Está en la página 1de 26

PROYECTO

CENTRAL MARIPOSAS
PROTOCOLOS DE PRUEBAS

REL DE PROTECCIN
SIEMENS 7UM6225
DIFERENCIAL DEL GENERADOR S1

REV 0

ELABORACIN

REVISIN

APROBACIN

FECHA

20-12-10
Guillermo Fuentes

20-12-2010
Antonio Contreras M..

20-12-2010
Eric Gonzlez

NOMBRE
FIRMA

NOMBRE

APROBACIN ITO STE ENERGY


FECHA

FIRMA

Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo


.
.

Subestacin/Baha:
Subestacin:
Baha:

Central Mariposas

Direccin de subestacin: Sala de Control


Direccin de baha:

Fabricante:
Direccin del dispositivo:

SIEMENS
U1-QPRO

Dispositivo:
Nombre/descripcin:
Tipo de dispositivo:
No de serie:
Info adicional 1:
Info adicional 2:

Proteccion Generador Sist. 1


Proteccion Generador
7UM6225/1

Diferencial de Estator del Generador, U1 (87).


Diff Operating Characteristic L1-E
.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:35:05

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:38:09

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-E en el lado de referencia


Primario
Ipol
0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,121 In
0,221 In
0,322 In
0,422 In
0,630 In
0,822 In
1,037 In
0,080 In
0,172 In

-21,87 %
3,15 %
-1,77 %
1,25 %
-0,97 %
-0,69 %
-0,53 %
2,21 %
-21,87 %
2,27 %

-0,0219 In
0,0039 In
-0,0041 In
0,0041 In
-0,0041 In
-0,0041 In
-0,0044 In
0,0225 In
-0,0219 In
0,0041 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Diagrama de la caracterstica de operacin


Idiff [In]
8
7
6
5
4
3
2
1
0
2,5

5,0

7,5

10,0

12,5

15,0

17,5

20,0

Ipol [In]

Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Operating Characteristic L2-E


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:38:36

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:40:25

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L2-E en el lado de referencia


Primario
Ipol
0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,129 In
0,220 In
0,327 In
0,418 In
0,616 In
0,814 In
1,040 In
0,078 In
0,178 In

-21,87 %
3,15 %
-1,77 %
1,26 %
-0,97 %
-0,68 %
-0,53 %
2,23 %
-21,87 %
2,27 %

-0,0219 In
0,0039 In
-0,0040 In
0,0041 In
-0,0041 In
-0,0042 In
-0,0044 In
0,0227 In
-0,0219 In
0,0040 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Operating Characteristic L3-E


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:40:32

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:42:14

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L3-E en el lado de referencia


Primario
Ipol
0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,129 In
0,228 In
0,327 In
0,418 In
0,625 In
0,832 In
1,031 In
0,078 In
0,170 In

-21,87 %
3,15 %
1,78 %
1,26 %
-0,97 %
0,69 %
1,61 %
1,34 %
-21,87 %
-2,26 %

-0,0219 In
0,0039 In
0,0040 In
0,0041 In
-0,0041 In
0,0043 In
0,0132 In
0,0136 In
-0,0219 In
-0,0039 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

.
Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Operating Characteristic L1-L2


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:42:21

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:44:10

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-L2 en el lado de referencia


Primario
Ipol

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,121 In
0,220 In
0,319 In
0,418 In
0,625 In
0,832 In
1,040 In
0,078 In
0,178 In

-21,87 %
-3,13 %
-1,77 %
-1,25 %
-0,97 %
0,69 %
1,61 %
2,23 %
-21,87 %
2,27 %

-0,0219 In
-0,0039 In
-0,0040 In
-0,0040 In
-0,0041 In
0,0043 In
0,0132 In
0,0227 In
-0,0219 In
0,0040 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Diagrama de la caracterstica de operacin


Idiff [In]
8
7
6
5
4
3
2
1
0
2,5

5,0

7,5

10,0

Ipol [In]

.
Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

12,5

15,0

17,5

20,0

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Diff Operating Characteristic L2-L3


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:44:17

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:46:06

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L2-L3 en el lado de referencia


Primario
Ipol
0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,121 In
0,220 In
0,319 In
0,426 In
0,625 In
0,823 In
1,031 In
0,078 In
0,178 In

