Mtodos de difraccin de Rayos X

Luz Adriana Nicasio Collazo

Instituto de fsica de la Universidad de Guanajuato

Introduccin
Los rayos X son la radiacin electromagntica, invisible, capaz de atravesar cuerpos opacos. Su
longitud de onda se encuentra entre los 10 a 10.1 nanmetros (nm), correspondiendo a
frecuencias del rango de 30-30 PHz. Los rayos X surgen de fenmenos extra nucleares, a nivel
de la rbita electrnica, principalmente producidos por desaceleraciones de electrones.
La energa de los rayos X es del orden de 12.3KeV (kilo electronvoltio).
Demostracin (Ejercicio 1. Demostrar lo anterior)
La energa por fotn es
= =

2
2 = (1)
Donde h es la constante de Planck (h=4.1357x10
-15
eV s) y la frecuencia de los
rayos x, que puede ser expresada por medio de su longitud de onda () y la velocidad
de la luz (c), como
=

(2)
Talque podemos reexpresar (1) como
=

=
4.135710
15
2.910
10

10
8

12.310
3

Talque se demuestra lo anterior.
Por este tipo de caractersticas (tamao de y energa) es que los Rayos X pueden ser
utilizados para explorar la estructura de los cristales por medio de experimentos de difraccin
de rayos X, pues la distancia entre los tomos de una red cristalina es similar a de los rayos X.
Cristalografa de Rayos X
Es una tcnica que utiliza un haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al entrar en contacto con
el cristal, el haz se divide en varias direcciones debido a la simetra y agrupacin de los tomos
y, por difraccin, da lugar a un patrn de intensidades que puede interpretarse segn la
ubicacin de los tomos de los cristales, aplicando la ley de Bragg.
Mtodos de difraccin de Rayos X
Cuando el haz de rayos X incide sobre un cristal, provocara que los tomos que conforman a
este dispersen a la onda incidente tal que cada uno de ellos produce un fenmeno de
interferencia que para determinadas direcciones de incidencia ser destructivo y para otras
constructivo surgiendo as el fenmeno de difraccin.
La informacin que proporciona el patrn de difraccin de Rayos X, se puede ver como dos
aspectos diferentes pero complementarios: por un lado, la geometra de las direcciones de
difraccin (condicionadas por el tamao y forma de la celdilla elemental del cristal) nos ofrecen
informacin sobre el sistema cristalino. Y por otro lado la intensidad de los rayos difractados,
estn ntimamente relacionados con la naturaleza de los atomos y las posiciones que ocupan
en la red, talque su medida constituye la informacin tridimensional necesaria para conocer la
estructura interna del cristal.
En general, existen tres grandes mtodos de difraccin de rayos X utilizados, como lo son:
Mtodo de Laue
Mtodo de movimiento o Rotacin total o parcial del cristal
Mtodo del Polvo

Mtodo de Laue

Histricamente fue el primer mtodo de difraccin. Se utiliza un Policromatico de Rayos X que
incide sobre un cristal fijo y perpendicularmente a este se sita una placa fotogrfica plana
encerrada en un sobre a prueba de luz. El haz directo produce un ennegrecimiento en el centro
de la pelcula y por lo tanto, se pone un
pequeo disco de plomo delante de la
pelcula para interceptarlo y absorberlo. En
sus primero experimentos us radiacin
continua incidido sobre un cristal
estacionario. El cristal generaba un
conjunto de haces que representan la
simetra interna del cristal.
El diagrama de Laue es simplemente una
proyeccin estereogrfica de los planos del
cristal (figura 1).


Figura 1. Diagrama de Laue de un cristal

Existen dos variantes de dicho modelo, dependiendo de la posicin del cristal respecto a la
placa fotogrfica, y puede ser:
Mtodo de laue en modo transmisin. La
pelcula se coloca detrs del cristal para
registrar los rayos que son transmitidos por
el cristal.
Un lado del cono de reflexiones de Laue es
definido por el rayo de transmisin. La
pelcula cruza el cono, de manera que las
manchas de difraccin generalmente se
encuentren sobre una elipse.

Figura 2. Esquema del mtodo de laue de trasmisin.

