Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
Etn501 Libro PDF
Etn501 Libro PDF
Estado Solido
ETN - 501
Ing. Teodoro Busch
CAPITULO 1:
Fsica de Semiconductores
CAPITULO 2:
Estructuras de Bandas del Semiconductor
CAPITULO 3:
Fsica de Semiconductores
CAPITULO 4:
Fenmeno de transporte de portadores
CAPITULO 5:
Fsica de la Unin P-N
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
CAPTULO
FSICA DE SEMICONDUCTORES
1
Radiacin trmico y postulado de Planck
Radiacin trmica es la radiacin emitida por un cuerpo como resultado de su
temperatura.
Todos los cuerpos emiten y absorben radiacin a su alrededor y de su alrededor.
En equilibrio trmico se igualan las razones de emisin y radiacin.
El espectro de emisin es independiente del material, del cual es compuesto el
cuerpo y fuertemente dependiente de la temperatura.
Cuerpos negros se le denominan a aquellos
radiacin que incide sobre ellos.
cuerpos
que absorben
toda la
ETN-501
Fig. #2.-Cavidad de
cuerpo negro.
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
1.0 Cavi
Cavi dad de cuerpos negro.negro.- Una cavidad de cuerpo negro que est en
contacto con el exterior por medio de un pequeo orificio en la superficie. La
radiacin incidente en el hueco entra a la cavidad y es reflejada por la
superficie interior y eventualmente absorbida por la pared de la cavidad. Si el
rea es pequea comparada con la superficie, esencialmente toda la radiacin
incidente en el orificio es absorbida y por lo tanto el orificio tendr las
mismas propiedades de un cuerpo negro.
Si la cavidad esta a una temperatura uniforme T, las paredes emiten radiacin
trmica, la cual llena la cavidad.
La pequea fraccin de esta relacin que incide desde dentro en el orificio pasa a
travs de el. Puesto que el orificio debe tener las mismas propiedades de la
superficie de un cuerpo negro, la radiacin emitida por el orificio debe tener un
espectro de cuerpo negro.
1.2 Teora de Max Planck.Planck.- Max puede en su teora hace dos suposiciones en lo
que se refiere a la naturaleza de las oscilaciones de las molculas que se
encuentran en las paredes de la cavidad.
1. Las molculas que emiten radiacin se oscilan solo pueden tener valores
discretos de energa. En definidos por :
En = nhf
(1)
(2)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Energa
4hf
4
3hf
2hf
hf
( f ) =
dEf 8hf
=
df
c3
1
(e
hc
k BT
(3)
1)
J
Donde K B = 1.3085 *10 23 es la constante de Boltzmann
K
dE
. Es la densidad de energa por unidad de longitud de onda de la radiacin
d
J
contenida en una cavidad a la temperatura absoluta T. Su unidad es
ms
f =
df
c
= 2
d
dE f df 8hc
dE
1
=
= 5
hc
d
df
d
kT
e B 1
(4)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
d 8hc
d 5
1
=0
hc
kT
e B 1
d 8k 5T 5 x 5
=0
d h 4 c 4 e x 1
x=
hc
= 4.9651
k B T
8k B5 T 5
h 4c 4
5 x 4 (e x 1) x 5 e x
(e x 1) 2
= 0
5 x 4 (e x 1) x 5 e x
=0
(e x 1)
5(e x 1) xe x = 0
5e x 5 xe x = 0
T = 2T2 = 3T3 = L =
hc
= 2.898 10 3 [mK ]
kBa
(5)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
estrechas, hallando la longitud de onda para la cual la intensidad de radiacin es
mxima.
La ley de Wein tambin proporciona un mtodo para determinar h en funcin de
valor experimental de a y de su definicin en funcin de h, c y EC dada
anteriormente.
Ejemplo #1.#1. - Encuentra la temperatura de una cavidad radiante cuya densidad de
o
8hc
c3
( , T ) =
1
(e
hc
k BT
1)
1
hc
(e
k BT
1
hc
(e
5
k BT
1
8hc
= 3.82 5
hc
2
k BT
1)
(e
1)
= 3.82
hc
2 k B T
5
1)
1)
2 (e
a = 3.82
2
Parametrizando la ecuacin
= 0.119
2 k BT
Ex=e
2000 o 1
=
=
o
2 2 = 2
4000
2
La relacin entre las ondas
hc
x=e
2 k B T
=e
ETN-501
hc
2 k B T
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
hc
x =e
2
k B T
1
a
=
x 1 x 1
2
0.119 x 2 x + 1 0.119 = 0
x = 7 .4
hc
x=e
2 k BT
ln( x) =
T=
hc
2 k BT
hc
2 k B ln( x)
6.626 10
T=
34
[J s ] 3 10 3 m
s
= 17.979[K ]
10
23 J
4000 10 [m] 1.38 10 ln(7.4)
K
Ejemplo #2
# 2 .a) cuantos fotones hay en 1 cm 3 del interior de una cavidad radiante que se
encuentra en equilibrio trmico a 1000 k?
b) Cual es la energa promedio de los fotones?
Solucin.- la densidad de energa electromagntica en el interior de una cavidad
es:
T ( f ) =
dEf 8hf 3
=
df
c3
1
(e
hc
k BT
=
1)
8f 2 (hf )
3
c (e
hf
k BT
1)
nT =
T ( f )
hf
Energia Total
Energia Foton Volumen
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Considerando todas las frecuencias posibles
T ( f )
nT ( f ) =
hf
nT ( f ) =
Numero de Fotones
Volumen
nT ( f ) =
8f
0
3
c (e
x=
df
hf
k BT
df =
1)
8
c3
(e
hf
k BT
df
1)
hf
k Tx
k T
f = B df = B dx
k BT
h
h
k BT
f o x0
8 k B Tx h
dx
nT ( f ) = 3 0
x
f x
c
h e 1
2
Si
k T
nT ( f ) = 8 B
h
x2
k T
k T
dx = 8 B (3) (3) = 8 B (2 + 1) (3)
x
e 1
h
h
(
0
k T
k T
k T
nT ( f ) = 8 B 2(2) (3) = 16 B (2) (3) = 16 B 1.202
h
h
h
3
J
1.38 10 23 1000[K ]
K
1.202 = 2.018 10 6 Fotones
nT ( f ) = 16
m 3
34
8 m
6.626 10 [J s ] 3 10
s
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
De acuerdo a la hiptesis de De Broglie, tanto para la materia como para la
radiacin la energa total est relacionada a la frecuencia de la onda asociada con
su movimiento por la ecuacin.
E = hf
(1)
(2)
2
P = hk
E = mc 2 =
(3)
p 2 c 2 + mo2 c 2
P=
donde
h=
h
2 es la constante de Planck reducida
E
c
=
E = hf =
hc
h
P
h
h
=
P mv
E
c
Estas frmulas generales que establecen el paralelismo entre las ondas y las
partculas pueden ser aplicadas a los corpsculos de la luz, bajo el supuesto de
que en tal caso las masas en reposo no son infinitamente pequeas. En realidad si
para un valor determinado de la energa W, se hace que no tienda a cero entonces
se encuentra que v, y u tienden a c y, en el lmite se obtienen los dos trminos
sobre los cuales existen bajo su teora del cuanto de luz.
W = hf
(4)
hf
c
(5)
P=
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Relaciones Relativistas
1. Variacin de la masa con
co n la velocidad m = f ( )
m=
mo
1
c
(6)
dP d mo
=
F=
2
dt dt
1
d (m )
= dt
(7)
(8)
k = E Eo = mc 2 mo c 2
Eo = mo c 2
(9)
es la energa en reposo
mo
1
c
( ) 2
m =
2
m 1 = mo2 m 2 c 2 m 2 2 = mo2 c 2
2
c
2
1
c
mo2
m 2 c 2 m 2 2 = mo2 c 2
m 2 c 4 m 2 2 c 2 = mo2 c 4
2
E = mc 2 Eo = mo c p = m
E 2 p 2 c 2 = Eo2 E 2 = Eo2 + p 2 c 2
k = E Eo E = k + Eo
(k + Eo )2 = p 2 c 2 + Eo2
ETN-501
(10)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
1.2.2 El efecto fotoelctrico.fotoelctrico.El efecto fotoelctrico es por ahora el experimento clsico que demuestra la
naturaleza cuantizada de la luz.
Cuando aplicamos la luz monocromtica a un metal en vaci se encuentra que los
electrones son liberados del metal, pero pueden escapar cuando la energa
proporcionada es suficiente, por ejemplo en forma de luz.
Si embargo, el hecho sorprendente es que cuando se ilumina con longitudes de
ondas largas (tpicamente mayores que 400 nm) los electrones no son emitidos
del metal aun si la intensidad luminosa es incrementada. Por otra parte, uno
observa fcilmente
la emisin de electrones en longitudes de onda ultravioleta porque el nmero de
electrones emitidos vara con la intensidad de la luz. Un anlisis ms detallado
revela que la mxima energa cintica de los electrones emitidos vara fcilmente
con la inversa de la longitud de onda, para longitudes de ondas cortas que las
longitudes de ondas mximas.
El aparato experimental consiste de dos electrodos de metal dentro de una cmara
vaci. La luz se hace incidir en uno de los dos electrodos, en los cuales es aplicado
un voltaje externo. El voltaje externo es ajustado tal que la corriente debido a los
electrones emitidos por fotones llega a ser cero. Este voltaje corresponde a la
energa cintica mxima. Ek De los electrones en unidades de electro voltios.
