REFRACCION DE LA LUZ, LEY DE SNELL, INDICE DE REFRACCION

Objetivos.-

Estudiar las propiedades de la refraccin de la luz. Verificar la ley de Snell. Errores en funciones
trigonometricas
Antecedentes tericos.Es de comn conocimiento el caso de un rayo luminoso que se propaga rectilneamente en un medio transparente y
uniforme ( isotrpico ) . Sin embargo, si incide sobre la superficie de separacin de un segundo medio, cuyas
caractersticas difieren del primero, el rayo sufre cambios en RAPIDEZ y en DIRECCION de propagacin. Estos
cambios son mas o menos evidentes, segn sean las propiedades del segundo medio, la superficie de separacin ( lisa,
rugosa, etc. ), y el ngulo con que el rayo incide sobre ella.
Algunos de los fenmenos que ocurren, son:
- reflexin especular y/o difusa.
- refraccin nica y dicroica.
- dispersin, absorcin, etc.
De ellos, estudiaremos a continuacin la REFRACCION. La ley emprica que rige el fenmeno se conoce como ley
de Snell.
Con el apoyo del diagrama de la

N
medio 1
n1

ri
i
S

medio 2
n2

r
rr

derecha, llamemos i al formado por

el rayo incidente ( ri ) y la normal ( N )
a la superficie ( S ) de separacin, y
r , al formado por esta normal y el rayo
refractado ( rr ). Snell dedujo experimentalmente que:

sen i n1 = sen r n2
o
sen i = n sen r , donde n = n2 / n1 ,
y corresponde al ndice de refraccin
del medio 2, respecto del medio 1.

En el trabajo de hoy verificaremos la validez de la ley de Snell y adems determinaremos el ndice de refraccin
de un material transparente ( acrlico ), respecto del aire que en este caso ser el medio 1. El ndice de refraccin
del aire es 1,0008, por lo que dada la precisin de nuestro experimento, consideraremos como 1.
Montaje y procedimiento.-

fuente de luz

rendija

acrlico

riel ptico

pantalla
mvil

La rendija tiene por finalidad afinar el haz de luz para definir ntidamente el rayo incidente sobre

la cara plana del cuerpo semicircular de acrlico. Este semicilindro va sobre un plato que puede girar
respecto de una escala circular graduada que permite medir ngulos.
TODOS LOS COMPONENTES DEL SISTEMA DEBEN ESTAR CENTRADOS Y ALINEADOS.

Dispuestos y alineados los componentes sobre el riel, gire en cierto ngulo el plato que porta el
semicilindro; se definirn as r i y rr segn se aprecia en la figura inferior :

N
<i
ri

rr
<r
N

Con idntica metodologa explore varios ngulos; precise rangos mximo y mnimo y una vez afinados
todos los detalles, realice las medidas correspondientes, completando la tabla siguiente:
i
med.
N
1
2
3
4
5
6
7
8
9

sen i

sen r

n = sen i / sen r
Observaciones

Esta tabla es una sugerencia y Ud. la puede modificar y/o adaptar, por ejemplo, incluyendo
REPETICION de medidas con sus respectivos promedios, ya sea en el mismo cuadrante del plato
portador del semicilindro y/o en el cuadrante contiguo.
Opcionalmente puede confeccionar el grfico: sen i = f ( sen r ) , calculando su pendiente.
EN UNO U OTRO CASO, COMENTE Y DISCUTA RESULTADOS OBTENIDOS

PARTE OPTATIVA.- Si le queda tiempo, gire en 180 el plato de modo tal que ahora la incidencia sea por la
cara curva del semicilindro. Para el registro de datos, use la metodologa de la parte anterior.
En la parte primera se estudi el fenmeno cuando el rayo incide desde un medio de menor a uno de mayor
ndice de refraccin; en esta segunda parte, es a la inversa y posiblemente apreciar la REFLEXION TOTAL ,
entre otras caractersticas del fenmeno.
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