Soluciones de Integridad de Seal

Para el Diseo de Hardware de Alta Velocidad

Documento Gua del diseador digital

para verificar la integridad de la seal
Definicin de la Integridad de Seal
Tecnologa Digital

Computacin / Comunicaciones
Semiconductores / Electrnica
Avanzada

Integridad de Seal en Diseo/Anlisis

Sondas: Donde todo empieza
Anlisis Lgico: La visin Digital
Osciloscopios: La visin analgica
TLA + TDS = Digital+Analogico (iView)
Anlisis de Jitter y Tiempos
Depuracin de Integridad de la Seal
Soluciones de Integridad de Seal
N Literatura # 55S-15465-0

La Integridad de Seal (SI) Definida

Qu es la SI?

La integridad de la seal implica

la distribucin de seales
digitales y analgicas de una
parte de un circuito a otra de
manera que la informacin
contenida sea transportada de
forma determinstica y fiable.
Ingeniera/Verificacin de la SI:

La verificacin de la SI ocurre
durante la fase de diseo para
asegurar que un sistema cumple
o excede las especificaciones de
fabricacin, de fiabilidad y de las
normativas de la Industria.

Text-Book View of Digital Signals

Logic
Signal

1
0

1
0

+5 Volt
Supply
Ground

Real View of Digital Signals (analog)

Logic
Signal

+5 Volt
Supply
Ground

SI Problemas y Soluciones
Integridad de Seal (el problema)

Integridad definida como completa y sin defectos

SI en el diseo analgico/digital consiste en la transmisin de
seales de calidad suficiente, inluyendo la capacidad de
recuperar y reconstruir la seal

Fidelidad de Seal (La Solucin de Tektronix)

Fidelidad es el grado de exactitud y repetibilidad en la

reproducccin de las seales para su anlisis y depuracin

No se quiere ser parte del problema cambiando las
caractersticas de las seales Se quiere ser lo menos intrusivo
posible durante la captura, visualizacin y anlisis de seales.

Osciloscopios, Sondas y Analizadores Lgicos Tektronix

.. los Ojos del Ingeniero

4

SI Normativas de la Industria
Buscar: AC Parametrics, AC Specs, AC Timing, Clock Specs
Industria

Telecom

Elctrica

ANSI T1.102 (DS1,

DS1A, DS1C, DS2, DS3,
STS-1, DS4, STS-3)
ITU-T G.703 (DS0, DS1,
E1, DS2, E2, E3, DS3,
E4, E5)

Optica

Bellcore GR-253-CORE
and ANSI T1.106
(SONET OC-n signals)
ITU-T G.957 (SDH STMn signals)

Computer
Serial ATA
1394b Firewire
USB2.0

Data Comm
ANSI X3.230 (Fibre
Channel)
IEEE 802.3ae
(Gigabit
Ethernet)

InfiniBand
1394b Firewire

ANSI X3.230 (Fibre

Channel)
IEEE 802.3ae
(Gigabit Ethernet)
InfiniBand

Lo que nos Dicen los Clientes Tecnologas

Velocidades ms elevadas
2.5 Gb/s PCI Express (3GIO)
3.125 Gb/s XAUI
333 MHz DDR
1+ GHz RDRAM

CPU

Graphics

HDD
Serial ATA

3GIO

Memory
Bridge

USB 2.0

3GIO

I/O
Bridge

3GIO

2.5 Gb/s InfiniBand

1.6 GHz HyperTransport

Mobile
Docking

Switch

3.125Gb/s SFI-5

3GIO

Memory

Local I/O
PCI

Mobile
Docking

Mobile
Docking

La Innovacin Crea Problemas de SI

Las velocidades en uso actualmente
crean ms problemas de integridad:
Arquitectura de buses sncronos ms rpidos

Relojes y Datos ms rpidos

Transiciones ms cortas
Tiempos de setup & hold ms crticos

Problemas elctricos y fsicos

Excursiones de tensin menores

Seales diferenciales de alta velocidad
Interconexiones de impedancia controlada
Dificultad de conexin

