ESCUELA POLITCNICA NACIONAL

FACULTAD DE INGENIERA MECNICA LABORATORIO DE MATERIALES

CIENCIA DE MATERIALES I Ing. Rodrigo Ruiz

DIFRACCIN DE RAYOS X
El criterio actual de las estructuras cristalinas ha sido obtenido principalmente por medio de tcnicas de difraccin de rayos X, esta es la principal herramienta para investigar la estructura a escala de dimensiones atmicas. Aplicando ciertas leyes de la fsica se demuestra que la longitud de onda de la radiacin electromagntica debe ser del orden del tamao de la dimensin que se va a investigar. Por lo tanto, para investigar dimensiones atmicas en el intervalo de 0,5 a 50 , se requiere una radiacin electromagntica cuya energa es caracterstica de los rayos X.

 Los rayos X fueron descubiertos en el siglo XIX, y Von Laue y Bragg, quienes desarrollaron la teora de la difraccin de los rayos X a principios del siglo XX. Es una tcnica relativamente sencilla, pero que puede proporcionar mucha informacin exacta acerca de los espacios entre planos y de las posiciones de los tomos. Un diagrama esquemtico de una seccin transversal de un tubo de rayos X de filamento sellado, se muestra en la siguiente figura 5-1.

 Cuando el filamento de wolframio del ctodo se calienta, se liberan electrones por emisin termoinica y se aceleran a travs del vaco por la gran diferencia de voltaje entre el ctodo y el nodo, por lo tanto ganando energa cintica. Cuando los electrones golpean la lmina de metal (por ejemplo molibdeno) se emiten rayos X. Sin embargo, la mayor parte de la energa cintica (cerca del 98%) se convierte en calor, por tanto, la muestra tiene que enfriarse externamente.

Figura 5-1. Seccin transversal de un tubo e rayos X de un filamento sellado.

El mecanismo de interaccin ondulatoria, llamado interferencia, que se ilustra en la figura 2.38.

Figura 2.38 Mecanismo de interaccin ondulatoria.

Se basa en la observacin que las amplitudes de las ondas que se interfieren se suman, formando la amplitud de una onda compuesta. Cuando las ondas de igual amplitud estn en fase, sus mximos y mnimos estn alineados, y la amplitud de la onda compuesta es el doble de la de sus componentes (figura 2.39). Esto se llama interferencia constructiva.

Figura 2.39 Interferencia constructiva

Sin embargo si, como se ve en la figura 2.40, una de las dos ondas est desplazada una distancia igual a media longitud de onda, la amplitud de la onda compuesta es igual a cero en todos los puntos. Este fenmeno se llama interferencia destructiva, y es la base de los recubrimientos anti reflejantes (por ejemplo, los de los lentes de las cmaras).

Figura 2.40. Interferencia destructiva

El fenmeno de interferencia es fundamental para comprender la interaccin de los rayos X con los cristales. Al imaginar un haz de rayos X paralelos que llegan a la superficie de un cristal. Para el haz de rayos X, la red cristalina le parece un conjunto de tomos ubicados en planos, como se ve en la figura 2.41.

Figura 2.41 Rayos X al incidir sobre la muestra a analizar.

 Longitud de trayectoria del rayo 2 a - longitud de trayectoria del rayo 1 a = 0 Longitud de trayectoria del rayo 2 b - longitud de trayectoria del rayo 1 a = AB + BC Longitud de trayectoria del rayo 3c - longitud de trayectoria del rayo 1 a = 2(AB + BC)

La longitud de onda de la radiacin es , el ngulo de incidencia es y la distancia perpendicular entre los planos paralelos, que es el espacio o distancia interplanar, es d. Al examinar lo que sucede con dos ondas paralelas de rayos X. La primera onda es reflejada en el plano superior de los tomos, y la segunda en el siguiente hacia abajo. Son las ondas 1a y 2b de la figura 2.41.

 La diferencia en distancias recorridas, desde la fuente hasta el deflector, para los rayos X 1a y 2b, queda determinada por la ecuacin.
AB + BC = 2d sen Siendo AB y BC las longitudes de los segmentos de recta entre los puntos indicados. Debido a estas diferencias de longitudes de trayectoria habr un desplazamiento de fases entre los dos rayos X cuando lleguen al detector. Las dos ondas se interfieren constructivamente slo si la diferencia entre sus trayectorias es un mltiplo entero de la longitud de onda del rayo X. Cuando se presenta interferencia constructiva en un experimento con rayos X, se llama difraccin. La condicin para la difraccin es: 2d sen = n Siendo n un entero.

Esta ecuacin se llama ley de Bragg, y es la ecuacin fundamental de la difraccin.

Si se conoce la longitud de onda y si se mide la intensidad del haz difractado dentro de un intervalo de , entonces se puede calcular d., el valor de n en la ecuacin determina el orden de reflexin; cuando n = 1, es una reflexin de primer orden; con n = 2 es de segundo orden, y con n = i, es de i-simo orden.
Se pueden determinar los parmetros de red con gran exactitud, usando la difraccin de rayos X, en Angstrom, con 4 o 5 cifras.

Hay docenas de tcnicas que se usan en la difraccin de rayos X. Quiz el mtodo que se comprende con ms facilidad es el de la difraccin en polvos. Se muele una muestra transformndola en polvo, y se mezcla con un aglomerante no cristalino. El polvo y el aglomerante se someten a una fuente monocromtica (de una sola longitud de onda) de radiacin X que est en fase. Se mide la intensidad difractada en funcin de , con un instrumento llamado difractmetro. En la figura 2.42 se presenta un esquema de aplicacin y deteccin con la tcnica de difractometra de rayos x.

DIFRACTMETRO

Figura 2.42. Tcnica de difraccin de rayos x.

Las tcnicas de difraccin de rayos X, permiten determinar las estructuras de los slidos cristalinos. La interpretacin de los datos de difraccin de rayos X para la mayora de las sustancias es compleja, por eso slo se considerar el caso sencillo de difraccin en metales de estructura cbica pura. El anlisis de difraccin de rayos X para celdas unitarias cbicas puede ser simplificado combinando la ecuacin:

Con la ecuacin de Bragg

= 2d sen , obteniendo:

Esta ecuacin puede ser utilizada con los datos de difraccin de rayos X para determinar si una estructura cristalina es cbica centrada en el cuerpo o cbica centrada en las caras. Para emplear la ecuacin anterior, en el anlisis de difraccin, debemos saber que planos del cristal son los planos de difraccin para cada tipo de estructura cristalina. Para la red cbica simple, son posibles reflexiones desde todos los planos (hkl).

Sin embargo, para la estructura BCC la difraccin ocurre sobre los planos cuyos ndices de Millar sumados (h + k + l) da un nmero par. En el caso de la estructura cristalina FCC, los planos principales de difraccin son aquellos cuyos ndices de Millar son todos los pares o todos los impares (cero se considera par). De este modo, para la estructura cristalina FCC, los planos difractantes son {111}, {200}. {220}. etc., que se enumeran en la tabla 2.3.