Universidad Autnoma Metropolitana

- Iztapalapa

M. En C. Jess Andrs Tavizn Pozos

Difraccin de rayos-x
Junio 2013
1

CONCEPTOS BSICOS

Difraccin
Es la desviacin de las ondas
al encontrar un obstculo o al
atravesar
una
rendija.
Tambin sucede cuando un
grupo de ondas se propaga;
por ejemplo, un haz angosto
de ondas de luz de unlser
deben finalmente divergir en
un rayo ms amplio a una
cierta distancia del emisor.
La interferencia se produce
cuando la longitud de onda es
mayor que las dimensiones
del objeto, por tanto, los
efectos
de
la
difraccin
disminuyen hasta hacerse
indetectables a medida que el

Rayos X
Descubiertos por Rentgen en 1895
se han usado entre varias cosas
para:
Radiografas.
Cristalografa.
Espectroscopia fluorescente.

Dualidad
ondapartcula
4

GENERACIN DE RAYOS X
Y ESTRUCTURA DE LA
MATERIA
5

50
kV
se
suministran
como
diferencia de potencial (alto voltaje)
entre un filamento incandescente
(por el que se hace pasar una
corriente i de bajo voltaje, unos 5 A
a unos 12 V) y un metal puro (Cu,
Mo, W, Cr, Fe, Co), establecindose
entre ambos una corriente de unos
30 mA de electrones libres. Desde el
filamento
incandescente
saltan
electrones
hacia
el
nodo
provocando, en los tomos de este
ltimo,
una
reorganizacin

Bremsstrahlun
g

K-Shell
Un electron es
arrancado del nivel
1 (K) y un electrn
de nivel superior lo
reemplaza
emitiendo un fotn.

Un electrn pasa
cerca del ncleo y
se ralentiza
desprendiendo esa
energa como rayos
X de manera

Monocromador
Es el uso de filtros para seleccionar
radiacin de una sola longitud de
onda cuando la fuente emite varias.
Cuando se usa un filtro se explota la
gran absorcin que presenta un
elemento dado justo debajo del
borde de absorcin K.
Los filtros beta,son filtros cuyos
coeficientes
de
absorcin
se
encuentran entre K y K, y que por
tanto
dejan
pasar
slo
las
radiaciones que se encuentran muy
cerca de K, su principal desventaja
es que dejan pasar las radiaciones
de longitud de onda pequea, por lo
que se recomienda utilizar este filtro
acompaado de un selector de pulso
altos el cual se utiliza para eliminar
las radiaciones de pequea, es
decir, de alta energa, pero no

Redes
cristalinas
Monocristales: es un material en el que lared cristalinaes continua y no
est interrumpida por bordes degranohasta los bordes de la muestra.

Policristales: es unagregadodepequeoscristalesde cualquier

sustancia, a los cuales, por su formairregular, a menudo se les
denominacristalitosogranoscristalinos.
Amorfo: presentan un patrn uniformemente deformado o estructura
cristalina retroactiva, es decir, no tienen un ordenamiento peridico a
largo alcance.

10

11

DIFRACCIN DE RAYOS X

12

Cristalograf
a
Es una tcnica que utiliza un haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al
entrar en contacto con el cristal, el haz se divide en varias direcciones
debido a la simetra y agrupacin de los tomos y, por difraccin, da
lugar a un patrn de intensidades que puede interpretarse segn la
ubicacin de los tomos de los cristales, aplicando la ley de Bragg.
Fsica y
qumica de
materiales

Farmacutic
a

Cristalograf
a

Ciencia de
los
materiales

Biologa
molecular
13

Ley de
Bragg
Cuando los rayos X alcanzan un tomo interactan con sus
electrones exteriores. Estos reemiten la radiacin
electromagntica incidente en diferentes direcciones y casi
con la mismafrecuencia. Este fenmeno se conoce
comodispersin de Rayleigh(o dispersin elstica). Los rayos
X reemitidos desde tomos cercanos interfieren entre s
constructiva o destructivamente.

14

Cuando el haz de rayos X incide sobre un

cristal, provocar que los tomos que
conforman a este dispersen a la onda
incidente tal que cada uno de ellos produce
un fenmeno de interferencia que para
determinadas direcciones de incidencia
ser destructivo y para otras constructivo
surgiendo as el fenmeno de difraccin.