Este voltaje se ha medido para diferentes longitudes de onda y el graficado como
una funcin de la inversa de la longitud de onda.
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
CAPTULO
1
2.1
MECNICA CUANTICA
(CONTINUACIN)
2.2
Funciones propias
fsico se
Cantidades fsicamente
observables.-
Las cantidades
que se van
son representados
siguientes:
Momento: Px ih
Py ih
Energa: E ih
ETN-501
(1)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2.4
La ecuacin
de Schrdinger.-
las
ecuacin
de eigenvalores.
y el
(2)
(3)
( r,t ) = ( r) . f (t )
(4)
m + u( r) ( r) = E ( r)
2 0
(5)
f(t )
t
= E f (t )
(6)
Et
h
= e iwt
(7)
asociadas En. Las En son las eigenergas del problema, lo que significa que
en un sistema real el electrn puede tener las energas: E1, E2, En, etc.
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2.5
(8)
( x, y, z) = f 1 ( x) f 2 ( y ) f 3 ( z )
(9)
2m0 dx 2 1
(10)
h2d 2
f ( y) = E y f 2 ( y)
2m0 dy 2 2
(11)
h2d 2
f ( z) + u( z) f 3 ( z) = E z f 3 ( z)
2m 0 dz 2 3
(12)
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
En las direcciones x y, puesto no hay energa potencial, el problema es llamado
con frecuencia el problema de electrn libre cuya solucin es muy simple.
h2d 2
f ( x) = E x f 1 ( x)
2m 0 dx 2 1
h 2 ( k x2 )
2m 0 L x
ik x x
= Ex
e ik x x
Lx
f 1 ( x) =
f 2 ( y) =
f 1( x ) =
ik x
Ey =
LX y LY
(13)
Lx
e
ik y y
Ly
Lx
e ik x x
(14)
f 1( x ) =
k x2
e ik x x
Lx
2 2
h 2 k x2
e ik x x h k x
Ex = 0 Ex =
2m 0
L x 2m 0
Ex =
La distancia
e ik x x
h 2 k x2
2m0
h 2 k y2
2m 0
(15)
(16)
x y bajo
h2d 2 f 3(z)
2m0 dz 2
= Ez f 3 ( z )
(17)
1
a
f 3(z) =
1
a
sen(n2az ) ; n es par
ETN-501
(18)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
f 3( z ) =
h2
2 m0
1 n
a 2a
1 n 2 2
a 4a2
sen( n2az ) ,
cos( n2az ) = E z
E z = En =
h 2 n 2 2
2 m0 ( 4 a 2 )
f 3( z ) =
1 n 2 2
a 4a2
1
cos(n2az )
a
= 2 mh wn2
2 2 2
0
cos(n2az )
1
a
cos(n2az ) h8 mn a2 E z = 0
w = 2a
2 2
(19)
ETN-501
(20)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Cada banda de energa (n) se conoce como banda secundaria (subbanda) y tiene
una dependiente E k parbola. Dentro de cada banda el electrn se comporta
como si tuviera en un mundo de z dimensiones ya que su alcance en la direccin
z est restringido.
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2.6
efecto
tnel
es
un
fenmeno
muy
importante
especiales
en
los
dispositivos
basados en
este
ohmicos
;
x < 0 regin I
; 0 x a regin II
u=0
x>a
(21)
regin III
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2 1 2m0
+ 2 E1 = 0
x 2
x<0
para
(22)
0xa
para
(23)
x>a
para
(24)
con k =
con =
2m 0
2m 0
1 ( x ) = Ae ikx + Be ikx
x<0
2 ( x ) = Ce x + De x
0 xa
(25)
(26)
(u 0 E )
(27)
(28)
3( x ) = Fe ikx
2 + k2 =
Donde se cumple:
2m 0
x>a
(29)
(u 0 E ) +
2m 0 E
a
u0 = 0
2
2mu 0
2m 0 a 2
(30)
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
comprende un continuo positivo sin lmites, fig. 4. Para cada valor de E(k) existe
un estado propio correspondiente (
1,
2,
B
R=
A
(31)
(32)
(x)/dx
(x),
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
T es la razn de la intensidad de flujo de probabilidad transmitida en la regin x >
a, a la intensidad del flujo de probabilidad incidente.
De las condiciones de frontera:
1 (0) = 2 (0)
En x = 0
1 (0) = A + B 2 (0) = C + D
1+
B C D
= +
A A A
d 1
dx
=
x=0
d 1
dx
d 2
dx
(33)
x =0
d 2
dx
= Ce x De x
x =0
x =0
= C D
B C D
=
A ik A A
(34)
2 (a) = 3 (a)
2 ( a ) = Ce a + De a
3 ( a ) = Fe ika
ika
a
a
Ce + De = Fe
C a D a F ika
e + e = e
A
A
A
d 2
dx
d 2
dx
d 3
dx
= ikA ikB
x =0
ikA ikB = C D 1
En x = a
A+ B=C + D
=
x =a
d 3
dx
(35)
x=a
= Ce x De x
x =0
= ikFeikx
x=a
x=a
x =a
= Ce a De a
= ikFeika
C a D a ik F ika
e e =
e
A
A
A
(36)
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
C 1 F a ik ika
e 1 + e
=
A 2 A
D 1 F a ik ika
e 1 e
=
A 2 A
(37)
(38)
ik e a e a ika
e
2
1+
B F
ik
= cosh a senha e ika
A A
B F e a + e a
=
A A
2
B F
(39)
e a e a
2
ik
ika
e
(40)
A
i k
= cosh a + senha e ika
F
2 k
( 41)
2.6.1 Probabilidad de transmisin o tunelamiento.El flujo de partculas en el haz incidente es dado por medio de la densidad de
probabilidad en el haz incidente por la velocidad de la partcula fi
f i = i i*vi = Ae ikx A*e ikx vi = AA*vi (42)
El flujo de partculas en el haz trasmitido:
f t = t t*vt = Fe ikx F *e ikx = FF *vt
(43)
FF *v F F F
T=
=
=
AA*v A A A
ETN-501
(44)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
*
ika
i 2 k2
i 2 k2
1 A A
senha e cosh a
senha e ikx
= = cosh a +
T F F
2 k
2 k
1
1 2 k2
senh 2 a
= cosh 2 a +
T
4 k
2
1
1 2 k2
senh 2 a
= cosh 2 a + senh 2 a senh 2 a +
T
4 k
4 2 h 2 + 4 2 2 k 2 + k 4
1
= cosh 2 a senh 2 a + senh 2 a
T
4 2 k 2
1
1 2 + k2
senh 2 a
= 1 +
T
4 k
(45)
k=
k2 =
2m0
2
2 + k2 =
2m0 (u 0 E )
k =
2 =
2m0 (u 0 E )
2m0 E 2m0 (u 0 E )
2
2m0u0
2m0
2
E (u0 E )
2 + k2
2m0 u0
2
2
u
u02
0
=
=
=
E (u0 E )
2m0 E (u0 E )
E (u0 E )
u 02
1
1
senh 2 a
= 1+
T
4 E (u 0 E )
T=
ETN-501
1
2
0
u
1
senh 2 a
1+
4 E (u 0 E )
(46)
(47)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2.6.2 Caractersticas principales del coeficiente de transmisin con los
parmetros de la barrera.Caso 1 para uo = E
a)
El coeficiente
decrece exponencialmente
con el incremento
del
u 02 a 2
2m0 (
m0 u0 u 0 a 2
1
)
1+
=
+
u0 E 1
T
4 E (u 0 E ) 2
2 E 2
m u a2
1
= 1 + 0 02
T
2
u0
1
E
(48)
2m0
(u0 E ) = i
2m0 (u0 E )
= i
1
u 02
1
1+
sen 2 a
4 E (E u0 )
(49)
a = n , donde n = 1,2,3
2
con =
constante de propagacin de la onda en la regin de barrera,
nh
a = n =
2 2 2m0 (E u0 )
donde =
ETN-501
(50)
h
longitud de la onda de De Broglie
2m0 (E u 0 )
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
( 51)
una caja
unidimensional.
2 2
E = 2
2a m0
3.
(52)
El comportamiento mecnico
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
cuntico a otro por medio de la emisin
y absorcin de un cunto de
( r ) = E ToT ( r )
(1)
es la energa
electrosttica de
(r ) = E (r )
4 0 r
2mr
(2)
(3)
me e 4
1
13.6
= 2
2 2
2
n
2(4 0 ) n
(eV )
(4)
El radio cuantificado es
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
rn =
n 2 2
me ke 2
n = 1,2,3,...
(5)
o
= 0.529 A
2
me ke
(6)
(7)
Ei E f
ke 2 1
1
2a0 n 2f ni2
1
1
1
= RH 2 2
n
f ni
(9)
(10)
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Condiciones de frontera.Consideremos
la ecuacin
1 ikr
e
V
2 2
k
E=
2m e
1
se presenta debido a que se desea tener un electrn por
V
r ( r ) = 1
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
funcin de onda. En la primera se considera que la funcin de onda tiende a cero
en las fronteras del volumen. Entonces las soluciones de onda, son de la forma
Sen(kxx) o Cos(kxx), etc. y los valores de k estn restringidos a los valores
positivos
kx =
La solucin
2 3
,
,
,....