Interfases Opticas / Elctricas

Hoy Los diseadores digitales necesitan obtener
visibilidad de las caractersticas analgicas de sus
seales digitales
7

SI Problemtica de Diseo
Para conseguir diseos fiables hay que analizar cuidadosamente

el comportamiento temporal, la distribucin de la placa de circuito,

la Integridad de Seal, las EMI, y la termodinmica del sistema
Pete Mueller, Intel

Prototype
Debug

Signal
Integrity

Timing
Margins

Jitter
Analysis

Elect / Optical Signal

Conformance Test

Los diseos incorporan ms comunicaciones serie

Las velocidades de datos ms elevadas a menudo requieren de

interconexiones pticas
8

Los Requerimientos de Medida de la SI

segn Nuestros Clientes
Tiempos de subida menores de 200ps

Jmedidas de jitter de 50ps pp

Medidas Opticas y Diferenciales
Tiempos S&H menores 200ps

Sin transmisin de reloj

Conformidad con mscaras estndar
Medidas especficas de la aplicacin

Anlisis de datos en serie

La integridad de seal es nuestro mayor problema

Medidas de Conformidad en
Osciloscopios
Ejemplo InfiniBand:
Consideraciones sobrer el ancho de banda elctrico del sistema:

BW Osciloscopio = bit rate elctrico X 1.8

(regla aproximada de las especificaciones Fiber Channel)
Para InfiniBand Elctrico @ 2.5 Gb/s signinfica > 4.5 GHz
(para XAUI @ 3.125 Gb/s significa 6GHz)
Consideraciones sobrer el ancho de banda ptico del sistema :

BW Sistema= bit rate ptico X 0.75

BW filtrado por el Receptor Optico de Referencia (ORR)
para STM-16 3db @1.87GHz, los lmites se extienden
hasta 4GHz

11

SI Ancho de Banda/Precisin Amplitud

Frecuencia Normalizada

BW = 0.35 *
tris
e

* Esta constante se
basa en un modelo
de 1er orden - en
osciloscopios de
altsimo ancho de
banda la constante
puede llegar a ser
tan alta como 0.45

0.1

0.2

0.3

0.4

} 3%

0.5

0.6 0.7 0.8 0.9 1.0

100
97.5
95
92.5
90
87.5
85
82.5
80
77.5
75
72.5
70.7 (- 3 dB)

Amplitud (%)

Osciloscopios

A la frecuencia de corte a 3dB, el error de amplitud ser ~ 30%.

La especificacin de error de amplitud es tpicamente del 3% max.
REGLA: Especificar el conjunto Osciloscopio + Sonda con un BW del
sistema de 3 a 5 veces mayor que el de la seal a medir.

12

Ancho de Banda & Armnicos

Onda Cuadrada Digital Suma de Componentes Impares
1

Fundamental (1er Armnico)

3er Armnico
5o Armnico
Suma Fourier (1er-5o Armnico)

-1
0

13

50

100

Consideraciones sobre Flancos Rpidos

Non-Monotonic
(Non-Linearity)

Hay que asegurarse de que las sondas y el sistema de

medida no son las causas de estos problemas.

14

Flanco de Bajada No-Monotnico

Causa un Glitch Digital

Glitches

Glitch (vista digital)

Glitch (vista analgica)

Se produce por una pista de 8 cm en el PCB

15

Consideraciones sobre Flancos Rpidos

Ancho de Banda Osciloscopio/Sonda:
Igual BW de la transicin
Doble que el BW
Tres veces el BW
Cinco veces el BW

Error Tiempo de Subida=

41%
12%
5%
2%

Lo que no vemos nos puede daar!

Forma de Onda Real cuando:
BW Osciloscopio= 5X BW Flanco
(~2% Error de Tiempo de Subida)

tr(medicin)

41% Error de Tiempo de Subida:

BW Osciloscopio= BW

[ tr(osciloscopio)2 + tr(sonda)2 + tr(seal)2 ]

REGLA: Especificar el conjunto Osciloscopio + Sonda con un BW del

sistema de 3 a 5 veces mayor que el de la seal a medir.