-21,87 %
-3,13 %
-1,77 %
-1,25 %
0,98 %
0,69 %
0,54 %
1,34 %
-21,87 %
2,27 %

-0,0219 In
-0,0039 In
-0,0040 In
-0,0040 In
0,0041 In
0,0043 In
0,0044 In
0,0136 In
-0,0219 In
0,0040 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

.
Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Operating Characteristic L3-L1


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:46:13

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:47:51

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L3-L1 en el lado de referencia


Primario
Ipol
0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,129 In
0,228 In
0,319 In
0,426 In
0,625 In
0,832 In
1,021 In
0,078 In
0,178 In

-21,87 %
3,15 %
1,78 %
-1,25 %
0,98 %
0,69 %
1,61 %
0,45 %
-21,87 %
2,27 %

-0,0219 In
0,0039 In
0,0040 In
-0,0040 In
0,0041 In
0,0043 In
0,0132 In
0,0045 In
-0,0219 In
0,0040 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

.
Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Operating Characteristic L1-L2-L3


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Diff Operating


Characteristic
05-Dic-2010 15:47:58

Versin:

2.22

Fin:
Director:

05-Dic-2010 15:50:01

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-L2-L3 en el lado de


referencia Primario
Ipol
0,10 In
0,50 In
0,90 In
1,30 In
1,70 In
2,50 In
3,30 In
4,10 In
0,30 In
0,70 In

Idiff
Nominal
0,100 In
0,125 In
0,224 In
0,323 In
0,422 In
0,620 In
0,819 In
1,017 In
0,100 In
0,174 In

Idiff real

Desv (rel)

Desv (abs)

0,078 In
0,121 In
0,220 In
0,319 In
0,418 In
0,616 In
0,823 In
1,012 In
0,078 In
0,170 In

-21,87 %
-3,13 %
-1,77 %
-1,25 %
-0,97 %
-0,68 %
0,54 %
-0,44 %
-21,87 %
-2,26 %

-0,0219 In
-0,0039 In
-0,0040 In
-0,0040 In
-0,0041 In
-0,0042 In
0,0044 In
-0,0045 In
-0,0219 In
-0,0039 In

Prueba de Estado
verificacin
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Resultado
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

.
Estado:
10 de 10 puntos probados. 10 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Sobre Tensin (59)


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
05-Dic-2010 14:15:06

Versin:
Fin:
Director:

2.22
05-Dic-2010 14:19:24

Resultados de la prueba
Ttulo: Sobre Tensin (59) Test 1

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Fase-Fase

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-L2
123,0 V
30,00
V0
0,000 V
0,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
0,00
I L3
0,000 A
0,00

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

71,014V

+90

0,00

V L3-E
V L1-E
180

V L2-E
80,0 V -90
V L2-E

71,014V

-120,00

V L3-E

71,014V

120,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

0,00

I L3

0,000A

0,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
10,053s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Sobrecarga
1->0
n/a

Ttulo: Sobre Tensin (59) Test 2

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Fase-Fase

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-L2
132,0 V
30,00
V0
0,000 V
0,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
0,00
I L3
0,000 A
0,00

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

76,210V

+90

0,00

V L3-E
V L1-E
180

V L2-E
80,0 V -90
V L2-E

76,210V

-120,00

V L3-E

76,210V

120,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

0,00

I L3

0,000A

0,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
5,054s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Sobrecarga
1->0
n/a

Resumen
2 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

100,00% correcto

Baja Tensin (27)


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
05-Dic-2010 13:52:28

Versin:
Fin:
Director:

2.22
05-Dic-2010 14:14:19

Resultados de la prueba
Ttulo: Bajo Voltaje (27) Test 1

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Fase-Fase

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-L2
98,00 V
30,00
V0
0,000 V
0,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
0,00
I L3
0,000 A
0,00

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

56,580V

+90

0,00

V L3-E
V L1-E
180

V L2-E
60,0 V -90
V L2-E

56,580V

-120,00

V L3-E

56,580V

120,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

0,00

I L3

0,000A

0,00

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
10,217s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Sobrecarga
1->0
n/a

