 V
0.00
V sec.:
870.89 mV
0.20
Ratio:
7200/3 V:108.6718/3 V -1.21 %
Polarity:
OK
about:blank
1/25/2013
+K03
ENERO,2013
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
1)DATOSDEPLACA
Fabricante
Tipo
NdeSerie
Ao de Fabricacin
AodeFabricacin
CeldaN
Norma
Ir
Imxa35C
fr
Ur
Ud
Up
tk
Clase
Ua
p
IACAFL
CajadelEmbarradoPre
LlenadodeSF6
Fabricadoen
INTERRUPTORK03
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
8DA10
CV831125000130/001
00043536
2012
+K03
IEC622711/100/102/200
1250A
1290A
60Hz
12kV
28kV
75kV
63/25kA
3s
O0.3sCO3minCO
E2M2C2
M1
DC125V,AC230V
5C/+55C
/
25kA1s
:
:
:
:
:
70kPa
50kPa
2.0kg
Alemania
8619272.9
Pag.2de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
p
INTERRUPTORK03
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
SI
Pag.3de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
H
HumedadRelativa(%)
d d R l ti (%)
ApreciacinClimtica
25
65
SOLEADO
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
5000
60
5000
60
5000
60
CONEXIN
Entrada Vs Salida
EntradaVs.Salida
EVALUACIN
L1
52.0
192 0
192.0
27.0
Resistencia(G)
L2
L3
56.0
49.0
175 0
180
0
175.0
180.0
34.0
30.0
APROBADO
*Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No.Serie
: 1000380/110611/2058
*Termohigrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No.Serie
: 99440230
HumedadRelativa(%)
ApreciacinClimtica
25
65
SOLEADO
FASE
CONEXIN
IDC(A)
VDC(mV)
L1
L2
L3
B
+S i
d +I t
t
100 02
100.02
100.00
100.00
189 770
189.770
185.400
196.040
EVALUACIN
INTERRUPTORK03
Rmedida
()
1 897
1.897
1.854
1.960
APROBADO
Pag.4de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
No.Serie
: JH876Q
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
77.00
0.53
77.00
0.0
77.00
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
65.50
0.61
65.50
1.0
66.50
POLO
L1
POLO
L2
POLO
L3
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
54.50
0.30
54.50
1.5
56.00
EVALUACIN
APROBADO
CIERRE
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA 1
APERTURA1
Tiempo(ms)
DispersinMxima(ms)
APERTURA2
Marca
: KOCOS
Tipo
: ACTASP3
No.Serie
: 21708091201
INTERRUPTORK03
Pag.5de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
Closeoperationspeed
Openoperationspeed
1.10m/s
1.30m/s
Tolerances
1.101.70m/s
1.101.80m/s
Closeoperationtime
OpenoperationtimeY1
OpenoperationtimeY2
74.20ms
60.30ms
53.00ms
6095ms
4565ms
3555ms
Passingcontacttime
163.00ms
8200ms
Contacttravel
Max over swing
Max.overswing
Max.forwardswing
Contactsysnchronism
13.35mm
1 35 mm
1.35mm
1.79mm
0.50ms
1822mm
0 3mm
3 mm
0
04mm
<2ms
Closeoperation
Contactbouncetime
Singlecontacttime
Nofbounces
L1
1.20ms
0.20ms
1times
L2
0.00ms
0.00ms
0times
L3
Tolerances
1.40ms
<=7ms
0.40ms
<=2ms
1times
<=3times
Openoperation
Nofbounces
L1
0times
L2
0times
L3
0times
INTERRUPTORK03
Tolerances
<=0times
Pag.6de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
INTERRUPTORK03
Pag.7de9
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
UBICACIN
CELDA
TAG
REVISIN
:
:
:
:
INT.DEPODER+K03
+K03
A
FECHA : 15/01/2013
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: JuanTarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 15/01/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
INTERRUPTORK03
Pag.8de9
+K03
ENERO,2013
Page 1 of 1
Test Device:
CPC 100
Serial Number:
JH876Q (V1)
Date/Time:
01/16/2013 15:10:11

Test Card Type
Date/Time
n/a
no
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
FASE R:
Date/Time: 01/16/2013 15:06:40
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.02 A
V DC:
189.77 mV
R:
1.8973 m
FASE S:
Date/Time: 01/16/2013 15:09:02
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.00 A
V DC:
185.40 mV
R:
1.8540 m
FASE T:
Date/Time: 01/16/2013 15:10:02
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
DC 400A
I test:
100.0 A
R min:
2.0000
R max:
50.000 m
Automatic: yes
Results:
I DC:
100.00 A
V DC:
196.04 mV
R:
1.9604 m
about:blank
3/12/2013
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
Close nom
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Component
No.
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
Contacto principal
V CIERRE
0.00
m/s
Contacto principal
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaC
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed CIE
77.0
77.0
77.0
ms
Contacto principal
BRK
DTI C
0.0
Contacto principal
OPS CIE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO CIE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC CIE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de cierre
I bobina CIE med
0.53
Date:
Tester:
15/01/2013 04:13:02
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E 03
Testname:
Device Type:
Open 1om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.4 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
65.5
65.5
66.5
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
1.0
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.61
Date:
Tester:
15/01/2013 04:08:01
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
Routine test report

