Formación de Imágenes Ultrasónicas Por TOFD PDF

Formacin de imgenes ultrasnicas por Difraccin de Tiempo de Vuelo (TOFD)
A. Rodrguez, M. Hernndez, E. Forero

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Intekhnia | Vol. 6 | No. 1| Enero - junio de 2011 | ISSN: 1900-7612 | pp. 25 - 34
Formacin de imgenes ultrasnicas por Difraccin
de Tiempo de Vuelo (TOFD)
(Recibido: 28 de noviembre de 2010; aprobado: 31 de mayo de 2011)
RESUMEN
En el presente artculo se describen los progresos logrados en un sistema de ultrasonido diseado para exploracin de cor-
dones de soldadura por medio de la tcnica Time of Flight Diffraction (TOFD). Se mostrar el incremento en la rapidez de
exploracin al compararla con la lograda en trabajos previos. Con la aplicacin realizada es posible generar una imagen
D-Scan de forma casi inmediata, y para lograrlo se dise e implement en Matlab un programa, con el que la tarea se re-
duce a desplazar un arreglo de transductores sobre una trayectoria rectilnea paralela a la regin que se desea examinar. Una
vez almacenadas las seales, el programa se encarga de su respectiva alineacin, y posteriormente construir con estas una
imagen bidimensional, en la que se exhiben los perfles de posibles discontinuidades embebidas en el cordn de soldadura..
Palabras clave - TOFD, barrido tipo A, barrido tipo D, ultrasonido, cordn de soldadura.
Alejandro Rodrguez Martnez: Fsico, Especialista Universitario en Ingeniera de Telecomunicaciones, Mster en Ingeniera de Telecomunicaciones,
jairorodriguez@usantotomas.edu.co. Facultad de Ingeniera Electrnica, Universidad Santo Toms, Bogot., Carrera 9 No. 51 - 11 Bogot, Colombia.
Miguel Hernndez: miguelhernandez119@hotmail.com. Facultad de Ingeniera Electrnica, Universidad Santo Toms, Carrera 9 No. 51 - 11 Bogot.
Edwin Francisco Forero Garca: Ingeniero Elctrico, Mster en Ingeniera Electrnica, edwinforero@usantotomas.edu.co, Facultad de Ingeniera Electr-
nica, Universidad Santo Toms, Carrera 9 No. 51 - 11 Bogot.
El artculo es resultado del proyecto de investigacin Diseo y construccin de un sistema de ultrasonido para ensayos no destructivos, desarrollado por
el grupo Tecnologas Ultrasnicas y fnanciado por la Universidad Santo Toms a travs de la convocatoria interna de proyectos con recursos del Fondo de
Investigaciones de la Universidad Santo Toms (FODEIN- USTA).El objetivo del proyecto es evaluar y detectar discontinuidades en materiales slidos,
los cuales podran menguar su resistencia y alterar negativamente las propiedades mecnicas.
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Ultrasonic Imaging Formation
by Time of Flight TOFD Diffraction
The present paper describes the progress achieved in an ultrasound system designed to scan cord welds by means of the
Time of Flight Diffraction technique TOFD. An increase in the speed of the exploration will be shown when comparing
it to previous works.With the application made it is possible to generate a D-Scan image almost immediately. To achieve
these images a program written in Matlab platform was designed and implemented, so that having this tool reduces compu-
tational task to move an array of transducers on a straight path parallel to the region you want to examine. Once the signals
are stored, the program designed handles their alignment and then builds with these a two-dimensional image in which the
profles of potential discontinuities embedded in the cord weld are displayed.
Keywords TOFD, A-Scan, D-Scan, ultrasound, welds.
