Interfer ometro de Michelson

Hiram Plaza
Laboratorio de Ondas y Optica, Departamento de F sica, Facultad Experimental de Ciencias y Tecnolog a, Universidad de Carabobo, Valencia - Venezuela Se calcula el valor de la longitud de onda de una fuente de luz de HeNe usando el montaje del interfer ometro de Michelson y haciendo variar la diferencia de camino para contar los anillos que se visualizan en el quedando que la longitud de onda de la fuente como 0 = (633, 33 6, 99)nm con una discrepancia de 0, 21 % con respecto a los datos suministrados del instrumento. Tambi en se encuentra que el indice de refracci on varia de forma lineal conforme se hace variar la presi on en un mismo medio. Y nalmente se calcula por medio de la rotaci on de un material acr lico el valor para el indice de refracci on de nacrilico = (1, 515 0, 190) con una discrepancia de 3, 07 %. INTRODUCION FUNDAMENTOS TEORICOS

I.

II.

Por muchos a nos se mantuvo la teor a de que exist a alg un medio en especial en el cual no hab a materia, esto en el intento de explicar porque la luz como una onda se propagaba en el espacio, pues para ese entonces se pensaba que como toda onda necesitaba un medio para propagarse, dicho medio fue llamado eter y el experimento de Michelson-Morley tuvo como nalidad demostrar su existencia. El montaje del experimento tenia la forma:

En la base de un edicio cercano al nivel del mar, Michelson y Morley construyeron lo que se conoce como el interfer ometro de Michelson. Se compone de una lente semiplateada o semiespejo, que divide la luz monocrom atica en dos haces de luz que viajan en un determinado angulo el uno respecto al otro. Con esto se lograba enviar simult aneamente dos rayos de luz (procedentes de la misma fuente) en direcciones perpendiculares, hacerles recorrer distancias iguales (o caminos opticos iguales) y recogerlos en un punto com un, en donde se crea un patr on de interferencia que depende de la velocidad de la luz en los dos brazos del interfer ometro. Cualquier diferencia en esta velocidad (provocada por la diferente direcci on de movimiento de la luz con respecto al movimiento del eter) ser a detectada.[4]

Imagen 1. Montaje de Michelson-Morley Ambos espejos del montaje estaban dispuestos a la misma distancia, entonces al dividir el haz del luces llegar a a la pantalla con una diferencia de fase a causa del viento del eter, pero al visualizar la pantalla no se encontr o diferencia de fase alguna lo que dicto el experimento como fallido para sus prop ositos, aun as este es el experimento fallido mas famoso e importante de la f sica moderna. Sin embargo el interfer ometro brindo una cantidad impresionante a Albert Einstein, quien explico la raz on del resultado desmintiendo el hecho de la existencia de el medio llamado eter, este de por si es un pilar importante de la f sica moderna y en particular de la teor a especial de la relatividad de Einstein.

Imagen 2. montaje del interfer ometro. La imagen 2, muestra la disposici on del sistema que era muy similar a la del interfer ometro original. Es posible calcular la longitud de onda de una fuente de luz conociendo la diferencia de camino que se crea al mover uno de los espejos, ademas de calcular los anillos de transici on mientras se hace variar la diferencia de camino. Esto se expresa con la ecuaci on 1: 0 = 2d N (1)

2 donde d es la diferencia de camino y N es el numero de transiciones que se visualizan.

III. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL A. Montaje

Antes de iniciar con el montaje, se debe jar de la imagen 1 para conocer el posicionamiento de los espejos y como se alinea el sistema. Luego de posicionar la base con el l aser, se hace incidir luz sobre el primer espejo hasta que se pueda visualizar de forma clara. Sucesivamente se colocan el resto de los componentes, (el segundo espejo, la pantalla y el separador dispuesto a un angulo de 45o ). De forma que los haces de luces reejados llegan a los dos espejos. Imagen 3. Anillos de transici on Cuando un haz de luz pasa de un medio a otro distinto, la longitud de onda se ve modicada por la densidad del nuevo medio de la forma: = i n (2) Al principio la imagen no sera clara, pero al ajustar los lentes se puede mejorar la imagen resultante, ademas se dispone de una lente convergente para anar lo suciente el haz de luz para que incida justo sobre el centro del separador de haces.

B. 1.

Experimentaci on Longitud de onda

con n como el indice de refracci on del medio en el que esta sometido, y i la longitud de onda del medio en el que estaba anteriormente. En particular para el caso en el que la luz modica su velocidad en el medio a causa de la presi on del sistema, se puede hallar el indice de refracci on con la siguiente ecuaci on: ni = nf + N i 2d (3)

Para medir la longitud de onda del l aser, se coloca el micr ometro del instrumento en 100m. El sensor se dispone de tal forma que en la pantalla se visualicen dos o tres franjas brillantes, luego se hace variar la distancia de los espejos para obtener varios valores para los m aximos, esto se logra contando 300 anillos y luego se toma la distancia de variaci on con respecto a la posici on inicial del micr ometro. Todo esto aplicado en la ecuaci on 1.

Para el experimento se usa una celda de vac o y para calcular el indice de refracci on se coloca la celda a cierta presi on, luego se libera de forma lenta hasta llegar al equilibrio y se cuenta el numero de transiciones que se observen. En este caso nf = 1 (en el aire a presi on normal) y d es la longitud de la c amara que esta sometida bajo presi on. Es posible calcular el indice de refracci on para materiales translucidos haci endolo rotar y determinando la diferencia de camino optico entre dos angulos determinados (contando las transiciones), desde luego es f acil deducir que el desfajase depende de el espesor de la muestra t, todo esto se muestra en la ecuaci on:

2.