Tamao y forma de la
celdilla del cristal.
Naturaleza de lo de
los tomos y las
posiciones que
ocupan en la red .

15

MTODOS DE DIFRACCIN

16

Mtodos de
difraccin

Mtodo de
Laue
De rotacin
De Polvo
*Detalles de cada mtodo en anexos

17

FUNCIONAMIENTO DEL
DIFRACTMETRO DE
RAYOS X
18

Muestra en polvo:
Orientacin de cristales aleatoria y
la probabilidad de exposicin de
los planos a la radiacin es la
misma.
La muestra se coloca
frente a los rayos X y se
hace girar en un ngulo ,
mientras el generador y el
detector se desplazan un
ngulo 2.

Condicin de Bragg
19

20

Los valores de 2

Se obtienen las
distancias
interplanares
(ndices de Miller)

Al menos 8 picos
deben coincidir con
el patrn.

Tamao de
partcula
21

Polimorfo
Misma frmula
qumica que pueden
diferir en su arreglo
atmico.

Por
temperatura
Por sntesis
Por
combinacin
con otros
compuestos.

22

Cmo determinar una estructura

MTODO DE RIETVELD

23

Parmetros de red
Refinar

Posiciones atmicas
Tamao de cristal

Se
parte
de
Modelo atmico de la
estructura, un
difractograma de alta
calidad (barrido a pasos
pequeos) y una muestra
constituida por uno o

Cuantificar fases
cristalinas
Difractogra
ma
experiment
al

Difractogra
ma terico
de la
estructura
refinada

Diferencias en el ruido y
el fondo
24

Clculo de la intensidad de los picos

Clculo del Factor estructura

El factor de estructura nos indica la capacidad de difraccin de

la celda unitaria y esta integrado por el factor atmico de
dispersin de los tomos de la fase j y la posicin de los tomos
en la celda unitaria.
Para modelar
el perfil de un
pico de
difraccin

Gaussiana

Pseduo Voigt

Lorentziana
Pseudo Voigt- Thompson-CoxHastings
25

Picos bien
definidos

Modelado del
fondo
Fase amorfa

Orige
n

Fluorescencia por
muestra o por el
soporte

Polinomio que puede ser

ms grande dependiendo
la complejidad del fondo

Modelado de
fondo
relativamente
fcil
Picos no bien
definidos y se
confunden con
lnea base
Modelado
complicado

26

Criterios de ajuste
para el refinamiento
Muestra el progreso del
refinamiento, ya que el
numerador contiene la funcin
residuo que esta siendo
minimizada durante el
refinamiento Rietveld.

Residuo del patrn pesado

El valor esperado
Dicho criterio refleja la calidad de los
datos obtenidos en la medicin del
patrn de difraccin (conteos
estadsticos).

Ajuste de Bondad
1< 2 > 1.3

27

Residuo del factor de

Bragg

Indica la calidad del modelo en

cuanto a datos cristalogrficos de
la celda unitaria, veracidad del
grupo espacial, parmetros de red,
posiciones de los tomos en la
base asimtrica y el nmero de
ocupacin de los tomos en los
sitios que les corresponde.

Criterios para juzgar la calidad del refinamiento

Rietveld
El ajuste de los datos del patrn calculado con los datos del
patrn observado. Para ello, en un refinamiento Rietveld se debe
de incluir la grfica con las intensidades calculadas, intensidades
observadas y la curva diferencia.
No perder de vista el sentido fsico de los datos obtenidos en el
refinamiento.
28

Ejemplo del mtodo de refinamiento Rietveld en

TiO2

29

Anatasa

Rutilo

Parmetros de
red
a = b = 3.78
c = 9.51

Parmetros de
red
a = b = 4.59
c = 2.95

ngulo entre
ejes: = = =
90 .

ngulo entre
ejes: = = =
90 .

Grupo espacial:
I 41/a m d (142)

Grupo espacial:
P 42/m n m
(136)

30

El valor de los residuos obtenido fue; Rwp = 14.2, Re =

12.1, 2 = 1.387, el RB para la fase cristalogrfica
anatasa fue de 2.13 y para la fase cristalogrfica rutilo de
3.04.