Formao de Imagem ultrasonicas por difraco
de tempo de vo TOFD
Nesta artigo se descreve os progresso alcanados em um sistema de ultrasonido projetado para explorao de soldas atravs
da tcnicaTime of Flight Diffraction TOFD . se mostrara o aumento na velocidade de explorao ao comparar a com estu-
dos anteriores. Com o aplicao feita possvel gerar uma imagem de D-Scan, de maneira quase imediatamente, e para ser
alcanado foi projetado e implementado em Matlab um programa que reduz a tarefa de mover um conjunto de transdutores
em um caminho paralelo direto para a regio que se deseja examinar. Uma vez armazenados os sinais, o programa cuida
de seu alinhamento respectivo, e ento construir com estas uma imagem bidimensional em a que se exibem os perfs de
possveis descontinuidades na solda.
Palavras-chave TOFD, t varredura tipo A, varredura tipo B, ultra-snico solda.
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I. INTRODUCCIN
Los ensayos no destructivos permiten la evaluacin de un
cuerpo con miras a la deteccin en su interior de posibles
discontinuidades, grietas u otros tipos de imperfecciones
sin necesidad de alterar su integridad. Ahora bien, como
se sabe, el ultrasonido es una perturbacin elstica que
se propaga en forma ondulatoria, de modo que cuando el
campo acstico de la onda incidente interacta con una
discontinuidad aparece una serie de fenmenos secundarios
tales como: refexin, dispersin, transmisin y difrac-
cin. La refexin por ejemplo, constituye la base para la
tcnica de pulso-eco, consistente en que una onda elstica
enviada por un transductor al interior de la muestra bajo
estudio se refeja en una eventual falla, producindose de
esta manera un eco que posteriormente es recogido por el
mismo transductor. Aunque la citada metodologa facilita
la localizacin de fallas al interior del espcimen exami-
nado, no permite diagnosticar las dimensiones de estas,
lo que constituye una difcultad cuya solucin subyace en
la distorsin que experimenta un campo acstico ms all
de las fallas; es decir, la difraccin producida cuando la
onda intenta rodear los bordes de una discontinuidad. Fue
con base en esta propiedad de las ondas que en 1970, en el
National NDT Centre de Inglaterra, un equipo encabezado
por Maurice Silk propuso una metodologa para la solucin
de ese crucial problema; esto es, determinar el tamao de
las discontinuidades utilizando ultrasonido. El fundamento
fsico que subyace al fenmeno de difraccin es la diferencia
entre el lapso de tiempo invertido por las ondas difractadas
al recorrer distintas distancias detrs de los bordes de un
defecto, lo cual exige dos transductores, uno que ofcia como
transmisor T del campo acstico y otro como receptor R del
mismo (Figura 1).
Figura 1. Esquema que ilustra la interaccin de una onda
elstica con un defecto embebido en el cordn de soldadura
adicional a las trayectorias seguidas por las ondas difractadas, se
muestran dos ms; una que discurre paralela a la superfcie de la
probeta llamada onda lateral, y otra producto de la refexin en
la superfcie inferior de la probeta, y denominada eco de fondo.
Fuente: Autores.
Los cuatro tipos de ondas que aparecen en la fgura anterior
ponen de manifesto el amplio campo acstico de los trans-
ductores utilizados con esta tcnica denominada difraccin
de tiempo de vuelo(TOFD - Time of Flight Diffraction), y
las seales correspondientes a las ondas recibidas por el
transductor receptor se denominan A-Scan debido a que
representan variaciones de la amplitud en funcin del
tiempo. Al examinar una probeta con ausencia de defectos,
la seal A-Scan muestreada y digitalizada no exhibe las
ondas difractadas; por el contrario, si la probeta tuviese un
defecto la seal A-Scan mostrara los cuatro tipos de ondas:
la lateral, las difractadas tanto por el borde inferior y superior
del defecto y el eco de fondo Figuras 2 y 3).
Figura 2. A-Scan procedente de la regin dentro de un cordn
de soldadura libre de discontinuidades
Fuente: Autores.

T R
Onda difractada por
el borde inferior del
defecto.
Onda difractada por el
borde superior del defecto.
