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Transp Microscop I A
Transp Microscop I A
Microscopa Electrnica
FUNDAMENTO
La Microscopa electrnica de transmisin se basa
en un haz de electrones que manejado a travs de lentes
electromagnticas se proyecta sobre una muestra muy
delgada situada en una columna de alto vaco.
INFORMACIN
Se obtiene informacin estructural especfica de la muestra
segn las prdidas especficas de los diferentes electrones
del haz.
El conjunto de electrones que atraviesan la muestra son
proyectados sobre una pantalla fluorescente formando una
imagen visible o sobre una placa fotogrfica registrando
una imagen latente.
APLICACIONES
Observar y fotografiar zonas de la muestra, desde 10
aumentos a 200.000, con una resolucin espacial de 5 nm.
Medida de longitudes nanomtricas.
Distincin, mediante diferentes tonos de grises, de zonas con
distinto nmero atmico medio.
Anlisis cualitativo y cuantitativo de volmenes de muestra en
un rango de una a varios millones de micras cbicas.
Mapas de distribucin de elementos qumicos, en los que se
puede observar simultneamente la distribucin de hasta ocho
elementos, asignando un color diferente a cada uno.
Perfiles de concentracin, es decir, la curva de variacin de la
concentracin de un elemento qumico entre dos puntos de la
muestra.
Observas la ultraestructura de clulas, bacterias, etc.
Localizacin y diagnstico de virus.
Control del deterioramiento de los materiales.
Control de tratamientos experimentales.
Grado de cristalinidad y morfologa.
Defectos en semiconductores, etc.
AREAS DE TRABAJO
Medicina, Biologa, Qumica, Fsica, e Ingenieras
Tema 3. Microscopa Electrnica
FORMACIN DE LA IMAGEN
PODER RESOLUTIVO
Poder resolutivo de un miscroscopio: capacidad de poder
distinguir dos puntos muy prximos entre s, o mximo nmero
de lneas que aparecen a la observacin separadas entre s en
la unidad de superficie.
Resolucin del ojo humano = 0.1 mm.
Imposibilidad distinguir puntos separados por
una distancia menor
Los microscopios aumentan una imagen hasta la resolucin
visual humana.
Dimetro de la imagen aumentada, d:
K
d Ec. Abbe
nsen
K, cte del medio de la lente; n, ndice de refraccin del espacio
lente-objeto; , hemingulo de incidencia
Microscopio luz ordinaria: d = 0.2 micras Au = x 550
Microscopio luz ultravioleta: d = 0.1 micras Au = x 1000
Microscopio electrnico: d = 510 amstrong Au = x 166000
Al aumentar una imagen no se aumenta el poder resolutivo, la
imagen se ve ms borrosa.
El aumento mximo til es aquel en el que los objetos se
separen por la distancia lmite de resolucin del ojo humano
(0.1 mm)
0.1mm
Au
d
Tema 3. Microscopa Electrnica
Tema 3. Microscopa Electrnica
FUENTE DE ELECTRONES
En el filamento los electrones se desprenden por el
mecanismo de emisin termoinica.
Los electrones de desprenden de un metal por calentamiento
elctrico, al oponer una resistencia al paso de corriente.
El metal ha de poseer baja afinidad electrnica y baja
vaporizacin (larga vida del filamento).
Mnima oxidacin del filamento:
- Realizar el vaco
- Suministrarle la menor temperatura
Duracin mxima depende de:
- Punto fusin del metal
- Temperatura de trabajo
- Voltaje de aceleracin de los electrones
El filamento ms comn es de W (baja afinidad electrnica y
alto punto de fusin).
Otro filamentos: Ni-Sr, W-Th
Para la aceleracin de los electrones desprendidos se
promueve una diferencial de potencial entre el ctodo y el
nodo.
Tema 3. Microscopa Electrnica
2
E M V
La fuerza del electrn: F M A
En el caso del desplazamiento de los electrones en el
microscopio electrnico, el campo magntico y elctrico tienen
igual direccin.
El desplazamiento de un electrn al atravesar un campo
magntico uniforme es helicoidal.
Los electrones acelerados son desviados por campos
elctricos o magnticos. El ngulo de desviacin es
proporcional a la magnitud de la tensin o corriente elctrica.
Desviacin electrosttica
Desviacin magntica
ABERRACIONES
Un sistema de deteccin
PREPARACIN DE LA MUESTRA
Ventajas:
- El detector tiene la capacidad de recoger al mismo tiempo
todas las energa de rayos X.
- Se puede determinar con precisin la naturaleza y cantidad
de los elementos presentes