16

Tiempos Setup/Hold < 200ps (Ventana Vlidez)

Tiempos s&h Rambus ~200ps
DDR <250ps
Firewire 1394b skew <100ps
Requiere alineacin del orden

del ps

Utillaje de Alineacin (Deskew)

SETUP TIME

HOLD TIME
DATA VALID
CLOCK

DATA

17

Especificaciones de Integridad de la Seal

Medidas: Overshoot, Undershoot, Ringback

Monotonicidad (Linealidad)
Diagrama de Ojo: p.e. USB

18

USB 2.0 Electrical Compliance Mask Test running on the

Tektronix TDS7104 DPO Oscilloscope.

Consideraciones Sobre la SI
Respuesta Transitoria
Tiempos Subida/Bajada
Overshoot /
Undershoot

Fidelidad de Seal
Carga

Capacidad Anlisis TDR

Caracterizacin Impedancia
Conectores, backplanes, etc.
19

Anlisis de Datos Serie Un Nuevo Reto

Muchas tecnologas requieren

conformidad con estndares

de diagrama de ojo o
Mscaras Serie

Recuperacin

de Reloj (CR)
Captura de paquetes de

datos relevantes medioante

disparo de patrn serie (ST)
20

Bsqueda de Eventos en Datos Serie

Disparo de Patron Serie
Depuracin ms simple

Permite el aislamiento

de fallos dependientes
de los datos en un nico
disparo durante pruebas
de funcionamiento y
conformidad
Es preciso en la

actualidad
21

Diagramas Ojo Calidad Transmisin (SI)

Revela las caractersticas

combinadas del emisor

Tiempos de Subida y Bajada
Overshoot, Undershoot y
Ringing (Ringback)
Ciclo de Trabajo (Duty Cycle)
Jitter y Ruido

Ruido

Apertura
Ojo

Jitter

Una apertura mayor indica una mayor tolerancia a ruido y jitter

Una apertura mayor indica mejor sensibilidad del receptor
Una gran anchura de la traza y las transiciones indica un

degradacin de la sensibilidad del receptor

La apertura del ojo se correlaciona con el Jitter y el BER (JIT3)

22

Respuesta del Receptor de Referencia

Optico H()
Optical Reference
Receiver (ORR)
OI

EO
O/E
converter

Filter

H()
Grfico que muestra la
respuesta real de un filtro de
Bessel-Thomson de 4 orden
y la tolerancia admitida por
los estndares SDH/SONET
para STM-16/OC-48 @
2.488Gb/s.

23

CSA7000: 2.5 Gbit/sec Optico

Reloj Recuperado Out

Datos
Recuperados

Datos Recuperados Out

Reloj
Recuperado

TX
Optico

O/E

Sistema
Disparo

HW PLL
Del
Canal
Seleccionado

Conexin del
O/E al CH1
Ch1 - 4GHz (20GS/s)

Sistema
Adquisicin

Amp/Atenuador

Unico del
CSA7000

Optical Reference
Receiver (ORR)
OI

EO
Convert.
O/E

Filtro

H()

24

Pantalla

Diagramas Ojo / Mscaras en los TDS R-T

(hasta 3.2 Gb/s hoy y mayores en el futuro)

Estndares Com.

OC-48 / STM-16

OC-12 / STM-4

(rangos medio y bajo)

OC-1 (STS-1)
STM-0 (STM-0E)

OC-3 (STS-3)
STM-1 (STM-1E)

10 Gb/s

InfiniBand

1 Gb/s

FC2125

DS4 E4

IEEE1394b
(S1600B)

DS3
E3

100 Mb/s

Serial ATA

E2

FC531

DS2
10 Mb/s

E1

1 Mb/s

USB1.1
100 kb/s

25

FC266
FC133

DS1
Ethernet

Gigabit
Ethernet

USB2.0
IEEE1394b
(S400B)

FC1063
IEEE1394b
(S800B)

Estndares Datos
(alta velocidad)

Retos de la Conexin (Probing)

Seales de alta velocidad
Datos y reloj diferenciales
Conectores
Componentes de alta densidad
Efectos inductivos
Conexines a tierra
Carga de las sondas
Espacio disponible