Defecto o
discontinuidad
Seccin
transversal de
probeta bajo
estudio
Cordn de
soldadura
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Figura 3. Tpica forma de la seal A-Scan cuando el campo
acstico del emisor interacta con una falla
Fuente: Autores.
Con base en trabajos llevados a cabo por el grupo, en
anteriores artculos se han presentado los fundamentos de
los ensayos no destructivos con ultrasonido ENDU [1], el
diseo y montaje de un sistema de ultrasonido para ensayos
no destructivos [2] [3] y el procesamiento digital de seales
TOFD [4] [5]. La difcultad inherente a las investigaciones
que los gestaron radicaba en la lentitud para llevar a cabo
tales ensayos. Consideraciones de versatilidad, rapidez y
utilidad prctica, condujeron a la implementacin de refor-
mas al sistema inicial en trminos de software y algoritmos
de procesamiento [6] [7] [8] [9] [10], logrando con ello
sustanciales cambios en la metodologa para la adquis-
icin, almacenamiento y presentacin de los resultados de
exploraciones con la tcnica de Difraccin de Tiempo de
Vuelo (TOFD).
La organizacin del presente artculo ser la siguiente.
La seccin inicial se dividir en dos partes: en la primera
parte se detalla la metodologa inicialmente utilizada para
el proceso de obtencin de la informacin; y en la segunda,
se muestra una alternativa novedosa para llevar a cabo el
mismo proceso. Posteriormente, una tercera parte constituye
una breve descripcin de la tcnica de exploracin ultra-
snica utilizada y, as mismo, de la formacin de la imagen
TOFD. En la cuarta seccin se presentarn dos algoritmos
para corregir el desalineamiento de las seales A-Scan y, por
ltimo, la quinta seccin incluir las conclusiones.
II. METODOLOGA DE ADQUISICIN DE DATOS
A. Antecedentes
Un sistema prototipo de ultrasonido para ENDU consta
de un excitador, un receptor, transductores o palpadores,
un mdulo de procesamiento y otro para exhibicin de los
resultados [11] [12].
En las primeras exploraciones con la tcnica TOFD se rea-
liz la adquisicin de los datos por medio del osciloscopio
TDS210 de Tektronix mediante una conexin RS232 a un
computador. El procedimiento proporciona un arreglo bidi-
mensional de datos con muestras conteniendo la duracin
y la amplitud de las seales. Para completar la transmisin
de datos desde el osciloscopio es necesario esperar entre
2.0 y 3.0 segundos despus de solicitar el envo desde el
computador. Luego de transmitidos, los datos deben ser
almacenados por medio de instrucciones manuales en algn
dispositivo de memoria no voltil; por ende, la adquisicin
y almacenamiento de una muestra puede tardar de 7.0 a
15 segundos dependiendo de la habilidad del inspector
encargado.
Si se consideran exploraciones de alta resolucin es nece-
sario tomar muestras con pasos de 1,0 mm, lo que implica
cientos de muestras en trayectos relativamente cortos. Las
probetas exploradas durante la investigacin tienen una
longitud til de aproximadamente 15 centmetros, lo que
acarrea una duracin de 18 a 38 minutos. Posteriormente,
es necesario extraer los 2.500 datos de cada paso de avan-
ce para incluirlos en un programa de procesamiento de
seales que permita operar sobre las muestras, para lo cual
es necesario realizar un proceso de copiar y pegar con
destino a un archivo en Matlab que permite ensamblar una
matriz bidimensional. Este proceso es manual y requiere la
inversin de 10 a 15 segundos por cada muestra. De nuevo
el proceso demanda un tiempo considerable de entre 25 y
38 minutos para una exploracin completa de la probeta,
adems de someter al operario a una tarea que produce
fatiga, lo que a su vez puede inducir errores de apreciacin
cuando el inspector examina las seales.