L L L
2m e
2m e
k
r
k
La velocidad de electrn: v =
me
Debido a las condiciones de frontera los valores permitidos de k son (valores
enteros, positivos y negativos)
kx =
2 n y
2 n x
2 n Z
, ky =
, kZ =
L
L
L
=
V
L
3
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Ejemplo.- Calcule la longitud de onda asociada con un electrn con una energa
de 1 eV si el electrn se halla dentro de GaAs, donde su masa efectiva es de
0.067 me
2 k 2
Solucin.- La energa del electrn es E =
2me
2 k 2 = 2
=
E
2m e
2m e
2
2
= h
e 2m 2e
h
2m e E
GaAs =
h
2me* E
GaAs
=
e
1/ 2
1/ 2
2me E me
= GaAs = e me
*
*
h
me
me
2me* E
0
0
1/ 2
GaAs = 12.3 A 1 = 47.5 A
0.067
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
DENSIDAD DE ESTADOS
2.4
energa es muy
ETN-501
(1)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Las energas E y (E+dE) estn representadas por superficies esfricas con radios
k+(k+dk).
(2)
(3)
Si
2 2
m dE
m kdE
k
22 kdk 2 kdk
E=
dE =
=
kdk = e 2 k 2 dk = e 2
me
2m e
2m e
ETN-501
(4)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2m e E
2m e E =
2
(1)
( )
3/ 2
( )
3/2
N ( E ) dE =
2 (m e )
2m e E dE =
E1/ 2
dE
3/2
2 me
E1/ 2
me
E1/ 2
=
dE
dE
2 2 3
2 2 3
(5)
h
h
o . Para justificar el spin, la densidad de
2
2
2 (m e ) E 1 / 2
h3
3
(6)
Consideramos
un
(incluyendo el spin).
2 2 4 2
2 k dk = k dk
=
A
A
,
,
L
2
4 2
L2
A = L2
h2k 2
2m e
k dk
2
2
dE = h 2k dk
2m e
N (E ) dE =
me dE
2 h 2
k dk = m e dE
h2
(7 )
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
N (E ) =
me
h2
L
N ( E ) dE =
E=
h2k 2
2m e
dk
De la ecuacin (1): k =
(8)
dE =
h 2 2k dk h 2 k dk
=
me
2m e
dk =
me
h2k
dE
2m e E
h
N ( E )dE =
m e dE
h k
N ( E )dE =
m e dE
h2
2m e E
m e dE
h 2m e E
2m e E m e dE
2 h m e E
2 (m e ) E 1 / 2
dE ...1 / 2 ( spin)
2 h
1/ 2
N ( E ) dE =
2 (m e ) E 1 / 2
dE
h
1/ 2
N ( E ) dE =
2 (m e ) E 1 / 2
h
(9)
1/ 2
N (E) =
ETN-501
(10)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Estadstica cuntica: distribucin de Fermi-Dirac y de Bose y Einstein.En la estadstica cuntica se describe sistemas compuestos de un gran nmero
de partculas que se rigen por las leyes de la mecnica cuntica. Cada sistema
tendr un gran nmero de estados discretos, cada uno descrito por un conjunto
completo
estados en el sistema.
Estadstica de Fermi y Dirac.La estadstica
de las partculas
semientero llamado
el principio de
La funcin de distribucin
1
E Ef
1 + exp( i
)
k BT
(1)
ETN-501
que
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
minimizan
Ei E f
)} (2)
k BT
1
E Ef
1 + exp( i
)
k BT
( 1)
1
E
exp( f ) 1
k BT
( 3)
Partculas como los electrones, protones, neutrones, etc. tienen spin de medio
entero y se denominan fermiones.
Partculas como los fotones, mesones, etc., tienen spin valor cero o valor entero y
son conocidos como bosones.
Dado, la expresin para los electrones que f(E) es siempre menor que la unidad.
Donde f(E)se conoce como el potencial qumico o energa de Fermi y representa
la energa f(EF) se convierte en .
Estadstica de Bose y Einstein.A.
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
f (E) =
1
Ei
exp(
) 1
k BT
(4)
Dos integrales tiles.a) Cuando >-1 y se encuentra en el lmite de temperatura baja kT << Ef
E p E
(EE f )
K BT
+1
1
1
d 2n
{E f +1 + 2(k BT ) 2 n (1 2 n 1 ) (2n) 2 n ( E f +1 )} (5)
2
dE f
+1
n =1
( x) =
1 1
1
1
+ x + x + x + ......
x
1 2
3
4
(6)
(2) =
2
2
2
= 1.645, (4) =
= 1.082, (6) =
= 1.017
6
90
945
b) con >0, 0 y =1
q q
= ( + 1) ( + 1)..( para = 0,= +1)
eq 1
q q
e n +1e n
(
1
)
= + +1
e e q
n
n =1
(7)
(8)
(9)
N ( E )E
E Ef
exp(
) +1
k BT
(10)
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
f (E) =
1
= 1; si E E f
Ei E f
1 + exp(
)
K BT
= 0 de otra forma
(11)
Ef
n=
N ( E )dE
0
Ef
N ( E )E =
2 2 (m)3 / 2 E 3f / 2
2 (me )3 / 2 E f 1 / 2
E
E
=
23 0
3 23
2
E = (3 2 n) 2 / 3
2me
( 12)
Esta frmula es aplicable para metales como Cu, Ag, etc. no es aplicable para
semiconductores.
La cantidad Ef que es el mayor estado de energa ocupado a 0K, se llama
energa de Fermi. El vector de onda correspondiente kf , llamado vector de Fermi y
una velocidad vf como la velocidad de Fermi.
ETN-501
k F = (3 2 n)1 / 3
(13)
VF = (3 2 n)1 / 3
me
(14)
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Es importante
a Ok, la velocidad
de estado ms alto
E Ef
)}
k BT
(15)
n = N ( E ) f ( E )E =
0
2 (me )3 / 2
23
(k BTu )
3/ 2
E
k BT
EF
2 (me )
23
( E E f )
1/ 2
E e
k BT
EF
k BT
(k BT )u
2 (me )3 / 2
(k BT )3 / 2 e k BT u 2 e u u
2 3
0
n=
n=
E
E = (k BT )u E = k BTE
k BT
u=
n=
2 (me )3 / 2
23
3/ 2
(k BT )3 / 2 e
EF
k BT
2(me ) (k BT ) e
=
2
23 3 * (2 )3
3/ 2
3/ 2
EF
k BT
EF
m
n = 2( e 2 )3 / 2 (k BT )3 / 2 e k BT
2
donde
nc = 2(
(16)
me 3 / 2
mk T
) (k BT ) 3 / 2 = 2( e B2 ) 3 / 2 (17)
2
2
2
EF
k BT
EF
n
n
E
= e k B T ln( ) = F
Nc
Nc
k BT
ETN-501
FFS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
E F = k BT ln(
n
)
Nc
(18)
n
n
)+
}
Nc
8Nc
(19)
Una vez que se conoce el potencial qumico, la energa total del gas de electrones
puede calcularse mediante la evaluacin de la integral
ETOT = N ( E ) Ef ( E )dE
0
Para el sistema
(20)
de los estados
es
n=
ETN-501
me
2
f ( E )dE =
me k BT
E
ln(1 + exp( F ))
2
k BT
me
2
dE
E EF
exp(
) +1
k BT
(21)
(22)
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
CAPITULO
LO
2.1
ESTRUCTURAS DE BANDAS
DEL SEMICONDUCTOR
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Z
n = 6.022 10 23 c
A
(1)
Para la mayor parte de los materiales, este nmero es 1023 cm-3. Existe una
gigantesca densidad de electrones de conduccin libres en el material. Se
define un radio promedio r de un volumen esfrico por electrn mediante:
3
r =
4 n
4 r 3 1
=
n
3
o
(2)
Su valor es de 1 A a 2 A
para la mayora
2.2
Periodicidad de un cristal.-
de bloques
de crecimiento
o formacin de
la
ii)
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
a1 , a 2 , a3 , de manera que cualquier punto R de la red puede obtenerse de
R = R + m1 a1 + m2 a 2 + m3 a 3 (3)
Donde m1, m2. m3 son enteros. Una red de este tipo se conoce como red de
Bravais.
Red de Bravais es un arreglo infinito de puntos en el espacio, en el cual cada
punto tiene vecindad matemticamente la red de Bravais se describe como una
operacin de traslacin de vectores.
R = m1 a1 + m2 a 2 + m3 a 3
Tipos de red Bsicos.Redes cbicas.- Existen tres clases de redes cbicas: cbica simple, red cbica
centrada en el cuerpo y red cbica centrada en la cara.
a)
Cbica simple.- La red cbica simple est generada por los vectores
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
c)
cbica
ETN 501
(5 )
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Donde a es la arista del cubo, conocida como la constante de red del
semiconductor. Las redes de Bravais cbica centrada en la cara y
cbica centrada en el cuerpo, son de gran, ya que una enorme variedad
de slidos se cristalizan en estas formas con un tomo (o in) en cada
sitio de la red.
2.3
La partcula
como l se encontrar
que
atrapado en
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Se consideran el modelo analtico de bandas de energa:
2.4
u (r) = u r + R
(6)
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
electrn con todos los iones de la red y con los dems electrones (funcin
de las coordenadas de pares de electrones).
La primera aproximacin considera al electrn independiente e inmerso en
un potencial efectivo de un electrn u(r). Este potencial puede tener una
diversidad
periodicidad de (6)
La ecuacin de Schrdinger para un solo electrn toma la forma.
