ANISOTROPIA Y TEXTURAS

PROF. OSCAR BUSTOS

TERMOFLUENCIA
ALABE DE UNA
ALECIN DE Ni-Co
SOLIDIFICADA
DIRECCIONALMENTE
GRANOS
COLUMNARES
Campo Magntico, H
Induccin
Magntica, B
Campo Magntico, H
Induccin Magntica, B
<100> Direccin de fcil
magnetizacin
<111> Direccin de
difcil magnetizacin
<100>
<111>
<110>
Rafale
EMBUTICION
550 millones de envases en
Chile, 1999
200 mil millones de
envases, USA, 1994
12 mil millones de
envases, Europa, 1994
Municiones???
Asia??

Laminado de planos en fro
(70-90 %)
Rollo laminado en fro
Limpieza
electroltica
Recocido Continuo: (620-700 C)
(60-100 seg)
Rollo laminado en fro
Recocido Batch:
(620-700 C)
(60-100 hr)
Ejes de referencia (K
s
)
DL
DN
DT
DT : direccin transversal
DN : direccin normal
DL : direccin de laminacin
Notacin de texturas
(Plano)[direccin]

[001]
[010]
[100] Paralelo a
RD
(001) paralelo al
plano de laminacin
TEXTURA CUBO: (100) [100]
RD
RD
[1,-1,0] paralela a la
direccin de laminacin
(100) Paralelo al
plano de laminacin
TEXTURA CUBO
DIAGONAL: (100) [110]
Algunas texturas tpicas
Caso de un policristal
{001}<100>
textura cubo
x
y
z
{011}<100>
textura Goss
{001}<110>
textura cubo diagonal
TEXTURAS DE FIBRA
UN PLANO O BIEN UNA
DIRECCIN SE MANTIENEN
CONSTANTES RESPECTO A LAS
COORDENADAS DE LA MUESTRA
{hkl}<110>
fibra
Fibra alfa
Direccin [110]


{111}<uvw>
fibra
plano {111}
Fibra gamma
OPERACIN DE EMBUTIDO
ESQUEMA DE UNA DISPOSITIVO PARA
EMBUTIR
anisotropa normal
coeficiente de anisotropa o coeficiente de Lankford
c
c
espesor
ancho
= r
Embuticin profunda (deep drawing)
Anisotropa Normal Promedio
coeficiente promedio de
anisotropa

4
r
2 +
r
+
r
=
r
45 90 0
m
RD
ND
TD
r debe ser alto
Este ensayo se encuentra estandarizado bajo la norma
ASTM E-517
wl
l w
w
w
r
0 0
0
ln
ln
|
|
.
|

\
|
=
Diferentes tipos de embutibilidad
Indice de Anisotropa Planar
coeficiente de anisotropa
planar
2
r
2 -
r
+
r
= r
45 90 0
A
Ar debe ser lo ms baja posible
Materiales que forman orejas
ES LA DUCTILIDAD UNA BUENA MEDIDA DE LA
EMBUTIBILIDAD?
%
A
la
rg
a
m
ie
n
to