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B. Innovaciones en la metodologa
Se logr optimizar signifcativamente el proceso de adqui-
sicin, ya que el nuevo procedimiento se realiza por medio
del osciloscopio TDS1002B de Tektronix a travs de co-
nexin USB al computador. Para administrar la conexin es
necesario disponer de la herramienta Instrument Control
de Matlab. Luego de instalar los programas requeridos y
confgurarlos adecuadamente se obtiene una comunicacin
USB con el osciloscopio que permite su control remoto as
como la adquisicin y almacenamiento de los datos.
Se disearon dos algoritmos: uno que permite establecer la
comunicacin con el osciloscopio y seleccionar el canal
a travs del cual se logra el control sobre la adquisicin
de datos, y otro que permite la captura de los valores de la
amplitud correspondientes a la visualizacin actualizada en
el osciloscopio. Los citados algoritmos reciben las etiquetas
de identifcacin que se crean al establecer la conexin y
permiten que el usuario elija el canal. En el siguiente paso,
se le proporcionan dos metodologas de adquisicin al usua-
rio. Con la primera la adquisicin es continua e indefnida,
mientras que en la segunda el usuario determina la cantidad
de muestras que desea almacenar. En uno y otro caso se
llama a una funcin que establece una interfaz grfca fa-
cilitando la identifcacin de la tecla pulsada por el usuario
y que permite pausar, continuar o concluir la adquisicin
sin importar en qu momento sea requerido. Luego del
inicio de dicha funcin, comienza un ciclo que ordena al
osciloscopio la transmisin de los datos correspondientes
a las amplitudes(ignorando el vector correspondiente a su
posicin temporal) y los almacena en una posicin particular
de una matriz bidimensional. Para concluir la fase de dicho
ciclo, se emite una seal sonora que indica al usuario que el
proceso ha concluido y comienza una nueva repeticin del
ciclo dando paso a la siguiente muestra. El ciclo concluye
segn la opcin elegida por el usuario o si lo ha indicado
por medio de la interfaz grfca. Una vez concluido este, los
datos son almacenados en un fchero de nombre confgurable
de extensin DAT, y el algoritmo requiere 3.0 segundos para
comenzar el proceso de adquisicin y tarda entre 1.5 y 2.0
segundos en recibir y almacenar los 2.500 datos provenien-
tes de las amplitudes de una muestra. Esta tarea demanda
5.0 minutos para fniquitar el proceso sin necesidad de la
intervencin continua del inspector, lo que representa una
reduccin de 70 minutos (92%) en el proceso y elimina el
esfuerzo mecnico que requiere la instruccin manual
III. TCNICA TOFD
Como ya se mencion en la introduccin, la difraccin de
tiempo de vuelo TOFD [13] [14] requiere la utilizacin de
dos transductores de ultrasonido, uno de los cuales acta
como emisor y el otro como receptor. Previamente el trans-
ductor emisor ha sido estimulado por una fuente excitadora,
y en consecuencia enva un haz de ondas acsticas al interior
del espcimen bajo estudio. Dado que los campos acsti-
cos de los transductores para estas tareas son amplios, en
ausencia de discontinuidades o grietas su frente de onda se
despliega de modo tal que una parte del mismo se propaga
casi paralela a la superfcie en la que estn situados ambos
transductores, y otra parte se refeja en la pared posterior
para dar origen a un eco de fondo (Figura 1).
Una de las caractersticas ms relevantes en la exploracin
de soldaduras por medio de la tcnica TOFD, consiste en
la obtencin de un plano bidimensional conformado por
una sucesin de seales A-Scan [15], que generalmente
se representa en escala de grises, de modo tal que el tono
correspondiente se obtiene de forma proporcional a la am-
plitud relativa entre las seales. De manera ms concreta,
el D-Scan se forma al agrupar una serie de barridos tipo A-
Scan, visualizando una vista superior de dicho agrupamiento
y asignando tonalidades de gris asociadas a la amplitud
relativa de la seal en cada posicin, obtenindose as un
plano que representa un corte transversal de la exploracin,
en donde la regin superior corresponde a la superfcie de
la misma, la regin media a la difraccin causada por las
discontinuidades de la soldadura [16][17][18][19][20],
mientras que la regin inferior representa los ecos de fondo
refejados por la cara posterior del espcimen bajo examen.