Densidad

26

Carga de una Sonda, Modelo Simplificado

Impedancia
Entrada ()
100M
10X Pasiva
10 pF/10 M

10M

10X pasiva: la
carga llega a
159@100MHz

1M
100k

10k

Activa
1.0 pF/1 M

1k

>1GHz

100
10

Z0
0.15 pF/500

1X Pasiva
100 pF/1 M

100

1k

10k

100k

1M

10M

100M

Frecuencia de la Seal (Hz)

27

1G

10G

Modelo Preciso
Sonda Activa ms Rpida Existente
Sonda Activa referida
a tierra P7260 con
interfaz TekConnect

Pr obe Tip

L1

1n H

L2
1. 3nH

T1
Z0 = 1 10
TD = 11p

R1

R3

11 2

C1
21 7f

20 k

E1
+
-

10 0
+
-

C3

21 2f Output

VCVS
Ga in=1

C2

50 f

28

R2

Sondas Carga
Nueva Sonda FET P7260

6 GHz BW Total del Sistema

Cinput<0.5 pF!
Rango Dinmico 6 Vp-p!
Rinput 20 K

Tiempo de Subida (TDS6604)

75ps (10-90% Tr)
55ps (20-80% Tr)
Requerido para circuitos con
Tr de 200ps
29

Low Voltage Differential Signaling (LVDS)

Estndares LVDS (ANSI/TIA/EIA-644 e IEEE 1596.3)

Alta velocidad >1 Gb/s, bajos consumo y ruido

InfiniBand: 2.5Gb, nivel diferencial > 175mV, transporte de reloj
Sonda Dif. P7330
3.5 GHz
0.5 pF C
LVDS

30

Modelo Preciso
Sonda Activa Diferencial ms Rpida Existente
Sonda Activa Diferencial
P7330 con interfaz
TekConnect

CPL

Probe
Tips

R1

R6
50k

TD = 20p
Z0 = 140

ke=2
ko=1
pl=10mm
ze=250
zo=120

190fF

T2

110

C1

R4

20fF

100

C4

397fF

110

105
0

TD = 20p
Z0 = 140

R7
0

50k

Output
-

C3
190fF
0

31

R5

C2

R3

T1

105

R2

32

Jitter es un gran problem de SI a alta

velocidad
Qu es el jitter?

la desviacin de un flanco respecto a donde debera estar

Jitter: Variaciones a corto plazo de los instantes significativos

de una seal digital respecto a su posicin temporal ideal (ITU).

FORMA DE ONDA DIGITAL

Causas del Jitter:

Ruido Trmico
Relojes de referencia

33

Ruido Inyectado (EMI/RFI) Otras

Inestabilidades

Separacin Rj / Dj requerido por los

ltimos estndares
Jitter Aleatorio (Rj) RMS
ilimitado, Gausiano

Jitter Determinstico (Dj) Pk-Pk

Jitter Peridico (Pj)
Distorsin Ciclo de Trabajo (DCD)
Interferencia Intersimblica (ISI) o
Jitter Dependiente de Datos (DDj)

Jitter Total (Tj)

Tj = DjPk-Pk + RjRMS x N
(N = 14 para 7 sigma, BER de 10-12)

34

Los Componentes de Jitter Degradan la SI

Medida del Jitter Determinstico (Dj) como las variaciones pico

a pico de las posiciones temporales ideales

Fuentes posibles

Insuficiente ancho de banda de la conexin al transmisor

ptico (acoplado en AC)
Sobreexcitacin del laser (corte o saturacin) induciento
tiempos de recuperacin largos
Ruido interno (relojes, diafona)

Mediad del Jitter Aleatorio (Rj) como la desviacin estndar

(RMS)

Fuentes posibles

PLL en la fuente de los datos

Ruido en la polarizacin del Laser o en la regeneracin
temporal de la fuente de los datos
Ruido inducido externamente (ambiental)

35

Delta Time Accuracy (DTA)