Job Data:
Device Data
Plant name: S.E. 03
Testname:
Device Type:
Open 2om
Location:
Device ID:
Built:
Manufacturer:
Built:
08/02/2013 12:00:00 a.m.

50.0 0.2 A /D IV
CMAIN A1
CMAIN B1
CMAIN C1
S MAIN A1
I COIL A
-50.00 ms
-25.00 ms
0.00 ms
Component
No.
Contacto principal
Contacto principal
25.00 ms
50.00 ms
75.00 ms
100.00 ms
125.00 ms
150.00 ms
175.00 ms
200.00 m
Result
Pole A
Pole B
Pole C
Unit
V Apert
0.00
m/s
Carrera
0.00
mm
Contacto principal
SobrecaA
0.00
mm
Contacto principal
Rebote A
0.00
mm
Contacto principal
POLO
TMed APE
54.5
54.5
56.0
ms
Contacto principal
BRK
D T O BRK
1.5
Contacto principal
OPS APE
Contacto auxiliar
Normalmente Abierto
POLO
Tiempo NO APE
ms
Contacto auxiliar
Normalmente Cerrado
POLO
Tiempo NC APE
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
O Open time
ms
Contacto auxiliar
conmutado
POLO
Pulse Dur
ms
Bobina de apertura
I bobina APE med
0.30
Date:
Tester:
15/01/2013 04:14:42
p.m.
KoCoS
ms
Signature:
PROTOCOLODEPRUEBASPRE
OPS
TRANSFORMADORDECORRIENTE
TOROIDES
S.E.MOVIL8DA10SWITCHGEAR40.5/7.2kV
ENERO,2013
PROTOCOLODEPRUEBAS
TRANSFORMADORDECORRIENTETOROIDES
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
REVISIN
: A
FECHA
: 01/03/2013
1)DATOSDEPLACA
TRANSFORMADORDECORRIENTE'GIS'
Manufacturer
Type
CellNo.
Insul
Ratio
Ith
Idyn
Output
Frequency
Standard
Class
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
SIEMENS
4MC9672
+H02
0.72/3kV
50/ 1 A
50/1A
100xIn1s.
2.5xIth
1.25VA
60Hz
IEC600441
10P5
TC
Conexinenbornessecundarios
TCTOROIDE
SI
SI
SI
SI
Pag.2de8
PROTOCOLODEPRUEBAS
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
REVISIN
: A
FECHA
: 01/03/2013
3.1)MEDICINDERELACINDETRANSFORMACINYVERIFICACINDEPOLARIDAD
a)Resultadodelaspruebas
TC
Arrollado
Relacin
Terica(A)
Relacin
Medida(A)
1142601
1S11S2
50/1
50/0.9764
2.36
Correcta
1142602
1S11S2
50/1
50/0.9732
2.68
Correcta
1142603
1S11S2
50/1
50/0.9791
2.09
Correcta
1142604
1S11S2
50/1
50/0.9862
1.38
Correcta
1142605
1S11S2
50/1
50/0.9762
2.38
Correcta
1142606
1S11S2
50/1
50/0.9801
0.01
Correcta
1142607
1S11S2
50/1
50/0.9780
2.20
Correcta
1142608
1S11S2
50/1
50/0.9821
1.79
Correcta
1142609
1S11S2
50/1
50/0.9862
1.38
Correcta
0699001
1S11S2
50/1
50/0.9786
2.14
Correcta
0699002
1S11S2
50/1
50/0.9841
1.29
Correcta
0699003
1S11S2
50/1
50/0.9852
1.48
Correcta
EVALUACIN
Desviacin
Polaridad
(%)
APROBADO
M
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
No.Serie
: HF317M
TCTOROIDE
Pag.3de8
PROTOCOLODEPRUEBAS
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
REVISIN
: A
FECHA
: 01/03/2013
3.2)MEDICINDETENSINYCORRIENTEDEEXCITACIN(PUNTOSDEINFLEXIN)
a)Resultadodelaspruebas