IV. ALINEAMIENTO DE LAS SEALES A-SCAN
Un problema que frecuentemente surge en las imgenes
obtenidas despus de una exploracin TOFD consiste en
una falta de homogeneidad en la posicin relativa de las
muestras, la cual es causada por pequeos movimientos
perpendiculares al cordn de soldadura y variacin del
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espesor del acoplante acstico, lo que produce la ilusin de
que la superfcie del material es curva o rugosa, difcultando,
por tanto, la conclusin por parte del inspector respecto a
la existencia y naturaleza de los defectos. En la Figura 4 se
puede observar un D-Scan que presenta esa problemtica.
Figura 4. Imagen D-Scan con carencia de linealidad en la
posicin relativa de las trazas
Fuente: Autores.
Para solucionar la difcultad sealada anteriormente es
necesario que el material explorado tenga una superfcie
plana; de lo contrario, la incertidumbre sobre la naturaleza
de la misma no permite disear algoritmos que refejen el
modelo real.
Una primera alternativa consiste en un algoritmo que per-
mite detectar el punto mximo de cada muestra A-Scan en
la matriz de la exploracin D-Scan, para luego hallar cul
es la distancia con respecto a una posicin determinada y
corregir su posicin agregando o eliminando datos en los
extremos segn sea necesario. La eliminacin de los datos
extremos no altera la informacin relevante a la exploracin,
ya que est contenida en la regin media de cada barrido;
es decir, limitada por las ondas difractadas. En las fguras 5
y 6 se observa este proceso para dos muestras de la matriz.
Sin embargo, el algoritmo nicamente funciona en aque-
llos casos en los que la superfcie y el fondo de material
explorado son planos y equidistantes en todo punto; en
caso contrario, la alineacin se realizara asumiendo la
inexistencia de dichas imperfecciones.
Teniendo en cuenta la limitacin descrita, es necesario
implementar otro algoritmo que no dependa de las con-
diciones del fondo del material; esto es, una metodologa
basada en la onda lateral, que s constituye un sistema de
referencia fable al momento de establecer la posicin
relativa de las observaciones con respecto a la superfcie
de la placa. El algoritmo asla una muestra de la matriz
general, y posteriormente le resta el promedio de s misma
(centrando su posicin alrededor del cero en la vertical);
luego se determina la desviacin estndar de los primeros
datos correspondientes a la zona previa a la onda lateral,
para poder establecer un patrn de oscilacin alrededor
de cero, y que debe ser ignorado al buscar la citada onda.
Figura 5. Detalle de dos muestras A-Scan
sin alineamiento de posicin
Fuente: Autores.
Figura 6. Detalle de dos muestras A-Scan luego de aplicado el
algoritmo
Fuente: Autores.
Se realiza entonces un barrido dentro de la muestra en
busca de los valores mayores a un umbral proporcional a
la desviacin estndar calculada, para de esta manera ase-
gurar la obtencin de picos signifcativos en la misma. En
la Figura 7 se observa una comparacin entre una muestra
y el resultado de la metodologa descrita.
31
Figura 7. Muestra A-Scan aislada (superior) y picos mayores
que el umbral de referencia (inferior)
Fuente: Autores.
Una vez se han obtenido los picos se realiza un barrido a
travs de la muestra, detenindose el proceso cuando se
detecta una inversin de la pendiente que determina el pri-
mer pico de izquierda a derecha. La posicin de este pico
es almacenada temporalmente para fjar el desplazamiento
que se debe aplicar con el objeto de alinear la muestra con
respecto a las dems. Una vez concluido el proceso para
una muestra, se contina consecutivamente con todas las
muestras hasta fnalizar la matriz de datos. El resultado de
alinear un par de muestras se observa en las fguras 8 y 9.
Figura 8. Vista y detalle de dos muestras A-Scan sin
alineamiento
Fuente: Autores.