n
d
i
c
e

d
e

A
n
i
s
o
t
r
o
p

a
5
4
3
2
1

n
d
i
c
e

d
e

A
n
i
s
o
t
r
o
p

a

r
L.D.R.
2.0 3.0 2.8 2.6 2.4 2.2
60
20
30
40
50
10
%

A
l
a
r
g
a
m
i
e
n
t
o
Z
n
A
l

(
H
)
C
u

(
c
)
A
l

(
s
)
C
u

(
B
)
7
0
/
3
0
F
e

(
R
)
F
e

(
S
)
T
i
7
6
5
4 3
2 1
9
8
CMO RELACIONAR EL INDICE r CON LAS
TEXTURAS?
Relacin entre r y las texturas
(Hutchinson, 1984) (Aceros)
0.1 1 10 100
1000
Razn de Texturas (111)/(100)
Indice r
1
2
3
Proyeccin Estereogrfica
RD
ND
TD
ND
TD
RD
Proyeccin Estereogrfica de los
Polos (100) para un Monocristal con
textura cualquiera
Figuras de Polos en un Monocristal y de
un Policristal
DT
DL
(a)
DN
001
010
100
(b)
DT
Proyeccin en el Plano
Densidad de polos
(c)
0 3 2 1
DL
(d)
DN
0
3
2 1
DT
DL
DN
RD
ND
TD
Figura de polos (100)
para un cristal con
textura cubo
ND
TD
RD
ALGUNAS COMPONENTES DE TEXTURAS
Polos (100)
Polos (111)
Polos (110)
(100) [110]
(111) [011]
(111) [112]
{111}<112>
{554}<225>
{111}<110>
{112}<110>
{100}<011>
FIGURAS DE POLOS (100) PARA UN ACERO DE BAJO CARBONO
LAMINADO EN FRO
{111}<112>
{554}<225>
{111}<110>
{112}<110>
{100}<011>
FIGURA DE POLOS (100) PARA ACERO DE BAJO
CARBONO RECOCIDO BATCH
Cobre laminado en fro
CMO MEDIR LAS TEXTURAS?
Dos tcnicas muy importantes:

Medicin macroscpica por medio de rayos X
difractmetro de textura (XRD)

Medicin microscpica por medio de haz de
electrones en un MEB (Microscopio Electrnico
de Barrido)
EBSD (Electron Backscatter Diffraction)
OIM (Orientation Imaging Microscopy)
Medicin de figuras de polos por difraccin de rayos X
Ley de Bragg
2d n
B
sinu =

d
CASO DEL HIERRO CON RADIACIN DE COBRE
a=2,8665Angstrom (parmetro atmico del Fe)
=1,54056 Angstrom (Cobre)


2 2 2
l k h
a
d
+ +
=
d (A) u () 2u ()
(110)
2,02692
22,34 44,68
(200)
1,43325
32,51 65,02
(211)
1,17024
41,16 82,32
(310)
0,90647
58,19 116,38
(222)
0,82749
68,57 137,14
ANGULOS DE DIFRACCIN PARA HIERRO CON
LAMBDA = 1,54 ANGSTROM (COBRE K ALFA)
Gonimetro de textura
Vector de difraccin = fijo
Muestra en rotacin
Vdeo
Haz
Electrones
Incidentes
Muestra
Pantalla de Fsforo Pantalla de Vidrio
Cmara de Captura
de Imgenes
Lneas de
Kikuchi
Muestra
Patrn
DETERMINACIN
DE LA TEXTURA EN
UN PUNTO
EBSD por medio de los patrones Kikuchi
muestra Imagen
(zona de tres granos)
EBSD
Orientacin
Estructura cristalogrfica
Orientation Imaging Microscopy
IMAGEN DE SEM DE UNA MUESTRA DE
ACERO RECOCIDO
70 m
70 m
//ND
Imagen OIM de la muestra anterior
Los colores estn definidos por la orientacin de la
direccin //ND de cada cristal
CUL ES LA DESVENTAJA DE TRABAJAR CON
FIGURAS DE POLOS?
APORTAN UNA INFORMACIN SLO
CUALITATIVA, POR TANTO, NO ES
POSIBLE MANEJAR
MATEMTICAMENTE LA
INFORMACIN QUE APORTAN
Funciones de distribucin de orientaciones
(ODF)

Por qu las ODFs?

Porque permite tener una informacin
CUANTITATIVA , que hace posible modelizar
propiedades a partir de ellas.