Vinflexin Iinflexin
(V)
(mA)
TC
Arrollado
1142601
1S11S2
15.96
366.37
1142602
1S11S2
14.78
360.23
1142603
1S11S2
14.87
326.03
1142604
1S11S2
14.67
366.04
1142605
1S11S2
15.86
358.77
1142606
1S11S2
14.09
368.03
1142607
1S11S2
13.95
355.74
1142608
1S11S2
15.01
362.13
1142609
1S11S2
14.06
364.83
0699001
1S11S2
14.61
359.33
0699002
1S11S2
16.02
362.66
0699003
1S11S2
15.01
363.24
EVALUACIN
APROBADO
Marca
: OMICRON
Tipo
: CPC100
N S i
No.Serie
: HF317M
TCTOROIDE
Pag.4de8
PROTOCOLODEPRUEBAS
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
REVISIN
: A
FECHA
: 01/03/2013
HumedadRelativa(%)
A
ApreciacinClimtica
i i Cli ti
24
65
SOLEADO
CONEXIN
ArrolladoVs.Masa(Tierra)
CONEXIN
CONEXIN
CONEXIN
EVALUACIN
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
500
60
Resistencia(G)
1142601 1142602 1142603
42.00
48.00
54.00
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
500
60
Resistencia(G)
1142604 1142605 1142606
41.00
38.00
62.00
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
500
60
Resistencia(G)
1142607 1142608 1142609
38.00
29.00
45.00
Uaplicada
Tiempo(s)
(VDC)
500
60
Resistencia(G)
0699001 0699002 0699003
51.00
46.00
48.00
APROBADO
*Meghmetro
Marca
: MEGGER
Tipo
: MIT1020/2
No.Serie
: 1000380/110611/2058
TCTOROIDE
*Termohigrmetro
Marca
: FLUKE
Tipo
: 971
No.Serie
: 99440230
Pag.5de8
PROTOCOLODEPRUEBAS
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
REVISIN
: A
FECHA
: 01/03/2013
Laspruebasfueronrealizadosantesdesermontadosensusrespectivasceldas.
Losresultadosdelaspruebasrealizadasservirncomoreferenciaparalaevaluacindepruebasde
mantenimientopredictivoafuturo.
TCTOROIDE
Pag.6de8
PROTOCOLODEPRUEBAS
LUGAR
PROYECTO
:
PROTOCOLON :
REVISIN
: A
FECHA
: 01/03/2013
SECONCLUYEqueelresultadodelapruebadeRelacindeTransformacinyPolaridadescorrecta.La
desviacinmximacumpleconloindicadoenlanormaIEC600441.Lapolaridadescorrecto.
SECONCLUYEqueelresultadodelapruebadeExcitacinescorrecta.Lospuntosdeinflexindetensin
ycorrientecumplenconloindicadoenlanormaIEC600441.Losresultadosobtenidossonsimilares
entrefases.
SECONCLUYEqueelresultadodelapruebadeResistenciadeAislamientoesptimoycumpleconel
SE CONCLUYE que el resultado de la prueba de Resistencia de Aislamiento es ptimo y cumple con el
nivelmnimorecomendadoenlanormaANSI/NETAATS2009.
EJECUT
ESPECIALISTA
REVIS
VENDOR
APROB
PROPIETARIO
Nombre
: JuanTarmeo
Nombre
Nombre
Fecha
: 01/03/2013
Fecha
Fecha
Firma
Firma
Firma
TCTOROIDE
Pag.7de8
MARCA:OMICRON,MODELO:
CPC100
TRANSFORMADORDECORRIENTE
TOROIDES
S.E.MOVIL8DA10SWITCHGEAR40.5/7.2kV
ENERO,2013
Page 1 of 2
\ MINERA CERRO VERDE\TC-TOROIDE No 12/11426-01.xml:

Test Device:
CPC 100
Serial Number:
HF317M (V1)
Date/Time:
01/03/2013 10:22:16

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:16:14 yes
n/a
no
SATURACION CTExcitation 01/03/2013 10:21:48 yes
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:16:14
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
50.04 A
0.00
I sec.:
0.9771 A
1.43
Ratio:
50 A:0.9764 A -2.36 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTExcitation
01/03/2013 10:21:48
no
n/a
V max:
100.0 V
I max:
2.00000 A
Frequency: 60.00 Hz
Automatic: yes
Results:
V
23.01 V
I
2.0050 A
about:blank
3/6/2013
Page 2 of 2
22.90 V 1.9301 A 100 V/V

22.77 V 1.8564 A
22.66 V 1.7812 A 70
22.56 V 1.7063 A 50
22.44 V 1.6329 A
22.34 V 1.5581 A 30
22.25 V 1.4833 A 20
22.15 V 1.4101 A
22.03 V 1.3360 A
21.91 V 1.2616 A 10
21.78 V 1.1883 A
7
21.65 V 1.1152 A
5
21.51 V 1.0411 A
21.36 V 0.96796 A
3
21.20 V 895.58 mA
2
21.04 V 822.03 mA
20.87 V 749.45 mA
20.73 V 678.90 mA
1
20.58 V 606.69 mA
100
20.44 V 536.22 mA
20.31 V 468.67 mA
20.15 V 400.78 mA
19.97 V 380.34 mA
19.46 V 378.24 mA
18.27 V 370.11 mA
17.10 V 360.24 mA
15.87 V 350.66 mA
14.53 V 330.83 mA
13.10 V 300.35 mA
11.65 V 280.98 mA
10.19 V 240.62 mA
8.71 V 225.31 mA
7.24 V 215.95 mA
5.77 V 160.57 mA
4.31 V 130.04 mA
2.82 V 100.45 mA
1.35 V 60.016 mA
I/A
1m
10m
100m

V knee:
15.96 V
I knee:
366.37 mA
Noise suppression:
disabled
about:blank
3/6/2013
Page 1 of 2
\MINERA CERRO VERDE\TC-TOROIDE No 12/11426-02.xml:

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 10:28:10
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:24:12 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:24:12
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.97 A
0.00
I sec.:
0.9726 A
1.53
Ratio:
50 A:0.9732 A -2.68 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.01 V
22.90 V
22.77 V
22.66 V
22.56 V
22.44 V
22.34 V
22.25 V
22.15 V
22.03 V
CTExcitation
01/03/2013 10:26:32
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.0050 A
1.9301 A
1.8564 A
1.7812 A
1.7063 A
1.6629 A
1.6581 A
1.5833 A
1.5101 A
1.4960 A
about:blank
3/6/2013
Page 2 of 2
21.91 V 1.4616 A 100 V/V

21.78 V 1.4083 A
21.65 V 1.3152 A 70
21.51 V 1.2411 A 50
21.36 V 1.1680 A
21.20 V 0.99558 A 30
21.04 V 882.03 mA 20
20.87 V 849.45 mA
20.73 V 778.90 mA
20.58 V 606.69 mA 10
20.44 V 536.22 mA
7
20.31 V 468.67 mA
5
20.15 V 400.78 mA
19.97 V 380.34 mA
3
19.46 V 378.24 mA
2
18.27 V 370.11 mA
17.10 V 363.04 mA
14.87 V 355.66 mA
1
14.43 V 335.83 mA
100
13.33 V 310.33 mA
11.63 V 285.98 mA
10.20 V 245.62 mA
8.82 V 223.33 mA
7.34 V 218.97 mA
5.88 V 163.56 mA
4.40 V 125.04 mA
2.91 V 90.452 mA
1.35 V 62.112 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
14.78 V
360.23 mA
disabled
3/6/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 10:53:55
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:49:12 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:49:12
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.98 A
0.00
I sec.:
0.9787 A
1.44
Ratio:
50 A:0.9791 A -2.09 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.96 V
23.92 V
23.90 V
23.90 V
23.86 V
23.84 V
23.74 V
23.56 V
23.33 V
23.13 V
CTExcitation
03/01/2013 10:51:08
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.1250 A
2.0901 A
2.0764 A
2.0342 A
2.0163 A
1.9933 A
1.9858 A
1.9203 A
1.8091 A
1.7960 A
about:blank
3/7/2013
Page 2 of 2
23.01 V 1.7816 A 100 V/V

22.99 V 1.7483 A
22.90 V 1.7152 A 70
22.72 V 1.6941 A 50
22.04 V 1.6768 A
21.98 V 1.6296 A 30
21.45 V 1.5622 A 20
21.08 V 1.5195 A
20.92 V 1.4779 A
20.88 V 1.4767 A 10
20.61 V 1.4462 A
7
20.50 V 1.4187 A
5
20.12 V 1.1508 A
20.00 V 0.96602 A
3
19.60 V 909.13 mA
2
18.22 V 797.96 mA
17.22 V 607.54 mA
15.91 V 369.55 mA
1
14.71 V 351.06 mA
100
13.30 V 308.10 mA
11.84 V 230.07 mA
10.11 V 211.93 mA
8.82 V 210.32 mA
7.42 V 190.76 mA
5.90 V 178.52 mA
4.47 V 147.02 mA
2.88 V 115.66 mA
1.51 V 80.223 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
14.87 V
362.03 mA
disabled
3/7/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 10:38:04
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:35:44 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:35:44
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
50.04 A
0.00
I sec.:
0.9869 A
1.30
Ratio:
50 A:0.9862 A -1.38%
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.01 V
22.90 V
22.77 V
22.66 V
22.56 V
22.44 V
22.34 V
22.25 V
22.15 V
22.03 V
CTExcitation
01/03/2013 10:36:12
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.0050 A
1.9301 A
1.8564 A
1.7812 A
1.7663 A
1.7533 A
1.7258 A
1.7003 A
1.6991 A
1.6960 A
about:blank
3/7/2013
Page 2 of 2
21.91 V 1.6616 A 100 V/V