Figura 9. Vista y detalle de dos muestras A-Scan luego de
aplicado el algoritmo
Fuente: Autores.
Despus de realizado el alineamiento el programa muestra
la imagen correspondiente a la matriz original y la imagen
de la matriz alineada. Esta visualizacin permite encontrar
posibles errores en el alineamiento tal y como se evidencia
en la Figura 10 (obsrvese el crculo que contiene un error
de alineacin).
Figura 10. Imagen de la matriz original (superior) y de la
alineada (inferior)
Fuente: Autores.
Si se encuentran errores en la imagen inferior atribuidos
a variaciones imprevistas en la forma tpica del A-Scan,
entonces es necesario corregir la posicin deseada para
la muestra. El proceso debe ser realizado manualmente
despus de analizarse la muestra, debido a que el cambio
32
de forma que produjo el error de alineamiento puede ser
un desperfecto real en la superfcie del material, caso en
el cual la posicin no correspondera a la calculada por el
algoritmo sino a una posicin prevista por el inspector. En
la Figura 11 se observa la muestra que presenta el error de
alineamiento, donde la lnea representa la posicin ideal
de la onda lateral.
Figura 11. Muestra alineada errneamente
Fuente: Autores.
Luego de corregir el desplazamiento se observa la muestra
seleccionada y la matriz general para verifcar que no per-
sista el error (Figura 12).
Figura 12. Visualizacin de la muestra A-Scan corregida
Fuente: Autores.
El resultado del procesamiento de todas las muestras por
medio de este programa permite observar los detalles con
una mayor claridad, mostrando una posicin relativa ms
acorde con las condiciones fsicas de la placa explorada
(Figura 13). Se observan imperfecciones en el fondo que
hubiesen producido errores con el primer algoritmo.
Figura 13. Imagen D-Scan con alineamiento de muestras
Fuente: Autores.
En la Figura 14 se presenta un diagrama de bloques que
muestra el algoritmo descrito en la seccin IV del artculo;
esto es, tanto la parte que realiza la alineacin de los A-Scan,
como el encargado de formar las imgenes D-Scan.
Figura 14. Diagrama de bloques que ilustra el algoritmo
Fuente: Autores.
V. CONCLUSIONES
Se consigui solucionar el problema de falsas indicaciones
de eventuales defectos causadas por muestras no alineadas
que se presenta en las imgenes D-Scan obtenidas en eva-
luacin de cordones de soldadura. El procedimiento imple-
mentado introduce un algoritmo de alineacin de muestras
una vez se han obtenido las seales en forma digital. Este
avance hace ms confable el resultado de la inspeccin,
por cuanto corrige el desalineamiento de los barridos por
amplitud, introducido por heterogeneidades tanto de la
sustancia de acople, como por rugosidades en la superfcie
del espcimen bajo exploracin.
De otra parte, los logros de la investigacin realizada
condujeron a una notable reduccin en la metodologa de
adquisicin de datos de la tcnica de difraccin de tiempo
de vuelo; especfcamente, de una duracin de alrededor de
Conjunto de
barridos A-Scan por
exploracin de una
probeta
Clculo de la
desviacin estndar
Fijar un umbral para
la ventana
Extraer el primer
A-Scan
Extraer una nueva
A-Scan
Determinacin del
signo de la
pendiente
Extraccin de los
valores superiores a
la ventana
Deteccin y
almacenamientodel
primer pico
33
80.0 minutos a nicamente 5.0 minutos, lo cual se refeja
en una gran disminucin de la fatiga asociada al trabajo de
inspeccin.
Con la optimizacin del sistema de ultrasonido desarrollado,
el grupo se benefcia al contar con la instrumentacin acorde
para futuros proyectos de investigacin.
La combinacin de algoritmos implementados constituye un
gran avance en la investigacin en tanto que reduce el tiem-
po y esfuerzo que implica la exploracin ultrasnica para
la bsqueda de discontinuidades en cordones de soldadura.
VI. REFERENCIAS
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