2 2
+ u (r) = E
2m
(7)
siguiente o teorema de
Bloch.
Teorema.- Los autoestados del Hamiltoniano de un electrn
2
H = 2 + u (r)
2m
(8)
puede
Donde
(9)
u n k (r) = u n k r + R
(10 )
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
nk
(r + R) =
(r) e j k , r
nk
(11)
(r) = u n k (r) e j k , r
nk
(12)
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Los iones se ubican en las regiones del tipo I y la separacin entre los mismos
genera una barrera de potencial para los electrones.
El movimiento de la partcula est determinado por la ecuacin de Schrdinger
independiente del tiempo:
2
2 (x )
E p E0 =
2m ( x ) x 2
(13)
2
2 ( x )
+ ( E p E 0 ) ( x ) = 0
2m ( x ) x 2
(14)
(x ) = u (x ) e jk x
(15)
2 (x )
x 2
2 =
si
2mE
2mE
(x )
(16 )
1 (x ) = u 1 ( x ) e j kx
(17)
= 2 u 1 ( x ) e j kx
(18)
= jk
u 1 ( x )
x
j kx
u 1 ( x ) e j kx
x
ku 1 ( x ) e
j kx
2u 1 ( x)
x
(19)
e j kx + jk
u 1 ( x )
x
e j kx
(20)
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2 u 1 (x )
x
e j kx + 2 jk
2 u 1 (x )
x
u 1 ( x )
x
e j kx k 2 u 1 ( x ) e j kx = 2 u 1 ( x ) e j kx
u 1 ( x )
e j kx + 2 jk
e j kx k 2 2 u 1 ( x ) e j kx = 0
(21)
(22 )
2 =
si
2m ( E E 0 )
2
2m ( E E 0 )
2 ( x ) = u 2 (x ) e j kx
2 (x ) (23)
(24)
2
= 2 u 2 ( x ) e j kx
x
(25)
+ 2 jk
e j kx + 2 jk
u 2 ( x )
x
u 2 ( x )
x
k 2 + 2 e j kx u 2 ( x ) = 0
(26)
e j kx k 2 2 2 ( x ) e j kx = 0
(27)
(28)
u 2 (x ) = Ce j ( k ) x + De j ( + k ) x
(29)
=
x =0
(30)
du 2 ( x )
dx
x =0
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
u 1 ( a ) = u 2 ( b )
du1 ( x )
dx
=
x=a
(31)
du 2 (x )
dx
x= b
Combinando las ecuaciones (30) y (31) con las ecuaciones (28) y(29) se obtiene
de 4 ecuaciones de 4 incgnitas
A+ BC D = 0
( k ) A ( + k ) B ( k )C + ( + k ) D = 0
(32 )
Ae j ( k ) a + Be j ( + k ) a Ce j ( k )b De j ( + k ) b = 0
( k ) Ae j ( k ) a ( + k ) Be j ( + k ) a ( k )Ce j ( k )b + ( + k ) De j ( + k )b = 0
(34)
Expresando las ecuaciones (33) y (34) en funcin de energa E dado que E < E0 ,
entonces
cos = f ( E ) = cos
2 mE
2
)cosh (b
2 m ( E0 E )
2
)+
E0
E ( E0 E )
sen
2 mE
2
)senh(
2 m ( E0 E )
2
(35)
Esta funcin debe quedar entre 1 y +1 puesto que es igual al cos = cos(k x l ) . La
grfica de E = f ( E ) , se obtiene:
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
con
al
E0 es constante
b = 0
Entonces:
senh( b) b cosh( b) = 1 y con
2 >> 2
(36)
2b
2 =
2m
2
( E0 E )
2 E0
E0 b
(37)
(38)
Esta funcin debe quedar nula entre 1 y +1 puesto que es igual al Cos .
Se desea hallar la relacin entre E y E y kx.
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
El grfico mostrado en la fig. 7, como podemos observar que f(E) permanece
entre los lmites 1, solo para ciertas regiones. Estas energas permitidas forman
las bandas permitidas y estn separadas por bandas de separacin.
Se puede obtener la relacin o la estructura de bandas E versus k del electrn en
la estructura peridica, como se muestra en la figura 7, en donde las energas
entre E2 y E1 forman la banda permitida, las energas entre E4 y E3 forman la
segunda banda de separacin, etc.
El movimiento de los electrones en la red se puede asimilar a la propagacin de
una
onda
electromagntica
en
un
cristal.
La
dispersin
de
la
onda
electromagntica por los tomos de la red, da lugar a una onda dispersada que
se refuerza cuando se satisface la condicin de Bragg es:
2a sen = n
(39)
), la
2
. Para una intensidad mxima de (1) y (2); esta diferencia de fase debe ser
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
2 (2a )
2a
= 2n
= n 2 a = n
2
2a
2 2a
n
=
=
=
k=
k
n
k
n
a
k=
n
a
(40 )
Por consiguiente los valores k son aquellos para los cuales la red lineal impide el
movimiento de electrones en una direccin dada y los obliga a moverse en la
direccin opuesta. El conjunto de los valores de k comprendidos entre a y + a
constituye la primera zona de Brillouin. Para k comprendido 2a y a entre
2
a
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
En el grfico E = f (k ) se observa los valores de k no cercanos a los dados por la
ecuacin:
k=
n
a
; n = 1, 2, 3, , n
(41)
n
a
Si
p = k = mvg
ETN 501
2
kdk
2 2 kdk
dE = =
m
2m
k
vg =
m
dE 2 k
=
dk m
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
1 dE k
= = vg
dk m
dE = F vdt
vg =
F=
1 dE
dk
dE
dk
1 dE
=
=
dE
1
v dt
dt
dt
dk
F =
dk
dt
p = k
(43)
F = m a = m
m d 2 E
dkdt
(44)
(45)
dv g
dt
m = 2
d k
dk 2
= m
d 1 dE
dt dk
dk m d 2 E
=
dt
dkdt
(masa efectiva) (44)
2
a
, la fuerza aplicada
(realmente
ETN 501
FFIIS
SIIC
CA
AD
DE
ELL E
ES
STTA
AD
DO
OS
S
LLIID
DO
O
Modelo sencillo de bandas de energa.La ecuacin de Schrdinger tiene soluciones para valores directos de energa en
el caso de la partcula libre.
Existe en el cristal un gran nmero de tomos que interactan y que estn
distribuidos
peridica. As como los tomos interactan entre s, tambin lo hacen los niveles
de energa y se desdoblan en tantos niveles como tomos existen en el cristal
formando las bandas de energa.
ETN 501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
CAPTULO
FSICA DE SEMICONDUCTORES
3.1
Fsica De Semiconductores
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
temperatura. Los portadores de carga son los electrones y huecos. Los
semiconductores intrnsecos no presentan impurezas en su estructura, y
estn constituidos solamente por el elemento tetravalente semiconductor,
Germanio y Silicio puro
3.2.2 Concentracin de portador intrnseco.- Se dice que un semiconductor
si es qumicamente puro, es decir no contiene impurezas o sustancias
distintas, de las que constituyen el material semiconductor.
Se dice tambin que el semiconductor es intrnseco cuando la cantidad de
impurezas que contiene es pequea
produce
del material
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
impurezas se conoce como sustancias dopantes, y al proceso de adicin de
impurezas se llama dopado del semiconductor.
El dopado produce dos tipos de semiconductores extrnsecos, identificados
segn el tipo de portador
ha incrementado la concentracin de
Semiconductor de tipo N.
+4
Si
+4
Si
+4
Si
+4
Si
* *
+5
Si
+4
Si
+4
Si
-q*
*
Electrn de Conduccion
+4
Si
+4
Si
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
En un semiconductor de tipo N, la energa necesaria para llevar
el quinto
0.044ev (P)
EC
Ed
1.12 ev
Ei
Ev
T=0K
T = 100 K
T = 300 K
En la fig. # 2, para el caso del fsforo el nivel energtico ED est muy prximo a
la banda de conduccin, cuando mayor sea la temperatura de la muestra
(semiconductor + impurezas), mayor ser la energa conseguida por efecto
trmico y mayor ser el nmero de electrones que accedern a la banda de
conduccin.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
puede formar el tomo trivalente provoca que sea aceptado un electrn de los
enlaces covalente de los tomos de Si. Formndose en consecuencia hueco en
la banda de valencia. El semiconductor dopado con sustancias triviales se llama
de tipo P y dichas sutancias (B, Al, Ga) se denominan aceptores.
+4
Si
+4
Si
* *
+4
Si
+4
Si
* *
*
*
+3
B
* *
* *
*
*
+4
Si
+q
Si
+4
Si
Hueco
+4
Si
suficiente energa trmica para excitar los electrones desde la banda de valencia
hasta el nivel EA.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
EC
Ei
0.045ev (B)
Ea
Eg
_
_
EN
T=0K
T = 100 K
Fig # 4
Condicin de ionizacin completa.A temperatura ambiente la energa trmica debida a la propia vibracin de las
partculas es suficiente para que todos los tomos donores estn ionizados
positivamente y cada tomo aceptor est ionizado negativamente. Vale decir
cada tomo donor ha proporcionado un electrn libre a la banda de conduccin y
cada tomo aceptor ha generado un hueco en la banda de valencia.