K
c
ND
TD
RD
K
S
Kc = sistema de referencia del cristal
Ks = sistema de referencia de la muestra
SISTEMAS DE REFERENCIA
CONCEPTO DE LA
FUNCIN g:
EXISTE UNA FUNCIN g DE
TRANSFORMACIN TAL QUE
K
C
=gK
S

g=g(
1
, |,
2
)
Definicin de los ngulos de Euler,
NOTACION DE H.J. BUNGE
Definicin
V
dV
dg g f = ). (
f(g) es la funcin de distribucin de orientaciones
g es la representacin simblica de una orientacin
dV/V fraccin de volumen orientada entre g y g+dg
}
=1 ) ( dg g f
POLICRISTAL
MONOCRISTAL
f(g)=o
Dirac
g
2
, V
2
g
3
, V
3
g
1
, V
1
g
4
, V
4
ngulos de Euler

2
u
g(
1
,u,
2
)
Propiedades:
Cclica : 0 <
1
< 2t
0 < u < t
0 <
2
< 2t

no-biyectiva

no-Euclideana :
dg = sinu d
1
du d
2
Aproximacin Matemtica de f(g)

Suma de series de Fourier (armnicos
esfricos) generalizada a 3D, en que los
coeficientes C y T se calculan
A PARTIR DE CUATRO FIGURAS DE
POLOS.


= = =
=
L
l
l M l N
l l
g T C g f
0
) (
1
) (
1
) ( ) (
v
v v

1

u

2

t
2t
2t
ESPACIO DE EULER

2
=45

2
=180
(

+
=
(

+ +
= u
(
(

+
+ +
+ +
=
2 2
2
2 2 2
2 2
2 2 2
2 2 2
1
arccos
arccos
k h
k
l k h
l
k h
l k h
w v u
w
arcsen

ANGULOS DE EULER A PARTIR DE LOS

INDICES DE MILLER
A PARTIR DE ESTAS ECUACIONES SE PUEDE DEMOSTRAR
QUE, DADAS LAS SIMETRAS DE LAS FUNCIONES, SOLO ES
NECESARIO CONSIDERAR LO QUE SUCEDE EN EL PRIMER
CUADRANTE
ALGUNAS SUPERFICIES TPICAS
Cobre Def. en
fro
Plata 95%
def. en fro
Acero 95%
def. en fro

1

u
Acero recocido
Tpicas orientaciones en estructuras
cbicas
{hkl} <uvw>
1
u
2

010 101 45 0 0
211 011 51 66 63
111 011 60 55 45
111 112 90 55 45
11,11,8 4,4,11 90 63 45
110 110 0 90 45

1
u
(001)[110]
(112)[110]
(111)[110]
(110)[110]
(001)[010]
(001)[110]
(111)[112]
(110)[001]
(111)[121] (111)[011]
(112)[131]
CUBO (8)
LATN (4)
GOSS (8)
CUBO (8)
LATN (4)
COBRE (8)
GOSS (8)
LATN (6)
GOSS (8)
LATN (8) GOSS (8)
COBRE (8)
COBRE (4)
CUBO (8)
TD
RD
LATN (8)
Orientaciones escogidas para
2
=45
(001)[110]
(001)[110]
(001)[010]
(113)[110]
(112)[110]
(223)[110]
(110)[110] (110)[001]
(111)[112]
(554)[225]
( )[ ] 111 110
( )[ ] 111 121
( )[ ] 111 011
o fibre
fibre
Nombre Orientacin
C (cbica)
H
J
I
E
F
L
G (GOSS)
{001}<100>
{001}<110>
{114}<110>
{112}<110>
{111}<110>
{111}<112>
{110}<110>
{110}<001>
1

u
Lineas de misma
intensidad en
cortes equidistantes

2
= secciones constantes
A
2
= 5
u

1
Unidades: aleatorias
APLICACIONES INDUSTRIALES
A
r1
A
r3
950 C
1150 C
I : Regin de
recristalizacin
II : Regin de no-
recristalizacin
III: Regin (+o)
Granos de
deformados
Granos de o
deformados
Granos
equixicos
Bandas de
deformacin
{100}<100>
{110}<112>
{112}<111>
{100}<011}
{100}<011}
{332}<113>
{113}<110>
Relacin de
orientacin
Correspondencia
Nmero
de alterna-
tivas
Nmero
total de
variante
s
Bain {001}