32,0 A

Ttulo: Bajo Voltaje (27) Test 2

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Fase-Fase

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-L2
98,00 V
30,00
V0
0,000 V
0,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
0,00
I L3
0,000 A
0,00

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

56,580V

+90

0,00

V L3-E
V L1-E
180

V L2-E
60,0 V -90
V L2-E

56,580V

-120,00

V L3-E

56,580V

120,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

0,00

I L3

0,000A

0,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
10,206s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Sobrecarga
1->0
n/a

Resumen
2 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

100,00% correcto

Sobrecorriente con Retencin de Voltaje, Vnom: 100% (51/27)


Overcurrent L1-L2-L3 (51V):
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
Proteccin de sobrecorriente
Tolerancia de tiempo abs.:
Tolerancia de corriente abs.:
Conexin TP:
Conexin pto. estrella del TC:
Direccional:
Relacin de restauracin::
Aplicar restauracin automtica:
Umbral
I>
I>>
I>>>

Activo
S
No
No

0,100 s
0,10 In
En lnea
Hacia la lnea
No
0,95
No

Tolerancia de tiempo rel.:


Tolerancia de tiempo rel.:

Corriente de arranque Tiempo


1,056 In (5,280 A)
1,600
4,000 In (20,000 A)
0,100 s
10,000 In (50,000 A)
0,050 s

Caracterstica
CEI muy Inversa

Ajustes de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3


.
Modelo de Falta
Tiempo de pre-falta:
Tiempo de post-falta:
Tiempo de falta mx.
abs.:
Tensin de falta:
Corriente de carga:
ngulo:
Reposicin trmica
activada:
Mtodo de reposicin
trmica:

0,000 s
500,0 ms
240,0 s

Tiempo de falta mx. rel.:

100,00 %

0,640 Vn
0,000 In
-75,00
No
Manual

.
Prueba de arranque
Tipo de prueba:
Valor de disparo:
Resolucin:
Evaluar:

No realizar la prueba
n/a
100,0 ms
No

Relativa

I [A]

Direccin

tnom

tmin

tmax

2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>
4,60 I>

10,56
13,20
15,84
18,48
24,26

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s
6,008 s

17,67 s
11,96 s
9,042 s
7,267 s
5,083 s

26,40 s
17,28 s
12,84 s
10,22 s
7,060 s

t de falta
mx.
52,80 s
34,56 s
25,69 s
20,44 s
14,12 s

.
Salidas binarias
Sal. bin 1:
Sal. bin 2:
Sal. bin 3:
Sal. bin 4:

0
0
0
0

Trigger binario
Lgica del trigger:
Entr.bi. 1:
Entr.bi. 2:

OR
1
X

10,00 %
5,00 %

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
14-Dic-2010 12:55:14

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 12:56:27

Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3


Relativa

I [A]

Direccin

tnom

treal

Desv. [%]

Estado

2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>
4,60 I>

10,56
13,20
15,84
18,48
24,26

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s
6,008 s

21,80 s
14,60 s
11,00 s
8,809 s
6,182 s

0,95
1,37
1,81
1,96
2,89

Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Sobrecarg Resultado
a
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

.
Estado:
5 de 5 puntos probados. 5 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Overcurrent L1-L2 (51V):


Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
Proteccin de sobrecorriente
Tolerancia de tiempo abs.:
Tolerancia de corriente abs.:
Conexin TP:
Conexin pto. estrella del TC:
Direccional:
Relacin de restauracin::
Aplicar restauracin automtica:
Umbral
I>
I>>
I>>>

Activo
S
No
No

0,100 s
0,10 In
En lnea
Hacia la lnea
No
0,95
No

Corriente de arranque Tiempo


1,056 In (5,280 A)
1,600
4,000 In (20,000 A)
0,100 s
10,000 In (50,000 A)
0,050 s

Tolerancia de tiempo rel.:


Tolerancia de tiempo rel.:

Caracterstica
CEI muy Inversa

Ajustes de la prueba de tipo de falta L1-L2


.
Modelo de Falta
Tiempo de pre-falta:
Tiempo de post-falta:
Tiempo de falta mx.
abs.:
Tensin de falta:
Corriente de carga:
ngulo:
Reposicin trmica
activada:
Mtodo de reposicin
trmica:

0,000 s
500,0 ms
240,0 s
1,732 Vn
0,000 In
-75,00
No
Manual

Tiempo de falta mx. rel.:

100,00 %

10,00 %
5,00 %

Prueba de arranque
Tipo de prueba:
Valor de disparo:
Resolucin:
Evaluar:

No realizar la prueba
n/a
100,0 ms
No

Relativa

I [A]

Direccin

tnom

tmin

tmax

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>

7,92
10,56
13,20
15,84
18,48

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

43,20 s
21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s

32,69 s
17,67 s
11,96 s
9,042 s
7,267 s

58,62 s
26,40 s
17,28 s
12,84 s
10,22 s

t de falta
mx.
117,2 s
52,80 s
34,56 s
25,69 s
20,44 s

.
Salidas binarias
Sal. bin 1:
Sal. bin 2:
Sal. bin 3:
Sal. bin 4:

0
0
0
0

Trigger binario
Lgica del trigger:
Entr.bi. 1:
Entr.bi. 2:

OR
1
X

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
14-Dic-2010 12:57:03

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 12:58:53

Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2


Relativa

I [A]

Direccin

tnom

treal

Desv. [%]

Estado

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>

7,92
10,56
13,20
15,84
18,48

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

43,20 s
21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s

43,41 s
21,80 s
14,59 s
11,00 s
8,814 s

0,49
0,93
1,29
1,83
2,01

Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

.
Estado:
5 de 5 puntos probados. 5 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Sobrecarg Resultado
a
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Overcurrent L2-L3 (51V):


Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
Proteccin de sobrecorriente
Tolerancia de tiempo abs.:
Tolerancia de corriente abs.:
Conexin TP:
Conexin pto. estrella del TC:
Direccional:
Relacin de restauracin::
Aplicar restauracin automtica:
Umbral
I>
I>>
I>>>

Activo
S
No
No

0,100 s
0,10 In
En lnea
Hacia la lnea
No
0,95
No

Tolerancia de tiempo rel.:


Tolerancia de tiempo rel.:

Corriente de arranque Tiempo


1,056 In (5,280 A)
1,600
4,000 In (20,000 A)
0,100 s
10,000 In (50,000 A)
0,050 s

Caracterstica
CEI muy Inversa

Ajustes de la prueba de tipo de falta L2-L3


.
Modelo de Falta
Tiempo de pre-falta:
Tiempo de post-falta:
Tiempo de falta mx.
abs.:
Tensin de falta:
Corriente de carga:
ngulo:
Reposicin trmica
activada:
Mtodo de reposicin
trmica:

0,000 s
500,0 ms
240,0 s

Tiempo de falta mx. rel.:

100,00 %

1,732 Vn
0,000 In
-75,00
No
Manual

.
Prueba de arranque
Tipo de prueba:
Valor de disparo:
Resolucin:
Evaluar:

No realizar la prueba
n/a
100,0 ms
No

Relativa

I [A]

Direccin

tnom

tmin

tmax

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>

7,92
10,56
13,20
15,84
18,48

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

43,20 s
21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s

32,69 s
17,67 s
11,96 s
9,042 s
7,267 s

58,62 s
26,40 s
17,28 s
12,84 s
10,22 s

t de falta
mx.
117,2 s
52,80 s
34,56 s
25,69 s
20,44 s

.
Salidas binarias
Sal. bin 1:
Sal. bin 2:
Sal. bin 3:
Sal. bin 4:

0
0
0
0

Trigger binario
Lgica del trigger:
Entr.bi. 1:
Entr.bi. 2:

OR
1
X

10,00 %
5,00 %

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
14-Dic-2010 12:58:59

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 13:00:48

Resultados de la prueba de tipo de falta L2-L3


Relativa

I [A]

Direccin

tnom

treal

Desv. [%]

Estado

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>

7,92
10,56
13,20
15,84
18,48

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

43,20 s
21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s

43,43 s
21,80 s
14,58 s
10,97 s
8,823 s

0,52
0,92
1,23
1,60
2,11

Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Sobrecarg Resultado
a
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

.
Estado:
5 de 5 puntos probados. 5 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Overcurrent L3-L1 (51V):


Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
Proteccin de sobrecorriente
Tolerancia de tiempo abs.:
Tolerancia de corriente abs.:
Conexin TP:
Conexin pto. estrella del TC:
Direccional:
Relacin de restauracin::
Aplicar restauracin automtica:
Umbral
I>
I>>
I>>>

Activo
S
No
No

0,100 s
0,10 In
En lnea
Hacia la lnea
No
0,95
No

Corriente de arranque Tiempo


1,056 In (5,280 A)
1,600
4,000 In (20,000 A)
0,100 s
10,000 In (50,000 A)
0,050 s

Tolerancia de tiempo rel.:


Tolerancia de tiempo rel.:

Caracterstica
CEI muy Inversa

Ajustes de la prueba de tipo de falta L3-L1


.
Modelo de Falta
Tiempo de pre-falta:
Tiempo de post-falta:
Tiempo de falta mx.
abs.:
Tensin de falta:
Corriente de carga:
ngulo:
Reposicin trmica
activada:
Mtodo de reposicin
trmica:

0,000 s
500,0 ms
240,0 s
1,732 Vn
0,000 In
-75,00
No
Manual

Tiempo de falta mx. rel.:

100,00 %

10,00 %
5,00 %

Prueba de arranque
Tipo de prueba:
Valor de disparo:
Resolucin:
Evaluar:

No realizar la prueba
n/a
100,0 ms
No

Relativa

I [A]

Direccin

tnom

tmin

tmax

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>

7,92
10,56
13,20
15,84
18,48

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

43,20 s
21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s

32,69 s
17,67 s
11,96 s
9,042 s
7,267 s

58,62 s
26,40 s
17,28 s
12,84 s
10,22 s

t de falta
mx.
117,2 s
52,80 s
34,56 s
25,69 s
20,44 s

.
Salidas binarias
Sal. bin 1:
Sal. bin 2:
Sal. bin 3:
Sal. bin 4:

0
0
0
0

Trigger binario
Lgica del trigger:
Entr.bi. 1:
Entr.bi. 2:

OR
1
X

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
14-Dic-2010 13:00:54

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 13:02:44

Resultados de la prueba de tipo de falta L3-L1


Relativa

I [A]

Direccin

tnom

treal

Desv. [%]

Estado

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>

7,92
10,56
13,20
15,84
18,48

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

43,20 s
21,60 s
14,40 s
10,80 s
8,640 s

43,38 s
21,79 s
14,60 s
11,00 s
8,818 s

0,43
0,88
1,36
1,82
2,06

Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

.
Estado:
5 de 5 puntos probados. 5 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

Sobrecarg Resultado
a
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Secuencia Negativa (46):


Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
Proteccin de sobrecorriente
Tolerancia de tiempo abs.:
Tolerancia de corriente abs.:
Conexin TP:
Conexin pto. estrella del TC:
Direccional:
Relacin de restauracin::
Aplicar restauracin automtica:
Umbral
I>
I>>
I>>>

Activo
S
No
No

0,100 s
0,10 In
En lnea
Hacia la lnea
No
0,95
No

Tolerancia de tiempo rel.:


Tolerancia de tiempo rel.:

Corriente de arranque Tiempo


0,530 In (2,650 A)
3,000 s
4,000 In (20,000 A)
0,100 s
10,000 In (50,000 A)
0,050 s

10,00 %
5,00 %

Caracterstica
Tiempo definido

Ajustes de la prueba de tipo de falta I2


.
Modelo de Falta
Tiempo de pre-falta:
Tiempo de post-falta:
Tiempo de falta mx.
abs.:
Tensin de falta:
Corriente de carga:
ngulo:
Reposicin trmica
activada:
Mtodo de reposicin
trmica:

0,000 s
500,0 ms
240,0 s

Tiempo de falta mx. rel.:

100,00 %

1,000 Vn
0,000 In
-75,00
No
Manual

.
Prueba de arranque
Tipo de prueba:
Valor de disparo:
Resolucin:
Evaluar:

No realizar la prueba
n/a
100,0 ms
No

Relativa

I [A]