21.78 V 1.6083 A
21.65 V 1.5952 A 70
21.51 V 1.5841 A 50
21.36 V 1.5668 A
21.20 V 1.5196 A 30
21.04 V 1.4922 A 20
20.87 V 1.4185 A
20.73 V 1.3779 A
20.49 V 1.3167 A 10
20.44 V 1.2662 A
7
20.32 V 1.2487 A
5
20.15 V 1.1108 A
19.96 V 0.95933 A
3
19.47 V 904.34 mA
2
18.37 V 799.21 mA
17.20 V 602.24 mA
15.89 V 371.69 mA
1
14.63 V 354.82 mA
100
13.11 V 303.34 mA
11.57 V 236.99 mA
10.20 V 221.64 mA
8.75 V 215.33 mA
7.32 V 193.01 mA
5.78 V 184.35 mA
4.41 V 148.10 mA
2.82 V 127.45 mA
1.34 V 95.233 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
14.67 V
366.04 mA
disabled
3/7/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 10:34:22
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:31:09 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:31:09
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.97 A
0.00
I sec.:
0.9756 A
1.53
Ratio:
50 A:0.9762 A -2.38 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
24.01 V
23.90 V
23.77 V
23.66 V
23.56 V
22.43 V
22.34 V
22.25 V
22.15 V
22.03 V
CTExcitation
01/03/2013 10:31:28
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.0210 A
1.9801 A
1.8564 A
1.7812 A
1.7663 A
1.7533 A
1.7258 A
1.7003 A
1.6991 A
1.6960 A
about:blank
3/6/2013
Page 2 of 2
21.91 V 1.6616 A 100 V/V

21.78 V 1.6083 A
21.65 V 1.5952 A 70
21.51 V 1.5841 A 50
21.36 V 1.5568 A
21.20 V 1.5096 A 30
21.04 V 1.4822 A 20
20.87 V 1.4095 A
20.73 V 1.3679 A
20.58 V 1.3067 A 10
20.44 V 1.2862 A
7
20.31 V 1.2687 A
5
20.15 V 1.1008 A
19.97 V 0.96033 A
3
19.46 V 900.54 mA
2
18.28 V 795.21 mA
17.10 V 600.24 mA
15.87 V 369.66 mA
1
14.53 V 350.83 mA
100
13.10 V 300.35 mA
11.65 V 230.98 mA
10.19 V 215.62 mA
8.71 V 210.31 mA
7.24 V 190.95 mA
5.77 V 180.57 mA
4.31 V 145.04 mA
2.82 V 125.45 mA
1.35 V 90.016 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
15.86 V
358.77 mA
disabled
3/6/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 10:46:02
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:40:12 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:40:12
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.97 A
0.00
I sec.:
0.9795 A
1.44
Ratio:
50 A:0.9801 A -1.99 %
OK
Polarity:
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
24.21 V
23.01 V
22.77 V
22.76 V
22.66 V
22.44 V
22.34 V
22.26 V
22.14 V
22.13 V
CTExcitation
01/03/2013 10:42:55
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.0250 A
1.9201 A
1.8764 A
1.7842 A
1.7763 A
1.7533 A
1.7358 A
1.7103 A
1.6991 A
1.6960 A
about:blank
3/7/2013
Page 2 of 2
21.91 V 1.6616 A 100 V/V

21.77 V 1.6283 A
21.71 V 1.6052 A 70
21.63 V 1.5941 A 50
21.44 V 1.5768 A
21.26 V 1.5296 A 30
21.15 V 1.4522 A 20
20.88 V 1.4195 A
20.84 V 1.3979 A
20.78 V 1.3867 A 10
20.51 V 1.3462 A
7
20.41 V 1.3087 A
5
20.18 V 1.1108 A
19.97 V 0.96345 A
3
19.56 V 905.54 mA
2
18.37 V 793.91 mA
17.11 V 602.44 mA
15.90 V 367.35 mA
1
14.60 V 348.97 mA
100
13.20 V 302.41 mA
11.76 V 228.99 mA
10.19 V 212.43 mA
8.74 V 208.31 mA
7.33 V 188.87 mA
5.80 V 176.65 mA
4.38 V 140.11 mA
2.80 V 120.56 mA
1.44 V 87.113 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
14.09 V
368.03 mA
disabled
3/7/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 10:59:10
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 10:54:09 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 10:54:09
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.99 A
0.00
I sec.:
0.9778 A
1.43
Ratio:
50 A:0.9780 A -2.20 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.32 V
22.90 V
22.78 V
22.67 V
22.52 V
22.44 V
22.30 V
22.29 V
22.19 V
22.13 V
CTExcitation
01/03/2013 10:56:23
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.0950 A
1.9901 A
1.9564 A
1.8812 A
1.8763 A
1.8533 A
1.8258 A
1.8003 A
1.7991 A
1.7960 A
about:blank
3/7/2013
Page 2 of 2
21.99 V 1.7616 A 100 V/V