Es el mtodo para especificar la precisin temporal segn la IEEE1057
Inluye los efectos de la precisin del intervalo de muestreo y la base de

timepos, los error de cuantizacin e interpolacin, el ruido del

amplificador y el jitter del reloj de muestreo
Ejemplo:

DTA

Para un TDS6604 de 20GS/s con un cristal de 2.5ppm,

midiendo un reloj de 400MHz (periodo de 2.5ns)
= (0.06 / SR) + (estabilidad cristal X medida)
= (0.06 / 20GS/s) + (2.5ppm X 2.5ns)
o (0.06 X 50ps) + (2.5ppm X 2.5ns)
= 3ps + 0.00625ps
Obsrvese la pequea contribucin de la
inestabilidad del cristal en el error total

TDS6604 DTA ~ Especificacin 3 ps (1.5 ps tpica) sta es la precisin

(no la resolucin)

36

Mtodo en Tiempo Real del TDSJIT3

Mtodo para Separacin
Rj / Dj y Estimacin BER
Basadao en datos

capturados en tiempo real

Incluye medidas TIE
mediante Golden PLL
Descomposicin de Jitter
con Anlisis Espectral
Ancho margen de ruido
trabaja con un nivel de
ruido alto
Funciona con secuencias
de datos cortas o largasno se precisan detalles
slo velocidad de datos y
longitud de la secuencia
Disparo en un punto
aleatorio de la secuencia

Resultados: Rj, Dj, Pj,

DCD, ISI, BER

TDS-JIT3: para TDS5000, CSA/TDS7000, TDS6604

37

Estimacin del BER (Bit Error Rate)

Empieza con
TIE
PLL TIE
Realiza la FFT
Determina frecuencia

39

y velocidad del
patrn
Suma componentes
relacionados con el
patrn
Suma componente no
correlacionados
Mide RMS de los
componentes
restantes
Estimacin BER

Windows / Conectividad y Anlisis

Conectividad y Anlisis
Vnetajas del Entorno PC

Infrastructura Software

Impresoras y almacenamiento en red

TekVISA

Recursos de Internet (p.e. email)

Controles ActiveX

Soporte de mltiples pantallas

Excel toolbar

Integracin PCs Externos y

Ordenadores no-Windows
LabVIEW y Lab Windows (PNP)

C, C++, Visual Basic, MATLAB y otros

Aplicaciones UNIX y otros recursos

LAN (VXI-11)

Medidas y anlisis definidos por el

usuario

PRESTACIONES

40

API para Windows y UNIX

INTEGRIDAD

ACELERACION

Soluciones de Integridad de la Seal

Una Solucin Integrada al
Diseo y Depuracin
hardware

Resuelve la problemtica planteada

por los diseos de alta velocidad
actuales con Osciloscopios y
Analizadores Lgicos
41

Depuracin de Hardware
Herramientas y Fases de la Depuracin Digital
Depuracin
Prototipos
Integridad
Seal

Mrgenes
Temporales

Anlisis Pruebas de Conformidad

Jitter de Seales Elect / Opticas

Optimizacin
Fases de
Anlisis Paramtrico
Depuracin
Integracin HW & SW
Depuracin Kernel y mP
Comprobacin HW Inicial

Herramientas
de Depuracin
DMM

42

Editor/Compilador/Linker/Loader
Depurador/Emulador Software
Analizador Lgico
Osciloscopio Real-Time / DPO

Soluciones de Diseo Digital para SI

CONEXIN

Mxima fidelidad de la seal para la

resolucin de los problemas de Integridad

de Seal
Adquisicin y correlacin analgica y digital

ADQUISICIN

para una depuracin sensible al contexto

Medidas en la capa fsica

Medidas de jitter de la mayor precisin

Test de conformidad de acuerdo con

VISIBILIDAD

mscaras de comunicacin

Visibilidad del hardware y del software

43

ANALISIS

Seales Fieles + Mnima Intrusin = SI

Medida simultneas Analogico

+ Digital mediante una sonda

nica
Elimina uso multiples sondas y
carga adicional sobre el circuito
Multiplexor programable de 4
canales

Fidelidad de la Seal

Sonas activas
Capacidad total: 0.7 pF
Medidas referidas a tierra
Medidas Diferenciales
Sin extensiones de las sondas
que degraden las seales

44

Un Diseador Dice:

Las sondas son la clave..