En el semiconductor de tipo N, por tanto, se produce el mismo nmero de
electrones que de sustancia donora. Esta condicin se llama condicin de
ionizacin completa. Entonces bajo estas condiciones puede decirse con
respecto a la concentracin de electrones.
n = Nd = NC e
( EC E F )
k BT
(1)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
EC
Ed
EC
Iones clonores
Ei
Ei
Iones aceptores
EV
Ea
EV
Fig # 5 Representacin esquemtica de las bandas de energa para
semiconductores extrnsecos con iones donores y iones aceptores
(2)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
p = N a = NV e
( E F EV )
k BT
(3)
(4)
de
los
parmetros
que
definen
el
semiconductor
intrnseco,
n = NC e
ETN-501
p = NV e
( EC E F )
k BT
( EF EV )
k BT
= NC e
= NV e
( EC Ei )
k BT
( EV E i )
k BT
( E F Ei )
k BT
( Ei E F )
k BT
= ni e
= ni e
( E F Ei )
k BT
( Ei E F )
k BT
(5)
(6)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
1
n=
2 2
Se define
n=
2me
2
E EF
k BT
( E EC )
e
EC
dE
( E EF )
k BT
(7)
+1
(8)
nF =
E F EC
k BT
(9)
1 2me k BT
n=
2 2 2
n
e
dn
( n nF )
(10)
+1
dn
nF > 3
nF < 3
ETN-501
2
N C F1 (n F )
2
(12)
E F EC
k BT
E EC
F1 exp F
2
k BT
4
F1
2
3
(13)
(14)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
mk T
N C = 2 e B 2
2
3
(15)
m T 2
3
N C (T ) = 2.512 10 de
cm
m
300
e
3
19
(16)
2m 2
1
N h ( E ) = 4 2h (EV E ) 2
(17)
Ev
( E ) f h ( E ) dE = N V F1 (n h )
(18)
(19)
nh =
EV E F
k BT
(20)
2m
1
N e ( E ) = 4 2 e (E EC ) 2
ETN-501
(21)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
3
2mh
1
N h ( E ) = 4 2 (EV E ) 2
2
(22)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
ambiente o temperatura elevada, cada aceptor crea un hueco en la banda de
valencia de un semiconductor de tipo -p es aproximadamente igual a la
concentracin aceptora N a .
F1 (
2
EF EC
)
k BT
EF EC
)
k BT
n = NCe
E F EC
k BT
(23)
p = NV e
ETN-501
EV E F
k BT
(24)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
EF EC =
1
n 2
3
E F EC
k BT
2
(25)
3 2 n
2mdos
e
2mdos
e (E F EC )
(26)
(27)
F1
2
3 k BT
ETN-501
(28)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
EV EF =
1
p 2
3
3 2 p
2mdos h
2mdos
h (EV E F )
(29)
(30)
La concentracin
n ni + n d = N d
(31)
p pi + pa = N a
(32)
(33)
Donde:
n=
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
p=
(34)
(35)
(36)
(37)
ni2
nn + N a =
+ N d nn2 + nn N a = ni2 + nn N d
nn
nn2 + nn ( N a N d ) + ni2 = 0 nn2 nn ( N d N a ) + ni2 = 0
nn =
1
( N d N a ) + ( N d N a ) 2 + 4ni2
2
(38)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
p p n p = ni2 ( para tipo p )
np + Na = p p + Nd
(39)
(40)
ni2
+ N a = p p + N d ni2 + p p N a = p 2p + p p N d
pp
p 2p p p ( N a N d ) + ni2 = 0
pp =
1
( N a N d ) + ( N a N d ) 2 + 4ni2
2
(41)
de electrones es
(43)
de distribucin
probabilidad para un nivel de donador que tiene una energa Ed medida desde
que el borde de la banda de conduccin. La probabilidad de que un estado
donador, est ocupado dado por (nd es el numero de electrones ligados a los
donadores, Nd es la densidad del donador)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
nd
1
=
Nd 1
E EF
exp d
2
k BT
+ 1
(44)
El factor surge esencialmente del hecho de que hay dos estados que un
electrn puede ocupar en un sitio de donador correspondiente a los estados de
Spin.
La probabilidad de que un hueco sea atrapado para un nivel de aceptor esta
dado por (pa es el nmero de huecos ligados a los aceptores, Na es la densidad
de aceptor)
pa
1
=
Na 1
E Ea
+ 1
exp F
4
k BT
(45)
El factor se debe a la presencia de las dos bandas, hueco ligero, hueco pesado
y los dos estados de spin.
Para encontrar el nmero de electrones en la banda de conduccin y de huecos
en la banda de valencia, de electrones en los tomos donadores y huecos en los
niveles aceptores, se necesita emplear una computadora. Sin embargo, se puede
obtener una expresin aproximada al aplicar la aproximacin de Boltzamann, que
es vlida si Ed Ef >> kbT y Ec Ef >> kbT, con esta aproximacin tenemos (si se
supone un material de tipo n, para el cual Na sea cero).
nd =
Nd
E EF
1
exp d
2
k BT
E EF
= 2 N d exp d
k BT
(46)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
E EF
n = N c exp c
k BT
(47)
nd
=
n + nd
N c exp
(E EF )
2 N d exp d
k BT
E EF
Ec EF
+ 2 N d exp d
k BT
k BT
nd
1
=
n + nd
E Ed
Nc
exp c
+1
2Nd
k BT
(48)
pa =
(E Ea )
4 Na
4 N a exp F
k BT
EF Ea
+ 1
exp
k BT
(49)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
E EF
p = N v exp v
k BT
pa
=
p + pa
N v exp
(50)
(E Ea )
4 N a exp F
k BT
E Ea
Ev EF
+ 4 N a exp F
k BT
k BT
pa
1
=
p + pa
E Ev
Nv
exp a
+1
4 Na
k BT
(51)
m* e
Ec + Ev 3
+ k BT ln dos
*
2
4
mdos h
(52)
(53)
me*
me
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
aBeff =
4 02 me s
e 2 me me* 0
(54)
m
aBeff ( A) = 0.52917 e* s
me 0
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
de un campo elctrico
razonamiento podemos
dos
ser un
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
desplazarse hacia niveles ms altos de energa en el interior de dicha
banda y el slido se comporta como un conductor.
Ahora, un aislante cuya banda prohibida sea relativamente pequea, se
denominar semiconductor, aunque a T = OK, tanto el aislante como el
semiconductor como aislantes perfectos
ser
directamente
proporcional
la
temperatura
energtica, Eg de la banda
Eg menor concentracin
de
para
aislantes y semiconductores.
En los conductores la situacin energtica de los electrones ligados en la banda
de valencia y parcialmente llena la banda de conduccin es muy similar para
los electrones libres en el modelo de Sommerfeld dentro del pozo de potencial
finito. Los conductores tienen una conductividad muy alta debido al nmero
mucho mayor de electrones que participan en el transporte de corriente. Es
difcil alterar la conductividad de los metales en cualquier forma simple como
resultado
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Funcin de trabajo es la diferencia de energa ente el nivel vaco y el estado
electrnico ocupado mas alto en un metal.
Afinidad electrnica es la diferencia de la energa entre el nivel vaco y la parte
baja de la banda de conduccin.
Semiconductores directos e indirectos.
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
prctica esto implica que el electrn debe primero realizar una transicin
hacia otro estado (es un estado energtico provocado por la presencia de
algn defecto en la red) y desde ah realizar la transicin entre bandas sin
intercambio de momento. Los semiconductores como: Si, Ge, Al, As, etc.
Estos materiales tienen interacciones muy agudas con la luz y no pueden
utilizarse para dispositivos pticos eficaces. Las razones estn basadas en
las reglas de conservacin de momento en transiciones pticas, lo que hace
difcil tener transiciones fuertes en semiconductores indirectos.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
(ki k0i )2
mi
i = x, y, z
(2)
E (k ) = Ec +
2me
2
ETN-501
(3)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Donde Ec, es el borde de la banda de conduccin y la estructura de bandas es
una simple parbola con superficies de energa iguales a las superficies de una
esfera.
Para materiales indirectos como el Si, la parte baja de la banda de conduccin
se presenta en los seis puntos
equivalentes:
2
2
(0.85,0,0),
(0, 0.85,0),
a
a
2
(0,0,0.85), y sus inversos. La relacin del momento de energa es:
a
E (k ) = Ec + l + t
2ml
2mt
2
(4)
1
1 2cv2
=
+
me E g
me
(5)
2cv2
= 20[ev]
me
(6)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Ahora, cerca de la parte superior de la banda de valencia hay tres curvas
importantes (fig. 3). La banda de masa ms pesada se denomina banda de
hueco pesado (I). La segunda banda mas ligera se conoce como banda de
hueco ligero (II), y la tercera, separada, por una energa i se llama banda de
separacin (III). Las masas de los electrones de la banda de valencia son
generalmente mucho ms pesadas que los situados en la banda de conduccin
y tambin son negativos. En general, la masa efectiva est definida como:
1
1 2E
=
2
2 2
me
(7)
N (E) =
( )
2 mdos
22
3/ 2
E1 / 2
(8)
= (m1.m2 .m3 )
mdos
1/ 3
(10)
Donde m1, m2 y m3 son las masas efectivas en las tres direcciones principales
para el silicio.