//{001}
o

<110>

//<110>
o
3
1
3
Kurdjumov-
Sachs
{111}

//{011}
o

<011>

//<111>
o
4
3
24
Nishiyama -
Wasermann
{111}

//{011}
o

<112>

//<011>
o
4
3
12
RELACIONES EPITAXIALES
INDICE DE
ANISOTROPA
PREDICHO A
PARTIR DE
LAS ODF
LMITE
ELSTICO
PREDICHO A
PARTIR DE
LAS ODF
MDULO DE
ELASTICIDAD
PREDICHO A
PARTIR DE
LAS ODF
C3: 1150/1020/95 PAGE 1
2.50 14.0
0 90
90
0
PHI2= 45
1.00 3.00 18.0 1.50 8.00 28.0 2.00 11.0
medida
simulada
Textura de la banda caliente
Text. Deformacin en Fro
2.0
A75_4 PAGE 1
2.00 5.00
0 90
90
0
PHI2= 45
1.00 2.50 6.40 1.30 3.20 8.00 1.60 4.00
8
5
3
6.4
Cube Texture PAGE 1
2.00 8.00
0 90
90
0
PHI2= 45
.70 2.80 11.0 1.00 4.00 16.0 1.40 5.60
11
4
5.6
Textura de deformacin de un acero de bajo carbono
T
t
800C
60s
A75_4 PAGE 1
2.00 5.00
0 90
90
0
PHI2= 45
1.00 2.50 6.40 1.30 3.20 8.00 1.60 4.00
DVDS2 - corrected PAGE 1
1.60 4.00
0 90
90
0
PHI2= 45
.80 2.00 5.00 1.00 2.50 6.40 1.30 3.20
6.4
8
6.4
Textura de recristalizacin de un acero bajo carbono
Ferrita
Austenita
deformada
FCC deformation texture PAGE 1
2.00 8.00
0 90
90
0
PHI2= 0
.70 2.80 11.0 1.00 4.00 16.0 1.40 5.60
FCC deformation texture PAGE 1
2.00 8.00
0 90
90
0
PHI2= 45
.70 2.80 11.0 1.00 4.00 16.0 1.40 5.60
FCC deformation texture PAGE 1
2.00 8.00
0 90
90
0
PHI2= 65
.70 2.80 11.0 1.00 4.00 16.0 1.40 5.60
Cube Texture PAGE 1
1.60 4.00
0 90
90
0
PHI2= 45
.80 2.00 5.00 1.00 2.50 6.40 1.30 3.20
M5: 1250/870/95 PAGE 1
2.50 6.40
0 90
90
0
PHI2= 45
1.30 3.20 8.00 1.60 4.00 10.0 2.00 5.00
Simulacin
Experimental
K-S
6.4 3.2
4.0
2.0
Representacin en ODF
Ferrita
Austenita Recristalizada
Simulacin
Experimental
Cube Texture PAGE 1
2.80 11.0
0 90
90
0
PHI2= 45
1.00 4.00 16.0 1.40 5.60 22.0 2.00 8.00
Cube Texture PAGE 1
1.60 4.00
0 90
90
0
PHI2= 45
.80 2.00 5.00 1.00 2.50 6.40 1.30 3.20
C3: 1150/1020/95 PAGE 1
2.50 14.0
0 90
90
0
PHI2= 45
1.00 3.00 18.0 1.50 8.00 28.0 2.00 11.0 K-S
4.0
4.0
2.0
1.0
Texturas de Transformacin en Aceros de Bajo Carbono
CMO CONTROLAR INDUSTRIALMENTE LA
TEXTURA EN ACEROS?
VARIABLES DE PROCESO
PRECIPITADOS
DE AlN
Laminado de planos en fro
(70-90 %)
Rollo laminado en fro
Limpieza
electroltica
Recocido Continuo: (620-700 C)
(60-100 seg)
Rollo laminado en fro
Recocido Batch:
(620-700 C)
(60-100 hr)
RESUMEN DE LAS VARIABLES DE PROCESO QUE PERMITEN
CONTROLAR LAS TEXTURAS
Parmetro Recocido Batch Recocido
Continuo
Contenido de C Bajo (*) Bajo (**)
Contenido de Mn Bajo (*) Bajo (**)
Contenido de Al Al (***) #
Temperatura de empape Alta (***) Baja (*)
Temperatura de trmino de
laminacin
>A
3
(**) >A
3
(**)
Temperatura de bobinado <600C (***) >700C (***)
Reduccin en fro ptima 70% app. 85% app.
Velocidad de calentamiento en
recocido
20-50 K/h (***) 5-20 K/s (**)
Temperatura mxima de
recocido
720C app. 850C app.
CONCLUSIONES
LA ANISOTROPA ES UN ASPECTO RELEVANTE A TOMAR
EN CUENTA EN LA MEJORA EN LAS PROPIEDADES
MECNICAS Y MICROESTRUCTURALES DE LOS
MATERIALES.
LAS ODF (FUNCIONES DE DISTRIBUCIN DE
ORIENTACIONES) PERMITEN TRABAJAR
MATEMTICAMENTE EL PROBLEMA Y PREDECIR
PROPIEDADES MECANICAS Y MICROESTRUCTURALES.
LAS EMPRESAS QUE DESEEN PERMANECER EN EL
MERCADO, LO DEBEN HACER INCORPORANDO
TECNOLOGA EN EL CONTROL DE SUS PROCESOS
PRODUCTIVOS.
LA IINGENIERA DE MATERIALES EST MS VIGENTE
QUE NUNCA
Medicin de textura
Dos tcnicas muy importantes:

Medicin macroscpica por medio de rayos X
difractmetro de textura (XRD)

Medicin microscpica por medio de haz de electrones
en un MEB (Microscopio Electrnico de Barrido)
EBSD (Electron Backscatter Diffraction)
OIM (Orientation Imaging Microscopy)
Vector de difraccin k describe crculos
concntricos sobre la projeccin estereogrfica
_

RD
TD
(hkl)
random level

_
0 360
0 360
0 360
0 360
0 5 10 15
0 360
90
Intensidad
EBSD y OIM en un MEB
EBSD por medio de los patrones Kikuchi
Equipo utilizado en la Universidad de Gante
Sistema EBSD
Example of experimental EBSD pattern
(BCC steel)
Orientation Imaging Microscopy
= Automated EBSD acquisition
+ post processing of data































Las imgenes OIM proporcionan una informacin
mltiple referente a la superficia de la muestra :

tipo de estructura cristalogrfica (bcc, fcc, hcp)
orientacin cristalogrfica punto por punto
defectos cristalogrficos : subestructura de dislocaciones
esfuerzos residuales
lmites de grano


Orientation Imaging Microscopy
ULC steel (CEIT) : 90% cold rolled + annealed
SE image on ESEM XL30
(ferrite single phase polycrystal structure)
OIM image of same sample site
Greyscale defined by image quality factor of diffraction pattern
70 m
Image Quality
1.74 - 174.20
ODF obtained from
OIM measurement
as calculated by
TSL software
AUS95_4 PAGE 1
6.00 18.0
0 90
90
0
PHI1= 0
0 90
PHI1= 5
0 90
PHI1= 10
0 90
PHI1= 15
90
0
PHI1= 20 PHI1= 25 PHI1= 30 PHI1= 35
90
0
PHI1= 40 PHI1= 45 PHI1= 50 PHI1= 55
90
0
PHI1= 60 PHI1= 65 PHI1= 70 PHI1= 75
90
0
PHI1= 80 PHI1= 85 PHI1= 90 PHI2= 45
1.00 8.00 22.0 2.00 11.0 28.0 4.00 14.0
ODF obtained from X-ray
diffraction measurement
Pole figures obtained by OIM
Pole figures obtained by OIM
70 m
Presence of Specific Orientations in the Microstructure
blue = {111}<211>
(43% volume fraction)
red = {111}<110>
(27% volume fraction)
Grain Size Distribution
blue = {111}<211>
red = {111}<110>