31

Resultados del Mtodo de

Rietveld

32

TERMODRIFRACCIN

33

Cambiar la temperatura mientras se

hace el difractograma para ver el
comportamiento de los materiales en
funcin de la temperatura

34

Conclusiones
Es un mtodo complejo y puede ser cualitativo como
cuantitativo.
Determina estructura cristalina, tamao de critalito y
parmetros de red en poca muestra.
No es destructiva.
Cuando no son cristalinos se pueden obtener las
distancias interatmicas ms frecuentes.
Es un mtodo rpido y directo.
Se puede determinar el cambio de fase cristalina
mediante calor.

35

Referencias
Bosch Giral, P., Lara Corona, V.H., Difraccin y
fluorescencia de rayos X, Editorial Terracota.
Ramn Garca, M.L., Introduccin al Mtodo de
Rietveld, Centro de Investigacin de Energa, UNAM.
http://www.unizar.es/icma/divulgacion/pdf/pdfdifraccionr
ayos.pdf
http://prof.usb.ve/hreveron/capitulo3.pdf
http://aida.cio.mx/clases2008/estado_solido/Los
%20rayos%20X.pdf
http://www.rpsqualitas.es/documentacion/dowloads/inst
36
rumental/tecnicas_de_difraccion_de_rayos_x.pdf

Gracias por su
atencin

37

ANEXOS

38

Esfera de
Ewald

39

Se inciden rayos X sobre un cristal

fijo y perpendicularmente a este se
sita una placa fotogrfica plana .
El haz directo produce un
ennegrecimiento en el centro de la
pelcula y por lo tanto, se pone un
pequeo disco de plomo delante
de la pelcula para interceptarlo y
absorberlo.

Mtodo de Laue
Sirve para
determinar la
orientacin y
simetra de
cristales.

Cada curva corresponde a

diferente longitud de onda.

Sigue la ley de Bagg: Cada plano

difracta la longitud de onda
particular de la radiacin blanca que
satisface la ley de Bragg .
Los puntos son reflexiones de los
planos correspondientes a una
zona. Las reflexiones de Laue de
los planos de la misma zona yacen
en la superficie de un cono
40
imaginario.

Mtodo de Transicin.

Mtodo de modo
reflexin.

La pelcula es colocada entre la

fuente de rayos X y el cristal.
Los rayos que son difractados
en una direccin anterior son
registrados. Una parte del cono
de reflexiones de Laue es
definido por el rayo transmitido.
La pelcula cruza el cono, de
manera tal que las manchas de
difraccin se encuentran
generalmente estn sobre una

La pelcula se coloca detrs del cristal

para
registrar los rayos que son
transmitidos por
el cristal. Un lado del cono de
reflexiones de Laue es definido por el
rayo de transmisin. La pelcula cruza
el cono, de manera que las manchas
de difraccin generalmente se
encuentren sobre una elipse.

41

Mtodo de rotacin

Se hace incidir un haz de rayos X

monocromticos sobre un cristal.
Para detectar los haces difractados,
la pelcula es envuelta de forma
cilndrica de tal manera que rodee
al cristal. El cristal se hace girar
sobre el eje perpendicular al haz
incidente, el cual coincide con el eje
del cilindro. Para encontrar el
ngulo al cual se cumple la ley de
Bragg, el giro del cristal se hace
sucesivamente de 0 a 90, hasta
encontrar el patrn de difraccin
mostrado en la figura.
42

Mtodo de polvo
Un fino haz de rayos X
monocromticos se
hace pasar por el
sistema colimador e
incide sobre la muestra,
que est
cuidadosamente
centrada en el eje corto
de la
cmara, de tal manera
que la muestra
permanece en el haz
mientras gira durante la
exposicin. Los rayos
que no han sido
desviados pasan a
travs y alrededor de la
muestra y pasan por el
obturador antes de salir

Cuando el haz monocromtico de

rayos X incide en la muestra, se
producen
Simultneamente todas las
43
difracciones posibles

Las reflexiones de un conjunto

de planos forman conos cuyo
eje es el
haz incidente y con un ngulo
interno de 4.
Si los rayos que forman estos conos inciden sobre una
placa fotogrfica perpendicular al haz incidente, se
observarn una serie de crculos concntricos, aunque de
esta manera solo se registrarn reflexiones con
pequeos valores de 2.
44

Clculo de la intensidad de los picos

45

Clculo del Factor estructura

46

Modelado del fondo

47

Criterios de ajuste para el

refinamiento
Residuo del patrn pesado

El valor esperado

Residuo del factor de

Bragg

48