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1.- Introduccin
Desarrollo de nuevos materiales desarrollo de tcnicas de preparacin y caracterizacin. 1.1.- Qu es la caracterizacin de Materiales? Obtencin de informacin a partir de la respuesta de un material al ser perturbado por una seal. (Caracterizacin anlisis instrumental) Lugar que ocupa la caracterizacin en la Ciencia e Ing. de Materiales 1.2.- Por qu es necesaria la caracterizacin de materiales? Conocer o predecir las propiedades de un material y as valorar su utilidad en diversas aplicaciones. 1.3.- Qu informacin ofrecen las tcnicas de caracterizacin y cmo se utiliza? Composicin, estructura, topologa, topografa, morfologa, propiedades (Color, Tf, etc.)
a) Procedimiento.- Son las instrucciones (no detalle) escritas para llevar a cabo un mtodo (Normas ASTM, American Society for Testing and Materials, son procedimientos normalizados)
b) Protocolo.- Es un procedimiento detallado (receta) Resultados comparables (Reproducibilidad)
Tcnicas Espectrometra de Masas de Iones Secundarios (Secondary Ion Mass sprectroscopy (SIMS) Espectrometra de Iones Retrodispersados (Rutherford Backscattering Spectrometry, RBS) Emisin de Rayos X Inducidos por Protones (Proton-induced X-ray Emision, PIXE) Espectrometra de Electrones Auger (Auger Electron Spectrometry, AES) Microscopa Electrnica Analtica (Analytical Electron Micoscopy, AEM) Microscopa Electrnica de Barrido (Scanning Electron Microscopy, SEM) Microanlisis de Rayos-X (Electron Probe Microanalycsis, EPM)
Electrones
Fotones Fotones
Fotones
Electrones Fotones
Fotones
Fotones Fotones
Fotones
Fotones Fotones
Absorcin de radiacin
Dispersin de radiacin Refraccin de radiacin Difraccin de radiacin Potencial elctrico Corriente elctrica Resistencia elctrica Relacin masa a carga
Procesador de seal
Medidor de escala
Transductores de salida
escala,
precisin
se
necesitan?
De cunta muestra se dispone? (DSC, DMA, DTA) Cul es el intervalo de deteccin que se precisa? (Balanzas) Qu componentes de la muestra interferirn? (FTMIR, FT-NIR)
Criterios cualitativos: Velocidad Facilidad y comodidad Habilidad del operador Coste y disponibilidad del equipo Coste por muestra
i)
Precisin
Desviacin estndar relativa (RSD) Desviacin estndar de la media, sm Coeficiente de variacin, CV Varianza
Error aleatorio
ii) Exactitud Aproximacin al valor verdadero (error sistemtico o determinado) Blancos y calibracin (eliminacin de error) Exactitud = - xt
iii) Sensibilidad
Capacidad de discriminar entre pequeas diferencias en el valor de un parmetro de anlisis.
iv) Lmite de deteccin Menor valor detectable para un nivel de confianza dado Seal mnima detectable = Sm =< Sbl> + kbl Lmite de deteccin =
Lmite de deteccin
Lmite de deteccin (LOD, del ingls Limit of detection) es la menor cantidad de un analito cuya seal puede ser distinguida de la del ruido. El lmite de deteccin (LDD) se define habitualmente como la cantidad o concentracin mnima de sustancia que puede ser detectada con fiabilidad por un mtodo analtico determinado. Intuitivamente, el LDD sera la concentracin mnima obtenida a partir de la medida de una muestra (que contiene el analito) que seramos capaces de discriminar de la concentracin obtenida a partir de la medida de un blanco, es decir, de una muestra sin analito presente.
Illustration of the concept of detection limit and quantificatation limit by showing the theoretical normal distributions associated with blank, detection limit, and quantification limit level samples..
El error absoluto (Ea) es la diferencia entre el valor experimental () y el valor real (x), el error relativo (Er) es el error absoluto (Ea) dividido entre la magnitud de la cantidad medida ().
La prueba Q
b) La prueba T