21.78 V 1.7683 A
21.69 V 1.6752 A 70
21.52 V 1.4841 A 50
21.36 V 1.5468 A
21.27 V 1.4196 A 30
21.07 V 1.3822 A 20
20.97 V 1.3185 A
20.83 V 1.2779 A
20.69 V 1.2167 A 10
20.44 V 1.1662 A
7
19.92 V 1.1287 A
5
19.35 V 1.0008 A
18.93 V 0.95353 A
3
18.07 V 901.83 mA
2
17.97 V 791.81 mA
16.20 V 600.04 mA
14.99 V 368.78 mA
1
13.74 V 350.81 mA
100
12.51 V 301.67 mA
10.87 V 231.81 mA
9.78 V 217.34 mA
7.85 V 212.53 mA
6.82 V 190.81 mA
5.81 V 180.15 mA
5.02 V 146.12 mA
2.79 V 121.65 mA
1.29 V 90.733 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
13.95 V
355.74 mA
disabled
3/7/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 11:07:17
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 11:02:11 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type: CTRatio
Date/Time: 01/03/2013 11:02:11
Overload:
no
Assessment: n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.99 A
0.00
I sec.:
0.9819 A
1.40
Ratio:
50 A:0.9821 A -1.79 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type: CTExcitation
Date/Time: 01/03/2013 11:04:28
Overload:
no
Assessment: n/a
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.94 V
23.91 V
23.89 V
23.86 V
23.76 V
23.64 V
23.54 V
23.36 V
23.15 V
23.03 V
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.1705 A
2.1301 A
2.0856 A
2.0781 A
2.0663 A
1.9833 A
1.9658 A
1.9003 A
1.8691 A
1.8260 A
about:blank
3/8/2013
Page 2 of 2
22.99 V 1.7916 A 100 V/V

22.98 V 1.7783 A
22.85 V 1.7452 A 70
22.71 V 1.6941 A 50
22.44 V 1.6668 A
22.20 V 1.6196 A 30
22.03 V 1.5922 A 20
21.87 V 1.5185 A
21.73 V 1.4979 A
21.09 V 1.4167 A 10
20.94 V 1.3662 A
7
20.72 V 1.2887 A
5
20.55 V 1.1308 A
19.99 V 0.95743 A
3
19.57 V 901.24 mA
2
18.47 V 799.61 mA
17.30 V 601.44 mA
15.99 V 370.09 mA
1
14.83 V 352.87 mA
100
13.51 V 301.84 mA
11.47 V 236.79 mA
10.21 V 219.73 mA
8.76 V 211.34 mA
7.35 V 190.01 mA
5.80 V 181.45 mA
4.39 V 145.11 mA
2.85 V 123.32 mA
1.36 V 93.433 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
15.01 V
362.13 mA
disabled
3/8/2013
Page 1 of 2

Test Device:
Serial Number:
Date/Time:
Overall assessment:
CPC 100
HF317M (V1)
01/03/2013 11:13:12
n/a

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 11:09:44 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 11:09:44
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.98 A
0.00
I sec.:
0.9858 A
1.30
Ratio:
50 A:0.9862 A -1.38 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.12 V
22.81 V
22.75 V
22.71 V
22.66 V
22.54 V
22.44 V
22.27 V
22.18 V
22.06 V
CTExcitation
01/03/2013 11:11:04
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.0250 A
1.9601 A
1.9064 A
1.8812 A
1.8663 A
1.8533 A
1.8058 A
1.7903 A
1.7391 A
1.7060 A
about:blank
3/8/2013
Page 2 of 2
21.93 V 1.6916 A 100 V/V