m*e = m1,
m *t = m 2 = m 3
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
m*t = es la masa efectiva transversal
El silicio tiene 6 valles de bordes de la banda de conduccin, entonces la
densidad de estados calculada para un valle debe multiplicarse por seis para
obtener la densidad total de los estados
( )
6 2 mdos
N ( E )( Si ) =
22
3/ 2
E1 / 2
(11)
mdos
3/ 2
= mlh
3/ 2
+ mhh
3/ 2
(12)
ETN-501
= 0 ki + ke
ki ke
(13)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Este resultado es apenas una indicacin de que hay tantos estados k positivos
ocupados como negativos. Ahora, en la situacin donde un electrn con vector
de onda k, se pierde, el vector de onda total es:
= ke
ki k e
(14)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
en el estado no ocupado movindose en la direccin del campo. El hueco
responde entonces como si tuviera carga positiva. Por tanto responde a los
campos externos elctricos y magnticos respectivamente, entones la ecuacin
del movimiento es:
kh
v
= e + h B
c
t
(15)
electrn perdido responde con una respuesta de carga positiva. La masa del
hueco tiene un valor positivo, aunque la masa del electrn en su banda de
valencia sea negativa.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
CAPTULO
Fenmeno de transporte de
portadores
INTRODUCCIN
4-1. Fenmeno de arrastr de portadores.Se considera una muestra de semiconductor de tipo N con una concentracin
demora constante y en equilibrio trmico.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Los electrones en la banda de conduccin son partculas libres, y no estn
asociados a ninguna estructura en particular. La influencia de la Estructura
cristalina est en la masa efectiva de los electrones en conduccin, la cual es
ligeramente diferente a la de los electrones libres, bajo las condiciones de
equilibrio trmico. La energa trmica promedio de los electrones en la banda de
conduccin se puede obtener a partir del teorema de equiparticin de energa:
1
KT por cada grado de libertad, donde K es la constante de Boltzmann y T es la
2
temperatura absoluta.
K =
3
kT
2
(1)
(2)
3kT
mn*
(3)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Vth =
T
(4)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
i=
Q = Q = Q vr
r / vr
(5)
Donde r es el tiempo de trnsito de una partcula, que viajan con una velocidad
Vr.
La densidad de corriente se puede escribir como una funcin de cualquiera de
densidad de carga o densidad de portadores n en el semiconductor:
Q vr =
J=
vr = e n vr
A
(6)
F = ma = m
(7)
t
La fuerza consiste de la diferencia entre la fuerza electrosttica y la fuerza de
dispersin al momento en el tiempo de dispersin. Esta fuerza de dispersin es
igual al momento dividido por el tiempo promedio entre eventos de dispersin.
m*v
F = e n r
r
ETN-501
(8)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Combinando ambas relaciones proporcionan una expresin para la velocidad
promedio entre eventos de dispersin
Combinando ambas relaciones proporcionan una expresin para la velocidad
promedio de la partcula.
m n* v r
v r
m
= e
r
t
*
n
(9)
m n* v r
e
vr = * r
r
mn
e r
m n*
(10)
v rn = n
(11)
vr =
n =
e r v rn
=
m n*
(12)
ETN-501
(13)
(14)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
La densidad de corriente de electrones en funcin de movilidad es:
J n = en n
(15)
J p = en p
(16)
E Fi
x
(17)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
=
1 E Fi
e x
(18)
La cada de tensin entre dos puntos se define como la energa empleada para
mover una carga positiva unidad desde uno al otro terminales.
Para mover una carga positiva desde un punto a otro entre los cuales existe una
diferencia de potencial V y realiza un trabajo y la energa empleada es Eo=eV,
cuando la carga llega a su destino gana una energa potencial Eo=eV. Para el
electrn, se lleva desde B hasta con una diferencia de potencial V, el electrn
pierde una energa potencial Eo=-eV.
Variacin de la energia potencial E p = eV
Entonces el campo electrn, se define como:
1 E
V
=
e x
x
(19)
(20)
(21)
= e(n n + p p ) (22)
La contribucin de los electrones y los huecos a la conductividad es simplemente
aditiva. La resistividad del semiconductor ( m), es el valor recproco de la
conductividad, esta definido como:
ETN-501
1
1
=
(23)
e(n n + p p )
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Para el caso de semiconductor extrnsecos, generalmente hay una concentracin
de portadores de carga que es mayoritaria respecto a la otra, entonces:
Semiconductor tipo N (n>>p); n=1/enn
Semiconductor tipo P (p>>n); p=1/enp
Para una concentracin de impurezas (donoras y aceptoras) la resistividad de un
semiconductor de tipo P es mayor que la de un semiconductor de tipo N: n > p,
(mn* > mh*)
>
n.
p p p
,
y
. Luego la densidad
x y z
(24)
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Podemos considerar en una regin del espacio una trayectoria libre media a
cada lado de xo, de la que los electrones pueden provenir a travs de la frontera
x=xo en el tiempo de dispersin
disp.
disp.
El
n ( x, t ) =
(n1 n 2 )
2 disp
(25)
(26)
Donde es la distancia libre media para los electrones, ese decir la distancia que
viajan los electrones entre colisiones, luego, el flujo neto es:
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
2
n( x, t )
n ( x , t )
n ( x, t ) =
= Dn
x
2 disp x
(27)
disp.
Puesto que la
(28)
Dn =
2 disp
(29)
p ( x, t ) = D p
p ( x, t )
x
(30)
n ( x , t )
p ( x, t )
eD p
x
x
(31)
ETN-501
dn( x , t )
dx
(32)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
J p = e p p( x ) ( x ) eD p
dp( x , t )
dx
(33)
(35)
As, puesto que la carga del electrn es negativa, las bandas se encurvan.
Ec ( x ) = Ec ( = 0 ) + e ( x ) x
(36)
( x ) =
1 Dd dn( x , t )
n( x ) n
dx
dn( x , t )
=0
dx
(37)
n( x ) = ni exp
ETN-501
EF EF ( x )
k BT
(38)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Donde EFi y EF son el nivel de Fermi intrnseco y el nivel de Fermi en presencia
de cargas extrnsecas:
ni
dn( x )
=
exp
dx
k BT
E Fi E F ( x )
k BT
] dEdx
Fi
dn( x)
n( x) dE F i dE F
dx
k B T dx
dx
dE F
dx
(39)
(40)
=
Si
1 dE F i
e dx
dE F i
dx
(41)
dn( x)
n( x) dE F i
=
dx
k BT dx
e Dn dn( x, t )
dn( x) n( x) e Dn 1 dn( x, t )
=
=
dx
k B T n n( x) dx
n k B T dx
e Dn
dn( x)
0 1=
n k BT
dx
k B T Dn
=
n
e
(43)
ETN-501
(44)
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Estas ltimas educaciones son la relacin de Einstein que satisface para
electrones y huecos.
Para campos elctricos de gran magnitud, la movilidad disminuye como un
inverso del campo elctrico debido a la
Disminucin del tiempo de dispersin
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
se aplica a la muestra semiconductora un campo magntico a lo largo de la
direccin z,Bz.
La fuerza de Lorentz F = e v B (en magnitud, e v x B z )
debida a la presencia
del campo magntico ejercer una fuerza ascendente (en la direccin y) sobre los
huecos que juegan en el eje x. Como consecuencia de esta fuerza, la velocidad
de los huecos presentar una componente en el eje y.
El resultado ser una acumulacin de cargas positivas en la parte superior de la
muestra y negativos en la parte inferior de la misma. Esta acumulacin de cargas
crear ahora otro campo elctrico en la direccin y orientado hacia abajo y .
Entonces, no se produce un flujo neto de corriente en la direccin y, en las
fuerzas elctrico y magntico son iguales tal que la fuerza resultante es cero.
F0 = e y e v x B z = 0
y = vx Bz
e y = e vx Bz
vx = v p =
Jp
ep
En consecuencia:
y = vx Bz =
Jp
ep
B z = RH J p Bz
1
Donde: R H =
coeficiente de Hall ( R H > 0 )
ep
El campo elctrico de Hall es proporcional al producto de la densidad de corriente
y el campo magntico. El coeficiente de proporcionalidad de RH es llamado
coeficiente Hall.
Para los electrones en un semiconductor de tipo N:
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
v x = vn =
Jn
en
y = vx Bz =
Donde: R H =
J n = e n v n
Jn
Bz = RH J n Bz
en
1
coeficiente de Hall ( R H < 0 )
en
J p B z (I A) B z
I Bz w
1
=
=
=
e RH
ey
e (V H w) e V H A
y =
VH
w
VH = y w = (RH
I
A
B z )w
J B
1
= n z
e RH
ey
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
el caso de excitacin ptica, se irradia
energa del fotn de la luz hf > E g
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Cuando es introducido un exceso de portadores en el semiconductor, hay una
alta probabilidad de que los electrones y huecos se recombinen directamente. En
forma general es lgico pensar que la velocidad de recombinan R sea
proporcional al nmero de electrones disponible en la B. de C. (n) y al nmero de
huecos disponibles de la B. de V. (p),
entonces:
R= np
Donde
(1)
(2)
(3)
(nn 0 + n )
( pn 0 + p )
n = p
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
dp n
= G R = G L + Gth R
dt
Existe un proceso de variacin de dicha concentracin
queda:
u = (n n 0 + n )( p n 0 + p ) n n 0 p n 0
pn = 0
u = [n n 0 p n 0 + n n 0 p + np n 0 + np n n 0 p n 0 ] = (n n 0 p + p n 0 n )
Bajo nivel de inyeccin p , n n 0 >> p (concentracin de portadores mayoritarios
mucho
p = p n p n 0
p n p n0 p n p n0
=
1
p
nn0
1
es el tiempo
nn0
ETN-501
n p n p0
y n =
1
p n0
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
El significado fsico del tiempo de vida media puede ser comprendido analizando
la respuesta del dispositivo cuando se retira sbitamente cuando se retira la
fuente de luz.