Si no puedes conectarte.no puedes ni ver ni analizar
Pasivas
De tensin 1X, 10X, 1X/10x, 50 Ohm

Activas FET
Hasta 6 GHz BW

Diferenciales
P6880 SiGe
probe

hasta 3.5GHz (4 GHz tpico) con 1000:1

CMRR

Analizador Lgico Pasivas, SE Activas,

Diferential Activas

SiGe Probing
BREAKTHROUGH

0.7 pf ()alta densidad, propsito general

Opticas
Convertidores OE (250MHz a 2.5GHz)

Sondas Alta Tensin

y Corriente
De DC hasta 2 GHz
P6810 SiGe
GP Probe

Sondas para DSOs/DPOs y mdulos

DSO de Analizador Lgico...

45

Nuevas Sondas de Alta Velocidad

para los TLA

GRAN AVANCE
en
INTEGRIDAD DE SEAL

Sondas de alta densidad Sin Conector

Contactos de compresin en eje Z

Islas de contacto en el PCB

No son necesarios conectores en el PCB, conexiones seguras y fiables

Sin extensiones que degraden la integridad de seal

46

Nueva Arquitectura de
Adquisicin TLA

iView
TECNOLOGIA
INNOVADORA

Tiempos a 8 GHz simultneo con hasta 800 MHz en Estados con 2 GHz BW

Siempre en cualquier canal si reconectar ni recapturar!

34 ch
34 ch

34 ch
34 ch

2 GHz
BW
Analog
Mux

+
-

8 GHz MagniVu
Timing
16 Kb

8 GHz
Sampler
Real-Time
Clocking
State
Machine

Trigger
State
Machine

4 ch

800 MHz State

or
2 GHz Deep
Transitional Timing
128 Kb 256 Mb

Internal DSO or
TDS Scope (iView)

8 GHz TLA sampling = 125ps resolution (time stamp)

47

Nuevo Multiplexor Analgico (2 GHz BW)

Conexin analgica/digital simultnea
Ancho de banda analgico de 2 GHz en
todos los canales
Cualquiera de los 136 canales se pueden
multiplexar a los 4 BNC de salida
Las salidas estn siempre activas

34 ch
34 ch

Trigger
Analog Out
State
2 GHz Machine
Analog
CH 1
Mux

34 ch

CH 2

34 ch

4 ch
CH 3

Analog In
CH 1
CH 2
CH 3
CH 4

CH 4

LA

48

DSO

Glitches causados por pistas del PCB

Integracin de las seales analgicas y correlacin con las digitales

Glitches

Vistas Digitales

Vista Analgica

Errores introducidos por una pista de 10 cm

49

Glitches por Violacin Tiempos Setup/Hold

Vista Analgica + Vista Digital

Glitch

La entrada del FF-D cambi 1.26 ns antes del flanco de reloj

51

Algunas Anomalias SI en su Contexto

Pueden estar causadas por problemas funcionales
Ejemplo: Contencin de buses/seales

53

Visualizacin Integrada con TLA-iView

Osciloscopio TDS
externo aadido en la
Ventana de Sistema
del TLA

Los datos del osciloscopio

son integrados y
correlacionados en la
interfaz de usuario del
Analizador Lgico

54

Anlisis SI con iView

(Ntese la Resolucin Vertical y Horizontal)
Glitch de 500ps
detectado y resaltado
1-bit: traza MagniVu
125ps (8GHz)

Multiplexor 2GHz BW
!Analgico y Digital con
una sonda!
8-bits: Hasta 20GS/s
(50ps + interpolacin)
traza analgica de TDS
Nota: Comportamiento
de la pista de tierra
capturado en otro canal