Direccin

tnom

tmin

tmax

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>
4,00 I>
4,50 I>
5,00 I>

3,98
5,30
6,63
7,95
9,28
10,60
11,93
13,25

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s

2,700 s
2,700 s
2,700 s
2,700 s
2,700 s
2,700 s
2,700 s
2,700 s

3,300 s
3,300 s
3,300 s
3,300 s
3,300 s
3,300 s
3,300 s
3,300 s

t de falta
mx.
6,600 s
6,600 s
6,600 s
6,600 s
6,600 s
6,600 s
6,600 s
6,600 s

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
14-Dic-2010 13:08:47

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 13:09:28

Resultados de la prueba de tipo de falta I2


Relativa

I [A]

Direccin

tnom

treal

Desv. [%]

Estado

1,50 I>
2,00 I>
2,50 I>
3,00 I>
3,50 I>
4,00 I>
4,50 I>
5,00 I>

3,98
5,30
6,63
7,95
9,28
10,60
11,93
13,25

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s
3,000 s

3,208 s
3,218 s
3,212 s
3,217 s
3,206 s
3,212 s
3,209 s
3,206 s

6,92
7,25
7,06
7,23
6,87
7,06
6,98
6,86

Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado
Probado

Sobrecarg Resultado
a
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Diagrama de la Caracterstica de Overcurrent


100,00
50,00

20,00
10,00
5,00
t [s]

2,00
1,00
0,50

0,20
0,10
0,05
1,0

2,0

3,0

5,0

I2 - I /( In *0,530)

.
Estado:
8 de 8 puntos probados. 8 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.

Evaluacin general: Prueba correcta

7,0

10,0

20,0

Potencia Inversa (32)


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 14:45:11

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 14:52:12

Resultados de la prueba
Ttulo: Potencia Inversa test 1

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Potencias

Parmetros (Todos los valores son primarios)


S1 ( P1 , Q1 )
-18,33 kW
2,245e-006 var
S2 ( P2 , Q2 )
-18,33 kW
2,245e-006 var
S3 ( P3 , Q3 )
-18,33 kW
2,245e-006 var
Sv ( P , Q )
-55,00 kW
6,736e-006 var
V L1-E
3,811 kV
0,00
V L2-E
3,811 kV
-120,00
V L3-E
3,811 kV
120,00

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

3810,540V

+90

0,00

V L3-E

I L2

I L1

V L1-E

180

V L2-E
80,0 V -90
V L2-E

3810,540V

-120,00

V L3-E

3810,540V

120,00

I L1

4,815A

180,00

I L2

4,815A

60,00

I L3

4,815A

-60,00

I L3
40,0 mA

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
5,411s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Baja Frecuencia P1
.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 14:53:14

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 14:59:41

Resultados de la prueba
Ttulo: Baja Frecuencia test 2

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Directo

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-E
63,51 V
-30,00
V L2-E
63,51 V
-150,00
V L3-E
63,51 V
90,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
-120,00
I L3
0,000 A
120,00

49,000 Hz
49,000 Hz
49,000 Hz
49,000 Hz
49,000 Hz
49,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

63,509V

+90

-30,00

V L3-E

180

0
V L2-E V L1-E

80,0 V -90
V L2-E

63,509V

-150,00

V L3-E

63,509V

90,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

-120,00

I L3

0,000A

120,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
90,357s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Baja Frecuencia P2
.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 15:00:36

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 15:01:09

Resultados de la prueba
Ttulo: Baja Frecuencia test 2

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Directo

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-E
63,51 V
-30,00
V L2-E
63,51 V
-150,00
V L3-E
63,51 V
90,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
-120,00
I L3
0,000 A
120,00

47,500 Hz
47,500 Hz
47,500 Hz
47,500 Hz
47,500 Hz
47,500 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

63,509V

+90

-30,00

V L3-E

180

0
V L2-E V L1-E

80,0 V -90
V L2-E

63,509V

-150,00

V L3-E

63,509V

90,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

-120,00

I L3

0,000A

120,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
5,383s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Sobre Frecuencia P3
.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 15:02:59

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 15:05:00

Resultados de la prueba
Ttulo: Sobre Frecuencia Test 2

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Directo

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-E
63,51 V
-30,00
V L2-E
63,51 V
-150,00
V L3-E
63,51 V
90,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
-120,00
I L3
0,000 A
120,00