Consideremos una muestra del semiconductor de tipo N, que esta iluminada y en
la cual los pares electrn hueco son generados de forma uniforme en toda la
muestra con una velocidad de generacin G L .
dp n
= G R = G L + Gth R = 0 G L = R Gth = u
dt
p p n0
GL = n
p n = p n 0 + pG L
p
En un tiempo arbitrario, la luz es apegada. La variacin que experimentar la
concentracin de huecos ser ( G L = 0 ):
dp n
p p n0
= Gth R = u = n
dt
p
(-) es debido a que la concentracin de huecos experimente una disminucin
8predomina la recombinacin frente a la generacin), se obtiene
p n (t )
p n (t = 0) = p n 0 + p G L
p n (t ) = p n 0
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
El 1er proceso, conocido como captura de un hueco, corresponder a la
transferencia de un electrn desde el estado localizado hasta la banda de
valencia. Finalmente, el 4to proceso corresponde a la transicin de su electrn
desde la banda de valencia hasta el estado localizado, dejando un hueco detrs y
el llamado emisin de un hueco.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
N t la concentracin de centros en el
F( E ) =
1
1 + e ( Et E F ) / k B T
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
La velocidad de emisin electrnica Rb ser proporcional a la concentracin de
centros ocupados por electrones, o sea
N t F entonces:
Kb =
K a n(1 F )
F
n = n i e ( E F Et ) / k BT
1 F
= e ( Et E F ) / k BT
F
K b = K a n i e ( Et E F ) / k B T
Esta ltima expresin significa que si el nivel del centro E esta cerca de la banda
de conduccin (Et Ei aumenta), la emisin de electrones desde los centros
aumenta la probabilidad.
La velocidad de captura de un hueco por parte de un cuerpo ser proporcional a
la concentracin de electrones presentes en los centros:
Rc = K c pN t F (velocidad de captura de un hueco por parte del centro)
La velocidad de emisin de un hueco (o lo que es lo mismo de que un electrn de
la B.V. pase al centro) ser proporcional a la concentracin de centros no
ocupados por electrones:
Rd = K d N t (1 F ) (velocidad de emisin de un hueco)
Kd
K d = K c n i e ( E F Et ) / k B T
La probabilidad de emisin de un electrn de la B.V. aumenta a medida que el
nivel del centro est ms cercano a la banda de valencia.
ETN-501
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Experimentalmente se pueden medir las constantes N t , E t , K c y K a , mediante el
uso de las expresiones iniciales para R a , Rb , Rc y Rd determina la emisin de una
recombinacin indirecta bajo condiciones de no equilibrio.
dp n
= G L ( Rc R d ) = 0
dt
las
expresiones
anteriores
( Et E F )
( E F Et )
k BT
k BT
K a N t n n ( 1 F ) ni e
F = K c N t p n F ni e
( 1 F )
ETN-501
u K c N t ( pn pn0 ) =
pn pn0
p
F
FS
SIIC
CA
AD
DE
EL
LE
ES
ST
TA
AD
DO
OS
S
L
LIID
DO
O
Bajo inyeccin en un semiconductor de tipo N ( nn >> pn ,despus de la inyeccin
de portadores la concentracin de electrones en la B. de C. sigue siendo mucho
mayor que la de los huecos en la B. de V.)y que los centros presentan un nivel
cercano a la B.P.:
nn >> ni e( Et E F ) k BT
El tiempo de vida media para los electrones y los huecos. El caso considerado, el
tiempo de vida media para los huecos en el semiconductor de tipo N es:
p =
1
K c Nt
ETN-501
CAPITULO
5.- Introduccin.Este capitulo se discutir las propiedades de las clases de uniones. Una unin
muy importante es la unin P N en la que la naturaleza de las adulterantes se altera a travs
de una frontera para crear una regin que es de tipo p, prxima a una regin que es de tipo
n.
La unin p-n desempea un importante papel en las aplicaciones de la electronica
moderna, as como en la construccin y aplicacin de otros dispositivos semiconductores.
Se utiliza por ejemplo en aplicaciones de rectificacin, conmutacin, etc. y puede utilizarse
para producir efectos no lineales muy fuertes.
Adems, es un dispositivo fundamental en la construccin de otros dispositivos
semiconductores tales como los transistores de efecto de campo o dispositivos para
aplicacin en microondas o fotonicos.
En otra clase importante de uniones intervienen semiconductores y materiales. Estas
uniones son importantes porque permiten un flujo de carga suave y fuera de los
semiconductores, digamos desde bateras. Cuando se utilizan para tales propsitos estas
uniones metal-semiconductor llamados barrera de Schotky pueden emplearse para controlar
elctricamente el rea de flujo de una pelcula semiconductora.
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
-1-
Evac
Evac
ex
ex
esp
_ _ _ _ _ _ _ _
S S S S S S S S
Ec
esp
_ R
_ R
_ R
_ R_ R_ R_ R_
R
E fp
Ec
E fn
Ev
Ev
Evac
Evac
Ec
EF
Ev
RRR R R R R R
S S S S S SS S
S
xp
xn
Ec
EF
Ev
Figura # 1
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
-2-
ii)
iii) La regin de agotamiento donde las bandas estn curvadas y hay un campo que
ha barrido los portadores mviles dejando atrs aceptores negativamente
cargados en la regin p y donadores positivamente cargados en la regin n.
En la regin de agotamiento, que se extiende una distancia x p en la regin p y una
distancia xn en la regin n hay un campo elctrico. Cualesquiera electrones o huecos en la
regin de agotamiento son apartados por este campo. Entonces se presenta una corriente de
deriva que contrarresta la corriente de difusin que surge debido a la diferencia entre las
densidades de electrones y huecos a travs de la unin.
Existe la corriente de deriva electronica y corriente de difusin electronica, as
como las corrientes deriva de huecos y de difusin de huecos. Cuando no se tiene
polarizacin aplicada, estas corrientes se cancelan entre si individualmente. La densidad de
corriente de huecos es:
dp ( x )
J p ( x ) = e p p ( x ) E ( x ) Dp
=0
dx
Deriva
Fig. # 2
Difusin
SSS RRR
SSS RRR
SSS RRR
SSS RRR
xp
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
...1
-3-
xn
INGENIERO TEODORO BUSCH
J n ( x ) = en n ( x ) E ( x ) + eDn
dn ( x )
dx
... 2
Jp ( x ) = e p p ( x ) E ( x ) eDp
dp ( x )
dx
... 3
p
Dp
e
K BT
... 4
p
Dp
E ( x) =
El campo E =
p
Dp
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
E ( x) =
1 dp ( x )
p ( x ) dx
... 5
dV
, la relacin de Einstein
dx
e dV ( x )
1 dp ( x )
=
K BT dx
p ( x ) dx
-4-
... 6
Pp
Pn
np
nn
xp
xn
Vn
V1C
Vp
+e
eV1C
p+e
eV p
EC
eVn
Fig. # 3
EFi
EV
e
K BT
Integrando, se obtiene:
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
Vn
Vp
dV =
pn
pp
dp
p
... 7
p
p
e
Vn Vp ) = ln n = ln p
(
K BT
pp
pn
-5-
K BT p p
ln
e
pn
... 8
e
K BT
Vn
Vp
dV =
np
Integrando, se obtiene:
VIC =
nn
dn
n
... 9
nn
e
V
V
=
ln
( n p ) n
K BT
p
K BT nn
ln
n
e
p
...10
nn pn = n p p p = ni 2 ...11
Combinando las ecuaciones 9 , 10 y 11
K BT p p nn K BT nn p p
ln
=
ln
n p
e
pn nn
e
p p
K T nn p p
VIC = B ln
...12
e
ni
VIC =
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
-6-
K BT N a N d
ln
2
e
ni
...13
pp
pn
evic
nn
= e K BT
np
p p = pn = e
nn = n p = e
evic
evic
K BT
K BT
...14
...15
...16
Ax p N a = Axn N d
...10
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
-7-
=0
< x < xp
... 10
xp < x < 0
... 11
0 < x < xn
... 12
d 2V ( x ) eN a
=
dx 2
d 2V ( x )
dx
d 2V ( x )
dx 2
eN d
=0
xn < x <
... 13
dV ( x )
= E ( x ) = c1
dx
< x < xp
V ( x ) = Vp
< x < xp
...14
E ( x) =
d 2V ( x )
dx
eN a
dE ( x ) =
Para
F.Q.G. E.G.H.
...15
d dV ( x ) + eN a
=
dx dx
eN a
eN
dx E ( x ) = a x + c2
x = xp E ( x ) = 0
E ( x) =
ETN 501
dV
dx
0=
eN a x eN a x p
-8-
eN a ( x p )
xp < x < 0
dE ( x )
dx
eN a
xp < x < 0
+ c2
c2 =
eN a x p
...16
E ( x) =
dV ( x )
eN x eN x
= a a p
dx
dV ( x ) =
V ( x) =
eN a eN a x p
dx
+
eN a 2 eN a x p
x +
x + c3
V ( x p ) = Vp =
V ( x) =
eN a 2 eN a x p 2
xp
x p + c3
2
2
eNa x 2 eN a x p x eN a x p
+
+
+ Vp ;
2
2
c3 =
eN a 2
x p + Vp
2
xp < x < 0
...17
d 2V ( x )
eN
= d
2
dx
dE ( x )
d dV ( x )
eN d
eN
= d
dx dx
dx
E ( x) =
eN d
x + c2
Para
x = xn
E ( x) =
E ( x) = 0
F.Q.G. E.G.H.