Indice de Refracci on bajo Presi on

Del montaje dispuesto se coloca una platina entre el separador de haces y el espejo m ovil, encima de la platina se coloca la celda de vac o, y a su vez se sujeta esta celda a una bomba de vac o. Aun al atravesar la celda el camino optico no varia, en su lugar se obtiene una variaci on de la longitud de onda. La nueva longitud de onda se calcula con la ecuaci on 2. esto se visualiza en el numero de anillos que se visualizan al hacer variar la presi on. Tambi en se obtiene el nuevo valor para el indice de refracci on con la ecuaci on 3, Tomando en cuenta la presi on inicial, la presi on nal y el numero de anillos que transcurre entre estos. Cada medici on arroja cierto error, por ende hay que tomar muy en cuenta estos valores.

nacrilico =

(2t N 0 )(1 cos) 2t(1 cos) N 0

(4)

3
3. Indice de Refracci on del Acr lico

Para calcular el valor del indice de refracci on del acr lico es necesario hacer variar el camino optico, con este colocado de por medio, y variando el angulo de la platina dispuesta. En un principio se dispone de forma que la platina coincida con el 0 en la escala de grados. Se elimina la lente que esta frente al l aser y se coloca la pantalla de observaci on entre el acr lico y el espejo movible, luego se gira hasta que poder observar un solo punto brillante y se dispone la posici on del acr lico como el nuevo 0 para la medici on. luego se vuelve a colocar la lente y la pantalla como estaban antes. Disponer el sistema de tal forma que se visualicen bien las franjas en la pantalla. Luego se hace rotar la platina y se cuentan las transiciones entre las franjas de 0o a 10o . El valor para el indice de refracci on se calcula con la ecuaci on 4.
RESULTADOS Y ANALISIS A. Longitud de onda

numero de anillos de transici on N en cada caso y aplicando esto en la ecuaci on 3, se obtienen valores distintos de indices de refracci on para presiones distintas y luego se agrupan obteniendo la gr aca 1.

Gr aca 1. Indice de refracci on vs Presi on La informaci on sobre la gr aca se puede visualizar en la tabla 1.

IV.

Se realiza la medici on para un total de N = (300 1) anillos desplazados, en las que se calcula una variaci on de la distancia de d = (95 1)m. Luego para encontrar el valor de la longitud de onda de la fuente de luz se hace uso de la ecuaci on 1, obteniendo que: 0 = (633, 33 6, 99)nm Desde luego este calculo se realiza varias veces para distintos N y d, pero se toma en cuenta el resultado mas aproximado. De los datos suministrados, se conoce el valor de la longitud de onda de la fuente como f uente = 632nm, lo que quiere decir que entre la longitud de onda calculada y la longitud de onda de la fuente hay una discrepancia de 0, 21 %.

tabla 1. datos de gr aca 1. Se puede notar claramente que la tendencia es lineal, es decir que el indice de refracci on aumenta de forma lineal conforme aumenta la presi on en un sistema, pues que si aumenta la densidad del medio la velocidad de la luz en el mismo disminuye, lo que signica que el indice de refracci on aumenta y por esta raz on se visualiza una pendiente positiva en la gr aca 1.
C. Indice de Refracci on del Acr lico

B.

Indice de Refracci on bajo Presi on

Para determinar el indice de refracci on de una muestra de acr lico de t = (17, 60 0, 02)mm, se calculan entre un i = (0 1) y un f = (10 1) un numero de transiciones de N = (290 1). Tomando en cuenta estos datos y tomando en cuenta el valor de la longitud de onda del l aser 0 = (633, 33 6, 99)nm, se agrupan en la ecuaci on 4 para encontrar el valor del indice de refracci on en el acr lico quedando as que: nacrilico = (1, 515 0, 190) De la referencia bibliogr aca [1], se obtiene una valor est andar para el indice de refracci on del acr lico como

Para calcular el indice de refracci on bajo presi on se toma en cuenta el valor de la presi on nal que registra la celda de vac o como pf = 0mmHg y a cada paso se ja una presi on inicial contando los anillos de transici on, se dice tambi en que el indice de refracci on nf = 1 el cual es el indice de refracci on del aire. Se obtienen del experimento la longitud de la v alvula de vac o d = (32, 94 0, 02)mm, la longitud de onda de la fuente calculada anteriormente 0 = (633, 33 6, 99)nm y el

4 nestandar = 1, 49, tomando en cuenta este dato se concluye que el indice de refracci on nacrilico tiene una discrepancia de 3, 07 % con respecto a el valor est andar encontrado mismo. Se calcula de forma experimental el indice de refracci on en un material acr lico nacrilico = (1, 515 0, 190) con una diferencia porcentual de 3, 07 % con respecto a otro valor tomado como referencia [1].

V.

CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES

Se determina el valor de la longitud de onda de una fuente de forma experimental resultando ser 0 = (633, 33 6, 99)nm, esto con una diferencia porcentual de 0, 21 % con respecto a el valor de la longitud de onda emitida por el instrumento suministrado. Se demuestra de forma experimental que el indice de refracci on el un medio aumenta de forma lineal conforme se aumenta la presi on en el sistema

VI.

BIBLIOGRAF IA

[1] www.luventicus.org/articulos/02A033/index.html [2] http://es.wikipedia.org/wiki/ ndice de refracci on [3] http://www.neoteo.com/el-experimento-de -michelson-y-morley [4] http://es.wikipedia.org/wiki/Experimento de Michelson y Morley [5] www.ual.es/mjgarcia/interferencias.pdf