Mtodo de Laue en modo reflexin. La pelcula
es colocada entre la fuente de rayo X y el
cristal. Los rayos que son difractados en una
direccin anterior son registrados.
Una parte del cono de reflexiones de Laue es
definido por el rayo transmitido. La pelcula
cruza el cono, de manera tal que las
manchas de difraccin se encuentran
generalmente estn sobre una hiprbola.

Figura 3. Esquema del mtodo de laue de reflexin.

Aplicaciones. En la actualidad, este mtodo se utiliza para determinar la simetra: si un cristal
se orienta de tal manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetra, la
disposicin de las manchas en la fotografa revela su simetra. Una fotografa segn este
mtodo de un mineral tomado con el haz incidente paralelo al eje binario de un cristal
monoclnico, mostrar una disposicin binaria de manchas; si el haz es paralelo al plano de
simetra, la fotografa presentar una lnea de simetra; si es un cristal rmbico mostrar una
distribucin doble de las manchas, con dos ejes de simetra.

Mtodos de rotacin o del cristal giratorio

Se emplea un monocristal. El cristal se orienta de tal manera que puede hacerse girar segn
uno de los ejes cristalogrficos principales. La cmara es un cilindro de dimetro conocido,
coaxial con el eje de giro del cristal, y lleva en su interior una pelcula fotogrfica protegida de
la luz por una cubierta de papel negro (ver figura 4).
Cuando se toma una fotografa de rotacin, el cristal gira alrededor de una de las filas
reticulares principales, generalmente un eje cristalogrfico. Esta fila reticular es perpendicular
al haz incidente, y por lo tanto los rayos difractados estarn siempre contenidos en conos
cuyos ejes son comunes con el eje de rotacin del cristal. Este eje es el de la pelcula cilndrica,
por lo que la interseccin de los conos sobre la pelcula ser una serie de crculos, que al revelar
la pelcula y aplanarse aparecer como lneas rectas paralelas. Cada una de ellas es una lnea de
capa, que corresponde a un cono de rayos difractados para los cuales n tiene un cierto valor
entero. De esta forma, la lnea de capa que incluye el rayo incidente se denomina capa cero o
ecuador, la primera lnea es la que cumple n = 1, la segunda n = 2 y as sucesivamente. Las
lneas de capa no son continuas puesto que las distintas manchas de difraccin aparecen solo
cuando los tres conos se cortan.
Figura 4. Esquema del montaje del mtodo de rotacin.
La separacin de las lneas de capa viene condicionada por los ngulos de los conos, que a su
vez depende de la periodicidad de la fila reticular alrededor de la cual se hace girar el cristal.
Por lo tanto, conociendo el dimetro de la pelcula cilndrica, la longitud de onda de los rayos
X y la distancia de la capa n sobre el ecuador en la pelcula, podemos determinar el espaciado o
periodo de identidad a los largo del eje de rotacin del cristal.

Si en el mtodo del cristal giratorio se toman fotografas de rotacin con el cristal girando
alrededor de cada uno de los tres ejes cristalogrficos, podemos determinar las dimensiones de
la celda unidad, de modo que los periodos de identidad determinados al girar el cristal
sucesivamente son las aristas de la celda unidad, lo cual es cierto sea cual fuere la simetra del
cristal.
Aplicacin. La figura 5 muestra una
parte de una estructura con
coordenadas de tomo individuales
con el sitio activo hundido por una
red " de la densidad de electrones. "
En un proceso iterativo, las
coordenadas atmicas son ajustadas
para caber en la densidad de
electrones. La estructura de pasar es
un hecha un promedio por tiempos,
hecha un promedio por espacios,
puesta de coordenadas de tomo.
Los mapas de densidad de electrones
es del sitio activo de una enzima que
est implicada en la biodegradacin de dinitrotoluene industrial contaminante. El tomo de
hierro es visible tal cual el inhibidor de enzima dinitrocatechol. La estructura de esta enzima
fue solucionada por Bernie Santarsiero en el laboratorio Mesecar.
Mtodo Powder
Debido a la escasez de los cristales verdaderamente bien formados y la dificultad de llevar a
cabo la precisa orientacin requerida por los mtodos de Laue y de cristal giratorio llevaron al
descubrimiento del mtodo del polvo en la investigacin de la difraccin por rayos X.