0=
dE ( x ) =
eN d
dx
c2 =
eN d xn
0 < x < xn
dV ( x ) eNdx eNdxn
=
dx
-9-
eN a xn
+ c2
eN d x eN d xn
E ( x) =
ETN 501
0 < x < xn
...18
dV ( x ) =
V ( x) =
eN d
xdx +
eN d xn
dx
eN d 2 eN d xn
x +
x + c3
Para x = xn , el potencial es
Vn = V ( xn )
V ( x) =
Vn =
eN d 2 eN d xn 2
xn +
xn + c3
2
eN d 2 eN d xn
eN
x +
x a x 2p + Vn
2
2
c3 =
0 < x < xn
eN d 2
xn + Vn
2
...19
N a x p2
+ Vp Vn = e
N a x p2
... 20
Donde
V (0) =
eN a x2p
2
+ Vp
V ( x p ) = Vp
... 21
Donde
V (0) =
eN d xn2
+ Vn
2
V ( xn ) = Vn
Luego
VIC = V ( 0 ) V ( x p ) + V ( xn ) V ( 0 ) = V ( xm ) V ( x p ) =
eN a x 2p
2
eN d xn2
2
... 22
- 10 -
N d xn = N a x p
VIC =
VIC =
e N d N a2 x p2
2
N d2
xn =
eN a x p 2
2
Na
xp
Nd
eN a2 x 2p
2 N d
... 23
eN a x 2p
2
eN a N a 2 eN a N d + N a 2
1 +
xp =
xp
2 N d
2 N d
xp =
2VIC
eN a
Nd
Nd + Na
N
xn = a
Nd
2 VIC
eN a
2 VIC N d N a2
Nd
=
e N a N d2 ( N d + N a )
Nd + Na
xn =
... 24
2 VIC N a
eNd ( N a + N d )
... 25
x 2 = xn 2 + 2 xn x p + x p 2
x2 =
2 VIC N a
Nd
2 VIC N a
2 VIC
2 VIC
Nd
+2
+
eN d ( N a + N d )
eN a N d + N a
e Nd ( Na + Nd ) e Na Nd + Na
x2 =
Nd
2 VIC N a
4VIC
2 VIC
+
+
eN d ( N a + N d ) e ( N a + N d ) eN a N d + N a
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 11 -
e ( Na + Nd ) Nd
Na e ( Na + Nd )
Nd Na
x =
2
2 VIC ( N a + N d )
eN d N a ( N a + N d )
2 VIC ( N a + N d )
eN a N d
x=
2 VIC ( N a + N d )
eN d N a
... 26
ii)
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 12 -
SSS
SSS
SSS
SSS
RRR
RRR
RRR
RRR
x p N A = xn N B
xp
xn
Fig. # 4
xp
xn
mx
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 13 -
5.2.1. Polarizacin directa.En este caso, la regin p se somete an potencial positivo respecto de la regin n
V f > 0 .El efecto es que el potencial electrosttico de contacto en la unin decrece en dicha
cantidad V f , es decir,
VTOT = Vic V f
... 27
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 11 -
... 28
Vr
Vf
p
VIC V f
VIC Vr
e(VIC V f )
EC EFP
e(VIC Vr )
eVr
EFn
eV f
EFn
EFP
Fig. # 6
Fig. # 5
EC
EV
EV
El potencial total a travs de semiconductor debe ser igual a la diferencia entre el
potencial nter construido y el voltaje aplicado, la cual proporciona una segunda relacin
entre x p y xn nominalmente:
Vic V f =
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
2
eN d xn2 eN d x p
+
2 s
2 s
- 12 -
... 29
x=
... 30
2 s N a (Vic V f )
e N d ( Na + N d )
... 31
xp =
2 s N p (Vic V f )
e Na ( Na + Nd )
... 32
velocidad de portador 10
= eeVic
k BT
... 33
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
= ee (Vic V ) k BT
- 13 -
... 34
p ( xn ) p p
p( x p ) pn
eeVic
k BT
ee(Vic V ) k BT
=eeV
k BT
p( xn )
pn
= eeV
kBT
... 35
np
VIC V
p
EFP
pp
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
EFn
- 14 -
n( x p )
n( x p )
kBT
n( xn )
= ee (Vic V ) kBT
n( x p )
... 36
x( xn ) = nn
=eeV
k BT
nn
np
n( xn )
eeVic
e
k BT
e (Vic V ) k BT
n( x p )
np
... 37
n( xn )
pn = p ( xn ) pn = pn eeV k BT pn
pn = pn (eeV k BT 1)
... 38
n p = n( xn ) n p = n p eeV k BT n p
n p = n p (eeV k BT 1)
... 39
( x xn ) l p
p( x) = pn (eeV
n( x) = n p e
n ( x ) = n p ( e
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
k BT
1)e
( x xn ) l p
x > xn ... 40
( x + x p ) ln
eV k BT
1)e
( x + x p ) ln
- 15 -
x < xp
x es ( ) ... 41
x es ( + )
p
d
d
[ p ( x) ] = eADp pn ( eeV
dx
dx
I p ( x ) = eAD p pn ( e eV
K BT
1)
I p ( x ) = eAD p pn ( e eV
K BT
1) e
pn ( eeV
K BT
1) e
I p ( x ) = eA
Dp
lp
K BT
1) e
( x xn ) l p
d ( x xn ) l p
e
dx
( x xn ) l p
d
( x xn ) l p
dx
( x xn ) l p
=e
AD p
lp
p( x)
x>x n ... 42
ADp
lp
pn ( eeV K BT 1)
... 43
Luego la corriente total de electrones inyectada en la regin del lado p esta dado
por:
I n ( x) = eADn
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
d
d
[ n( x)] = eADn n p ( eeV
dx
dx
I n ( x) = eADn n p ( eeV
K BT
1)
I n ( x) = eADn n p ( eeV
K BT
1) e
K BT
1) e
( x + x p ) ln
d ( x + x p ) ln
e
dx
( x + x p ) ln
- 16 -
d
[ ( x + xn ) ln ]
dx
INGENIERO TEODORO BUSCH
Dn
n p ( eeV
ln
1) e
K BT
( x + x p ) ln
para x = x p
I n ( x p ) = eA
Dn
n p ( eeV
ln
K BT
1)
... 44
I (v) = I p ( xn ) + I n ( xp ) = eA
Dp
lp
pn ( eeV KBT 1) + eA
Dn
np ( eeV KBT 1)
ln
Dp
D
I (v) = eA
pn + n np ( eeV KBT 1) = I0 ( eeV KBT 1)
ln
l p
... 45
Esta ecuacin, del diodo, nos proporciona la corriente a travs de una unin p-n
bajo polarizacin directa (V > 0) y la polarizacin inversa (V < 0) , la corriente
simplemente tiende hacia el valor I 0 donde:
Dp
D
I 0 = eA
pn + n n p
ln
l p
... 46
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 17 -
(e
I p ( x) = eA
Dp
I n ( x) = eA
Dn
( x+ x ) l
n p e p n ( eeV
ln
lp
pn e
( x xn ) l p
eV K BT
K BT
1) ; x>x n ... 42
1)
; x>-x p ... 47
Dp
D
I = eA
pn + n np ( eeV KBT 1)
ln
l p
... 45
x > xn
... 48
Dp
D
( x xn ) l p
I n ( x) = eA
pn + n n p ( e eV
1 e
ln
l p
K BT
1) ... 49
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 18 -
p
xp
xn
n p + n p
n ( x)
pn + pn
n( x) = n( x) np
p ( x)
p ( x ) = p ( x ) pn
np
pn
Carga
minoritaria
de equilibrio
Corriente total
Corriente
de electrones
Corriente de huecos
Corriente de electrones
minoritarios
Vf
I0
Corriente de huecos
(minoritaria)
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 19 -
ii)
dQ dQ
dQ
=
=
= s
dQ
dV xdE x
x
s
... 50
dE =
dQ
s
... 51
dV = xdE = x
dQ
s
... 52
2 (Vic V ) N a + N d 2
x=
e
Na Nd
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 20 -
... 53
Q = eAxn N d = eAx p N a
Adems, se ha deducido que: x = xn + x p
xn =
Na x
Na + Nd
xp =
Nd x
Na + Nd
1
N N x
N N 2
Q = eA a d = A 2e (Vic V ) a d
Na + Nd
Na + Nd
... 54
2 A
2e N a N d
dQ A
Cj =
=
=
dV
x
2 (Vic V )( N a + N d )
... 55
( p D p = L2p )
Q p = I p = eALp pn eeV
K BT
... 56
dQ p
dV
e2 Al p pn
K BT
eeV
K BT
Gs =
dI eI (v)
=
dV K BT
eI p
K BT
... 57
... 58
- 21 -
dv
is = Gvs + Cdiff s
dt
... 60
LS
RS
I
rS
m=
Cp
I0
Vac
rs
CJ
C diff
Cdiff =
eI
p ... 61
K BT
1
2
para diodos de base grande y
para dispositivos
2
3
de base estrecha.
Para polarizacin inversa la capacitancia de difusin es despreciable.
ETN 501
F.Q.G. E.G.H.
- 22 -