21.76 V 1.6683 A
21.71 V 1.6252 A 70
21.61 V 1.5941 A 50
21.36 V 1.5768 A
21.26 V 1.5296 A 30
21.14 V 1.4922 A 20
20.89 V 1.4295 A
20.77 V 1.3779 A
20.58 V 1.3367 A 10
20.54 V 1.2962 A
7
20.37 V 1.2787 A
5
20.35 V 1.1208 A
19.98 V 0.96533 A
3
19.66 V 907.54 mA
2
18.77 V 799.81 mA
17.60 V 610.24 mA
15.97 V 374.66 mA
1
14.63 V 356.43 mA
100
13.40 V 308.35 mA
11.85 V 234.98 mA
10.59 V 220.22 mA
8.79 V 215.31 mA
7.34 V 198.75 mA
5.87 V 186.17 mA
4.41 V 149.24 mA
2.91 V 128.45 mA
1.36 V 100.02 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
14.06 V
364.83 mA
disabled
3/8/2013
Page 1 of 2

Test Device:
CPC 100
Serial Number:
HF317M (V1)
Date/Time:
01/03/2013 11:19:41

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 11:15:04 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 11:15:04
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
50.01 A
0.00
I sec.:
0.9789 A
1.40
Ratio:
50 A:0.9786 A -2.14 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.82 V
23.74 V
23.61 V
23.55 V
23.41 V
23.31 V
23.21 V
23.20 V
23.13 V
23.03 V
CTExcitation
01/03/2013 11:17:14
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.2650 A
2.2090 A
2.1956 A
2.1812 A
2.1063 A
2.0933 A
2.0758 A
2.0303 A
1.9891 A
1.9260 A
about:blank
3/8/2013
Page 2 of 2
22.98 V 1.8816 A 100 V/V

22.79 V 1.8183 A
22.77 V 1.7252 A 70
22.43 V 1.6741 A 50
22.47 V 1.6068 A
22.18 V 1.5096 A 30
22.08 V 1.4822 A 20
22.07 V 1.4085 A
21.97 V 1.3079 A
21.46 V 1.2667 A 10
20.89 V 1.1962 A
7
20.72 V 1.1887 A
5
20.15 V 1.0128 A
19.93 V 0.96143 A
3
19.10 V 907.03 mA
2
18.25 V 785.72 mA
16.82 V 610.13 mA
15.03 V 369.63 mA
1
13.84 V 357.81 mA
100
12.93 V 307.05 mA
11.14 V 237.62 mA
9.98 V 223.03 mA
8.45 V 216.63 mA
7.22 V 199.32 mA
6.02 V 187.23 mA
5.11 V 165.12 mA
2.87 V 129.45 mA
1.34 V 100.63 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
14.61 V
359.33 mA
disabled
3/8/2013
Page 1 of 2

Test Device:
CPC 100
Serial Number:
HF317M (V1)
Date/Time:
01/03/2013 11:30:10

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 11:24:07 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 11:24:07
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.98 A
0.00
I sec.:
0.9837 A
1.30
Ratio:
50 A:0.9841 A -1.29 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
24.02 V
24.00 V
23.87 V
23.76 V
23.66 V
23.54 V
23.21 V
23.05 V
22.98 V
22.93 V
CTExcitation
01/03/2013 11:26:28
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.1050 A
2.0930 A
2.0756 A
2.0181 A
1.8863 A
1.8733 A
1.8358 A
1.8003 A
1.7991 A
1.7560 A
about:blank
3/8/2013
Page 2 of 2
22.85 V 1.7116 A 100 V/V

22.68 V 1.6783 A
22.13 V 1.6252 A 70
22.09 V 1.6241 A 50
22.02 V 1.5668 A
22.00 V 1.5796 A 30
21.92 V 1.5022 A 20
20.90 V 1.4895 A
20.93 V 1.4079 A
20.89 V 1.3567 A 10
20.52 V 1.3662 A
7
20.52 V 1.2777 A
5
20.23 V 1.1108 A
20.00 V 0.96543 A
3
19.54 V 907.22 mA
2
18.39 V 799.31 mA
17.17 V 604.24 mA
15.92 V 373.26 mA
1
14.53 V 355.62 mA
100
13.40 V 305.25 mA
11.74 V 234.81 mA
10.25 V 218.22 mA
8.82 V 212.33 mA
7.32 V 193.83 mA
5.77 V 184.44 mA
4.37 V 147.12 mA
2.90 V 128.12 mA
1.36 V 96.116 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
16.02 V
362.66 mA
disabled
3/8/2013
Page 1 of 2