En este mtodo la muestra se pulveriza tan finamente como sea posible y se asocia con un
material amorfo, en forma de eje acicular de 0.2 a 0.3 mm de dimetro. Esta aguja o muestra de
polvo est formada idealmente por partculas cristalinas en cualquier orientacin; para
asegurar que la orientacin de estas
pequeas partculas sea totalmente al
azar con respecto del haz incidente, la
muestra generalmente se hace girar en
el haz de rayos X durante la
exposicin. La cmara de polvo es una
caja plana en forma de disco con una
aguja ajustable en el centro de la
misma para montar la muestra. La
pared cilndrica est cortada
diametralmente por un colimador y
un obturador del rayo opuesto a
aquel. Se sita la pelcula dentro de la
cmara, con dos agujeros perforados,
de modo que el tubo del colimador y
del obturador pasan a travs de ellos
una vez que la pelcula se adapta
adecuadamente a la superficie interna
de la cmara (ver figura 6).

Figura 6. Esquema del montaje del mtodo de Powder.
Un fino haz de rayos X monocromticos se hace pasar por el sistema colimador e incide sobre
la muestra, que est cuidadosamente centrada en el eje corto de la cmara, de tal manera que la
muestra permanece en el haz mientras gira durante la exposicin. Los rayos que no han sido
desviados pasan a travs y alrededor de la muestra y pasan por el obturador antes de salir de
la cmara.
Los mximos de difraccin de un conjunto de planos determinados forman 2 conos simtricos
cuyo eje coincide con el haz incidente. El ngulo entre el haz no difractado y los haces
difractados que constituyen los conos es de y valores enteros n, dando lugar a conjuntos
diferentes de conos de haces difractados. La interseccin de cada cono de haces difractados con
la pelcula fotogrfica produce dos arcos simtricos con respecto a dos centros que representan
el lugar de entrada y salida del haz de rayos X de la cmara (Figura 7).

Figura 7. Conos de interseccin que produce la difraccin.
La pelcula se coloca de manera envolvente en la cmara (de manera circular) talque registra el
patrn de difraccin como se muestra e la figura 8. Cada cono que cruza la pelcula da la lnea
de difraccin, que son vistas como arcos (figura 9).













Figura 8. Pelcula fotogrfica afectada por los patrones de difraccin.
Cuando la pelcula se despliega se observa una serie de arcos concntricos y simtricos con
respecto a los dos orificios.

Figura 9. Pelcula fotogrfica.

As, por ejemplo consideraremos el modelo en polvo de un cristal de una muestra de la cual se
sabe tiene estructura cubica, pero se desconoce cul.
Aplicando este mtodo, obtenemos la tira de pelcula de la cmara de Debye despus de la
exposicin, desarrollamos y fijamos. De la tira medimos la posicin de cada lnea de
difraccin. De los resultados es posible asociar la muestra con un tipo particular de estructura
cbica y tambin determinar un valor para su parmetro de enrejado.
Cuando la pelcula es puesta el punto S1 puede ser medido. Esto es la distancia a lo largo de la
pelcula, de una lnea de difraccin, al centro del agujero para el rayo transmitido directo. Para
reflexiones traseras, por ejemplo con 2q> 90 puede medirse S2 como la distancia del punto de
entrada de rayo.







Figura 10. Determinacin de estructura cristalina, pelcula desplegada.
Determinando dichas cantidades y utilizando la ley de Bragg y lo que se conoce sobre los
planos de la red reciproca, se obtiene el tipo de cristal que es (por analoga).

Bibliografa
[1]. ChemKeys, http://www.chemkeys.com/esp/md/ede_4/ddeq_1/lrx_10/lrx_10.htm#
[2]. Direccion de los rayos difractados, www.elergonomista.com
[3]. Cristalografa de los rayos X, www.wikipedia.com
[4]. Difraccion de rayos X, http://www.matter.org.uk/diffraction/x-
ray/x_ray_diffraction.htm
[5]. Metodos de difraccin de Rayos X,
http://www.rpsqualitas.es/documentacion/dowloads/instrumental/tecnicas_de_difracci
on_de_rayos_x.pdf
[6]. Metodos de difraccin de Rayos X, http://www.uned.es/cristamine/cristal/drx_mrc.htm
[7]. Metodologia experimental en difraccin de rayos X,
http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/parte_06.html
[8]. The Macromolecular Structure Facility (MSF),
www.rrc.uic.edu/NEWSLETTERS/2002_SPRING/