51,000 Hz
51,000 Hz
51,000 Hz
51,000 Hz
51,000 Hz
51,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

63,509V

+90

-30,00

V L3-E

180

0
V L2-E V L1-E

80,0 V -90
V L2-E

63,509V

-150,00

V L3-E

63,509V

90,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

-120,00

I L3

0,000A

120,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
90,328s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Sobre Frecuencia P4
.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 15:05:07

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 15:06:05

Resultados de la prueba
Ttulo: Sobre Frecuencia Test 2

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Directo

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-E
63,51 V
-30,00
V L2-E
63,51 V
-150,00
V L3-E
63,51 V
90,00
I L1
0,000 A
0,00
I L2
0,000 A
-120,00
I L3
0,000 A
120,00

52,500 Hz
52,500 Hz
52,500 Hz
52,500 Hz
52,500 Hz
52,500 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

63,509V

+90

-30,00

V L3-E

180

0
V L2-E V L1-E

80,0 V -90
V L2-E

63,509V

-150,00

V L3-E

63,509V

90,00

I L1

0,000A

0,00

I L2

0,000A

-120,00

I L3

0,000A

120,00

32,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
5,322s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Prdida de Excitacin (40)


.

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 16:10:23

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 16:13:34

Resultados de la prueba
Ttulo: Caracterstica 1 EXC

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Z-I const.

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


Falta
L1-L2-L3
ZFalta
5,000
-5,00
ZFalta (R-X)
4,981
-435,8 m
Ipru
3,000 A

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

15,000V

+90

0,00

V L3-E
I L3
I L1
V L1-E
180

V L2-E
I L2
15,0 V -90
V L2-E

15,000V

-120,00

V L3-E

15,000V

120,00

I L1

3,000A

5,00

I L2

3,000A

-115,00

I L3

3,000A

125,00

3,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
5,216s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

Ttulo: Caracterstica 2 EXC

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Z-I const.

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


Falta
L1-L2-L3
ZFalta
5,000
-30,00
ZFalta (R-X)
4,330
-2,500
Ipru
3,000 A

50,000 Hz

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Ajustes del generador


V L1-E

15,000V

+90

0,00

V L3-E
I L3

I L1
V L1-E

180

V L2-E
15,0 V -90
V L2-E

15,000V

-120,00

V L3-E

15,000V

120,00

I L1

3,000A

30,00

I L2

3,000A

-90,00

I L3

3,000A

150,00

I L2

3,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
5,222s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Ttulo: Caracterstica 3 EXC

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Z-I const.

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


Falta
L1-L2-L3
ZFalta
5,000
-90,00
ZFalta (R-X)
3,062e-010
-5,000
Ipru
3,000 A

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

15,000V

+90

0,00

V L3-E

I L1

V L1-E
180

I L3
V L2-E
15,0 V -90
V L2-E

15,000V

-120,00

V L3-E

15,000V

120,00

I L1

3,000A

90,00

I L2

3,000A

-30,00

I L3

3,000A

-150,00

I L2
3,0 A

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
0,721s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
3 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10 Sobrecarga
1->0
1->0
n/a
n/a

Proteccin 90% Faltas a Tierra del Estator 59N/67GN


.
.
Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
14-Dic-2010 16:16:15

Versin:
Fin:
Director:

2.22
14-Dic-2010 16:23:17

Resultados de la prueba
Ttulo: test 1

.
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla
Directo

Parmetros (Todos los valores son secundarios)


V L1-E
6,500 V
0,00

50,000 Hz

Ajustes del generador


V L1-E

6,500V

+90

0,00

V L1-E
180

8,0 V

-90

Entradas binarias
Entr.bi. 1
0->1
1,080s

Entr.bi. 2
1->0
n/a

Entr.bi. 3
1->0
n/a

Entr.bi. 4
1->0
n/a

Entr.bi. 5
1->0
n/a

Entr.bi. 6
1->0
n/a

Entr.bi. 7
1->0
n/a

Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
Prueba correcta

Entr.bi. 8
1->0
n/a

Entr.bi. 9
1->0
n/a

100,00% correcto

Entr.bi. 10
1->0
n/a

También podría gustarte