Test Device:
CPC 100
Serial Number:
HF317M (V1)
Date/Time:
01/03/2013 11:45:02

Test Card
Type
Date/Time
RELACION
CTRatio
01/03/2013 11:33:23 yes
n/a
no
n/a
no
Test Cards:
RELACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
CTRatio
01/03/2013 11:33:23
no
n/a
Range:
AC 800A
Nominal values:
I prim.:
50 A
I sec.:
1.000 A
Frequency:
60.00 Hz
I test:
50.0 A
Automatic:
yes
Results:
I prim.:
49.98 A
0.00
I sec.:
0.9848 A
1.43
Ratio:
50 A:0.9852 A -1.48 %
Polarity:
OK
SATURACION:
Card Type:
Date/Time:
Overload:
Assessment:
V max:
I max:
Frequency:
Automatic:
Results:
V
23.91 V
23.86 V
23.79 V
23.72 V
23.66 V
23.54 V
23.38 V
23.28 V
23.18 V
23.03 V
CTExcitation
01/03/2013 11:37:41
no
n/a
100.0 V
2.00000 A
60.00 Hz
yes
I
2.1050 A
1.9601 A
1.9064 A
1.8812 A
1.8663 A
1.8333 A
1.7958 A
1.8003 A
1.7991 A
1.7560 A
about:blank
3/9/2013
Page 2 of 2
22.91 V 1.7016 A 100 V/V

22.76 V 1.6783 A
22.15 V 1.6052 A 70
21.91 V 1.6041 A 50
21.39 V 1.5868 A
21.22 V 1.5496 A 30
21.14 V 1.5022 A 20
20.77 V 1.4695 A
20.43 V 1.3979 A
20.08 V 1.3467 A 10
19.94 V 1.2962 A
7
19.56 V 1.2587 A
5
19.12 V 1.1208 A
18.54 V 0.96757 A
3
18.32 V 906.34 mA
2
17.47 V 797.88 mA
16.90 V 610.04 mA
15.92 V 373.76 mA
1
14.84 V 355.63 mA
100
13.17 V 310.55 mA
11.76 V 235.88 mA
10.49 V 224.42 mA
8.78 V 214.33 mA
7.42 V 194.75 mA
5.79 V 183.43 mA
4.38 V 147.34 mA
2.86 V 127.22 mA
1.41 V 95.646 mA
V knee:
I knee:
Noise suppression:
about:blank
I/A
1m
10m
100m
IEC/BS
15.01 V
363.24 mA
disabled
3/9/2013

PDP S.E Moviles

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SUMINISTRO DE 03 S/E MVILES

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PDP S.E Moviles - SIEMENS

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SUMINISTRO DE 03 S/E MVILES

PROTOCOLO DE PRUEBAS PREOPS

PROTOCOLOS Y REPORTES DE PRUEBAS

SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_003

TRANSFORMADOR DE CORRIENTE 'GIS'

CELDA INTERRUPTOR DE PODER 42.5kV

S E MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

2) CONDICIONES DEL EQUIPO EN PRUEBA

Ubicacin y fijacin definitiva (celda)

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

3) PRUEBAS REALIZADAS EN CAMPO

b) Equipos de prueba utilizados

c) Valores obtenidos en pruebas de fbrica

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

d) Especificaciones de diseo segn norma

Percentage current (ratio) Phase displacement ta percentage of rated current shown

Table 14 - Limits of error for protective current transformers

Current error at rated

Phase displacement at rated Compsite error at rated

e) Criterios de evaluacin recomendados en norma

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

3.2) MEDICIN DE TENSIN Y CORRIENTE DE EXCITACIN (PUNTOS DE INFLEXIN)

b) Equipos de prueba utilizados

c) Valores obtenidos en pruebas de fbrica

d) Especificaciones de diseo segn norma

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

3.3) MEDICIN DE RESISTENCIA DE AISLAMIENTO

b) Resultado de las pruebas

c) Equipos de prueba utilizados

d) Valores obtenidos en pruebas de fbrica

Recommended Minimum Insulation Resistance in

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

f) Criterios de evaluacin recomendados en norma

3.4)) INYECCIN DE CORRIENTE PRIMARIA

CORRIENTE DE CORRIENTE OBTENIDO

b) Equipos de prueba utilizados

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

S.E. MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

cumple con lo indicado en la norma IEC 60044-1. La polaridad corresponde a las

REPORTE DEL EQUIPO DE PRUEBAS

TRANSFORMADOR DE CORRIENTE 'GIS'

CELDA INTERRUPTOR DE PODER 42.5kV

S E MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5kV_003

\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003

Test Cards Overview:

61.67 V 348.39 mA 100

\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003

Test Cards Overview:

\MINERA CERRO VERDE\SUB ESTACION MOVIL 8DA10 SWITCHGEAR 40.5KV_S.E. 003

Test Cards Overview:

58.44 V 340.70 mA 100

Test Cards Overview:

Routine test report

Plant name: S.E. 03

Plant ID: CELDA +H01

08/02/2013 12:00:00 a.m.

I bobina CIE med

ACTAS Advanced circuit breaker test system