MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO

INTEGRANTES:
VILLANO BARRIAL VIVIANA LAIZA VASQUEZ VICENTE VILCAPUMA ESPILCO MARGORT VICENTE LOBATON ESTEFANIA SANCHEZ PALOMINO RAQUEL ITURRIZAGA BLAS RUBEN

Esquema y foto de un MEB

introduccion
El microscopio electrnico de barrido (SEM) es un instrumento que nos permite la observacin y caracterizacin superficial de materiales inorgnicos y orgnicos entregando informacin morfolgica del material utilizado. A partir de l se producen distintos tipos de seal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus caractersticas. Con l se pueden realizar estudios de los aspectos morfolgicos de zonas microscpicas de los distintos materiales con los que trabajan los investigadores de la comunidad cientfica y las empresas privadas, adems del procesamiento y el anlisis de las imgenes obtenidas

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO

El Microscopio electrnico de barrido MEB o SEM (Scanning Electron Microscope), es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. Tambin produce imgenes de alta resolucin, que significa que caractersticas espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificacin. En el microscopio electrnico de barrido la muestra generalmente es recubierta con una capa de carbn o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra.

HISTORIA
surge en forma experimental entre los aos 1930 y 1940, en Alemania. En 1935 es propuesta por knoll. En 1938, Von Ardenne disea un nuevo tipo de microscopio, con el objeto de estudiar muestras relativamente gruesas. Este instrumento operaba con lentes electrostticas y barrido electromagntico, pero careca de dispositivos de amplificacin y pantalla de observacin. En 1942, Zworokin, Hillier y Zinder disearon un microscopio con el cual se observaban directamente superficies de muestras metlicas, y publicaron las primeras micrografas electrnicas de barrido.

Descripcin del Microscopio Electrnico de Barrido ( MEB ). Sistema de Vaco. Sistema de refrigeracin Unidad ptico-electrnica. Sistemas de lentes electrnicas Sistema de barrido Pota espcimen Sistema de deteccin. Sistema de proyeccin o visualizacin de las imgenes. Imgenes obtenidas por electrones secundarios

Sistema de alto vaco

Permite trabajar con una alta resolucin de imgenes, pero las muestras deben ser conductoras y cubiertas con pelculas de oro y grafito

Esquema de una Bomba Rotatoria

Esquema de una Bomba Difusora

Sistema de bajo vaco

Permite observar muestras no conductoras sin recubrir, como puede ser el caso de pinturas o materiales cermicos.

Sistema de modo ambiental

Es un equilibrio entre conductoras y no conductoras(organicas).

Analogas y diferencias entre microscopio ptico y electrnico de barrido

OPTICO
Fotones 220 voltios Lentes de vidrio Imagen por absorcin de luz Lentes distancia focal fija: x4, x10, x20, x40, x60, x100

ELECTRNICO barrido
Electrones 20.000 voltios Lentes electromagnticas Imagen por dispersin y prdida de eLentes con distancia focal variable

ELECTRONICO transmisin
electrones ~120kV Lentes electromagnticas Imagen por dispersin y prdida de eLentes con distancia focal: 100 x - 450000 x visin sobre pantalla fluorescente Posibilidad de color Imagen mejor que foto Hasta un milln de veces

Visin directa por ojo humano

Posibilidad de color Imagen mejor que foto Aprox 1.000 aumentos

pantalla visora
Blanco y negro Foto mejor que imagen Hasta 450.000 aumentos

1.2. Tipos de microscopios electrnicos.

FUNCIONAMIENTO
Es necesario acelerar los electrones en un campo elctrico, para aprovechar de esta manera su comportamiento ondulatorio, donde se aceleran por una diferencia de potencial de 1,000 a 30,000 voltios.

Pared celular

nucleolo
citosol TRANSMISIN Membrana nuclear ncleo

BARRIDO

Microfractografa de barra de acero

Ejemplos

Diatomea

Torno de dentista

Velcro

Cristal de nieve

1.5. Ejemplos:

Microscopio Electrnico de Barrido y ptico Lavandula latifolia (alhucema o espliego)

estambre

1.5. Ejemplos:

Microscopio Electrnico de Transmisin y Barrido Biologa Celular

Vibrin cholerae

Cilios de traquea

1.4. Aplicaciones.
Microscopio electrnico de barrido:
- Geologa: Investigaciones geomineras, cristalogrficas, mineralgicas y petrolgicas. Estudio morfolgico y estructural de las muestras. - Estudio de materiales: Caracterizacin microestructural de materiales. Anlisis cristalino. Valoracin del deterioro. Tipo de degradacin. - Metalurgia: Control de calidad y estudio de fatiga de materiales. - Odontologa: estructura del esmalte y deterioro. - Paleontologa y Arqueologa: Caracterizacin de aspectos morfolgicos.

- Control de Calidad: Fibras, curtidos, etc.

- Peritajes: Estudios de muestras de cualquiera de las reas antes mencionadas. - Medicina Forense: Anlisis morfolgico de pruebas. - Biologa (botnica), Biomedicina y Medicina: Estudio morfolgico.

- Estudio qumico y estructural de obras de arte, alteracin de monumentos, calidad, identificacin de pigmentos (restauracin, autentificacin)

2. Tratamiento de muestra para Microscopa electrnica.

Microscopa Electrnica de Barrido

1.- Fijacin.

2.- Deshidratacin (punto crtico).

3.- Metalizacin (ion sputtering).

CONCLUSION
Es de gran importancia en el estudio de las superficies de fracturas de un material. Mediante esta tcnica se pudo observar la muestra en distintos aumentos, para analizar diferentes aspectos de la morfologa de esta. Permite observacin a altos aumentos Estudios fractograficos. Realizacin de anlisis qumicos en pequeas reas. El hecho de trabajar en tres modos permite las siguientes posibilidades. Modo alto vaco, modo bajo vaco y modo ambiental.