55

iView con un TLA7Axx y un TDS6604

TLA

TDS
Communication Bus
Trigger Bus

Mux
Out

56

SI Problemas en la Depuracin a Nivel

de Sistema

TRACE

JTAG

PHY

Processor / NP

Internal Bus
Internal Bus

Internal Bus

Memory FPGA
DSP
QBus

IBus
Internal Buses could be Serial or Parallel

ASIC

Internal Bus

Backplane

System
Serial Bus

PHY

DataLink

System
Serial Bus

Visibilidad de la SI requerida para la integracin HW/SW

Correlacin seales internas/externas, buses Paralelo/Serie
57

Soluciones para Datos Paralelo / Serie

Datos TDS Integrados y Correlacionados en la pantalla del TLA

Captura de trazas

analgicas con hasta

20 GS/s en un CSA/
TDS7404 o TDS6604
transferidas a la
pantalla del TLA.
Primer disparo en

Trigger Serie en palabra de32 bit FDF3 D70D(hex)

Integrado y correlacionado en el TLA

58

serie por hardware

(ST) (secuencias de
hasta 32-bit, velocidad
hasta 1.25 Gb/s).

Aplicaciones/Soluciones Integradas
Osciloscopio R-T CSA/TDS7000 o TDS6604
Test Mscaras (SM)
Disparo Serie (ST) 32-bit

Analizador TLA con

cable iView al DSO

Recuperacin de Reloj

SingulusG1

Divisor Optico
LAPL Tools Partner

Sistema bajo prueba

59

Fuentes de Seal e Integridad de Seal

Generadores Arbitrarios (AWG):
generadores de seal empleados en la
creacin e implementacin de cualquier
tipo de seal requerida para la prueba.

60

Emulacin de
una seal, como
la de un sensor.

Simulacin de un
evento o secuencia de
eventos.

Reproducir un
evento real
capturado con
un DSO.

Substitucin de la seal
producida por un
bloque funcional no
disponible an.

Verificacin y
Prueba de
Mrgenes con
seales ideales o
con un nivel
controlado de
distorsin (o
errores).

Fuentes de Seal en SI: Aplicaciones

61

Disk Drive

Network

Jitter
Composer

w/ & w/o
Impairments

Creacin y Edicin de Seales

(Perfect Compliment to a TDS / TLA)
DUT

Stimulus Acquisition
Model

Data Rate

62

Test Point

Digital
Oscilloscope

GPIB / LAN

Waveform Capture

Output

Level

AWG

Standard or Reference /
Add Impairments

Delay

Rise Time

Depuracin de Hardware:
Estmulos de Prueba con TLA-DPGs

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Herramientas de Tektronix para la

Integridad de Seal
Oscilloscopios (con Sondas y SW de Anlisis Jitter)
Optico hasta 40Gbit/s
Receptor Optico de Referencai (ORR) integrado
Recuperacin de Reloj incorporada
Disparo con Patrn Serie
Test de Mscaras de Comunicacin, medidas especiales
Jitter Aleatorio y Determinstico
Reflectometra en el Dominio del Tiempo (TDR)

Analizadores Lgicos (con Sondas sin Conectores)

Capacidad de captura sncrona de alta velocidad
Anlisis de tiempos de muy alta resolucin
Traza en tiempo real de la ejecucin de software
Trazado de mltiples buses a la vez
Correlacin precisa del comportamiento digital y la calidad
analgica de las seales

Generadores de Seales Digitales (con Sondas)

Generadores arbitrarios (adicin de defectos/errores)

Generadores de Datos/Patrones (estmulo)

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Soluciones de Integridad de Seal Sumario

Las tecnologas de ordenadores y comunicaciones marcan los

requerimientos crticos relacionados con la SI

Los estndares industriales especifican medidas y mscaras SI
Las velocidades de datos crecen a gran velocidad, >1Gb/s
Severa problemtica de SI en el diseo de alta velocidad
Muchas consideraciones y soluciones de medida
Integracin y Correlacin de seales Analogicas + Digitales
Jitter y BER empiezan a ser conceptos importantes
N ningn fabricante T&M est mejor posicionado que Tektronix

en Soluciones para Integridad de

Seal en el Entorno de Diseo
Digital de Alta Velocidad
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